JPH10308429A - Automatic conveyance system using trackless moving robot - Google Patents

Automatic conveyance system using trackless moving robot

Info

Publication number
JPH10308429A
JPH10308429A JP21380597A JP21380597A JPH10308429A JP H10308429 A JPH10308429 A JP H10308429A JP 21380597 A JP21380597 A JP 21380597A JP 21380597 A JP21380597 A JP 21380597A JP H10308429 A JPH10308429 A JP H10308429A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
carrier
wafer processing
processing apparatus
mobile robot
camera
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP21380597A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Osamu Akutsu
治 阿久津
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
UMC Japan Co Ltd
Original Assignee
Nippon Steel Semiconductor Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Steel Semiconductor Corp filed Critical Nippon Steel Semiconductor Corp
Priority to JP21380597A priority Critical patent/JPH10308429A/en
Publication of JPH10308429A publication Critical patent/JPH10308429A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Manipulator (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To make reloading operation secure and to shorten the operation time. SOLUTION: A mark (m) for reloading position correction is added to a carrier 2 which stores a semiconductor at a specific position. Here, when the carrier 2 is reloaded from a wafer processing device 1 to the trackless moving robot 10, the mark (m) for reloading position correction fitted to the tip part of an arm 12 is read by a camera 14 and the position at the time of reloading is corrected.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、半導体製造プロセ
スにおいて各ウエハ処理装置間でキャリアを搬送する無
軌道移動ロボットを用いた自動搬送システムに関するも
ので、特にウエハ処理装置にキャリアを降ろす際の作業
時間の短縮と作業の確実化とを図った自動搬送システム
に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an automatic transfer system using a trackless mobile robot for transferring a carrier between wafer processing apparatuses in a semiconductor manufacturing process. The present invention relates to an automatic transfer system that shortens the time and ensures the work.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、半導体製造プロセスでは、処理対
象の半導体ウエハを収容するキャリアを各ウエハ処理装
置間で搬送する無軌道移動ロボットを用いる自動搬送シ
ステムが利用されている。このような自動搬送システム
では、無軌道走行する移動ロボットの位置決め精度が十
分ではないため、キャリアの移載を行なおうとするウエ
ハ処理装置の前で停止したのち移載を開始する前に、現
在位置を所定の移載位置に合致するように補正する作業
が必要になる。
2. Description of the Related Art Conventionally, in a semiconductor manufacturing process, an automatic transfer system using a trackless mobile robot for transferring a carrier accommodating a semiconductor wafer to be processed between wafer processing apparatuses has been used. In such an automatic transfer system, the positioning accuracy of the mobile robot traveling in a trackless manner is not sufficient. Needs to be corrected to match the predetermined transfer position.

【0003】従来、このような移載位置の補正作業は、
ウエハ処理装置上の所定の箇所に付された移載位置補正
用マークを、無軌道移載ロボットのアームの先端部に取
付けたカメラで読取って所定の移載位置とのズレ量を検
出し、このズレ量がゼロになるように現在位置を補正す
ることにより行われる。
Conventionally, such a work of correcting the transfer position is performed by:
A transfer position correction mark attached to a predetermined location on the wafer processing apparatus is read by a camera attached to the tip of the arm of the trackless transfer robot, and a deviation from the predetermined transfer position is detected. This is performed by correcting the current position so that the shift amount becomes zero.

【0004】上記移載位置の補正を伴う移載作業を、ウ
エハ処理装置側から移動ロボット側にキャリアを移載す
る場合を例に取って更に具体的に説明すると、図3に示
すように、(A)移動ロボットの台車11がウエハ処理
装置1の前の待機位置に停止し、(B)移動ロボットの
アーム12の先端のチャック13に設置したカメラ14
でウエハ処理装置1上の所定の箇所に付された移載位置
補正マークMを読取りこの読取りの結果から台車11の
所定の移載位置までのずれ量を認識し、(C)台車11
の移載位置までのずれ量だけ現在位置を補正したのちウ
エハ処理装置1上の所定の箇所に載置されているキャリ
ア2をチャック13で掬い、(D)台車11上の所定の
位置にキャリア2を降ろし、(E)元の待機位置に復帰
する。
[0004] The transfer operation involving the correction of the transfer position will be described more specifically by taking as an example a case where a carrier is transferred from the wafer processing apparatus side to the mobile robot side, as shown in FIG. (A) The carriage 11 of the mobile robot stops at the standby position in front of the wafer processing apparatus 1, and (B) the camera 14 installed on the chuck 13 at the tip of the arm 12 of the mobile robot
Reads the transfer position correction mark M attached to a predetermined position on the wafer processing apparatus 1 to recognize the amount of deviation from the read result to the predetermined transfer position of the carriage 11, and (C) the carriage 11
After the current position is corrected by the shift amount to the transfer position, the carrier 2 placed at a predetermined position on the wafer processing apparatus 1 is scooped by the chuck 13 and (D) the carrier is moved to a predetermined position on the carriage 11. 2 is lowered, and (E) returns to the original standby position.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】上記従来の無軌道移動
ロボットを用いた自動搬送システムでは、ウエハ処理装
置上の移載位置補正用マークを無軌道移動ロボットに取
付けたカメラで認識したのち、このウエハ処理装置上の
キャリアの掬い動作を開始している。このため、ウエハ
処理装置上のキャリアの載置位置がずれていると、キャ
リアの掬い作業が不良になるという問題がある。また、
カメラで移載位置補正用マークの識別し移載位置の補正
してから移載作業を開始しているため、移載作業に時間
がかかるという問題もある。
In the automatic transfer system using the conventional trackless mobile robot, the mark for correcting the transfer position on the wafer processing apparatus is recognized by a camera mounted on the trackless mobile robot, and then the wafer processing is performed. The scooping operation of the carrier on the device has started. For this reason, if the mounting position of the carrier on the wafer processing apparatus is shifted, there is a problem that the carrier scooping operation becomes defective. Also,
Since the transfer operation is started after the camera identifies the transfer position correction mark and corrects the transfer position, there is also a problem that the transfer operation takes time.

【0006】従って、本発明の目的は、この種の無軌道
移動ロボットを用いた自動搬送システムにおいて、移載
作業の確実化と作業時間の短縮化とを図ることにある。
SUMMARY OF THE INVENTION Accordingly, an object of the present invention is to make sure the transfer operation and shorten the operation time in an automatic transfer system using this kind of trackless mobile robot.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】上記従来技術の課題を解
決する本発明の無軌道移動ロボットを用いた自動搬送シ
ステムによれば、キャリアの所定の箇所に移載位置補正
用マークが付され、このキャリアをウエハ処理装置側か
ら無軌道移動ロボット側に移載する際は、このキャリア
に付された移載位置補正用マークがカメラで読取られ、
所定の移載位置の確認と補正とが行われる。
According to the automatic transfer system using the trackless mobile robot of the present invention which solves the above-mentioned problems of the prior art, a transfer position correction mark is attached to a predetermined position of the carrier. When transferring the carrier from the wafer processing apparatus side to the trackless mobile robot side, the transfer position correction mark attached to this carrier is read by the camera,
Confirmation and correction of a predetermined transfer position are performed.

【0008】[0008]

【発明の実施の形態】本発明の好適な実施の形態によれ
ば、ウエハ処理装置の所定の箇所に移載位置補正用マー
クが付され、キャリアを無軌道移動ロボットからウエハ
処理装置に移載する際は、ウエハ処理装置上に付された
移載位置補正用マークがカメラで読取られ移載位置の確
認と補正とが行われる。本発明の更に好適な実施の形態
によれば、上記カメラはアーム先端のチャックに取付け
られている。以下、本発明を実施例と共に更に詳細に説
明する。
According to a preferred embodiment of the present invention, a transfer position correction mark is attached to a predetermined portion of a wafer processing apparatus, and a carrier is transferred from a trackless mobile robot to the wafer processing apparatus. At this time, the transfer position correction mark provided on the wafer processing apparatus is read by the camera, and the transfer position is confirmed and corrected. According to a further preferred embodiment of the present invention, the camera is mounted on a chuck at the tip of the arm. Hereinafter, the present invention will be described in more detail with reference to examples.

【0009】[0009]

【実施例】図1の(A)から(E)までは、本発明の一
実施例の無軌道移動ロボットを用いた自動搬送システム
において、キャリアをウエハ処理装置側から掬って無軌
道移動ロボット側に移載する際の作業手順を示してい
る。
1 (A) to 1 (E) show an automatic transfer system using a trackless mobile robot according to an embodiment of the present invention, in which a carrier is scooped from a wafer processing apparatus and transferred to the trackless mobile robot. The work procedure at the time of mounting is shown.

【0010】始めに、図1の(A)を参照すれば、ウエ
ハ処理装置1上の所定の箇所には処理済みのウエハを収
容したキャリア2が載置されており、このキャリア2の
所定の箇所に、移載位置補正用マークmが付されてい
る。無軌道移動ロボット10は、台車11と、この台車
11から鉛直方向と水平方向のそれぞれに延長されるア
ーム12と、このアーム12の先端部に取付けられたチ
ャック13と、このチャック13に取付けられたカメラ
14とを備えている。
First, referring to FIG. 1A, a carrier 2 containing a processed wafer is placed at a predetermined location on a wafer processing apparatus 1. A transfer position correction mark m is attached to the location. The trackless mobile robot 10 includes a cart 11, an arm 12 extending from the cart 11 in a vertical direction and a horizontal direction, a chuck 13 attached to a tip end of the arm 12, and an attachment to the chuck 13. The camera 14 is provided.

【0011】まず、図1の(A)に示すように、無軌道
移動ロボット10の台車11がウエハ処理装置1の前方
の待機位置に停止する。続いて、(B)に示すように、
アーム12の先端のチャック13に取付けられたカメラ
14で、ウエハ処理装置1上に載置されたキャリア2の
所定の箇所に付された移載位置補正用マークmが読取ら
れ、この読取り結果から所定の移載位置までのずれ量が
認識される。
First, as shown in FIG. 1A, a carriage 11 of a trackless mobile robot 10 stops at a standby position in front of the wafer processing apparatus 1. Then, as shown in (B),
A transfer position correction mark m attached to a predetermined position of the carrier 2 placed on the wafer processing apparatus 1 is read by a camera 14 attached to a chuck 13 at the tip of the arm 12. A shift amount to a predetermined transfer position is recognized.

【0012】続いて、(C)に示すように、移動ロボッ
トの所定の移載位置までのずれ量だけ現在位置が補正さ
れる。上記ズレ量の認識とズレ量の補正は、台車の位置
11を固定した状態でアーム12を伸縮させてズレ量を
認識し、次に台車11を移動させるという具合に、認識
の段階と補正の段階とを分離して行ってよいが、アーム
12の長さを固定した状態で、マークmをカメラの視野
内の所定の箇所に捉えるように台車11を移動させなが
ら行うこともできる。
Subsequently, as shown in (C), the current position is corrected by the amount of deviation from the predetermined transfer position of the mobile robot. Recognition of the shift amount and correction of the shift amount are performed by recognizing the shift amount by extending and contracting the arm 12 with the position of the cart 11 fixed, and then moving the cart 11, and so on. The steps may be performed separately, but it is also possible to move the carriage 11 so that the mark m is captured at a predetermined position in the field of view of the camera with the length of the arm 12 fixed.

【0013】上述のようにして、所定の移載位置への位
置決めが終了すると、ウエハ処理装置1上の所定の箇所
に載置されているキャリア2がチャック13で掬われ
る。最後に、(D)に示すように、ウエハ処理装置1か
ら掬われたキャリア2が台車11上の所定の位置に降ろ
されたのち、(E)に示すように、元の待機位置に復帰
する。
As described above, when the positioning at the predetermined transfer position is completed, the carrier 2 placed at a predetermined position on the wafer processing apparatus 1 is scooped by the chuck 13. Finally, as shown in (D), the carrier 2 scooped from the wafer processing apparatus 1 is lowered to a predetermined position on the carriage 11, and then returns to the original standby position as shown in (E). .

【0014】図2の(A)から(E)までは、上記実施
例の無軌道移動ロボット10を用いた自動搬送システム
において、キャリア2を無軌道移動ロボット10側から
掬ってウエハ処理装置1側に移載する際の作業手順を示
している。
2A to 2E, in the automatic transfer system using the trackless mobile robot 10 of the above embodiment, the carrier 2 is scooped from the trackless mobile robot 10 and transferred to the wafer processing apparatus 1 side. The work procedure at the time of mounting is shown.

【0015】まず、図2の(A)に示すように、無軌道
移動ロボット10の台車11がウエハ処理装置1の前方
の待機位置に停止する。続いて、(B)に示すように、
アーム12の先端のチャック13に設置したカメラ14
によって、ウエハ処理装置1上の所定の箇所に付された
移載位置補正用マークMが読取られ、この読取り結果か
ら所定の移載位置までのずれ量が認識される。
First, as shown in FIG. 2A, the carriage 11 of the trackless mobile robot 10 stops at a standby position in front of the wafer processing apparatus 1. Then, as shown in (B),
Camera 14 installed on chuck 13 at the tip of arm 12
Thereby, the transfer position correction mark M attached to a predetermined position on the wafer processing apparatus 1 is read, and the amount of deviation from the read result to the predetermined transfer position is recognized.

【0016】続いて、(C)に示すように、移動ロボッ
トの移載位置のずれ量だけ現在位置が修正されたのち、
台車11上の所定の箇所に載置されている処理対象のウ
エハを収容しているキャリア2がチャック13で掬われ
る。次に、(D)に示すように、台車11から掬われた
キャリア2がウエハ処理装置1上の所定の位置に降ろさ
れたのち、(E)に示すように、元の待機位置に復帰す
る。
Subsequently, as shown in (C), after the current position is corrected by the shift amount of the transfer position of the mobile robot,
The carrier 2 containing the wafer to be processed, which is placed at a predetermined location on the carriage 11, is scooped by the chuck 13. Next, as shown in (D), the carrier 2 scooped from the carriage 11 is lowered to a predetermined position on the wafer processing apparatus 1, and then returns to the original standby position as shown in (E). .

【0017】以上、説明の便宜上、図1の実施例におい
て、チャック13で挟持しようとするキャリア2の中央
部分に移載位置補正用マークmを付加する構成を例示し
た。この例では、カメラ14でマークmを確認し移載位
置を補正したのち、アーム12を水平方向に伸縮させて
チャック13でキャリア2を挟持する必要があり、作業
時間が長引く。これに対して、チャック13によるキャ
リア2の挟持箇所と、カメラ14で確認するマークmの
付加箇所を適当にずらしておくことにより、移載位置の
補正が終了した段階で、アーム12の水平方向への伸縮
を更に行うことなく、直ちにチャック13によるキャリ
アの挟持が可能になり、作業時間が短縮される。
For convenience of explanation, in the embodiment of FIG. 1, the configuration in which the transfer position correction mark m is added to the center of the carrier 2 to be held by the chuck 13 has been exemplified. In this example, after confirming the mark m with the camera 14 and correcting the transfer position, it is necessary to extend and contract the arm 12 in the horizontal direction and hold the carrier 2 with the chuck 13, and the working time is prolonged. On the other hand, by appropriately shifting the position where the carrier 2 is held by the chuck 13 and the position where the mark m is checked by the camera 14, the correction of the transfer position is completed, The carrier can be immediately pinched by the chuck 13 without further expansion and contraction, thereby shortening the working time.

【0018】また、カメラ14をアーム12の先端部の
チャック13に取付ける構成を例示した。しかしなが
ら、上記チャックによる挟持作業とカメラによる確認作
業とが干渉を避けるうえで、チャック13がキャリア2
を保持した状態でもカメラ14の視野が遮られないよう
に、チャック13を避けたアーム12の先端にカメラ1
4を直接取付ける構成を採用することもできる。
Further, the configuration in which the camera 14 is attached to the chuck 13 at the tip of the arm 12 has been exemplified. However, in order to avoid interference between the clamping operation by the chuck and the checking operation by the camera, the chuck 13 is
In order to prevent the field of view of the camera 14 from being interrupted even when the camera 1 is held, the camera 1
4 can be directly attached.

【0019】[0019]

【発明の効果】以上詳細に説明したように、本発明によ
れば、キャリアの所定の箇所に移載位置補正用マークが
付され、このキャリアをウエハ処理装置側からロボット
側に移載する際は、このキャリアに付された移載位置補
正用マークがカメラで読取られ移載位置の確認と補正と
が行われる構成であるから、キャリアのウエハ処理装置
上への載置位置がずれた場合でも移載作業が確実になる
という効果が奏される。
As described above in detail, according to the present invention, a transfer position correction mark is attached to a predetermined portion of a carrier, and when the carrier is transferred from the wafer processing apparatus side to the robot side. Is a configuration in which the transfer position correction mark attached to this carrier is read by a camera to check and correct the transfer position, so that the position of the carrier on the wafer processing apparatus is shifted. However, the effect that the transfer operation is ensured is exerted.

【0020】また、キャリアをウエハ処理装置側から移
動ロボット側に移載する場合には、チャックによるキャ
リアの挟持箇所と、カメラで確認する移載位置補正用マ
ークの付加箇所を適当にずらしておく構成を採用するこ
とにより、移載位置の補正が終了した段階でアームの水
平方向への伸縮を更に行うことなく、直ちにチャックに
よるキャリアの挟持が可能になる。この場合、移載位置
補正用マークをウエハ処理装置に付しておく従来システ
ムに比べて移載の作業時間が短縮されるという利点もあ
る。
When the carrier is transferred from the wafer processing apparatus to the mobile robot, the position where the carrier is held by the chuck and the position where the transfer position correction mark checked by the camera is added are appropriately shifted. By adopting the configuration, the carrier can be immediately pinched by the chuck without further expanding and contracting the arm in the horizontal direction when the transfer position correction is completed. In this case, there is an advantage that the transfer operation time is reduced as compared with the conventional system in which the transfer position correction mark is attached to the wafer processing apparatus.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の一実施例の無軌道移動ロボットを用い
た自動搬送システムにおいて、処理済みのウエハを収容
しているキャリアをウエハ処理装置側から掬って無軌道
移動ロボット側に移載する際の作業手順を示す図であ
る。
FIG. 1 is a diagram illustrating an automatic transfer system using a trackless mobile robot according to an embodiment of the present invention when a carrier accommodating a processed wafer is scooped from a wafer processing apparatus and transferred to the trackless mobile robot; It is a figure showing a work procedure.

【図2】上記実施例の自動搬送システムにおいて、処理
対象のウエハを収容しているキャリアを無軌道移動ロボ
ット側から掬ってウエハ処理装置側に移載する際の作業
手順を示す図である。
FIG. 2 is a diagram illustrating a work procedure when a carrier accommodating a wafer to be processed is scooped from a trackless mobile robot side and transferred to a wafer processing apparatus side in the automatic transfer system of the embodiment.

【図3】従来の無軌道移動ロボットを用いた自動搬送シ
ステムにおいて、処理済みのウエハを収容しているキャ
リアをウエハ処理装置側から掬って無軌道移動ロボット
側に移載する際の作業手順を示す図である。
FIG. 3 is a diagram showing a work procedure when a carrier accommodating a processed wafer is scooped from the wafer processing apparatus side and transferred to the trackless mobile robot side in the conventional automatic transfer system using the trackless mobile robot. It is.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 ウエハ処理装置 2 ウエハを収容したキャリア 10 無軌道移動ロボット 11 台車 12 アーム 13 チャック 14 カメラ m キャリアの所定箇所に付された移載位置補正用マ
ーク M ウエハ処理装置の所定箇所に付された移載位置補
正用マーク
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Wafer processing apparatus 2 Carrier which accommodated wafer 10 Non-tracking mobile robot 11 Cart 12 Arm 13 Chuck 14 Camera m Transfer position correction mark attached to predetermined position of carrier M Transfer attached to predetermined position of wafer processing apparatus Position correction mark

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】無軌道移動ロボットのアームの先端部にチ
ャックとカメラを取付けておき、このカメラで移載位置
補正用マークを読取って移載時の位置を補正したのち、
半導体ウエハを収容するキャリアを前記チャックで保持
し開放することにより、ウエハ処理装置との間の前記キ
ャリアの移載を行う自動搬送システムにおいて、 前記キャリアの所定の箇所に前記移載位置補正用マーク
を付しておき、 前記キャリアを前記ウエハ処理装置から前記無軌道移動
ロボットに移載する際は、前記キャリアに付された前記
移載位置補正用マークを前記カメラで読取って前記移載
時の位置を補正することを特徴とする無軌道移動ロボッ
トを用いた自動搬送システム。
1. A chuck and a camera are attached to the end of an arm of a trackless mobile robot, and a transfer position correction mark is read by the camera to correct the position at the time of transfer, and then the position is corrected.
In an automatic transfer system for transferring the carrier to and from a wafer processing apparatus by holding and opening a carrier accommodating a semiconductor wafer with the chuck, the transfer position correction mark is provided at a predetermined position of the carrier. When transferring the carrier from the wafer processing apparatus to the trackless mobile robot, the transfer position correction mark attached to the carrier is read by the camera, and the transfer position is determined. Automatic transfer system using a trackless mobile robot, characterized in that the robot is corrected.
【請求項2】 請求項1において、 前記ウエハ処理装置の所定の箇所に移載位置補正用マー
クを付しておき、 前記キャリアを前記無軌道移動ロボットから前記ウエハ
処理装置に移載する際は、前記ウエハ処理装置上に付さ
れた前記移載位置補正用マークを前記カメラで読取って
前記移載時の位置を補正することを特徴とする無軌道移
動ロボットを用いた自動搬送システム。
2. The method according to claim 1, wherein a transfer position correction mark is attached to a predetermined portion of the wafer processing apparatus, and the carrier is transferred from the trackless mobile robot to the wafer processing apparatus. An automatic transfer system using a trackless mobile robot, wherein the transfer position correction mark provided on the wafer processing apparatus is read by the camera to correct the transfer position.
【請求項3】 請求項1又は2において、 前記カメラは前記チャックによるうキャリアの保持作業
と干渉しない前記アームの先端部に取付けられたことを
特徴とする無軌道移動ロボットを用いた自動搬送システ
ム。
3. The automatic transfer system using a trackless mobile robot according to claim 1, wherein the camera is attached to a tip end of the arm that does not interfere with a holding operation of the carrier by the chuck.
JP21380597A 1997-05-08 1997-05-08 Automatic conveyance system using trackless moving robot Pending JPH10308429A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP21380597A JPH10308429A (en) 1997-05-08 1997-05-08 Automatic conveyance system using trackless moving robot

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP21380597A JPH10308429A (en) 1997-05-08 1997-05-08 Automatic conveyance system using trackless moving robot

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH10308429A true JPH10308429A (en) 1998-11-17

Family

ID=16645343

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP21380597A Pending JPH10308429A (en) 1997-05-08 1997-05-08 Automatic conveyance system using trackless moving robot

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH10308429A (en)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1087211C (en) * 1998-12-18 2002-07-10 上海大学 Mobile robot automatic reset mechanism
JP2009208209A (en) * 2008-03-05 2009-09-17 Ihi Corp Robot production system
JP2009220248A (en) * 2008-03-18 2009-10-01 Ihi Corp Robot installation method and robot production system
JP2011228567A (en) * 2010-04-22 2011-11-10 Disco Abrasive Syst Ltd Processing device
TWI671246B (en) * 2017-11-08 2019-09-11 台灣積體電路製造股份有限公司 Container transportation method and stocker
TWI685460B (en) * 2017-11-13 2020-02-21 台灣積體電路製造股份有限公司 System and method for automated wafer handling

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1087211C (en) * 1998-12-18 2002-07-10 上海大学 Mobile robot automatic reset mechanism
JP2009208209A (en) * 2008-03-05 2009-09-17 Ihi Corp Robot production system
JP2009220248A (en) * 2008-03-18 2009-10-01 Ihi Corp Robot installation method and robot production system
JP2011228567A (en) * 2010-04-22 2011-11-10 Disco Abrasive Syst Ltd Processing device
TWI671246B (en) * 2017-11-08 2019-09-11 台灣積體電路製造股份有限公司 Container transportation method and stocker
US10821871B2 (en) 2017-11-08 2020-11-03 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Method for transferring container
US11447054B2 (en) 2017-11-08 2022-09-20 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Method for transferring container
TWI685460B (en) * 2017-11-13 2020-02-21 台灣積體電路製造股份有限公司 System and method for automated wafer handling
US10910249B2 (en) 2017-11-13 2021-02-02 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Systems and methods for automated wafer handling

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101015778B1 (en) Substrate processing apparatus and method for adjusting a substrate transfer position
JP4402811B2 (en) SUBSTITUTION CONVEYING SYSTEM AND METHOD FOR DETECTING POSITION SHIFT
JP2009012948A (en) Conveyance system, conveyance method, and conveyance vehicle
JPS61152100A (en) Apparatus and method for mounting electronic component
JP2000031695A (en) Electronic component mounting method
US11641086B2 (en) Method for automatically mounting a connector-housing
JP2018118341A (en) Working robot and production system
JPH10308429A (en) Automatic conveyance system using trackless moving robot
KR100485221B1 (en) Position Correction Device of Work Device and Method
JP2003305676A (en) Control method and control device for mobile robot
JP2009220248A (en) Robot installation method and robot production system
JP2009184069A (en) Wafer carrying device and method of adjusting the same
JP2005123261A (en) Teaching jig
JPH0871973A (en) Method of instructing robot for stocker
TW201930032A (en) Mechanical arm device and mechanical arm device control method
JP2006341291A (en) Hemming device
JP2022184175A (en) Information processing device, transfer position teaching method and substrate processing device
KR100573471B1 (en) Wafer align method using digital image
KR100718973B1 (en) A inspecting apparatus and a inspecting method for a semi-conductor chip bonder
JPH06110515A (en) Transfer method for object to be conveyed
JPH06189409A (en) Feeding device for unmanned conveying vehicle
JP3838985B2 (en) Chip mounting apparatus and chip mounting method using the same
JPH1167874A (en) Transfer track facility
JP2541552B2 (en) Wafer alignment device
JPH10207522A (en) Method for controlling playback robot

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20040415

RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20051226

RD02 Notification of acceptance of power of attorney

Effective date: 20060130

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422

A131 Notification of reasons for refusal

Effective date: 20061003

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

A02 Decision of refusal

Effective date: 20070208

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02