JPH10197907A - Electrochromic element - Google Patents

Electrochromic element

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JPH10197907A
JPH10197907A JP9061399A JP6139997A JPH10197907A JP H10197907 A JPH10197907 A JP H10197907A JP 9061399 A JP9061399 A JP 9061399A JP 6139997 A JP6139997 A JP 6139997A JP H10197907 A JPH10197907 A JP H10197907A
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JP
Japan
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layer
electrode layer
thin film
upper electrode
lower electrode
Prior art date
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Pending
Application number
JP9061399A
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Japanese (ja)
Inventor
Akiko Sakamoto
晶子 坂本
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Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
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  • Electrochromic Elements, Electrophoresis, Or Variable Reflection Or Absorption Elements (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To obtain an electrochromic(EC) element of <=25% in the lower limit of transmittance by providing this element with the constitution obtd. by joining a pair of element substrates formed with EC layers and a pair of electrode layers holding these layers on the surfaces with sealing resins by disposing the forming surfaces of the respective layers opposite to each other. SOLUTION: This element is constituted by joining the EC elements (two) formed on the substrates with the sealing resins by disposing the element surfaces on the inner side. In this production process, a lower electrode layer 11, the EC layer 1 and an upper electrode layer 12 are first successively laminated on the one surface of the glass substrate 3. A lower electrode layer 21, the EC layer 2 and an upper electrode layer 22 are then successively laminated on the one surface of the other glass substrate 4. The substrates are stuck to each other with the sealing resins 5 by disposing the EC element formed on the glass substrate 3 and the EC element formed on the glass substrate 4 face to face. Conductive thin films or conductive paste, etc., are formed on the lower electrode layers 11, 21, upper electrode layers 12, 22, etc., exposed without being covered with the sealing resins 5.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、光量制御や表示に
使用されるエレクトロクロミック素子に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an electrochromic device used for controlling light quantity and displaying.

【0002】[0002]

【従来の技術】電圧を印加すると可逆的に電解酸化また
は還元反応が起こり、可逆的に着消色する現象をエレク
トロクロミズムという。この様な現象を示すエレクトロ
クロミック(以下、ECと略す場合がある)物質を用い
て、電圧操作により着消色するEC素子(以下、ECDと略
す場合がある)を作り、このECD を光量制御素子(例え
ば、調光ガラスや防眩ミラーなど)や7セグメントを利
用した数字表示素子に利用しようとする試みは、20年
以上前から行われている。
2. Description of the Related Art A phenomenon in which an electrolytic oxidation or reduction reaction occurs reversibly when a voltage is applied, and the color reversibly turns on and off is called electrochromism. Using an electrochromic (hereinafter sometimes abbreviated as EC) substance that exhibits such a phenomenon, an EC element (hereinafter sometimes abbreviated as ECD) that can be turned on and off by applying voltage is made, and the ECD is controlled in light intensity. Attempts to use elements (for example, light control glass and anti-glare mirrors) and numerical display elements using 7 segments have been made for more than 20 years.

【0003】ECDは、ECDを構成する各層の材料形態によ
って、溶液型、ゲル型、全固体型等に大別することがで
き、その中でも全固体型ECDは、各層が全て薄膜状に積
層して形成されている。そのため、全固体型ECDでは、
溶液型やゲル型のECDを作製するときのような、各層を
別々の素子基板に形成して両素子基板を貼り合わせる工
程や液状材料の密封の工程が不要であり、大型化が容易
と考えられている。
ECDs can be broadly classified into solution type, gel type, all solid type, etc. according to the material form of each layer constituting the ECD. Among them, all solid type ECDs are formed by laminating all layers in a thin film form. It is formed. Therefore, in the all-solid-state ECD,
The process of forming each layer on a separate device substrate and bonding both device substrates and the process of sealing the liquid material, such as when manufacturing a solution-type or gel-type ECD, are not necessary, and it is thought that the size can be easily increased. Have been.

【0004】例えば、ガラス基板の上に、透明電極層
(陰極)、三酸化タングステン薄膜層(EC層)、二酸化
ケイ素のような絶縁層、電極層(陽極)を順次積層して
なるECD(特公昭52−46098参照)が全固体型ECD
として知られている。ECDに電圧(着色電圧)を印加す
ると、三酸化タングステン(WO3)薄膜層が青色に着色
する。その後、このECDに逆の電圧(消色電圧)を印加
すると、WO3薄膜層の青色が消えて、無色になる。この
着消色する機構は詳しくは解明されていないが、WO3
膜層及び絶縁層(イオン導電層)中に含まれる少量の水
分がWO3の着消色を支配していると理解されている。
[0004] For example, an ECD (special feature) in which a transparent electrode layer (cathode), a tungsten trioxide thin film layer (EC layer), an insulating layer such as silicon dioxide, and an electrode layer (anode) are sequentially laminated on a glass substrate. All-solid-state ECD
Also known as When a voltage (coloring voltage) is applied to the ECD, the tungsten trioxide (WO 3 ) thin film layer is colored blue. Thereafter, when a reverse voltage (decoloring voltage) is applied to this ECD, the blue color of the WO 3 thin film layer disappears, and the ECD becomes colorless. Although the mechanism of the discoloration is not elucidated in detail, it is understood that a small amount of water contained in the WO 3 thin film layer and the insulating layer (ion conductive layer) controls the discoloration of the WO 3. I have.

【0005】着色の反応式は、以下のように推定されて
いる。 従って、このような表示素子の欠点としては、 (1)着色反応の際、酸素ガス発生という好ましくない
副反応により含有水分が消費されること、及び(2)逆
の消色反応によって水が生成されないので、着色の繰り
返しには大気中からの水の補給が必要なことである。特
に後者(2)の理由によりこのタイプの表示素子には、
着色の再現性が大気中の水分の影響を受ける欠点があ
る。
[0005] The reaction formula for coloring is estimated as follows. Therefore, the disadvantages of such a display element include: (1) the contained water is consumed by an undesired side reaction such as generation of oxygen gas during the coloring reaction, and (2) water is generated by the reverse decoloring reaction. Therefore, it is necessary to replenish water from the atmosphere in order to repeat coloring. In particular, for the latter reason (2), this type of display element includes:
There is a disadvantage that the reproducibility of coloring is affected by atmospheric moisture.

【0006】最近、着色反応により消費される水の量と
同じ量の水が消色反応により生成され、従って外界から
の水の補給を必要とせずに着色消色を繰り返すことがで
き、しかも繰り返される着色濃度が外界の影響を受けな
い全固体型EC素子が提案された(特開昭52−7374
9号公報参照)。この表示素子は、基本的には透明電極
膜、電解還元発色性薄膜(EC層)たとえばWO3、電解酸
化性薄膜(EC層)例えばCr2O3、及び対向電極を順次積
層してなるものである。又、前記公報の開示によれば、
電圧印加による着色後、電圧を解除した場合、着色が自
然放電により次第に消色する現象が見られ、電圧解除後
も着色が保存される性質(これをメモリー性という)を
この表示素子に与えるためには、透明電極と対向電極と
の間の任意の位置に絶縁膜例えば二酸化ケイ素、フッ化
マグネシウムなどの薄膜を設ける必要があるという。特
公昭62−52845号公報によれば、この絶縁膜は、
電子の良導体ではないが、プロトン、及びヒドロキシイ
オンの移動は自由にできる物質である、つまりイオン導
電物質と推察されている。また、前記公報の開示によれ
ば、絶縁膜即ちイオン導電層は電解還元発色性薄膜と電
解酸化発色性薄膜との間に存在させることが最も望まし
いこと、並びに電解還元発色性薄膜と電解酸化発色性薄
膜とは、両者とも発色性である必要がなく、いずれか一
方が外部より変化が識別できるような変色をすれば足り
ることを見い出したとされている。EC層を直接または間
接的に挟む一対の電極層は、EC層の着消色を外部に見せ
るために、少なくとも一方の電極層は透明でなければな
らない。特に、透過型ECDの場合は両電極層とも透明で
なければならない。
[0006] Recently, the same amount of water has been produced by the decoloring reaction as the amount of water consumed by the coloring reaction, so that the coloring and decoloring can be repeated without the need for replenishment of water from the outside world, and the repetition is repeated. An all-solid-state EC device in which the coloring density is not affected by the outside world has been proposed (JP-A-52-7374).
No. 9). This display element is basically formed by sequentially laminating a transparent electrode film, an electrolytic reduction color-forming thin film (EC layer) such as WO 3 , an electrolytic oxidizing thin film (EC layer) such as Cr 2 O 3 , and a counter electrode. It is. Also, according to the disclosure of the above publication,
When the voltage is released after coloring by applying a voltage, a phenomenon is seen in which the coloring gradually disappears due to spontaneous discharge, and this display element has a property that the coloring is preserved even after the voltage is released (this is called a memory property). It is necessary to provide an insulating film, for example, a thin film of silicon dioxide, magnesium fluoride, or the like at an arbitrary position between the transparent electrode and the counter electrode. According to Japanese Patent Publication No. 62-52845, this insulating film is
Although it is not a good conductor of electrons, it is a substance that can freely move protons and hydroxy ions, that is, it is presumed that it is an ion conductive substance. According to the disclosure of the above publication, it is most desirable that the insulating film, that is, the ionic conductive layer, is present between the electrolytic reduction color-forming thin film and the electrolytic oxidation color-forming thin film. It is alleged that it has been found that it is not necessary that both of the functional thin films have a color-forming property, and that either one of them has a color change such that a change can be recognized from the outside. At least one of the pair of electrode layers directly or indirectly sandwiching the EC layer must be transparent in order to make the coloration and decoloration of the EC layer appear to the outside. In particular, in the case of a transmission type ECD, both electrode layers must be transparent.

【0007】透明な電極層材料としては、現在のところ
SnO2、In2O3、ITO(In2O3とSnO2の混合物)、ZnO等が知
られているが、これらの材料は比較的透明度が悪いため
に薄くせねばならず、この理由及びその他の理由からEC
Dは素子基板(例えば、ガラス板やプラスチック板)の
上に形成されるのが普通である。また、ECDは用途によ
って、素子を保護するための封止基板を素子基板と対向
するようにするように配置し、例えばエポキシ樹脂等を
用いて密封封止して用いられる。
At present, as a transparent electrode layer material,
SnO 2 , In 2 O 3 , ITO (a mixture of In 2 O 3 and SnO 2 ), ZnO, etc. are known, but these materials have to be made thinner because of their relatively poor transparency. EC for other reasons
D is usually formed on an element substrate (for example, a glass plate or a plastic plate). In addition, the ECD is used by arranging a sealing substrate for protecting the element so as to face the element substrate depending on the use, and sealingly sealing the element with, for example, an epoxy resin.

【0008】[0008]

【発明が解決しようとしている課題】ECDの透過率は上
限は消色時で約80%、着色時で約25%である。透過
率の下限をもっと低くすると、例えば、シャッターとし
ての用途が広がることから透過率25%以下を実現する
ことが要求されている。しかし、例えば、ECDを着色さ
せることにより透過率を下げようとして印加電圧を上げ
ていくと、その素子の限界の電圧を越えるとECDは膜剥
離等を起こし壊れてしまうという問題がある。また、EC
層の膜厚を増やしても、ある膜厚以上では着色濃度は飽
和してしまい透過率を25%より下げることができな
い。本発明はこのような従来の問題点に鑑みてなされた
ものであり、透過率の下限が25%以下であるECDを提
供することを目的とする。
The upper limit of the transmittance of the ECD is about 80% when the color is erased and about 25% when the color is colored. If the lower limit of the transmittance is further reduced, for example, the application as a shutter is widened, so that it is required to realize a transmittance of 25% or less. However, for example, when the applied voltage is increased in order to lower the transmittance by coloring the ECD, if the applied voltage exceeds the limit voltage of the element, there is a problem that the ECD is peeled off and the film is broken. Also, EC
Even if the thickness of the layer is increased, the coloring density is saturated at a certain thickness or more, and the transmittance cannot be reduced below 25%. The present invention has been made in view of such conventional problems, and has as its object to provide an ECD in which the lower limit of the transmittance is 25% or less.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】そのため、本発明は第一
に「少なくともエレクトロクロミック層とこれを挟む一
対の電極層を表面にそれぞれ形成した一対の素子基板を
前記各層の形成面を互いに向かい合わせ封止樹脂を介し
て接合した構造を有することを特徴とするエレクトロク
ロミック素子(請求項1)」を提供する。
Accordingly, the present invention firstly provides a device comprising: a pair of element substrates each having at least an electrochromic layer and a pair of electrode layers sandwiching the electrochromic layer formed on a surface thereof, with the surfaces on which the respective layers are formed facing each other; An electrochromic device (Claim 1) having a structure joined via a sealing resin is provided.

【0010】また、本発明は第二に「少なくともエレク
トロクロミック層とこれを挟む一対の電極層を表面に形
成した素子基板の各層形成面を封止樹脂を介して封止基
板により封止したエレクトロクロミック素子が複数個接
合されてなるエレクトロクロミック素子(請求項2)」
を提供する。また、本発明は第三に「少なくともエレク
トロクロミック層とこれを挟む一対の電極層を表面に形
成した第一素子基板の各層形成面上に、少なくとも、エ
レクトロクロミック層とこれを挟む一対の電極層を表面
に形成した第二素子基板の各層非形成面を第一封止樹脂
を介して接合し、さらに前記第二素子基板の各層形成面
を、第二封止樹脂を介して封止基板により封止してなる
構造を有することを特徴とするエレクトロクロミック素
子(請求項3)」を提供する。
The present invention is also directed to a second aspect of the present invention in which an electrochromic layer and a pair of electrode layers sandwiching the electrochromic layer are formed on a surface of an element substrate, and each layer forming surface is sealed with a sealing substrate via a sealing resin. Electrochromic device comprising a plurality of chromic devices joined together (Claim 2) "
I will provide a. In addition, the present invention relates to a third aspect of the present invention, wherein at least an electrochromic layer and a pair of electrode layers sandwiching the electrochromic layer are formed on each layer forming surface of the first element substrate on which a pair of electrode layers sandwiching the electrochromic layer are formed. Each layer non-forming surface of the second element substrate formed on the surface is joined via a first sealing resin, and each layer forming surface of the second element substrate is further sealed by a sealing substrate via a second sealing resin. An electrochromic device (claim 3) having a sealed structure is provided.

【0011】また、本発明は第四に「少なくともエレク
トロクロミック層とこれを挟む一対の電極層を表面に形
成した第一素子基板の各層形成面を第一封止樹脂を介し
て封止基板により封止し、さらに、少なくともエレクト
ロクロミック層とこれを挟む一対の電極層を表面に形成
した第二素子基板の各層形成面を第二封止樹脂を介して
前記封止基板の非接合面により封止してなる構造を有す
ることを特徴とするエレクトロクロミック素子(請求項
4)」を提供する。
[0011] The present invention is also directed to a fourth aspect of the present invention, wherein each layer forming surface of a first element substrate having at least an electrochromic layer and a pair of electrode layers sandwiching the electrochromic layer formed on a surface thereof is sealed by a sealing substrate via a first sealing resin. Sealing, and further sealing each layer forming surface of the second element substrate having formed thereon at least an electrochromic layer and a pair of electrode layers sandwiching the electrochromic layer with a non-bonding surface of the sealing substrate via a second sealing resin. An electrochromic device (Claim 4) having a structure formed by stopping.

【0012】[0012]

【発明の実施の形態】図1は本発明にかかる実施形態1
のECDの概略平面図と概略断面図である。本発明にかか
る実施形態1のECDは素子基板上に形成されたEC素子
(二つ)を素子面を内側にして封止樹脂を介して接合さ
れた構成である。素子基板上に形成されたEC素子の構成
は、各ガラス基板3、4側からそれぞれ下部電極11、
21、EC層1、2、上部電極12、22が順次積層され
ている。EC層1の下部電極層11と上部電極層12との
間、EC層2の下部電極層21と上部電極層22との間に
電圧を印加する事により、EC層1、2がそれぞれ着消色
する。
FIG. 1 shows a first embodiment according to the present invention.
1 is a schematic plan view and a schematic cross-sectional view of an ECD of FIG. The ECD according to the first embodiment of the present invention has a configuration in which two EC elements formed on an element substrate are bonded via a sealing resin with the element surface inside. The configuration of the EC element formed on the element substrate is as follows.
21, EC layers 1 and 2, and upper electrodes 12 and 22 are sequentially stacked. By applying a voltage between the lower electrode layer 11 and the upper electrode layer 12 of the EC layer 1 and between the lower electrode layer 21 and the upper electrode layer 22 of the EC layer 2, the EC layers 1 and 2 are turned off respectively. To color.

【0013】電極と外部配線の接続は、封止樹脂に覆わ
れずに露出している下部電極層11、21、上部電極層
12、22と外部配線とを直接接続してもよいし、ある
いは基板3、4のそれぞれの両端面に下部電極層11、
21、上部電極層12、22が形成される際に回り込み
現象により基板端面に形成されるEC素子の取り出し電極
部(図示されていない)と外部配線とを直接接続しても
よいが、一般的には、封止樹脂に覆われずに露出してい
る下部電極層11、21、上部電極層12、22あるい
は取り出し電極部に導電性薄膜又は導電性ぺースト及び
導電性クリップ(以下、導電性薄膜等という)を設け
て、導電性薄膜等と外部配線とを接続する。
The connection between the electrode and the external wiring may be made by directly connecting the lower electrode layers 11 and 21 and the upper electrode layers 12 and 22 which are exposed without being covered with the sealing resin and the external wiring. A lower electrode layer 11 is provided on both end faces of the substrates 3 and 4.
21, when the upper electrode layers 12 and 22 are formed, an external electrode may be directly connected to an extraction electrode portion (not shown) of the EC element formed on the end face of the substrate due to a wraparound phenomenon. In addition, a conductive thin film or a conductive paste and a conductive clip (hereinafter, referred to as a conductive clip) may be provided on the lower electrode layers 11 and 21 and the upper electrode layers 12 and 22 that are not covered with the sealing resin and are exposed. A thin film or the like is provided, and the conductive thin film or the like is connected to an external wiring.

【0014】EC層1の下部電極11とEC層2の下部電極
21とを電気的に接続させず、EC層1の上部電極12と
EC層2の上部電極22とを電気的に接触させずに外部電
源に接続した場合、それぞれのEC素子について透過率を
制御することが出来るので微調節が可能である。また、
導電性薄膜等をEC層1の下部電極層11からEC層2の下
部電極層21にかけて形成し、EC層1の上部電極層12
からEC層2の上部電極層22にかけて形成してもよい。
あるいは、EC層1の上部電極層12の取り出し電極部か
らEC層2の上部電極層22の取り出し電極部にかけて導
電性薄膜等を形成し、EC層1の下部電極層11の取り出
し電極部からEC層2の下部電極層21の取り出し電極部
にかけて導電性薄膜等を形成してもよい。この場合は、
それぞれのEC素子について透過率を制御することができ
ないが、配線の数を減らすことができる。
The lower electrode 11 of the EC layer 1 and the lower electrode 21 of the EC layer 2 are not electrically connected.
If the upper electrode 22 of the EC layer 2 is connected to an external power supply without making electrical contact, the transmittance can be controlled for each EC element, so that fine adjustment is possible. Also,
A conductive thin film or the like is formed from the lower electrode layer 11 of the EC layer 1 to the lower electrode layer 21 of the EC layer 2, and the upper electrode layer 12 of the EC layer 1 is formed.
To the upper electrode layer 22 of the EC layer 2.
Alternatively, a conductive thin film or the like is formed from the extraction electrode portion of the upper electrode layer 12 of the EC layer 1 to the extraction electrode portion of the upper electrode layer 22 of the EC layer 2, and an EC is formed from the extraction electrode portion of the lower electrode layer 11 of the EC layer 1. A conductive thin film or the like may be formed over the extraction electrode portion of the lower electrode layer 21 of the layer 2. in this case,
Although the transmittance cannot be controlled for each EC element, the number of wirings can be reduced.

【0015】本発明にかかる実施形態1のECDの製造方
法について示す。ガラス基板3の一方の面に下部電極層
11、EC層1、上部電極層12を順次積層する。また、
他のガラス基板4の一方の面に上記と同様に、下部電極
層21、EC層2、上部電極層22を順次積層する(図
2)。ガラス基板3に形成されたEC素子とガラス基板4
に形成されたEC素子を図1に示すように向かい合わせに
して封止樹脂5を介して貼り合わせる。
A method for manufacturing an ECD according to the first embodiment of the present invention will be described. A lower electrode layer 11, an EC layer 1, and an upper electrode layer 12 are sequentially laminated on one surface of the glass substrate 3. Also,
A lower electrode layer 21, an EC layer 2, and an upper electrode layer 22 are sequentially laminated on one surface of another glass substrate 4 in the same manner as described above (FIG. 2). EC element formed on glass substrate 3 and glass substrate 4
The EC elements formed as described above are faced to each other as shown in FIG.

【0016】封止樹脂に覆われずに露出している下部電
極層11、21、上部電極層12、22あるいは取り出
し電極部に導電性薄膜又は導電性ぺースト及び導電性ク
リップ(以下、導電性薄膜等という)を形成する。図3
は本発明にかかる実施形態2のECDの概略平面図と概略
断面図である。本発明にかかる実施形態2のECDは、素
子基板上に形成されたEC素子を封止樹脂を介して封止基
板で封止したECDが2組以上樹脂で接合された構成であ
る。EC層1の下部電極層11と上部電極層12との間、
EC層2の下部電極層21と上部電極層22との間に電圧
を印加する事により、EC層1、2がそれぞれ着消色す
る。
A conductive thin film or a conductive paste and a conductive clip (hereinafter, referred to as a conductive clip) are formed on the lower electrode layers 11 and 21 and the upper electrode layers 12 and 22 that are not covered with the sealing resin and are exposed. (Referred to as a thin film or the like). FIG.
FIG. 2 is a schematic plan view and a schematic sectional view of an ECD according to a second embodiment of the present invention. The ECD according to the second embodiment of the present invention has a configuration in which two or more sets of ECDs in which an EC element formed on an element substrate is sealed with a sealing substrate via a sealing resin are bonded. Between the lower electrode layer 11 and the upper electrode layer 12 of the EC layer 1;
When a voltage is applied between the lower electrode layer 21 and the upper electrode layer 22 of the EC layer 2, the EC layers 1 and 2 respectively color-disappear.

【0017】電極と外部配線の接続は、封止樹脂に覆わ
れずに露出している下部電極層11、21、上部電極層
12、22と外部配線とを直接接続してもよいし、ある
いは基板3、4のそれぞれの両端面に下部電極層11、
21、上部電極層12、22が形成される際に回り込み
現象により基板端面に形成されるEC素子の取り出し電極
部(図示されていない)と外部配線とを直接接続しても
よいが、一般的には、封止樹脂に覆われずに露出してい
る下部電極層11、21、上部電極層12、22あるい
は取り出し電極部に導電性薄膜又は導電性ぺースト及び
導電性クリップ(以下、導電性薄膜等という)を形成し
て、導電性薄膜等と外部配線とを接続する。
The connection between the electrode and the external wiring may be made by directly connecting the lower electrode layers 11 and 21 and the upper electrode layers 12 and 22 that are exposed without being covered with the sealing resin and the external wiring. A lower electrode layer 11 is provided on both end faces of the substrates 3 and 4.
21, when the upper electrode layers 12 and 22 are formed, an external electrode may be directly connected to an extraction electrode portion (not shown) of the EC element formed on the end face of the substrate due to a wraparound phenomenon. In addition, a conductive thin film or a conductive paste and a conductive clip (hereinafter, referred to as a conductive clip) may be provided on the lower electrode layers 11 and 21 and the upper electrode layers 12 and 22 that are not covered with the sealing resin and are exposed. A thin film or the like is formed, and the conductive thin film or the like is connected to an external wiring.

【0018】EC層1の下部電極11とEC層2の下部電極
21とを電気的に接続させず、EC層1の上部電極12と
EC層2の上部電極22とを電気的に接触させずに外部電
源に接続した場合、それぞれのEC素子について透過率を
制御することが出来るので微調節が可能である。また、
導電性薄膜等をEC層1の下部電極層11からEC層2の下
部電極層21にかけて形成し、EC層1の上部電極層12
からEC層2の上部電極層22にかけて形成してもよい。
あるいは、EC層1の上部電極層12の取り出し電極部か
らEC層2の上部電極層22の取り出し電極部にかけて導
電性薄膜等を形成し、EC層1の下部電極層11の取り出
し電極部からEC層2の下部電極層21の取り出し電極部
にかけて導電性薄膜等を形成してもよい。この場合は、
それぞれのEC素子について透過率を制御することができ
ないが、配線の数を減らすことができる。
The lower electrode 11 of the EC layer 1 and the lower electrode 21 of the EC layer 2 are not electrically connected.
If the upper electrode 22 of the EC layer 2 is connected to an external power supply without making electrical contact, the transmittance can be controlled for each EC element, so that fine adjustment is possible. Also,
A conductive thin film or the like is formed from the lower electrode layer 11 of the EC layer 1 to the lower electrode layer 21 of the EC layer 2, and the upper electrode layer 12 of the EC layer 1 is formed.
To the upper electrode layer 22 of the EC layer 2.
Alternatively, a conductive thin film or the like is formed from the extraction electrode portion of the upper electrode layer 12 of the EC layer 1 to the extraction electrode portion of the upper electrode layer 22 of the EC layer 2, and an EC is formed from the extraction electrode portion of the lower electrode layer 11 of the EC layer 1. A conductive thin film or the like may be formed over the extraction electrode portion of the lower electrode layer 21 of the layer 2. in this case,
Although the transmittance cannot be controlled for each EC element, the number of wirings can be reduced.

【0019】本発明にかかる実施形態2のECDの製造方
法について示す。ガラス基板3、4の一方の面にそれぞ
れ、下部電極層11、21、EC層1、2、上部電極層1
2、22を順次積層する。ガラス基板3、4上に形成さ
れたEC素子を封止樹脂5を介して封止ガラス基板6、
6’で封止する(図4)。次に、2つのECDを樹脂で貼
り合わせる(図3)。
A method for manufacturing an ECD according to the second embodiment of the present invention will be described. Lower electrode layers 11 and 21, EC layers 1 and 2 and upper electrode layer 1 are formed on one surface of glass substrates 3 and 4, respectively.
2 and 22 are sequentially laminated. The EC elements formed on the glass substrates 3 and 4 are sealed with the sealing glass substrate 6 via the sealing resin 5.
Seal with 6 '(FIG. 4). Next, two ECDs are bonded with a resin (FIG. 3).

【0020】封止樹脂に覆われずに露出している下部電
極層11、21、上部電極層12、22あるいは取り出
し電極部に導電性薄膜又は導電性ぺースト及び導電性ク
リップ(以下、導電性薄膜等という)を形成する。図5
は本発明にかかる実施形態3のECDの概略平面図と概略
断面図である。本発明にかかる実施形態3のECDは、基
板3上に形成されたEC素子を封止樹脂5を介してEC素子
が形成されたガラス基板4で封止し、ガラス基板4上に
形成されたEC素子を封止樹脂5’を介して封止基板6で
封止された構成である。EC層1の下部電極層11と上部
電極層12との間、EC層2の下部電極層21と上部電極
層22との間に電圧を印加する事により、EC層1、2が
それぞれ着消色する。
A conductive thin film or a conductive paste and a conductive clip (hereinafter referred to as a conductive clip) are formed on the exposed lower electrode layers 11 and 21 and upper electrode layers 12 and 22 without being covered with the sealing resin. (Referred to as a thin film or the like). FIG.
3A and 3B are a schematic plan view and a schematic sectional view of an ECD according to a third embodiment of the present invention. In the ECD according to the third embodiment of the present invention, the EC element formed on the substrate 3 is sealed with the glass substrate 4 on which the EC element is formed via the sealing resin 5 and formed on the glass substrate 4. In this configuration, the EC element is sealed with a sealing substrate 6 via a sealing resin 5 '. By applying a voltage between the lower electrode layer 11 and the upper electrode layer 12 of the EC layer 1 and between the lower electrode layer 21 and the upper electrode layer 22 of the EC layer 2, the EC layers 1 and 2 are turned off respectively. To color.

【0021】電極と外部配線の接続は、封止樹脂に覆わ
れずに露出している下部電極層11、12、上部電極層
21、22と外部配線とを直接接続してもよいし、ある
いは基板3、4のそれぞれの両端面に下部電極層11、
21、上部電極層12、22が形成される際に回り込み
現象により基板端面に形成されるEC素子の取り出し電極
部(図示されていない)と外部配線とを直接接続しても
よいが、一般的には、封止樹脂に覆われずに露出してい
る下部電極層11、21、上部電極層12、22あるい
は取り出し電極部に導電性薄膜又は導電性ぺースト及び
導電性クリップ(以下、導電性薄膜等という)を形成し
て、導電性薄膜等と外部配線とを接続する。
The connection between the electrode and the external wiring may be made by directly connecting the lower electrode layers 11 and 12 and the upper electrode layers 21 and 22 that are exposed without being covered with the sealing resin and the external wiring. A lower electrode layer 11 is provided on both end faces of the substrates 3 and 4.
21, when the upper electrode layers 12 and 22 are formed, an external electrode may be directly connected to an extraction electrode portion (not shown) of the EC element formed on the end face of the substrate due to a wraparound phenomenon. In addition, a conductive thin film or a conductive paste and a conductive clip (hereinafter, referred to as a conductive clip) may be provided on the lower electrode layers 11 and 21 and the upper electrode layers 12 and 22 that are not covered with the sealing resin and are exposed. A thin film or the like is formed, and the conductive thin film or the like is connected to an external wiring.

【0022】EC層1の下部電極11とEC層2の下部電極
21とを電気的に接続させず、EC層1の上部電極12と
EC層2の上部電極22とを電気的に接触させずに外部電
源に接続した場合、それぞれのEC素子について透過率を
制御することが出来るので微調節が可能である。また、
導電性薄膜等をEC層1の下部電極層11からEC層2の下
部電極層21にかけて形成し、EC層1の上部電極層12
からEC層2の上部電極層22にかけて形成してもよい。
あるいは、EC層1の上部電極層12の取り出し電極部か
らEC層2の上部電極層22の取り出し電極部にかけて導
電性薄膜等を形成し、EC層1の下部電極層11の取り出
し電極部からEC層2の下部電極層21の取り出し電極部
にかけて導電性薄膜等を形成してもよい。この場合は、
それぞれのEC素子について透過率を制御することができ
ないが、配線の数を減らすことができる。
The lower electrode 11 of the EC layer 1 and the lower electrode 21 of the EC layer 2 are not electrically connected.
If the upper electrode 22 of the EC layer 2 is connected to an external power supply without making electrical contact, the transmittance can be controlled for each EC element, so that fine adjustment is possible. Also,
A conductive thin film or the like is formed from the lower electrode layer 11 of the EC layer 1 to the lower electrode layer 21 of the EC layer 2, and the upper electrode layer 12 of the EC layer 1 is formed.
To the upper electrode layer 22 of the EC layer 2.
Alternatively, a conductive thin film or the like is formed from the extraction electrode portion of the upper electrode layer 12 of the EC layer 1 to the extraction electrode portion of the upper electrode layer 22 of the EC layer 2, and an EC is formed from the extraction electrode portion of the lower electrode layer 11 of the EC layer 1. A conductive thin film or the like may be formed over the extraction electrode portion of the lower electrode layer 21 of the layer 2. in this case,
Although the transmittance cannot be controlled for each EC element, the number of wirings can be reduced.

【0023】本発明にかかる実施形態3のECDの製造方
法について示す。ガラス基板3、4の一方の面にそれぞ
れ、下部電極層11、21、EC層1、2、上部電極層1
2、22を順次積層する。ガラス基板3上に形成された
EC素子を封止樹脂を介してEC素子が形成されたガラス基
板4で封止する(図6)。ガラス基板4に形成されたEC
素子を封止樹脂5’を介して封止基板6で封止する。
A method for manufacturing an ECD according to the third embodiment of the present invention will be described. Lower electrode layers 11 and 21, EC layers 1 and 2 and upper electrode layer 1 are formed on one surface of glass substrates 3 and 4, respectively.
2 and 22 are sequentially laminated. Formed on glass substrate 3
The EC element is sealed with a glass substrate 4 on which the EC element is formed via a sealing resin (FIG. 6). EC formed on glass substrate 4
The element is sealed with a sealing substrate 6 via a sealing resin 5 '.

【0024】封止樹脂に覆われずに露出している下部電
極層11、21、上部電極層12、22あるいは取り出
し電極部に導電性薄膜又は導電性ぺースト及び導電性ク
リップ(以下、導電性薄膜等という)を形成する。図8
は、本発明にかかる実施形態4のECDの概略平面図と概
略断面図である。本発明にかかる実施形態4のECDは基
板3上に形成されたEC素子を封止樹脂5を介して封止基
板6で封止し、さらにガラス基板4上に形成されたEC素
子を封止樹脂5’を介して前記封止基板6の非接合面で
封止された構成である。
A conductive thin film or a conductive paste and a conductive clip (hereinafter referred to as a conductive clip) are formed on the exposed lower electrode layers 11 and 21 and upper electrode layers 12 and 22 without being covered with the sealing resin. (Referred to as a thin film or the like). FIG.
9A and 9B are a schematic plan view and a schematic sectional view of an ECD according to a fourth embodiment of the present invention. In the ECD according to the fourth embodiment of the present invention, an EC element formed on a substrate 3 is sealed with a sealing substrate 6 via a sealing resin 5, and an EC element formed on a glass substrate 4 is further sealed. The configuration is such that the non-joining surface of the sealing substrate 6 is sealed via the resin 5 ′.

【0025】EC層1の下部電極層11と上部電極層12
との間、EC層2の下部電極層21と上部電極層22との
間に電圧を印加することによりEC層1、2がそれぞれ着
消色する。電極と外部配線の接続は、封止樹脂に覆われ
ずに露出している下部電極層11、12、上部電極層2
1、22と外部配線とを直接接続してもよいし、あるい
は基板3、4のそれぞれの両端面に下部電極層11、2
1、上部電極層12、22が形成される際に回り込み現
象により基板端面に形成されるEC素子の取り出し電極部
(図示されていない)と外部配線とを直接接続してもよ
いが、一般的には、封止樹脂に覆われずに露出している
下部電極層11、21、上部電極層12、22あるいは
取り出し電極部に導電性薄膜又は導電性ぺースト及び導
電性クリップ(以下、導電性薄膜等という)を形成し
て、導電性薄膜等と外部配線とを接続する。
The lower electrode layer 11 and the upper electrode layer 12 of the EC layer 1
During this time, a voltage is applied between the lower electrode layer 21 and the upper electrode layer 22 of the EC layer 2 to cause the EC layers 1 and 2 to color-decolor, respectively. The connection between the electrode and the external wiring is performed by the lower electrode layers 11 and 12 and the upper electrode layer 2 which are exposed without being covered with the sealing resin.
1, 22 may be directly connected to the external wiring, or the lower electrode layers 11, 2 may be provided on both end surfaces of the substrates 3, 4, respectively.
1. When the upper electrode layers 12 and 22 are formed, an extraction electrode portion (not shown) of an EC element formed on the end face of the substrate due to a wraparound phenomenon may be directly connected to an external wiring. In addition, a conductive thin film or a conductive paste and a conductive clip (hereinafter, referred to as a conductive clip) may be provided on the lower electrode layers 11 and 21 and the upper electrode layers 12 and 22 that are not covered with the sealing resin and are exposed. A thin film or the like is formed, and the conductive thin film or the like is connected to an external wiring.

【0026】EC層1の下部電極11とEC層2の下部電極
21とを電気的に接続させず、EC層1の上部電極12と
EC層2の上部電極22とを電気的に接触させずに外部電
源に接続した場合、それぞれのEC素子について透過率を
制御することが出来るので微調節が可能である。また、
導電性薄膜等をEC層1の下部電極層11からEC層2の下
部電極層21にかけて形成し、EC層1の上部電極層12
からEC層2の上部電極層22にかけて形成してもよい。
あるいは、EC層1の上部電極層12の取り出し電極部か
らEC層2の上部電極層22の取り出し電極部にかけて導
電性薄膜等を形成し、EC層1の下部電極層11の取り出
し電極部からEC層2の下部電極層21の取り出し電極部
にかけて導電性薄膜等を形成してもよい。この場合は、
それぞれのEC素子について透過率を制御することができ
ないが、配線の数を減らすことができる。
The lower electrode 11 of the EC layer 1 and the lower electrode 21 of the EC layer 2 are not electrically connected.
If the upper electrode 22 of the EC layer 2 is connected to an external power supply without making electrical contact, the transmittance can be controlled for each EC element, so that fine adjustment is possible. Also,
A conductive thin film or the like is formed from the lower electrode layer 11 of the EC layer 1 to the lower electrode layer 21 of the EC layer 2, and the upper electrode layer 12 of the EC layer 1 is formed.
To the upper electrode layer 22 of the EC layer 2.
Alternatively, a conductive thin film or the like is formed from the extraction electrode portion of the upper electrode layer 12 of the EC layer 1 to the extraction electrode portion of the upper electrode layer 22 of the EC layer 2, and an EC is formed from the extraction electrode portion of the lower electrode layer 11 of the EC layer 1. A conductive thin film or the like may be formed over the extraction electrode portion of the lower electrode layer 21 of the layer 2. in this case,
Although the transmittance cannot be controlled for each EC element, the number of wirings can be reduced.

【0027】本発明にかかる実施形態4のECDの製造方
法について示す。ガラス基板3、4の一方の面にそれぞ
れ下部電極層11、21、EC層1、2上部電極12、
22を順次積層する。ガラス基板3上に形成されたEC素
子を封止樹脂5を介して封止基板6で封止する。さら
に、ガラス基板4に形成されたEC素子を封止樹脂5’を
介して封止基板6の非接合面で封止する。
A method for manufacturing an ECD according to the fourth embodiment of the present invention will be described. The lower electrode layers 11 and 21, the EC layer 1 and the upper electrode 12,
22 are sequentially laminated. The EC element formed on the glass substrate 3 is sealed with a sealing substrate 6 via a sealing resin 5. Further, the EC element formed on the glass substrate 4 is sealed on the non-joining surface of the sealing substrate 6 via the sealing resin 5 '.

【0028】封止樹脂層に覆われずに露出している下部
電極層11、21、上部電極層12、22あるいは取出
電極部に導電性薄膜又は導電性ペースト及び導電性クリ
ップ(以下、導電性薄膜等という)を形成する。以下、
ECDで用いられる材料について説明する。透明電極の材
料としては、例えば、SnO2、In2O3、ITO、ZnOなどが使
用される。透明である必要がなければ金属材料または炭
素で電極層が形成される。金属材料としては、例えば、
金、銀、アルミニウム、クロム、スズ、亜鉛、ニッケ
ル、ルテニウム、ロジウム、ステンレス等が使用され
る。金属電極層は、上記のごとき透明な電極層をかりに
低抵抗なものにしても、それより遥かに低抵抗である。
この様な電極層は、一般には、真空蒸着、イオンプレー
テイング、スパッタリング等の真空薄膜形成技術で形成
される。本発明においては、電解還元発色性薄膜層に
は、一般にWO3、MoO3またはこれらの混合物等が使用さ
れる。
A conductive thin film or a conductive paste and a conductive clip (hereinafter, referred to as a conductive clip) are applied to the lower electrode layers 11 and 21 and the upper electrode layers 12 and 22 that are not covered by the sealing resin layer and are exposed. (Referred to as a thin film or the like). Less than,
The materials used in ECD will be described. As the material of the transparent electrode, for example, SnO 2 , In 2 O 3 , ITO, ZnO, or the like is used. If it is not necessary to be transparent, the electrode layer is formed of a metal material or carbon. As a metal material, for example,
Gold, silver, aluminum, chromium, tin, zinc, nickel, ruthenium, rhodium, stainless steel and the like are used. Even if the metal electrode layer has a low resistance based on the transparent electrode layer as described above, it has a much lower resistance.
Such an electrode layer is generally formed by a vacuum thin film forming technique such as vacuum deposition, ion plating, and sputtering. In the present invention, WO 3 , MoO 3, a mixture thereof or the like is generally used for the electrolytic reduction color-forming thin film layer.

【0029】イオン導電層には、例えば、酸化ケイ素、
酸化タンタル、酸化チタン、酸化アルミニウム、酸化ニ
オブ、酸化ジルコニウム、酸化ハフニウム、酸化ランタ
ン、フッ化マグネシウム、等が使用される。イオン導電
層は、電子に対して絶縁体であるが、プロトン(H+)及
びヒドロキシイオン(OH-)に対しては良導体となる。E
C層の着消色反応にはカチオンが必要とされ、H+やLi+
EC層その他に含有させる必要がある。H+は初めからイオ
ンである必要はなく、電圧が印加されたときにH+が生じ
ればよく、したがってH+の代わりに水を含有させてもよ
い。この水は非常に少なくて十分であり、しばしば大気
中から自然に侵入する水分でも着消色する。
In the ionic conductive layer, for example, silicon oxide,
Tantalum oxide, titanium oxide, aluminum oxide, niobium oxide, zirconium oxide, hafnium oxide, lanthanum oxide, magnesium fluoride, and the like are used. The ionic conductive layer is an insulator for electrons, but is a good conductor for protons (H + ) and hydroxy ions (OH ). E
Cations are required for the color-decoloring reaction of the C layer, and H + and Li +
It must be contained in the EC layer and others. H + does not need to be an ion from the beginning, and it is sufficient that H + is generated when a voltage is applied, and thus water may be contained instead of H + . This water is very small and sufficient, and often discolors even water that naturally enters from the atmosphere.

【0030】電解酸化発色性薄膜層としては、例えば酸
化ないし水酸化イリジウム、同じくニッケル、同じくク
ロム、同じくバナジウム、同じくルテニウム、同じくロ
ジウム等があげられる。パターニングされたEC層が電解
還元発色性薄膜層の場合には、これらの電解酸化発色性
薄膜層物質は、イオン導電層または透明電極層中に分散
されていてもよいし、逆にそれらを分散してもよい。
Examples of the electrolytic oxidation color-forming thin film layer include oxide or iridium hydroxide, nickel, chromium, vanadium, ruthenium, rhodium and the like. When the patterned EC layer is an electrolytic reduction color-forming thin film layer, these electrolytic oxidation color-forming thin film layer materials may be dispersed in an ion conductive layer or a transparent electrode layer, or conversely, they may be dispersed. May be.

【0031】その他のEC物質として、例えば、酸化チタ
ン、酸化コバルト、酸化鉄、酸化ケイ素、酸化鉛、酸化
銅、硫化鉄、酸化ビスマス、硫化ニオブ等の金属酸化物
や金属硫化物のほか、ハイドロキノン誘導体、ベルリン
酸鉄誘導体、金属フタロシアニン誘導体(Co、Fe、Zn、
Ni、Cuの各フタロシアニン誘導体)、プルシアンブル
ー、プルシアンブルー類似化合物、窒化インジウム、窒
化スズ、窒化塩化ジルコニウム、ビオロゲン系有機EC材
料、スチリル系有機EC材料、ポリアニリン等がEC層に使
用できる。
Other EC substances include, for example, metal oxides and sulfides such as titanium oxide, cobalt oxide, iron oxide, silicon oxide, lead oxide, copper oxide, iron sulfide, bismuth oxide, niobium sulfide, and hydroquinone. Derivatives, iron berlin derivatives, metal phthalocyanine derivatives (Co, Fe, Zn,
Nitrogen and Cu phthalocyanine derivatives), Prussian blue, Prussian blue-like compounds, indium nitride, tin nitride, zirconium chloride nitride, viologen-based organic EC materials, styryl-based organic EC materials, polyaniline, and the like can be used for the EC layer.

【0032】イオン導電層のその他の例としては、イオ
ン導電性及び接着性を有する層が使用可能であり、例え
ば、ポリ(2−アクリルアミド−2−メチルプロパンス
ルホン酸)、ポリ(スチレン−スルホン酸)、ポリ(エ
チレン−スルホン酸)、ポリビニルスルホン酸、フッ素
化共重合体等からなる重合体、(B)第一の単量体(例
えば、ビニルスルホン酸、ビニルスルホン酸ナトリウ
ム、ふっ化ビニルスルホニル)と第二の単量体(例え
ば、ビニルピロリジノン、ブチルビニルエーテル、エチ
ルビニルエーテル、イソプロピルビニルエーテル、シク
ロヘキシルビニルエーテル、イソブチレン)との共重合
体、(C)前記第一の単量体及び第二の単量体とスチレ
ンスルホン酸ナトリウムとの共重合体、(D)親水性ア
クリレート単量体(例えば、ポリ(エチレンオキシド)
ジメタクリレート、エトキシトリエチレン、グリコール
メタクリレート、エチレンオキシド−ジメチルシクロヘ
キサンアクリレート、ヒドロキシプロピルアクリレー
ト、エチルアクリレート)とスルホン酸単量体(例え
ば、2−アクリルアミド−2−メチルプロパンスルホン
酸、スチレン−スルホン酸、エチレン−スルホン酸、ビ
ニルスルホン酸)との共重合体、等からなる層がある。
As other examples of the ionic conductive layer, a layer having ionic conductivity and adhesiveness can be used. For example, poly (2-acrylamido-2-methylpropanesulfonic acid), poly (styrene-sulfonic acid) ), A polymer comprising poly (ethylene-sulfonic acid), polyvinyl sulfonic acid, fluorinated copolymer, etc., (B) a first monomer (for example, vinyl sulfonic acid, sodium vinyl sulfonate, vinyl sulfonyl fluoride) ) And a second monomer (for example, vinylpyrrolidinone, butyl vinyl ether, ethyl vinyl ether, isopropyl vinyl ether, cyclohexyl vinyl ether, isobutylene), (C) the first monomer and the second monomer (D) hydrophilic acrylate monomer (for example, Poly (ethylene oxide)
Dimethacrylate, ethoxytriethylene, glycol methacrylate, ethylene oxide-dimethylcyclohexane acrylate, hydroxypropyl acrylate, ethyl acrylate) and a sulfonic acid monomer (for example, 2-acrylamido-2-methylpropanesulfonic acid, styrene-sulfonic acid, ethylene- Sulfonic acid, vinyl sulfonic acid) and the like.

【0033】また、イオン導電性、EC性及び接着性を有
する層も使用可能であり、例えば、前記イオン導電性及
び接着性を有する層の材料に、前記EC物質を分散させた
ものが使用できる。ECDは剥き出しのままでは劣化しや
すいので、2枚の基板間に形成されて使用される。例え
ば、1枚の基板上にECDを形成した場合には、露出したE
CDを封止樹脂及び封止板により封止する。また、ECDを
構成する各層を2枚の基板に分けて形成した場合には、
ECDを構成する前記イオン導電性及び接着性を有する層
や、前記イオン導電性、EC性及び接着性を有する層によ
り、2枚の基板を張合せてECDを封止する。
Further, a layer having ionic conductivity, EC property and adhesiveness can be used. For example, a material in which the EC substance is dispersed in the material of the layer having ionic conductivity and adhesiveness can be used. . Since the ECD is liable to be deteriorated as it is bare, it is used by being formed between two substrates. For example, when an ECD is formed on one substrate, the exposed ECD
The CD is sealed with a sealing resin and a sealing plate. Also, when each layer constituting the ECD is formed separately on two substrates,
The ECD is sealed by bonding two substrates together with the layer having ionic conductivity and adhesiveness and the layer having ionic conductivity, EC property and adhesiveness which constitute the ECD.

【0034】前記封止樹脂には、例えば、エポキシ樹
脂、ウレタン系樹脂、アクリル系樹脂、酢酸ビニール系
樹脂、変性ポリマー系等の透明材料が好ましいが、これ
らに限定されるものではない。以下、実施例により更に
詳細に説明するが、本発明はこれらの例に限定されるも
のではない。
The sealing resin is preferably a transparent material such as an epoxy resin, a urethane resin, an acrylic resin, a vinyl acetate resin or a modified polymer, but is not limited thereto. Hereinafter, the present invention will be described in more detail with reference to examples, but the present invention is not limited to these examples.

【0035】[0035]

【実施例】【Example】

[実施例1]図1は実施例1によるECDの概略図であ
り、図2を用いて実施例1によるECDの製作工程を説明
する。 (1)ガラス基板3に真空蒸着法またはイオンプレーテ
ィング法により下部電極層11として膜厚約200nmのITO
を成膜した。その上にEC層1として膜厚が約150nmの
酸化 イリジウムと酸化スズの混合膜、約500nmの酸化タ
ンタル膜及び約500nmの酸化タングステン膜を順次成膜
し、その上にさらに上部電極層12として約200nmのITO
を成膜した。(図2) (2)ガラス基板4に(1)と同様に下部電極層21と
して厚さ約200nmのITO、EC層2として膜厚が約150nmの
酸化 イリジウムと酸化スズの混合膜、約500nmの酸化タ
ンタル膜及び約500nmの酸化タングステン膜を順次成膜
し、その上にさらに上部電極層22として約200nmのITO
を成膜した。(図2) (3)図1に示すように、上記(1)及び(2)でガラ
ス基板3、4上に形成されたEC素子を互いに向かい合わ
せて封止樹脂5にて貼り合わせた(図1)。 (4)ガラス基板3、4のそれぞれの両端面に下部電極
層11、21が形成される際に回り込み現象により形成
されるEC素子の取り出し電極部(図示されていない)か
ら封止樹脂にかけて厚さ50μmのアルミニウム及び100
μmの銅を順次付着し、2層構造の導電性薄膜を形成し
た。
[Embodiment 1] FIG. 1 is a schematic view of an ECD according to Embodiment 1, and a manufacturing process of the ECD according to Embodiment 1 will be described with reference to FIG. (1) ITO having a film thickness of about 200 nm as a lower electrode layer 11 on a glass substrate 3 by a vacuum evaporation method or an ion plating method.
Was formed. On top of this, a mixed film of iridium oxide and tin oxide with a thickness of about 150 nm, a tantalum oxide film with a thickness of about 500 nm and a tungsten oxide film with a thickness of about 500 nm are sequentially formed as an EC layer 1, and an upper electrode layer 12 is further formed thereon. About 200nm ITO
Was formed. (FIG. 2) (2) On the glass substrate 4, as in (1), as the lower electrode layer 21, an ITO having a thickness of about 200 nm, and as the EC layer 2, a mixed film of iridium oxide and tin oxide having a thickness of about 150 nm, about 500 nm A tantalum oxide film of about 500 nm and a tungsten oxide film of about 500 nm are sequentially formed, and an upper electrode layer 22 of about 200 nm of ITO is further formed thereon.
Was formed. (FIG. 2) (3) As shown in FIG. 1, the EC elements formed on the glass substrates 3 and 4 in the above (1) and (2) were bonded to each other with the sealing resin 5 so as to face each other ( (Fig. 1). (4) When the lower electrode layers 11 and 21 are formed on both end surfaces of the glass substrates 3 and 4, the thickness from the lead-out electrode portion (not shown) of the EC element formed by the wraparound phenomenon to the sealing resin. 50μm aluminum and 100
μm of copper was sequentially deposited to form a conductive thin film having a two-layer structure.

【0036】同様に、ガラス基板3、4のそれぞれの両
端面に上部電極層12、22が形成される際に回り込み
現象により形成されるEC素子の取り出し電極部(図示さ
れていない)から封止樹脂にかけて厚さ50μmのアルミ
ニウム及び100μmの銅を順次付着し、2層構造の導電
性薄膜を形成した。 (5)これらの導電性薄膜のそれぞれに配線をハンダ付
けした導電性クリップを装着して駆動電源から1.3V
の電圧を印加すると、ECDは青色に着色した。この素子
に1.3Vの逆電圧を印加すると青色は消え、素子は透
明に戻った。着色時の透過率は6%、消色時の透過率は6
0%であった。
Similarly, when the upper electrode layers 12 and 22 are formed on both end surfaces of the glass substrates 3 and 4, sealing is performed from an extraction electrode portion (not shown) of the EC element formed by a wraparound phenomenon. Aluminum having a thickness of 50 μm and copper having a thickness of 100 μm were sequentially adhered to the resin to form a conductive thin film having a two-layer structure. (5) Attach a conductive clip to each of these conductive thin films with soldered wiring, and apply 1.3 V from the drive power supply.
When the voltage was applied, the ECD was colored blue. When a reverse voltage of 1.3 V was applied to this device, the blue color disappeared and the device returned to transparent. 6% transmittance when colored, 6 when decolored
It was 0%.

【0037】また、(4)、(5)の一部にかえて封止
樹脂に覆われずに露出している下部電極11、21、上
部電極12、22に導電性薄膜又は導電性クリップ(導
電性薄膜上に形成されてなくてもよい)を形成する工程
を採用することができる。 [実施例2]図3は実施例2によるECDの概略図であ
り、図4を用いて実施例2によるECDの製作工程を説明
する。 (1)ガラス基板3に真空蒸着法またはイオンプレーテ
ィング法により下部電極層11として膜厚約200nmのITO
を成膜した。その上にEC層1として膜厚が約150nmの
酸化 イリジウムと酸化スズの混合膜、約500nmの酸化タ
ンタル膜及び約500nmの酸化タングステン膜を順次成膜
し、その上にさらに上部電極層12として約200nmのITO
を成膜した。ECDを封止樹脂5を介して封止ガラス基板
6で封止した。(図4) (2)ガラス基板4に下部電極層21を形成した。その
上にEC層2として膜厚が約150nmの酸化 イリジウムと
酸化スズの混合膜、約500nmの酸化タンタル及び約500nm
の酸化タングステン膜を順次成膜し、その上にさらに上
部電極層22として約200nmのITOを成膜した。ECDを封
止樹脂5を介して封止ガラス基板6’で封止した。(図
4) (3)図3で示すように上記(1)で製作されたECDと
(2)で製作されたECDを封止樹脂5で貼り合わせた
(図3)。 (4)ガラス基板3、4のそれぞれの両端面に下部電極
層11、21が形成される際に回り込み現象により形成
されるEC素子の取り出し電極部(図示されていない)か
ら封止樹脂にかけて厚さ50μmのアルミニウム及び100
μmの銅を順次付着し、2層構造の導電性薄膜を形成し
た。
In place of (4) and (5), the lower electrodes 11, 21 and the upper electrodes 12, 22 which are exposed without being covered with the sealing resin are electrically conductive thin films or conductive clips ( (Which may not be formed on the conductive thin film). [Embodiment 2] FIG. 3 is a schematic view of an ECD according to Embodiment 2, and a manufacturing process of the ECD according to Embodiment 2 will be described with reference to FIG. (1) ITO having a film thickness of about 200 nm as a lower electrode layer 11 on a glass substrate 3 by a vacuum evaporation method or an ion plating method.
Was formed. On top of this, a mixed film of iridium oxide and tin oxide with a thickness of about 150 nm, a tantalum oxide film with a thickness of about 500 nm and a tungsten oxide film with a thickness of about 500 nm are sequentially formed as an EC layer 1, and an upper electrode layer 12 is further formed thereon. About 200nm ITO
Was formed. The ECD was sealed with a sealing glass substrate 6 via a sealing resin 5. (FIG. 4) (2) The lower electrode layer 21 was formed on the glass substrate 4. On top of this, a mixed film of iridium oxide and tin oxide with a thickness of about 150 nm, tantalum oxide with a thickness of about 500 nm and about 500 nm as an EC layer 2
Was sequentially formed, and about 200 nm of ITO was further formed thereon as the upper electrode layer 22. The ECD was sealed with a sealing glass substrate 6 ′ via a sealing resin 5. (FIG. 4) (3) As shown in FIG. 3, the ECD manufactured in (1) and the ECD manufactured in (2) were bonded together with a sealing resin 5 (FIG. 3). (4) When the lower electrode layers 11 and 21 are formed on both end surfaces of the glass substrates 3 and 4, the thickness from the lead-out electrode portion (not shown) of the EC element formed by the wraparound phenomenon to the sealing resin. 50μm aluminum and 100
μm of copper was sequentially deposited to form a conductive thin film having a two-layer structure.

【0038】同様に、ガラス基板3、4のそれぞれの両
端面に上部電極層12、22が形成される際に回り込み
現象により形成されるEC素子の取り出し電極部(図示さ
れていない)から封止樹脂にかけて厚さ50μmのアルミ
ニウム及び100μmの銅を順次付着し、2層構造の導電
性薄膜を形成した。 (5)これらの導電性薄膜のそれぞれに配線をハンダ付
けして駆動電源から1.3Vの電圧を印加すると、ECD
は青色に着色した。この素子に1.3Vの逆電圧を印加
すると青色は消え、素子は透明に戻った。着色時の透過
率は6%、消色時の透過率は60%であった。
Similarly, when the upper electrode layers 12 and 22 are formed on both end surfaces of the glass substrates 3 and 4, sealing is performed from a lead-out electrode portion (not shown) of the EC element formed by a wraparound phenomenon. Aluminum having a thickness of 50 μm and copper having a thickness of 100 μm were sequentially adhered to the resin to form a conductive thin film having a two-layer structure. (5) When wiring is soldered to each of these conductive thin films and a voltage of 1.3 V is applied from a driving power source, the ECD
Was colored blue. When a reverse voltage of 1.3 V was applied to this device, the blue color disappeared and the device returned to transparent. The transmittance at the time of coloring was 6%, and the transmittance at the time of decoloring was 60%.

【0039】また、(4)、(5)の一部にかえて封止
樹脂に覆われずに露出している下部電極11、21、上
部電極12、22に導電性薄膜又は導電性クリップ(導
電性薄膜上に形成されてなくてもよい)を形成する工程
を採用することができる。 [実施例3]図5は実施例3によるECDの概略図であ
り、図6を用いて実施例3によるECDの製作工程を説明
する。 (1)ガラス基板3に真空蒸着法またはイオンプレーテ
ィング法により下部電極層11として膜厚約200nmのITO
を成膜した。その上にEC層1として膜厚が約150nmの
酸化 イリジウムと酸化スズの混合膜、約500nmの酸化タ
ンタル膜及び約500nmの酸化タングステン膜を順次成膜
し、その上にさらに上部電極層12として約200nmのITO
を成膜した。(図2) (2)ガラス基板4に(1)と同様に下部電極層21と
して厚さ約200nmのITO、EC層2として膜厚が約150nmの
酸化 イリジウムと酸化スズの混合膜、約500nmの酸化タ
ンタル膜、約500nmの酸化タングステン膜を順次成膜
し、さらに上部電極層22として約200nmのITOを成膜し
た。(図2) (3)(1)で製作されたEC素子を封止樹脂5を介して
(2)で製作されたECDのEC素子が形成されていない側
で封止し、(図6)(2)でガラス基板4に形成された
EC素子を封止樹脂5’を介して封止基板6で封止した。
(図5) (4)ガラス基板3、4のそれぞれの両端面に下部電極
層11、21が形成される際に回り込み現象により形成
されるEC素子の取り出し電極部(図示されていない)か
ら封止樹脂にかけて厚さ50μmのアルミニウム及び100
μmの銅を順次付着し、2層構造の導電性薄膜を形成し
た。
In place of the parts (4) and (5), the lower electrodes 11, 21 and the upper electrodes 12, 22 which are exposed without being covered with the sealing resin are connected to the conductive thin film or the conductive clip ( (Which may not be formed on the conductive thin film). [Embodiment 3] FIG. 5 is a schematic view of an ECD according to a third embodiment, and a manufacturing process of the ECD according to the third embodiment will be described with reference to FIG. (1) ITO having a film thickness of about 200 nm as a lower electrode layer 11 on a glass substrate 3 by a vacuum evaporation method or an ion plating method.
Was formed. On top of this, a mixed film of iridium oxide and tin oxide with a thickness of about 150 nm, a tantalum oxide film with a thickness of about 500 nm and a tungsten oxide film with a thickness of about 500 nm are sequentially formed as an EC layer 1, and an upper electrode layer 12 is further formed thereon. About 200nm ITO
Was formed. (FIG. 2) (2) On the glass substrate 4, as in (1), as the lower electrode layer 21, an ITO having a thickness of about 200 nm, and as the EC layer 2, a mixed film of iridium oxide and tin oxide having a thickness of about 150 nm, about 500 nm A tantalum oxide film of about 500 nm and a tungsten oxide film of about 500 nm were sequentially formed, and about 200 nm of ITO was further formed as the upper electrode layer 22. (FIG. 2) (3) The EC element manufactured in (1) is sealed via the sealing resin 5 on the side of the ECD manufactured in (2) where the EC element is not formed, via the sealing resin 5 (FIG. 6). Formed on the glass substrate 4 in (2)
The EC element was sealed with a sealing substrate 6 via a sealing resin 5 '.
(FIG. 5) (4) Sealing from an extraction electrode portion (not shown) of the EC element formed by the wraparound phenomenon when the lower electrode layers 11 and 21 are formed on both end surfaces of the glass substrates 3 and 4 respectively. 50μm thick aluminum and 100
μm of copper was sequentially deposited to form a conductive thin film having a two-layer structure.

【0040】同様に、ガラス基板3、4のそれぞれの両
端面に上部電極層12、22が形成される際に回り込み
現象により形成されるEC素子の取り出し電極部(図示さ
れていない)から封止樹脂にかけて厚さ50μmのアルミ
ニウム及び100μmの銅を順次付着し、2層構造の導電
性薄膜を形成した。 (5)これらの導電性薄膜のそれぞれに配線をハンダ付
けして駆動電源から1.3Vの電圧を印加すると、ECD
は青色に着色した。この素子に1.3Vの逆電圧を印加
すると青色は消え、素子は透明に戻った。着色時の透過
率は6%、消色時の透過率は60%であった。
Similarly, when the upper electrode layers 12 and 22 are formed on both end surfaces of the glass substrates 3 and 4, sealing is performed from a lead-out electrode portion (not shown) of the EC element formed by a wraparound phenomenon. Aluminum having a thickness of 50 μm and copper having a thickness of 100 μm were sequentially adhered to the resin to form a conductive thin film having a two-layer structure. (5) When wiring is soldered to each of these conductive thin films and a voltage of 1.3 V is applied from a driving power source, the ECD
Was colored blue. When a reverse voltage of 1.3 V was applied to this device, the blue color disappeared and the device returned to transparent. The transmittance at the time of coloring was 6%, and the transmittance at the time of decoloring was 60%.

【0041】また、(3)の製作工程にかえて、(2)
で製作されたEC素子を封止樹脂5’を介して封止基板6
で封止し、(1)で製作されたEC素子を封止樹脂5を介
して前もって作成しておいたECDのガラス基板4側で封
止する工程を採用することができる。(図7) さらに、(4)、(5)の一部にかえて封止樹脂に覆わ
れずに露出している下部電極11、21、上部電極1
2、22に導電性薄膜又は導電性クリップ(導電性薄膜
上に形成されてなくてもよい)を形成する工程を採用す
ることができる。 [実施例4]図8は実施例4によるECDの概略図であ
り、図9を用いて実施例4によるECDの製作工程を説明
する。 (1)ガラス基板3に真空蒸着法またはイオンプレーテ
ィング法により下部電極層11として膜厚約200nmのITO
を成膜した。その上にEC層1として膜厚が約150nmの
酸化 イリジウムと酸化スズの混合膜、約500nmの酸化タ
ンタル膜及び約500nmの酸化タングステン膜を順次成膜
し、その上にさらに上部電極層12として約200nmのITO
を成膜した。(図2) (2)ガラス基板4に(1)と同様に下部電極層21と
して厚さ約200nmのITO、EC層2として膜厚が約150nmの
酸化 イリジウムと酸化スズの混合膜、約500nmの酸化タ
ンタル膜、約500nmの酸化タングステン膜を順次成膜
し、さらに上部電極層22として約200nmのITOを成膜し
た。(図2) (3)(1)で製作されたEC素子を封止樹脂5を介して
封止基板6で封止した。さらに、(2)で製作されたEC
素子を封止樹脂5’を介して(1)で製作されたEC素子
を封止した封止基板6の非接合面で封止した。 (4)ガラス基板3、4のそれぞれの両端面に下部電極
層11、21が形成される際に回り込み現象により形成
されるEC素子の取り出し電極部(図示されていない)か
ら封止樹脂にかけて厚さ50μmのアルミニウム及び100
μmの銅を順次付着し、2層構造の導電性薄膜を形成し
た。
Further, instead of the manufacturing process of (3), (2)
Of the EC element manufactured in the above process through a sealing resin 5 ′ and a sealing substrate 6.
Then, a step of sealing the EC element manufactured in (1) on the glass substrate 4 side of the ECD prepared in advance via the sealing resin 5 can be adopted. (FIG. 7) Further, the lower electrodes 11, 21 and the upper electrode 1, which are exposed without being covered with the sealing resin instead of part of (4) and (5).
A step of forming a conductive thin film or a conductive clip (which does not have to be formed on the conductive thin film) can be adopted in 2, 22. [Embodiment 4] FIG. 8 is a schematic view of an ECD according to a fourth embodiment, and a manufacturing process of the ECD according to the fourth embodiment will be described with reference to FIG. (1) ITO having a film thickness of about 200 nm as a lower electrode layer 11 on a glass substrate 3 by a vacuum evaporation method or an ion plating method.
Was formed. On top of this, a mixed film of iridium oxide and tin oxide with a thickness of about 150 nm, a tantalum oxide film with a thickness of about 500 nm and a tungsten oxide film with a thickness of about 500 nm are sequentially formed as an EC layer 1, and an upper electrode layer 12 is further formed thereon. About 200nm ITO
Was formed. (FIG. 2) (2) On the glass substrate 4, as in (1), as the lower electrode layer 21, an ITO having a thickness of about 200 nm, and as the EC layer 2, a mixed film of iridium oxide and tin oxide having a thickness of about 150 nm, about 500 nm A tantalum oxide film of about 500 nm and a tungsten oxide film of about 500 nm were sequentially formed, and about 200 nm of ITO was further formed as the upper electrode layer 22. (FIG. 2) (3) The EC element manufactured in (1) was sealed with a sealing substrate 6 via a sealing resin 5. Furthermore, EC produced in (2)
The device was sealed with a non-bonding surface of a sealing substrate 6 sealing the EC device manufactured in (1) via a sealing resin 5 '. (4) When the lower electrode layers 11 and 21 are formed on both end surfaces of the glass substrates 3 and 4, the thickness from the lead-out electrode portion (not shown) of the EC element formed by the wraparound phenomenon to the sealing resin. 50μm aluminum and 100
μm of copper was sequentially deposited to form a conductive thin film having a two-layer structure.

【0042】同様に、ガラス基板3、4のそれぞれの両
端面に上部電極層12、22が形成される際に回り込み
現象により形成されるEC素子の取り出し電極部(図示さ
れていない)から封止樹脂にかけて厚さ50μmのアルミ
ニウム及び100μmの銅を順次付着し、2層構造の導電
性薄膜を形成した。 (5)これらの導電性薄膜のそれぞれに配線をハンダ付
けして駆動電源から1.3Vの電圧を印加すると、ECD
は青色に着色した。この素子に1.3Vの逆電圧を印加
すると青色は消え、素子は透明に戻った。着色時の透過
率は6%、消色時の透過率は60%であった。
Similarly, when the upper electrode layers 12 and 22 are formed on both end surfaces of the glass substrates 3 and 4, sealing is performed from a lead-out electrode portion (not shown) of the EC element formed by a wraparound phenomenon. Aluminum having a thickness of 50 μm and copper having a thickness of 100 μm were sequentially adhered to the resin to form a conductive thin film having a two-layer structure. (5) When wiring is soldered to each of these conductive thin films and a voltage of 1.3 V is applied from a driving power source, the ECD
Was colored blue. When a reverse voltage of 1.3 V was applied to this device, the blue color disappeared and the device returned to transparent. The transmittance at the time of coloring was 6%, and the transmittance at the time of decoloring was 60%.

【0043】また、(4)、(5)の一部にかえて封止
樹脂に覆われずに露出している下部電極11、21、上
部電極12、22に導電性薄膜又は導電性クリップ(導
電性薄膜上に形成されてなくてもよい)を形成する工程
を採用することができる。 [比較例]図10は比較例によるECDの概略図であり、
(1)ガラス基板3に真空蒸着法またはイオンプレーテ
ィング法により下部電極層11として膜厚約200nmのITO
を成膜した。その上にEC層1として膜厚が約150nmの
酸化 イリジウムと酸化スズの混合膜、約500nmの酸化タ
ンタル及び約500nmの酸化タングステン膜を順次成膜
し、その上にさらに上部電極層12として約200nmのITO
を成膜した。 (2)封止樹脂5と、封止基板6で上記(1)で製作さ
れたECDを封止した。(図7) (3)ガラス基板3の両端面に下部電極層11が形成さ
れる際に回り込み現象により形成されるEC素子の取り出
し電極部(図示されていない)から封止樹脂にかけて厚
さ50μmのアルミニウム及び100μmの銅を順次付着
し、2層構造の導電性薄膜を形成した。
Also, instead of a part of (4) and (5), a conductive thin film or a conductive clip ( (Which may not be formed on the conductive thin film). Comparative Example FIG. 10 is a schematic view of an ECD according to a comparative example.
(1) ITO having a film thickness of about 200 nm as a lower electrode layer 11 on a glass substrate 3 by a vacuum evaporation method or an ion plating method.
Was formed. On top of this, a mixed film of iridium oxide and tin oxide having a thickness of about 150 nm, a tantalum oxide film of about 500 nm and a tungsten oxide film of about 500 nm are sequentially formed as an EC layer 1, and an upper electrode layer 12 is further formed thereon. 200nm ITO
Was formed. (2) The ECD manufactured in the above (1) was sealed with the sealing resin 5 and the sealing substrate 6. (FIG. 7) (3) A thickness of 50 μm from the extraction electrode portion (not shown) of the EC element formed by the wraparound phenomenon when the lower electrode layer 11 is formed on both end surfaces of the glass substrate 3 to the sealing resin. Of aluminum and 100 μm of copper were sequentially deposited to form a conductive thin film having a two-layer structure.

【0044】同様に、ガラス基板3の両端面に上部電極
層12が形成される際に回り込み現象により形成される
EC素子の取り出し電極部(図示されていない)から封止
樹脂にかけて厚さ50μmのアルミニウム及び100μmの
銅を順次付着し、2層構造の導電性薄膜を形成した。 (4)これらの導電性薄膜のそれぞれに配線をハンダ付
けして駆動電源から1.3Vの電圧を印加すると、ECD
は青色に着色した。この素子に1.3Vの逆電圧を印加
すると青色は消え、素子は透明に戻った。着色時の透過
率は25%、消色時の透過率は80%であった。
Similarly, when the upper electrode layer 12 is formed on both end surfaces of the glass substrate 3, the upper electrode layer 12 is formed by a wraparound phenomenon.
Aluminum having a thickness of 50 μm and copper having a thickness of 100 μm were successively deposited from an extraction electrode portion (not shown) of the EC element to a sealing resin to form a conductive thin film having a two-layer structure. (4) When wiring is soldered to each of these conductive thin films and a voltage of 1.3 V is applied from a driving power supply, the ECD
Was colored blue. When a reverse voltage of 1.3 V was applied to this device, the blue color disappeared and the device returned to transparent. The transmittance at the time of coloring was 25%, and the transmittance at the time of decoloring was 80%.

【0045】また、(3)、(4)の一部にかえて封止
樹脂に覆われずに露出している下部電極11、上部電極
12に導電性薄膜又は導電性クリップ(導電性薄膜上に
形成されてなくてもよい)を形成する工程を採用するこ
とができる。
In place of (3) and (4), a conductive thin film or a conductive clip (on the conductive thin film) is applied to the lower electrode 11 and the upper electrode 12 which are exposed without being covered with the sealing resin. May be formed).

【0046】[0046]

【発明の効果】以上説明したように、本発明によればEC
D内にEC素子が2組以上存在するので、透過率を従来のE
CDに比べて十分に 下げることができる。また、透過率
の下限を25%以下にすることにより、例えばシャッタ
ーという用途に役立つことができる。
As described above, according to the present invention, the EC
Since there are two or more EC elements in D, the transmittance is
It can be lowered sufficiently compared to CD. Further, setting the lower limit of the transmittance to 25% or less can be useful for, for example, a shutter.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】(a)は本発明にかかる実施形態1のECDの概
略平面図、(b)は、(a)図のX−X’矢視断面図、
(c)は、(a)図のY−Y’矢視断面図である。
FIG. 1A is a schematic plan view of an ECD according to a first embodiment of the present invention, FIG. 1B is a cross-sectional view taken along the line XX ′ in FIG.
(C) is a sectional view taken along the line YY 'of (a).

【図2】本発明にかかる実施形態1及び3のECD製造の
途中工程を示す概略断面図である。
FIG. 2 is a schematic cross-sectional view showing an intermediate step of manufacturing an ECD according to Embodiments 1 and 3 according to the present invention.

【図3】(a)は本発明にかかる実施形態2のECDの概
略平面図、(b)は、(a)図のX−X’矢視断面図、
(c)は、(a)図のY−Y’矢視断面図である。
3A is a schematic plan view of an ECD according to a second embodiment of the present invention, FIG. 3B is a cross-sectional view taken along the line XX ′ in FIG.
(C) is a sectional view taken along the line YY 'of (a).

【図4】本発明にかかる実施形態2のECD製造の途中工
程を示す概略断面図である。
FIG. 4 is a schematic cross-sectional view showing an intermediate step of ECD manufacturing according to a second embodiment of the present invention.

【図5】(a)は本発明にかかる実施形態3のECDの概
略平面図、(b)は、(a)図のX−X’矢視断面図、
(c)は、(a)図のY−Y’矢視断面図である。
5A is a schematic plan view of an ECD according to a third embodiment of the present invention, FIG. 5B is a cross-sectional view taken along the line XX ′ in FIG.
(C) is a sectional view taken along the line YY 'of (a).

【図6】本発明にかかる実施形態3のECD製造の第1の
途中工程を示す概略断面図である。
FIG. 6 is a schematic cross-sectional view showing a first halfway step of manufacturing an ECD according to the third embodiment of the present invention.

【図7】本発明にかかる実施形態3のECD製造の第2の
途中工程を示す概略断面図である。
FIG. 7 is a schematic cross-sectional view showing a second halfway step of manufacturing an ECD according to the third embodiment of the present invention.

【図8】(a)は本発明にかかる実施形態4のECDの概
略平面図、(b)は、(a)図のX−X’矢視断面図、
(c)は、(a)図のY−Y’矢視断面図である。
8A is a schematic plan view of an ECD according to a fourth embodiment of the present invention, FIG. 8B is a cross-sectional view taken along line XX ′ of FIG.
(C) is a sectional view taken along the line YY 'of (a).

【図9】本発明にかかる実施形態4のECD製造の途中工
程を示す概略断面図である。
FIG. 9 is a schematic cross-sectional view showing an intermediate step of ECD manufacturing according to a fourth embodiment of the present invention.

【図10】(a)は従来のECD(比較例)を示す概略平
面図、(b)は、(a)図のX−X’矢視断面図であ
る。
10A is a schematic plan view showing a conventional ECD (Comparative Example), and FIG. 10B is a cross-sectional view taken along line XX ′ of FIG. 10A.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1、2・・・EC層 3、4・・・ガラス基板 5、5’・・・封止樹脂 6、6’・・・封止ガラス基板 11・・・EC層1の下部電極層 12・・・EC層1の上部電極層 21・・・EC層2の下部電極層 22・・・EC層2の上部電極層 1, 2, EC layer 3, 4, glass substrate 5, 5 ', sealing resin 6, 6', sealing glass substrate 11, lower electrode layer of EC layer 1 ..The upper electrode layer of EC layer 1 21... The lower electrode layer of EC layer 2 22... The upper electrode layer of EC layer 2

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 少なくともエレクトロクロミック層とこ
れを挟む一対の電極層を表面にそれぞれ形成した一対の
素子基板を前記各層の形成面を互いに向かい合わせ封止
樹脂を介して接合した構造を有することを特徴とするエ
レクトロクロミック素子。
1. A structure in which a pair of element substrates each having at least an electrochromic layer and a pair of electrode layers sandwiching the electrochromic layer formed on the surface thereof are joined to each other with a sealing resin in which the surfaces on which the respective layers are formed face each other. Characteristic electrochromic element.
【請求項2】 少なくともエレクトロクロミック層とこ
れを挟む一対の電極層を表面に形成した素子基板の各層
形成面を封止樹脂を介して封止基板により封止したエレ
クトロクロミック素子が複数個接合されてなるエレクト
ロクロミック素子。
2. An electrochromic device comprising a plurality of electrochromic elements in which at least an electrochromic layer and a pair of electrode layers sandwiching the electrochromic layer are formed on the surface, and each layer forming surface of the element substrate is sealed with a sealing substrate via a sealing resin. Electrochromic element.
【請求項3】 少なくともエレクトロクロミック層とこ
れを挟む一対の電極層を表面に形成した第一素子基板の
各層形成面上に、少なくとも、エレクトロクロミック層
とこれを挟む一対の電極層を表面に形成した第二素子基
板の各層非形成面を第一封止樹脂を介して接合し、さら
に前記第二素子基板の各層形成面を、第二封止樹脂を介
して封止基板により封止してなる構造を有することを特
徴とするエレクトロクロミック素子。
3. An electrochromic layer and a pair of electrode layers sandwiching the electrochromic layer are formed on the surface of each layer of the first element substrate on which at least an electrochromic layer and a pair of electrode layers sandwiching the electrochromic layer are formed. Each layer non-formation surface of the second element substrate is joined via a first sealing resin, and each layer formation surface of the second element substrate is further sealed with a sealing substrate via a second sealing resin. An electrochromic device having a structure as follows.
【請求項4】 少なくともエレクトロクロミック層とこ
れを挟む一対の電極層を表面に形成した第一素子基板の
各層形成面を第一封止樹脂を介して封止基板により封止
し、さらに、少なくともエレクトロクロミック層とこれ
を挟む一対の電極層を表面に形成した第二素子基板の各
層形成面を第二封止樹脂を介して前記封止基板の非接合
面により封止してなる構造を有することを特徴とするエ
レクトロクロミック素子。
4. A layer forming surface of a first element substrate on which at least an electrochromic layer and a pair of electrode layers sandwiching the electrochromic layer are formed is sealed with a sealing substrate via a first sealing resin. It has a structure in which an electrochromic layer and a pair of electrode layers sandwiching the electrochromic layer are formed on the surface, and each layer forming surface of the second element substrate is sealed with a non-bonding surface of the sealing substrate via a second sealing resin. An electrochromic device, characterized in that:
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9868633B2 (en) 2015-04-17 2018-01-16 Canon Kabushiki Kaisha Production process for device
CN113568233A (en) * 2021-07-21 2021-10-29 深圳市光羿科技有限公司 Electrochromic device and preparation method thereof

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