JPH10253697A - Lamp-lighting testing apparatus - Google Patents

Lamp-lighting testing apparatus

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Publication number
JPH10253697A
JPH10253697A JP5263997A JP5263997A JPH10253697A JP H10253697 A JPH10253697 A JP H10253697A JP 5263997 A JP5263997 A JP 5263997A JP 5263997 A JP5263997 A JP 5263997A JP H10253697 A JPH10253697 A JP H10253697A
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JP
Japan
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lamp
lamp current
circuit
value
test
Prior art date
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Application number
JP5263997A
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Japanese (ja)
Inventor
Teruyuki Shimazaki
輝之 島崎
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Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
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Publication of JPH10253697A publication Critical patent/JPH10253697A/en
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a lamp-lighting testing apparatus whose reliability is high. SOLUTION: A lamp-lighting testing apparatus 21 is provided with a lamp-test control circuit 8 by which a plurality of lamps connected in a parallel state are turned on sequentially according to a predetermined division and with a lamp-current detection and comparison circuit 12 by which the total value of lamp currents flowing to the lamps, in every division, turned on by the lamp-test control circuit 8 is detected, by which the total value of the lamp currents is compared with a predetermined lamp-current set value and which outputs an abnormality signal when the total value deviates from a predetermined lamp-current tolerance. By this constitution, the operating safety of the lamp- lighting testing apparatus can be enhanced.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、監視操作盤や制御
盤などに設置される集合表示灯の断線などを試験するラ
ンプ点灯試験装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a lamp lighting test apparatus for testing disconnection of a collective indicator lamp installed in a monitoring operation panel, a control panel, or the like.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来のランプ点灯試験装置は、例えば図
6に示すようにランプ点灯接点1が閉回路となるとラン
プ点灯接点増幅リレー(継電器)を励磁し、ランプ表示
用接点22が動作して集合表示灯を点灯させている。ま
た、現場に設置されたランプテストスイッチ3を動作さ
せることランプL1〜L3,L11〜L13から構成さ
れる集合表示灯20を一括して点灯させ、ランプ切れな
どのランプ故障を目視によってチェック(点検)してい
た。
2. Description of the Related Art In a conventional lamp lighting test apparatus, for example, as shown in FIG. 6, when a lamp lighting contact 1 is closed, a lamp lighting contact amplification relay (relay) is excited, and a lamp display contact 22 operates. The collective indicator light is on. In addition, operating the lamp test switch 3 installed at the site turns on the collective indicator lamp 20 composed of the lamps L1 to L3 and L11 to L13 at once, and visually checks for lamp failure such as lamp out (inspection). )Was.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】従来のランプ点灯試験
装置では、集合表示灯などを全点灯させるので一時的に
ランプ消費電流が過大となるため、配線を太くしなけれ
ばならない。また、盤面が広い場合には分割点灯を用い
ているが、操作性が悪く、目視チェックでの見落としが
生じる危険性があった。
In the conventional lamp lighting test apparatus, since the collective indicator lamp and the like are all turned on, the current consumption of the lamp temporarily becomes excessively large, so that the wiring must be thick. In addition, when the board surface is wide, the split lighting is used, but the operability is poor, and there is a risk that an oversight may occur in a visual check.

【0004】更に、従来のランプテスト回路は、現場で
の目視チェックを行なうためのもので、遠方からのラン
プテストに対応できなかった。このため現場でランプテ
ストを行なわずに誤認識のまま制御または操作を実施し
てしまうといった危険性があった。
Further, the conventional lamp test circuit is for performing a visual check on site and cannot respond to a lamp test from a distance. For this reason, there is a risk that control or operation may be performed without erroneous recognition without performing a lamp test on site.

【0005】本発明は、これらの危険性を排除し信頼性
と安全性の高いランプ点灯試験装置を提供することを目
的としている。
It is an object of the present invention to eliminate these dangers and to provide a reliable and safe lamp lighting test apparatus.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】本発明のランプ点灯試験
装置は、並列状態に接続された複数個のランプを予め定
めた区分に従って順次点灯するランプテスト制御回路
と、このランプテスト制御回路によって点灯された区分
毎のランプに流れるランプ電流の合計値を検出するラン
プ電流検出回路と、このランプ電流検出回路によって検
出したランプ電流の合計値を予め定めたランプ電流設定
値と比較して予め定めたランプ電流許容値を逸脱した場
合に異常信号を出力するランプ電流比較回路とを備えた
ことを特徴としている。
A lamp lighting test apparatus according to the present invention includes a lamp test control circuit for sequentially lighting a plurality of lamps connected in parallel according to a predetermined section, and a lighting test by the lamp test control circuit. A lamp current detection circuit for detecting a total value of the lamp current flowing through the lamps for each of the divided sections; and a lamp current detection circuit for comparing the total value of the lamp current detected by the lamp current detection circuit with a predetermined lamp current set value. A lamp current comparison circuit that outputs an abnormal signal when the value deviates from the allowable lamp current value.

【0007】請求項2に記載したランプ点灯試験装置
は、ランプ電流比較回路から出力された異常信号によっ
てランプテスト制御回路の作動を一時的に停止させるラ
ンプ制御一時停止回路を備えたことを特徴としている。
A lamp lighting test apparatus according to a second aspect of the present invention includes a lamp control suspending circuit for temporarily stopping the operation of the lamp test control circuit in response to an abnormal signal output from the lamp current comparing circuit. I have.

【0008】請求項3に記載したランプ点灯試験装置
は、並列状態に接続された複数個のランプを予め定めた
区分に従って順次点灯するランプテスト制御回路と、こ
のランプテスト制御回路によって点灯された区分毎のラ
ンプに流れるランプ電流の合計値を検出するランプ電流
検出回路と、このランプ電流検出回路によって検出した
ランプ電流の合計値をランプ電流ホールド値として保持
するランプ電流値ホールド回路とを備え、ランプ電流検
出回路によって検出したランプ電流の合計値とランプ電
流ホールド値とを比較しランプ電流の合計値がランプ電
流ホールド値を超過した場合に超過信号を出力するラン
プ電流比較回路とを備えたことを特徴としている。
According to a third aspect of the present invention, there is provided a lamp test control circuit for sequentially lighting a plurality of lamps connected in parallel according to a predetermined division, and a division lit by the lamp test control circuit. A lamp current detection circuit for detecting a total value of a lamp current flowing through each lamp, and a lamp current value holding circuit for holding a total value of the lamp current detected by the lamp current detection circuit as a lamp current hold value; A lamp current comparison circuit that compares the total value of the lamp current detected by the current detection circuit with the lamp current hold value and outputs an excess signal when the total value of the lamp current exceeds the lamp current hold value. Features.

【0009】請求項4に記載したランプ点灯試験装置
は、並列状態に接続された複数個のランプを予め定めた
第1区分に従って順次点灯し、その後区分の仕方を変更
し得られた第2区分に従って再び順次点灯する二重ラン
プテスト制御回路と、このランプテスト制御回路によっ
て点灯された第1または第2区分毎のランプに流れるラ
ンプ電流の合計値を検出するランプ電流検出回路と、こ
のランプ電流検出回路によって検出したランプ電流の合
計値を予め定めたランプ電流設定値と比較して予め定め
たランプ電流許容値を逸脱した場合に第1または第2区
分毎に逸脱信号を出力するランプ電流比較回路と、この
ランプ電流比較回路から出力された第1または第2区分
毎の逸脱信号から特性が劣化したランプを特定する不良
ランプ特定回路とを備えたことを特徴としている。
According to a fourth aspect of the present invention, there is provided a lamp lighting test apparatus for sequentially lighting a plurality of lamps connected in parallel in accordance with a predetermined first section, and thereafter changing the manner of division. , A lamp current detection circuit for detecting the total value of the lamp currents flowing through the lamps for each of the first and second sections lit by the lamp test control circuit, and the lamp current A lamp current comparison for comparing the total value of the lamp current detected by the detection circuit with a predetermined lamp current set value and outputting a deviation signal for each of the first and second sections when the total deviates from a predetermined lamp current allowable value. Circuit and a defective lamp identification circuit for identifying a lamp whose characteristic has been degraded from a deviation signal for each of the first and second sections output from the lamp current comparison circuit. It is characterized in that was example.

【0010】請求項5に記載したランプ点灯試験装置
は、並列状態に接続された複数個のランプを予め定めた
第1区分に従って順次点灯し、その後区分の仕方を変更
し得られた第2区分に従って再び順次点灯する二重ラン
プテスト制御回路と、このランプテスト制御回路によっ
て点灯された第1または第2区分毎のランプに流れるラ
ンプ電流の合計値を検出するランプ電流検出回路と、こ
のランプ電流検出回路によって検出したランプ電流の合
計値をランプ電流ホールド値とを比較しランプ電流の合
計値がランプ電流ホールド値を超過した場合に超過信号
を出力するランプ電流比較回路と、このランプ電流比較
回路から出力された第1または第2区分毎の逸脱信号か
ら特性が劣化したランプを特定する不良ランプ特定回路
とを備えたことを特徴としている。
According to a fifth aspect of the present invention, there is provided a lamp lighting test apparatus in which a plurality of lamps connected in parallel are sequentially turned on in accordance with a predetermined first section, and thereafter the second section is obtained by changing the manner of division. , A lamp current detection circuit for detecting the total value of the lamp currents flowing through the lamps for each of the first and second sections lit by the lamp test control circuit, and the lamp current A lamp current comparison circuit that compares a total value of the lamp current detected by the detection circuit with a lamp current hold value and outputs an excess signal when the total value of the lamp current exceeds the lamp current hold value; and a lamp current comparison circuit. And a defective lamp specifying circuit for specifying a lamp having deteriorated characteristics from the deviation signal for each of the first or second sections output from the controller. It is set to.

【0011】請求項6に記載したランプ点灯試験装置
は、異常信号または超過信号または逸脱信号をBCDコ
ードに変換する信号変換装置と、変換されたBCDコー
ドを伝送する伝送装置とを備えたことを特徴としてい
る。
According to a sixth aspect of the present invention, there is provided a lamp lighting test device comprising: a signal conversion device for converting an abnormal signal, an excess signal or a deviation signal into a BCD code; and a transmission device for transmitting the converted BCD code. Features.

【0012】[0012]

【発明の実施の形態】次に本発明のランプ点灯試験装置
の実施の形態を説明する。図1において、母線Pに接続
されたランプ点灯接点1が閉回路となると通常表示キャ
ンセル(消去)信号9が出力されていない場合には接点
1bが閉回路となっているので集合表示灯20を構成す
るランプL1が点灯する。
Next, an embodiment of a lamp lighting test apparatus according to the present invention will be described. In FIG. 1, when the lamp lighting contact 1 connected to the bus P has a closed circuit, when the normal display cancel (erase) signal 9 is not output, the contact 1b has a closed circuit. The constituent lamp L1 is turned on.

【0013】現場/遠方切換スイッチ2はランプ点灯試
験装置の制御を現場または遠方に切り換えるスイッチで
あり、現場/遠方切換スイッチ2の現場側出力端子には
現場ランプテストスイッチ3および現場ランプ点灯確認
スイッチ5が並列に接続されている。また、現場/遠方
切換スイッチ2の遠方側出力端子には遠方ランプテスト
接点4が接続されている。そして、これらランプ点灯接
点1、現場/遠方切換スイッチ2、ランプテストスイッ
チ3、遠方ランプテスト接点4および現場ランプ点灯確
認スイッチ5はいずれもランプ点灯試験装置には内蔵さ
れず盤外のシーケンス(接続配線)回路として設置され
る。
The on-site / far switch 2 is a switch for switching the control of the lamp lighting test device between on-site and far-off. The on-site output terminal of the on-site / far switch 2 has a on-site lamp test switch 3 and a on-site lamp lighting confirmation switch. 5 are connected in parallel. A far lamp test contact 4 is connected to a far output terminal of the on-site / far switch 2. The lamp lighting contact 1, the on-site / remote switch 2, the lamp test switch 3, the distant lamp test contact 4, and the on-site lamp lighting confirmation switch 5 are all not built in the lamp lighting test apparatus, but are connected outside the panel (connection). Wiring) Installed as a circuit.

【0014】ランプテスト入力回路6は現場/遠方切換
スイッチ2、ランプテストスイッチ3、遠方ランプテス
ト接点4および現場ランプ点灯確認スイッチ5に接続さ
れ、ランプテストに必要な外部条件を入力する回路であ
り、ランプテスト制御回路8にランプテスト条件信号7
を出力する。
The lamp test input circuit 6 is connected to the on-site / far switch 2, the lamp test switch 3, the far lamp test contact 4 and the on-site lamp lighting confirmation switch 5, and is a circuit for inputting external conditions required for the lamp test. And the lamp test control circuit 8 sends the lamp test condition
Is output.

【0015】ランプテスト制御回路8は、請求項1の場
合は並列状態に接続された複数個のランプを予め定めた
区分、例えば図2に示す集合表示灯20の横列方向に従
ってランプL1〜L3,L11〜L13の順に順次点灯
する回路であり、請求項5および請求項6の場合は並列
状態に接続された複数個のランプを予め定めた第1区
分、例えば図2に示す集合表示灯20の横列方向に従っ
て順次点灯し、その後区分の仕方を変更し得られた第2
区分、例えば図2に示す集合表示灯20の縦列方向に従
って再びランプL1・L11,次にランプL2・L1
2、そしてランプL3・L13の順に順次点灯する二重
ランプテスト制御回路としての機能を有しており、ラン
プテスト条件信号7を入力し、通常表示キャンセル信号
9、ランプテスト順次点灯信号10、そして、異常信号
または超過信号または逸脱信号などのランプテスト異常
信号19を出力する。
In the case of claim 1, the lamp test control circuit 8 divides the plurality of lamps connected in parallel according to a predetermined division, for example, the lamps L1 to L3 according to the row direction of the collective indicator lamp 20 shown in FIG. A circuit for sequentially lighting L11 to L13 in order, and in the case of claims 5 and 6, a plurality of lamps connected in parallel are divided into a predetermined first section, for example, the collective indicator lamp 20 shown in FIG. Lights are sequentially turned on according to the row direction, and then the division method is changed.
According to the division, for example, the column direction of the collective indicator light 20 shown in FIG.
2, and has a function as a dual lamp test control circuit for sequentially lighting the lamps L3 and L13 in order. The lamp test condition signal 7 is input, the normal display cancel signal 9, the lamp test sequential lighting signal 10, and , A lamp test abnormal signal 19 such as an abnormal signal or an excess signal or a deviation signal.

【0016】ランプ電流検出・比較回路12は請求項1
に記載したランプ電流検出回路とランプ電流比較回路の
機能を有し、ランプテスト制御回路8に接続され、ラン
プテスト制御回路8によって点灯された区分毎のランプ
に流れるランプ電流の合計値を検出する機能と、検出し
たランプ電流の合計値を予め定めたランプ電流設定値と
比較して予め定めたランプ電流許容値を逸脱した場合に
異常信号を出力する機能とを備えている。
The lamp current detection / comparison circuit 12 is as follows.
Has the functions of the lamp current detection circuit and the lamp current comparison circuit described in (1), is connected to the lamp test control circuit 8, and detects the total value of the lamp current flowing through the lamps for each of the segments lit by the lamp test control circuit 8. It has a function and a function of comparing the total value of the detected lamp currents with a predetermined lamp current set value and outputting an abnormal signal when the total deviates from a predetermined lamp current allowable value.

【0017】そして、ランプ電流検出・比較回路12は
ランプテスト制御回路8からランプ電流検出信号11を
入力し、ランプ電流比較判定信号を出力する。また、ラ
ンプ電流検出・比較回路12は集合表示器20に接続さ
れ、区分毎のランプに流れるランプ電流13を母線Nに
流している。
The lamp current detection / comparison circuit 12 receives the lamp current detection signal 11 from the lamp test control circuit 8 and outputs a lamp current comparison / judgment signal. The lamp current detection / comparison circuit 12 is connected to the collective display 20, and supplies the lamp current 13 flowing through the lamps of each section to the bus N.

【0018】ランプ電流値ホールド回路16は請求項3
または請求項5に記載した検出したランプ電流の合計値
をランプ電流ホールド値とを比較しランプ電流の合計値
がランプ電流ホールド値を超過した場合に超過信号を出
力する機能と、例えば横列方向の第1区分毎の逸脱信号
と、例えば縦列方向の第2区分毎の逸脱信号とから十文
字に検索して特性が劣化したランプを特定する機能とを
備えており、ランプテスト制御回路8およびランプ電流
検出・比較回路12に接続されてランプ電流値更新信号
15、17を入力し、ランプ電流前回値18をランプ電
流検出・比較回路12に出力している。
The lamp current value holding circuit 16 is a third embodiment.
Or a function of comparing the total value of the detected lamp currents with the lamp current hold value and outputting an excess signal when the total value of the lamp currents exceeds the lamp current hold value. A lamp test control circuit 8 and a lamp current for identifying a lamp whose characteristic has deteriorated by cross-searching from a deviation signal for each first section and, for example, a deviation signal for each second section in the column direction; It is connected to the detection / comparison circuit 12 and receives the lamp current value update signals 15 and 17 and outputs the previous lamp current value 18 to the lamp current detection / comparison circuit 12.

【0019】そして、これらランプテスト制御回路8、
ランプ電流検出・比較回路12およびランプ電流値ホー
ルド回路16によってランプテスト装置21を構成して
いる。 図3は正常時のランプテスト結果を示すタイム
チャート(時間経過図)であり、ランプテストスイッチ
3が操作された場合にランプテスト信号3aが発生し、
通常表示キャンセル信号9およびランプテスト順次点灯
信号10が縦1列目、縦2列目、縦3列目、次に横3列
目、横2列目と順次推移し、集合表示器20のランプが
縦、横各1列ごとに順次点灯することを示している。
Then, these lamp test control circuits 8,
The lamp current detecting / comparing circuit 12 and the lamp current value holding circuit 16 constitute a lamp test apparatus 21. FIG. 3 is a time chart (elapsed time chart) showing a lamp test result in a normal state. When the lamp test switch 3 is operated, a lamp test signal 3a is generated.
The normal display cancel signal 9 and the lamp test sequential lighting signal 10 change sequentially in the first vertical column, the second vertical column, the third vertical column, the third horizontal column, and the second horizontal column. Indicates that the lights are sequentially turned on for each column in the vertical and horizontal directions.

【0020】また、破線Rおよび経過Sは現場ランプテ
スト時を示し、経過Sと経過Tとは遠方テスト時の場合
のタイムチャートを示しており、現場でのランプテスト
は縦列のみ順次点灯させ、遠方からのランプテストでは
縦列、横列両方のランプを順次点灯させている。また、
現場でのランプテストではランプ電流値に異常が発生し
た列を現場ランプ点灯確認スイッチ5が押されるか、予
め設定されたタイマ時間経過後に次の列に移行する。
The broken line R and the lapse S show the time of the on-site lamp test, and the lapse S and the lapse T show the time chart in the case of the distant test. In the lamp test from a distance, both the vertical and horizontal lamps are sequentially turned on. Also,
In the on-site lamp test, the on-site lamp lighting confirmation switch 5 is pressed in the row where the lamp current value has failed or the next row is shifted after a preset timer time elapses.

【0021】図4は電流値が異常値の場合のタイムチャ
ートを示しており、信号Kはランプテスト順次点灯信号
10より長い時間経過することによって縦2列目のラン
プ電流値が異常であることを示し、ランプ確認信号5を
出力している。
FIG. 4 shows a time chart in the case where the current value is abnormal. The signal K indicates that the lamp current value in the second vertical column is abnormal due to the lapse of time longer than the lamp test sequential lighting signal 10. And the lamp confirmation signal 5 is output.

【0022】図5はランプ電流の比較および更新を説明
するフローチャート説明図であり、ランプ電流検出・比
較回路12に内蔵されているランプ電流検出回路12a
とランプ電流比較回路12cの機能を示している。12
bは前回のランプ電流が零であるか否かを判定する判定
回路であり、ランプ電流検出信号11によってランプ電
流13を検出し、ランプ電流値ホールド回路16に保存
されているランプ電流前回値信号18と比較し、ランプ
電流比較判定信号14の他にランプ電流値更新信号17
およびランプ電流値更新不可信号17bが出力される。
FIG. 5 is a flowchart for explaining the comparison and update of the lamp current. The lamp current detection circuit 12a incorporated in the lamp current detection / comparison circuit 12 is shown in FIG.
And the function of the lamp current comparison circuit 12c. 12
Reference numeral b denotes a judgment circuit for judging whether or not the previous lamp current is zero, detects the lamp current 13 by the lamp current detection signal 11, and stores the lamp current previous value signal stored in the lamp current value holding circuit 16. 18 and a lamp current value update signal 17 in addition to the lamp current comparison determination signal 14.
And a lamp current value update disable signal 17b is output.

【0023】尚、ランプテスト異常信号19は遠方から
のランプテスト時のみ出力され、請求項6に記載したよ
うにBCD(バイナリ・コード・デシマル)などの信号
に変換されて遠方に伝送され、ランプ故障の確認が行な
われる。
The lamp test abnormality signal 19 is output only at the time of a lamp test from a distance, is converted into a signal such as a BCD (binary code decimal) and transmitted to a remote place. The failure is confirmed.

【0024】本実施例では集合表示灯などのランプテス
トを行なう場合に、縦1列ごとに順次点灯を行なうため
に、一時的に発生するランプ消費電流を少なくし、配線
も特に太くする必要がなくなった。また、ランプの故障
箇所において順次点灯することを停止する順次点灯中止
機能を有するため、従来用いられた分割点灯による目視
チェックの見落としを防止することが可能である。
In the present embodiment, when performing a lamp test of a collective indicator lamp or the like, since the lamps are sequentially turned on one column at a time, it is necessary to reduce the lamp current consumption generated temporarily and make the wiring particularly thick. lost. In addition, since there is a sequential lighting stop function for stopping the sequential lighting at the failure location of the lamp, it is possible to prevent a visual check by the conventionally used divided lighting from being overlooked.

【0025】更に、本実施例では、遠方からのランプテ
ストが可能となり、ランプ故障を遠方にて把握できるこ
とから、現場でランプテストを行なわなくても誤認識す
ることを防止することができ信頼性と安全性を著しく向
上させることが可能である。
Further, in this embodiment, a lamp test can be performed from a distance, and a lamp failure can be grasped from a distance. Therefore, it is possible to prevent erroneous recognition even without performing a lamp test on site, and to improve reliability. It is possible to significantly improve safety.

【0026】[0026]

【発明の効果】本発明により、ランプ点灯試験装置の操
作安全性を向上させることができる。
According to the present invention, the operational safety of the lamp lighting test device can be improved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の一実施例を示すランプ点灯試験装置の
構成図である。
FIG. 1 is a configuration diagram of a lamp lighting test apparatus showing one embodiment of the present invention.

【図2】図1の集合表示灯の一例を示す正面図である。FIG. 2 is a front view showing an example of the collective indicator light of FIG.

【図3】正常時のランプテストを示すタイムチャート説
明図である。
FIG. 3 is an explanatory time chart showing a lamp test in a normal state.

【図4】ランプ電流異常時のランプテストを示すタイム
チャート説明図である。
FIG. 4 is a time chart explanatory diagram showing a lamp test when a lamp current is abnormal.

【図5】ランプ電流の比較および更新を示すフローチャ
ート説明図である。
FIG. 5 is a flowchart illustrating comparison and updating of lamp currents.

【図6】従来のランプ点灯試験装置を示す構成図であ
る。
FIG. 6 is a configuration diagram showing a conventional lamp lighting test apparatus.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 ランプ点灯接点 2 現場/遠方接点 3 現場ランプテストスイッチ 4 遠方ランプテスト接点 5 現場ランプ点灯確認スイッチ 6 ランプテスト入力回路 8 ランプテスト制御回路 12 ランプ電流検出・比較回路 16 ランプ電流値ホールド回路 20 集合表示灯 21 ランプテスト装置 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Lamp lighting contact 2 Field / remote contact 3 Field lamp test switch 4 Remote lamp test contact 5 Field lamp lighting confirmation switch 6 Lamp test input circuit 8 Lamp test control circuit 12 Lamp current detection / comparison circuit 16 Lamp current value hold circuit 20 Assembly Indicator light 21 Lamp test equipment

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 並列状態に接続された複数個のランプを
予め定めた区分に従って順次点灯するランプテスト制御
回路と、このランプテスト制御回路によって点灯された
区分毎のランプに流れるランプ電流の合計値を検出する
ランプ電流検出回路と、このランプ電流検出回路によっ
て検出した前記ランプ電流の合計値を予め定めたランプ
電流設定値と比較して予め定めたランプ電流許容値を逸
脱した場合に異常信号を出力するランプ電流比較回路
と、を具備してなるランプ点灯試験装置。
1. A lamp test control circuit for sequentially lighting a plurality of lamps connected in parallel according to a predetermined section, and a total value of lamp currents flowing through the lamps for each section lit by the lamp test control circuit. And a lamp current detection circuit for detecting an abnormal signal when the total of the lamp currents detected by the lamp current detection circuit deviates from a predetermined lamp current allowable value by comparing with a predetermined lamp current set value. And a lamp current comparison circuit for outputting.
【請求項2】 前記ランプ電流比較回路から出力された
前記異常信号によって前記ランプテスト制御回路の作動
を一時的に停止させるランプ制御一時停止回路を備えた
ことを特徴とする前記請求項1に記載したランプ点灯試
験装置。
2. The apparatus according to claim 1, further comprising a lamp control suspension circuit for temporarily stopping the operation of the lamp test control circuit in response to the abnormal signal output from the lamp current comparison circuit. Lamp lighting test equipment.
【請求項3】 並列状態に接続された複数個のランプを
予め定めた区分に従って順次点灯するランプテスト制御
回路と、このランプテスト制御回路によって点灯された
前記区分毎のランプに流れるランプ電流の合計値を検出
するランプ電流検出回路と、このランプ電流検出回路に
よって検出した前記ランプ電流の合計値をランプ電流ホ
ールド値として保持するランプ電流値ホールド回路と、
前記ランプ電流検出回路によって検出した前記ランプ電
流の合計値と前記ランプ電流ホールド値とを比較し前記
ランプ電流の合計値が前記ランプ電流ホールド値を超過
した場合に超過信号を出力するランプ電流比較回路と、
を具備してなるランプ点灯試験装置。
3. A lamp test control circuit for sequentially lighting a plurality of lamps connected in parallel according to a predetermined section, and a total of lamp currents flowing through the lamps for each section which are turned on by the lamp test control circuit. A lamp current detection circuit for detecting a value, a lamp current value hold circuit for holding a total value of the lamp current detected by the lamp current detection circuit as a lamp current hold value,
A lamp current comparison circuit that compares a total value of the lamp current detected by the lamp current detection circuit with the lamp current hold value and outputs an excess signal when the total value of the lamp current exceeds the lamp current hold value; When,
A lamp lighting test device comprising:
【請求項4】 並列状態に接続された複数個のランプを
予め定めた第1区分に従って順次点灯し、その後前記区
分の仕方を変更し得られた第2区分に従って再び順次点
灯する二重ランプテスト制御回路と、このランプテスト
制御回路によって点灯された前記第1または第2区分毎
のランプに流れるランプ電流の合計値を検出するランプ
電流検出回路と、このランプ電流検出回路によって検出
した前記ランプ電流の合計値を予め定めたランプ電流設
定値と比較して予め定めたランプ電流許容値を逸脱した
場合に前記第1または第2区分毎に逸脱信号を出力する
ランプ電流比較回路と、このランプ電流比較回路から出
力された前記第1または第2区分毎の逸脱信号から特性
が劣化したランプを特定する不良ランプ特定回路と、を
具備してなるランプ点灯試験装置。
4. A dual lamp test in which a plurality of lamps connected in parallel are sequentially turned on according to a predetermined first section, and then sequentially turned on again according to a second section obtained by changing the manner of the division. A control circuit; a lamp current detection circuit for detecting a total value of lamp currents flowing through the lamps for each of the first or second sections lit by the lamp test control circuit; and the lamp current detected by the lamp current detection circuit A lamp current comparison circuit that outputs a deviation signal for each of the first and second sections when the total value of the deviations deviates from a predetermined allowable lamp current value by comparing with a predetermined lamp current set value. A defective lamp specifying circuit for specifying a lamp having deteriorated characteristics from the deviation signal for each of the first or second sections output from the comparing circuit. Lighting test equipment.
【請求項5】 並列状態に接続された複数個のランプを
予め定めた第1区分に従って順次点灯し、その後前記区
分の仕方を変更し得られた第2区分に従って再び順次点
灯する二重ランプテスト制御回路と、このランプテスト
制御回路によって点灯された前記第1または第2区分毎
のランプに流れるランプ電流の合計値を検出するランプ
電流検出回路と、このランプ電流検出回路によって検出
した前記ランプ電流の合計値を前記ランプ電流ホールド
値とを比較し前記ランプ電流の合計値が前記ランプ電流
ホールド値を超過した場合に超過信号を出力するランプ
電流比較回路と、このランプ電流比較回路から出力され
た前記第1または第2区分毎の逸脱信号から特性が劣化
したランプを特定する不良ランプ特定回路と、を具備し
てなるランプ点灯試験装置。
5. A double lamp test in which a plurality of lamps connected in parallel are sequentially turned on according to a predetermined first section, and then sequentially turned on again according to a second section obtained by changing the manner of the division. A control circuit; a lamp current detection circuit for detecting a total value of lamp currents flowing through the lamps for each of the first or second sections lit by the lamp test control circuit; and the lamp current detected by the lamp current detection circuit And a lamp current comparison circuit that compares the lamp current hold value with the lamp current hold value and outputs an excess signal when the lamp current total value exceeds the lamp current hold value. A defective lamp identification circuit for identifying a lamp having deteriorated characteristics from the deviation signal for each of the first or second divisions. Test equipment.
【請求項6】 前記異常信号または前記超過信号または
前記逸脱信号をBCDコードに変換する信号変換装置
と、変換された前記BCDコードを伝送する伝送装置と
を具備したことを特徴とする請求項1乃至請求項6に記
載したランプ点灯試験装置。
6. A signal conversion device for converting the abnormal signal, the excess signal or the deviation signal to a BCD code, and a transmission device for transmitting the converted BCD code. The lamp lighting test device according to claim 6.
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