JPH0961408A - セラミックス材料の評価方法 - Google Patents
セラミックス材料の評価方法Info
- Publication number
- JPH0961408A JPH0961408A JP7217763A JP21776395A JPH0961408A JP H0961408 A JPH0961408 A JP H0961408A JP 7217763 A JP7217763 A JP 7217763A JP 21776395 A JP21776395 A JP 21776395A JP H0961408 A JPH0961408 A JP H0961408A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ceramics material
- attenuation
- ceramics
- ultrasonic
- ultrasonic pulses
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- Pending
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- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 セラミックス材料における特性の簡便な評価
方法を提供するものである。 【解決手段】 セラミックス材料の表面に入力線および
出力線を有する超音波振動子を配設し、該超音波振動子
に超音波パルスを導入し、該超音波パルスのセラミック
ス材料内部における減衰状態を測定することによりセラ
ミックス材料の特性を評価するセラミックス材料の評価
方法に関する。
方法を提供するものである。 【解決手段】 セラミックス材料の表面に入力線および
出力線を有する超音波振動子を配設し、該超音波振動子
に超音波パルスを導入し、該超音波パルスのセラミック
ス材料内部における減衰状態を測定することによりセラ
ミックス材料の特性を評価するセラミックス材料の評価
方法に関する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、セラミックス材料
の特性の新しい評価方法に関する。
の特性の新しい評価方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】近年、各種のセラミックス材料がさまざ
まな分野において利用されており、これらセラミックス
材料の物性評価方法としてもいろいろな測定方法が提案
され、また、実施されている。
まな分野において利用されており、これらセラミックス
材料の物性評価方法としてもいろいろな測定方法が提案
され、また、実施されている。
【０００３】例えば、セラミックス材料の誘電特性の評
価方法として、円柱状サンプルの上下両面にＡｇのよう
な電極を形成し、コンデンサとしてその誘電率や誘電損
失を評価する方法、また、高周波数領域においては、導
波管にサンプルを挿入し、サンプルの共振状態より同様
に誘電率、誘電損失を評価する方法がある。
価方法として、円柱状サンプルの上下両面にＡｇのよう
な電極を形成し、コンデンサとしてその誘電率や誘電損
失を評価する方法、また、高周波数領域においては、導
波管にサンプルを挿入し、サンプルの共振状態より同様
に誘電率、誘電損失を評価する方法がある。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな方法はサンプルにＡｇ電極を形成しなければならな
い、あるいは、高価な装置を使用しなければならない等
の難点があり、このような材料の物性を、低コスト、か
つ簡単に評価する方法が求められている。
うな方法はサンプルにＡｇ電極を形成しなければならな
い、あるいは、高価な装置を使用しなければならない等
の難点があり、このような材料の物性を、低コスト、か
つ簡単に評価する方法が求められている。
【０００５】本発明の目的は、セラミックス材料におけ
る特性の簡便な評価方法を提供するものである。
る特性の簡便な評価方法を提供するものである。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明は、セラミックス
材料の表面に入力線および出力線を有する超音波振動子
を配設し、該超音波振動子に超音波パルスを導入し、該
超音波パルスのセラミックス材料内部における減衰状態
を測定することによりセラミックス材料の特性を評価す
ることを特徴とするセラミックス材料の評価方法に関す
る。
材料の表面に入力線および出力線を有する超音波振動子
を配設し、該超音波振動子に超音波パルスを導入し、該
超音波パルスのセラミックス材料内部における減衰状態
を測定することによりセラミックス材料の特性を評価す
ることを特徴とするセラミックス材料の評価方法に関す
る。
【０００７】本発明によれば、セラミックス材料の特性
を低コスト、かつ簡単に評価することができ、バラツキ
のない安定した特性を有するセラミックス材料を選別す
ることができる。
を低コスト、かつ簡単に評価することができ、バラツキ
のない安定した特性を有するセラミックス材料を選別す
ることができる。
【０００８】超音波振動子としては、入力線および出力
線を有する電極膜を形成した超音波を発生できる材料が
用いられ、その材料として、例えばニオブ酸リチウム、
タンタル酸リチウム、酸化亜鉛等を挙げることができ
る。
線を有する電極膜を形成した超音波を発生できる材料が
用いられ、その材料として、例えばニオブ酸リチウム、
タンタル酸リチウム、酸化亜鉛等を挙げることができ
る。
【０００９】超音波パルスとしては、超音波振動子の厚
みによっても異なるが、通常数ＭＨｚ〜数ＧＨｚのパル
ス波が使用される。
みによっても異なるが、通常数ＭＨｚ〜数ＧＨｚのパル
ス波が使用される。
【００１０】減衰状態の測定は、セラミックス材料に配
設された超音波振動子に超音波パルスを導入し、該セラ
ミックス材料内部における超音波パルスの減衰状態をオ
シロスコープ等の測定機器により行うことができる。
設された超音波振動子に超音波パルスを導入し、該セラ
ミックス材料内部における超音波パルスの減衰状態をオ
シロスコープ等の測定機器により行うことができる。
【００１１】
【発明の実施の形態】本発明の好適な評価方法の一例を
次に示す。例えば、直径５〜２０ｍｍφのペレット状の
サンプルの一端面に入出力線を有する金電極膜を形成し
たニオブ酸リチウムの薄膜を貼り付け、約１７ＭＨｚの
超音波パルスを発生させ、音波の伝搬減衰（多重エコー
パルス）をオシロスコープで測定し、その減衰曲線か
ら、式、ｕ＝ｕ0 ｅ（−αｔｖ）〔ただし、ｕ：エコー
のピーク強度、ｕ0 ：定数、α：音波吸収係数（ｃ
ｍ-1）、ｔ：時間、ｖ：音速、試料形状およびパルス間
隔より算出〕により音波吸収係数αを求める。
次に示す。例えば、直径５〜２０ｍｍφのペレット状の
サンプルの一端面に入出力線を有する金電極膜を形成し
たニオブ酸リチウムの薄膜を貼り付け、約１７ＭＨｚの
超音波パルスを発生させ、音波の伝搬減衰（多重エコー
パルス）をオシロスコープで測定し、その減衰曲線か
ら、式、ｕ＝ｕ0 ｅ（−αｔｖ）〔ただし、ｕ：エコー
のピーク強度、ｕ0 ：定数、α：音波吸収係数（ｃ
ｍ-1）、ｔ：時間、ｖ：音速、試料形状およびパルス間
隔より算出〕により音波吸収係数αを求める。
【００１２】求められた音波吸収係数αが過度に大きい
場合には、無負荷Ｑが大きくなったり、セラミックス材
料に微小なクラックが存在したりするので音波吸収係数
αは、０．３以下、特に０．２５以下が好ましい。
場合には、無負荷Ｑが大きくなったり、セラミックス材
料に微小なクラックが存在したりするので音波吸収係数
αは、０．３以下、特に０．２５以下が好ましい。
【００１３】
【実施例】以下、実施例および参考例を示し、本発明に
ついてさらに具体的に説明する。 実施例１ 表１記載の誘電体セラミックスサンプル（試料１〜５）
（直径１ｃｍ、高さ１ｃｍ、組成：ＢａＯ−ＴｉＯ2 −
Ｐｒ2 Ｏ3 系）の一端面に入出力線を有する金電極膜を
形成したニオブ酸リチウムの薄膜を貼り付け、約１７Ｍ
Ｈｚの超音波パルスを発生させ、音波の伝搬減衰（多重
エコーパルス）をオシロスコープで測定し、その減衰曲
線から、式、ｕ＝ｕ0 ｅ（−αｔｖ）〔ただし、ｕ：エ
コーのピーク強度、ｕ0 ：定数、α：音波吸収係数（ｃ
ｍ-1）、ｔ：時間、ｖ：音速、試料形状およびパルス間
隔より算出〕によりαを求めた。誘電体セラミックスサ
ンプルの組成を表１に、また音波吸収係数αを表２に示
す。
ついてさらに具体的に説明する。 実施例１ 表１記載の誘電体セラミックスサンプル（試料１〜５）
（直径１ｃｍ、高さ１ｃｍ、組成：ＢａＯ−ＴｉＯ2 −
Ｐｒ2 Ｏ3 系）の一端面に入出力線を有する金電極膜を
形成したニオブ酸リチウムの薄膜を貼り付け、約１７Ｍ
Ｈｚの超音波パルスを発生させ、音波の伝搬減衰（多重
エコーパルス）をオシロスコープで測定し、その減衰曲
線から、式、ｕ＝ｕ0 ｅ（−αｔｖ）〔ただし、ｕ：エ
コーのピーク強度、ｕ0 ：定数、α：音波吸収係数（ｃ
ｍ-1）、ｔ：時間、ｖ：音速、試料形状およびパルス間
隔より算出〕によりαを求めた。誘電体セラミックスサ
ンプルの組成を表１に、また音波吸収係数αを表２に示
す。
【００１４】参考例１ 表１記載の誘電体セラミックスサンプルの損失特性をＨ
ａｋｋｉ＆Ｃｏｌｅｍａｎ法（従来法）により測定し
た。その結果を表２に示す。この方法で評価した結果は
前記の超音波パルスによる測定結果とよく対応してお
り、本発明の方法によりセラミックス材料の特性を評価
できることが判る。
ａｋｋｉ＆Ｃｏｌｅｍａｎ法（従来法）により測定し
た。その結果を表２に示す。この方法で評価した結果は
前記の超音波パルスによる測定結果とよく対応してお
り、本発明の方法によりセラミックス材料の特性を評価
できることが判る。
【００１５】
【表１】
【００１６】
【表２】
【００１７】
【発明の効果】本発明によれば、セラミックス材料の特
性を、低コスト、かつ、簡便に評価することができる。
性を、低コスト、かつ、簡便に評価することができる。
Claims (1)
- 【請求項１】 セラミックス材料の表面に入力線および
出力線を有する超音波振動子を配設し、該超音波振動子
に超音波パルスを導入し、該超音波パルスのセラミック
ス材料内部における減衰状態を測定することによりセラ
ミックス材料の特性を評価することを特徴とするセラミ
ックス材料の評価方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7217763A JPH0961408A (ja) | 1995-08-25 | 1995-08-25 | セラミックス材料の評価方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7217763A JPH0961408A (ja) | 1995-08-25 | 1995-08-25 | セラミックス材料の評価方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0961408A true JPH0961408A (ja) | 1997-03-07 |
Family
ID=16709358
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7217763A Pending JPH0961408A (ja) | 1995-08-25 | 1995-08-25 | セラミックス材料の評価方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0961408A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN103995203A (zh) * | 2014-05-29 | 2014-08-20 | 国家电网公司 | 适于抑制采集噪声的电容稳态在线检测系统及工作方法 |
| CN103995205A (zh) * | 2014-05-29 | 2014-08-20 | 国家电网公司 | 一种电容稳态在线检测工作方法及检测装置 |
| CN104062509A (zh) * | 2014-07-02 | 2014-09-24 | 国家电网公司 | Uhf电容检测装置及其工作方法 |
| CN104597338A (zh) * | 2014-06-11 | 2015-05-06 | 江苏省武进中等专业学校 | 一种分布式物联网实训系统及其工作方法 |
-
1995
- 1995-08-25 JP JP7217763A patent/JPH0961408A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN103995203A (zh) * | 2014-05-29 | 2014-08-20 | 国家电网公司 | 适于抑制采集噪声的电容稳态在线检测系统及工作方法 |
| CN103995205A (zh) * | 2014-05-29 | 2014-08-20 | 国家电网公司 | 一种电容稳态在线检测工作方法及检测装置 |
| CN104597338A (zh) * | 2014-06-11 | 2015-05-06 | 江苏省武进中等专业学校 | 一种分布式物联网实训系统及其工作方法 |
| CN104062509A (zh) * | 2014-07-02 | 2014-09-24 | 国家电网公司 | Uhf电容检测装置及其工作方法 |
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