JPH10253327A - Pin hole and confocal optical apparatus using the same and apparatus and method for exposing hologram - Google Patents

Pin hole and confocal optical apparatus using the same and apparatus and method for exposing hologram

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JPH10253327A
JPH10253327A JP9060630A JP6063097A JPH10253327A JP H10253327 A JPH10253327 A JP H10253327A JP 9060630 A JP9060630 A JP 9060630A JP 6063097 A JP6063097 A JP 6063097A JP H10253327 A JPH10253327 A JP H10253327A
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JP
Japan
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light
pinhole
hologram
glass plate
filter
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Application number
JP9060630A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Kiyoo Matsuno
清伯 松野
Manabu Ando
学 安藤
Eri Suda
江利 須田
Hideyuki Wakai
秀之 若井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Komatsu Ltd
Original Assignee
Komatsu Ltd
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Publication date
Application filed by Komatsu Ltd filed Critical Komatsu Ltd
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Publication of JPH10253327A publication Critical patent/JPH10253327A/en
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    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70408Interferometric lithography; Holographic lithography; Self-imaging lithography, e.g. utilizing the Talbot effect

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Holo Graphy (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To reduce diffused reflection in a glass plate by setting a thin pin hole film obtained by forming a thin film with a small hole at one face of the glass plate and an attenuation filter in the glass plate or at the other face of the glass plate. SOLUTION: A pin hole 21 is formed by layering an attenuation filter 22 and a pin hole thin film 14 on a glass plate 13. The attenuation filter 22 is placed between the glass plate 13 and the pin hole thin film 14 or at a face of the glass plate 13 opposite to the pin hole thin film 14. A reflecting light of a light projected from the pin hole 21, reflected at an optical system at the side of a lower stream than the pin hole 21 and returned to the pin hole 21 is attenuated at the attenuation filter 22, so that the reflecting light is prevented from being irregularly reflected within the glass plate constituting the pin hole 21.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、光学的に物体表面
の凹凸形状を測定する共焦点光学装置等の光路内に用い
るピンホール及びこれを用いた共焦点光学装置とホログ
ラムの露光装置及び露光方法に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a pinhole used in an optical path, such as a confocal optical device for optically measuring the unevenness of the surface of an object, a confocal optical device using the same, an exposure apparatus for a hologram, and an exposure apparatus. It is about the method.

【0002】[0002]

【従来の技術】上記ピンホールを用いた従来の共焦点光
学装置は図1に示すようになっていて、光源1から発す
る光2は拡大レンズ装置(コンデンサレンズ)3によっ
て拡大平行光となり、投光側のピンホール4に入射され
る。投光側のピンホール4を通過した光は点光源5とし
て出射し、ビームスプリッタ6を通過して、テレセント
リック系を形成する第1レンズ群7、及び第2レンズ群
8によって集光され、被計測物体9に照射される。10
はこのときの集光点である。
2. Description of the Related Art A conventional confocal optical device using the above-described pinhole is shown in FIG. 1, and a light 2 emitted from a light source 1 is converted into an expanded parallel light by a magnifying lens device (condenser lens) 3 and projected. The light is incident on the pinhole 4 on the light side. Light passing through the pinhole 4 on the light projecting side is emitted as a point light source 5, passes through a beam splitter 6, and is condensed by a first lens group 7 and a second lens group 8, which form a telecentric system, and The measurement object 9 is irradiated. 10
Is the focal point at this time.

【0003】被計測物体9の表面で反射した光は、入射
時と同じ経路を逆にたどって第2レンズ群8、第1レン
ズ群7を通過して集光され、その一部がビームスプリッ
タ6によって反射され、これが上記投光側のピンホール
4と共役な位置に結像される。この結像位置に受光側の
ピンホール11を配設し、このピンホール11を通過す
る光の光量を光検出器12で検出する。
The light reflected on the surface of the object 9 to be measured passes through the second lens group 8 and the first lens group 7 along the same path as that at the time of incidence, and is condensed. The light is reflected by the light source 6 and is imaged at a position conjugate with the pinhole 4 on the light emitting side. A pinhole 11 on the light receiving side is arranged at this image forming position, and the light detector 12 detects the amount of light passing through the pinhole 11.

【0004】かかる従来の構成の共焦点光学装置では、
レンズ群7,8、または被計測物体9を光軸方向(Z方
向)に移動させると、投光側のピンホール4から出射さ
れた点光源5が被計測物体9の表面で合焦した場合に光
検出器12の検出信号が極値を示す。従って、このとき
被計測物体9を光軸に垂直なXY方向に走査すれば、被
計測物体9の表面形状を精密に測定することができる。
このとき、被計測物体9をXY方向に走査する代わり
に、両ピンホール4,11及び光検出器12を2次元に
配置したアレイとすることにより、同時に多点での計測
を行うことができる。
In such a confocal optical device having the conventional configuration,
When the lens groups 7, 8 or the object 9 to be measured are moved in the optical axis direction (Z direction), the point light source 5 emitted from the pinhole 4 on the light projecting side is focused on the surface of the object 9 to be measured. Shows an extreme value of the detection signal of the photodetector 12. Therefore, at this time, if the measured object 9 is scanned in the XY directions perpendicular to the optical axis, the surface shape of the measured object 9 can be measured accurately.
At this time, instead of scanning the object 9 to be measured in the X and Y directions, by using an array in which the two pinholes 4 and 11 and the photodetector 12 are two-dimensionally arranged, measurement at multiple points can be performed simultaneously. .

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】上記したような従来の
共焦点光学装置では次のような問題があった。すなわ
ち、これに用いられる投光側のピンホール4は図2に示
すように、光学ガラスからなるガラス板13にクロム、
酸化クロム等のピンホール用の薄膜14を蒸着等の手段
にて固定することにより製作されている。そしてこのピ
ンホール4から出射された点光源5の光の一部が、ビー
ムスプリッタ6、レンズ群7,8さらに受光側のピンホ
ール11等の表面において反射を起こし、その結果、こ
の投光側のピンホール4の薄膜14に形成したピンホー
ル用の小孔4a以外の部分との間で上記反射光が乱反射
を繰り返してしまう。そしてこの乱反射光が受光側のピ
ンホール11を通過して光検出器12に入射し、被計測
物体9の表面で反射した光と混在して計測を妨げるとい
う悪影響を生じている。また、これらの乱反射光が本
来、共焦点光学装置として使用されるべき点光源5と干
渉し、被計測物体9上の集光点10において干渉縞を発
生させ、やはり、計測に悪影響を与えることがある。
The conventional confocal optical device as described above has the following problems. That is, as shown in FIG. 2, the pinhole 4 on the light projecting side used for this is made of chrome,
It is manufactured by fixing a thin film 14 for pinholes such as chromium oxide by means such as vapor deposition. Part of the light of the point light source 5 emitted from the pinhole 4 is reflected on the surface of the beam splitter 6, the lens groups 7, 8 and the surface of the pinhole 11 on the light receiving side. The reflected light repeats irregular reflection between the pinhole 4 and a portion other than the pinhole small hole 4a formed in the thin film 14 of the pinhole 4. Then, the irregularly reflected light passes through the pinhole 11 on the light receiving side, enters the photodetector 12, and is mixed with the light reflected on the surface of the object 9 to be measured, which has an adverse effect of hindering the measurement. In addition, the irregularly reflected light interferes with the point light source 5 which should be used as a confocal optical device, and generates interference fringes at the focal point 10 on the object 9 to be measured. There is.

【0006】この場合、レンズやビームスプリッタ等の
光学ガラス相互の反射は、これに無反射(AR)コート
等の手段にて低減させることが容易であるのに対して、
ピンホール面においては、反射率が高く、またコーティ
ングも容易でないため、このピンホールのガラス板13
内での乱反射を低減することが難かしかった。
In this case, the reflection between optical glasses such as a lens and a beam splitter can be easily reduced by means such as an anti-reflection (AR) coating.
On the pinhole surface, the reflectance is high and the coating is not easy.
It was difficult to reduce diffuse reflection in the interior.

【0007】本発明は上記のことにかんがみなされたも
ので、ピンホールを構成するガラス板内での乱反射を低
減して光学測定に支障のないようにしたピンホール及び
これを用いた共焦点光学装置とホログラム露光装置及び
露光方法を提供することを目的とするものである。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in consideration of the above, and has been made in consideration of the above circumstances. A pinhole which reduces irregular reflection in a glass plate constituting the pinhole so as not to hinder optical measurement, and a confocal optical system using the same. It is an object of the present invention to provide an apparatus, a hologram exposure apparatus, and an exposure method.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段及び作用・効果】上記目的
を達成するために、本発明に係るピンホールは、ガラス
板の一面に小孔を有する薄膜を設けてなるピンホールの
上記薄膜とガラス板の間、あるいはガラス板の他面のい
ずれか一方に減光フィルタを設けた構成としたことによ
り、ピンホールを透過した光が、これの下流側の他の光
学系に反射して再びピンホールに入射しても、この反射
光は減光フィルタにて吸収され、ピンホールを用いた光
学系におけるピンホールの性能を向上することができ
る。
In order to achieve the above object, a pinhole according to the present invention comprises a thin film having a small hole on one surface of a glass plate, and the pinhole having the thin film and glass. With the configuration in which the neutral density filter is provided between the plates or on one of the other surfaces of the glass plate, the light transmitted through the pinhole is reflected by another optical system on the downstream side of the pinhole and is again reflected on the pinhole. Even if the light enters, the reflected light is absorbed by the neutral density filter, and the performance of the pinhole in the optical system using the pinhole can be improved.

【0009】またガラス板の一面に小孔を有する薄膜を
設けてなるピンホールの上記ガラス板中に色素等の不純
物を溶融させて、このガラス板を減光フィルタにしたこ
とにより、上記ガラス板を減光フィルタに兼用すること
ができ、減光フィルタを別に設ける必要がなく、この種
のピンホールの作成が容易になる。
In addition, impurities such as dyes are melted in the above-mentioned glass plate of a pinhole in which a thin film having small holes is provided on one surface of the glass plate, and this glass plate is used as a neutral density filter. Can also be used as a neutral density filter, and there is no need to separately provide a neutral density filter, which facilitates the creation of this type of pinhole.

【0010】また、上記ピンホールにおいて、減光フィ
ルタのピンホールの小孔に対応する部分に、光透過用の
窓を開けたことにより、ピンホールを透過した点状の光
を減光フィルタによって減衰されることがなくなると共
に、上記点状の光による減光フィルタの損傷を防止でき
る。
In the above-mentioned pinhole, a window for light transmission is opened in a portion corresponding to the small hole of the pinhole of the neutral density filter, so that the dot-like light transmitted through the pinhole is reduced by the neutral density filter. Attenuation is eliminated, and damage of the neutral density filter due to the point light can be prevented.

【0011】また、光源からの光を投光側のピンホール
を介してビームスプリッタを通過し、レンズ群を経て集
光して被計測物体に照射し、その反射光を上記レンズ
群、ビームスプリッタを経て受光側のピンホールを介し
て光検出器アレイに入射するようにした共焦点光学装置
の上記両ピンホールのうち、少なくとも投光側のピンホ
ールの少なくとも光の透過方向の一側に減光フィルタを
介装して共焦点光学装置を構成したことにより、この共
焦点光学装置におけるピンホールの透過方向下流側での
ビームスプリッタ等の光学系にて反射した反射光が減光
フィルタにて吸収され、このピンホール側へ反射してき
た光を測定に支障のないレベルまで減少することができ
る。
Further, light from a light source passes through a beam splitter through a pinhole on the light projecting side, is condensed through a lens group, and irradiates the object to be measured, and the reflected light is reflected by the lens group and the beam splitter. Out of the two pinholes of the confocal optical device that is made to enter the photodetector array via the pinhole on the light receiving side through at least one of the pinholes on the light projecting side to at least one side in the light transmission direction. By configuring the confocal optical device with an optical filter interposed, reflected light reflected by an optical system such as a beam splitter on the downstream side in the transmission direction of the pinhole in the confocal optical device is reflected by the neutral density filter. The light absorbed and reflected to the pinhole side can be reduced to a level that does not hinder the measurement.

【0012】また、ホログラムに参照光と共に、ピンホ
ールを介して物体光を入射することによりホログラムを
露光するホログラム露光装置の、上記ピンホールの光透
過方向の少なくとも一側に減光フィルタを設けたことに
より、ホログラムに露光する際に用いられるピンホール
での乱反射光が減少される。従ってホログラムに、ピン
ホールからの光以外の光が記録されてしまうことを防止
できる。
Further, a hologram exposing device for exposing the hologram by irradiating the hologram with object light through a pinhole together with a reference light is provided with a neutral density filter on at least one side of the pinhole in the light transmission direction. As a result, irregularly reflected light at the pinhole used when exposing the hologram is reduced. Therefore, it is possible to prevent light other than light from the pinhole from being recorded on the hologram.

【0013】また、参照光を入射すると共に、ピンホー
ルを介して物体光を入射して露光されたホログラムに、
参照光を入射させ、この参照光にて再生した物体光を被
計測物体に集光して入射し、その反射光をホログラムを
透過してピンホールを介して光検出器アレイに入射する
ようにした共焦点光学装置の、上記各ピンホールの光の
透過方向の少なくとも一側に減光フィルタを設けて共焦
点光学装置を構成したことにより、この共焦点光学装置
に参照光を入射して物体光を再生したときの、この再生
光がピンホールを介して光検出器アレイに入射するとき
に、ピンホールより光路の上流側で生じてピンホール側
へ反射してきた光は上記減光フィルタにて、測定に支障
のないレベルまで減少することができる。
A hologram exposed by inputting reference light and object light through a pinhole,
The reference light is made incident, the object light reproduced by this reference light is condensed and incident on the object to be measured, and the reflected light is transmitted through the hologram and incident on the photodetector array via the pinhole. By providing a dimming filter on at least one side in the light transmission direction of each of the pinholes of the confocal optical device thus configured to form a confocal optical device, the reference light is incident on the confocal optical device and When light is reproduced, when the reproduced light is incident on the photodetector array via the pinhole, light generated upstream of the optical path from the pinhole and reflected toward the pinhole is reflected by the neutral density filter. Thus, it can be reduced to a level that does not hinder the measurement.

【0014】また、ホログラムに参照光を入射すると共
に、物体光をピンホールを介して入射することによりホ
ログラムを作成する際に、ピンホールの光透過方向の一
側に減光フィルタを介在させてホログラム作成するよう
にしたことにより、ホログラムに、ピンホール以外から
の光が記録されるのを防止でき、性能の優れたホログラ
ムを作ることができる。
When a hologram is created by injecting the reference light into the hologram and the object light through the pinhole, a neutral density filter is interposed on one side of the light transmission direction of the pinhole. By forming a hologram, it is possible to prevent light other than pinholes from being recorded on the hologram, and to produce a hologram with excellent performance.

【0015】[0015]

【発明の実施の形態】本発明の実施の形態を図3以下に
説明する。図中21は減光フィルタ付きのピンホールで
あり、このピンホール21はガラス板13に減光フィル
タ(NDフィルタ)22とピンホール用の薄膜14とを
積層した構成となっている。上記減光フィルタ22は図
3に示すように、ガラス板13とピンホール用の薄膜1
4の間に位置するか、図4に示すように、ガラス板13
のピンホール用の薄膜14と反対側の面に積層してもよ
い。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Embodiments of the present invention will be described with reference to FIG. In the figure, reference numeral 21 denotes a pinhole with a dimming filter. The pinhole 21 has a configuration in which a dimming filter (ND filter) 22 and a thin film 14 for a pinhole are laminated on a glass plate 13. As shown in FIG. 3, the neutral density filter 22 includes a glass plate 13 and a thin film 1 for a pinhole.
4 or as shown in FIG.
May be laminated on the surface opposite to the thin film 14 for pinholes.

【0016】さらに、図5に示すように、光学ガラス中
に色素等の不純物を溶融させたガラス板13aを用い、
これにピンホール用の薄膜14を積層するようにしても
よい。この場合、ガラス板13aが減光フィルタの役目
をし、減光フィルタを接着する工程を省くことができ
る。この図3から図5において、14aはピンホールと
なる小孔である。
Further, as shown in FIG. 5, a glass plate 13a in which impurities such as dyes are melted in optical glass is used.
A thin film 14 for pinholes may be laminated on this. In this case, the glass plate 13a functions as a neutral density filter, and the step of bonding the neutral density filter can be omitted. In FIGS. 3 to 5, reference numeral 14a denotes a small hole that becomes a pinhole.

【0017】図6は上記図1に示した共焦点光学装置の
拡大レンズ装置3とビームスプリッタ6の間に介装する
ピンホールに上記減光フィルタ付きのピンホール21を
置換して用いた実施の形態を示す。この場合の減光フィ
ルタはピンホール21を通る光路の下流側に位置するよ
うに配置する。
FIG. 6 shows an embodiment in which the pinhole 21 provided between the magnifying lens device 3 and the beam splitter 6 of the confocal optical device shown in FIG. Is shown. In this case, the neutral density filter is disposed so as to be located on the downstream side of the optical path passing through the pinhole 21.

【0018】この実施の形態では、ピンホール21より
出射した光で、このピンホール21より下流側の光学系
にて反射してピンホール21側へ戻った反射光は減光フ
ィルタ22にて減光されて、ピンホール21を構成する
ガラス板13内での上記反射光の乱反射が防止される。
In this embodiment, the light emitted from the pinhole 21 and reflected by the optical system downstream of the pinhole 21 and returned to the pinhole 21 side is reduced by the neutral density filter 22. The light is illuminated and irregular reflection of the reflected light in the glass plate 13 constituting the pinhole 21 is prevented.

【0019】この実施の形態において、ビームスプリッ
タ3と光検出器12との間に介装するピンホール11に
代えて上記減光フィルタ付きのピンホール21を、ビー
ムスプリッタ3側に減光フィルタを位置させて介装する
ようにしてもよい。この場合、このピンホール21を介
して光検出器12に入射する光のピンホール21のガラ
ス板13,13aでの乱反射が防止される。
In this embodiment, instead of the pinhole 11 interposed between the beam splitter 3 and the photodetector 12, a pinhole 21 with a dimming filter is provided, and a dimming filter is provided on the beam splitter 3 side. It may be positioned and interposed. In this case, irregular reflection of the light incident on the photodetector 12 through the pinhole 21 on the glass plates 13 and 13a of the pinhole 21 is prevented.

【0020】図7,図8は特開平8−152308号公
報にて開示されたホログラムを用いた共焦点光学装置に
上記減光フィルタ付きのピンホール21を用いた例を示
す。図7はホログラム25を露光する状態を示すもの
で、光源26から出射された光はビームスプリッタ27
で分岐され、その一方の光は第1の拡大レンズ装置28
にて拡大平行光となって参照光29としてホログラム2
5に斜め下方から入射される。他方の光は、第2の拡大
レンズ装置30にて拡大平行光となって減光フィルタ付
きのピンホール21に投光させ、各ピンホールアレイか
ら点光源が第1レンズ群31に投射され、これにより、
ホログラム25が露光されて記録される。
FIGS. 7 and 8 show an example in which the above-described pinhole 21 with a neutral density filter is used in a confocal optical device using a hologram disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 8-152308. FIG. 7 shows a state in which the hologram 25 is exposed, and the light emitted from the light source 26 is a beam splitter 27.
, And one of the lights is divided by the first magnifying lens device 28.
The hologram 2 becomes an enlarged parallel light as the reference light 29
5 is obliquely incident from below. The other light becomes enlarged parallel light by the second magnifying lens device 30 and is projected on the pinhole 21 with the neutral density filter. From each pinhole array, a point light source is projected on the first lens group 31, This allows
The hologram 25 is exposed and recorded.

【0021】上記ホログラム25への物体光の記録がさ
れたならば、図8に示すように、光源26′からの光を
拡大レンズ装置28′を介して参照光29′をホログラ
ム25に照射すると、このホログラム25に上記物体光
が再生され、この再生物体光32は、あたかも上方に図
7に示されるピンホール21のピンホールアレイが存在
するかのように、それと同等の光が、ホログラム25か
ら出射される。これが第2対物レンズ群33によって集
光され、点光源として被計測物体34に照射される。
After the object light is recorded on the hologram 25, as shown in FIG. 8, the light from the light source 26 'is irradiated with the reference light 29' to the hologram 25 via the magnifying lens device 28 '. The object light is reproduced on the hologram 25, and the reproduced object light 32 is transmitted to the hologram 25 as if the light equivalent thereto is as if a pinhole array of the pinholes 21 shown in FIG. Is emitted from. This is condensed by the second objective lens group 33, and is irradiated on the measured object 34 as a point light source.

【0022】そしてこの再生物体光32は被計測物体3
4に反射し、その反射光32′は、第2レンズ群33、
ホログラム25、第1レンズ群31′を透過し、ピンホ
ール21に投射され、これを通過する成分が光検出器ア
レイ35にて受光される。このとき、上記再生物体光3
2が被計測物体34の表面上で合焦している場合にの
み、共焦点光学系の原理から光検出器アレイ35の出力
が最大となる。このことから、このときに被計測物体3
4あるいは、第2レンズ群33を、X,Y,Z軸に沿っ
て移動することにより、被計測物体34の表面形状が測
定される。
The reproduced object beam 32 is the object 3 to be measured.
4, the reflected light 32 'is reflected by the second lens group 33,
The hologram 25 passes through the first lens group 31 ′, is projected on the pinhole 21, and the component passing therethrough is received by the photodetector array 35. At this time, the reproduction object beam 3
Only when the object 2 is focused on the surface of the measured object 34, the output of the photodetector array 35 becomes maximum from the principle of the confocal optical system. From this, at this time, the measured object 3
4 or by moving the second lens group 33 along the X, Y, and Z axes, the surface shape of the measured object 34 is measured.

【0023】このような共焦点光学装置において、ピン
ホールに、減光フィルタ付きのピンホール21を用いる
ことにより、第1レンズ群31,31′の表面とピンホ
ール21の下面との間で起こる乱反射を測定に支障のな
いレベルまで減少させることができる。
In such a confocal optical device, by using the pinhole 21 with a neutral density filter for the pinhole, the pinhole 21 occurs between the surfaces of the first lens groups 31 and 31 'and the lower surface of the pinhole 21. Diffuse reflection can be reduced to a level that does not interfere with the measurement.

【0024】図9は上記図8に示した共焦点光学装置の
他例を示すもので、ピンホールと光検出器アレイ35と
を離間し、これの間にリレーレンズ36を介装した構成
としている。これは、光検出器アレイ35の構造等によ
ってピンホールと密着できなかったり、光検出器アレイ
35とピンホールのピンホールアレイのピッチが異なる
場合に有効な技術であるが、この場合、やはり、ピンホ
ールを出射した光がリレーレンズ36との間で反射し、
散乱光が光検出器アレイ35に入るという問題がある。
FIG. 9 shows another example of the confocal optical device shown in FIG. 8, in which a pinhole and a photodetector array 35 are separated from each other, and a relay lens 36 is interposed therebetween. I have. This is an effective technique when the pinhole cannot be brought into close contact with the pinhole due to the structure of the photodetector array 35 or the pitch of the pinhole array of the photodetector array 35 differs from that of the pinhole array. Light emitted from the pinhole is reflected between the relay lens 36 and
There is a problem that scattered light enters the photodetector array 35.

【0025】この問題を解決するために、図9に示すよ
うに、ピンホールの下側のほかにリレーレンズ36に対
向する上側にも減光フィルタを設けた減光フィルタ付き
のピンホール21′を用いて、上側での乱反射光を減光
させるようにした。
In order to solve this problem, as shown in FIG. 9, a pinhole 21 'with a dimming filter provided with a dimming filter on the upper side facing the relay lens 36 in addition to the lower side of the pinhole. Is used to reduce the irregularly reflected light on the upper side.

【0026】図10,図11に本発明の別の実施の形態
を示す。図10において、41はレーザ光源、42は第
1レンズ、43はピンホール、44は第2レンズであ
り、これらによりレーザ光の雑成分を取り去るスペイシ
ャルフィルタ及びコリメータを構成している。
FIGS. 10 and 11 show another embodiment of the present invention. In FIG. 10, reference numeral 41 denotes a laser light source; 42, a first lens; 43, a pinhole; and 44, a second lens, which constitute a spatial filter and a collimator for removing a miscellaneous component of laser light.

【0027】この系においても、第2レンズ44の表面
から反射した光がピンホール43の表面で反射し、乱反
射を繰り返して反射光45となってピンホール43の小
孔43aの縁に到達することがたびたびある。スペイシ
ャルフィルタ用のピンホール43は非常に薄い金属箔な
どでできており、この反射光45が集中的に照射される
ことによって、上記小孔43aの縁が溶融してしまうと
いう問題があった。
Also in this system, the light reflected from the surface of the second lens 44 is reflected on the surface of the pinhole 43 and repeats irregular reflection to become reflected light 45 which reaches the edge of the small hole 43a of the pinhole 43. I often do. The pinhole 43 for the spatial filter is made of a very thin metal foil or the like, and there is a problem that the edge of the small hole 43a is melted by intensive irradiation of the reflected light 45. .

【0028】この問題を解決するために、図11に示す
ように、ピンホール43の背後に減光フィルタ22を配
置し、反射光45の強度を減少させる。これにより、ピ
ンホール43の小孔43aの縁が溶融することがなく、
ピンホール43の寿命を延長させることができた。
To solve this problem, as shown in FIG. 11, the dimming filter 22 is arranged behind the pinhole 43 to reduce the intensity of the reflected light 45. Thereby, the edge of the small hole 43a of the pinhole 43 does not melt,
The life of the pinhole 43 could be extended.

【0029】また別の実施の形態として、図12に示す
ように、第1レンズ42とピンホール43の間で反射し
た反射光46がピンホール43を損傷するのを防ぐため
に、ピンホール43の入射光側に減光フィルタ22を設
けるようにしたものもある。図示しないが、ピンホール
43の両側に減光フィルタ22を設ければ効果はなお高
い。この減光フィルタはピンホールの反射光の入射をき
らう面側に配置する。
As another embodiment, as shown in FIG. 12, in order to prevent the reflected light 46 reflected between the first lens 42 and the pinhole 43 from damaging the pinhole 43, In some cases, a neutral density filter 22 is provided on the incident light side. Although not shown, the effect is still higher if the neutral density filter 22 is provided on both sides of the pinhole 43. This neutral density filter is disposed on the surface of the pinhole on which the reflected light is not incident.

【0030】上述した各実施の形態では、減光フィルタ
22を、ピンホールの全面に配置した例を示したが、レ
ーザ光等の光が強力な場合には集光された光によって減
光フィルタが損傷する場合もあり、減光フィルタ22の
ピンホールの小孔に対応する部分に小孔を穿孔したり、
そこだけ、減光フィルタの製造過程でマスキングする等
により、透明な光学ガラスにしてもよい。この構成にす
れば、ピンホールを透過した点状の光は減光フィルタに
よって減衰されることがなくなる。また、上記点状の光
によって減光フィルタが損傷するのを防止できる。
In each of the embodiments described above, the example in which the neutral density filter 22 is disposed on the entire surface of the pinhole has been described. However, when the light such as laser light is strong, the neutral density filter 22 is formed by the condensed light. May be damaged, a small hole may be formed in a portion corresponding to the small hole of the pinhole of the neutral density filter 22,
Therefore, a transparent optical glass may be formed by masking in the manufacturing process of the neutral density filter. With this configuration, the point light transmitted through the pinhole is not attenuated by the neutral density filter. Further, it is possible to prevent the neutral density filter from being damaged by the point light.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】従来のピンホールを用いた共焦点光学装置を示
す説明図である。
FIG. 1 is an explanatory diagram showing a conventional confocal optical device using a pinhole.

【図2】従来のピンホールを示す断面図である。FIG. 2 is a sectional view showing a conventional pinhole.

【図3】本発明に係るピンホールの一例を示す断面図で
ある。
FIG. 3 is a sectional view showing an example of a pinhole according to the present invention.

【図4】本発明に係るピンホールの他例を示す断面図で
ある。
FIG. 4 is a sectional view showing another example of the pinhole according to the present invention.

【図5】本発明に係るピンホールの他例を示す断面図で
ある。
FIG. 5 is a sectional view showing another example of the pinhole according to the present invention.

【図6】本発明に係るピンホールを用いた共焦点光学装
置を示す説明図である。
FIG. 6 is an explanatory view showing a confocal optical device using a pinhole according to the present invention.

【図7】ホログラムを用いる共焦点光学装置のホログラ
ムに本発明に係るピンホールを用いて露光する様子を示
す説明図である。
FIG. 7 is an explanatory diagram showing how a hologram of a confocal optical device using a hologram is exposed using a pinhole according to the present invention.

【図8】ホログラムを用いる共焦点光学装置に本発明に
係るピンホールを用いた例を示す説明図である。
FIG. 8 is an explanatory diagram showing an example in which a pinhole according to the present invention is used in a confocal optical device using a hologram.

【図9】ホログラムを用いる共焦点光学装置に本発明に
係るピンホールを用いた例を示す説明図である。
FIG. 9 is an explanatory diagram showing an example in which a pinhole according to the present invention is used in a confocal optical device using a hologram.

【図10】スペイシャルフィルタを示す説明図である。FIG. 10 is an explanatory diagram showing a spatial filter.

【図11】スペイシャルフィルタに本発明に係るピンホ
ールを用いた例を示す説明図である。
FIG. 11 is an explanatory diagram showing an example in which a pinhole according to the present invention is used for a spatial filter.

【図12】スペイシャルフィルタに本発明に係るピンホ
ールを用いた例を示す説明図である。
FIG. 12 is an explanatory diagram showing an example in which a pinhole according to the present invention is used for a spatial filter.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1,26,26′…光源 3…拡大レンズ 4,11,14,21,21′,43…ピンホール 4a,14a,43a…小孔 6,27…ビームスプリッタ 9,34…被計測物体 12…光検出器 13,13a…ガラス板 14…薄膜 22…減光フィルタ 25…ホログラム 35…光検出器アレイ 41…レーザ光源 42…レンズ 45,46…反射光 1, 26, 26 'light source 3 magnifying lens 4, 11, 14, 21, 21', 43 pinhole 4a, 14a, 43a small hole 6, 27 beam splitter 9, 34 object to be measured 12 ... Photodetectors 13, 13a Glass plate 14 Thin film 22 Light-reducing filter 25 Hologram 35 Photodetector array 41 Laser light source 42 Lens 45, 46 Reflected light

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 若井 秀之 神奈川県平塚市万田1200 株式会社小松製 作所研究所内 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuing on the front page (72) Inventor Hideyuki Wakai 1200 Manda, Hiratsuka-shi, Kanagawa Prefecture, Komatsu Ltd.

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 ガラス板の一面に小孔を有する薄膜を設
けてなるピンホールの上記薄膜とガラス板の間、あるい
はガラス板の他面のいずれか一方に減光フィルタを設け
たことを特徴とするピンホール。
1. A light-reducing filter is provided between a glass plate and a thin film having pinholes on one surface of a glass plate, or between the thin film and the glass plate, or on the other surface of the glass plate. Pinhole.
【請求項2】 ガラス板の一面に小孔を有する薄膜を設
けてなるピンホールの上記ガラス板中に色素等の不純物
を溶融させて、このガラス板を減光フィルタにしたこと
を特徴とするピンホール。
2. A pinhole comprising a thin film having a small hole formed on one surface of a glass plate, wherein impurities such as a dye are melted in the glass plate to form a glass filter as a neutral density filter. Pinhole.
【請求項3】 請求項1または2記載のピンホールにお
いて、減光フィルタのピンホールの小孔に対応する部分
に、光透過用の窓を開けたことを特徴とするピンホー
ル。
3. The pinhole according to claim 1, wherein a window for light transmission is opened in a portion corresponding to the small hole of the pinhole of the neutral density filter.
【請求項4】 光源からの光を投光側のピンホールを介
してビームスプリッタを通過し、レンズ群を経て集光し
て被計測物体に照射し、その反射光を上記レンズ群、ビ
ームスプリッタを経て受光側のピンホールを介して光検
出器アレイに入射するようにした共焦点光学装置の上記
両ピンホールのうち、少なくとも投光側のピンホールの
少なくとも光の透過方向の一側に減光フィルタを介装し
たことを特徴とする共焦点光学装置。
4. A light from a light source passes through a beam splitter through a pinhole on a light projecting side, is condensed through a lens group, and irradiates an object to be measured. Out of the two pinholes of the confocal optical device that is made to enter the photodetector array via the pinhole on the light receiving side through at least one of the pinholes on the light projecting side to at least one side in the light transmission direction. A confocal optical device comprising an optical filter.
【請求項5】 ホログラムに参照光と共に、ピンホール
を介して物体光を入射することによりホログラムを露光
するホログラム露光装置の、上記ピンホールの光透過方
向の少なくとも一側に減光フィルタを設けたことを特徴
とするホログラム露光装置。
5. A hologram exposure apparatus for exposing a hologram by injecting object light through a pinhole together with reference light to the hologram, wherein a light-reducing filter is provided on at least one side in the light transmission direction of the pinhole. A hologram exposure apparatus characterized by the above-mentioned.
【請求項6】 参照光を入射すると共に、ピンホールを
介して物体光を入射して露光されたホログラムに、参照
光を入射させ、この参照光にて再生した物体光を被計測
物体に集光して入射し、その反射光をホログラムを透過
してピンホールを介して光検出器アレイに入射するよう
にした共焦点光学装置の、上記各ピンホールの光の透過
方向の少なくとも一側に減光フィルタを設けたことを特
徴とする共焦点光学装置。
6. A reference light is made incident, object light is made incident via a pinhole, object light is made incident on the hologram exposed, and the object light reproduced by the reference light is collected on an object to be measured. The confocal optical device is configured to transmit light, enter the light, and transmit the reflected light through the hologram to the photodetector array via the pinhole. A confocal optical device comprising a neutral density filter.
【請求項7】 ホログラムに参照光を入射すると共に、
物体光をピンホールを介して入射することによりホログ
ラムを作成する際に、ピンホールの光透過方向の一側に
減光フィルタを設けたことを特徴とするホログラム作成
方法。
7. A hologram in which a reference beam is incident,
A hologram creation method, comprising: providing a neutral density filter on one side of a light transmission direction of a pinhole when creating a hologram by injecting object light through a pinhole.
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103645034A (en) * 2013-11-28 2014-03-19 上海华力微电子有限公司 An integrated projection optics tester pin hole and an integrated projection optics tester
WO2019082727A1 (en) * 2017-10-24 2019-05-02 キヤノン株式会社 Exposure device and method for manufacturing articles
US11099488B2 (en) 2017-10-24 2021-08-24 Canon Kabushiki Kaisha Exposure apparatus and article manufacturing method

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