JPH10108222A - Check method for image processing unit - Google Patents

Check method for image processing unit

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JPH10108222A
JPH10108222A JP8257897A JP25789796A JPH10108222A JP H10108222 A JPH10108222 A JP H10108222A JP 8257897 A JP8257897 A JP 8257897A JP 25789796 A JP25789796 A JP 25789796A JP H10108222 A JPH10108222 A JP H10108222A
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JP
Japan
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image
signal
memory
pattern
test pattern
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JP8257897A
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Kenji Sasaki
佐々木健二
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Panasonic Electric Works Co Ltd
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Matsushita Electric Works Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a check method for an image processing unit by which the processing unit is checked with high accuracy and excellent reproducibility. SOLUTION: An image procession unit 1 is constituted of a synchronizing signal generator 11 that generates a horizontal synchronizing signal and a vertical synchronizing signal used to control an output image of a camera 2, an A/D converter 12 that converts a video signal of an output image synchronously with the synchronizing signals into a digital signal, an image memory 13 that stores image data of the output image, an application memory 14, and a central processing unit 15 that carries out arithmetic operation to the image data. In this case, a test pattern signal generator 3 that generates a test pattern image signal outputs a pattern image signal synchronously with the video signal and pattern image data of the pattern image signal are stored in the image memory 13, picture element information of each of picture elements being components of the image of the test pattern is stored in the picture element information memory. The central processing unit 15 compares, collates and checks each of pixel data with the picture element information to check the processing unit.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、画像を制御する同
期信号を画像処理装置から出力する外部同期方式でカメ
ラを接続する画像処理装置の検査方法に関するものであ
る。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for inspecting an image processing apparatus to which a camera is connected by an external synchronization system for outputting a synchronization signal for controlling an image from the image processing apparatus.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、この種の画像処理装置の検査方法
として、次に述べる方法が存在する。カメラを接続して
テストパターンを実際に撮像し、画像メモリの内容をモ
ニタに表示し目視で確認して、アナログのビデオ信号を
デジタル信号に変換するA/D変換器、デジタル信号が
入力されて出力画像の画像データを記憶する画像メモリ
及び画像処理装置のシステム全体を検査していた。
2. Description of the Related Art Conventionally, the following methods exist as inspection methods for this type of image processing apparatus. An A / D converter for converting an analog video signal to a digital signal, and a digital signal being input when a camera is connected to actually capture a test pattern, display the contents of the image memory on a monitor and visually check the content, The entire system of the image memory and the image processing apparatus for storing the image data of the output image has been inspected.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】上記した従来の画像処
理装置の検査方法では、撮像されたテストパターンを記
憶した画像メモリの内容をモニタに表示し目視で確認し
て、画像処理装置を検査することができる。
In the above-described method of inspecting an image processing apparatus, the contents of an image memory storing a captured test pattern are displayed on a monitor and visually checked to inspect the image processing apparatus. be able to.

【0004】しかしながら、同一のテストパターンを撮
像しても、照明系の変動やカメラの感度やレンズの絞り
のばらつき等でもって、カメラから出力される出力画像
が変動する。従って、テストパターンをカメラで実際に
撮像する検査方法は、再現性及び精度に問題があった。
However, even if the same test pattern is imaged, the output image output from the camera fluctuates due to variations in the illumination system, variations in the sensitivity of the camera, and variations in the aperture of the lens. Therefore, the inspection method of actually imaging a test pattern with a camera has problems in reproducibility and accuracy.

【0005】一方、テストパターンの画像信号を発生す
るテストパターン信号発生器があって、ブラウン管等の
検査に使用される。カメラで撮像されたテストパターン
に比べて、そのテストパターン信号発生器から発生する
テストパターンの画像信号は、再現性がよく検査の基準
として適している。しかし、外部から同期信号を与えら
れてその同期信号に合わせて画像信号を発生する外部同
期方式のものは少なく、また、外部同期方式のものは有
っても与える同期信号はビデオ信号であって、水平同期
信号及び垂直同期信号を与えて使用できるものは皆無で
ある。
On the other hand, there is a test pattern signal generator for generating a test pattern image signal, which is used for inspection of a cathode ray tube or the like. Compared with a test pattern captured by a camera, an image signal of a test pattern generated from the test pattern signal generator has high reproducibility and is suitable as a reference for inspection. However, there are few external synchronizing systems which receive a synchronizing signal from the outside and generate an image signal in accordance with the synchronizing signal. Nothing can be used by giving a horizontal synchronizing signal and a vertical synchronizing signal.

【0006】従って、テストパターン信号発生器を画像
処理装置に接続しても、そこから出力される画像信号
は、画像処理装置が出力する水平同期信号及び垂直同期
信号と同期を取ることができず、テストパターン信号発
生器を検査の基準として使用できない。
Therefore, even when the test pattern signal generator is connected to the image processing apparatus, the image signal output from the test pattern signal generator cannot be synchronized with the horizontal synchronization signal and the vertical synchronization signal output from the image processing apparatus. In addition, the test pattern signal generator cannot be used as a reference for inspection.

【0007】本発明は、上記事由に鑑みてなしたもの
で、その目的とするところは、テストパターン信号発生
器を使用して、画像処理装置を再現性よくかつ高精度で
検査することができる画像処理装置の検査方法を提供す
ることにある。
The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object of the present invention is to enable an image processing apparatus to be inspected with high reproducibility and high accuracy by using a test pattern signal generator. An object of the present invention is to provide an inspection method for an image processing apparatus.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】上記した課題を解決する
ために、請求項1記載の画像処理装置の検査方法は、接
続されるカメラの出力画像を制御する水平同期信号及び
垂直同期信号を発生する同期信号発生器と、同期信号に
同期した出力画像のビデオ信号をデジタル信号に変換す
るA/D変換器と、デジタル信号が入力されて出力画像
の画像データを記憶する画像メモリと、画像の処理手順
が記載されたアプリケーションプログラムを格納したア
プリケーションメモリと、アプリケーションプログラム
に基づいて画像データを演算処理するとともに全体を制
御する中央演算処理装置と、を備えた画像処理装置であ
って、前記カメラと前記A/D変換器との間に接続され
てテストパターンの画像信号を発生するテストパターン
信号発生器が、前記ビデオ信号に同期したパターン画像
信号を出力するようにし、前記A/D変換器でデジタル
信号に変換された前記パターン画像信号のパターン画像
データを前記画像メモリに記憶せしめ、前記テストパタ
ーンの画像を構成する各画素の画素情報を画素情報メモ
リに記憶させ、前記中央演算処理装置が、前記パターン
画像データの各画素データと、前記画素情報とを比較照
合して検査するようにした構成にしてある。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a method for inspecting an image processing apparatus, comprising: generating a horizontal synchronizing signal and a vertical synchronizing signal for controlling an output image of a connected camera; A synchronizing signal generator, an A / D converter for converting a video signal of an output image synchronized with the synchronizing signal into a digital signal, an image memory receiving a digital signal and storing image data of the output image, An image processing apparatus comprising: an application memory storing an application program in which a processing procedure is described; and a central processing unit that performs arithmetic processing on image data based on the application program and controls the entirety. A test pattern signal generator which is connected between the A / D converter and generates an image signal of a test pattern is provided. A pattern image signal synchronized with a video signal is output, and the pattern image data of the pattern image signal converted into a digital signal by the A / D converter is stored in the image memory to form an image of the test pattern. The pixel information of each pixel to be stored is stored in a pixel information memory, and the central processing unit compares and checks each pixel data of the pattern image data with the pixel information.

【0009】請求項2記載の画像処理装置の検査方法
は、請求項1記載の検査方法において、前記画素情報メ
モリが前記アプリケーションメモリである構成にしてあ
る。
According to a second aspect of the present invention, in the inspection method of the first aspect, the pixel information memory is the application memory.

【0010】[0010]

【発明の実施の形態】本発明の一実施形態を図1に基づ
いて以下に説明する。先ず、画像処理装置の構成につい
て説明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS One embodiment of the present invention will be described below with reference to FIG. First, the configuration of the image processing device will be described.

【0011】1は画像処理装置で、同期信号発生器11
とA/D変換器12と画像メモリ13とアプリケーショ
ンメモリ14と中央演算処理装置15(CPU)と画像
処理用ハードウェア16と、を備えて構成されている。
Reference numeral 1 denotes an image processing apparatus, and a synchronizing signal generator 11
, An A / D converter 12, an image memory 13, an application memory 14, a central processing unit 15 (CPU), and image processing hardware 16.

【0012】同期信号発生器11は、水平同期信号(H
D)及び垂直同期信号(VD)の同期信号を発生し、後
述するカメラ2が接続されて、そのカメラ2の出力画像
が同期信号に同期するよう制御する。A/D変換器12
は、アナログ信号をデジタル信号に変換し、カメラ2と
接続されて、カメラ2からの出力画像のビデオ信号をデ
ジタル信号に変換する。
The synchronization signal generator 11 outputs a horizontal synchronization signal (H
D) and a vertical synchronizing signal (VD) are generated, and a camera 2 to be described later is connected to control so that an output image of the camera 2 is synchronized with the synchronizing signal. A / D converter 12
Converts an analog signal into a digital signal, is connected to the camera 2, and converts a video signal of an output image from the camera 2 into a digital signal.

【0013】画像メモリ13は、A/D変換器12と接
続され、デジタル信号が入力されて出力画像の画像デー
タを記憶する。アプリケーションメモリ14は、SRA
Mにより、画像の処理手順が記載されたアプリケーショ
ンプログラムを格納する。
An image memory 13 is connected to the A / D converter 12, receives a digital signal, and stores image data of an output image. The application memory 14
M stores an application program in which the processing procedure of the image is described.

【0014】中央演算処理装置15は、いわゆるCPU
であり、マイクロコンピュータにより、画像メモリ13
とアプリケーションメモリ14とに接続され、アプリケ
ーションプログラムに基づいて画像メモリ13に記憶さ
れた画像データを演算処理するとともに、全体を制御す
る。
The central processing unit 15 is a so-called CPU
And the image memory 13 by the microcomputer.
And an application memory 14, which performs arithmetic processing on the image data stored in the image memory 13 based on the application program and controls the whole.

【0015】画像処理用ハードウェア16は、画像メモ
リ13と中央演算処理装置15とに接続されて、画像メ
モリ13に記憶された画像データを取り込んで画像処理
し、その結果を中央演算処理装置15に出力する。
The image processing hardware 16 is connected to the image memory 13 and the central processing unit 15, takes in the image data stored in the image memory 13, performs the image processing, and converts the result into the central processing unit 15. Output to

【0016】カメラ2は、電荷結合素子、いわゆるCC
Dを内蔵し、画像処理装置1の同期信号発生器11と接
続されて画像を出力し、その出力画像が同期信号発生器
11からの水平同期信号及び垂直同期信号の同期信号に
同期するよう制御されて、同期した出力画像のビデオ信
号が出力される。
The camera 2 comprises a charge-coupled device, a so-called CC
D, which is connected to the synchronizing signal generator 11 of the image processing apparatus 1 to output an image, and controls the output image to be synchronized with the synchronizing signal of the horizontal synchronizing signal and the vertical synchronizing signal from the synchronizing signal generator 11 Then, a video signal of a synchronized output image is output.

【0017】画像処理装置1の検査方法について説明す
る。先ず、テストパターンの画像信号を発生するテスト
パターン信号発生器3が、カメラ2とA/D変換器12
との間に接続されて、カメラ2からのビデオ信号に同期
したパターン画像信号をアナログで出力する。すなわ
ち、ビデオ信号が同期信号発生器11からの同期信号に
同期しているので、テストパターン信号発生器33から
出力されるパターン画像信号もまたその同期信号に同期
する。
An inspection method of the image processing apparatus 1 will be described. First, a test pattern signal generator 3 for generating an image signal of a test pattern includes a camera 2 and an A / D converter 12.
And outputs a pattern image signal synchronized with a video signal from the camera 2 in an analog manner. That is, since the video signal is synchronized with the synchronization signal from the synchronization signal generator 11, the pattern image signal output from the test pattern signal generator 33 is also synchronized with the synchronization signal.

【0018】次いで、パターン画像信号がA/D変換器
12でデジタル信号に変換され、パターン画像信号のパ
ターン画像データが画像メモリ13に記憶される。ここ
で、パターン画像信号が同期信号に同期しているので、
画像処理装置1は正しいタイミングでテストパターンを
画像メモリ13に書き込むことが可能になる。
Next, the pattern image signal is converted into a digital signal by the A / D converter 12, and the pattern image data of the pattern image signal is stored in the image memory 13. Here, since the pattern image signal is synchronized with the synchronization signal,
The image processing apparatus 1 can write the test pattern into the image memory 13 at a correct timing.

【0019】次いで、テストパターン信号発生器3は検
査すべき内容に応じてテストパターンを設定するパター
ン設定装置31を内蔵し、設定されたテストパターンの
画像を構成する各画素の画素情報が、パターン設定装置
31から画素情報メモリに出力されて、画素情報メモリ
がその各画素の画素情報を記憶する。ここで、画素情報
メモリは、画像処理装置1に設けられたアプリケーショ
ンメモリ14が兼用されて使用される。
Next, the test pattern signal generator 3 has a built-in pattern setting device 31 for setting a test pattern in accordance with the content to be inspected, and the pixel information of each pixel constituting the image of the set test pattern is converted into a pattern. The pixel information is output from the setting device 31 to the pixel information memory, and the pixel information memory stores the pixel information of each pixel. Here, as the pixel information memory, the application memory 14 provided in the image processing apparatus 1 is also used.

【0020】次いで、中央演算処理装置15が画像メモ
リ13に記憶されたパターン画像データの各画素データ
を画像メモリ13から取り込んで、その各画素データ
と、アプリケーションメモリ14に記憶された画素情報
とを比較照合して、A/D変換器12、画像メモリ13
及び画像処理装置1のシステム全体を検査する。
Next, the central processing unit 15 fetches each pixel data of the pattern image data stored in the image memory 13 from the image memory 13 and stores each pixel data and the pixel information stored in the application memory 14. After comparing and collating, the A / D converter 12, the image memory 13
Then, the entire system of the image processing apparatus 1 is inspected.

【0021】かかる一実施形態の画像処理装置の検査方
法にあっては、上記したように、テストパターン信号発
生器3が、カメラ2を介して同期信号発生器11と接続
されているので、同期信号発生器11からの水平同期信
号及び垂直同期信号と同期したパターン画像信号を出力
し、画像メモリ13が同期したパターン画像信号のパタ
ーン画像データを記憶し、中央演算処理装置15がパタ
ーン画像データの各画素データと、アプリケーションメ
モリ14に記憶されたテストパターンの各画素の画素情
報とを比較照合して検査するから、外部同期方式でカメ
ラ2を使用する画像処理装置1にテストパターン信号発
生器3を接続して、撮像されたテストパターンをモニタ
に表示し目視で確認する従来に検査方法に比較して、照
明系の変動、カメラ2の感度及びレンズの絞り等の撮像
条件に起因するテストパターンの出力画像の変動がな
く、再現性よくかつ高精度で画像処理装置1を検査でき
るとともに、自動化を容易に行うことができる。
In the inspection method of the image processing apparatus according to the embodiment, since the test pattern signal generator 3 is connected to the synchronization signal generator 11 via the camera 2 as described above, A pattern image signal synchronized with the horizontal synchronization signal and the vertical synchronization signal from the signal generator 11 is output, the image memory 13 stores the pattern image data of the synchronized pattern image signal, and the central processing unit 15 outputs the pattern image data of the pattern image data. Since each pixel data and pixel information of each pixel of the test pattern stored in the application memory 14 are compared and inspected, the test pattern signal generator 3 is provided to the image processing apparatus 1 using the camera 2 in an external synchronization system. To monitor the visualized test pattern on the monitor and visually check it. No change in the output image of the test pattern caused by the imaging condition of the diaphragm or the like 2 of sensitivity and the lens, it is possible to inspect the image processing apparatus 1 with good reproducibility and high accuracy, automation can be easily performed.

【0022】また、画素情報メモリがアプリケーション
メモリ14であるから、アプリケーションメモリ14が
テストパターンの各画素の画素情報を記憶して、新規に
画素情報メモリを設けることなく画像処理装置1に予め
設けられたメモリを兼用して、安価に検査することがで
きる。
Since the pixel information memory is the application memory 14, the application memory 14 stores the pixel information of each pixel of the test pattern and is provided in the image processing apparatus 1 in advance without newly providing a pixel information memory. Inspection can be performed at low cost by using the same memory.

【0023】なお、本実施形態では、中央演算処理装置
15が直接画像メモリ13から各画素データを取り込ん
で、その各画素データと、アプリケーションメモリ14
に記憶された画素情報とを比較照合して検査したが、画
像処理用ハードウェア16を介して画像メモリ13から
各画素データを取り込んでもよく、限定されない。
In this embodiment, the central processing unit 15 directly fetches each pixel data from the image memory 13 and stores the fetched pixel data in the application memory 14.
The pixel information stored in the image memory 13 is compared and checked, but each pixel data may be fetched from the image memory 13 via the image processing hardware 16 without any limitation.

【0024】また、本実施形態では、テストパターンの
各画素の画素情報を記憶する画素情報メモリをアプリケ
ーションメモリ14と兼用したが、画素情報メモリを画
像処理装置1の外部に別に設けてもよく、限定されな
い。
In the present embodiment, the pixel information memory for storing the pixel information of each pixel of the test pattern is also used as the application memory 14, but the pixel information memory may be provided separately outside the image processing apparatus 1. Not limited.

【0025】[0025]

【発明の効果】請求項1記載の画像処理装置の検査方法
は、テストパターン信号発生器が、カメラを介して同期
信号発生器と接続されているので、同期信号発生器から
の水平同期信号及び垂直同期信号と同期したパターン画
像信号を出力し、画像メモリが同期したパターン画像信
号のパターン画像データを記憶し、中央演算処理装置が
パターン画像データの各画素データと、画素情報メモリ
に記憶されたテストパターンの各画素の画素情報とを比
較照合して検査するから、外部同期方式でカメラを使用
する画像処理装置にテストパターン信号発生器を接続し
て、撮像されたテストパターンをモニタに表示し目視で
確認する従来に検査方法に比較して、再現性よくかつ高
精度で画像処理装置を検査することができるとともに、
自動化を容易に行うことができる。
According to the first aspect of the present invention, since the test pattern signal generator is connected to the synchronization signal generator via the camera, the horizontal synchronization signal from the synchronization signal generator and the test pattern signal generator are connected. The pattern image signal synchronized with the vertical synchronization signal is output, the image memory stores the pattern image data of the synchronized pattern image signal, and the central processing unit stores each pixel data of the pattern image data and the pixel information stored in the pixel information memory. The test pattern is compared with the pixel information of each pixel in the test pattern for inspection, so a test pattern signal generator is connected to an image processing device that uses a camera in an external synchronization system, and the captured test pattern is displayed on a monitor. Compared to the conventional inspection method that checks visually, the image processing device can be inspected with high reproducibility and high accuracy,
Automation can be easily performed.

【0026】請求項2記載の画像処理装置の検査方法
は、請求項1記載の検査方法の効果に加えて、画素情報
メモリがアプリケーションメモリであるから、アプリケ
ーションメモリがテストパターンの各画素の画素情報を
記憶して、新規に画素情報メモリを設けることなく画像
処理装置に予め設けられたメモリを兼用して、安価に検
査することができる。
According to a second aspect of the present invention, in addition to the effect of the first aspect, since the pixel information memory is an application memory, the application memory stores the pixel information of each pixel of the test pattern. Is stored, and the inspection can be performed at low cost by using a memory provided in advance in the image processing apparatus without newly providing a pixel information memory.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の一実施形態を示す構成図である。FIG. 1 is a configuration diagram showing an embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 画像処理装置 11 同期信号発生器 HD 水平同期信号 VD 垂直同期信号 12 A/D変換器 13 画像メモリ 14 アプリケーションメモリ(画素情報メモリ) 15 中央演算処理装置(CPU) 2 カメラ 3 テストパターン信号発生器 Reference Signs List 1 image processing device 11 synchronization signal generator HD horizontal synchronization signal VD vertical synchronization signal 12 A / D converter 13 image memory 14 application memory (pixel information memory) 15 central processing unit (CPU) 2 camera 3 test pattern signal generator

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 接続されるカメラの出力画像を制御する
水平同期信号及び垂直同期信号を発生する同期信号発生
器と、同期信号に同期した出力画像のビデオ信号をデジ
タル信号に変換するA/D変換器と、デジタル信号が入
力されて出力画像の画像データを記憶する画像メモリ
と、画像の処理手順が記載されたアプリケーションプロ
グラムを格納したアプリケーションメモリと、アプリケ
ーションプログラムに基づいて画像データを演算処理す
るとともに全体を制御する中央演算処理装置と、を備え
た画像処理装置であって、 前記カメラと前記A/D変換器との間に接続されてテス
トパターンの画像信号を発生するテストパターン信号発
生器が、前記ビデオ信号に同期したパターン画像信号を
出力するようにし、 前記A/D変換器でデジタル信号に変換された前記パタ
ーン画像信号のパターン画像データを前記画像メモリに
記憶せしめ、 前記テストパターンの画像を構成する各画素の画素情報
を画素情報メモリに記憶させ、 前記中央演算処理装置が、前記パターン画像データの各
画素データと、前記画素情報とを比較照合して検査する
ようにしたことを特徴とする画像処理装置の検査方法。
1. A synchronizing signal generator for generating a horizontal synchronizing signal and a vertical synchronizing signal for controlling an output image of a connected camera, and an A / D for converting a video signal of an output image synchronized with the synchronizing signal into a digital signal. A converter, an image memory that receives the digital signal and stores the image data of the output image, an application memory that stores an application program that describes an image processing procedure, and performs an arithmetic process on the image data based on the application program And a central processing unit for controlling the whole of the image processing apparatus, comprising: a test pattern signal generator connected between the camera and the A / D converter to generate an image signal of a test pattern. Output a pattern image signal synchronized with the video signal, and the digital signal is output by the A / D converter. Storing the pattern image data of the pattern image signal converted into a signal in the image memory; storing pixel information of each pixel constituting the image of the test pattern in a pixel information memory; An inspection method for an image processing apparatus, wherein each pixel data of pattern image data is compared with the pixel information for inspection.
【請求項2】 前記画素情報メモリが前記アプリケーシ
ョンメモリであることを特徴とする請求項1記載の画像
処理装置の検査方法。
2. The method according to claim 1, wherein the pixel information memory is the application memory.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2013146744A1 (en) * 2012-03-30 2013-10-03 株式会社デンソー Image pickup apparatus

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