JPH10243292A - Method and device for correcting dispersion in ir fpa - Google Patents

Method and device for correcting dispersion in ir fpa

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JPH10243292A
JPH10243292A JP9043106A JP4310697A JPH10243292A JP H10243292 A JPH10243292 A JP H10243292A JP 9043106 A JP9043106 A JP 9043106A JP 4310697 A JP4310697 A JP 4310697A JP H10243292 A JPH10243292 A JP H10243292A
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JP
Japan
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size
unit
local
local area
calibration data
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP9043106A
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Japanese (ja)
Inventor
Osamu Nakamura
理 中村
Kenji Nagabuchi
健治 永渕
Hiroki Shitamae
弘樹 下前
Masaki Kamata
政樹 蒲田
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Publication date
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Withdrawn legal-status Critical Current

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  • Aiming, Guidance, Guns With A Light Source, Armor, Camouflage, And Targets (AREA)
  • Image Processing (AREA)
  • Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To improve precision of calibrated data and to prevent a scene component from being intruded in the calibrated data by sampling a local area of a size required to generate the calibrated data, evaluating a degree of an amount of the scene component included in a distribution of output levels of elements in the area and generating the calibrated data, while reducing the size of the local area depending on the magnitude of the evaluation result. SOLUTION: Results of calculation by each of size mean value calculation sections 20-1-20-n in a calibration data generating section 2, that is a part for conducting real time correction processing in a sensitivity correction circuit, are given to a size selection section 21. On the other hand, each calculation result by area homogeneous degree calculation sections 30-1-30-n in an area homogeneous degree evaluation section 3 is compared with each threshold value of a size-depending homogeneous degree threshold value setting memory 31 at each of comparator sections 32, a proper size decision section 33 decides a proper size, and the result is outputted to a size selection section 21 as size information. Then one of proper sizes is selected, based on this information and a corresponding local area mean value is fed to an adder 22.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は赤外線検知器,特に
二次元IRFPA(InfraRed Focal Plane Array:赤外
線焦点面アレイ)の出力信号のレベルのばらつきの補正
方法及び装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method and an apparatus for correcting variations in the level of an output signal of an infrared detector, in particular, a two-dimensional IRFPA (Infrared Focal Plane Array).

【0002】温度分布を検出する赤外線検知器は誘導装
置等で利用され,赤外線の二次元画像により目標検知を
行うのに適した二次元IRFPAが開発されてきてい
る。二次元IRFPA赤外線検出器を使用してシーン
(景色:scene)の赤外線画像データを取得する場合,検
知器を構成する二次元に配列した赤外線検知素子を電気
的に走査することによりシーン各点の赤外線強度に対応
した出力信号が発生し,赤外線画像が形成される。とこ
ろが,二次元IRFPA赤外線検知器では,検知素子毎
の入出力特性にばらつきが残り,その結果,各素子に均
一な強度の赤外線入力が入っても各素子からの出力信号
がばらつくことになる。このような素子毎の出力信号の
ばらつきは,固定パターンノイズ(FPN:Fixed Patt
ern Noise)と呼ばれ, 出力信号の時間的変動を表すテン
ポラノイズと共に, 赤外線画像の品質を劣化させるノイ
ズの要因となる。
[0002] An infrared detector for detecting a temperature distribution is used in a guidance device or the like, and a two-dimensional IRFPA suitable for performing target detection by a two-dimensional infrared image has been developed. When acquiring infrared image data of a scene (scene) using a two-dimensional IRFPA infrared detector, each point of the scene is electrically scanned by two-dimensionally arranged infrared detecting elements constituting the detector. An output signal corresponding to the infrared intensity is generated, and an infrared image is formed. However, in the two-dimensional IRFPA infrared detector, the input / output characteristics of each detection element still vary, and as a result, the output signal from each element varies even if an infrared input with a uniform intensity enters each element. Such variations in the output signal of each element are caused by fixed pattern noise (FPN: Fixed Patt
ern Noise), which together with the temporary noise that indicates the temporal fluctuation of the output signal, is a factor of noise that degrades the quality of the infrared image.

【0003】特に,一部の感度の低いタイプを除く二次
元IRFPA赤外線検知器では,上記FPNが画像品質
の支配的要因となっており,効果的にFPNを除去する
ことが望まれている。
In particular, in a two-dimensional IRFPA infrared detector excluding some low-sensitivity types, the FPN is a dominant factor in image quality, and it is desired to effectively remove the FPN.

【0004】[0004]

【従来の技術】FPN(固定パターンノイズ)低減のた
めに,素子の入出力特性を揃える信号処理方法は一般に
感度補正,またはばらつき補正と呼ばれる。
2. Description of the Related Art In order to reduce FPN (fixed pattern noise), a signal processing method for making the input / output characteristics of elements uniform is generally called sensitivity correction or variation correction.

【0005】素子毎の入出力特性のばらつきには,基本
的に経時変化をしない静的特性のばらつきと,経時変化
を示すばらつきの2つの要素がある。経時変化をしない
要素については,感度補正用の校正データを製造試験の
段階で精密に作成することができ,そのデータをROM
(Read Only Memory) に格納し,それを読み出して感度
補正の計算を行うことができる。一方,経時変化を示す
要素は,IRFPAの動作条件の変動やシーン入力レベ
ルの変化によりばらつき要因が増減するため,使用時に
リアルタイムに感度補正を行う必要がある。リアルタイ
ム感度補正では,校正データを如何に作成するか,即
ち,時々刻々に変化するシーンからの各素子への入力が
ある中で,シーン信号を極力変質させることなく素子毎
の特性ばらつきを補正するために校正データを如何に作
成するかが重要な課題となる。
There are two factors in the variation of the input / output characteristics for each element: a variation in static characteristics that does not basically change with time, and a variation that indicates a change with time. For elements that do not change over time, calibration data for sensitivity correction can be precisely created at the stage of manufacturing test, and the data is stored in ROM.
(Read Only Memory) and read it out to calculate sensitivity correction. On the other hand, as for the element indicating the change with time, the variation factor increases or decreases due to the change in the operating condition of the IRFPA or the change in the scene input level. Therefore, it is necessary to perform the sensitivity correction in real time during use. In the real-time sensitivity correction, how to create calibration data, that is, in the presence of an input to each element from a scene that changes every moment, the characteristic variation of each element is corrected without changing the scene signal as much as possible. Therefore, how to create calibration data is an important issue.

【0006】図8は本発明が適用される赤外線センサの
ブロック構成である。図8において,80は赤外線セン
サ,81はレンズを含む光学系,82は赤外線検知素子
を二次元平面に配列したIRFPA,83は光学系とI
RFPAを含む部分を上下・左右及び回転等の動作をさ
せるために駆動するジンバル制御部,84はIRFPA
82の各素子の出力信号(アナログ信号)をディジタル
信号に変換するA/D変換部,85は感度補正回路,8
50は多点補正部,851は校正用ROM,852はリ
アルタイム補正処理部,853はオフセット補正部,8
54は校正データ演算部,86は目標抽出部である。
FIG. 8 is a block diagram of an infrared sensor to which the present invention is applied. 8, reference numeral 80 denotes an infrared sensor; 81, an optical system including a lens; 82, an IRFPA in which infrared detecting elements are arranged in a two-dimensional plane;
A gimbal control unit that drives a portion including the RFPA to perform operations such as up / down, left / right, and rotation, and 84 is an IRFPA
An A / D converter 82 converts an output signal (analog signal) of each element into a digital signal. Reference numeral 85 denotes a sensitivity correction circuit.
50 is a multi-point correction unit, 851 is a calibration ROM, 852 is a real-time correction processing unit, 853 is an offset correction unit, 8
Reference numeral 54 denotes a calibration data calculation unit, and 86 denotes a target extraction unit.

【0007】光学系81とIRFPA82を含む部分
は,目標物を検出または追尾するための特定方向のシー
ンに向けて上下,左右,回転の運動をジンバル制御部8
3の制御による行われる。図の例では,時間1〜時間4
の各時間の経過に対応してシーンが回転走査される様子
を示す。なお,赤外線センサによる目標抽出の対象とな
るシーンとしては,雲や飛行物体を含む天空,波を含む
海面または人工物を含む地上等種々のシーンがある。
The portion including the optical system 81 and the IRFPA 82 controls the gimbal control unit 8 to move vertically, horizontally, and rotationally toward a scene in a specific direction for detecting or tracking a target.
3 is performed. In the example of the figure, time 1 to time 4
Shows how the scene is rotated and scanned in response to the lapse of time. In addition, as a scene from which a target is extracted by the infrared sensor, there are various scenes such as a sky including clouds and flying objects, a sea surface including waves, and a ground including artificial objects.

【0008】IRFPA82の平面状に配置(例えば1
25素子×125素子)された各赤外線検知素子は光学
系から入力されたそれぞれの赤外線の強度に対応する信
号を出力する。各素子の出力信号は,シーンからの赤外
線放射レベルの絶対値に対応する直流成分を有し,その
一方でシーンの細部情報を識別するには,この直流成分
の1/1000以下の信号差を分解する必要がある。し
かし,検知素子毎にレスポンシビリティが例えば,0.
1%ばらつくと,このばらつきによる「信号差」が分解
したいシーン信号差1/1000と等価になる。IRF
PAの素子毎のばらつきを0.1%以下に抑えるのは容
易なことではなく,そのためIRFPAを使用する赤外
線センサでは以下に説明する感度補正が行われる。
The IRFPA 82 is arranged on a plane (for example, 1
Each of the 25 infrared detecting elements (25 elements × 125 elements) outputs a signal corresponding to the intensity of each infrared ray input from the optical system. The output signal of each element has a DC component corresponding to the absolute value of the infrared radiation level from the scene, while a signal difference of 1/1000 or less of this DC component is used to identify the detailed information of the scene. Need to be disassembled. However, the responsivity is, for example, 0.
If there is a 1% variation, the "signal difference" due to this variation is equivalent to 1/1000 of the scene signal difference to be resolved. IRF
It is not easy to keep the variation of PA from 0.1% or less to each element, and therefore, the sensitivity correction described below is performed in an infrared sensor using IRFPA.

【0009】IRFPA82の出力信号(赤外線放射レ
ベルの絶対値に対応)は,A/D変換部84でディジタ
ル信号に変換され,感度補正回路85へ供給される。感
度補正回路85では,最初に上記に説明した経時変化を
しないばらつきである静的感度ばらつきを補正するた
め,静的感度補正用の校正データが格納された校正用R
OM851を用いて,各素子に対応する出力データを多
点補正部850において補正を行い,静的補正が行われ
たデータは,次にリアルタイム補正処理部852におい
て経時変化を示すばらつきの要素を補正するためリアル
タイム補正が行われる。このリアルタイム補正処理の内
容は後述する図9に示すが,校正データ演算部854で
演算を行って得られた校正データにより多点補正部85
0からのデータをオフセット補正部853で補正し,赤
外線画像データが出力され,このデータから目標抽出部
86で目標が抽出される。
The output signal of the IRFPA 82 (corresponding to the absolute value of the infrared radiation level) is converted to a digital signal by an A / D converter 84 and supplied to a sensitivity correction circuit 85. The sensitivity correction circuit 85 first corrects the static sensitivity variation, which is the variation that does not change with time described above, in order to correct the static sensitivity variation.
Using the OM 851, output data corresponding to each element is corrected by the multi-point correction unit 850, and the data subjected to the static correction is then corrected by the real-time correction processing unit 852 for an element of variation showing a temporal change. Real-time correction is performed. The contents of this real-time correction processing are shown in FIG. 9 described later, and the multi-point correction unit 85 is calculated based on the calibration data obtained by performing the calculation in the calibration data calculation unit 854.
The data from 0 is corrected by the offset correction unit 853, infrared image data is output, and a target is extracted from the data by the target extraction unit 86.

【0010】図9は従来のリアルタイム補正処理の構成
を示し,ここに示す方法が最も効果的なものとして知ら
れている。図9において,90は平滑化部,96は校正
データ作成部であり,この90,96を合わせた構成が
上記図8の校正データ演算部854に対応し,図9の9
9は図8のオフセット補正部853に対応する。
FIG. 9 shows the configuration of a conventional real-time correction process, and the method shown here is known to be the most effective. In FIG. 9, reference numeral 90 denotes a smoothing unit, and reference numeral 96 denotes a calibration data creation unit. The configuration combining these 90 and 96 corresponds to the calibration data calculation unit 854 in FIG.
Reference numeral 9 corresponds to the offset correction unit 853 in FIG.

【0011】図9の方法では,任意の1素子に着目した
時,その素子の出力レベルが近傍(周辺)の素子の出力
レベルと異なる時,その差異が素子特性のばらつきによ
るものと捉え,注目素子の出力レベルと近傍局所領域の
素子の出力の平均値の差を校正データとすることにあ
る。
In the method shown in FIG. 9, when attention is paid to an arbitrary element, and when the output level of the element is different from the output level of a nearby (peripheral) element, the difference is considered to be due to the variation in element characteristics. The difference between the output level of the element and the average value of the output of the element in the vicinity local area is defined as calibration data.

【0012】詳細を説明すると,図8の多点補正部85
0で静的補正が行われた結果であるフレーム番号fの画
素番号iの多点補正データdi (f) が平滑化部90へ入
力すると加算器91,除算器92,加算器93で前のフ
レーム(フレーム番号f−1)の同じ画素番号iの平滑
化データCi (f-1) と減算,除算,加算されて,平滑化
されたフレーム番号fの画素番号iのデータCi (f) が
得られてフレーム番号f用のフレームメモリ94の対応
する位置に格納される。フレーム番号f用のフレームメ
モリ94の内容は,フレームが変わるとフレーム番号f
−1用のフレームメモリ95に転送される。
More specifically, the multi-point correction unit 85 shown in FIG.
0 at multiple points of the pixel number i of frame number f is a static result of the correction is performed correction data d i (f) and is input to the smoothing unit 90 adder 91, a divider 92, prior to the adder 93 frame subtraction and (frame number f-1) of the smoothed data C i of the same pixel number i (f-1), division, are added, the pixel number i of the smoothed frame number f data C i ( f) is obtained and stored in the corresponding position of the frame memory 94 for the frame number f. The contents of the frame memory 94 for the frame number f indicate that the frame number f
-1 is transferred to the frame memory 95.

【0013】この平滑化部90は,各素子の予め設定さ
れた一定時間(平滑化時定数T)の経過に対応する出力
信号の変動をその一定時間の平均的レベルに平滑化す
る。これは前のフレームまでの平滑化データと現在のフ
レームの同じ素子の出力信号の差を加算器91で求め
て,その差を除算器92において時間Tで除算し,その
除算結果を前のフレームまでの平滑化データに加算器9
3で加算することによって現在フレームの平滑化データ
が得られ,この平滑化データはfフレーム用のメモリ9
4に格納される。この時の平滑化時定数Tは,複数のフ
レーム数の時間,例えば32フレームの時間が用いられ
る。
The smoothing section 90 smoothes the fluctuation of the output signal corresponding to the elapse of a predetermined time (smoothing time constant T) of each element to an average level during the predetermined time. This is because the difference between the smoothed data up to the previous frame and the output signal of the same element in the current frame is obtained by the adder 91, the difference is divided by the time T in the divider 92, and the result of the division is calculated by the previous frame. Adder 9 to the smoothed data up to
3, the smoothed data of the current frame is obtained, and the smoothed data is stored in the memory 9 for the f frame.
4 is stored. As the smoothing time constant T at this time, a time of a plurality of frames, for example, a time of 32 frames is used.

【0014】こうして,各画素のばらつき(FPN)の
シーンの変化に対応して起因する変動(経時的な変化)
を吸収する。一方,校正データ作成部96では,フレー
ムメモリ95からフレーム番号(f−1)の画素番号i
の平滑化されたデータCi (f-1) が入力されると,局所
平均部97において画素番号iの周囲の素子(画素に対
応)の平滑化データにより平均化を行う。この平均化を
図10に示す平均化の説明図により説明する。
In this way, the variation (FPN) of each pixel caused by the change of the scene (change over time)
Absorb. On the other hand, in the calibration data creation unit 96, the pixel number i of the frame number (f-1) is stored in the frame memory 95.
When the smoothed data C i (f-1) is input, performs averaging by the smoothing data of the element surrounding the pixel number i in the local averaging unit 97 (corresponding to a pixel). This averaging will be described with reference to FIG.

【0015】図10のA.に示すIRFPAを構成する
多数の素子(この例では,125個×125個)の中
の,注目する画素番号i(素子iに対応)について,
B.に示すようにその周辺の局所領域として3×3(=
9個)の画素を抽出する。この局所領域の各画素(素
子)にi−4,…,i,…i+4の番号を付与する。
FIG. Of the target pixel number i (corresponding to the element i) among a number of elements (125 × 125 in this example) constituting the IRFPA shown in FIG.
B. As shown in FIG. 3, 3 × 3 (=
9) pixels are extracted. Each of the pixels (elements) in the local area is assigned a number of i-4,..., I,.

【0016】図10のC.に斜線が施されているよう
に,この局所領域の注目領域の画素iを除く8個の画素
の平滑化データを取り出して加算し,加算結果を8で割
ることにより局所領域の平均値である局所平均データ,
即ち図9の局所平均部97の出力ri (f-1) が求められ
る。このフレームf−1の局所平均データri (f-1) か
ら上記のフレームメモリ95からの注目画素の平滑化デ
ータdi (f-1) を図9の演算部98で減算することによ
り周辺との差分が校正データRi (f) として求められ
る。この校正データを演算部99において多点補正デー
タdi (f) と加算することで,静的補正とリアルタイム
補正の両方の補正が行われた補正出力データDi (f) が
得られる。
FIG. , The smoothed data of the eight pixels except for the pixel i of the attention area of the local area is extracted and added, and the result of addition is divided by 8 to obtain the average value of the local area. Local average data,
That is, the output r i (f−1) of the local averaging unit 97 in FIG. 9 is obtained. By subtracting the smoothed data d i (f-1) of the pixel of interest from the frame memory 95 from the local average data r i (f-1) of the frame f-1 by the operation unit 98 in FIG. Is obtained as calibration data R i (f). The calibration data by adding a multi-point correction data d i (f) in the arithmetic unit 99, the correction of both static correction and real-time correction has been performed corrected output data D i (f) is obtained.

【0017】補正出力データDi (f) ,校正データRi
(f) ,局所平均データri (f-1) 及び平均化データCi
(f-1) の各演算式を次の各式により表すことができる。
但し,nは局所領域サイズ(素子数)であり,図10の
例ではn=9である。
The corrected output data D i (f) and the calibration data R i
(f), local average data r i (f-1) and averaged data C i
Each operation expression of (f-1) can be expressed by the following expressions.
Here, n is the local area size (number of elements), and n = 9 in the example of FIG.

【0018】[0018]

【数1】 (Equation 1)

【0019】上記図9に示す方法では,校正データの作
成において,検知素子からの出力信号そのものを使用せ
ず,時間軸上で平滑化した出力信号を使用して演算して
いるが,これは直接の出力信号では検知素子毎の出力レ
ベル分布は入力シーンの赤外線強度分布に対応した成分
(シーン成分と呼ぶ)が支配的になるが,平滑後の出力
信号では,シーンが静止でなく運動していれば,または
IRFPAの視軸を走査し実質的にシーンを運動させれ
ば,シーンからの出力信号は平滑化操作によって減衰さ
れ,検知素子毎の出力信号のレベル分布は主としてFP
N(固定パターンノイズ)成分によるものとなる。
In the method shown in FIG. 9, the calibration data is created by using the output signal smoothed on the time axis without using the output signal itself from the detection element. In the direct output signal, the output level distribution of each sensing element is dominated by the component corresponding to the infrared intensity distribution of the input scene (referred to as scene component), but in the output signal after smoothing, the scene moves not stationary but moves. If it is, or if the scene is moved by scanning the visual axis of the IRFPA, the output signal from the scene is attenuated by the smoothing operation, and the level distribution of the output signal for each sensing element is mainly FP.
This is due to N (fixed pattern noise) components.

【0020】[0020]

【発明が解決しようとする課題】上記の従来の方法で
は,校正データを作成する際の近傍局所領域が1種類で
あって固定的であるため,校正データの精度とシーン成
分の再現性に次の,に述べるような問題があった。
In the above-mentioned conventional method, since the local local area when generating the calibration data is one type and is fixed, the accuracy of the calibration data and the reproducibility of the scene components are second. However, there was a problem as described in.

【0021】校正データの精度を向上するためには近
傍局所領域として広い範囲の領域を取り,より多くの素
子の出力レベルの平均値を基準として校正データを作成
する必要な場合がある。何故なら,広い局所領域につい
て平均値を取ると,局所領域毎の平均値のばらつきは小
さくなるが,局所領域が狭く平均化する素子の数が少な
くなると,局所領域毎の平均値のばらつきが大きくなる
ためである。すなわち,素子の出力レベルがランダムに
分布する場合,その中のn個の素子の出力レベルの平均
値をとると,その平均値のばらつきはnの平方根に比例
して減少する。
In order to improve the accuracy of the calibration data, it may be necessary to take a wide area as a local area in the vicinity and to create the calibration data based on the average value of the output levels of more elements. The reason is that when the average value is obtained for a wide local region, the average value variation for each local region is small, but when the local region is narrow and the number of elements to be averaged is small, the average value variation for each local region is large. It is because it becomes. That is, when the output levels of the elements are randomly distributed, if the average value of the output levels of n elements is taken, the variation in the average value decreases in proportion to the square root of n.

【0022】一方,校正データを作成する局所領域の
範囲を広くすると,その領域内の素子の出力レベルの分
布にはFPN成分に比較して相対的にシーン成分の分布
が大きくなる。その結果,領域内の素子の出力レベルの
平均値を基準として作成する校正データにシーン成分の
影響が残ることになる。校正データは素子出力信号その
ものではなく,平滑化した信号を使用して作成されるた
め,校正データ中に残留するシーン成分は,実際のシー
ン情報とは異なるものであり,そのため,シーン情報が
混入した校正データを使用して補正演算をすると,補正
出力の中に実際のシーン情報とは異なる偽情報が混入す
ることになる。
On the other hand, when the range of the local region for which the calibration data is created is widened, the distribution of the output level of the elements in the region becomes larger in the distribution of the scene component than in the FPN component. As a result, the influence of the scene component remains in the calibration data created based on the average value of the output levels of the elements in the area. Since the calibration data is created using the smoothed signal instead of the element output signal itself, the scene components remaining in the calibration data are different from the actual scene information, so the scene information is mixed. When the correction operation is performed using the corrected calibration data, false information different from the actual scene information is mixed in the correction output.

【0023】なお,平滑化の時定数を大きくすれば,シ
ーン成分は充分に減衰し,校正データ中にシーン成分が
混入するのを防止できるが,時定数を大きくすると校正
データと実際の検知素子出力信号との時間差(ディレ
イ)が大きくなる。その結果,作成された校正データが
その時点での検知素子出力信号を補正するための校正デ
ータとしては適合しなくなるという問題がある。
If the time constant of the smoothing is increased, the scene components are sufficiently attenuated and it is possible to prevent the scene components from being mixed in the calibration data. The time difference (delay) from the output signal increases. As a result, there is a problem that the created calibration data does not match as calibration data for correcting the output signal of the sensing element at that time.

【0024】本発明は上記の問題を解決し,校正データ
の高精度化(高精度の補正)と校正データ中へのシーン
成分の混入の防止の両方を実現できるIRFPAのばら
つき補正方法及びIRFPAのばらつき補正を行う装置
を提供することを目的とする。
The present invention solves the above-mentioned problems, and realizes both a method of correcting variation in IRFPA and a method of correcting variation in IRFPA, which can realize both high precision (high precision correction) of calibration data and prevention of mixing of scene components into calibration data. An object of the present invention is to provide an apparatus for performing variation correction.

【0025】[0025]

【課題を解決するための手段】本発明は最初に十分に高
精度の校正データを作成するのに必要なサイズの局所領
域を取り,そのサイズの局所領域について,領域内素子
の出力レベルの分布に含まれるシーン成分の程度を評価
し,シーン成分が無視できる程度に小さい場合には,そ
のサイズの局所領域を使用して校正データを作成し,シ
ーン成分が無視できない程度に大きいと,局所領域のサ
イズをシーン成分が無視できる程度に小さくし,この小
さくした局所領域を用いて校正データを作成する。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention first takes a local region of a size necessary to generate sufficiently high-precision calibration data and, for the local region of that size, distributes the output level of elements in the region. Is evaluated, and if the scene components are small enough to be ignored, calibration data is created using a local region of that size. If the scene components are large enough to be ignored, the local region Is reduced to such a degree that the scene components can be ignored, and calibration data is created using the reduced local region.

【0026】図1は本発明の原理構成図である。図1の
原理構成は感度補正回路(図8の85)の中の本発明に
よるリアルタイム補正処理を行う構成だけ示し,その入
力は経時変化をしない静的特性のばらつきの補正を行う
従来と同様の図示省略された多点補正部(図8の85
0)で補正された多点補正データである。
FIG. 1 is a diagram showing the principle of the present invention. The principle configuration of FIG. 1 shows only the configuration for performing the real-time correction processing according to the present invention in the sensitivity correction circuit (85 in FIG. 8), and the input thereof is the same as the conventional configuration for correcting the variation in static characteristics that does not change with time. A multipoint correction unit (85 in FIG. 8) not shown
0) is the multipoint correction data corrected.

【0027】図1において,1は従来と同様の構成を備
える平滑化部(図9の90),2は校正データ作成部,
2aは各サイズ対応領域内平均値算出手段,2bはサイ
ズ選択手段,2cは加算手段,3は領域均質度評価部,
3aは各サイズ対応均質度算出手段,3bは各サイズ対
応均質度閾値格納手段,3cは各サイズ対応の均質度を
対応する閾値と比較して適正サイズを決定する評価手
段,3dは記憶手段,4は補正部である。
In FIG. 1, reference numeral 1 denotes a smoothing unit (90 in FIG. 9) having a configuration similar to the conventional one, 2 denotes a calibration data creation unit,
2a is an average value calculating means for each size corresponding area, 2b is a size selecting means, 2c is an adding means, 3 is an area homogeneity evaluation unit,
3a is each size corresponding homogeneity calculating means, 3b is each size corresponding homogeneity threshold storage means, 3c is evaluation means for comparing the homogeneity corresponding to each size with the corresponding threshold to determine an appropriate size, 3d is storage means, Reference numeral 4 denotes a correction unit.

【0028】本発明では,平滑化部1において多点補正
データについて時間的に平滑化した画像データを作成
し,各画素の平滑化データについて,複数種のサイズ対
応の局所領域(例えば,3×3,5×5,7×7等)内
の平均値(注目する中心の画素を除いた平均値)を各サ
イズ対応領域内平均値算出手段2aにより算出する。
In the present invention, image data obtained by temporally smoothing the multi-point correction data in the smoothing unit 1 is created, and a plurality of sizes of local regions (for example, 3 ×) are obtained for the smoothed data of each pixel. The average value (average value excluding the pixel at the center of interest) within 3, 5, 5 x 5, 7 x 7, etc.) is calculated by each size corresponding region average value calculation means 2a.

【0029】一方,領域均質度評価部3において,各素
子毎に複数種のサイズ対応の局所領域内の領域均質度を
各サイズ対応均質度算出手段3aで求める。この計算
は,その局所領域内の信号レベルのばらつきを求めるも
ので,局所領域内の信号レベルの分散値,標準偏差また
は等価な統計量を求めるもので,これは統計理論から,
(素子固有のばらつき)2 +(シーンのばらつき)2
相当するものとなる。なお,シーンのばらつきは,その
局所領域内にシーンの中のエッジの部分のように複雑な
構造のシーンが含まれる場合にはシーンのばらつきが大
きく,変化が無い均質なシーンの場合はシーンのばらつ
きが小さい。
On the other hand, in the area homogeneity evaluation section 3, the area homogeneity in the local area corresponding to a plurality of sizes for each element is obtained by the size homogeneity calculating means 3a. This calculation is to calculate the variance of the signal level in the local area, and to calculate the variance, standard deviation or equivalent statistic of the signal level in the local area.
(Variation unique to the element) 2 + (variation in scene) 2 The scene variation is large when the local region includes a scene having a complicated structure such as an edge portion of the scene, and when the scene is uniform, there is no change in the scene. Small variation.

【0030】また,各サイズの局所領域に対応した素子
固有のばらつき(FPN)を考慮した各閾値の設定値を
各サイズ対応閾値格納手段3bに予め設定しておく。評
価手段3cは,上記の各サイズ対応均質度計算手段3a
で求めた各サイズに対応した局所領域内の均質度を各サ
イズ対応閾値格納手段3bから取り出した各サイズに対
応した閾値の設定値と順次比較を行い,閾値より大きい
場合は,その局所領域サイズではシーン成分のばらつき
が大きすぎると判定し,より小さい局所領域サイズに対
応する均質度の値と,対応する閾値の設定値を比較す
る。こうして,設定値より均質度の値の方が小さいと,
その時のサイズを当該素子の校正データを得るための最
適の局所領域サイズとして決定し,そのサイズを記憶手
段3dに格納する。各素子について,同様の処理を行っ
て,フレームの各画素に対する局所領域の最適サイズが
記憶手段3dに格納される。
Further, a set value of each threshold value in consideration of a variation (FPN) unique to an element corresponding to a local region of each size is set in advance in each size corresponding threshold value storage means 3b. The evaluation means 3c is a homogeneity calculating means 3a corresponding to each size.
The homogeneity in the local area corresponding to each size obtained in the above is sequentially compared with the set value of the threshold corresponding to each size taken out from the size corresponding threshold storage unit 3b. Determines that the variation in the scene components is too large, and compares the value of the homogeneity corresponding to the smaller local region size with the set value of the corresponding threshold. Thus, if the value of homogeneity is smaller than the set value,
The size at that time is determined as the optimal local area size for obtaining the calibration data of the element, and the size is stored in the storage unit 3d. The same processing is performed for each element, and the optimum size of the local area for each pixel of the frame is stored in the storage unit 3d.

【0031】校正データ作成部2では,フレームの各素
子の平滑化データについて各種サイズに対応する局所平
均値が求められた中から,サイズ選択手段2bが各素子
に対応する最適局所領域サイズを記憶手段3dから取り
出したサイズに対応する局所平均値ri (f-1) を選択
し,加算手段2cに供給する。加算手段2cで平滑化デ
ータdi (f-1) から局所平均値ri (f-1) の値を減算す
ることにより周辺との差分が校正データRi (f) として
求められる。この校正データを補正部4において多点補
正データdi (f) と加算することで,静的補正とリアル
タイム補正が行われた補正出力データDi (f) が得られ
る。
In the calibration data creation unit 2, the local average value corresponding to various sizes is obtained for the smoothed data of each element of the frame, and the size selection unit 2b stores the optimum local area size corresponding to each element. The local average value r i (f−1) corresponding to the size extracted from the means 3d is selected and supplied to the adding means 2c. The difference between the peripheral is obtained as calibration data R i (f) by subtracting the value of the adding means 2c in smoothed data d i (f-1) from the local average value r i (f-1). The calibration data by adding a multi-point correction data d i (f) in the correction unit 4 a, static correction and real-time correction has been performed corrected output data D i (f) is obtained.

【0032】上記の原理により局所領域の最適のサイズ
を見出すことができるが,見出すまでの処理に時間がか
かる場合は,校正データ作成までの遅れが大きくなり過
ぎることがある。それに対処するには,局所領域のサイ
ズを大小の少なくとも2種類の局所領域を適用できるよ
うにしておき,最初に大きいサイズの局所領域について
領域内素子の出力レベルの分布に含まれるシーン成分の
程度(分散,標準偏差等)を評価し,シーン成分が無視
できる程度に小さい場合は,その大きいサイズの局所領
域を使用して校正データを作成し,シーン成分が無視で
きない程度に大きい場合には小さいサイズの局所領域を
用いて校正データを作成する。
Although the optimum size of the local area can be found by the above-described principle, if the process for finding the local area takes a long time, the delay until the generation of the calibration data may be too large. In order to cope with this, the size of the local region should be set so that at least two types of local regions, large and small, can be applied, and the degree of the scene components included in the distribution of the output levels of the elements in the region for the large-sized local region first. (Dispersion, standard deviation, etc.) is evaluated. If the scene component is small enough to be ignored, calibration data is created using the large-sized local region. If the scene component is large enough to be ignored, small. Calibration data is created using a local region of size.

【0033】また,シーン成分の評価としては,各素子
の出力レベルの分散値,または標準偏差,またはこれら
と実質的に等価な統計量を計算し,その計算値が事前設
定された閾値より大の時シーン成分が大きく,小さい時
はその局所領域が適正とする方法の他に次の方法があ
る。
As the evaluation of the scene component, the variance or standard deviation of the output level of each element or a statistic substantially equivalent thereto is calculated, and the calculated value is larger than a preset threshold. When the scene component is large, and when the scene component is small, the following method is available in addition to the method of making the local region appropriate.

【0034】局所領域内を少なくとも領域の4辺を含む
複数のサブ領域に分割し,各サブ領域内の素子の出力信
号レベルの平均値または総和を計算し,その計算値の領
域内の最大値と最小値の差が事前設定された閾値より大
の時,シーン成分が大きいと判定する方法である。
The local area is divided into a plurality of sub-areas including at least four sides of the area, the average value or the sum of the output signal levels of the elements in each sub-area is calculated, and the maximum value of the calculated value in the area is calculated. When the difference between the threshold value and the minimum value is larger than a preset threshold value, the scene component is determined to be large.

【0035】[0035]

【発明の実施の形態】図2は実施例1のハードウェア構
成図であり,上記図1の原理をハードウェアにより実現
するための構成である。図2において,1〜4はそれぞ
れ上記図1の同じ符号の各部に対応し,1は平滑化部で
あり,上記従来例の平滑化部(図9の90)と同様の構
成を備え,11〜14で示す各部は上記図9の91〜9
5と同じであり,10は加算器,11は割算器,12は
加算器,13はfフレーム用の画像を格納するRAMで
構成されたフレームメモリ,14はf−1フレーム用の
RAMで構成されたフレームメモリである。
FIG. 2 is a hardware configuration diagram of the first embodiment, which is a configuration for realizing the above-described principle of FIG. 1 by hardware. In FIG. 2, reference numerals 1 to 4 correspond to the same reference numerals in FIG. 1, respectively. Reference numeral 1 denotes a smoothing unit, which has the same configuration as the conventional smoothing unit (90 in FIG. 9). The parts denoted by reference numerals 14 to 14 are 91 to 9 in FIG.
Same as 5, 10 is an adder, 11 is a divider, 12 is an adder, 13 is a frame memory composed of a RAM for storing an image for f frame, and 14 is a RAM for f-1 frame. It is a configured frame memory.

【0036】2は校正データ作成部であり,20−1,
20−2,…,20−nはそれぞれサイズ1,サイズ
2,…,サイズnの各サイズ対応の局所領域内の局所平
均値を計算する各サイズの平均値計算部(図1の2aに
対応),21はスイッチ機構を備えるサイズ選択部(図
1の2bに対応),22は加算器(図1の2cに対応)
である。但し,局所領域のサイズ1は3素子×3素子,
サイズ2は5素子×5素子,…,サイズnは(2n+
1)素子×(2n×1)素子である。
Reference numeral 2 denotes a calibration data creation unit, and 20-1 and 20-1
20-2,..., 20-n are average value calculation units of each size for calculating a local average value in a local area corresponding to each size of size 1, size 2,. ), 21 is a size selector provided with a switch mechanism (corresponding to 2b in FIG. 1), 22 is an adder (corresponding to 2c in FIG. 1)
It is. However, the size 1 of the local area is 3 elements × 3 elements,
Size 2 is 5 elements × 5 elements,..., Size n is (2n +
1) Element × (2n × 1) element.

【0037】3は領域均質度評価部,30−1,30−
2,…,30−nはそれぞれサイズ1,サイズ2,…,
サイズnの各サイズ対応の局所領域内の領域均質度を計
算する各サイズの領域均質度計算部(図1の3aに対
応),31は各サイズ1〜nの局所領域に対応したそれ
ぞれの均質度の閾値が予め格納されたサイズ対応均質度
閾値設定メモリ(図1の3bに対応)であり,ROMに
より構成される。32は各サイズ対応の領域均質度計算
部30−1〜30−nからの計算結果と,サイズ対応均
質度閾値設定メモリ31からのサイズに対応する閾値と
をそれぞれ比較する多数の比較器(n個)で構成する比
較部(比較1〜比較nで表示),33は比較部32から
の複数の比較器の比較結果の中から適正サイズを決定す
る適正サイズ決定部であり,前記比較部32とこの適正
サイズ決定部33で上記図1の評価部3cに対応する。
34は素子に対して決定された適正サイズを,各素子対
応に格納するメモリ(図1の3dに対応)であり,RA
Mにより構成される。また,4は加算器で構成される補
正部である。
Reference numeral 3 denotes a region homogeneity evaluation unit, and 30-1 and 30-
2, ..., 30-n are size 1, size 2, ...,
A region homogeneity calculation unit for each size (corresponding to 3a in FIG. 1) for calculating a region homogeneity in a local region corresponding to each size of size n, and 31 is a homogeneity corresponding to each of the local regions of sizes 1 to n. A size-based homogeneity threshold setting memory (corresponding to 3b in FIG. 1) in which a degree threshold is stored in advance, and is constituted by a ROM. Reference numeral 32 denotes a number of comparators (n) for comparing the calculation results from the region homogeneity calculators 30-1 to 30-n corresponding to each size with thresholds corresponding to the sizes from the size homogeneity threshold setting memory 31. (Comparative 1 to comparative n), and 33 is an appropriate size determining unit for determining an appropriate size from the comparison results of the plurality of comparators from the comparing unit 32. And the appropriate size determination unit 33 corresponds to the evaluation unit 3c in FIG.
Reference numeral 34 denotes a memory (corresponding to 3d in FIG. 1) for storing an appropriate size determined for each element for each element.
M. Reference numeral 4 denotes a correction unit constituted by an adder.

【0038】図2の構成では,平滑化部1において,従
来と同様の構成により多点補正データdi (f) に対し
て,各素子i毎に平滑化した信号Ci (f-1) を計算しフ
レームメモリ14から出力する。信号Ci (f-1) は,校
正データ作成部2において,各素子(i)毎に各サイズ
の平均値計算部20−1〜20−nにおいて各サイズの
局所領域内の平均値を並列計算する。各局所領域サイズ
の平均値はサイズ選択部21へ入力され,後述する領域
均質度評価部3からの適正なサイズ情報により一つが選
択され,出力された適正サイズに対応する局所領域の平
均値は加算器22に供給される。この加算器22で,平
均値から当該素子の平滑化された信号Ci(f-1) が減算
され,校正データRi (f) が出力される。出力された校
正データR i (f) は加算器4に供給され,多点補正デー
タdi (f) から校正データRi (f)が減算されて,補正
出力データDi (f) が出力される。
In the configuration shown in FIG.
Multipoint correction data d by the same configuration asifor (f)
And the signal C smoothed for each element ii(f-1)
Output from the frame memory 14. Signal Ci(f-1) is the school
In the positive data creation unit 2, each size of each element (i)
Of each size in the average value calculation units 20-1 to 20-n
The average value in the local area is calculated in parallel. Each local area size
Is input to the size selection unit 21 and the area
One is selected based on the appropriate size information from the homogeneity evaluation unit 3.
Of the local area corresponding to the selected and output appropriate size
The average value is supplied to the adder 22. With this adder 22,
The smoothed signal C of the element from the average valuei(f-1) is subtracted
And the calibration data Ri(f) is output. Output school
Positive data R i(f) is supplied to the adder 4 where the multipoint correction data
DiCalibration data R from (f)i(f) is subtracted and corrected
Output data Di(f) is output.

【0039】領域均質度評価部3では,各サイズの領域
均質度計算部30−1〜30−nにおいて各局所領域の
サイズに対応した領域均質度の計算が並列に行われる。
この領域均質度として,この実施例では,局所領域内の
信号レベルの標準偏差(ばらつき)または分散値を求め
る。
In the region homogeneity evaluation unit 3, the region homogeneity calculation units 30-1 to 30-n of each size calculate the region homogeneity corresponding to the size of each local region in parallel.
In this embodiment, a standard deviation (variation) or a variance of the signal level in the local region is obtained as the region homogeneity.

【0040】各サイズの局所領域におけるシーン成分を
評価する場合,シーン成分は使用環境,使用条件により
変動するものであり,事前にその値を知ることは困難で
ある。そのため,シーン成分の判定には,閾値としてF
PN成分の事前設定値を用いる。この場合,事前設定値
はIRFPAの使用条件,使用環境が変化した時のFP
N成分の変動を考慮して設定する。
When evaluating a scene component in a local region of each size, the scene component varies depending on the use environment and use conditions, and it is difficult to know the value in advance. Therefore, when determining the scene component, F
A preset value of the PN component is used. In this case, the preset value is the FP when the use condition of IRFPA and the use environment change.
The setting is made in consideration of the fluctuation of the N component.

【0041】図3は均質赤外線入力時の局所領域のサイ
ズ11×11の場合の赤外線入力レベルと素子出力レベ
ルのばらつき(FPN)の関係を示し,この関係は実験
結果により得られたものである。図3の横軸は入力レベ
ル(背景温度)を表し,左側は低温度で右側は高温度で
あり,縦軸はばらつき(FPN)を表す。このデータか
ら,シーン温度(背景温度)の変化に対してばらつき
(FPN成分)が変動しているが,この実験結果を利用
すると,シーン成分の分布の大小判定の閾値を設定する
ことができる。
FIG. 3 shows the relationship between the infrared input level and the variation in the element output level (FPN) when the size of the local area is 11 × 11 when the homogeneous infrared ray is input, and this relationship is obtained from experimental results. . The horizontal axis in FIG. 3 represents an input level (background temperature), the left side is low temperature, the right side is high temperature, and the vertical axis represents variation (FPN). From this data, the variation (FPN component) fluctuates with respect to the change in the scene temperature (background temperature). By using this experimental result, it is possible to set a threshold value for determining the magnitude of the distribution of the scene component.

【0042】各局所領域サイズの均質度閾値の設定と利
用方法の具体例を次に説明する。 IRFPA各素子に均一な赤外線を入射するように
し,局所領域サイズをパラメータにして赤外線入力レベ
ル(局所領域内各素子の信号レベルの平均値で代表)の
変化に対する,均質赤外線入力時の各素子出力レベルの
ばらつき(FPN)のデータを取得する。
A specific example of setting and using the homogeneity threshold value of each local region size will be described below. Uniform infrared rays are incident on each element of the IRFPA, and the output of each element at the time of homogeneous infrared input with respect to changes in the infrared input level (represented by the average value of the signal level of each element in the local area) using the local area size as a parameter The data of the level variation (FPN) is acquired.

【0043】図4は均質赤外線入力時の各局所領域サイ
ズに対応するばらつき(FPN)を表す。図4に示すよ
うに,素子出力信号のばらつき(FPN)は,赤外線入
力レベルによって変化すると共に評価する局所領域サイ
ズにも依存する。
FIG. 4 shows the variation (FPN) corresponding to each local area size when a homogeneous infrared ray is input. As shown in FIG. 4, the variation (FPN) of the element output signal varies depending on the infrared input level and also depends on the local region size to be evaluated.

【0044】上記図4の,○印のデータを図2のサイ
ズ対応均質度閾値設定メモリ31を形成するROMに格
納する。この時,指定の局所領域サイズとそのサイズで
の局所領域内の各素子の信号レベルの平均値をアドレス
とする。
4 is stored in the ROM forming the size-based homogeneity threshold setting memory 31 shown in FIG. At this time, the specified local area size and the average value of the signal level of each element in the local area at that size are set as addresses.

【0045】各サイズに対する局所領域内均質度を評
価する時には,その局所領域サイズとその領域内信号レ
ベル平均値をアドレスとしてROMデータを読み出す。 信号レベル平均値が図4の○印と一致しない時は,最
近接データを読み出し,比例配分法により計算して求め
る。
When evaluating the homogeneity in the local area for each size, ROM data is read using the local area size and the average signal level in the area as addresses. When the average signal level does not match the mark in FIG. 4, the nearest data is read and calculated by the proportional distribution method.

【0046】上記ののようにサイズ対応均質度閾値設
定メモリ31を形成するROMに格納され,図2の比較
部32において各局所領域の均質度の計算結果を比較す
る時,上記またはによりROMから各サイズ対応の
閾値を読み出して対応するサイズの局所領域の均質度と
を比較部32内のサイズ対応の各比較器で比較する。比
較結果は,適正サイズ決定部33へ入力され,均質度の
値の方が閾値より小さいことを表す比較結果が発生した
一つのサイズを適正サイズとして決定(選択)する。選
択されたサイズが複数ある場合は,その中の最も大きい
サイズを選択する。こうして選択した局所領域のサイズ
を,当該素子に対する適正サイズとしてメモリ34に格
納する。
As described above, when the calculation results of the homogeneity of each local area are stored in the ROM forming the size-based homogeneity threshold setting memory 31 and the comparison unit 32 of FIG. The threshold corresponding to each size is read out and compared with the homogeneity of the local region of the corresponding size by each size-compatible comparator in the comparing unit 32. The comparison result is input to the appropriate size determination unit 33, and one size in which the comparison result indicating that the value of the homogeneity is smaller than the threshold value is determined (selected) as the appropriate size. If there are multiple selected sizes, select the largest size among them. The size of the local area thus selected is stored in the memory 34 as an appropriate size for the element.

【0047】校正データ作成部2では,ある素子Ci (f
-1) について校正を行う時,サイズ選択部21で上記の
メモリ34から対応する素子の適正サイズを取り出すこ
とにより,複数サイズの平均値計算部20−1〜20−
nの中から適正サイズに対応する計算結果(適正サイズ
の局所平均データri (f) )を選択して加算器22へ供
給する。加算器22は,局所平均データから平滑化デー
タを減算することにより校正データ(Ri (f) )が得ら
れ,その出力は加算器4に供給される。加算器4では素
子iの多点補正データdi (f) から校正データRi (f)
を減算することにより校正された素子iの出力信号Di
(f) が得られる。
In the calibration data creation unit 2, a certain element C i (f
When calibrating -1), the size selection unit 21 takes out the appropriate size of the corresponding element from the memory 34, thereby obtaining the average value calculation units 20-1 to 20- of multiple sizes.
The calculation result corresponding to the appropriate size (local average data r i (f) of the appropriate size) is selected from n and supplied to the adder 22. The adder 22 obtains calibration data (R i (f)) by subtracting the smoothed data from the local average data, and the output is supplied to the adder 4. The adder 4 calculates the calibration data R i (f) from the multipoint correction data d i (f) of the element i.
Is output signal D i of element i calibrated by subtracting
(f) is obtained.

【0048】図5は実施例2の処理フローを示す図であ
り,上記図1の原理構成をソフトウェアで実現するもの
である。この場合,処理装置としてCPU及び信号処理
用のDSP(Digital Signal Processor: ディジタル信
号処理プロセッサ) を用いることにより高速化すること
ができる。
FIG. 5 is a diagram showing a processing flow of the second embodiment, and realizes the above-mentioned principle configuration of FIG. 1 by software. In this case, the speed can be increased by using a CPU and a DSP (Digital Signal Processor) for signal processing as a processing device.

【0049】第fフレームのIRFPA検知素子(i)
の出力信号di が入力されると(図5のS1),従来例
(図9)と同様の原理により予め設定した時間定数
(T)により各素子について時間平滑化を行う(図5の
S2)。時間平滑化された各素子の第fフレームのデー
タが得られ,フレームメモリ(上記図3の11と同じ)
に格納される(図5のS3)。次のi番目の素子につい
て以下の処理を行う(同S4)。すなわち,素子iを中
心としてサイズnの局所領域Ai (n) を取り出す。この
場合,nは3×3,5×5,7×7,11×11,…等
の一つを選択し,最大は例えば11×11とし,領域サ
イズの変更(後述するS8)において9×9,7×7,
…と順次減少させる。次に素子iについて選択された局
所領域Ri (n) 内の各素子の出力レベルの分布(または
分散)σRi(n) を図に示すの式により計算する(同S
6)。次に計算結果であるσRi(n) が事前設定された閾
値であるσth以下であるか判別する(図5のS7)。こ
の閾値σthは,上記の図4を用いて説明した各局所領域
サイズの均質度閾値の設定方法と同様の方法でメモリ
(ROM)に設定して,読み出すことができる。
IRFPA detecting element of frame f (i)
Output the signal d i is input (S1 in FIG. 5), the conventional example (FIG. 9) performs time smoothing for each element by preset time constant (T) by the same principle as in (Fig. 5 S2 ). Time-smoothed data of the f-th frame of each element is obtained, and the frame memory (same as 11 in FIG. 3)
(S3 in FIG. 5). The following processing is performed for the next i-th element (S4). That is, a local area A i (n) having a size n with the element i as the center is extracted. In this case, n selects one of 3 × 3, 5 × 5, 7 × 7, 11 × 11,..., And sets the maximum to, for example, 11 × 11, and changes the area size to 9 × 11 (S8 described later). 9,7 × 7,
... and sequentially reduced. Next, the distribution (or variance) σ Ri (n) of the output level of each element in the local region R i (n) selected for the element i is calculated by the equation shown in FIG.
6). Next, it is determined whether σ Ri (n) as a calculation result is equal to or smaller than σ th which is a preset threshold (S7 in FIG. 5). This threshold value σ th can be set in a memory (ROM) and read out in the same manner as the method of setting the homogeneity threshold value of each local area size described with reference to FIG.

【0050】この判別で,計算された分布σRi(n) の値
が閾値σthを越える場合には,領域サイズnを変更し
(図5のS8),再びS5〜S7の処理を繰り返す。こ
の処理を繰り返して,分布σRi(n) の値が閾値σth以下
になると,その領域Ri (n) 内の各素子の出力信号レベ
ルの平均値(ri )を図に示すの式により計算する
(図5のS9)。次に素子iに対する校正データRi
図に示すの式(ri −d i )により計算し(同S1
0),結果を素子iに対応付けてメモリに格納する(同
S11)。
In this determination, the calculated distribution σRi (n)The value of the
Is the threshold σthIf it exceeds, change the area size n
(S8 in FIG. 5), the processing of S5 to S7 is repeated again. This
Is repeated to obtain the distribution σRi (n)Is the threshold σthLess than
, The region RiThe output signal level of each element in (n)
Average value (ri) Is calculated by the formula shown in the figure.
(S9 in FIG. 5). Next, calibration data R for element iiTo
The equation (ri-D i) (S1)
0), and stores the result in memory in association with element i
S11).

【0051】次に,全素子について終了したか判別し
(図5のS12),終了しない場合は,iを増加し(同
S13),S4以下の処理が実行され,全ての素子につ
いて順次補正演算がの式により実行される(図5のS
16)。また,全素子の処理が終了すると,補正動作が
終了したか外部からの補正動作終了の指示の有無により
判別し(図5のS14),終了しない場合は,f(フレ
ーム番号)を増加して(同S15),次のフレームにつ
いて,S3以下の処理を上記と同様に実行する。
Next, it is determined whether or not the processing has been completed for all the elements (S12 in FIG. 5). If the processing has not been completed, i is increased (S13), and the processing of S4 and subsequent steps is executed. Is executed by the following equation (S in FIG. 5)
16). When the processing of all the elements is completed, it is determined whether the correction operation has been completed or not, based on the presence or absence of an external instruction to end the correction operation (S14 in FIG. 5). If not, f (frame number) is increased. (S15) For the next frame, the processing of S3 and subsequent steps is executed in the same manner as described above.

【0052】図6は校正データ作成の局所領域のサイズ
に対する補正精度の測定値を示す。これは上記の実施例
1(図2)及び実施例2(図5)に説明した,局所領域
のサイズを変えて校正データを作成し,その校正データ
を用いて補正した場合のFPN低減の効果を測定した結
果を図に示したものである。
FIG. 6 shows measured values of the correction accuracy with respect to the size of the local area for the generation of the calibration data. This is the effect of reducing the FPN when the calibration data is created by changing the size of the local region and corrected using the calibration data, as described in the first embodiment (FIG. 2) and the second embodiment (FIG. 5). Is shown in the figure.

【0053】図6の横軸は局所領域のサイズ(素子
数),縦軸はFPN〔素子出力レベルのばらつきの標準
偏差(rms:root mean square)を表すディジタル量
の単位であるLSB(Least Significant Bit) を表現し
たもの〕で,この例ではLSBはミリボルトを表す。こ
の例では,3×3=9素子,5×5=25素子,7×7
=49素子,9×9=81素子,11×11=121素
子の各サイズに対応するFPNの測定値が描かれてい
る。これにより分かるように,サイズを拡大した場合
に,FPNを低減でき,校正データのばらつきを低減
し,高精度にできる。
The horizontal axis in FIG. 6 is the size of the local area (number of elements), and the vertical axis is FPN [LSB (Least Significant) which is a unit of digital quantity representing the standard deviation (rms: root mean square) of the variation of the element output level. LSB represents millivolt in this example. In this example, 3 × 3 = 9 elements, 5 × 5 = 25 elements, 7 × 7
= 49 elements, 9 × 9 = 81 elements, and 11 × 11 = 121 elements, the measured values of FPN corresponding to each size are drawn. As can be seen from this, when the size is enlarged, the FPN can be reduced, the variation in calibration data can be reduced, and high accuracy can be achieved.

【0054】上記図2の実施例1及び図5に示す実施例
2の構成では,リアルタイム補正において多数(3以
上)の局所領域のサイズについて均質度(標準偏差,分
布または分散等)を評価しているが,計算や評価のため
の処理時間がかかり,目標抽出が遅れる可能性がある。
この処理速度を改善することを目的とした実施例3を次
に説明する。
In the configurations of the first embodiment shown in FIG. 2 and the second embodiment shown in FIG. 5, the homogeneity (standard deviation, distribution or variance, etc.) of a large number (3 or more) of local regions is evaluated in real time correction. However, processing time for calculation and evaluation takes time, and target extraction may be delayed.
A third embodiment aiming at improving the processing speed will be described below.

【0055】図7は実施例3のハードウェア構成図であ
る。この実施例3では,領域均質度の評価において,一
つの広い局所領域のサイズ(例えば9×9)について分
散を計算し,その分散値が事前設定値を越えない時は,
その広局所領域の平均を選択し,それ以外の場合は予め
決められた狭局所領域(例えば3×3)の平均を選択す
るようにしたものである。
FIG. 7 is a hardware configuration diagram of the third embodiment. In the third embodiment, in the evaluation of the region homogeneity, the variance is calculated for the size of one wide local region (for example, 9 × 9), and when the variance does not exceed the preset value,
The average of the wide local area is selected, and otherwise, the average of a predetermined narrow local area (for example, 3 × 3) is selected.

【0056】図7の,1,10〜14及び2,3,4の
各符号は上記図2の対応する各符号の各部と同じ名称で
あり説明を省略する。校正データ作成部2において,2
3は対象とする素子に対し予め設定された狭いサイズ
(例えば3×3)の局所領域の平均をとる狭局所平均算
出部,24は対象とする素子に対し予め設定された広い
サイズ(例えば9×9)の局所領域の平均をとる広局所
平均算出部,25は選択部,26は加算部である。
The reference numerals 1, 10 to 14, and 2, 3, and 4 in FIG. 7 have the same names as those of the corresponding reference numerals in FIG. 2 and will not be described. In the calibration data creation unit 2,
Numeral 3 denotes a narrow local average calculation unit for averaging local regions of a predetermined small size (for example, 3 × 3) for a target element, and 24 denotes a wide size (for example, 9) for a target element. × 9) is a wide local average calculating unit for averaging the local areas, 25 is a selecting unit, and 26 is an adding unit.

【0057】領域均質度評価部3において,35は上記
広局所平均算出部24の広いサイズ(9×9)に対応す
る広局所領域内における分散を計算する分散算出部,3
6は事前設定された広局所領域における閾値と分散値を
比較する比較部である。
In the area homogeneity evaluation section 3, a variance calculation section 35 calculates a variance in a wide local area corresponding to a wide size (9 × 9) of the wide local average calculation section 24.
A comparison unit 6 compares a threshold value and a variance value in a preset wide local area.

【0058】この実施例3では,平滑化部1において入
力される多点補正データdi (f) に対し上記実施例1
(図2)と同じ構成により同様の動作が行われ,平滑化
されたデータがフレームメモリ(fフレーム用)13に
格納される。前フレーム(f−1フレーム)のフレーム
メモリ14の平滑化データは,校正データ作成部2と領
域均質度評価部3へ入力される。校正データ作成部2で
は,対象となる素子iの平滑化データCi (f-1) につい
て,狭局所平均算出部23と広局所平均算出部24にお
いて,それぞれのサイズ,3×3と9×9の局所領域の
平均を計算して,各計算結果を選択部25に出力する。
一方,領域均質度評価部4では,広局所領域内分散算出
手段35で広局所領域のサイズ(9×9)の分散を計算
する。計算結果を事前設定値である閾値と比較部36で
比較し,閾値以下か否かを表す出力を校正データ作成部
2に発生する。
In the third embodiment, the multi-point correction data d i (f) input in the smoothing section 1
A similar operation is performed by the same configuration as in FIG. 2, and the smoothed data is stored in the frame memory (for f-frame) 13. The smoothed data of the frame memory 14 of the previous frame (f-1 frame) is input to the calibration data creation unit 2 and the region homogeneity evaluation unit 3. In the calibration data creating unit 2, the narrow local average calculating unit 23 and the wide local average calculating unit 24 determine the size, 3 × 3 and 9 ×, of the smoothed data C i (f−1) of the target element i. The average of the nine local regions is calculated, and each calculation result is output to the selection unit 25.
On the other hand, in the area homogeneity evaluation unit 4, the variance of the size (9 × 9) of the wide local area is calculated by the wide local area variance calculating means 35. The calculation result is compared with a threshold value, which is a preset value, by the comparison unit 36, and an output indicating whether the value is equal to or smaller than the threshold value is generated in the calibration data creation unit 2.

【0059】校正データ作成部2の選択部25は比較部
36からの出力が閾値以下であることを表す時は,選択
部25は広局所平均計算部24の出力(平均値)ri (f
-1)を選択して加算器26に供給し,加算器26で素子
iに対応する平滑化データC(f-1) の値を減算して,校
正データRi (f) が得られる。このデータは補正部4の
加算器に供給され多点補正データdi (f) に加算され
て,補正出力Di (f) が発生する。
When the selecting section 25 of the calibration data generating section 2 indicates that the output from the comparing section 36 is equal to or less than the threshold value, the selecting section 25 outputs the output (average value) r i (f) of the wide local average calculating section 24.
-1) is supplied to the adder 26, and the adder 26 subtracts the value of the smoothed data C (f-1) corresponding to the element i to obtain calibration data R i (f). The data is added to the correction unit is supplied to the fourth adder multipoint correction data d i (f), corrects the output D i (f) is generated.

【0060】この実施例3の場合,広い局所領域のサイ
ズとして上記の説明では9×9としたが,対象に対して
校正データの精度が十分に得られるような他のサイズ,
例えば11×11を選択することができる。狭い局所領
域のサイズは,最小サイズである3×3とする。
In the case of the third embodiment, the size of the wide local area is set to 9 × 9 in the above description.
For example, 11 × 11 can be selected. The size of the narrow local region is 3 × 3, which is the minimum size.

【0061】また,図7の実施例3にはハードウェアの
構成が示されているが,ソフトウェア処理により実現で
きる。その場合,上記図5に示す処理フローをより簡単
化したフローの構成になることは明らかである。
Although the hardware configuration is shown in the third embodiment of FIG. 7, it can be realized by software processing. In that case, it is clear that the processing flow shown in FIG. 5 is simplified.

【0062】[0062]

【発明の効果】本発明によれば次の効果を奏する。 シーン成分が均質な領域,例えば,晴天の天空背景等
に対しては高精度な校正データの作成が可能となる。そ
の結果,FPN成分を低減でき,赤外線画像データの品
質が向上し,赤外線センサの使用目的である目標抽出に
対する性能が向上する。
According to the present invention, the following effects can be obtained. High-accuracy calibration data can be created for an area where scene components are homogeneous, for example, a clear sky background. As a result, the FPN component can be reduced, the quality of the infrared image data is improved, and the performance for target extraction, which is the purpose of use of the infrared sensor, is improved.

【0063】シーン成分が非均質な領域,例えば,雲
の点在する天空,波立つ海面または人工物体の点在する
地上等に対しては,シーン構造自体が複雑であるため,
IRFPA性能が理想的でFPN成分が0の場合でも目
標抽出は容易ではなく,従って本発明により局所領域の
サイズを縮小してFPNが増加しても,目標抽出性能に
及ぼす影響は均質シーンの場合に比べて小さい。従っ
て,総合的にみて赤外線センサの目標抽出性能を向上す
ることができる。
For a region where the scene components are non-homogeneous, for example, the sky where clouds are scattered, the wavy sea surface, or the ground where artificial objects are scattered, the scene structure itself is complicated.
Even if the IRFPA performance is ideal and the FPN component is 0, target extraction is not easy. Therefore, even if the size of the local region is reduced and the FPN is increased according to the present invention, the effect on the target extraction performance is the same for a homogeneous scene. Smaller than. Accordingly, the target extraction performance of the infrared sensor can be improved comprehensively.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の原理構成図である。FIG. 1 is a principle configuration diagram of the present invention.

【図2】実施例1のハードウェア構成図である。FIG. 2 is a hardware configuration diagram of the first embodiment.

【図3】均質赤外線入力時の局所領域のサイズ11×1
1の場合の赤外線入力レベルと素子出力レベルのばらつ
き(FPN)の関係を示す図である。
FIG. 3 shows a local area size of 11 × 1 when a homogeneous infrared ray is input.
FIG. 3 is a diagram showing a relationship between an infrared input level and an element output level variation (FPN) in the case of 1.

【図4】均質赤外線入力時の各局所領域サイズに対応す
る素子出力レベルのばらつき(FPN)を表す図であ
る。
FIG. 4 is a diagram illustrating a variation (FPN) in element output level corresponding to each local region size when a homogeneous infrared ray is input.

【図5】実施例2の処理フローを示す図である。FIG. 5 is a diagram illustrating a processing flow according to a second embodiment.

【図6】校正データ作成の局所領域のサイズに対する補
正精度の測定値を示す図である。
FIG. 6 is a diagram showing measured values of correction accuracy with respect to the size of a local region for creating calibration data.

【図7】実施例3のハードウェア構成図である。FIG. 7 is a hardware configuration diagram of a third embodiment.

【図8】本発明が適用される赤外線センサのブロック構
成を示す図である。
FIG. 8 is a diagram showing a block configuration of an infrared sensor to which the present invention is applied.

【図9】従来のリアルタイム補正処理の構成を示す図で
ある。
FIG. 9 is a diagram showing a configuration of a conventional real-time correction process.

【図10】平均化の説明図である。FIG. 10 is an explanatory diagram of averaging.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 平滑化部 2 校正データ作成部 2a 各サイズ対応領域内平均値算出手段 2b サイズ選択手段 2c 加算手段 3 領域均質度評価部 3a 各サイズ対応均質度算出手段 3b 各サイズ対応閾値格納手段 3c 評価手段 3d 記憶手段 4 補正部 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Smoothing part 2 Calibration data creation part 2a Average value calculation means in each area corresponding to each size 2b Size selection means 2c Addition means 3 Area homogeneity evaluation part 3a Uniformity calculation means for each size 3b Threshold storage means for each size 3c Evaluation means 3d storage means 4 correction unit

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 下前 弘樹 神奈川県川崎市中原区上小田中1333番地 株式会社富士通システム統合研究所内 (72)発明者 蒲田 政樹 神奈川県川崎市中原区上小田中1333番地 株式会社富士通システム統合研究所内 ──────────────────────────────────────────────────の Continued on the front page (72) Inventor Hiroki Shimozen 1333 Uedanaka, Nakahara-ku, Kawasaki-shi, Kanagawa Prefecture Inside Fujitsu System Integration Laboratories Co., Ltd. Fujitsu System Integration Laboratories

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 赤外線検知素子が配列された二次元IR
FPAの各素子の出力を,静的ばらつきを多点補正部で
補正し,次に動的ばらつきを補正するリアルタイム補正
処理部において,対象素子を中心とする該対象素子近傍
の局所領域に含まれる各素子の時間的に平滑化された出
力信号レベルを規準値として該対象素子の出力信号レベ
ルを補正するための校正データを作成するIRFPAの
ばらつき補正方法において,前記局所領域として異なる
サイズの複数の局所領域について,それぞれに含まれる
各素子の出力信号レベルの分布を求め,該分布を予め各
サイズに対応して事前に設定された閾値と比較すること
により評価を行い,該分布が事前設定した閾値より小さ
い局所領域のサイズを検出すると,そのサイズの局所領
域の規準値を用いて前記素子の校正データを作成するこ
とを特徴とするIRFPAのばらつき補正方法。
1. A two-dimensional IR in which infrared detecting elements are arranged.
The output of each element of the FPA is included in a local area near the target element, centered on the target element, in a real-time correction processing section that corrects static variations by a multipoint correction section and then corrects dynamic variations. In the variation correction method of IRFPA for generating calibration data for correcting the output signal level of the target element using the time-smoothed output signal level of each element as a reference value, a plurality of different-sized local areas are used as the local area. For the local area, the distribution of the output signal level of each element included in each of the local areas is determined, and the distribution is evaluated by comparing the distribution with a preset threshold value corresponding to each size, and the distribution is set in advance. When the size of the local region smaller than the threshold value is detected, calibration data of the element is created using the reference value of the local region of that size. Variation correction method of the FPA.
【請求項2】 請求項1において,前記各サイズの局所
領域の出力信号レベルの分布は,各出力信号の分散,ま
たは標準偏差,またはそれらと等価な統計値の何れかを
算出することにより求め,予め各サイズに対応して事前
に設定された素子固有のばらつきに近似する閾値と比較
することにより評価を行うことを特徴とするIRFPA
のばらつき補正方法。
2. The method according to claim 1, wherein the distribution of the output signal level of the local region of each size is obtained by calculating any of a variance or a standard deviation of each output signal or a statistical value equivalent thereto. An IRFPA characterized in that the evaluation is performed by comparing with a threshold value which is set in advance for each size and approximates a variation unique to an element.
Method for correcting variations.
【請求項3】 請求項1において,前記各サイズの局所
領域内の分布の評価が,局所領域内を複数のサブ領域に
分割し,該サブ領域各々に含まれる素子の出力信号レベ
ルの平均値または総和の最大値と最小値の差を用いるこ
とによって行われることを特徴とするIRFPAのばら
つき補正方法。
3. The method according to claim 1, wherein the evaluation of the distribution in the local region of each size includes dividing the local region into a plurality of sub-regions, and averaging output signal levels of elements included in each of the sub-regions. Alternatively, a method of correcting variation in IRFPA, wherein the method is performed by using a difference between a maximum value and a minimum value of the sum.
【請求項4】 請求項1において,前記局所領域として
大小2つのサイズを用い,請求項2または3の何れかに
より局所領域内の分布を評価して一方のサイズを選択す
ることを特徴とするIRFPAのばらつき補正方法。
4. The method according to claim 1, wherein two sizes, large and small, are used as the local region, and one of the sizes is selected by evaluating the distribution in the local region according to claim 2 or 3. IRFPA variation correction method.
【請求項5】 赤外線検知素子が配列された二次元IR
FPAの各素子の出力に対し静的ばらつきを補正する多
点補正部と,動的ばらつきを補正するリアルタイム補正
処理部とを備えたIRFPAのばらつき補正を行う装置
において,前記リアルタイム補正処理部は校正データ作
成部と領域均質度評価部とを備え,前記領域均質度評価
部は,前記平滑化された素子の信号に対し,異なるサイ
ズの複数の局所領域内のそれぞれの均質度を計算する計
算手段と,前記計算手段の複数の出力を各サイズに対応
して予め設定された閾値と比較を行って適正なサイズを
決定する評価手段と,前記評価手段により決定された結
果を前記校正データ作成部のサイズ選択手段に供給し,
前記校正データ作成部は,前記平滑化された素子の信号
に対し,異なるサイズの複数の局所領域についてそれぞ
れの平均値を計算する複数の計算手段と,前記各計算手
段の複数の出力の中から一つを選択するサイズ選択手段
と,前記評価手段により決定された結果に従って前記サ
イズ選択手段で選択された局所領域の平均値を前記平滑
化された素子の信号から減算する加算器とを備え,前記
校正データ作成部の加算器の出力により前記多点補正デ
ータを補正することを特徴とするIRFPAのばらつき
補正を行う装置。
5. A two-dimensional IR in which infrared detecting elements are arranged.
In an apparatus for performing IRFPA variation correction, comprising a multi-point correction unit for correcting static variations with respect to the output of each element of the FPA, and a real-time correction processing unit for correcting dynamic variations, the real-time correction processing unit includes a calibration unit. Calculating means for calculating a homogeneity in each of a plurality of local regions of different sizes with respect to the signal of the smoothed element, comprising a data creating unit and an area homogeneity evaluating unit; Evaluation means for comparing a plurality of outputs of the calculation means with a preset threshold value corresponding to each size to determine an appropriate size; and outputting the result determined by the evaluation means to the calibration data creation unit. To the size selection means of
The calibration data creation unit calculates a plurality of average values for a plurality of local regions of different sizes with respect to the signal of the smoothed element, and a plurality of outputs of the plurality of calculation units. A size selection unit for selecting one of the two, and an adder for subtracting an average value of the local area selected by the size selection unit from the signal of the smoothed element according to a result determined by the evaluation unit, An apparatus for performing IRFPA variation correction, wherein the multipoint correction data is corrected by an output of an adder of the calibration data creation unit.
【請求項6】 請求項5において,前記領域均質度評価
部は,広い局所領域のサイズの均質度算出手段と,算出
された均質度を前記広い局所領域のサイズに対応して予
め設定された閾値と比較する比較手段とを備え,前記校
正データ作成部は,狭い局所領域のサイズと広狭局所領
域のサイズに対応する局所領域の平均値を算出する2つ
の平均値算出部と,前記2つの平均値算出部の出力の一
方を選択する選択手段とを備え,前記校正データ作成部
のサイズ選択手段は,前記領域均質度評価部の比較手段
の出力により一方のサイズの平均値算出部の出力を選択
することを特徴とするIRFPAのばらつき補正を行う
装置。
6. The area homogeneity evaluation unit according to claim 5, wherein the area homogeneity evaluation unit is configured to calculate homogeneity of the size of a wide local area, and to calculate the calculated homogeneity in accordance with the size of the wide local area. A comparison means for comparing with a threshold value, wherein the calibration data creation unit calculates two average value calculation units for calculating an average value of the local area corresponding to the size of the narrow local area and the size of the wide and narrow local area; Selection means for selecting one of the outputs of the average value calculation unit, wherein the size selection means of the calibration data creation unit outputs the output of the average value calculation unit of one size based on the output of the comparison means of the area homogeneity evaluation unit. An apparatus for correcting variation of IRFPA, wherein
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2008225554A (en) * 2007-03-08 2008-09-25 Takram Design Engineering:Kk Projector system
JP2010515325A (en) * 2006-12-28 2010-05-06 サーモテクニックス システムズ リミテッド Correction of sensor array response non-uniformity

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