JPH10173317A - Transfer method and compression system - Google Patents

Transfer method and compression system

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JPH10173317A
JPH10173317A JP33914196A JP33914196A JPH10173317A JP H10173317 A JPH10173317 A JP H10173317A JP 33914196 A JP33914196 A JP 33914196A JP 33914196 A JP33914196 A JP 33914196A JP H10173317 A JPH10173317 A JP H10173317A
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JP
Japan
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wiring
pattern
insulating material
wiring substrate
organic insulating
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP33914196A
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Japanese (ja)
Inventor
Shigeo Takei
滋郎 竹居
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Dai Nippon Printing Co Ltd
Original Assignee
Dai Nippon Printing Co Ltd
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Publication date
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Publication of JPH10173317A publication Critical patent/JPH10173317A/en
Withdrawn legal-status Critical Current

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To avoid long time occupation of an expensive compression system, while preventing a bubble from being captured between an insulating material part and a board by forming a closed region forming pattern having a conductor part and an organic insulating material part in a non-wiring pattern in addition to a wiring pattern having a conductor part and an organic insulating material part. SOLUTION: A conductive plate is subjected to plating using the a negative pattern formed thereon, thus forming a thin film conductor part. An organic insulating material part having viscosity is then formed at the plated conductor part by electrodeposition. At that stage, a wiring pattern 210 having a conductor part and an organic insulating material part and a closed region forming pattern 220 being transferred to a wiring board 150 are formed on the conductive plate. The conductive plate, on which a pattern having a conductor part and an organic insulating material part is formed is referred to transfer plate while a pattern for forming a closed ring other than the wiring pattern 210 is referred to as a closed region forming pattern 220 and the region surrounded by that pattern is referred to as a closed region 225.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、配線基板作製のた
めの転写方法および装置に関するもので、特に、半導体
装置用回路基板、プリント基板、磁気ディスク装置にお
ける磁気ヘッドサスペンションの配線基板等の作製にお
ける転写方法および圧着装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a transfer method and an apparatus for manufacturing a wiring board, and more particularly to a method for manufacturing a circuit board for a semiconductor device, a printed board, and a wiring board for a magnetic head suspension in a magnetic disk drive. The present invention relates to a transfer method and a pressure bonding apparatus.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来より半導体装置の組立用部材として
用いられている配線基板は、高性能化と軽薄短小傾向か
ら、半導体をますます高集積し、高機能搭載が求められ
ている。即ち、より多くのゲートを基板内に収容でき、
且つ、基板サイズ自体を小さくすることが要求されてい
る。この為、半導体素子を搭載する配線基板作製におい
ても、これに対応するため、種々の作製方法が開発され
ているが、その一方法として、導電性板の一面にめっき
により導体からなる配線パターンを形成し、これを配線
用基板に転写して配線基板を作製する、図6に示すよう
な、転写による配線基板の作製方法が知られている。こ
の方法を簡単に説明しておく。先ず、導電性板の一面
に、上に配線パターンに対応した所定の領域のみが露出
するようにして設けられた、めっき用のマスクとなるネ
ガパターンを作成する。このネガパターンの作製方法は
特に限定されないが、一般には、フオトマスクを用いた
フオトリソグラフィー法により作製されていた。即ち、
通常は、導電性板610の一面に感光性のレジスト62
0を塗布した(図6(a))後、配線パターンに対応し
た絵柄をもつフオトマスク625を介した露光し(図6
(b))、現像することによってネガパターン621を
得ていた。(図6(c)) 次いで、ネガパターン621をめっき用マスクとして、
導電性板610の露出した領域611のみに、めっきを
施し、薄膜の導体部630を形成した(図6(d))
後、めっきにより形成された導体部630上に、更に電
着法により、粘着性を有する有機絶縁材料部640を形
成する。(図7(e)) 次いで、圧着装置660を用いて、大気中にて、導電性
板610を配線用基板650に、有機絶縁材料部640
を介して圧着する圧着工程を行う。(図6(f)) この際、導電性板610上に導体部630と有機絶縁材
料部640とを形成した転写版610Aを、配線用基板
650との位置合わせを行う必要がある場合には、アラ
イメント機能を備えた圧着装置を用い、導電性板610
と配線用基板650との位置合わせを行った後に、圧着
する。圧着後、有機絶縁材料部640の硬化を完了させ
てから、圧着装置より、導電性板610と配線用基板6
50とを一体として取り出し(図6(g))、導電性板
610のみを剥離除去して、配線基板650Aが形成す
る。(図6(h)) しかしながら、図6に示す方法では、転写に際しては、
有機絶縁材料部640を接着剤としているため、圧と熱
を加えることにより、硬化の反応を完全に行い、接着を
完了しなければならないため、導電性板610上に導体
部630と有機絶縁材料部640とを形成した転写版6
10Aを、配線用基板650に対してアライメントする
必要がある場合には、アライメント機構を備えた高価な
圧着装置が必要となり、且つ、1回の転写作業に圧着装
置が長時間占有されることとなり、コストおよび圧着装
置のスループットの点で問題になっていた。また、大気
中で圧着を行うため、有機絶縁材料部と配線用基板との
間に気泡が埋入することがあり問題となっていた。
2. Description of the Related Art Wiring boards which have been conventionally used as members for assembling semiconductor devices have been required to integrate semiconductors more and more and to mount them with high functions due to the trend toward higher performance and lighter and thinner. That is, more gates can be accommodated in the substrate,
In addition, it is required to reduce the substrate size itself. For this reason, in the production of a wiring board on which a semiconductor element is mounted, various production methods have been developed in order to respond to this. One method is to form a wiring pattern made of a conductor by plating one surface of a conductive plate. A method of manufacturing a wiring board by transfer, as shown in FIG. 6, is known in which the wiring board is formed and transferred to a wiring board to manufacture the wiring board. This method will be briefly described. First, a negative pattern serving as a plating mask is formed on one surface of a conductive plate so that only a predetermined region corresponding to a wiring pattern is exposed. The method for producing this negative pattern is not particularly limited, but generally, it is produced by a photolithography method using a photomask. That is,
Usually, the photosensitive resist 62 is applied to one surface of the conductive plate 610.
0 (FIG. 6A), and then exposed through a photomask 625 having a pattern corresponding to the wiring pattern (FIG. 6A).
(B)) The negative pattern 621 was obtained by developing. (FIG. 6C) Next, the negative pattern 621 is used as a plating mask.
Only the exposed area 611 of the conductive plate 610 was plated to form a thin conductor 630 (FIG. 6D).
Thereafter, an organic insulating material portion 640 having adhesiveness is further formed on the conductor portion 630 formed by plating by an electrodeposition method. (FIG. 7E) Next, the conductive plate 610 is attached to the wiring substrate 650 in the air using the crimping device 660, and the organic insulating material portion 640.
A crimping step of crimping through the step is performed. (FIG. 6 (f)) At this time, when it is necessary to align the transfer plate 610A in which the conductor portion 630 and the organic insulating material portion 640 are formed on the conductive plate 610 with the wiring substrate 650. And a conductive plate 610 using a crimping device having an alignment function.
After the alignment between the substrate and the wiring substrate 650 is performed, pressure bonding is performed. After the pressure bonding, the curing of the organic insulating material portion 640 is completed, and then the conductive plate 610 and the wiring substrate 6 are pressed by the pressure bonding device.
50 are integrally taken out (FIG. 6G), and only the conductive plate 610 is peeled off to form a wiring substrate 650A. (FIG. 6 (h)) However, in the method shown in FIG.
Since the organic insulating material portion 640 is used as an adhesive, the curing reaction must be completed by applying pressure and heat, and the bonding must be completed. Therefore, the conductor portion 630 and the organic insulating material are placed on the conductive plate 610. Transfer plate 6 having a portion 640
When it is necessary to align the 10A with the wiring substrate 650, an expensive crimping device having an alignment mechanism is required, and the crimping device is occupied for one transfer operation for a long time. , Cost and crimping equipment throughput. Further, since pressure bonding is performed in the air, bubbles may be buried between the organic insulating material portion and the wiring substrate, which has been a problem.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】上記のように、図7に
示すような、導電性板の一面にめっきにより導体からな
る配線パターンを形成し、これを配線用基板に転写して
配線基板を作製する、転写による配線基板の作製方法に
おいては、圧着に先立ち配線用基板に対してアライメン
トする必要がある場合には、アライメト機構を備えた高
価な圧着装置が必要となり、且つ、1回の転写作業に圧
着装置が長時間占有される為、コストおよび圧着装置の
スループットの点で問題があり、この対応が求められて
いた。また、品質的にも、有機絶縁材料部と配線用基板
との間に気泡が埋入するという問題があり、その対応が
求められていた。本発明は、このような状況のもと、導
電性板上にこの順に導体部と有機絶縁材料部を積層した
構造の配線パターンを形成した転写版から、配線パター
ンを有機絶縁材料部を介して配線用基板上に転写して、
配線基板の配線部を形成する方法において、転写版を配
線用基板に対してアライメントする必要がある場合に
も、1回の転写作業に高価な圧着装置が長時間占有され
ることなく、且つ、転写の際に、有機絶縁材料部と配線
用基板との間に気泡が埋入することがない方法を提供し
ようとするものである。そして、同時に、このような方
法を実施することができる圧着装置を提供しようとする
ものである。
As described above, a wiring pattern made of a conductor is formed by plating on one surface of a conductive plate as shown in FIG. 7, and this is transferred to a wiring board to form a wiring board. In the method of manufacturing a wiring board by transfer, when it is necessary to align the wiring board with the wiring board prior to crimping, an expensive crimping apparatus equipped with an alignment mechanism is required, and one transfer is performed. Since the crimping device is occupied for a long time in the work, there is a problem in terms of cost and throughput of the crimping device. Also, in terms of quality, there is a problem that air bubbles are buried between the organic insulating material portion and the wiring substrate, and a solution has been required. The present invention, under such circumstances, from a transfer plate in which a wiring pattern having a structure in which a conductor portion and an organic insulating material portion are laminated on a conductive plate in this order, a wiring pattern is passed through the organic insulating material portion. Transfer onto the wiring board,
In the method of forming the wiring portion of the wiring substrate, even when the transfer plate needs to be aligned with the wiring substrate, an expensive crimping device is not occupied for one transfer operation for a long time, and An object of the present invention is to provide a method in which bubbles are not embedded between an organic insulating material portion and a wiring substrate during transfer. At the same time, an object of the present invention is to provide a crimping apparatus capable of performing such a method.

【0004】[0004]

【課題を解決するための手段】本発明の転写方法は、導
電性板上にこの順に導体部と有機絶縁材料部を積層した
構造の配線パターンを形成した転写版から、配線パター
ンを配線用基板上に転写して、配線基板の配線部を形成
する方法であって、少なくとも、順に、(a)導電性板
上に、レジスト膜からなり、所定の領域のみが露出する
ようにして設けられたネガパターンを形成するネガパタ
ーン作成工程と、(b)ネガパターンが形成された導電
性板上に、ネガパターンをめっき用マスクとしてめっき
を施し、薄膜の導体部を形成するめっき工程と、(c)
めっきにより形成された導体部上に、電着法により、粘
着性を有する有機絶縁材料を形成する電着工程と、
(d)導電性板と導電性板上に形成された導体部と有機
絶縁材料部とからなる転写版を、配線用基板に有機絶縁
材料部を介して圧着する圧着工程とを有し、配線用基板
に、導体部と有機絶縁材料部からなる配線パターンの他
に、導体部と有機絶縁材料部からなる、閉環して閉領域
を作成する閉領域作成用パターンを配線パターン領域で
ない領域に形成するもので、圧着工程において圧着する
際には、あらかじめ、閉領域作成パターンにより形成さ
れる囲む閉領域を真空引きした後に、転写版を有機絶縁
材料部を介して配線用基板に圧着することを特徴とする
ものである。そして、上記における閉領域が配線パター
ン領域を含む領域であることを特徴とするものである。
そしてまた、上記における配線用基板が金属板であるこ
とを特徴とするものである。また、上記における配線基
板が半導体素子を搭載する配線基板であることを特徴と
するものである。また、上記におけるめっきにより形成
された導体部が、銅、金、銀等の金属単体もしくは導電
性電着樹脂、あるいはこれらを多層に積層して形成した
ものであることを特徴とするものである。
According to a transfer method of the present invention, a wiring pattern is formed from a transfer plate having a wiring pattern having a structure in which a conductor portion and an organic insulating material portion are laminated on a conductive plate in this order. A method of forming a wiring portion of a wiring board by transferring the resist film on a conductive plate, at least in order of (a) being provided with a resist film on a conductive plate so that only a predetermined region is exposed. A negative pattern forming step of forming a negative pattern, (b) a plating step of plating the conductive pattern on which the negative pattern has been formed by using the negative pattern as a plating mask to form a thin-film conductor, and (c) )
An electrodeposition step of forming an organic insulating material having adhesiveness on a conductor portion formed by plating by an electrodeposition method,
(D) a pressing step of pressing a transfer plate comprising a conductive plate, a conductor portion formed on the conductive plate, and an organic insulating material portion onto a wiring board via the organic insulating material portion; In addition to the wiring pattern consisting of the conductor part and the organic insulating material part, a closed area forming pattern consisting of the conductor part and the organic insulating material part, which is closed and creates a closed area, is formed in an area other than the wiring pattern area on the substrate for use. When performing pressure bonding in the pressure bonding step, it is necessary to evacuate the surrounding closed region formed by the closed region forming pattern in advance, and then press-bond the transfer plate to the wiring substrate via the organic insulating material portion. It is a feature. The closed region is a region including a wiring pattern region.
Further, the wiring substrate in the above is a metal plate. Further, the above-mentioned wiring board is a wiring board on which a semiconductor element is mounted. Further, the conductor portion formed by plating as described above is characterized in that it is formed of a single metal such as copper, gold, silver, or the like, or a conductive electrodeposited resin, or a laminate of these layers. .

【0005】本発明の転写装置は、導体部と有機絶縁材
料部とを順次積層してなるパターンで、配線パターンの
他に、閉環して閉領域を作成する閉領域作成用パターン
を配線パターン領域でない領域に形成してなるパターン
を、その一面に設けた転写版をパターンの有機絶縁材料
部を介して配線用基板上に圧着するための圧着装置であ
って、転写版を保持する転写版保持部と、配線用基板を
保持する配線用基板保持部と、転写版と配線用基板とを
離れた状態にして、少なくとも該転写版と配線用基板と
の間を真空引きするための囲いである枠部と、真空引き
制御を行う真空引き制御部と、転写板のパターンを設け
ていない裏面側から転写版を押圧し、配線用基板へ圧着
するための加圧部とを有し、加圧部と配線用基板保持部
との間に、転写版と配線用基板とを有機絶縁材料部を介
して挾み圧着するものであることを特徴とするものであ
る。そして、上記において、配線用基板保持部は下側に
位置してその上に配線用基板を載置するもので、配線用
基板保持部の上側に、上下移動可能な加圧部を設けてお
り、枠部は加圧部に支持され、配線用基板保持部側へ移
動するもので、且つ、枠部の配線用基板側先端は、弾力
性のあるOリングと接するようにして、密着されるもの
であり、真空引き制御部は、配線用基板保持部の配線用
基板領域の外側で、且つ、枠部に囲まれる領域の内側の
転写版側に設けられた真空用兼真空解除用配管を介して
真空引きするものであることを特徴とするものである。
そしてまた、上記において、転写版と配線用基板とを位
置合わせするアライメント機構部を設け、転写版と配線
用基板とを位置合わせ後に、真空引きし、圧着するもの
であることを特徴とするものである。
[0005] The transfer device of the present invention is a pattern formed by sequentially laminating a conductor portion and an organic insulating material portion. Is a pressing device for pressing a transfer plate provided on one surface of a pattern formed in a non-region on a wiring board through an organic insulating material portion of the pattern, the transfer plate holding the transfer plate Part, a wiring substrate holding part for holding the wiring substrate, and an enclosure for evacuating at least the transfer plate and the wiring substrate with the transfer plate and the wiring substrate separated from each other. A frame unit, a vacuum control unit for performing vacuum control, and a press unit for pressing the transfer plate from the back side where the pattern of the transfer plate is not provided, and pressing the transfer plate against the wiring substrate; Transfer plate between the section and the wiring board holding section. It is characterized in that the wiring board is to sandwiched crimped through an organic insulating material portion. And in the above, the wiring substrate holding part is located on the lower side, on which the wiring substrate is mounted, and on the upper side of the wiring substrate holding part, a vertically movable pressurizing part is provided. The frame portion is supported by the pressing portion and moves toward the wiring substrate holding portion, and the front end of the frame portion on the wiring substrate side is in close contact with an elastic O-ring so as to be in contact therewith. The vacuum evacuation control unit includes a vacuum / vacuum release pipe provided outside the wiring substrate region of the wiring substrate holding unit and on the transfer plate side inside the region surrounded by the frame portion. It is characterized in that it is evacuated through the air.
Further, in the above, there is provided an alignment mechanism for aligning the transfer plate and the wiring substrate, and after positioning the transfer plate and the wiring substrate, evacuating and crimping. It is.

【0006】[0006]

【作用】本発明の転写方法は、このような構成にするこ
とにより、導電性板上にこの順に導体部と有機絶縁材料
部を積層した構造のパターンを形成した転写版から、パ
ターンを該有機絶縁材料部を介して基板上に転写して、
配線基板の配線部を形成する方法において、配線用基板
に対してアライメントする必要がある場合にも、1回の
転写作業に高価な圧着装置が長時間占有されることな
く、且つ、転写の際に、有機絶縁材料部と配線用基板と
の間に気泡が埋入することがない方法の提供を可能とし
ている。詳しくは、少なくとも、順に、(a)導電性板
上に、レジスト膜からなり、所定の領域のみが露出する
ようにして設けられたネガパターンを形成するネガパタ
ーン作成工程と、(b)ネガパターンが形成された導電
性板上に、ネガパターンをめっき用マスクとしてめっき
を施し、薄膜の導体部を形成するめっき工程と、(c)
めっきにより形成された導体部上に、電着法により、粘
着性を有する有機絶縁材料を形成する電着工程と、
(d)導電性板と導電性板上に形成された導体部と有機
絶縁材料部とからなる転写版を、配線用基板に、有機絶
縁材料部を介して圧着する圧着工程とを有し、配線用基
板に、導体部と有機絶縁材料部からなる配線パターンの
他に、導体部と有機絶縁材料部からなる、閉環して閉領
域を作成する閉領域作成用パターンを配線パターン領域
でない領域に形成するもので、圧着工程において、圧着
する際には、あらかじめ、閉領域作成パターンにより形
成される囲む閉領域を真空引きした後に、転写版を有機
絶縁材料部を介して配線用基板に圧着することによりこ
れを達成している。詳しくは、導電性板に、導体部と有
機絶縁材料部からなる配線パターンの他に、導体部と有
機絶縁材料部からなる、閉環して閉領域を作成する閉領
域作成用パターンを配線パターン領域でない領域に形成
し、且つ、転写工程における圧着の際に、あらかじめ、
閉領域作成パターンにより形成される囲む閉領域を真空
引きした後に、転写版を有機絶縁材料部を介して配線用
基板に圧着することにより、真空引きされ、転写版と配
線用基板とが有機絶縁材料部を介して圧着されると、転
写版と閉領域作成パターンと配線用基板とで真空引きさ
れた状態のまま密閉される真空密閉部が形成されること
となり、この状態で真空密閉部以外を真空解除しても、
転写版と配線用基板との位置関係が圧着時の状態で確保
され、転写版と配線用基板との位置が確実に固定される
こととなるのである。そして、真空引きした後、圧着す
るため、圧着の際に、有機絶縁材料部と配線用基板との
間に気泡が埋入することがないものとしている。配線用
基板が金属板であっても、絶縁性有機絶縁材料部を介し
て導体部を形成すれば配線パターンの形成は可能であ
る。また、上記における配線基板が半導体素子を搭載す
るような配線基板である場合にもその作製には有効であ
る。また、上記におけるめっきにより形成された導体部
としては、銅、金、銀等の金属単体もしくは導電性電着
樹脂、あるいはこれらを多層に積層して形成したものも
作製可能である。
According to the transfer method of the present invention, by adopting such a structure, a pattern is formed on a conductive plate from a transfer plate having a structure in which a conductor portion and an organic insulating material portion are laminated in this order. Transferred to the substrate via the insulating material,
In the method of forming the wiring portion of the wiring board, even when it is necessary to perform alignment with respect to the wiring substrate, an expensive crimping device is not occupied for a long time in one transfer operation, and the transfer operation is not performed. In addition, it is possible to provide a method in which air bubbles are not embedded between the organic insulating material portion and the wiring substrate. More specifically, at least in order, (a) a negative pattern forming step of forming a negative pattern formed of a resist film on a conductive plate so as to expose only a predetermined area; and (b) a negative pattern forming step. A plating step of forming a thin-film conductor portion by plating on the conductive plate on which is formed, using the negative pattern as a plating mask; and (c)
An electrodeposition step of forming an organic insulating material having adhesiveness on a conductor portion formed by plating by an electrodeposition method,
(D) a crimping step of crimping a transfer plate comprising a conductive plate, a conductor portion formed on the conductive plate, and an organic insulating material portion to a wiring board via the organic insulating material portion; On the wiring board, in addition to the wiring pattern composed of the conductor portion and the organic insulating material portion, a closed region creating pattern composed of the conductor portion and the organic insulating material portion and closed to create a closed region is formed in an area other than the wiring pattern region. In the press-bonding step, in the press-bonding step, when the press-bonding is performed, the enclosing closed area formed by the closed-area forming pattern is evacuated in advance, and then the transfer plate is press-bonded to the wiring substrate via the organic insulating material portion. This has been achieved by: Specifically, in addition to a wiring pattern formed of a conductor portion and an organic insulating material portion, a closed region forming pattern formed of a conductor portion and an organic insulating material portion, which is closed and forms a closed region, is formed on a conductive plate. Not formed in the area, and, at the time of pressure bonding in the transfer process,
After evacuating the surrounding closed area formed by the closed area forming pattern, the transfer plate is pressed against the wiring substrate via the organic insulating material portion, and the transfer plate and the wiring substrate are organically insulated. When pressure-bonded through the material portion, a vacuum-sealed portion is formed, which is hermetically sealed while being evacuated by the transfer plate, the closed region forming pattern, and the wiring substrate. In this state, a portion other than the vacuum-sealed portion is formed. Even if the vacuum is released
The positional relationship between the transfer plate and the wiring board is ensured in the state at the time of crimping, and the position between the transfer plate and the wiring board is securely fixed. Then, after the evacuation is performed, pressure bonding is performed, so that bubbles are not embedded between the organic insulating material portion and the wiring substrate during the pressure bonding. Even if the wiring substrate is a metal plate, a wiring pattern can be formed by forming a conductor portion via an insulating organic insulating material portion. Further, the present invention is also effective in the case where the above-mentioned wiring substrate is a wiring substrate on which a semiconductor element is mounted. Further, as the conductor portion formed by plating, a single metal such as copper, gold, silver or the like, a conductive electrodeposited resin, or a laminate formed by laminating these conductive layers can also be manufactured.

【0007】本発明の圧着装置は、本発明の転写方法を
実施するためのもので、配線用基板に対してアライメン
トする必要がある場合にも、1回の転写作業に高価な圧
着装置が長時間占有されることなく、且つ、転写の際
に、有機絶縁材料部と配線用基板との間に気泡が埋入す
ることがないものとしている。
The crimping apparatus according to the present invention is for performing the transfer method according to the present invention. Even when it is necessary to perform alignment with respect to a wiring substrate, an expensive crimping apparatus is required for one transfer operation. No time is occupied, and no bubbles are buried between the organic insulating material portion and the wiring substrate during transfer.

【0008】[0008]

【発明の実施の形態】本発明の転写方法を以下、図にそ
って説明する。図1は本発明の転写方法の工程を示した
断面図であり、図2は配線基板を説明するための図であ
る。図1、図2中、110は導電性板、110Aは転写
版、120はネガパターン、130は導体部、140は
有機絶縁材料部、150は配線用基板、150Aは配線
基板、160は加圧部、165は枠部、170は載置
台、180は真空引き兼真空解除用配管、210は配線
パターン、211は半導体素子との結線用電極パッド、
212は外部回路との接続用電極パッド、213は配線
部、215は配線パターン領域、220は閉領域作成用
パターン、225は閉領域である。本発明の転写方法
は、導電性板110上に導体部130と有機絶縁材料部
140とをこの順に積層した構造の配線パターンを形成
し、該配線パターンを配線用基板上に転写して、配線基
板の配線部を形成する方法である。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The transfer method of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a sectional view showing the steps of the transfer method of the present invention, and FIG. 2 is a view for explaining a wiring board. 1 and 2, 110 is a conductive plate, 110A is a transfer plate, 120 is a negative pattern, 130 is a conductor, 140 is an organic insulating material, 150 is a wiring board, 150A is a wiring board, and 160 is pressurized. Part, 165 is a frame part, 170 is a mounting table, 180 is a vacuum evacuation and vacuum release pipe, 210 is a wiring pattern, 211 is an electrode pad for connection with a semiconductor element,
212 is an electrode pad for connection to an external circuit, 213 is a wiring portion, 215 is a wiring pattern region, 220 is a closed region creation pattern, and 225 is a closed region. According to the transfer method of the present invention, a wiring pattern having a structure in which a conductor portion 130 and an organic insulating material portion 140 are laminated in this order on a conductive plate 110 is formed, and the wiring pattern is transferred onto a wiring substrate. This is a method of forming a wiring portion of a substrate.

【0009】先ず、導電性板110上に、レジスト膜か
らなり、所定の領域のみが露出するようにして設けられ
たネガパターン120を形成するネガパターン作成工程
を行う。(図1(a)) ネガパターン120の形状は、図2に示す、配線基板1
50Aのパターン形状に合わせて作成する。パターニン
グ方法は特に限定はされないが、フオトマスクを用いて
製版を行うフオトリソグラフィー法が一般的である。導
電性板110の材質としてはステンレス板が一般的に用
いられ、サンドブラスト研磨を施した表面に銅めっきし
て使用されているが、特にこれに限定はされない。導電
性板110としては、少なくとも表面が導電性を有する
ものであれば良く、他には、アルミニウム、銅、ニッケ
ル、鉄、チタン等の導電性の金属板、あるいは、ガラス
板、ポリエステル、ポリカーボネート、ポリイミド、ポ
リエチレン、アクリル等の樹脂フィルムの絶縁性基板の
表面に導電性薄膜を形成したものも使用することができ
る。また、導電性板表面にクロム、セラミックカニゼン
(Kanigen社製、Ni+P+SiC)等の薄膜を
形成しても良い。尚、この薄膜の厚さは0.1〜1.0
μm程度が好ましい。
First, a negative pattern forming step of forming a negative pattern 120 made of a resist film on a conductive plate 110 and exposing only a predetermined region is performed. (FIG. 1A) The shape of the negative pattern 120 is shown in FIG.
It is created according to the pattern shape of 50A. The patterning method is not particularly limited, but a photolithography method in which plate making is performed using a photomask is common. As a material of the conductive plate 110, a stainless plate is generally used, and a surface subjected to sand blasting is plated with copper, but is not particularly limited to this. The conductive plate 110 only needs to have at least a surface having conductivity. In addition, a conductive metal plate such as aluminum, copper, nickel, iron, or titanium, or a glass plate, polyester, polycarbonate, A conductive thin film formed on the surface of an insulating substrate of a resin film of polyimide, polyethylene, acrylic, or the like can also be used. Further, a thin film of chromium, ceramic kanigen (manufactured by Kanigen, Ni + P + SiC) or the like may be formed on the surface of the conductive plate. The thickness of this thin film is 0.1 to 1.0.
It is preferably about μm.

【0010】次いで、ネガパターン120が形成された
導電性板110上に、ネガパターン120をめっき用マ
スクとしてめっきを施し、薄膜の導体部130を形成す
る。(図1(b)) 導体部130としては、銅、金、銀等の金属単体もしく
は導電性電着樹脂、あるいはこれらを多層に積層して形
成したものである。
Next, plating is performed on the conductive plate 110 on which the negative pattern 120 has been formed, using the negative pattern 120 as a plating mask to form a thin-film conductor portion 130. (FIG. 1B) The conductor portion 130 is formed of a single metal such as copper, gold, silver or the like, a conductive electrodeposited resin, or a laminate of these.

【0011】次いで、めっきにより形成された導体部1
30上に、電着法により、粘着性を有する有機絶縁材料
140を形成する電着工程を行う。(図1(c)) 有機絶縁材料部140は、ネガパターン120よりも出
っ張るように形成される。有機絶縁材料部140として
は、電着性があり、常温もしくは、加熱により粘着性を
示すものであれば良く、例えば、使用する高分子として
は、粘着性を有するアニオン性、またはカチオン性合成
高分子樹脂を挙げることができる。アニオン性合成高分
子樹脂としては、アクリル性樹脂、ポリエステル樹脂、
マレイン化油樹脂、ボリブタジエン樹脂、エポキシ樹
脂、ポリアミド樹脂、ポリイミド樹脂等を単独で、ある
いは、これらの樹脂の任意の組合せによる混合物として
使用できる。さらに、上記のアニオン性合成樹脂とメラ
ミン樹脂、フエノール樹脂、ウレタン樹脂等の架橋性樹
脂とを併用してもよい。また、カチオン性合成高分子樹
脂としては、アクリル樹脂、エポキシ樹脂、ウレタン樹
脂、ポリブタジエン樹脂、ポリアミド樹脂、ポリイミド
樹脂等を単独で、あるいは、これらの任意の組合せによ
る混合物として使用できる。さらに、上記のカチオン性
合成高分子樹脂とポリエステル樹脂、ウレタン樹脂等の
架橋性樹脂を併用しても良い。また、上記の高分子樹脂
に粘着性を付与するために、ロジン系、テルペン系、石
油樹脂との粘着性付与樹脂を必要に応じて添加すること
も可能である。上記高分子樹脂は、アルカリ性または酸
性物質により中和して水に可溶化された状態、または水
分散状態で電着法に供される。すなわち、アニオン性合
成高分子樹脂は、トリメチルアミン、ジエチルアミン、
ジメチルエタノールアミン、ジイソプロパノールアミン
等のアミン類、アンモニア、苛性カリ等の無機アルカリ
で中和する。カチオン性合成高分子樹脂は、酢酸、ぎ
酸、プロピオン酸、乳酸等の酸で中和する。そして、中
和された水に可溶化された高分子樹脂は、水分散型また
は溶解型として水に希釈された状態で使用される。ま
た、有機絶縁材料部140の絶縁性、耐熱性などの信頼
性を高める目的で、上記高分子樹脂にブロックイソシア
ネート等の熱重合性不飽和結合を有する公知の熱硬化性
樹脂を添加し、熱処理によって硬化させても良い。もち
ろん、熱硬化樹脂以外にも、重合性不飽和結合(例え
ば、アクリル基、ビニル基、アリル基等)を有する樹脂
を添加しておけば、電子線照射によってを硬化させるこ
ともできる。有機絶縁材料部140としては、上記の他
に、常温もしくは加熱により接着性を示すものであれ
ば、熱可塑性樹脂はもちろんのこと、熱硬化性樹脂で硬
化後粘着性を失うような粘着性樹脂でも良い。
Next, the conductor portion 1 formed by plating
An electrodeposition step of forming an organic insulating material 140 having adhesiveness on the electrode 30 by an electrodeposition method is performed. (FIG. 1C) The organic insulating material portion 140 is formed so as to protrude more than the negative pattern 120. The organic insulating material portion 140 may be any material that has electrodeposition properties and exhibits tackiness at normal temperature or heating. For example, the polymer used may be an anionic or cationic synthetic polymer having tackiness. Molecular resins can be mentioned. As the anionic synthetic polymer resin, acrylic resin, polyester resin,
A maleated oil resin, a polybutadiene resin, an epoxy resin, a polyamide resin, a polyimide resin, or the like can be used alone or as a mixture of any combination of these resins. Further, the above-mentioned anionic synthetic resin may be used in combination with a crosslinkable resin such as a melamine resin, a phenol resin and a urethane resin. In addition, as the cationic synthetic polymer resin, an acrylic resin, an epoxy resin, a urethane resin, a polybutadiene resin, a polyamide resin, a polyimide resin, or the like can be used alone or as a mixture of any combination thereof. Further, the above cationic synthetic polymer resin and a crosslinkable resin such as a polyester resin and a urethane resin may be used in combination. Further, in order to impart tackiness to the above-mentioned polymer resin, a rosin-based, terpene-based, or petroleum-based resin for imparting tackiness can be added as necessary. The polymer resin is subjected to an electrodeposition method in a state of being neutralized by an alkaline or acidic substance and solubilized in water, or in a water-dispersed state. That is, the anionic synthetic polymer resin is trimethylamine, diethylamine,
Neutralize with amines such as dimethylethanolamine and diisopropanolamine, and inorganic alkalis such as ammonia and potassium hydroxide. The cationic synthetic polymer resin is neutralized with an acid such as acetic acid, formic acid, propionic acid, and lactic acid. Then, the polymer resin solubilized in the neutralized water is used in a state of being diluted with water as a water dispersion type or a solution type. In addition, in order to enhance the reliability of the organic insulating material portion 140 such as insulation and heat resistance, a known thermosetting resin having a thermopolymerizable unsaturated bond such as a blocked isocyanate is added to the polymer resin, and heat treatment is performed. May be cured. Of course, if a resin having a polymerizable unsaturated bond (for example, an acrylic group, a vinyl group, an allyl group, etc.) is added in addition to the thermosetting resin, the resin can be cured by electron beam irradiation. As the organic insulating material portion 140, in addition to the above, as long as it shows adhesiveness at room temperature or by heating, it is not only a thermoplastic resin but also a thermosetting resin such as an adhesive resin which loses its tackiness after being cured. But it is good.

【0012】この段階で、導電性板110上には、配線
用基板150に転写する前の、図2に示す、導体部13
0と有機絶縁材料部140からなる配線パターン210
と閉領域作成用のパターン220が形成されている。
尚、導電性板110上に、導体部130と有機絶縁材料
部140からなるパターンを形成したものをここでは転
写版110Aと言う。また、図2に示すように、閉ルー
プ(閉環)を形成する配線パターン210でないパター
ンを閉領域作成用パターン220と言い、このパターン
により囲まれる領域を閉領域225と言う。本発明の転
写方法においては、図2(a)に示すように、閉領域2
25が配線パターン領域215を含む領域であっても、
図2(b)に示すように、閉領域225が配線パターン
領域215を含まなくても良いが、配線や生産性の面か
らは図2(a)が好ましい。
At this stage, the conductive portion 13 shown in FIG.
0 and wiring pattern 210 composed of organic insulating material 140
And a pattern 220 for forming a closed region.
In addition, what formed the pattern which consists of the conductor part 130 and the organic insulating material part 140 on the conductive plate 110 is called the transfer plate 110A here. As shown in FIG. 2, a pattern other than the wiring pattern 210 that forms a closed loop (closed loop) is referred to as a closed area creation pattern 220, and an area surrounded by this pattern is referred to as a closed area 225. In the transfer method of the present invention, as shown in FIG.
Even if 25 is a region including the wiring pattern region 215,
As shown in FIG. 2B, the closed region 225 may not include the wiring pattern region 215, but FIG. 2A is preferable from the viewpoint of wiring and productivity.

【0013】次に、配線用基板150の配線パターン形
成側面を上にして圧着装置の載置台170上に載せ、且
つ、転写版の有機機絶縁材料部140を配線用基板15
0側にして、転写版110Aと配線用基板150とを互
いに離れた状態で対向させて、あらかじめ、少なくとも
閉領域作成パターンにより形成される囲む閉領域を真空
引きしておく。(図1(d)) 真空引きは、例えば図3に示すような圧着装置を用い、
転写版110Aと配線用基板150とを圧着装置内に置
き、密閉した状態を作った後、配管180を介して真空
引きして行うことによりできる。尚、転写版と配線用基
板150との位置合わせが必要な場合には、アライメン
トを行っておく。
Next, the wiring pattern forming side surface of the wiring substrate 150 is placed on the mounting table 170 of the crimping apparatus with the side facing up, and the organic insulating material portion 140 of the transfer plate is transferred to the wiring substrate 15.
On the 0 side, the transfer plate 110A and the wiring substrate 150 are opposed to each other while being separated from each other, and at least the surrounding closed area formed by the closed area forming pattern is evacuated in advance. (FIG. 1 (d)) For evacuation, for example, using a crimping device as shown in FIG.
The transfer plate 110A and the wiring substrate 150 are placed in a crimping device, and a sealed state is created. If it is necessary to align the transfer plate and the wiring substrate 150, the alignment is performed.

【0014】次に、閉領域作成パターンにより形成され
る囲む閉領域を真空引きした状態で、転写版110A
を、配線用基板150に、有機絶縁材料部140を介し
て圧着する圧着工程を行う。(図1(e)) 尚、配線用基板150としては、金属板、セラミック、
プリント基板、フレキシブルなフィルム他、各種材質の
ものを用いることができるが、圧着する転写工程に耐え
ることが必要で、転写工程に特に適した材質としては金
属板、セラミック板が挙げられる。有機絶縁材料部14
0としては、作業性の点から実用的である、熱硬化型の
樹脂を用いるが、必ずしもこれに限定はされない。
Next, the transfer plate 110A is evacuated while the surrounding closed region formed by the closed region forming pattern is evacuated.
Is performed on the wiring substrate 150 via the organic insulating material portion 140 by a pressure bonding step. (FIG. 1E) The wiring substrate 150 is a metal plate, ceramic,
Although various materials such as a printed board, a flexible film, and the like can be used, the material needs to withstand the transfer step of pressing, and a metal plate and a ceramic plate are particularly suitable for the transfer step. Organic insulating material section 14
As 0, a thermosetting resin that is practical from the viewpoint of workability is used, but is not necessarily limited to this.

【0015】次いで、転写版110Aと配線用基板15
0とを一体としたまま、圧着装置から取り出し、樹脂の
硬化を完全に行った(図1(f))後、転写版110を
導体部130から剥離し、転写版110から配線用基板
150へ、導体部130と有機機絶縁材料部140の転
写が完了し、配線基板150Aが得られる。(図1
(g))
Next, the transfer plate 110A and the wiring substrate 15
The transfer plate 110 is separated from the conductor 130 after the resin is completely cured (FIG. 1 (f)). Then, the transfer of the conductor portion 130 and the organic machine insulating material portion 140 is completed, and the wiring board 150A is obtained. (Figure 1
(G))

【0016】尚、圧着工程において圧着する際には、あ
らかじめ、閉領域作成パターン220により形成される
閉領域225を真空引きした後に、転写版110Aを有
機絶縁材料部140を介して配線用基板150に圧着し
てある為、閉領域215においては閉領域作成パターン
220と導電性板110と配線用基板150とで真空が
保たれ、圧着装置から外部(大気中へ)取り出しても、
転写版110Aと配線用基板150とは密着した状態が
保たれるのである。転写版110を導体部130から剥
離する際に、剥離が確実に行われるようにしておく。例
えば、転写版110の基材としてステンレス板を用いた
場合には、ステンレス板の表面にサンドブラスト研磨を
施し、銅めっきをした際に銅めっき部がある程度の付着
強度でステンレス板に付着するように調整しておく。
In the pressing step in the pressing step, the closed region 225 formed by the closed region forming pattern 220 is evacuated in advance, and then the transfer plate 110A is connected to the wiring substrate 150 via the organic insulating material portion 140. In the closed region 215, the closed region forming pattern 220, the conductive plate 110, and the wiring substrate 150 maintain a vacuum, and even if the closed region 215 is taken out of the crimping device (to the atmosphere),
The transfer plate 110A and the wiring substrate 150 are kept in close contact with each other. When the transfer plate 110 is peeled off from the conductor section 130, it is ensured that the transfer plate 110 is peeled off. For example, when a stainless steel plate is used as the base material of the transfer plate 110, sand blasting is performed on the surface of the stainless steel plate so that the copper plating portion adheres to the stainless steel plate with a certain adhesive strength when copper plating is performed. Adjust it.

【0017】次に、本発明の転写方法により作製される
配線基板150Aを図2に基づいて簡単に説明してお
く。図2(a)は、閉領域作成用パターン220が囲む
領域(閉領域225)の内側に配線パターン領域215
があるもので、配線パターン領域215全体が閉領域作
成用パターン220により囲まれている。図2(b)
は、閉領域作成用パターン122が囲む領域(閉領域2
25)の外側に配線パターン領域215があるもので、
配線パターン領域215全体が閉領域作成用パターン2
20により囲まれていない。配線パターン210は、半
導体素子と結線するための電極パッド211、外部回路
と接続するための外部電極パッド212、これらを結ぶ
配線部213等からなる。金属板を配線用基板150と
して用い、半導体装置を作製する場合には、金属板面を
半導体装置を搭載するダイパッド部とすることもでき
る。尚、図2中、配線パターン領域215は、点線にて
囲まれる領域として示してあるが、例えば、半導体装置
用回路基板として用いる場合には、配線基板150Aを
この領域毎に分割して使用することもある。
Next, the wiring substrate 150A manufactured by the transfer method of the present invention will be briefly described with reference to FIG. FIG. 2A shows a wiring pattern region 215 inside a region (closed region 225) surrounded by the closed region creation pattern 220.
In this case, the entire wiring pattern area 215 is surrounded by the closed area creation pattern 220. FIG. 2 (b)
Is a region surrounded by the closed region creation pattern 122 (closed region 2
25) has a wiring pattern area 215 outside of
The entire wiring pattern area 215 is a closed area creation pattern 2
Not surrounded by 20. The wiring pattern 210 includes an electrode pad 211 for connecting to a semiconductor element, an external electrode pad 212 for connecting to an external circuit, and a wiring portion 213 connecting these. When a semiconductor device is manufactured using a metal plate as the wiring substrate 150, the surface of the metal plate may be a die pad portion on which the semiconductor device is mounted. In FIG. 2, the wiring pattern area 215 is shown as an area surrounded by a dotted line. For example, when the wiring pattern area 215 is used as a circuit board for a semiconductor device, the wiring board 150A is divided and used for each area. Sometimes.

【0018】次に、本発明の圧着装置を図に基づいて説
明する。図3は本発明の圧着装置の概略断面図であり、
図4は本発明の圧着装置の動作を説明するための図であ
る。図3、図4中、300は圧着装置、310は転写
版、320は転写版保持部、330は配線用基板、34
0は配線用基板保持部、350はアライメント機構部、
360は加圧部、370は枠部、375はOリング、3
80真空引き制御部、381は真空用兼真空解除用配
管、382は真空引き用配管、382は真空解除用配
管、382A、383Aは制御弁である。本発明の圧着
装置300は、本発明の転写方法における圧着工程を実
施するための圧着装置であり、図3に示すように、転写
版310を保持する転写版保持部320と、配線用基板
330をを保持する配線用基板保持部340と、転写版
310と配線用基板330とを位置合わせするアライメ
ント機構部350と、アライメント後に転写版310と
配線用基板330とを離れた状態にして、少なくとも該
転写版310と配線用基板330との間を真空引きする
ための囲いである枠部370と、真空引き制御を行う真
空引き制御部380と、転写版310のパターンを設け
ていない裏面側から転写版310を押圧し、配線用基板
330へ圧着するための加圧部360とを有しており、
配線用基板保持部340を下側に配してその上に配線用
基板330を載置するもので、配線用基板保持部340
の上側に、上下移動可能な加圧部360を設け、加圧部
360と配線用基板保持部340との間に転写版310
と配線用基板330と挾み、加圧部360にて加圧し両
者を圧着するものである。図3に示す装置300におい
ては、枠部370は加圧部360に支持され、加圧部3
60全周に渡り設けられており、且つ、配線用基板保持
部340側へ加圧部360に沿い移動するものである。
そして、枠部370の配線用基板330側先端は、配線
用基板保持部340側へ移動し、配線用基板保持部34
0に設けられた弾力性のあるOリング375と接して密
着して、密閉された空間部を作成する。真空引き制御部
380は、枠部370の移動により作成された空間部の
真空引きと真空引き解除を行うもので、真空引きは、制
御弁382Aを開き、制御弁383Aを閉じ、真空引き
用配管282、真空用兼真空解除用配管381を介して
真空引きされる。そして、真空の解除は、制御弁382
Aを閉じ、制御弁383Aを開き、真空解除用管38
3、真空用兼真空解除用配管381を介して大気が導入
されることにより行われる。真空用兼真空解除用配管3
81は、配線用基板保持部340の配線用基板330の
領域の外側で、且つ、枠部370に囲まれる領域の内側
の転写版310側に通じるように設けられている。
Next, a crimping apparatus according to the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 3 is a schematic sectional view of the crimping device of the present invention,
FIG. 4 is a diagram for explaining the operation of the crimping device of the present invention. 3 and 4, reference numeral 300 denotes a crimping device, 310 denotes a transfer plate, 320 denotes a transfer plate holding unit, 330 denotes a wiring board, and
0 is a wiring substrate holding unit, 350 is an alignment mechanism unit,
360 is a pressurizing section, 370 is a frame section, 375 is an O-ring, 3
Reference numeral 381 denotes a vacuum / vacuum release pipe, 382 denotes a vacuum release pipe, 382 denotes a vacuum release pipe, and 382A and 383A denote control valves. The crimping device 300 of the present invention is a crimping device for performing the crimping step in the transfer method of the present invention. As shown in FIG. 3, a transfer plate holding portion 320 for holding a transfer plate 310, a wiring substrate 330 340, an alignment mechanism 350 for aligning the transfer plate 310 and the wiring substrate 330, and at least separating the transfer plate 310 and the wiring substrate 330 after alignment. A frame 370 which is an enclosure for vacuuming between the transfer plate 310 and the wiring substrate 330, a vacuum control unit 380 for performing vacuum control, and a back side of the transfer plate 310 where no pattern is provided. A pressing unit 360 for pressing the transfer plate 310 and pressing the transfer plate 310 against the wiring substrate 330;
The wiring substrate holding part 340 is disposed on the lower side, and the wiring substrate 330 is placed thereon.
A pressurizing unit 360 that can move up and down is provided on the upper side of the transfer plate 310 between the pressurizing unit 360 and the wiring substrate holding unit 340.
And the wiring substrate 330, and pressurizes the pressing portion 360 to press them together. In the apparatus 300 shown in FIG. 3, the frame 370 is supported by the pressing unit 360 and the pressing unit 3
It is provided over the entire circumference of the wire 60 and moves along the pressing portion 360 toward the wiring substrate holding portion 340.
Then, the leading end of the frame portion 370 on the side of the wiring substrate 330 moves to the side of the wiring substrate holding portion 340, and the wiring substrate holding portion 34.
A contact is made with the elastic O-ring 375 provided at the contact point 0 to form a closed space. The evacuation control unit 380 performs evacuation and release of evacuation of the space created by moving the frame 370. The evacuation is performed by opening the control valve 382A, closing the control valve 383A, and evacuating piping. 282, a vacuum is drawn through a vacuum / vacuum release pipe 381. The release of the vacuum is performed by the control valve 382.
A is closed, the control valve 383A is opened, and the vacuum release pipe 38 is opened.
3. This is performed by introducing air through a vacuum / vacuum release pipe 381. Vacuum and vacuum release piping 3
Reference numeral 81 is provided so as to communicate with the transfer plate 310 side outside the region of the wiring substrate 330 of the wiring substrate holding portion 340 and inside the region surrounded by the frame portion 370.

【0019】図4に基づいて、本発明の圧着装置の動作
を簡単に説明しておく。先ず、配線用基板保持部340
上に、配線用基板330を、配線パターンを形成する側
を上側にして載置く。(図4(a)) 次いで、転写版310を転写版保持部320に保持させ
た状態で、配線パターン側を配線用基板保持部340に
向け、相対するように配線用基板保持部340上に位置
させる。(図4(b)) この状態で、アライメント機構部350により、転写版
310を移動させながら、転写版310と配線用基板3
30との位置合わせを行う。転写版310にあらかじ
め、位置合わせ用のマークないしそれに相応するものを
設けておくことによりアライメントはできる。アライメ
ント完了後、アライメント機構部350を圧着する領域
から移動させる。少なくとも枠部370により囲まれる
領域の外に移動する。(図4(c)) この後、転写版310と配線用基板330とを離れた状
態のまま、枠部370を加圧部360に沿い下側に移動
し、その先端がOリング375に密着するようにして、
転写版310と配線用基板330とが密閉された空間3
90内にある状態にし、図3に示す、制御弁382A、
383Aを調整し、真空用兼真空解除用配管381を介
して真空引きする。(図4(d)) 次いで、加圧部360を下側に徐々に下げ、転写版31
0の配線パターン側でない裏面全体を加圧し、配線用基
板330へ、有機絶縁材料部を介して圧着する。(図4
(e)) 圧着時に熱をかける場合には、温度調整部(図示してい
ない)を設けておく。圧着後、制御弁382A、383
Aを調整し、真空用兼真空解除用配管381を介して真
空解除し、加圧部360および枠部370を上側に移動
した(図4(f))後、転写版310と配線用基板33
0が一体となった状態でこれを取り出す。(図4
(g)) この後、転写版310の導体部311のみを剥離して、
配線基板330A(図4(h))を得るのである。
The operation of the crimping apparatus according to the present invention will be briefly described with reference to FIG. First, the wiring substrate holding unit 340
The wiring substrate 330 is placed on the upper side with the side on which the wiring pattern is formed facing upward. (FIG. 4A) Next, with the transfer plate 310 held by the transfer plate holding unit 320, the wiring pattern side faces the wiring substrate holding unit 340, and is placed on the wiring substrate holding unit 340 so as to face each other. Position. (FIG. 4B) In this state, the transfer plate 310 and the wiring substrate 3 are moved by the alignment mechanism 350 while moving the transfer plate 310.
The alignment with 30 is performed. Alignment can be performed by providing a mark for alignment or a mark corresponding thereto in advance on the transfer plate 310. After the alignment is completed, the alignment mechanism 350 is moved out of the area to be pressed. It moves at least outside the area surrounded by the frame 370. (FIG. 4 (c)) Thereafter, the frame 370 is moved downward along the pressing portion 360 while the transfer plate 310 and the wiring substrate 330 are kept separated, and the tip of the frame 370 adheres to the O-ring 375. So that
Space 3 in which transfer plate 310 and wiring substrate 330 are sealed.
90, the control valve 382A shown in FIG.
383A is adjusted, and vacuum is drawn through a vacuum / vacuum release pipe 381. (FIG. 4D) Then, the pressing unit 360 is gradually lowered to the lower side, and the transfer plate 31 is moved.
The entire back surface, which is not the wiring pattern side of No. 0, is pressurized and pressure-bonded to the wiring substrate 330 via the organic insulating material portion. (FIG. 4
(E)) When applying heat at the time of pressure bonding, a temperature adjusting unit (not shown) is provided. After crimping, control valves 382A, 383
A is adjusted, the vacuum is released through the vacuum / vacuum release pipe 381, and the pressing unit 360 and the frame unit 370 are moved upward (FIG. 4F).
Take this out in a state where 0 is integrated. (FIG. 4
(G)) Thereafter, only the conductor 311 of the transfer plate 310 is peeled off,
This is to obtain the wiring board 330A (FIG. 4H).

【0020】[0020]

【実施例】更に、実施例を挙げて本発明の転写方法を説
明する。実施例は、半導体素子を搭載する金属板上に、
外部端子用電極パッド、半導体素子との連結用の電極パ
ッド、これらを結ぶ配線部からなる配線パターンを有す
る配線基板を作製する場合の転写方法であり、図1に基
づいて以下実施例を説明する。尚、図5は実施例の転写
方法により作製された配線基板の一部を示した図であ
る。はじめに、導電性板として0.15mm厚のステン
レス板(SUS304MA材)の一面を軽く研磨した
後、図6に示す従来の方法と同じように、導電性板の銅
めっき面上に日本合ゴム株式会社製のネガ型レジストC
BR−M901(100CPS)を回転塗布方法で成膜
し、加熱乾燥してレジスト層120を形成した後、フオ
トマスクを用いて、所定の領域を露光し、現像処理、ベ
ーキング処理を経て、目的する配線パターンの形状で導
電性板面を露出するようにした膜厚0.5μmのネガパ
ターン120を、導電性板110上に形成した。(図1
(a))
EXAMPLES Further, the transfer method of the present invention will be described with reference to examples. In the embodiment, on a metal plate on which a semiconductor element is mounted,
This is a transfer method for producing a wiring board having an external terminal electrode pad, an electrode pad for connection with a semiconductor element, and a wiring pattern including a wiring portion connecting these, and an embodiment will be described below with reference to FIG. . FIG. 5 is a view showing a part of the wiring board manufactured by the transfer method of the embodiment. First, a surface of a stainless steel plate (SUS304MA material) having a thickness of 0.15 mm as a conductive plate is lightly polished, and then, as in the conventional method shown in FIG. Negative resist C made by company
BR-M901 (100 CPS) is formed by a spin coating method, heated and dried to form a resist layer 120, and then, using a photomask, a predetermined region is exposed to light, developed, baked, and subjected to a desired wiring. A 0.5 μm-thick negative pattern 120 was formed on the conductive plate 110 so that the conductive plate surface was exposed in the shape of the pattern. (Figure 1
(A))

【0021】次いで、ネガパターン120が形成された
導電性板110に対し、電解めっきにより約5.0μm
厚の銅めっきからなる導体部130を施した(図1
(b))。尚、銅めっきは、表1に示す組成およびめっ
き条件にて行った。
Next, the conductive plate 110 on which the negative pattern 120 is formed is electrolytically plated to have a thickness of about 5.0 μm.
A conductor portion 130 made of thick copper plating was applied (FIG. 1).
(B)). The copper plating was performed under the composition and plating conditions shown in Table 1.

【0022】次いで、導体部130を形成した導電性板
110全体を水洗後、電着液に浸漬させ、導電性板11
0を陽極として、同面積のステンレス板を陰極にし、両
極板間を50mmに対向させ、50Vで10分間連続電
圧を印加することにより、更に銅めっき110上にポリ
アミック酸薄膜からなる有機絶縁材料部140を電着形
成した(図1(c))。この電着は、表2に示す組成お
よび電着条件にて行った。 尚、電着液は、表2に示す(a)、(b)、(c)の各
液を室温12時間攪拌反応させ、そこに(d)を加えさ
らに1時間反応させ、そこに(e)を加えて作った。こ
のようにして、導電性板上に銅めっきからなる導体部1
30とポリアミック酸薄膜からなる有機絶縁材料部14
0を形成した転写版110A を形成した。
Next, the entirety of the conductive plate 110 on which the conductor portion 130 has been formed is washed with water and then immersed in an electrodeposition solution to form the conductive plate 11.
0 is used as an anode, a stainless steel plate of the same area is used as a cathode, and both electrodes are opposed to each other at 50 mm, and a continuous voltage is applied at 50 V for 10 minutes to further form an organic insulating material portion made of a polyamic acid thin film on the copper plating 110. 140 was electrodeposited (FIG. 1 (c)). This electrodeposition was performed under the composition and electrodeposition conditions shown in Table 2. As the electrodeposition solution, each of the solutions (a), (b) and (c) shown in Table 2 was stirred and reacted at room temperature for 12 hours, (d) was added thereto, and the mixture was further reacted for 1 hour. ). Thus, the conductor portion 1 made of copper plating on the conductive plate
30 and an organic insulating material portion 14 comprising a polyamic acid thin film
0 was formed on the transfer plate 110A.

【0023】次いで、図3に示す本発明の圧着装置を用
い、転写版110Aと配線用基板150との位置合わせ
を行った後、転写版110Aと配線用基板150とが離
れた状態のままで、真空引きし(図1(d))、次いで
圧着装置の加圧部にて転写版110Aを配線用基板15
0へ圧着した。(図1(e)) 圧着条件は、1.0kg/cm2 、250°C、1分間
とした。
Next, after the transfer plate 110A and the wiring substrate 150 are aligned using the crimping device of the present invention shown in FIG. 3, the transfer plate 110A and the wiring substrate 150 are kept separated from each other. Then, the transfer plate 110A is evacuated (FIG. 1 (d)), and then the transfer plate 110A is pressed by the pressurizing unit of the pressing device.
0. (FIG. 1E) The pressure bonding conditions were 1.0 kg / cm 2 , 250 ° C., and 1 minute.

【0024】次いで、転写版110Aと配線用基板15
0とを一体としたまま、圧着装置から取り出し、樹脂の
硬化を完全に行った(図1(f))後、転写版110を
導体部130から剥離し、転写版110から配線用基板
150へ、導体部130と有機機絶縁材料部140の転
写が完了させ、配線基板150Aを得た。(図1
(g))
Next, the transfer plate 110A and the wiring substrate 15
The transfer plate 110 is separated from the conductor 130 after the resin is completely cured (FIG. 1 (f)). Then, the transfer of the conductor portion 130 and the organic machine insulating material portion 140 was completed, and a wiring board 150A was obtained. (Figure 1
(G))

【0025】図5は、本実施例により得られた配線基板
150Aの一部を示した斜視図である。配線用基板55
0上にポリアミック酸薄膜からなる有機絶縁材料部14
0を介して、銅めっき部からなる導体部130が形成さ
れ、配線パターンをなしているものである。図5中、5
61は半導体素子との結線用の電極パッド、562は外
部回路との結線用の電極パッド、563はこれらを結ぶ
配線部である。そして、570は閉領域作製用パターン
であり、配線基板550Aには、図2(a)と同じく、
配線パターンが閉領域内にある。
FIG. 5 is a perspective view showing a part of the wiring board 150A obtained in this embodiment. Wiring board 55
Organic insulating material portion 14 comprising a polyamic acid thin film
The conductor portion 130 made of a copper plating portion is formed through the through hole 0 to form a wiring pattern. 5 in FIG.
Reference numeral 61 denotes an electrode pad for connection to a semiconductor element, 562 denotes an electrode pad for connection to an external circuit, and 563 denotes a wiring unit connecting these. Reference numeral 570 denotes a closed region forming pattern, and the wiring substrate 550A has the same pattern as in FIG.
The wiring pattern is in the closed area.

【0026】[0026]

【発明の効果】本発明は、上記のように、導電性板上に
この順に導体部と有機絶縁材料部を積層した構造のパタ
ーンを形成した転写版から、パターンを該有機絶縁材料
部を介して基板上に転写して、配線基板の配線部を形成
する方法において、圧着の際に配線用基板に対してアラ
イメントする必要がある場合にも、1回の圧着作業に高
価な圧着装置が長時間占有されることないものとしてい
る。そして、品質的にも、有機絶縁材料部と配線用基板
との間に気泡が埋入することがない転写を可能としてい
る。
As described above, according to the present invention, a pattern is formed on a conductive plate from a transfer plate having a structure in which a conductor portion and an organic insulating material portion are laminated in this order via the organic insulating material portion. In a method of forming a wiring portion of a wiring board by transferring the wiring onto a substrate, even if it is necessary to perform alignment on the wiring board at the time of crimping, an expensive crimping apparatus can be used for one crimping operation. Time is not occupied. In terms of quality as well, it is possible to perform transfer without bubbles being embedded between the organic insulating material portion and the wiring substrate.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の転写方法の工程図FIG. 1 is a process diagram of the transfer method of the present invention.

【図2】配線用基板を説明するための図FIG. 2 is a view for explaining a wiring substrate;

【図3】本発明の圧着装置の概略断面図FIG. 3 is a schematic sectional view of the crimping device of the present invention.

【図4】本発明の圧着装置の動作を説明するための図FIG. 4 is a view for explaining the operation of the crimping device of the present invention.

【図5】実施例により作製された配線用基板の一部斜視
FIG. 5 is a partial perspective view of a wiring substrate manufactured according to an example.

【図6】従来の転写方法の工程図FIG. 6 is a process diagram of a conventional transfer method.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

110 導電性板 110A 転写版 120 ネガパターン 130 導体部 140 有機絶縁材料部 150 配線用基板 150A 配線基板 160 加圧部 165 枠部 170 載置台 180 真空引き兼真空解除用配管 210 配線パターン 211 半導体素子との結線用電極パ
ッド 212 外部回路との接続用電極パッ
ド 213 配線部 215 配線パターン領域 220 閉領域作成 225 閉領域 300 圧着装置 310 転写版 320 転写版保持部 330 配線用基板 340 配線用基板保持部 350 アライメント機構部 360 加圧部 370 枠部 375 Oリング 380 真空引き制御部 381 真空用兼真空解除用配管 382 排気管 383 制御弁 390 空間 550 配線用基板 550A 配線基板 561 半導体素子との結線用電極パ
ッド 562 外部回路との接続用電極パッ
ド 563 配線部 610 導電性板 610A 転写版 620 レジスト 621 ネガパターン 611 露出した領域 630 導体部 640 有機絶縁材料部 650 配線用基板 650A 配線基板
110 Conductive plate 110A Transfer plate 120 Negative pattern 130 Conductor part 140 Organic insulating material part 150 Wiring substrate 150A Wiring board 160 Pressurizing part 165 Frame part 170 Mounting table 180 Vacuum evacuation / vacuum release pipe 210 Wiring pattern 211 Semiconductor element Connection electrode pad 212 for connection to an external circuit 213 wiring part 213 wiring part 215 wiring pattern area 220 closed area creation 225 closed area 300 crimping device 310 transfer plate 320 transfer plate holding part 330 wiring substrate 340 wiring substrate holding part 350 Alignment mechanism section 360 Pressurizing section 370 Frame section 375 O-ring 380 Vacuum control section 381 Vacuum / vacuum release pipe 382 Exhaust pipe 383 Control valve 390 Space 550 Wiring board 550A Wiring board 561 Electrode pad for connection with semiconductor element 56 2 Electrode pad for connection to external circuit 563 Wiring part 610 Conductive plate 610A Transfer plate 620 Resist 621 Negative pattern 611 Exposed area 630 Conductor part 640 Organic insulating material part 650 Wiring board 650A Wiring board

Claims (8)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 導電性板上にこの順に導体部と有機絶縁
材料部を積層した構造の配線パターンを形成した転写版
から、配線パターンを配線用基板上に転写して、配線基
板の配線部を形成する方法であって、少なくとも、順
に、(a)導電性板上に、レジスト膜からなり、所定の
領域のみが露出するようにして設けられたネガパターン
を形成するネガパターン作成工程と、(b)ネガパター
ンが形成された導電性板上に、ネガパターンをめっき用
マスクとしてめっきを施し、薄膜の導体部を形成するめ
っき工程と、(c)めっきにより形成された導体部上
に、電着法により、粘着性を有する有機絶縁材料を形成
する電着工程と、(d)導電性板と導電性板上に形成さ
れた導体部と有機絶縁材料部とからなる転写版を、配線
用基板に有機絶縁材料部を介して圧着する圧着工程とを
有し、配線用基板に、導体部と有機絶縁材料部からなる
配線パターンの他に、導体部と有機絶縁材料部からな
る、閉環して閉領域を作成する閉領域作成用パターンを
配線パターン領域でない領域に形成するもので、圧着工
程において圧着する際には、あらかじめ、閉領域作成パ
ターンにより形成される囲む閉領域を真空引きした後
に、転写版を有機絶縁材料部を介して配線用基板に圧着
することを特徴とする転写方法。
A wiring pattern is transferred onto a wiring substrate from a transfer plate in which a wiring pattern having a structure in which a conductor portion and an organic insulating material portion are laminated in this order on a conductive plate is transferred to a wiring portion of the wiring board. At least, in order, at least (a) a negative pattern forming step of forming a negative pattern formed of a resist film on a conductive plate so that only a predetermined region is exposed; (B) plating on the conductive plate on which the negative pattern is formed by using the negative pattern as a plating mask to form a thin-film conductor; and (c) plating on the conductor formed by plating. An electrodeposition step of forming an organic insulating material having adhesiveness by an electrodeposition method, and (d) wiring a transfer plate comprising a conductive plate, a conductor portion formed on the conductive plate, and the organic insulating material portion by wiring. Organic insulating material part for substrate Forming a ring-closed region on the wiring board, which is made up of a conductor portion and an organic insulating material portion, in addition to a wiring pattern made of a conductor portion and an organic insulating material portion. A pattern for forming a closed region is formed in a region other than a wiring pattern region. When performing pressure bonding in the pressing process, a closed region formed by the closed region forming pattern is evacuated in advance, and then the transfer plate is subjected to organic insulation. A transfer method, wherein the transfer method is pressure-bonded to a wiring substrate via a material portion.
【請求項2】 請求項1における閉領域が配線パターン
領域を含む領域であることを特徴とする転写方法。
2. The transfer method according to claim 1, wherein the closed area is an area including a wiring pattern area.
【請求項3】 請求項1ないし2における配線用基板が
金属板であることを特徴とする転写方法。
3. The transfer method according to claim 1, wherein the wiring substrate according to claim 1 is a metal plate.
【請求項4】 請求項1ないし3における配線基板が半
導体素子を搭載する配線基板であることを特徴とする転
写方法。
4. The transfer method according to claim 1, wherein the wiring substrate according to claim 1 is a wiring substrate on which a semiconductor element is mounted.
【請求項5】 請求項1ないし4におけるめっきにより
形成された導体部が、銅、金、銀等の金属単体もしくは
導電性電着樹脂、あるいはこれらを多層に積層して形成
したものであることを特徴とする転写方法。
5. A conductor part formed by plating according to claim 1 to 4, which is made of a single metal such as copper, gold, silver or the like, or a conductive electrodeposited resin, or a laminate of these. A transfer method characterized by the above-mentioned.
【請求項6】 導体部と有機絶縁材料部とを順次積層し
てなるパターンで、配線パターンの他に、閉環して閉領
域を作成する閉領域作成用パターンを配線パターン領域
でない領域に形成してなるパターンを、その一面に設け
た転写版をパターンの有機絶縁材料部を介して配線用基
板上に圧着するための圧着装置であって、転写版を保持
する転写版保持部と、配線用基板を保持する配線用基板
保持部と、転写版と配線用基板とを離れた状態にして、
少なくとも該転写版と配線用基板との間を真空引きする
ための囲いである枠部と、真空引き制御を行う真空引き
制御部と、転写板のパターンを設けていない裏面側から
転写版を押圧し、配線用基板へ圧着するための加圧部と
を有し、加圧部と配線用基板保持部との間に、転写版と
配線用基板とを有機絶縁材料部を介して挾み圧着するも
のであることを特徴とする転写用の圧着装置。
6. A pattern formed by sequentially laminating a conductor portion and an organic insulating material portion. In addition to a wiring pattern, a closed region forming pattern for forming a closed region by ring closure is formed in a region other than the wiring pattern region. A press plate for pressing a transfer plate provided on one surface thereof onto a wiring substrate via an organic insulating material portion of the pattern, the transfer plate holding portion holding the transfer plate; With the wiring board holding part for holding the board, the transfer plate and the wiring board separated,
At least a frame portion which is an enclosure for vacuuming between the transfer plate and the wiring substrate, a vacuum control portion for performing vacuum control, and pressing the transfer plate from the back side where the pattern of the transfer plate is not provided. And a pressurizing portion for press-bonding to the wiring substrate. The transfer plate and the wiring substrate are sandwiched between the pressurizing portion and the wiring-substrate holding portion via the organic insulating material portion. And a pressure bonding device for transfer.
【請求項7】 請求項6において、配線用基板保持部は
下側に位置してその上に配線用基板を載置するもので、
配線用基板保持部の上側に、上下移動可能な加圧部を設
けており、枠部は加圧部に支持され、配線用基板保持部
側へ移動するもので、且つ、枠部の配線用基板側先端
は、弾力性のあるOリングと接するようにして、密着さ
れるものであり、真空引き制御部は、配線用基板保持部
の配線用基板領域の外側で、且つ、枠部に囲まれる領域
の内側の転写版側に設けられた真空用兼真空解除用配管
を介して真空引きするものであることを特徴とする圧着
装置。
7. The wiring substrate holding portion according to claim 6, wherein the wiring substrate holding portion is located on a lower side and the wiring substrate is mounted thereon.
A pressurizing section that can move up and down is provided above the wiring board holding section, and the frame section is supported by the pressurizing section and moves to the wiring board holding section side. The substrate side tip is brought into close contact with an elastic O-ring so as to be in contact therewith, and the evacuation control unit is surrounded by a frame outside the wiring substrate region of the wiring substrate holding unit. Wherein the vacuum is evacuated via a vacuum and vacuum release pipe provided on the transfer plate side inside the area to be pressed.
【請求項8】 請求項6ないし7において、転写版と配
線用基板とを位置合わせするアライメント機構部を設
け、転写版と配線用基板とを位置合わせ後に、真空引き
し、圧着するものであることを特徴とする転写用の圧着
装置。
8. An apparatus according to claim 6, further comprising an alignment mechanism for aligning the transfer plate and the wiring substrate, and after positioning the transfer plate and the wiring substrate, evacuating and crimping. A pressure bonding device for transfer, characterized in that:
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