JPH10208692A - Ion trap mass spectrograph - Google Patents

Ion trap mass spectrograph

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JPH10208692A
JPH10208692A JP9013534A JP1353497A JPH10208692A JP H10208692 A JPH10208692 A JP H10208692A JP 9013534 A JP9013534 A JP 9013534A JP 1353497 A JP1353497 A JP 1353497A JP H10208692 A JPH10208692 A JP H10208692A
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end cap
ion trap
electric field
auxiliary
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郁夫 小西
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To improve the detection sensitivity of an ion and the sensitivity of an ion trap mass spectrograph without giving asymmetry to the electric field in the vicinity of the center in an ion trap electrode. SOLUTION: An ion trap mass spectrograph is provided with a ring electrode 2 of at least one side of end cap electrodes 3 and 4 and auxiliary electrodes 11 and 12 on the opposite side, and voltage is applied between auxiliary electrodes 11 and 12 and end cap electrodes 3 and 4. The ion is trapped by trapping electric field by the ring electrode 2 formed inside an ion trap electrode 10 and auxiliary high frequency electric field by end cap electrodes 3 and 4. Then, when DC or high frequency voltage is applied between auxiliary electrodes 11 and 12 and end cap electrodes 3 and 4, an electric field which is different from trapping electric field or auxiliary high frequency electric field is formed inside the ion trap electrode 10 through holes bored through end cap electrodes 3 and 4. This electric field promotes the extracting action of ions to the outside, increases amounts of detection by a detector and improves detection sensitivity.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、質量分析装置に関
し、特にイオントラップ電極を備えた質量分析装置に関
する。
The present invention relates to a mass spectrometer, and more particularly to a mass spectrometer provided with an ion trap electrode.

【0002】[0002]

【従来の技術】質量分析装置は、質量対電荷比に従って
サンプル中の分子を質量毎に選択し分離する装置であ
り、サンプル中の分子は種々の手段によって、解離ある
いは結合した状態でイオン化し、このイオン化した分子
を質量対電荷比に従って磁界,電界あるいはその両者に
よって運動させることによって分離を行っている。例え
ば、四重極質量分析装置では、特定形状の電極に高周波
電圧と直流電圧とを重畳した電圧を印加して形成した高
周波電場および直流電場内にイオンを電極の軸方向に入
射し、イオンと電場の相互作用によってイオンを選択的
に分離している。
2. Description of the Related Art A mass spectrometer is a device for selecting and separating molecules in a sample for each mass in accordance with a mass-to-charge ratio. The molecules in a sample are ionized in a dissociated or bound state by various means. The separation is performed by moving the ionized molecules by a magnetic field, an electric field, or both according to a mass-to-charge ratio. For example, in a quadrupole mass spectrometer, ions are incident in the axial direction of the electrode in a high-frequency electric field and a direct-current electric field formed by applying a voltage obtained by superimposing a high-frequency voltage and a direct-current voltage to an electrode of a specific shape, and the ions and the electric field Ions are selectively separated by the interaction of

【0003】これに対して、イオントラップ質量分析装
置はイオンに対して3方向に作用して、選択されたイオ
ンを電極内部にトラップして閉じ込めておくことができ
る装置であり、通常、高周波電場によってイオンを電極
内部に閉じ込め、高周波電圧の変化や補助高周波電界の
印加によってイオンを検出器に向け放出させている。ま
た、電極内部において、閉じ込めた親イオンを衝突させ
て分離し、放出された娘イオンの質量スペクトルを検出
することも行なわれる。
On the other hand, an ion trap mass spectrometer is a device which acts on ions in three directions to trap and confine selected ions inside an electrode. Thus, the ions are confined inside the electrode, and the ions are emitted toward the detector by a change in a high-frequency voltage or application of an auxiliary high-frequency electric field. Also, inside the electrode, the confined parent ions are collided and separated, and the mass spectrum of the released daughter ions is also detected.

【0004】図6は従来より知られるイオントラップ電
極の概略図である。図6において、イオントラップ電極
21は、回転双曲面を持つリング電極22と第1,2エ
ンドキャップ電極23,24を備え、該電極22〜24
に交流電圧および直流電圧を印加してイオンを捕捉す
る。交流電圧の周波数は、ラジオ波(RF)領域が使用
される。直流電圧Uと交流電圧Vcos ωtを電極に与え
ると、質量m,電荷eを持つ荷電粒子は(m/e,r0
,U,V,ω)について一定の条件の下で安定に電極
内にトラップされる。なお、r0 はリング電極22の最
小半径である。従って、r0 とωが与えられるとき、m
/eのイオン種が安定にトラップされるためには、Uと
Vの大きさに制限が加わることになる。図7はトラップ
可能電圧条件を表す図であり、m/eが78,51,3
9,26について示し、斜線部分はm/eが51の場合
の安定にトラップされる領域を示している。
FIG. 6 is a schematic view of a conventionally known ion trap electrode. 6, the ion trap electrode 21 includes a ring electrode 22 having a hyperboloid of revolution and first and second end cap electrodes 23 and 24.
An AC voltage and a DC voltage are applied to capture ions. As the frequency of the AC voltage, a radio wave (RF) region is used. When a DC voltage U and an AC voltage Vcos ωt are applied to the electrodes, charged particles having mass m and charge e are (m / e, r0
, U, V, ω) are stably trapped in the electrode under certain conditions. Here, r0 is the minimum radius of the ring electrode 22. Therefore, given r0 and ω, m
In order to stably trap the ion species of / e, the size of U and V is limited. FIG. 7 is a diagram showing a trappable voltage condition, where m / e is 78, 51, 3
9 and 26, the shaded area indicates an area where the trap is stable when m / e is 51.

【0005】電極内でトラップされたイオンは与えられ
た交流電場の角周波数ωで振動するとともに、rおよび
z方向に対してωよりも遅い周期で調和振動し、電極の
セルの中心付近をゆっくりと∞型に振動しながらωの周
期で小振幅の振動をする。
The ions trapped in the electrode oscillate at the angular frequency ω of the applied AC electric field, and harmonically oscillate with a period slower than ω in the r and z directions, and slowly move near the center of the electrode cell. It vibrates in a small amplitude with a period of ω while vibrating in the shape of ∞.

【0006】図8は、上記したイオントラップ電極を用
いた従来のイオントラップ質量分析装置を説明するため
の図である。図8において、イオントラップ電極21
は、回転双曲面を持つリング電極22と、該リング電極
22の開放端に設けられた第1,2エンドキャップ電極
23,24を備え、リング電極22には主RF電源25
が接続され、また第1,2エンドキャップ電極23,2
4にはトランス28を介して補助RF電源26が接続さ
れ、両電源は制御回路27によって制御されている。
FIG. 8 is a view for explaining a conventional ion trap mass spectrometer using the above-described ion trap electrode. In FIG. 8, the ion trap electrode 21
Includes a ring electrode 22 having a hyperboloid of revolution, and first and second end cap electrodes 23 and 24 provided at open ends of the ring electrode 22.
Are connected, and the first and second end cap electrodes 23, 2
4 is connected to an auxiliary RF power supply 26 via a transformer 28, and both power supplies are controlled by a control circuit 27.

【0007】第1,2エンドキャップ電極23,24の
中央部分には貫通孔が形成される。第1エンドキャップ
電極23側の貫通孔は、図示しない試料イオン化室で発
生したイオンやイオン化用電子ビームのイオントラップ
電極内への導入に使用し、また、第2エンドキャップ電
極24側の貫通孔は、外側に設けた二次電子倍増管等の
検出器29へのイオンの取り出しに使用する。測定装置
39は、検出器29の検出信号を用いて質量スペクトル
を求める。
[0007] Through holes are formed in the central portions of the first and second end cap electrodes 23 and 24. The through hole on the first end cap electrode 23 side is used for introducing ions generated in a sample ionization chamber (not shown) or an electron beam for ionization into the ion trap electrode, and the through hole on the second end cap electrode 24 side. Is used for extracting ions to a detector 29 such as a secondary electron multiplier provided outside. The measurement device 39 obtains a mass spectrum using the detection signal of the detector 29.

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】従来のイオントラップ
質量分析装置では、イオンの検出感度が低いという問題
点がある。従来のイオントラップ質量分析装置に用いる
イオントラップ電極では、電極内部のイオンは両側のエ
ンドキャップ電極に形成された貫通孔から外部に放出さ
れるが、イオン検出器は2つのエンドキャップ電極の一
方の側にのみ設置する構成であるため、他方の貫通孔か
ら放出されるイオンはイオン検出に寄与せず、放出され
るイオンの検出が有効に行なわれていない。
The conventional ion trap mass spectrometer has a problem that the ion detection sensitivity is low. In the ion trap electrode used in the conventional ion trap mass spectrometer, ions inside the electrode are ejected to the outside through through holes formed in the end cap electrodes on both sides, but the ion detector uses one of the two end cap electrodes. Since it is configured to be installed only on the side, ions emitted from the other through-hole do not contribute to ion detection, and the detection of emitted ions is not effectively performed.

【0009】従来より、イオン検出感度を向上させるた
めに、リング電極やエンドキャップ電極を特殊な形状と
したり、両エンドキャップ電極にバイアスを加えて不均
衡な電圧を印加する等の方法が提案されている。しかし
ながら、リング電極やエンドキャップ電極を特殊な形状
に加工するには費用がかかり、該電極に印加する電圧に
は高精度の周波数制御が必要となるという問題が生じ、
また、不均衡な電圧印加を行うと、イオントラップ電極
内の電界が電極の機械的中心からずれたり、バイアスの
大きさによる影響が生じるといった問題がある。
Conventionally, in order to improve the ion detection sensitivity, a method has been proposed in which a ring electrode or an end cap electrode is formed into a special shape, or a bias is applied to both end cap electrodes to apply an unbalanced voltage. ing. However, processing a ring electrode or an end cap electrode into a special shape is expensive, and the voltage applied to the electrode requires high-precision frequency control.
In addition, when an imbalanced voltage is applied, there is a problem that an electric field in the ion trap electrode is deviated from the mechanical center of the electrode and the influence of the magnitude of the bias occurs.

【0010】そこで、本発明は前記した問題点を解決
し、イオントラップ電極内の中心近傍の電界に非対称性
を与えることなくイオンの検出感度を向上させて、イオ
ントラップ質量分析装置の感度を向上させることを目的
とする。
Therefore, the present invention solves the above-mentioned problems and improves the sensitivity of ion trap mass spectrometry by improving the ion detection sensitivity without imparting asymmetry to the electric field near the center in the ion trap electrode. The purpose is to let them.

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】本発明は、イオントラッ
プ質量分析装置において、少なくとも片側のエンドキャ
ップ電極から選択的にイオンを放出する構成とすること
によって、イオントラップ電極内の中心近傍の電界に非
対称性を与えることなくイオンの検出感度を向上させ
て、イオントラップ質量分析装置の感度を向上させるも
のである。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention is directed to an ion trap mass spectrometer in which an ion is selectively emitted from at least one end cap electrode to reduce an electric field near the center of the ion trap electrode. The object of the present invention is to improve the sensitivity of an ion trap mass spectrometer by improving the ion detection sensitivity without giving asymmetry.

【0012】本発明のイオントラップ質量分析装置は、
リング電極と、リング電極の両開放端に設けた貫通孔を
有する一対のエンドキャップ電極と、RF周波数ωで振
幅Vの交流電圧をリング電極に印加する主RF電源と、
エンドキャップ電極の少なくとも一方に高周波電圧を印
加する補助RF電源と、前記電源を制御する制御回路
と、一方のエンドキャップ電極の貫通孔から放出される
イオンを検出する検出器と、検出したイオンの数と振幅
Vとに基づいて質量スペクトルを求める測定装置とを備
えたイオントラップ質量分析装置において、少なくとも
一方のエンドキャップ電極のリング電極と反対側に補助
電極を設け、この補助電極にエンドキャップ電極との間
で電圧を印加するものとする。
[0012] The ion trap mass spectrometer of the present invention comprises:
A ring electrode, a pair of end cap electrodes having through holes provided at both open ends of the ring electrode, and a main RF power supply for applying an AC voltage having an amplitude V at an RF frequency ω to the ring electrode;
An auxiliary RF power supply that applies a high-frequency voltage to at least one of the end cap electrodes, a control circuit that controls the power supply, a detector that detects ions emitted from a through hole of one of the end cap electrodes, An ion trap mass spectrometer comprising a measuring device for obtaining a mass spectrum based on the number and the amplitude V, wherein an auxiliary electrode is provided on at least one end cap electrode on the side opposite to the ring electrode, and the auxiliary electrode is provided with an end cap electrode. And a voltage is applied between them.

【0013】本発明のイオントラップ質量分析装置によ
れば、イオントラップ電極の内部にはリング電極による
トラッピング電界とエンドキャップ電極による補助高周
波電界が形成され、これらの電界によってイオンはイオ
ントラップ電極内にトラップされる。このとき、少なく
とも一方のエンドキャップ電極のリング電極と反対側に
設けた補助電極に、エンドキャップ電極との間で直流ま
たは高周波電圧を印加すると、エンドキャップ電極に設
けた貫通孔を通してイオントラップ電極の内部に、前記
したトラッピング電界や補助高周波電界と異なる電界が
形成される。この補助電極により形成される電界は、電
界極性によりイオンをイオントラップ電極内部から外部
に取り出す方向に作用するか抑制する方向に作用する。
従って、検出器が検出するイオン量を増加させ、検出感
度を向上させることができる。
According to the ion trap mass spectrometer of the present invention, a trapping electric field by the ring electrode and an auxiliary high-frequency electric field by the end cap electrode are formed inside the ion trap electrode, and these electric fields cause ions to enter the ion trap electrode. Be trapped. At this time, when a DC or high-frequency voltage is applied between the end cap electrode and the auxiliary electrode provided on the opposite side to the ring electrode of at least one end cap electrode, the ion trap electrode is formed through the through hole provided in the end cap electrode. An electric field different from the trapping electric field and the auxiliary high-frequency electric field is formed therein. The electric field formed by the auxiliary electrode acts in a direction of taking out ions from the inside of the ion trap electrode to the outside depending on the polarity of the electric field, or acts in a direction of suppressing the ions.
Therefore, the amount of ions detected by the detector can be increased, and the detection sensitivity can be improved.

【0014】この補助電極により形成される電界はエン
ドキャップ電極の近傍にとどまるため、イオントラップ
電極内の中心近傍の電界に非対称性を与えることはな
い。本発明に使用する補助電極が形成する電界はしみ出
し電界であるため、エンドキャップ電極の近傍にのみ非
対称な電界を形成する。そのため、イオントラップ電極
内部で振動するイオンの内、エンドキャップ電極付近ま
で振動したイオンだけが、補助電極で形成される非対称
電界の影響を受けて外部に取り出される。これに対し
て、イオントラップ電極の中心付近には補助電極による
電界は到達しないため、イオントラップ電極の中心付近
で振動するイオンは補助電極の影響を受けず、イオント
ラップ質量分析装置が備える本来の検出特性には影響を
与えない。
Since the electric field formed by the auxiliary electrode remains near the end cap electrode, the electric field near the center of the ion trap electrode does not have asymmetry. Since the electric field formed by the auxiliary electrode used in the present invention is a seeping electric field, an asymmetric electric field is formed only near the end cap electrode. Therefore, of the ions oscillating inside the ion trap electrode, only ions oscillating up to the vicinity of the end cap electrode are extracted to the outside under the influence of the asymmetric electric field formed by the auxiliary electrode. On the other hand, since the electric field by the auxiliary electrode does not reach near the center of the ion trap electrode, ions oscillating near the center of the ion trap electrode are not affected by the auxiliary electrode, and the original ion trap mass spectrometer has It does not affect the detection characteristics.

【0015】本発明の第1の実施態様は、補助電極に印
加する電圧は直流電圧であり、これによって、補助電極
を設置したエンドキャップ電極付近に非対称電界を形成
することができる。また、本発明の第2の実施態様は、
補助電極に印加する電圧は、エンドキャップ電極に印加
する高周波電圧と同期した高周波電圧であり、これによ
って、補助電極を設置したエンドキャップ電極付近にイ
オントラップ電極内部に発生する電界変化と同期した非
対称電界を形成して、内部電界で振動したイオンがこの
非対称電界の影響を受けやすくし、外部へのイオンの取
り出し効率を高めることができる。
According to the first embodiment of the present invention, the voltage applied to the auxiliary electrode is a DC voltage, whereby an asymmetric electric field can be formed near the end cap electrode where the auxiliary electrode is provided. Further, a second embodiment of the present invention provides
The voltage applied to the auxiliary electrode is a high-frequency voltage synchronized with the high-frequency voltage applied to the end cap electrode, whereby the asymmetrical voltage synchronized with the electric field change generated inside the ion trap electrode near the end cap electrode where the auxiliary electrode is installed By forming an electric field, ions vibrated by the internal electric field are easily affected by the asymmetric electric field, and the efficiency of extracting ions to the outside can be increased.

【0016】本発明の第3の実施態様は、エンドキャッ
プ電極は複数の貫通孔を備えるものであり、補助電極に
より形成した電界をこの貫通孔を介してイオントラップ
電極内部にしみ込ませ、エンドキャップ電極の近傍に非
対称電界の形成を行うことができる。また、本発明の第
4の実施態様は、補助電極をエンドキャップ電極に形成
した貫通孔に対応した複数の電極によって形成し、各電
極に独立して電圧を印加可能とするものであり、これに
よって、エンドキャップ電極近傍に任意の非対称電界を
形成することができる。さらに、本発明の第5の実施態
様は、補助電極を形成する複数の各電極を抵抗を介して
接続して分圧電圧を印加するものであり、これによっ
て、各電極に任意の電圧を印加して、エンドキャップ電
極近傍における任意の非対称電界の形成を容易とするも
のである。
According to a third embodiment of the present invention, the end cap electrode is provided with a plurality of through holes, and the electric field formed by the auxiliary electrode is impregnated into the inside of the ion trap electrode through the through holes. An asymmetric electric field can be formed in the vicinity of the electrode. According to a fourth embodiment of the present invention, the auxiliary electrode is formed by a plurality of electrodes corresponding to the through holes formed in the end cap electrode, and a voltage can be independently applied to each electrode. Accordingly, an arbitrary asymmetric electric field can be formed near the end cap electrode. Further, in the fifth embodiment of the present invention, a plurality of electrodes forming an auxiliary electrode are connected via a resistor to apply a divided voltage, whereby an arbitrary voltage is applied to each electrode. Thus, it is possible to easily form an arbitrary asymmetric electric field near the end cap electrode.

【0017】[0017]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図を
参照しながら詳細に説明する。本発明の実施形態につい
て、図1,2の本発明のイオントラップ質量分析装置の
概略斜視図を用いて説明する。なお、図1はイオンの取
り出し動作を説明するための図であり、図2はイオンの
トラップ動作を説明するための図である。
Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the drawings. An embodiment of the present invention will be described with reference to the schematic perspective views of the ion trap mass spectrometer of the present invention shown in FIGS. FIG. 1 is a diagram for explaining an ion extracting operation, and FIG. 2 is a diagram for explaining an ion trapping operation.

【0018】図1において、イオントラップ電極1は、
回転双曲面を持つリング電極2と第リング電極2の両開
放端に設けられる第1,2エンドキャップ電極3,4を
備え、リング電極2には主RF電源5を接続し、第1,
2エンドキャップ電極3,4にはトランス8を介して補
助RF電源6を接続する。主RF電源5はRF周波数ω
で振幅Vの交流電圧を発生して、リング電極2によって
イオントラップ電極10内にトラッピング電界を形成
し、補助RF電源6は高周波電圧を発生して、エンドキ
ャップ電極3,4によってイオントラップ電極10内に
補助高周波電界を形成する。主RF電源5および補助R
F電源6が発生する電圧やタイミングは、制御回路7に
よって制御が行なわれる。
In FIG. 1, an ion trap electrode 1 is
A ring electrode 2 having a hyperboloid of revolution and first and second end cap electrodes 3 and 4 provided at both open ends of the ring electrode 2 are connected to a main RF power source 5.
An auxiliary RF power source 6 is connected to the two end cap electrodes 3 and 4 via a transformer 8. Main RF power supply 5 has RF frequency ω
, An AC voltage having an amplitude V is generated, a trapping electric field is formed in the ion trap electrode 10 by the ring electrode 2, the auxiliary RF power source 6 generates a high-frequency voltage, and the ion trap electrode 10 is An auxiliary high-frequency electric field is formed therein. Main RF power supply 5 and auxiliary R
The control circuit 7 controls the voltage and timing generated by the F power supply 6.

【0019】エンドキャップ電極3,4には貫通孔が形
成され、該貫通孔を通してイオントラップ電極10内に
トラップされているイオンを取り出したり、あるいは該
貫通孔を通して図示しない試料イオン化室で発生したイ
オンをイオントラップ内に導入したり、イオン化用電子
ビームを導入したりする。イオンを取り出す側のエンド
キャップ電極4の外側には二次電子倍増管等の検出器9
を設け、これによって、イオントラップ電極10から選
択的に取り出したイオンの検出を行う。測定装置19
は、検出したイオンの数と主RF電源5の振幅Vとに基
づいて質量スペクトルを求める。
Through holes are formed in the end cap electrodes 3 and 4, and ions trapped in the ion trap electrode 10 are taken out through the through holes or ions generated in a sample ionization chamber (not shown) through the through holes. Is introduced into an ion trap or an electron beam for ionization is introduced. A detector 9 such as a secondary electron multiplier is provided outside the end cap electrode 4 on the side from which ions are extracted.
To detect ions selectively extracted from the ion trap electrode 10. Measuring device 19
Calculates a mass spectrum based on the number of detected ions and the amplitude V of the main RF power supply 5.

【0020】エンドキャップ電極3,4のイオントラッ
プ電極2と反対側の近傍には、第1,2補助電極11,
12が設けられる。なお、第1,2補助電極11,12
は、エンドキャップ電極の両側あるいは、検出器9側の
一方のみに設置することができる。以下、エンドキャッ
プ電極3,4の両側に設けた場合について説明する。第
1,2補助電極11,12には、それぞれ第1補助電源
13および第2補助電源14が接続され、直流電圧ある
いは高周波電圧,または両者を重畳した電圧が印加され
る。第1補助電源13,第2補助電源14は、図1中の
制御回路7あるいは図示しない別の制御回路によって制
御することができ、エンドキャップ電極に印加する高周
波電圧と同期した高周波電圧を印加する構成とすること
もできる。
In the vicinity of the end cap electrodes 3 and 4 on the side opposite to the ion trap electrode 2, first and second auxiliary electrodes 11 and
12 are provided. The first and second auxiliary electrodes 11 and 12
Can be installed on both sides of the end cap electrode or only on one side of the detector 9. Hereinafter, a case where the electrodes are provided on both sides of the end cap electrodes 3 and 4 will be described. A first auxiliary power supply 13 and a second auxiliary power supply 14 are connected to the first and second auxiliary electrodes 11 and 12, respectively, and a DC voltage, a high-frequency voltage, or a voltage obtained by superposing both of them is applied. The first auxiliary power supply 13 and the second auxiliary power supply 14 can be controlled by the control circuit 7 in FIG. 1 or another control circuit (not shown), and applies a high-frequency voltage synchronized with a high-frequency voltage applied to the end cap electrode. It can also be configured.

【0021】次に、イオントラップ電極によるイオンの
トラップ動作を図2を用いて説明し、イオントラップ電
極内部からイオンを取り出す動作について図1を用いて
説明する。図1,2中の+符号を丸印で囲んだ記号は、
正電荷のイオンを表している。なお、図2に示す構成
は、前記した図1と同様であるため、図2の構成につい
ての説明は省略する。
Next, the operation of trapping ions by the ion trap electrode will be described with reference to FIG. 2, and the operation of extracting ions from the inside of the ion trap electrode will be described with reference to FIG. The sign in which the + sign in FIGS. 1 and 2 is circled is
Represents positively charged ions. Note that the configuration shown in FIG. 2 is the same as that of FIG. 1 described above, and thus the description of the configuration in FIG. 2 will be omitted.

【0022】イオンのトラップ動作は以下のようにして
行なわれる。図2において、エンドキャップ電極3に形
成された貫通孔を通して、図示しない試料イオン化室で
発生したイオンをイオントラップ電極10内に導入する
か、あるいはイオン化用電子ビームを導入することによ
って、イオントラップ電極10内部にイオンを生成させ
る。生成したイオンは、質量/電荷,リング電極の最小
半径,直流電圧U,交流電圧の振幅V,周波数ωについ
て一定の条件の下でイオントラップ電極10内に安定に
トラップされ、交流電場の角周波数ωで振動するととも
に、イオントラップ電極10の半径方向および長軸方向
に対してωよりも遅い周期で調和振動し、電極のセルの
中心付近をゆっくりと∞型に振動しながらωの周期で小
振幅の振動をする。これによって、所定のイオンのみを
選択的にイオントラップ電極10内に閉じ込める、その
他のイオンを除去することができる。
The ion trapping operation is performed as follows. In FIG. 2, ions generated in a sample ionization chamber (not shown) are introduced into the ion trap electrode 10 through a through hole formed in the end cap electrode 3 or an electron beam for ionization is introduced. 10 to generate ions inside. The generated ions are stably trapped in the ion trap electrode 10 under certain conditions regarding the mass / charge, the minimum radius of the ring electrode, the DC voltage U, the amplitude V of the AC voltage, and the frequency ω, and the angular frequency of the AC electric field While oscillating at ω, it oscillates harmonically with a period slower than ω in the radial direction and the major axis direction of the ion trap electrode 10, and slowly vibrates in the vicinity of the center of the cell of the electrode in a 小 -shape with a small period at ω. Vibration of amplitude. Thereby, other ions that selectively confine only predetermined ions in the ion trap electrode 10 can be removed.

【0023】イオントラップ電極10内へのイオンの導
入やイオン化用電子ビームの導入時には、図2中の第2
補助電極12に、第2エンドキャップ電極4に対して正
の電圧を印加する。これによって、第2補助電極12が
生成する電界は貫通孔を通してしみ込み、第2エンドキ
ャップ電極4の近傍に正の電界を発生させ、第2エンド
キャップ電極4の近傍に局部的な非対称電界を形成す
る。この非対称電界は、イオントラップ電極10内のイ
オンが検出器9側に放出することを防止し、イオントラ
ップ電極10内でイオンのトラップを補助する。
At the time of introducing ions into the ion trap electrode 10 or introducing an ionizing electron beam, the second
A positive voltage is applied to the auxiliary electrode 12 with respect to the second end cap electrode 4. As a result, the electric field generated by the second auxiliary electrode 12 penetrates through the through-hole, generates a positive electric field near the second end cap electrode 4, and generates a local asymmetric electric field near the second end cap electrode 4. Form. This asymmetric electric field prevents ions in the ion trap electrode 10 from being emitted toward the detector 9 and assists in trapping ions in the ion trap electrode 10.

【0024】次に、イオンの取り出し動作は以下のよう
にして行なわれる。図1において、第2補助電極12
に、第2エンドキャップ電極4に対して負の電圧を印加
する。これによって、第2補助電極12が生成する電界
は貫通孔を通してしみ込みに、第2エンドキャップ電極
4の近傍に負の電界を発生させ、第2エンドキャップ電
極4の近傍に局部的な非対称電界を形成する。この非対
称電界は、イオントラップ電極10内のイオンが検出器
9への放出を促す作用となり、検出器9によるイオンの
検出効率が向上する。なお、このとき、第2補助電極1
2が検出する非対称電界は、第2エンドキャップ電極4
の近傍のみであって、イオントラップ電極10の中心付
近の電界には影響を与えない。また、第2補助電極12
には、エンドキャップ電極4に印加する高周波電圧と同
期した高周波電圧を印加する構成とすることもできる。
Next, the operation of extracting ions is performed as follows. In FIG. 1, the second auxiliary electrode 12
Then, a negative voltage is applied to the second end cap electrode 4. As a result, the electric field generated by the second auxiliary electrode 12 penetrates through the through-hole to generate a negative electric field near the second end cap electrode 4, and a local asymmetric electric field near the second end cap electrode 4. To form The asymmetric electric field has a function of promoting the emission of ions in the ion trap electrode 10 to the detector 9, thereby improving the efficiency of detection of ions by the detector 9. At this time, the second auxiliary electrode 1
The asymmetric electric field detected by the second end cap electrode 4
And does not affect the electric field near the center of the ion trap electrode 10. Also, the second auxiliary electrode 12
Alternatively, a configuration in which a high-frequency voltage synchronized with a high-frequency voltage applied to the end cap electrode 4 may be applied.

【0025】また、第1補助電極11に、第1エンドキ
ャップ電極3に対して正の電圧を印加する。これによっ
て、第1補助電極11が生成する電界は貫通孔を通して
しみ込み、第1エンドキャップ3電極の近傍に正の電界
を発生させ、第1エンドキャップ電極3の近傍に局部的
な非対称電界を形成する。この非対称電界は、イオント
ラップ電極10内のイオンが第1エンドキャップ電極3
の貫通孔を通して外部に放出することを防止し、検出器
9によるイオンの検出効率が向上させる。
Further, a positive voltage is applied to the first auxiliary electrode 11 with respect to the first end cap electrode 3. As a result, the electric field generated by the first auxiliary electrode 11 penetrates through the through-hole, generates a positive electric field near the first end cap electrode 3, and generates a local asymmetric electric field near the first end cap electrode 3. Form. This asymmetric electric field causes the ions in the ion trap electrode 10
Is prevented from being released to the outside through the through hole, and the detection efficiency of ions by the detector 9 is improved.

【0026】次に、図3,4,5を用いてイオントラッ
プ電極の構成例について説明する。
Next, a configuration example of the ion trap electrode will be described with reference to FIGS.

【0027】図3はイオントラップ電極の第1の構成例
を説明するため一部を切り欠いた斜視図である。図3に
おいて、イオントラップ電極10は、リング電極2と第
1,2エンドキャップ電極3,4を備え、エンドキャッ
プ電極および補助電極を同心円状に形成する構成であ
る。
FIG. 3 is a partially cutaway perspective view for explaining a first configuration example of the ion trap electrode. In FIG. 3, the ion trap electrode 10 includes a ring electrode 2 and first and second end cap electrodes 3 and 4, and has a configuration in which the end cap electrode and the auxiliary electrode are formed concentrically.

【0028】第1,2エンドキャップ電極3,4の中心
部分には、軸方向に貫通孔が形成され、軸方向に貫通し
た絶縁体15,16を介して第1,2補助電極11,1
2が取り付けられる。この第1,2補助電極11,12
にも軸方向に貫通孔が形成され、該貫通孔を通してイオ
ンや電子ビームの導入あるいはイオンの取り出しが行な
われる。第1補助電極11には第1補助電源13が接続
され、第2補助電極12には第1補助電源14が接続さ
れる。上記構成により、第1,2補助電極11,12に
より発生した電界は、中心の貫通孔を通ってイオントラ
ップ電極10内部にしみ込み、非対称電界を形成する。
A through hole is formed in the center of the first and second end cap electrodes 3 and 4 in the axial direction, and the first and second auxiliary electrodes 11 and 1 are formed through insulators 15 and 16 penetrating in the axial direction.
2 is attached. The first and second auxiliary electrodes 11, 12
Through holes are also formed in the axial direction, and ions or electron beams are introduced or ions are extracted through the through holes. A first auxiliary power supply 13 is connected to the first auxiliary electrode 11, and a first auxiliary power supply 14 is connected to the second auxiliary electrode 12. With the above configuration, the electric field generated by the first and second auxiliary electrodes 11 and 12 penetrates into the inside of the ion trap electrode 10 through the central through-hole to form an asymmetric electric field.

【0029】図4はイオントラップ電極の第2の構成例
を説明するため一部を切り欠いた斜視図である。図4に
おいて、イオントラップ電極10は、リング電極2と第
1,2エンドキャップ電極3,4を備え、エンドキャッ
プ電極に複数個の貫通孔を形成する構成である。
FIG. 4 is a partially cutaway perspective view for explaining a second configuration example of the ion trap electrode. 4, the ion trap electrode 10 includes a ring electrode 2 and first and second end cap electrodes 3 and 4, and has a configuration in which a plurality of through holes are formed in the end cap electrode.

【0030】第1,2エンドキャップ電極3,4には、
中心部分と周囲部分の複数箇所に貫通孔18が形成さ
れ、絶縁体17を挟んで第1,2補助電極11,12が
取り付けられる。この第1,2補助電極11,12には
中心部分に貫通孔が形成される。イオンや電子ビームの
導入あるいはイオンの取り出しは、エンドキャップ電極
および補助電極の中心部分に形成した貫通孔を通して行
われる。第1補助電極11には第1補助電源13が接続
され、第2補助電極12には第1補助電源14が接続さ
れる。
The first and second end cap electrodes 3 and 4 include:
Through holes 18 are formed at a plurality of locations in the central portion and the peripheral portion, and the first and second auxiliary electrodes 11 and 12 are attached with the insulator 17 interposed therebetween. Through holes are formed in the first and second auxiliary electrodes 11 and 12 at central portions thereof. The introduction of ions or electron beams or the extraction of ions is performed through through holes formed in the center portions of the end cap electrode and the auxiliary electrode. A first auxiliary power supply 13 is connected to the first auxiliary electrode 11, and a first auxiliary power supply 14 is connected to the second auxiliary electrode 12.

【0031】上記構成により、第1,2補助電極11,
12により発生した電界は、エンドキャップ3,4の中
心部分に形成した貫通孔および周囲部分に形成した複数
個の貫通孔を通ってイオントラップ電極10内部にしみ
込み、非対称電界を形成する。
With the above configuration, the first and second auxiliary electrodes 11,
The electric field generated by the electrode 12 penetrates the inside of the ion trap electrode 10 through a through hole formed in the center portion of the end caps 3 and 4 and a plurality of through holes formed in the peripheral portion, thereby forming an asymmetric electric field.

【0032】図5に示す断面図は第3の構成例であり、
図4に示す第2の構成例において、第1,2補助電極1
1,12を、第1,2エンドキャップ電極3,4に形成
した複数の貫通孔に対応して分割した複数個の電極によ
り構成した例である。なお、図5では第2補助電極12
および第2エンドキャップ電極4のみを示している。分
割した電極は、エンドキャップ4に形成した貫通孔に対
応した位置に配置され、電極で発生した電界が貫通孔を
通してイオントラップ電極内部にしみ込むよう構成す
る。
The sectional view shown in FIG. 5 is a third configuration example.
In the second configuration example shown in FIG.
This is an example in which 1 and 12 are constituted by a plurality of electrodes divided corresponding to a plurality of through holes formed in the first and second end cap electrodes 3 and 4. In FIG. 5, the second auxiliary electrode 12
And only the second end cap electrode 4 is shown. The divided electrodes are arranged at positions corresponding to the through holes formed in the end cap 4 so that an electric field generated by the electrodes penetrates into the ion trap electrode through the through holes.

【0033】各分割電極には、電圧を独立して印加する
ことができるよう構成し、これによって、電界のパター
ンを任意とすることができる。また図5に示す例では、
各分割した電極間を抵抗を介して接続する構成とするこ
とよって、各電極に分圧電圧を印加している。
Each of the divided electrodes is configured to be capable of independently applying a voltage, whereby an electric field pattern can be made arbitrary. In the example shown in FIG.
A divided voltage is applied to each electrode by connecting each divided electrode via a resistor.

【0034】上記実施の形態によれば、補助電極に直流
電圧を印加することによって、補助電極を設置したエン
ドキャップ電極付近に非対称電界を形成することがで
き、また、補助電極にエンドキャップ電極に印加する高
周波電圧と同期した高周波電圧を印加することによっ
て、内部電界で振動したイオンの非対称電界による影響
を受けやすくし、外部へのイオンの取り出し効率を高め
ることができる。
According to the above embodiment, by applying a DC voltage to the auxiliary electrode, an asymmetric electric field can be formed near the end cap electrode where the auxiliary electrode is provided. By applying a high-frequency voltage synchronized with the high-frequency voltage to be applied, it is easy to be affected by the asymmetric electric field of ions vibrated by the internal electric field, and the efficiency of extracting ions to the outside can be increased.

【0035】本発明の形態によれば、複数の貫通孔を備
えたエンドキャップ電極を用いることによって、エンド
キャップ電極の近傍に非対称電界の形成を行うことがで
きる。また、補助電極を該貫通孔に対応した複数の電極
によって形成し、各電極に独立して電圧を印加すること
によって、エンドキャップ電極近傍に任意の非対称電界
を形成することができる。
According to the embodiment of the present invention, an asymmetric electric field can be formed near the end cap electrode by using the end cap electrode having a plurality of through holes. Further, by forming the auxiliary electrode with a plurality of electrodes corresponding to the through holes and applying a voltage to each electrode independently, an arbitrary asymmetric electric field can be formed near the end cap electrode.

【0036】[0036]

【発明の効果】以上説明したように、本発明のイオント
ラップ質量分析装置によれば、イオントラップ電極内の
中心近傍の電界に非対称性を与えることなくイオンの検
出感度を向上させて、イオントラップ質量分析装置の感
度を向上させることができる。
As described above, according to the ion trap mass spectrometer of the present invention, the ion detection sensitivity can be improved without imparting asymmetry to the electric field near the center of the ion trap electrode. The sensitivity of the mass spectrometer can be improved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明のイオントラップ質量分析装置の概略斜
視図であり、イオン取り出しを説明するための図であ
る。
FIG. 1 is a schematic perspective view of an ion trap mass spectrometer according to the present invention, for explaining ion extraction.

【図2】本発明のイオントラップ質量分析装置の概略斜
視図であり、イオントラップを説明するための図であ
る。
FIG. 2 is a schematic perspective view of the ion trap mass spectrometer of the present invention, which is a view for explaining the ion trap.

【図3】イオントラップ電極の第1の構成例を説明する
ため一部を切り欠いた斜視図である。
FIG. 3 is a partially cutaway perspective view for explaining a first configuration example of the ion trap electrode.

【図4】イオントラップ電極の第2の構成例を説明する
ため一部を切り欠いた斜視図である。
FIG. 4 is a partially cutaway perspective view for explaining a second configuration example of the ion trap electrode.

【図5】イオントラップ電極の第3の構成例を説明する
ため一部を切り欠いた斜視図である。
FIG. 5 is a partially cutaway perspective view for explaining a third configuration example of the ion trap electrode.

【図6】従来より知られるイオントラップ電極の概略図
である。
FIG. 6 is a schematic view of a conventionally known ion trap electrode.

【図7】トラップ可能電圧条件を表す図である。FIG. 7 is a diagram illustrating a trappable voltage condition.

【図8】イオントラップ電極を用いた従来のイオントラ
ップ質量分析装置を説明するための図である。
FIG. 8 is a view for explaining a conventional ion trap mass spectrometer using an ion trap electrode.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…イオントラップ質量分析装置、2…リング電極、
3,4…エンドキャップ電極、5…主RF電源、6…補
助RF電源、7…制御回路、8…トランス、9…検出
器、10…イオントラップ電極、11,12…補助電
極、13,14…補助電源、15,16,17…絶縁
体、18…貫通孔、19…測定装置。
1 ... Ion trap mass spectrometer, 2 ... Ring electrode,
3, 4 end cap electrode, 5 main RF power supply, 6 auxiliary RF power supply, 7 control circuit, 8 transformer, 9 detector, 10 ion trap electrode, 11, 12 auxiliary electrode, 13, 14 ... Auxiliary power supply, 15, 16, 17 ... Insulator, 18 ... Through hole, 19 ... Measuring device.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 リング電極と、リング電極の両開放端に
設けた貫通孔を有する一対のエンドキャップ電極と、R
F周波数ωで振幅Vの交流電圧をリング電極に印加する
主RF電源と、エンドキャップ電極の少なくとも一方に
高周波電圧を印加する補助電源と、前記電源を制御する
制御回路と、一方のエンドキャップ電極の貫通孔から放
出されるイオンを検出する検出器と、検出したイオンの
数と振幅Vとに基づいて質量スペクトルを求める測定装
置とを備えたイオントラップ質量分析装置において、少
なくとも一方のエンドキャップ電極のリング電極と反対
側に、エンドキャップ電極との間で電圧が印加される補
助電極を設けたことを特徴とするイオントラップ質量分
析装置。
A ring electrode; a pair of end cap electrodes having through holes provided at both open ends of the ring electrode;
A main RF power source for applying an AC voltage having an amplitude V at an F frequency ω to the ring electrode, an auxiliary power source for applying a high-frequency voltage to at least one of the end cap electrodes, a control circuit for controlling the power source, and one end cap electrode At least one end cap electrode in an ion trap mass spectrometer comprising a detector for detecting ions emitted from the through-holes of the target and a measuring device for obtaining a mass spectrum based on the number and amplitude V of the detected ions. An ion trap mass spectrometer, wherein an auxiliary electrode to which a voltage is applied between the ring electrode and the end cap electrode is provided.
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