JPH10334501A - 光学式情報記録再生装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 ディスクの種類に拘わらず、正確にトラッキ
ングエラー信号を検出できるようにする。 【解決手段】 レーザーカプラ３１から出射されたレー
ザ光はグレーティング３２を通してビームスプリッタ３
３に入射され、そこで反射され、対物レンズ３４により
ディスク５０上に集光される。ディスク５０からの反射
光は対物レンズ３４によりビームスプリッタ３３に導か
れ、ここで２分割されて、一方はグレーティング３２を
通してレーザカプラ３１に入射され、他方はＰＤＩＣ３
５上に入射される。レーザカプラ３１に入射された反射
光は内部のＰＤＩＣに導かれ、このＰＤＩＣから差動ス
ポットサイズ法によるフォーカスエラー信号が取り出さ
れる。ＰＤＩＣ３５から３ビーム法によるトラッキング
エラー信号と再生信号とが取り出される。全体が、集積
モジュール８０で一体化されている。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、コンパクトディス
クプレーヤ等の光ディスクシステムで情報を記録または
再生する場合に用いて好適な光学式情報記録再生装置に
関する。

【０００２】

【従来の技術】現在、光ピックアップは、極めて大量に
製造されており、その量産性の高さから、図１３に示す
ような従来のディスクリート系に対して、図１４に示す
ようなレーザカプラなどの光集積素子の割合が増えてき
ている。これは集積素子化することで、部品点数の削減
による低コスト化、高信頼性化に加え、小型・薄型・軽
量化が可能となり、非常に大きなメリットを得ることが
できるためである。

【０００３】ここで、図１４乃至図１７を参照して、Ｃ
Ｄ用の光集積素子である従来のレーザカプラの動作原理
を説明する。図１４は従来のレーザカプラの斜視図、図
１５は同レーザカプラの縦断面図、図１７は図１４と図
１５に示したＳｉ−ＰＤＩＣ（フォトダイオードＩＣ）
の拡大平面図である。図１６は、レーザカプラから出射
されたレーザ光の光路を示している。

【０００４】レーザカプラはＳｉ−ＰＤＩＣ１上に構成
されている。Ｓｉ−ＰＤＩＣ１上に形成されたｐｉｎ−
ＰＤ（フォトダイオード）４の上端部にＬＤ（レザーダ
イオード）２が載置されている。このＬＤ２から出射さ
れたレーザ光はＳｉ−ＰＤＩＣ１上のプリズム３によ
り、反射されて、情報読み出し用主ビーム１００となっ
てカバーガラス７の外部に出射される。

【０００５】レーザカプラ６０から出射された情報読み
出し用主ビーム１００は図１６に示すように、対物レン
ズ５によりディスク５０上に集光される。ディスク５０
上のピットで変調を受けたレーザ光の反射光は対物レン
ズ５を透過し、レーザカプラ６０側に戻る。このレーザ
光はプリズム３内に侵入してビーム２００になり、Ｓｉ
−ＰＤＩＣ１上のＰＤ（フォトダイオード）１１に入射
され、この入射光はこのＰＤ１１上で反射され、更にプ
リズム３の上面で反射されて、ＰＤ１２に入射される。
尚、レーザカプラ６０は図１５に示すようにパッケージ
６内に収容され、前面はカバーガラス７で覆われてい
る。

【０００６】ここで、図１７に示すようにＰＤ１１は
ａ、ｂ、ｃ、ｄのセグメントに４分割され、ＰＤ１２は
ｉ、ｊ、ｋ、ｌのセグメントに４分割されている。これ
より、ＰＤ１１とＰＤ１２からはフォーカスエラー信号
ＦＥ、トラッキングエラー信号ＴＥ、再生信号ＲＦが得
られる。ここで、各セグメントの出力をセグメントと同
符号にすると、 ＦＥ＝［（ａ＋ｄ）−（ｂ＋ｃ）］−［（ｉ＋ｌ）−
（ｊ＋ｋ）］ ＴＥ＝［（ａ＋ｂ）−（ｃ＋ｄ）］＋［（ｋ＋ｌ）−
（ｉ＋ｊ）］ ＲＦ＝ａ＋ｂ＋ｃ＋ｄ＋ｉ＋ｊ＋ｋ＋ｌ となる。但し、フォーカスエラー信号とは情報読み出し
用主ビームをディスク５０上へフォーカスさせるための
制御信号で、トラッキングエラー信号は前記主ビームが
ディスク５０上のトラックを正確に照射するように制御
するための信号であり、又、再生信号はディスク５０上
に書き込まれている音楽などの情報信号である。

【０００７】ここで、トラッキングエラー信号ＴＥに注
目する。上記の例では、トラッキングエラー検出法とし
てプッシユプル法を用いている。このプッシュプル法を
採用すると光学系構成は簡単になるものの、レンズシフ
トやデイスクのラジアルスキューによって大きなオフセ
ットが生じるという欠点がある。図１４と図１５のよう
な光集積素子では、電気回路による補正を行うことでオ
フセットをキャンセルしているため、補正回路が必ず必
要になる。その際、補正回路を使用する上で、ＣＤやＣ
Ｄ−ＲＯＭ等では問題なく動作するが、反射率の小さい
ＣＤ−ＲＷでは、信号強度の違いから、回路のゲインを
切り換えたり、信号強度の適応範囲を広くしたりする等
の改良が必要になって、これまでのＣＤ用の電気的な補
正回路がそのまま使えなくなる。

【０００８】また、ＣＤ(CD-ROM)では、ピットの深さが
約λ／５と定まっていることにより、プッシュプル信号
が問題なく検出できるため、何等問題がない。ところ
が、ＤＶＤ(DVD-ROM) では、規格上、ピットの深さがλ
／４であり、そうなるとプッシュプル信号が生成できな
くなり、トラッキングサーボがかけられなくなる。

【０００９】ところが、例えば、図１３に示したような
光ピックアップ系（ディスクリート光学系）では、トラ
ッキングエラー検出法として一般に３ビーム法が用いら
れている。この３ビーム法は、レンズシフトやデイスク
のラジアルスキューがあっても、オフセットがほとんど
生じないという長所を持っているが、一般に３ビーム光
学系では実装アライメント（調整）に高い精度が要求さ
れる。

【００１０】図１３のディスクリート光学系の光ピック
アップでは、ＬＤ２１から出射されたレーザ光はグレー
ティング２２により３ビームに分割された後、ビームス
プリッタ２３に入射される。ビームスプリッタ２３に入
射されたレーザ光は、そこで反射され、情報読み出し用
主ビーム１００となってディスク方向に導かれる。情報
読み出し用主ビーム１００は、図１８に示すように、対
物レンズ２５によりディスク５０上に集光される。ディ
スク５０上のピットで変調を受けたレーザ光の反射光は
対物レンズ２５を透過し、ビームスプリッタ２３側に戻
り、このビームスプリッタ２３を通過して、そこで非点
収差が与えられた後、ＰＤＩＣ２４上に導かれる。

【００１１】ここで、図１９に示すようにＰＤＩＣ２４
はａ、ｂ、ｃ、ｄ、ｅ、ｆのセグメントに６分割されて
いる。これより、ＰＤＩＣ２４からは、非点収差法によ
るフォーカスエラー信号ＦＥ、３ビーム法によるトラキ
ングエラー信号ＴＥ、再生信号ＲＦが得られる。ここ
で、各セグメントの出力をセグメントと同符号にする
と、次のようになる。 ＦＥ＝（ａ＋ｃ）−（ｂ＋ｄ） ＴＥ＝ｅ−ｆ ＲＦ＝ａ＋ｂ＋ｃ＋ｄ

【００１２】このディスクリート光学系では、３ビーム
法によるトラッキングエラー検出を用いているため、レ
ンズシフトやディスクスキューに強く、オフセットを生
じにくい。これにより、プッシュプル法のようなオフセ
ットキャンセル用の補正回路を必要とせず、反射率の大
きく異なるディスク（通常のＣＤに対してＣＤ−ＲＷ
等）のトラッキングエラー検出にも簡単に対応しやす
い。また、プッシュプル法を用いていないため、ディス
ク５０のピット深さに余り依存しないトラッキングエラ
ー信号が得られるので、プッシュプル信号が得られない
可能性のあるＤＶＤ−ＲＯＭ等のディスク系にも使用可
能である。しかし、ＰＤＩＣ２４のメインスポット部分
（セグメントａ、ｂ、ｃ、ｄに照射されるスポット）で
フォーカスをとるため、Ｘ、Ｙ、Ｚの３方向に高いマウ
ント精度を必要とし、実装時のアライメント精度が厳し
かった。

【００１３】また、シャープ技報８９年９月号やNation
al Technical Report Vol.42 No6などにホログラムを利
用している光ピックアップ用３ビーム光集積デバイスに
ついて掲載されている。それらに共通しているシビアな
点として、ホログラムのアライメントの厳しさが挙げら
れ、一般には、最後にひとつひとつ素子を動作させて信
号を見ながらホログラムの固定を行う必要があり、組み
立てに手間がかかる。

【００１４】

【発明が解決しようとする課題】上記した如く、図１４
と図１５に示したようなレーザカプラ６０は、ＣＤ用の
光集積素子として広く使われているが、トラッキングエ
ラー検出法としてプッシュプル法を用いている。このプ
ッシュプル法はレンズシフトやディスクのラジアルスキ
ュー等で大きなオフセットを生じる。そこで、このオフ
セットをキャンセルするため、通常は電気的な補正を補
正回路により行っている。このようなレーザカプラ６０
は、ＣＤやＣＤ−ＲＯＭ等では問題なく動作するが、反
射率の小さいＣＤ−ＲＷでは、信号強度の違いからゲイ
ンを切り換えたり、信号強度の適応範囲を広くしたりす
る等の改良が必要で、これまでのＣＤ用の電気的な補正
回路がそのまま使えないという課題があった。また、Ｃ
Ｄ（ＣＤ−ＲＯＭ）では、ピット深さが約λ／５と定ま
っているため、プッシュプル信号が問題なく検出できる
が、ＤＶＤ(DVD-ROM) では、規格上、ピット深さがλ／
４になることもあり、そうなるとプッシュプル信号が出
なくなり、トラッキングサーボがかけられなくなるとい
う課題があった。

【００１５】また、図１８に示したような従来のディス
クリート光学系や、図示しないホログラム集積光学系等
の光ピックアップは、３ビーム法によるトラッキングエ
ラー検出を用いているため、レンズシフトやデイスクの
ラジアルスキューがあっても、オフセットがほとんど生
ぜず、プッシュプル法のようなオフセットキャンセル用
の補正回路を必要としない光集積デバイスを製造するこ
とができる。従って、反射率の大きく異なるディスク
（通常のＣＤに対してＣＤ−ＲＷ等）のトラッキングエ
ラー検出にも簡単に対応しやすいだけでなく、ディスク
ピット深さへの依存の少ないトラツキングエラー信号が
得られる。これにより、プッシュプル信号が得られない
可能性のあるＤＶＤ−ＲＯＭ等のディスク系にも広く使
用することができるが、実装時のアライメント精度が厳
しく、組み立て性が悪いという課題があった。

【００１６】本発明は、このような状況に鑑みてなされ
たもので、反射率の大きく異なるディスクのトラッキン
グエラー検出に対応でき、且つディスクピット深さへの
依存の少ないトラッキングエラー検出を行って、広範な
種類のディスクのトラッキングエラー検出を容易に行う
ことができ、しかも実装時のアラインメントが容易な汎
用性の高い光ピックアップ及びディスク信号取得方法を
提供することを目的とする。

【００１７】

【課題を解決するための手段】請求項１に記載の光学式
情報記録再生装置は、ディスクに照射する光を発生する
発光部と、ディスクで反射された光を受光し、フォーカ
スエラー信号を生成する光検知部が一体的に形成されて
いる第１の手段と、第１の手段より出射された光を３ビ
ーム法によるトラッキングを可能とするために、実質的
に３本のビームに分割する第２の手段と、ディスクで反
射された光を受光し、３ビーム法によるトラッキングエ
ラー信号を生成するための信号を出力する第３の手段
と、第１の手段から出射された光をディスクに導くとと
もに、ディスクからの反射光を分割して、第１の手段と
第３の手段に導く第４の手段と、第１乃至第４の手段
を、一体化する第５の手段とを備えることを特徴とす
る。

【００１８】請求項１に記載の光学式情報記録再生装置
においては、第１乃至第４の手段が第５の手段により一
体化されている。

【００１９】

【発明の実施の形態】以下に本発明の実施の形態を説明
するが、特許請求の範囲に記載の発明の各手段と以下の
実施の形態との対応関係を明らかにするために、各手段
の後の括弧内に、対応する実施の形態（但し一例）を付
加して本発明の特徴を記述すると、次のようになる。但
し勿論この記載は、各手段を記載したものに限定するこ
とを意味するものではない。

【００２０】請求項１に記載の光学式情報記録再生装置
は、ディスクに照射する光を発生する発光部（例えば図
１４のＬＤ２）と、ディスクで反射された光を受光し、
フォーカスエラー信号を生成する光検知部（例えば図４
のＰＤ３１１，ＰＤ３１２）が一体的に形成されている
第１の手段（例えば図５のレーザカプラ３１）と、第１
の手段より出射された光を３ビーム法によるトラッキン
グを可能とするために、実質的に３本のビームに分割す
る第２の手段（例えば図５のグレーティング３２）と、
ディスクで反射された光を受光し、３ビーム法によるト
ラッキングエラー信号を生成するための信号を出力する
第３の手段（例えば図５のＰＤＩＣ３５）と、第１の手
段から出射された光をディスクに導くとともに、ディス
クからの反射光を分割して、第１の手段と第３の手段に
導く第４の手段（例えば図５のビームスプリッタ３３）
と、第１乃至第４の手段を、一体化する第５の手段（例
えば図５の集積モジュール８０）とを備えることを特徴
とする。

【００２１】図１は本発明を適用した光ピックアップの
内部の基本的構成を示した図である。３１はレーザ光を
出射し、且つその反射光を受光してフォーカスエラー信
号ＦＥを得るレーザカプラ、３２はレーザ光を実質的に
３分割するグレーティング、３３はディスク５０への入
射光と反射光を分離するビームスプリッタ、３４はレー
ザ光をディスク５０上に集光すると共に、ディスク５０
からの反射をビームスプリッタ３３側に導く対物レン
ズ、３５はディスク５０からの反射光からトラキングエ
ラー信号ＴＥと再生信号ＲＦとを検出するＰＤＩＣ（フ
ォトダイオードＩＣ）である。尚、レーザカプラ３１の
詳細構成は内蔵のＰＤＩＣの分割数が異なるだけで、図
１４と図１５に示したものと同様である。

【００２２】次にこの基本的構成の動作について説明す
る。レーザカプラ３１のＬＤ２から出射されたレーザ光
は、プリズム３で反射された後、グレーティング３２に
入射される。グレーティング３２により実質的に３ビー
ムに分割されたレーザ光は、ビームスプリッタ３３に入
射され、情報読み出し用主ビーム１００としてディスク
５０の方向に反射される。この情報読み出し用主ビーム
１００は対物レンズ３４によりディスク５０上に集光さ
れる。

【００２３】ディスク５０上のピットで変調を受けたレ
ーザ光の反射光は対物レンズ３４により集束され、ビー
ムスプリッタ３３に入射される。ビームスプリッタ３３
により２分割された反射光の一方は、ビームスプリッタ
３３を透過して、ビーム３００としてＰＤＩＣ３５上に
導かれ、他方はビームスプリッタ３３で反射され、グレ
ーティング３２を通してレーザカプラ３１に入射され
る。このレーザ光は、プリズム３内に入射し、図１４の
ＰＤ１１とＰＤ１２に対応するＰＤ３１１とＰＤ３１２
（図３を参照して後述する）に入射される。

【００２４】図２はＰＤＩＣ３５の詳細例を示した平面
図である。ＰＤＩＣ３５はｅ、ｓ、ｆの３セグメントに
分割されている。このため、このＰＤＩＣ３５にディス
ク５０からの反射光が入射されると、このＰＤＩＣ３５
から、再生信号ＲＦと３ビーム法によるトラッキングエ
ラー信号ＴＥとが取り出される。即ち、ＰＤＩＣ３５の
セグメントｅ、ｓ、ｆの出力レベルをｅ、ｓ、ｆで示す
と、これらの信号は次のようになる。 ＴＥ＝ｅ−ｆ ＲＦ＝ｓ

【００２５】図３はレーザカプラ３１に内蔵されている
ＰＤＩＣ１上の２個のＰＤ（フォトダイオード）３１
１、ＰＤ３１２の詳細例を示した平面図である。ＰＤ３
１１はａ、ｂ、ｃの３セグメントに分割され、ＰＤ３１
２はｉ、ｊ、ｋの３セグメントに分割されている。この
ため、これらＰＤ３１１、ＰＤ３１２にディスク５０か
らの反射光が入射されると、フォーカスエラー信号ＦＥ
が差動スポットサイズ法により取り出される。即ち、Ｐ
Ｄ３１１のセグメントａ、ｂ、ｃの出力レベルをａ、
ｂ、ｃ、ＰＤ３１２のセグメントｉ、ｊ、ｋの出力レベ
ルをｉ、ｊ、ｋで示すと、次式からフォーカスエラー信
号ＦＥが得られる。 ＦＥ＝［（ａ＋ｃ）−ｂ］−［（ｉ＋ｋ）−ｊ］

【００２６】ここで、ＰＤＩＣ１をディスク５０上のト
ラックに対してどの方向に向けるかによって、ＰＤ３１
１、ＰＤ３１２のサイドスポットの照射位置が異なって
来る。図４（Ａ）はその向きを約４５度にした場合を示
し、図４（Ｂ）は約９０度にした場合を示している。し
かし、いずれの場合も、差動スポットサイズ法によっ
て、フォーカスエラー信号ＦＥを取り出すため、ＰＤ３
１１、ＰＤ３１２から良好なＦＥ信号が得られる。

【００２７】本実施の形態によれば、ＰＤＩＣ３５にお
いて３ビーム法によるトラッキングエラー検出を用いる
ため、レンズシフトやデイスクスキューに強く、オフセ
ットを生じにくいので、プッシュプル法のようなオフセ
ットキャンセル用の補正回路を必要とせず、レーザカプ
ラ３１内のＰＤＩＣチップを安価且つ小形化することが
できると共に、反射率の大きく異なるディスク（通常の
ＣＤに対してＣＤ−ＲＷ等）のトラッキングエラー検出
にも容易に対応することができる。

【００２８】また、３ビーム法によるトラッキングエラ
ー検出を用いているため、ディスク５０のディスクピッ
ト深さに余り依存しないトラッキングエラー信号ＴＥが
得られ、プッシュプル法では得られない可能性のあるＤ
ＶＤ−ＲＯＭ系のディスクからもトラッキングエラー信
号を得ることができる。

【００２９】ＰＤＩＣ３５からはフォーカスエラー信号
を取らないため、再生信号ＲＦを取るセグメントｓを分
割する必要がない。このため、ＰＤＩＣ３５部のアライ
ンメントを容易に行うことができるだけでなく、再生信
号ＲＦが安定化され、Ｓ／Ｎを良好にすることができる
と共に、信号再生の高速化にも十分対応することができ
る。

【００３０】レーザカプラ３１に内蔵されている２個の
ＰＤ３１１、ＰＤ３１２からはフォーカスエラー信号Ｆ
Ｅのみを差動スポットサイズ法により得るため、安定な
フォーカス信号ＦＥを得ることができるだけでなく、周
波数特性のスペックを緩やかにすることができ、前記Ｐ
Ｄ３１１、ＰＤ３１２が形成されているＰＤＩＣ１の製
造を容易且つ安価にすることができる。また、サイドス
ポットの位置が異なっても、図４を参照して説明した如
く、良好なフォーカスエラー信号ＦＥを得ることができ
る。

【００３１】図５は本発明を適用した光ピックアップの
実施の形態を示した構成図である。本例はレーザカプラ
３１、グレーティング３２、ＰＤＩＣ３５、ビームスプ
リッタ３３を、例えばモールドパッケージのような基体
４１の中にコンパクトに収容して、集積モジュール８０
としている。

【００３２】本例では、集積モジュール化したことによ
り、アライメント精度上、製造し易く、且つ、３ビーム
光集積素子としては小型で低コスト且つ高信頼性を確保
できる。

【００３３】図６は、図２に示したＰＤＩＣ３５の原理
的な構成を、図５の集積モジュール８０内のＰＤＩＣ３
５に適用した場合の、具体的な構成例を表している。こ
れは光集積素子に適したＰＤＩＣ３５のパターン例であ
る。ＰＤＩＣ３５はＸ方向にｅ、ｓ、ｆのセグメントに
３分割されている。このようにすることで、モジュール
を組み立てる際、図中のＹ方向の精度を、基本的にはほ
ぼフリーとすることができる。また、フォーカスエラー
信号ＦＥをとらないのでフォーカス方向（図のＺ方向）
の精度も大体でよく、ほぼフリーであり、かなり精度を
緩るめとすることができる。Ｘ方向はやや精度が必要で
あるが、３スポットがそれぞれのセグメントｅ、ｓ、ｆ
に入っていさえすればよいので、デイスクリート光学系
やホログラム集積素子などの通常の３スポット光学系に
比べると、格段に緩い精度とすることができる。従っ
て、レーザカプラ３１やＰＤＩＣ３５のチップマウント
精度によっては、実装時の機械的精度で十分に確保でき
る精度領域となっている。また、たとえ調整工程が必要
だとしても、調整はかなり簡単で済む。

【００３４】上記実施の形態において、レーザカプラ３
１及び外部のＰＤＩＣ３５はそれぞれ専用のセラミック
やモールド等の小型パッケージに組み立てられている。
それらと、例えば通常のビームスプリッタ３３の代わり
に、図７に示すようなキューブ型のビームスプリッタ３
３が本モジュールの基体４１に嵌め込んで実装された構
成としても同様の効果を得ることができる。

【００３５】図８はキューブ型のビームスプリッタ３３
を用い、且つレーザカプラ３１とＰＤＩＣ３５の位置を
入れ替えた構成であるが、このような構成でも、基体４
１の動作は上記と全く変わらず、同様の効果を得ること
ができる。

【００３６】グレーティング３２は、同様に基体４１に
嵌め込み実装しても良いが、レーザカプラ３１がプレー
ナ薄型素子であるため、図５、図７、または図８に示す
ように、レーザカプラ３１の上に配置した透明カバー
（ガバーガラス等）３９上に直接、接着固定してもよい
し、図９に示すように、板状のグレーティング３２自体
を透明カバーとして兼用にすることもできる。この際、
レーザカプラ３１の製造工程で使われている高精度且つ
量産性に優れたプレーナ実装により、グレーテイング３
２を容易に精度良くマウントすることができる。このカ
バーガラス上にグレーティングを直接形成することで、
より一層の集積化を行うことができる。

【００３７】また、３分割されたＰＤＩＣ３５を用い、
且つこのＰＤＩＣ３５からフォーカスエラー信号ＦＥを
取り出さないため、レーザカプラ３１やＰＤＩＣ３５の
チップマウント精度によっては、ＰＤＩＣ３５のマウン
と時の精度を実装時の機械的精度だけで十分に確保で
き、基体４１の集積化を極めて容易に行うことができ
る。仮に、ＰＤＩＣ３５のマウントの際に、例え調整工
程が必要だとしても、この調整はかなり簡単なもので済
み、いずれにしても、上記した集積化を容易に行うこと
ができる。

【００３８】図１０は本発明の光ピックアップの第２の
実施の形態を示した構成図である。本例はレーザの有す
る非点収差補正機能を盛り込んだ例である。プレート型
ビームスプリッタ３３はその厚みと角度が、レーザの有
する非点収差を補正するように最適な条件に設計され、
配置されている。また、本例では、戻りのビーム（ディ
スク５０からの反射光）の反射する方向にＰＤＩＣ３５
が設置されている。このため、部品点数は図５に示した
第１の実施の形態と同一としたままで、レーザ光の非点
収差補正を行うことができ、デバイスの性能向上や適応
範囲の拡大を図ることができる。

【００３９】尚、本例も、図１１に示すように、グレー
ティング３２をレーザカプラ３１ののカバーガラス３９
として直接形成して、基体４１の一層の集積化を行うこ
とができる。

【００４０】図１２は、以上のような構成の光学式ピッ
クアップを用いた光学式情報再生装置の概略構成を表し
ている。同図に示すように、ディスク５０は、スピンド
ルモータ７２により、所定の速度で回転される。このデ
ィスク５０に対して、上述した構成の光学式ピックアッ
プ７１でレーザ光を照射し、そこに記録されている情報
を再生することができる。このとき、サーボ回路７３
は、スピンドルモータ７２を所定の速度で回転させるよ
うにスピンドルサーボを制御するとともに、光学式ピッ
クアップ７１を制御し、フォーカスサーボ、トラッキン
グサーボ、およびラジアルサーボを実行する。

【００４１】光学式ピックアップ７１より出力された再
生ＲＦ信号は、復調回路７４で復調された後、再生信号
処理回路７５に入力され、誤り訂正処理、その他の処理
が実行された後、図示せぬ回路に出力される。

【００４２】勿論、上記した構成の光学式ピックアップ
は、情報を記録する光学式情報記録装置においても応用
することができる。すなわち、光学的に情報を記録また
は再生をする光学式情報記録再生装置に、本発明は適用
することができる。

【００４３】

【発明の効果】以上のごとく、請求項１に記載の光学式
情報記録再生装置によれば、第１乃至第４の手段を第５
の手段により一体化するようにしたので、反射率の大き
く異なるディスクのトラッキングエラー検出に対応で
き、且つディスクピット深さへの依存の少ないトラッキ
ングエラー検出を行って、広範な種類のディスクのトラ
ッキングエラー検出を容易に行うことができ、しかも実
装時のアラインメントを容易にすることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明を適用した光ピックアップの原理的構成
を示す図である。

【図２】図１に示したＰＤＩＣの詳細平面図である。

【図３】図１に示したレーザカプラ内のフォトダイオー
ドの詳細平面図である。

【図４】図１に示したレーザカプラ内のフォトダイオー
ドに対するサイドスポット位置を説明する図である。

【図５】本発明を適用した光ピックアップの第１の実施
の形態の構成を示す図である。

【図６】図５に示したＰＤＩＣの詳細平面図である。

【図７】図５に示した基体の他の構成例を示した断面図
である。

【図８】図５に示した基体の他の構成例を示した断面図
である。

【図９】図５に示した基体の他の構成例を示した断面図
である。

【図１０】本発明を適用した光ピックアップの第２の実
施の形態の構成を示す図である。

【図１１】図１０に示した基体の他の構成例を示した断
面図である。

【図１２】本発明を適用した光学式情報再生装置の構成
例を示すブロック図である。

【図１３】従来のディスクリート系の光ピックアップの
構成を示す図である。

【図１４】レーザカプラの構成例を示した斜視図であ
る。

【図１５】レーザカプラの構成例を示した断面図であ
る。

【図１６】図１４に示したレーザカプラとディスク及び
対物レンズとの関係を示した図である。

【図１７】図１４に示したＰＤの詳細平面図である。

【図１８】図１３に示した光ピックアップとディスク及
び対物レンズとの関係を示した構成図である。

【図１９】図１３に示したＰＤＩＣの詳細平面図であ
る。

【符号の説明】

３１ レーザカプラ， ３２ グレーティング， ３３
ビームスプリッタ，３４ 対物レンズ， ３５ ＰＤ
ＩＣ， ３９ カバーガラス， ４１ 基体， ５０
ディスク， ８０ 集積モジュール， ３１１，３１２
フォトダイオード（ＰＤ）

Claims (6)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 ディスク上のトラックに光を照射し、情
   報を記録または再生する光学式情報記録再生装置におい
   て、 前記ディスクに照射する光を発生する発光部と、前記デ
   ィスクで反射された光を受光し、フォーカスエラー信号
   を生成する光検知部が一体的に形成されている第１の手
   段と、 前記第１の手段より出射された光を３ビーム法によるト
   ラッキングを可能とするために、実質的に３本のビーム
   に分割する第２の手段と、 前記ディスクで反射された光を受光し、３ビーム法によ
   るトラッキングエラー信号を生成するための信号を出力
   する第３の手段と、 前記第１の手段から出射された光を前記ディスクに導く
   とともに、前記ディスクからの反射光を分割して、前記
   第１の手段と第３の手段に導く第４の手段と、前記第１
   乃至第４の手段を、一体化する第５の手段とを備えるこ
   とを特徴とする光学式情報記録再生装置。
2. 【請求項２】 前記第１の手段は、 レーザ光を発生する前記発光部としてのレーザダイオー
   ドと、 前記フォーカスエラー信号を差動スポットサイズ法によ
   り検出する前記光検知部としての２個のフォトダイオー
   ドと、 前記レーザダイオードより出射されたレーザ光を、前記
   ディスクに向けて反射するとともに、前記ディスクから
   の反射光を前記２個のフォトダイオードに導くプリズム
   とが一体的に集積化されているレーザカプラであること
   を特徴とする請求項１に記載の光学式情報記録再生装
   置。
3. 【請求項３】 前記第２の手段は、前記レーザカプラか
   ら出射される前記レーザ光の出射面を覆うカバーガラス
   に固定されたグレーティングであることを特徴とする請
   求項２に記載の光学式情報記録再生装置。
4. 【請求項４】 前記グレーティングは前記カバーガラス
   と兼用されていることを特徴とする請求項３に記載の光
   学式情報記録再生装置。
5. 【請求項５】 前記２個のフォトダイオードはそれぞれ
   の受光面が３分割されていることを特徴とする請求項２
   記載の光学式情報記録再生装置。
6. 【請求項６】 前記第４の手段は、キューブ型のビーム
   スプリッタであることを特徴とする請求項１に記載の光
   学式情報記録再生装置。