JPH10188892A - 蛍光ランプにおける浸出性水銀の酸化防止剤制御 - Google Patents
蛍光ランプにおける浸出性水銀の酸化防止剤制御Info
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- JPH10188892A JPH10188892A JP29307997A JP29307997A JPH10188892A JP H10188892 A JPH10188892 A JP H10188892A JP 29307997 A JP29307997 A JP 29307997A JP 29307997 A JP29307997 A JP 29307997A JP H10188892 A JPH10188892 A JP H10188892A
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- H01J61/20—Selection of substances for gas fillings; Specified operating pressure or temperature having a metallic vapour as the principal constituent mercury vapour
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 水銀蒸気放電ランプの廃棄時又はＴＣＬＰ試
験時の浸出性水銀の生成を防止もしくは抑制する。 【解決手段】 ランプ構造中にアスコルビン酸やアスコ
ルビン酸ナトリウムのような酸化防止剤を導入する。
験時の浸出性水銀の生成を防止もしくは抑制する。 【解決手段】 ランプ構造中にアスコルビン酸やアスコ
ルビン酸ナトリウムのような酸化防止剤を導入する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術の分野】本発明は、在来型蛍光ラン
プを始め、水銀蒸気中でアーク放電の起こる水銀蒸気ア
ーク放電ランプに関するものであり、より詳細には、か
かるランプからの有毒物質の浸出試験時及びかかるラン
プの廃棄に際しての埋立地及び地下水の水銀汚染を回避
すること、並びに廃棄処理及び試験中の浸出性水銀の形
成の防止に有用な組成物に関する。本発明で提供される
ランプは、試験のため或いは廃棄時にランプが粉砕した
ときの水銀の溶解又は浸出量の低減によって特徴付けら
れる。
プを始め、水銀蒸気中でアーク放電の起こる水銀蒸気ア
ーク放電ランプに関するものであり、より詳細には、か
かるランプからの有毒物質の浸出試験時及びかかるラン
プの廃棄に際しての埋立地及び地下水の水銀汚染を回避
すること、並びに廃棄処理及び試験中の浸出性水銀の形
成の防止に有用な組成物に関する。本発明で提供される
ランプは、試験のため或いは廃棄時にランプが粉砕した
ときの水銀の溶解又は浸出量の低減によって特徴付けら
れる。
【０００２】
【従来の技術】低圧水銀アーク放電ランプはごく一般的
な照明手段であり、ガラスエンベロープ内に封じ込まれ
た電極を含んでおり、ガラスエンベロープの内部には蛍
光体を塗布し得る。かかるランプは少量の水銀と約１〜
５ｔｏｒｒ程度の低圧の不活性ガスも収容している。本
明細書で用いる「ランプ」という用語は、ガラスエンベ
ロープ、端板、ランプ取付具に装着するためのプラグ、
及びエンベロープの内部部品と端板とを接続する導線を
含んだ一揃いのユニットを意味する。
な照明手段であり、ガラスエンベロープ内に封じ込まれ
た電極を含んでおり、ガラスエンベロープの内部には蛍
光体を塗布し得る。かかるランプは少量の水銀と約１〜
５ｔｏｒｒ程度の低圧の不活性ガスも収容している。本
明細書で用いる「ランプ」という用語は、ガラスエンベ
ロープ、端板、ランプ取付具に装着するためのプラグ、
及びエンベロープの内部部品と端板とを接続する導線を
含んだ一揃いのユニットを意味する。
【０００３】蛍光もしくは低圧水銀アークランプの生産
に際して、所定量の元素態水銀（Ｈｇ0 ）がランプエン
ベロープ内に封入される。水銀の大半は蛍光体塗膜に吸
着し、少量は蒸気相に存在する。作動中、電極からのア
ルカリ金属炭酸塩が分解してランプ内で遊離酸素を生じ
る。酸素は水銀の一部と反応して可溶性酸化水銀（Ｈｇ
Ｏ）を形成する可能性がある。可溶性酸化水銀は埋立地
その他の廃棄処理施設から浸出する可能性がある。試験
中に形成される可溶性水銀酸化物その他の酸化形は、ラ
ンプ廃棄物からの有害物質の浸出性を決定するための標
準試験の精度及び信頼性を損なう。この試験は一般に毒
性浸出特性法(Toxicity Leaching Characteristic Proc
edure)もしくはＴＬＣＰ試験と呼ばれる。
に際して、所定量の元素態水銀（Ｈｇ0 ）がランプエン
ベロープ内に封入される。水銀の大半は蛍光体塗膜に吸
着し、少量は蒸気相に存在する。作動中、電極からのア
ルカリ金属炭酸塩が分解してランプ内で遊離酸素を生じ
る。酸素は水銀の一部と反応して可溶性酸化水銀（Ｈｇ
Ｏ）を形成する可能性がある。可溶性酸化水銀は埋立地
その他の廃棄処理施設から浸出する可能性がある。試験
中に形成される可溶性水銀酸化物その他の酸化形は、ラ
ンプ廃棄物からの有害物質の浸出性を決定するための標
準試験の精度及び信頼性を損なう。この試験は一般に毒
性浸出特性法(Toxicity Leaching Characteristic Proc
edure)もしくはＴＬＣＰ試験と呼ばれる。
【０００４】地下水源、河川、流水などに浸出する可能
性のある可溶性水銀化合物が環境に与える影響について
懸念されている。
性のある可溶性水銀化合物が環境に与える影響について
懸念されている。
【０００５】
【発明の概要】第二鉄及び第一銅イオンは可溶性化合物
を形成するが、そうした可溶性化合物は元素態水銀を１
価の第一水銀の形態に酸化する能力を有しており、かか
る第一水銀は酸性水環境に可溶性であり、そのため浸出
性である。第二鉄及び第一銅化合物の生成は酸素への曝
露及び酸素との反応によって左右される。無機又は有機
系の酸化防止剤をランプに導入すると、水又は湿気存在
下でのランプ部品からの鉄及び銅の酸化による第二鉄及
び第一銅化合物の形成が防止され、それによって元素態
水銀の酸化による浸出性第一水銀及び第二水銀化合物の
形成が大幅に低減もしくは防止される。
を形成するが、そうした可溶性化合物は元素態水銀を１
価の第一水銀の形態に酸化する能力を有しており、かか
る第一水銀は酸性水環境に可溶性であり、そのため浸出
性である。第二鉄及び第一銅化合物の生成は酸素への曝
露及び酸素との反応によって左右される。無機又は有機
系の酸化防止剤をランプに導入すると、水又は湿気存在
下でのランプ部品からの鉄及び銅の酸化による第二鉄及
び第一銅化合物の形成が防止され、それによって元素態
水銀の酸化による浸出性第一水銀及び第二水銀化合物の
形成が大幅に低減もしくは防止される。
【０００６】本発明は、不活性ガスと所定量の元素態水
銀とアーク放電樹立用の一対の電極と有効量の酸化防止
剤とを収容した光透過性ガラスのエンベロープを含んで
なる水銀蒸気放電ランプを提供する。このランプは、内
面を有する空洞を画定するとともに口金セメントでラン
プのエンベロープに固定された１以上の口金もしくは端
キャップをさらに含んでなり、上記空洞内に酸化防止剤
が配置されている。一般に、かかるランプは一対の端キ
ャップを有する。
銀とアーク放電樹立用の一対の電極と有効量の酸化防止
剤とを収容した光透過性ガラスのエンベロープを含んで
なる水銀蒸気放電ランプを提供する。このランプは、内
面を有する空洞を画定するとともに口金セメントでラン
プのエンベロープに固定された１以上の口金もしくは端
キャップをさらに含んでなり、上記空洞内に酸化防止剤
が配置されている。一般に、かかるランプは一対の端キ
ャップを有する。
【０００７】酸化防止剤は、ガラスエンベロープの所定
の場所に端キャップを固定するための口金セメントと混
合される。本発明は、さらに、可溶性水銀化合物の形成
を最低限までもしくは完全に抑制して、埋立地又はＴＬ
ＣＰ試験サンプルにおける水溶性浸出性水銀化合物の形
成を低減もしくは防止すべく、鉄及び銅の酸化の抑制の
ためにランプ構造内に配置することのできる組成物を提
供する。
の場所に端キャップを固定するための口金セメントと混
合される。本発明は、さらに、可溶性水銀化合物の形成
を最低限までもしくは完全に抑制して、埋立地又はＴＬ
ＣＰ試験サンプルにおける水溶性浸出性水銀化合物の形
成を低減もしくは防止すべく、鉄及び銅の酸化の抑制の
ためにランプ構造内に配置することのできる組成物を提
供する。
【０００８】本発明の好ましい実施形態では、水銀蒸気
放電ランプは、不活性水溶性接着バインダによって空洞
の内面に運ばれた酸化防止剤を有する。
放電ランプは、不活性水溶性接着バインダによって空洞
の内面に運ばれた酸化防止剤を有する。
【０００９】
【発明の実施の形態】ランプ構造内又はＴＬＣＰ試験溶
液中に酸化防止剤を導入すると、鉄又は銅金属部品が、
可溶性でしかも元素態水銀の可溶性酸化水銀への酸化能
をもつ酸化形へと酸化するのが防止される。したがっ
て、ランプ部品からの可溶性第二鉄及び第一銅化合物の
生成及び溶解が減少もしくは防止され、その結果浸出性
水銀化合物が低減もしくは防止される。
液中に酸化防止剤を導入すると、鉄又は銅金属部品が、
可溶性でしかも元素態水銀の可溶性酸化水銀への酸化能
をもつ酸化形へと酸化するのが防止される。したがっ
て、ランプ部品からの可溶性第二鉄及び第一銅化合物の
生成及び溶解が減少もしくは防止され、その結果浸出性
水銀化合物が低減もしくは防止される。
【００１０】蛍光ランプが破壊され埋立条件に曝露され
たときの浸出性水銀の形成は、ランプの幾つかの部品の
酸化を防止することによって防止もしくは最低限に抑制
できる。蛍光ランプの幾つかの金属部品、特に鉄リード
線、銅被覆リード及びあらゆる黄銅部品は、湿気、酸素
及び酸に曝露されると、第二鉄（Ｆｅ+3）及び第一銅
（Ｃｕ+1）イオンを生じる。
たときの浸出性水銀の形成は、ランプの幾つかの部品の
酸化を防止することによって防止もしくは最低限に抑制
できる。蛍光ランプの幾つかの金属部品、特に鉄リード
線、銅被覆リード及びあらゆる黄銅部品は、湿気、酸素
及び酸に曝露されると、第二鉄（Ｆｅ+3）及び第一銅
（Ｃｕ+1）イオンを生じる。
【００１１】蛍光ランプの廃棄によって過度の量の水銀
が地表水又は地下水に浸出するのではないかという懸念
の高まりに対処するため、米国環境保護局（ＥＰＡ）は
水銀についての最大濃度基準を浸出性水銀０．２ｍｇ／
ｌに制定している。その検定は、一般に、周知の試験法
であるＴＣＬＰ法（Toxicity Characteristic Leaching
Procedure）として知られる標準分析法によって行われ
る。
が地表水又は地下水に浸出するのではないかという懸念
の高まりに対処するため、米国環境保護局（ＥＰＡ）は
水銀についての最大濃度基準を浸出性水銀０．２ｍｇ／
ｌに制定している。その検定は、一般に、周知の試験法
であるＴＣＬＰ法（Toxicity Characteristic Leaching
Procedure）として知られる標準分析法によって行われ
る。
【００１２】ＴＣＬＰ試験の実施に当たっては、埋立地
その他の廃棄場にランプを廃棄したときに得られるのと
同様のランプ廃棄物が生じるようにランプを粉砕する。
そうした場所での周囲条件は、ちょうどＴＣＬＰ試験条
件自体が０．２ｍｇ／ｌという制定限度を上回る量の浸
出性水銀の形成について余裕をみているのと同様に、浸
出性水銀の形成を促進するようなものであってもよい。
その他の廃棄場にランプを廃棄したときに得られるのと
同様のランプ廃棄物が生じるようにランプを粉砕する。
そうした場所での周囲条件は、ちょうどＴＣＬＰ試験条
件自体が０．２ｍｇ／ｌという制定限度を上回る量の浸
出性水銀の形成について余裕をみているのと同様に、浸
出性水銀の形成を促進するようなものであってもよい。
【００１３】今回、ＴＣＬＰ試験用に容易した無水銀粉
砕ランプ材料に加えた元素態水銀が試験中に浸出性水銀
に変換されることが判明した。元素態水銀を単独もしく
は各種ガラス、蛍光体又は非金属製ランプ部品との組合
せで試験すると、浸出性水銀はほとんど或いは基本的に
全く検出されない。元素態水銀を銅、鉄、リード線、ピ
ン又はその他の金属製部材のような金属製ランプ部品と
組合せて試験すると、水銀は浸出性の形態に変換され
る。
砕ランプ材料に加えた元素態水銀が試験中に浸出性水銀
に変換されることが判明した。元素態水銀を単独もしく
は各種ガラス、蛍光体又は非金属製ランプ部品との組合
せで試験すると、浸出性水銀はほとんど或いは基本的に
全く検出されない。元素態水銀を銅、鉄、リード線、ピ
ン又はその他の金属製部材のような金属製ランプ部品と
組合せて試験すると、水銀は浸出性の形態に変換され
る。
【００１４】ＴＣＬＰ試験条件下において試験を酸素の
存在下で実施すると第二鉄（３価）及び第一銅（１価）
がともに発生すること、並びにこれらのイオン種が元素
態水銀を可溶性水銀化合物（これらは浸出性水銀である
と評価される）へと酸化し得ることが制御条件下での実
験で判明した。金属状態からの金属の腐食又は溶解に
は、酸素及び溶媒（例えばＴＣＬＰ試験及び埋立地に存
在する水条件）の双方が必要とされる。したがって、そ
の形成は、鉄及び銅含有金属ランプ部品の酸素への曝露
を抑制もしくは排除することによって制御もしくは防止
できることが分かった。これは無酸素又は嫌気的な試験
及び廃棄条件を用いることで実現できる。
存在下で実施すると第二鉄（３価）及び第一銅（１価）
がともに発生すること、並びにこれらのイオン種が元素
態水銀を可溶性水銀化合物（これらは浸出性水銀である
と評価される）へと酸化し得ることが制御条件下での実
験で判明した。金属状態からの金属の腐食又は溶解に
は、酸素及び溶媒（例えばＴＣＬＰ試験及び埋立地に存
在する水条件）の双方が必要とされる。したがって、そ
の形成は、鉄及び銅含有金属ランプ部品の酸素への曝露
を抑制もしくは排除することによって制御もしくは防止
できることが分かった。これは無酸素又は嫌気的な試験
及び廃棄条件を用いることで実現できる。
【００１５】生産段階で蛍光ランプに導入した有機又は
無機酸化防止剤は、ＴＣＬＰ試験用ランプの調製中に或
いはランプ廃棄時の破壊に際して効果を発揮するように
なる。かかる酸化防止剤の存在は、ＴＣＬＰ試験の正確
性及び信頼性を高めるとともにランプ廃棄時の可溶性水
銀化合物の生成を低減する。好適な酸化防止剤には、水
銀含有環境下での第二鉄及び第一銅の形成を阻止もしく
は低減するあらゆる物質、化合物又は系が包含される。
例示的な有機及び無機酸化防止剤（還元剤）としては、
アスコルビン酸、アスコルビン酸ナトリウム、アスコル
ビン酸カルシウム、硫酸第一鉄、酸化第一鉄、酒石酸第
一鉄、クエン酸第一鉄、グルコン酸第一鉄、塩化第一鉄
などがある。アスコルビン酸が本発明で使用するのに好
ましい酸化防止剤である。
無機酸化防止剤は、ＴＣＬＰ試験用ランプの調製中に或
いはランプ廃棄時の破壊に際して効果を発揮するように
なる。かかる酸化防止剤の存在は、ＴＣＬＰ試験の正確
性及び信頼性を高めるとともにランプ廃棄時の可溶性水
銀化合物の生成を低減する。好適な酸化防止剤には、水
銀含有環境下での第二鉄及び第一銅の形成を阻止もしく
は低減するあらゆる物質、化合物又は系が包含される。
例示的な有機及び無機酸化防止剤（還元剤）としては、
アスコルビン酸、アスコルビン酸ナトリウム、アスコル
ビン酸カルシウム、硫酸第一鉄、酸化第一鉄、酒石酸第
一鉄、クエン酸第一鉄、グルコン酸第一鉄、塩化第一鉄
などがある。アスコルビン酸が本発明で使用するのに好
ましい酸化防止剤である。
【００１６】
【実施例】本発明の原理及び実施は以下の実施例を参照
することでさらに深く理解されるであろう。すべてのＴ
ＣＬＰ試験データは、１９９０年６月２９日発行米国官
報(FederalRegister) 第５５巻第１２６号第２６９８７
〜２６９９８頁に規定された試験手順によって得た。
することでさらに深く理解されるであろう。すべてのＴ
ＣＬＰ試験データは、１９９０年６月２９日発行米国官
報(FederalRegister) 第５５巻第１２６号第２６９８７
〜２６９９８頁に規定された試験手順によって得た。
【００１７】簡単に述べると、試験すべきランプを粉砕
して、規定通り８分の３インチの篩を通過できる粒度の
粒子状にする。この試験材料を次いでｐＨ約４．９３の
酢酸ナトリウム−酢酸緩衝液で抽出する。水銀蒸気放電
ランプの廃棄時の浸出性水銀の生成を防止するとともに
ＴＣＬＰ試験の信頼性を改善するため、有効量の酸化防
止剤をランプ構造内、例えばガラスエンベロープ内のプ
ラズマ放電の外部に或いは端キャップ内、又はランプの
口金内に、導入する。酸化防止剤の有効量は、元素態水
銀を可溶性形に酸化し得る第二鉄及び第一銅の生成を実
質的に防止する量である。一般に、酸化防止剤の有効量
は、ＴＣＬＰ試験で約０．２ｐｐｍ未満の浸出性水銀の
存在しか検出されなくなるのに充分である。
して、規定通り８分の３インチの篩を通過できる粒度の
粒子状にする。この試験材料を次いでｐＨ約４．９３の
酢酸ナトリウム−酢酸緩衝液で抽出する。水銀蒸気放電
ランプの廃棄時の浸出性水銀の生成を防止するとともに
ＴＣＬＰ試験の信頼性を改善するため、有効量の酸化防
止剤をランプ構造内、例えばガラスエンベロープ内のプ
ラズマ放電の外部に或いは端キャップ内、又はランプの
口金内に、導入する。酸化防止剤の有効量は、元素態水
銀を可溶性形に酸化し得る第二鉄及び第一銅の生成を実
質的に防止する量である。一般に、酸化防止剤の有効量
は、ＴＣＬＰ試験で約０．２ｐｐｍ未満の浸出性水銀の
存在しか検出されなくなるのに充分である。
【００１８】可溶性水銀化合物の生成を下記の表１に示
すデータで例示する。ＴＣＬＰ試験を空気の存在下で実
施すると、約１ｐｐｍの銅と約０．３ｐｐｍの可溶性鉄
が生成する。これらの条件下で生成する可溶性水銀の量
は、法定基準の０．２ｐｐｍを超える。酸素曝露を増す
と、可溶性銅及び可溶性水銀の生成量が増す。酸素曝露
を減らすと、可溶性銅及び可溶性水銀の生成量が減る。
すデータで例示する。ＴＣＬＰ試験を空気の存在下で実
施すると、約１ｐｐｍの銅と約０．３ｐｐｍの可溶性鉄
が生成する。これらの条件下で生成する可溶性水銀の量
は、法定基準の０．２ｐｐｍを超える。酸素曝露を増す
と、可溶性銅及び可溶性水銀の生成量が増す。酸素曝露
を減らすと、可溶性銅及び可溶性水銀の生成量が減る。
【００１９】
【表１】
【００２０】ＴＣＬＰ試験容器中のヘッドスペースの容
積を増やして酸素量を変えたときの、可溶性水銀の生成
に対する可溶性鉄及び可溶性銅の影響は下記の表２のデ
ータから明らかである。ヘッドスペース容積が増大する
につれ、可溶性水銀の量は可溶性銅及び可溶性鉄の生成
量の増加に応じて増加する。
積を増やして酸素量を変えたときの、可溶性水銀の生成
に対する可溶性鉄及び可溶性銅の影響は下記の表２のデ
ータから明らかである。ヘッドスペース容積が増大する
につれ、可溶性水銀の量は可溶性銅及び可溶性鉄の生成
量の増加に応じて増加する。
【００２１】
【表２】
【００２２】試験溶液にアスコルビン酸のような酸化防
止剤を添加すると、下記の表３に示す通り、可溶性水銀
の生成が減少する。
止剤を添加すると、下記の表３に示す通り、可溶性水銀
の生成が減少する。
【００２３】
【表３】
【００２４】表３は、浸出性水銀に対する効果を調べる
ためにＴＣＬＰ抽出液に添加した酸化防止剤の具体例を
示したものである。最初の項目は対照例であり、粉砕ラ
ンプに２０ｍｇの元素態水銀を投与したときに生ずる浸
出性水銀の量を示す。この場合、全く酸化防止剤の存在
しない条件下で生成した浸出性水銀は７４５ｐｐｂであ
る。酸化防止剤は、ガラスカプセル内に材料を封入する
ことによってランプ内に導入してもよく、ランプの口金
のアルミニウムキャップと鉛ガラスのフレアの間、或い
はランプの陽光柱内に配置することができる。酸化防止
剤はガラスカプセル内に封入されるので、ランプの機能
に影響を与えずにランプの内部又は陽光柱に存在させる
ことができる。
ためにＴＣＬＰ抽出液に添加した酸化防止剤の具体例を
示したものである。最初の項目は対照例であり、粉砕ラ
ンプに２０ｍｇの元素態水銀を投与したときに生ずる浸
出性水銀の量を示す。この場合、全く酸化防止剤の存在
しない条件下で生成した浸出性水銀は７４５ｐｐｂであ
る。酸化防止剤は、ガラスカプセル内に材料を封入する
ことによってランプ内に導入してもよく、ランプの口金
のアルミニウムキャップと鉛ガラスのフレアの間、或い
はランプの陽光柱内に配置することができる。酸化防止
剤はガラスカプセル内に封入されるので、ランプの機能
に影響を与えずにランプの内部又は陽光柱に存在させる
ことができる。
【００２５】酸化防止剤は、アルミニウムキャップをラ
ンプ末端の鉛ガラス部分に保持するランプ口金セメント
中に導入することもできる。口金セメントは一般に約８
０重量％の大理石粉末（石灰石−ＣａＯ）を含んでな
り、その残りはセラック、フェノール樹脂バインダ、ブ
レンド用溶剤、及びセメント着色用の染料である。セメ
ントはフィーダーを介して口金に施工し、ランプに取り
付けたら加熱して硬化する。硬化処理は溶剤を駆逐し、
セメントを凝固させる。酸化防止剤はセメント成分とブ
レンドされ、手作業で或いは自動製造装置でランプ内に
導入される。酸化防止剤は、ＴＣＬＰ試験の準備におい
てランプが破壊もしくは粉砕したときにのみ放出され
る。この方法において、活性な酸化防止剤は常にランプ
の陽光柱の外部にある。
ンプ末端の鉛ガラス部分に保持するランプ口金セメント
中に導入することもできる。口金セメントは一般に約８
０重量％の大理石粉末（石灰石−ＣａＯ）を含んでな
り、その残りはセラック、フェノール樹脂バインダ、ブ
レンド用溶剤、及びセメント着色用の染料である。セメ
ントはフィーダーを介して口金に施工し、ランプに取り
付けたら加熱して硬化する。硬化処理は溶剤を駆逐し、
セメントを凝固させる。酸化防止剤はセメント成分とブ
レンドされ、手作業で或いは自動製造装置でランプ内に
導入される。酸化防止剤は、ＴＣＬＰ試験の準備におい
てランプが破壊もしくは粉砕したときにのみ放出され
る。この方法において、活性な酸化防止剤は常にランプ
の陽光柱の外部にある。
【００２６】ランプ構造内に活性な酸化防止剤を導入す
るためのもう一つの方法は、酸化防止剤を不活性水溶性
接着剤キャリアもしくはバインダと混合することであ
る。ガム類及びゼラチン類がかかる接着剤及びバインダ
として使用されている。ガム類及びゼラチン類の性質と
して、それらは加熱されると表面に接着する。酸化防止
剤含有組成物は、アルミニウム端キャップの内表面に環
又は離散粒として配置できる。ランプが粉砕されて水性
環境に曝露或いはＴＣＬＰ溶液中に置かれると、水溶液
バインダは酸化防止剤を迅速に放出する。
るためのもう一つの方法は、酸化防止剤を不活性水溶性
接着剤キャリアもしくはバインダと混合することであ
る。ガム類及びゼラチン類がかかる接着剤及びバインダ
として使用されている。ガム類及びゼラチン類の性質と
して、それらは加熱されると表面に接着する。酸化防止
剤含有組成物は、アルミニウム端キャップの内表面に環
又は離散粒として配置できる。ランプが粉砕されて水性
環境に曝露或いはＴＣＬＰ溶液中に置かれると、水溶液
バインダは酸化防止剤を迅速に放出する。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ドナルド・フランクリン・フォースト アメリカ合衆国、ニューヨーク州、スコテ ィア、スプリング・ヴァリー・サークル、 １番 (72)発明者 ディヴィッド・キー・ディートリッヒ アメリカ合衆国、ニューヨーク州、スケネ クタデイ、プラム・ストリート、2089番
Claims (9)
- 【請求項１】 光透過性ガラスのエンベロープと所定量
の元素態水銀と有効量の酸化防止剤とを有する水銀蒸気
放電ランプ。 - 【請求項２】 前記酸化防止剤が、元素態鉄、アスコル
ビン酸及びアスコルビン酸ナトリウムからなる群から選
択される、請求項１記載の水銀蒸気放電ランプ。 - 【請求項３】 前記酸化防止剤の量が約１ｇである、請
求項１記載の水銀蒸気放電ランプ。 - 【請求項４】 水銀蒸気放電ランプにおける浸出性水銀
化合物の形成を防止する方法であって、ランプ構造中に
有効量の酸化防止剤を導入することを含んでなる方法。 - 【請求項５】 不活性ガスと所定量の元素態水銀とアー
ク放電樹立用の一対の電極と有効量の酸化防止剤とを収
容した光透過性ガラスのエンベロープを含んでなる水銀
蒸気放電ランプ。 - 【請求項６】 前記酸化防止剤が元素態鉄、アスコルビ
ン酸又はアスコルビン酸ナトリウムであって、当該ラン
プ当たり約０．０５〜約１０ｇの量で存在している、請
求項５記載のランプ。 - 【請求項７】 内面を有する空洞を画定するとともに口
金セメントでランプのエンベロープに固定された１以上
の口金をさらに含んでなり、上記空洞内に酸化防止剤が
配置されている、請求項５記載のランプ。 - 【請求項８】 前記酸化防止剤が口金セメントと混合さ
れている、請求項７記載のランプ。 - 【請求項９】 前記酸化防止剤が不活性水溶性バインダ
によって空洞の内面に運ばれる、請求項８記載の水銀蒸
気放電ランプ。
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