JPH1070220A - Power amplification module - Google Patents

Power amplification module

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JPH1070220A
JPH1070220A JP34386596A JP34386596A JPH1070220A JP H1070220 A JPH1070220 A JP H1070220A JP 34386596 A JP34386596 A JP 34386596A JP 34386596 A JP34386596 A JP 34386596A JP H1070220 A JPH1070220 A JP H1070220A
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power amplification
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賢一郎 松崎
Manabu Ishii
学 石井
Kenji Otobe
健二 乙部
Tatsuya Hashinaga
達也 橋長
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a power amplification module having attained high performance by releasing heat generated by a power amplifier to the external side in a higher efficiency. SOLUTION: This module 10 is provided with a package 20 formed by coupling an almost flat base plate 30 and a cap 40 as an almost box type metal package cap. On the base plate 30, an almost flat type insulating substrate 50 and this substrate is covered with the cap 40. The insulating substrate 50 is provided with a couple of through holes 52a, 52b and almost flat type two heat spreaders 60a, 60b are provided on the base plate 30 exposed from these through holes 52a, 52b. On the surfaces of these heat spreaders 60a, 60b, the semiconductor devices 70a, 70b sealed by the resin, etc., are provided and soldered, respectively.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、電力増幅モジュー
ル、特に、樹脂、セラミック等によりパッケージされた
半導体デバイスを実装する電力増幅モジュールに関する
ものである。
The present invention relates to a power amplification module, and more particularly to a power amplification module for mounting a semiconductor device packaged with resin, ceramic, or the like.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、電子機器の小型化・高機能化の要
請に伴って、電子機器に組み込まれる電子部品の更なる
小型化・高機能化が図られるようになり、例えば、いわ
ゆるマイクロチップと呼ばれる極めて小さな能動素子や
受動素子等を絶縁基板上に配置し、絶縁基板上に形成し
た回路パターンで互いに接続することによって小型の電
子回路基板を形成したものが使用されている。また、こ
の電子回路基板は、パッケージ等に組み込まれモジュー
ル化された電子部品として、例えば電力増幅モジュール
と呼ばれるものが多く使用されるようになった。
2. Description of the Related Art In recent years, with the demand for miniaturization and high functionality of electronic equipment, electronic components incorporated in electronic equipment have been further miniaturized and enhanced in function. A small electronic circuit board is formed by arranging extremely small active elements, passive elements, and the like on an insulating substrate and connecting them with each other by a circuit pattern formed on the insulating substrate. Further, as this electronic circuit board, for example, a so-called power amplification module has been widely used as a modularized electronic component incorporated in a package or the like.

【0003】かかるモジュール化された電子部品の従来
例を図10に基づいて説明する。図10(a)の分解斜
視図に示すように、絶縁基板80に形成されている回路
パターン(図示しない)上に、トランジスタ等の能動素
子1や抵抗やコンデンサなどのチップ化された受動素子
2を接続し電子回路を形成している。ここで、動作中発
熱する能動素子が、絶縁基板上に直接固定されている。
A conventional example of such a modularized electronic component will be described with reference to FIG. As shown in an exploded perspective view of FIG. 10A, an active element 1 such as a transistor and a chip-shaped passive element 2 such as a resistor and a capacitor are formed on a circuit pattern (not shown) formed on an insulating substrate 80. To form an electronic circuit. Here, active elements that generate heat during operation are directly fixed on the insulating substrate.

【0004】さらに、絶縁基板80の側端には、複数個
の金属製リードピン83a〜83dが固定されている。
Further, a plurality of metal lead pins 83a to 83d are fixed to the side end of the insulating substrate 80.

【0005】一方、リードピン83a等は、配線基板8
0の側端を挟持する鉤型の固定部84と絶縁基板80よ
り下側へ曲げられた足部85とより構成され、これらを
一体成形して作製されたものである。そして、この固定
部84は、回路パターンの所定部分に電気的に接続され
ている。このように絶縁基板80より下側へ曲げられた
足部85が形成されている理由は、最終的にモジュール
化された後に、このモジュールを各種の電子機器の基板
に取り付ける際に、固定部84の底面がその電子機器の
基板(不図示)に接触しないように隙間を持たせるため
であり、これにより電子機器の基板上に形成された回路
パターンとの短絡を防ぐためである。
On the other hand, the lead pins 83a and the like
It is composed of a hook-shaped fixing portion 84 for holding the side end of the “0” and a foot portion 85 bent downward from the insulating substrate 80, and is manufactured by integrally molding these. The fixing portion 84 is electrically connected to a predetermined portion of the circuit pattern. The reason why the legs 85 bent below the insulating substrate 80 are formed is that, when the module is finally mounted on a substrate of various electronic devices, the fixing portion 84 is formed. This is for providing a gap so that the bottom surface of the electronic device does not contact the substrate (not shown) of the electronic device, thereby preventing a short circuit with a circuit pattern formed on the substrate of the electronic device.

【0006】さらに、絶縁基板80の底面には、図10
(b)に示すようなベースプレート3が取り付けられて
いる。このベース3には、その両端が折り曲げ加工され
ることによって、リードピン83a〜83dの足部85
と同じ高さを有する段差部4,5が形成されている。上
述したように、最終的にモジュール化された電子部品を
各種の電子機器の基板に取り付ける場合に、リードピン
83a〜83dのそれぞれの足部85とベース3の段差
部4,5の高さとを等しくしている。次いで、配線基板
80の上側から箱状のパッケージ蓋6を嵌着することに
より、最終的にモジュール化された電子部品が形成され
ていた。
Further, on the bottom surface of the insulating substrate 80, FIG.
A base plate 3 as shown in FIG. The base 3 is bent at both ends so that the foot 85 of the lead pins 83a to 83d is bent.
Step portions 4 and 5 having the same height as are formed. As described above, when finally mounting the modularized electronic components on the boards of various electronic devices, the heights of the feet 85 of the lead pins 83a to 83d and the steps 4, 5 of the base 3 are equal. doing. Next, the box-shaped package lid 6 is fitted from above the wiring board 80, thereby finally forming a modularized electronic component.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】上述の様な従来の電力
増幅モジュールでは、高出力特性によって多量に発熱す
る能動素子を備えている。しかしながら、通常、絶縁基
板は、アルミナやガラスエポキシ樹脂などで構成されて
いるので比較的小さい熱伝導率しか有しないため、能動
素子である出力段トランジスタから発生した熱を外部に
効率よく放出することが難しかった。そのため、各種の
電子デバイスの動作速度や寿命が低下するという問題点
があった。
The conventional power amplifier module as described above has an active element that generates a large amount of heat due to high output characteristics. However, since the insulating substrate is usually made of alumina or glass epoxy resin and has only a relatively small thermal conductivity, it is necessary to efficiently radiate the heat generated from the output stage transistor as an active element to the outside. Was difficult. Therefore, there has been a problem that the operating speed and life of various electronic devices are reduced.

【0008】又、かかる構造を有するモジュール電子部
品にあっては、折り曲げ加工によってベース3の段差部
4,5を成形しているので、常に均一な高さのベース3
が得られず、次に述べるような問題を招いていた。
In the module electronic component having such a structure, since the steps 4, 5 of the base 3 are formed by bending, the base 3 always has a uniform height.
And the following problems were caused.

【0009】すなわち、ベース3の段差部4、5の高さ
が等しくない場合には、この電力増幅モジュールを電子
機器の基板上に配置したとき、ガタが生じることがあ
る。そして放熱効果を向上させるために、ベース3の底
面と電子機器の基板との間に放熱板(図示しない)を介
在させる場合、上記のようなガタの発生により放熱板の
密着性が悪くなるので、十分な放熱効果が得られなくな
るという問題を生じていた。
That is, if the heights of the steps 4 and 5 of the base 3 are not equal, play may occur when this power amplification module is arranged on a substrate of an electronic device. When a heat radiating plate (not shown) is interposed between the bottom surface of the base 3 and the substrate of the electronic device in order to improve the heat radiating effect, the adhesion of the heat radiating plate becomes poor due to the occurrence of the above-mentioned play. However, there has been a problem that a sufficient heat radiation effect cannot be obtained.

【0010】このようなモジュールとしては、生産性、
信頼性に勝るモールド封止された半導体デバイスを利用
することが多いが、このタイプの半導体デバイスを搭載
した電力増幅モジュールでは、特に、高周波特性の劣化
と放熱性を満足させるのは難しかった。
As such a module, productivity,
In many cases, a semiconductor device sealed with a mold that is superior in reliability is used. However, it has been difficult for a power amplifier module equipped with this type of semiconductor device to satisfy, in particular, deterioration of high-frequency characteristics and heat radiation.

【0011】本発明は、以上の問題点に鑑みてなされた
ものであり、パッケージされた半導体デバイスを備えた
電力増幅モジュールで、このパッケージされた半導体デ
バイスから発生した熱を外部に高効率で放出できる構造
を備えた電力増幅モジュールを提供することを目的とす
る。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above problems, and is intended to provide a power amplification module having a packaged semiconductor device, which efficiently radiates heat generated from the packaged semiconductor device to the outside. It is an object of the present invention to provide a power amplification module having a structure that can be used.

【0012】[0012]

【課題を解決するための手段】本発明の電力増幅モジュ
ールは、上記問題点を解決するため、主面に回路パター
ンが形成され、かつ当該主面及び裏面を貫通して少なく
とも1つの繰り抜き穴が設けられた絶縁基板と、前記絶
縁基板を搭載する金属製のベースプレートと、ベースプ
レート上に搭載され、上記絶縁基板に設けられた前記繰
り抜き穴から露出され、その上面が、上記絶縁基板の主
面とほぼ同じ高さにある少なくとも1つのヒートスプレ
ッダと、パッケージされた半導体デバイスであって、前
記パッケージ底面よりほぼ水平に伸びる電気端子を有
し、前記少なくとも1つのヒートスプレッダの上面に搭
載され、上記絶縁基板上の前記回路パターンと前記電気
端子とを電気的に接続されて電力増幅回路を構成する少
なくとも一つの半導体デバイスとを備え、上記ベースプ
レート及び上記少なくとも一つのヒートスプレッダは、
上記絶縁基板の構成材料よりも大きい熱伝導率を有する
材料でそれぞれ形成されている。
SUMMARY OF THE INVENTION In order to solve the above-mentioned problems, a power amplifier module according to the present invention has a circuit pattern formed on a main surface thereof, and has at least one through hole penetrating the main surface and the back surface. , A metal base plate on which the insulating substrate is mounted, mounted on the base plate, and exposed from the punched hole provided on the insulating substrate, and the upper surface thereof is provided on a main surface of the insulating substrate. A packaged semiconductor device having at least one heat spreader substantially level with a surface and electrical terminals extending substantially horizontally from a bottom surface of the package, mounted on a top surface of the at least one heat spreader; At least one semiconductor that electrically connects the circuit pattern on the substrate and the electric terminal to form a power amplifier circuit; And a device, the base plate and the at least one heat spreader,
The insulating substrate is formed of a material having a higher thermal conductivity than the constituent material.

【0013】上記の様に構成してあるため、電力増幅モ
ジュールがパワーアンプとして動作した場合、パッケー
ジされた半導体デバイスから発生した熱は、ヒートスプ
レッダ及びベースプレートを介して高効率で外部に放出
され、電力増幅回路を構成する各種の回路素子は高温に
曝されることなく安定に動作する。
With the configuration described above, when the power amplifier module operates as a power amplifier, heat generated from the packaged semiconductor device is radiated to the outside with high efficiency via the heat spreader and the base plate, and Various circuit elements constituting the amplifier circuit operate stably without being exposed to high temperatures.

【0014】上記構成において少なくとも一つのヒート
スプレッダの構成材料を、熱伝導性の高いCuまたはC
uWとすることにより、放熱効果を更に高めることがで
きる。
In the above structure, at least one heat spreader is made of Cu or C having high thermal conductivity.
By using uW, the heat radiation effect can be further enhanced.

【0015】また、上記構成において、ベースプレート
の構成材料を、熱伝導性の高いCuまたはFeNi合金
とすることのより、放熱効果を更に高めることができ
る。
Further, in the above structure, the heat dissipation effect can be further enhanced by using a Cu or FeNi alloy having a high thermal conductivity as a constituent material of the base plate.

【0016】また、更に、 上記絶縁基板を内部に収容
し、上記ベースプレートと嵌合されるパッケージ蓋を設
けることにより、電力増幅モジュールの動作をより安定
にすることができる。
Further, the operation of the power amplification module can be further stabilized by accommodating the insulating substrate therein and providing a package lid fitted to the base plate.

【0017】また、更に、上記絶縁基板の端部に固着さ
れると共に、上記絶縁基板の底面側に曲げて形成された
足部を有する複数個のリード端子をさらに備え、ベース
プレートは、上記リード端子に接触しないように上記絶
縁基板に密着して張り合わされ、かつ、上記足部の曲げ
により上記絶縁基板が浮き上がる量が、上記ベースプレ
ートの厚みと等しくすることにより、ベースプレートと
電力増幅モジュールを搭載した基板とが密着し、パッケ
ージされた半導体デバイスで発生した熱が、ヒートスプ
レッダー、ベースプレートを介して、電力増幅モジュー
ルを搭載した基板に流れ、高い放熱効果を得ることがで
きる。
[0017] Further, the semiconductor device further comprises a plurality of lead terminals fixed to an end of the insulating substrate and having legs bent to the bottom side of the insulating substrate. A substrate on which a base plate and a power amplification module are mounted by making the amount by which the insulating substrate floats due to the bending of the legs equal to the thickness of the base plate so that the base plate and the power amplifying module are not in contact with each other. And the heat generated in the packaged semiconductor device flows through the heat spreader and the base plate to the substrate on which the power amplification module is mounted, and a high heat radiation effect can be obtained.

【0018】[0018]

【発明の実施の形態】以下、本発明による電力増幅モジ
ュールの実施の形態を添付図面を参照して説明する。な
お、各図中、同一符号は同一又は相当部分を示し、重複
する説明は省略する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, embodiments of a power amplification module according to the present invention will be described with reference to the accompanying drawings. In each of the drawings, the same reference numerals indicate the same or corresponding portions, and redundant description will be omitted.

【0019】図1は、本発明の一実施形態による電力増
幅モジュールを示す斜視図、図2は、図1の蓋の上部に
交差するXY平面に沿った電力増幅モジュールの断面
図、図3は、図1の長手方向に延びた中心線を含むYZ
平面に沿った電力増幅モジュールの断面図、図4は、図
1のXZ平面に沿った電力増幅モジュールの断面図であ
る。
FIG. 1 is a perspective view showing a power amplifying module according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a cross-sectional view of the power amplifying module taken along an XY plane intersecting an upper part of a lid of FIG. 1, and FIG. , Including a longitudinally extending center line of FIG.
FIG. 4 is a cross-sectional view of the power amplification module along an XZ plane in FIG. 1.

【0020】本実施形態の電力増幅モジュール10は、
略平板状のベースプレート30と、略角型箱状の金属製
パッケージ蓋であるキャップ40とを接合して構成され
たパッケージ20を備えている。ベースプレート30上
には、略平板状の絶縁基板50が設置されている。この
絶縁基板50上には、回路パターン51a、51b、5
1c、51d、51e、51fが形成されている。又、
この絶縁基板50はキャップ40で覆われいる。絶縁基
板50には、2個の繰り抜き穴52a,52bが形成さ
れており、この繰り抜き穴52a,52bから露出した
ベースプレート30上には、それぞれ略平板状の2個の
ヒートスプレッダ60a,60bが設置されている。こ
れらヒートスプレッダ60a,60bの各表面上には、
樹脂等でパッケージされた半導体デバイス70a,70
bが接着剤又は半田付け等により固定設置されている。
このパッケージされた半導体デバイス70a、70b
は、図8に示すように、底面より水平に伸び、かつその
下面が、パッケージされた半導体デバイスの底面にほぼ
一致している端子75a、75b、75cを有してい
る。そしてこの端子75a、75b、75cは、夫々、
絶縁基板50上に形成した回路パターン51a等に半田
で接続されている。ここで、ヒートスプレッダー60の
上面の高さを、絶縁基板50の上面の高さに一致させて
あるため、パッケージされた半導体デバイス70a、7
0bから伸びる端子の下面の高さが、絶縁基板50の上
面の高さに一致する。従って、絶縁基板上の回路パター
ンとパッケージされた半導体デバイスの端子と半田等で
の電気接続が、容易かつ確実に行える。
The power amplification module 10 according to the present embodiment
The package 20 includes a substantially flat base plate 30 and a substantially square box-shaped metal package lid cap 40 joined thereto. On the base plate 30, a substantially flat insulating substrate 50 is provided. Circuit patterns 51a, 51b, 5
1c, 51d, 51e and 51f are formed. or,
This insulating substrate 50 is covered with a cap 40. Two cutout holes 52a and 52b are formed in the insulating substrate 50, and two substantially flat heat spreaders 60a and 60b are respectively formed on the base plate 30 exposed from the cutout holes 52a and 52b. is set up. On each surface of these heat spreaders 60a and 60b,
Semiconductor devices 70a, 70 packaged with resin or the like
b is fixedly installed by an adhesive or soldering.
The packaged semiconductor devices 70a, 70b
Has terminals 75a, 75b, and 75c that extend horizontally from the bottom surface and whose lower surface substantially matches the bottom surface of the packaged semiconductor device, as shown in FIG. The terminals 75a, 75b, 75c are respectively
The circuit pattern 51a formed on the insulating substrate 50 is connected by solder. Here, since the height of the upper surface of the heat spreader 60 matches the height of the upper surface of the insulating substrate 50, the packaged semiconductor devices 70a, 70
The height of the lower surface of the terminal extending from 0b matches the height of the upper surface of the insulating substrate 50. Therefore, electrical connection by solder or the like to the circuit pattern on the insulating substrate and the terminal of the packaged semiconductor device can be easily and reliably performed.

【0021】次にベースプレート30は、図4に示すよ
うに、リードピンの固定部57a等と接触しないように
絶縁基板50の底面に密着されている。また、ベースプ
レート30の厚みWは、リードピン55a〜55dの足
部56a〜56dの曲げにより絶縁基板50が浮き上が
る量にほぼ等しくなっている。さらに、リードピン55
a〜55dの各固定部57a〜57dとベースプレート
30との間に隙間87をつくり、電気的に短絡するのを
防止している。
Next, as shown in FIG. 4, the base plate 30 is in close contact with the bottom surface of the insulating substrate 50 so as not to contact with the fixing portions 57a of the lead pins. Further, the thickness W of the base plate 30 is substantially equal to the amount by which the insulating substrate 50 floats due to the bending of the legs 56a to 56d of the lead pins 55a to 55d. Further, the lead pin 55
A gap 87 is formed between each of the fixing portions 57a to 57d a to 55d and the base plate 30 to prevent an electrical short circuit.

【0022】なお、絶縁基板50とベースプレート30
とは、表1に示すように、線膨張係数が互いに近接した
素材の組み合わせが使用される。
The insulating substrate 50 and the base plate 30
As shown in Table 1, a combination of materials having linear expansion coefficients close to each other is used.

【0023】[0023]

【表1】 [Table 1]

【0024】さらにベースプレート30は、絶縁基板よ
りも大きい熱伝導率を有する材料、例えばCuやFeN
i合金などで形成されている。ベースプレート30は、
略長方形状の主面上に絶縁基板50の裏面を支持して設
置する基板支持部31と、基板支持部31の長手方向の
両端に延びてキャップ40を支持する4個のキャップ支
持部32a,32b,32c及び32dとで構成されて
いる。
Further, the base plate 30 is made of a material having a higher thermal conductivity than the insulating substrate, for example, Cu or FeN.
It is formed of an i-alloy or the like. The base plate 30
A substrate support portion 31 that supports and installs the back surface of the insulating substrate 50 on the substantially rectangular main surface, and four cap support portions 32a that extend to both ends in the longitudinal direction of the substrate support portion 31 and support the cap 40; 32b, 32c and 32d.

【0025】なお、キャップ支持部32b,32dの短
手方向の外側端部分は、略矩形状に切り欠いて加工され
ている。また、キャップ支持部32a〜32dにおける
ベースプレート30の長手方向の外側端部は、略半円状
に切り欠いて加工されている。
The outer ends of the cap support portions 32b and 32d in the short direction are cut out in a substantially rectangular shape. In addition, the outer ends in the longitudinal direction of the base plate 30 in the cap support portions 32a to 32d are cut out in a substantially semicircular shape.

【0026】また、基板支持部31の短手方向に配列さ
れた2個のキャップ支持部32a,32bの間及び2個
のキャップ支持部32a,32bの間には、法線方向に
折り曲げられて絶縁基板50の2個のベースプレート係
合部に係合して挟持する2個の基板挟持部33a,33
bが設けられている。これらの基板挟持部33a,33
bの長手方向の外側表面には、外側に突出してキャップ
嵌入部34a,34bが形成され、ここがキャップのベ
ースプレート嵌合部に嵌合する。
The space between the two cap supports 32a and 32b arranged in the lateral direction of the substrate support 31 and the space between the two cap supports 32a and 32b are bent in the normal direction. Two substrate holding portions 33a, 33 that engage with and hold the two base plate engaging portions of the insulating substrate 50
b is provided. These substrate holding portions 33a, 33
On the outer surface in the longitudinal direction of b, cap fitting portions 34a and 34b are formed to protrude outward, and these fit into the base plate fitting portion of the cap.

【0027】次にキャップ40は、図6に示すように、
ベースプレート30と接合され中空な内部を有する金属
製の外囲容器であり、絶縁基板50の基板本体よりも大
きい熱伝導率を有する材料として、例えばCuやFeN
i合金などで形成されている。このキャップ40は、基
板被覆部41と、この基板被覆部41の短手方向の1箇
所の側板を切り欠いた、リードピン55a〜55dを挿
通させて露出するピン挿通部42とを有する。さらに、
基板被覆部41の長手方向の2箇所の側板には、ベース
プレート30の2個のキャップ嵌入部34a,34bを
挿通させて保持する2個のベースプレート嵌合部43
a,43bが形成されている。
Next, as shown in FIG.
A metal envelope having a hollow interior joined to the base plate 30, and a material having a higher thermal conductivity than the substrate body of the insulating substrate 50, such as Cu or FeN.
It is formed of an i-alloy or the like. The cap 40 has a substrate covering portion 41 and a pin insertion portion 42 which is formed by cutting out one side plate in the short direction of the substrate covering portion 41 and through which lead pins 55a to 55d are inserted and exposed. further,
Two base plate fitting portions 43 for inserting and holding the two cap fitting portions 34a and 34b of the base plate 30 are inserted into two longitudinal side plates of the substrate covering portion 41.
a, 43b are formed.

【0028】次に絶縁基板50には、図7に示すよう
に、その上面に搭載された例えば5個の電子デバイス部
品54a〜54eとを備えている。それらは、回路パタ
ーン51a等に電気的に接続されている。また、絶縁基
板の表面上及び裏面上に部分的に固定され、かつ短手方
向に延びてキャップ40のピン挿通部42から外部に突
出するリードピン55a〜55dが側部に設けられてい
る。
Next, as shown in FIG. 7, the insulating substrate 50 has, for example, five electronic device components 54a to 54e mounted on the upper surface thereof. They are electrically connected to the circuit pattern 51a and the like. In addition, lead pins 55a to 55d which are partially fixed on the front surface and the rear surface of the insulating substrate, extend in the short direction, and protrude outside from the pin insertion portion 42 of the cap 40 are provided on side portions.

【0029】絶縁基板50は、アルミナ、ガラス等の無
機材料や、PPO(2,5-dyphenyloxaxole; 2,5-ジフェ
ニルオキサゾール)等を含むガラス布エポキシ樹脂積層
材料などで形成されている。この絶縁基板50は、表面
とその裏面との間を貫通して加工された2個の繰り抜き
穴52a,52bが形成されている。また、絶縁基板5
0の長手方向外側端部には、略直方体状に切り欠いて加
工され、ベースプレート30の2個の基板挟持部に係合
して挟持される2個のベースプレート係合部53a,5
3bが形成されている。
The insulating substrate 50 is made of an inorganic material such as alumina or glass, or a glass cloth epoxy resin laminated material containing PPO (2,5-dyphenyloxaxole; 2,5-diphenyloxazole) or the like. The insulating substrate 50 is formed with two punched holes 52a and 52b which are formed by penetrating between the front surface and the back surface. Also, the insulating substrate 5
0, two base plate engaging portions 53a, 5 which are cut and machined in a substantially rectangular parallelepiped shape and are engaged with and sandwiched by two substrate sandwiching portions of the base plate 30.
3b is formed.

【0030】リードピン55a〜55dは、絶縁基板5
0の表面及び裏面を同時に挟み、固定された金属製のク
リップ式リードピンであり、例えば燐青銅などで形成さ
れている。これらのリードピン55a〜55dは、絶縁
基板50の側端を挟持する鉤型の固定部57a〜57d
と、絶縁基板50より下側へ曲げられた足部56a〜5
6dとを一体成形して作製されたものであり、固定部8
4が絶縁基板50上に形成された回路パターン51a等
の所定部分に電気的に接続されている。なお、絶縁基板
50上の回路パターン51a等は、金属製の箔で配線さ
れたものであり、例えばCuなどで形成されている。
The lead pins 55a to 55d are
No. 0 is a metal clip-type lead pin that sandwiches the front and back surfaces at the same time, and is made of, for example, phosphor bronze. These lead pins 55a to 55d are provided with hook-shaped fixing portions 57a to 57d for holding the side ends of the insulating substrate 50.
And the feet 56a to 5b bent downward from the insulating substrate 50.
6d is integrally formed with the fixing portion 8
4 is electrically connected to a predetermined portion such as a circuit pattern 51a formed on the insulating substrate 50. The circuit pattern 51a and the like on the insulating substrate 50 are wired with a metal foil, and are formed of, for example, Cu.

【0031】次にヒートスプレッダ60aは、図8に示
すように、絶縁基板の繰り抜き穴中に露出したベースプ
レート30上に固定された金属製の半導体デバイス設置
台である。そして、その上面が、設置した際、絶縁基板
50の上面に高さが一致するように、その高さが、絶縁
基板50の厚さに一致するように構成されている。な
お、ヒートスプレッダ60bもヒートスプレッダ60a
と同様に構成されている。ヒートスプレッダ60a,6
0bは、耐熱性を有する接着剤でベースプレート30上
に固定される。また、ヒートスプレッダ60a,60b
は、絶縁基板50よりも大きい熱伝導率を有する材料、
例えばCuやCuWなどで形成されている。
Next, as shown in FIG. 8, the heat spreader 60a is a metal semiconductor device mounting table fixed on the base plate 30 exposed in the cutout hole of the insulating substrate. The upper surface is configured to have the same height as the upper surface of the insulating substrate 50 when installed, so that the height matches the thickness of the insulating substrate 50. Note that the heat spreader 60b is also a heat spreader 60a.
It is configured similarly to. Heat spreader 60a, 6
Ob is fixed on the base plate 30 with a heat-resistant adhesive. Also, the heat spreaders 60a, 60b
Is a material having a higher thermal conductivity than the insulating substrate 50,
For example, it is formed of Cu or CuW.

【0032】パッケージされた半導体デバイス70a
は、少なくとも1つの端子が裏面全体に露出していて、
この電極とヒートスプレッダ60aとが電気的に接続さ
れると共に、機械的にも固定される。また、半導体デバ
イス70aの側部から突出したリードピン75a〜75
cは、絶縁基板50の電子回路パターンに半田付け等に
より電気的に接続される。なお、パッケージされた半導
体デバイス70bも、パッケージされた半導体デバイス
70aと同様に構成され、ヒートスプレッダ60bの表
面上に固定されている。
The packaged semiconductor device 70a
Has at least one terminal exposed on the entire back surface,
The electrode and the heat spreader 60a are electrically connected and mechanically fixed. In addition, lead pins 75a-75 protruding from the side of the semiconductor device 70a.
c is electrically connected to the electronic circuit pattern of the insulating substrate 50 by soldering or the like. The packaged semiconductor device 70b has the same configuration as the packaged semiconductor device 70a, and is fixed on the surface of the heat spreader 60b.

【0033】次に、本実施形態における電力増幅モジュ
ール10の動作について説明する。
Next, the operation of the power amplification module 10 according to the present embodiment will be described.

【0034】半導体デバイス70a,70bは、ピン7
5a〜75cを介して基板本体51の電子回路パターン
と電気的に接続され、電子デバイス部品54a〜54e
及びリードピン55a〜55dと共に電力増幅回路を構
成している。このような電力増幅回路にあっては、特に
これが出力段に使用された場合には、半導体デバイス7
0a,70bは多量に発熱する。
The semiconductor devices 70a and 70b
5a to 75c, which are electrically connected to the electronic circuit pattern of the substrate main body 51, and are connected to the electronic device components 54a to 54e.
And a power amplifier circuit together with the lead pins 55a to 55d. In such a power amplifier circuit, especially when it is used in the output stage, the semiconductor device 7
0a and 70b generate a large amount of heat.

【0035】パッケージ20を構成するベースプレート
30及びキャップ40とベースプレート30に接触して
固定された2個のヒートスプレッダ60a,60bは、
絶縁基板50の構成材料よりも大きい熱伝導率を有する
材料でそれぞれ形成されている。これにより、半導体デ
バイス70a,70bから発生した熱は、ヒートスプレ
ッダ60a,60b、ベースプレート30及びキャップ
40を順次伝導することにより、高い効率でパッケージ
20の外部に放出される。
The two heat spreaders 60 a and 60 b fixed in contact with the base plate 30, the cap 40 and the base plate 30, which constitute the package 20,
The insulating substrate 50 is formed of a material having a higher thermal conductivity than that of the constituent material. As a result, heat generated from the semiconductor devices 70a and 70b is successively transmitted through the heat spreaders 60a and 60b, the base plate 30, and the cap 40, and is released to the outside of the package 20 with high efficiency.

【0036】そのため、電子デバイス54a〜54e
は、半導体デバイス70a,70bから発生した熱に影
響されず、高温に曝されることなく安定に動作し、温度
の上昇に伴う動作速度や寿命の低下を生じない。
Therefore, the electronic devices 54a to 54e
Operates stably without being exposed to a high temperature without being affected by heat generated from the semiconductor devices 70a and 70b, and does not cause a decrease in operating speed or life due to a rise in temperature.

【0037】次に、本実施形態の電力増幅モジュール1
0を作成した実験例に対する放熱特性の測定について説
明する。
Next, the power amplification module 1 of this embodiment
The measurement of the heat radiation characteristic for the experimental example in which 0 is created will be described.

【0038】本実験例の電力増幅モジュールは、以下の
表2に示す諸元に基づいて作成した。
The power amplification module of this experimental example was prepared based on the specifications shown in Table 2 below.

【0039】表2 絶縁基板: 材料PPO,厚さ0.6mm,線膨
張係数20ppm/K,比誘電率10.4 ヒートスプレッダ:材料Cu,厚さ0.6mm,熱伝導
率3.9W/cm・K,線膨張係数17ppm/K ベースプレート: 材料Cu,厚さ0.6mm,熱伝導
率3.9W/cm・K,線膨張係数17ppm/K このように構成された本実験例の電力増幅モジュールの
熱抵抗を複数回繰り返して測定した結果は、次に示す通
りであった。
Table 2 Insulating substrate: material PPO, thickness 0.6 mm, coefficient of linear expansion 20 ppm / K, relative dielectric constant 10.4 Heat spreader: material Cu, thickness 0.6 mm, thermal conductivity 3.9 W / cm · K, linear expansion coefficient 17 ppm / K Base plate: material Cu, thickness 0.6 mm, thermal conductivity 3.9 W / cm · K, linear expansion coefficient 17 ppm / K The results of repeatedly measuring the thermal resistance were as follows.

【0040】 熱抵抗の測定値: 14.7〜16.6K/W このような電力増幅モジュールの熱抵抗θ[K/W]
は、次式の通りに定義されている。ただし、ΔTは半導
体デバイスのチャネル温度とパッケージの周囲温度との
差であり、Qは電力増幅モジュールの消費電力[W]で
あり、θ=ΔT/Qの関係がある。
Measured value of thermal resistance: 14.7 to 16.6 K / W Thermal resistance θ [K / W] of such a power amplification module
Is defined as follows: Here, ΔT is the difference between the channel temperature of the semiconductor device and the ambient temperature of the package, Q is the power consumption [W] of the power amplification module, and there is a relationship of θ = ΔT / Q.

【0041】ここで、パッケージされた半導体デバイス
がFETである場合、そのFETを正常に動作させるた
めには、FETのチャネル温度を、通常130℃以下に
保たなければならない。このFETを使用する環境温度
としては、最高80℃まで要請されている。従って、正
常に動作させるためには、FETのチャネルの温度上昇
を50℃以下に押さえなければならない。
Here, when the packaged semiconductor device is an FET, the channel temperature of the FET must normally be kept at 130 ° C. or lower in order to operate the FET normally. The ambient temperature at which this FET is used is required to be up to 80 ° C. Therefore, in order to operate normally, the temperature rise of the channel of the FET must be suppressed to 50 ° C. or less.

【0042】本実験例の電力増幅モジュールの放熱特性
では、図9を参照しても明らかなように、3W以下の消
費電力に対してFETのチャネルの温度上昇を50℃以
下に保つことができ、上述の条件を満足することが可能
となる。
In the heat radiation characteristics of the power amplification module of the present experimental example, as is apparent from FIG. 9, the temperature rise of the channel of the FET can be kept at 50 ° C. or less for the power consumption of 3 W or less. , The above conditions can be satisfied.

【0043】なお、本発明は、上述した実施形態に限ら
れるものではなく、種々の変形を行うことが可能であ
る。例えば、上述した実施形態においては、ヒートスプ
レッダの構成材料はCuやCuWなどであり、パッケー
ジの構成材料はCuやFeNi合金などである。しかし
ながら、ヒートスプレッダ及びパッケージの構成材料と
しては、絶縁基板の構成材料よりも大きい熱伝導率を有
するものであれば、その他種々の材料を適用してもよ
い。
Note that the present invention is not limited to the above-described embodiment, and various modifications can be made. For example, in the above-described embodiment, the constituent material of the heat spreader is Cu or CuW, and the constituent material of the package is Cu or an FeNi alloy. However, as the constituent material of the heat spreader and the package, various other materials may be used as long as they have higher thermal conductivity than the constituent material of the insulating substrate.

【0044】また、上述した実施形態においては、パッ
ケージされた半導体デバイスはFETとして構成されて
いる。しかしながら、半導体デバイスとしては、絶縁基
板の電子回路パターンと電気的に接続されることによっ
てパワーアンプとして機能するものであれば、その他種
々の電子デバイスを適用してもよい。
In the above embodiment, the packaged semiconductor device is configured as an FET. However, as the semiconductor device, various other electronic devices may be applied as long as the semiconductor device functions as a power amplifier by being electrically connected to the electronic circuit pattern on the insulating substrate.

【0045】さらに、上述した実施形態においては、2
個の繰り抜き穴が絶縁基板に形成されている。しかしな
がら、絶縁基板に形成される繰り抜き穴としては、一つ
だけであっても、あるいは、多数であってもよく、その
形成する位置も絶縁基板の任意の位置に形成することが
できる。
Further, in the above-described embodiment, 2
A plurality of punched holes are formed in the insulating substrate. However, the number of the cutout holes formed in the insulating substrate may be only one, or may be many, and the positions for forming the holes may be formed at any positions on the insulating substrate.

【0046】また、上述した実施形態では、絶縁基板の
一方の側端にリードピンを設けた、いわゆるシングルイ
ンライン型のパッケージされた半導体デバイスを説明し
たが、本発明は、配線基板の両側にリードピンを設けた
デュアルインライン型のパッケージされた半導体デバイ
スにも同様に適用することができる。さらに、本発明
は、電力増幅モジュールに限定されるものではなく、種
々の広範囲な電子部品に適用することができる。
In the above-described embodiment, a so-called single-in-line type packaged semiconductor device in which lead pins are provided on one side end of an insulating substrate has been described. However, the present invention provides lead pins on both sides of a wiring board. The present invention can be similarly applied to the provided dual-inline type packaged semiconductor device. Further, the present invention is not limited to the power amplification module, but can be applied to various wide-ranging electronic components.

【0047】[0047]

【発明の効果】以上に説明したように本発明によれば、
電力増幅モジュールがパワーアンプとして動作した場
合、半導体デバイスから発生した熱は、絶縁基板にほど
んど伝導せずにヒートスプレッダ及びパッケージを伝導
するので、熱は高効率でパッケージの外部に放出され、
電力増幅回路を構成する各種の電子デバイスはその温度
を一定に保持して安定に動作するという効果を奏する。
また、電力増幅モジュールを各種電子機器の基板等に設
けると、リードピンの高さと同じ厚さのベースプレート
が配線基板の底部に密着されているので、十分に放熱効
果が得られない等の問題を解決することができるという
効果を奏する。
According to the present invention as described above,
When the power amplifying module operates as a power amplifier, heat generated from the semiconductor device is transmitted to the heat spreader and the package without conducting to the insulating substrate, so that the heat is efficiently released to the outside of the package,
Various electronic devices constituting the power amplifying circuit have an effect of maintaining a constant temperature and operating stably.
In addition, when the power amplification module is installed on the substrate of various electronic devices, the base plate of the same thickness as the height of the lead pin is in close contact with the bottom of the wiring board, which solves problems such as insufficient heat dissipation. It has the effect that it can be done.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の一実施形態による電力増幅モジュール
を示す斜視図である。
FIG. 1 is a perspective view showing a power amplification module according to an embodiment of the present invention.

【図2】図1のパッケージ蓋の上部に交差するXY平面
に沿った電力増幅モジュールの断面図である。
FIG. 2 is a cross-sectional view of the power amplification module taken along an XY plane crossing an upper part of the package lid of FIG.

【図3】図1の長手方向に延びた中心線を含むYZ平面
に沿った電力増幅モジュールの断面図である。
FIG. 3 is a cross-sectional view of the power amplification module taken along a YZ plane including a center line extending in a longitudinal direction of FIG. 1;

【図4】図1のXZ平面に沿った電力増幅モジュールの
断面図である。
FIG. 4 is a cross-sectional view of the power amplification module along the XZ plane in FIG.

【図5】図1の電力増幅モジュールにおけるベースプレ
ートを示す斜視図である。
FIG. 5 is a perspective view showing a base plate in the power amplification module of FIG. 1;

【図6】図1の電力増幅モジュールにおけるパッケージ
蓋を示す斜視図である。
FIG. 6 is a perspective view showing a package lid in the power amplification module of FIG. 1;

【図7】図1の電力増幅モジュールにおける絶縁基板を
示す斜視図である。
FIG. 7 is a perspective view showing an insulating substrate in the power amplification module of FIG. 1;

【図8】図1の電力増幅モジュールにおけるヒートスプ
レッダ及び半導体デバイスを示す斜視図である。
FIG. 8 is a perspective view showing a heat spreader and a semiconductor device in the power amplification module of FIG.

【図9】本発明による電力増幅モジュールにおける一実
験例の熱抵抗を評価するための各種消費電力に対応する
熱抵抗−チャネル温度変化の特性を示す線図である。
FIG. 9 is a diagram showing characteristics of thermal resistance-channel temperature change corresponding to various power consumptions for evaluating thermal resistance of one experimental example in the power amplification module according to the present invention.

【図10】従来のモジュール電子部品を示す斜視図であ
る。
FIG. 10 is a perspective view showing a conventional module electronic component.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10…電力増幅モジュール、20…パッケージ、30…
ベースプレート、31…基板支持部、32a〜32d…
キャップ支持部、33a,33b…基板挟持部、34
a,34b…キャップ嵌入部、40…キャップ、41…
基板被覆部、42…ピン貫通部、43…ベースプレート
嵌合部、50…絶縁基板、51a、51b、51c、5
1d…回路パターン、52a,52b…繰り抜き穴、5
3a,53b…ベースプレート係合部、54a〜54e
…電子デバイス部品、55a〜55d…リードピン、5
6a,56b…足部、57a,57b…固定部、60
a,60b…ヒートスプレッダ、70a,70b…パッ
ケージされた半導体デバイス、75a〜75c…リード
ピン。
10: power amplification module, 20: package, 30 ...
Base plate, 31 ... substrate support, 32a-32d ...
Cap support portion, 33a, 33b ... substrate holding portion, 34
a, 34b: cap fitting portion, 40: cap, 41:
Substrate covering part, 42: Pin penetrating part, 43: Base plate fitting part, 50: Insulating substrate, 51a, 51b, 51c, 5
1d: circuit pattern, 52a, 52b: punched hole, 5
3a, 53b: base plate engaging portions, 54a to 54e
... Electronic device parts, 55a to 55d ... Lead pins, 5
6a, 56b: foot, 57a, 57b: fixed part, 60
a, 60b: heat spreader; 70a, 70b: packaged semiconductor devices; 75a to 75c: lead pins.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 橋長 達也 神奈川県横浜市栄区田谷町1番地 住友電 気工業株式会社横浜製作所内 ────────────────────────────────────────────────── ─── Continuing on the front page (72) Inventor Tatsuya Hashicho 1 Taya-cho, Sakae-ku, Yokohama-shi, Kanagawa Prefecture Sumitomo Electric Industries, Ltd. Yokohama Works

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 主面に回路パターンが形成され、かつ当
該主面及び裏面を貫通して少なくとも1つの繰り抜き穴
が設けられた絶縁基板と、 前記絶縁基板の下側に配置され、前記絶縁基板の下面に
接するベースプレートと、 前記ベースプレート上に搭載され、上記絶縁基板に設け
られた前記繰り抜き穴から露出され、その上面が、前記
絶縁基板の主面とほぼ同じ高さにある少なくとも1つの
ヒートスプレッダと、 パッケージされた半導体デバイスであって、前記パッケ
ージ底面よりほぼ水平に伸びる電気端子を有し、前記少
なくとも1つのヒートスプレッダの上面に搭載され、上
記絶縁基板上の前記回路パターンと前記電気端子とを電
気的に接続されて電力増幅回路を構成する少なくとも一
つの半導体デバイスとを備え、 上記ベースプレート及び上記少なくとも一つのヒートス
プレッダは、上記絶縁基板の構成材料よりも大きい熱伝
導率を有する材料でそれぞれ形成されている電力増幅モ
ジュール。
An insulating substrate having a circuit pattern formed on a main surface thereof and having at least one punched hole penetrating the main surface and the back surface; A base plate in contact with the lower surface of the substrate; and at least one base plate mounted on the base plate and exposed from the cutout hole provided in the insulating substrate, the upper surface of which is at substantially the same height as the main surface of the insulating substrate. A heat spreader; a packaged semiconductor device having electrical terminals extending substantially horizontally from the bottom surface of the package, mounted on an upper surface of the at least one heat spreader, and having the circuit pattern and the electrical terminals on the insulating substrate; And at least one semiconductor device that is electrically connected to form a power amplification circuit, wherein the base plate Fine said at least one heat spreader, the power amplifier module are formed of a material having a thermal conductivity greater than the material of the insulating substrate.
【請求項2】 前記少なくとも一つのヒートスプレッダ
の構成材料は、CuまたはCuWであることを特徴とす
る請求項1記載の電力増幅モジュール。
2. The power amplification module according to claim 1, wherein a constituent material of the at least one heat spreader is Cu or CuW.
【請求項3】 前記ベースプレートの構成材料は、Cu
またはFeNi合金であることを特徴とする請求項1記
載の電力増幅モジュール。
3. The base plate is made of Cu
The power amplification module according to claim 1, wherein the power amplification module is an FeNi alloy.
【請求項4】 上記絶縁基板を内部に収容して上記ベー
スプレートと嵌合される蓋を更に備えた請求項1記載の
電力増幅モジュール。
4. The power amplification module according to claim 1, further comprising a lid that houses the insulating substrate therein and is fitted to the base plate.
【請求項5】 絶縁基板の端部に固定されると共に、上
記絶縁基板の底面側に曲げて形成された足部を有する複
数個のリード端子をさらに備え、前記ベースプレート
は、前記リード端子に接触しないように上記絶縁基板に
密着して張り合わされ、かつ、上記足部の曲げにより上
記絶縁基板が浮き上がる量が、上記ベースプレートの厚
みとほぼ等しいことを特徴とする請求項1記載の電力増
幅モジュール。
5. The semiconductor device according to claim 1, further comprising a plurality of lead terminals fixed to an end of the insulating substrate, the plurality of lead terminals having feet bent to the bottom side of the insulating substrate, wherein the base plate contacts the lead terminals. 2. The power amplification module according to claim 1, wherein an amount by which the insulating substrate is lifted due to bending of the foot portion is substantially equal to a thickness of the base plate so as not to adhere to the insulating substrate.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPH11340382A (en) * 1998-05-27 1999-12-10 Nippon Light Metal Co Ltd Heat dissipating plate for integrated circuit module and its manufacture

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