JPH10283479A - Device for recognizing lead and storage medium for recognizing lead and device for measuring appearance of electronic part using the same device - Google Patents

Device for recognizing lead and storage medium for recognizing lead and device for measuring appearance of electronic part using the same device

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Publication number
JPH10283479A
JPH10283479A JP9098196A JP9819697A JPH10283479A JP H10283479 A JPH10283479 A JP H10283479A JP 9098196 A JP9098196 A JP 9098196A JP 9819697 A JP9819697 A JP 9819697A JP H10283479 A JPH10283479 A JP H10283479A
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JP
Japan
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lead
leads
recognizing
image
rectangular area
Prior art date
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Pending
Application number
JP9098196A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yukihiro Komatsu
幸広 小松
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Omron Corp
Original Assignee
Omron Corp
Omron Tateisi Electronics Co
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Filing date
Publication date
Application filed by Omron Corp, Omron Tateisi Electronics Co filed Critical Omron Corp
Priority to JP9098196A priority Critical patent/JPH10283479A/en
Publication of JPH10283479A publication Critical patent/JPH10283479A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To reduce labor or time necessary for the setting of a parameter or an inspection area. SOLUTION: At the time of inspection using a picture obtained by image picking up an IC part unit by a camera, an operator sets a rectangular area 20 crossing all leads 17 of a part on a picture displayed on a monitor. A CPU extracts luminance distribution on a line for each line l1 -l4 constituting the rectangular area 20, and an area, in which the change of contrast repeatedly appears with the similar displacement amounts and similar pitches, is recognized as the position of the lead column.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】この発明は、外周に複数のリード
を備えた電子部品について、画像処理の技術を用いてリ
ードの計測を行うための技術に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a technique for measuring leads of an electronic component having a plurality of leads on an outer periphery by using an image processing technique.

【0002】[0002]

【従来の技術】一般的なIC部品の製造工程では、金属
リボンを打ち抜いてリードのパターンを形成する工程、
形成されたリードパターン上にICチップを搭載する工
程、ICチップを樹脂によりモールドする工程などが実
施されて、IC部品本体の外周がフレームにより保護さ
れた部品ユニットが作製される。さらにこの部品ユニッ
トに対し、タイバー(前記リードパターンの形成時に各
リードを固定するためにリード間に形成されたパター
ン)のカット処理、各リードをフレームから切り離す処
理、モールドの4隅に隣接するリード以外の金属パター
ンを切り離す処理などが施され、各リードを屈曲させる
ことにより最終形態の部品が完成する。
2. Description of the Related Art In a general manufacturing process of an IC component, a process of punching a metal ribbon to form a lead pattern,
A step of mounting the IC chip on the formed lead pattern, a step of molding the IC chip with a resin, and the like are performed to manufacture a component unit in which the outer periphery of the IC component body is protected by the frame. Further, a tie bar (a pattern formed between the leads for fixing the leads at the time of forming the lead pattern), a process of separating the leads from the frame, and leads adjacent to the four corners of the mold are applied to the component unit. A process of separating the other metal patterns is performed, and each lead is bent to complete a component in a final form.

【0003】このような製造工程において、部品本体を
切り離す前の部品ユニットに対し、リードのピッチ,形
状,長さの適否やタイバーのカット不良(「タイバーア
ンカット」と呼ばれる)にかかる検査が行われている。
[0003] In such a manufacturing process, inspection is performed on the component unit before the component main body is cut off, for the appropriateness of the lead pitch, shape, and length, and for a tie bar cut defect (called "tie bar uncut"). Have been done.

【0004】これらの検査を行う際には、検査に先立
ち、キャリブレーションにより得られたパラメータのほ
か、各検査対象の部品種毎に、リード本数,リードの長
さや幅,リード間の間隔(以下「リードピッチ」とい
う),モールドのサイズなど、各種のパラメータを装置
に設定する必要がある。この設定処理が終了して、検査
対象の部品ユニットの画像が装置内に取り込まれ、オペ
レータがモニタに表示された入力画像上で検査領域を設
定すると、装置の制御部は、この検査領域の画像データ
を用いて上記検査に必要な計測処理を実施し、得られた
計測結果をモニタなどに出力する。
When performing these inspections, prior to the inspection, in addition to the parameters obtained by the calibration, the number of leads, the length and width of the leads, and the distance between the leads (hereinafter referred to as "below") for each type of component to be inspected. Various parameters such as "lead pitch") and the size of the mold need to be set in the apparatus. After the setting process is completed, the image of the component unit to be inspected is taken into the apparatus, and the operator sets an inspection area on the input image displayed on the monitor. A measurement process required for the inspection is performed using the data, and the obtained measurement result is output to a monitor or the like.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】従来、前記各種のパラ
メータの設定は、オペレータの手入力により行われてい
る。しかしながら正しいパラメータ値を設定するために
は、各種部品の正確な情報を知っていることが前提とな
るので、オペレータに多大の負担がかかる。またパラメ
ータ値の入力に時間がかかるという問題も生じる。
Conventionally, setting of the various parameters has been performed manually by an operator. However, in order to set correct parameter values, it is premised that accurate information of various parts is known, so that a heavy burden is imposed on the operator. There is also a problem that it takes time to input the parameter value.

【0006】また画像上で検査領域を設定する場合、オ
ペレータは、画像上の各リードが含まれる位置を正確に
指定する必要がある。しかしながら各リードやリードピ
ッチはきわめて小さなサイズであるため、リードの部分
のみを正確に指定するのは容易ではない。
When an inspection area is set on an image, an operator must accurately specify a position on the image where each lead is included. However, since each lead and lead pitch are extremely small, it is not easy to accurately specify only the lead portion.

【0007】図7は、検査領域の設定例を示す。図中、
白抜きの部分は金属部分であって、15はリードを、1
6はリード以外のパターンをそれぞれ示す。また塗りつ
ぶしの部分は、これら金属部分より輝度の低い画像領域
であって、17はモールドを、18はフレームを、それ
ぞれ示す。このような部品に対し、ここでは、リードの
各並び方向毎に、それぞれリード部分のみにかかるよう
な検査領域19a〜19dが設定されている。実際の部
品におけるリード部分とリード以外のパターンとの間の
間隔は、きわめて微少であるため、画像上で両者を正確
に切り分けて領域を設定するのは、きわめて困難であ
る。
FIG. 7 shows an example of setting an inspection area. In the figure,
The white part is the metal part, 15 is the lead and 1 is
Reference numeral 6 denotes a pattern other than the lead. Further, the shaded portion is an image region having lower luminance than these metal portions, and 17 indicates a mold and 18 indicates a frame, respectively. In such a component, here, inspection regions 19a to 19d are set so as to cover only the lead portions in each of the arrangement directions of the leads. Since the interval between the lead portion and the pattern other than the lead in the actual component is extremely small, it is extremely difficult to accurately separate the two on the image and set an area.

【0008】この発明は上記問題点に着目してなされた
もので、画像上ですべてのリードに交叉するような矩形
領域を設定することにより、計測処理に必要なパラメー
タを自動的に設定して、パラメータや検査領域の設定処
理にかかる労力や時間を大幅に削減することを技術課題
とする。
The present invention has been made in view of the above problem, and automatically sets parameters necessary for measurement processing by setting a rectangular area that crosses all leads on an image. Another object of the present invention is to greatly reduce the labor and time required for setting parameters and inspection areas.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】請求項1にかかるリード
認識装置は、外周に複数のリードを備えた電子部品を撮
像して得られた画像を入力する画像入力手段と、前記入
力画像上で、すべてのリードに交叉するような矩形領域
を設定するための設定手段と、前記矩形領域を構成する
各ライン上の輝度分布に基づきリードの位置を認識する
認識手段とを備えている。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a lead recognizing apparatus, comprising: image input means for inputting an image obtained by imaging an electronic component having a plurality of leads on an outer periphery; Setting means for setting a rectangular area that intersects all the leads, and recognition means for recognizing the position of the lead based on the luminance distribution on each line constituting the rectangular area.

【0010】請求項2の発明では、前記認識手段は、前
記各ライン上で明暗の変化が規則的なピッチで現れる部
分を前記リードの位置として抽出するとともに、その変
化のピッチによりリードピッチを認識するように構成さ
れる。
In the invention according to claim 2, the recognizing means extracts, as the position of the lead, a portion where a change in lightness and darkness appears at a regular pitch on each of the lines, and recognizes the lead pitch based on the pitch of the change. It is configured to

【0011】請求項3の発明では、前記認識手段は、前
記各ライン上で明暗の変化が規則的なピッチで現れる部
分を前記リードの位置として抽出するとともに、抽出さ
れたピッチの数から前記電子部品のリード本数を認識す
るように構成される。
According to a third aspect of the present invention, the recognizing means extracts, as the position of the lead, a portion where a change in lightness and darkness appears at a regular pitch on each of the lines, and extracts the electron from the number of the extracted pitches. It is configured to recognize the number of leads of the component.

【0012】請求項4の発明にかかるリード認識用の記
憶媒体は、外周に複数のリードを備えた電子部品を撮像
して得られた画像上で、すべてのリードに交叉するよう
な矩形領域の設定を受け付ける第1のステップと、前記
設定された計測領域を構成する各ライン毎の輝度分布に
基づきリードの位置を抽出する第2のステップとを一連
に実施するように記憶される。
According to a fourth aspect of the present invention, there is provided a storage medium for recognizing a lead having a rectangular area crossing all leads on an image obtained by imaging an electronic component having a plurality of leads on an outer periphery. The first step of receiving the setting and the second step of extracting the position of the lead based on the luminance distribution of each line constituting the set measurement area are stored so as to be performed in series.

【0013】請求項5にかかる電子部品の外観認識装置
は、請求項1と同様の画像入力手段、設定手段、認識手
段を備えるほか、前記認識手段による認識結果に基づく
所定の画像領域の画像データを抽出して計測処理を実施
する計測手段を具備している。
According to a fifth aspect of the present invention, there is provided an electronic component appearance recognizing device including the same image input means, setting means, and recognizing means as in the first aspect, and image data of a predetermined image area based on a recognition result by the recognizing means. And a measuring means for extracting and extracting measurement data.

【0014】[0014]

【作用】請求項1,4の発明では、計測対象の部品を撮
像して得られた画像上で、その部品の具備するすべての
リードに交叉するような矩形領域を設定すると、この矩
形領域を構成する各ライン上の濃度分布に基づきリード
の位置が自動的に認識されるので、検査領域を詳細に設
定したりパラメータを入力する必要がなくなる。さらに
請求項5の発明では、認識された結果に基づく所定の画
像領域の画像データを用いた計測処理により、電子部品
の計測すべき位置の画像を正確に抽出して的確な計測を
行うことができる。
According to the first and fourth aspects of the present invention, when a rectangular area that intersects all the leads of the component is set on an image obtained by imaging the component to be measured, the rectangular area is set. Since the position of the lead is automatically recognized based on the density distribution on each of the constituent lines, there is no need to set the inspection area in detail or input parameters. According to the fifth aspect of the present invention, it is possible to accurately extract an image of a position where an electronic component is to be measured by performing a measurement process using image data of a predetermined image region based on a recognized result, and perform accurate measurement. it can.

【0015】請求項2および3の発明では、前記各ライ
ン上で明暗の変化が規則的なピッチで現れる部分がリー
ドの位置として抽出される。さらにこの抽出結果に基づ
き、請求項2の発明ではリードピッチが、請求項3の発
明では電子部品のリード本数が、それぞれ自動的に認識
される。
According to the second and third aspects of the present invention, a portion where a change in lightness and darkness appears at a regular pitch on each line is extracted as a lead position. Further, based on this extraction result, the lead pitch in the invention of claim 2 and the number of leads of the electronic component in the invention of claim 3 are automatically recognized.

【0016】[0016]

【実施例】図1は、この発明の一実施例にかかる外観検
査装置の構成を示す。この外観検査装置は、電子部品を
撮像して、そのリード部分の画像を用いた計測処理を行
うことにより、各リードの長さ,形状,リードピッチ,
タイバーアンカットなどにかかる検査を実施するための
もので、テレビカメラ1(以下単に「カメラ1」とい
う),A/D変換器2,D/A変換器3,モニタ4,画
像メモリ5,キャラクタ・グラフィックメモリ6,CP
U7,メモリ8,入力部9,出力部10などを構成とし
て含んでいる。
FIG. 1 shows the configuration of a visual inspection apparatus according to an embodiment of the present invention. This visual inspection apparatus captures an electronic component and performs a measurement process using an image of the lead portion, thereby obtaining the length, shape, lead pitch, and lead pitch of each lead.
This is for performing inspections related to tie bar uncut, etc., and includes a television camera 1 (hereinafter simply referred to as “camera 1”), an A / D converter 2, a D / A converter 3, a monitor 4, an image memory 5, and a character.・ Graphic memory 6, CP
It includes a U7, a memory 8, an input unit 9, an output unit 10, and the like.

【0017】カメラ1により撮像されたアナログ量の画
像データは、A/D変換器2により変換され、輝度の高
い画素ほど高い数値で表されるディジタル量の画像デー
タが作成される。この画像データは、画像バス11を介
して画像メモリ85に格納されると同時に、D/A変換
器3によりアナログ量のデータに復号され、モニタ4へ
と出力される。キャラクタ・グラフィックメモリ6に
は、後記する領域設定を行う際に、モニタ4画面上にメ
ッセージやカーソルなどを表示させるためのデータが格
納される。
The analog amount of image data picked up by the camera 1 is converted by the A / D converter 2 to create digital amount of image data represented by a higher numerical value for a pixel having higher luminance. The image data is stored in the image memory 85 via the image bus 11, and at the same time, is decoded by the D / A converter 3 into data of an analog amount and output to the monitor 4. The character / graphic memory 6 stores data for displaying a message, a cursor, and the like on the monitor 4 screen when setting an area described later.

【0018】前記メモリ8には、あらかじめフロッピィ
ディスクやCD−ROMなどの記憶媒体よりインストー
ルされた制御プログラムを記憶する領域のほか、この制
御プログラムの実行時に生成される各種データを一時記
憶するための作業エリアが形成されている。
The memory 8 has an area for storing a control program previously installed from a storage medium such as a floppy disk or a CD-ROM, and a memory for temporarily storing various data generated when the control program is executed. A work area is formed.

【0019】制御主体であるCPU7は、CPUバス1
2を介して画像メモリ5にアクセスし、その画像データ
に前記制御プログラムに基づく計測処理を実行する。こ
の処理結果は出力部10に与えられた後、モニタ4や図
示しない外部記憶装置などに出力される。なお入力部9
は、検査対象の部品種などの設定データを入力するため
のものであある。
The CPU 7, which is the main control unit, is a CPU bus 1
2 to access the image memory 5 and execute a measurement process on the image data based on the control program. This processing result is provided to the output unit 10 and then output to the monitor 4 or an external storage device (not shown). The input unit 9
Is for inputting setting data such as the type of component to be inspected.

【0020】図2は、リード検査にかかる一連の処理手
順を示すもので、以下、図3〜6を参照しつつ図2の流
れに沿って、前記検査の詳細を説明する。まずステップ
1(図2中「ST1」で示す)で、カメラ1により検査
対象の部品が撮像されると、この画像は前記A/D変換
器2によりディジタル変換されて画像メモリ5に格納さ
れる。
FIG. 2 shows a series of processing procedures related to the lead inspection. Hereinafter, the details of the inspection will be described along the flow of FIG. 2 with reference to FIGS. First, in step 1 (indicated by "ST1" in FIG. 2), when a part to be inspected is imaged by the camera 1, this image is digitally converted by the A / D converter 2 and stored in the image memory 5. .

【0021】このときモニタ4には、前記D/A変換器
3を介した画像が表示されており、つぎのステップ2
で、オペレータは、この表示画面を参照しながら、前記
部品の画像上に所定大きさの矩形領域を設定する。図3
は、この矩形領域の設定例を示すもので、前記図7に示
したのと同様の画像に対し、この画像上のすべてのリー
ドと交叉するような矩形領域20が設定されている。
At this time, an image via the D / A converter 3 is displayed on the monitor 4 and the next step 2
Then, the operator sets a rectangular area of a predetermined size on the image of the component while referring to the display screen. FIG.
Shows an example of setting of this rectangular area. In an image similar to that shown in FIG. 7, a rectangular area 20 which intersects all leads on this image is set.

【0022】上記設定が完了すると、CPU7は、この
矩形領域を構成する各ラインl1 〜l4 に着目し、それ
ぞれのライン上の輝度変化を抽出する。さらにCPU7
は、この変化曲線上の輝度の極大点,極小点を用いて、
明暗の変化が同様の変移量および同様のピッチをもって
繰り返し出現している領域を抽出し、この領域をリード
列の位置として認識する。さらにCPU7は、その領域
内の輝度変化のパターンに基づき、リード幅,リードピ
ッチ,リード本数などを認識する(ステップ3)。
When the above setting is completed, the CPU 7 pays attention to each of the lines l 1 to l 4 constituting the rectangular area and extracts a luminance change on each line. Further CPU7
Using the maximum and minimum points of luminance on this change curve,
A region where the change in lightness and darkness repeatedly appears with the same shift amount and the same pitch is extracted, and this region is recognized as the position of the lead row. Further, the CPU 7 recognizes the lead width, the lead pitch, the number of leads, and the like based on the luminance change pattern in the area (step 3).

【0023】図4は、所定のライン(例えばライン
1 )上の輝度の変化曲線を示すもので、両端部には、
それぞれリード以外のパターン16を反映した幅の大き
なピークPA ,PB が出現している。またこれらピーク
A ,PB の間の領域Rには、各リードを反映する幅の
小さなピークp1 ,p2 ,p3 ・・・pn が、同様のピ
ッチをもって連続的に出現している。CPU7は、この
領域R内における輝度変化を所定のしきい値thと比較
し、このthを上回る山の間隔v1 ,v2 ・・・を各リ
ードのリード幅として、またこのthを下回る谷間の間
隔w1 ,w2 ・・・をリードピッチとして、それぞれ認
識する。また各ラインl1 〜l4 毎に抽出された山の数
を合計することにより、この部品のリード本数が認識さ
れる。
FIG. 4 shows a luminance change curve on a predetermined line (for example, line l 1 ).
Peaks P A and P B having large widths reflecting the pattern 16 other than the lead respectively appear. Also, in a region R between these peaks P A and P B , peaks p 1 , p 2 , p 3 ... Pn having a small width reflecting each lead appear continuously at the same pitch. I have. The CPU 7 compares the luminance change in the region R with a predetermined threshold value th, sets the interval v 1 , v 2 ... Of the peaks exceeding this th as the lead width of each lead, and the valley below the th. the interval w 1, w 2 ··· as lead pitch, recognizes each. Also, by summing the number of peaks extracted for each of the lines l 1 to l 4 , the number of leads of this component is recognized.

【0024】つぎのステップ4で、CPU7は、各ライ
ンl1 〜l4 毎に、前記抽出された山の頂点の位置
1 ,q2 ,q3 ・・・をそれぞれリード長さを計測す
るためのサーチ開始点として設定するとともに、前記リ
ード幅と認識されたv1 ,v2 ,v3 に基づき、この計
測処理のためのサーチ幅を決定する。
In the next step 4, the CPU 7 measures the lead lengths of the extracted peak vertices q 1 , q 2 , q 3 ... For each of the lines l 1 to l 4. and sets as the search start point for, based on the v 1 it is recognized lead width, v 2, v 3, to determine the search width for this measurement processing.

【0025】この計測処理は、各サーチ開始点毎に、そ
れぞれその点を起点として内側(すなわちモールド側)
および外側(すなわちフレーム側)に向かってリードの
構成画素を追跡するもので、CPU7は、まず最初のサ
ーチ開始点q1 について、この点q1 より内側に向かう
追跡処理を行うことにより、リードとモールドとの交点
を抽出する(ステップ5)。
This measurement process is performed for each search start point on the inner side (ie, on the mold side) starting from that point.
In addition, the CPU 7 traces the constituent pixels of the lead toward the outside (ie, the frame side). The CPU 7 first performs a tracking process toward the inside from this point q 1 for the first search start point q 1 , and The intersection with the mold is extracted (step 5).

【0026】図5は、上記追跡処理の具体例を示すもの
で、図中、各矩形はそれぞれ1画素を示し、それぞれの
矩形内の数字はその画素の輝度を示す。CPU7は、ま
ず前記サーチ開始点q1 より1画素内側に位置する画素
0 に着目し、この着目画素g0 を中心として定められ
たサーチ幅分の画素(ここではq0 ,q1 ,q2 の3画
素)を計測対象として設定する。ついでCPU7は、こ
れらの画素g0 ,g1 ,g2 の中から最も高い輝度値を
有する画素(図示例ではg1 )を追跡点として特定す
る。
FIG. 5 shows a specific example of the above tracking process. In the figure, each rectangle indicates one pixel, and the number in each rectangle indicates the luminance of the pixel. First, the CPU 7 pays attention to the pixel g 0 located one pixel inside from the search start point q 1, and a pixel (here, q 0 , q 1 , q 1) corresponding to a search width defined around the pixel of interest g 0. (3 pixels 2 ) is set as the measurement target. Next, the CPU 7 specifies a pixel (g 1 in the illustrated example) having the highest luminance value among these pixels g 0 , g 1 , and g 2 as a tracking point.

【0027】以下同様に、追跡点より1画素分だけ内側
のサーチ幅分の画素を計測対象として、その中から最も
輝度値の高い画素を新たな追跡点として特定することに
より、図中の2重枠で示す各矩形が順次対応づけられ
る。
Similarly, pixels having a search width one pixel inward from the tracking point are set as measurement targets, and the pixel having the highest luminance value is specified as a new tracking point from among the pixels. Each rectangle indicated by the overlapping frame is sequentially associated.

【0028】CPU7は、これら追跡点を、リードの長
さ方向を示す代表構成点として認識し、図6に示すよう
に、各追跡点の位置とその輝度とを対応づけてメモリ8
内に記憶する。またCPU7は、新たな追跡点を特定す
る都度、その追跡点の輝度値を所定のしきい値THと比
較しており、いずれかの追跡点における輝度がこのしき
い値THを下回ったとき、この追跡点(図中cp)をリ
ードとモールドとの交点として特定し、追跡処理を終了
する。
The CPU 7 recognizes these tracking points as representative constituent points indicating the length direction of the lead, and associates the position of each tracking point with its luminance as shown in FIG.
Remember in Each time a new tracking point is specified, the CPU 7 compares the luminance value of the tracking point with a predetermined threshold value TH. When the luminance at any one of the tracking points falls below this threshold value TH, This tracking point (cp in the figure) is specified as the intersection between the lead and the mold, and the tracking processing ends.

【0029】このようにしてリード内側の端点が認識さ
れると、CPU7は、再び前記サーチ開始点q1 に着目
し、このサーチ開始点q1 より外側に向けて同様の追跡
処理を開始する。この結果、同様にしきい値THを下回
る追跡点が得られたとき、CPU7は、この追跡点をリ
ードとフレームとの交点として特定し、追跡処理を終了
する(ステップ6)。
[0029] In this way, the lead inside end point is recognized, CPU 7 is again focused on the search start point q 1, to start a similar tracking process towards than the search start point q 1 to the outside. As a result, when a tracking point lower than the threshold value TH is similarly obtained, the CPU 7 specifies this tracking point as an intersection between the lead and the frame, and ends the tracking processing (step 6).

【0030】このようにして各交点が特定されると、C
PU7は、これら交点間の距離を算出し、その算出結果
をリードの長さの計測値とする(ステップ7)。さらに
この計測値を所定の基準値と比較することにより、この
リードの長さの適否が判別される。また前記各追跡点の
位置の変化をチェックすることにより、リードの形状の
適否が判別される(ステップ8)。
When each intersection is specified in this way, C
The PU 7 calculates the distance between these intersections, and uses the calculation result as a measured value of the lead length (step 7). Further, by comparing the measured value with a predetermined reference value, it is determined whether the length of the lead is appropriate. By checking the change in the position of each tracking point, the suitability of the lead shape is determined (step 8).

【0031】以下同様にして、設定されたすべてのサー
チ開始点を用いてステップ5〜8の処理を行うことによ
り、各リードの長さの適否が判別されると、ステップ9
が「YES」となってステップ10へと移行し、CPU
7は、各判別結果を出力部10に出力して一連の処理を
終了する。
In the same manner, by performing the processing of steps 5 to 8 using all the set search start points, if it is determined that the length of each lead is appropriate, step 9 is performed.
Becomes “YES”, and proceeds to step 10.
7 outputs each determination result to the output unit 10 and ends a series of processing.

【0032】なおタイバーアンカットの検査を行う場合
には、前記ステップ3で認識されたリードピッチを用い
て、前記各ラインl1 〜l4 毎に各リード間の溝の構成
点にあたる1点をサーチ開始点として設定する。この
後、このサーチ開始点から内側に向かって前記と同様の
サーチ処理を行ってゆき、所定のしきい値を下回る追跡
点が得られたとき、この追跡点を前記溝の端点として特
定する。その結果、前記サーチ開始点から抽出された端
点までの距離が所定の基準値よりも短ければ、タイバー
の切れ残りがあるものと判別される。
When the tie bar uncut is to be inspected, one point corresponding to the point of the groove between the leads for each of the lines l 1 to l 4 is determined using the lead pitch recognized in step 3. Set as search start point. Thereafter, the same search processing as described above is performed inward from the search start point, and when a tracking point below a predetermined threshold is obtained, the tracking point is specified as an end point of the groove. As a result, if the distance from the search start point to the extracted end point is shorter than a predetermined reference value, it is determined that the tie bar is left uncut.

【0033】[0033]

【発明の効果】この発明は上記の如く、電子部品を撮像
して得られた画像上で、すべてのリードに交叉するよう
な矩形領域を設定するだけで、検査対象となるリードの
位置が自動的に抽出されるように構成したので、従来の
ように各種のパラメータや検査領域の正確な位置を設定
する必要がなくなり、検査にかかる設定を短時間で簡単
に行うことができる。またオペレータが検査対象の部品
の外形サイズに熟知していなくとも検査が可能となるの
で、オペレータの労力,負担が大幅に軽減される。
As described above, according to the present invention, the position of a lead to be inspected can be automatically set by simply setting a rectangular area that intersects all leads on an image obtained by imaging an electronic component. Since it is configured so that it is automatically extracted, it is not necessary to set various parameters and the exact position of the inspection area as in the related art, and the setting for the inspection can be easily performed in a short time. In addition, since the inspection can be performed even if the operator is not familiar with the external size of the component to be inspected, the labor and the burden on the operator are greatly reduced.

【0034】請求項2,3の発明では、前記各ライン上
で明暗の変化が規則的なピッチで現れる部分を抽出する
ことにより、リードの位置の抽出が可能となる。さらに
この抽出結果に基づき、請求項2の発明ではリードピッ
チを、請求項3の発明では電子部品のリード本数を、そ
れぞれ自動的に認識することができる。
According to the second and third aspects of the present invention, it is possible to extract a lead position by extracting a portion where a change in lightness and darkness appears at a regular pitch on each of the lines. Further, based on the extraction result, the lead pitch can be automatically recognized in the invention of claim 2, and the number of leads of the electronic component can be automatically recognized in the invention of claim 3.

【0035】請求項4の発明では、上記リード位置の認
識処理にかかる手順を記憶する記憶媒体を構成すること
により、上記認識処理を実行する装置を簡単に提供する
ことができる。
According to the fourth aspect of the present invention, an apparatus for executing the recognition processing can be easily provided by configuring a storage medium for storing the procedure for the recognition processing of the read position.

【0036】請求項5の発明では、認識された結果に基
づく所定の画像領域の画像データを用いた計測処理によ
り、電子部品の計測すべき位置の画像を正確に抽出して
的確な計測を行うことができる。
According to a fifth aspect of the present invention, an image of a position where an electronic component is to be measured is accurately extracted by a measurement process using image data of a predetermined image area based on a recognized result, and accurate measurement is performed. be able to.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】この発明の一実施例にかかる外観検査装置の構
成を示すブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of a visual inspection apparatus according to an embodiment of the present invention.

【図2】リードの検査にかかる制御手順を示すフローチ
ャートである。
FIG. 2 is a flowchart illustrating a control procedure according to a lead inspection.

【図3】矩形領域の設定例を示す説明図である。FIG. 3 is an explanatory diagram showing a setting example of a rectangular area.

【図4】リード位置の認識処理にかかる原理を示す説明
図である。
FIG. 4 is an explanatory diagram showing the principle of the lead position recognition process.

【図5】リードの長さ方向を追跡するための具体的な処
理手順を示す説明図である。
FIG. 5 is an explanatory diagram showing a specific processing procedure for tracking the length direction of a lead.

【図6】リードとモールドとの交点を抽出する方法を示
す説明図である。
FIG. 6 is an explanatory diagram showing a method of extracting an intersection between a lead and a mold.

【図7】従来の検査領域の設定例を示す説明図である。FIG. 7 is an explanatory diagram showing a conventional example of setting an inspection area.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 カメラ 5 画像メモリ 7 CPU 8 メモリ 16 リード 20 矩形領域 l1 〜l4 ラインReference Signs List 1 camera 5 image memory 7 CPU 8 memory 16 lead 20 rectangular area l 1 to l 4 lines

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 外周に複数のリードを備えた電子部品を
撮像して得られた画像を入力する画像入力手段と、 前記入力画像上で、すべてのリードに交叉するような矩
形領域を設定するための設定手段と、 前記矩形領域を構成する各ライン上の輝度分布に基づき
リードの位置を認識する認識手段とを備えて成るリード
認識装置。
1. An image input means for inputting an image obtained by imaging an electronic component having a plurality of leads on an outer periphery, and a rectangular area intersecting all leads is set on the input image. And a recognizing means for recognizing a lead position based on a luminance distribution on each line constituting the rectangular area.
【請求項2】 前記認識手段は、前記各ライン上で明暗
の変化が規則的なピッチで現れる部分を前記リードの位
置として抽出するとともに、その変化のピッチによりリ
ードピッチを認識する請求項1に記載されたリード認識
装置。
2. The apparatus according to claim 1, wherein said recognizing means extracts a portion where a change in lightness and darkness appears at a regular pitch on each of the lines as a position of the lead, and recognizes a lead pitch based on the pitch of the change. The lead recognition device described.
【請求項3】 前記認識手段は、前記各ライン上で明暗
の変化が規則的なピッチで現れる部分を前記リードの位
置として抽出するとともに、抽出されたピッチの数から
前記電子部品のリード本数を認識する請求項1に記載さ
れたリード認識装置。
3. The recognizing means extracts, as the position of the lead, a portion where a change in lightness and darkness appears at a regular pitch on each line, and determines the number of leads of the electronic component from the number of extracted pitches. The lead recognition device according to claim 1, wherein the recognition is performed.
【請求項4】 外周に複数のリードを備えた電子部品を
撮像して得られた画像上で、すべてのリードに交叉する
ような矩形領域の設定を受け付ける第1のステップと、 前記設定された計測領域を構成する各ライン毎の輝度分
布に基づきリードの位置を抽出する第2のステップとを
一連に実施するように記憶されたリード認識用の記憶媒
体。
4. A first step of receiving a setting of a rectangular area that intersects all leads on an image obtained by imaging an electronic component having a plurality of leads on the outer periphery; A second step of extracting the position of the lead based on the luminance distribution of each line constituting the measurement region; and a storage medium for read recognition stored in a series.
【請求項5】 外周に複数のリードを備えた電子部品を
撮像して得られた画像を入力する画像入力手段と、 前記入力画像上で、すべてのリードに交叉するような矩
形領域を設定するための設定手段と、 前記矩形領域を構成する各ライン上の輝度分布に基づき
リードの位置を認識する認識手段と、 前記認識手段による認識結果に基づく所定の画像領域の
画像データを抽出して計測処理を実施する計測手段とを
備えて成る電子部品の外観認識装置。
5. An image input means for inputting an image obtained by imaging an electronic component having a plurality of leads on the outer periphery, and setting a rectangular area crossing all leads on the input image. Setting means for recognizing, a recognizing means for recognizing a lead position based on a luminance distribution on each line constituting the rectangular area, and extracting and measuring image data of a predetermined image area based on a recognition result by the recognizing means. Apparatus for recognizing the appearance of electronic components, comprising: a measuring means for performing processing.
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