JPH0963050A - 磁気記録媒体の評価方法 - Google Patents
磁気記録媒体の評価方法Info
- Publication number
- JPH0963050A JPH0963050A JP21150795A JP21150795A JPH0963050A JP H0963050 A JPH0963050 A JP H0963050A JP 21150795 A JP21150795 A JP 21150795A JP 21150795 A JP21150795 A JP 21150795A JP H0963050 A JPH0963050 A JP H0963050A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- magnetic recording
- head
- recording medium
- pzt
- medium
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】磁気記録媒体の浮上特性評価において、規格値
以上の突起を有する不良媒体を確実に選別することがで
きる試験方法を確立すること。 【解決手段】磁気記録媒体の浮上特性評価に際して、Ｐ
ＺＴ素子を有するヘッドを用い、出力信号に対するパン
ドパスフィルタの周波数範囲を100kHzから１ＭHzとし、
ヘッドのスライダ幅の半分以下の測定ピッチで測定す
る。
以上の突起を有する不良媒体を確実に選別することがで
きる試験方法を確立すること。 【解決手段】磁気記録媒体の浮上特性評価に際して、Ｐ
ＺＴ素子を有するヘッドを用い、出力信号に対するパン
ドパスフィルタの周波数範囲を100kHzから１ＭHzとし、
ヘッドのスライダ幅の半分以下の測定ピッチで測定す
る。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、磁気記録装置に
搭載される磁気記録媒体（以下では、媒体と略称する）
の評価方法に関する。
搭載される磁気記録媒体（以下では、媒体と略称する）
の評価方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】媒体の浮上特性試験において、以前から
用いられてきたＡＥセンサ法に替わって、現在では、よ
り検出感度の高いＰＺＴヘッドを用いた測定方法が採用
されてきている。この場合、バンドパスフィルタの周波
数範囲は300 〜500kHzで、測定送りピッチは測定ヘッド
のＡＢＳ幅の70％程度である。
用いられてきたＡＥセンサ法に替わって、現在では、よ
り検出感度の高いＰＺＴヘッドを用いた測定方法が採用
されてきている。この場合、バンドパスフィルタの周波
数範囲は300 〜500kHzで、測定送りピッチは測定ヘッド
のＡＢＳ幅の70％程度である。
【０００３】バンドパスフィルタの周波数範囲が300 〜
500kHzとされてきた理由は下記の通りである。すなわ
ち、70％スライダを有するＰＺＴヘッドを用い、フィル
タとして100kHz以下の低周波成分 (ノイズ成分) を除去
するハイパスフィルタを用い、浮上高さ2.0 μinでバン
プディスク（高さ：2.0 μin，直径：250 μｍ）を測定
したときの、ＰＺＴ素子の出力信号波形及びその波形を
フーリェ変換したときの信号を、図２に示す。（Ａ）は
ＰＺＴ素子の出力信号波形であり、（Ｂ）はその波形を
フーリェ変換したときの周波数成分である。図２（Ｂ）
の主ピークは320kHz付近にある。これまでの測定結果か
ら、バンプのような、サイズの大きい突起の場合には、
ほぼ320kHz付近の周波数成分がその信号の主成分である
ことが分かっている。このため、従来は、この近傍の周
波数成分の信号のみを観測するために、バンドパスフィ
ルタの周波数範囲を300 〜500kHzとしていたのである。
なお、図２には、100kHz以下にも大きい信号が現れてい
るが、これはジンバルバネの共振によるものであり、突
起に衝突していない場合にも信号として常に現れている
ものである。
500kHzとされてきた理由は下記の通りである。すなわ
ち、70％スライダを有するＰＺＴヘッドを用い、フィル
タとして100kHz以下の低周波成分 (ノイズ成分) を除去
するハイパスフィルタを用い、浮上高さ2.0 μinでバン
プディスク（高さ：2.0 μin，直径：250 μｍ）を測定
したときの、ＰＺＴ素子の出力信号波形及びその波形を
フーリェ変換したときの信号を、図２に示す。（Ａ）は
ＰＺＴ素子の出力信号波形であり、（Ｂ）はその波形を
フーリェ変換したときの周波数成分である。図２（Ｂ）
の主ピークは320kHz付近にある。これまでの測定結果か
ら、バンプのような、サイズの大きい突起の場合には、
ほぼ320kHz付近の周波数成分がその信号の主成分である
ことが分かっている。このため、従来は、この近傍の周
波数成分の信号のみを観測するために、バンドパスフィ
ルタの周波数範囲を300 〜500kHzとしていたのである。
なお、図２には、100kHz以下にも大きい信号が現れてい
るが、これはジンバルバネの共振によるものであり、突
起に衝突していない場合にも信号として常に現れている
ものである。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】磁気記録の高密度化に
伴い、媒体においてはより低浮上化が求められている。
現在製造されている媒体の浮上量は1.5 〜2.0 μinであ
るが、今後、更に低浮上化が進んでいくことが予想され
る。しかしながら、従来の試験方法によって、このよう
な低浮上媒体を繰り返し測定すると、規格値以上の突起
の検出漏れを発生する場合が見られるようになってき
た。
伴い、媒体においてはより低浮上化が求められている。
現在製造されている媒体の浮上量は1.5 〜2.0 μinであ
るが、今後、更に低浮上化が進んでいくことが予想され
る。しかしながら、従来の試験方法によって、このよう
な低浮上媒体を繰り返し測定すると、規格値以上の突起
の検出漏れを発生する場合が見られるようになってき
た。
【０００５】この発明の課題は、媒体の浮上特性試験に
おいて、規格値以上の突起を有する不良媒体を確実に選
別することができる評価方法を確立することにある。
おいて、規格値以上の突起を有する不良媒体を確実に選
別することができる評価方法を確立することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】この課題を解決するため
に、この発明では、媒体の浮上特性試験に際して、ＰＺ
Ｔ素子を有するヘッドを用いて信号を検出し、そのヘッ
ドの出力信号を、周波数範囲が100kHzから１ＭHzである
バンドパスフィルタに通して出力し、その出力値により
不良媒体を選別する。
に、この発明では、媒体の浮上特性試験に際して、ＰＺ
Ｔ素子を有するヘッドを用いて信号を検出し、そのヘッ
ドの出力信号を、周波数範囲が100kHzから１ＭHzである
バンドパスフィルタに通して出力し、その出力値により
不良媒体を選別する。
【０００７】また、不良媒体の選別を更に確実にするた
めに、測定ピッチを測定ヘッドのＡＢＳ幅の半分よりも
狭くしている。バンドパスフィルタの周波数範囲を100k
Hzから１ＭHzと、従来の範囲より拡大したのは、実際の
媒体による浮上特性試験の出力波形をフーリェ変換して
検討した結果に基づいている。すなわち、実際の媒体上
の突起を光学顕微鏡で観察したところ、いずれの突起も
そのサイズが直径数μｍ程度であり、この突起を浮上特
性試験にかけたところ、図３及び図４に示すように、最
大振幅を持つ周波数成分が660kHzおよび880kHzに現れた
ことである。これは、従来技術の項で述べたバンプの場
合とは明らかに異なる周波数成分が現れていることを示
している。なお、図３及び図４においても、１ＭHz以上
の周波数成分の信号はほとんど観測されていない。
めに、測定ピッチを測定ヘッドのＡＢＳ幅の半分よりも
狭くしている。バンドパスフィルタの周波数範囲を100k
Hzから１ＭHzと、従来の範囲より拡大したのは、実際の
媒体による浮上特性試験の出力波形をフーリェ変換して
検討した結果に基づいている。すなわち、実際の媒体上
の突起を光学顕微鏡で観察したところ、いずれの突起も
そのサイズが直径数μｍ程度であり、この突起を浮上特
性試験にかけたところ、図３及び図４に示すように、最
大振幅を持つ周波数成分が660kHzおよび880kHzに現れた
ことである。これは、従来技術の項で述べたバンプの場
合とは明らかに異なる周波数成分が現れていることを示
している。なお、図３及び図４においても、１ＭHz以上
の周波数成分の信号はほとんど観測されていない。
【０００８】以上の結果と、ヘッドのジンバルバネの共
振周波数領域を除くという条件から、バンドパスフィル
タの周波数範囲を100kHzから１ＭHzと決定したのであ
る。なお、不良媒体の選別を更に確実にするためには、
同じ場所を２回以上試験することが有効である。そのた
めに、測定送りピッチを測定ヘッドのＡＢＳ幅の半分よ
りも狭くしている。
振周波数領域を除くという条件から、バンドパスフィル
タの周波数範囲を100kHzから１ＭHzと決定したのであ
る。なお、不良媒体の選別を更に確実にするためには、
同じ場所を２回以上試験することが有効である。そのた
めに、測定送りピッチを測定ヘッドのＡＢＳ幅の半分よ
りも狭くしている。
【０００９】
【発明の実施の形態】この発明においては、媒体の浮上
特性試験に際して、ＰＺＴ素子を有するヘッドを用いて
信号を検出し、そのヘッドの出力信号を、周波数範囲が
100kHzから１ＭHzであるバンドパスフィルタに通して出
力し、その出力値により不良媒体を選別する。
特性試験に際して、ＰＺＴ素子を有するヘッドを用いて
信号を検出し、そのヘッドの出力信号を、周波数範囲が
100kHzから１ＭHzであるバンドパスフィルタに通して出
力し、その出力値により不良媒体を選別する。
【００１０】また、不良媒体の選別を更に確実にするた
めに、測定送りピッチを測定ヘッドのＡＢＳ幅の半分よ
りも狭くしている。
めに、測定送りピッチを測定ヘッドのＡＢＳ幅の半分よ
りも狭くしている。
【００１１】
【実施例】この発明の実施例として、3.5 インチ磁気記
録媒体のグライドハイトを1.5 μinとした浮上特性試験
において、ＡＢＳ幅 11milのヘッドを用い、バンドパス
フィルタの周波数範囲を300kHzから500kHzとし、測定送
りピッチを200 μｍとした場合に検出した突起数が１個
であったのに対して、バンドパスフィルタの周波数範囲
を100kHzから１ＭHzとし、測定送りピッチを125 μｍと
した場合に検出した突起数は５個であった。なお、その
うち４個については、660kHz及び880kHzの周波数成分の
信号が検出されている。
録媒体のグライドハイトを1.5 μinとした浮上特性試験
において、ＡＢＳ幅 11milのヘッドを用い、バンドパス
フィルタの周波数範囲を300kHzから500kHzとし、測定送
りピッチを200 μｍとした場合に検出した突起数が１個
であったのに対して、バンドパスフィルタの周波数範囲
を100kHzから１ＭHzとし、測定送りピッチを125 μｍと
した場合に検出した突起数は５個であった。なお、その
うち４個については、660kHz及び880kHzの周波数成分の
信号が検出されている。
【００１２】なお、図１に、同一の突起をヘッドの測定
トラックを変えて測定した場合の出力信号波形とその周
波数成分を示す。（Ａ１）及び（Ｂ１）はそれぞれ、最
初のトラックで測定したＰＺＴ素子の出力信号波形及び
その波形をフーリェ変換したときの周波数成分であり、
（Ａ２）及び（Ｂ２）はそれぞれ、トラックを変えて測
定したＰＺＴ素子の出力信号波形及びその波形をフーリ
ェ変換したときの周波数成分である。最初のトラックで
は、320kHzに最大ピークがあるが、トラックを変えるこ
とで、660kHz及び880kHzに最大ピークが移っている。こ
のように、同一の突起であっても、測定トラックが変わ
ると出力信号の周波数成分が変わるから、従来のバンド
パスフィルタの周波数範囲であると、後のトラックのよ
うな場合には、バンドパスフィルタの出力は小さくなる
ので、規格値を越える突起があるとの判断をしなくな
り、不良媒体の選別漏れを生じてしまうのである。
トラックを変えて測定した場合の出力信号波形とその周
波数成分を示す。（Ａ１）及び（Ｂ１）はそれぞれ、最
初のトラックで測定したＰＺＴ素子の出力信号波形及び
その波形をフーリェ変換したときの周波数成分であり、
（Ａ２）及び（Ｂ２）はそれぞれ、トラックを変えて測
定したＰＺＴ素子の出力信号波形及びその波形をフーリ
ェ変換したときの周波数成分である。最初のトラックで
は、320kHzに最大ピークがあるが、トラックを変えるこ
とで、660kHz及び880kHzに最大ピークが移っている。こ
のように、同一の突起であっても、測定トラックが変わ
ると出力信号の周波数成分が変わるから、従来のバンド
パスフィルタの周波数範囲であると、後のトラックのよ
うな場合には、バンドパスフィルタの出力は小さくなる
ので、規格値を越える突起があるとの判断をしなくな
り、不良媒体の選別漏れを生じてしまうのである。
【００１３】
【発明の効果】この発明によれば、実施例の項で説明し
たように、規格値を越える突起が存在する不良媒体を確
実に選別することができる。特に、小面積の突起の場合
には、同じ突起であっても測定トラックが変わると周波
数成分が変わってくるので、同一場所を２回以上測定す
ることで、選別をより確実にすることができるのであ
る。
たように、規格値を越える突起が存在する不良媒体を確
実に選別することができる。特に、小面積の突起の場合
には、同じ突起であっても測定トラックが変わると周波
数成分が変わってくるので、同一場所を２回以上測定す
ることで、選別をより確実にすることができるのであ
る。
【図１】この発明により、不良媒体上にある規格値を越
えている同一の突起を測定トラックを変えて測定した結
果を示す線図 （Ａ１）最初のトラックにおけるＰＺＴ素子の出力信号
波形 （Ｂ１）最初のトラックにおける出力信号波形のフーリ
ェ変換結果 （Ａ２）変えたトラックにおけるＰＺＴ素子の出力信号
波形 （Ｂ２）変えたトラックにおける出力信号波形のフーリ
ェ変換結果
えている同一の突起を測定トラックを変えて測定した結
果を示す線図 （Ａ１）最初のトラックにおけるＰＺＴ素子の出力信号
波形 （Ｂ１）最初のトラックにおける出力信号波形のフーリ
ェ変換結果 （Ａ２）変えたトラックにおけるＰＺＴ素子の出力信号
波形 （Ｂ２）変えたトラックにおける出力信号波形のフーリ
ェ変換結果
【図２】バンプディスクのパンプによる測定結果を示す
線図 （Ａ）ＰＺＴ素子の出力信号波形 （Ｂ）出力信号波形のフーリェ変換結果
線図 （Ａ）ＰＺＴ素子の出力信号波形 （Ｂ）出力信号波形のフーリェ変換結果
【図３】実際の磁気記録媒体上の突起による測定結果を
示す線図 （Ａ）ＰＺＴ素子の出力信号波形 （Ｂ）出力信号波形のフーリェ変換結果
示す線図 （Ａ）ＰＺＴ素子の出力信号波形 （Ｂ）出力信号波形のフーリェ変換結果
【図４】実際の磁気記録媒体上の別の突起による測定結
果を示す線図 （Ａ）ＰＺＴ素子の出力信号波形 （Ｂ）出力信号波形のフーリェ変換結果
果を示す線図 （Ａ）ＰＺＴ素子の出力信号波形 （Ｂ）出力信号波形のフーリェ変換結果
Claims (2)
- 【請求項１】磁気記録媒体の浮上特性試験に際し、 試験にはＰＺＴ素子を有するヘッドを用い、そのヘッド
の出力信号を、周波数範囲が100kHzから１ＭHzであるバ
ンドパスフィルタに通して出力し、その出力値により不
良磁気記録媒体を選別することを特徴とする磁気記録媒
体の評価方法。 - 【請求項２】請求項１に記載の磁気記録媒体の評価方法
において、測定ピッチを測定ヘッドのＡＢＳ幅の半分よ
りも狭くしたことを特徴とする磁気記録媒体の評価方
法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21150795A JPH0963050A (ja) | 1995-08-21 | 1995-08-21 | 磁気記録媒体の評価方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21150795A JPH0963050A (ja) | 1995-08-21 | 1995-08-21 | 磁気記録媒体の評価方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0963050A true JPH0963050A (ja) | 1997-03-07 |
Family
ID=16607080
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP21150795A Pending JPH0963050A (ja) | 1995-08-21 | 1995-08-21 | 磁気記録媒体の評価方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0963050A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6943969B2 (en) | 2002-09-20 | 2005-09-13 | Fujitsu Limited | Method of detecting protrusion on recording medium and detecting apparatus therefor |
| US20090262460A1 (en) * | 2005-04-27 | 2009-10-22 | Seagate Technology Llc | Head assembly having a sensing element |
-
1995
- 1995-08-21 JP JP21150795A patent/JPH0963050A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6943969B2 (en) | 2002-09-20 | 2005-09-13 | Fujitsu Limited | Method of detecting protrusion on recording medium and detecting apparatus therefor |
| US20090262460A1 (en) * | 2005-04-27 | 2009-10-22 | Seagate Technology Llc | Head assembly having a sensing element |
| US8310779B2 (en) * | 2005-04-27 | 2012-11-13 | Seagate Technology Llc | Head assembly having a sensing element |
| US8837075B2 (en) | 2005-04-27 | 2014-09-16 | Seagate Technology Llc | Head assembly with head-media spacing control |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| EP0467615B1 (en) | Magnetic storage system and method of operation | |
| EP0163171B1 (en) | Apparatus for analyzing the interface between a recording disk and a read-write head | |
| US6293135B1 (en) | Method of calibrating a system for detecting contact of a glide head with a recording media surface | |
| US4841389A (en) | Magnetic transducer crash anticipation and response method and apparatus | |
| US9263069B2 (en) | Spectral noise analysis for read head structures | |
| US6943545B2 (en) | Magnetic head tester | |
| US5168412A (en) | Surface interference detector | |
| US6479988B2 (en) | Method and apparatus for testing thin-film magnetic head | |
| US6111406A (en) | System and method for testing a write head in a combined magnetic head using an associated read sensor in the combined head | |
| JPH0963050A (ja) | 磁気記録媒体の評価方法 | |
| O'Brien et al. | Head/disk interface contact detection using a refined acoustic emission technique | |
| US6021666A (en) | Determining a close point for glide heads | |
| JPH02289916A (ja) | 磁気ヘッド特性の測定方法 | |
| JPH11328670A (ja) | 磁気ディスクの検査装置及び検査方法 | |
| KR100295724B1 (ko) | 신호분리장치및신호처리방법과정보저장장치 | |
| Ogawa et al. | A method for predicting missing-error counts at high recording densities | |
| JPH1137748A (ja) | 磁気ディスクの突起検出方法 | |
| JPH02226047A (ja) | 磁気ディスク媒体突起検査方法 | |
| Clark | An experimental correlation of slider-disk contact detection between piezoelectric and electrical resistance measurements | |
| Zeng et al. | Two calibration methods of AE measurement channels for slider-disk contact detection | |
| Wang et al. | Acoustic emission of laser textured disks influenced by bump excitation | |
| JP2696629B2 (ja) | フレキシブルディスクのモジュレーション波形検査方法 | |
| JP2005285284A (ja) | ディスク表面上の突起検出装置、および、その突起検出方法 | |
| Lin et al. | A novel in situ monitoring method for head/media contact | |
| JPH077492B2 (ja) | 薄膜磁気ヘッドの検査方法 |