JPH10144843A - Dam bar repair cutting method and device - Google Patents

Dam bar repair cutting method and device

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JPH10144843A
JPH10144843A JP8293026A JP29302696A JPH10144843A JP H10144843 A JPH10144843 A JP H10144843A JP 8293026 A JP8293026 A JP 8293026A JP 29302696 A JP29302696 A JP 29302696A JP H10144843 A JPH10144843 A JP H10144843A
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JP
Japan
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dam bar
lead frame
detection
uncut
cutting
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Pending
Application number
JP8293026A
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Japanese (ja)
Inventor
Naoki Mitsuyanagi
直毅 三柳
Yoshiaki Shimomura
義昭 下村
Shinya Okumura
信也 奥村
Shigeyuki Sakurai
茂行 桜井
Yasushi Minomoto
泰 美野本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Construction Machinery Co Ltd
Original Assignee
Hitachi Construction Machinery Co Ltd
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To enable uncut dam bar in various kinds of lead frames to be repair- cut in simple procedures with high precision in the case of repair-cutting the uncut dam bar even if the lead frame shape and the lead frame fixed position are hardly reproduced. SOLUTION: The distance of the material of a lead pin 4 along a locus L1 (data on the lead frame shape after dam bar cutting off) is detected using detecting beams so as to compare the detection results with the distance of the material of the lead pin 4 in the case the dam bar cutting off step is normally performed for detecting the uncut dam bar 3 according to the comparison results further to control the oscillation of the laser beams according to the detection results for irradiating the uncut dam bar 3 with the laser beams to be repair-cut.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、半導体チップ及び
リードフレームを樹脂で封止した半導体装置(ICパッ
ケージ)におけるダムバーの切断に係わり、特にそのダ
ムバー切断工程後において未切断状態のダムバーを補修
切断するダムバー補修切断方法及びその装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to cutting of a dam bar in a semiconductor device (IC package) in which a semiconductor chip and a lead frame are sealed with a resin, and in particular, repairs and cuts an uncut dam bar after the dam bar cutting step. And a device for repairing and cutting dam bars.

【0002】[0002]

【従来の技術】半導体チップ及びリードフレームを樹脂
で封止した半導体装置(以下、適宜、ICパッケージと
いう)1においては、樹脂による封止後にそのリードフ
レームのダムバー2が切断される。このダムバー切断
は、一般的には、図8に示すように櫛状のプレス刃90
を持つ金型90aを使用し、プレス機等を用いて行って
いる。しかし、昨今のICパッケージのリードピッチの
微細化や多ピン化などにより、プレス切断では以下のよ
うな不可避の問題が発生する。
2. Description of the Related Art In a semiconductor device 1 in which a semiconductor chip and a lead frame are sealed with resin (hereinafter, appropriately referred to as an IC package), a dam bar 2 of the lead frame is cut after sealing with resin. This dam bar cutting is generally performed by using a comb-shaped press blade 90 as shown in FIG.
Is performed using a press or the like using a mold 90a having However, due to recent miniaturization of the lead pitch of the IC package and increase in the number of pins, the following inevitable problems occur in press cutting.

【0003】即ち、ICパッケージのリードピッチの微
細化により、プレス刃90の位置決め精度が厳しくなっ
ており、かつその厳しい位置決め精度が多ピン化された
ICパッケージ全体に亘って要求されている。また、リ
ードピッチの微細化に伴い、プレス刃90の厚さは薄く
なっている。従って、位置決めが不十分な場合には、図
9に示すように、プレス刃90(その位置を図中斜線で
示す)によってダムバー2を切断した端面の形状が左右
対称ではないので横方向に異常な荷重を受け、薄いプレ
ス刃90は容易に破損してしまう。ダムバー切断後に検
査を行う場合にはICパッケージ全てに対しては検査を
実施しないため、上記のようなプレス刃90が破損した
状態でも個々のパッケージに対してダムバー切断を続行
し、後ほど抜き取り検査が行われるまで未切断のダムバ
ー2が残ったままの製品を大量に生産してしまうことに
なる。
[0003] That is, as the lead pitch of the IC package becomes finer, the positioning accuracy of the press blade 90 becomes strict, and the strict positioning accuracy is demanded over the entire IC package having multiple pins. In addition, the thickness of the press blade 90 has been reduced with the miniaturization of the lead pitch. Therefore, when the positioning is insufficient, as shown in FIG. 9, the shape of the end face obtained by cutting the dam bar 2 by the press blade 90 (the position is indicated by oblique lines in the figure) is not symmetrical in the lateral direction. Under such a heavy load, the thin press blade 90 is easily broken. When the inspection is performed after the dam bar is cut, the inspection is not performed for all the IC packages. Therefore, even if the press blade 90 is damaged as described above, the dam bar is continuously cut for each package, and the sampling inspection is performed later. Until the operation is performed, the uncut dam bar 2 remains in a large amount of products.

【0004】このように未切断のダムバーを残したIC
パッケージは、未切断の場所に合った金型をその都度製
作すれば補修出来るが、コストや製作時間などがかかる
ことから、実質上は上記のような製品は不良品として廃
棄するケースが多い。
[0004] The IC leaving the uncut dam bar in this way
The package can be repaired by manufacturing a mold suitable for the uncut place each time, but since the cost and manufacturing time are required, the above-mentioned products are often discarded as defective products.

【0005】一方、レーザ加工は上記のような櫛状のプ
レス刃を持つ金型が不要で、設定された軌跡で加工を行
えるため、未切断のダムバーだけの選択的な加工を、低
コストで行うことができる。一般的なレーザ加工装置を
使用して、未切断のダムバー補修切断を行う時の装置構
成及び手順を、図10及び図11を参照しながら以下で
説明する。また、レーザ光の出力形態としては連続とパ
ルスとがあるが、微細な加工で熱影響が問題となるよう
な場合は、熱影響の少ないパルスレーザが使用されるこ
とが多いので、ここではパルスレーザ加工装置を使用す
る場合を中心に述べる。
On the other hand, laser processing does not require a die having a comb-shaped press blade as described above, and processing can be performed along a set locus. Therefore, selective processing of only uncut dam bars can be performed at low cost. It can be carried out. An apparatus configuration and a procedure for performing uncut dam bar repair cutting using a general laser processing apparatus will be described below with reference to FIGS. 10 and 11. The output form of the laser beam is continuous or pulsed. In the case where the thermal effect becomes a problem in fine processing, a pulsed laser with little thermal effect is often used. The description mainly focuses on the case where a laser processing apparatus is used.

【0006】従来のパルスレーザ加工装置は、図10に
その一例を示すように、レーザヘッド31、加工光学系
32、レーザ電源33、被加工物であるワーク40を搭
載し水平面内(XY平面内)に移動可能なXYテーブル
41、レーザヘッド31及び加工光学系32を上下方向
(Z軸方向)に移動させるZテーブル42、XYテーブ
ル41の水平面内の移動動作とZテーブル42の上下方
向の移動動作とパルスレーザ光の発振動作を自動または
手動で制御するメインコントローラ43を備える。な
お、レーザヘッド31およびレーザ電源33はレーザ発
振器30を構成する。
As shown in FIG. 10, a conventional pulse laser processing apparatus mounts a laser head 31, a processing optical system 32, a laser power supply 33, and a work 40 which is a work to be processed on a horizontal plane (XY plane). ), The Z table 42 for moving the laser head 31 and the processing optical system 32 in the vertical direction (Z-axis direction), and the movement of the XY table 41 in the horizontal plane and the vertical movement of the Z table 42. A main controller 43 for automatically or manually controlling the operation and the oscillation operation of the pulsed laser light is provided. The laser head 31 and the laser power supply 33 constitute a laser oscillator 30.

【0007】また、レーザ電源33は、レーザコントロ
ーラ33a、安定化電源部33b、コンデンサ部33c
及びスイッチ部33d、交流電源部33eを有する。レ
ーザコントローラ33aから指令された電圧値に従っ
て、交流電源部33eから供給された交流電流が安定化
電源部33bにより直流に変えられ、コンデンサ部33
cに供給され、コンデンサ部33cに蓄積された電荷が
スイッチ部33dを介してそのスイッチ部33dの所定
の開閉タイミングに基づきレーザヘッド31の励起ラン
プ31aに放電される。スイッチ部33dの開閉はレー
ザコントローラ33aからパルス幅及びパルス周波数を
指令するトリガ信号に従って行われる。以上のようにし
て、レーザヘッド31よりパルスレーザ光が射出され
る。
The laser power supply 33 includes a laser controller 33a, a stabilized power supply section 33b, and a capacitor section 33c.
And a switch section 33d and an AC power supply section 33e. According to the voltage value commanded from the laser controller 33a, the AC current supplied from the AC power supply unit 33e is changed to DC by the stabilized power supply unit 33b,
c, and the electric charge stored in the capacitor unit 33c is discharged to the excitation lamp 31a of the laser head 31 via the switch unit 33d based on a predetermined opening / closing timing of the switch unit 33d. The opening and closing of the switch unit 33d is performed in accordance with a trigger signal instructing a pulse width and a pulse frequency from the laser controller 33a. As described above, the pulse laser light is emitted from the laser head 31.

【0008】また、レーザヘッド31にはビームシャッ
タ31bが内蔵されており、このビームシャッタ31b
が開閉することによって、ワーク40へのパルスレーザ
光の照射を制御する。すなわちワーク40を加工する場
合にはビームシャッタ31bを開き、加工しない場合に
はビームシャッタ31bを閉じる。このビームシャッタ
31bの開閉動作時間は100〜300msec程度で
あり、その制御は前述のレーザコントローラ33aから
行うが、メインコントローラ43からレーザコントロー
ラ33aを介して行うことも可能である。
The laser head 31 has a built-in beam shutter 31b.
By opening and closing, the irradiation of the pulse laser light to the work 40 is controlled. That is, when processing the workpiece 40, the beam shutter 31b is opened, and when not processing, the beam shutter 31b is closed. The opening / closing operation time of the beam shutter 31b is about 100 to 300 msec. The control is performed by the laser controller 33a described above, but it can also be performed by the main controller 43 via the laser controller 33a.

【0009】上記のような装置を用いた未切断のダムバ
ー切断について説明する。図11(a)はICパッケー
ジを簡略化して示した平面図、図11(b)は図11
(a)のB部拡大図である。但し、図11(a)では主
に樹脂モールド部5の位置を示し、リードフレームの詳
細な構成は省略してある。さらに、X軸及びY軸を図の
ように設定する。図11(b)に示すように、ダムバー
2は、リードフレームの各々のピン(以下、適宜、リー
ドピンという)4を連結しており、樹脂(レジン)によ
る封止時に流出する樹脂をせき止める役割と、リードピ
ン4同士を補強する役割を有し、樹脂による封止過程の
後に除去される部分である。未切断のダムバー2をパル
ス状のレーザ光で切断する手順は、例えば次のようであ
る。
The cutting of the uncut dam bar using the above-described apparatus will be described. FIG. 11A is a plan view showing a simplified IC package, and FIG.
It is a B section enlarged view of (a). However, FIG. 11A mainly shows the position of the resin mold portion 5, and the detailed configuration of the lead frame is omitted. Further, the X axis and the Y axis are set as shown in the figure. As shown in FIG. 11 (b), the dam bar 2 connects each pin (hereinafter, appropriately referred to as a lead pin) 4 of the lead frame, and has a role of damming resin flowing out at the time of sealing with resin (resin). , Which serve to reinforce the lead pins 4 and are removed after the resin sealing process. The procedure for cutting the uncut dam bar 2 with a pulsed laser beam is, for example, as follows.

【0010】(1)ICパッケージのリードフレーム上
の基準点O(図11(a)参照)にレーザ光の照射位置
の位置合わせをマニュアル操作によって行う。この時、
XYテーブル41を移動させる。 (2)予め基準点Oからの距離を設計値に基づいて設定
しておいたプログラムを実行する。 (3)レーザ光の照射位置を基準点Oから未切断のダム
バー2の位置A0まで移動させる。 (4)ビームシャッタ31bを開いて、未切断のダムバ
ー2を切断する。 (5)ビームシャッタ31bを閉じる。 (6)レーザ光の照射位置を基準点Oまで戻す。
(1) A laser beam irradiation position is manually adjusted to a reference point O (see FIG. 11A) on a lead frame of an IC package. At this time,
The XY table 41 is moved. (2) Execute a program in which the distance from the reference point O is set in advance based on the design value. (3) The irradiation position of the laser beam is moved from the reference point O to the position A 0 of the uncut dam bar 2. (4) Open the beam shutter 31b and cut the uncut dam bar 2. (5) Close the beam shutter 31b. (6) Return the irradiation position of the laser beam to the reference point O.

【0011】複数のICパッケージに関して相対的に同
じ箇所に未切断のダムバー2がある場合には、上記
(2)〜(6)の手順を繰り返すことにより、ICパッ
ケージ単位或いはリードフレーム単位で未切断のダムバ
ー2を補修切断できる。
When there is an uncut dam bar 2 at a relatively same position with respect to a plurality of IC packages, the above-mentioned steps (2) to (6) are repeated to obtain an uncut dam bar 2 in units of IC packages or lead frames. Can be repaired and cut.

【0012】[0012]

【発明が解決しようとする課題】上記(2)〜(6)の
手順で未切断のダムバー2を補修切断する場合、基準点
Oと未切断のダムバー2の位置A0との距離の再現性が
十分ならば問題なく加工できる。しかし、リードピッチ
の微細化によって加工位置の精度は厳しくなっており、
またリードフレームはリードピッチの微細化と多ピン化
によりリードフレームの剛性が低くなるため、樹脂によ
る封止工程での熱応力により変形しやすく(一般的には
熱応力によりリードピッチが収縮する)、再現性も低く
なっている。
When the uncut dam bar 2 is repaired and cut by the above-mentioned procedures (2) to (6), the reproducibility of the distance between the reference point O and the position A 0 of the uncut dam bar 2 is improved. If it is enough, it can be processed without any problem. However, the precision of the processing position has become severe due to the miniaturization of the lead pitch,
In addition, the lead frame becomes less deformable due to thermal stress in the resin sealing process because the lead frame becomes less rigid due to finer lead pitch and more pins (generally, the lead pitch shrinks due to thermal stress). , The reproducibility is also low.

【0013】このように、加工位置の精度が厳しいにも
拘らず、ICパッケージにおけるリードフレームの寸法
の再現性が低くなるため、上記の(2)〜(6)の手順
を繰り返すと、レーザ光の照射位置がずれる可能性が大
きく(特に、図11(b)の場合にはX軸方向にずれ易
い)、本来加工してはいけないリードピン4を切断して
しまう可能性が高くなる。また、複数のICパッケージ
における各々のリードフレームについて未切断のダムバ
ーを切断するために、ICパッケージ(リードフレー
ム)を自動的に供給しながら補修切断を実施すると、供
給して固定する時の固定位置の誤差もさらに加わるた
め、加工すべきではないリードピン4を加工する可能性
が一層高くなる。
As described above, although the precision of the processing position is severe, the reproducibility of the dimensions of the lead frame in the IC package is low. Therefore, when the above procedures (2) to (6) are repeated, the laser light Is highly likely to shift (especially, in the case of FIG. 11B, easily shifts in the X-axis direction), and the possibility of cutting the lead pins 4 that should not be processed increases. In addition, in order to cut uncut dam bars for each lead frame in a plurality of IC packages, repair cutting is performed while automatically supplying the IC package (lead frame). In addition, the possibility of processing the lead pin 4 that should not be processed is further increased.

【0014】また、以上のようなダムバー切断装置を未
切断のダムバーを補修切断する専用の装置として使用す
る場合、リードフレームの種類が変わる毎に、その都
度、未切断のダムバー位置の測定作業や、補修切断に必
要なプログラムの編集などの面倒な作業が必要となる。
When the above-described dam bar cutting device is used as a dedicated device for repairing and cutting an uncut dam bar, every time the type of the lead frame changes, the work of measuring the position of the uncut dam bar and the like are performed each time. In addition, troublesome work such as editing a program necessary for repair cutting is required.

【0015】本発明の目的は、未切断のダムバーを補修
切断するに際し、リードフレーム形状の再現性や、リー
ドフレーム固定位置の再現性が低い場合にも、加工すべ
きでないリードピンを加工することなく、未切断のダム
バーを精度良く補修切断でき、しかも簡単な手順で多種
類のリードフレームにおける未切断のダムバーを補修切
断することができるダムバー補修切断方法及びその装置
を提供することである。
[0015] An object of the present invention is to repair and cut an uncut dam bar, even when the reproducibility of the lead frame shape and the reproducibility of the lead frame fixing position are low, without processing lead pins that should not be processed. Another object of the present invention is to provide a dam bar repair / cutting method and a device capable of repairing / cutting an uncut dam bar with high accuracy and repairing / cutting an uncut dam bar in various types of lead frames by a simple procedure.

【0016】[0016]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明によれば、半導体チップ及びリードフレーム
を樹脂で封止した半導体装置のダムバー切断工程後にお
ける未切断のダムバーの補修切断を、パルス状のレーザ
光照射によって行うダムバー補修切断方法において、前
記リードフレームにおけるダムバー切断後の位置に検出
光を照射しながら前記半導体装置をダムバーの連なる方
向に移動させ、前記リードフレームからの検出光の反射
光を基に検出信号を発生させ、その検出信号に基づい
て、前記検出光による検出位置でのリードフレーム材料
の存在距離に対応する半導体装置の移動量を計測し、計
測された前記半導体装置の移動量と前記ダムバーが正常
に切断されている場合のリードフレーム材料の存在距離
に対応する値とを比較し、計測された前記半導体装置の
移動量がダムバーが正常に切断されている場合のリード
フレーム材料の存在距離に対応する値よりも大きい場合
に前記検出光による検出位置に未切断のダムバーが存在
すると判断し、その未切断のダムバーにレーザ光が照射
されるよう前記レーザ光の発振を制御することを特徴と
するダムバー補修切断方法が提供される。
According to the present invention, there is provided a semiconductor device in which a semiconductor chip and a lead frame are sealed with a resin. In the dam bar repair cutting method performed by irradiating pulsed laser light, the semiconductor device is moved in a direction in which the dam bar is continuous while irradiating detection light to a position of the lead frame after dam bar cutting, and the detection light from the lead frame is detected. A detection signal is generated based on the reflected light, and based on the detection signal, a movement amount of the semiconductor device corresponding to an existing distance of the lead frame material at a detection position by the detection light is measured, and the measured semiconductor device is measured. And the value corresponding to the existing distance of the lead frame material when the dam bar is cut normally When the measured movement amount of the semiconductor device is larger than a value corresponding to the existing distance of the lead frame material when the dam bar is normally cut, if there is an uncut dam bar at the detection position by the detection light, A dam bar repair / cutting method is characterized in that the judgment is made and the oscillation of the laser beam is controlled so that the uncut dam bar is irradiated with the laser beam.

【0017】また、上記目的を達成するため、本発明に
よれば、パルス状のレーザ光を発振するレーザ発振器
と、そのレーザ光を被加工物まで誘導する加工光学系
と、前記被加工物を移動させその加工位置を決定する搬
送手段とを備え、半導体チップ及びリードフレームを樹
脂で封止した半導体装置のダムバー切断工程後における
未切断のダムバーの補修切断を行うダムバー補修切断装
置において、前記リードフレームのダムバー切断後の位
置に検出光を照射する検出光発生手段と、前記リードフ
レームからの前記検出光の反射光を入射させその検出結
果に応じた検出信号を発生する検出手段と、その検出手
段からの検出信号に基づき検出手段による検出位置での
リードフレーム材料の存在距離に対応する前記搬送手段
の移動量を計測する計測手段と、その計測手段で計測さ
れた移動量とダムバーが正常に切断されている場合のリ
ードフレーム材料の存在距離に対応する値とを比較する
比較手段と、その比較手段での比較に基づき前記計測手
段で計測された移動量がダムバーが正常に切断されてい
る場合のリードフレーム材料の存在距離に対応する値よ
りも大きい場合に前記検出手段による検出位置に未切断
のダムバーが存在すると判断してその未切断のダムバー
にレーザ光が照射されるよう前記レーザ光の発振を制御
する制御手段とを備えることを特徴とするダムバー補修
切断装置が提供される。
According to the present invention, there is provided a laser oscillator for oscillating a pulsed laser beam, a processing optical system for guiding the laser beam to a workpiece, and A transport device for moving and determining a processing position thereof, wherein the semiconductor chip and the lead frame are sealed with a resin. Detection light generating means for irradiating detection light to a position of the frame after dam bar cutting, detection means for emitting reflected light of the detection light from the lead frame and generating a detection signal in accordance with the detection result; For measuring the amount of movement of the transport means corresponding to the distance of the lead frame material at the position detected by the detection means based on the detection signal from the means. Means, a comparing means for comparing the movement amount measured by the measuring means with a value corresponding to the existing distance of the lead frame material when the dam bar is normally cut, and based on the comparison by the comparing means. When the movement amount measured by the measuring means is larger than the value corresponding to the existing distance of the lead frame material when the dam bar is normally cut, it is determined that there is an uncut dam bar at the detection position by the detecting means. And a control means for controlling the oscillation of the laser light so that the uncut dam bar is irradiated with the laser light.

【0018】上記のように構成した本発明においては、
リードフレームにおけるダムバー切断後の位置に検出光
を照射しながら半導体装置をダムバーの連なる方向に移
動させ、リードフレームからの検出光の反射光を基に検
出信号を発生させ、そして、この検出信号に基づいて、
検出光による検出位置でのリードフレーム材料の存在距
離に対応する半導体装置の移動量を計測する。ここで計
測された半導体装置の移動量は、ダムバー切断後のリー
ドフレーム形状の情報を含むことになり、例えばダムバ
ー切断工程後に未切断のダムバーが存在している場合に
は、その箇所におけるリードフレーム材料の存在距離が
ダムバーが正常に切断されている場合よりも長くなるは
ずである。そこで、ダムバーが正常に切断されている場
合のリードフレーム材料の存在距離に対応する値(設計
値に基づく値)を予め設定しておき、この値と、上述の
計測された半導体装置の移動量とを比較し、その計測さ
れた半導体装置の移動量が、ダムバーが正常に切断され
ている場合に対応する値よりも大きい場合には、前述の
検出光による検出位置に未切断のダムバーが存在すると
判断され、その未切断のダムバーにレーザ光が照射され
るようレーザ光の発振が制御される。
In the present invention configured as described above,
The semiconductor device is moved in the direction along the dam bar while irradiating the detection light to the position of the lead frame after the dam bar is cut, and a detection signal is generated based on the reflected light of the detection light from the lead frame. On the basis of,
The movement amount of the semiconductor device corresponding to the existing distance of the lead frame material at the detection position by the detection light is measured. The amount of movement of the semiconductor device measured here includes information on the shape of the lead frame after cutting the dam bar. For example, if there is an uncut dam bar after the dam bar cutting step, the lead frame at that location The distance of the material should be longer than if the dam bar were cut normally. Therefore, a value (a value based on the design value) corresponding to the existing distance of the lead frame material when the dam bar is normally cut is set in advance, and this value is compared with the measured movement amount of the semiconductor device. If the measured movement amount of the semiconductor device is larger than the value corresponding to the case where the dam bar is normally cut, there is an uncut dam bar at the detection position by the above-described detection light. Then, the oscillation of the laser beam is controlled so that the uncut dam bar is irradiated with the laser beam.

【0019】このように、ダムバーの連なる方向に沿っ
たリードフレーム材料の存在距離、つまりダムバー切断
後のリードフレーム形状の情報をもとに未切断のダムバ
ーの存在を確実に検出し、それに基づいてレーザ光の発
振を制御して未切断のダムバーにレーザ光を照射するた
め、リードフレームの情報に応じて未切断のダムバーを
確実にかつ精度良く補修切断することが可能となる。従
って、リードフレーム形状の再現性や、リードフレーム
固定位置の再現性が低い場合にでも、そのリードフレー
ム形状の情報に基づいて、切断すべき所望の位置の未切
断のダムバーが精度良く、確実かつ高速に切断され、加
工すべきでないリードピンが加工されることもない。
As described above, the existence of the uncut dam bar is reliably detected based on the existing distance of the lead frame material along the direction in which the dam bars are connected, that is, the information on the shape of the lead frame after the dam bar is cut, and based on the detected information. Since the laser beam is irradiated on the uncut dam bar by controlling the oscillation of the laser beam, the uncut dam bar can be repaired and cut reliably and accurately according to the information of the lead frame. Therefore, even when the reproducibility of the lead frame shape and the reproducibility of the fixed position of the lead frame are low, the uncut dam bar at the desired position to be cut is accurately, reliably and based on the information of the lead frame shape. It is cut at high speed, and lead pins that should not be processed are not processed.

【0020】しかも、リードフレームの種類が変わって
も、対象とする個々のリードフレーム形状の情報に基づ
き未切断のダムバーを補修切断可能であるため、リード
フレームの種類に応じた未切断のダムバー位置の測定作
業や、補修切断に必要なプログラムの編集などの面倒な
作業が必要なくなり、簡単な手順で多種類のリードフレ
ームにおける未切断のダムバーを補修切断することも可
能となる。
Moreover, even if the type of the lead frame is changed, the uncut dam bar can be repaired and cut based on the information of the target individual lead frame shape. This eliminates the need for troublesome work such as measurement work and editing of programs required for repair cutting, and it is also possible to repair and cut uncut dam bars in various types of lead frames by a simple procedure.

【0021】[0021]

【発明の実施の形態】本発明によるダムバー補修切断装
置及びその補修切断方法の一実施形態について、図1〜
図7により説明する。但し、以下では、おもに等間隔の
ピンを有する半導体装置(QFP型ICパッケージ)の
正規のダムバー切断工程後における未切断のダムバーの
補修切断について説明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS One embodiment of a repair / cutting device for a dam bar and a repair / cutting method thereof according to the present invention are shown in FIGS.
This will be described with reference to FIG. However, in the following, the repair cutting of the uncut dam bar after the regular dam bar cutting step of the semiconductor device (QFP type IC package) having pins at regular intervals will be described.

【0022】図1に示すように、本実施形態のダムバー
補修切断装置には、レーザヘッド11とレーザ電源13
とから構成されるレーザ発振器10、加工ヘッド12、
被加工物であるワーク1(ICパッケージ)を搭載し水
平面内(XY平面内)に移動させる搬送手段としてのX
Yテーブル21、レーザヘッド11及び加工ヘッド12
を上下方向(Z軸方向)に移動させるZテーブル22、
メインコントローラ23とトリガユニット24を有する
コントロールユニット25が備えられている。メインコ
ントローラ23は、XYテーブル21の水平面内の移動
動作とZテーブル22の上下方向の移動動作とレーザ発
振器10の発振動作を自動的に制御する。また、XYテ
ーブル21には、そのXYテーブル21の移動量を検出
するエンコーダ210が備えられている。
As shown in FIG. 1, a laser head 11 and a laser power supply 13
A laser oscillator 10, a processing head 12,
X as a transporting means for mounting a workpiece 1 (IC package) as a workpiece and moving it in a horizontal plane (XY plane)
Y table 21, laser head 11, and processing head 12
Table 22 for moving the table vertically (Z-axis direction),
A control unit 25 having a main controller 23 and a trigger unit 24 is provided. The main controller 23 automatically controls the movement of the XY table 21 in the horizontal plane, the movement of the Z table 22 in the vertical direction, and the oscillation of the laser oscillator 10. Further, the XY table 21 is provided with an encoder 210 for detecting a moving amount of the XY table 21.

【0023】レーザ電源13は、安定化電源部130、
コンデンサ部131、スイッチ部132、交流電源部1
33、及びレーザコントローラ26を有する。このレー
ザ電源13では、まず、交流電源部133より供給され
た交流電流が安定化電源部130に供給され、レーザコ
ントローラ26から指令された電圧値に従って直流に変
えられ、コンデンサ部131に供給される。コンデンサ
部131に上記電圧値で供給された電荷は、レーザコン
トローラ26からのトリガ信号TP2(後述する)によ
る所定のパルス幅に従うスイッチ部132の開閉動作に
より、レーザヘッド11に備えられた励起ランプ110
に供給される。このパルス状の電荷により上記励起ラン
プ110が発光し、これによりレーザ媒体が励起されパ
ルスレーザ光が射出される。
The laser power supply 13 includes a stabilized power supply 130,
Capacitor section 131, switch section 132, AC power supply section 1
33 and a laser controller 26. In the laser power supply 13, first, the AC current supplied from the AC power supply unit 133 is supplied to the stabilizing power supply unit 130, changed to DC according to the voltage value instructed by the laser controller 26, and supplied to the capacitor unit 131. . The charge supplied to the capacitor unit 131 at the above voltage value is supplied to the excitation lamp provided in the laser head 11 by opening and closing the switch unit 132 according to a predetermined pulse width according to a trigger signal TP 2 (described later) from the laser controller 26. 110
Supplied to The excitation lamp 110 emits light by the pulse-like charges, whereby the laser medium is excited and pulsed laser light is emitted.

【0024】図1に示すレーザヘッド11にはビームシ
ャッタ111が内蔵されている。このビームシャッタ1
11は、開閉することによってレーザ発振器10より放
出されるパルスレーザ光をON/OFFし、ワーク1へ
のレーザ光の照射を制御する。即ちワーク1を加工する
場合にはビームシャッタ111を開き、加工しない場合
にはビームシャッタ111を閉じる。またビームシャッ
タ111の開閉動作の制御は、レーザコントローラ26
から行うが、メインコントローラ23からレーザコント
ローラ26を介して行うことも可能である。
The laser head 11 shown in FIG. 1 has a built-in beam shutter 111. This beam shutter 1
Reference numeral 11 controls ON / OFF of the pulse laser light emitted from the laser oscillator 10 by opening and closing, and controls the irradiation of the work 1 with the laser light. That is, when processing the work 1, the beam shutter 111 is opened, and when not processing, the beam shutter 111 is closed. The opening and closing operation of the beam shutter 111 is controlled by the laser controller 26.
However, it is also possible to carry out from the main controller 23 through the laser controller 26.

【0025】また、図2に示すように、加工ヘッド12
内部には、レーザ光の波長に対し高い反射率特性を持つ
ダイクロミラー120、集光レンズ121が備えられて
おり、これらの構成は従来のレーザ加工装置の構成と同
様である。本実施形態では上記構成に検出光としてのレ
ーザ光(以下、単に検出光という)200を発生する検
出光源122、コリメータレンズ123、ハーフミラー
124、結像レンズ125、光検出器126から構成さ
れる検出光学系127が追加されている。上記検出光源
122としてはレーザダイオード(半導体レーザ)等の
レーザ光源が用いられており、この検出光学系127は
基本的にはCDプレーヤのディスク信号を読みとる光ピ
ックアップ部の光学系の構成に類似している。勿論、検
出光として使用されるレーザ光は、レーザ加工を行うた
めのレーザ光とは異なるものであることは言うまでもな
い。
Further, as shown in FIG.
A dichroic mirror 120 and a condenser lens 121 having high reflectance characteristics with respect to the wavelength of the laser light are provided therein, and these configurations are the same as those of a conventional laser processing apparatus. In the present embodiment, the above configuration includes a detection light source 122 that generates laser light (hereinafter simply referred to as detection light) 200 as detection light, a collimator lens 123, a half mirror 124, an imaging lens 125, and a photodetector 126. A detection optical system 127 is added. As the detection light source 122, a laser light source such as a laser diode (semiconductor laser) is used. This detection optical system 127 is basically similar in configuration to the optical system of an optical pickup unit that reads a disk signal of a CD player. ing. It goes without saying that the laser light used as the detection light is different from the laser light for performing the laser processing.

【0026】また、図3に示すように、トリガユニット
24には、コンパレータ241、演算部242が備えら
れている。このトリガユニット24においては、光検出
器126からの検出信号がコンパレータ241において
あるしきい値VTH(図6参照)で二値化されて矩形波信
号TP0が生成され、矩形波信号TP0が演算部242に
入力される。演算部242では、後述するように、矩形
波信号TP0の立ち下がり信号を基準に、エンコーダ2
10からの入力信号のパルス数をカウントし、予めメイ
ンコントローラ23に設定されていたカウント数N
P(図6参照)との比較を行い、この比較結果に基づい
てレーザコントローラ26にトリガー信号TP1を適宜
出力する。
As shown in FIG. 3, the trigger unit 24 includes a comparator 241 and a calculation unit 242. In this trigger unit 24, the detection signal from the photodetector 126 is the threshold V TH is binarized (see FIG. 6) a rectangular wave signal TP 0 in the comparator 241 is generated, the rectangular wave signal TP 0 Is input to the calculation unit 242. The arithmetic unit 242, as will be described later, based on the falling edge signal of the rectangular wave signal TP 0, the encoder 2
10, the number of pulses of the input signal from the main controller 23 is counted.
It makes a comparison between P (see FIG. 6), and outputs appropriate trigger signal TP 1 to the laser controller 26 based on the comparison result.

【0027】また、図4に示すように、レーザコントロ
ーラ26には、入出力部260、中央演算部261、ト
リガ回路262が備えられている。トリガ回路262
は、トリガユニット24からのトリガ信号TP1の立ち
上がりに同期してメインコントローラ23から中央演算
部261に指示されたパルス幅のトリガ信号TP2を生
成し、このトリガ信号TP2がスイッチ部132に入力
される。また、コンデンサ部131に供給される電荷の
電圧値は、入出力部260より中央演算部261に入力
され、中央演算部261から安定化電源部130に指示
される。これ以後は、前述したような過程に従ってレー
ザ光が発振する。
As shown in FIG. 4, the laser controller 26 includes an input / output unit 260, a central processing unit 261, and a trigger circuit 262. Trigger circuit 262
Generates a trigger signal TP 2 having a pulse width instructed from the main controller 23 to the central processing unit 261 in synchronization with the rise of the trigger signal TP 1 from the trigger unit 24, and this trigger signal TP 2 is transmitted to the switch unit 132. Is entered. The voltage value of the electric charge supplied to the capacitor unit 131 is input from the input / output unit 260 to the central processing unit 261, and is instructed from the central processing unit 261 to the stabilized power supply unit 130. Thereafter, the laser light oscillates according to the above-described process.

【0028】図2に戻り、加工ヘッド12及び検出光学
系127の機能を説明する。まずレーザヘッド11から
発振したパルスレーザ光100は、ダイクロミラー12
0で方向が変えられ、集光レンズ121で集光されてワ
ーク1上に照射される。また、検出光源122から射出
された検出光200は、コリメータレンズ123で平行
光にされ、ハーフミラー124、及びダイクロミラー1
20を通り、集光レンズ121によりワーク1上(リー
ドフレーム上のダムバーに該当する位置)に微少なスポ
ットで結像する。ここに、パルスレーザ光100と検出
光200の光軸は一致しており、両者のワーク1上にお
ける集光位置はほぼ同一である。
Returning to FIG. 2, the functions of the processing head 12 and the detection optical system 127 will be described. First, the pulse laser beam 100 oscillated from the laser head 11 is applied to the dichroic mirror 12
At 0, the direction is changed, and the light is condensed by the condenser lens 121 and irradiated onto the work 1. Further, the detection light 200 emitted from the detection light source 122 is converted into parallel light by the collimator lens 123, and the half mirror 124 and the dichroic mirror 1
The light passes through 20 and is focused on the work 1 (a position corresponding to the dam bar on the lead frame) by the condenser lens 121 with a minute spot. Here, the optical axes of the pulse laser beam 100 and the detection beam 200 are coincident, and the condensing positions on the work 1 are substantially the same.

【0029】ワーク1表面で反射した検出光200は、
集光レンズ121、ダイクロミラー120、ハーフミラ
ー124を通り、結像レンズ125によって光検出器1
26に集められ、ワーク1表面の情報が電気信号として
検出される。本実施形態においては、検出光源122と
してレーザ光源を用いるため、そのレーザ光をコリメー
タレンズ123及び集光レンズ121により極めて小さ
く絞ることができ、ワーク1表面の情報を検出する際
に、信号の立ち上がり(応答)が速くなり、高い分解能
で検出することができる。
The detection light 200 reflected on the surface of the work 1 is
After passing through the condenser lens 121, the dichroic mirror 120, and the half mirror 124, the photodetector 1 is
The information on the surface of the work 1 is detected as an electric signal. In the present embodiment, since a laser light source is used as the detection light source 122, the laser light can be narrowed down extremely by the collimator lens 123 and the condenser lens 121. When detecting information on the surface of the work 1, a rising edge of the signal is detected. (Response) is fast, and detection can be performed with high resolution.

【0030】以上の構成を有するダムバー補修切断装置
の動作を図5〜図7を用いて説明する。図5はダムバー
を補修切断する際の検出光及び加工用のレーザ光の照射
位置とその移動軌跡を示す図、図6は検出光200によ
り検出した信号の信号処理(TP1の出力まで)のタイ
ムチャートである。但し、図5において、X軸およびY
軸をそれぞれ図のように定める。
The operation of the dam bar repair / cutting device having the above-described configuration will be described with reference to FIGS. Figure 5 is a diagram showing the detection light and the irradiation position of the laser beam and its movement locus for processing at the time of repairing cutting dam bars (until the output of the TP 1) 6 signal processing of the detected by the detection light 200 signals It is a time chart. However, in FIG.
The axes are defined as shown in the figure.

【0031】まず、ワーク1をXYテーブル21によっ
て移動させ、加工ヘッド12の軸、即ち検出光200の
光軸位置を、図5に示す軌跡L1に沿ってX軸の正方向
に一定速度vで移動させる。軌跡L1は本来の切断工程
で切断される前のダムバーを連ねたラインであって、点
Aから点Bに向かっている。これにより、集光レンズ1
21で微少スポットに集光した検出光200はリードフ
レームの軌跡L1上で移動し、光検出器126で検出さ
れる検出信号の変化は、リードピン4で高い出力、ダム
バー切断後の位置3aで低い出力となる。
Firstly, to move the workpiece 1 by the XY table 21, the axis of the machining head 12, i.e. the position of the optical axis of detection light 200, a constant velocity v in the positive direction of the X axis along the trajectory L 1 shown in FIG. 5 To move. Locus L 1 is a line had been previous dam bars are cut in the original cutting step are directed from point A to point B. Thereby, the condenser lens 1
Detection light 200 condensed into a minute spot 21 is moved on the locus L 1 of the lead frame, the change of the detection signal detected by the photodetector 126 is higher output lead pin 4, in position 3a after dam bar cutting Output is low.

【0032】光検出器126からの検出信号はトリガユ
ニット24のコンパレータ241に入力され、図6のタ
イムチャートに示すような処理で二値化される。但し、
図6の横軸は時間を示し、さらにワーク1を一定速度v
で動かした時のリードピン(ウエブ部)4、未切断のダ
ムバー3、切断後のダムバー位置3aを時間変化として
模式的に付記している。そしてコンパレータ241に入
力された検出信号は、図6の細線で示す所定のしきい値
THをもとに二値化されて矩形波信号TP0となり、演
算部242に入力される。
The detection signal from the photodetector 126 is input to the comparator 241 of the trigger unit 24, and is binarized by the processing shown in the time chart of FIG. However,
The horizontal axis in FIG. 6 indicates time, and the workpiece 1 is moved at a constant speed v.
The lead pin (web portion) 4, the uncut dam bar 3, and the dam bar position 3a after cutting are schematically shown as a time change when moved by. The detection signal input to the comparator 241 is inputted is binarized based on a predetermined threshold V TH shown by thin lines in FIG. 6 square wave signal TP 0, and the the arithmetic unit 242.

【0033】演算部242では、矩形波信号TP0の立
ち下がりを基に、エンコーダ210からのパルス数のカ
ウントを開始する。上記矩形波信号TP0の立ち下がり
は、リードフレームにおけるダムバー切断後の端面(切
断後のダムバー位置3aの始まり)に相当する。エンコ
ーダ210からのパルス数のカウント数が、メインコン
トローラ23に設定された所定のカウントNPに到達す
る前に矩形波信号TP0の立ち下がりが入力されると、
エンコーダ210からのパルス数のカウントを0にリセ
ットし、再度0よりエンコーダ210からのパルス数の
カウントを始める。この場合、レーザコントローラ26
に信号波形は出力されない。一方、図6に示すように、
所定のカウントNPに到達しても矩形波信号TP0の立ち
下がりが入力されない場合には、このタイミングでの上
記のようなリセットは行わず、さらに少しカウントを続
け、エンコーダ210からのパルス数が所定のNP1とな
ったところで、レーザコントローラ26にトリガー信号
TP1を出力する。
[0033] The arithmetic unit 242, based on the falling edge of the rectangular wave signal TP 0, starts counting the number of pulses from the encoder 210. Fall of the square wave signal TP 0 corresponds to the end surface after the dam bar cutting the lead frame (the beginning of the dam bar position 3a after cutting). If the falling edge of the square wave signal TP 0 is input before the count of the number of pulses from the encoder 210 reaches the predetermined count N P set in the main controller 23,
The counting of the number of pulses from the encoder 210 is reset to 0, and the counting of the number of pulses from the encoder 210 is started from 0 again. In this case, the laser controller 26
No signal waveform is output. On the other hand, as shown in FIG.
If the falling edge of the square wave signal TP 0 is not input even when the count reaches the predetermined count N P , the reset as described above is not performed at this timing, and the count is continued slightly further, and the number of pulses from the encoder 210 is counted. When becomes a predetermined N P1 , a trigger signal TP 1 is output to the laser controller 26.

【0034】つまり、矩形波信号TP0の立ち下がりに
よって正常にダムバーが切断されたかどうかを確認し、
所定のカウント数NPに達する前に矩形波信号TP0の立
ち下がりが入力された場合はその位置のダムバーが正常
に切断されているとみなして次のダムバーの切断状態の
チェックのためにパルス数のカウントをリセットし、逆
に所定のカウント数NPに到達しても矩形波信号TP0
立ち下がりが入力されない場合には、その位置に未切断
のダムバー3が存在するものとみなし、一つ前の矩形波
信号TP0の立ち下がり位置を基準にして所定のカウン
トNP1、言い換えれば所定の距離の位置でレーザ光照射
のためのトリガー信号TP1を出力する。結局、演算部
242でエンコーダ210からのパルス数をカウントす
ることは、軌跡L1(ダムバー連なる方向)に沿ったリ
ードフレーム材料の存在距離に対応するワーク1の移動
量を計測していることになる。
[0034] That is, to see if properly dam bars are cut by the falling of the rectangular wave signal TP 0,
Pulse if the fall of the rectangular wave signal TP 0 is input is regarded as dam bar in its position is normally cut to a cutting state of the next dam bar check before reaching the predetermined count number N P If the count of the number is reset, and conversely, the falling edge of the square wave signal TP 0 is not input even when the count reaches the predetermined count number N P , it is regarded that the uncut dam bar 3 exists at that position, previous square wave signal TP count N P1 trailing edge point with respect to the predetermined 0, and outputs a trigger signal TP 1 for laser light irradiation at a position at a predetermined distance in other words. After all, counting the number of pulses from the encoder 210 by the calculation unit 242 means that the movement amount of the work 1 corresponding to the existing distance of the lead frame material along the locus L 1 (the direction in which the dam bars are connected) is measured. Become.

【0035】ここで、上記カウントNPは、ほぼリード
ピン4のピッチ(リードピッチ)の距離に相当するカウ
ント数であり、検出精度やダムバーの加工位置精度など
を考慮し、即ち精度上の余裕をみて、実際のリードピッ
チよりも若干長い距離に相当するカウント数となるよう
に、予めメインコントローラ23に設定しておく。ま
た、NP1については、未切断のダムバー3のほぼ中央に
レーザ光が照射されるようなカウント数となるように、
リードピッチを基にして予めメインコントローラ23に
設定しておく。なお、図6中のトリガ信号TP1は、実
際にはある幅を持ったパルス波形を有するが、他の信号
に比べて非常にそのパルス幅が短いために、図では線状
に示してある。
Here, the above-mentioned count N P is a count number substantially corresponding to the distance of the pitch of the lead pins 4 (lead pitch). Thus, the main controller 23 is set in advance so that the count number corresponds to a distance slightly longer than the actual lead pitch. Also, for N P1 , the number of counts is such that the laser beam is applied to almost the center of the uncut dam bar 3.
It is set in the main controller 23 in advance based on the lead pitch. Note that the trigger signal TP 1 in FIG. 6, but actually having a pulse waveform having a certain width, because very pulse width is shorter than the other signals, is shown in a line shape in the Figure .

【0036】次にレーザコントローラ26では、トリガ
信号TP1がトリガ回路262に入力され、このトリガ
回路262からは、トリガ信号TP1の立ち上がりに同
期したトリガ信号TP2が出力される(図4参照)。こ
のトリガ信号TP2のパルス幅は、前述のようにメイン
コントローラ23から中央演算部261を介して指示さ
れる。さらにトリガ信号TP2はスイッチ部132に入
力され、トリガ信号TP2の立ち上がりに同期してスイ
ッチ部132がonとなり、励起ランプ110にコンデ
ンサ部131からの電荷が供給され、さらにトリガ信号
TP2の立ち下がりに同期して、スイッチ部132がo
ffとなり、励起ランプ110への電荷の供給は停止す
る。以上のようにしてトリガ信号TP2に同期したパル
スレーザ光が発振する。
[0036] Next, in the laser controller 26, the trigger signal TP 1 is inputted to the trigger circuit 262, from the trigger circuit 262, the trigger signal TP 2 in synchronization with the rising edge of the trigger signal TP 1 is outputted (refer to FIG. 4 ). The pulse width of the trigger signal TP 2 is indicated via the central processing unit 261 from the main controller 23 as described above. Moreover the trigger signal TP 2 is input to the switch unit 132, the switch 132 becomes on in synchronization with the rising edge of the trigger signal TP 2, the charge from the capacitor 131 is supplied to the excitation lamp 110, further trigger signal TP 2 In synchronization with the fall, the switch unit 132
ff, and the supply of charges to the excitation lamp 110 is stopped. Pulsed laser light is oscillated in synchronization with the trigger signal TP 2 as described above.

【0037】図7は、上記のような未切断のダムバーを
補修切断する際の、トリガーユニット24の演算部24
2における処理(トリガ機能)を示すフローチャートで
ある。まず、移動を開始する点A(図5参照)で、リー
ドピン4の検出からダムバーのレーザ加工までの一連の
機能であるトリガ機能をonにし(図7のステップS
1)、点Aからエンコーダ210からのパルス数のカウ
ントを開始する(ステップS2)。そして、そのカウン
ト数が所定の初期カウント数N0に達する前に矩形波信
号TP0の立ち下がりがあったかどうかを検出し(ステ
ップS3)、初期カウント数N0の前に矩形波信号TP0
の立ち下がりがあれば、最初のダムバーが正常に切断さ
れていると判断し、矩形波信号TP0の立ち下がりのタ
イミングでエンコーダ210からのパルス数のカウント
を0にリセットし、再度0よりエンコーダ210からの
パルス数のカウントを始める(ステップS4)。但し、
初期カウント数N0は、軌跡L1上の点Aから最初のダム
バーを切断した端面までの距離に対応する値として、N
Pと同様に精度上の余裕をみて予めメインコントローラ
23に設定される。
FIG. 7 shows the operation section 24 of the trigger unit 24 when repairing and cutting the uncut dam bar as described above.
6 is a flowchart showing a process (trigger function) in No. 2; First, at a point A (see FIG. 5) at which movement starts, a trigger function, which is a series of functions from detection of the lead pin 4 to laser processing of the dam bar, is turned on (step S in FIG. 7).
1) The counting of the number of pulses from the encoder 210 is started from the point A (step S2). Then, to detect whether there is a falling edge of the rectangular wave signal TP 0 before the count reaches a predetermined initial count number N 0 (step S3), and the rectangular wave signal TP 0 before the initial count number N 0
If the fall of the judges that the first dam bar has been successfully cut, counting the number of pulses from the encoder 210 is reset to 0 at the fall timing of the rectangular wave signal TP 0, the encoder from 0 again The counting of the number of pulses from 210 is started (step S4). However,
The initial count number N 0 is a value corresponding to the distance from the point A on the trajectory L 1 to the end face that cuts the first dam bar, and N
Like P , it is set in the main controller 23 in advance with a margin for accuracy.

【0038】一方、ステップS3で初期カウント数N0
の前に矩形波信号TP0の立ち下がりが検出されなけれ
ば、ステップS5に進み、最初のダムバーが未切断であ
ると判断し、点Aから最初のダムバー切断位置までの距
離に相当する所定のカウント数N01となったところで、
レーザコントローラ26にトリガー信号TP1を出力す
る。このカウント数N01も予めメインコントローラ23
に設定される値である。そして、このタイミングでパル
ス数のカウントを0にリセットするが、ステップS5で
はカウント数がN01−N0=Noffに相当する分だけ軌跡
1上の距離が進んでいるので、上記Noffをエンコーダ
210からのカウント数に加算しておき、0からではな
くこのNoffから再度カウントを始める。なお、N0およ
びN01に対応する距離を図5に示してある。
On the other hand, in step S3, the initial count number N 0
Of if the fall of the rectangular wave signal TP 0 is detected before, the process proceeds to step S5, it is determined the first dam bar is uncut, a predetermined corresponding to the distance from the point A to the first dam bar cutting position now that a number of counts N 01,
And outputs a trigger signal TP 1 to the laser controller 26. The count number N01 is also determined in advance by the main controller 23.
Is set to Then, although resets the count of the number of pulses 0 at this timing, the count number in step S5 is advanced the distance on an amount corresponding locus L 1 corresponding to the N 01 -N 0 = N off, the N off Is added to the count number from the encoder 210, and the counting is started again from this N off instead of from 0. The distances corresponding to N 0 and N 01 are shown in FIG.

【0039】上記のようにして最初のダムバーに対する
処理(未切断ダムバーの検出およびその補修切断)が終
わるとステップS6に進み、以下、図5および図6で説
明したようにして所定のピッチで並んでいるダムバーが
正常に切断されているか未切断かを検出し、未切断の場
合にだけレーザ光を発振するような制御を行う。即ち、
ステップS6で、エンコーダ210からのパルス数がN
Pに到達する前にTP0の立ち下がりが入力されたかどう
かを検出し、NPの前にTP0の立ち下がりが入力されな
い場合にはステップS7に進み、NPの前にTP0の立ち
下がりが入力された場合にはステップS8に進む。ステ
ップS7では、TP0の立ち下がりからNP1のタイミン
グでトリガー信号TP1を出力し、かつそのタイミング
でパルス数のカウントをリセットし再度カウントを始
め、ステップS6の戻って同様の動作を繰り返す。但
し、前述のステップS5と同様に、ステップS7ではカ
ウント数がNP1−NP=Noffに相当する分だけ軌跡L1
上の距離が進んでいるので、Noffからカウントするも
のとする。ここで、簡単のため、NP1−NP=N01−N0
=Noffとしている。
When the process for the first dam bar (detection of the uncut dam bar and its repair and cutting) is completed as described above, the process proceeds to step S6, and is arranged at a predetermined pitch as described with reference to FIGS. It detects whether the dam bar is normally cut or not cut, and performs control to oscillate laser light only when the dam bar is not cut. That is,
In step S6, the number of pulses from the encoder 210 is N
Fall of TP 0 detects whether it has been entered prior to reaching the P, the process proceeds to step S7 if the fall of the TP 0 before the N P is not input, the falling of the TP 0 before the N P If a down is input, the process proceeds to step S8. In step S7, and outputs a trigger signal TP 1 from the fall of the TP 0 at the timing of the N P1, and start the reset counts again counting the number of pulses at that timing, the same operation is repeated returning the step S6. However, as in step S5 described above, in step S7, the trajectory L 1 corresponds to the count number corresponding to N P1 −N P = N off.
Since the upper distance is advanced, counting is started from N off . Here, for simplicity, N P1 −N P = N 01 −N 0
= N off .

【0040】ステップS8ではTP0の立ち下がり回数
とレーザ光照射回数(補修切断回数)との合計が所定値
Mに到達したかどうかを検出し、Mに到達していない場
合は軌跡L1全体の処理が済んでいないと判断してステ
ップS4に戻り、TP0の立ち下がり検出からの動作を
繰り返す。また、ステップS8においてTP0の立ち下
がり回数とレーザ光照射回数の合計がMに到達している
場合には、軌跡L1全体の処理が完了したものとみな
し、トリガ機能をoffにする(ステップS9)。ここ
で所定値Mはワーク1の一辺(軌跡L1)におけるダム
バーの全個数に相当し、メインコントローラ23に設定
される。以上で軌跡L1に沿った検出および未切断のダ
ムバー3の補修切断が自動的に行われる。
The sum of the falling number and laser light irradiation number in step S8 in TP 0 (repair disconnection count) detects whether reaches the predetermined value M, the entire trajectory L 1 if it has not reached the M it is determined that processing has not yet been returned to step S4, and repeats the operation from the fall detection of TP 0. The total fall times and laser light irradiation number of TP 0 in step S8 if they reached the M is assumed that processing of the entire locus L 1 is completed, the trigger function to off (the step S9). Here, the predetermined value M corresponds to the total number of dam bars on one side (trajectory L 1 ) of the work 1 and is set in the main controller 23. Repair cleavage of dam bar 3 detection and uncut along the locus L 1 above is automatically performed.

【0041】また、これまでは、図5の一つの辺に対応
する軌跡L1に沿った検出および未切断のダムバー3の
補修切断を中心に説明したが、他の辺に対応する軌跡L
2〜L4においていずれの位置に未切断のダムバーが存在
しても、同様の手順により全ての未切断のダムバーを自
動的に補修切断することができる。
In the above description, the detection along the trajectory L 1 corresponding to one side of FIG. 5 and the repair cutting of the uncut dam bar 3 have been mainly described, but the trajectory L 1 corresponding to the other side is described.
Even if there is dam bars uncut in any position in the 2 ~L 4, can be automatically repaired cutting dam bars of all uncut by the same procedure.

【0042】以上のような本実施形態によれば、検出光
200を用いて、軌跡L1〜L4に沿ったリードピン4の
材料の存在距離(ダムバー切断後のリードフレーム形状
の情報)を検出し、それをもとに未切断のダムバー3を
検出し、その検出結果に基づいてレーザ光100の発振
を制御して未切断のダムバー3にレーザ光を照射するの
で、リードフレームの情報に応じて未切断のダムバー3
を確実にかつ精度良く補修切断することができる。従っ
て、リードフレーム形状の再現性や、リードフレーム固
定位置の再現性が低い場合にでも、切断すべき所望の位
置の未切断のダムバーが精度良く、確実かつ高速に切断
され、加工すべきでないリードピンが加工されることも
ない。
According to the present embodiment as described above, using the detection light 200, the existing distance of the material of the lead pin 4 along the trajectories L 1 to L 4 (information of the lead frame shape after dam bar cutting) is detected. Then, based on the detected result, the uncut dam bar 3 is detected, and based on the detection result, the oscillation of the laser beam 100 is controlled to irradiate the uncut dam bar 3 with the laser beam. Uncut dam bar 3
Can be repaired and cut reliably and accurately. Therefore, even when the reproducibility of the lead frame shape and the reproducibility of the lead frame fixing position are low, the uncut dam bar at the desired position to be cut is cut accurately, reliably and at high speed, and the lead pin which should not be processed. Is not processed.

【0043】また、リードフレームの種類が変わって
も、対象とする個々のリードフレーム形状の情報に基づ
き未切断のダムバー3を補修切断できるので、リードフ
レームの種類に応じた未切断のダムバー位置の測定作業
や、補修切断に必要なプログラムの編集などの面倒な作
業が必要なくなり、簡単な手順で多種類のリードフレー
ムにおける未切断のダムバー3を補修切断することもで
きる。
Even if the type of the lead frame changes, the uncut dam bar 3 can be repaired and cut based on the information of the target individual lead frame shape, so that the position of the uncut dam bar position corresponding to the type of the lead frame can be changed. The troublesome work such as the measurement work and the editing of the program necessary for repair cutting is not required, and the uncut dam bar 3 in various types of lead frames can be repaired and cut by a simple procedure.

【0044】なお、上記説明では、正規のダムバー切断
工程を金型およびプレス機等を用いて行うことを想定し
ているが、この正規のダムバー切断工程自体を、レーザ
光照射によって行うことも可能であり、本発明はそのよ
うなレーザ光照射による正規のダムバー切断工程後に適
用することもできる。
In the above description, it is assumed that the regular dam bar cutting step is performed using a mold and a press machine, but the regular dam bar cutting step itself can be performed by laser beam irradiation. The present invention can be applied after such a regular dam bar cutting step by laser beam irradiation.

【0045】[0045]

【発明の効果】本発明によれば、ダムバーの連なる方向
に沿ったリードフレーム材料の存在距離(ダムバー切断
後のリードフレーム形状の情報)を検出し、それをもと
に未切断のダムバーを検出し、その検出結果に基づいて
レーザ光の発振を制御するので、未切断のダムバーを確
実にかつ精度良く補修切断することができる。従って、
リードフレーム形状の再現性や、リードフレーム固定位
置の再現性が低い場合にでも、切断すべき所望の位置の
未切断のダムバーを精度良く、確実かつ高速に切断する
ことができ、加工すべきでないリードピンが加工される
こともない。
According to the present invention, the existing distance of the lead frame material (information on the shape of the lead frame after dam bar cutting) along the direction in which the dam bars are connected is detected, and the uncut dam bar is detected based on the detected distance. Then, since the oscillation of the laser beam is controlled based on the detection result, the uncut dam bar can be repaired and cut reliably and accurately. Therefore,
Even when the reproducibility of the lead frame shape and the reproducibility of the lead frame fixing position are low, the uncut dam bar at the desired position to be cut can be cut accurately, reliably and at high speed, and should not be processed. The lead pins are not processed.

【0046】また、リードフレームの種類が変わって
も、リードフレームの種類に応じた未切断のダムバー位
置の測定作業や、補修切断に必要なプログラムの編集な
どの面倒な作業が必要なくなり、簡単な手順で多種類の
リードフレームにおける未切断のダムバーを補修切断す
ることもできる。
Further, even if the type of the lead frame is changed, a troublesome operation such as a work of measuring an uncut dam bar position according to the type of the lead frame and editing of a program required for repair cutting is not required, and the simple operation is simplified. It is also possible to repair and cut uncut dam bars in various types of lead frames by the procedure.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の一実施形態によるダムバー補修切断装
置の構成の概略図である。
FIG. 1 is a schematic diagram of a configuration of a dam bar repair / cutting device according to an embodiment of the present invention.

【図2】図1の加工ヘッド及び検出光学系の構成の概略
図である。
FIG. 2 is a schematic diagram of a configuration of a processing head and a detection optical system of FIG. 1;

【図3】図1のトリガユニットの構成を示す図である。FIG. 3 is a diagram illustrating a configuration of a trigger unit in FIG. 1;

【図4】図1のレーザコントローラの構成を示す図であ
る。
FIG. 4 is a diagram illustrating a configuration of a laser controller of FIG. 1;

【図5】ダムバーを補修切断する際の検出光及び加工用
のレーザ光の照射位置とその移動軌跡を示す図である。
FIG. 5 is a diagram showing irradiation positions of detection light and processing laser light when the dam bar is repaired and cut, and the movement locus thereof.

【図6】検出光により検出した信号の信号処理(TP1
の出力まで)のタイムチャートである。
FIG. 6 shows a signal processing (TP 1) of a signal detected by the detection light.
3) is a time chart.

【図7】未切断のダムバーを補修切断する際の、トリガ
ーユニットの演算部における処理(トリガ機能)を示す
フローチャートである。
FIG. 7 is a flowchart showing a process (trigger function) in a calculation unit of the trigger unit when repairing and cutting an uncut dam bar.

【図8】櫛状のプレス刃を持つ金型を使用した従来の一
般的なダムバー切断を説明する図である。
FIG. 8 is a view for explaining a conventional general dam bar cutting using a mold having a comb-shaped press blade.

【図9】プレス刃によってダムバーを切断した端面の形
状が左右対称でない場合を説明する図である。
FIG. 9 is a view for explaining a case where the shape of the end surface obtained by cutting the dam bar by the press blade is not symmetric.

【図10】従来の一般的なレーザ加工装置の構成の概略
図である。
FIG. 10 is a schematic view of a configuration of a conventional general laser processing apparatus.

【図11】(a)はICパッケージを簡略化して示した
平面図、(b)は図11(a)のB部拡大図で図8のプ
レス刃によってダムバーを切断した後における未切断の
ダムバーを示す図である。
11A is a simplified plan view showing an IC package, and FIG. 11B is an enlarged view of a portion B in FIG. 11A and is an uncut dam bar after the dam bar is cut by the press blade in FIG. FIG.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 ワーク(ICパッケージ) 2 ダムバー 3 未切断のダムバー 4 リードピン(ウェブ部) 5 樹脂モールド部 10 レーザ発振器 11 レーザヘッド 12 加工ヘッド 13 レーザ電源 21 XYテーブル 22 Zテーブル 23 メインコントローラ 24 トリガユニット 25 コントロールユニット 26 レーザコントローラ 100 レーザ光 110 励起ランプ 120 ダイクロミラー 121 集光レンズ 122 検出光源 123 コリメータレンズ 124 ハーフミラー 125 結像レンズ 126 光検出器 127 検出光学系 130 安定化電源部 131 コンデンサ部 132 スイッチ部 133 交流電源部 200 検出光 210 エンコーダ 241 コンパレータ 242 演算部 260 入出力部 261 中央演算部 262 トリガ回路 Reference Signs List 1 work (IC package) 2 dam bar 3 uncut dam bar 4 lead pin (web part) 5 resin mold part 10 laser oscillator 11 laser head 12 processing head 13 laser power supply 21 XY table 22 Z table 23 main controller 24 trigger unit 25 control unit Reference Signs List 26 laser controller 100 laser beam 110 excitation lamp 120 dichroic mirror 121 condenser lens 122 detection light source 123 collimator lens 124 half mirror 125 imaging lens 126 photodetector 127 detection optical system 130 stabilizing power supply section 131 capacitor section 132 switch section 133 AC Power supply unit 200 Detection light 210 Encoder 241 Comparator 242 Operation unit 260 Input / output unit 261 Central operation unit 262 Trigger circuit

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 桜井 茂行 茨城県土浦市神立町650番地 日立建機株 式会社土浦工場内 (72)発明者 美野本 泰 茨城県土浦市神立町650番地 日立建機エ ンジニアリング株式会社内 ──────────────────────────────────────────────────の Continuing on the front page (72) Inventor Shigeyuki Sakurai 650, Kandamachi, Tsuchiura-shi, Ibaraki Hitachi Construction Machinery Co., Ltd. Tsuchiura Plant (72) Inventor Yasushi Minomoto 650, Kandamachi, Tsuchiura-shi, Ibaraki Hitachi Construction Machinery Inside Engineering Co., Ltd.

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 半導体チップ及びリードフレームを樹脂
で封止した半導体装置のダムバー切断工程後における未
切断のダムバーの補修切断を、パルス状のレーザ光照射
によって行うダムバー補修切断方法において、 前記リードフレームにおける前記ダムバー切断後の位置
に検出光を照射しながら前記半導体装置を前記ダムバー
の連なる方向に移動させ、 前記リードフレームからの前記検出光の反射光を基に検
出信号を発生させ、 前記検出信号に基づいて、前記検出光による検出位置で
のリードフレーム材料の存在距離に対応する前記半導体
装置の移動量を計測し、 計測された前記半導体装置の移動量と、前記ダムバーが
正常に切断されている場合の前記リードフレーム材料の
存在距離に対応する値とを比較し、 計測された前記半導体装置の移動量が、前記ダムバーが
正常に切断されている場合のリードフレーム材料の存在
距離に対応する値よりも大きい場合に、前記検出光によ
る検出位置に未切断のダムバーが存在すると判断し、 前記未切断のダムバーにレーザ光が照射されるよう前記
レーザ光の発振を制御することを特徴とするダムバー補
修切断方法。
1. A dam bar repair cutting method for repairing an uncut dam bar after a dam bar cutting step of a semiconductor device in which a semiconductor chip and a lead frame are sealed with resin by irradiating a pulsed laser beam. Moving the semiconductor device in a direction continuous with the dam bar while irradiating the position after the dam bar cutting with the detection light, generating a detection signal based on reflected light of the detection light from the lead frame; Measuring the movement amount of the semiconductor device corresponding to the existing distance of the lead frame material at the detection position by the detection light, and the measured movement amount of the semiconductor device and the dam bar are normally cut. The value corresponding to the existing distance of the lead frame material when the When the momentum is larger than the value corresponding to the existing distance of the lead frame material when the dam bar is normally cut, it is determined that the uncut dam bar exists at the detection position by the detection light, and the uncut And controlling the oscillation of the laser beam so that the laser beam is applied to the dam bar.
【請求項2】 パルス状のレーザ光を発振するレーザ発
振器と、前記レーザ光を被加工物まで誘導する加工光学
系と、前記被加工物を移動させその加工位置を決定する
搬送手段とを備え、半導体チップ及びリードフレームを
樹脂で封止した半導体装置の、ダムバー切断工程後にお
ける未切断のダムバーの補修切断を行うダムバー補修切
断装置において、 前記リードフレームの前記ダムバー切断後の位置に検出
光を照射する検出光発生手段と、 前記リードフレームからの前記検出光の反射光を入射さ
せ、その検出結果に応じた検出信号を発生する検出手段
と、 前記検出手段からの検出信号に基づき、前記検出手段に
よる検出位置でのリードフレーム材料の存在距離に対応
する前記搬送手段の移動量を計測する計測手段と、 前記計測手段で計測された移動量と、前記ダムバーが正
常に切断されている場合の前記リードフレーム材料の存
在距離に対応する値とを比較する比較手段と、 前記比較手段での比較に基づき、前記計測手段で計測さ
れた移動量が前記ダムバーが正常に切断されている場合
のリードフレーム材料の存在距離に対応する値よりも大
きい場合に、前記検出手段による検出位置に未切断のダ
ムバーが存在すると判断してその未切断のダムバーにレ
ーザ光が照射されるよう前記レーザ光の発振を制御する
制御手段とを備えることを特徴とするダムバー補修切断
装置。
2. A laser oscillator that oscillates pulsed laser light, a processing optical system that guides the laser light to a workpiece, and a transport unit that moves the workpiece and determines a processing position thereof. A semiconductor device in which a semiconductor chip and a lead frame are sealed with a resin, in a dam bar repair cutting device for repairing and cutting an uncut dam bar after a dam bar cutting step, wherein a detection light is applied to a position of the lead frame after the dam bar cutting. Detecting light generating means for irradiating; detecting means for irradiating reflected light of the detection light from the lead frame to generate a detection signal according to the detection result; and detecting the detection based on the detection signal from the detection means. Measuring means for measuring an amount of movement of the transport means corresponding to a distance of the lead frame material at a detection position by means, and measuring by the measuring means Comparing means for comparing the distance moved and a value corresponding to the existing distance of the lead frame material when the dam bar is normally cut, and measuring by the measuring means based on the comparison by the comparing means If the moved amount is larger than the value corresponding to the existing distance of the lead frame material when the dam bar is normally cut, it is determined that there is an uncut dam bar at the detection position by the detection means, and the Control means for controlling the oscillation of the laser light so that the uncut dam bar is irradiated with the laser light.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100390728B1 (en) * 2001-06-05 2003-07-12 성우전자 주식회사 Rework Method For The Lead Frame

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