JPH10153624A - 金属で密閉されガス絶縁された高電圧設備の測定装置 - Google Patents
金属で密閉されガス絶縁された高電圧設備の測定装置Info
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- JPH10153624A JPH10153624A JP9226089A JP22608997A JPH10153624A JP H10153624 A JPH10153624 A JP H10153624A JP 9226089 A JP9226089 A JP 9226089A JP 22608997 A JP22608997 A JP 22608997A JP H10153624 A JPH10153624 A JP H10153624A
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- H—ELECTRICITY
- H02—GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
- H02B—BOARDS, SUBSTATIONS OR SWITCHING ARRANGEMENTS FOR THE SUPPLY OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
- H02B13/00—Arrangement of switchgear in which switches are enclosed in, or structurally associated with, a casing, e.g. cubicle
- H02B13/02—Arrangement of switchgear in which switches are enclosed in, or structurally associated with, a casing, e.g. cubicle with metal casing
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- H02B13/0356—Mounting of monitoring devices, e.g. current transformers
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- Measuring Instrument Details And Bridges, And Automatic Balancing Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 測定精度が高く、動作信頼性の高い点で優れ
ている、金属密閉部の密閉円管に配置されロゴウスキー
巻線および測定電極として形成されたセンサを備えてい
る高電圧設備の測定装置を提供する。 【解決手段】 密閉円管３を貫通する電流の流れる導体
９の電流を検出するため絶縁ガスを満たした金属密閉部
の密閉円管３の中に配設された少なくとも一つのロゴウ
スキー巻線１０と、導体９の電圧を検出するためこの導
体９を取り囲む少なくとも一つの測定電極１１と、ロゴ
ウスキー巻線１０および測定電極１１からの出力信号を
処理する少なくとも一つの電子評価装置２３，２３′と
を備え、金属で密閉されガス絶縁された高電圧設備の測
定装置にあって、電流導体９が密閉円管３に固定された
絶縁体１４の電流の流れる鋳造部材１３に固定連結して
いる。
ている、金属密閉部の密閉円管に配置されロゴウスキー
巻線および測定電極として形成されたセンサを備えてい
る高電圧設備の測定装置を提供する。 【解決手段】 密閉円管３を貫通する電流の流れる導体
９の電流を検出するため絶縁ガスを満たした金属密閉部
の密閉円管３の中に配設された少なくとも一つのロゴウ
スキー巻線１０と、導体９の電圧を検出するためこの導
体９を取り囲む少なくとも一つの測定電極１１と、ロゴ
ウスキー巻線１０および測定電極１１からの出力信号を
処理する少なくとも一つの電子評価装置２３，２３′と
を備え、金属で密閉されガス絶縁された高電圧設備の測
定装置にあって、電流導体９が密閉円管３に固定された
絶縁体１４の電流の流れる鋳造部材１３に固定連結して
いる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、密閉円管を貫通
する電流の流れる導体の電流を検出するため絶縁ガスを
満たした金属密閉部の密閉円管の中に配設されたロゴウ
スキー巻線と、導体の電圧を検出するためこの導体を取
り囲む測定電極と、ロゴウスキー巻線および測定電極か
らの出力信号を処理する電子評価装置とを備え、金属で
密閉されガス絶縁された高電圧設備の測定装置に関す
る。
する電流の流れる導体の電流を検出するため絶縁ガスを
満たした金属密閉部の密閉円管の中に配設されたロゴウ
スキー巻線と、導体の電圧を検出するためこの導体を取
り囲む測定電極と、ロゴウスキー巻線および測定電極か
らの出力信号を処理する電子評価装置とを備え、金属で
密閉されガス絶縁された高電圧設備の測定装置に関す
る。
【０００２】
【従来の技術】この種の測定装置は、密閉円管を貫通
し、電流の流れている導体の電流を測定するため、絶縁
ガスを満たした金属密閉部の密閉円管内に配置された少
なくとも一つのロゴウスキー（Rogowski）巻線を有す
る。導体を取り囲む測定電極はこの導体の電圧を測定す
るために使用される。この設備の他の物理量、例えば圧
力、温度および／または絶縁ガスの密度や局部放電の発
生のような量はこの測定装置内に設けてある他のセンサ
で測定される。
し、電流の流れている導体の電流を測定するため、絶縁
ガスを満たした金属密閉部の密閉円管内に配置された少
なくとも一つのロゴウスキー（Rogowski）巻線を有す
る。導体を取り囲む測定電極はこの導体の電圧を測定す
るために使用される。この設備の他の物理量、例えば圧
力、温度および／または絶縁ガスの密度や局部放電の発
生のような量はこの測定装置内に設けてある他のセンサ
で測定される。
【０００３】欧州公開特許第 0 510 311号明細書のよう
な金属で密閉された絶縁ガスの高電圧設備に対する測定
装置は周知である。この従来の技術に開示されている金
属で密閉されガス絶縁された高電圧設備に対する組み合
わせの電流と電圧の変換器は、金属密閉部の絶縁ガスを
満たした密閉円管の内に電流を流す導体の周りに通して
あり、導体の電流を測定するためにあるロゴウスキー巻
線と、導体の電圧を測定するためにある導体に対して同
芯状に電気絶縁して配置された円管状の金属電極とを有
する。ロゴウスキー巻線と測定電極から出力される出力
信号はシールド導線で密閉円管の壁を通して金属密閉部
から離れている評価電子回路に導入され、この評価電子
回路中で出力信号から電流導体を流れる電流や電流導体
に印加している電圧に相当する測定値が形成される。
な金属で密閉された絶縁ガスの高電圧設備に対する測定
装置は周知である。この従来の技術に開示されている金
属で密閉されガス絶縁された高電圧設備に対する組み合
わせの電流と電圧の変換器は、金属密閉部の絶縁ガスを
満たした密閉円管の内に電流を流す導体の周りに通して
あり、導体の電流を測定するためにあるロゴウスキー巻
線と、導体の電圧を測定するためにある導体に対して同
芯状に電気絶縁して配置された円管状の金属電極とを有
する。ロゴウスキー巻線と測定電極から出力される出力
信号はシールド導線で密閉円管の壁を通して金属密閉部
から離れている評価電子回路に導入され、この評価電子
回路中で出力信号から電流導体を流れる電流や電流導体
に印加している電圧に相当する測定値が形成される。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】この発明の課題は、測
定精度が高く、動作信頼性の高い点で優れている、金属
密閉部の密閉円管に配置されロゴウスキー巻線および測
定電極として形成されたセンサを備えている冒頭に述べ
た種類の測定装置を提供することにある。
定精度が高く、動作信頼性の高い点で優れている、金属
密閉部の密閉円管に配置されロゴウスキー巻線および測
定電極として形成されたセンサを備えている冒頭に述べ
た種類の測定装置を提供することにある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】上記の課題は、この発明
により、密閉円管３を貫通する電流の流れる導体９の電
流を検出するため絶縁ガスを満たした金属密閉部の密閉
円管３の中に配設された少なくとも一つのロゴウスキー
巻線１０と、導体９の電圧を検出するためこの導体９を
取り囲む少なくとも一つの測定電極１１と、ロゴウスキ
ー巻線１０および測定電極１１からの出力信号を処理す
る少なくとも一つの電子評価装置２３，２３′とを備
え、金属で密閉されガス絶縁された高電圧設備の測定装
置にあって、電流導体９が密閉円管３に固定された絶縁
体１４の電流の流れる鋳造部材１３に固定連結している
ことによって解決されている。
により、密閉円管３を貫通する電流の流れる導体９の電
流を検出するため絶縁ガスを満たした金属密閉部の密閉
円管３の中に配設された少なくとも一つのロゴウスキー
巻線１０と、導体９の電圧を検出するためこの導体９を
取り囲む少なくとも一つの測定電極１１と、ロゴウスキ
ー巻線１０および測定電極１１からの出力信号を処理す
る少なくとも一つの電子評価装置２３，２３′とを備
え、金属で密閉されガス絶縁された高電圧設備の測定装
置にあって、電流導体９が密閉円管３に固定された絶縁
体１４の電流の流れる鋳造部材１３に固定連結している
ことによって解決されている。
【０００６】この発明による他の有利な構成は特許請求
の範囲の従属請求項に記載されている。
の範囲の従属請求項に記載されている。
【０００７】
【０００８】
【実施例】以下、この発明の好適実施例とそれに結び付
く他の利点を図面に基づきより詳しく説明する。全ての
図面には同じ作用の部品に対して同じ参照符号が付けて
ある。図１に示す測定装置には数バールの圧力の特にＳ
Ｆ6 のような絶縁ガスを満たした金属密閉部の二つのフ
ランジ１，２の間に挟持された密閉円管３がある。この
密閉円管３はそれぞれ一つのフランジを有する二つの金
属円管部分４，５により形成され、これ等の円管部分は
ネジ６とＯリング７でガス気密に状態で互いに挟持され
ている。密閉円管３の軸８には、ほぼ円筒状に形成され
主に数百 kV の高電位になっている電流導体９が通して
ある。二つの円管部分４，５で仕切られている中空空間
には、電流導体９を流れる電流を検知する二つのロゴウ
スキー巻線１０がある。電流導体９に対向する密閉円管
の内面には、円管部分４と５で仕切られているリング溝
内で密閉円管３に対して電気絶縁状態で配置され、電流
導体９に印加する高圧を検出する金属の測定電極１１が
取り付けてある。
く他の利点を図面に基づきより詳しく説明する。全ての
図面には同じ作用の部品に対して同じ参照符号が付けて
ある。図１に示す測定装置には数バールの圧力の特にＳ
Ｆ6 のような絶縁ガスを満たした金属密閉部の二つのフ
ランジ１，２の間に挟持された密閉円管３がある。この
密閉円管３はそれぞれ一つのフランジを有する二つの金
属円管部分４，５により形成され、これ等の円管部分は
ネジ６とＯリング７でガス気密に状態で互いに挟持され
ている。密閉円管３の軸８には、ほぼ円筒状に形成され
主に数百 kV の高電位になっている電流導体９が通して
ある。二つの円管部分４，５で仕切られている中空空間
には、電流導体９を流れる電流を検知する二つのロゴウ
スキー巻線１０がある。電流導体９に対向する密閉円管
の内面には、円管部分４と５で仕切られているリング溝
内で密閉円管３に対して電気絶縁状態で配置され、電流
導体９に印加する高圧を検出する金属の測定電極１１が
取り付けてある。
【０００９】電流導体９はネジ１２により軸８上に配置
されている絶縁体１４の鋳造部材１３に固定連結してい
る。ネジ１２は軸８の方向に導入され、封印（密閉塗
料）あるいは充填により許されない操作を防止する。絶
縁体１４のリング状の外側縁部分は軸方向に導入された
保持リング１６により円管部分４のフランジに固定され
ている。円管部分４の保持リング１６を固定するネジ１
７も封印あるいは充填により許されない操作を防止す
る。
されている絶縁体１４の鋳造部材１３に固定連結してい
る。ネジ１２は軸８の方向に導入され、封印（密閉塗
料）あるいは充填により許されない操作を防止する。絶
縁体１４のリング状の外側縁部分は軸方向に導入された
保持リング１６により円管部分４のフランジに固定され
ている。円管部分４の保持リング１６を固定するネジ１
７も封印あるいは充填により許されない操作を防止す
る。
【００１０】電流導体９は軸方向に導入されたネジ１８
により互いに固定連結された二つの導体部分１９，２０
により形成されていることが分かる。従って、電流導体
９を絶縁体１４に固定するネジ１２は比較的短くでき
る。ネジ１８はネジ１２や１７のように封印あるいは充
填により許されない操作を防止する。同じことは、電流
導体９にシールド２１，２２を固定するために使用され
る図示していない他のネジにも当てはまる。
により互いに固定連結された二つの導体部分１９，２０
により形成されていることが分かる。従って、電流導体
９を絶縁体１４に固定するネジ１２は比較的短くでき
る。ネジ１８はネジ１２や１７のように封印あるいは充
填により許されない操作を防止する。同じことは、電流
導体９にシールド２１，２２を固定するために使用され
る図示していない他のネジにも当てはまる。
【００１１】電流導体９をバネ接触子に浮かせて保持す
るとかシールドを特定に保持する従来の方式の代わり
に、密閉円管３に固定連結する絶縁体１４に電流導体９
を固定することにより、密閉円管９の内部で特定の電界
分布を維持できる。これは測定電極１１から出力される
電圧に比例する信号の精度にとって非常に重要である。
ネジ１２，１７，１８やシールド２１，２２を確実にす
ることにより、測定装置の高圧の印加する部分を作製し
た後にもこの電界分布が変わらなくなる。測定装置内に
ある、ロゴウスキー巻線１０，測定電極１１のようなセ
ンサ、および、場合によって存在する、温度検出素子、
圧力検出素子、密度検出素子、放電センサおよびアーク
検知器のような他のセンサを校正できる。そして、この
時に求まった校正値や、例えば温度におる測定値のずれ
を把握する補償曲線のような他の特性量は、密閉円管３
の絶縁ガスを満たした内部空間の外に配置されている測
定装置の電子評価装置２３の記入していないデータ記憶
器（例えばＰＲＯＭ）に保管される。このデータ記憶器
も充填または封印で許されない操作に対して保護され、
ただ評価装置２３の電子回路のみ扱える。評価装置２３
の電子回路に欠陥があると、交換後に評価装置に新たに
採用された電子回路はＰＲＯＭに保管されているデータ
に直接アクセスする。それ故、電子回路を交換した時に
校正作業を省ける。
るとかシールドを特定に保持する従来の方式の代わり
に、密閉円管３に固定連結する絶縁体１４に電流導体９
を固定することにより、密閉円管９の内部で特定の電界
分布を維持できる。これは測定電極１１から出力される
電圧に比例する信号の精度にとって非常に重要である。
ネジ１２，１７，１８やシールド２１，２２を確実にす
ることにより、測定装置の高圧の印加する部分を作製し
た後にもこの電界分布が変わらなくなる。測定装置内に
ある、ロゴウスキー巻線１０，測定電極１１のようなセ
ンサ、および、場合によって存在する、温度検出素子、
圧力検出素子、密度検出素子、放電センサおよびアーク
検知器のような他のセンサを校正できる。そして、この
時に求まった校正値や、例えば温度におる測定値のずれ
を把握する補償曲線のような他の特性量は、密閉円管３
の絶縁ガスを満たした内部空間の外に配置されている測
定装置の電子評価装置２３の記入していないデータ記憶
器（例えばＰＲＯＭ）に保管される。このデータ記憶器
も充填または封印で許されない操作に対して保護され、
ただ評価装置２３の電子回路のみ扱える。評価装置２３
の電子回路に欠陥があると、交換後に評価装置に新たに
採用された電子回路はＰＲＯＭに保管されているデータ
に直接アクセスする。それ故、電子回路を交換した時に
校正作業を省ける。
【００１２】図１の測定装置に示す電流導体９は、図２
の測定装置から分かるように、中空に形成された部分１
９も有する。この部分１９は実際には密閉円管３の全長
にわたり延びているが、少なくとも測定電極１１を貫通
している。中空に形成された導体部分２０の内部には、
摺動接触子２４が設けてある。この摺動接触子の上には
短く形成された導体部分２０が軸方向に摺動可能に導電
的に支承されている。導体部分１９の両端を丸く形成す
ると、シールド２１，２２を節約できる。
の測定装置から分かるように、中空に形成された部分１
９も有する。この部分１９は実際には密閉円管３の全長
にわたり延びているが、少なくとも測定電極１１を貫通
している。中空に形成された導体部分２０の内部には、
摺動接触子２４が設けてある。この摺動接触子の上には
短く形成された導体部分２０が軸方向に摺動可能に導電
的に支承されている。導体部分１９の両端を丸く形成す
ると、シールド２１，２２を節約できる。
【００１３】図１あるいは図２の測定装置は、挟持ネジ
２５によりフランジ１と円管部分４を、およびフランジ
２と円管部分５を挟持して（図面に示していないＯリン
グで）ガス気密状態にして金属密閉部に組み込まれてい
る。ロゴウスキー巻線１０と測定電極１１の出力はシー
ルドされた測定ケーブルとハウジングの貫通部を介して
二部品の金属ハウジングに取り付けた評価装置２３に導
入され、ハウジングの貫通部は測定電極１１に接続する
測定ケーブルに対してガス気密状態に形成されている。
他の評価装置２３′は他の金属ハウジング内に設けてあ
る。評価装置２３は主にロゴウスキー巻線１０の出力信
号を処理するためにあり、評価装置２３′は主に測定電
極１１の出力信号を処理するためにある。ロゴウスキー
巻線１０の出力信号は評価装置２３′にも、逆に測定電
極１１の出力信号を評価装置２３に導入できる。評価装
置２３は評価装置２３′の役目も引き受け、評価装置２
３′は評価装置２３の役目を引き受ける。両方の評価装
置２３と２３′は同期して動作させることもできる。こ
のような測定装置は特に大きな冗長性を持っている。何
故なら、評価装置の一方が故障した場合、未だ動作して
いる評価装置がセンサ出力信号を更に処理するからであ
る。
２５によりフランジ１と円管部分４を、およびフランジ
２と円管部分５を挟持して（図面に示していないＯリン
グで）ガス気密状態にして金属密閉部に組み込まれてい
る。ロゴウスキー巻線１０と測定電極１１の出力はシー
ルドされた測定ケーブルとハウジングの貫通部を介して
二部品の金属ハウジングに取り付けた評価装置２３に導
入され、ハウジングの貫通部は測定電極１１に接続する
測定ケーブルに対してガス気密状態に形成されている。
他の評価装置２３′は他の金属ハウジング内に設けてあ
る。評価装置２３は主にロゴウスキー巻線１０の出力信
号を処理するためにあり、評価装置２３′は主に測定電
極１１の出力信号を処理するためにある。ロゴウスキー
巻線１０の出力信号は評価装置２３′にも、逆に測定電
極１１の出力信号を評価装置２３に導入できる。評価装
置２３は評価装置２３′の役目も引き受け、評価装置２
３′は評価装置２３の役目を引き受ける。両方の評価装
置２３と２３′は同期して動作させることもできる。こ
のような測定装置は特に大きな冗長性を持っている。何
故なら、評価装置の一方が故障した場合、未だ動作して
いる評価装置がセンサ出力信号を更に処理するからであ
る。
【００１４】金属ハウジングの一方の部分は密閉円管３
の外面に成形された金属中空フランジ２６とこの中空フ
ランジで縁を囲まれた密閉円管３の領域によって形成さ
れている。他方の部分は槽状に深くされたハウジング部
材２７である。この部材は密閉円管３の金属製の中空フ
ランジ２６のところで槽の開口を仕切る縁部分に固定さ
れている。この金属ハウジングには評価装置２３が電磁
的および機械的な作用に対して保護されるように導入さ
れている。センサと評価装置２３の間の長い伝送経路や
それにより生じる擾乱をなくしているため、処理速度と
測定精度が著しく向上する。
の外面に成形された金属中空フランジ２６とこの中空フ
ランジで縁を囲まれた密閉円管３の領域によって形成さ
れている。他方の部分は槽状に深くされたハウジング部
材２７である。この部材は密閉円管３の金属製の中空フ
ランジ２６のところで槽の開口を仕切る縁部分に固定さ
れている。この金属ハウジングには評価装置２３が電磁
的および機械的な作用に対して保護されるように導入さ
れている。センサと評価装置２３の間の長い伝送経路や
それにより生じる擾乱をなくしているため、処理速度と
測定精度が著しく向上する。
【００１５】センサの出力信号を金属ハウジング内に堂
中するシールド測定ケーブルは、金属ハウジングの内部
に配設されているコネクター装置２８や２８′に通じて
いる。コネクター装置２８や２８′は差し込み方向に対
して垂直に進む密閉円管３の縁取り領域の平坦な載置面
内で浮上して支承されるプラグ部分を有する。このプラ
グ部分は図３でコネクター装置２８′に対して示してあ
る。このプラグ部分には、アングル状に形成され、Ｚ字
状のアングル輪郭を有するバネ条片２９がある。平坦な
載置面内に導入されるＺ字状のアングルの下の脚部は密
閉円管に保持されているネジ３０により浮かんだ状態で
支承されている。Ｚ字のＬ字状にされた中間の脚部は測
定ケーブルのプラグ接点に導電接続するカップリング部
品３１を担持する。中間の脚部に置かれるＺ字の上脚部
はカップリング部品３１に接続するカップリング部品３
２を担持する。このカップリング部品３２は図４から分
かる評価装置２３のプラグ４５に作用する。カップリン
グ部品３１のプラグ接点は長い導体片を介してプラグ接
点３３に接続している。このプラグ接点３３は隣の金属
ハウジング内でコネクター装置２８のバネ条片の上に配
設されているカップリング部品に作用する。
中するシールド測定ケーブルは、金属ハウジングの内部
に配設されているコネクター装置２８や２８′に通じて
いる。コネクター装置２８や２８′は差し込み方向に対
して垂直に進む密閉円管３の縁取り領域の平坦な載置面
内で浮上して支承されるプラグ部分を有する。このプラ
グ部分は図３でコネクター装置２８′に対して示してあ
る。このプラグ部分には、アングル状に形成され、Ｚ字
状のアングル輪郭を有するバネ条片２９がある。平坦な
載置面内に導入されるＺ字状のアングルの下の脚部は密
閉円管に保持されているネジ３０により浮かんだ状態で
支承されている。Ｚ字のＬ字状にされた中間の脚部は測
定ケーブルのプラグ接点に導電接続するカップリング部
品３１を担持する。中間の脚部に置かれるＺ字の上脚部
はカップリング部品３１に接続するカップリング部品３
２を担持する。このカップリング部品３２は図４から分
かる評価装置２３のプラグ４５に作用する。カップリン
グ部品３１のプラグ接点は長い導体片を介してプラグ接
点３３に接続している。このプラグ接点３３は隣の金属
ハウジング内でコネクター装置２８のバネ条片の上に配
設されているカップリング部品に作用する。
【００１６】この代わりに、Ｚ字の中間の脚部を比較的
短く形成してもよい。この時、カップリング部品３１は
Ｚ字の上脚部の下側に取り付け、カップリング部品３２
に直接接続する。図４と図５により、評価装置２３や２
３′を含む金属ハウジングの構造と配置が分かる。中空
フランジ２６はフランジ開口の周りに導入された平坦な
接触面３４（図４）を有する。この接触面３４は槽の開
口の周りに通じる槽の縁部分の平坦な接触面３５（図
５）に電流接続して作用する。実質上中空フランジ２６
とハウジング部材２７によって形成される金属ハウジン
グの部分はこのように導電接続し、評価装置に対するフ
ァラデーケージを形成する。リング状に閉じた二つの接
触面は中空フランジ２６と槽の縁部分の間に挟持された
少なくとも一つのＯリング３６で取り囲まれている。こ
うして、両方のハウジング部品を実用上ガス気密にして
接続でき、同時に外部から侵入する有害物質に対して両
方の接触面３４と３５を保護できる。
短く形成してもよい。この時、カップリング部品３１は
Ｚ字の上脚部の下側に取り付け、カップリング部品３２
に直接接続する。図４と図５により、評価装置２３や２
３′を含む金属ハウジングの構造と配置が分かる。中空
フランジ２６はフランジ開口の周りに導入された平坦な
接触面３４（図４）を有する。この接触面３４は槽の開
口の周りに通じる槽の縁部分の平坦な接触面３５（図
５）に電流接続して作用する。実質上中空フランジ２６
とハウジング部材２７によって形成される金属ハウジン
グの部分はこのように導電接続し、評価装置に対するフ
ァラデーケージを形成する。リング状に閉じた二つの接
触面は中空フランジ２６と槽の縁部分の間に挟持された
少なくとも一つのＯリング３６で取り囲まれている。こ
うして、両方のハウジング部品を実用上ガス気密にして
接続でき、同時に外部から侵入する有害物質に対して両
方の接触面３４と３５を保護できる。
【００１７】ハウジング部材２７の対向する内面には、
槽の縁部分から槽の底に向けて延びるそれぞれ少なくと
も一つの溝３７または３８が成形されている（図５）。
この溝は、コネクター装置２８または２８′の一つまた
はそれ以上のプラグ接点と導電接続する評価装置の印刷
基板３９の一方の縁部分を収納するために使用される。
溝３７あるいは３８は大きめに仕上げてあり、印刷基板
３９の縁部分に装着される付加的な接触バネ４０を受け
入れる。接触バネに接続する印刷基板３９のパターン導
線は金属ハウジングの電位で導入されている。印刷基板
３９上にある電子部品は接触バネ４０と電流接続するカ
バー４１で電磁シールドされる。
槽の縁部分から槽の底に向けて延びるそれぞれ少なくと
も一つの溝３７または３８が成形されている（図５）。
この溝は、コネクター装置２８または２８′の一つまた
はそれ以上のプラグ接点と導電接続する評価装置の印刷
基板３９の一方の縁部分を収納するために使用される。
溝３７あるいは３８は大きめに仕上げてあり、印刷基板
３９の縁部分に装着される付加的な接触バネ４０を受け
入れる。接触バネに接続する印刷基板３９のパターン導
線は金属ハウジングの電位で導入されている。印刷基板
３９上にある電子部品は接触バネ４０と電流接続するカ
バー４１で電磁シールドされる。
【００１８】槽状のハウジング部材２７には、内部およ
び／または外部の冷却リブ４２が形成されている。内部
の冷却リブは電子部品から放出される熱を取り込む。こ
の熱は外部に案内され、外部の冷却リブから周囲に排出
される。内部の冷却リブは他の役目も満たす。図５から
分かるように、隣接配置された二つの冷却リブ４２の間
には、板状に形成され、二つの電子部品の間に配置され
ている評価装置の電磁シールド４４の縁部分と接触バネ
４３が配設されている。このシールド４４は隣接する電
子部品の間のデンジバリヤーとして働く。
び／または外部の冷却リブ４２が形成されている。内部
の冷却リブは電子部品から放出される熱を取り込む。こ
の熱は外部に案内され、外部の冷却リブから周囲に排出
される。内部の冷却リブは他の役目も満たす。図５から
分かるように、隣接配置された二つの冷却リブ４２の間
には、板状に形成され、二つの電子部品の間に配置され
ている評価装置の電磁シールド４４の縁部分と接触バネ
４３が配設されている。このシールド４４は隣接する電
子部品の間のデンジバリヤーとして働く。
【００１９】槽の開口は電磁シールドされたカバー板
と、カバー板の開口を通して導入されたプラグ４５によ
り閉ざされている。このプラグ４５はカップリング部品
３２と作用するプラグ接点を担持する。ハウジング部材
２７には、槽の縁部分から突出し、中空フランジ２６の
フランジ開口を貫通するカラー４６がある。このカラー
４６は更にプラグ４５を越えて突出し、中空フランジ２
６の突出部４７と作用する材料切欠部４８を有する（図
４）。
と、カバー板の開口を通して導入されたプラグ４５によ
り閉ざされている。このプラグ４５はカップリング部品
３２と作用するプラグ接点を担持する。ハウジング部材
２７には、槽の縁部分から突出し、中空フランジ２６の
フランジ開口を貫通するカラー４６がある。このカラー
４６は更にプラグ４５を越えて突出し、中空フランジ２
６の突出部４７と作用する材料切欠部４８を有する（図
４）。
【００２０】このカラー４６は以下の機能を満たす。つ
まり、測定装置を組み立てる場合、カラーはハウジング
部材２７を中空フランジ２６に導く。その場合、材料切
欠部４８と符号で協働する突出部４７は、ハウジング部
材２７とプラグ４７がカップリング部品３２の中へ正し
い位置で導入されることを保証する。従って、例えば、
ロゴウスキー巻線１１の一つの出力信号が処理に不適当
な電子部品に誤ったコネクター接続で評価装置に導入さ
れることを排除する。カラー４６はプラグ４５の上に突
出しているので、プラグムを組み立てる時に中空フラン
ジの一部に接触することがなく、損傷を受けることもな
い。
まり、測定装置を組み立てる場合、カラーはハウジング
部材２７を中空フランジ２６に導く。その場合、材料切
欠部４８と符号で協働する突出部４７は、ハウジング部
材２７とプラグ４７がカップリング部品３２の中へ正し
い位置で導入されることを保証する。従って、例えば、
ロゴウスキー巻線１１の一つの出力信号が処理に不適当
な電子部品に誤ったコネクター接続で評価装置に導入さ
れることを排除する。カラー４６はプラグ４５の上に突
出しているので、プラグムを組み立てる時に中空フラン
ジの一部に接触することがなく、損傷を受けることもな
い。
【００２１】組立時にバネ条片２９が浮かんだ状態で支
承されていると有利である。カップリング部品３２とプ
ラグ４５の避けてはならい位置ずれは、こうして特に簡
単に補償できる。図４から明らかなように、ハウジング
部材２７のところにはプラグ４９が装着されている。こ
のプラグ４９は、ハウジング部材２７の壁を通して導入
され、評価装置２３または２３′に接続するカップリン
グ部品と協働する。このように形成されたコネクター接
続により、評価装置２３または２３′は主に乱れのない
光導体を介して上位の制御系と交信し、評価装置２３ま
たは２３′には導線接続により同時に電力も供給され
る。この交信は何よりも電流、電圧、温度、圧力あるい
は密度のデジタル化された測定値を制御系に伝送する
が、制御系内で形成された情報を評価装置２３または２
３′に伝送することも使用される。
承されていると有利である。カップリング部品３２とプ
ラグ４５の避けてはならい位置ずれは、こうして特に簡
単に補償できる。図４から明らかなように、ハウジング
部材２７のところにはプラグ４９が装着されている。こ
のプラグ４９は、ハウジング部材２７の壁を通して導入
され、評価装置２３または２３′に接続するカップリン
グ部品と協働する。このように形成されたコネクター接
続により、評価装置２３または２３′は主に乱れのない
光導体を介して上位の制御系と交信し、評価装置２３ま
たは２３′には導線接続により同時に電力も供給され
る。この交信は何よりも電流、電圧、温度、圧力あるい
は密度のデジタル化された測定値を制御系に伝送する
が、制御系内で形成された情報を評価装置２３または２
３′に伝送することも使用される。
【００２２】
【発明の効果】以上、説明したように、金属密閉部の密
閉円管に配置されロゴウスキー巻線および測定電極とし
て形成されたセンサを備えているこの発明の測定装置
は、測定精度が高く、動作信頼性の高い点で優れてい
る。この発明による測定装置では、電流導体が密閉円管
上に固定支持されている絶縁体に固定連結されている。
バネ接触子の上で電流導体を浮かせて保持する通常の方
法や、導体のシールドを特定に保持することがなくて
も、密閉円管の内部に特定の電界分布を維持できる。こ
れは、測定電極から出力される電圧に比例する信号の精
度に対して決定的に重要である。測定装置から出力され
る測定値は、制御、測定、保護および電力計算のような
種々の役目を解決するために利用される。それ故、この
ために今まで必要であった多数のセンサを著しく低減で
きる。
閉円管に配置されロゴウスキー巻線および測定電極とし
て形成されたセンサを備えているこの発明の測定装置
は、測定精度が高く、動作信頼性の高い点で優れてい
る。この発明による測定装置では、電流導体が密閉円管
上に固定支持されている絶縁体に固定連結されている。
バネ接触子の上で電流導体を浮かせて保持する通常の方
法や、導体のシールドを特定に保持することがなくて
も、密閉円管の内部に特定の電界分布を維持できる。こ
れは、測定電極から出力される電圧に比例する信号の精
度に対して決定的に重要である。測定装置から出力され
る測定値は、制御、測定、保護および電力計算のような
種々の役目を解決するために利用される。それ故、この
ために今まで必要であった多数のセンサを著しく低減で
きる。
【図１】 密閉円管、円管内部に配置さた電流を流す導
体、円管内部に配置されロゴウスキー巻線や絶縁測定電
極として形成されたセンサ、電子評価装置を含む二部品
の金属ハウジングを備えたこの発明の測定装置の第一実
施例の縦断面図、
体、円管内部に配置されロゴウスキー巻線や絶縁測定電
極として形成されたセンサ、電子評価装置を含む二部品
の金属ハウジングを備えたこの発明の測定装置の第一実
施例の縦断面図、
【図２】 第一実施例とは僅かに異なるこの発明の測定
装置の第二実施例の縦断面図、
装置の第二実施例の縦断面図、
【図３】 センサの出力端を電子評価装置に接続するた
め金属ハウジング内に配置されたコネクタ装置のバネ条
片で形成された部分の側面図、
め金属ハウジング内に配置されたコネクタ装置のバネ条
片で形成された部分の側面図、
【図４】 図１または図２の測定装置の金属ハウジング
を含む部分を右から見た側面図、
を含む部分を右から見た側面図、
【図５】 図１または図２の測定装置内に含まれる金属
ハウジングの槽状のハウジング部材で形成された部分の
下面図。
ハウジングの槽状のハウジング部材で形成された部分の
下面図。
１，２ フランジ ３ 密閉円管 ４，５ 円管部分 ６，１２，１７，１８，２５，３０ ネジ ７ 密閉リング ８ 軸 ９ 電流導体 １０ ロゴウスキー巻線 １１ 測定電極 １３ 鋳造部材 １４ 絶縁体 １５ 支持リング １６ 保持リング １９，２０ 導体部分 ２１，２２，４１，４４ シールド ２３，２３′ 評価装置 ２４ 摺動接触子 ２６ 中空フランジ ２７ ハウジング部材 ２８，２８′ コネクター装置 ２９ バネ条片 ３１，３２ カップリング部品 ３３ プラグ接点 ３４，３５ 接触面 ３６ Ｏリング ３７，３８ 溝 ３９ 印刷基板 ４０，４３ 接触バネ ４２ 冷却リブ ４５，４９ プラグ ４６ カラー ４７ 突出部 ４８ 材料切欠部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 アンジエイ・カチコフスキー スイス国、5403 ヴユーレンリンゲン、シ ヤイデークヴエーク、11
Claims (10)
- 【請求項１】 密閉円管（３）を貫通する電流の流れる
導体（９）の電流を検出するため絶縁ガスを満たした金
属密閉部の密閉円管（３）の中に配設された少なくとも
一つのロゴウスキー巻線（１０）と、導体（９）の電圧
を検出するためこの導体（９）を取り囲む少なくとも一
つの測定電極（１１）と、ロゴウスキー巻線（１０）お
よび測定電極（１１）からの出力信号を処理する少なく
とも一つの電子評価装置（２３，２３′）とを備え、金
属で密閉されガス絶縁された高電圧設備の測定装置にお
いて、電流導体（９）が密閉円管（３）に固定された絶
縁体（１４）の電流の流れる鋳造部材（１３）に固定連
結していることを特徴とする測定装置。 - 【請求項２】 電流導体（９）は少なくとも二部品で形
成され、電流導体（９）の第一部分（１９）が円管の軸
（８）の方向に案内されるネジ（１２）により鋳造部材
（１３）に固定されていることを特徴とする請求項１に
記載の測定装置。 - 【請求項３】 前記第一部分（１９）は中空に形成さ
れ、内部に少なくとも一つの摺動接触子（２４）を有
し、この摺動接触子（２４）の上で第二部分（２０）が
円管の軸（８）の方向に摺動可能に導電接触して支承さ
れていることを特徴とする請求項２に記載の測定装置。 - 【請求項４】 電流導体（９）のところに更に設けてあ
るシールド（２１，２２）はこの導体（９）にネジ止め
されていることを特徴とする請求項１〜３の何れか１項
に記載の測定装置。 - 【請求項５】 絶縁体（１４）はこの絶縁体（１４）に
対して軸方向に案内される保持リング（１６）の助けに
より、ネジ（１７）で密閉円管（３）のところに固定さ
れていることを特徴とする請求項１〜４の何れか１項に
記載の測定装置。 - 【請求項６】 ネジ（１２，１７）は封印あるいは充填
により許されない操作に対して保護されていることを特
徴とする請求項２〜５の何れか１項に記載の測定装置。 - 【請求項７】 ロゴウスキー巻線（１０）と測定電極
（１１）を含むセンサ、および局部放電や、密度、温度
および圧力のようなガスの特性を検出するために場合に
よって設けた他のセンサの特性量や校正データは評価装
置（２３，２３′）から呼び出せるデータ記憶器に保管
されることを特徴とする請求項１〜６の何れか１項に記
載の測定装置。 - 【請求項８】 データ記憶器は封印あるいは充填により
許されない操作に対して保護された状態で金属ハウジン
グの内部に配置されていることを特徴とする請求項７に
記載の測定装置。 - 【請求項９】 少なくとも一つの評価装置（２３）の外
に、少なくとも一つの他の評価装置（２３′）を設け、
この他の評価装置（２３′）は前記少なくとも一つの評
価装置（２３）が故障した時、この評価装置の役目を引
き受けることを特徴とする請求項１〜８の何れか１項に
記載の測定装置。 - 【請求項１０】 評価装置（２３，２３′）は塵が侵入
しないように形成された二部品の金属ハウジング内に配
置され、このハウジングの一方の部品は密閉円管（３）
の外面に経営された金属中空フランジ（２６）と、密閉
円管（３）の前記フランジ（２６）により縁取りされる
領域とで形成され、他方の部品は槽状に深まっているハ
ウジング部材（２７）であり、このハウジング部材が槽
の開口を仕切る縁部分を密閉円管（３）の金属製の中空
フランジ（２６）のところで固定することを特徴とする
請求項１〜９の何れか１項に記載の測定装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE19634236 | 1996-08-23 | ||
| DE19634236:8 | 1996-08-23 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10153624A true JPH10153624A (ja) | 1998-06-09 |
Family
ID=7803584
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9226089A Pending JPH10153624A (ja) | 1996-08-23 | 1997-08-22 | 金属で密閉されガス絶縁された高電圧設備の測定装置 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5917316A (ja) |
| EP (1) | EP0825447B1 (ja) |
| JP (1) | JPH10153624A (ja) |
| DE (1) | DE59712933D1 (ja) |
Families Citing this family (15)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0878042B1 (de) * | 1996-01-31 | 1999-10-27 | Siemens Aktiengesellschaft | Metallgekapselte schaltanlage mit teilentladungserfassung |
| DE19741417B4 (de) * | 1997-09-19 | 2004-02-26 | Klaus Bruchmann | Strommessgerät mit Hallsensor |
| US6420879B2 (en) * | 1998-02-02 | 2002-07-16 | Massachusetts Institute Of Technology | System and method for measurement of partial discharge signals in high voltage apparatus |
| AUPP195898A0 (en) * | 1998-02-23 | 1998-03-19 | University Of Sydney, The | High voltage power monitoring apparatus |
| JP3774604B2 (ja) * | 1999-12-27 | 2006-05-17 | 三菱電機株式会社 | ガス絶縁開閉装置 |
| US6380725B1 (en) | 2000-02-15 | 2002-04-30 | Nxtphase Corporation | Voltage sensor |
| US6760206B2 (en) | 2001-03-16 | 2004-07-06 | Cooper Industries, Inc. | Current sensor supporting structure |
| US7227441B2 (en) * | 2005-02-04 | 2007-06-05 | Schweitzer Engineering Laboratories, Inc. | Precision Rogowski coil and method for manufacturing same |
| US7227442B2 (en) * | 2005-04-01 | 2007-06-05 | Schweitzer Engineering Laboratories, Inc. | Precision printed circuit board based rogowski coil and method for manufacturing same |
| US7545138B2 (en) * | 2006-07-06 | 2009-06-09 | Schweitzer Engineering Laboratories, Inc. | Precision, temperature-compensated, shielded current measurement device |
| US8928337B2 (en) | 2012-01-27 | 2015-01-06 | Schweitzer Engineering Laboratories, Inc. | Device for measuring electrical current and method of manufacturing the same |
| CN104218484B (zh) * | 2014-09-10 | 2019-03-01 | 国家电网公司 | 三柱式绝缘装置 |
| US10928436B2 (en) * | 2017-01-30 | 2021-02-23 | General Electric Company | Evaluation of phase-resolved partial discharge |
| DE102020212350A1 (de) | 2020-09-30 | 2022-03-31 | Siemens Energy Global GmbH & Co. KG | Gekapseltes Hochspannungsgerät und Stromwandler für das gekapselte Hochspannungsgerät |
| US11617269B2 (en) | 2021-07-20 | 2023-03-28 | Schweitzer Engineering Laboratories, Inc. | Current measuring device for an electric power protection system |
Family Cites Families (16)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE1166359B (de) * | 1962-04-13 | 1964-03-26 | Messwandler Bau Gmbh | Ringkernstromwandler |
| DE1638548A1 (de) * | 1967-02-06 | 1970-08-13 | Siemens Ag | Hochspannungsstromwandler |
| JPS4970183A (ja) * | 1972-11-10 | 1974-07-06 | ||
| DE2409990C2 (de) * | 1974-02-27 | 1982-11-25 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Meßwandler für Hochspannungsschaltanlagen mit Metallkapselung |
| CH627023A5 (ja) * | 1978-03-09 | 1981-12-15 | Bbc Brown Boveri & Cie | |
| DE3544508A1 (de) * | 1985-12-17 | 1987-06-19 | Ulrich Dipl Ing Adolph | Kombinationswandler zur gleichzeitigen messung von strom und spannung an rohrummantelten leitern |
| DE3712190A1 (de) * | 1987-04-10 | 1988-10-27 | Bbc Brown Boveri & Cie | Elektrischer wandler |
| DE4101859C1 (ja) * | 1991-01-23 | 1992-04-30 | Abb Patent Gmbh, 6800 Mannheim, De | |
| CH682190A5 (ja) * | 1991-04-22 | 1993-07-30 | Asea Brown Boveri | |
| DE4121654A1 (de) * | 1991-06-29 | 1993-01-07 | Asea Brown Boveri | Kombinierter strom- und spannungswandler fuer eine metallgekapselte gasisolierte hochspannungsanlage |
| DE4137865A1 (de) * | 1991-11-11 | 1993-05-13 | Siemens Ag | Hochspannungsmesseinrichtung |
| DE4210370A1 (de) * | 1992-03-30 | 1993-10-07 | Abb Patent Gmbh | Hochspannungsschaltfeld |
| DE9217807U1 (de) * | 1992-12-24 | 1993-04-08 | Kommanditgesellschaft Ritz Messwandler GmbH & Co, 20251 Hamburg | Ringkernstromwandler |
| FR2712423B1 (fr) * | 1993-11-08 | 1996-02-09 | Gec Alsthom T & D Sa | Bobine de Rogowski utilisable dans une installation électrique avec enveloppe métallique à la terre et procédé de fabrication d'une telle bobine. |
| DE4429959A1 (de) * | 1994-08-24 | 1996-02-29 | Abb Management Ag | Stromwandler für eine metallgekapselte gasisolierte Hochspannungsanlage |
| US5574378A (en) * | 1994-12-15 | 1996-11-12 | Square D Company | Insulation monitoring system for insulated high voltage apparatus |
-
1997
- 1997-06-24 EP EP97810402A patent/EP0825447B1/de not_active Expired - Lifetime
- 1997-06-24 DE DE59712933T patent/DE59712933D1/de not_active Expired - Lifetime
- 1997-07-08 US US08/889,573 patent/US5917316A/en not_active Expired - Lifetime
- 1997-08-22 JP JP9226089A patent/JPH10153624A/ja active Pending
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0825447A2 (de) | 1998-02-25 |
| US5917316A (en) | 1999-06-29 |
| EP0825447B1 (de) | 2008-04-02 |
| DE59712933D1 (de) | 2008-05-15 |
| EP0825447A3 (de) | 1999-12-29 |
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