JPH10312690A - Read-write non-volatile memory circuit - Google Patents

Read-write non-volatile memory circuit

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JPH10312690A
JPH10312690A JP12271297A JP12271297A JPH10312690A JP H10312690 A JPH10312690 A JP H10312690A JP 12271297 A JP12271297 A JP 12271297A JP 12271297 A JP12271297 A JP 12271297A JP H10312690 A JPH10312690 A JP H10312690A
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JP
Japan
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memory circuit
read
write
circuit
data
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JP12271297A
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Japanese (ja)
Inventor
Masami Hashimoto
正美 橋本
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Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
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Publication date
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  • Read Only Memory (AREA)
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To realize a non-volatile memory circuit for enabling read and write which stores data even after power source is interrupted or a circuit with its equivalent function in an integrated circuit device to be used for a portable appliance, etc., of which the power source energy is limited. SOLUTION: A first memory circuit 10 composed from non-volatile memory alone and a second memory circuit 11 of comparatively low power consumption are installed. Only when the power source is interrupted, the first memory circuit 10 is used and usually the second memory circuit is controlled so as to make read and write operations. Therefore, even when the power is interrupted, data is stored in the non-volatile memory and in addition the non-volatile memory is usually not employed so that a low-powered integrated circuit device which is suitable for portable appliances is provided.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は半導体集積回路にお
いて読み書き可能な不揮発性メモリ回路を低消費電力で
動作させる回路の構成に関する。
The present invention relates to a circuit configuration for operating a readable and writable nonvolatile memory circuit in a semiconductor integrated circuit with low power consumption.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来の読み書き可能な不揮発性メモリ回
路はE2PROM、FLASHの例に示されるように一
般的にフローティングゲートを有し、該メモリ回路を読
み出し動作、書き込み動作とも直接用いる回路構成をと
っていた。
2. Description of the Related Art A conventional readable / writable nonvolatile memory circuit generally has a floating gate as shown in the examples of E2PROM and FLASH, and has a circuit configuration in which the memory circuit is directly used for both read operation and write operation. I was

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】さて、前述した従来の
読み書き可能な不揮発性メモリ回路は書き込みの際には
フローティングゲートに電荷を注入する為に高電圧を要
する。したがって、頻繁に書き込み動作をすると多大な
電力を消費するという問題点があった。
The above-mentioned conventional readable and writable nonvolatile memory circuit requires a high voltage to inject electric charges into the floating gate at the time of writing. Therefore, there is a problem that frequent writing operation consumes a large amount of power.

【0004】また、読み出し動作においても、フローテ
ィングゲートを有する為、駆動能力が弱く、また読み出
し書き込み動作の回路が複雑な為、データの読み出し速
度も通常のスタティックランダムアクセスメモリ(以下
SRAMと略す)に比較すると著しく遅いという問題点
があった。
In a read operation, since a floating gate is used, the driving capability is weak, and the read / write operation circuit is complicated. Therefore, the data read speed is reduced to that of a normal static random access memory (hereinafter abbreviated as SRAM). There was a problem that it was extremely slow in comparison.

【0005】そこで本発明はこのような問題点を解決す
るもので、その目的とするところは通常の使用時には低
消費電力で、かつ高速の読み出し動作ができ、かつ電源
が切れたとしてもデータが保存される低電力読み書き可
能不揮発性メモリ回路を提供することにある。
Accordingly, the present invention is to solve such a problem. The purpose of the present invention is to enable low-power consumption and high-speed read operation in normal use, and to retain data even when the power is turned off. It is an object of the present invention to provide a low-power readable / writable nonvolatile memory circuit to be stored.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】本発明の読み書き可能不
揮発性メモリ回路は、 a)半導体集積回路の読み書き可能不揮発性メモリ回路
において、 b)第1の読み書き可能不揮発性メモリ回路と、 c)第2の読み書き可能メモリ回路と、 d)第1種の書き込み信号では前記第1のメモリ回路に
データを書き込み、第2種の読み出し信号では前記第2
のメモリ回路からデータを読み出し、第3種の読み出し
書き込み信号では前記第1のメモリ回路からデータを読
み出し、該データを前記第2のメモリ回路に書き込む、
リードライト制御回路からなることを特徴とする。
According to the present invention, there is provided a read / write nonvolatile memory circuit comprising: a) a read / write nonvolatile memory circuit of a semiconductor integrated circuit; b) a first read / write nonvolatile memory circuit; And d) writing data to the first memory circuit with a first type of write signal and the second type of read signal with a second type of read signal.
Read data from the memory circuit, read data from the first memory circuit with a third type of read / write signal, and write the data to the second memory circuit.
It is characterized by comprising a read / write control circuit.

【0007】本発明の読み書き可能不揮発性メモリ回路
は、前記第2のメモリ回路がスタティックランダムアク
セスメモリ回路からなることを特徴とする。
[0007] A readable / writable nonvolatile memory circuit according to the present invention is characterized in that the second memory circuit comprises a static random access memory circuit.

【0008】本発明の読み書き可能不揮発性メモリ回路
は、前記第2のメモリ回路がラッチ回路からなることを
特徴とする。
In a readable / writable nonvolatile memory circuit according to the present invention, the second memory circuit comprises a latch circuit.

【0009】本発明の読み書き可能不揮発性メモリ回路
は、 a)半導体集積回路の読み書き可能不揮発性メモリ回路
において、 b)第1の読み書き可能不揮発性メモリ回路と、 c)第2の読み書き可能メモリ回路と、 d)前記第1のメモリ回路と前記第2のメモリ回路を動
作させている電源を監視する電源電圧検出回路と、 e)通常用電源とバックアップ用電源とを前記電源電圧
検出回路の信号によって切り替える供給電源制御回路
と、 f)第4種の書き込み信号では前記第1のメモリ回路の
みにデータを書き込み、第2種の読み出し信号では前記
第2のメモリ回路のみからデータを読みだし、第3種の
読み出し書き込み信号では前記第1のメモリ回路からデ
ータを読み出し、該データを前記第2のメモリ回路に書
き込み、前記電源電圧検出回路の信号を受けた第5種の
読み出し書き込み信号では前記第2のメモリ回路からデ
ータを読み出し、該データを前記第1のメモリ回路に書
き込む、リードライト制御回路からなることを特徴とす
る。
The read / write nonvolatile memory circuit according to the present invention includes: a) a read / write nonvolatile memory circuit of a semiconductor integrated circuit; b) a first read / write nonvolatile memory circuit; and c) a second read / write nonvolatile memory circuit. D) a power supply voltage detecting circuit for monitoring a power supply operating the first memory circuit and the second memory circuit; and e) a normal power supply and a backup power supply are connected to a signal of the power supply voltage detecting circuit. A) a power supply control circuit switched by the following: f) A fourth type of write signal writes data only to the first memory circuit, and a second type of read signal reads data only from the second memory circuit. With three types of read / write signals, data is read from the first memory circuit, and the data is written to the second memory circuit. In the left fifth type of read write signal subjected to signal the circuit reads data from said second memory circuit, and writes the data to the first memory circuit, characterized by comprising the read write control circuit.

【0010】本発明の読み書き可能不揮発性メモリ回路
は、前記第2のメモリ回路がスタティックランダムアク
セスメモリ回路からなることを特徴とする。
In a readable / writable nonvolatile memory circuit according to the present invention, the second memory circuit comprises a static random access memory circuit.

【0011】本発明の読み書き可能不揮発性メモリ回路
は、前記リードライト制御回路がマイクロプロセッサ、
マイクロコンピュータ、セントラルプロセッシングユニ
ット等の命令群の組合せで行なわれることを特徴とす
る。
In a readable / writable nonvolatile memory circuit according to the present invention, the read / write control circuit is a microprocessor,
It is performed by a combination of instructions such as a microcomputer and a central processing unit.

【0012】[0012]

【作用】本発明の上記の構成によれば、通常のデータの
リードライト動作はSRAMなどで構成される第2のメ
モリ回路で行なわれるので、低消費電力でかつ高速で動
作し、電源が切れた場合には第1の読み書き可能不揮発
性メモリ回路にデータが保存されるので、データの不揮
発性と、低消費電力かつ高速読み出し動作特性を合わせ
持った読み書き可能不揮発性メモリ回路が具現化する。
そして、通常のデータの読み出し、書き込みは前記第2
のメモリ回路で行い、第1の読み書き可能不揮発メモリ
回路を動作させることは必要最低限にとどめる。
According to the above configuration of the present invention, the normal data read / write operation is performed by the second memory circuit composed of an SRAM or the like. In this case, the data is stored in the first readable / writable nonvolatile memory circuit, so that a readable / writable nonvolatile memory circuit having both the non-volatility of data, low power consumption, and high-speed reading operation characteristics is realized.
The normal data reading and writing is performed by the second
And the operation of the first readable / writable nonvolatile memory circuit is limited to the minimum necessary.

【0013】[0013]

【発明の実施の形態】以下、実施の形態により本発明の
詳細を示す。図1は本発明の第1の実施の形態を示す回
路図である。図1において10は第1のメモリ回路であ
り、例えばE2PROMで構成された読み書き可能不揮
発性メモリ回路である。11は第2のメモリ回路であ
り、例えばSRAMである。12はリードライト制御回
路である。メモリへのデータの書き込み動作はE2PR
OMで構成された第1のメモリ10へ信号線101を通
してWRITE1の信号で行なわれる。また通常の読み
出し動作は信号線104を通してREAD1の信号で行
なわれ、SRAMで構成された第2のメモリ回路のみに
行なわれる。また、第1のメモリ回路10から第2のメ
モリ回路11へのデータの転送は信号線102を通して
の読み出し動作と信号線103を通しての書き込み動作
からなるRW3の信号で行なわれる。このときデータは
信号線105から信号線107を経由して信号線106
を通る。またリードライト制御回路12は以上の動作を
制御する。この構成は第1のメモリ回路10をリードオ
ンリーメモリ(ROM)的な使い方をするときに適して
おり、初期設定のときのみE2PROMで構成された第
1のメモリにデータを書き込み、該データをSRAMで
構成された第2のメモリ回路11に転送する。その後は
データの読み出しを第2のメモリ回路11で行なう。E
2PROMは電源が切れてもデータを保持している利点
がある反面 、データを記憶するフローティングゲート
に電荷を注入する必要がある書き込み動作で非常に大き
な電圧と電力を要する。またフローティングゲートのデ
ータを読み出す特殊な構造上から読み出し速度は非常に
遅い。一方、SRAMは低消費電力かつ高速の読み出し
動作が可能である。したがって回数の非常に少ないデー
タの書き込みと電源が切れた場合のデータの保持をE2
PROMで行い、繰り返し行なわれるデータの読み出し
はSRAMを行なうことにより、データの不揮発性と低
消費電力し高速読み出し動作の特長を合わせ持った低電
力読み書き可能不揮発性メモリ回路が提供できる。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to embodiments. FIG. 1 is a circuit diagram showing a first embodiment of the present invention. In FIG. 1, reference numeral 10 denotes a first memory circuit, which is, for example, a readable / writable nonvolatile memory circuit constituted by an E2PROM. Reference numeral 11 denotes a second memory circuit, for example, an SRAM. Reference numeral 12 denotes a read / write control circuit. Data write operation to memory is E2PR
This is performed by a WRITE1 signal through the signal line 101 to the first memory 10 composed of the OM. The normal read operation is performed by the signal READ1 through the signal line 104, and is performed only on the second memory circuit formed of the SRAM. Data transfer from the first memory circuit 10 to the second memory circuit 11 is performed by a signal RW3 including a read operation through the signal line 102 and a write operation through the signal line 103. At this time, data is transferred from the signal line 105 to the signal line 106 via the signal line 107.
Pass through. The read / write control circuit 12 controls the above operation. This configuration is suitable for using the first memory circuit 10 as a read-only memory (ROM). Only at the time of initial setting, data is written in the first memory constituted by the E2PROM, and the data is stored in the SRAM. Is transferred to the second memory circuit 11 composed of After that, data reading is performed by the second memory circuit 11. E
The 2PROM has the advantage of retaining data even when the power is turned off, but requires a very large voltage and power in a write operation that requires injecting charges into a floating gate for storing data. In addition, the reading speed is very slow due to a special structure for reading the data of the floating gate. On the other hand, an SRAM can perform low-power consumption and high-speed read operation. Therefore, writing of data with a very small number of times and holding of data when the power is turned off are performed by E2
The PROM and the repeated reading of data by performing the SRAM can provide a low-power readable / writable nonvolatile memory circuit having characteristics of data non-volatility, low power consumption, and high-speed reading operation.

【0014】なお、第1のメモリ回路10はE2PRO
Mと簡単に表現したが、FLASH型をはじめ、広く読
み書き可能不揮発性メモリ回路が適用できる。
Note that the first memory circuit 10 is E2PRO
Although it is simply expressed as M, a wide-read / write nonvolatile memory circuit including a FLASH type can be applied.

【0015】また、第2のメモリ回路11はSRAMの
例を用いたが、記憶容量が比較的に少ない場合にはラッ
チ回路でもよい。また、本実施の形態では初期設定時の
みとしたが、これに類する必要な時に第1のメモリーへ
の書き込みを行うようにすることも可能であり、それな
りの効果を奏する。
Although the second memory circuit 11 is an SRAM, it may be a latch circuit when the storage capacity is relatively small. Further, in the present embodiment, only the initial setting is performed. However, it is also possible to perform writing to the first memory when necessary and similar to this, and a certain effect can be obtained.

【0016】図2は本発明の第2の実施の形態を示す回
路図である。図2において20は第1のメモリ回路であ
り、例えば、E2PROMで構成された読み書き可能不
揮発性メモリ回路である。21は第2のメモリ回路であ
り、例えばSRAMである。22はリードライト制御回
路であり、23は電源電圧検出回路であり、24は供給
電源制御回路であり、破線25は集積回路装置の内部と
外部との境界を示している。供給電源制御回路24には
端子213を通して負電源が供給され、また端子214
を通して通常用電源の正電源が供給され、また端子21
5を通してバックアップ用電池の正電源が供給されてお
り、電源電圧検出回路23の信号線210により、集積
回路装置の正負の電源211、212に通常用電源を供
給するか、バックアップ用電源を供給するかを切り替え
る。なお、通常電源およびバックアップ用電池は本発明
を搭載した半導体集積回路装置の外部に存在する。さて
通常のメモリへのデータの書き込み動作はSRAMで構
成された第2のメモリ21へ信号線203を通してWR
ITE2の信号で行なわれる。通常の読み出し動作は信
号線204を通してREAD1の信号で行なわれ、SR
AMで構成された第2のメモリ回路21に行なわれる。
また、第1のメモリ回路20から第2のメモリ回路21
へのデータの転送は信号線202を通しての読み出し動
作と信号線203を通しての書き込み動作からなるRW
3の信号で行なわれる。また、第2のメモリ回路21か
ら第1のメモリ回路20へのデータの転送は信号線20
4を通しての読み出し動作と信号線201を通しての書
き込み動作からなるRW4の信号で行なわれる。また電
源電圧検出回路23は端子213、214から入り、か
つ信号線209を経由してくる通常用電源の電圧の低
下、もしくは切断を感知して、信号線208を通してリ
ードライト制御回路22に伝え、リードライト制御回路
22は前記RW4の信号により、まず通常のデータを管
理しているSRAMで構成された第2のメモリ回路21
からデータを読み、E2PROMで構成された第1のメ
モリ回路20へ書き込み、電源切断時にもデータを保持
する。バックアップ用電池はRW4によるデータの転送
を行なう間の電力を補給する能力があればよい。さて電
源が復帰した後は電源電圧検出回路23が検知して信号
線208を通してリードライト制御回路22に伝え、リ
ードライト制御回路22は前記RW3の信号により、E
2PROMで構成された第1のメモリ回路20から保持
されていたデータを読み出し、SRAMで構成された第
2のメモリ回路21へ書き込む。またリードライト制御
回路22は以上の動作を制御する。この構成は第1のメ
モリ回路20をランダムアクセスメモリ(RAM)的な
使い方をするときに適しており、電源の低下時や、切断
時などの異常の際のデータ保持をE2PROMで構成さ
れた第1のメモリ回路20で行ない、通常のデータの読
み書きの管理はSRAMで構成された第2のメモリ回路
21で行なうことにより、データの不揮発性と低消費電
力し高速読み出し動作の特長を合わせ持った低電力読み
書き可能不揮発性メモリ回路が提供できる。
FIG. 2 is a circuit diagram showing a second embodiment of the present invention. In FIG. 2, reference numeral 20 denotes a first memory circuit, which is, for example, a readable / writable nonvolatile memory circuit composed of an E2PROM. Reference numeral 21 denotes a second memory circuit, for example, an SRAM. Reference numeral 22 denotes a read / write control circuit, reference numeral 23 denotes a power supply voltage detection circuit, reference numeral 24 denotes a supply power supply control circuit, and a broken line 25 indicates a boundary between the inside and the outside of the integrated circuit device. Negative power is supplied to the power supply control circuit 24 through a terminal 213, and
The normal power supply is supplied through the
5, the positive power of the backup battery is supplied, and the normal power is supplied to the positive and negative power supplies 211 and 212 of the integrated circuit device or the backup power is supplied by the signal line 210 of the power supply voltage detection circuit 23. Switch. Note that the normal power supply and the backup battery exist outside the semiconductor integrated circuit device equipped with the present invention. By the way, the normal data write operation to the memory is performed through the signal line 203 to the second memory 21 composed of the SRAM through the WR.
This is performed by the signal of ITE2. The normal read operation is performed with the signal READ1 through the signal line 204,
This is performed on the second memory circuit 21 composed of AM.
Also, the first memory circuit 20 to the second memory circuit 21
The transfer of data to the RW consists of a read operation through the signal line 202 and a write operation through the signal line 203.
3 is performed. The transfer of data from the second memory circuit 21 to the first memory circuit 20 is performed on the signal line 20.
4 and a write operation through the signal line 201. Further, the power supply voltage detection circuit 23 senses a decrease or disconnection of the voltage of the normal power supply coming from the terminals 213 and 214 and passing through the signal line 209, and notifies the read / write control circuit 22 through the signal line 208. The read / write control circuit 22 first responds to the signal of the RW4 by using the second memory circuit 21 composed of an SRAM which manages normal data.
, And writes the data into the first memory circuit 20 composed of an E2PROM, and retains the data even when the power is turned off. The backup battery only needs to have an ability to supply power during data transfer by the RW4. After the power is restored, the power supply voltage detection circuit 23 detects the power and transmits it to the read / write control circuit 22 through the signal line 208. The read / write control circuit 22 responds to the RW3 signal to
The stored data is read from the first memory circuit 20 composed of 2PROM and written to the second memory circuit 21 composed of SRAM. The read / write control circuit 22 controls the above operation. This configuration is suitable when the first memory circuit 20 is used as a random access memory (RAM). When the power supply drops or the power is cut off, the first memory circuit 20 retains data using an E2PROM. One memory circuit 20 performs normal data read / write management in a second memory circuit 21 composed of an SRAM, which has the characteristics of non-volatility of data, low power consumption, and high-speed read operation. A low-power readable / writable nonvolatile memory circuit can be provided.

【0017】なお、第2のメモリ回路21はSRAMの
例を示したがダイナミックランダムアクセスメモリでも
よい。
The second memory circuit 21 is an SRAM, but may be a dynamic random access memory.

【0018】また、リードライト制御回路22は独立し
た回路でなくともマイクロプロセッサ、マイクロコンピ
ュータ、セントラルプロセッシングユニット(CPU)
等の命令群の組合せで行なってもよい。
The read / write control circuit 22 is not an independent circuit, but may be a microprocessor, microcomputer, central processing unit (CPU).
Etc. may be performed in combination.

【0019】また、バックアップ用電池を用いた例を示
したが、大容量の静電容量を持つコンデンサでもよい。
Although an example using a backup battery has been described, a capacitor having a large capacitance may be used.

【0020】[0020]

【発明の効果】以上、述べたように本発明によればE2
PROMなどのデータの不揮発性を特長を持つ第1のメ
モリ回路とSRAMなどの低消費電力と高速読み出しの
特長を持つ第2のメモリ回路を組合せて用いることによ
り、低消費電力、かつ高速アクセス動作の不揮発性メモ
リ回路を提供できるという効果がある。
As described above, according to the present invention, E2
Low power consumption and high-speed access operation by using a combination of a first memory circuit such as PROM which has non-volatility of data and a second memory circuit such as SRAM which has characteristics of low power consumption and high speed reading. The non-volatile memory circuit described above can be provided.

【0021】また、本発明によれば不揮発性メモリ回路
を直接動作させる回数を大幅に減らすので不揮発性メモ
リの寿命を長くするという効果がある。
Further, according to the present invention, the number of times the nonvolatile memory circuit is directly operated is greatly reduced, so that the life of the nonvolatile memory is extended.

【0022】また、本発明によれば不揮発性メモリ回路
を直接動作させる回数を大幅に減らすので信頼性の低い
不揮発性メモリでも使用できるという効果があり、間接
的にコストダウンを図れるという効果がある。
Further, according to the present invention, the number of times of directly operating the nonvolatile memory circuit is greatly reduced, so that the nonvolatile memory circuit can be used even with a low-reliability nonvolatile memory, and the cost can be reduced indirectly. .

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の第1の実施の形態を示す回路図であ
る。
FIG. 1 is a circuit diagram showing a first embodiment of the present invention.

【図2】本発明の第2の実施の形態を示す回路図であ
る。
FIG. 2 is a circuit diagram showing a second embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10、20・・・第1のメモリ回路 11、21・・・第2のメモリ回路 12、22・・・リードライト制御回路 23・・・電源電圧検出回路 24・・・供給電源制御回路 25・・・集積回路装置の内部と外部の境界 101、103、201、203・・・書き込み信号線 102、104、202、204・・・読み出し信号線 105、106、107、205、206、207・・
・データ信号線 208、210・・・電源電圧検出回路信号線 209、214・・・通常電源用の正電源 211・・・集積回路装置の正電源 212、213・・・集積回路装置の負電源 214・・・通常用電源の正電源 215・・・バックアップ用電源の正電源
10, 20 ... first memory circuit 11, 21 ... second memory circuit 12, 22 ... read / write control circuit 23 ... power supply voltage detection circuit 24 ... supply power supply control circuit 25 .. boundary 101, 103, 201, 203 between the inside and outside of the integrated circuit device ... write signal line 102, 104, 202, 204 ... read signal line 105, 106, 107, 205, 206, 207
-Data signal lines 208, 210 ... Power supply voltage detection circuit signal lines 209, 214 ... Positive power supply for normal power supply 211 ... Positive power supply for integrated circuit device 212, 213 ... Negative power supply for integrated circuit device 214: Positive power supply for normal power supply 215 ... Positive power supply for backup power supply

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】a)半導体集積回路の読み書き可能不揮発
性メモリ回路において、 b)第1の読み書き可能不揮発性メモリ回路と、 c)第2の読み書き可能メモリ回路と、 d)第1種の書き込み信号では前記第1のメモリ回路に
データを書き込み、第2種の読み出し信号では前記第2
のメモリ回路からデータを読み出し、第3種の読み出し
書き込み信号では前記第1のメモリ回路からデータを読
み出し、該データを前記第2のメモリ回路に書き込む、
リードライト制御回路からなることを特徴とする読み書
き可能不揮発性メモリ回路。
1. A read / write nonvolatile memory circuit of a semiconductor integrated circuit, wherein: b) a first read / write nonvolatile memory circuit; c) a second read / write memory circuit; and d) a first type write. A signal writes data to the first memory circuit, and a second type of read signal writes the data to the second memory circuit.
Read data from the memory circuit, read data from the first memory circuit with a third type of read / write signal, and write the data to the second memory circuit.
A readable / writable nonvolatile memory circuit comprising a read / write control circuit.
【請求項2】請求項1記載の第2のメモリ回路がスタテ
ィックランダムアクセスメモリ回路からなることを特徴
とする読み書き可能不揮発性メモリ回路。
2. The read / write nonvolatile memory circuit according to claim 1, wherein said second memory circuit comprises a static random access memory circuit.
【請求項3】請求項1記載の第2のメモリ回路がラッチ
回路からなることを特徴とする読み書き可能不揮発性メ
モリ回路。
3. The read / write nonvolatile memory circuit according to claim 1, wherein the second memory circuit comprises a latch circuit.
【請求項4】a)半導体集積回路の読み書き可能不揮発
性メモリ回路において、 b)第1の読み書き可能不揮発性メモリ回路と、 c)第2の読み書き可能メモリ回路と、 d)前記第1のメモリ回路と前記第2のメモリ回路を動
作させている電源を監視する電源電圧検出回路と、 e)通常用電源とバックアップ用電源とを前記電源電圧
検出回路の信号によって切り替える供給電源制御回路
と、 f)第4種の書き込み信号では前記第1のメモリ回路の
みにデータを書き込み、第2種の読み出し信号では前記
第2のメモリ回路のみからデータを読みだし、第3種の
読み出し書き込み信号では前記第1のメモリ回路からデ
ータを読み出し、該データを前記第2のメモリ回路に書
き込み、前記電源電圧検出回路の信号を受けた第5種の
読み出し書き込み信号では前記第2のメモリ回路からデ
ータを読み出し、該データを前記第1のメモリ回路に書
き込む、リードライト制御回路からなることを特徴とす
る読み書き可能不揮発性メモリ回路。
4. A read / write nonvolatile memory circuit of a semiconductor integrated circuit, comprising: b) a first read / write nonvolatile memory circuit; c) a second read / write memory circuit; and d) the first memory. A power supply voltage detection circuit that monitors a circuit and a power supply operating the second memory circuit; e) a supply power supply control circuit that switches between a normal power supply and a backup power supply by a signal of the power supply voltage detection circuit; ) A fourth type of write signal writes data only to the first memory circuit, a second type of read signal reads data only from the second memory circuit, and a third type of read / write signal A fifth type of read / write that receives data from the power supply voltage detection circuit by reading data from the first memory circuit and writing the data into the second memory circuit; In signal only reading data from the second memory circuit, and writes the data to the first memory circuit, readable and writable nonvolatile memory circuit, comprising the read write control circuit.
【請求項5】請求項4記載の第2のメモリ回路がスタテ
ィックランダムアクセスメモリ回路からなることを特徴
とする読み書き可能不揮発性メモリ回路。
5. The read / write nonvolatile memory circuit according to claim 4, wherein the second memory circuit comprises a static random access memory circuit.
【請求項6】請求項4記載のリードライト制御回路がマ
イクロプロセッサ、マイクロコンピュータ、セントラル
プロセッシングユニット等の命令群の組合せで行なわれ
ることを特徴とする読み書き可能不揮発性メモリ回路。
6. A readable / writable nonvolatile memory circuit, wherein the read / write control circuit according to claim 4 is implemented by a combination of instructions such as a microprocessor, a microcomputer, and a central processing unit.
JP12271297A 1997-05-13 1997-05-13 Read-write non-volatile memory circuit Withdrawn JPH10312690A (en)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006012180A (en) * 2004-06-10 2006-01-12 Marvell World Trade Ltd Low power computer equipped with main and auxiliary processors

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JP2006012180A (en) * 2004-06-10 2006-01-12 Marvell World Trade Ltd Low power computer equipped with main and auxiliary processors

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