JPH10143927A - Master disk exposing device for optical recording medium - Google Patents

Master disk exposing device for optical recording medium

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JPH10143927A
JPH10143927A JP8291914A JP29191496A JPH10143927A JP H10143927 A JPH10143927 A JP H10143927A JP 8291914 A JP8291914 A JP 8291914A JP 29191496 A JP29191496 A JP 29191496A JP H10143927 A JPH10143927 A JP H10143927A
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JP
Japan
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laser beam
exposure
exposure laser
master
laser beams
Prior art date
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Application number
JP8291914A
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Japanese (ja)
Inventor
Masanobu Yamamoto
眞伸 山本
Toshiyuki Kashiwagi
俊行 柏木
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Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
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Publication date
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Publication of JPH10143927A publication Critical patent/JPH10143927A/en
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To realize an optical recording medium with less pitch unevenness in recording information, with high recording density and a high transfer rate capable of narrowing an interval between pitches. SOLUTION: In a master disk exposing device 1 for the optical recording medium, a beam position detecting means 10 detecting positions of exposing laser beams La and Lb and a beam position correcting means 20 setting the positions of the exposing laser beams La, Lb. Thus, the positional deviation of the exposing laser beams are corrected, and the interval between beams is head constant when plural exposing laser beams are used.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、光学記録媒体の原
盤露光装置に係わる。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a master disc exposure apparatus for an optical recording medium.

【0002】[0002]

【従来の技術】オーディオ用、ビデオ用のその他の各種
情報を記録するコンパクトディスク(CD)やレーザー
ディスク(LD)等の従来の光学記録媒体においては、
その情報記録層にデータ情報、トラッキングサーボ信号
等の記録がなされる位相ピット、プリグルーブ等の微細
凹凸の形成がなされている。
2. Description of the Related Art Conventional optical recording media such as a compact disk (CD) and a laser disk (LD) for recording various kinds of information for audio and video use.
Fine irregularities such as phase pits and pre-grooves for recording data information and tracking servo signals are formed on the information recording layer.

【0003】この微細凹凸を有する光学記録媒体の作製
は、射出成形あるいはフォトポリマリゼーション法、い
わゆる2P法等によって行われる。これらの射出成形あ
るいは2P法においては、最終的に形成する微細凹凸を
転写形成する微細凹凸を有するスタンパーが用いられ
る。このスタンパーの作製においては、先ず、原盤の作
製がなされる。この原盤はこれを構成する基板、例えば
研磨した平滑なガラス板上にフォトレジストを塗布し、
これをパターン露光して、微細凹凸を形成し、その表面
に例えばAgメッキを施してなる。このようにして作製
した原盤にメタルメッキを施し、この繰り返しによって
スタンパーの形成がなされる。
The production of the optical recording medium having the fine irregularities is performed by injection molding or photopolymerization, a so-called 2P method. In the injection molding or the 2P method, a stamper having fine irregularities for transferring and forming fine irregularities to be finally formed is used. In manufacturing the stamper, first, a master is manufactured. This master is coated with photoresist on a substrate that constitutes it, for example, a polished smooth glass plate,
This is subjected to pattern exposure to form fine irregularities, and the surface thereof is subjected to, for example, Ag plating. The master thus prepared is subjected to metal plating, and a stamper is formed by repeating this process.

【0004】図6にその概略構成を示すように、この原
盤作製に際してのフォトレジストに対するパターン露光
を行う原盤露光装置70は、露光用レーザービームLを
発生する露光レーザービーム発生源50と、露光パター
ン例えば記録情報に応じて変調する変調器51と、これ
により例えば強度変調された露光用レーザービームL
を、対物レンズ52を通じて原盤を作製する基板53上
のフォトレジスト54面に集束するようになされてい
る。
As schematically shown in FIG. 6, a master exposure apparatus 70 for performing pattern exposure on a photoresist at the time of manufacturing the master includes an exposure laser beam generation source 50 for generating an exposure laser beam L, an exposure pattern For example, a modulator 51 that modulates according to recording information, and an exposure laser beam L that is intensity-modulated thereby, for example,
Is focused through an objective lens 52 onto a surface of a photoresist 54 on a substrate 53 for producing a master.

【0005】従来一般の光学記録媒体においては、トラ
ックピッチが1.4〜1.7μmの範囲にあり、その公
差も±0.1μm程度と比較的広い範囲まで許容されて
いる。
In a conventional general optical recording medium, a track pitch is in a range of 1.4 to 1.7 μm, and a tolerance thereof is allowed in a relatively wide range of about ± 0.1 μm.

【0006】このような従来の光学記録媒体を作製する
原盤露光装置70においては、その露光レーザービーム
Lの位置ずれは、原盤露光装置70の記録光学系に対す
る空気のゆらぎや、レーザー冷却水、ターンテーブル、
スライド送り、冷却ファン等による振動の影響で生じる
ものの、CD等の従来の光学記録媒体の記録密度フォー
マットでは、ピッチむらの公差が大きいため、さほど問
題にはならなかった。
In the conventional master exposure apparatus 70 for producing such an optical recording medium, the displacement of the exposure laser beam L is caused by the fluctuation of air with respect to the recording optical system of the master exposure apparatus 70, laser cooling water, table,
Although caused by the influence of vibration caused by slide feed, cooling fan, etc., the recording density format of a conventional optical recording medium such as a CD did not cause much problem due to the large tolerance of pitch unevenness.

【0007】しかしながら、昨今、光学記録媒体の高記
録密度化が進み、2層構造の光学記録媒体、例えばDV
D(Digital Video Disk)等において、従来のCDの約
4倍にまで記録密度を上げる場合、その情報記録層を形
成する微細凹凸のトラックピッチが、従来の約半分以下
の0.7〜0.8μm程度となり、また、公差も従来の
1/3以下の±0.03μmと厳しい要求がなされるよ
うになり、この場合、露光レーザービームの位置ずれ
が、大きな問題となる。
However, in recent years, the recording density of optical recording media has been increasing, and optical recording media having a two-layer structure, for example, DV
When the recording density of a D (Digital Video Disk) or the like is increased to about four times that of a conventional CD, the track pitch of the fine unevenness forming the information recording layer is 0.7 to 0. Severe demands are made to be about 8 μm and the tolerance is ± 0.03 μm, which is 1/3 or less of the conventional one, and in this case, displacement of the exposure laser beam becomes a serious problem.

【0008】原盤作製におけるフォトレジスト面に対す
る露光レーザービームLの走査は、例えば基板53を回
転させ、一方、レーザービームを基板53の半径方向に
移動させることによって、露光レーザービームLをフォ
トレジスト54面上にスパイラル状に走査するものであ
るが、この場合、露光すなわち情報記録の転送レートを
高めるには、基板53の回転速度を高めることになる。
The scanning of the photoresist laser beam L on the photoresist surface in the preparation of the master is performed, for example, by rotating the substrate 53 and moving the laser beam in the radial direction of the substrate 53 so that the exposure laser beam L is scanned on the photoresist 54 surface. In this case, scanning is performed in a spiral manner. In this case, the rotation speed of the substrate 53 is increased in order to increase the transfer rate of exposure, that is, information recording.

【0009】しかしながら、このように、基板53の回
転速度を高めるに伴い、より振動が発生し易くなり、前
述した露光レーザービームLのずれが、より発生し易く
なるものであり、特に上述したように記録密度の向上に
伴うピッチむらの公差の減少に、より対応しにくくな
る。
However, as described above, as the rotational speed of the substrate 53 is increased, vibration is more likely to occur, and the above-described displacement of the exposure laser beam L is more likely to occur, particularly as described above. Therefore, it becomes more difficult to cope with a decrease in tolerance of pitch unevenness accompanying an increase in recording density.

【0010】このような基板53の回転速度を上げるこ
となく、転送レートを高める方法としては、複数、例え
ば2本の露光レーザービームを基板上のフォトレジスト
面上に同時に平行に走査させてダブルスパイラル露光を
行う方法が知られている。
As a method of increasing the transfer rate without increasing the rotation speed of the substrate 53, a method of simultaneously scanning a plurality of, for example, two exposure laser beams in parallel on a photoresist surface on the substrate by using a double spiral is described. A method for performing exposure is known.

【0011】これら例えば2本の露光レーザービーム
は、例えば一方でトラッキンググルーブもしくはアドレ
ス信号用の微細凹凸の形成のための露光を行い、他方で
例えばランド部へのデータ情報の記録を行うなど、目的
とするフォーマットに応じた露光がなされる。
These two exposure laser beams, for example, perform exposure for forming tracking grooves or fine irregularities for address signals on the one hand, and record data information on lands, for example, on the other hand. Exposure is performed according to the format.

【0012】しかしながら、いずれの場合においても、
これらの複数、例えば2本の露光レーザービーム相互の
位置は、正確に設定されることが必要であり、前述した
高密度記録においては、その精度はより高められること
が必要となる。
However, in either case,
The positions of a plurality of, for example, two exposure laser beams, need to be accurately set, and in the above-described high-density recording, the accuracy needs to be further improved.

【0013】[0013]

【発明が解決しようとする課題】本発明は、上述した原
盤作製において用いられる原盤露光装置において、露光
レーザービームの位置の設定を正確に行うことができる
ようにする。
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to make it possible to accurately set the position of an exposure laser beam in a master exposure apparatus used for manufacturing the master described above.

【0014】また、本発明は、同様の原盤露光装置にお
いて、複数の露光レーザービームの相互の位置を正確に
設定することができるようにするものである。
Another object of the present invention is to make it possible to accurately set the mutual positions of a plurality of exposure laser beams in a similar master exposure apparatus.

【0015】[0015]

【課題を解決するための手段】本発明の光学記録媒体の
原盤露光装置においては、原盤を形成する基板上に塗布
されたフォトレジスト面を露光する露光レーザービーム
を発生する露光レーザービーム発生源と、フォトレジス
ト面上の、露光レーザービームの位置を検出する位置検
出手段と、位置検出手段によって検出された検出信号に
よって、該露光レーザービームのフォトレジスト上の位
置を変更制御する位置補正手段とを設け、露光レーザー
ビームの位置ずれを補正する。
According to the present invention, there is provided an apparatus for exposing a master for an optical recording medium, comprising: an exposure laser beam generating source for generating an exposure laser beam for exposing a photoresist surface coated on a substrate forming the master; Position detecting means for detecting the position of the exposure laser beam on the photoresist surface, and position correcting means for changing and controlling the position of the exposure laser beam on the photoresist based on a detection signal detected by the position detecting means. To correct the displacement of the exposure laser beam.

【0016】本発明によれば、露光レーザービームの位
置の設定を正確に行うことができる。また、本発明は、
同様の原盤露光装置において、複数の露光レーザービー
ムの相互の位置を正確に設定することができる。これに
より、記録情報のピッチ間の間隔を狭くすることが可能
となり、高記録密度を可能にし、また、高転送レートの
光学記録媒体の原盤露光装置を実現することができる。
According to the present invention, the position of the exposure laser beam can be set accurately. Also, the present invention
In a similar master exposure apparatus, the mutual positions of a plurality of exposure laser beams can be accurately set. As a result, the interval between the pitches of the recording information can be reduced, a high recording density can be achieved, and a master disc exposure apparatus for an optical recording medium having a high transfer rate can be realized.

【0017】[0017]

【発明の実施の形態】本発明の具体的な実施の形態につ
いて説明する。以下において、ディスク状、いわゆる円
板状の光ディスクを作製する場合に、射出成形法、ある
いは2P法により使用するスタンパーを転写して作製す
るガラス原盤のフォトレジストのパターン露光に適用す
る場合について説明するが、本発明における原盤露光装
置は、このような形状に限られるものではなく、光磁気
ディスク、相変化ディスク、その他カード状、シート状
等の、微細凹凸を情報記録層に有する各種光学記録媒体
の製造に用いる原盤を露光する場合に適用することがで
きる。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Specific embodiments of the present invention will be described. In the following, a description will be given of a case where the present invention is applied to pattern exposure of a photoresist of a glass master disk manufactured by transferring a stamper used by an injection molding method or a 2P method when manufacturing a disk-shaped, so-called disk-shaped optical disk. However, the master disc exposure apparatus in the present invention is not limited to such a shape, and various optical recording media having fine irregularities in the information recording layer, such as a magneto-optical disc, a phase-change disc, and other card-like and sheet-like shapes. The method can be applied when exposing a master used in the production of a substrate.

【0018】本発明の一実施例を説明する。図1に、本
発明による原盤露光装置1の概略図を示す。本発明の原
盤露光装置においては、原盤を形成する例えばガラス基
板100上に塗布されたフォトレジスト101面を露光
する露光レーザービームを発射する露光レーザービーム
発生源35と、フォトレジスト101面上の、露光レー
ザービームの位置を検出するビーム位置検出手段10
と、ビーム位置検出手段10によって検出された検出信
号によって、露光レーザービームのフォトレジスト10
1面上の位置を変更制御するビーム位置補正手段20を
設ける。
An embodiment of the present invention will be described. FIG. 1 shows a schematic view of a master exposure apparatus 1 according to the present invention. In the master exposure apparatus of the present invention, an exposure laser beam generation source 35 that emits an exposure laser beam that exposes a photoresist 101 surface coated on a glass substrate 100, for example, forming a master disk; Beam position detecting means 10 for detecting the position of an exposure laser beam
And the detection signal detected by the beam position detecting means 10, the photoresist 10 of the exposure laser beam is used.
A beam position correcting means 20 for changing and controlling the position on one surface is provided.

【0019】この例においては、露光レーザービーム発
生源35は、例えば露光レーザービームを発生する一つ
のレーザー30と、ハーフミラー31aと、ミラー31
bとからなり、レーザー30からの露光レーザービーム
を、ハーフミラー31aによって一部反射分離し、残る
露光レーザービームを、ミラー31bにより反射させた
2本の露光レーザービームLa およびL bを得るように
した場合である。
In this example, the exposure laser beam generating source 35 includes, for example, one laser 30 for generating an exposure laser beam, a half mirror 31a, and a mirror 31.
b, the exposure laser beam from the laser 30 is partially reflected and separated by the half mirror 31a, and the remaining exposure laser beam is reflected by the mirror 31b to obtain two exposure laser beams La and Lb. This is the case.

【0020】これら露光レーザービームLa およびL b
は、それぞれ例えば光変調器60aおよび60b−偏光
ビームスプリッター33aおよび33b−絞り込みレン
ズ40−ミラー32−対物レンズ41を通じてガラス基
板100上のフォトレジスト面101上にフォーカシン
グされて、フォトレジスト101面に対するパターン露
光が行われる。
These exposure laser beams La and Lb
Are focused on the photoresist surface 101 on the glass substrate 100 through, for example, the light modulators 60a and 60b, the polarization beam splitters 33a and 33b, the stop lens 40, the mirror 32, and the objective lens 41, respectively. Exposure is performed.

【0021】このとき、偏光ビームスプリッター33a
および33bの相互の傾きを選定することによって、絞
り込みレンズ40への入射角を変えることによってフォ
トレジスト101上での相互のスポットが所要の間隔を
保持するようになされる。
At this time, the polarization beam splitter 33a
By selecting the mutual inclination of the apertures 33b and 33b, by changing the angle of incidence on the aperture lens 40, the mutual spots on the photoresist 101 are maintained at a required interval.

【0022】一方、各露光レーザービームLa およびL
bの戻り光は、偏光ビームスプリッター33aおよび3
3bを通過してビーム位置検出手段10に送り込まれる
ようになされ、これによって各露光レーザービームLa
およびL bのフォトレジスト101面上の位置を検出す
る。
On the other hand, each of the exposure laser beams La and L
The return light of b is the polarization beam splitters 33a and 33
3b, and is sent to the beam position detecting means 10, whereby each exposure laser beam La
And Lb on the surface of the photoresist 101 are detected.

【0023】このビーム位置検出手段10は、例えばポ
ジションセンサーやCCD(チャージ・カプルド・デバ
イス)カメラ等が用いられる。すなわち、例えば、図5
A中曲線61に示すように、露光レーザービームLa お
よびL bの戻り光を、例えばCCDカメラ上での光強度
分布、すなわち図5Bに示すビームスポットSpa およ
びSpb として、その相互の位置を検出する。すなわ
ち、露光レーザービームLa およびL bのフォトレジス
ト101上の位置を検出する。
As the beam position detecting means 10, for example, a position sensor or a CCD (charge coupled device) camera is used. That is, for example, FIG.
As shown by a curve 61 in A, the return positions of the exposure laser beams La and Lb are detected, for example, as light intensity distributions on a CCD camera, that is, as beam spots Spa and Spb shown in FIG. . That is, the positions of the exposure laser beams La and Lb on the photoresist 101 are detected.

【0024】この位置検出は、ビーム位置検出手段10
によって、その電圧の値の電圧変化として検出し、その
電圧の値のピークからピークの距離を計測し、所定の値
から外れるものについてエラー信号として取り出すもの
である。
This position is detected by the beam position detecting means 10.
Thus, a voltage change of the voltage value is detected, a peak-to-peak distance of the voltage value is measured, and a signal deviating from a predetermined value is extracted as an error signal.

【0025】例えば、露光装置の振動によって、50μ
radの角度変位がある場合、これによる基板100上
のフォトレジスト101面上での露光レーザービームL
a およびL bのスポットの変位は、絞り込みレンズ40
の焦点距離を100mmとし、対物レンズ41の倍率を
100倍とすると、(50μ×100mm)/100=
0.05μmとなる。このとき、偏光ビームスプリッタ
ー33aおよび33bを通過した露光レーザービームL
a およびL bの光路長を例えば1mとすると、ビーム位
置検出手段10上での変位は、50μmとなる。これ
は、CCDカメラやポジションセンサーで充分検出する
ことが可能である。
For example, 50 μm is generated by the vibration of the exposure apparatus.
When there is an angular displacement of rad, the exposure laser beam L on the surface of the photoresist 101 on the substrate 100
The displacement of the spots a and Lb is
Is 100 mm and the magnification of the objective lens 41 is 100 times, (50 μ × 100 mm) / 100 =
It becomes 0.05 μm. At this time, the exposure laser beam L passing through the polarization beam splitters 33a and 33b
Assuming that the optical path lengths of a and Lb are 1 m, for example, the displacement on the beam position detecting means 10 is 50 μm. This can be sufficiently detected by a CCD camera or a position sensor.

【0026】ビーム位置検出手段10としてCCDカメ
ラを用いた場合においては、CCDカメラのセンサー上
の、露光レーザービームLa およびL b強度中心を走る
走査線の、上下の走査線の電圧値をピークホールドと
し、その差をモニターすることにより露光レーザービー
ムLa およびL bの相互の位置の検出することができ
る。
When a CCD camera is used as the beam position detecting means 10, the voltage values of the upper and lower scanning lines of the scanning lines running at the center of the exposure laser beams La and Lb on the sensor of the CCD camera are peak-held. By monitoring the difference, the mutual positions of the exposure laser beams La and Lb can be detected.

【0027】また、ビーム位置検出手段10としてポジ
ションセンサーを用いた場合においては、露光レーザー
ビームLa およびL bの位置の初期設定値に対してセン
サーのエラー信号がゼロになるように設定しておき、ビ
ーム位置補正手段20によるビーム位置の補正を行っ
て、出力電圧がゼロになるようにフィードバックする。
When a position sensor is used as the beam position detecting means 10, the error signal of the sensor is set to be zero with respect to the initial set values of the positions of the exposure laser beams La and Lb. Then, the beam position is corrected by the beam position correcting means 20, and feedback is performed so that the output voltage becomes zero.

【0028】すなわち、上述したようにビーム位置検出
手段10によってエラーが検出された場合には、図1に
示すように、そのエラーに応じて予め露光レーザービー
ムLa およびL bの間隔設定のなされたビーム位置補正
手段20にフィードバックされ、ここで補正が加えられ
る。このようにして、露光レーザービームLa およびL
bの進行方向、角度の設定がなされ、露光レーザービー
ムLa およびL bの位置制御がなされる。
That is, when an error is detected by the beam position detecting means 10 as described above, the interval between the exposure laser beams La and Lb is set in advance according to the error as shown in FIG. The beam position is fed back to the beam position correcting means 20, where the correction is applied. Thus, the exposure laser beams La and L
The traveling direction and angle of b are set, and the positions of the exposure laser beams La and Lb are controlled.

【0029】このビーム位置補正手段20は、例えば、
図2、図3に示すように、プリズム20a、反射ミラー
20dにより成り、例えば一方の露光レーザービームの
光路軸方向を変更させる構成とするとか、図4に示すよ
うに、音響光学素子(AOD(Acousto−Optic Deflecte
r))20cより成り、同様に例えば露光レーザービーム
の一方の光路軸方向を変更制御する構成とすることがで
きる。
The beam position correcting means 20 includes, for example,
As shown in FIGS. 2 and 3, the prism 20a and the reflection mirror 20d are used to change the direction of the optical path axis of one of the exposure laser beams, or as shown in FIG. 4, an acousto-optic device (AOD ( Acousto-Optic Deflecte
r)) 20c, and similarly, for example, it can be configured to change and control the direction of one optical path axis of the exposure laser beam.

【0030】図1において、11は、上述したビーム位
置補正手段20を駆動制御するドライバーで、このドラ
イバー11に、上述したビーム位置検出手段10からの
検出信号からエラー信号を得るエラー検出回路12から
のエラー信号を供給して、ビーム位置補正手段20によ
って、各露光レーザービームLa およびL bもしくはそ
のいずれか一方の光路変更を行うことによって、フォト
レジスト101面上での各露光レーザービームLa およ
びL bの相互の位置をエラー信号がゼロとなるような所
定の位置関係に設定する。
In FIG. 1, reference numeral 11 denotes a driver for driving and controlling the above-mentioned beam position correcting means 20. The driver 11 receives a signal from an error detecting circuit 12 which obtains an error signal from the above-mentioned detection signal from the beam position detecting means 10. Is supplied, and the beam position correcting means 20 changes the optical path of each of the exposure laser beams La and Lb or one of them, whereby the respective exposure laser beams La and L on the surface of the photoresist 101 are changed. The mutual positions of b are set to a predetermined positional relationship such that the error signal becomes zero.

【0031】このようにして、2本の露光レーザービー
ムLa およびL bのフォトレジスト101面上での相互
の位置関係が設定された状態で、例えば基板100が、
その中心軸の周りに回転され、かつこの基板100に対
して例えば原盤露光装置の移動によって、その露光レー
ザービームLa およびL bの露光スポットの位置が、基
板100の、例えば半径方向に沿う方向に、相対的に移
動させることによって、両露光レーザービームLa およ
びL bの基板上のフォトレジスト101面上での走査軌
跡は、ダブルスパイラル状の軌跡となる、そして、この
とき、各露光レーザービームLa およびL bに関して、
光変調器60a および60 bによって、記録信号等に応
じた強度変調を行えば、所要のパターン露光、例えば最
終的に得る光ディスクに形成するトラッキング用のグル
ーブ、アドレス用ピット形成のデータ情報等のための露
光を行うことができる。
In this manner, with the mutual positional relationship between the two exposure laser beams La and Lb on the surface of the photoresist 101 set, for example, the substrate 100 is
The position of the exposure spot of the exposure laser beams La and Lb is rotated in the direction along the radial direction, for example, of the substrate 100 by being rotated about the central axis and moving the master exposure apparatus with respect to the substrate 100, for example. By moving the exposure laser beams La and Lb relatively, the scanning trajectory of the exposure laser beams La and Lb on the surface of the photoresist 101 on the substrate becomes a double spiral trajectory. And for L b
When the light modulators 60a and 60b perform intensity modulation in accordance with a recording signal or the like, required pattern exposure is performed, for example, data information for forming a tracking groove and an address pit formed on an optical disk to be finally obtained. Can be performed.

【0032】そして、このようにしてパターン露光のな
されたフォトレジスト101を現像すれば、目的とする
転写用の微細凹凸が形成される。従って、これの上に例
えば金属メッキを施すことによって、原盤の作製がなさ
れる。
Then, by developing the photoresist 101 which has been subjected to the pattern exposure in this manner, desired fine irregularities for transfer are formed. Therefore, a master is produced by applying, for example, metal plating on this.

【0033】上述したように、本発明の原盤露光装置に
よれば、露光レーザービームLa およびL bの位置の設
定を正確に行うことができる。また、上述の本発明の原
盤露光装置においては、2本の露光レーザービームによ
る露光を行った場合であるが、3本以上、もしくは1本
の露光レーザービームによる原盤露光装置とすることが
できる。このように本発明の原盤露光装置においては、
露光レーザービームの位置を正確に設定することができ
ることから、最終的に記録情報となる原盤のパターン露
光のピッチ間の間隔を狭くすることが可能となり、高記
録密度で、かつ特性の良い高転送レートの光学記録媒体
の原盤露光装置を実現することができる。
As described above, according to the master exposure apparatus of the present invention, the positions of the exposure laser beams La and Lb can be set accurately. In the master exposure apparatus of the present invention described above, the exposure is performed using two exposure laser beams. However, the master exposure apparatus can use three or more exposure laser beams or one exposure laser beam. Thus, in the master exposure apparatus of the present invention,
Since the position of the exposure laser beam can be set accurately, it is possible to narrow the interval between pattern exposure pitches of the master disk, which ultimately becomes recording information, and achieve high recording density and high transfer with good characteristics. It is possible to realize a master disc exposure apparatus for an optical recording medium having a high rate.

【0034】[0034]

【発明の効果】本発明の光学記録媒体の原盤露光装置に
よれば、露光レーザービームの位置の設定を正確に行う
ことができた。また、複数の露光レーザービームの相互
の位置を正確に設定することができた。これにより、最
終的に記録情報となる原盤のパターン露光のピッチ間の
間隔を狭くすることが可能となり、高記録密度で、特性
の良い高転送レートの光学記録媒体の原盤露光装置を実
現することができた。
According to the optical recording medium master exposure apparatus of the present invention, the position of the exposure laser beam can be accurately set. Further, the mutual positions of the plurality of exposure laser beams could be set accurately. This makes it possible to narrow the interval between pattern exposure pitches of the master which ultimately becomes recording information, thereby realizing a master exposure apparatus for an optical recording medium having a high recording density and excellent characteristics and a high transfer rate. Was completed.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明による光学記録媒体の原盤露光装置の概
略図を示す。
FIG. 1 shows a schematic view of a master disc exposure apparatus for an optical recording medium according to the present invention.

【図2】プリズムを用いた場合のビーム位置補正手段の
概略図を示す。
FIG. 2 is a schematic diagram of a beam position correcting unit using a prism.

【図3】反射ミラーを用いた場合のビーム位置補正手段
の概略図を示す。
FIG. 3 is a schematic diagram of a beam position correcting unit when a reflection mirror is used.

【図4】音響光学素子(AOD)を用いた場合のビーム
位置補正手段の概略図を示す。
FIG. 4 is a schematic diagram of a beam position correcting unit when an acousto-optic device (AOD) is used.

【図5】A 露光レーザービームの強度分布を示す。B
露光レーザービームのスポットを示す。
FIG. 5A shows the intensity distribution of the exposure laser beam. B
3 shows a spot of an exposure laser beam.

【図6】従来の光学記録媒体の原盤露光装置の概略図を
示す。
FIG. 6 is a schematic view of a conventional optical recording medium master exposure apparatus.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 原盤露光装置、10 ビーム位置検出手段、11
ドライバー、12 エラー検出回路、20 ビーム位置
補正手段、20a プリズム、20c 音響光学素子
(AOD(Acousto-Optic Deflecter) )、20d 反射
ミラー、30 レーザー、35 露光レーザービーム発
生源、31a ハーフミラー、31b,32 ミラー、
33a,33b 偏光ビームスプリッター、40 絞り
込みレンズ、41 対物レンズ、50 露光レーザービ
ーム発生源、51 変調器、52対物レンズ、53 基
板、54,101 フォトレジスト、60a,60b
光変調器、61 ビーム強度分布曲線、70 原盤露光
装置、100 ガラス基板、L,La,Lb 露光レー
ザービーム、Spa ,Spb ビームスポット
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Master exposure apparatus, 10 Beam position detection means, 11
Driver, 12 error detection circuit, 20 beam position correcting means, 20a prism, 20c acousto-optic element (AOD (Acousto-Optic Deflecter)), 20d reflection mirror, 30 laser, 35 exposure laser beam source, 31a half mirror, 31b, 32 mirrors,
33a, 33b polarizing beam splitter, 40 aperture lens, 41 objective lens, 50 exposure laser beam source, 51 modulator, 52 objective lens, 53 substrate, 54, 101 photoresist, 60a, 60b
Light modulator, 61 Beam intensity distribution curve, 70 Master exposure apparatus, 100 Glass substrate, L, La, Lb exposure laser beam, Spa, Spb beam spot

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 原盤を形成する基板上に塗布されたフォ
トレジスト面を露光する露光レーザービームを発生する
露光レーザービーム発生源と、 上記フォトレジスト面上の、上記露光レーザービームの
位置を検出する位置検出手段と、 該位置検出手段によって検出された検出信号によって、
該露光レーザービームの上記フォトレジスト上の位置を
変更制御する位置補正手段とを有し、 上記露光レーザービームの位置ずれを補正することを特
徴とする光学記録媒体の原盤露光装置。
An exposure laser beam source for generating an exposure laser beam for exposing a photoresist surface applied on a substrate forming a master; and detecting a position of the exposure laser beam on the photoresist surface. Position detecting means, and a detection signal detected by the position detecting means,
A position correcting means for changing and controlling the position of the exposure laser beam on the photoresist; and correcting the positional deviation of the exposure laser beam, wherein the apparatus is a master disc exposure apparatus for an optical recording medium.
【請求項2】 上記露光レーザービーム発生源は、複数
の露光レーザービームを発生する露光レーザービーム発
生源とされ、 上記位置検出手段は、上記複数の露光レーザービームの
位置を検出する位置検出手段とされ、 上記露光レーザービームの位置補正手段は、上記位置検
出手段によって検出された検出信号によって、少なくと
も1本の露光レーザービームの位置を変更制御する位置
補正手段とされたことを特徴とする請求項1に記載の光
学記録媒体の原盤露光装置。
2. The exposure laser beam generation source is an exposure laser beam generation source that generates a plurality of exposure laser beams, and the position detection unit is a position detection unit that detects positions of the plurality of exposure laser beams. The position correction means of the exposure laser beam is a position correction means for changing and controlling the position of at least one exposure laser beam according to a detection signal detected by the position detection means. 2. A master disc exposure apparatus for an optical recording medium according to claim 1.
【請求項3】 上記露光レーザービームの位置補正手段
は、露光レーザービームの角度を変更する構成とされた
ことを特徴とする請求項1に記載の光学記録媒体の原盤
露光装置。
3. An apparatus according to claim 1, wherein said exposure laser beam position correcting means changes an angle of the exposure laser beam.
【請求項4】 上記露光レーザービームの位置補正手段
は、少なくとも1本の露光レーザービームの角度を変更
する構成とされたことを特徴とする請求項2に記載の光
学記録媒体の原盤露光装置。
4. The apparatus according to claim 2, wherein said exposure laser beam position correcting means changes an angle of at least one exposure laser beam.
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