JPH0964463A - Optical-pulse generation element - Google Patents

Optical-pulse generation element

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Publication number
JPH0964463A
JPH0964463A JP21089295A JP21089295A JPH0964463A JP H0964463 A JPH0964463 A JP H0964463A JP 21089295 A JP21089295 A JP 21089295A JP 21089295 A JP21089295 A JP 21089295A JP H0964463 A JPH0964463 A JP H0964463A
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JP
Japan
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optical
phase modulator
semiconductor laser
optical phase
layer
Prior art date
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Application number
JP21089295A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Koichi Wakita
紘一 脇田
Takayuki Yamanaka
孝之 山中
Naoto Yoshimoto
直人 吉本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Original Assignee
Nippon Telegraph and Telephone Corp
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Publication date
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Publication of JPH0964463A publication Critical patent/JPH0964463A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To obtain an optical-pulse generation element which can generate short optical pulses which are provided with a high-speed repetitive frequency and with a narrow time width by a method wherein a semiconductor laser is driven by a direct current, an optical phase modulator is operated at a large amplitude and the repetitive frequency of optical pulses is controlled. SOLUTION: In an MQW laser element 10, an optical waveguide 11 is formed on a substrate 20. The optical waveguide 11 is constituted of a semiconductor laser part 12 and of an optical phase modulator part 14 which is coupled to the semiconductor laser part. The semiconductor laser part 12 contains first semiconductor parts 24, 26, 28, 30, and the optical phase modulator part 14 contains second semiconductor parts 32, 34, 36. Then, the semiconductor laser part 12 is driven by a direct current, the optical phase modulator part 14 is operated at a large amplitude, an optical pulse train is generated, and the repetitive frequency of optical pulses is controlled by the optical phase modulator 14. Thereby, it is possible to generate short optical pulses which are provided with a high-speed repetitive frequency and with a narrow time width.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、光通信および光
計測における光源として用いられる光パルス発生素子に
関し、特に高速繰り返し周波数および狭い時間幅を持つ
短光パルスを発生することが可能な光パルス発生素子に
関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an optical pulse generation element used as a light source in optical communication and optical measurement, and more particularly to an optical pulse generation capable of generating a short optical pulse having a high repetition rate and a narrow time width. Regarding the device.

【0002】[0002]

【従来の技術】半導体レーザは、小形および直接変調可
能等の特徴を持つので、従来から長短光パルス発生に用
いられてきた。その方法は大別すると(1)Qスイッチ
ング法、(2)利得スイッチング法、(3)モード同期
法の3種類である。しかし、これら方法は以下のような
問題点を有する。
2. Description of the Related Art Semiconductor lasers have been used for the generation of long and short optical pulses because of their small size and direct modulation capability. The methods are roughly classified into three types: (1) Q switching method, (2) gain switching method, and (3) mode locking method. However, these methods have the following problems.

【0003】Qスイッチング法は、素子製作が容易でな
い、動作制御が容易でないなどの問題点がある。
The Q-switching method has problems that the device is not easy to manufacture and the operation control is not easy.

【0004】利得スイッチング法は、方式が簡便で繰り
返し周波数が可変という特徴はあるものの、狭くて高い
繰り返し周波数の電流パルス源を必要とする。また、半
導体レーザ自体は高速に動作する必要があり、発生する
光パルスも半導体レーザ固有のチャープ特性のため、パ
ルスの幅とそのスペクトル幅の積がフーリエ変換によっ
て規定される値より数倍大きくなってしまうという欠点
がある(通常、チャープ量は線幅拡大係数αで表され、
この積はαを用いて(1+α21/2 倍だけ大きくな
る)。このため、発生した光のスペクトルの大部分をフ
ィルタなどで落とす必要があり、光出力の低下や構成が
複雑になるなどの問題点を有する。
The gain switching method requires a narrow and high repetition frequency current pulse source, although the method is simple and the repetition frequency is variable. In addition, the semiconductor laser itself must operate at high speed, and the optical pulse generated is a chirp characteristic peculiar to the semiconductor laser, so the product of the pulse width and its spectral width is several times larger than the value specified by the Fourier transform. There is a drawback that (the chirp amount is usually expressed by the line width expansion coefficient α,
This product is multiplied by (1 + α 2 ) 1/2 times using α). Therefore, it is necessary to drop most of the generated light spectrum with a filter or the like, which causes problems such as a decrease in light output and a complicated structure.

【0005】モード同期法は、理論限界に近いパルス幅
は得られているが、複雑な外部共振器構成が必要であ
り、また、繰り返し周波数はこの外部共振器構成によっ
て規定され、その共振周波数の整数倍しか得ることがで
きない。
Although the mode-locking method has obtained a pulse width close to the theoretical limit, it requires a complicated external resonator structure, and the repetition frequency is defined by this external resonator structure, and the resonance frequency You can only get an integer multiple.

【0006】最近になって、上記3通りの方法とは別
に、電界吸収型の外部変調器を用いた高速短光パルス発
生方法が報告されている(文献:M.Suzuki等、
CLEO’92 Post Deadline Pap
er,CPD26,56−57ページ,1992年参
照)。図6は、従来のパルス発生に用いられる上記外部
変調器の動作原理を説明するための図である。すなわ
ち、この図は光強度変調器を正弦波電圧で大幅振幅動作
させたときの透過光強度の狭まりを示す。電界吸収型の
バルク形の変調器は、外部より電界が印加されると図に
示すように吸収係数が変化する。その結果、変調器を透
過する光の強度を変調することが可能であり、その変化
は印加電圧に対して非線形となる。したがって、外部か
ら連続光を照射し(例えば半導体レーザを直流で動か
し)、変調器に正弦波信号を乗せれば信号の半波長より
狭い光のパルスが発生できる。この方法は比較的入手し
やすい正弦波電圧を用いて繰り返し周波数を自由に設定
でき、しかもフーリエ変換制限に近い狭線幅かつ狭スペ
クトル幅の光パルスが得られるという利点がある。
Recently, apart from the above three methods, a high-speed short optical pulse generation method using an electro-absorption type external modulator has been reported (reference: M. Suzuki et al.,
CLEO'92 Post Deadline Pap
er, CPD 26, pp. 56-57, 1992). FIG. 6 is a diagram for explaining the operation principle of the external modulator used for conventional pulse generation. That is, this figure shows the narrowing of the transmitted light intensity when the light intensity modulator is operated in a large amplitude with a sine wave voltage. In the electric field absorption type bulk modulator, the absorption coefficient changes as shown in the figure when an electric field is applied from the outside. As a result, it is possible to modulate the intensity of light transmitted through the modulator, the change of which is non-linear with respect to the applied voltage. Therefore, by irradiating continuous light from the outside (for example, moving a semiconductor laser with direct current) and mounting a sine wave signal on the modulator, a pulse of light narrower than a half wavelength of the signal can be generated. This method has an advantage that the repetition frequency can be freely set by using a sine wave voltage which is relatively easy to obtain, and an optical pulse having a narrow line width and a narrow spectrum width close to the Fourier transform limit can be obtained.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】しかし、発生する光パ
ルスの幅は上記外部変調器を透過する光強度の電圧依存
性および外部変調器の帯域で制限され、帯域は高々20
GHz程度であり(上記文献では8〜10GHz)、駆
動電圧も低くなく、また、変調器と光ファイバとの結合
損の大きいことに起因して光の強度も弱いという解決す
べき課題がある。
However, the width of the generated optical pulse is limited by the voltage dependence of the light intensity transmitted through the external modulator and the band of the external modulator, and the band is 20 at most.
It is about GHz (8 to 10 GHz in the above document), the driving voltage is not low, and the intensity of light is weak due to the large coupling loss between the modulator and the optical fiber, which is a problem to be solved.

【0008】また、この欠点を克服するため上記半導体
レーザと光強度変調器とをモノリシックに集積化して結
合損を減らす試みがある(例えばIEEE Journ
alQuantum Electronics 29
巻,H.Tanaka他,1993年)。しかし、それ
でも満足できる光強度が得られないという解決すべき課
題がある。
In order to overcome this drawback, there is an attempt to monolithically integrate the semiconductor laser and the light intensity modulator to reduce the coupling loss (for example, IEEE Journal).
alQuantum Electronics 29
Vol. Tanaka et al., 1993). However, there is a problem to be solved that satisfactory light intensity cannot be obtained.

【0009】これを改良するために最近、上述のモード
同期法を改良して半導体レーザを直流動作させ、これに
モノリシックに集積化された光強度変調器とを共振周波
数で大振幅変調して狭い光のパルス列を発生する試みが
ある(例えばAppliedPhyics Lette
rs 1994)。この方法は大きな光出力が得られ、
狭いパルス幅も得られる。しかし、電圧印加による光吸
収を利用しているので、少ない電圧印加で動作させるた
めに吸収端近くの波長を用いざるおえない。その結果、
電圧が加えられないときでも多少の吸収が存在し、これ
が過飽和吸収として働くおそれがある。さらに、レーザ
媒質内に吸収体があるためにレーザ動作時に発振しきい
値を上昇させたり、量子効率を低下させ、不均一なスペ
クトル広がりをもたらし、上記フーリエ変換制限よりも
広めのパルス幅となる欠点がある。また、一般にこの方
法で発生する光パルスはソリトン光源としては狭すぎる
(10GHzの繰り返し周波数で2〜3ピコ秒)という
解決すべき課題がある。
In order to improve this, recently, the above-mentioned mode-locking method has been improved so that the semiconductor laser is operated by direct current, and a monolithically integrated optical intensity modulator is subjected to a large amplitude modulation at a resonance frequency to narrow it. There have been attempts to generate pulse trains of light (eg, Applied Physics Letter).
rs 1994). This method gives a large light output,
A narrow pulse width can also be obtained. However, since light absorption by voltage application is used, it is unavoidable to use a wavelength near the absorption edge in order to operate with a small voltage application. as a result,
There is some absorption even when no voltage is applied, which may act as supersaturated absorption. Further, since the absorber is present in the laser medium, the oscillation threshold is increased during laser operation, the quantum efficiency is reduced, non-uniform spectrum broadening is brought about, and the pulse width becomes wider than the Fourier transform limit. There are drawbacks. In addition, there is a problem to be solved that an optical pulse generated by this method is generally too narrow as a soliton light source (2 to 3 picoseconds at a repetition frequency of 10 GHz).

【0010】したがって、本発明は上記課題を解決し、
高速繰り返し周波数および狭い時間幅を持つ短光パルス
を発生することが可能な光パルス発生素子を提供するこ
とを目的とする。
Therefore, the present invention solves the above-mentioned problems,
An object of the present invention is to provide an optical pulse generation element capable of generating a short optical pulse having a high repetition frequency and a narrow time width.

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明にもとづく光パルス発生素子は、基板上に設
けられた半導体レーザと、該半導体レーザと同一基板上
に形成され、かつ半導体レーザの出射光を位相変調する
光位相変調器とが、同一の光共振器を構成し、さらに、
上記半導体レーザを直流駆動し、かつ上記光位相変調器
を大振幅動作させることによって光パルス列が発生し、
該光パルスの繰り返し周波数を上記光位相変調器が制御
することを特徴とする。
In order to solve the above-mentioned problems, an optical pulse generating element according to the present invention is a semiconductor laser provided on a substrate and a semiconductor laser formed on the same substrate as the semiconductor laser. An optical phase modulator that phase-modulates the emitted light of the laser constitutes the same optical resonator, and
An optical pulse train is generated by driving the semiconductor laser with direct current and operating the optical phase modulator with a large amplitude,
The optical phase modulator controls the repetition frequency of the optical pulse.

【0012】好ましくは、上記半導体レーザおよび上記
光位相変調器は同一の光導波路から構成され、かつ該光
導波路は、量子井戸層と障壁層とを有する多重量子井戸
構造からなり、さらに上記量子井戸層は引っ張り応力が
導入され、一方上記障壁層は圧縮応力が導入されること
によって、上記半導体レーザの発振光の偏光方向がTM
となる。
Preferably, the semiconductor laser and the optical phase modulator are formed of the same optical waveguide, and the optical waveguide has a multiple quantum well structure having a quantum well layer and a barrier layer, and the quantum well is further provided. A tensile stress is introduced into the layer, while a compressive stress is introduced into the barrier layer, so that the polarization direction of the oscillation light of the semiconductor laser is TM.
Becomes

【0013】また、好ましくは上記光共振器を構成する
上記光位相変調器側の面を高反射面とすることによっ
て、上記半導体レーザ側から光を取り出す。
Further, preferably, the surface on the optical phase modulator side which constitutes the optical resonator is a highly reflective surface, so that light is extracted from the semiconductor laser side.

【0014】[0014]

【発明の実施の形態】本発明の光パルス発生素子は、半
導体レーザと、多重量子井戸構造を用いた超高速(超広
帯域)・低駆動電圧の光位相変調器とを用いる。また、
小型、堅固性等の特徴維持しつつ、かつ半導体レーザそ
のものには影響を与えないで位相変調器自体の持ってい
る透明性を利用し、それによって制御の容易な高い繰り
返し周波数でもって、簡便に、幅が狭くかつ高出力の光
パルス列を発生する。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION The optical pulse generating device of the present invention uses a semiconductor laser and an optical phase modulator using a multiple quantum well structure and having an ultrahigh speed (ultra wide band) and a low driving voltage. Also,
While maintaining characteristics such as small size and robustness, and without affecting the semiconductor laser itself, the transparency of the phase modulator itself is used, which makes it easy to control with a high repetition frequency, , Generate a high-power optical pulse train with a narrow width.

【0015】本発明の光パルス発生素子は、光位相変調
器と半導体レーザとをモノリシックに集積する。なぜな
ら、光源である半導体レーザと光位相変調器とが別個の
素子から構成され、かつそれらを結合する場合、両者間
に光ファイバを介する必要がある。そのため、結合損が
発生して光の強度が低下する。また、光ファイバとの結
合にはモジュールを必要とするため、素子の作製工程が
増えるのみならず、信頼性にも問題が生ずる。したがっ
て、本発明では、半導体レーザの端面と光位相変調器の
端面とで光共振器を構成し、この光共振器に固有のモー
ドを発生させて、そのモード間隔に相当する周波数をも
つ大振幅の正弦波を光位相変調器に加える(モード同期
と呼ばれる)。このとき発生する光は位相変調器の電圧
に対する位相特性の非線形性、広帯域性を反映して幅が
数ピコ秒(psec)の狭い光パルスであるが、その幅は光
強度変調器を用いた場合に比べて原理的に √2だけ広
くなるため、ソリトン光源として実用上都合のよい4〜
6psecとなる。同一基板上に半導体光位相変調器を設け
これに加える電圧を通して光導波層の屈折率を変え、光
共振器の等価的光路長を変化して共振条件が変えられ
る。光位相変調器ではバルク形に比べて高速性、低電圧
駆動に有利な多重量子井戸構造(MQW)を採用し、位
相変調器ではその印加電圧に対する大きな屈折率変化を
利用する。このとき、光位相変調器では図7に示すよう
に印加電圧によってその吸収特性、位相特性は変化する
ので吸収の生じない範囲で屈折率変化の大きな動作条件
を選ぶ。また、当方の研究から井戸層に引っ張り応力を
加え、一方障壁層に圧縮応力を加えると大きな電界効果
の得られることが判明しており、さらに、TM偏光で用
いることでより大きな屈折率変化が得られる(図7)。
The optical pulse generating element of the present invention monolithically integrates an optical phase modulator and a semiconductor laser. This is because the semiconductor laser, which is the light source, and the optical phase modulator are composed of separate elements, and when they are combined, it is necessary to interpose an optical fiber between them. Therefore, a coupling loss occurs and the light intensity decreases. In addition, since a module is required for coupling with the optical fiber, not only the number of steps for manufacturing the element is increased, but also the reliability is deteriorated. Therefore, in the present invention, the end facet of the semiconductor laser and the end facet of the optical phase modulator constitute an optical resonator, a mode peculiar to this optical resonator is generated, and a large amplitude having a frequency corresponding to the mode interval is generated. A sine wave of is added to the optical phase modulator (called mode-locking). The light generated at this time is a narrow optical pulse with a width of a few picoseconds (psec) reflecting the nonlinearity and wide band property of the phase characteristic with respect to the voltage of the phase modulator. In principle, it is widened by √2, so it is practically useful as a soliton light source.
It will be 6 psec. A semiconductor optical phase modulator is provided on the same substrate, and the refractive index of the optical waveguide layer is changed through a voltage applied to the semiconductor optical phase modulator to change the equivalent optical path length of the optical resonator to change the resonance condition. The optical phase modulator employs a multiple quantum well structure (MQW), which is faster than the bulk type and is advantageous for low voltage driving, and the phase modulator utilizes a large change in the refractive index with respect to the applied voltage. At this time, in the optical phase modulator, as shown in FIG. 7, the absorption characteristic and the phase characteristic change depending on the applied voltage, so that the operating condition in which the refractive index change is large in a range where absorption does not occur is selected. Moreover, it has been found from our research that a large electric field effect can be obtained by applying a tensile stress to the well layer and a compressive stress to the barrier layer, and further, a larger refractive index change can be obtained by using TM polarized light. Obtained (Figure 7).

【0016】半導体レーザそのものをQスイッチングや
利得スイッチング法によって狭い光パルスの発生に利用
しても、そのチャープ特性に起因してその線幅はスペク
トル線幅との積は大きい(通常、チャープ量は線幅拡大
係数αで表され、半導体レーザではαは2〜6であり、
この積はαを用いて(1+α21/2 倍だけ大きくな
る)が、線幅拡大係数αの小さい(0.2〜1.0)外
部変調器を用いるので理論限界に近い狭い線幅でかつス
ペクトル幅の狭い光パルスが得られる。多重量子井戸構
造を用いたものでは3dB帯域40GHzという最高性
能の変調器が報告されており(文献:小高他、電子情報
通信学会論文誌C−1、J74−C−1巻、No.1
1、414〜420ページ、1991年、11月)、そ
の広帯域性は実証済みである。帯域が広ければ、変調周
波数をその分高くでき、光パルスの幅を狭くできる。こ
のとき、光位相変調器は吸収形変調器に比べてαパラメ
ータは大きくなり、線幅は √2倍ほど大きくなるけれ
ども、この幅はソリトン光源として適当な幅である。ま
た、光強度変調器は大振幅動作で駆動する必要がある
が、多重量子井戸構造の光位相変調器では駆動電圧も小
さくて済み、高周波数の信号源の負担が軽くなる。さら
に図8に示すように多重量子井戸構造では変調電圧に対
して位相変化は非線形に変化し、その変化の程度は上記
のバルク形の変調器に比べ大きく、その結果、正弦波電
圧の印加によりCW光の照射下でも狭い光パルスの発生
が可能となるが、光強度そのものを強くすることはでき
ない。レーザ共振器の内部に光位相変調器を挿入すれ
ば、外部からの電圧で屈折率、すなわち、光の位相が変
化し、共振器内部の共振条件が変えられ、光の走行周期
にあったときのみレーザ発振が可能となり、外部からの
電圧に応じて高出力の鋭い光パルスが発生できる。この
ときTM変更であれば、小さい印加電圧で大きな屈折率
変化が少ない吸収損のもとで得られる(図7参照)。
Even if the semiconductor laser itself is used to generate a narrow optical pulse by the Q switching or gain switching method, its line width has a large product with the spectral line width due to its chirp characteristic (usually, the chirp amount is It is represented by the line width expansion coefficient α, and α is 2 to 6 in the semiconductor laser,
This product is increased by (1 + α 2 ) 1/2 times using α), but since an external modulator with a small line width expansion coefficient α (0.2 to 1.0) is used, the line width is close to the theoretical limit. A light pulse having a narrow spectral width can be obtained. A modulator using a multiple quantum well structure, which has the highest performance of 40 GHz in 3 dB band, has been reported (Reference: Odaka et al., IEICE Transactions C-1, J74-C-1, Volume 1, No. 1).
1, pp. 414-420, November 1991), its broadband property has been proven. If the band is wide, the modulation frequency can be increased accordingly and the width of the optical pulse can be narrowed. At this time, the α phase parameter of the optical phase modulator is larger than that of the absorption type modulator, and the line width is about √2 times larger, but this width is appropriate as a soliton light source. Further, the optical intensity modulator needs to be driven with a large amplitude operation, but the optical phase modulator having the multiple quantum well structure requires only a small driving voltage, and the burden on the high-frequency signal source is reduced. Further, as shown in FIG. 8, in the multiple quantum well structure, the phase change changes non-linearly with respect to the modulation voltage, and the degree of the change is larger than that of the bulk modulator described above. A narrow light pulse can be generated even under irradiation with CW light, but the light intensity itself cannot be increased. If an optical phase modulator is inserted inside the laser resonator, the refractive index, that is, the phase of light, changes with the voltage from the outside, the resonance condition inside the resonator is changed, and the Only laser oscillation becomes possible, and a high-power sharp optical pulse can be generated according to an external voltage. At this time, if the TM is changed, a large change in the refractive index can be obtained with a small applied voltage under a small absorption loss (see FIG. 7).

【0017】図7はこれらの関係を示したもので、TE
偏光に比べてTM偏光の方が同じ印加電圧、デチューニ
ングエネルギー(吸収端と使用光のエネルギー差)のも
とで大きな屈折率変化が少ない吸収損の条件で得られ
る。
FIG. 7 shows these relationships.
Compared to polarized light, TM polarized light is obtained under the condition of absorption loss with a small change in refractive index under the same applied voltage and detuning energy (energy difference between absorption edge and used light).

【0018】また、半導体レーザとのモノリシック集積
化の利点は、光パルスの出力向上に効果的で、上記外部
変調器を用いた方法の問題点であった光源と変調器とを
光ファイバを介して結合したことで増加する損失をも減
らせられる。また、上記の方法で発生された光パルス列
は、印加電圧で吸収係数変化を利用する吸収形強度変調
器と異なり、損失はほとんどなくレーザの発振スペクト
ルも均一で過飽和吸収効果もなく、従ってジッターも少
なく、パターン効果もなく、望ましいパルス波形で外部
に取り出せるという効果がある。このとき、若干のチャ
ーピングが存在するが、これは分散補償ファイバを用い
て補償できるので問題ない。
Further, the advantage of monolithic integration with a semiconductor laser is effective in improving the output of an optical pulse, and the problem with the method using the external modulator is that the light source and the modulator are connected via an optical fiber. The loss that is increased by combining the two can also be reduced. Further, the optical pulse train generated by the above method differs from an absorption type intensity modulator that utilizes a change in absorption coefficient by an applied voltage, has almost no loss, a laser oscillation spectrum is uniform, and there is no supersaturated absorption effect, and therefore jitter is also generated. There is little effect, there is no pattern effect, and the desired pulse waveform can be taken out to the outside. At this time, there is some chirping, but there is no problem because this can be compensated using the dispersion compensating fiber.

【0019】以下、図面を参照して本発明の光パルス素
子構造の一構成例を詳細に説明する。
A configuration example of the optical pulse element structure of the present invention will be described in detail below with reference to the drawings.

【0020】図1は光パルス素子の一例であるMQWレ
ーザ素子の概略的構成を説明するための斜視図である。
また、図2は図1のII-II 線に沿う断面図である。図
中、参照符号10はMQWレーザ素子、11は光導波
路、12は半導体レーザ部、14は光位相変調器部、1
5は第1の半導体部分、16は第2の半導体部分、17
は光結合領域、18は界面、20は基板、22はエッチ
ングストップ層、24は第1の下クラッド層、26は活
性層(第1の多重量子井戸構造)、26Aはウェル層、
26Bはバリア層、28はガイド層、29は高反射膜、
30は第1の上クラッド層、31は保護層、32は第2
の下クラッド層、34は第2の多重量子井戸構造、34
Aはウェル層、34Bはバリア層、36は第2の上クラ
ッド層、38は第3のクラッド層、38Aは肉薄部、3
8B,38Cはクラッド層の部分、40は分離部、42
はキャップ層、44,46,47は埋め込み部、48は
レーザ部の電極、49は光位相変調器部の電極である。
FIG. 1 is a perspective view for explaining a schematic structure of an MQW laser device which is an example of an optical pulse device.
2 is a sectional view taken along the line II-II in FIG. In the figure, reference numeral 10 is an MQW laser element, 11 is an optical waveguide, 12 is a semiconductor laser section, 14 is an optical phase modulator section, 1
5 is a first semiconductor portion, 16 is a second semiconductor portion, 17
Is an optical coupling region, 18 is an interface, 20 is a substrate, 22 is an etching stop layer, 24 is a first lower cladding layer, 26 is an active layer (first multiple quantum well structure), 26A is a well layer,
26B is a barrier layer, 28 is a guide layer, 29 is a high reflection film,
30 is the first upper cladding layer, 31 is the protective layer, and 32 is the second
Lower cladding layer, 34 is a second multiple quantum well structure, 34
A is a well layer, 34B is a barrier layer, 36 is a second upper cladding layer, 38 is a third cladding layer, 38A is a thin portion, 3
8B and 38C are clad layer portions, 40 is a separation portion, and 42
Is a cap layer, 44, 46 and 47 are buried portions, 48 is an electrode of a laser portion, and 49 is an electrode of an optical phase modulator portion.

【0021】本発明のMQWレーザ素子10は光導波路
11を基板20上に設けたものである。この光導波路1
1は半導体レーザ部12とこれに結合させた光位相変調
器部14とから構成されている。半導体レーザ部12
は、第1の半導体部分15を含み、光位相変調器部14
は第2の半導体部分16を含む。基板20上にはエッチ
ングストップ層22を介して上述した第1および第2の
半導体部分15,16を設ける。この第1の半導体部分
15は第1の下クラッド層24、活性層26(第1の多
重量子井戸構造)、ガイド層28、第1の上クラッド層
30を有し、この順に積層してある。第1の上下クラッ
ド層30,24は導電型が異なるようにドープしてあ
り、活性層26とガイド層28を挟んでいる。活性層2
6は、ウェル層26A、バリア層26Bからなる第1の
多重量子井戸構造を構成している。光位相変調器部14
は第2の半導体部分16からなっており、量子井戸の厚
さがやや薄く吸収端波長が短波長になっているほか、印
加電圧が互いに独立に加えられるようになっている。
The MQW laser device 10 of the present invention has an optical waveguide 11 provided on a substrate 20. This optical waveguide 1
1 comprises a semiconductor laser section 12 and an optical phase modulator section 14 coupled to the semiconductor laser section 12. Semiconductor laser unit 12
Includes a first semiconductor portion 15 and includes an optical phase modulator portion 14
Includes a second semiconductor portion 16. The above-described first and second semiconductor portions 15 and 16 are provided on the substrate 20 via the etching stop layer 22. The first semiconductor portion 15 has a first lower cladding layer 24, an active layer 26 (first multiple quantum well structure), a guide layer 28, and a first upper cladding layer 30, which are stacked in this order. . The first upper and lower cladding layers 30 and 24 are doped so as to have different conductivity types, and sandwich the active layer 26 and the guide layer 28. Active layer 2
Reference numeral 6 constitutes a first multiple quantum well structure including a well layer 26A and a barrier layer 26B. Optical phase modulator unit 14
Is composed of the second semiconductor portion 16, the quantum well is slightly thin and the absorption edge wavelength is short wavelength, and the applied voltages can be applied independently of each other.

【0022】一方、光位相変調器部14に含まれる第2
の半導体部分16は第2の下クラッド層32、第2の多
重量子井戸構造34、第2の上クラッド層36を有し、
この順に積層してある。第2の上下クラッド層36,3
2は第1の上下クラッド層と同様に、導電型が異なるよ
うにドープしてあり、第2の多重量子井戸構造を挟んで
いる。この第2の多重量子井戸構造34は第1の多重量
子井戸構造と同様に、ウェル層34Aおよびバリア層3
4Bからなる。半導体レーザ部12は、光位相変調器部
14の下クラッド層32を介して相互に対向する光結合
領域17において光学的に結合されている。
On the other hand, the second unit included in the optical phase modulator unit 14
Has a second lower cladding layer 32, a second multiple quantum well structure 34, and a second upper cladding layer 36,
They are laminated in this order. Second upper and lower cladding layers 36, 3
Similarly to the first upper and lower cladding layers, 2 is doped to have different conductivity types and sandwiches the second multiple quantum well structure. The second multiple quantum well structure 34 is similar to the first multiple quantum well structure in the well layer 34A and the barrier layer 3.
It consists of 4B. The semiconductor laser section 12 is optically coupled in the optical coupling region 17 facing each other through the lower cladding layer 32 of the optical phase modulator section 14.

【0023】第1および第2の半導体部分15,16の
上には連続するクラッド層38を設け、このクラッド層
38は第1および第2の半導体部分15,16の界面1
8を挟む対向端部15A,16Aを含む領域に沿って上
部が欠損した分離部40を有する。すなわち、界面18
をまたぐ肉薄部38Aでレーザ部12と光位相変調器部
14に存在するクラッド38の部分38Cを一体に連絡
している。光導波路11はレーザ部12、光位相変調器
部14を貫くリッジ構造を有しており、レーザ部12と
光位相変調器部14の各両側はそれぞれ埋め込み部4
4,46,47がキャップ層42と同じ高さに設けられ
ている。キャップ層42および埋め込み部44,46,
47の上にレーザ部の電極48、光位相変調器部14の
電極50がそれぞれ設けられている。レーザ部12と光
位相変調器部14とは分離部40により絶縁性が向上さ
れている。
A continuous clad layer 38 is provided on the first and second semiconductor portions 15 and 16, and the clad layer 38 forms an interface 1 between the first and second semiconductor portions 15 and 16.
8 has a separating portion 40 whose upper portion is cut off along a region including the opposing end portions 15A and 16A sandwiching 8 therebetween. That is, the interface 18
The laser portion 12 and the portion 38C of the clad 38 existing in the optical phase modulator portion 14 are integrally connected to each other by a thin portion 38A that straddles. The optical waveguide 11 has a ridge structure that penetrates the laser section 12 and the optical phase modulator section 14, and both sides of the laser section 12 and the optical phase modulator section 14 are respectively embedded sections 4.
4, 46 and 47 are provided at the same height as the cap layer 42. The cap layer 42 and the embedded portions 44, 46,
An electrode 48 of the laser section and an electrode 50 of the optical phase modulator section 14 are provided on the 47, respectively. The isolation between the laser section 12 and the optical phase modulator section 14 is improved by the separating section 40.

【0024】上述したMQWレーザ素子は、次のように
して製造できる。すなわち、予め分子線エピタキシー法
(MBE)あるいは有機金属気相成長法(MOVPE)
により基板上に作製されたレーザ部(または光位相変調
器部)を選択的にドライおよびウェットエッチング法に
より基板までエッチングし、その後、光位相変調器部
(またはレーザ部)をMBE法あるいはMOVPE法を
用いて成長する。この時レーザ発光部の基板表面から測
った高さは光位相変調器部の光導波路部分の基板表面か
ら測った高さに合うようにする。レーザ部と光位相変調
部は独立に電圧を印加できるようにし、かつ、選択成長
法や、混晶化技術等を用いて量子井戸の吸収端波長をレ
ーザのそれより短波長にする。
The MQW laser device described above can be manufactured as follows. That is, molecular beam epitaxy (MBE) or metal organic chemical vapor deposition (MOVPE) is previously performed.
The laser section (or optical phase modulator section) fabricated on the substrate is selectively etched to the substrate by dry and wet etching methods, and then the optical phase modulator section (or laser section) is MBE method or MOVPE method. Grow using. At this time, the height of the laser emitting portion measured from the substrate surface should match the height of the optical waveguide portion of the optical phase modulator portion measured from the substrate surface. The laser section and the optical phase modulation section are capable of independently applying a voltage, and the absorption edge wavelength of the quantum well is set to a shorter wavelength than that of the laser by using a selective growth method, a mixed crystal technique or the like.

【0025】以下、図面を参照して本発明の光パルス発
生素子の一実施例の製造方法をより一層具体的に説明す
る。図3は、図1および図2に示したMQWレーザ素子
の製造方法を説明するための断面図で、図2における半
導体レーザ部12と光位相変調器部14との結合部分に
相当する。また、図中、(A)〜(F)は各工程を表
す。
The manufacturing method of one embodiment of the optical pulse generating device of the present invention will be described below more specifically with reference to the drawings. FIG. 3 is a cross-sectional view for explaining the method of manufacturing the MQW laser device shown in FIGS. 1 and 2, and corresponds to the coupling portion between the semiconductor laser section 12 and the optical phase modulator section 14 in FIG. Further, in the figure, (A) to (F) represent each step.

【0026】図1および図2に示す素子構造を下記の通
り製作した。
The device structure shown in FIGS. 1 and 2 was manufactured as follows.

【0027】すなわち、n−InP基板20の表面にM
OVPE法によりn−InGaAsP層をエッチングス
トップ層22として設け、その上にn−InPクラッド
層24を0.1μm、次いで10nmのInGaAsを
ウェル層(井戸層)26Aとし波長1.3μm相当のI
nGaAsP10nmをバリア層(障壁層)26Bとす
る量子井戸構造6層からなる活性層26、波長1.3μ
m相当のInGaAsPガイド層を0.1μm成長し
た。その上にp−InPクラッド層30を成長した(図
3(A))。
That is, M is formed on the surface of the n-InP substrate 20.
An n-InGaAsP layer is provided as an etching stop layer 22 by the OVPE method, an n-InP clad layer 24 is formed thereon to have a thickness of 0.1 μm, and 10 nm of InGaAs is used as a well layer (well layer) 26A, and an I corresponding to a wavelength of 1.3 μm.
Active layer 26 consisting of 6 layers of quantum well structure using nGaAsP 10 nm as barrier layer (barrier layer) 26B, wavelength 1.3 μm
An InGaAsP guide layer corresponding to m was grown to a thickness of 0.1 μm. A p-InP clad layer 30 was grown on it (FIG. 3 (A)).

【0028】その後、SiO2 膜52をスパッタ装置に
より形成し、これにフォトリソグラフィー技術により所
望の部分に穴を開ける。すなわち、パターン化したフォ
トレジスト54との2層マスクを使用してリソグラフィ
ーを行う(図3(B))。図中、参照符号54はパター
ン化レジスト、56はSiO2 膜ひさしである。
After that, a SiO 2 film 52 is formed by a sputtering apparatus, and a hole is formed in a desired portion by a photolithography technique. That is, lithography is performed using a two-layer mask with the patterned photoresist 54 (FIG. 3B). In the figure, reference numeral 54 is a patterned resist, and 56 is a SiO 2 film eaves.

【0029】次にこれをマスクとして光位相変調部14
をMBE法またはMOVPE法により成長する(図3
(C))。このとき選択マスクを用いて選択成長し、光
位相変調器部14は厚さ6.5nmのInGaAsウェ
ル層となるように成長して光導波路34を形成し、その
上にp−InAlAsクラッド層36を形成する。クラ
ッド層36の上にはp−InGaAs保護層31を形成
する。
Next, using this as a mask, the optical phase modulator 14
Are grown by the MBE method or the MOVPE method (see FIG. 3).
(C)). At this time, selective growth is performed using a selective mask, and the optical phase modulator portion 14 is grown to be an InGaAs well layer having a thickness of 6.5 nm to form the optical waveguide 34, and the p-InAlAs cladding layer 36 is formed thereon. To form. A p-InGaAs protective layer 31 is formed on the clad layer 36.

【0030】つづいて、p−InPクラッド層38、p
−InGaAsキャップ層42をMOVPE法により形
成する(図3(D)〜(E))。
Subsequently, the p-InP clad layer 38, p
-The InGaAs cap layer 42 is formed by the MOVPE method (FIGS. 3D to 3E).

【0031】次に幅1.5〜3.0μmのストライプを
用いて、上述した活性層26、光導波層34までエッチ
ングを行い、レーザ部と光位相変調器部を貫くリッジを
形成する。この後、レーザ部をInP層(p−InPと
n−InPの組み合わせまたは半絶縁性InPからな
る)44で、光位相変調器部をポリイミド47でそれぞ
れ埋め込み、最後に各々の部分に電極48,49をつけ
る(図3(F))。
Next, the active layer 26 and the optical waveguide layer 34 described above are etched using a stripe having a width of 1.5 to 3.0 μm to form a ridge penetrating the laser portion and the optical phase modulator portion. Thereafter, the laser portion is embedded with an InP layer (combined of p-InP and n-InP or semi-insulating InP) 44, and the optical phase modulator portion is embedded with a polyimide 47. Finally, an electrode 48, Attach 49 (FIG. 3 (F)).

【0032】この電極48,49,50をマスクとして
エッチングを施し、各電極間に分離部40を形成し、レ
ーザ部、光位相変調器部の間の絶縁を強化する。
Etching is performed using these electrodes 48, 49 and 50 as a mask to form a separating portion 40 between the electrodes to strengthen the insulation between the laser portion and the optical phase modulator portion.

【0033】レーザ部、光位相変調器部とその間の絶縁
部の長さは2600μm、300μm、50μmとし
た。光位相変調器部のレーザ側と反対の端面には高反射
コーティング(29)を施し、出射端面は半導体レーザ
側とした。また、基板の下面にはn形電極62(図2)
をつける。
The lengths of the laser portion, the optical phase modulator portion and the insulating portion between them were set to 2600 μm, 300 μm and 50 μm. A highly reflective coating (29) was applied to the end face of the optical phase modulator portion opposite to the laser side, and the emitting end face was set to the semiconductor laser side. Also, an n-type electrode 62 (FIG. 2) is provided on the lower surface of the substrate.
Turn on.

【0034】図4は、図1および図2に示したMQWレ
ーザ素子の製造方法の他の実施例を説明するための断面
図である。この図では、変調器部分が先に形成されてい
る。図4において、図1ないし図3において使用されて
いる符号と同じ符号は同じ部材または部分を示す。この
図によれば、半導体レーザ部12より発光された光が光
位相変調器部14に導波される構造となっている。
FIG. 4 is a cross-sectional view for explaining another embodiment of the method of manufacturing the MQW laser device shown in FIGS. 1 and 2. In this figure, the modulator portion is formed first. 4, the same reference numerals as those used in FIGS. 1 to 3 indicate the same members or portions. According to this figure, the light emitted from the semiconductor laser section 12 is guided to the optical phase modulator section 14.

【0035】図5は本発明を適用したMQWレーザとM
QW光位相変調器の集積化光源による光パルス発生素子
の特性を示すものである。半値全幅5ピコ秒程度のパル
ス幅が20GHzの繰り返し周波数で得られており、実
際に第二高周波による自己相関の測定によれば半値全幅
は光パルスの波形をローレンツ形と仮定して1ピコ秒で
あった。また、光出力も数10mWあり、この種の光パ
ルスとして十分な値である。MQW光位相変調器に直流
電圧を加えると繰り返し周波数が変化し、所期の目的を
達成できた。このとき強度変調器に加えるRF信号の周
波数は繰り返し周波数の変化に応じ変えねばならない。
光は変調器内を戻るため通常の進行波形に比べ試料長さ
は半分で同一の特性が得られるので、高消光比や高帯域
が達成された。
FIG. 5 shows an MQW laser and an M to which the present invention is applied.
It shows the characteristics of the optical pulse generating element by the integrated light source of the QW optical phase modulator. A pulse width with a full width at half maximum of about 5 picoseconds was obtained at a repetition frequency of 20 GHz. Actually, according to the measurement of the autocorrelation by the second high frequency, the full width at half maximum is 1 picosecond assuming that the optical pulse waveform is Lorentz type. Met. The optical output is also several tens of mW, which is a sufficient value for this type of optical pulse. When a DC voltage was applied to the MQW optical phase modulator, the repetition frequency changed, and the intended purpose was achieved. At this time, the frequency of the RF signal applied to the intensity modulator must be changed according to the change of the repetition frequency.
Since the light returns through the modulator, the sample length is half that of a normal traveling waveform, and the same characteristics are obtained, so that a high extinction ratio and a high bandwidth are achieved.

【0036】以上説明したように、本発明によればMQ
WレーザとMQW光位相変調器が結合効率よく集積化さ
れた光源を容易に作製することができ、また、MQWレ
ーザとMQW位相変調器の各々の性能を最適化できるた
め、5ピコ秒以下の狭線幅で高繰り返し周波数、高出力
の光パルスを容易に発生できる。また、MQW光位相変
調器に加える電圧を制御して、繰り返し周波数を数GH
zにわたって変えることができる。
As described above, according to the present invention, MQ
A light source in which the W laser and the MQW optical phase modulator are integrated efficiently can be easily manufactured, and the performance of each of the MQW laser and the MQW phase modulator can be optimized. A light pulse with a narrow line width and high repetition frequency and high output can be easily generated. In addition, the voltage applied to the MQW optical phase modulator is controlled so that the repetition frequency is several GH.
It can vary over z.

【0037】以上、光パルス発生素子について光パルス
発生部を構成する半導体レーザおよびレーザ部と変調器
部の結合形態を半導体レーザおよびバットジョイントと
呼ばれる構造を用いて説明したが、光パルス発生部を構
成する半導体レーザをLOGと呼ばれる構造(図4参
照)でも同様な特性が得られる。
In the above, the semiconductor laser constituting the optical pulse generating section of the optical pulse generating element and the coupling form of the laser section and the modulator section have been described by using the structure called the semiconductor laser and the butt joint. Similar characteristics can be obtained even when the semiconductor laser included therein has a structure called LOG (see FIG. 4).

【0038】[0038]

【発明の効果】以上説明したように、本発明にもとづく
光パルス発生素子は、基板上に設けられた半導体レーザ
と、該半導体レーザと同一基板上に形成され、かつ上記
半導体レーザの出射光を位相変調する光位相変調器と
が、同一の光共振器を構成し、さらに、上記半導体レー
ザを直流駆動し、かつ上記光位相変調器を大振幅動作さ
せることによって光パルス列が発生し、該光パルスの繰
り返し周波数を上記光位相変調器が制御することを特徴
とするものなので、高速繰り返し周波数および狭い時間
幅を持つ短光パルスを発生することが可能となる。
As described above, the optical pulse generating element based on the present invention is a semiconductor laser provided on a substrate and a semiconductor laser formed on the same substrate as the semiconductor laser and emitting light from the semiconductor laser. An optical phase modulator that performs phase modulation constitutes the same optical resonator, further, the semiconductor laser is driven by direct current, and an optical pulse train is generated by operating the optical phase modulator with a large amplitude, and the optical pulse train is generated. Since the optical phase modulator controls the pulse repetition frequency, it is possible to generate a short optical pulse having a high repetition frequency and a narrow time width.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明にもとづく光パルス素子の一例であるM
QWレーザ素子の概略的構成を説明するための斜視図で
ある。
FIG. 1 is an example of an optical pulse element according to the present invention M
It is a perspective view for explaining a schematic structure of a QW laser device.

【図2】図1のII-II 線に沿う断面図である。FIG. 2 is a sectional view taken along line II-II in FIG.

【図3】図1および図2に示したMQWレーザ素子の製
造方法を説明するための断面図で、図2における半導体
レーザ部と光位相変調器部との結合部分に相当し、さら
に図中の(A)〜(F)は各工程を表す。
FIG. 3 is a cross-sectional view for explaining the method of manufacturing the MQW laser device shown in FIGS. 1 and 2, which corresponds to the coupling portion between the semiconductor laser portion and the optical phase modulator portion in FIG. (A) to (F) of each represent each step.

【図4】図1および図2に示したMQWレーザ素子の製
造方法の他の実施例を説明するための断面図である。
FIG. 4 is a cross-sectional view for explaining another embodiment of the method of manufacturing the MQW laser device shown in FIGS. 1 and 2.

【図5】本発明にもとづく光パルス発生素子の光位相変
調器を動作させた場合の特性を示す図である。
FIG. 5 is a diagram showing characteristics when the optical phase modulator of the optical pulse generating element according to the present invention is operated.

【図6】本発明にもとづく光パルス発生素子の光位相変
調部の動作原理を示す図でTM偏光を用いる効果を示す
図である。
FIG. 6 is a diagram showing the operation principle of the optical phase modulator of the optical pulse generation element according to the present invention, and a diagram showing the effect of using TM polarized light.

【図7】本発明にもとづく光パルス発生素子の光位相変
調部の動作原理を示す図で電圧印加に伴う屈折率化およ
び振幅変化を示す図(TE偏光の場合)である。
FIG. 7 is a diagram showing the operation principle of the optical phase modulator of the optical pulse generating element according to the present invention, and is a diagram showing the refractive index and the amplitude change with voltage application (in the case of TE polarization).

【図8】従来のパルス発生に用いられた強度変調器の動
作原理を説明するための図で、光強度変調器を正弦波電
圧で大振幅動作したときの、透過光強度の狭まりを示
す。
FIG. 8 is a diagram for explaining the operation principle of a conventional intensity modulator used for pulse generation, showing a narrowing of transmitted light intensity when the light intensity modulator is operated at a large amplitude with a sine wave voltage.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10 MQWレーザ素子 11 光導波路 12 半導体レーザ部 14 光位相変調器部 15 第1の半導体部分 15A 対向端部 16 第2の半導体部分 16A 対向端部 17 光結合領域 18 界面(斜めエッチング面) 20 基板 22 エッチングストップ層 24 第1の下クラッド層 26 活性層(第1の多重量子井戸構造) 26A ウェル層 26B バリア層 28 ガイド層 29 高反射膜 30 第1の上クラッド層 31 保護層 32 第2の下クラッド層 34 第2の多重量子井戸構造 34A ウェル層 34B バリア層 36 第2の上クラッド層 38 第3のクラッド層 38A 肉薄部 38B,38C クラッド層の部分 40 分離部 42 キャップ層 44,46,47 埋め込み部 48 レーザ部の電極 49 光位相変調器部の電極 52 SiO2 膜 54 パターン化レジスト 56 ひさし 62 n型電極10 MQW Laser Element 11 Optical Waveguide 12 Semiconductor Laser Part 14 Optical Phase Modulator Part 15 First Semiconductor Part 15A Opposing End 16 Second Semiconductor Part 16A Opposing End 17 Optical Coupling Region 18 Interface (Oblique Etched Surface) 20 Substrate 22 Etching Stop Layer 24 First Lower Cladding Layer 26 Active Layer (First Multiple Quantum Well Structure) 26A Well Layer 26B Barrier Layer 28 Guide Layer 29 High Reflection Film 30 First Upper Cladding Layer 31 Protective Layer 32 Second Lower clad layer 34 Second multiple quantum well structure 34A Well layer 34B Barrier layer 36 Second upper clad layer 38 Third clad layer 38A Thin part 38B, 38C Clad layer part 40 Separation part 42 Cap layer 44, 46, 47 Embedded Section 48 Electrode for Laser Section 49 Electrode for Optical Phase Modulator Section 52 SiO 2 Film 54 Patterned resist 56 eaves 62 n-type electrode

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 光パルス発生素子であって、 基板上に設けられた半導体レーザと、 該半導体レーザと同一基板上に形成され、かつ前記半導
体レーザの出射光を位相変調する光位相変調器とが、同
一の光共振器を構成し、さらに、 前記半導体レーザを直流駆動し、かつ前記光位相変調器
を大振幅動作させることによって光パルス列が発生し、
該光パルスの繰り返し周波数を前記光位相変調器が制御
することを特徴とする光パルス発生素子。
1. An optical pulse generating element, comprising: a semiconductor laser provided on a substrate; and an optical phase modulator formed on the same substrate as the semiconductor laser and phase-modulating the emitted light of the semiconductor laser. However, the same optical resonator is configured, further, the semiconductor laser is driven by direct current, and an optical pulse train is generated by operating the optical phase modulator with a large amplitude,
An optical pulse generating element, wherein the optical phase modulator controls the repetition frequency of the optical pulse.
【請求項2】 請求項1記載の光パルス発生素子であっ
て、 前記半導体レーザおよび前記光位相変調器は同一の光導
波路から構成され、かつ該光導波路は、量子井戸層と障
壁層とを有する多重量子井戸構造からなり、さらに前記
量子井戸層は引っ張り応力が導入され、一方前記障壁層
は圧縮応力が導入されることによって、前記半導体レー
ザの発振光の偏光方向がTMとなることを特徴とする光
パルス発生素子。
2. The optical pulse generating element according to claim 1, wherein the semiconductor laser and the optical phase modulator are formed of the same optical waveguide, and the optical waveguide includes a quantum well layer and a barrier layer. And a tensile stress is introduced into the quantum well layer, while a compressive stress is introduced into the barrier layer, whereby the polarization direction of the oscillation light of the semiconductor laser is TM. Optical pulse generator.
【請求項3】 請求項1または2に記載の光パルス発生
素子であって、 前記光共振器を構成する前記光位相変調器側の面を高反
射面とすることによって、前記半導体レーザ側から光を
取り出すことを特徴とする光パルス発生素子。
3. The optical pulse generating element according to claim 1, wherein the surface of the optical resonator on the optical phase modulator side is a highly reflective surface so that An optical pulse generating element characterized by extracting light.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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