JPH10161038A - Microscope - Google Patents

Microscope

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JPH10161038A
JPH10161038A JP8340602A JP34060296A JPH10161038A JP H10161038 A JPH10161038 A JP H10161038A JP 8340602 A JP8340602 A JP 8340602A JP 34060296 A JP34060296 A JP 34060296A JP H10161038 A JPH10161038 A JP H10161038A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
objective lens
focus
focusing
data storage
objective
Prior art date
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Pending
Application number
JP8340602A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Kunio Toshimitsu
邦夫 利光
Kazumasa Aoyama
和正 青山
Akira Watanabe
章 渡辺
Masahiko Otomo
正彦 大友
Hiroko Saito
浩子 斉藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nikon Corp filed Critical Nikon Corp
Priority to JP8340602A priority Critical patent/JPH10161038A/en
Publication of JPH10161038A publication Critical patent/JPH10161038A/en
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide the microscope which can be put in focus even if the focus position shifts when a sample is replaced or if a revolver is rotated at an out-of-focus position. SOLUTION: A control circuit 10 outputs a command signal 30a for updating data stored in an objective data storage part 3 when an operator presses an offset switch 20, and corrects focusing positions of objectives stored in the objective data storage parts 3 according to the quantity of variation from the focusing position stored in the objective data storage part 3 when the offset switch 20 is pressed to the focusing position when the command signal 30a is inputted.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は顕微鏡に関し、特
に電動レボルバや電動焦準機構を備えた顕微鏡に関す
る。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a microscope, and more particularly, to a microscope having an electric revolver and an electric focusing mechanism.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来の顕微鏡として、電動の焦準装置
と、対物レンズの焦準位置を記憶する記憶部と、標本の
高さに合わせて焦準位置を入力する入力部とを備えてい
るものが知られている。 また、従来の他の顕微鏡として、先ず1つの対物レン
ズのピント位置を基準位置[0]として記憶部に記憶
し、次にこの基準となる対物レンズのピント位置と他の
対物レンズのピント位置との差を位置データとして順次
記憶部に記憶し、基準となる対物レンズと他の対物レン
ズとの差によって対物レンズ毎の上下位置を決めること
によって、標本が変わり、ピント位置の高さが変化して
も、レボルバによって対物レンズを切り換えたとき、対
物レンズがピント位置に移動するようにしたものが、特
開平3−15015号公報に開示されている。
2. Description of the Related Art A conventional microscope includes a motorized focusing device, a storage unit for storing a focusing position of an objective lens, and an input unit for inputting a focusing position according to the height of a sample. Things are known. As another conventional microscope, first, the focus position of one objective lens is stored in a storage unit as a reference position [0], and then the focus position of the objective lens serving as the reference and the focus position of another objective lens are stored. Is stored in the storage unit sequentially as position data, and the vertical position of each objective lens is determined based on the difference between the reference objective lens and another objective lens, thereby changing the sample and changing the height of the focus position. Japanese Patent Application Laid-Open No. 3-15015 discloses a configuration in which the objective lens is moved to a focus position when the objective lens is switched by a revolver.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】しかし、の顕微鏡で
は標本を厚さの異なるものに交換したとき、ピント位置
の変化に対応するためには、交換の度に焦準位置を入力
し直す必要があった。
However, in the microscope described above, when the specimen is exchanged for one having a different thickness, in order to cope with a change in the focus position, it is necessary to re-input the focus position each time the specimen is exchanged. there were.

【0004】また、の顕微鏡には、焦点深度の深い対
物レンズを使用し、その焦点深度の端で観察を行った後
に焦点深度の浅い対物レンズに切り換えたとき、焦点合
わせ不良によるいわゆるピンボケとなる問題があった。
[0004] In addition, when an objective lens having a large depth of focus is used in the microscope described above, and the observation is performed at the end of the depth of focus and then the objective lens is switched to a shallow depth of focus, so-called out-of-focus due to poor focusing occurs. There was a problem.

【0005】例えば、倍率4×の対物レンズと倍率10
×の対物レンズとを用いた場合、倍率4×の対物レンズ
の焦点深度は±16μm、倍率10×の対物レンズの焦
点深度は±3μmあるので、先ず倍率4×の対物レンズ
を用いて焦点深度の端の16μmの位置で観察した後、
倍率10×の対物レンズに切り換えたとき、倍率10×
の対物レンズの焦点深度が±3μmの範囲を外れ、ピン
ボケの画像となってしまう。
For example, an objective lens with a magnification of 4 × and a magnification of 10
When using an X objective lens, the depth of focus of a 4 × objective lens is ± 16 μm and the depth of focus of a 10 × objective lens is ± 3 μm. After observation at the position of 16 μm on the edge of
When switching to a 10 × magnification objective lens,
The focal depth of the objective lens deviates from the range of ± 3 μm, resulting in an out-of-focus image.

【0006】特に、倍率が60×、100×と高倍率の
対物レンズとなる程、標本が10μm以上も焦準位置か
らずれ、画像のボケが強くなる傾向を示し、ピント合わ
せをできなくなってしまうことがある。
In particular, as the objective lens has a high magnification of 60 × or 100 ×, the specimen is shifted from the focus position by more than 10 μm, and the blur of the image tends to be strong, so that the focusing cannot be performed. Sometimes.

【0007】また、ピントを合わせたときの対物レンズ
の先端から標本表面(一般にカバーグラス表面)までの
距離をWD(ワーキングディスタンス)と称するが、こ
のWDの大きな対物レンズを用い、この対物レンズのピ
ントを合わせず、標本に接近した状態でWDの小さい対
物レンズに切り換えた場合、ピンボケの画像となってし
まうことがある。
The distance from the front end of the objective lens to the specimen surface (generally, the cover glass surface) when focusing is called a WD (working distance). An objective lens having a large WD is used. If the focus is not adjusted and the objective lens is switched to a small WD while approaching the sample, the image may be out of focus.

【0008】例えば、倍率10×の対物レンズが光路に
入っている位置で標本を交換し、ピント合わせを行わず
に倍率20×の対物レンズに切り換えた場合、倍率10
×の対物レンズのWDは16mmであり、倍率20×の
対物レンズのWDは2.1mmであるので、倍率10×
の対物レンズにおいて、標本を焦準位置を外れて対物レ
ンズの先端に当たらない範囲で近付けた状態で倍率20
×の対物レンズに切り換えたとき、ピンボケの画像とな
ってしまうことがある。
For example, when a sample is exchanged at a position where an objective lens having a magnification of 10 × is in the optical path, and the objective lens is switched to a 20 × magnification without performing focusing, a magnification of 10 ×
The WD of the × objective lens is 16 mm, and the WD of the 20 × objective lens is 2.1 mm, so that the 10 × magnification lens is used.
With the objective lens having a magnification of 20 mm, the specimen is moved out of the focusing position and approached so as not to hit the tip of the objective lens.
When switching to the X objective lens, the image may be out of focus.

【0009】この発明はこのような事情に鑑みてなされ
たもので、標本を交換してピント位置が変化したり、ピ
ント位置でないままレボルバを回転したときでも、ピン
トを合わせることができ、もって常にピントの合った画
像を得ることができる顕微鏡を提供することである。
The present invention has been made in view of such circumstances, and the focus can be adjusted even when the focus position is changed by exchanging a sample or when the revolver is rotated without being in the focus position. An object of the present invention is to provide a microscope capable of obtaining a focused image.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
請求項1記載の発明の顕微鏡装置の焦準装置は、電動レ
ボルバによって切り換えられる複数の対物レンズと、前
記対物レンズと標本との間隔を変える電動焦準機構と、
前記複数の対物レンズのそれぞれに対応する前記電動焦
準機構の焦準位置を記憶する対物レンズデータ記憶部
と、前記対物レンズを切り換えたとき、切り換えた先の
対物レンズに対応して前記対物レンズデータ記憶部に記
憶された焦準位置となるように前記電動焦準機構を制御
する制御回路とを備えた顕微鏡において、操作者によっ
て操作されることにより、前記対物レンズデータ記憶部
に記憶されたデータを更新するための指令信号を出力す
る操作部材を有し、前記制御回路は、前記対物レンズデ
ータ記憶部に記憶された焦準位置から前記指令信号を入
力したときの焦準位置への変化量に基づいて、前記対物
レンズデータ記憶部に記憶された前記複数の対物レンズ
のそれぞれの焦準位置を補正することを特徴とする。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a focusing apparatus for a microscope apparatus, comprising: a plurality of objective lenses which are switched by an electric revolver; and a distance between the objective lens and a specimen. Changing electric focusing mechanism,
An objective lens data storage unit that stores a focusing position of the electric focusing mechanism corresponding to each of the plurality of objective lenses; and, when the objective lens is switched, the objective lens corresponding to the switched objective lens. A microscope provided with a control circuit for controlling the electric focusing mechanism so as to be in the focusing position stored in the data storage unit. An operation member that outputs a command signal for updating data, wherein the control circuit changes a focus position stored in the objective lens data storage unit to a focus position when the command signal is input; The focus positions of the plurality of objective lenses stored in the objective lens data storage unit are corrected based on the amount.

【0011】標本を交換することによって焦準位置が変
化したとき、操作者からの指令信号を入力したときの新
たな焦準位置と対物レンズデータ記憶部に記憶された焦
準位置とから焦準位置の変化量を演算し、この演算結果
に基づいて対物レンズデータ記憶部に記憶された複数の
対物レンズの焦準位置を補正するので、標本交換により
生じる対物レンズ間のピントずれを補正することができ
る。
When the focus position changes by exchanging the sample, the focus position is determined from the new focus position when a command signal is input from the operator and the focus position stored in the objective lens data storage unit. The amount of change in the position is calculated, and the focus positions of the plurality of objective lenses stored in the objective lens data storage unit are corrected based on the calculation result, so that the focus shift between the objective lenses caused by sample exchange is corrected. Can be.

【0012】請求項2の発明は、請求項1記載の発明の
顕微鏡において、前記制御回路は、10倍以上の倍率の
対物レンズを用いたときだけ前記補正を行うことを特徴
とする。
According to a second aspect of the present invention, in the microscope according to the first aspect, the control circuit performs the correction only when an objective lens having a magnification of 10 times or more is used.

【0013】10倍以上の倍率の対物レンズを用いたと
きだけ補正を行うことによって、10μm以下に焦準位
置のずれを抑えることができ、高倍率の対物レンズを用
いたときでも画像のピント合わせが可能となる。
By performing correction only when an objective lens having a magnification of 10 or more is used, it is possible to suppress the shift of the focus position to 10 μm or less, and to focus an image even when using an objective lens having a high magnification. Becomes possible.

【0014】[0014]

【発明の実施の形態】以下、この発明の実施の形態を図
面に基づいて説明する。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0015】図1はこの発明の第1実施形態に係る顕微
鏡に用いられている焦準装置のブロック構成図、図2は
対物レンズデータの入力方法の一例を示す図である。
FIG. 1 is a block diagram of a focusing device used in a microscope according to a first embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a diagram showing an example of an input method of objective lens data.

【0016】焦準装置1は、データ入力部20と、対物
レンズデータ記憶部3と、制御回路10と、レボルバ4
0と、レボルバ切換スイッチ4と、レボルバ駆動モータ
6と、レボルバ駆動回路7と、センサ8と、ステージ1
4と、ステージ駆動モータ16と、ステージ駆動回路1
7と、センサ18と、オフセットスイッチ(操作部材)
30とからなる。
The focusing device 1 includes a data input unit 20, an objective lens data storage unit 3, a control circuit 10, a revolver 4
0, revolver changeover switch 4, revolver drive motor 6, revolver drive circuit 7, sensor 8, stage 1
4, stage drive motor 16, and stage drive circuit 1
7, sensor 18, offset switch (operation member)
30.

【0017】データ入力部20はレボルバ40に取り付
ける対物レンズの倍率、WD、NA(開口数)、同焦点
距離(対物レンズの焦点位置から胴付面までの距離)等
の対物レンズデータを入力するものであり、入力された
データは対物レンズデータ記憶部3に記憶される。
The data input unit 20 inputs objective lens data such as the magnification, WD, NA (numerical aperture), and parfocal length (distance from the focal position of the objective lens to the body surface) of the objective lens attached to the revolver 40. The input data is stored in the objective lens data storage unit 3.

【0018】このデータ入力部20によるデータの入力
は、例えば図2に示すように、所定の用紙にバーコード
21で表した対物レンズの倍率等のデータをバーコード
リーダ22で読み取ったり、テンキー(図示せず)で入
力したり、対物レンズデータ記憶部3に予め記憶された
データを読み出したりすることによって行われる。
As shown in FIG. 2, for example, data such as the magnification of an objective lens represented by a bar code 21 on a predetermined sheet is read by a bar code reader 22 or a ten key ( (Not shown), or by reading data stored in advance in the objective lens data storage unit 3.

【0019】制御回路10はレボルバ切換スイッチ4が
押されたときの対物レンズの焦準位置を対物レンズデー
タ記憶部3のデータテーブル3aに記憶させるととも
に、レボルバ切換スイッチ4の指令に基づいて駆動回路
7の通電を制御し、モータ6を所定方向へ回転させてレ
ボルバ40に取り付けられている複数の対物レンズを順
次光路上に位置させる。
The control circuit 10 stores the focus position of the objective lens when the revolver changeover switch 4 is depressed in the data table 3a of the objective lens data storage section 3, and based on a command from the revolver changeover switch 4, By controlling the energization of the motor 7 and rotating the motor 6 in a predetermined direction, the plurality of objective lenses attached to the revolver 40 are sequentially positioned on the optical path.

【0020】また、制御回路10は駆動回路17の通電
を制御することによってモータ16を所定方向へ回転さ
せ、ステージ14を光路方向へ移動させる。
The control circuit 10 controls the energization of the drive circuit 17 to rotate the motor 16 in a predetermined direction and to move the stage 14 in the direction of the optical path.

【0021】オフセットスイッチ30は操作者によって
操作されたとき、対物レンズデータ記憶部3に記憶され
たデータを更新するための指令信号30aを出力する。
制御回路10は指令信号30aが入力されたとき、対物
レンズデータ記憶部3に記憶されている焦準位置データ
を標本の厚さの変化量に基づいて補正する。
When operated by an operator, the offset switch 30 outputs a command signal 30a for updating data stored in the objective lens data storage unit 3.
When the command signal 30a is input, the control circuit 10 corrects the focus position data stored in the objective lens data storage unit 3 based on the amount of change in the thickness of the specimen.

【0022】センサ8はどの対物レンズが光路上に位置
しているかを検知し、センサ18はステージ14の光軸
方向の位置を検知する。
The sensor 8 detects which objective lens is on the optical path, and the sensor 18 detects the position of the stage 14 in the optical axis direction.

【0023】なお、ステージ14と、モータ16と、駆
動回路17と、センサ18とから電動焦準機構50が構
成される。
The electric focusing mechanism 50 is composed of the stage 14, the motor 16, the drive circuit 17, and the sensor 18.

【0024】図3〜図5は対物レンズと標本との高さの
関係を説明する図、図6は顕微鏡の焦準装置のオフセッ
トを行う手順を説明するフローチャートである。なお、
図6において、S1〜S13は各ステップを示す。
3 to 5 are diagrams for explaining the relationship between the height of the objective lens and the specimen, and FIG. 6 is a flowchart for explaining the procedure for offsetting the focusing device of the microscope. In addition,
In FIG. 6, S1 to S13 indicate each step.

【0025】図3(a)は倍率4×の対物レンズ41と
標本5との関係を、図3(b)は倍率10×の対物レン
ズ42と標本5との関係を、図3(c)は倍率20×の
対物レンズ43と標本5との関係を、図3(d)は倍率
40×の対物レンズ44と標本5との関係をそれぞれ示
している。
FIG. 3A shows the relationship between the objective lens 41 having a magnification of 4 × and the sample 5, FIG. 3B shows the relationship between the objective lens 42 having a magnification of 10 × and the sample 5, and FIG. 3 shows the relationship between the objective lens 43 having a magnification of 20 × and the sample 5, and FIG. 3D shows the relationship between the objective lens 44 having a magnification of 40 × and the sample 5.

【0026】なお、ここではステージが上下動する正立
型の顕微鏡を例に説明する。また、標本5はスライドグ
ラス5aとカバーグラス5bとからなる。
Here, an upright microscope in which the stage moves up and down will be described as an example. The specimen 5 includes a slide glass 5a and a cover glass 5b.

【0027】上記各対物レンズ41〜44をレボルバ4
0(図1参照)によって切り換えたとき、各対物レンズ
41〜44間のピント位置の誤差が大きいと画像がボケ
てしまうので、同焦点距離(対物レンズの胴付面と焦点
位置との間の距離)D,A,B,Cを所定の範囲内にお
さめている。
Each of the objective lenses 41 to 44 is connected to a revolver 4
0 (see FIG. 1), if the focus position error between the objective lenses 41 to 44 is large, the image will be blurred. Therefore, the parfocal distance (the distance between the body surface of the objective lens and the focal position) (Distance) D, A, B, C are set within a predetermined range.

【0028】同焦点距離は対物レンズによって相違し、
この相違がピント位置の差となっている。図3では同焦
点距離を倍率10×の対物レンズに対して、倍率4×の
対物レンズでは短く、倍率20×の対物レンズでは長
く、倍率40×の対物レンズでは同じとしている。
The parfocal distance differs depending on the objective lens.
This difference is the difference between the focus positions. In FIG. 3, the parfocal distance is shorter for a 4 × objective lens, longer for a 20 × objective lens, and the same for a 40 × objective lens, compared to a 10 × objective lens.

【0029】上記の状態を初期状態としてオフセットを
行う手順を説明する。
A procedure for offsetting with the above state as an initial state will be described.

【0030】例えば、倍率20×の対物レンズ43が光
路に入っているときには、センサ8によってこのときの
レボルバ位置が確認される(S1)。
For example, when the objective lens 43 having a magnification of 20 × is in the optical path, the revolver position at this time is confirmed by the sensor 8 (S1).

【0031】制御回路10は確認されたレボルバ位置に
対応する焦準位置データFAをデータテーブル3aから
読み込む(S2)。
The control circuit 10 reads the focusing position data FA corresponding to the confirmed revolver position from the data table 3a (S2).

【0032】このデータFAに基づき駆動回路17を介
してモータ16を駆動して標本5を所定の位置(焦準位
置)へ移動させる(S3)。
The sample 16 is moved to a predetermined position (focusing position) by driving the motor 16 via the driving circuit 17 based on the data FA (S3).

【0033】その後、画像を見ながら手動により標本5
を上下動させてピント合わせを行う(S4)。
Thereafter, the specimen 5 is manually checked while viewing the image.
Is moved up and down to perform focusing (S4).

【0034】標本5を厚さの厚いものに交換したような
場合には、オフセットスイッチ30を押し(S5)、デ
ータテーブル3aに記憶されているデータを更新するた
めの指令信号30aを出力する。
When the specimen 5 is replaced with a thick one, the offset switch 30 is pressed (S5), and a command signal 30a for updating the data stored in the data table 3a is output.

【0035】オフセットスイッチ30が押されたときに
は、センサ18により現在の焦準位置データFNが読み
取られる(S6)。
When the offset switch 30 is pressed, the current focus position data FN is read by the sensor 18 (S6).

【0036】なお、10倍以上の倍率の対物レンズを用
いることで10μm以下に焦準位置のずれを抑えること
ができるので、10倍以上の倍率の対物レンズを用いて
補正が行われる。倍率10×の対物レンズのWDが16
mmと長いのに対し、焦点深度が±3μmと浅いため、
ピントが合わせ易く、しかも合わせたピント位置が高倍
率の対物レンズでもあまりボケない範囲になるからであ
る(図4参照)。
Note that the use of an objective lens having a magnification of 10 or more can suppress the shift of the focus position to 10 μm or less, so that the correction is performed using an objective lens having a magnification of 10 or more. WD of 16 × objective lens is 16
mm, whereas the depth of focus is as shallow as ± 3 μm.
This is because it is easy to focus, and the focused position is within a range that does not blur much even with a high-magnification objective lens (see FIG. 4).

【0037】次に、先の焦準位置データFAと現在の焦
準位置データFNとの差(変化量)FDを計算する(S
7)。
Next, the difference (change amount) FD between the previous focus position data FA and the current focus position data FN is calculated (S).
7).

【0038】この差FDをデータテーブル3a内の対物
レンズ41〜44の焦準位置データに加え、データテー
ブル3aを補正する(S8)。この動作によって焦準位
置データの更新が完了する。
The difference FD is added to the focusing position data of the objective lenses 41 to 44 in the data table 3a to correct the data table 3a (S8). This operation completes the update of the focus position data.

【0039】更新されたデータテーブル3aに基づい
て、標本5が移動された状態を図5に示す。このとき、
対物レンズ41〜44の同焦点距離は、図3と同様にそ
れぞれD,A,B,Cとなる。
FIG. 5 shows a state in which the sample 5 has been moved based on the updated data table 3a. At this time,
The parfocal distances of the objective lenses 41 to 44 are D, A, B, and C, respectively, as in FIG.

【0040】オフセットスイッチ30が押されないと
き、レボルバ切換スイッチ4が押されると(S9)、現
在の基準位置データFBを読み取る(S10)。
When the revolver changeover switch 4 is pressed when the offset switch 30 is not pressed (S9), the current reference position data FB is read (S10).

【0041】このデータFBを、倍率20×の対物レン
ズ43の焦準位置としてデータテーブル3aに入力し、
倍率20×の対物レンズ43の焦準位置のデータをFA
からFBに更新する(S11)。
This data FB is input to the data table 3a as the focus position of the objective lens 43 having a magnification of 20 ×,
The data of the focusing position of the objective lens 43 having a magnification of 20 ×
To FB (S11).

【0042】レボルバ40を回転させ(S12)、例え
ば倍率10×の対物レンズに切り換える。
The revolver 40 is rotated (S12) to switch to, for example, a 10 × magnification objective lens.

【0043】レボルバ40は停止した後、センサ8によ
ってレボルバ位置が確認される(S13)。
After the revolver 40 stops, the position of the revolver is confirmed by the sensor 8 (S13).

【0044】その後、確認されたレボルバ位置に対応す
る焦準位置データをデータテーブル3aから読み込み、
この焦準位置データに基づき標本5を所定の位置(焦準
位置)へ移動させる。
Thereafter, focusing position data corresponding to the confirmed revolver position is read from the data table 3a,
The specimen 5 is moved to a predetermined position (focus position) based on the focus position data.

【0045】この実施形態によれば、以下の効果を発揮
できる。 標本5を交換することによって焦準位置が変化(スラ
イドグラス5aとカバーグラス5bとの組合わせによっ
て0.7mm程度変化することもある)したときでも、
対物レンズ41〜44間のピントずれが補正されるの
で、レボルバ切換スイッチ4の指令によってレボルバ4
0を回転させて対物レンズ41〜44を切り換えたと
き、ピントの合った画像を得ることができる。 観察者がオフセットスイッチ30を押すことによっ
て、対物レンズ41〜44に対応した標本5の位置が定
まるので、例えピントを合わせずに対物レンズ41〜4
4を切り換えた場合ても、対物レンズ41〜44に対応
した位置に標本5が移動し、ピントの合った画像を得る
ことができる。 標本5と対物レンズ41〜44との間隔を適正に保つ
ことができるので、標本5と対物レンズ41〜44とが
接触したり、標本5を破壊したりすることも防止でき
る。 焦点深度の非常に深い対物レンズ(例えば、倍率0.
5×の焦点深度は±0.4mm)で補正することを避け
たので、対物レンズ切換え時の標本との接触を防止でき
る。 オートフォーカスを併用して焦準位置検出を顕微鏡側
で実行した場合、対物レンズ41〜44の焦点深度の範
囲は焦準位置と判断されてしまうが、10倍以上の倍率
の対物レンズ42〜44を用いて補正を行うので、ピン
ト位置が高倍率の対物レンズ42〜44でもあまりボケ
ず、ピント位置への調整が可能となる。
According to this embodiment, the following effects can be obtained. Even when the focus position changes by exchanging the sample 5 (may change by about 0.7 mm depending on the combination of the slide glass 5a and the cover glass 5b),
Since the focus shift between the objective lenses 41 to 44 is corrected, the revolver 4
When the objective lenses 41 to 44 are switched by rotating 0, an in-focus image can be obtained. When the observer presses the offset switch 30, the position of the sample 5 corresponding to the objective lenses 41 to 44 is determined, so that the objective lenses 41 to 4 can be adjusted without focusing.
Even when 4 is switched, the specimen 5 moves to a position corresponding to the objective lenses 41 to 44, and an in-focus image can be obtained. Since the distance between the sample 5 and the objective lenses 41 to 44 can be properly maintained, it is possible to prevent the sample 5 from contacting the objective lenses 41 to 44 and to prevent the sample 5 from being broken. An objective lens with a very deep depth of focus (for example, a magnification of 0.
Correction with a focal depth of 5 × ± 0.4 mm) is avoided, so that contact with the sample at the time of switching the objective lens can be prevented. When the focus position detection is performed on the microscope side together with the autofocus, the range of the depth of focus of the objective lenses 41 to 44 is determined as the focus position, but the objective lenses 42 to 44 having a magnification of 10 or more are used. , The focus position is not so blurred even with the objective lenses 42 to 44 having a high magnification, and the focus position can be adjusted.

【0046】[0046]

【発明の効果】以上に説明したように請求項1記載の発
明の顕微鏡によれば、標本交換により生じる対物レンズ
間のピントずれを補正することができるので、標本を交
換してピント位置が変化したり、ピント位置でないまま
レボルバを回転したときでも、常にピントの合った画像
を得ることができる。
As described above, according to the microscope of the first aspect of the present invention, the focus shift between the objective lenses caused by the exchange of the specimen can be corrected, so that the focus position changes by exchanging the specimen. Or when the revolver is rotated out of focus, an in-focus image can always be obtained.

【0047】請求項2に記載の発明の顕微鏡によれば、
10倍以上の倍率の対物レンズを用いたときだけ補正を
行うことによって、どの対物レンズに切り換えてもピン
ト位置の調整が可能な、10μm以下に焦準位置のずれ
を抑えることができ、高倍率の対物レンズを用いたとき
でも画像のピント合わせが可能となる。
According to the microscope of the second aspect of the present invention,
By performing correction only when an objective lens having a magnification of 10 or more is used, the focus position can be adjusted even when switching to any objective lens. It is possible to focus an image even when the objective lens is used.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】図1はこの発明の第1実施形態に係る顕微鏡に
用いられている焦準装置のブロック構成図である。
FIG. 1 is a block diagram of a focusing device used in a microscope according to a first embodiment of the present invention.

【図2】図2は対物レンズデータの入力方法の一例を示
す図である。
FIG. 2 is a diagram illustrating an example of an input method of objective lens data.

【図3】図3は対物レンズと標本との高さの関係を説明
する図である。
FIG. 3 is a diagram illustrating the relationship between the height of an objective lens and a specimen.

【図4】図4は対物レンズと標本との高さの関係を説明
する図である。
FIG. 4 is a diagram for explaining a height relationship between an objective lens and a specimen.

【図5】図5は対物レンズと標本との高さの関係を説明
する図である。
FIG. 5 is a diagram for explaining the relationship between the height of the objective lens and the specimen.

【図6】図6は顕微鏡の焦準装置のオフセットを行う手
順を説明するフローチャートである。
FIG. 6 is a flowchart illustrating a procedure for offsetting the focusing device of the microscope.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 焦準装置 3 対物レンズデータ記憶部 10 制御回路 20 オフセットスイッチ(操作部材) 40 電動レボルバ 50 電動焦準機構 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Focusing device 3 Objective lens data storage part 10 Control circuit 20 Offset switch (operation member) 40 Electric revolver 50 Electric focusing mechanism

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 大友 正彦 東京都千代田区丸の内3丁目2番3号 株 式会社ニコン内 (72)発明者 斉藤 浩子 東京都千代田区丸の内3丁目2番3号 株 式会社ニコン内 ────────────────────────────────────────────────── ─── Continued on the front page (72) Inventor Masahiko Otomo 3-2-3 Marunouchi, Chiyoda-ku, Tokyo Nikon Corporation (72) Inventor Hiroko Saito 3-2-2, Marunouchi, Chiyoda-ku, Tokyo Stock Company Nikon company

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 電動レボルバによって切り換えられる複
数の対物レンズと、前記対物レンズと標本との間隔を変
える電動焦準機構と、前記複数の対物レンズのそれぞれ
に対応する前記電動焦準機構の焦準位置を記憶する対物
レンズデータ記憶部と、前記対物レンズを切り換えたと
き、切り換えた先の対物レンズに対応して前記対物レン
ズデータ記憶部に記憶された焦準位置となるように前記
電動焦準機構を制御する制御回路とを備えた顕微鏡にお
いて、 操作者によって操作されることにより、前記対物レンズ
データ記憶部に記憶されたデータを更新するための指令
信号を出力する操作部材を有し、 前記制御回路は、前記対物レンズデータ記憶部に記憶さ
れた焦準位置から前記指令信号を入力したときの焦準位
置への変化量に基づいて、前記対物レンズデータ記憶部
に記憶された前記複数の対物レンズのそれぞれの焦準位
置を補正することを特徴とする顕微鏡。
1. A plurality of objective lenses switched by an electric revolver, an electric focusing mechanism for changing a distance between the objective lens and a sample, and a focusing of the electric focusing mechanism corresponding to each of the plurality of objective lenses. An objective lens data storage unit for storing a position, and the electric focusing so that, when the objective lens is switched, the focusing position stored in the objective lens data storage unit corresponds to the switched objective lens. A microscope provided with a control circuit for controlling a mechanism, comprising: an operation member that, when operated by an operator, outputs a command signal for updating data stored in the objective lens data storage unit; The control circuit is configured to control the pair based on an amount of change from the focus position stored in the objective lens data storage unit to the focus position when the command signal is input. Lenses each focusing position microscope and corrects the plurality of objective lenses stored in the data storage unit.
【請求項2】 前記制御回路は、10倍以上の倍率の対
物レンズを用いたときだけ前記補正を行うことを特徴と
する請求項1に記載の顕微鏡。
2. The microscope according to claim 1, wherein the control circuit performs the correction only when an objective lens having a magnification of 10 or more is used.
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