JPH1049908A - Connector for optical pickup - Google Patents

Connector for optical pickup

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JPH1049908A
JPH1049908A JP8221767A JP22176796A JPH1049908A JP H1049908 A JPH1049908 A JP H1049908A JP 8221767 A JP8221767 A JP 8221767A JP 22176796 A JP22176796 A JP 22176796A JP H1049908 A JPH1049908 A JP H1049908A
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JP
Japan
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check
connector
terminal group
check terminal
contact
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Application number
JP8221767A
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Japanese (ja)
Inventor
Genichi Iizuka
源一 飯塚
Junji Takayama
淳二 高山
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Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
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Publication date
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Publication of JPH1049908A publication Critical patent/JPH1049908A/en
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To surely connect a probe to a connector terminal by respectively arranging first, second check terminal groups in the first, second directions for bring a contact member for electrically connection inspecting into contact with them. SOLUTION: Plural contact probes PB can't be brought into contact with respective check terminals 61, 62 of the first check terminal group 60 from the first direction A. Because, an optical disk is placed upward the connector 50, that is, to the first direction A side. Then, when the optical disk exists in the first direction A, the probes PB are brought into contact with the check terminals 71, 72 of the second check terminal group 70 so as to respectively correspond to them from the second direction B. By such a manner, required signals are checked even in the state that the optical disk is loaded, and is rotatively driven.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、光ディスク装置等
に設けられる光学ピックアップに対して設けられて、電
気的な接続を行うためのコネクタの改良に関するもので
ある。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an improvement in a connector provided for an optical pickup provided in an optical disk device or the like, for making an electrical connection.

【0002】[0002]

【従来の技術】光ディスク装置は、例えばミニディスク
(MD)、光磁気ディスク(MO)、コンパクトディス
ク(CD)、CD−ROM(読出し専用のコンパクトデ
ィスク)のような光ディスクの情報信号を、記録及び/
または再生するために用いられる。この種の光学ピック
アップは、対物レンズをフォーカス方向やトラッキング
方向に駆動するためのフォーカスコイルやトラッキング
コイル等の駆動コイルを備え、しかもレーザ光を発生す
る半導体レーザ、そして光ディスクからの戻り光を受光
する受光部等を備えている。
2. Description of the Related Art An optical disk device records and records information signals of an optical disk such as a mini disk (MD), a magneto-optical disk (MO), a compact disk (CD), and a CD-ROM (read-only compact disk). /
Or used to play. This type of optical pickup includes a drive coil such as a focus coil and a tracking coil for driving an objective lens in a focus direction and a tracking direction, and further receives a semiconductor laser that generates laser light, and receives return light from an optical disk. A light receiving unit and the like are provided.

【0003】従って、光学ピックアップの各駆動コイル
や半導体レーザに対して電源を供給したり、あるいは受
光部等からの信号を光学ピックアップの外部に取り出す
ために、光学ピックアップは電気的な接続を行うための
コネクタを備えている。コネクタは、光学ピックアップ
の外部からの例えばフレキシブルプリント基板(PC
B)等を差し込むことで、外部の電源と光学ピックアッ
プの各要素を接続したり、受光部からの信号を外部の制
御部に供給する。
[0003] Therefore, the optical pickup is electrically connected to supply power to each drive coil and the semiconductor laser of the optical pickup, or to take out a signal from a light receiving section to the outside of the optical pickup. Connector. The connector is, for example, a flexible printed circuit board (PC) from the outside of the optical pickup.
B) or the like is inserted to connect an external power supply to each element of the optical pickup or supply a signal from the light receiving unit to the external control unit.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】ところで、光学ピック
アップを量産する際には、この種のフレキシブルプリン
ト基板をコネクタに差してコネクタの端子の電気的な接
続のチェックをすると、チェック用のフレキシブルプリ
ント基板の痛みが早く、度々フレキシブルプリント基板
を交換しなければならない。しかもフレキシブルプリン
ト基板はコネクタに対して脱着するのが必ずしも簡単で
はない。このような観点から、コネクタの各端子用の電
気的なチェックをする場合には、フレキシブルプリント
基板を接続せずに、チェック用の機器のコンタクトピン
あるいはコンタクトプローブをコネクタの端子に電気的
に接続してコネクタの端子の電気的な接続状態の良否を
チェックするようになっている。従来の光学ピックアッ
プOPは図19に示しており、その基板2にはコネクタ
3が取り付けられている。このコネクタ3に対してチェ
ック用のフレキシブルプリント基板4が差し込まれる。
By the way, when mass-producing optical pickups, this kind of flexible printed circuit board is connected to a connector to check the electrical connection of the terminals of the connector. The pain is so fast that I have to replace the flexible printed circuit board often. Moreover, it is not always easy to attach and detach the flexible printed circuit board to and from the connector. From this point of view, when performing electrical checks for each terminal of the connector, connect the contact pins or contact probes of the checking device to the terminals of the connector without connecting the flexible printed circuit board. Then, the quality of the electrical connection state of the terminal of the connector is checked. A conventional optical pickup OP is shown in FIG. 19, and a connector 3 is attached to a substrate 2 thereof. A flexible printed circuit board 4 for checking is inserted into the connector 3.

【0005】コネクタ3の各端子5に対してチェック用
の機器のプローブ6を電気的に接続する場合には、コネ
クタの端子5の設定のピッチがたとえば0.5mmと非
常に狭いので、プローブ6を各端子5に対して接触させ
ることが難しい。もしもこのような狭ピッチのコネクタ
3の端子5に対してプローブ6を確実に接触させようと
するには特殊なコンタクトプローブ6が必要であり、そ
のようなコンタクトプローブ6は値段が高く耐久性にも
問題がある。また、もしも光学ピックアップOPとコネ
クタ3の上部に図20に示すように光ディスクDが置か
れて、光ディスクDの情報記録面の情報を光学ピックア
ップOPで読みながら、コネクタ3の端子5から信号の
チェックをする場合には、図20の矢印Aで示すように
プローブ6がコネクタ3の端子5に接触させることが光
ディスクDが邪魔となってできないという問題がある。
そこで本発明は上記課題を解消し、光ディスクの信号を
読み取って信号のチェックができ、プローブをコネクタ
の端子に対して確実に接続することができる光学ピック
アップ用のコネクタを提供することを目的としている。
When the probe 6 of the checking device is electrically connected to each terminal 5 of the connector 3, the pitch of the setting of the terminal 5 of the connector is very small, for example, 0.5 mm. Is difficult to contact with each terminal 5. A special contact probe 6 is necessary if the probe 6 is to be brought into contact with the terminal 5 of the connector 3 having such a narrow pitch without fail, and such a contact probe 6 is expensive and durable. There is also a problem. Also, if the optical disc D is placed on the optical pickup OP and the connector 3 as shown in FIG. 20 and the information on the information recording surface of the optical disc D is read by the optical pickup OP, the signal is checked from the terminal 5 of the connector 3. In this case, as shown by the arrow A in FIG. 20, there is a problem that the optical disk D cannot hinder the contact of the probe 6 with the terminal 5 of the connector 3.
Therefore, an object of the present invention is to provide a connector for an optical pickup that can solve the above-mentioned problems and can check a signal by reading a signal from an optical disk, and can reliably connect a probe to a terminal of the connector. .

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】上記目的は、本発明にあ
っては、光ディスクに情報の記録、再生に用いられる光
学ピックアップの電気要素と、光学ピックアップの外部
との電気的な接続を得るためのコネクタにおいて、電気
的な接続検査を行うためのコンタクト部材を接触するた
めに第1の方向に配列された第1のチェック端子群と、
電気的な接続検査を行うためのコンタクト部材を接触す
るために第1の方向とは異なる第2の方向に配列された
第2のチェック端子群と、とを備える光学ピックアップ
用のコネクタにより、達成される。
SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to obtain an electrical connection between an electric element of an optical pickup used for recording and reproducing information on an optical disk and the outside of the optical pickup. A first check terminal group arranged in a first direction to contact a contact member for performing an electrical connection test;
A second check terminal group arranged in a second direction different from the first direction for contacting a contact member for performing an electrical connection test, and a connector for an optical pickup. Is done.

【0007】本発明では、第1のチェック端子群が第1
の方向に配列されている。そして第2のチェック端子群
が第1の方向とは異なる第2の方向に配列されている。
これにより、電気的な接続検査を行うためのコンタクト
部材は、第1の方向に配列された第1のチェック端子群
あるいは第2の方向に配列された第2のチェック端子群
のいずれに対しても接触させることができる。たとえば
光ディスクが配置されて第1の方向に配列された第1の
チェック端子群に対してコンタクト部材を接触できない
状態では、コンタクト部材は第2の方向に配列された第
2のチェック端子群に対して接触させることができる。
In the present invention, the first check terminal group is the first check terminal group.
Are arranged in the direction of. The second check terminal group is arranged in a second direction different from the first direction.
Thereby, the contact member for performing the electrical connection test is provided for any one of the first check terminal group arranged in the first direction and the second check terminal group arranged in the second direction. Can also be contacted. For example, in a state where the contact member cannot be brought into contact with the first check terminal group arranged in the first direction when the optical disk is arranged, the contact member is in contact with the second check terminal group arranged in the second direction. Contact.

【0008】上記目的は、本発明にあっては、光ディス
クに情報の記録、再生に用いられる光学ピックアップの
電気要素と、光学ピックアップの外部との電気的な接続
を得るためのコネクタにおいて、電気的な接続検査を行
うためのコンタクト部材を接触するために配列された第
1のチェック端子群と、電気的な接続検査を行うための
コンタクト部材を接触するために配列された第2のチェ
ック端子群と、とを備え、第1のチェック端子群の各チ
ェック端子と、第2のチェック端子群の各チェック端子
は、相互に位置を代えて配置されている光学ピックアッ
プ用のコネクタにより、達成される。
[0008] The object of the present invention is to provide, in the present invention, an electric element of an optical pickup used for recording and reproducing information on and from an optical disc, and a connector for obtaining an electric connection between the optical pickup and the outside. A first check terminal group arranged to contact a contact member for performing a proper connection test, and a second check terminal group arranged for contacting a contact member for performing an electrical connection test And each check terminal of the first check terminal group and each check terminal of the second check terminal group are achieved by connectors for optical pickups which are arranged at mutually different positions. .

【0009】本発明では、コネクタは、第1のチェック
端子群と第2のチェック端子群を備え、第1のチェック
端子群の各チェック端子と第2のチェック端子群の各チ
ェック端子は、相互に位置を代えて配置されている。こ
れにより、第1のチェック端子群のチェック端子の間隔
を広く取ることができ、第2のチェック端子群の各チェ
ック端子の間隔も広く取ることができることから、コン
タクト部材は第1のチェック端子群の各チェック端子と
第2のチェック端子群の各チェック端子のいずれに対し
て確実に接触させることができる。この場合のコンタク
ト部材は特に小型のものを採用する必要はない。
In the present invention, the connector includes a first check terminal group and a second check terminal group, and each check terminal of the first check terminal group and each check terminal of the second check terminal group are mutually connected. Are arranged at different positions. Thereby, the interval between the check terminals of the first check terminal group can be widened, and the interval between the check terminals of the second check terminal group can be widened. And any of the check terminals of the second check terminal group can be reliably contacted. In this case, it is not necessary to employ a particularly small contact member.

【0010】[0010]

【発明の実施の形態】以下、本発明の好適な実施の形態
を添付図面に基づいて詳細に説明する。なお、以下に述
べる実施の形態は、本発明の好適な具体例であるから、
技術的に好ましい種々の限定が付されているが、本発明
の範囲は、以下の説明において特に本発明を限定する旨
の記載がない限り、これらの形態に限られるものではな
い。
Preferred embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the accompanying drawings. Note that the embodiments described below are preferred specific examples of the present invention,
Although various technically preferable limits are given, the scope of the present invention is not limited to these modes unless otherwise specified in the following description.

【0011】図1は、本発明の実施の形態の光学ピック
アップを組み込んだ光ディスク装置を示している。図1
において、光ディスク装置20は、光ディスク21を回
転駆動する駆動手段としてのスピンドルモータ22と、
回転する光ディスク21の信号記録面に対して光ビーム
を照射して信号を記録し、この信号記録面からの戻り光
ビームにより記録信号を再生する光学ピックアップ30
及びこれらを制御する制御部23を備えている。ここ
で、制御部23は、光ディスクコントローラ24、信号
復調器25、誤り訂正回路26、インターフェイス2
7、ヘッドアクセス制御部28及びサーボ回路29を備
えている。
FIG. 1 shows an optical disk device incorporating an optical pickup according to an embodiment of the present invention. FIG.
In the optical disk device 20, a spindle motor 22 as a driving unit for driving the optical disk 21 to rotate,
An optical pickup 30 that irradiates a light beam onto a signal recording surface of a rotating optical disk 21 to record a signal, and reproduces a recorded signal by a return light beam from the signal recording surface.
And a control unit 23 for controlling these. Here, the control unit 23 includes an optical disk controller 24, a signal demodulator 25, an error correction circuit 26, an interface 2
7, a head access control unit 28 and a servo circuit 29 are provided.

【0012】光ディスクコントローラ24は、スピンド
ルモータ22を所定の回転数で駆動制御する。信号復調
器25は、光学ピックアップ30からの記録信号を復調
して誤り訂正し、インターフェイス27を介して外部コ
ンピュータ27a等に送出する。これにより、外部コン
ピュータ27a等は、光ディスク21に記録された信号
を再生信号として受け取ることができるようになってい
る。
The optical disk controller 24 controls the drive of the spindle motor 22 at a predetermined rotation speed. The signal demodulator 25 demodulates the recording signal from the optical pickup 30 to correct the error, and sends the demodulated signal to an external computer 27 a or the like via the interface 27. Thus, the external computer 27a and the like can receive a signal recorded on the optical disk 21 as a reproduction signal.

【0013】ヘッドアクセス制御部28は、光学ピック
アップ30を例えば光ディスク21上の所定の記録トラ
ックまでトラックジャンプ等により移動させる。サーボ
回路29は、この移動された所定位置において、光学ピ
ックアップ30の二軸アクチュエータに保持されている
対物レンズをフォーカシング方向及びトラッキング方向
に移動させる。
The head access control unit 28 moves the optical pickup 30 to a predetermined recording track on the optical disk 21, for example, by a track jump or the like. At the moved predetermined position, the servo circuit 29 moves the objective lens held by the biaxial actuator of the optical pickup 30 in the focusing direction and the tracking direction.

【0014】図2は、上記光ディスク装置20に組み込
まれた光学ピックアップを示している。図2において、
光学ピックアップ30は、それぞれ光学ベース31上に
配設されて、レーザ光源としての半導体レーザ素子及び
光検出器が一体に組み込まれた受発光装置32(図3参
照)と、立ち上げミラーとしての平面ミラー34、及び
光集束手段としての対物レンズ35と、対物レンズ35
を二軸方向に移動させるための駆動手段としての二軸ア
クチュエータ36とを有している。
FIG. 2 shows an optical pickup incorporated in the optical disk device 20. In FIG.
The optical pickups 30 are disposed on an optical base 31, respectively, and a light receiving / emitting device 32 (see FIG. 3) in which a semiconductor laser element as a laser light source and a photodetector are integrated, and a flat surface as a rising mirror. A mirror 34, an objective lens 35 as a light focusing means, and an objective lens 35
And a biaxial actuator 36 as a driving means for moving the actuator in the biaxial directions.

【0015】対物レンズ35を除く各光学素子、即ち受
発光装置32、発光部カバー33、平面ミラー34は、
図示しない手段によって、光ディスク11の半径方向に
移動可能に支持された光学ベース31上に、それぞれ固
定されている。
Each optical element excluding the objective lens 35, that is, the light emitting / receiving device 32, the light emitting unit cover 33, and the plane mirror 34,
The optical disc 11 is fixed on an optical base 31 movably supported in a radial direction of the optical disc 11 by means not shown.

【0016】受発光装置32は、例えば図3に示すよう
に、構成されている。図3において、受発光装置32
は、第一の半導体基板32a上に光出力用の第二の半導
体基板32bが載置され、この第二の半導体基板32b
上に発光素子としての半導体レーザ素子32cが搭載さ
れている。半導体レーザ素子32cの前方の第一の半導
体基板32a上には、縦断面が台形形状のマイクロプリ
ズム32dが、その半透過面の傾斜面32eを半導体レ
ーザ素子32c側にして、設置されている。
The light emitting / receiving device 32 is configured, for example, as shown in FIG. In FIG. 3, the light emitting / receiving device 32
A second semiconductor substrate 32b for light output is mounted on the first semiconductor substrate 32a, and the second semiconductor substrate 32b
A semiconductor laser element 32c as a light emitting element is mounted thereon. On the first semiconductor substrate 32a in front of the semiconductor laser element 32c, a microprism 32d having a trapezoidal longitudinal section is provided with the semi-transmissive inclined surface 32e facing the semiconductor laser element 32c.

【0017】マイクロプリズム32dは、その傾斜面3
2eに半透過膜(図示せず)が形成されている。これに
より、半導体レーザ素子32cから第二の半導体基板3
2bの表面に沿って出射した光ビームLは、マイクロプ
リズム32dの傾斜面32eにて反射されて、上方に向
かって進み、発光部カバーの反射面、平面ミラー34及
び対物レンズ35を介して、光ディスク21に達する。
光ディスク21の信号記録面からの戻り光は、対物レン
ズ35、平面ミラー34及び発光部カバーの反射面を介
して、マイクロプリズム32dの傾斜面32eを透過し
て、マイクロプリズム32dの底面に達する。このマイ
クロプリズム32dの底面に達した戻り光は、一部がこ
の底面を透過すると共に、一部がこの底面で反射され、
マイクロプリズム32dの上面に向かって進む。
The micro prism 32d has its inclined surface 3
2e, a semi-permeable film (not shown) is formed. Thereby, the second semiconductor substrate 3 is removed from the semiconductor laser element 32c.
The light beam L emitted along the surface of 2b is reflected by the inclined surface 32e of the microprism 32d, travels upward, and passes through the reflecting surface of the light emitting unit cover, the plane mirror 34, and the objective lens 35, The optical disk 21 is reached.
The return light from the signal recording surface of the optical disk 21 passes through the inclined surface 32e of the microprism 32d via the objective lens 35, the plane mirror 34, and the reflection surface of the light emitting unit cover, and reaches the bottom surface of the microprism 32d. The return light that has reached the bottom surface of the microprism 32d partially transmits through the bottom surface, and is partially reflected on the bottom surface.
It proceeds toward the upper surface of the microprism 32d.

【0018】マイクロプリズム32dの戻り光入射位置
の下部の第一の半導体基板32a上には、第一の光検出
器32fが形成されている。また、上記底面で反射され
た戻り光は、マイクロプリズム32dの上面にて反射さ
れて、再びマイクロプリズム32dの底面に入射され
る。マイクロプリズム32dの上面で反射された戻り光
の入射されるマイクロプリズム32dの底面部分の下部
の第一の半導体基板32aには、第二の光検出器32g
が形成されている。第一の光検出器32f、第二の光検
出器32gは、それぞれ複数の受光部に分割されてお
り、各受光部の検出信号がそれぞれ独立して出力され
る。
A first photodetector 32f is formed on the first semiconductor substrate 32a below the return light incident position of the microprism 32d. The return light reflected on the bottom surface is reflected on the top surface of the microprism 32d, and is incident on the bottom surface of the microprism 32d again. A second photodetector 32g is provided on the first semiconductor substrate 32a below the bottom portion of the microprism 32d where the return light reflected by the upper surface of the microprism 32d is incident.
Are formed. Each of the first photodetector 32f and the second photodetector 32g is divided into a plurality of light receiving units, and detection signals of each light receiving unit are output independently.

【0019】第二の半導体基板32b上には、半導体レ
ーザ素子32cの出射側とは反対側に、第三の光検出器
32hが備えられている。この第三の光検出器32h
は、半導体レーザ素子32cの発光強度をモニタするた
めのものである。上記半導体レーザ素子32cは、半導
体の再結合発光を利用した発光素子であり、レーザ光源
として使用される。
On the second semiconductor substrate 32b, a third photodetector 32h is provided on the side opposite to the emission side of the semiconductor laser element 32c. This third photodetector 32h
Is for monitoring the emission intensity of the semiconductor laser element 32c. The semiconductor laser element 32c is a light emitting element utilizing recombination light emission of a semiconductor, and is used as a laser light source.

【0020】図2の平面ミラー34は、光学ベース31
上にて、斜め45度に配設されたミラーであって、発光
部カバーからのほぼ水平方向に進む光ビームを垂直方向
上方に向かって反射させる。
The flat mirror 34 shown in FIG.
Above, a mirror disposed at an angle of 45 degrees reflects a light beam traveling in a substantially horizontal direction from the light emitting unit cover upward in the vertical direction.

【0021】上記対物レンズ35は、凸レンズであっ
て、平面ミラー34からの光を、回転駆動される光ディ
スク21の信号記録面の所望のトラック上に結像させ
る。
The objective lens 35 is a convex lens, and focuses the light from the plane mirror 34 on a desired track on the signal recording surface of the optical disk 21 that is driven to rotate.

【0022】対物レンズ35は、図2に示す二軸アクチ
ュエータ36により、二軸方向即ちフォーカシング方向
FCS及びトラッキング方向TRKに移動可能に支持さ
れている。二軸アクチュエータ36は、光学ベース31
に対してスキュー調整された状態で、調整プレートを介
して取り付けられる固定部36aと、固定部36aに対
して互いに平行な左右二対の弾性支持部材36bにより
二軸方向に移動可能に支持された可動部36cと、可動
部36cに取り付けられたフォーカス用コイル36d
と、トラッキング用コイル36eと、を備えている。
The objective lens 35 is supported by a biaxial actuator 36 shown in FIG. 2 so as to be movable in a biaxial direction, ie, a focusing direction FCS and a tracking direction TRK. The biaxial actuator 36 is connected to the optical base 31.
In a state where the skew is adjusted with respect to the fixed portion 36a, the fixed portion 36a is attached via an adjustment plate, and two pairs of left and right elastic support members 36b parallel to the fixed portion 36a are movably supported in two axial directions. A movable portion 36c and a focusing coil 36d attached to the movable portion 36c
And a tracking coil 36e.

【0023】これに対して、光学ベース31上には、上
記フォーカス用コイル36d及びトラッキング用コイル
36eを挟んで、互いに対向するように配設されたヨー
ク36fと、その内側に取り付けられたマグネット36
gが備えられている。
On the other hand, a yoke 36f disposed on the optical base 31 so as to oppose each other with the focusing coil 36d and the tracking coil 36e interposed therebetween, and a magnet 36 mounted inside the yoke 36f.
g is provided.

【0024】フォーカス用コイル36dに対して駆動電
流が流れると、フォーカス用コイル36dに発生する磁
界と、マグネット36g及びヨーク36fを流れる磁束
との相互作用によって、可動部36cがフォーカス方向
FCSに駆動される。トラッキング用コイル36eに対
して駆動電流が流れると、トラッキング用コイル36e
に発生する磁界が、マグネット36g及びヨーク36f
を流れる磁束との相互作用によって、可動部36cがト
ラッキング方向TRKに駆動される。このように、可動
部36cに保持された対物レンズ35が二軸方向に関し
て駆動制御される。
When a driving current flows through the focusing coil 36d, the movable portion 36c is driven in the focusing direction FCS by the interaction between the magnetic field generated in the focusing coil 36d and the magnetic flux flowing through the magnet 36g and the yoke 36f. You. When a drive current flows through the tracking coil 36e, the tracking coil 36e
Is generated by the magnet 36g and the yoke 36f.
The movable portion 36c is driven in the tracking direction TRK by the interaction with the magnetic flux flowing through the movable portion 36c. Thus, the drive of the objective lens 35 held by the movable portion 36c is controlled in the biaxial directions.

【0025】次に、図2を参照して、光学ピックアップ
32の光学ベース31に対して設定されているコネクタ
50について説明する。このコネクタ50は、光学ベー
ス31の上の、しかも受発光装置32の付近に固定され
ている。このコネクタ50は、例えばプラスチックによ
り作られており、図2と図4に示すような構造を有して
いる。つまりコネクタ50は、本体51と、第1のチェ
ック端子群60、第2のチェック端子群70を備えてい
る。第1のチェック端子群60は複数のチェック端子6
1と複数のチェック端子62を備えている。チェック端
子61は本体51の凹部51aにおいて所定ピッチPI
をおいて平行に配置されている。これに対してチェック
端子62は所定のピッチPIをおいてやはり平行に凹部
51bに配置されている。各チェック端子61と各チェ
ック端子62は、それぞれ違う信号を検査するための端
子でありそれぞれ電気的には独立している。
Next, the connector 50 set for the optical base 31 of the optical pickup 32 will be described with reference to FIG. The connector 50 is fixed on the optical base 31 and near the light emitting / receiving device 32. The connector 50 is made of, for example, plastic and has a structure as shown in FIGS. That is, the connector 50 includes the main body 51, the first check terminal group 60, and the second check terminal group 70. The first check terminal group 60 includes a plurality of check terminals 6.
One and a plurality of check terminals 62 are provided. The check terminal 61 has a predetermined pitch PI in the concave portion 51a of the main body 51.
Are arranged in parallel. On the other hand, the check terminals 62 are also arranged in the recess 51b in parallel with a predetermined pitch PI. Each check terminal 61 and each check terminal 62 are terminals for testing different signals, and are electrically independent of each other.

【0026】次に第2のチェック端子群70は、複数の
チェック端子71と複数のチェック端子72を備えてい
る。各チェック端子71は、やはり所定のピッチPIを
おいて、コネクタ50の凹部51cに配列されている。
各チェック端子72は、本体51の凹部51bにおいて
やはり所定のピッチPIをおいて配列されている。この
実施の形態では、チェック端子62とチェック端子72
は共通端子になっている。第1のチェック端子群60の
チェック端子61と62は、第1方向Aから複数のコン
タクトプローブPBを電気的に接続することができるも
のである。これに対して第2のチェック端子群70のチ
ェック端子71,72は、複数のコンタクトプローブP
Bを第2方向Bから接触させることができる。
Next, the second check terminal group 70 includes a plurality of check terminals 71 and a plurality of check terminals 72. The check terminals 71 are also arranged in the recess 51c of the connector 50 at a predetermined pitch PI.
The check terminals 72 are also arranged at a predetermined pitch PI in the concave portion 51b of the main body 51. In this embodiment, the check terminals 62 and 72
Is a common terminal. The check terminals 61 and 62 of the first check terminal group 60 can electrically connect the plurality of contact probes PB from the first direction A. On the other hand, the check terminals 71 and 72 of the second check terminal group 70 include a plurality of contact probes P
B can be contacted from the second direction B.

【0027】このように、第1方向Aと第2方向Bにそ
れぞれ第1のチェック端子群60と第2のチェック端子
群70を配置したのは、次のような理由からである。つ
まり図1と図2に示すように、光学ピックアップ30の
上方に光ディスク21が配置されて、この光ディスク2
1の情報を読み取りながらコネクタ50かその信号を取
り出してチェックする場合には、図4の第1方向Aから
複数のコンタクトプローブPBを第1のチェック端子群
60の各チェック端子61,62に接触させることがで
きない。なぜならば、光ディスク21がコネクタ50の
上方、すなわち第1方向A側に位置しているからであ
る。そこで、光ディスク21が第1方向Aにある場合に
は、コンタクトプローブPBは、第2方向Bから、第2
のチェック端子群70のチェック端子71,72に対し
てそれぞれ対応するように接触させる。このようにする
ことで、光ディスク21を装着して回転駆動した状態で
も必要な信号をチェックすることができる。
The reason why the first check terminal group 60 and the second check terminal group 70 are arranged in the first direction A and the second direction B, respectively, is as follows. That is, as shown in FIGS. 1 and 2, the optical disk 21 is
When the connector 50 or its signal is taken out and checked while reading the information of No. 1, a plurality of contact probes PB are brought into contact with the check terminals 61 and 62 of the first check terminal group 60 from the first direction A in FIG. I can't let it. This is because the optical disk 21 is located above the connector 50, that is, on the first direction A side. Therefore, when the optical disk 21 is in the first direction A, the contact probe PB
The check terminals 71 and 72 of the check terminal group 70 of FIG. In this manner, necessary signals can be checked even when the optical disk 21 is mounted and rotated.

【0028】そうでなく、光ディスク21が図1や図2
のように光学ピックアップ30の上に配置されていない
場合には、コンタクトプローブPBは、第1方向Aから
第1のチェック端子群60の各チェック端子61,62
に電気的に接触させることもできるし、あるいは第2方
向BからコンタクトプローブPBが第2のチェック端子
群70のチェック端子71,72に対してそれぞれ電気
的に接触させることも勿論可能である。何れにしても作
業者はどちらかを選択することができる。
Alternatively, the optical disk 21 is not shown in FIG.
When the contact probe PB is not disposed on the optical pickup 30 as shown in FIG.
It is of course possible to make electrical contact with the check terminals 71 and 72 of the second check terminal group 70 from the second direction B. In any case, the operator can select either one.

【0029】また図2と図4を参照すると明らかなよう
に、コネクタ50には次のようなメリットがある。つま
り、第1のチェック端子群60のチェック端子61とチ
ェック端子62が、凹部51aと凹部51bにそれぞれ
分けて配列されているので、チェック端子61のピッチ
PIとチェック端子62のピッチPIは、通常同じ数の
チェック端子を同一箇所に配列するのに比べて、ピッチ
の大きさを比較的大きく設定することができる。従って
コンタクトプローブPBは、比較的大きなピッチに配列
されたチェック端子61あるいは62に対して容易に電
気的に接続することができる。このことは、チェック端
子71,72も同じである。なお、コネクタ50の開口
部53は、図2のフレキシブルプリント基板54を差し
込んで電気的に接続する部分である。
As apparent from FIGS. 2 and 4, the connector 50 has the following advantages. That is, since the check terminals 61 and 62 of the first check terminal group 60 are arranged separately in the concave portions 51a and 51b, the pitch PI of the check terminals 61 and the pitch PI of the check terminals 62 are usually Compared to arranging the same number of check terminals at the same location, the pitch size can be set relatively large. Therefore, the contact probe PB can be easily electrically connected to the check terminals 61 or 62 arranged at a relatively large pitch. This is the same for the check terminals 71 and 72. The opening 53 of the connector 50 is a portion where the flexible printed circuit board 54 of FIG. 2 is inserted and electrically connected.

【0030】次に、図5〜図10は、本発明の図4のコ
ネクタ50とは別の実施の形態のコネクタ150を示し
ている。図5はコネクタ150の正面図であり、図6は
コネクタ150の平面図、図7はコネクタ150の側面
図、図8は図5のX−X断面図、図9は図5のコネクタ
のY−Y断面図、そして図10は図5のコネクタのZ−
Z断面図である。このコネクタ150は本体(ハウジン
グともいう)51、第1チェック端子群60、第2チェ
ック端子群70を備えている。図6の第1チェック端子
群60は、チェック端子61とチェック端子62を備え
ている。チェック端子61は本体51の凹部51aに所
定ピッチで配列されている。チェック端子62は本体5
1の凹部51bに所定ピッチおいて配列されている。
Next, FIGS. 5 to 10 show a connector 150 of another embodiment different from the connector 50 of FIG. 4 of the present invention. 5 is a front view of the connector 150, FIG. 6 is a plan view of the connector 150, FIG. 7 is a side view of the connector 150, FIG. 8 is a cross-sectional view taken along line XX of FIG. 5, and FIG. FIG. 10 is a sectional view of the connector of FIG.
It is a Z sectional view. The connector 150 includes a main body (also referred to as a housing) 51, a first check terminal group 60, and a second check terminal group 70. The first check terminal group 60 of FIG. 6 includes a check terminal 61 and a check terminal 62. The check terminals 61 are arranged in the concave portion 51a of the main body 51 at a predetermined pitch. Check terminal 62 is main body 5
They are arranged at a predetermined pitch in one concave portion 51b.

【0031】図5の第2チェック端子群70は、チェッ
ク端子群71,チェック端子群72を有している。チェ
ック端子群71は本体の凹部51cに所定ピッチで配列
されている。またチェック端子群72は凹部51bに所
定ピッチで配列されている。図5と図6に示すようにチ
ェック端子群72と62は共通端子である。図8と図9
に示すように、フレキシブルプリント基板54は、開口
部53から挿入して、フレキシブルプリント基板54の
電極54aは、内蔵の端子80に電気的に接続すること
ができるようになっている。この実施の形態において
も、第1チェック端子群60は、第1方向Aからコンタ
クトプローブを電気的に接触させることができ、第2チ
ェック端子群70はコンタクトプローブを第2方向Bか
ら電気的に接触させることができる。
The second check terminal group 70 in FIG. 5 has a check terminal group 71 and a check terminal group 72. The check terminal group 71 is arranged at a predetermined pitch in the concave portion 51c of the main body. The check terminal group 72 is arranged in the concave portion 51b at a predetermined pitch. As shown in FIGS. 5 and 6, the check terminal groups 72 and 62 are common terminals. 8 and 9
As shown in the figure, the flexible printed board 54 is inserted through the opening 53, and the electrode 54a of the flexible printed board 54 can be electrically connected to the built-in terminal 80. Also in this embodiment, the first check terminal group 60 can electrically contact the contact probe from the first direction A, and the second check terminal group 70 can electrically contact the contact probe from the second direction B. Can be contacted.

【0032】なお、本体51は例えばプラスチックで作
ることができるが、チェック端子(コンタクトともい
う)は、例えばリン青銅で作ることができる。また図8
〜図10に示すフレーム81はリン青銅で作ることがで
きる。このフレーム81は、図2の光学ベース31の配
線部に対して電気的に接続されている。このフレームは
図2と図4の実施の形態においても図示しないが備えて
いる。このように図2と図4の実施の形態では、光学ピ
ックアップのコネクタのチェック用端子に対して第1方
向Aからも第2方向Bからも電気的に接触させて信号の
チェックをすることができる。またこのことは図5〜図
10の実施の形態においても同様である。また図2と図
4の実施の形態では、チェック端子を2組に分けて配置
することにより、チェック端子間のピッチを広げること
ができ、標準的な通常用いられているコンタクトプロー
ブ等で各チェック用端子に対して電気的に接触させるこ
とができる。
Although the main body 51 can be made of, for example, plastic, the check terminals (also called contacts) can be made of, for example, phosphor bronze. FIG.
The frame 81 shown in FIG. 10 can be made of phosphor bronze. The frame 81 is electrically connected to the wiring portion of the optical base 31 in FIG. This frame is provided in the embodiment of FIGS. 2 and 4 although not shown. As described above, in the embodiments of FIGS. 2 and 4, it is possible to check the signal by electrically contacting the check terminal of the connector of the optical pickup from both the first direction A and the second direction B. it can. This is the same in the embodiments shown in FIGS. In the embodiment of FIGS. 2 and 4, the pitch between the check terminals can be widened by arranging the check terminals in two sets, and each check terminal can be checked using a standard and commonly used contact probe. Terminal can be electrically contacted.

【0033】次に、図11と図12の実施の形態につい
て説明する。図11と図12の実施の形態のコネクタ2
50は、本体51とチェック端子群90を備えている。
本体51に設けられたチェック端子群90は、第1のチ
ェック端子群91と第2のチェック端子群92を備えて
いる。第1のチェック端子群91の各チェック端子91
aは、本体51の凹部51aにおいて所定のピッチPH
をおいて配列されている。これに対して第2のチェック
端子群92のチェック端子92aは、やはりピッチPH
をおいて凹部51bに配列されている。しかもチェック
端子91aとチェック端子92aは、第1方向Aから見
て千鳥状に配列されている。つまりチェック端子91a
と92aは、ピッチPHの1/2だけずれて配置されて
いる。このピッチPHは、例えば1mmであるので、チ
ェック端子91と92のずれ量は、0.5mm(PH/
2)である。
Next, the embodiment shown in FIGS. 11 and 12 will be described. 11 and FIG. 12
50 has a main body 51 and a check terminal group 90.
The check terminal group 90 provided on the main body 51 includes a first check terminal group 91 and a second check terminal group 92. Each check terminal 91 of the first check terminal group 91
a is a predetermined pitch PH in the concave portion 51a of the main body 51.
It is arranged in. On the other hand, the check terminals 92a of the second check terminal group 92 also have the pitch PH.
Are arranged in the concave portion 51b. Moreover, the check terminals 91a and the check terminals 92a are arranged in a staggered manner when viewed from the first direction A. That is, the check terminal 91a
And 92a are displaced by half the pitch PH. Since this pitch PH is, for example, 1 mm, the shift amount between the check terminals 91 and 92 is 0.5 mm (PH /
2).

【0034】図12において、各チェック端子91a,
92aにはコンタクトプローブPBが電気的に接触でき
る。ピッチPHが非常に広く設定できるので、通常のコ
ンタクトプローブPBが難無く各チェック端子91,9
2に電気的に接続できる。コネクタ250の開口部53
は、フレキシブルプリント基板54をはめ込んで電気的
に接続できるようになっている。なお、チェック端子9
1a,91aの間に高さのやや低い端子を配置すること
もできる。またチェック端子92a,92aの間に別の
高さの低いチェック端子を配置することもできる。何れ
にしても、隣り合うチェック端子の高さを代えることに
より、コンタクトプローブPBが必要なチェック端子に
対して確実に電気的に接続することができる。
In FIG. 12, each check terminal 91a,
A contact probe PB can be in electrical contact with 92a. Since the pitch PH can be set very wide, each of the check terminals 91 and 9 can be easily used for the normal contact probe PB.
2 can be electrically connected. Opening 53 of connector 250
Can be electrically connected by fitting the flexible printed circuit board 54. Check terminal 9
A slightly lower terminal may be arranged between 1a and 91a. Further, another check terminal having a lower height can be disposed between the check terminals 92a. In any case, by changing the height of the adjacent check terminals, the contact probe PB can be reliably electrically connected to the necessary check terminals.

【0035】次に図13〜図18の別の実施の形態のコ
ネクタについて説明する。図13のコネクタ350は、
本体51、第1のチェック端子群60、第2のチェック
端子群70を備えている。図14の第1のチェック端子
群60のチェック端子61は、本体51の凹部51aに
おいて所定ピッチで配列されている。図14の第1のチ
ェック端子群60のチェック端子62は、本体51の凹
部51bにおいて所定のピッチで配列されている。ただ
しチェック端子61とチェック端子62は、図14で平
面的に見て明らかなように千鳥状に配列されている。
Next, a connector according to another embodiment shown in FIGS. 13 to 18 will be described. The connector 350 in FIG.
A main body 51, a first check terminal group 60, and a second check terminal group 70 are provided. The check terminals 61 of the first check terminal group 60 in FIG. 14 are arranged at a predetermined pitch in the concave portion 51 a of the main body 51. The check terminals 62 of the first check terminal group 60 in FIG. 14 are arranged at a predetermined pitch in the concave portion 51 b of the main body 51. However, the check terminals 61 and the check terminals 62 are arranged in a staggered pattern as is apparent in plan view in FIG.

【0036】図13において、第2のチェック端子群7
0は、複数のチェック端子71と複数のチェック端子7
2を備えている。複数のチェック端子71は、本体51
の凹部51cに所定ピッチで配列されている。これに対
してチェック端子72は、本体51の凹部51bにおい
て所定ピッチで配列されているが、チェック端子72は
チェック端子62と共通化されている。
In FIG. 13, the second check terminal group 7
0 indicates a plurality of check terminals 71 and a plurality of check terminals 7
2 is provided. The plurality of check terminals 71 are
At a predetermined pitch. On the other hand, the check terminals 72 are arranged at a predetermined pitch in the concave portions 51 b of the main body 51, but the check terminals 72 are shared with the check terminals 62.

【0037】コネクタ350はフレキシブルプリント基
板を差し込むための開口部53を備えており、フレキシ
ブルプリント基板54の配線部54aが、コネクタ35
0の端子80に電気的に接続できる。ただし図16と図
17に示すように端子80の長さLを隣り合う端子85
ごとに変えることにより、フレキシブルプリント基板5
4の抜き差しの抵抗力を小さくすることができる。図1
3〜図18の実施の形態のコネクタにおいても、チェッ
ク端子61とチェック端子62が千鳥状に配置されてい
るので、図12のように標準的に用いられているコンタ
クトプローブPBを用いて、電気的に接続して信号を得
ることができる。
The connector 350 has an opening 53 into which a flexible printed board is inserted. The wiring section 54a of the flexible printed board 54
0 terminal 80 can be electrically connected. However, as shown in FIG. 16 and FIG.
The flexible printed circuit board 5
4 can reduce resistance. FIG.
Also in the connectors of the embodiments of FIGS. 3 to 18, the check terminals 61 and the check terminals 62 are arranged in a staggered manner, so that the electrical connection is made by using the contact probe PB which is used as standard as shown in FIG. The signal can be obtained by connecting the terminals.

【0038】ところで本発明は上記実施の形態に限定さ
れない。たとえばコネクタの形状は、ほぼ立方体形状に
限らず、半円柱形状あるいはその他の形状を採用するこ
とも勿論可能である。またコネクタは光学ベースに固定
する以外に他の部分に固定することも勿論可能である。
The present invention is not limited to the above embodiment. For example, the shape of the connector is not limited to a substantially cubic shape, and it is of course possible to adopt a semi-cylindrical shape or another shape. The connector can of course be fixed to another part in addition to the optical base.

【0039】[0039]

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
光ディスクの信号を読取って信号のチェックができ、プ
ローブをコネクタの端子に対して確実に接続することが
できる。
As described above, according to the present invention,
The signal of the optical disk can be read to check the signal, and the probe can be reliably connected to the terminal of the connector.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明のコネクタを備える光ディスク装置の一
例を示す図。
FIG. 1 is a diagram showing an example of an optical disk device including a connector of the present invention.

【図2】光ディスク装置の光学ピックアップ及びコネク
タを示す斜視図。
FIG. 2 is a perspective view showing an optical pickup and a connector of the optical disc device.

【図3】光学ピックアップの受発光装置の一例を示す斜
視図。
FIG. 3 is a perspective view showing an example of a light receiving and emitting device of the optical pickup.

【図4】図2のコネクタを拡大して示す斜視図。FIG. 4 is an enlarged perspective view showing the connector of FIG. 2;

【図5】本発明のコネクタの別の実施の形態を示す正面
図。
FIG. 5 is a front view showing another embodiment of the connector of the present invention.

【図6】図5のコネクタの平面図。FIG. 6 is a plan view of the connector of FIG. 5;

【図7】図5のコネクタの側面図。FIG. 7 is a side view of the connector of FIG. 5;

【図8】図5のコネクタのX−X断面図。FIG. 8 is a sectional view of the connector of FIG. 5 taken along line XX.

【図9】図5のコネクタのY−Y断面図。9 is a sectional view of the connector of FIG. 5 taken along line YY.

【図10】図5のコネクタのZ−Z断面図。FIG. 10 is a sectional view taken along line ZZ of the connector of FIG. 5;

【図11】本発明のコネクタの別の実施の形態が取り付
けられた光学ピックアップを示す斜視図。
FIG. 11 is a perspective view showing an optical pickup to which another embodiment of the connector of the present invention is attached.

【図12】図11のコネクタを示す斜視図。FIG. 12 is a perspective view showing the connector of FIG. 11;

【図13】本発明の別の実施の形態のコネクタを示す正
面図。
FIG. 13 is a front view showing a connector according to another embodiment of the present invention.

【図14】図13のコネクタの平面図。FIG. 14 is a plan view of the connector of FIG. 13;

【図15】図13のコネクタの側面図。FIG. 15 is a side view of the connector of FIG.

【図16】図13のコネクタのX−X断面図。FIG. 16 is a sectional view taken along line XX of the connector of FIG. 13;

【図17】図5のコネクタのY−Y断面図。FIG. 17 is a sectional view taken along line YY of the connector of FIG. 5;

【図18】図5のコネクタのZ−Z断面図。FIG. 18 is a sectional view taken along the line ZZ of the connector of FIG. 5;

【図19】従来のコネクタを備えた光学ピックアップを
示す斜視図。
FIG. 19 is a perspective view showing an optical pickup provided with a conventional connector.

【図20】コネクタと光ディスクの位置関係を示す図。FIG. 20 is a diagram showing a positional relationship between a connector and an optical disk.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

A・・・第1方向、B・・・第2方向、PB・・・コン
タクトプローブ(コンタクト部材)、21・・・光ディ
スク、30・・・光学ピックアップ、32・・・受発光
素子(光学ピックアップの電気要素)、60・・・第1
のチェック端子群、61,62・・・チェック端子、7
0・・・第2のチェック端子群、71,72・・・チェ
ック端子、36b,36d・・・コイル(電気要素)
A: first direction, B: second direction, PB: contact probe (contact member), 21: optical disk, 30: optical pickup, 32: light receiving / emitting element (optical pickup) Electrical element), 60... First
Check terminal group, 61, 62... Check terminal, 7
0: second check terminal group, 71, 72: check terminal, 36b, 36d: coil (electric element)

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 光ディスクに情報の記録、再生に用いら
れる光学ピックアップの電気要素と、光学ピックアップ
の外部との電気的な接続を得るためのコネクタにおい
て、 電気的な接続検査を行うためのコンタクト部材を接触す
るために第1の方向に配列された第1のチェック端子群
と、 電気的な接続検査を行うためのコンタクト部材を接触す
るために第1の方向とは異なる第2の方向に配列された
第2のチェック端子群と、とを備えることを特徴とする
光学ピックアップ用のコネクタ。
1. A contact member for performing an electrical connection test on a connector for obtaining an electrical connection between an electric element of an optical pickup used for recording and reproducing information on an optical disc and an outside of the optical pickup. A first check terminal group arranged in a first direction for contacting the first check terminal group, and a second direction different from the first direction for contacting a contact member for performing an electrical connection test. And a second check terminal group.
【請求項2】 光ディスクに情報の記録、再生に用いら
れる光学ピックアップの電気要素と、光学ピックアップ
の外部との電気的な接続を得るためのコネクタにおい
て、 電気的な接続検査を行うためのコンタクト部材を接触す
るために配列された第1のチェック端子群と、 電気的な接続検査を行うためのコンタクト部材を接触す
るために配列された第2のチェック端子群と、とを備
え、 第1のチェック端子群の各チェック端子と、第2のチェ
ック端子群の各チェック端子は、相互に位置を代えて配
置されていることを特徴とする光学ピックアップ用のコ
ネクタ。
2. A contact member for performing an electrical connection test on an electrical element of an optical pickup used for recording and reproducing information on an optical disk and a connector for obtaining an electrical connection with the outside of the optical pickup. A first check terminal group arranged to contact the first check terminal group, and a second check terminal group arranged to contact a contact member for performing an electrical connection test. A connector for an optical pickup, wherein each check terminal of the check terminal group and each check terminal of the second check terminal group are arranged so as to be mutually shifted.
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