JPH10333649A - Voltage selecting circuit, liquid crystal driving circuit, and semiconductor device - Google Patents

Voltage selecting circuit, liquid crystal driving circuit, and semiconductor device

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JPH10333649A
JPH10333649A JP14625797A JP14625797A JPH10333649A JP H10333649 A JPH10333649 A JP H10333649A JP 14625797 A JP14625797 A JP 14625797A JP 14625797 A JP14625797 A JP 14625797A JP H10333649 A JPH10333649 A JP H10333649A
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JP
Japan
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circuit
shift register
output
liquid crystal
signal
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Application number
JP14625797A
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Japanese (ja)
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Kazuhiro Ida
田 一 博 伊
Yasuo Ryu
康 夫 龍
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Toshiba Corp
Toshiba Electronic Device Solutions Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Toshiba Microelectronics Corp
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a voltage selecting circuit, a liquid crystal driving circuit and a semiconductor device that can inspect a short and disconnection of a wire in a short time. SOLUTION: A liquid crystal driving circuit has a shift register formed out of n-pieces of D flip-flops, a control signal output circuit 12, transfer gates, a first inspection control circuit 1 to switch the operation of the shift register 11 during inspection and a second test control circuit 2 to switch the operation of the control signal output circuit 12 during inspection. During inspection, the first inspection control circuit 1 operates the shift register 11 as an inverter chain and the second test control circuit 2 turns on one of the transfer gates in response to the output of the shift register 11. In this way, the circuits are inspected in a significantly shorter time, independently of a reference clock and a frame signal.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、シフトレジスタに
入力されたシリアル入力信号の論理とフレーム信号の論
理とに基づいて所望の電圧を選択して出力する電圧選択
回路、液晶駆動回路および半導体装置に関し、特に、液
晶パネルを反転駆動するための電圧を選択して出力する
回路などを対象とする。
The present invention relates to a voltage selection circuit for selecting and outputting a desired voltage based on the logic of a serial input signal and the logic of a frame signal input to a shift register, a liquid crystal driving circuit, and a semiconductor device. In particular, the present invention is directed to a circuit for selecting and outputting a voltage for inverting and driving a liquid crystal panel.

【0002】[0002]

【従来の技術】液晶パネルを駆動する場合に、パネル内
の液晶層に対して常に同じ方向に電圧を印加すると、液
晶の配列が固まって液晶の動きが鈍くなり、黒ずんだ表
示になる。このため、液晶層に印加する電圧を、例えば
1フレーム(1画面)単位で反転させる反転駆動方式を
採用した液晶表示装置が提案されている。
2. Description of the Related Art When a liquid crystal panel is driven, if a voltage is always applied to the liquid crystal layer in the panel in the same direction, the arrangement of the liquid crystal is solidified, the movement of the liquid crystal is slowed, and the display becomes dark. For this reason, there has been proposed a liquid crystal display device employing an inversion driving method in which a voltage applied to a liquid crystal layer is inverted in units of, for example, one frame (one screen).

【0003】図2は従来の反転駆動方式の液晶表示装置
の一部を構成する駆動回路(LCDドライバー)の回路
図である。図2の回路は、基準クロックCLKに基づい
て画素データを順にシフトさせるシフトレジスタ11
と、シフトレジスタ11の各出力端ごとに設けられる制
御信号出力回路12と、トランスファーゲート13a〜
13dとを備える。図2の回路は、1画素分のブロック
10を示しており、実際には、図示の回路がn個縦続接
続され、回路全体が半導体基板上に形成される。シフト
レジスタ11は、クロックトインバータ111〜114
とインバータ115,116とからなるDフリップフロ
ップを組み合わせて構成され、図示の一点鎖線部は1個
のDフリップフロップの構成を示している。
FIG. 2 is a circuit diagram of a driving circuit (LCD driver) constituting a part of a conventional inversion driving type liquid crystal display device. The circuit of FIG. 2 includes a shift register 11 for sequentially shifting pixel data based on a reference clock CLK.
A control signal output circuit 12 provided for each output terminal of the shift register 11, and transfer gates 13a to 13a.
13d. The circuit in FIG. 2 shows a block 10 for one pixel. In actuality, n illustrated circuits are cascaded, and the entire circuit is formed on a semiconductor substrate. The shift register 11 includes clocked inverters 111 to 114
And a D flip-flop comprising inverters 115 and 116, and the dashed line in the figure shows the configuration of one D flip-flop.

【0004】制御信号出力回路12は、4つのNAND
ゲート121〜124とインバータ125〜129とで
構成され、シフトレジスタ11の出力論理とフレーム信
号FRの論理とに応じて、トランスファーゲート13a
〜13dをオン・オフ制御するための制御信号SEL1
〜SEL4の論理を切り換える。より具体的には、制御
信号出力回路12は、4つの制御信号SEL1〜SEL
4のうち、いずれか1つの制御信号のみをローレベルに
設定する。
The control signal output circuit 12 comprises four NAND
The transfer gate 13a includes gates 121 to 124 and inverters 125 to 129 according to the output logic of the shift register 11 and the logic of the frame signal FR.
Control signal SEL1 for on / off control of .about.13d
The logic of SEL4 is switched. More specifically, the control signal output circuit 12 includes four control signals SEL1 to SEL
4, only one of the control signals is set to a low level.

【0005】トランスファーゲート13a〜13dの各
入力端子には、それぞれ異なる電圧が印加され、制御信
号出力回路12からの制御信号SEL1〜SEL4のい
ずれかがローレベルになると、対応するトランスファー
ゲートがオンして、入力端子に印加された電圧が出力端
子から出力される。
[0005] Different voltages are applied to the input terminals of the transfer gates 13a to 13d, respectively, and when any of the control signals SEL1 to SEL4 from the control signal output circuit 12 becomes low level, the corresponding transfer gate is turned on. Thus, the voltage applied to the input terminal is output from the output terminal.

【0006】次に、図2の液晶駆動回路の動作を説明す
る。図2のシフトレジスタ11には、不図示の液晶パネ
ルに表示するための画素データINが表示画素順にシリ
アル入力される。シフトレジスタ11は、画素データ1
1を、基準クロックCLKに同期させて並列出力する。
Next, the operation of the liquid crystal drive circuit of FIG. 2 will be described. Pixel data IN for displaying on a liquid crystal panel (not shown) is serially input to the shift register 11 in FIG. 2 in the order of display pixels. The shift register 11 stores the pixel data 1
1 is output in parallel in synchronization with the reference clock CLK.

【0007】一方、制御信号出力回路12には、液晶パ
ネルの画面ごとに論理が反転するフレーム信号FRが入
力される。制御信号出力回路12は、シフトレジスタ1
1の各出力端子の論理と、フレーム信号FRの論理とに
基づいて、NANDゲート121〜124から制御信号
SEL1〜SEL4を出力する。
On the other hand, the control signal output circuit 12 receives a frame signal FR whose logic is inverted for each screen of the liquid crystal panel. The control signal output circuit 12 is connected to the shift register 1
The control signals SEL1 to SEL4 are output from the NAND gates 121 to 124 based on the logic of each output terminal 1 and the logic of the frame signal FR.

【0008】これら制御信号SEL1〜SEL4は、そ
れぞれ対応するトランスファーゲート13a〜13dに
入力され、トランスファーゲート13a〜13dは、対
応するNANDゲートの出力がローレベルのときにオン
状態になり、オンになると、トランスファーゲートの入
力端子に印加された電圧はその出力端子から出力され
る。
The control signals SEL1 to SEL4 are input to the corresponding transfer gates 13a to 13d, and the transfer gates 13a to 13d are turned on when the output of the corresponding NAND gate is at a low level, and turned on when the output is turned on. The voltage applied to the input terminal of the transfer gate is output from its output terminal.

【0009】例えば、シフトレジスタ11の出力がハイ
レベルでフレーム信号FRがローレベルの場合には、ト
ランスファーゲート13aがオンして電圧V4が出力さ
れる。また、シフトレジスタ11の出力とフレーム信号
FRがともにハイレベルの場合には、トランスファーゲ
ート13bがオンして電圧V3が出力される。また、シ
フトレジスタ11の出力とフレーム信号FRがともにロ
ーレベルの場合には、トランスファーゲート13cがオ
ンして電圧V2が出力される。また、シフトレジスタ1
1の出力がローレベルでフレーム信号FRがハイレベル
の場合には、トランスファーゲート13dがオンして電
圧V1が出力される。
For example, when the output of the shift register 11 is at a high level and the frame signal FR is at a low level, the transfer gate 13a is turned on and the voltage V4 is output. When both the output of the shift register 11 and the frame signal FR are at the high level, the transfer gate 13b is turned on and the voltage V3 is output. When both the output of the shift register 11 and the frame signal FR are at low level, the transfer gate 13c is turned on and the voltage V2 is output. Also, shift register 1
When the output of 1 is low and the frame signal FR is high, the transfer gate 13d is turned on and the voltage V1 is output.

【0010】このように、図2の液晶駆動回路は、液晶
パネルに印加する電圧を画面ごとに切り替えており、あ
る画面を表示するときに電圧V1,V2を印加した場合
には、次の画面では電圧V3,V4を印加し、以後、電
圧V1,V2と電圧V3,V4を画面ごとに交互に印加
する。これにより、液晶層の同じ方向にのみ電圧が印加
されなくなり、液晶の配列が固まる等の不具合が起きな
くなる。
As described above, the liquid crystal driving circuit of FIG. 2 switches the voltage applied to the liquid crystal panel for each screen, and when the voltages V1 and V2 are applied when displaying one screen, the next screen is displayed. Then, voltages V3 and V4 are applied, and thereafter, voltages V1 and V2 and voltages V3 and V4 are alternately applied for each screen. As a result, voltage is not applied only in the same direction of the liquid crystal layer, and problems such as solidification of the liquid crystal alignment do not occur.

【0011】ところで、最近の液晶パネルは解像度が高
くなる傾向にあり、高解像度の液晶パネルを駆動するた
めには、液晶駆動回路の出力端子数を増やさざるを得
ず、端子数の増加に伴って配線の短絡や断線などの不具
合も起こりやすくなる。
By the way, the resolution of recent liquid crystal panels tends to be high. In order to drive a high resolution liquid crystal panel, the number of output terminals of a liquid crystal drive circuit must be increased, and with the increase in the number of terminals. As a result, problems such as short-circuiting and disconnection of the wiring are likely to occur.

【0012】このため、図2に示す従来の液晶駆動回路
は、回路を組んだ後に、配線の短絡や断線を検査してい
た。具体的な検査方法としては、例えば、液晶駆動回路
の出力端子からハイレベルの信号とローレベルの信号を
交互に出力する、いわゆる千鳥出力による検査を行って
いた。。
For this reason, in the conventional liquid crystal drive circuit shown in FIG. 2, after assembling the circuit, a short circuit or disconnection of the wiring is inspected. As a specific inspection method, for example, an inspection using a so-called staggered output in which a high-level signal and a low-level signal are alternately output from an output terminal of a liquid crystal driving circuit has been performed. .

【0013】[0013]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、シフト
レジスタ11に入力された画素データが、シフトレジス
タ11を構成するすべてのDフリップフロップに行き渡
らないと検査を行えないため、シフトレジスタ11のビ
ット数が多いほど検査に時間がかかるという問題があ
る。検査に時間がかかると、その分、単位時間当たりに
製造可能な液晶駆動回路の数も制限されるため、チップ
コストも高くなるおそれがある。
However, since the pixel data input to the shift register 11 cannot be inspected unless it reaches all the D flip-flops constituting the shift register 11, the number of bits of the shift register 11 cannot be increased. There is a problem that the inspection time increases as the number increases. If the inspection takes a long time, the number of liquid crystal drive circuits that can be manufactured per unit time is also limited, which may increase the chip cost.

【0014】本発明は、このような点に鑑みてなされた
ものであり、その目的は、配線の短絡や断線などの検査
を短時間で行うことができる電圧選択回路、液晶駆動回
路および半導体装置を提供することにある。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above circumstances, and has as its object to provide a voltage selection circuit, a liquid crystal drive circuit, and a semiconductor device capable of performing a short-time inspection of a short circuit or disconnection of a wiring. Is to provide.

【0015】[0015]

【課題を解決するための手段】上述した課題を解決する
ために、請求項1の発明は、外部から入力されるシリア
ル入力信号を基準クロックに基づいて順にシフトさせ、
シフトさせた前記シリアル入力信号を並列出力するシフ
トレジスタと、前記シフトレジスタの出力論理と、外部
から入力されるフレーム信号の論理とに応じて変化する
複数の制御信号を出力する制御信号出力回路と、前記制
御信号のそれぞれに対応して設けられ、それぞれの入力
端子に印加された電圧を出力するか否かを前記制御信号
の論理に応じて切り替える複数の電圧スイッチ回路とを
備えた電圧選択回路において、外部からテスト指示信号
が入力されたときに、前記シフトレジスタに入力された
前記シリアル入力信号を、前記基準クロックのタイミン
グとは無関係に、ほぼリアルタイムに前記シフトレジス
タから並列出力させる第1のテスト制御回路と、前記テ
スト指示信号が入力されたときに、前記シフトレジスタ
の出力論理に応じて特定の前記電圧スイッチ回路のみが
オンするように前記制御信号出力回路を制御する第2の
テスト制御回路とを備える。
According to a first aspect of the present invention, a serial input signal input from the outside is sequentially shifted based on a reference clock.
A shift register that outputs the shifted serial input signal in parallel, a control signal output circuit that outputs a plurality of control signals that change according to the output logic of the shift register, and the logic of a frame signal input from the outside, And a plurality of voltage switch circuits provided corresponding to each of the control signals and switching whether or not to output a voltage applied to each input terminal in accordance with the logic of the control signal. In the first aspect, when a test instruction signal is input from the outside, the serial input signal input to the shift register is output in parallel from the shift register almost in real time irrespective of the timing of the reference clock. A test control circuit, and, when the test instruction signal is input, according to an output logic of the shift register. Only certain of the voltage switch circuit and a second test control circuit for controlling the control signal output circuit to turn on.

【0016】請求項2の発明は、液晶パネルの表示画素
順に並んだシリアル入力信号を基準クロックに基づいて
順にシフトさせ、シフトさせた前記シリアル入力信号を
並列出力するシフトレジスタと、前記シフトレジスタの
出力論理と、外部から入力されるフレーム信号の論理と
に応じて変化する複数の制御信号を出力する制御信号出
力回路と、前記制御信号のそれぞれに対応して設けら
れ、それぞれの入力端子に印加された電圧を出力するか
否かを前記制御信号の論理に応じて切り替える複数の電
圧スイッチ回路とを備え、前記電圧スイッチ回路のいず
れかから出力された電圧に基づいて液晶パネルを駆動す
る液晶駆動回路において、外部からテスト指示信号が入
力されたときに、前記シフトレジスタに入力された前記
シリアル入力信号を、前記基準クロックのタイミングと
は無関係に、ほぼリアルタイムに前記シフトレジスタか
ら並列出力させる第1のテスト制御回路と、前記テスト
指示信号が入力されたときに、前記シフトレジスタの出
力論理に応じて特定の前記電圧スイッチ回路のみがオン
するように前記制御信号出力回路を制御する第2のテス
ト制御回路とを備える。
According to a second aspect of the present invention, there is provided a shift register for sequentially shifting serial input signals arranged in the order of display pixels of a liquid crystal panel based on a reference clock, and outputting the shifted serial input signals in parallel. A control signal output circuit that outputs a plurality of control signals that change according to an output logic and a logic of a frame signal input from the outside; A plurality of voltage switch circuits for switching whether to output the output voltage according to the logic of the control signal, and driving a liquid crystal panel based on the voltage output from any of the voltage switch circuits In the circuit, when a test instruction signal is input from outside, the serial input signal input to the shift register is A first test control circuit that outputs the data in parallel from the shift register almost in real time irrespective of the timing of the reference clock, and a specific test control signal when the test instruction signal is input, according to the output logic of the shift register. A second test control circuit that controls the control signal output circuit so that only the voltage switch circuit is turned on.

【0017】請求項3の発明は、請求項2の液晶駆動回
路において、前記複数の電圧スイッチ回路および前記制
御信号出力回路は、前記シフトレジスタの各出力端子ご
とに設けられ、前記制御信号出力回路はそれぞれ、前記
シフトレジスタの対応する出力端子の論理と前記フレー
ム信号の論理とに基づいて、対応する前記複数個の電圧
スイッチ回路のうちいずれか1つを選択する。
According to a third aspect of the present invention, in the liquid crystal driving circuit of the second aspect, the plurality of voltage switch circuits and the control signal output circuit are provided for each output terminal of the shift register, and the control signal output circuit Respectively select one of the plurality of voltage switch circuits based on the logic of the corresponding output terminal of the shift register and the logic of the frame signal.

【0018】請求項4の発明は、請求項2または3に記
載の液晶駆動回路において、前記シフトレジスタは、ク
ロックトインバータとインバータとを含んで構成され、
前記第1のテスト制御回路は、前記テスト指示信号が入
力された場合には、前記シフトレジスタが等価的にイン
バータが複数直列接続された回路として動作するよう
に、前記クロックトインバータの制御端子の信号論理を
固定させる。
According to a fourth aspect of the present invention, in the liquid crystal driving circuit according to the second or third aspect, the shift register includes a clocked inverter and an inverter,
The first test control circuit is configured to control a control terminal of the clocked inverter such that when the test instruction signal is input, the shift register equivalently operates as a circuit in which a plurality of inverters are connected in series. Fix the signal logic.

【0019】請求項5の発明は、請求項2〜4のいずれ
かに記載の液晶駆動回路において、前記シフトレジスタ
の各出力端子ごとに設けられる前記複数の電圧スイッチ
回路の出力端子は互いに接続されて外部出力端子とさ
れ、前記テスト指示信号が入力された場合には、隣接す
る前記外部出力端子から互いに異なるレベルの電圧を出
力させる。
According to a fifth aspect of the present invention, in the liquid crystal driving circuit according to any one of the second to fourth aspects, the output terminals of the plurality of voltage switch circuits provided for each output terminal of the shift register are connected to each other. When the test instruction signal is input, voltages of different levels are output from adjacent external output terminals.

【0020】請求項6の発明は、請求項2〜5のいずれ
かに記載の液晶駆動回路において、前記テスト指示信号
が入力された場合には、前記第2のテスト制御回路は、
前記シフトレジスタの出力論理に応じて2つの前記電圧
スイッチ回路のいずれかをオンさせ、前記シフトレジス
タには、ハイレベルとローレベルを交互に繰り返す前記
シリアル入力信号が入力される。
According to a sixth aspect of the present invention, in the liquid crystal driving circuit according to any one of the second to fifth aspects, when the test instruction signal is input, the second test control circuit includes:
One of the two voltage switch circuits is turned on according to the output logic of the shift register, and the shift register receives the serial input signal that alternates between a high level and a low level.

【0021】請求項7の発明は、請求項2〜6のいずれ
かに記載の液晶駆動回路において、前記フレーム信号
は、液晶パネルの1画面ごとに論理が反転する信号であ
り、前記シフトレジスタの各出力端子ごとに、4個の前
記電圧スイッチ回路が設けられ、前記制御信号出力回路
は、前記電圧スイッチ回路を2個ずつ組にして、画面ご
とに交互にオンさせる。
According to a seventh aspect of the present invention, in the liquid crystal driving circuit according to any one of the second to sixth aspects, the frame signal is a signal whose logic is inverted for each screen of the liquid crystal panel, and Four voltage switch circuits are provided for each output terminal, and the control signal output circuit sets the two voltage switch circuits in groups of two and turns them on alternately for each screen.

【0022】請求項8の発明は、請求項7に記載の液晶
駆動回路において、前記シフトレジスタの各出力端子ご
とに、第1〜第4の前記電圧スイッチ回路が設けられ、
前記制御信号出力回路は、前記シフトレジスタの出力が
ハイレベルで前記フレーム信号がローレベルのときに前
記第1の電圧スイッチ回路をオンさせる第1の論理回路
と、前記シフトレジスタの出力がハイレベルで前記フレ
ーム信号がハイレベルのときに前記第2の電圧スイッチ
回路をオンさせる第2の論理回路と、前記シフトレジス
タの出力がローレベルで前記フレーム信号がローレベル
のときに前記第3の電圧スイッチ回路をオンさせる第3
の論理回路と、前記シフトレジスタの出力がローレベル
で前記フレーム信号がハイレベルのときに前記第4の電
圧スイッチ回路をオンさせる第4の論理回路とを備え
る。
According to an eighth aspect of the present invention, in the liquid crystal driving circuit according to the seventh aspect, the first to fourth voltage switch circuits are provided for each output terminal of the shift register,
A first logic circuit that turns on the first voltage switch circuit when the output of the shift register is at a high level and the frame signal is at a low level; and an output of the shift register is at a high level. A second logic circuit that turns on the second voltage switch circuit when the frame signal is at a high level, and the third voltage when the output of the shift register is at a low level and the frame signal is at a low level. Third to turn on the switch circuit
And a fourth logic circuit that turns on the fourth voltage switch circuit when the output of the shift register is at a low level and the frame signal is at a high level.

【0023】請求項9の発明は、請求項2〜8のいずれ
かに記載の液晶駆動回路において、前記電圧スイッチ回
路は、トランスファーゲートである。
According to a ninth aspect of the present invention, in the liquid crystal driving circuit according to any one of the second to eighth aspects, the voltage switch circuit is a transfer gate.

【0024】請求項10の発明は、請求項1に記載の電
圧選択回路または請求項2〜9のいずれかに記載の液晶
駆動回路を半導体基板上に形成するものである。
According to a tenth aspect, the voltage selection circuit according to the first aspect or the liquid crystal drive circuit according to any of the second to ninth aspects is formed on a semiconductor substrate.

【0025】請求項1,2の発明を、例えば図1に対応
づけて説明すると、「シフトレジスタ」は図1のシフト
レジスタ11に、「制御信号出力回路」は制御信号出力
回路12に、「電圧スイッチ回路」はトランスファーゲ
ート13a〜13dに、「第1のテスト制御回路」は第
1のテスト制御回路1に、「第2のテスト制御回路」は
第2のテスト制御回路2に、それぞれ対応する。また、
「テスト指示信号」とは、テスト信号TESTがハイレベル
の状態を意味する。
The invention of claims 1 and 2 will be described with reference to, for example, FIG. 1. "Shift register" is a shift register 11 in FIG. 1, "control signal output circuit" is a control signal output circuit 12, The "voltage switch circuit" corresponds to the transfer gates 13a to 13d, the "first test control circuit" corresponds to the first test control circuit 1, and the "second test control circuit" corresponds to the second test control circuit 2, respectively. I do. Also,
The “test instruction signal” means a state where the test signal TEST is at a high level.

【0026】請求項8の発明を、例えば図1に対応づけ
て説明すると、「第1の論理回路」は図1のNANDゲート
121 に、「第2の論理回路」はNANDゲート122 に、「第
3の論理回路」はNANDゲート123 に、「第4の論理回
路」はNANDゲート124 に、それぞれ対応する。
The invention of claim 8 will be described with reference to FIG. 1, for example. The "first logic circuit" is a NAND gate of FIG.
The "second logic circuit" corresponds to the NAND gate 122, the "third logic circuit" corresponds to the NAND gate 123, and the "fourth logic circuit" corresponds to the NAND gate 124.

【0027】[0027]

【発明の実施の形態】以下、本発明を適用した電圧選択
回路、液晶駆動回路および半導体装置について、図面を
参照しながら具体的に説明する。以下では、本発明の一
実施形態として、アクティブマトリクス型の液晶パネル
を駆動する液晶駆動回路の構成および動作を説明する。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, a voltage selection circuit, a liquid crystal drive circuit, and a semiconductor device to which the present invention is applied will be specifically described with reference to the drawings. Hereinafter, as one embodiment of the present invention, the configuration and operation of a liquid crystal drive circuit for driving an active matrix type liquid crystal panel will be described.

【0028】図1は、液晶駆動回路の一実施形態の回路
図である。図1の液晶駆動回路は、アクティブマトリク
ス型の液晶パネルを反転駆動するものであり、回路全体
が半導体基板上に形成される。図1では、図2と共通す
る部分には同一符号を付しており、以下では、相違点を
中心に説明する。
FIG. 1 is a circuit diagram of an embodiment of a liquid crystal drive circuit. The liquid crystal drive circuit in FIG. 1 is for inverting and driving an active matrix type liquid crystal panel, and the entire circuit is formed on a semiconductor substrate. In FIG. 1, portions common to FIG. 2 are denoted by the same reference numerals, and the following description will focus on differences.

【0029】図1の回路は、図2と同様に、n個のDフ
リップフロップからなるシフトレジスタ11と、制御信
号出力回路12と、トランスファーゲート13a〜13
dとを備える。この他、図1の回路は新たに、検査時に
シフトレジスタ11の動作を切り替える第1のテスト制
御回路1と、検査時に制御信号出力回路12の動作を切
り換える第2のテスト制御回路2とを備える。
The circuit shown in FIG. 1 has a shift register 11 composed of n D flip-flops, a control signal output circuit 12, and transfer gates 13a to 13 as in FIG.
d. In addition, the circuit of FIG. 1 newly includes a first test control circuit 1 for switching the operation of the shift register 11 at the time of inspection, and a second test control circuit 2 for switching the operation of the control signal output circuit 12 at the time of inspection. .

【0030】図1では、2画素分のシフトレジスタ1
1、制御信号出力回路12およびトランスファーゲート
13a〜13dを1つのブロック100とし、このよう
なブロック100をn個縦続接続した例を示している。
In FIG. 1, a shift register 1 for two pixels is provided.
1, an example is shown in which the control signal output circuit 12 and the transfer gates 13a to 13d constitute one block 100, and n such blocks 100 are connected in cascade.

【0031】各ブロック100内の第1のテスト制御回
路1は、NORゲートG1と、NANDゲートG2と、
インバータINV1〜INV3とを有し、第2のテスト制御回路
2は、NORゲートとG3、NANDゲートG4と、イ
ンバータINV4〜INV6とを有する。第1のテスト制御回路
1には、検査を指示するテスト信号TESTと、画素データ
INをシフトさせる基準クロックCLK とが入力される。ま
た、第2のテスト制御回路2には、テスト信号TESTと、
画面単位で論理が反転するフレーム信号FRとが入力され
る。
The first test control circuit 1 in each block 100 includes a NOR gate G1, a NAND gate G2,
The second test control circuit 2 has inverters INV1 to INV3, and has a NOR gate and G3, a NAND gate G4, and inverters INV4 to INV6. The first test control circuit 1 includes a test signal TEST for instructing an inspection and pixel data
A reference clock CLK for shifting IN is input. Further, the second test control circuit 2 includes a test signal TEST,
A frame signal FR whose logic is inverted for each screen is input.

【0032】次に、図1の制御信号出力回路12の動作
を説明する。テスト信号TESTがローレベルの場合には、
第1のテスト制御回路1は出力F1とF4に基準クロッ
クCLK をそのまま出力し、出力F2とF3に基準クロッ
クCLK の反転信号を出力する。また、第2のテスト制御
回路2は出力G1とG3にフレーム信号FRをそのまま
出力し、出力G2とG4にフレーム信号FRの反転信号
を出力する。したがって、図1の回路は、図2の回路と
同じように動作する。一方、テスト信号TESTがハイレベ
ルの場合、すなわち回路の接続検査を行う場合には、第
1のテスト制御回路1は出力F1とF4をハイレベルに
固定し、出力F2とF3をローレベルに固定する。した
がって、シフトレジスタ11を構成する各Dフリップフ
ロップのクロックトインバータは単なるインバータとし
て作用し、各Dフリップフロップは等価的に4つのイン
バータが直列接続された回路として動作する。
Next, the operation of the control signal output circuit 12 of FIG. 1 will be described. When the test signal TEST is low level,
The first test control circuit 1 outputs the reference clock CLK as it is to the outputs F1 and F4, and outputs inverted signals of the reference clock CLK to the outputs F2 and F3. Further, the second test control circuit 2 outputs the frame signal FR as it is to the outputs G1 and G3, and outputs inverted signals of the frame signal FR to the outputs G2 and G4. Therefore, the circuit of FIG. 1 operates similarly to the circuit of FIG. On the other hand, when the test signal TEST is at a high level, that is, when performing a circuit connection test, the first test control circuit 1 fixes the outputs F1 and F4 to a high level and fixes the outputs F2 and F3 to a low level. I do. Therefore, the clocked inverter of each D flip-flop constituting the shift register 11 functions as a simple inverter, and each D flip-flop equivalently operates as a circuit in which four inverters are connected in series.

【0033】また、テスト信号TESTがハイレベルの場合
には、第2のテスト制御回路2は出力G1とG3をハイ
レベルに固定し、出力G2とG4をローレベルに固定す
る。したがって、制御信号出力回路12内のNANDゲ
ート121,123の出力は常にローレベルになるのに
対し、NANDゲート122,124の出力は、シフト
レジスタ11の出力端子の論理に応じて変化する。この
ため、トランスファーゲート13a,13cは常にオフ
し、トランスファーゲート13bはシフトレジスタ11
の出力がハイレベルのときにオンし、トランスファーゲ
ート13dはシフトレジスタ11の出力がローレベルの
ときにオンする。
When the test signal TEST is at a high level, the second test control circuit 2 fixes the outputs G1 and G3 at a high level and fixes the outputs G2 and G4 at a low level. Therefore, the outputs of the NAND gates 121 and 123 in the control signal output circuit 12 are always at the low level, while the outputs of the NAND gates 122 and 124 change according to the logic of the output terminal of the shift register 11. Therefore, the transfer gates 13a and 13c are always off, and the transfer gate 13b is
Turns on when the output of the shift register 11 is at a high level, and the transfer gate 13d turns on when the output of the shift register 11 is at a low level.

【0034】このように、図1の制御信号出力回路12
は、テスト信号TESTがハイレベルになると、基準クロッ
クCLK やフレーム信号FRに無関係に動作し、画素データ
INがハイレベルのときはトランスファーゲート13bが
オンし、画素データINがローレベルのときはトランスフ
ァーゲート13dがオンする。したがって、液晶駆動回
路の出力端子からは、画素データINがハイレベルのとき
はトランスファーゲート13bの入力端子に印加された
電圧V3が出力され、画素データINがローレベルのとき
はトランスファーゲート13dの入力端子に印加された
電圧V1が出力される。
As described above, the control signal output circuit 12 shown in FIG.
Operates when the test signal TEST goes high, regardless of the reference clock CLK and the frame signal FR.
When IN is at a high level, the transfer gate 13b is turned on, and when the pixel data IN is at a low level, the transfer gate 13d is turned on. Therefore, the voltage V3 applied to the input terminal of the transfer gate 13b is output from the output terminal of the liquid crystal drive circuit when the pixel data IN is at a high level, and the input of the transfer gate 13d is output when the pixel data IN is at a low level. The voltage V1 applied to the terminal is output.

【0035】例えば、液晶駆動回路の出力端子間の短絡
・断線検査を行う場合には、画素データINとしてハイレ
ベルとローレベルが交互に繰り返される信号を入力し、
トランスファーゲート13b,13dの入力端子にそれ
ぞれ異なるレベルの電圧を印加すれば、制御信号出力回
路12の出力端子の電圧レベルを交互に変化させること
ができ、いわゆる千鳥出力による検査が可能となり、短
絡や断線を起こしているか否かを簡易かつ正確に確認で
きるようになる。
For example, when performing a short-circuit / disconnection test between output terminals of a liquid crystal drive circuit, a signal in which a high level and a low level are alternately repeated is input as pixel data IN.
When voltages of different levels are applied to the input terminals of the transfer gates 13b and 13d, the voltage level of the output terminal of the control signal output circuit 12 can be changed alternately. It is possible to easily and accurately check whether or not a disconnection has occurred.

【0036】また、図1の回路では、検査時にシフトレ
ジスタ11を単なるインバータチェーンとして働かせて
いるため、シフトレジスタ11内のすべてのDフリップ
フロップに画素データが行き渡るまでに時間がかから
ず、従来に比べて検査時間を大幅に削減できる。すなわ
ち、検査用の画素データをシフトレジスタ11に入力し
てから、検査結果が液晶駆動回路から出力されるまでの
時間を図2の回路に比べて大幅に短くできる。
Also, in the circuit of FIG. 1, since the shift register 11 functions as a simple inverter chain at the time of inspection, it does not take much time until pixel data is distributed to all the D flip-flops in the shift register 11. Inspection time can be greatly reduced as compared with. That is, the time from the input of the pixel data for inspection to the shift register 11 to the output of the inspection result from the liquid crystal drive circuit can be significantly reduced as compared with the circuit of FIG.

【0037】上述した実施形態では、液晶パネルを駆動
する液晶駆動回路に本発明を適用した例を説明したが、
本発明は、複数種類の電圧の中からいずれかを選択する
電圧選択回路に幅広く適用できる。
In the above-described embodiment, an example has been described in which the present invention is applied to a liquid crystal driving circuit for driving a liquid crystal panel.
The present invention can be widely applied to a voltage selection circuit that selects any one of a plurality of types of voltages.

【0038】また、図1では、検査時にトランスファー
ゲートをオンにしているが、どのトランジスタをオンに
するかは任意に変更可能である。また、図1では、シフ
トレジスタ11の各出力端子ごとに、トランスファーゲ
ートを4つ設けた例を示したが、各出力端子ごとに何個
のトランスファーゲートを設けるかは任意に変更可能で
ある。
In FIG. 1, the transfer gate is turned on at the time of inspection, but which transistor is turned on can be arbitrarily changed. Although FIG. 1 shows an example in which four transfer gates are provided for each output terminal of the shift register 11, how many transfer gates are provided for each output terminal can be arbitrarily changed.

【0039】[0039]

【発明の効果】以上詳細に説明したように、本発明によ
れば、外部からテスト指示信号が入力されると、シフト
レジスタに入力されたシリアル入力信号を、基準クロッ
クとは無関係に、ほぼリアルタイムに出力するようにし
たため、テスト結果が得られるまでの時間を短くでき、
テスト時間を大幅に短縮できる。すなわち、テスト指示
信号が入力された場合には、シリアル入力信号が入力さ
れるのとほぼ同時に、シフトレジスタから並列データを
出力するようにしたため、シフトレジスタを構成するレ
ジスタ数によってテスト時間が変化しなくなり、特に、
レジスタ数が多い場合、すなわちシフトレジスタの出力
端子数が多い場合に、よりテスト時間を短縮できる。
As described above in detail, according to the present invention, when a test instruction signal is input from the outside, the serial input signal input to the shift register is converted almost in real time irrespective of the reference clock. , So the time it takes to get a test result can be reduced,
Test time can be significantly reduced. That is, when the test instruction signal is input, the parallel data is output from the shift register almost simultaneously with the input of the serial input signal, so that the test time varies depending on the number of registers constituting the shift register. And especially
When the number of registers is large, that is, when the number of output terminals of the shift register is large, the test time can be further reduced.

【0040】また、テスト指示信号が入力された場合に
は、フレーム信号の論理に無関係に、シフトレジスタ1
1の出力論理に応じて特定の電圧スイッチ回路のみをオ
ンさせるようにしたため、テスト時には外部からフレー
ム信号を入力する必要がなくなり、テストを簡略化でき
る。
When a test instruction signal is input, regardless of the logic of the frame signal, the shift register 1
Since only a specific voltage switch circuit is turned on in accordance with the output logic of No. 1, it is not necessary to input a frame signal from the outside at the time of a test, and the test can be simplified.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】液晶駆動回路の一実施形態の回路図。FIG. 1 is a circuit diagram of an embodiment of a liquid crystal driving circuit.

【図2】従来の反転駆動方式の液晶駆動回路の回路図。FIG. 2 is a circuit diagram of a conventional inversion driving type liquid crystal driving circuit.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 第1のテスト制御回路 2 第2のテスト制御回路 11 シフトレジスタ 12 制御信号出力回路 13a〜13d トランスファーゲート REFERENCE SIGNS LIST 1 first test control circuit 2 second test control circuit 11 shift register 12 control signal output circuit 13 a to 13 d transfer gate

Claims (10)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】外部から入力されるシリアル入力信号を基
準クロックに基づいて順にシフトさせ、シフトさせた前
記シリアル入力信号を並列出力するシフトレジスタと、 前記シフトレジスタの出力論理と、外部から入力される
フレーム信号の論理とに応じて変化する複数の制御信号
を出力する制御信号出力回路と、 前記制御信号のそれぞれに対応して設けられ、それぞれ
の入力端子に印加された電圧を出力するか否かを前記制
御信号の論理に応じて切り替える複数の電圧スイッチ回
路とを備えた電圧選択回路において、 外部からテスト指示信号が入力されたときに、前記シフ
トレジスタに入力された前記シリアル入力信号を、前記
基準クロックのタイミングとは無関係に、ほぼリアルタ
イムに前記シフトレジスタから並列出力させる第1のテ
スト制御回路と、 前記テスト指示信号が入力されたときに、前記シフトレ
ジスタの出力論理に応じて特定の前記電圧スイッチ回路
のみがオンするように前記制御信号出力回路を制御する
第2のテスト制御回路とを備えることを特徴とする電圧
選択回路。
A shift register for sequentially shifting a serial input signal input from the outside based on a reference clock, and outputting the shifted serial input signal in parallel; an output logic of the shift register; A control signal output circuit that outputs a plurality of control signals that change in accordance with the logic of the frame signal, and a control signal output circuit that is provided for each of the control signals and outputs a voltage applied to each input terminal. And a plurality of voltage switch circuits that switch between the two according to the logic of the control signal, when a test instruction signal is input from outside, the serial input signal input to the shift register, A first text output from the shift register in parallel almost in real time irrespective of the timing of the reference clock. And a second test control for controlling the control signal output circuit so that only the specific voltage switch circuit is turned on according to the output logic of the shift register when the test instruction signal is input. And a voltage selection circuit.
【請求項2】液晶パネルの表示画素順に並んだシリアル
入力信号を基準クロックに基づいて順にシフトさせ、シ
フトさせた前記シリアル入力信号を並列出力するシフト
レジスタと、 前記シフトレジスタの出力論理と、外部から入力される
フレーム信号の論理とに応じて変化する複数の制御信号
を出力する制御信号出力回路と、 前記制御信号のそれぞれに対応して設けられ、それぞれ
の入力端子に印加された電圧を出力するか否かを前記制
御信号の論理に応じて切り替える複数の電圧スイッチ回
路とを備え、前記電圧スイッチ回路のいずれかから出力
された電圧に基づいて液晶パネルを駆動する液晶駆動回
路において、 外部からテスト指示信号が入力されたときに、前記シフ
トレジスタに入力された前記シリアル入力信号を、前記
基準クロックのタイミングとは無関係に、ほぼリアルタ
イムに前記シフトレジスタから並列出力させる第1のテ
スト制御回路と、 前記テスト指示信号が入力されたときに、前記シフトレ
ジスタの出力論理に応じて特定の前記電圧スイッチ回路
のみがオンするように前記制御信号出力回路を制御する
第2のテスト制御回路とを備えることを特徴とする液晶
駆動回路。
2. A shift register for sequentially shifting serial input signals arranged in the order of display pixels of a liquid crystal panel based on a reference clock, and outputting the shifted serial input signals in parallel; an output logic of the shift register; A control signal output circuit that outputs a plurality of control signals that change in accordance with the logic of a frame signal input from the control unit; and a voltage control unit that is provided in correspondence with each of the control signals and outputs a voltage applied to each input terminal. A plurality of voltage switch circuits for switching whether or not to perform according to the logic of the control signal, and a liquid crystal drive circuit that drives a liquid crystal panel based on a voltage output from any of the voltage switch circuits. When a test instruction signal is input, the serial input signal input to the shift register is converted to the reference clock. Irrespective of the timing, a first test control circuit for performing parallel output from the shift register substantially in real time, and a specific voltage switch according to an output logic of the shift register when the test instruction signal is input. A second test control circuit for controlling the control signal output circuit so that only the circuit is turned on.
【請求項3】前記複数の電圧スイッチ回路および前記制
御信号出力回路は、前記シフトレジスタの各出力端子ご
とに設けられ、 前記制御信号出力回路はそれぞれ、前記シフトレジスタ
の対応する出力端子の論理と前記フレーム信号の論理と
に基づいて、対応する前記複数個の電圧スイッチ回路の
うちいずれか1つを選択することを特徴とする請求項2
に記載の液晶駆動回路。
3. The shift register according to claim 2, wherein the plurality of voltage switch circuits and the control signal output circuit are provided for each output terminal of the shift register. 3. The method according to claim 2, wherein one of the plurality of voltage switch circuits is selected based on a logic of the frame signal.
3. The liquid crystal drive circuit according to 1.
【請求項4】前記シフトレジスタは、クロックトインバ
ータとインバータとを含んで構成され、前記第1のテス
ト制御回路は、前記テスト指示信号が入力された場合に
は、前記シフトレジスタが等価的にインバータが複数直
列接続された回路として動作するように、前記クロック
トインバータの制御端子の信号論理を固定させることを
特徴とする請求項2または3に記載の液晶駆動回路。
4. The shift register is configured to include a clocked inverter and an inverter, and the first test control circuit causes the shift register to be equivalent when the test instruction signal is input. 4. The liquid crystal drive circuit according to claim 2, wherein a signal logic of a control terminal of the clocked inverter is fixed so that the inverter operates as a circuit in which a plurality of inverters are connected in series.
【請求項5】前記シフトレジスタの各出力端子ごとに設
けられる前記複数の電圧スイッチ回路の出力端子は互い
に接続されて外部出力端子とされ、 前記テスト指示信号が入力された場合には、隣接する前
記外部出力端子から互いに異なるレベルの電圧を出力さ
せることを特徴とする請求項2〜4のいずれかに記載の
液晶駆動回路。
5. The output terminals of the plurality of voltage switch circuits provided for each output terminal of the shift register are connected to each other to serve as external output terminals, and are adjacent when the test instruction signal is input. 5. The liquid crystal driving circuit according to claim 2, wherein voltages of different levels are output from the external output terminal.
【請求項6】前記テスト指示信号が入力された場合に
は、前記第2のテスト制御回路は、前記シフトレジスタ
の出力論理に応じて2つの前記電圧スイッチ回路のいず
れかをオンさせ、前記シフトレジスタには、ハイレベル
とローレベルを交互に繰り返す前記シリアル入力信号が
入力されることを特徴とする請求項2〜5に記載の液晶
駆動回路。
6. When the test instruction signal is input, the second test control circuit turns on one of the two voltage switch circuits in accordance with the output logic of the shift register, and The liquid crystal drive circuit according to claim 2, wherein the register receives the serial input signal that alternates between a high level and a low level.
【請求項7】前記フレーム信号は、液晶パネルの1画面
ごとに論理が反転する信号であり、 前記シフトレジスタの各出力端子ごとに、4個の前記電
圧スイッチ回路が設けられ、 前記制御信号出力回路は、前記電圧スイッチ回路を2個
ずつ組にして、画面ごとに交互にオンさせることを特徴
とする請求項2〜6のいずれかに記載の液晶駆動回路。
7. The frame signal is a signal whose logic is inverted for each screen of a liquid crystal panel, and four voltage switch circuits are provided for each output terminal of the shift register. 7. The liquid crystal drive circuit according to claim 2, wherein the circuit is configured such that the voltage switch circuits are set in groups of two and alternately turned on for each screen.
【請求項8】前記シフトレジスタの各出力端子ごとに、
第1〜第4の前記電圧スイッチ回路が設けられ、前記制
御信号出力回路は、 前記シフトレジスタの出力がハイレベルで前記フレーム
信号がローレベルのときに前記第1の電圧スイッチ回路
をオンさせる第1の論理回路と、 前記シフトレジスタの出力がハイレベルで前記フレーム
信号がハイレベルのときに前記第2の電圧スイッチ回路
をオンさせる第2の論理回路と、 前記シフトレジスタの出力がローレベルで前記フレーム
信号がローレベルのときに前記第3の電圧スイッチ回路
をオンさせる第3の論理回路と、 前記シフトレジスタの出力がローレベルで前記フレーム
信号がハイレベルのときに前記第4の電圧スイッチ回路
をオンさせる第4の論理回路とを備えることを特徴とす
る請求項7に記載の液晶駆動回路。
8. An output terminal of the shift register,
First to fourth voltage switch circuits are provided, and the control signal output circuit turns on the first voltage switch circuit when an output of the shift register is at a high level and the frame signal is at a low level. A second logic circuit for turning on the second voltage switch circuit when the output of the shift register is at a high level and the frame signal is at a high level; and when the output of the shift register is at a low level. A third logic circuit that turns on the third voltage switch circuit when the frame signal is at a low level; and a fourth voltage switch when the output of the shift register is at a low level and the frame signal is at a high level. The liquid crystal drive circuit according to claim 7, further comprising a fourth logic circuit for turning on the circuit.
【請求項9】前記電圧スイッチ回路は、トランスファー
ゲートであることを特徴とする請求項2〜8のいずれか
に記載の液晶駆動回路。
9. The liquid crystal drive circuit according to claim 2, wherein said voltage switch circuit is a transfer gate.
【請求項10】請求項1に記載の電圧選択回路または請
求項2〜9のいずれかに記載の液晶駆動回路を半導体基
板上に形成したことを特徴とする半導体装置。
10. A semiconductor device, wherein the voltage selection circuit according to claim 1 or the liquid crystal drive circuit according to claim 2 is formed on a semiconductor substrate.
JP14625797A 1997-06-04 1997-06-04 Voltage selecting circuit, liquid crystal driving circuit, and semiconductor device Withdrawn JPH10333649A (en)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1168053A1 (en) * 1999-03-08 2002-01-02 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Liquid crystal display and its inspecting method
JP2002196701A (en) * 2000-12-22 2002-07-12 Semiconductor Energy Lab Co Ltd Circuit and method for driving display device
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