JPH11149641A - Optical recording method and optical recording device - Google Patents

Optical recording method and optical recording device

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Publication number
JPH11149641A
JPH11149641A JP10251107A JP25110798A JPH11149641A JP H11149641 A JPH11149641 A JP H11149641A JP 10251107 A JP10251107 A JP 10251107A JP 25110798 A JP25110798 A JP 25110798A JP H11149641 A JPH11149641 A JP H11149641A
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JP
Japan
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recording
test
optical
recording medium
light intensity
Prior art date
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Pending
Application number
JP10251107A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Koichiro Ishii
浩一郎 石井
Minoru Takizawa
実 瀧沢
Satomi Yoshibe
さとみ 吉部
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
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Publication date
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Application filed by Nikon Corp filed Critical Nikon Corp
Priority to JP10251107A priority Critical patent/JPH11149641A/en
Publication of JPH11149641A publication Critical patent/JPH11149641A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To perform recording with proper light intensity even when a temperature change occurs and to prevent a reduction in a processing speed by holding information regarding the upper and lower values of light intensity for allowing normal recording in the specified place of a recording medium or a recording device and performing test recording by light intensity based on this information during test recording. SOLUTION: A reproducing circuit 9 calculates a recording condition by a control circuit 10 according to a rest recording area based on reproducing information obtained by restoring the reproducing signal of an optical head 5. A temperature sensor 8 detects the temperature in an optical recording device 1a or of an optical disk 2, inputs a signal to the control circuit 10 and, when the temperature is changed by a specified value or more, a plurality of test patterns recorded at the time of test recording stored in a memory 7 are read, and then a test recording operation is started by a modulation circuit 6. An arithmetic and logic unit 11 calculates optimal intensities for all recording areas at the time of information recording based on the recording condition calculated by the control circuit 10. Then, during test recording, the table of optimal recording power for each zone of an optical disk 2 is made by the arithmetic and logic unit 11.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は光記録方法および光
記録装置に関し、特に光ディスクのテスト記録方法およ
び光記録装置に関する。
The present invention relates to an optical recording method and an optical recording apparatus, and more particularly to a test recording method and an optical recording apparatus for an optical disk.

【0002】[0002]

【従来の技術】最近、高密度、大容量、高いアクセス速
度、ならびに高い記録および再生速度を含めた種々の要
求を満足する光学的記録再生方法、それに使用される記
録装置、再生装置および記録媒体を開発しようとする努
力がなされ、光磁気記録方式や相変化記録方式等が開発
されてきている。
2. Description of the Related Art Recently, an optical recording / reproducing method which satisfies various requirements including a high density, a large capacity, a high access speed, and a high recording / reproducing speed, a recording apparatus, a reproducing apparatus and a recording medium used therefor Efforts have been made to develop a magneto-optical recording method, a phase change recording method, and the like.

【0003】広範囲な光学的記録再生方法の中で、光磁
気記録再生方式は、情報を記録した後、消去することが
でき、再び新たな情報を記録することが繰り返し何度も
可能であるという優れた特徴を有することから、最も実
用性に満ちた再生方式といえる。この光磁気記録再生方
法で使用される光磁気記録ディスク(媒体)は、記録を
残す層として1層又は多層からなる磁性膜を有する。磁
性膜は、記録密度が高く、また信号強度も高い垂直磁化
膜が開発され、使用されている。このような磁化膜は、
例えばアモルファスのGdFeやGdCo、GdFeC
o、TbFe、TbCo、TbFeCoなどからなる。
垂直磁化膜は、一般に同心円状または螺旋状のトラック
を有しており、このトラックの上に情報が記録される。
[0003] Among a wide range of optical recording / reproducing methods, the magneto-optical recording / reproducing method allows information to be recorded and then erased, and that new information can be recorded again and again. Since it has excellent features, it can be said that it is the most practical reproduction method. A magneto-optical recording disk (medium) used in this magneto-optical recording / reproducing method has a single-layer or multi-layer magnetic film as a layer for recording. As the magnetic film, a perpendicular magnetization film having a high recording density and a high signal intensity has been developed and used. Such a magnetized film is
For example, amorphous GdFe, GdCo, GdFeC
o, TbFe, TbCo, TbFeCo and the like.
The perpendicular magnetization film generally has a concentric or spiral track, and information is recorded on the track.

【0004】マーク(情報)の記録においては、レーザ
の特徴である空間的および時間的に優れた凝集性が有効
に使用され、レーザ光の波長によって決定される回折限
界とほとんど同じ位に小さいスポットにビームが絞り込
まれる。絞り込まれた光はトラック表面に照射され、記
録膜を熱して記録膜に直径が14μm以下のマークを形
成することにより情報が記録される。光学的記録におい
ては、理論的に約10 8 マーク/cm2 までの記録密度
を達成することができる。何故ならば、レーザービーム
はその波長とほとんど同じ位に小さい直径を有するスポ
ットにまで凝集することができるからである。
In recording marks (information), a laser is used.
Effective spatial and temporal cohesiveness, which is a feature of
And the diffraction limit determined by the wavelength of the laser light
Beam is narrowed to a small spot almost as much as the world
I will. The narrowed light is applied to the track surface and recorded.
Heat the recording film to form a mark with a diameter of 14 μm or less on the recording film.
By doing so, information is recorded. Optical record smell
Theoretically, about 10 8 Mark / cmTwo Recording density up to
Can be achieved. Because the laser beam
Is a spot with a small diameter almost as much as its wavelength.
This is because it is possible to agglomerate even to the point.

【0005】光磁気記録においては、レーザービームを
垂直磁化膜の上に絞り込み、それを加熱する。その間、
初期化された向きとは反対の向きの記録磁界Hbを加熱
された部分に外部から印加する。そうすると局部的に加
熱された部分の保磁力Hcは減少し、記録磁界Hbより
小さくなる。その結果、その部分の磁化は、記録磁界H
bの向きに並ぶ。こうして逆に磁化されたマークが形成
される。
[0005] In magneto-optical recording, a laser beam is focused on a perpendicular magnetization film and heated. in the meantime,
A recording magnetic field Hb in a direction opposite to the initialized direction is externally applied to the heated portion. Then, the coercive force Hc of the locally heated portion decreases and becomes smaller than the recording magnetic field Hb. As a result, the magnetization of that portion becomes the recording magnetic field H
Line up in the direction of b. In this way, a reversed magnetized mark is formed.

【0006】光は、通常光路に垂直な平面上で全ての方
向に発散している電磁場ベクトルを有する電磁波であ
る。光が直線偏光に変換され、そして垂直磁化膜に照射
されたとき、光はその表面で反射されるかまたは垂直磁
化膜を透過する。このとき、偏光面は磁化の向きにした
がって回転する。この回転する現象は、磁気カー効果ま
たは磁気ファラデー効果と呼ばれる。例えば、もし反射
光の偏光面が初期化方向の磁化に対してθK度回転する
とすると、記録方向の磁化に対しては−θK度回転す
る。したがって、光アナライザー(偏光子)の軸をθK
度傾けた面に垂直にセットしておくと、初期化方向に磁
化されたマークから反射された光はアナライザーを透過
することができない。それに対して記録方向に磁化され
たマークから反射された光は、(sin2θK)2 を乗
じた分が光アナライザーを透過し、ディテクター(光電
変換手段)に捕捉される。その結果、記録方向に磁化さ
れたマークは初期化方向に磁化されたマークよりも明る
く見え、ディテクターにおいて、強い電気信号を発生さ
せる。したがって、このディテクターからの電気信号
は、記録された情報にしたがって変調されるので、情報
が再生されるのである。
[0006] Light is an electromagnetic wave having an electromagnetic field vector that diverges in all directions, usually on a plane perpendicular to the optical path. When the light is converted to linearly polarized light and illuminates the perpendicular magnetic film, the light is reflected at the surface or transmitted through the perpendicular magnetic film. At this time, the plane of polarization rotates according to the direction of magnetization. This rotating phenomenon is called a magnetic Kerr effect or a magnetic Faraday effect. For example, if the plane of polarization of the reflected light rotates by θK degrees with respect to the magnetization in the initialization direction, it rotates by −θK degrees with respect to the magnetization in the recording direction. Therefore, the axis of the optical analyzer (polarizer) is θK
If it is set perpendicular to the plane inclined at an angle, light reflected from the mark magnetized in the initialization direction cannot pass through the analyzer. On the other hand, the light reflected from the mark magnetized in the recording direction is multiplied by (sin2θK) 2 , passes through the optical analyzer, and is captured by the detector (photoelectric conversion means). As a result, the mark magnetized in the recording direction looks brighter than the mark magnetized in the initialization direction, and generates a strong electric signal in the detector. Therefore, the electric signal from the detector is modulated according to the recorded information, and the information is reproduced.

【0007】さらに、光磁気記録方法の別の記録方法と
して、光変調オーバーライト方式(ダイレクトオーバー
ライト方式)が特許出願された(特開昭62−1759
48号=DE3,619,618A1=USP5,23
9,524)。この記録方式では、基本的に垂直磁化可
能な磁性薄膜からなるメモリー層(以下、M層という)
と垂直磁化可能な磁性薄膜からなる記録層(以下、W層
という)とを含み、両層は交換結合しており、かつ、室
温でM層の磁化の向きは変えずにW層の磁化のみを所定
の向きに向けておくことができるオーバーライト可能な
多層光磁気記録媒体を使用する。その上で、2値化情報
にしたがいパルス変調されたレーザービーム(高レベル
PHと低レベルPL)で記録する方式である。
Further, as another recording method of the magneto-optical recording method, a light modulation overwrite method (direct overwrite method) has been applied for a patent (Japanese Patent Application Laid-Open No. 62-1759)
No. 48 = DE3,619,618A1 = USP5,23
9, 524). In this recording method, a memory layer (hereinafter, referred to as an M layer) basically composed of a magnetic thin film capable of perpendicular magnetization.
And a recording layer (hereinafter, referred to as a W layer) composed of a magnetic thin film capable of perpendicular magnetization. Both layers are exchange-coupled, and only the magnetization of the W layer is changed at room temperature without changing the magnetization direction of the M layer. Is used, and an overwritable multi-layer magneto-optical recording medium that can be oriented in a predetermined direction is used. Then, a method is used in which recording is performed with a pulse-modulated laser beam (high level PH and low level PL) according to the binarized information.

【0008】一方、相変化記録方式に用いられる記録媒
体は、結晶と非結晶の相を可逆的に繰り返すことが可能
な、例えばGeSbTe系の媒体が使用される。この媒
体は結晶状態で消去状態を表し、非結晶状態で記録を表
す。再生は、光ビームを照射し、結晶状態と非結晶状態
の反射率の違いを用いて強弱の電気信号に変換する。こ
の媒体も、高レベルと低レベルの2値に変調されたレー
ザービームでオーバーライトが可能である。
On the other hand, as a recording medium used in the phase change recording method, for example, a GeSbTe-based medium capable of reversibly repeating a crystalline phase and an amorphous phase is used. This medium represents an erased state in a crystalline state and a record in an amorphous state. In the reproduction, a light beam is irradiated, and the light beam is converted into a strong or weak electric signal by using a difference in reflectance between a crystalline state and an amorphous state. This medium can also be overwritten with a laser beam modulated into a high level and a low level.

【0009】[0009]

【発明が解決しようとする課題】ところで、光ディスク
に実際に記録を行う場合には、マーク形状を最適化する
ために、そのディスクの記録温度や感度、環境温度に応
じて光強度(レーザーパワー)の微調整が必要となる。
最適から著しくずれた記録パワーで記録した場合には、
形成されたマークの形状あるいは大きさが記録すべきマ
ークの形状あるいは大きさと異なり、これを再生しても
その再生信号が記録した情報に対応しない場合、エラー
となり情報の読み出しが不可能となる。
When recording is actually performed on an optical disc, the light intensity (laser power) is adjusted according to the recording temperature, sensitivity, and environmental temperature of the disc in order to optimize the mark shape. Fine-tuning is required.
When recording with a recording power that deviates significantly from the optimum,
If the shape or size of the formed mark is different from the shape or size of the mark to be recorded, and the reproduced signal does not correspond to the recorded information even when the mark is reproduced, an error occurs and the information cannot be read.

【0010】最適な光強度はディスクの面毎に異なるの
みでなく、ディスク上の半径位置、ディスクの温度、レ
ーザーを出力する記録再生装置の温度などの要因によっ
て変化する。現在、市販されている光ディスク記録装置
には、情報を記録する前に、テスト記録を行って感度調
整を行っているものもある。テスト記録を行うには、ド
ライブ装置に光ディスクを装着した直後や、使用中にド
ライブ装置の温度が変化した時等、ディスクの内、外
周、あるいは内、中、外周でパワーを変えて消去、記
録、再生を繰り返し行い、最適な記録パワーを探し出
す。また、情報の記録に使用可能な全領域に対して最適
な記録パワーを求めるためには、最内周領域と最外周と
でテスト記録によって最適パワーを求め、2つの記録パ
ワーから演算によってテスト記録を行わない中間の領域
の最適パワーを求める方法もある。
[0010] The optimum light intensity is not only different for each disk surface, but also varies depending on factors such as the radial position on the disk, the temperature of the disk, and the temperature of the recording / reproducing apparatus for outputting a laser. At present, some commercially available optical disk recording apparatuses perform test recording to adjust sensitivity before recording information. To perform test recording, the power is changed at the inner, outer, or inner, middle, and outer circumferences of the disk, such as immediately after the optical disk is mounted on the drive device or when the temperature of the drive device changes during use. Repeat the reproduction to find the optimum recording power. In addition, in order to obtain the optimum recording power for all the areas that can be used for recording information, the optimum power is obtained by test recording in the innermost area and the outermost area, and test recording is performed by calculation from the two recording powers. There is also a method of finding the optimum power in an intermediate area where the above is not performed.

【0011】装置を立ち上げた後、光ディスクの挿入あ
るいは交換直後と継続使用中では記録媒体の温度が変化
するため、これに伴いレーザービームの最適な光強度が
変化する。そのため、記録が的確に行えなくなる。これ
に対応するためには環境温度などが変化した場合に頻繁
にテスト記録を行い記録パワーの設定を更新していく必
要がある。しかしながら、使用中に頻繁にテスト記録を
行うと実質的な処理速度が低下するという問題があっ
た。
After the apparatus is started up, the temperature of the recording medium changes immediately after the insertion or replacement of the optical disk and during continuous use, so that the optimum light intensity of the laser beam changes accordingly. Therefore, recording cannot be performed accurately. To cope with this, it is necessary to frequently perform test recording when the environmental temperature or the like changes, and update the setting of the recording power. However, frequent test recording during use has a problem in that the actual processing speed is reduced.

【0012】さらに、前述した、少なくとも記録する光
強度を高レベルと低レベルの2値以上に変調することに
よってオーバーライト可能な光記録媒体に情報を記録す
るオーバーライト記録の場合には、高レベルと低レベル
の少なくとも2値の記録パワーを独立に設定することに
なる。したがって、最適な記録パワーを求めるためのテ
スト記録にさらに時間がかかることになる。その結果、
オーバーライト記録の高転送レートという利点を十分に
活用できないという問題点がある。
Further, in the case of the above-described overwrite recording in which information is recorded on an overwritable optical recording medium by modulating at least the light intensity to be recorded to at least two levels of a high level and a low level, And at least two low-level recording powers are independently set. Therefore, it takes more time for test recording to find the optimum recording power. as a result,
There is a problem that the advantage of the high transfer rate of overwrite recording cannot be fully utilized.

【0013】本発明は、温度変化が生じた場合でも適切
な光強度で記録することができ、また処理速度を低下さ
せることを防ぐことができる光記録方法および光記録装
置を提供することを目的とする。
An object of the present invention is to provide an optical recording method and an optical recording apparatus capable of recording at an appropriate light intensity even when a temperature change occurs and preventing a decrease in processing speed. And

【0014】[0014]

【課題を解決するための手段】本発明の光記録方法は、
記録媒体に光を照射することによって情報を記録する光
記録方法において、照射する光強度を順次変えながら、
前記記録媒体に対してテスト記録を行ない、前記テスト
記録の結果から媒体への正常な記録が可能な光強度の上
限値、下限値のうち少なくとも一方を求め、前記上限値
あるいは前記下限値に関する情報を、前記記録媒体ある
いは記録装置の所定の箇所に保持し、次のテスト記録を
行なう際に、保持された前記上限値あるいは前記下限値
を基にした光強度でテスト記録を行なうことを特徴とす
る。
The optical recording method of the present invention comprises:
In an optical recording method of recording information by irradiating a recording medium with light, while sequentially changing the light intensity to be irradiated,
Performing test recording on the recording medium, obtaining at least one of an upper limit value and a lower limit value of light intensity capable of normal recording on the medium from the result of the test recording, and obtaining information on the upper limit value or the lower limit value. Is held in a predetermined location of the recording medium or the recording device, and when performing the next test recording, the test recording is performed with light intensity based on the retained upper limit value or the lower limit value. I do.

【0015】また、前記上限値あるいは前記下限値を基
にして、テスト記録を行なう光強度の範囲を決定するこ
ととしてもよい。また、前記次のテスト記録は、前記テ
スト記録から所定時間経過後に行なうこととしてもよ
い。また、前記次のテスト記録は、前記記録媒体あるい
は記録装置に温度変化が検出された場合に行なうことと
してもよい。
The range of light intensity for performing test recording may be determined based on the upper limit or the lower limit. Further, the next test recording may be performed after a lapse of a predetermined time from the test recording. Further, the next test recording may be performed when a temperature change is detected in the recording medium or the recording device.

【0016】また、前記記録媒体は、ディスク形状の記
録媒体であり、記録装置の電源投入後あるいは前記記録
媒体のローディング後の初回のテスト記録時には、前記
記録媒体の複数の半径方向位置の領域においてテスト記
録を行い、次のテスト記録の際には、前記記録媒体の1
箇所の半径方向位置においてテスト記録を行い、その1
箇所のテスト記録から光強度を基にして前記記録媒体の
全領域の光強度を求めることとしてもよい。
The recording medium is a disk-shaped recording medium, and at the time of the first test recording after the power of the recording apparatus is turned on or after the loading of the recording medium, the recording medium has a plurality of radial positions on the recording medium. Test recording is performed, and at the time of the next test recording, one of the recording media
Test recording was performed at the radial position of the location,
The light intensity of the entire area of the recording medium may be determined based on the light intensity from the test recording at the location.

【0017】また、記録媒体は、ディスク形状の記録媒
体であり、前記記録媒体が別の記録媒体に交換された場
合の初回のテスト記録時に、保持された光強度の前記上
限値あるいは前記下限値を基にして光強度を変えなが
ら、前記記録媒体の複数の半径方向位置の領域において
テスト記録を行うこととしてもよい。
Also, the recording medium is a disk-shaped recording medium, and the upper limit value or the lower limit value of the held light intensity at the first test recording when the recording medium is replaced with another recording medium. The test recording may be performed in a plurality of areas in the radial direction of the recording medium while changing the light intensity based on the above.

【0018】また、光強度を少なくとも2値以上に変調
する光変調記録方式を用いて、前記記録媒体に情報を記
録することとしてもよい。また、前記記録媒体は、ダイ
レクトオーバーライト可能な記録媒体であることとして
もよい。また、本発明の光記録装置は、記録媒体を回転
させる回転手段と、前記記録媒体に対してレーザ光を照
射する照射手段と、前記記録媒体に記録すべき情報に前
記レーザ光の強度を制御し、前記記録媒体に対して記録
を行なう記録手段と、前記記録媒体に記録された情報を
再生する再生手段と、前記記録手段によって行なわれる
複数回のテスト記録ごとに前記再生手段によって得られ
る情報を基にして、前記記録媒体への正常な記録が可能
な前記レーザ光の強度の上限値、下限値のうち少なくと
も一方を決定する第1の決定手段と、前記上限値あるい
は前記下限値に基づいて、情報を記録する際のレーザ光
の強度を決定する第2の決定手段とを備えたことを特徴
とする。
Further, information may be recorded on the recording medium by using a light modulation recording method for modulating light intensity to at least two values. Further, the recording medium may be a recording medium capable of direct overwriting. Also, the optical recording apparatus of the present invention includes a rotating unit for rotating a recording medium, an irradiating unit for irradiating the recording medium with a laser beam, and controlling the intensity of the laser beam on information to be recorded on the recording medium. Recording means for performing recording on the recording medium; reproducing means for reproducing information recorded on the recording medium; and information obtained by the reproducing means for each of a plurality of test recordings performed by the recording means. A first determining means for determining at least one of an upper limit value and a lower limit value of the intensity of the laser beam capable of normal recording on the recording medium, based on the upper limit value or the lower limit value. And second determining means for determining the intensity of the laser beam when recording information.

【0019】また、前記上限値と前記下限値に関する情
報を記憶する記憶手段を有し、前記記録手段は、次のテ
スト記録を行なう際に、前記記憶手段に記憶された情報
を基にしたレーザ光強度でテスト記録を行なう構成とし
てもよい。また、タイマを有し、前記記録手段は、前記
タイマから所定時間経過を示す信号が出力された場合に
テスト記録を行なう構成としてもよい。
[0019] Further, the apparatus has storage means for storing information relating to the upper limit value and the lower limit value, and when performing the next test recording, a laser based on the information stored in the storage means is provided. The test recording may be performed with the light intensity. In addition, a timer may be provided, and the recording unit may perform test recording when a signal indicating that a predetermined time has elapsed is output from the timer.

【0020】また、前記光記録装置内あるいは前記記録
媒体の温度を検出する温度検出手段を有し、前記記録手
段は、前記温度検出手段によって所定値以上の温度変化
が検出された場合にテスト記録を行なう構成としてもよ
い。
Further, the apparatus further comprises a temperature detecting means for detecting the temperature of the optical recording apparatus or of the recording medium. May be performed.

【0021】[0021]

【発明の実施の形態】図1は本発明の実施例に用いる光
記録装置の構成図である。同図において、光記録装置1
aは、光ディスク2を回転させる駆動モータ3と、集光
されたレーザービーム4をディスク面上に照射し情報の
記録、再生、消去を行う光ヘッド5を備えている。光ヘ
ッド5は図示を省略した粗動モータによってディスク半
径方向に移動可能であり、情報の記録、再生、消去を行
なう半径方向の位置を変えることができる。
FIG. 1 is a block diagram of an optical recording apparatus used in an embodiment of the present invention. In the figure, an optical recording device 1
a includes a drive motor 3 for rotating the optical disk 2 and an optical head 5 for recording, reproducing and erasing information by irradiating the focused laser beam 4 onto the disk surface. The optical head 5 can be moved in the radial direction of the disk by a coarse motor (not shown), and the position in the radial direction where information is recorded, reproduced, and erased can be changed.

【0022】変調回路6は、光ディスク2にテスト記録
を行うときのレーザービーム4の光強度をテストパター
ンに応じて変調させる。メモリ7は、テスト記録時に記
録する複数のテストパターンデータを記憶している。温
度センサ8は、光記録装置1a内または光ディスク2の
温度を検出し、検出結果を制御回路10に出力する。再
生回路9は、光ヘッド5からの再生信号をデータとして
復元し、制御回路10へ送る。テスト記録時に光ディス
ク2に記録されるテストパターンは、再生回路9によっ
て再生される。
The modulation circuit 6 modulates the light intensity of the laser beam 4 when performing test recording on the optical disk 2 according to a test pattern. The memory 7 stores a plurality of test pattern data to be recorded at the time of test recording. The temperature sensor 8 detects the temperature of the optical recording device 1a or the temperature of the optical disk 2, and outputs a detection result to the control circuit 10. The reproduction circuit 9 restores the reproduction signal from the optical head 5 as data and sends the data to the control circuit 10. The test pattern recorded on the optical disk 2 at the time of test recording is reproduced by the reproducing circuit 9.

【0023】制御回路10は、この再生回路9によって
得られた再生情報に基づいてそれぞれのテスト記録領域
に応じた記録条件を求める。また、制御回路10は、温
度センサ8からの信号を入力し、温度に所定値以上の変
化があった場合は、メモリ7からテストパターンデータ
を読み出し、変調回路6にそのテストパターンデータを
送ることにより、テスト記録動作を開始させる。演算回
路11は、この制御回路10によって求められた記録条
件をもとに情報を記録する際の全記録領域における最適
な光強度を算出する。
The control circuit 10 obtains recording conditions corresponding to each test recording area based on the reproduction information obtained by the reproduction circuit 9. Further, the control circuit 10 receives a signal from the temperature sensor 8, reads out the test pattern data from the memory 7 when the temperature changes by a predetermined value or more, and sends the test pattern data to the modulation circuit 6. Starts the test recording operation. The arithmetic circuit 11 calculates the optimum light intensity in the entire recording area when recording information based on the recording conditions obtained by the control circuit 10.

【0024】図8は、本実施例で用いる光記録装置の別
の構成例を示す図である。図8の光記録装置1bは、図
1の装置1aの温度センサ8の代わりに、タイマ12を
用いている。タイマ12は、所定時間経過ごとに制御回
路10に信号を出力する。制御回路10bは、タイマ1
2からの所定時間経過を示す信号を受けると、メモリ7
からテストパターンデータを読み出し、変調回路6にそ
のテストパターンデータを送ることにより、テスト記録
動作を開始させる。その他の動作は、図1の光記録装置
1aと同様である。
FIG. 8 is a diagram showing another configuration example of the optical recording apparatus used in this embodiment. The optical recording device 1b of FIG. 8 uses a timer 12 instead of the temperature sensor 8 of the device 1a of FIG. The timer 12 outputs a signal to the control circuit 10 every time a predetermined time elapses. The control circuit 10b includes a timer 1
2 receives a signal indicating that a predetermined time has passed from the memory 7
The test recording operation is started by reading the test pattern data from. Other operations are the same as those of the optical recording device 1a of FIG.

【0025】本実施例では、光を照射することによって
情報を記録する記録媒体の中でも光強度を多値に変調す
る記録方法を用いるダイレクトオーバーライト可能な光
磁気記録媒体を例として説明を行う。ダイレクトオーバ
ーライトでは低パワーと高パワーのレーザービームを照
射する。低パワーのレーザービームの照射によって古い
情報を消去し同時に新たに記録すべき情報に応じて変調
された高パワーのレーザービームの照射によって新しい
情報を記録する。特に、低パワーは十分でない(低すぎ
る)場合には古い情報が消去されず、新しい情報が正し
く記録されないという事態が発生する。テスト記録とは
記録するための最適なパワーあるいは許容される記録パ
ワーを求める工程であるため、正しいパワーが得られな
い場合には信頼性を著しく低下させる原因となる。
In this embodiment, a direct overwriteable magneto-optical recording medium using a recording method of modulating the light intensity to a multi-level among recording media for recording information by irradiating light will be described as an example. In direct overwrite, a low-power and high-power laser beam is irradiated. Old information is erased by irradiating a low-power laser beam, and new information is simultaneously recorded by irradiating a high-power laser beam modulated according to information to be newly recorded. In particular, when the low power is not sufficient (too low), old information is not erased and new information is not recorded correctly. Since test recording is a process for finding the optimum power for recording or the permissible recording power, if correct power cannot be obtained, it will cause a significant decrease in reliability.

【0026】図2は、ダイレクトオーバーライト可能な
光磁気媒体の断面図である。図2に示すダイレクトオー
バーライト可能な光磁気媒体20、透明な基板21上に
順次積層された誘電体層22、メモリー層23、中間層
24、記録層25、スイッチ層26、初期化層27およ
び保護膜28を備えている。基板21としては、ディス
ク状のトラッキング用溝付きガラス基板が用いられる。
誘電体層22と保護膜28はSiN、メモリ層23はT
bFeCo、中間層24はGdFeCo、記録層25は
TbDyFeCo、スイッチ層26はTbFeCo、初
期化層27はTbCoによってそれぞれ所定の膜厚に形
成されている。メモリ層23はTM(Transition Meta
l:遷移金属)リッチ組成、記録層25は室温とキュー
リー温度の間に補償温度をもつRE(Rare earth:希土
類)リッチ組成である。
FIG. 2 is a sectional view of a magneto-optical medium capable of direct overwriting. A magneto-optical medium 20 capable of direct overwriting shown in FIG. 2, a dielectric layer 22, a memory layer 23, an intermediate layer 24, a recording layer 25, a switch layer 26, an initialization layer 27, and a dielectric layer 22, which are sequentially laminated on a transparent substrate 21, The protective film 28 is provided. As the substrate 21, a disk-shaped glass substrate with tracking grooves is used.
The dielectric layer 22 and the protective film 28 are SiN, and the memory layer 23 is TN.
bFeCo, the intermediate layer 24 are formed of GdFeCo, the recording layer 25 is formed of TbDyFeCo, the switch layer 26 is formed of TbFeCo, and the initialization layer 27 is formed of TbCo to have predetermined thicknesses. The memory layer 23 is a TM (Transition Meta)
l: transition metal) rich composition, the recording layer 25 is a RE (Rare earth: rare earth) rich composition having a compensation temperature between room temperature and Curie temperature.

【0027】光ディスク2としては、上記の光磁気媒体
20に限らず図3に示すダイレクトオーバーライト可能
な相変化媒体30を用いてもよい。この相変化媒体30
は、基板21上に順次積層された誘電体層22、記録層
25および保護層28を備えている。記録層25は、例
えばGeSbTeによって形成される。本実施例で用い
られる光ディスク2は、ゾーンと呼ばれる概ね同心円状
の複数の領域に区分けされており、ゾーンによって記録
周波数が異なる。外側のゾーンほど記録周波数が高い。
これらのゾーン毎にテスト記録を行い、情報を記録する
際の最適な光強度が決定される。そのため、光ディスク
2の記録可能な領域には、記録条件を決定するために図
4に示すように3つのテスト記録領域T1 ,T2,T3
が設けられている。テスト記録領域T1 とT3 は記録可
能領域の半径方向外周側と内周側にそれぞれ位置するよ
うに設けられ、残りのテスト記録領域T2は記録可能領
域の径方向中央に設けられている。
The optical disk 2 is not limited to the above-mentioned magneto-optical medium 20, but may be a phase-change medium 30 capable of direct overwriting as shown in FIG. This phase change medium 30
Includes a dielectric layer 22, a recording layer 25, and a protective layer 28 sequentially laminated on a substrate 21. The recording layer 25 is formed of, for example, GeSbTe. The optical disc 2 used in this embodiment is divided into a plurality of generally concentric regions called zones, and the recording frequency differs depending on the zone. The recording frequency is higher in the outer zone.
Test recording is performed for each of these zones, and the optimum light intensity for recording information is determined. Therefore, in the recordable area of the optical disc 2, three test recording areas T1, T2, and T3 as shown in FIG.
Is provided. The test recording areas T1 and T3 are provided on the radially outer side and the inner peripheral side of the recordable area, respectively, and the remaining test recording area T2 is provided at the radial center of the recordable area.

【0028】最適な記録パワーは、外周ほど大きくな
る。テスト記録においては、演算回路11によって、図
9に示すような各ゾーン毎の最適記録パワーのテーブル
が作成される。図5はダイレクトオーバーライトでの記
録パワーの変調および再生パワーを示す図で、縦軸はレ
ーザービームの強度、横軸は発光時間である。
The optimum recording power becomes larger toward the outer periphery. In the test recording, the arithmetic circuit 11 creates a table of the optimum recording power for each zone as shown in FIG. FIG. 5 is a diagram showing the modulation of the recording power and the reproduction power in the direct overwrite. The vertical axis represents the intensity of the laser beam, and the horizontal axis represents the light emission time.

【0029】同図において、PL はテスト記録時の低レ
ベル(消去パワー)、PH は高レベル(記録パワー)、
Pr は再生時のビーム強度(再生パワー)である。本実
施例では、以下のような手順で記録パワーを求める。 (1)初回のテスト記録 光ディスク2を光記録装置1aあるいは1bに装着し、
スピンドルモータ3によって光ディスク2を回転させ
る。そして、光ヘッド5を半径方向に移動させることに
よって光ビーム4の照射位置をテスト記録領域へと移動
させる。制御回路10は、メモリ7からテストパターン
のデータを読み出し(図10ステップ101)、そのテ
ストパターンを変調回路6に送るとともにテスト記録の
パワーを設定する(図10ステップ102)。3つのテ
スト記録領域T1 ,T2 ,T3 でレーザパワーを変えな
がらレーザービーム4を照射してテストパターンを複数
回記録する制御を行ない、光ヘッド5を各テスト領域に
移動させて、記録したテストパターンを再生する(図1
0ステップ103)。再生信号は、再生回路9を介し
て、制御回路10へ送られ、各々のテスト記録領域での
記録パワーの許容範囲(上限値、下限値)が求められる
(図10ステップ104)。以上のようにして、ディス
ク挿入直後のテスト記録を行なう。
In the figure, PL is a low level (erasing power) during test recording, PH is a high level (recording power),
Pr is a beam intensity (reproduction power) at the time of reproduction. In this embodiment, the recording power is obtained by the following procedure. (1) First test recording The optical disk 2 is mounted on the optical recording device 1a or 1b,
The optical disk 2 is rotated by the spindle motor 3. Then, the irradiation position of the light beam 4 is moved to the test recording area by moving the optical head 5 in the radial direction. The control circuit 10 reads the data of the test pattern from the memory 7 (step 101 in FIG. 10), sends the test pattern to the modulation circuit 6, and sets the power for test recording (step 102 in FIG. 10). The laser beam 4 is irradiated while changing the laser power in the three test recording areas T1, T2 and T3 to control the recording of the test pattern a plurality of times, and the optical head 5 is moved to each test area to record the test pattern. Play back (Fig. 1
0 step 103). The reproduction signal is sent to the control circuit 10 via the reproduction circuit 9, and the allowable range (upper limit, lower limit) of the recording power in each test recording area is obtained (step 104 in FIG. 10). As described above, the test recording immediately after the insertion of the disc is performed.

【0030】上記のようなテスト記録する際の、初めの
記録パワー(Pt0)は次の3つの方法のいずれかを用い
る。第1の方法では、記録装置内のたとえばメモリ7に
予めテスト記録時のパワー(Pt0)の値を記憶させてお
き、それを読み出し、その値を基にテストパターンを記
録する。第2の方法では、記録装置内のたとえばメモリ
7に、ディスクに通常の書き込みをする際の記録パワー
を記憶させておき、それを読み出し、その値を基にテス
ト記録するときのパワーを決定しテストパターンを記録
する。第3の方法では、光ディスク2に予め記録パワー
に関する情報を書き込んでおき、その情報を読み出し、
その情報による記録パワーを基にテスト記録時のパワー
を決定しテストパターンを記録する。
In the test recording as described above, the initial recording power (Pt0) uses one of the following three methods. In the first method, the value of the power (Pt0) at the time of test recording is stored in advance in, for example, the memory 7 in the recording apparatus, read out, and a test pattern is recorded based on the value. In the second method, the recording power for normal writing to a disk is stored in, for example, the memory 7 in the recording device, read out, and the power for test recording is determined based on the value. Record the test pattern. In the third method, information on recording power is previously written on the optical disc 2, and the information is read out.
The power at the time of test recording is determined based on the recording power based on the information, and the test pattern is recorded.

【0031】本実施例では、PHとPLの比を各領域で一
定に保つようにしてテスト記録を行う。すなわち、PH
を順次変えていく場合、PLもPH/PLが所定の値にな
るような値に変化させる。テスト記録領域での記録パワ
ーの上限値、下限値は以下のように求める。パワーPt0
でのテスト記録終了後あるいはテスト記録と同時に、前
述のようにテストパターンが再生され、制御回路10に
よって再生信号からエラーバイト数が求められる。すな
わち、テストパターンと再生されたデータとが比較さ
れ、正常に再生できなかったバイト数が求められる。
In this embodiment, test recording is performed so that the ratio between PH and PL is kept constant in each region. That is, PH
Is sequentially changed, PL is also changed to a value such that PH / PL becomes a predetermined value. The upper and lower limits of the recording power in the test recording area are obtained as follows. Power Pt0
After the test recording is completed or at the same time as the test recording, the test pattern is reproduced as described above, and the control circuit 10 obtains the number of error bytes from the reproduced signal. That is, the test pattern is compared with the reproduced data, and the number of bytes that cannot be reproduced normally is obtained.

【0032】次にPt0から順次記録パワーを上げなが
ら、あるいは下げながらテスト記録を繰り返すことによ
り、各記録パワーとその記録パワーでのエラーバイト数
との関係が得られる。図5に示すパワー変調方式を用い
て記録した場合のPHを、Pt0から順次パワーを上げな
がらテスト記録を行った場合のパワーとエラーバイト数
の関係を図示すると図11のようになる。初回のテスト
記録は媒体毎の最適な記録パワーの差や媒体および記録
装置内の温度によっても最適な記録パワーが異なるた
め、2回目以降と比べて広範囲にパワーを変えながらテ
スト記録することが必要である。
Next, by repeating the test recording while increasing or decreasing the recording power sequentially from Pt0, the relationship between each recording power and the number of error bytes at the recording power can be obtained. FIG. 11 shows the relationship between the power and the number of error bytes when test recording is performed while sequentially increasing the power of PH when recording using the power modulation method shown in FIG. 5 from Pt0. In the first test recording, the optimal recording power differs depending on the difference in the optimal recording power for each medium and the temperature of the medium and the recording device. Therefore, it is necessary to perform test recording while changing the power over a wider range than in the second and subsequent times. It is.

【0033】図11によれば、例えばこの再生系の許容
エラーバイト数が20であったとすると、記録パワーの
上限値PmaxはPt18、下限値PminはPt5となる。ユー
ザーが情報を記録する際の記録パワーはPmaxからPmin
の範囲内から選択され(PmaxとPminの中間値を選択す
るのが好ましい)、全領域の記録パワーは内周領域T
3、中周領域T2、外周領域T3でのテスト記録の結果か
ら、演算によって決定される。さらに、内周領域T3、
中周領域T2、外周領域T3での記録パワーの上限値と下
限値は光ディスク2の所定の領域、あるいは記録装置内
に設けた記憶装置(たとえばメモリ7)に記憶される。
According to FIG. 11, if the allowable number of error bytes of the reproducing system is 20, for example, the upper limit Pmax of the recording power is Pt18 and the lower limit Pmin is Pt5. The recording power when the user records information is from Pmax to Pmin
(It is preferable to select an intermediate value between Pmax and Pmin), and the recording power of the entire area is equal to the inner peripheral area T.
3. Determined by calculation from the results of test recording in the middle area T2 and the outer area T3. Further, the inner peripheral area T3,
The upper limit value and the lower limit value of the recording power in the middle area T2 and the outer area T3 are stored in a predetermined area of the optical disk 2 or a storage device (for example, the memory 7) provided in the recording apparatus.

【0034】(2)2回目以降のテスト記録 初回のテスト記録を終えた後、テスト記録で求められた
記録パワーにて、記録装置は記録動作、あるいは再生動
作を行なう(図10ステップ105)。光記録装置1a
あるいは1bを立ち上げた後、時間経過とともに装置お
よびその中に装着されている光ディスク2の温度は上昇
する。周囲温度の変化によっては、光ディスク2の温度
が下降することもあり得る。これに伴い最適な記録パワ
ーは変化する。この温度変化は、温度センサ8を用いる
ことによって検出可能である。すなわち、制御回路10
は、テスト記録を行なったときに温度センサ8から出力
される温度情報を入力して記憶し、その後、温度センサ
8からの温度情報を監視し続ける。前回のテスト記録時
から温度が所定値以上変化した場合は、再びテスト記録
を行なう制御をする。また、図8に示す記録装置1bの
場合は、タイマ12から所定時間経過を示す信号が出力
されたときに、再びテスト記録を行なう。すなわち、記
録装置に取り付けられた温度センサによって所定値以上
の温度変化が検出された場合、あるいは前回のテスト記
録から所定時間が経過した場合に再度テスト記録を行う
(図10ステップ106)。2回目以降のテスト記録は
前回かのテスト記録時から温度変化によるパワーのズレ
が予想されるがディスクを交換していないため、初回の
テスト記録時のように広範囲でパワーを変える必要はな
い。すなわち前回の上限値と下限値とを含む初回より狭
い範囲内でテスト記録するのみで十分である。そこで、
制御回路10は、前回のテスト記録時に記憶しておいた
各テスト記録領域での記録パワーの上限値、下限値を読
み出す(図10ステップ107)。そして、その上限
値、下限値をもとにして、今回のテスト記録時において
記録パワーを変える範囲を設定する(図10ステップ1
08)。温度が上昇した場合は、最適記録パワーは下が
ることが予想されるので、記録パワーを変える範囲を下
限値側は、前回の下限値よりもやや低い値を含めるよう
にするのが好ましい。この場合、上限値側は、前回の上
限値と同じかやや低い値で行なえばよいであろう。温度
が下降した場合は、その逆である。そして、記録パワー
を変える範囲が決定したら、初回と同様にテスト記録を
行い(図10ステップ109)、記録パワーの上限値、
下限値を決定する(図10ステップ110)。ユーザが
情報を記録する際の記録パワーは、求められた上限値と
下限値の中間の値に設定すればよい。また、求められた
上限値と下限値はメモリ7に記憶しておき、次のテスト
記録時に読み出す。
(2) Second and Subsequent Test Recording After the first test recording is completed, the recording apparatus performs a recording operation or a reproducing operation at the recording power determined by the test recording (step 105 in FIG. 10). Optical recording device 1a
Alternatively, after the start of 1b, the temperature of the apparatus and the optical disk 2 mounted therein rises with time. Depending on the change in the ambient temperature, the temperature of the optical disk 2 may decrease. Accordingly, the optimum recording power changes. This temperature change can be detected by using the temperature sensor 8. That is, the control circuit 10
Inputs and stores the temperature information output from the temperature sensor 8 when the test recording is performed, and then continuously monitors the temperature information from the temperature sensor 8. If the temperature has changed by a predetermined value or more since the last test recording, control is performed to perform test recording again. In the case of the recording device 1b shown in FIG. 8, when the signal indicating that the predetermined time has elapsed is output from the timer 12, the test recording is performed again. That is, test recording is performed again when a temperature change equal to or more than a predetermined value is detected by the temperature sensor attached to the recording device, or when a predetermined time has elapsed since the previous test recording (step 106 in FIG. 10). In the second and subsequent test recordings, a power deviation due to a temperature change is expected from the previous test recording, but since the disk is not replaced, it is not necessary to change the power over a wide range as in the first test recording. That is, it is sufficient to perform test recording only within a narrower range than the first time including the previous upper limit and lower limit. Therefore,
The control circuit 10 reads the upper limit value and the lower limit value of the recording power in each test recording area stored at the time of the previous test recording (Step 107 in FIG. 10). Then, based on the upper limit value and the lower limit value, a range in which the recording power is changed in the current test recording is set (step 1 in FIG. 10).
08). When the temperature rises, the optimum recording power is expected to decrease. Therefore, it is preferable that the lower limit of the range in which the recording power is changed should include a value slightly lower than the previous lower limit. In this case, the upper limit may be set to a value equal to or slightly lower than the previous upper limit. If the temperature drops, the reverse is true. When the range for changing the recording power is determined, test recording is performed as in the first time (step 109 in FIG. 10), and the upper limit of the recording power,
The lower limit is determined (Step 110 in FIG. 10). The recording power when the user records information may be set to an intermediate value between the obtained upper limit and lower limit. The obtained upper limit value and lower limit value are stored in the memory 7 and read out at the time of the next test recording.

【0035】説明では便宜的に図5に示す変調方法につ
いて述べてきたが、高パワーをさらに多値化した変調方
法(図6参照)や高パワーの発光の前あるいは後に熱遮
断を付加した変調方法(図7参照)および高パワーでの
発光をパルス状とした変調方法でも同様な効果が得られ
ることは言うまでもない。次に、上記手順に基づく実施
例について説明する。
In the description, the modulation method shown in FIG. 5 has been described for convenience. However, a modulation method in which high power is further multi-valued (see FIG. 6) or a modulation method in which heat shutoff is added before or after high power light emission. It is needless to say that the same effect can be obtained by the method (see FIG. 7) and the modulation method in which the light emission at high power is pulsed. Next, an embodiment based on the above procedure will be described.

【0036】(1)初回のテスト記録 まず、透明基板にダイレクトオーバーライト可能な光記
録媒体が成膜された光ディスクを準備した。記録装置の
電源を入れ前記光ディスクを記録装置に挿入した。記録
装置にはテスト記録時の光強度に関する情報が保持され
ており、この光強度を読み出して光強度を順次変えなが
らテスト記録を行う。各領域毎の記録装置から読み出さ
れたテスト記録のPHを図13に示した。この実施例に
場合、テスト記録でPHを変化させる範囲を示すデータ
が記録装置内のメモリ7に記憶されている。挿入直後こ
れら内周、中周、外周の3つの領域のそれぞれにランダ
ムパターンからなるテストパターンを図5に示すように
変調し、各領域毎にPHとPLとの比を一定に保ちながら
テスト記録を行った。テスト記録では記録パワーを変え
て記録する度に再生信号からエラーバイト数を求めた。
内周でのテスト記録の結果、内周でのPH(mW)とエ
ラーバイト数との関係を図12に示した。許容できるエ
ラーバイト数を20とするとPHの上限値は9.8m
W、下限値は8.7mWであった。この値より内周のテ
スト記録の上限値を9.9mW、下限値を8.6mWと
した。各々の領域のテスト記録の結果から次回のテスト
記録の上限値、下限値を決定し、これらの値を記録再生
装置の所定の箇所に保持した。また、データ領域に情報
を記録する際の光強度はテスト記録の結果をもとに設定
された。 (2)2回目のテスト記録 光ディスクを挿入して約10分後に再びテスト記録を行
った。テスト記録の光強度は前回のテスト記録の上限
値、下限値を読み出すことによって決定された。内周で
は8.6mWから9.8mWの範囲でテスト記録を行っ
た。テスト記録でのエラーバイト数は図12に▽で示し
た。上限値は9.7mW、下限値は8.65mWであっ
た。初回のテスト記録の上限値、下限値から設定したテ
スト記録範囲上限値、下限値および適正な光強度範囲が
求められた。データ部に新しい情報を記録し、この再生
信号を観察したところ、新しい情報の信号のみが見ら
れ、情報の消去と記録が正しく行われたことが確認され
た。
(1) Initial Test Recording First, an optical disc was prepared in which an optical recording medium capable of direct overwriting was formed on a transparent substrate. The power of the recording device was turned on, and the optical disk was inserted into the recording device. The recording device holds information on the light intensity at the time of test recording. The light intensity is read out, and test recording is performed while sequentially changing the light intensity. FIG. 13 shows the PH of the test record read from the recording device for each area. In the case of this embodiment, data indicating the range in which PH is changed in the test recording is stored in the memory 7 in the recording apparatus. Immediately after insertion, a test pattern consisting of a random pattern is modulated in each of the three areas of the inner circumference, the middle circumference, and the outer circumference as shown in FIG. 5, and test recording is performed while maintaining a constant ratio of PH and PL in each area. Was done. In the test recording, the number of error bytes was obtained from the reproduced signal each time recording was performed while changing the recording power.
FIG. 12 shows the relationship between PH (mW) and the number of error bytes on the inner circumference as a result of test recording on the inner circumference. Assuming that the number of allowable error bytes is 20, the upper limit of PH is 9.8 m.
W, the lower limit was 8.7 mW. From this value, the upper limit of the test recording on the inner circumference was set to 9.9 mW, and the lower limit was set to 8.6 mW. The upper limit value and the lower limit value of the next test recording were determined from the results of the test recording in each area, and these values were held at predetermined positions of the recording / reproducing apparatus. The light intensity when recording information in the data area was set based on the result of the test recording. (2) Second test recording Test recording was performed again about 10 minutes after the optical disk was inserted. The light intensity of the test record was determined by reading the upper and lower limits of the previous test record. Test recording was performed in the range of 8.6 mW to 9.8 mW on the inner circumference. The number of error bytes in the test recording is indicated by ▽ in FIG. The upper limit was 9.7 mW and the lower limit was 8.65 mW. The upper and lower limits of the test recording range set from the upper and lower limits of the first test recording and the appropriate light intensity range were determined. When new information was recorded in the data section and the reproduced signal was observed, only a signal of the new information was observed, and it was confirmed that the erasure and recording of the information were correctly performed.

【0037】すなわち、2回目のテスト記録では、初回
のテスト記録時の光強度範囲(図13に示す)より狭い
範囲でのテスト記録で、適正な記録パワーが求められた
わけである。 (3)3回目以降 一旦、ディスクを記録装置に挿入すると記録、再生、消
去等の適正な光強度はおもに温度変化によって引き起こ
される。このため、初回の適正な光強度から大きく外れ
ることはない。このため、ディスク挿入直後に広い範囲
で光強度を変えながらテスト記録をし、光強度の上限、
下限を求めておくことによって次回のテスト記録では上
限値と下限値とを含む範囲でのテスト記録で十分、適正
なパワーが得られ、テスト記録にかかる時間も短縮され
る。3回目以降のテスト記録も前回のテスト記録の上限
値、下限値をもとにした光強度範囲で行うことで十分で
ある。
That is, in the second test recording, an appropriate recording power was obtained in a test recording in a range narrower than the light intensity range (shown in FIG. 13) at the time of the first test recording. (3) Third Time and Later Once the disc is inserted into the recording device, the appropriate light intensity for recording, reproduction, erasure, etc. is mainly caused by a temperature change. For this reason, there is no great deviation from the first appropriate light intensity. For this reason, test recording is performed while changing the light intensity over a wide range immediately after the insertion of the disc, and the upper limit of the light intensity,
By obtaining the lower limit, in the next test recording, the test recording in the range including the upper limit value and the lower limit value is sufficient and appropriate power is obtained, and the time required for the test recording is shortened. It is sufficient to perform the third and subsequent test recordings in the light intensity range based on the upper and lower limits of the previous test recording.

【0038】また、このようなテスト記録は記録装置あ
るいはディスクの温度変化があった場合のみに行うもの
でもよい。初回のテスト記録の範囲はディスクにかかれ
た光強度に関する情報を読みだし、この強度をもとにテ
スト記録を行うものであってもよい。また、前記のテス
ト記録は複数のディスクを扱うディスクオートチェンジ
ャーやジュークボックスに適応することによってもテス
ト記録の時間短縮が期待できる。
Such test recording may be performed only when there is a change in the temperature of the recording device or the disk. For the range of the first test recording, information on the light intensity applied to the disc may be read, and test recording may be performed based on this intensity. Also, the test recording can be expected to be shortened by applying it to a disk autochanger or a jukebox that handles a plurality of disks.

【0039】[0039]

【発明の効果】以上のように本発明によれば、テスト記
録時の記録パワーの設定を効率的に行なうことができ、
テスト記録に要する時間を短縮することができる。
As described above, according to the present invention, the recording power can be set efficiently during test recording.
The time required for test recording can be reduced.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 本発明の実施例に用いる光記録装置の構成
図。
FIG. 1 is a configuration diagram of an optical recording apparatus used in an embodiment of the present invention.

【図2】 ダイレクトオーバーライト可能な光磁気媒体
の一例を示す断面図。
FIG. 2 is a sectional view showing an example of a magneto-optical medium capable of direct overwriting.

【図3】 ダイレクトオーバーライト可能な相変化媒体
の一例を示す断面図。
FIG. 3 is a cross-sectional view illustrating an example of a phase change medium capable of direct overwriting.

【図4】 光ディスクを記録面に対して垂直方向から見
た場合のテスト記録領域の配置を示す図。
FIG. 4 is a diagram showing an arrangement of test recording areas when the optical disc is viewed from a direction perpendicular to a recording surface.

【図5】 ダイレクトオーバーライトのパワー変調を示
す図。
FIG. 5 is a view showing power modulation of direct overwrite.

【図6】 ダイレクトオーバーライトの他のパワー変調
を示す図。
FIG. 6 is a diagram showing another power modulation of direct overwrite.

【図7】 ダイレクトオーバーライトの他のパワー変調
を示す図。
FIG. 7 is a diagram showing another power modulation of direct overwrite.

【図8】 本発明の実施例に用いる他の光記録装置の構
成図。
FIG. 8 is a configuration diagram of another optical recording apparatus used in the embodiment of the present invention.

【図9】 テスト記録によって求められる各ゾーンごと
の最適記録パワーをもとに作成されるテーブルを示す
図。
FIG. 9 is a diagram showing a table created based on the optimum recording power for each zone obtained by test recording.

【図10】 本発明の実施例の記録方法の手順を示す
図。
FIG. 10 is a diagram showing a procedure of a recording method according to the embodiment of the present invention.

【図11】 本発明の実施例におけるテスト記録での記
録パワーの上限値、下限値の求め方を示す図。
FIG. 11 is a diagram illustrating a method of obtaining upper and lower limits of recording power in test recording according to the embodiment of the present invention.

【図12】 本発明の実施例における記録パワーと再生
した場合のエラーバイト数との関係を示す図。
FIG. 12 is a diagram showing the relationship between the recording power and the number of error bytes during reproduction according to the embodiment of the present invention.

【図13】 本発明の実施例により求められた、各テス
ト記録領域における記録パワーの許容値を示す図。
FIG. 13 is a diagram showing an allowable value of a recording power in each test recording area obtained according to the embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1a、1b;光記録装置、2;光ディスク、3;駆動モ
ータ、4;レーザビーム、5;光ヘッド、6;変調回
路、7;メモリ、8;温度センサ、9;再生回路、1
0;制御回路、11;演算回路、12;タイマ。
1a, 1b: optical recording device, 2: optical disk, 3: drive motor, 4: laser beam, 5: optical head, 6: modulation circuit, 7: memory, 8: temperature sensor, 9: reproduction circuit, 1
0: control circuit, 11: arithmetic circuit, 12: timer.

Claims (12)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】記録媒体に光を照射することによって情報
を記録する光記録方法において、 照射する光強度を順次変えながら、前記記録媒体に対し
てテスト記録を行ない、 前記テスト記録の結果から媒体への正常な記録が可能な
光強度の上限値、下限値のうち少なくとも一方を求め、 前記上限値あるいは前記下限値に関する情報を、前記記
録媒体あるいは記録装置の所定の箇所に保持し、 次のテスト記録を行なう際に、保持された前記上限値あ
るいは前記下限値を基にした光強度でテスト記録を行な
うことを特徴とする光記録方法。
1. An optical recording method for recording information by irradiating a recording medium with light, wherein test recording is performed on the recording medium while sequentially changing the irradiating light intensity. Determine at least one of the upper limit value and the lower limit value of the light intensity capable of normal recording to, and hold the information related to the upper limit value or the lower limit value at a predetermined location of the recording medium or the recording device, and An optical recording method, comprising: performing test recording with light intensity based on the held upper limit value or lower limit value when performing test recording.
【請求項2】請求項1に記載の光記録方法であって、 前記上限値あるいは前記下限値を基にして、テスト記録
を行なう光強度の範囲を決定することを特徴とする光記
録方法。
2. The optical recording method according to claim 1, wherein a range of light intensity for performing test recording is determined based on the upper limit or the lower limit.
【請求項3】請求項1に記載の光記録方法であって、 前記次のテスト記録は、前記テスト記録から所定時間経
過後に行なうことを特徴とする光記録方法。
3. The optical recording method according to claim 1, wherein the next test recording is performed after a lapse of a predetermined time from the test recording.
【請求項4】請求項1に記載の光記録方法であって、 前記次のテスト記録は、前記記録媒体あるいは記録装置
に温度変化が検出された場合に行なうことを特徴とする
光記録方法。
4. The optical recording method according to claim 1, wherein the next test recording is performed when a temperature change is detected in the recording medium or the recording device.
【請求項5】請求項1に記載の光記録方法であって、 前記記録媒体は、ディスク形状の記録媒体であり、 記録装置の電源投入後あるいは前記記録媒体のローディ
ング後の初回のテスト記録時には、前記記録媒体の複数
の半径方向位置の領域においてテスト記録を行い、 次のテスト記録の際には、前記記録媒体の1箇所の半径
方向位置においてテスト記録を行い、その1箇所のテス
ト記録から光強度を基にして前記記録媒体の全領域の光
強度を求めることを特徴とする光記録方法。
5. The optical recording method according to claim 1, wherein the recording medium is a disk-shaped recording medium, and is used at the time of first test recording after turning on a recording apparatus or after loading the recording medium. The test recording is performed in a plurality of radial positions of the recording medium, and at the time of the next test recording, the test recording is performed at one radial position of the recording medium. An optical recording method, wherein the light intensity of the entire area of the recording medium is obtained based on the light intensity.
【請求項6】請求項1に記載の光記録方法であって、 記録媒体は、ディスク形状の記録媒体であり、 前記記録媒体が別の記録媒体に交換された場合の初回の
テスト記録時に、保持された光強度の前記上限値あるい
は前記下限値を基にして光強度を変えながら、前記記録
媒体の複数の半径方向位置の領域においてテスト記録を
行うことを特徴とする光記録方法。
6. The optical recording method according to claim 1, wherein the recording medium is a disk-shaped recording medium, and at the time of the first test recording when the recording medium is replaced with another recording medium. An optical recording method, wherein test recording is performed in a plurality of radial positions of the recording medium while changing the light intensity based on the held upper limit or lower limit of the light intensity.
【請求項7】請求項1に記載の光記録方法であって、 光強度を少なくとも2値以上に変調する光変調記録方式
を用いて、前記記録媒体に情報を記録することを特徴と
する光記録方法。
7. The optical recording method according to claim 1, wherein information is recorded on the recording medium by using an optical modulation recording method for modulating light intensity to at least two values. Recording method.
【請求項8】請求項1に記載の光記録方法であって、 前記記録媒体は、ダイレクトオーバーライト可能な記録
媒体であることを特徴とする光記録方法。
8. The optical recording method according to claim 1, wherein the recording medium is a direct overwriteable recording medium.
【請求項9】記録媒体を回転させる回転手段と、 前記記録媒体に対してレーザ光を照射する照射手段と、 前記記録媒体に記録すべき情報に前記レーザ光の強度を
制御し、前記記録媒体に対して記録を行なう記録手段
と、 前記記録媒体に記録された情報を再生する再生手段と、 前記記録手段によって行なわれる複数回のテスト記録ご
とに前記再生手段によって得られる情報を基にして、前
記記録媒体への正常な記録が可能な前記レーザ光の強度
の上限値、下限値のうち少なくとも一方を決定する第1
の決定手段と、 前記上限値あるいは前記下限値に基づいて、情報を記録
する際のレーザ光の強度を決定する第2の決定手段とを
備えたことを特徴とする光記録装置。
9. A rotating unit for rotating a recording medium, an irradiating unit for irradiating the recording medium with a laser beam, and controlling the intensity of the laser beam for information to be recorded on the recording medium, Recording means for performing recording on the recording medium; reproducing means for reproducing information recorded on the recording medium; based on information obtained by the reproducing means for each of a plurality of test recordings performed by the recording means, A first method for determining at least one of an upper limit value and a lower limit value of the intensity of the laser beam capable of normal recording on the recording medium;
An optical recording apparatus comprising: a determination unit for determining the intensity of a laser beam when recording information based on the upper limit value or the lower limit value.
【請求項10】請求項9に記載の光記録装置であって、 前記上限値と前記下限値に関する情報を記憶する記憶手
段を有し、 前記記録手段は、次のテスト記録を行なう際に、前記記
憶手段に記憶された情報を基にしたレーザ光強度でテス
ト記録を行なうことを特徴とする光記録装置。
10. The optical recording apparatus according to claim 9, further comprising storage means for storing information relating to the upper limit value and the lower limit value, wherein the recording means performs the next test recording. An optical recording apparatus for performing test recording with a laser beam intensity based on information stored in the storage means.
【請求項11】請求項9に記載の光記録装置であって、 タイマを有し、前記記録手段は、前記タイマから所定時
間経過を示す信号が出力された場合にテスト記録を行な
うことを特徴とする光記録装置。
11. The optical recording apparatus according to claim 9, further comprising a timer, wherein said recording means performs test recording when a signal indicating that a predetermined time has elapsed is output from said timer. Optical recording device.
【請求項12】請求項9に記載の光記録装置であって、 前記光記録装置内あるいは前記記録媒体の温度を検出す
る温度検出手段を有し、 前記記録手段は、前記温度検出手段によって所定値以上
の温度変化が検出された場合にテスト記録を行なうこと
を特徴とする光記録装置。
12. The optical recording apparatus according to claim 9, further comprising a temperature detecting means for detecting a temperature of the inside of the optical recording apparatus or of the recording medium, wherein the recording means is controlled by the temperature detecting means. An optical recording apparatus for performing test recording when a temperature change equal to or greater than a value is detected.
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