JPH10330931A - Sputtering cathode and sputtering device - Google Patents

Sputtering cathode and sputtering device

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JPH10330931A
JPH10330931A JP13736397A JP13736397A JPH10330931A JP H10330931 A JPH10330931 A JP H10330931A JP 13736397 A JP13736397 A JP 13736397A JP 13736397 A JP13736397 A JP 13736397A JP H10330931 A JPH10330931 A JP H10330931A
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JP
Japan
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sputtering
cathode
vacuum
flange
target
Prior art date
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Application number
JP13736397A
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Japanese (ja)
Inventor
Yoshihiro Shimozato
義博 下里
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Shimadzu Corp
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Shimadzu Corp
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a sputtering cathode preventing the diffusion of H2 O into a vacuum side and capable of satisfactorily maintaining sputtering performance. SOLUTION: In a sputtering cathode, the sealing part of a coolant in the cathode 15 provided on the air side, concretely, a background electrode 13 to be arranged on the back side of a target is formed into a solid shape opened to the air side, particularly, into a bottomed cylindrical shape, and by this background electrode 13, the coolant circulating path of the sputtering target is separated to isolate from the vacuum side. Then, the opening part of the background electrode 13 is covered with a cathode flange 14 and forms a cylindrical space, the coolant is circulated at the inside, furthermore, the background electrode 13 is provided with a flange part, with the contact part with the cathode flange 14 circled, a coolant sealing member 15a is fitted, and moreover, a magnet 21 is arranged within the cylindrical space.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、スパッタリングカ
ソード及びスパッタリング装置に関するものであり、一
般的なスパッタリング装置のほか、スパッタリングを用
いる薄膜製造装置やLCD製造装置等の各種の応用装置
にも適用することができる。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a sputtering cathode and a sputtering apparatus, and can be applied to not only a general sputtering apparatus but also various application apparatuses such as a thin film manufacturing apparatus using a sputtering method and an LCD manufacturing apparatus. Can be.

【0002】[0002]

【従来の技術】基板等の表面に薄膜を形成する手段とし
て、従来からスパッタリング装置がしばしば用いられて
いる。スパッタリング装置では、真空容器内に対向配置
した基板とターゲットとの間に直流または高周波電力を
印加し、所定の不活性放電ガスの存在下で(通常3×1
-3〜10×10-3torr程度の圧のArガスを使用
する)グロー放電を起こさせる。このとき、放電により
生じたガスイオンがターゲットに入射して、ターゲット
原子がスパッタされ、この原子が基板に付着して薄膜が
形成される。
2. Description of the Related Art Conventionally, a sputtering apparatus is often used as a means for forming a thin film on a surface of a substrate or the like. In a sputtering apparatus, DC or high-frequency power is applied between a substrate and a target which are opposed to each other in a vacuum vessel, and is applied in the presence of a predetermined inert discharge gas (usually 3 × 1).
Ar gas having a pressure of about 0 -3 to 10 × 10 -3 torr is used.) Glow discharge is caused. At this time, gas ions generated by the discharge enter the target, and target atoms are sputtered, and these atoms adhere to the substrate to form a thin film.

【0003】放電ガスとして通常Arガスが用いられる
ので、ガスイオンは正イオンでありターゲットはカソー
ド側となる。このカソード側構体はスパッタリングカソ
ードと呼ばれ、ターゲットの裏面に結合されこれに負電
位を付与するための背板電極(バッキングプレート),
ガスイオンの軌道を制御するための永久磁石、カソード
を冷却するための冷却液循環路等より構成されている。
Since Ar gas is usually used as a discharge gas, gas ions are positive ions and the target is on the cathode side. This cathode side structure is called a sputtering cathode, and is bonded to the back surface of the target, and a back plate electrode (backing plate) for applying a negative potential thereto,
It is composed of a permanent magnet for controlling the trajectory of gas ions, a cooling liquid circulation path for cooling the cathode, and the like.

【0004】従来のスパッタリングカソードは、例えば
次の(A)または(B)のように構成されている。
A conventional sputtering cathode is configured, for example, in the following (A) or (B).

【0005】(A)図3は、真空チャンバ内に冷却水に
対するOリングシールを構成した方式の従来のスパッタ
リングカソードの具体的構成例を示し、真空チャンバ壁
31にスパッタリングカソード30が構成されている。
ターゲット32の裏面に平板状の背板電極(バッキング
プレート)33が置かれ、背板電極33の他面(大気
側)には浅い円筒状のカソードフランジ34が接合さ
れ、カソードフランジ34で形成される空間に永久磁石
36が配置されている。カソードフランジ34には背板
電極33に冷却水を循環させるための流路が設けられ、
図では冷却水入り口34a,出口34bが示されてい
る。カソードフランジ34はフランジ部34fを有し、
フランジ部34fは、真空チャンバ壁31から背板電極
33及びカソードフランジ円筒部34tが所定の間隙g
を保つ状態で、絶縁フランジ38を介して真空チャンバ
壁31に固定されている。間隙gは真空側に通じてい
る。37は高周波シールドカバーである。35a,35
b,35cは真空側と大気側との間のシールを確保する
ためのOリング等のシール手段であり、それぞれ、3
3,34間、34,38間、38,31間をシールして
いる。
(A) FIG. 3 shows a specific example of a conventional sputtering cathode in which an O-ring seal for cooling water is formed in a vacuum chamber. A sputtering cathode 30 is formed on a vacuum chamber wall 31. .
A flat back plate electrode (backing plate) 33 is placed on the back surface of the target 32, and a shallow cylindrical cathode flange 34 is joined to the other surface (atmosphere side) of the back plate electrode 33 to form the cathode flange 34. A permanent magnet 36 is disposed in the space. A flow path for circulating cooling water to the back plate electrode 33 is provided in the cathode flange 34,
In the figure, a cooling water inlet 34a and an outlet 34b are shown. The cathode flange 34 has a flange portion 34f,
The flange portion 34f is formed such that the back plate electrode 33 and the cathode flange cylindrical portion 34t extend from the vacuum chamber wall 31 to a predetermined gap g.
Is fixed to the vacuum chamber wall 31 via the insulating flange 38. The gap g communicates with the vacuum side. 37 is a high frequency shield cover. 35a, 35
Reference numerals b and 35c denote sealing means such as an O-ring for securing a seal between the vacuum side and the atmosphere side.
3, 34, 34, 38, 38, 31 are sealed.

【0006】(B)また、バッキングプレート自体を、
内部に管状冷却水水路を構成した立体構造とし、その立
体構造の外側に永久磁石等を配置する方式も、提案され
ている。
(B) Further, the backing plate itself is
A system in which a three-dimensional structure in which a tubular cooling water channel is formed inside and a permanent magnet or the like is arranged outside the three-dimensional structure has also been proposed.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】(A)の場合におい
て、真空チャンバ内で冷却水シールを構成すると、真空
内へのH2 Oの拡散が生じる。即ち、真空側に通じる間
隙部gと冷却水循環路との間は、Oリング35aにより
シールされているが、Oリングを構成するOリングポリ
マーはわずかであるが一定の吸水率を有するので、Oリ
ング35aに吸収されたH2 Oが間隙部g、従って真空
側に拡散することになる。スパッタ形成膜が純金属薄
膜、例えば半導体用Al配線膜の場合、微量のH2 Oで
あっても、酸化反応が純度の阻害要件となり、膜の特性
に悪影響を及ぼすことになる。
In case (A), if a cooling water seal is formed in a vacuum chamber, diffusion of H2 O into the vacuum occurs. That is, the space between the gap g communicating with the vacuum side and the cooling water circulation path is sealed by the O-ring 35a, but the O-ring polymer constituting the O-ring has a small but constant water absorption. The H 2 O absorbed by the ring 35a diffuses to the gap g, and thus to the vacuum side. When the sputtered film is a pure metal thin film, for example, an Al wiring film for a semiconductor, even if a trace amount of H 2 O, the oxidation reaction becomes a requirement for inhibiting purity and adversely affects the characteristics of the film.

【0008】(B)の場合において、バッキングプレー
ト自体の内部に冷却水の循環路を構成すると、バッキン
グプレート部材の厚みが増大してマグネットとターゲッ
トとの距離が遠ざかるので、マグネットの効果を弱め、
基板に成膜されるターゲット物質の利用効率や成膜速度
等のスパッタリング性能を阻害する結果になる。
In the case (B), if a cooling water circulation path is formed inside the backing plate itself, the thickness of the backing plate member increases and the distance between the magnet and the target increases, thereby weakening the effect of the magnet.
As a result, the sputtering efficiency such as the utilization efficiency of the target material deposited on the substrate and the deposition rate is impaired.

【0009】本発明は、上記のような、真空内への冷却
液(H2 O)の拡散を防止しかつ良好なスパッタリング
性能を維持できるターゲットカソードを提供することを
目的とする。
An object of the present invention is to provide a target cathode which can prevent the diffusion of the cooling liquid (H 2 O) into a vacuum and maintain good sputtering performance as described above.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明のスパッタリングカソードは、真空中でスパ
ッタリングを起こさせるスパッタリングカソードにおい
て、カソード内の冷却液シール部位を大気側に設けたも
のである。
In order to achieve the above object, a sputtering cathode according to the present invention is a sputtering cathode in which sputtering is performed in a vacuum, wherein a cooling liquid sealing portion in the cathode is provided on the atmosphere side. .

【0011】これにより、シール部材が冷却液(水)を
吸収し、この分子が大気側には拡散しても、真空側に拡
散することは防止される。
[0011] Thus, the sealing member absorbs the cooling liquid (water), and even if these molecules diffuse to the atmosphere side, they are prevented from diffusing to the vacuum side.

【0012】上記目的を達成するため、本発明の第2の
発明のスパッタリングカソードは、上記発明を実現する
具体的な構成として、真空中で基板と対向配置されるタ
ーゲットをカソード側としてグロー放電を起こさせるた
めのスパッタリングカソードにおいて、ターゲットの裏
面に配置する背板電極(バッキングプレート)を大気側
に開いた有底筒状に形成し、この背板電極によってスパ
ッタリングカソードの冷却液循環経路を真空側から分離
遮断したものである。この構成により、真空側への冷却
液成分の汚染が基本的に解消される。
In order to achieve the above object, a sputtering cathode according to a second aspect of the present invention has a specific structure for realizing the above invention, in which glow discharge is performed by using a target opposed to a substrate in a vacuum as a cathode side. The backing plate (backing plate) disposed on the back of the target is formed in a bottomed cylindrical shape that opens to the atmosphere side, and the back plate electrode causes the cooling liquid circulation path of the sputtering cathode to be on the vacuum side. It was separated and cut off from With this configuration, contamination of the coolant component on the vacuum side is basically eliminated.

【0013】第3の発明は、上記第1または第2の発明
のスパッタリングカソードを、真空槽中で基板と対向配
置したスパッタリング装置であり、これにより、H2
の冷却液の真空内への拡散が防止され、かつ所期の効率
の良いスパッタリング性能を維持したスパッタリング装
置を実現でき、H2 Oの汚染のないスパッタリング成膜
を効率良く達成することができる。
A third invention is a sputtering cathode of the first or second invention, a sputtering apparatus arranged substrate facing a vacuum vessel, thereby, H 2 O
The diffusion of the cooling liquid into a vacuum can be prevented, and a sputtering apparatus that maintains the expected and efficient sputtering performance can be realized, and a sputtering film free of H 2 O contamination can be efficiently achieved.

【0014】[0014]

【発明の実施の形態】ターゲットをボンディングするバ
ッキングプレートを立体形状として、対大気との間で冷
却水シールを構成することにより、真空中へのH2 Oの
拡散を防止する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS By forming a backing plate for bonding a target into a three-dimensional shape and forming a cooling water seal between the backing plate and the atmosphere, diffusion of H 2 O into a vacuum is prevented.

【0015】以下図面を参照しながら、本発明の実施態
様について説明する。
An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0016】図1は本発明のスパッタリングカソードを
用いたスパッタリング装置の概略構成の断面図であり、
真空チャンバ20の壁面の一部21にスパッタリングカ
ソード10の構体が配置されている。スパッタリングカ
ソード10は各部の横断面が円形であり、真空容器の壁
の一部を形成している。スパッタリングカソード10上
には、成膜目的材で構成されたターゲット12が載置さ
れ、ターゲット12と対向して基板22が配置されてい
る。基板22は真空チャンバ20に固定された基板ホル
ダ23に保持されるとともに、アース24に接続されて
いる。一方スパッタリングカソード10は、電源系2
5、例えば高周波電源に接続されている。20a,20
bは、それぞれ、バルブ等を介してAr等の放電ガス源
に接続された放電ガスの導入口、排出口の配管である。
なお、配管20a,20bは真空ポンプ側にも接続され
ており、切換バルブにより、真空排気と放電ガスの導
入、排出とを切り換えることができる。
FIG. 1 is a sectional view of a schematic configuration of a sputtering apparatus using the sputtering cathode of the present invention.
The structure of the sputtering cathode 10 is arranged on a part 21 of the wall surface of the vacuum chamber 20. The cross section of each part of the sputtering cathode 10 is circular, and forms a part of the wall of the vacuum vessel. A target 12 made of a material for film formation is placed on the sputtering cathode 10, and a substrate 22 is arranged to face the target 12. The substrate 22 is held by a substrate holder 23 fixed to the vacuum chamber 20 and connected to a ground 24. On the other hand, the sputtering cathode 10 is
5, for example, connected to a high frequency power supply. 20a, 20
Reference symbol b denotes a discharge gas inlet / outlet pipe connected to a discharge gas source such as Ar via a valve or the like.
The pipes 20a and 20b are also connected to the vacuum pump side, and can switch between vacuum exhaust and introduction and discharge of discharge gas by a switching valve.

【0017】図2は、図1におけるスパッタリングカソ
ード10のより詳細な構成の断面図であり、12は基板
22上に膜を形成する物質で構成されたターゲット、1
3はターゲット12に電位を付与する背板電極(バッキ
ングプレート)であり、CuやAl等の導体を用いて構
成される。背板電極13は大気側に開いた立体形状、好
ましくは大気側に開いた有底円筒状に形成され、この底
部13bの表面にターゲット12が接合される。さらに
背板電極13の円筒部13tの開口側端部(図では下
端)には、フランジ部13fが設けられている。
FIG. 2 is a cross-sectional view of a more detailed configuration of the sputtering cathode 10 in FIG. 1, and reference numeral 12 denotes a target formed of a substance for forming a film on a substrate 22;
Reference numeral 3 denotes a back plate electrode (backing plate) for applying a potential to the target 12, and is formed using a conductor such as Cu or Al. The back plate electrode 13 is formed in a three-dimensional shape open to the atmosphere side, preferably a cylindrical shape with a bottom open to the atmosphere side, and the target 12 is joined to the surface of the bottom portion 13b. Further, a flange portion 13f is provided at an open end (lower end in the figure) of the cylindrical portion 13t of the back plate electrode 13.

【0018】18はPTFEまたはセラミック材等の電
気絶縁材でリング状に構成された絶縁フランジであり、
この絶縁フランジ18を介して、背板電極13のフラン
ジ部13fが真空チャンバ壁21の大気側の面に固定さ
れている。このとき、背板電極13の円筒部13tの外
面と、真空チャンバ壁21および絶縁フランジ18の内
側面との間には真空チャンバ20内に通じる環状の間隙
gが形成され、他方フランジ部13f,および絶縁フラ
ンジ18の周縁部は大気側に露出された状態に構成され
る。
Reference numeral 18 denotes an insulating flange formed of an electrically insulating material such as PTFE or a ceramic material in a ring shape.
The flange portion 13 f of the back plate electrode 13 is fixed to the atmosphere-side surface of the vacuum chamber wall 21 via the insulating flange 18. At this time, an annular gap g communicating with the inside of the vacuum chamber 20 is formed between the outer surface of the cylindrical portion 13t of the back plate electrode 13 and the inner surfaces of the vacuum chamber wall 21 and the insulating flange 18, while the other flange portions 13f, 13f are formed. The periphery of the insulating flange 18 is configured to be exposed to the atmosphere.

【0019】14は、背板電極13のフランジ部13f
の大気側面を覆い、有底円筒状背板電極13の蓋を構成
する平板状のカソードフランジであり、金属等の導体ま
たは樹脂材等で構成され、有底円筒状背板電極13と共
に円筒状の閉じた空間を形成する。この円筒状の閉じた
空間内にスパッタリング時にイオンの軌道を曲げ成膜効
率を向上するための永久磁石16、及びその磁路を形成
する磁性体板16aが収容されている。
Reference numeral 14 denotes a flange portion 13f of the back plate electrode 13.
Is a flat-plate-shaped cathode flange that covers the atmosphere side surface and constitutes a lid of the bottomed cylindrical back plate electrode 13 and is made of a conductor such as metal or a resin material, and has a cylindrical shape together with the bottomed cylindrical back plate electrode 13. To form a closed space. A permanent magnet 16 for bending the trajectory of ions at the time of sputtering to improve the film formation efficiency and a magnetic plate 16a for forming a magnetic path thereof are accommodated in the cylindrical closed space.

【0020】14a,14bは、それぞれ、カソードフ
ランジに設けられた冷却液流入口、流出口であり、上記
空間内に冷却液(通常は水を使用)を循環させ、スパッ
タリングカソード全体、特に背板電極13及びターゲッ
ト12を冷却するために用いる。この冷却液循環路は、
図からも明らかなように、背板電極13により、真空側
とは完全に分離遮断されている。
Reference numerals 14a and 14b denote coolant inlets and outlets provided on the cathode flange, respectively, for circulating a coolant (usually water) in the space, and for the entire sputtering cathode, especially the back plate. It is used for cooling the electrode 13 and the target 12. This coolant circulation path
As is clear from the figure, the back plate electrode 13 completely separates and blocks the vacuum side.

【0021】15(15a、15b、15c)は、冷却
液および真空に対するシール手段であって、通常、Oリ
ングを用い、例えばNBRまたはFPM等の材料で構成
される。シール手段15aは背板電極13のフランジ部
13fとカソードフランジ14との間においてを冷却液
と大気との間をシールする。他方、15bはフランジ部
13cと絶縁フランジ18との間を真空シールし、15
cは絶縁フランジ18と真空チャンバ壁21の外面との
間を真空シールする。この冷却液シール部(Oリング1
5a)は、大気側には通じるが、背板電極13により真
空側とは完全に分離遮断されており、たとえOリング1
5aが吸湿しても、真空側には全く影響を及ぼさない。
Numeral 15 (15a, 15b, 15c) is a sealing means for cooling liquid and vacuum, and usually uses an O-ring and is made of a material such as NBR or FPM. The sealing means 15a seals the space between the coolant and the atmosphere between the flange 13f of the back plate electrode 13 and the cathode flange 14. On the other hand, 15b vacuum seals between the flange portion 13c and the insulating flange 18, and
c seals the vacuum between the insulating flange 18 and the outer surface of the vacuum chamber wall 21. This coolant seal (O-ring 1)
5a) communicates with the atmosphere side, but is completely separated and cut off from the vacuum side by the back plate electrode 13;
Even if 5a absorbs moisture, it has no effect on the vacuum side.

【0022】なお、背板電極13は、電源系25に電気
接続されるが、そのフランジ部13fの外縁部が大気側
に露出しているので、電源系25に直接接続してもよい
し、またカソードフランジ14として導体を用いた場合
には、これを介して電源系25に接続してもよい。ま
た、背板電極13は、スパッタリングカソード10を構
成する主要な強度部材の役割をも果たしている。
The back plate electrode 13 is electrically connected to the power supply system 25. Since the outer edge of the flange 13f is exposed to the atmosphere, the back plate electrode 13 may be directly connected to the power supply system 25. When a conductor is used as the cathode flange 14, the cathode flange 14 may be connected to the power supply system 25 via the conductor. Further, the back plate electrode 13 also plays a role of a main strength member constituting the sputtering cathode 10.

【0023】上記構成のスパッタリングカソードによれ
ば、背板電極を大気側に開いた有底筒状に形成すること
により、背板電極自体で冷却液循環経路と真空側とが完
全に分離遮断され、Oリング15によってシールされて
いる合わせ面が大気側には通じるが真空側には全く通じ
ていないので、即ち冷却液に対するOリングシール部位
が大気内で構成されているので、たとえ冷却水によりO
リング15が吸湿しても、真空内へH2 Oの拡散を完全
に防止することができる。
According to the above-structured sputtering cathode, the back plate electrode is formed in a bottomed cylindrical shape opened to the atmosphere side, so that the coolant circulation path and the vacuum side are completely separated and cut off by the back plate electrode itself. Since the mating surface sealed by the O-ring 15 communicates with the atmosphere side but does not communicate with the vacuum side at all, that is, since the O-ring seal portion for the coolant is formed in the atmosphere, even if the cooling water O
Even if the ring 15 absorbs moisture, diffusion of H 2 O into the vacuum can be completely prevented.

【0024】しかも、ターゲット12と永久磁石16と
の間の距離が遠ざかることはないので、磁力を基板22
とターゲット12との間のグロー放電空間のイオンの軌
道への永久磁石の作用を有効に維持し、良好なスパッタ
リング性能を確保することができる。
Further, since the distance between the target 12 and the permanent magnet 16 does not increase, the magnetic force is
The effect of the permanent magnet on the ion trajectory in the glow discharge space between the target and the glow discharge space can be effectively maintained, and good sputtering performance can be secured.

【0025】[0025]

【発明の効果】背板電極自体で、冷却水循環経路と真空
側とが完全に分離され、冷却水のOリングシール部位が
大気内で構成されるため、真空槽内へのH2 Oの拡散が
生じず、またイオン軌道への永久磁石の作用を有効に維
持したスパッタリングカソードを構成でき、スパッタリ
ング装置としては、H2 O等の冷却液成分の汚染のない
良好なスパッタリング膜を効率良く得ることができる。
The cooling water circulation path and the vacuum side are completely separated from each other by the back plate electrode itself, and the O-ring sealing portion of the cooling water is formed in the atmosphere, so that H 2 O diffuses into the vacuum chamber. And a sputtering cathode capable of effectively maintaining the action of the permanent magnet on the ion orbit can be constructed. As a sputtering apparatus, it is possible to efficiently obtain a good sputtering film free of contamination of a coolant component such as H 2 O. Can be.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明のスパッタリング装置の概略構成図であ
る。
FIG. 1 is a schematic configuration diagram of a sputtering apparatus of the present invention.

【図2】本発明のスパッタリングカソードの1実施形態
の断面図である。
FIG. 2 is a cross-sectional view of one embodiment of the sputtering cathode of the present invention.

【図3】従来のスパッタリングカソードの構成例の断面
図である。
FIG. 3 is a cross-sectional view of a configuration example of a conventional sputtering cathode.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10 スパッタリングカソード 12 ターゲット 13 背板電極 14 カソードフランジ 14a,14b 冷却水流入口、流出口 15(15a,15b,15c) シール手段(Oリ
ングシール) 16 永久磁石 18 絶縁フランジ 21 真空チャンバ壁
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Sputtering cathode 12 Target 13 Back plate electrode 14 Cathode flange 14a, 14b Cooling water inlet / outlet 15 (15a, 15b, 15c) Sealing means (O-ring seal) 16 Permanent magnet 18 Insulating flange 21 Vacuum chamber wall

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】真空中でスパッタリングを起こさせるスパ
ッタリングカソードにおいて、カソード内の冷却液シー
ル部位を大気側に設けたことを特徴とするスパッタリン
グカソード。
1. A sputtering cathode for performing sputtering in a vacuum, wherein a cooling liquid sealing portion in the cathode is provided on the atmosphere side.
【請求項2】真空中で基板と対向配置されるターゲット
をカソード側としてグロー放電を起こさせるためのスパ
ッタリングカソードにおいて、ターゲットの裏面に配置
する背板電極(バッキングプレート)を大気側に開いた
有底筒状に形成し、この背板電極によってスパッタリン
グカソードの冷却液循環経路を真空側から分離遮断した
ことを特徴とする請求項1記載のスパッタリングカソー
ド。
2. A sputtering cathode for generating a glow discharge with a target disposed in a vacuum facing a substrate facing a cathode, wherein a back plate electrode (backing plate) disposed on the back surface of the target is open to the atmosphere. 3. The sputtering cathode according to claim 1, wherein the sputtering plate is formed in a bottom cylindrical shape, and the cooling liquid circulation path of the sputtering cathode is separated and blocked from the vacuum side by the back plate electrode.
【請求項3】請求項1ないし2記載のスパッタリングカ
ソードを真空チャンバ中で基板と対向配置したことを特
徴とするスパッタリング装置。
3. A sputtering apparatus, wherein the sputtering cathode according to claim 1 is arranged in a vacuum chamber so as to face a substrate.
JP13736397A 1997-05-28 1997-05-28 Sputtering cathode and sputtering device Withdrawn JPH10330931A (en)

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JP13736397A JPH10330931A (en) 1997-05-28 1997-05-28 Sputtering cathode and sputtering device

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008190047A (en) * 2004-11-19 2008-08-21 Applied Materials Gmbh & Co Kg Support plate with cooled back-plate set on top
CN104532199A (en) * 2014-12-16 2015-04-22 张家港市铭斯特光电科技有限公司 Cathode for medium-frequency magnetron sputtering coating

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