JPH0969056A - 計算機プログラム部品のテスト支援装置 - Google Patents
計算機プログラム部品のテスト支援装置Info
- Publication number
- JPH0969056A JPH0969056A JP7223817A JP22381795A JPH0969056A JP H0969056 A JPH0969056 A JP H0969056A JP 7223817 A JP7223817 A JP 7223817A JP 22381795 A JP22381795 A JP 22381795A JP H0969056 A JPH0969056 A JP H0969056A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- test
- test case
- computer program
- case
- program component
- Prior art date
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- Pending
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- Debugging And Monitoring (AREA)
- Stored Programmes (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 自動的に計算機プログラム部品のテストを行
ない、そのテスト状況を報知することのできる計算機プ
ログラム部品のテスト支援装置を提供する。 【解決手段】 本発明は、テスト対象となる計算機プロ
グラム部品の満たすべきパラメータ等の条件からテスト
ケース仕様を生成するテストケース仕様生成手段と、こ
のテストケース仕様のうち、１つを選択してテスト用プ
ログラム部品に設定するテストケース設定手段（２ｂ）
と、テストケース設定手段により設定されたテストケー
スを記憶するテストケース記憶手段（３）と、テストケ
ース記憶手段により記憶されたテストケースに基づい
て、テストケースのテスト状況を集計するテスト状況集
計手段（４）と、テスト状況集計手段により集計された
テスト状況を報知するテスト状況報知手段（５）とを具
備したことを特徴とする。
ない、そのテスト状況を報知することのできる計算機プ
ログラム部品のテスト支援装置を提供する。 【解決手段】 本発明は、テスト対象となる計算機プロ
グラム部品の満たすべきパラメータ等の条件からテスト
ケース仕様を生成するテストケース仕様生成手段と、こ
のテストケース仕様のうち、１つを選択してテスト用プ
ログラム部品に設定するテストケース設定手段（２ｂ）
と、テストケース設定手段により設定されたテストケー
スを記憶するテストケース記憶手段（３）と、テストケ
ース記憶手段により記憶されたテストケースに基づい
て、テストケースのテスト状況を集計するテスト状況集
計手段（４）と、テスト状況集計手段により集計された
テスト状況を報知するテスト状況報知手段（５）とを具
備したことを特徴とする。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、計算機プログラム
の部品のテスト支援装置に関する。
の部品のテスト支援装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来の計算機プログラムの典型的なテス
ト方法を説明する。まず、プログラムの内部構造の設計
書に基づいて作成した計算機プログラム部品の単体テス
ト仕様書に沿って、順次、プログラム部品のテストを行
なう。
ト方法を説明する。まず、プログラムの内部構造の設計
書に基づいて作成した計算機プログラム部品の単体テス
ト仕様書に沿って、順次、プログラム部品のテストを行
なう。
【０００３】次に、当該プログラムの外部使用に基づい
て作成したテスト仕様書、例えば、マニュアル等に沿っ
て、順次、計算機プログラム部品のテストを行なう。最
後に、大量のデータを用いたテスト及び長時間使用を行
なうことにより、計算機部品の品質テストを行なう。
て作成したテスト仕様書、例えば、マニュアル等に沿っ
て、順次、計算機プログラム部品のテストを行なう。最
後に、大量のデータを用いたテスト及び長時間使用を行
なうことにより、計算機部品の品質テストを行なう。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】上述のように、まず、
始めに仕様書を作成し、この仕様書に従って、計算機プ
ログラム部品のテストを行なう方法は、一部の大規模ア
プリケーションプログラムの開発には適用することがで
きた。
始めに仕様書を作成し、この仕様書に従って、計算機プ
ログラム部品のテストを行なう方法は、一部の大規模ア
プリケーションプログラムの開発には適用することがで
きた。
【０００５】しかし、今日、プログラム開発は、基本的
な核部を完成してから周辺機能を徐々に追加したり、試
作と改良の試行錯誤を繰り返して開発を行なう場合が多
くなってきている。このような開発環境の下において
は、テスト仕様、特に部品の単体テスト仕様が頻繁に変
更され、仕様書の改訂や再テストに多大な労力を要す
る。
な核部を完成してから周辺機能を徐々に追加したり、試
作と改良の試行錯誤を繰り返して開発を行なう場合が多
くなってきている。このような開発環境の下において
は、テスト仕様、特に部品の単体テスト仕様が頻繁に変
更され、仕様書の改訂や再テストに多大な労力を要す
る。
【０００６】本発明は、上記実情に鑑みてなされたもの
であり、自動的に計算機プログラム部品のテストを行な
い、そのテスト状況を報知することのできる計算機プロ
グラム部品のテスト支援装置を提供することを目的とす
る。
であり、自動的に計算機プログラム部品のテストを行な
い、そのテスト状況を報知することのできる計算機プロ
グラム部品のテスト支援装置を提供することを目的とす
る。
【０００７】
【課題を解決するための手段】従って、まず、上記目的
を達成するために請求項１に係る発明は、テスト対象と
なる計算機プログラム部品の満たすべきパラメータ等の
条件からテストケース仕様を生成するテストケース仕様
生成手段と、前記テストケース仕様生成手段にて生成さ
れたテストケース仕様のうち、１つを選択してテスト用
プログラム部品に設定するテストケース設定手段と、前
記テストケース設定手段により設定されたテストケース
を記憶するテストケース記憶手段と、前記テストケース
記憶手段により記憶されたテストケースに基づいて、テ
ストケースのテスト状況を集計するテスト状況集計手段
と、前記テスト状況集計手段により集計されたテスト状
況を報知するテスト状況報知手段とを具備したことを特
徴とする。
を達成するために請求項１に係る発明は、テスト対象と
なる計算機プログラム部品の満たすべきパラメータ等の
条件からテストケース仕様を生成するテストケース仕様
生成手段と、前記テストケース仕様生成手段にて生成さ
れたテストケース仕様のうち、１つを選択してテスト用
プログラム部品に設定するテストケース設定手段と、前
記テストケース設定手段により設定されたテストケース
を記憶するテストケース記憶手段と、前記テストケース
記憶手段により記憶されたテストケースに基づいて、テ
ストケースのテスト状況を集計するテスト状況集計手段
と、前記テスト状況集計手段により集計されたテスト状
況を報知するテスト状況報知手段とを具備したことを特
徴とする。
【０００８】また、請求項２に係る発明は、請求項１記
載の計算機プログラム部品のテスト支援装置において、
前記テストケース設定手段によるテストケースの設定
は、前記テストケース記憶手段により記憶された記憶結
果に基づいて行なわれることを特徴とする。
載の計算機プログラム部品のテスト支援装置において、
前記テストケース設定手段によるテストケースの設定
は、前記テストケース記憶手段により記憶された記憶結
果に基づいて行なわれることを特徴とする。
【０００９】請求項１に係る発明は、テストケース仕様
生成手段により、テスト対象となる計算機プログラム部
品の満たすべきパラメータ等の条件からテストケース仕
様を生成し、テストケース設定手段により、テストケー
ス仕様生成手段にて生成されたテストケース仕様のう
ち、１つを選択してテスト用プログラム部品に設定す
る。そして、テスト状況集計手段により、テストケース
記憶手段により記憶されたテストケースに基づいて、テ
ストケースのテスト状況を集計し、テスト状況報知手段
により、テスト状況集計手段により集計されたテスト状
況を報知する。請求項２に係る発明は、テストケース設
定手段によるテストケースの設定は、テストケース記憶
手段により記憶された記憶結果に基づいて行なわれる。
生成手段により、テスト対象となる計算機プログラム部
品の満たすべきパラメータ等の条件からテストケース仕
様を生成し、テストケース設定手段により、テストケー
ス仕様生成手段にて生成されたテストケース仕様のう
ち、１つを選択してテスト用プログラム部品に設定す
る。そして、テスト状況集計手段により、テストケース
記憶手段により記憶されたテストケースに基づいて、テ
ストケースのテスト状況を集計し、テスト状況報知手段
により、テスト状況集計手段により集計されたテスト状
況を報知する。請求項２に係る発明は、テストケース設
定手段によるテストケースの設定は、テストケース記憶
手段により記憶された記憶結果に基づいて行なわれる。
【００１０】
【発明の実施の形態】図１は、本発明の一実施の形態に
係る計算機プログラム部品のテスト支援装置を説明する
ための図である。同図に示すように、本実施の形態の計
算機プログラム部品のテスト支援装置は、テスト仕様生
成部１、テストケース設定部２、テスト実施記録記憶部
３、テスト状況集計部４、テスト状況表示部５からな
る。
係る計算機プログラム部品のテスト支援装置を説明する
ための図である。同図に示すように、本実施の形態の計
算機プログラム部品のテスト支援装置は、テスト仕様生
成部１、テストケース設定部２、テスト実施記録記憶部
３、テスト状況集計部４、テスト状況表示部５からな
る。
【００１１】テスト仕様生成部１は、テスト対象となる
計算機プログラム部品、例えば、ＦＯＲＴＲＡＮのサブ
ルーチンや関数、Ｃ言語の関数等の満たすべきパラメー
タ等の条件を記述した部品仕様ａからテストケース仕様
ｂを生成する。
計算機プログラム部品、例えば、ＦＯＲＴＲＡＮのサブ
ルーチンや関数、Ｃ言語の関数等の満たすべきパラメー
タ等の条件を記述した部品仕様ａからテストケース仕様
ｂを生成する。
【００１２】ここでは、部品仕様ａは、説明を簡単にす
るために、引数パラメータの値の範囲のみを規定してお
り、呼出時にパラメータ類が満たすべき条件式の組で表
現している。
るために、引数パラメータの値の範囲のみを規定してお
り、呼出時にパラメータ類が満たすべき条件式の組で表
現している。
【００１３】また、テストケース仕様ｂの選択方法に
は、各パラメータについて、標準値／不正値／境界値を
順次設定し、その間、該パラメータの以外のすべてのパ
ラメータを標準値とする方法や、全てのパラメータの標
準値／不正値／境界値の組み合わせを同時に列挙する方
法等がある。この導出されたテストケースは、計算機プ
ログラム部品毎にグループ化して保存される。
は、各パラメータについて、標準値／不正値／境界値を
順次設定し、その間、該パラメータの以外のすべてのパ
ラメータを標準値とする方法や、全てのパラメータの標
準値／不正値／境界値の組み合わせを同時に列挙する方
法等がある。この導出されたテストケースは、計算機プ
ログラム部品毎にグループ化して保存される。
【００１４】テストケース設定部２は、テスト用部品生
成部２ａ、パラメータ設定部２ｂを備えている。テスト
用部品生成部２ａは、テスト対象となる計算機プログラ
ム部品を計算機プログラムの実行開始時にパラメータ設
定部２ｂに読みだされるテスト用プログラム部品に変換
する。
成部２ａ、パラメータ設定部２ｂを備えている。テスト
用部品生成部２ａは、テスト対象となる計算機プログラ
ム部品を計算機プログラムの実行開始時にパラメータ設
定部２ｂに読みだされるテスト用プログラム部品に変換
する。
【００１５】パラメータ設定部２ｂは、テストケース仕
様生成部１にて生成されたテストケース仕様のうち、１
つを選択してテスト用プログラム部品の実行時イメージ
に設定する。このテスト用プログラム部品へのテストケ
ース仕様の設定は、計算機プログラム部品の実行時に設
定される。
様生成部１にて生成されたテストケース仕様のうち、１
つを選択してテスト用プログラム部品の実行時イメージ
に設定する。このテスト用プログラム部品へのテストケ
ース仕様の設定は、計算機プログラム部品の実行時に設
定される。
【００１６】また、パラメータ設定部２ｂは、同時に、
テスト実施記録部３にパラメータ設定部２ｂにより設定
されたテスト仕様を記憶させる。なお、テスト仕様ケー
スの設定は、テスト実施者の指示によるテストケースを
設定することも、実施記録部３に記憶された記憶結果を
参照して、未実施のテストケースを自動的に設定するこ
とも可能である。
テスト実施記録部３にパラメータ設定部２ｂにより設定
されたテスト仕様を記憶させる。なお、テスト仕様ケー
スの設定は、テスト実施者の指示によるテストケースを
設定することも、実施記録部３に記憶された記憶結果を
参照して、未実施のテストケースを自動的に設定するこ
とも可能である。
【００１７】テスト実施記録部３は、パラメータ設定部
２ｂにて設定されたテスト仕様ケースを記録する。テス
ト状況集計部４は、テスト実施記録部３に記録されたテ
スト結果に基づいてテストケースのテスト状況を集計す
る。このテスト状況の集計は、例えば、テストの実施率
や残りのテストケース数等を集計する。
２ｂにて設定されたテスト仕様ケースを記録する。テス
ト状況集計部４は、テスト実施記録部３に記録されたテ
スト結果に基づいてテストケースのテスト状況を集計す
る。このテスト状況の集計は、例えば、テストの実施率
や残りのテストケース数等を集計する。
【００１８】テスト状況表示部５は、テスト状況集計部
４により集計されたテスト状況を開発者に提示する。次
に、上述の如く構成された計算機プログラム部品のテス
ト支援装置の動作について説明する。
４により集計されたテスト状況を開発者に提示する。次
に、上述の如く構成された計算機プログラム部品のテス
ト支援装置の動作について説明する。
【００１９】まず、テスト仕様生成部１により、テスト
対象となる計算機プログラム部品の満たすべきパラメー
タ等の条件を記述した部品仕様ａからテストケース仕様
ｂが生成される。
対象となる計算機プログラム部品の満たすべきパラメー
タ等の条件を記述した部品仕様ａからテストケース仕様
ｂが生成される。
【００２０】一方、テストケース設定部２のテスト用部
品生成部２ａは、テスト対象となる計算機プログラム部
品を計算機プログラムの実行開始時にパラメータ設定部
２ｂに読みだされるテスト用プログラム部品に変換す
る。
品生成部２ａは、テスト対象となる計算機プログラム部
品を計算機プログラムの実行開始時にパラメータ設定部
２ｂに読みだされるテスト用プログラム部品に変換す
る。
【００２１】そして、パラメータ設定部２ｂにより、テ
ストケース仕様生成部１にて生成されたテストケース仕
様のうち、１つを選択してテスト用プログラム部品の実
行時イメージに設定する。
ストケース仕様生成部１にて生成されたテストケース仕
様のうち、１つを選択してテスト用プログラム部品の実
行時イメージに設定する。
【００２２】また、これと同時に、パラメータ設定部２
ｂは、テスト実施記録部３にパラメータ設定部２ｂによ
り設定されたテスト仕様を記憶させる。次に、テスト状
況集計部４は、テスト実施記録部３に記録されたテスト
結果に基づいてテストケースのテスト状況を集計し、こ
の集計されたテスト状況がテスト状況表示部５に表示さ
れる。
ｂは、テスト実施記録部３にパラメータ設定部２ｂによ
り設定されたテスト仕様を記憶させる。次に、テスト状
況集計部４は、テスト実施記録部３に記録されたテスト
結果に基づいてテストケースのテスト状況を集計し、こ
の集計されたテスト状況がテスト状況表示部５に表示さ
れる。
【００２３】従って、本実施の形態の計算機プログラム
部品のテスト支援装置によれば、自動的に計算機プログ
ラム部品のテスト状況を報知するので、計算機プログラ
ム部品のテストを効率よく行なうことができる。
部品のテスト支援装置によれば、自動的に計算機プログ
ラム部品のテスト状況を報知するので、計算機プログラ
ム部品のテストを効率よく行なうことができる。
【００２４】
【発明の効果】以上詳記したように、本発明によれば、
自動的に計算機プログラム部品のテストを行ない、その
テスト状況を報知することができる。
自動的に計算機プログラム部品のテストを行ない、その
テスト状況を報知することができる。
【図１】本発明の一実施の形態に係る計算機プログラム
部品のテスト支援装置の構成を示す図である。
部品のテスト支援装置の構成を示す図である。
１…テスト仕様生成部、２…テストケース設定部、２ａ
…テスト用部品生成部、２ｂ…パラメータ設定部、３…
テスト実施記録部、４…テスト状況集計部、５…テスト
状況表示部。
…テスト用部品生成部、２ｂ…パラメータ設定部、３…
テスト実施記録部、４…テスト状況集計部、５…テスト
状況表示部。
Claims (2)
- 【請求項１】 テスト対象となる計算機プログラム部品
の満たすべきパラメータ等の条件からテストケース仕様
を生成するテストケース仕様生成手段と、 前記テストケース仕様生成手段にて生成されたテストケ
ース仕様のうち、１つを選択してテスト用プログラム部
品に設定するテストケース設定手段と、 前記テストケース設定手段により設定されたテストケー
スを記憶するテストケース記憶手段と、 前記テストケース記憶手段により記憶されたテストケー
スに基づいて、テストケースのテスト状況を集計するテ
スト状況集計手段と、 前記テスト状況集計手段により集計されたテスト状況を
報知するテスト状況報知手段とを具備したことを特徴と
する計算機プログラム部品のテスト支援装置。 - 【請求項２】 前記テストケース設定手段によるテスト
ケースの設定は、前記テストケース記憶手段により記憶
された記憶結果に基づいて行なわれることを特徴とする
請求項１記載の計算機プログラム部品のテスト支援装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7223817A JPH0969056A (ja) | 1995-08-31 | 1995-08-31 | 計算機プログラム部品のテスト支援装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7223817A JPH0969056A (ja) | 1995-08-31 | 1995-08-31 | 計算機プログラム部品のテスト支援装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0969056A true JPH0969056A (ja) | 1997-03-11 |
Family
ID=16804192
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7223817A Pending JPH0969056A (ja) | 1995-08-31 | 1995-08-31 | 計算機プログラム部品のテスト支援装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0969056A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009217664A (ja) * | 2008-03-12 | 2009-09-24 | Hitachi Software Eng Co Ltd | 自動テスト実行システム |
| US8584089B2 (en) | 2008-10-03 | 2013-11-12 | Fujitsu Limited | Virtual computer system, test method, and recording medium |
-
1995
- 1995-08-31 JP JP7223817A patent/JPH0969056A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009217664A (ja) * | 2008-03-12 | 2009-09-24 | Hitachi Software Eng Co Ltd | 自動テスト実行システム |
| US8584089B2 (en) | 2008-10-03 | 2013-11-12 | Fujitsu Limited | Virtual computer system, test method, and recording medium |
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