JPH10134352A - 光ディスク装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 相変化型ディスク１に情報を記録する際の記
録パワーを適正なパワーに調整可能にする。 【解決手段】 記録時のレーザパワーはパルス光である
ので，高帯域の受光素子を用いなければ受光することが
できない。そこで当該記録時のレーザパワーを検出し
て，記録時のレーザパワーを最適化するために，ＣＰＵ
１１はマスク信号（ＷＤＣ）を出力して，半導体レーザ
駆動回路１３に記録動作をマスクさせて所定時間レーザ
光を連続発光させる。そして，ピーク検出回路１４及び
ボトム検出回路１６により情報の再生を行い，その信号
振幅を検出する。その後，当該信号振幅を予め記憶され
ている基準振幅と比較して，半導体レーザ制御回路１０
に記録パワー目標信号を出力して記録パワーの調整を行
う。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は，相変化型情報記録
媒体に情報を記録等する際に，最適なレーザパワーで記
録等が行えるように当該レーザパワーを調整可能にした
光ディスク装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】情報記録媒体（以下，単にディスクとい
う）に情報を記録するには，半導体レーザ素子から出射
されたレーザ光をディスク上に集光して，当該ディスク
にピットを形成することにより行われている。

【０００３】この場合，レーザパワー（以下，記録時に
おけるレーザパワーを記録パワーという）が変動する
と，適正にピット形成が行えない場合が生じるので，記
録パワーを一定に保つように制御することが行われてい
る。

【０００４】しかし，ディスク特性のバラツキ，光学系
に対するディスクの傾き，温度変化によるディスク特性
や半導体レーザ素子の発振特性が変化することにより記
録特性が変動すると，たとえ記録パワーが一定でも適正
にピットが形成されなくなる。

【０００５】そこで特開平６−７６２８８号公報では，
データの記録中にディスクからの反射光を受光し，当該
反射光に基づき記録パワーを調整する方法が開示されて
いる。

【０００６】即ち，当該方法では，ディスク上に試し書
き領域を設けて適宜試し書きを行う。この試し書きは，
記録パワーを変化させながら行い，そのとき同時にディ
スクからの反射光強度を測定して記憶する。なお反射光
強度の測定は，必要に応じて記録パワーが強いピット形
成時の反射光等が用いられる。

【０００７】試し書き後，当該領域を再生し，その時の
再生信号のアシンメトリが最も小さくなる記録パワーを
最適記録パワーと定め，当該記録パワーで試し書きした
ときの反射光強度を目標値として定める。

【０００８】そして，実際にデータを記録している最中
の反射光強度が，先に定めた目標値になるように記録パ
ワーを調整するものである。

【０００９】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら，上述し
た方法では，追記型ディスク等には適用可能あるが，相
変化型ディスクに対しては適用できない問題があった。

【００１０】このことを図８に示す半導体レーザ素子の
駆動波形を参照して説明する。図８（ａ）は追記型ディ
スクに対するものであり，図８（ｂ）は相変化型ディス
クに対するものである。なお，図中，Ｐｒは再生パワ
ー，Ｐｗは記録パワー及びＰｅは消去パワーを示してい
る。当該消去パワーは，データの上書きを行うときにも
用いられるパワーで，本明細書ではこれを含めて消去パ
ワーと記載する。

【００１１】図８（ａ）及び（ｂ）を比較すると容易に
理解できるように，記録時におけるパルス幅は，相変化
型ディスクの方が追記型ディスクより短くなっている。

【００１２】このため，記録時における相変化型ディス
クからの反射光の周波数が高くなり，高帯域化した受光
素子を用いなければ当該反射光を検出することができな
くなる。従って，上述した公報における方法のように，
データを記録している最中の反射光を受光して，記録パ
ワーを調整することが困難になる。

【００１３】この場合，２つのレーザ源を用いて２つの
レーザスポットをディスク上に形成し，先行する一方の
レーザスポットは，図８（ｂ）のようなパルス幅に設定
してデータの記録を行い，他方のレーザスポットは，Ｄ
Ｃ点灯として通常の受光素子で受光可能にして，上述し
た困難性を克服することも可能であるが，かかる構成に
することにより光ディスク装置がコストアップする問題
が新たに生ずる。

【００１４】そこで本発明は，コストアップすることな
く，最適な記録パワーで記録ができるように当該記録パ
ワーを調整可能にした光ディスク装置を提供することを
目的とする。

【００１５】

【課題を解決するための手段】請求項１にかかる発明
は，レーザ源からのレーザ光を情報記録媒体上に集光し
てレーザスポットを形成し，当該情報記録媒体に情報を
記録する際には所定のパルス幅でレーザ光をパルス発光
させ，また記録された情報を再生又は消去する際にはレ
ーザ光を連続発光させるピックアップ手段と，記録した
情報を再生する再生手段と，記録した情報の記録状態を
検出する検出手段と，情報の記録動作をマスクして，前
記ピックアップ手段に所定時間レーザ光を連続発光さ
せ，当該マスク直前に記録した情報の記録状態を前記検
出手段に検出させて，当該検出結果に基づき前記ピック
アップ手段を制御して記録時のレーザパワーを調整する
制御手段とを有することを特徴とする。

【００１６】即ち，記録時のレーザ光はパルス光である
ので，高帯域の受光素子を用いなければ受光することが
できない。そこで当該記録時のレーザパワーを評価して
最適なレーザパワーに調整するために，制御手段は情報
の記録動作をマスクしてピックアップ手段に所定時間レ
ーザ光を連続発光させる。そして，検出手段によりマス
ク直前に記録した情報の記録状態を検出させ，当該検出
結果に基づきレーザパワーの適否を判断して記録時のレ
ーザパワーを調整することを特徴とする。

【００１７】請求項２にかかる発明は，前記情報記録媒
体が，情報をパケット形式で記録されるパケット領域
と，当該パケット領域間に設けられたリンキング領域と
を有し，前記ピックアップ手段が前記リンキング領域を
走査しているときに，前記制御手段が，前記検出手段に
記録状態を検出させることを特徴とする。

【００１８】即ち，制御手段が情報の記録動作をマスク
して，ピックアップ手段に所定時間レーザ光を連続発光
させる間の記録情報は失われる。そこで，これを防止す
べく，パケット形式で情報が記録される情報記録媒体に
おいては，ピックアップ手段がリンキング領域に達した
時にマスクを行うようにしたことを特徴とする。

【００１９】請求項３にかかる発明は，前記ピックアッ
プ手段が，１つのレーザ光から少なくとも２以上のレー
ザスポットを形成する多重スポット形成部を有し，前記
制御手段が，前記ピックアップ手段に予め設定された試
し書き領域で試し書きを行わせ，前記検出手段に前記２
以上のレーザスポットの反射光うち光強度の強い反射光
を用いて，前記試し書き領域に記録された情報の記録状
態を検出させることを特徴とする。

【００２０】即ち，多重スポット形成部により１つのレ
ーザ光から少なくとも２以上のレーザスポットを情報記
録媒体に形成して情報の記録又は再生等を行う場合に，
試し書き領域を再生して最適な記録パワーを検出する際
には，光強度の強いレーザスポットの反射光を用いて再
生し，これにより再生信号のＳ／Ｎ比等を高めることを
特徴とする。

【００２１】請求項４にかかる発明は，前記制御手段
が，情報の記録動作をマスクして前記ピックアップ手段
に所定時間レーザ光を連続発光させる際は，記録された
情報を再生する再生時のレーザパワーで連続発光させる
ことを特徴とする。

【００２２】即ち，情報の記録動作をマスクしてピック
アップ手段にレーザ光を所定時間連続発光させ，これに
より記録された情報を再生する際には，再生時のレーザ
パワーでレーザを発光させることを特徴とする。

【００２３】請求項５にかかる発明は，前記制御手段
が，情報の記録動作をマスして前記ピックアップ手段に
所定時間レーザ光を連続発光させる際は，記録された情
報を消去する消去時のレーザパワーで連続発光させるこ
とを特徴とする。

【００２４】即ち，情報の記録動作をマスクしてピック
アップ手段にレーザ光を所定時間連続発光させ，これに
より記録された情報を再生する際には，消去時のレーザ
パワーでレーザを発光させることを特徴とする。

【００２５】請求項６にかかる発明は，前記ピックアッ
プ手段が，レーザ源を制御駆動するレーザ源駆動部と，
少なくともレーザ光を連続発光した際に，前記レーザ源
から出射されたレーザパワーをモニタしてレーザパワー
モニタ信号を出力するレーザパワー検出部とを有し，前
記制御手段が，前記検出手段から受信した情報の記録状
態の検出結果に基づき，記録時のレーザパワーの目標値
である記録パワー目標値信号を演算する演算制御部と，
該記録パワー目標値信号と前記レーザパワーモニタ信号
とを比較して，レーザパワーが前記記録パワー目標値に
なるように，前記レーザ源駆動部にレーザパワー制御信
号を出力するレーザ制御部とを有することを特徴とす
る。

【００２６】即ち，レーザ源から出射されたレーザ光の
レーザパワーをモニタするために，レーザパワー検出部
を設け，またレーザ源に所定の電力を供給して駆動する
レーザ源駆動部をピックアップ手段に設ける。また検出
手段から受信した情報の記録状態の検出結果に基づきレ
ーザパワーを評価し，これにより記録時のレーザパワー
の目標値である記録パワー目標値信号を演算する演算制
御部と，該記録パワー目標値信号と前記レーザパワーモ
ニタ信号とを比較してレーザパワーが目標値になるよう
にレーザ源駆動部にレーザパワー制御信号を出力するレ
ーザ制御部とを設ける。

【００２７】請求項７にかかる発明は，前記レーザ源駆
動部が，前記レーザ源にレーザ光を連続発光させる際の
レーザパワーは，前記レーザ制御部からのレーザパワー
制御信号に基づき情報の再生時のレーザパワー又は消去
時のレーザパワーであることを特徴とする。

【００２８】即ち，レーザ制御部は再生時のレーザパワ
ー又は消去時のレーザパワー等を示すレーザパワー制御
信号をレーザ源駆動部に出力することにより，レーザ源
駆動部は当該レーザパワー制御信号に基づきレーザ光を
連続発光させることを特徴とする。

【００２９】

【発明の実施の形態】本発明の第１の実施の形態を図を
参照して説明する。図１は本実施の形態にかかる相変化
型ディスク装置の概略ブロック図であり，図２はかかる
相変化型ディスクに形成されたトラックとレーザスポッ
トとの位置関係を示す図である。なお後述するように，
ディスク上には，メインスポットと２つの先行及び後行
サポットが形成されている。

【００３０】光ディスク装置は，ピックアップ手段，検
出手段，制御手段等を有している。ピックアップ手段
は，レーザ光を出射する半導体レーザ素子４，該半導体
レーザ素子４から出射されたレーザ光の一部を受光して
電気信号に変換し，これをレーザパワーモニタ信号とし
て出力するレーザ光検出用素子５，ディスク１からの反
射光を受光して電気信号に変換する信号検出受光素子６
等からなるピックアップ２を有している。

【００３１】検出手段は，信号検出受光素子６から出力
される信号が電流信号であるため，これを電圧信号に変
換するＩ−Ｖ変換器７〜９，Ｉ−Ｖ変換器９からの信号
のピーク値を検出するピーク検出回路１４，Ｉ−Ｖ変換
器９からの信号のボトム値を検出するボトム検出回路１
６，ピーク検出回路１４からの信号をディジタル信号に
変換するＡ／Ｄ変換器１５，ボトム検出回路１６からの
信号をディジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換器１７等を
有している。

【００３２】また制御手段は，記録時に当該記録動作を
マスクしてレーザ光を連続発光させるためのマスク信号
（ＷＤＣ）を出力すると共に，Ａ／Ｄ変換器１５，１７
からの信号に基づき最適な記録パワーを判断し，当該判
断に基づき記録パワー目標信号を出力するＣＰＵ１１，
記録パワー目標信号をアナログ信号に変換するＤ／Ａ変
換器１２，半導体レーザ素子４に最適な記録パワーのレ
ーザ光を発光させるべくレーザ駆動電流制御信号を出力
する半導体レーザ制御回路１０，レーザ駆動電流制御信
号に基づき半導体レーザ素子４を駆動する半導体レーザ
駆動回路１３，ゲート信号及びマスク信号（ＷＤＣ）が
入力するＡＮＤゲート１８，データ信号とマスク信号
（ＷＤＣ）が入力するＡＮＤゲート１９等を有してい
る。

【００３３】上記構成に基づき，半導体レーザ素子４か
ら出射されたレーザ光は，図示しない対物レンズにより
集光されて相変化型ディスク１にレーザスポット３を形
成する。

【００３４】このとき，当該半導体レーザ素子４から出
射されたレーザ光は，図示しないグレーティング等によ
り３分割され，これによりレーザスポット３は図２に示
すようにメインスポット２１，先行スポット２２及び後
行スポット２３の３スポットから構成されるようにな
る。

【００３５】なお，メインスポット２１は，先行及び後
行スポット２２，２３より光強度が強くなるように構成
されている。

【００３６】また，ディスク１には，内周から外周に向
って螺旋状にトラックが設けられ，先行スポット２２，
メインスポット２１及び後行スポット２３は，先行スポ
ット２２を先頭にしてこの順序でトラック上に並んでい
る。先行スポット２２は当該トラックの中心に位置し，
先行スポット２２及び後行スポット２３は，それぞれ隣
接するトラックにまたがる状態で位置している。

【００３７】ディスク１からのメインスポット２１の反
射光は，信号検出受光素子６により受光されて，Ｉ−Ｖ
変換器７により電流電圧変換され，そして図示しない再
生系へと送られる。

【００３８】同様に，先行スポット２２及び後行スポッ
ト２３の反射光は，信号検出受光素子６により受光され
て，Ｉ−Ｖ変換器８，９によりそれぞれ電流電圧変換さ
れて図示しないサーボ系へと送られる。

【００３９】一方半導体レーザ素子４から出射されたレ
ーザ光は，その一部がレーザ光検出用受光素子５に入射
し，当該レーザ検出用受光素子５により光電変換されて
半導体レーザ制御回路１０にレーザパワーモニタ信号と
して出力される。

【００４０】そして半導体レーザ制御回路１０は，記録
パワー目標値信号とレーザパワーモニタ信号とを比較し
て，当該レーザパワーモニタ信号が記録パワー目標値信
号に一致するように，半導体レーザ駆動回路１３にレー
ザ駆動電流制御信号を出力する。半導体レーザ駆動回路
１３は，当該レーザ駆動電流制御信号に基づき半導体レ
ーザ素子４を駆動する。

【００４１】ＡＮＤゲート１８にはゲート信号が入力
し，ＡＮＤゲート１９にはデータ信号が入力すると共
に，当該ＡＮＤゲート１８，１９にＣＰＵ１１からマス
ク信号（ＷＤＣ）が入力している。そして，ＡＮＤゲー
ト１８，１９の出力は，半導体レーザ行動回路１３に入
力している。

【００４２】ＡＮＤゲート１８，１９は，２入力のうち
いずれかが「Ｌ」レベルの時は，「Ｌ」レベルの信号を
出力する。従って，マスク信号（ＷＤＣ）が「Ｈ」レベ
ルの時は，ＡＮＤゲート１８，１９からは当該ＡＮＤゲ
ート１８，１９に入力したゲート信号及びデータ信号が
そのまま半導体レーザ駆動回路１３に入力し，マスク信
号（ＷＤＣ）が「Ｌ」レベルの時は，ゲート信号及びデ
ータ信号に関係なく「Ｌ」レベルの信号が半導体レーザ
駆動回路１３に入力するようになる。

【００４３】これによりマスク信号が「Ｈ」レベルの時
は，半導体レーザ駆動回路１３はデータ信号を変調して
図８（ｂ）に示したようなレーザ素子駆動波形にして半
導体レーザ素子４を駆動する。

【００４４】次に，記録パワーのパワー調整について説
明する。上述したようにデータの記録時においては，レ
ーザ光はパルス変調されて出射される。従って，ディス
ク１からの先行スポット２２及び後行スポット２３の反
射光は激しく変動し，高帯域受光素子でないと適正に受
光して光電変換することができない。即ち，反射光に基
づいて記録パワーの適否を判断することができない。

【００４５】そこで記録パワーの適否判断を行うべく，
ＣＰＵ１１は，記録中の所定期間だけ「Ｌ」レベルのマ
スク信号（ＷＤＣ）をＡＮＤゲート１８，１９に出力し
てレーザ光のパルス変調を停止させ，半導体レーザ素子
４にレーザ光を連続発光させる。これにより先行スポッ
ト２２及び後行スポット２３は，光強度の変動しないレ
ーザ光となる。

【００４６】即ち，マスク信号（ＷＤＣ）が「Ｌ」レベ
ルになると，ＡＮＤゲート１８，１９から出力される信
号レベルも「Ｌ」レベルとなり，半導体レーザ駆動回路
１３は変調を停止して連続したレーザ光を出力するよう
に半導体レーザ素子４を駆動する。

【００４７】なお，当該連続したレーザ光のパワーとし
て，再生パワーや消去パワー等を用いることができる。
以下，このように連続したレーザ光をＤＣレーザとい
う。

【００４８】このようにＤＣレーザの状態で，マスク信
号を「Ｌ」レベルにした直前に記録したデータの再生を
行う。

【００４９】そのときに信号検出受光素子６で受光され
た再生信号は，Ｉ−Ｖ変換器９を介してピーク検出回路
１４及びボトム検出回路１６に出力され，当該ピーク検
出回路１４及びボトム検出回路１６でピーク値及びボト
ム値が検出される。ピーク値及びボトム値はＡ／Ｄ変換
器１５，１７によりディジタル信号に変換してＣＰＵ１
１に送られる。

【００５０】ＣＰＵ１１は，ピーク値及びボトム値か
ら，再生信号の最大振幅（以下，かかる振幅を信号振幅
という）を求めて記録した信号の品質を判断する（即ち
記録パワーの評価を行う）。当該判断は，試し書き等に
よりレーザパワーを最適化した際に記憶していた再生信
号の最大振幅（以下，かかる振幅を基準振幅という）と
比較することにより行う。

【００５１】なお，ＣＰＵ１１からピーク検出回路１４
及びボトム検出回路１６には，リセット信号が出力され
ている。かかるリセット信号は，ピーク検出回路１４及
びボトム検出回路１６にそれまで検出したピーク値及び
ボトム値をリセットさせるための信号である。従って，
ＣＰＵ１１が判断に用いるピーク値及びボトム値は，リ
セット信号を出力した後に受信した信号である。

【００５２】ＣＰＵ１１は，信号振幅が基準振幅より小
さいと判断した場合には，記録パワーを上げるように制
御し，信号振幅が基準振幅より大きいと判断した場合に
は，記録パワーを下げるように制御する。

【００５３】図３は，上記ＣＰＵ１１による記録パワー
のパワー調整処理を示すフローチャートである。ステッ
プＳ１でマスク信号（ＷＤＣ）を「Ｌ」レベルにし，ス
テップＳ２でピーク検出回路１４及びボトム検出回路１
６がピーク値及びボトム値の検出が終了するのを待つ。

【００５４】その後，ステップＳ３でＣＰＵ１１はＡ／
Ｄ変換器１５，１７からピーク値及びボトム値を読み込
み，ステップＳ４でマスク信号（ＷＤＣ）を「Ｈ」レベ
ルにして記録動作を復帰させてステップＳ５に進む。

【００５５】そして，ステップＳ５でＣＰＵ１１は，読
込んだピーク値及びボトム値から信号振幅を算出して，
ステップＳ６に進む。

【００５６】ステップＳ６で算出した信号振幅が基準振
幅より大きいか否かが判断され，信号振幅が大きい場合
には，ステップＳ８に進み記録パワーを下げてステップ
Ｓ１０に進む。一方，信号振幅が基準振幅とが等しい
か，または小さい場合にはステップＳ７に進む。

【００５７】ステップＳ７では，信号振幅が基準振幅よ
り小さいか否かが判断され，信号振幅が小さい場合に
は，ステップＳ９に進み記録パワーを上げてステップＳ
１０に進む。

【００５８】一方，ステップＳ７で信号振幅が基準振幅
より小さくない場合，即ち信号振幅と基準振幅とが等し
い場合（記録パワーが適正な場合）にはそのままステッ
プＳ１０に進む。

【００５９】ステップＳ１０では，所定時間のウエイト
状態となる。このウエイト状態は，記録パワー確認中に
おいて記録データが失われるので，当該確認処理を行う
頻度を調整して失われるデータ量を少なくするためのも
のである。

【００６０】その後，ステップＳ１１で記録の終了か否
かを確認し，終了していなければステップＳ１へ戻り，
終了した場合は記録パワーの調整処理も終了する。

【００６１】以上により，光源を１つしか有しないピッ
クアップであっても，記録中の記録マークの品質を検出
することが可能になって，記録パワーの調整を行えるよ
うになる。

【００６２】なお，この記録パワーの確認動作中は，デ
ー夕が失われるが，確認動作時間を十分短くし，かつ，
確認動間隔を大きくすることでエラー訂正が可能とな
る。

【００６３】また，上述した記録パワーの確認をリンキ
ンク部で行うならば，記録デ−夕の欠落を防止すること
が可能になる。このリンキング部とは，例えばＣＤ−Ｒ
等のディスク１に設けられたトラックを論理的に複数個
に分割してパケットを形成し，当該パケット毎に記録を
行う場合に，パケットとパケットの間に設けられたユー
ザデータの記録に使用しない領域のことである。

【００６４】次に第２に実施の形態を図を参照して説明
する。なお第１の実施の形態と同一構成に関しては，同
一符号を用いて適宜説明を省略する。

【００６５】データの再生は後行スポット２３の反射光
により行うことも可能であるが，図２にも見られるよう
に後行スポット２３は，トラックの中心に位置していな
いので，ノイズの影響を受けやすく又光強度も弱い。

【００６６】そこで，本実施の形態では，光強度の強い
メインスポットの反射光を用いて記録パワーの検出を行
うことにより信頼性を高めるものである。

【００６７】このため図４に示すように，メインスポッ
ト２１の反射光による受光信号が出力されるＩ−Ｖ変換
器７に接続されたＡ端子と後行スポット２３の反射光に
よる受光信号が出力されるＩ−Ｖ変換器９に接続された
Ｂ端子とを有し，共通端子Ｃが，ピーク検出回路１４及
びボトム検出回路１６に接続されたスイッチ４１を設け
ている。

【００６８】かかる構成により，記録パワーを決定する
ときは，共通端子ＣをＡ端子に接続して，Ｉ−Ｖ変換器
７からのメインスポット２１による受光信号をピーク検
出回路１４及びボトム検出回路１５に入力させて，試し
書きを行う。そして，当該試し書き領域を再生し，その
ときの再生信号の信号振幅がもっとも大きくなった記録
パワーを最適記録パワーとする。

【００６９】その後，スイッチ４１の共通端子Ｃを端子
Ｂに接続して，Ｉ−Ｖ変換器９からの後行スポット２３
による受光信号がピーク検出回路１４及びボトム検出回
路１６に入力するように設定する。そして，先に決定し
た最適記録パワーで記録された領域を再度再生して，ピ
ーク検出回路１４等から求めた信号振幅を基準振幅とし
て記憶する。このようにして求められた基準振幅に対し
て第１の実施の形態で説明した手順に従って記録パワー
の確認及び，調整を行う。

【００７０】これにより，信頼性の高い記録パワーの調
整が可能になる。

【００７１】本発明の第３の実施の形態を図を参照して
説明する。なお，第１，２の実施の形態と同一構成に関
しては，同一符号を用いて説明を適宜省略する。

【００７２】本実施の形態にかかる光ディスク装置は，
第１，２の実施の形態にかかるゲート回路及び半導体レ
ーザ駆動回路に変更を加えたものである。

【００７３】本実施の形態にかかるゲート回路は，デー
タ信号とマスク信号（ＷＤＣ）とが入力するＡＮＤゲー
ト１９を有している。

【００７４】また半導体レーザ駆動回路１３には，電源
と半導体レーザ素子４との間に再生電流を出力する再生
電流駆動回路５１，記録電流を出力する記録電流駆動回
路５５及び消去電流を出力する消去電流駆動回路５３が
それぞれ並列に設けられている。

【００７５】また，記録電流駆動回路５５と半導体レー
ザ素子４との間には記録電流スイッチ５４が直列に接続
され，消去電流駆動回路５３と半導体レーザ素子４との
間に消去電流スイッチ５２が直列に接続されている。

【００７６】そして，再生電流駆動回路５１，記録電流
駆動回路５５及び消去電流駆動回路５３には，半導体レ
ーザ制御回路１０からレーザ駆動電流制御信号が入力す
るようになっており，当該レーザ駆動電流制御信号に応
じた再生電流，記録電流及び消去電流が出力される。

【００７７】また，消去電流スイッチ５２にはゲート信
号が入力して，当該ゲート信号によりＯＮ／ＯＦＦ動作
し，記録電流スイッチ５４にはＡＮＤゲート１９の出力
が入力して，当該ＡＮＤゲート１９の出力に基づきＯＮ
／ＯＦＦ動作するようになっている。

【００７８】なお，上記構成は第１，２の実施の形態に
かかるゲート回路と比べ，ＡＮＤゲート１８が省略され
た構成になっており，ゲート信号とＡＮＤゲート１９か
らの信号とがそれぞれ消去電流スイッチ５２及び記録電
流スイッチ５４に入力するように構成されている点が異
なっている。

【００７９】上記構成により，例えばマスク信号（ＷＤ
Ｃ）が「Ｌ」レベルの時でも，当該ＡＮＤゲート１９か
ら出力される信号とゲート信号の信号レベルとは一致し
なくなり，消去電流スイッチ５２及び記録電流スイッチ
５４をそれぞれ独立に動作させることが可能になる。

【００８０】そして，半導体レーザ制御回路１０から再
生電流駆動回路５１にレーザ駆動電流制御信号が入力す
ると，当該レーザ駆動電流制御信号により半導体レーザ
素子４に再生電流が出力されて，当該半導体レーザ素子
４は再生パワーを持つレーザ光を発光する。

【００８１】同様に，消去時（オーバーライト時も含
む）には，半導体レーザ制御回路１０からのレーザ駆動
電流制御信号が消去電流駆動回路５３に入力して，当該
レーザ駆動電流制御信号により消去電流駆動回路５３は
動作する。このような状態で「Ｈ」レベルのゲート信号
が入力すると，消去電流スイッチ５２が動作して消去電
流駆動回路５３から消去電流が半導体レーザ素子４に供
給されるようになる。

【００８２】このとき，再生電流駆動回路５１から半導
体レーザ素子４に再生電流が供給されているので，当該
半導体レーザ素子４は消去電流と再生電流との合計電流
で発振して消去パワーを持つレーザ光を出射するように
なる。

【００８３】さらに，記録時には，半導体レーザ制御回
路１０からレーザ駆動電流制御信号が記録電流駆動回路
５５に入力すると共に，ＡＮＤゲート１９からデータ信
号が記録電流スイッチ５４に入力して，当該記録電流ス
イッチ５４がデータ信号のレベルに応じてＯＮ／ＯＦＦ
動作をするようになる。当該記録電流スイッチ５４がＯ
Ｎの時には記録電流駆動回路５５から記録電流が出力さ
れ，再生電流及び消去電流との合計電流が半導体レーザ
素子４に供給されるようになる。

【００８４】先にも述べたように，記録電流スイッチ５
４はデータ信号によりＯＮ／ＯＦＦ動作させるので，半
導体レーザ素子４に供給される電流は，記録電流スイッ
チ５４のＯＮ／ＯＦＦ動作，即ちデータ信号のレベル値
により変動する。この結果，半導体レーザ素子４から出
射されるレーザ光はデータ信号により変調されたレーザ
パルスとなる。

【００８５】ここでＣＰＵ１１が記録パワーの検出を行
うために，「Ｌ」レベルのマスク信号（ＷＤＣ）を出力
すると，ＡＮＤゲート１９から出力される信号のレベル
は「Ｌ」レベルとなって，記録電流スイッチ５４はＯＦ
Ｆ動作する。

【００８６】従って，この場合には，半導体レーザ素子
４は消去パワーでレーザ光を発光することになり，か
つ，当該レーザ光はＤＣレーザとなる。

【００８７】これにより，第１，２の実施の形態で説明
した手順に従い，記録パワーの確認調整を行うことが可
能になる。

【００８８】本発明の第４の実施の形態を図を参照して
説明する。なお，第１〜３の実施の形態と同一構成に関
しては，同一符号を用いて説明を適宜省略する。

【００８９】図６は本実施の形態にかかる光ディスク装
置の部分構成図を示したもので，当該光ディスク装置
は，上述した第１又は第２の実施の形態にかかる光ディ
スク装置に比べ，コントロール回路が付加されている。

【００９０】半導体レーザ制御回路１０は，レーザ光検
出受光素子５から出力されたレーザパワーモニタ信号を
Ｉ−Ｖ変換するＩ−Ｖ変換回路６１，該Ｉ−Ｖ変換回路
６１からの信号を基準電圧Ｖｒｅｆと比較して，比較結
果に応じた信号を出力する再生用比較回路６２，該再生
用比較回路６２からの信号をサンプル／ホールドして再
生電流駆動回路５１に再生電流制御信号を出力する再生
用Ｓ／Ｈ回路６４，Ｉ−Ｖ変換回路６１からの信号とＤ
／Ａ変換器１２を介してＣＰＵ１１から出力された記録
パワー目標値信号との比較を行い，その比較結果に応じ
た信号を出力する消去用比較器６３，該消去用比較器６
３からの信号をサンプル／ホールドして消去電流駆動回
路５３に消去電流制御信号を出力すると共に，後述する
アンプ６６に出力する消去用Ｓ／Ｈ回路６５，該消去用
Ｓ／Ｈ回路６５からの信号を増幅して記録電流駆動回路
５５に記録電流制御信号を出力するアンプ６６等を有し
ている。

【００９１】また，コントロール用回路は，データ信号
とマスク信号（ＷＤＣ）とが入力して，その出力を記録
スイッチ制御信号（ＷＳＷ）として記録電流スイッチ５
４に出力するＡＮＤゲート１９，マスク信号（ＷＤＣ）
がＮＯＴゲート２０を介して入力すると共にＣＰＵ１１
からの消去制御信号（ＥＲＣ）が入力するＡＮＤゲート
２１，該ＡＮＤゲート２１からの信号とゲート信号とが
入力して消去用Ｓ／Ｈ回路６５に消去Ｓ／Ｈ信号（ＥＳ
Ｒ）を出力するＡＮＤゲート２４，ＮＯＴゲート２０を
介してマスク信号（ＷＤＣ）とＮＯＴゲート２３を介し
て消去制御信号（ＥＲＣ）とが入力するＮＡＮＤゲート
２２，該ＮＡＮＤゲート２２からの信号とゲート信号と
が入力して，消去スイッチ制御信号（ＥＳＷ）を消去電
流スイッチ５２に出力するＡＮＤゲート２５，ＮＯＴゲ
ート２７を介してゲート信号が入力すると共にＮＯＴゲ
ート２８を介してＮＡＮＤゲート２２からの信号が入力
して再生用Ｓ／Ｈ回路６４に再生Ｓ／Ｈ信号（ＲＳＨ）
を出力するＯＲゲート２６等を有している。

【００９２】上記構成に基づき，半導体レーザ素子４か
ら出射されたレーザ光の一部が，レーザ光検出受光素子
５に入射し光電変換されて，レーザパワーモニタ信号と
なってＩ−Ｖ変換回路６１によりＩ−Ｖ変換される。そ
して，Ｉ−Ｖ変換されたレーザパワーモニタ信号は再生
用比較回路６２と消去用比較回路６３に出力される。

【００９３】再生用比較回路６２は，再生パワーでレー
ザ光を発光している時に，Ｉ−Ｖ変換回路６１からのレ
ーザパワーモニタ信号を基準電圧Ｖｒｅｆと比較して，
その比較結果に応じた信号を再生用Ｓ／Ｈ回路６４に出
力する。

【００９４】当該再生用Ｓ／Ｈ回路６４には，ＯＲゲー
ト２６から再生Ｓ／Ｈ信号ＲＳＨが入力し，当該再生Ｓ
／Ｈ信号ＲＳＨに基づき再生用比較回路６２からの信号
をサンプリングし，その時の信号をホールドして再生電
流駆動回路５１に再生電流制御信号として出力する。

【００９５】また消去用比較回路６３は，消去パワーで
レーザ光を発光している時に，Ｉ−Ｖ変換回路６１から
の信号とＤ／Ａ変換器１２を介してＣＰＵ１１からの記
録パワー目標値信号とを比較して，比較結果に応じた信
号を消去用Ｓ／Ｈ回路６５に出力する。

【００９６】当該消去用Ｓ／Ｈ回路６５には，ＡＮＤゲ
ート２４から消去Ｓ／Ｈ信号（ＥＳＲ）が入力し，当該
消去Ｓ／Ｈ信号（ＥＳＲ）に基づき消去用比較回路６３
からの信号をサンプリングし，その時の信号をホールド
して消去電流駆動回路５３に消去電流制御信号として出
力する。なお，当該消去電流制御信号はアンプ６６に出
力され，当該アンプ６６で増幅されて記録電流駆動回路
５５に記録電流制御信号として出力される。

【００９７】このように，再生電流駆動回路５１，消去
電流駆動回路５３及び記録電流駆動回路５５には再生，
消去及び記録電流制御信号が出力されるが，再生電流制
御信号は再生電流が常に一定になるように制御するが，
消去，記録電流はこのように一定には制御されず適宜調
整変更可能になっている。

【００９８】次に，コントロール回路の動作を図７のタ
イミングチャートを参照して説明する。なお，再生用Ｓ
／Ｈ回路６４及び消去用Ｓ／Ｈ回路６５は，再生Ｓ／Ｈ
信号ＲＳＨ及び消去Ｓ／Ｈ信号（ＥＳＲ）が「Ｈ」レベ
ルの時にはサンプルモードになり，「Ｌ」レベルの時に
はホールドモードになるものとする。

【００９９】図７のの区間は再生時を示し，当該区間
ではゲート信号は「Ｌ」レベル，マスク信号（ＷＤＣ）
及び消去制御信号（ＥＲＣ）は「Ｈ」レベルとなってい
る。

【０１００】従って，ＡＮＤゲート２１からは「Ｌ」レ
ベルの信号が出力されて，ゲート信号のレベルにかかわ
らずＡＮＤゲート２４から出力される消去Ｓ／Ｈ信号
（ＥＳＲ）は共に「Ｌ」レベルとなる。このため，消去
用Ｓ／Ｈ回路６５はホールドモードとなって，当該消去
用Ｓ／Ｈ回路６５から消去電流駆動回路５２に消去電流
制御信号が出力され，またアンプ６６を介して記録電流
駆動回路５５に記録電流制御信号が出力される。

【０１０１】また，ＮＡＮＤゲート２２の出力は「Ｈ」
レベルであるので，ＮＯＴゲート２８を介してＯＲゲー
ト２６に入力する信号は「Ｌ」レベルとなる。一方，ゲ
ート信号が「Ｌ」レベルなので，結局ＯＲゲート２６か
らは「Ｈ」レベルの再生Ｓ／Ｈ信号ＲＳＨが再生用Ｓ／
Ｈ回路６４に出力されることになる。

【０１０２】従って，再生時には再生用Ｓ／Ｈ回路６４
がサンプルモードとなって，当該再生用Ｓ／Ｈ回路６４
から再生電流駆動回路５１に再生電流制御信号が出力さ
れる。

【０１０３】このとき，ＡＮＤゲート２５から出力され
る消去スイッチ制御信号（ＥＳＷ）は，「Ｌ」レベルと
なるので，消去電流スイッチ５２はＯＦＦ動作して，消
去電流は半導体レーザ４に供給されなくなる。また再生
時はデータ信号は「Ｌ」レベルなので，ＡＮＤゲート１
９から出力される記録スイッチ制御信号（ＷＳＷ）は
「Ｌ」レベルとなり，記録電流スイッチ５４はＯＦＦ動
作して，記録電流は半導体レーザ４に供給されなくな
る。

【０１０４】以上により再生時には，再生電流駆動回路
５１から出力された再生電流のみが半導体レーザ素子４
に供給されることになる。

【０１０５】記録時には，ゲート信号が「Ｈ」レベルに
なって記録が開始される。これにより，再生Ｓ／Ｈ信号
ＲＳＨ及び消去Ｓ／Ｈ信号（ＥＳＲ）は共に「Ｌ」レベ
ルとなる。

【０１０６】従って，再生用Ｓ／Ｈ回路６４及び消去用
Ｓ／Ｈ回路６５は共にホールドモードとなって，この状
態における再生電流制御信号及び消去電流制御信号が，
再生電流駆動回路５１及び消去電流駆動回路５２にそれ
ぞれ出力され，またアンプ６６からの記録電流制御信号
が記録電流駆動回路５５に出力される。

【０１０７】このとき，ＮＡＮＤゲート２５から出力さ
れる消去スイッチ制御信号（ＥＳＷ）は，「Ｈ」レベル
なので，消去電流スイッチ５２はＯＮ動作して，消去電
流駆動回路５３からの消去電流が半導体レーザ素子４に
出力される。

【０１０８】またＡＮＤゲート１９から出力される記録
スイッチ制御信号（ＷＳＷ）は，マスク信号が「Ｈ」レ
ベルなので，データ信号と同じ信号となり，記録電流ス
イッチ５４はデータ信号のレベルに従ってＯＮ／ＯＦＦ
動作する。これにより半導体レーザ素子４には，記録電
流が記録電流スイッチ５４のＯＮ／ＯＦＦ動作に従って
断続的に供給されるようになる。

【０１０９】このような記録時において，マスク信号が
「Ｌ」レベルになると（図７の領域に対応），再生Ｓ
／Ｈ信号ＲＳＨは「Ｌ」レベルとなり消去Ｓ／Ｈ信号
（ＥＳＲ）は「Ｈ」レベルとなる。

【０１１０】従って，再生用Ｓ／Ｈ回路６４はホールド
モードになり，消去用Ｓ／Ｈ回路６５はサンプルモード
となって，その旨の制御信号が再生電流駆動回路５１及
び消去電流駆動回路５２にそれぞれ出力され，またアン
プ６６からの制御信号が記録電流駆動回路５５に出力さ
れる。

【０１１１】このとき，ＡＮＤゲート２５から出力され
る消去スイッチ制御信号（ＥＳＷ）は，「Ｈ」レベルに
なるので，消去電流スイッチ５２はＯＮ動作して，消去
電流駆動回路５３から消去電流が半導体レーザ素子４に
供給される。

【０１１２】またＡＮＤゲート１９から出力される記録
スイッチ制御信号（ＷＳＷ）は，マスク信号が「Ｌ」レ
ベルになったことにより，データ信号と無関係に「Ｌ」
レベルとなり，記録電流スイッチ５４はＯＦＦ動作す
る。これにより半導体レーザ素子４に供給されていた記
録電流が遮断される。

【０１１３】上記状態から消去制御信号（ＥＲＣ）が
「Ｌ」レベルになると，（図７の領域に対応），再生
Ｓ／Ｈ信号ＲＳＨは「Ｈ」レベルとなり消去Ｓ／Ｈ信号
（ＥＳＲ）は「Ｌ」レベルとなる。

【０１１４】従って，再生用Ｓ／Ｈ回路６４はサンプル
モードになり，消去用Ｓ／Ｈ回路６５はホールドモード
となって，その旨の制御信号が再生電流駆動回路５１及
び消去電流駆動回路５２にそれぞれ出力され，またアン
プ６６から記録電流制御信号が記録電流駆動回路５５に
出力される。

【０１１５】このとき，ＡＮＤゲート２５から出力され
る消去スイッチ制御信号（ＥＳＷ）は，「Ｌ」レベルに
なるので，消去電流スイッチ５２はＯＦＦ動作して，消
去電流駆動回路５３から半導体レーザ素子４に供給され
ていた消去電流が遮断される。

【０１１６】またＡＮＤゲート１９から出力される記録
スイッチ制御信号（ＷＳＷ）は，マスク信号が「Ｌ」レ
ベルになったことにより，データ信号と無関係に「Ｌ」
レベルとなり，記録電流スイッチ５４はＯＦＦ動作す
る。これにより半導体レーザ素子４に供給されていた記
録電流が遮断される。

【０１１７】以上により記録中の記録パワーを確認して
最適記録パワーに調整できるようになる。

【０１１８】また上述した各実施の形態においては，３
つのレーザスポットを用いることを前提に述べてきた
が，トラック信号をプッシュプル法等により検出する場
合には，レーザ光を２分割して２つのレーザスポットを
ディスク１上に形成し，トラック中心にレーザスポット
を配置した場合にも適用可能である。

【０１１９】さらに，記録パワーの検出を信号振幅を例
にして説明したが，アシンメトリ法等によってもよい。

【０１２０】

【発明の効果】請求項１にかかる発明によれば，情報の
記録動作をマスクして所定時間レーザ光を連続発光さ
せ，記録した情報の記録状態を検出して記録時のレーザ
パワーを調整するようにしたので，相変化型の情報記録
媒体であっても記録パワーの調整が可能になり最適な記
録パワーで記録することができる。

【０１２１】また，レーザ源を複数用意等することなく
記録した情報の記録状態の検出を行うようにしたので，
コストアップが防止できると共に，複数のレーザ源を用
いる場合に比べ調整等が簡単になり信頼性が向上する。

【０１２２】請求項２にかかる発明によれば，リンキン
グ領域に達したときに情報の記録動作をマスクするよう
にしたので，情報が失われることがなくなる。

【０１２３】請求項３にかかる発明によれば，複数のレ
ーザスポットのうち光強度の強いレーザスポットの反射
光を利用して，試し書き領域の再生を行うので，試し書
き領域の再生信号の信号強度が大きくなり，最適記録パ
ワーを高い精度で検出することが可能になった。

【０１２４】このとき，試し書き領域の再生は，通常の
再生回路を用いて行うので，装置のコストアップが防止
できる。

【０１２５】請求項４にかかる発明によれば，情報の記
録動作をマスクしてピックアップ手段にレーザ光を所定
時間連続発光させ，これにより記録された情報を再生す
る際には，再生時のレーザパワーでレーザを発光させる
ので，レーザ光の連続発光した際に，レーザパワーが強
すぎて情報記録媒体に異常領域を発生させることがなく
なる。

【０１２６】請求項５にかかる発明によれば，情報の記
録動作をマスクしてピックアップ手段にレーザ光を所定
時間連続発光させ，これにより記録された情報を再生す
る際には，再生時のレーザパワーでレーザを発光させる
ので，レーザ光の連続発光した際に，レーザパワーが強
すぎて情報記録媒体に異常領域を発生させることがなく
なる。

【０１２７】請求項６にかかる発明によれば，情報の記
録動作をマスクして，レーザ光を所定時間連続発光さ
せ，当該期間中にレーザパワーを制御するので記録パワ
ー等の調整をすることが可能になる。

【０１２８】請求項７にかかる発明によれば，情報の記
録動作をマスクして，レーザ光を所定時間連続発光さ
せ，当該期間中に記録時若しくは消去時又は再生時のレ
ーザパワーを制御するので信頼性の高い適切なレーザパ
ワーの調整が可能になる。

【図面の簡単な説明】

【図１】第１の実施の形態の説明に適用される光ディス
ク装置の構成図である。

【図２】相変化型ディスク上に形成されるトラック上の
レーザスポットの位置関係を示す図である。

【図３】記録パワーの検出及び調整を行う際のフローチ
ャートである。

【図４】第２の実施の形態の説明に適用される光ディス
ク装置の構成図である。

【図５】第３の実施の形態の説明に適用される光ディス
ク装置の構成図である。

【図６】第４の実施の形態の説明に適用される光ディス
ク装置の構成図である。

【図７】図６の動作タイミングを示すタイミングチャー
トである。

【図８】従来の技術の説明及び課題の説明に適用される
レーザ光の駆動波形で，（ａ）は追記型ディスク，
（ｂ）は相変化型ディスクの駆動波形である。

【符号の説明】 ２ ピックアップ ４ 半導体レーザ素子４ ５ レーザ光検出用素子 ６ 信号検出受光素子 ７〜９，６１ Ｉ−Ｖ変換器 １０ 半導体レーザ制御回路 １１ ＣＰＵ １２ Ａ／Ｄ変換器 １３ 半導体レーザ駆動回路 １４ ピーク検出回路 １６ ボトム検出回路 １５，１７ Ｄ／Ａ変換器 １８，１９ ＡＮＤゲート ４１ スイッチ ５１ 再生電流駆動回路 ５３ 消去電流駆動回路 ５５ 記録電流駆動回路 ５２ 消去電流スイッチ ５４ 記録電流スイッチ ６２ 再生用比較回路 ６３ 消去用比較回路 ６４ 再生用Ｓ／Ｈ回路 ６５ 消去用Ｓ／Ｈ回路 ６６ アンプ

Claims (7)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 レーザ源からのレーザ光を情報記録媒体
   上に集光してレーザスポットを形成し，当該情報記録媒
   体に情報を記録する際には所定のパルス幅でレーザ光を
   パルス発光させ，また記録された情報を再生又は消去す
   る際にはレーザ光を連続発光させるピックアップ手段
   と，記録した情報を再生する再生手段と，記録した情報
   の記録状態を検出する検出手段と，情報の記録動作をマ
   スクして，前記ピックアップ手段に所定時間レーザ光を
   連続発光させ，当該マスク直前に記録した情報の記録状
   態を前記検出手段に検出させて，当該検出結果に基づき
   前記ピックアップ手段を制御して記録時のレーザパワー
   を調整する制御手段とを有することを特徴とする光ディ
   スク装置。
2. 【請求項２】 前記情報記録媒体が，情報をパケット形
   式で記録されるパケット領域と，当該パケット領域間に
   設けられたリンキング領域とを有し，前記ピックアップ
   手段が前記リンキング領域を走査しているときに，前記
   制御手段が，前記検出手段に記録状態を検出させること
   を特徴とする請求項１記載の光ディスク装置。
3. 【請求項３】 前記ピックアップ手段が，１つのレーザ
   光から少なくとも２以上のレーザスポットを形成する多
   重スポット形成部を有し，前記制御手段が，前記ピック
   アップ手段に予め設定された試し書き領域で試し書きを
   行わせ，前記検出手段に前記２以上のレーザスポットの
   反射光うち光強度の強い反射光を用いて，前記試し書き
   領域に記録された情報の記録状態を検出させることを特
   徴とする請求項１又は２記載の光ディスク装置。
4. 【請求項４】 前記制御手段が，情報の記録動作をマス
   クして前記ピックアップ手段に所定時間レーザ光を連続
   発光させる際は，記録された情報を再生する再生時のレ
   ーザパワーで連続発光させることを特徴とする請求項１
   乃至３いづれか１項記載の光ディスク装置。
5. 【請求項５】 前記制御手段が，情報の記録動作をマス
   して前記ピックアップ手段に所定時間レーザ光を連続発
   光させる際は，記録された情報を消去する消去時のレー
   ザパワーで連続発光させることを特徴とする請求項１乃
   至４いづれか１項記載の光ディスク装置。
6. 【請求項６】 前記ピックアップ手段が，レーザ源を制
   御駆動するレーザ源駆動部と，少なくともレーザ光を連
   続発光した際に，前記レーザ源から出射されたレーザパ
   ワーをモニタしてレーザパワーモニタ信号を出力するレ
   ーザパワー検出部とを有し，前記制御手段が，前記検出
   手段から受信した情報の記録状態の検出結果に基づき，
   記録時のレーザパワーの目標値である記録パワー目標値
   信号を演算する演算制御部と，該記録パワー目標値信号
   と前記レーザパワーモニタ信号とを比較して，レーザパ
   ワーが前記記録パワー目標値になるように，前記レーザ
   源駆動部にレーザパワー制御信号を出力するレーザ制御
   部とを有することを特徴とする請求項１乃至５いづれか
   １項記載の光ディスク装置。
7. 【請求項７】 前記レーザ源駆動部が，前記レーザ源に
   レーザ光を連続発光させる際のレーザパワーは，前記レ
   ーザ制御部からのレーザパワー制御信号に基づき情報の
   再生時のレーザパワー又は消去時のレーザパワーである
   ことを特徴とする請求項６記載の光ディスク装置。