JPH10233187A - Quadrupole mass spectrometer - Google Patents

Quadrupole mass spectrometer

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JPH10233187A
JPH10233187A JP9034971A JP3497197A JPH10233187A JP H10233187 A JPH10233187 A JP H10233187A JP 9034971 A JP9034971 A JP 9034971A JP 3497197 A JP3497197 A JP 3497197A JP H10233187 A JPH10233187 A JP H10233187A
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JP
Japan
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analysis
analysis tube
control device
tube
mass spectrometer
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Application number
JP9034971A
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Japanese (ja)
Inventor
Tomoo Ota
知男 太田
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Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To control plural kinds of analysis tubes by one kind of control device and facilitate confirmation of the kind of the analysis tube for connection between the analysis tubes and the control device by providing identification mechanisms for identifying the kinds of the analysis tubes in the analysis tubes and the control device and setting various parameters corresponding to the identified analysis tubes in a data processor or the like. SOLUTION: For identifying an analysis tube 2, based on a command (a) from a data processor 4, an identification circuit in a control device 3 obtains an encoding signal (b) from an identification mechanism provide in the detecting means 5 of the analysis tube 2 and identifies the connected analysis tube 2. Then, the identifying signal (c) of the analysis tube 2 is sent to the data processor 4 and the kind of the connected analysis tube 2 is notified. The data processor 4 reads a data processing parameter corresponding to the notified kind of the analysis tube 2 from a parameter table 42 and sets this as a processing parameter 41. Also, the control device 3 sets a control parameter corresponding to the kind of the analysis tube 2 as a control parameter 31.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、質量スペクトル等
の分析に用いる四重極質量分析計に関する。
The present invention relates to a quadrupole mass spectrometer used for analyzing mass spectra and the like.

【0002】[0002]

【従来の技術】四重極質量分析計は、電界を用いて質量
−電荷比によってイオン化粒子を分離して物質の化学組
成を分析する装置であり、質量スペクトルのピーク位置
から試料の定性分析を行い、ピーク強度から定量分析を
行う。
2. Description of the Related Art A quadrupole mass spectrometer is a device for analyzing a chemical composition of a substance by separating ionized particles according to a mass-charge ratio using an electric field, and performing qualitative analysis of a sample from a peak position of a mass spectrum. Perform quantitative analysis based on peak intensity.

【0003】図11,13は従来の四重極質量分析計の
構成を説明するための図である。一般に、四重極質量分
析計は分析管2と制御装置3とデータ処理装置4を備え
ており、図11に示す四重極質量分析計は分析管2と制
御装置3が一体となった構成例や、図13に示す四重極
質量分析計は分析管2と制御装置3が分離した構成例で
ある。
FIGS. 11 and 13 are views for explaining the configuration of a conventional quadrupole mass spectrometer. Generally, a quadrupole mass spectrometer includes an analysis tube 2, a control device 3, and a data processing device 4, and the quadrupole mass spectrometer shown in FIG. 11 has a configuration in which the analysis tube 2 and the control device 3 are integrated. The example and the quadrupole mass spectrometer shown in FIG. 13 are configuration examples in which the analysis tube 2 and the control device 3 are separated.

【0004】通常、分析管2はイオン化室21と四重極
電極22とイオン検出器23を備え、イオン化室21か
ら放出されるイオンを四重極電極22で選別し、イオン
検出器23で検出を行う構成であり、制御装置3は図示
していない電源回路や制御回路を備え、分析管2の条件
設定や制御を行う。また、データ処理装置4は、分析管
2で測定した測定結果のデータ処理を行う。
Normally, the analysis tube 2 includes an ionization chamber 21, a quadrupole electrode 22, and an ion detector 23. The ions emitted from the ionization chamber 21 are selected by the quadrupole electrode 22 and detected by the ion detector 23. The control device 3 includes a power supply circuit and a control circuit (not shown), and performs condition setting and control of the analysis tube 2. Further, the data processing device 4 performs data processing of the measurement result measured by the analysis tube 2.

【0005】図11に示す構成の四重極質量分析計は、
分析管2と制御装置3を一体に接続し、測定信号をケー
ブル8を通してデータ処理装置4に送る。また、図13
に示す構成の四重極質量分析計は分析管2と制御装置3
は分離し、分析管2側に設けられたヘッドユニット6に
接続端子9を接続することにより、ケーブル8を通して
測定信号をデータ処理装置4に送っている。
[0005] The quadrupole mass spectrometer having the configuration shown in FIG.
The analysis tube 2 and the control device 3 are integrally connected, and a measurement signal is sent to the data processing device 4 through the cable 8. FIG.
The configuration of the quadrupole mass spectrometer shown in FIG.
Are separated, and a connection signal 9 is connected to a head unit 6 provided on the analysis tube 2 side, whereby a measurement signal is sent to the data processing device 4 through a cable 8.

【0006】分析管2は測定する質量範囲や測定時の圧
力によって、数種類に分類されており、制御装置測3は
分析にあたって該分析管2に印加するRF電圧やDC電
圧等を制御するために、分析管2の種類に応じて異なる
パラメータを設定している。
The analysis tubes 2 are classified into several types according to the mass range to be measured and the pressure at the time of measurement. The control device 3 is used to control the RF voltage, DC voltage, etc. applied to the analysis tubes 2 in the analysis. Different parameters are set according to the type of the analysis tube 2.

【0007】また、データ処理装置4についても、分析
管2の種類に応じてデータ処理のためのパラメータを変
更している。
[0007] The data processing device 4 also changes parameters for data processing according to the type of the analysis tube 2.

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】上記四重極質量分析計
の主要な用途として、半導体製造装置の成膜時のガス分
析や高真空排気時の残留ガス分析がある。このような用
途に四重極質量分析計を使用する場合には測定対象が異
なるため、一種類の分析管2だけで分析を行うことはで
きない。そのため、一つの半導体製造装置等の測定対象
の装置に複数種類の分析管2を接続することがある。
The main applications of the above quadrupole mass spectrometer include gas analysis during film formation in semiconductor manufacturing equipment and residual gas analysis during high vacuum evacuation. When a quadrupole mass spectrometer is used for such a purpose, the analysis cannot be performed using only one type of analysis tube 2 because the measurement target is different. Therefore, a plurality of types of analysis tubes 2 may be connected to an apparatus to be measured such as one semiconductor manufacturing apparatus.

【0009】図12は従来の四重極質量分析計の使用例
を説明するための図であり、前記図13で示した分析管
と制御装置を分離した構成の場合を示している。半導体
製造装置10の各部位10A,10B,10Cには、各
部位に対応した分析管2A,2B,2Cが接続され、そ
れぞれ接続端子9と接続ケーブル7により、接続装置と
制御装置3A,3B,3Cに接続され、ケーブル8によ
りさらにデータ処理装置4に接続されている。しかしな
がら、上記構成は、各分析管にそれぞれ制御装置を接続
する必要があるため、制御装置の個数が増加するという
問題がある。
FIG. 12 is a diagram for explaining an example of use of a conventional quadrupole mass spectrometer, and shows a case where the analysis tube and the control device shown in FIG. 13 are separated. The analysis tubes 2A, 2B, 2C corresponding to the respective portions are connected to the respective portions 10A, 10B, 10C of the semiconductor manufacturing apparatus 10, and the connection device and the control devices 3A, 3B, 3C, and further connected to the data processing device 4 by a cable 8. However, the above configuration has a problem that the number of control devices increases because a control device must be connected to each analysis tube.

【0010】また、図14では、半導体製造装置10の
各部位10A,10B,10Cには、各部位に対応した
分析管2A,2B,2Cが接続され、分析対象とする部
位に応じて設けられている分析管に接続端子9を接続す
ることによって、制御装置3およびデータ処理装置4と
の接続を行う。この構成によれば、複数個の分析管に対
して一つの制御装置3で測定を行うことができ、前記問
題点を解消して制御装置の個数を減少させることができ
る。
In FIG. 14, analysis tubes 2A, 2B, 2C corresponding to the respective parts are connected to the respective parts 10A, 10B, 10C of the semiconductor manufacturing apparatus 10, and provided in accordance with the parts to be analyzed. The connection with the control device 3 and the data processing device 4 is performed by connecting the connection terminal 9 to the analysis tube. According to this configuration, the measurement can be performed on a plurality of analysis tubes by one control device 3, and the above-described problem can be solved to reduce the number of control devices.

【0011】しかしながら、上記構成の四重極質量分析
計では、一種類の制御装置を複数種類の分析管に対して
共用する場合に、接続時に分析管の種類の確認や、パラ
メータの変更といった操作を、切り換え毎に行う必要が
あるという問題点がある。
However, in the quadrupole mass spectrometer configured as described above, when one type of control device is used in common for a plurality of types of analysis tubes, operation such as confirmation of the type of analysis tubes and change of parameters at the time of connection is performed. Has to be performed every time switching is performed.

【0012】そのため、半導体製造装置では、装置のメ
ンテナンス後に行う分析に使用する場合等の使用頻度の
低い分析管の場合であっても、各分析管に制御装置を接
続した構成としている。
For this reason, the semiconductor manufacturing apparatus has a configuration in which a control device is connected to each of the analysis tubes even when the analysis tubes are used infrequently, such as when the analysis tubes are used for analysis performed after the maintenance of the device.

【0013】そこで、本発明は前記した従来の四重極質
量分析計の持つ問題点を解決し、複数種類の分析管を一
種類の制御装置で制御することができる四重極質量分析
計を提供することを目的とし、また、分析管と制御装置
の接続において、分析管の種類の確認や各種パラメータ
の設定が容易な四重極質量分析計を提供することを目的
とする。
Therefore, the present invention solves the above-mentioned problems of the conventional quadrupole mass spectrometer, and provides a quadrupole mass spectrometer capable of controlling a plurality of types of analysis tubes with one type of control device. It is another object of the present invention to provide a quadrupole mass spectrometer that can easily confirm the type of an analysis tube and set various parameters in connection between the analysis tube and a control device.

【0014】[0014]

【課題を解決するための手段】本発明の四重極質量分析
計は、分析管の種類を識別するための識別機構を分析管
と制御装置に設けると共に、この識別機構で識別した分
析管の種類に対応する各種パラメータを選択して制御装
置やデータ処理装置に設定するもので、これによって、
本発明の目的を達成するものである。
According to the quadrupole mass spectrometer of the present invention, an identification mechanism for identifying the type of the analysis tube is provided in the analysis tube and the control device, and the identification tube is identified by the identification mechanism. Various parameters corresponding to the type are selected and set in the control device and the data processing device.
The object of the present invention is achieved.

【0015】本発明の四重極質量分析計は、上記機能を
達成するために、分析管、分析管を制御する制御装置、
およびデータ処理装置を備えた四重極質量分析計におい
て、分析管にその分析管の種類を表す識別部位を設け、
制御装置に識別部位を識別する識別手段を設け、制御装
置およびデータ処理装置の少なくとも一方には、識別手
段で識別した分析管の種類に対応したパラメータを選択
し設定する機能を設ける。
The quadrupole mass spectrometer of the present invention has an analysis tube, a control device for controlling the analysis tube,
And a quadrupole mass spectrometer equipped with a data processing device, the analysis tube is provided with an identification portion indicating the type of the analysis tube,
The control device is provided with identification means for identifying the identification site, and at least one of the control device and the data processing device is provided with a function of selecting and setting a parameter corresponding to the type of the analysis tube identified by the identification means.

【0016】本発明の四重極質量分析計によれば、分析
管に制御装置を接続することによって、制御装置側の識
別手段による分析管側の識別部位の認識が可能な状態と
なる。制御装置の識別手段は識別部位を認識すると、接
続した分析管の種類を識別する。分析管の識別の後、制
御装置あるいはデータ処理装置、またはその両装置は、
識別した分析管の種類に対応するパラメータを選択し、
設定を行う。これによって、制御装置を分析管に接続す
るだけで、接続した分析管の種類の識別や各種パラメー
タの設定を自動で行うことができる。
According to the quadrupole mass spectrometer of the present invention, by connecting the control device to the analysis tube, it becomes possible to recognize the identification portion on the analysis tube side by the identification means on the control device side. When the identification means of the control device recognizes the identification site, it identifies the type of the connected analysis tube. After the identification of the analysis tube, the control unit and / or the data processing unit,
Select the parameter corresponding to the identified tube type,
Make settings. Thus, the type of the connected analysis tube and the setting of various parameters can be automatically performed only by connecting the control device to the analysis tube.

【0017】本発明の第1の実施態様は、分析管の種類
に対応した複数種のパラメータをあらかじめ記憶する記
憶手段を備えるものであり、識別した分析管に対応する
パラメータを記憶手段から選択して読み出し、制御装置
あるいはデータ処理装置、またはその両装置は設定す
る。
The first embodiment of the present invention is provided with storage means for storing a plurality of types of parameters corresponding to the types of analysis tubes in advance, and selects parameters corresponding to the identified analysis tubes from the storage means. And read and set the control device and / or data processing device.

【0018】本発明の第2の実施態様は、分析管の種類
に対応した複数種のパラメータは制御装置に設定するた
めの制御パラメータとデータ処理装置に設定するための
処理パラメータを含ものである。
In the second embodiment of the present invention, the plurality of parameters corresponding to the type of the analysis tube include a control parameter for setting in the control device and a processing parameter for setting in the data processing device. .

【0019】本発明の第3の実施態様は、パラメータを
記憶する記憶手段をデータ処理装置のみに設け、識別し
た分析管に対応する制御パラメータを制御装置に送り、
識別した分析管に対応する処理パラメータをデータ処理
装置に設定するものである。
According to a third embodiment of the present invention, a storage means for storing parameters is provided only in the data processing device, and a control parameter corresponding to the identified analysis tube is sent to the control device.
The processing parameters corresponding to the identified analysis tube are set in the data processing device.

【0020】本発明の第4の実施態様は、制御パラメー
タを記憶する記憶手段を制御装置に設け、処理パラメー
タを記憶する記憶装置を制御装置に設け、識別した分析
管に対応する制御パラメータを制御装置に設定し、識別
した分析管に対応する処理パラメータをデータ処理装置
に設定するものである。
According to a fourth embodiment of the present invention, a storage device for storing control parameters is provided in the control device, a storage device for storing processing parameters is provided in the control device, and the control parameters corresponding to the identified analysis tubes are controlled. The processing parameters are set in the apparatus and the processing parameters corresponding to the identified analysis tube are set in the data processing apparatus.

【0021】本発明の第5の実施態様は、識別機構はマ
イクロスイッチ等を用いた機械的識別手段と該識別手段
が認識できる識別部位とを含むものであり、本発明の第
6の実施態様は、識別機構は分析管に対応して符号化し
た短絡線とその短絡状態から分析管を検出し識別する検
出回路とを含むものであり、本発明の第7の実施態様
は、識別機構は分析管に対応した抵抗値をもつ抵抗体と
その抵抗値から分析管を識別し識別する検出回路を含む
ものである。
According to a fifth embodiment of the present invention, the identification mechanism includes a mechanical identification means using a microswitch or the like and an identification portion which can be recognized by the identification means. The identification mechanism includes a coded short-circuit line corresponding to the analysis tube, and a detection circuit that detects and identifies the analysis tube from the short-circuit state. It includes a resistor having a resistance value corresponding to the analysis tube and a detection circuit for identifying and identifying the analysis tube from the resistance value.

【0022】[0022]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図を
参照しながら詳細に説明する。本発明の実施の形態の第
1の構成例について、図1の概略ブロック線図を用いて
説明する。図1において、四重極質量分析計1は、分析
管2と制御装置3とデータ処理装置4を備え、分析管2
と制御装置3とを分離した構成であって、分析管2と制
御装置3はケーブル7で接続され、制御装置3とデータ
処理装置4はケーブル8で接続される。
Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the drawings. A first configuration example according to an embodiment of the present invention will be described with reference to the schematic block diagram of FIG. In FIG. 1, a quadrupole mass spectrometer 1 includes an analysis tube 2, a control device 3, and a data processing device 4.
The analysis tube 2 and the control device 3 are connected by a cable 7, and the control device 3 and the data processing device 4 are connected by a cable 8.

【0023】分析管2はイオン化室21と四重極電極2
2とイオン検出器23を備え、イオン化室21から放出
されるイオンを四重極電極22で選別し、イオン検出器
23で検出を行う。制御装置3は図示していない電源回
路や制御回路を備え、分析管2の条件設定や制御を行う
装置であり、制御回路中には制御のために必要な制御パ
ラメータ31が設定される。この制御パラメータ31
は、内蔵するパラメータテーブル32等の記憶手段に記
憶されている種々の制御パラメータから読み出され、設
定されるものであり、該記憶手段には接続される分析管
2に対応した複数種の制御パラメータ値があらかじめ記
憶されている。
The analysis tube 2 comprises an ionization chamber 21 and a quadrupole electrode 2
2 and an ion detector 23. The ions emitted from the ionization chamber 21 are selected by the quadrupole electrode 22 and detected by the ion detector 23. The control device 3 includes a power supply circuit and a control circuit (not shown), and is a device for setting and controlling the conditions of the analysis tube 2. Control parameters 31 required for control are set in the control circuit. This control parameter 31
Is read and set from various control parameters stored in a storage means such as a built-in parameter table 32. The storage means has a plurality of types of control corresponding to the analysis tube 2 connected thereto. Parameter values are stored in advance.

【0024】データ処理装置4は、図示していない電源
回路や処理回路を備え、分析管2で測定した測定結果の
データ処理を行う装置であり、処理回路中には処理に必
要な処理パラメータ41が設定される。この処理パラメ
ータ41は、内蔵するパラメータテーブル42等の記憶
手段に記憶されている種々の処理パラメータから読み出
され、設定されるものであり、該記憶手段には接続され
る分析管2に対応した複数種の処理パラメータ値があら
かじめ記憶されている。
The data processing device 4 includes a power supply circuit and a processing circuit (not shown), and performs data processing of the measurement results measured by the analysis tube 2. The processing circuit includes processing parameters 41 required for processing. Is set. The processing parameters 41 are read and set from various processing parameters stored in storage means such as a built-in parameter table 42, and correspond to the analysis tube 2 connected to the storage means. A plurality of types of processing parameter values are stored in advance.

【0025】分析管2と制御装置3との接続は、図1に
示すようにケーブル7を介して行うことも、またケーブ
ル7を用いることなく直接行うこともできる。ケーブル
7を用いて接続する場合には、ケーブル7の端部に設け
たヘッドユニット6を介して接続を行うことができる。
さらに、分析管2はヘッドユニット6およびケーブル7
を介して、あるいは直接に制御装置3と接続するととも
に、接続する分析管2の種類を識別するための検出手段
5を備える。
The connection between the analysis tube 2 and the control device 3 can be made via a cable 7 as shown in FIG. 1 or directly without using the cable 7. When the connection is made using the cable 7, the connection can be made via the head unit 6 provided at the end of the cable 7.
Further, the analysis tube 2 includes a head unit 6 and a cable 7.
And a detection unit 5 for identifying the type of the analysis tube 2 to be connected, while being connected to the control device 3 directly or via the control unit 3.

【0026】図2は本発明の四重極質量分析計に用いる
ことができる検出手段を説明するための図である。
FIG. 2 is a diagram for explaining detection means that can be used in the quadrupole mass spectrometer of the present invention.

【0027】図2(a)に示す識別機構は機械的識別を
行うものであり、検出手段5に識別部位51を設け、制
御装置3側にこの識別部位51を識別するマイクロスイ
ッチ34を設けている。識別部位51は分析管2の種類
に応じて符号化して形成され、マイクロスイッチ34は
識別部位51の符号に対応した信号を出力する。
The discriminating mechanism shown in FIG. 2A performs mechanical discrimination. The discriminating portion 51 is provided on the detecting means 5 and the microswitch 34 for discriminating the discriminating portion 51 is provided on the control device 3 side. I have. The identification portion 51 is formed by encoding according to the type of the analysis tube 2, and the microswitch 34 outputs a signal corresponding to the code of the identification portion 51.

【0028】制御装置3中の識別回路35はこの信号を
入力し、符号を解読することによって、接続される分析
管2の種類を識別する。
The identification circuit 35 in the control device 3 receives this signal, decodes the code, and identifies the type of the analysis tube 2 to be connected.

【0029】図2(b)、(c)に示す識別機構は電気
的識別を行うものであり、検出手段5に端子53と該端
子53を接続する短絡線54あるいは抵抗線55とを含
む識別部位を設け、制御装置3側にこの識別部位の端子
53と電気的に接続する端子37を設けている。識別部
位は、短絡線54が接続される端子53の位置を分析管
の種類に対応して符号化したり、抵抗線55の抵抗値を
分析管の種類に対応して定めることによって、接続する
分析管を識別することができる。ヘッドユニット6は、
端子37を検出手段5側の端子53と電気的に接続し、
識別部位の符号に対応した信号を得る。制御装置3中の
識別回路はこの信号を入力し、符号を解読することによ
って、接続される分析管2の種類を識別する。
The identification mechanism shown in FIGS. 2 (b) and 2 (c) performs electrical identification. The identification means includes a terminal 53 and a short-circuit wire 54 or a resistance wire 55 connecting the terminal 53 to the detection means 5. A part is provided, and a terminal 37 is provided on the control device 3 side to be electrically connected to the terminal 53 of the identification part. The identification portion encodes the position of the terminal 53 to which the short-circuit wire 54 is connected in accordance with the type of the analysis tube, or determines the resistance value of the resistance wire 55 in accordance with the type of the analysis tube, thereby connecting the analysis portion. Tubes can be identified. The head unit 6
The terminal 37 is electrically connected to the terminal 53 on the detecting means 5 side,
A signal corresponding to the code of the identification part is obtained. The identification circuit in the control device 3 receives this signal and decodes the code to identify the type of the analysis tube 2 to be connected.

【0030】次に、前記図1および図3のフローチャー
トを用いて本発明の四重極質量分析計における分析管の
識別処理を説明する。
Next, the process of identifying an analytical tube in the quadrupole mass spectrometer of the present invention will be described with reference to the flowcharts of FIGS.

【0031】始めに、測定に使用する分析管2を選択
し、該分析管2に制御装置3を接続し(ステップS
1)、さらに、制御装置3をデータ処理装置4に接続し
て、四重極質量分析計1を構成する(ステップS2)。
First, an analysis tube 2 to be used for measurement is selected, and a control device 3 is connected to the analysis tube 2 (step S).
1) Further, the controller 3 is connected to the data processor 4 to configure the quadrupole mass spectrometer 1 (step S2).

【0032】四重極質量分析計1を構成した後、データ
処理測定4は制御装置3に分析管識別処理を行わせるた
めの指令(図1中のa)を送る(ステップS3)。制御
装置3は、この指令に基づいて検出手段5に設けられた
識別機構によって符号化信号(図1中のb)を得て、符
号の解読等の処理によって接続されている分析管の識別
を行う(ステップS4)。さらに、制御装置3は分析管
の識別信号をデータ処理装置4に送って(図1中の
c)、接続されている分析管2の種類を通知する(ステ
ップS5)。
After constructing the quadrupole mass spectrometer 1, the data processing / measurement 4 sends a command (a in FIG. 1) to the control device 3 to perform the analysis tube identification process (step S3). The control device 3 obtains an encoded signal (b in FIG. 1) by an identification mechanism provided in the detection means 5 based on this command, and identifies the connected analysis tube by processing such as decoding of the code. Perform (Step S4). Further, the control device 3 sends an identification signal of the analysis tube to the data processing device 4 (c in FIG. 1), and notifies the type of the connected analysis tube 2 (step S5).

【0033】データ処理装置5は、通知された分析管2
の種類に応じたデータ処理パラメータをパラメータテー
ブル42から読み出し、図示しない処理回路中の処理パ
ラメータ41に設定する(図1中のd)(ステップS
6)。
The data processing device 5 sends the notified analysis tube 2
Is read from the parameter table 42 and set as the processing parameter 41 in the processing circuit (not shown) (d in FIG. 1) (step S).
6).

【0034】また、制御装置3は分析管2の種類に応じ
た制御パラメータをパラメータテーブル32から読み出
し、図示しない制御回路中の制御パラメータ31に設定
する(図1中のe,f)(ステップS7)。
The control device 3 reads out control parameters corresponding to the type of the analysis tube 2 from the parameter table 32 and sets them in the control parameters 31 in a control circuit (not shown) (e, f in FIG. 1) (step S7). ).

【0035】この後、データ処理装置5は識別処理を完
了し、図示しない表示装置あるいはその他の装置に分析
管の種類を通知する(ステップS8)。
Thereafter, the data processing device 5 completes the identification process and notifies the display device or other device (not shown) of the type of the analysis tube (step S8).

【0036】次に、本発明の実施の形態の第2の構成例
について、図5の概略ブロック線図を用いて説明する。
図5に示す構成例は、前記図1に示した第1の構成例と
ほぼ共通しており、データ処理装置4内にのみパラメー
タテーブル42を備える点で第1の構成例と相違してお
り、該パラメータテーブル42には処理パラメータと制
御パラメータの両パラメータを格納する。従って、制御
装置3に対する制御パラメータの設定ではデータ処理装
置4中のパラメータテーブル42中に格納しておいた制
御パラメータを用いる。
Next, a second configuration example of the embodiment of the present invention will be described with reference to the schematic block diagram of FIG.
The configuration example shown in FIG. 5 is substantially the same as the first configuration example shown in FIG. 1, and is different from the first configuration example in that the parameter table 42 is provided only in the data processing device 4. The parameter table 42 stores both processing parameters and control parameters. Therefore, the control parameters stored in the parameter table 42 in the data processing device 4 are used for setting the control parameters for the control device 3.

【0037】また、第2の構成例における分析管の識別
処理は、ステップS7を除いて前記図3に示すフローチ
ャートとほぼ同様である。そこで、以下では図4を用い
てステップS7の説明を行う。
The process for identifying an analysis tube in the second configuration example is substantially the same as the flowchart shown in FIG. 3 except for step S7. Therefore, step S7 will be described below with reference to FIG.

【0038】データ処理装置4は、パラメータテーブル
42から制御パラメータを読み出し、制御装置3に送る
(図5中のg)(ステップS7a)。制御装置3は、送
られた制御パラメータを受け取り、図示しない制御回路
中の制御パラメータ31の設定する(ステップS7
a)。これによって、一つのパラメータテーブルで、制
御パラメータと処理パラメータの両パラメータの設定を
行うことができる。
The data processing device 4 reads the control parameters from the parameter table 42 and sends them to the control device 3 (g in FIG. 5) (step S7a). The control device 3 receives the transmitted control parameters and sets the control parameters 31 in a control circuit (not shown) (step S7).
a). As a result, both the control parameter and the processing parameter can be set in one parameter table.

【0039】次に、本発明の四重極質量分析計の使用例
について、図6〜図10を用いて説明する。なお、図
6,図7は複数の分析管に対するラインの接続関係を機
械的に切り換えることにより測定する分析管の種類を切
り換える場合であり、図8は分析管に対して一つの制御
装置を複数本のラインで接続し、それらの接続関係を電
気的に切り換えることにより測定する分析管の種類を切
り換える場合である。
Next, an example of use of the quadrupole mass spectrometer of the present invention will be described with reference to FIGS. 6 and 7 show the case where the type of the analysis tube to be measured is switched by mechanically switching the connection relation of the lines to the plurality of analysis tubes, and FIG. This is a case in which the types of analysis tubes to be measured are switched by connecting them with book lines and electrically switching the connection relationship between them.

【0040】図6は、分析管2に制御装置3を直接接続
する例である。図6において、半導体製造装置10は、
各処理に応じて複数種類のチャンバーを備え、該チャン
バーの各部位10A,10B,10Cには、各部位の測
定条件に対応した分析管2(2A,2B,2C)が接続
されている。このような半導体製造装置10に対して、
部位10Aの測定を行う分析管2Aを使用する場合に
は、制御装置3を分析管2Aおよび分析管2A内の検出
手段5Aに接続する。このとき、制御装置3の制御パラ
メータおよびデータ処理装置4の処理パラメータは、前
記動作によって自動的に設定が行われる。
FIG. 6 shows an example in which the control device 3 is directly connected to the analysis tube 2. In FIG. 6, a semiconductor manufacturing apparatus 10 includes:
A plurality of types of chambers are provided according to the respective processes, and analysis tubes 2 (2A, 2B, 2C) corresponding to the measurement conditions of the respective sites are connected to the respective sites 10A, 10B, 10C of the chambers. For such a semiconductor manufacturing apparatus 10,
When the analysis tube 2A for measuring the site 10A is used, the control device 3 is connected to the analysis tube 2A and the detection means 5A in the analysis tube 2A. At this time, the control parameters of the control device 3 and the processing parameters of the data processing device 4 are automatically set by the above operation.

【0041】さらに、他の部位の測定を行うために分析
管を切り換える場合には、分析管および制御装置に対す
るラインの接続切り換えを行う。この接続切り換えにお
いても、制御パラメータおよび処理パラメータは自動的
に設定される。
Further, when the analysis tube is switched to perform measurement of another part, the connection of the line to the analysis tube and the control device is switched. Also in this connection switching, control parameters and processing parameters are automatically set.

【0042】図7は、分析管2と制御装置3との接続を
コネクタ9およびケーブル7を用いて行う例である。こ
の例においても、図6の例と同様に、コネクタ9をヘッ
ドユニット6Aおよびヘッドユニット6A内の検出手段
5Aに接続することによって、制御装置3の制御パラメ
ータおよびデータ処理装置4の処理パラメータは、自動
的に設定される。
FIG. 7 shows an example in which the connection between the analysis tube 2 and the control device 3 is performed using the connector 9 and the cable 7. In this example as well, similarly to the example of FIG. 6, by connecting the connector 9 to the head unit 6A and the detecting means 5A in the head unit 6A, the control parameters of the control device 3 and the processing parameters of the data processing device 4 become: Set automatically.

【0043】また、図8の接続例では、分析管に対して
一つの制御装置を複数本のラインで接続し、データ処理
装置からの指令によって、接続関係を電気的に切り換
え、測定する分析管の種類を切り換える。図8(a)で
は、制御装置3のチャンネルCH1〜CH3に対して分
析管2A,2B,2Cが接続され、図8(b)では、制
御装置3のチャンネルCH1〜CH3に対して分析管2
C,2A,2Bが接続された状態を示している。
In the connection example shown in FIG. 8, one control device is connected to the analysis tube by a plurality of lines, and the connection relationship is electrically switched according to a command from the data processing device to measure the analysis tube. Switch the type. 8A, the analysis tubes 2A, 2B, and 2C are connected to the channels CH1 to CH3 of the control device 3. In FIG. 8B, the analysis tubes 2 are connected to the channels CH1 to CH3 of the control device 3.
The state where C, 2A, and 2B are connected is shown.

【0044】図8の接続例による分析管の識別処理を、
図9、10のフローチャートを用いて説明する。なお、
図9のフローチャートは使用する分析管が既知の場合で
あり、図10のフローチャートは分析管を順に切り換え
て使用する場合である。また、以下では、前記図3のフ
ローチャートで共通する工程は省略して説明する。
The analysis tube identification process according to the connection example of FIG.
This will be described with reference to the flowcharts of FIGS. In addition,
The flowchart in FIG. 9 is for a case where an analysis tube to be used is known, and the flowchart in FIG. 10 is for a case where analysis tubes are sequentially switched and used. In the following, the steps common to the flowchart of FIG. 3 will be omitted.

【0045】図9のフローチャートにおいて、ステップ
S1,2の工程の後(ステップS11)、使用する分析
管を設定し(ステップS12)、ステップS3の工程で
分析管の識別処理を指令する(ステップS13)。
In the flowchart of FIG. 9, after the steps S1 and S2 (step S11), an analysis tube to be used is set (step S12), and an identification process of the analysis tube is instructed in the step S3 (step S13). ).

【0046】制御装置は、複数あるチャンネルの一つに
識別信号を送り(ステップS14)、ステップS4,5
で分析管の識別を行い、通知を行う(ステップS1
5)。識別した分析管がステップS12で設定した分析
管である場合には、ステップS6,7,8の処理を行い
(ステップS18)、識別した分析管がステップS12
で設定した分析管でない場合には、チャンネルを切り換
えて(ステップS17)、再びステップS14,15,
16の処理を行う。
The control device sends an identification signal to one of the plurality of channels (step S14), and proceeds to steps S4 and S5.
To identify the analysis tube and notify (step S1)
5). If the identified analysis tube is the analysis tube set in step S12, the processes of steps S6, 7, and 8 are performed (step S18), and the identified analysis tube is set in step S12.
If the tube is not the analysis tube set in step (1), the channel is switched (step S17), and steps S14, S15, and
16 is performed.

【0047】また、図10のフローチャートにおいて、
ステップS1,2,3の工程の後(ステップS21)、
制御装置は複数あるチャンネルの一つに識別信号を送り
(ステップS22)、チャンネルに使用する分析管を設
定し(ステップS12)、ステップS4,5,6,7,
8の処理により、分析管の識別処理を行う(ステップS
23)。
In the flowchart of FIG.
After steps S1, S2, and S3 (step S21),
The control device sends an identification signal to one of the plurality of channels (step S22), sets an analysis tube to be used for the channel (step S12), and proceeds to steps S4, S5, S6, S7, and S4.
In step S8, the analysis tube is identified.
23).

【0048】上記ステップS21,22,23の処理
を、全チャンネルについて切り換えながら行うことによ
って(ステップS24,25)、全分析管についてパラ
メータの設定を自動で行い、分析を行うことができる。
By performing the processing of steps S21, S22, and S23 while switching all the channels (steps S24 and S25), the parameters can be automatically set for all the analysis tubes and the analysis can be performed.

【0049】発明の実施態様によれば、制御装置および
データ処理装置は、識別した分析管の種類に対応したパ
ラメータの自動設定を行うことができる。
According to the embodiment of the present invention, the control device and the data processing device can automatically set parameters corresponding to the type of the identified analysis tube.

【0050】また、本発明の実施態様によれば、分析管
の識別が容易となり、またパラメータの自動設定が可能
であるため、接続される分析管に種類やパラメータ設定
処理を考慮することなく制御装置の脱着を容易に行うこ
とができる。
Further, according to the embodiment of the present invention, the identification of the analysis tube becomes easy, and the parameter can be automatically set. Therefore, the control can be performed without considering the type and the parameter setting process for the connected analysis tube. The device can be easily attached and detached.

【0051】[0051]

【発明の効果】以上説明したように、本発明の四重極質
量分析計によれば、複数種類の分析管を一種類の制御装
置で制御することができ、また。分析管と制御装置の接
続において、分析管の種類の確認や各種パラメータの設
定を容易に行うことができる。
As described above, according to the quadrupole mass spectrometer of the present invention, a plurality of types of analysis tubes can be controlled by one type of control device. In connection between the analysis tube and the control device, it is possible to easily confirm the type of the analysis tube and set various parameters.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の実施の形態の第1の構成例を説明する
ための概略ブロック線図である。
FIG. 1 is a schematic block diagram for explaining a first configuration example of an embodiment of the present invention.

【図2】本発明の四重極質量分析計に用いることができ
る検出手段を説明するための図である。
FIG. 2 is a diagram for explaining detection means that can be used in the quadrupole mass spectrometer of the present invention.

【図3】本発明の四重極質量分析計における分析管の識
別処理を説明するためのフローチャートである。
FIG. 3 is a flowchart for explaining an analysis tube identification process in the quadrupole mass spectrometer of the present invention.

【図4】本発明の四重極質量分析計における分析管の識
別処理を説明するためのフローチャートの一部である。
FIG. 4 is a part of a flowchart for explaining a process of identifying an analysis tube in the quadrupole mass spectrometer of the present invention.

【図5】本発明の実施の形態の第2の構成例を説明する
ための概略ブロック線図である。
FIG. 5 is a schematic block diagram for explaining a second configuration example of the embodiment of the present invention.

【図6】本発明の四重極質量分析計の使用例を説明する
ための図である。
FIG. 6 is a diagram for explaining an example of use of the quadrupole mass spectrometer of the present invention.

【図7】本発明の四重極質量分析計の他の使用例を説明
するための図である。
FIG. 7 is a diagram for explaining another example of use of the quadrupole mass spectrometer of the present invention.

【図8】本発明の四重極質量分析計の別の使用例を説明
するための図である。
FIG. 8 is a diagram for explaining another example of use of the quadrupole mass spectrometer of the present invention.

【図9】本発明の四重極質量分析計の別の使用例を説明
するためのフローチャートである。
FIG. 9 is a flowchart for explaining another example of use of the quadrupole mass spectrometer of the present invention.

【図10】本発明の四重極質量分析計の別の使用例を説
明するためのフローチャートである。
FIG. 10 is a flowchart for explaining another example of use of the quadrupole mass spectrometer of the present invention.

【図11】従来の四重極質量分析計の構成を説明するた
めの図である。
FIG. 11 is a diagram for explaining a configuration of a conventional quadrupole mass spectrometer.

【図12】従来の四重極質量分析計の使用例を説明する
ための図でる。
FIG. 12 is a diagram for explaining an example of use of a conventional quadrupole mass spectrometer.

【図13】従来の四重極質量分析計の構成を説明するた
めの図である。
FIG. 13 is a view for explaining a configuration of a conventional quadrupole mass spectrometer.

【図14】従来の四重極質量分析計の使用例を説明する
ための図でる。
FIG. 14 is a diagram illustrating an example of use of a conventional quadrupole mass spectrometer.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…四重極質量分析計、2…分析管、3…制御装置、4
…データ処理装置、5…検出手段、6…ヘッドユニッ
ト、31…制御パラメータ、32,42…パラメータテ
ーブル、41…処理パラメータ。
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Quadrupole mass spectrometer, 2 ... Analytical tube, 3 ... Control device, 4
... data processing device, 5 ... detection means, 6 ... head unit, 31 ... control parameters, 32, 42 ... parameter table, 41 ... processing parameters.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 分析管、該分析管を制御する制御装置、
およびデータ処理装置を備えた四重極質量分析計におい
て、前記分析管は該分析管の種類を表す識別部位を備
え、前記制御装置は、識別部位を識別する識別手段を備
え、前記制御装置およびデータ処理装置の少なくとも一
方は、識別手段で識別した分析管の種類に対応したパラ
メータを選択し設定する機能を備えたことを備えたこと
を特徴とする四重極質量分析計。
An analysis tube, a control device for controlling the analysis tube,
And a quadrupole mass spectrometer equipped with a data processing device, wherein the analysis tube includes an identification portion indicating the type of the analysis tube, the control device includes identification means for identifying the identification portion, the control device, A quadrupole mass spectrometer characterized in that at least one of the data processing devices has a function of selecting and setting a parameter corresponding to the type of the analysis tube identified by the identification means.
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