JPH0946192A - Waveform shaping circuit - Google Patents

Waveform shaping circuit

Info

Publication number
JPH0946192A
JPH0946192A JP19148095A JP19148095A JPH0946192A JP H0946192 A JPH0946192 A JP H0946192A JP 19148095 A JP19148095 A JP 19148095A JP 19148095 A JP19148095 A JP 19148095A JP H0946192 A JPH0946192 A JP H0946192A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
input signal
circuit
threshold value
voltage
comparator
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP19148095A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hiroyuki Kaneko
洋之 金子
Teruyoshi Mihara
輝儀 三原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nissan Motor Co Ltd
Original Assignee
Nissan Motor Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nissan Motor Co Ltd filed Critical Nissan Motor Co Ltd
Priority to JP19148095A priority Critical patent/JPH0946192A/en
Publication of JPH0946192A publication Critical patent/JPH0946192A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
  • Manipulation Of Pulses (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To attain surely thresholding without malfunction by changing a thresholding decision level in response to a mean level fluctuation of an input signal. SOLUTION: The circuit is provided with a hold circuit 71 holding a maximum value or a minimum value of an input signal, a 1st threshold level generating circuit 72 using the hold voltage as a reference voltage, and a 1st comparator 73 compares the 1st threshold level with the input signal for thresholding. In this case, a 2nd comparator 75 compares an output of a 2nd threshold level generating circuit 74 shifting the input signal by a prescribed phase and an output of the hold circuit. Thus, an edge of a waveform change with the output of the 1st comparator is detected and it is used to reset the hold circuit 71. Through the constitution above, the thresholding decision level is tracked with the change in the mean level of the input signal to execute stable thresholding.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、例えば内燃機関
のクランク角や車輪の回転速度を検出する装置に用いら
れる磁気型回転検出装置、すなわち歯車構造を有し、こ
の歯の凹凸に対応した2値電圧を発生する磁気型回転検
出装置に用いる回路において、この磁気型回転検出装置
の出力平均レベルの変動に対応して2値出力を発生し得
る波形整形回路に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention has, for example, a magnetic type rotation detecting device used in a device for detecting a crank angle of an internal combustion engine and a rotation speed of a wheel, that is, a gear structure, which corresponds to unevenness of teeth. The present invention relates to a waveform shaping circuit that can generate a binary output in a circuit used in a magnetic type rotation detecting device that generates a value voltage, in response to a change in an average output level of the magnetic type rotation detecting device.

【0002】[0002]

【従来の技術】図8に従来技術の一例を示す。これは”
Technical Digest of THE 12th SENSOR SYMPOSIUM (199
4)pp.241-244”に記載されているもので、以下この文献
により動作を説明する。検出対象歯車11の凹凸に対応
して得られた信号は直流成分を含む広帯域増幅器12で
増幅された後、ピークホールド回路13、ボトムホール
ド回路14、第1比較器15にそれぞれ入力される。ピ
ークホールド回路13では上記信号の最大値、ボトムホ
ールド回路14では上記信号の最小値が検出され、各回
路に内蔵されているホールドキャパシタにピークおよび
ボトムそれぞれの電圧が保持される。これらそれぞれの
ホールド電圧は抵抗分割され、ホールド電圧を基準とし
たしきい値電圧が発生される。個々で第1比較器15は
このしきい値電圧と入力信号電圧を比較し、入力信号の
2値化を行う。発生されるしきい値電圧は、第1比較器
15の動作を安定にするため、第1比較器15の出力に
応じて、Hi-しきい値、Lo−しきい値と切替られ、ヒ
ステリシス特性が付加されている。
2. Description of the Related Art FIG. 8 shows an example of prior art. this is"
Technical Digest of THE 12th SENSOR SYMPOSIUM (199
4) pp. 241-244 ", and the operation will be described below with reference to this reference. The signal obtained corresponding to the unevenness of the gear 11 to be detected is amplified by the wide band amplifier 12 including the DC component. After that, the peak hold circuit 13, the bottom hold circuit 14, and the first comparator 15 are respectively input.The peak hold circuit 13 detects the maximum value of the signal, and the bottom hold circuit 14 detects the minimum value of the signal. Each of the peak voltage and the bottom voltage is held in the hold capacitor built in the circuit, and the respective hold voltages are divided by resistors to generate a threshold voltage based on the hold voltage. The comparator 15 compares the threshold voltage with the input signal voltage to binarize the input signal, and the generated threshold voltage stabilizes the operation of the first comparator 15. Therefore, in accordance with the output of the first comparator 15, Hi- threshold, Lo-threshold and switched, hysteresis characteristics are added.

【0003】一方ピークホールド回路13、ボトムホー
ルド回路14をリセットし新たな信号を取り込むため
に、第1比較器15の出力の立上り・立ち下がりを検出
し、立上りエッジでピークホールド回路13へのリセッ
トパルスを、立ち下がりエッジでボトムホールド回路1
4へのリセットパルスをエッジ検出&リセット回路16
によってそれぞれ発生させ、両ホールド回路13及び1
4のリセットを行う。以上の様にして検出対象歯車11
の凹凸に対応した2値パルス電圧を発生する。
On the other hand, in order to reset the peak hold circuit 13 and the bottom hold circuit 14 and capture a new signal, the rising and falling edges of the output of the first comparator 15 are detected, and the peak hold circuit 13 is reset at the rising edge. Bottom hold circuit 1 at the falling edge of the pulse
4 reset pulse to edge detection & reset circuit 16
And hold circuits 13 and 1
4 is reset. As described above, the detection target gear 11
A binary pulse voltage corresponding to the unevenness is generated.

【0004】次に本従来例で用いられているピークホー
ルド回路の詳細について図9により説明する。入力信号
Vinは比較器22とトランスファゲート21に供給さ
れるが、キャパシタ24の電圧Vcが入力信号Vinよ
り低い場合はトランスファゲート21が導通状態とな
り、キャパシタ24の電圧は入力電圧Vinになるまで
上昇する。一方、入力信号電圧Vinがキャパシタ電圧
Vcより低い場合にはトランスファゲート21は導通状
態であり、キャパシタ電圧Vcは保持される。この様に
して、入力信号電圧の最大値が常に保持されることにな
る。新たに入力信号電圧の最大値を検出する場合は、ト
ランスファゲート21を外部からの信号により強制的に
導通状態にし、キャパシタ電圧Vcを入力信号電圧Vi
nに等しくする(リセット動作)。尚、ボトムホールド
回路は比較器の極性を変えるだけで、動作原理は同じで
ある。
Next, details of the peak hold circuit used in this conventional example will be described with reference to FIG. The input signal Vin is supplied to the comparator 22 and the transfer gate 21, but when the voltage Vc of the capacitor 24 is lower than the input signal Vin, the transfer gate 21 becomes conductive and the voltage of the capacitor 24 rises until it becomes the input voltage Vin. To do. On the other hand, when the input signal voltage Vin is lower than the capacitor voltage Vc, the transfer gate 21 is conductive and the capacitor voltage Vc is held. In this way, the maximum value of the input signal voltage is always held. When the maximum value of the input signal voltage is newly detected, the transfer gate 21 is forcibly made conductive by a signal from the outside, and the capacitor voltage Vc is set to the input signal voltage Vi.
Equal to n (reset operation). The bottom hold circuit has the same operation principle except that the polarity of the comparator is changed.

【0005】図10にはピークホールド回路の他の従来
例を示す。ここでは、前記従来例のトランスファーゲー
トがダイオード31に置き替わったもので、前記従来例
と同様の原理で入力信号の最大値を検出し保持する。
FIG. 10 shows another conventional example of the peak hold circuit. Here, the transfer gate of the conventional example is replaced with the diode 31, and the maximum value of the input signal is detected and held by the same principle as the conventional example.

【0006】以上説明した従来の波形整形回路、例えば
図8に示した回路の動作信号波形を図11に示す。入力
信号の最大値・最小値を検出した後、それらホールド電
圧からしきい値を発生させ、そのしきい値と入力電圧が
クロスした所で第一比較器をON/OFFさせ、ホール
ド回路にリセット信号を送り、次の入力信号の最大値検
出に入る。このように、第一比較器が動作を続けいる限
り、しきい値が入力信号に追従して変化するため、入力
電圧の平均値が時間と共に変動した場合でも、確実に2
値化を行うことが出来る。
FIG. 11 shows operation signal waveforms of the conventional waveform shaping circuit described above, for example, the circuit shown in FIG. After detecting the maximum and minimum values of the input signal, a threshold value is generated from those hold voltages, and when the threshold voltage and the input voltage cross, the first comparator is turned on / off and reset to the hold circuit. Send a signal and start detecting the maximum value of the next input signal. As described above, as long as the first comparator continues to operate, the threshold value changes following the input signal. Therefore, even if the average value of the input voltage fluctuates with time, 2
It can be digitized.

【0007】さらに、上述のような従来の波形整形回路
以外に、しきい値を入力信号の平均値付近に発生させる
方法としては、キャパシタ等を用いて入力信号の平均化
を行う方法もあるが、低周波域ではキャパシタ容量が大
きくなり、個別部品で回路を構成しなければならず、小
型化が困難であり、高周波域での利用以外はあまり一般
的ではない。
In addition to the conventional waveform shaping circuit as described above, there is a method of averaging the input signal using a capacitor or the like as a method of generating the threshold value near the average value of the input signal. In the low frequency region, the capacitance of the capacitor becomes large, and the circuit must be composed of individual parts, which makes it difficult to miniaturize, and it is not generally used except in the high frequency region.

【0008】次に図13は第2の従来例を示すもので、
特開平2−21720に開示されているものである。こ
れは、オフセットレベルの変動している復調信号を2値
化するための回路である。前記従来例1と同様に信号の
最大値と最小値を上限ピークホールド回路61、下限ピ
ークホールド回路62で検出し、それらの間の電圧をし
きい値として比較器63で入力信号と比較して2値化を
行う。本従来例では、ピークホールド回路のリセット回
路は無く、ホールドキャパシタ64、65と並列に接続
された抵抗66、67とホールドキャパシタ容量との積
(CR積)に比例した時定数により放電させることで、
新たな信号の最大値を検出している。
Next, FIG. 13 shows a second conventional example.
This is disclosed in JP-A-2-21720. This is a circuit for binarizing a demodulated signal with a varying offset level. Similar to the prior art example 1, the maximum value and the minimum value of the signal are detected by the upper limit peak hold circuit 61 and the lower limit peak hold circuit 62, and the voltage between them is used as a threshold value and compared with the input signal by the comparator 63. Binarization is performed. In this conventional example, there is no reset circuit for the peak hold circuit, and discharge is performed with a time constant proportional to the product (CR product) of the resistors 66 and 67 connected in parallel with the hold capacitors 64 and 65 and the hold capacitor capacitance. ,
The maximum value of the new signal is detected.

【0009】[0009]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
ような従来の波形整形回路においては以下のような問題
点があった。
However, the conventional waveform shaping circuit as described above has the following problems.

【0010】第1の問題点は、キャパシタのホールド電
圧Vcが次のリセットが実施される前に時間と共に変化
した場合である。以下、トランスファーゲートを用いた
ピーク/ボトムホールド回路を例に説明する。この場合
は、図12に示される様にホールドキャパシタにはトラ
ンスファゲートの寄生P/N接合51および52が形成
されているが、特に入力信号周波数が非常に低い場合
に、P/N接合でのリーク電流の大きさによってはホー
ルド電圧が時間と共に変化してしまう場合がある。即
ち、ピークホールド回路の場合はホールド電圧が上昇
し、ボトムホールド回路の場合はホールド電圧が低下し
てしまうと、そのホールド電圧を基準として定められた
しきい値も変化してしまい、最悪の場合回路が動作しな
くなる恐れが生ずる。このリーク電流は、逆バイアスさ
れた寄生P/N接合の空乏層内で発生した電流と、結晶
内の微少欠陥を経由して流れる電流からなっており、製
造プロセス、経時変化、構造等により大きく変化し、制
御が困難なものである。また、リーク電流は温度の指数
関数となっており、高温でリーク電流は大幅に増大す
る。特に自動車の車輪速度を検出する部位に適用する場
合には、検出歯車が停止した状態でも温度が100℃以
上になることが予想され、リーク電流の増大によるホー
ルド電圧の変化が懸念される。例えば、容量50pFの
キャパシタに、50pAのリーク電流が流れ込むとした
場合、約1V/sの速さでホールド電圧が上昇してしま
い、この間にリセットがかからないと、以後の入力信号
は検出不能となる。
The first problem is that the hold voltage Vc of the capacitor changes with time before the next reset is performed. Hereinafter, a peak / bottom hold circuit using a transfer gate will be described as an example. In this case, the parasitic P / N junctions 51 and 52 of the transfer gate are formed in the hold capacitor as shown in FIG. 12, but especially when the input signal frequency is very low, The hold voltage may change over time depending on the magnitude of the leak current. That is, if the hold voltage increases in the case of the peak hold circuit and decreases in the case of the bottom hold circuit, the threshold value determined with the hold voltage as a reference also changes, and in the worst case There is a risk that the circuit will stop working. This leakage current is composed of a current generated in the depletion layer of the reverse biased parasitic P / N junction and a current flowing through minute defects in the crystal, and is large depending on the manufacturing process, aging, structure, etc. It changes and is difficult to control. Further, the leak current is an exponential function of temperature, and the leak current greatly increases at high temperatures. Especially when it is applied to a portion for detecting the wheel speed of an automobile, the temperature is expected to reach 100 ° C. or higher even when the detection gear is stopped, and there is concern that the hold voltage may change due to an increase in leak current. For example, if a leakage current of 50 pA flows into a capacitor having a capacitance of 50 pF, the hold voltage rises at a speed of about 1 V / s, and if a reset is not applied during this period, the subsequent input signal cannot be detected. .

【0011】第2の問題点は、入力信号の平均値が大幅
に変化した場合である。これは、リーク電流が小さく、
キャパシタでのホールド電圧変化が比較的小さい場合で
も、入力信号の平均値の変化の方向・大きさ・速さによ
ってはホールド電圧を基準にしたしきい値が、入力信号
のレベルから外れる場合もあり得る。即ち、キャパシタ
保持電圧の変化や、入力信号オフセットの大幅な変化に
は対応出来ない場合があり、誤検出を起こす問題があっ
た。これは特に第2の従来例において述べた構成の場合
に問題となる。
The second problem is that the average value of the input signal changes significantly. This has a small leakage current,
Even if the hold voltage change in the capacitor is relatively small, the threshold value based on the hold voltage may deviate from the input signal level depending on the direction, magnitude, and speed of the change in the average value of the input signal. obtain. That is, there are cases where it is not possible to cope with changes in the capacitor holding voltage and large changes in the input signal offset, and there is the problem of erroneous detection. This becomes a problem particularly in the case of the configuration described in the second conventional example.

【0012】本発明はこの様な従来の問題点を解決し、
安定な2値化動作を行わせる波形整形回路を実現するこ
とを目的としたものである。
The present invention solves such conventional problems,
The purpose is to realize a waveform shaping circuit that performs a stable binarization operation.

【0013】[0013]

【課題を解決するための手段】本発明では上記の目的を
達成するために、請求項1においては、入力信号の最大
値または最小値のいずれかをホールドするためのピーク
ホールド回路またはボトムホールド回路を有し、このホ
ールド回路出力の一部は第一しきい値発生回路に接続さ
れており、この第一のしきい値発生回路の出力は入力信
号と比較するための第一比較器の入力に接続されてい
る。
In order to achieve the above object, the present invention provides, in claim 1, a peak hold circuit or a bottom hold circuit for holding either the maximum value or the minimum value of an input signal. And a part of the output of the hold circuit is connected to the first threshold generating circuit, the output of the first threshold generating circuit is the input of the first comparator for comparing with the input signal. It is connected to the.

【0014】一方、入力信号の一部は入力信号を基準と
して一定量だけシフトして作られる第二のしきい値を生
成する第二しきい値発生回路に供給され、この第二しき
い値発生回路の出力は、上記ピークまたはボトムホール
ド回路出力の他の一部と共に第二比較器の入力に接続さ
れている。第二比較器の出力は上記第一比較器の出力と
共にこれら出力の変化を検出するエッジ検出回路の入力
に接続されており、ここで得られたリセット信号で上記
ピークまたはボトムホールド回路をリセットし、新たに
しきい値電圧を設定する構成となっている。
On the other hand, a part of the input signal is supplied to a second threshold value generating circuit for generating a second threshold value which is generated by shifting the input signal by a certain amount, and the second threshold value is generated. The output of the generator circuit is connected to the input of the second comparator together with another portion of the peak or bottom hold circuit output. The output of the second comparator is connected to the input of the edge detection circuit that detects changes in these outputs together with the output of the first comparator, and the reset signal obtained here resets the peak or bottom hold circuit. The threshold voltage is newly set.

【0015】また請求項2においては、最大値及び最小
値の両者をそれぞれホールドするピークホールド回路と
ボトムホールド回路を有し、これら両ホールド回路出力
は第一しきい値発生回路に接続され、第一しきい値発生
回路の出力は入力信号と比較するための第一比較器の入
力に接続されている。一方、入力信号の一部はこれより
高いレベルのしきい値を発生する第二しきい値発生回路
に接続され、更に他の一部は入力信号より低いレベルの
しきい値を発生する第三しきい値発生回路に接続されて
いる。第二しきい値発生回路の出力は上記ピークホール
ド回路の出力と第二比較器で、また第三しきい値発生回
路の出力は第三比較器でボトムホールド回路の出力とそ
れぞれ比較される。これら各比較器出力は上記第一比較
器出力と共にエッジ検出回路の入力に接続されこれら出
力信号の変化を検出してリセット信号を生成し、このリ
セット信号により上記ピーク及びボトムホールド回路を
リセットし新たにしきい値を設定する構成となってい
る。
According to a second aspect of the present invention, there is provided a peak hold circuit and a bottom hold circuit for respectively holding both the maximum value and the minimum value, and the outputs of both hold circuits are connected to the first threshold value generating circuit. The output of the one threshold generation circuit is connected to the input of a first comparator for comparison with the input signal. On the other hand, a part of the input signal is connected to a second threshold value generating circuit which generates a threshold value of a higher level, and a further part of the input signal is a third threshold value which generates a threshold value of a lower level than the input signal. It is connected to the threshold generation circuit. The output of the second threshold generation circuit is compared with the output of the peak hold circuit by the second comparator, and the output of the third threshold generation circuit is compared with the output of the bottom hold circuit by the third comparator. The output of each of these comparators is connected to the input of the edge detection circuit together with the output of the first comparator, detects a change in these output signals and generates a reset signal, and the reset signal resets the peak and bottom hold circuits to newly generate the reset signal. The threshold is set to.

【0016】以下、上記の如き構成に基づく本発明の作
用について説明する。即ち、請求項1においては、入力
信号の最大値または最小値のいずれかをピークホールド
またはボトムホールドし、このホールド電圧を基準とし
て第一のしきい値発生回路により得られた第一しきい値
と入力信号とを第一比較器により比較して大小関係を判
定して2値化処理を行い、一方、入力信号を基準として
第二しきい値発生回路で一定量だけシフトして作られる
第二しきい値を上記ピークまたはボトムホールド電圧と
第二比較器で比較し、この比較結果が変化する際のレベ
ル変化のエッジを検出して上記ホールド回路をリセット
し、新たに変化した入力信号レベルでしきい値を設定す
ることにより、上記2値化処理を入力信号の平均レベル
の変化に応じて確実に実行させている。
The operation of the present invention based on the above construction will be described below. That is, according to the first aspect, either the maximum value or the minimum value of the input signal is peak-held or bottom-held, and the first threshold value obtained by the first threshold value generation circuit with this held voltage as a reference. And the input signal are compared with each other by the first comparator to determine the magnitude relationship, and binarization processing is performed. On the other hand, the second threshold value generating circuit shifts the input signal by a certain amount based on the input signal. The two thresholds are compared with the peak or bottom hold voltage by the second comparator, the level change edge when this comparison result changes is detected, the hold circuit is reset, and the newly changed input signal level By setting the threshold value with, the binarization processing is surely executed according to the change of the average level of the input signal.

【0017】また請求項2においては、入力信号の最大
値及び最小値の両者をそれぞれピークホールド回路及び
ボトムホールド回路でホールドし、これら両ホールド電
圧から第一しきい値を第一しきい値発生回路において発
生させ、この第一しきい値と入力信号を第一比較器にお
いて比較することにより入力信号の2値化処理を行う
が、この際入力信号より一定値だけ高い電圧値を有する
第二しきい値を第二しきい値発生回路で生成し、同じく
入力信号より一定値だけ低い電圧値を有する第三のしき
い値を第三しきい値発生回路で生成させ、これら第二及
び第三のしきい値電圧と上記ピークホールド電圧とをそ
れぞれ第二及び第三比較器で比較し、これら比較器出力
及び第一比較器出力の変化がエッジ検出及びリセット回
路で検出されリセット信号が生成される。この様にして
得られたリセット信号で上記ピークホールド回路及びボ
トムホールド回路をリセットし、これにより入力信号平
均レベルの変化に対応したしきい値を新たに設定するこ
とにより上記2値化処理を確実に実行させている。
According to another aspect of the present invention, both the maximum value and the minimum value of the input signal are held by the peak hold circuit and the bottom hold circuit, respectively, and a first threshold value is generated from these hold voltages. The input signal is binarized by generating it in the circuit and comparing the first threshold value with the input signal in the first comparator. At this time, the second signal having a voltage value higher than the input signal by a certain value is used. A threshold value is generated by the second threshold value generation circuit, and a third threshold value having a voltage value lower than the input signal by a constant value is generated by the third threshold value generation circuit. The third threshold voltage and the peak hold voltage are compared by the second and third comparators, respectively, and changes in these comparator outputs and the first comparator output are detected by the edge detection and reset circuit and reset. Signal is generated. The reset signal thus obtained resets the peak hold circuit and the bottom hold circuit, thereby setting a threshold value corresponding to a change in the average level of the input signal, thereby ensuring the binarization process. Is running.

【0018】[0018]

【発明の実施の形態】以下、本発明を図面に基づいて説
明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The present invention will be described below with reference to the drawings.

【0019】(発明の実施の形態1)図1に本発明の第
一の発明の実施の形態を示す。入力信号はピークホール
ド回路71で入力信号の最大値が検出・ホールドされ、
第一しきい値発生回路72で、その電圧値を基準として
定められた第一のしきい値を発生する。この第一のしき
い値が入力信号と第一比較器73によって比較され入力
信号の2値化を行う。一方、第二しきい値発生回路74
で入力信号をオフセット即ち直流的にシフトされた第二
のしきい値を発生させ、この第二のしきい値と前記ピー
クホールド回路71でホールドされているホールド電圧
とを第二比較器75で比較する。エッジ検出およびリセ
ット回路76では、これら二つの比較器73および75
の出力を変化し、ピークホールド回路71をリセットし
て、新たな入力信号の最大値を検出する。
(First Embodiment of the Invention) FIG. 1 shows a first embodiment of the present invention. The maximum value of the input signal is detected and held by the peak hold circuit 71,
The first threshold value generating circuit 72 generates a first threshold value determined with the voltage value as a reference. This first threshold value is compared with the input signal by the first comparator 73 to binarize the input signal. On the other hand, the second threshold value generating circuit 74
The input signal is offset, that is, a second threshold value generated by direct current shift is generated, and the second threshold value and the hold voltage held by the peak hold circuit 71 are generated by the second comparator 75. Compare. The edge detection and reset circuit 76 includes these two comparators 73 and 75.
Output is changed and the peak hold circuit 71 is reset to detect the maximum value of a new input signal.

【0020】このような回路構成において、従来例では
誤動作を発生してしまう様な種々の入力信号波形が入力
された場合の動作を図2および図3を用いて説明する。
With such a circuit configuration, the operation when various input signal waveforms that would cause a malfunction in the conventional example are input will be described with reference to FIGS. 2 and 3.

【0021】図2(a)、(b)は入力信号の平均値が
大幅に変化した場合の従来回路(a)、本実施例(b)
での動作波形である。歯車による回転検出装置において
は、感磁面と歯車とのギャップの変化、バイアス磁石の
磁力低下等が生じた場合に生じる入力信号変化である。
このような場合従来の回路では図2(a)に示すよう
に、ピークホールド電圧に対してはリセットがかから
ず、ボトムホールド電圧に対してはリセットがかかった
まま次の信号が入力されないため、high/lowの
しきい値が共に入力信号平均値の変化に追従出来ず、途
中から動作しなくなってしまう。しかし、本発明の実施
の形態においては図8(b)に示すように入力信号によ
る第二のしきい値を設けてあるため、ピークホールド電
圧が第二のしきい値と交差する時点(図中81)でリセ
ットされて、その結果第一のしきい値も図の様に入力信
号に追従し、動作を続けることが出来る。
FIGS. 2A and 2B show a conventional circuit (a) and the present embodiment (b) when the average value of the input signal changes significantly.
Is the operation waveform in. In a gear rotation detection device, this is a change in the input signal that occurs when the gap between the magnetically sensitive surface and the gear changes or when the magnetic force of the bias magnet decreases.
In such a case, in the conventional circuit, as shown in FIG. 2A, the peak hold voltage is not reset, and the bottom hold voltage is reset and the next signal is not input. , High / low threshold values cannot both follow the change in the average value of the input signal, and the operation stops halfway. However, in the embodiment of the present invention, since the second threshold value according to the input signal is provided as shown in FIG. 8B, the time when the peak hold voltage crosses the second threshold value (see FIG. 81), the result is that the first threshold value also follows the input signal as shown in the figure and the operation can be continued.

【0022】図3(a)、(b)は入力信号のオフセッ
ト変化は無いものの、入力信号停止期間中に保持電圧が
時間と共に変化してしまった場合の従来回路図3
(a)、本発明の実施の形態を示す図3(b)での動作
波形である。歯車による回転数検出装置においては、例
えば図におけるトランスファーゲートの寄生P/N接合
51および52からのリーク電流により、入力信号が停
止している期間中に保持電圧が上昇してしまった場合等
に相当する。このような場合、第一のしきい値が時間と
共に変化し、信号振幅から外れてしまうため、従来の回
路では動作を継続することが出来ないが、本発明の実施
の形態においては図中91のレベルでリセットがかかる
ため、常に動作が継続する。
3 (a) and 3 (b) show the conventional circuit when the holding voltage changes with time during the input signal stop period although there is no change in the offset of the input signal.
3A is an operation waveform in FIG. 3B showing the embodiment of the present invention. In the rotation speed detection device using gears, for example, when the holding voltage rises during the period when the input signal is stopped due to the leakage current from the parasitic P / N junctions 51 and 52 of the transfer gate in the figure, etc. Equivalent to. In such a case, since the first threshold value changes with time and deviates from the signal amplitude, the conventional circuit cannot continue the operation, but in the embodiment of the present invention, 91 in the figure. Since it is reset at the level of, the operation always continues.

【0023】本発明の実施の形態では第一のしきい値と
して入力信号のピークホールド値を基準としているた
め、上述の様に入力信号レベルの突然の低下やホールド
電圧の上昇で、第一のしきい値が入力信号振幅から外れ
る可能性があるが、逆に入力信号レベルの突然の上昇や
ホールド電圧の低下では、ピークホールド回路の性質
上、第一のしきい値は常に入力信号に追従出来るので、
第二のしきい値としては前者の場合だけを考慮すれば良
い。即ち、具体的には、第二のしきい値は入力信号より
高い値で設定することになる。
In the embodiment of the present invention, since the peak hold value of the input signal is used as the first threshold, the first hold is caused by the sudden decrease of the input signal level or the hold voltage as described above. Although the threshold value may deviate from the input signal amplitude, if the input signal level suddenly rises or the hold voltage drops, the first threshold always follows the input signal due to the nature of the peak hold circuit. Because you can
As the second threshold, only the former case may be considered. That is, specifically, the second threshold value is set to a value higher than the input signal.

【0024】反対に、第一のしきい値を入力信号のボト
ムホールド値を基準として用いる場合には、上述と反対
に入力信号レベルの突然の上昇やホールド電圧の低下に
対してもリセットがかかるように、第二のしきい値は入
力信号より低い値で設定すれば良い。従って、ピークホ
ールド電圧を基準にするか、ボトムホールド電圧を基準
にするかは、設計仕様に応じて使い分けることになる。
On the contrary, when the first threshold value is used as a reference for the bottom hold value of the input signal, contrary to the above, resetting is applied even when the input signal level suddenly rises or the hold voltage drops. As described above, the second threshold value may be set to a value lower than the input signal. Therefore, whether to use the peak hold voltage or the bottom hold voltage as a reference depends on the design specifications.

【0025】(発明の実施の形態2)図4は本発明にお
ける第二の発明の実施の形態を示すものである。
(Second Embodiment of the Invention) FIG. 4 shows a second embodiment of the present invention.

【0026】前記発明の実施の形態では入力信号のピー
ク或いはボトムホールド電圧何れかの一つを基準として
第一のしきい値で2値化を行っているが、信号振幅によ
り2値化の際のヂューティー比が変化したり、また第一
のしきい値を入力信号振幅内に収める必要があるため、
信号振幅が変化する場合はその設定が難しい。そこでよ
り広範囲な入力信号の振幅変化に対応出来、しかも2値
出力のデューティ比が変化しないようにするためには図
4に示すようにピークホールド回路100、ボトムホー
ルド回路101で入力信号の最大値と最小値を検出し、
第一しきい値発生回路102でピークおよびボトム値が
それぞれのホールド電圧値を基準(例えば中間電圧)と
した第一のしきい値を発生させ、この第一のしきい値と
第一比較器103で入力信号と比較し2値化すれば良
い。この場合には、しきい値レベルが単一レベルでヒス
テリシスが無いため、入力信号或いはホールド電圧の変
化の方向によらず、ピーク或いはボトムホールドのどち
らかがリセットがかからない状態が生ずる可能性があ
る。このため、本発明の実施の形態2においては、入力
信号を基準として入力信号より高い第二のしきい値を発
生させる第二しきい値発生回路106と、入力信号を基
準して入力信号より低い第三のしきい値を発生させる第
三しきい値発生回路107を設け、第二のしきい値とピ
ークホールド電圧を第二比較器104で、第三のしきい
値とボトムホールド電圧を第三比較器105でそれぞれ
比較し、第一比較器出力の立上り変化と第三比較器出力
変化でボトムホールド回路101を、エッジ検出および
リセット回路106によってリセットする構成としてい
る。
In the embodiment of the present invention, the binarization is performed by the first threshold value with reference to either the peak or bottom hold voltage of the input signal. Because the duty ratio of changes and it is necessary to keep the first threshold value within the input signal amplitude,
When the signal amplitude changes, it is difficult to set it. Therefore, in order to handle a wider range of changes in the amplitude of the input signal, and in order to prevent the duty ratio of the binary output from changing, as shown in FIG. 4, the peak hold circuit 100 and the bottom hold circuit 101 use the maximum value of the input signal. And the minimum value is detected,
The first threshold value generation circuit 102 generates a first threshold value whose peak and bottom values are based on the respective hold voltage values (for example, an intermediate voltage), and the first threshold value and the first comparator. At 103, the input signal may be compared and binarized. In this case, since the threshold level is a single level and there is no hysteresis, there is a possibility that either peak or bottom hold will not be reset regardless of the direction of change of the input signal or the hold voltage. . Therefore, in the second embodiment of the present invention, the second threshold value generation circuit 106 that generates a second threshold value higher than the input signal with the input signal as a reference, and the second threshold value generation circuit 106 with respect to the input signal A third threshold value generation circuit 107 for generating a low third threshold value is provided, and the second threshold value and the peak hold voltage are calculated by the second comparator 104, and the third threshold value and the bottom hold voltage are calculated. The third comparator 105 makes comparisons, and the bottom hold circuit 101 is reset by the edge detection and reset circuit 106 on the rising change of the first comparator output and the third comparator output change.

【0027】図5は本発明における第二の発明の実施の
形態を実現するための具体的回路構成の例である。
FIG. 5 shows an example of a specific circuit configuration for realizing the second embodiment of the present invention.

【0028】ピークホールド回路110、ボトムホール
ド回路111で入力信号の最大値、最小値を検出し、ホ
ールドキャパシタ112および113で電圧値をホール
ドする。ホールドされた電圧は第一しきい値発生回路1
15により抵抗分割され、第一のしきい値を発生する。
第一比較器114は入力信号と第一しきい値を比較し、
入力信号の2値化を行う。第一しきい値発生回路115
では出力値に応じてアナログスイッチにより第一のしき
い値レベルを変化させて2値化動作の安定化を図ってい
る。また、出力変化をエッジ検出およびリセット回路1
20で検出してリセットパルスを生成し、これによりピ
ークホールド回路110、ボトムホールド回路111を
リセットし、常に信号のピーク値、ボトム値を検出す
る。一方、第二、第三のしきい値発生回路121として
は、定電流源122および123と抵抗124および1
25を組み合わせた簡便な回路を用いて入力電圧を基準
としてしきい値を発生させている。第二比較器116
と、第三比較器117はこれらのしきい値と上記ピーク
およびボトムホールド電圧を比較し、エッジ検出および
リセット回路118、119でリセットパルスを発生
し、ピークホールド回路110、ボトムホールド回路1
11をそれぞれリセットする。
The peak hold circuit 110 and the bottom hold circuit 111 detect the maximum and minimum values of the input signal, and the hold capacitors 112 and 113 hold the voltage value. The held voltage is the first threshold value generation circuit 1
The resistance is divided by 15 to generate a first threshold value.
The first comparator 114 compares the input signal with the first threshold,
The input signal is binarized. First threshold value generation circuit 115
In order to stabilize the binarization operation, the first threshold level is changed by the analog switch according to the output value. Further, the output change is detected by the edge detection and reset circuit 1.
The peak hold circuit 110 and the bottom hold circuit 111 are reset by detecting at 20 and generating a reset pulse, and the peak value and the bottom value of the signal are always detected. On the other hand, the second and third threshold value generating circuits 121 include constant current sources 122 and 123 and resistors 124 and 1, respectively.
The threshold value is generated with reference to the input voltage by using a simple circuit in which 25 are combined. Second comparator 116
Then, the third comparator 117 compares these threshold values with the peak and bottom hold voltages, and the edge detection and reset circuits 118 and 119 generate reset pulses, and the peak hold circuit 110 and the bottom hold circuit 1
11 is reset.

【0029】しきい値発生回路としては、上述の定電流
源を用いた方法以外にも例えば図6に示すように演算増
幅器の加算・減算器を用いた回路によっても同様の結果
が得られる。
As the threshold value generating circuit, a similar result can be obtained by using a circuit using an adder / subtractor of an operational amplifier as shown in FIG. 6 in addition to the method using the constant current source.

【0030】また場合によっては、上述の第一、第二、
第三の比較器にヒステリシス特性を持たせた構成として
も差し支えは無い。前記図2および図3の動作説明で
は、第一比較器にヒステリシス特性を持たせていないた
め、第二の比較器でリセットをかけた際に不安定な誤パ
ルスが生じる可能性があるが、図7に示すように、第一
の比較器にヒステリシス特性を持たせると、このような
誤パルスの発生が抑制出来、安定した2値化が可能とな
る。
In some cases, the above-mentioned first, second,
There is no problem even if the third comparator has a hysteresis characteristic. In the description of the operation of FIGS. 2 and 3, since the first comparator does not have the hysteresis characteristic, an unstable erroneous pulse may occur when the second comparator is reset. As shown in FIG. 7, when the first comparator is provided with a hysteresis characteristic, it is possible to suppress the occurrence of such an erroneous pulse, and it is possible to perform stable binarization.

【0031】[0031]

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、請
求項1においては発明の実施の形態1で述べたように、
入力信号の最大値または最小値をホールドし、このホー
ルドされた電圧値を基準として第一のしきい値を発生す
る回路と、さらにこの第一のしきい値と入力信号とで第
二のしきい値を発生する回路とを有し、さらにこれら両
しきい値生成の為の比較器の出力変化を検出することに
よりしきい値のリセット/再生成を行っている。このた
め、入力信号平均値の大幅な変化や、リーク電流による
保持電圧の大幅な変化が生じた場合でも、しきい値を入
力信号の平均値に追従させることが可能となり、入力信
号の変化に適応しつつ2値出力をとぎれること無く出力
し得る。これにより、比較的簡単な回路構成で、入力信
号平均値の大幅な低下或いは保持電圧の大幅な上昇があ
った場合、または入力信号平均値の大幅な上昇或いは保
持電圧の大幅な低下があった場合にも動作を停止するこ
と無く確実に信号を検出し得る。また、本発明によれ
ば、集積回路上の微少容量(例えば数十pF)のみで、
極めて低い周波数に対しても適用可能で、信号処理回路
のワンチップ化が可能と言う特徴も有する。
As described above, according to the present invention, in claim 1, as described in the first embodiment of the invention,
A circuit for holding the maximum value or the minimum value of the input signal and generating a first threshold value based on the held voltage value, and a second circuit using the first threshold value and the input signal. A threshold value generating circuit is further provided, and the threshold value is reset / regenerated by detecting a change in the output of the comparator for generating both threshold values. Therefore, even if the average value of the input signal changes significantly or the holding voltage changes significantly due to the leakage current, the threshold value can be made to follow the average value of the input signal and It is possible to output binary output without interruption while adapting. As a result, with a relatively simple circuit configuration, when the input signal average value is significantly decreased or the holding voltage is significantly increased, or when the input signal average value is significantly increased or the holding voltage is significantly decreased. Even in such a case, the signal can be reliably detected without stopping the operation. Further, according to the present invention, only a very small capacitance (for example, several tens of pF) on the integrated circuit,
It has a feature that it can be applied to extremely low frequencies and that the signal processing circuit can be integrated into one chip.

【0032】請求項2においては発明の実施の形態2で
述べたように、最大値および最小値を検出しそれぞれの
電圧値をホールドし、このホールドされた電圧値を基準
として第一のしきい値を発生する回路と、この第一のし
きい値と入力電圧との比較を行う比較器を有し、入力信
号を基準に入力信号より高い電圧値を有する第二のしき
い値と同じく低い電圧値を有する第三のしきい値とを発
生せしめ、これら第二および第三のしきい値を入力信号
のピークホールド電圧とボトムホールド電圧とそれぞれ
比較し、これら比較器出力によりピークホールド、ボト
ムホールド回路をそれぞれリセットし、しきい値の再設
定を行わせる方法としている。これにより、請求項1に
おいて述べた効果を有しつつ、さらに若干回路が複雑に
なるものの、入力信号の振幅値が変化しても出力信号の
デューティ比は一定に保たれ、かつ入力信号レベルの変
化や、ホールド電圧に変動が生じても安定して入力信号
の2値化を行うことが出来る。
In the second aspect, as described in the second embodiment of the invention, the maximum value and the minimum value are detected, the respective voltage values are held, and the first threshold value is based on the held voltage value. A circuit that generates a value and a comparator that compares the first threshold value with the input voltage, and is lower than the second threshold value that has a higher voltage value than the input signal with respect to the input signal. A third threshold value having a voltage value is generated, and these second and third threshold values are compared with the peak hold voltage and the bottom hold voltage of the input signal, respectively. In this method, each hold circuit is reset and the threshold value is reset. As a result, while having the effect described in claim 1, the circuit becomes slightly more complicated, but the duty ratio of the output signal is kept constant even if the amplitude value of the input signal changes, and the input signal level Even if a change or a change in the hold voltage occurs, the input signal can be binarized stably.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明による第1の発明の実施の形態における
ブロック図。
FIG. 1 is a block diagram of an embodiment of a first invention according to the present invention.

【図2】入力信号の平均値が大幅に変化した場合におけ
る動作波形図であり、(a)は従来例の特性を示す波形
図、(b)は本発明における波形図。
2A and 2B are operation waveform diagrams in the case where the average value of an input signal is significantly changed, FIG. 2A is a waveform diagram showing characteristics of a conventional example, and FIG. 2B is a waveform diagram in the present invention.

【図3】保持電圧が大幅に変化した場合の動作波形図で
あり、(a)は従来例の応答を示す波形図、(b)は本
発明による波形図。
3A and 3B are operation waveform diagrams in the case where a holding voltage changes significantly, FIG. 3A is a waveform diagram showing a response of a conventional example, and FIG. 3B is a waveform diagram according to the present invention.

【図4】本発明における第2の発明の実施の形態の構成
図。
FIG. 4 is a configuration diagram of an embodiment of a second invention in the present invention.

【図5】本発明による第2の発明の実施の形態の具体的
回路図。
FIG. 5 is a specific circuit diagram of an embodiment of the second invention according to the present invention.

【図6】しきい値発生回路の一例を示す回路図。FIG. 6 is a circuit diagram showing an example of a threshold value generation circuit.

【図7】発明の実施の形態2の第一比較器にヒステリシ
ス特性を持たせた場合の動作波形図。
FIG. 7 is an operation waveform diagram in the case where the first comparator according to the second embodiment of the invention has a hysteresis characteristic.

【図8】波形整形回路の従来例の回路図。FIG. 8 is a circuit diagram of a conventional example of a waveform shaping circuit.

【図9】ピークホールド回路の従来例の回路図。FIG. 9 is a circuit diagram of a conventional example of a peak hold circuit.

【図10】ピークホールド回路の他の従来例の回路図。FIG. 10 is a circuit diagram of another conventional example of the peak hold circuit.

【図11】従来の波形整形回路における動作波形図。FIG. 11 is an operation waveform diagram in the conventional waveform shaping circuit.

【図12】トランスファーゲート断面構造図。FIG. 12 is a cross-sectional structural diagram of a transfer gate.

【図13】波形整形回路の第二の従来例の回路図。FIG. 13 is a circuit diagram of a second conventional example of a waveform shaping circuit.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

100 ピークホールド回路 15 第一比較
器 101 ボトムホールド回路 16 エッジ検
出および 102 第一しきい値発生回路 リセット
回路 103 第一比較器 21 アナログ
スイッチ 104 第二比較器 22 比較器 105 第三比較器 23 演算増幅
器 106 第二しきい値発生回路 24 ホールド
キャパシタ 107 第三しきい値発生回路 31 ダイオー
ド 108 エッジ検出および 51 寄生ダイ
オード リセット回路 52 寄生ダイオード 11 検出歯車 61 演算増幅
器 110 ピークホールド回路 62 演算増幅
器 111 ボトムホールド回路 63 第一比較
器 114 第一比較器 64 ホールド
キャパシタ 115 第一しきい値発生回路 65 ホールド
キャパシタ 116 第二比較器 66 放電用抵
抗器 117 第三比較器 67 放電用抵
抗器 118 エッジ検出および 71 ピークホ
ールド回路 リセット回路 72 第一しきい値発生
回路 119 エッジ検出および 73 第一比較
器 リセット回路 74 第二しきい値発生
回路 12 増幅器 75 第二比較
器 120 エッジ検出および 76 エッジ検
出および リセット回路 リセット回路 13 ピークホールド回路 14 ボトムホールド回路
100 peak hold circuit 15 first comparator 101 bottom hold circuit 16 edge detection and 102 first threshold value generation circuit reset circuit 103 first comparator 21 analog switch 104 second comparator 22 comparator 105 third comparator 23 operation Amplifier 106 Second threshold generation circuit 24 Hold capacitor 107 Third threshold generation circuit 31 Diode 108 Edge detection and 51 Parasitic diode reset circuit 52 Parasitic diode 11 Detection gear 61 Operational amplifier 110 Peak hold circuit 62 Operational amplifier 111 Bottom hold Circuit 63 First Comparator 114 First Comparator 64 Hold Capacitor 115 First Threshold Generation Circuit 65 Hold Capacitor 116 Second Comparator 66 Discharge Resistor 117 Third Comparator 67 Discharge Resistor 18 edge detection and 71 peak hold circuit reset circuit 72 first threshold value generation circuit 119 edge detection and 73 first comparator reset circuit 74 second threshold value generation circuit 12 amplifier 75 second comparator 120 edge detection and 76 edge Detection and reset circuit Reset circuit 13 Peak hold circuit 14 Bottom hold circuit

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】入力信号の最大値を検出しホールドするピ
ークホールド回路、または入力信号の最小値を検出しホ
ールドするボトムホールド回路のいずれかを有し、 ホールドされた電圧値を基準として定められた第一のし
きい値を発生する第一のしきい値発生回路と、 第一のしきい値と入力信号との電圧比較を行う第一の比
較器と、 入力信号を基準として定められた第二のしきい値を発生
する第二のしきい値発生回路と、 該第二のしきい値とホールドされた電圧値とを電圧比較
する第二の比較器と、 これら両比較器出力レベルが変化する際に生じる波形の
エッジを検出するエッジ検出回路と、を備え該エッジ検
出回路出力により上記ピークホールド回路、或いはボト
ムホールド回路をリセットし新たにしきい値を設定する
ことにより、入力信号の2値化を行うことを特徴とする
波形整形回路。
1. A peak hold circuit for detecting and holding a maximum value of an input signal, or a bottom hold circuit for detecting and holding a minimum value of an input signal, which is determined with a held voltage value as a reference. The first threshold value generation circuit that generates the first threshold value, the first comparator that compares the voltage between the first threshold value and the input signal, and the input signal as a reference A second threshold value generating circuit for generating a second threshold value; a second comparator for comparing the held voltage value with the second threshold value; and the output levels of both comparators. An edge detection circuit that detects an edge of a waveform that occurs when the input voltage is changed by resetting the peak hold circuit or the bottom hold circuit by the output of the edge detection circuit and setting a new threshold value. Waveform shaping circuit and performs binarization of No..
【請求項2】入力信号の最大値を検出しホールドするピ
ークホールド回路と入力信号の最小値を検出しホールド
するボトムホールド回路を有し、 それぞれのホールドされた電圧値を基準として定められ
た第一のしきい値を発生する第一のしきい値発生回路
と、 該第一のしきい値と入力信号との電圧比較を行う第一の
比較器と、 入力信号を基準に定められ、かつ入力信号より高い電圧
値を発生する第二のしきい値発生回路と、 入力信号を基準に定められ、かつ入力信号より低い電圧
値を発生する第三のしきい値発生回路と、 上記第二のしきい値と上記ピークホールド回路でホール
ドされた電圧値とを比較する第二の比較器と、 上記第三のしきい値と上記ボトムホールド回路でホール
ドされた電圧値とを比較する第三の比較器と、 上記第一、第二或いは第三の比較器のいずれかの出力変
化によって上記ピークホルド回路、或いはボトムホール
ド回路をリセットし新たにしきい値を設定するためのエ
ッジ検出器と、 を備えたことを特徴とする波形整形回路。
2. A peak hold circuit for detecting and holding a maximum value of an input signal, and a bottom hold circuit for detecting and holding a minimum value of an input signal, each of which is determined with reference to each held voltage value. A first threshold value generating circuit for generating a first threshold value, a first comparator for performing a voltage comparison between the first threshold value and an input signal, and a predetermined reference value based on the input signal, and A second threshold value generating circuit that generates a voltage value higher than the input signal; a third threshold value generating circuit that generates a voltage value lower than the input signal and that is determined based on the input signal; And a second comparator for comparing the voltage value held by the peak hold circuit, and a third comparator for comparing the third threshold value with the voltage value held by the bottom hold circuit. Comparator and the first, An edge detector for resetting the peak hold circuit or the bottom hold circuit and newly setting a threshold value according to an output change of either the second or third comparator. circuit.
JP19148095A 1995-07-27 1995-07-27 Waveform shaping circuit Pending JPH0946192A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP19148095A JPH0946192A (en) 1995-07-27 1995-07-27 Waveform shaping circuit

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP19148095A JPH0946192A (en) 1995-07-27 1995-07-27 Waveform shaping circuit

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0946192A true JPH0946192A (en) 1997-02-14

Family

ID=16275351

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP19148095A Pending JPH0946192A (en) 1995-07-27 1995-07-27 Waveform shaping circuit

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0946192A (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010178043A (en) * 2009-01-29 2010-08-12 Texas Instr Japan Ltd Receiving circuit
WO2021106177A1 (en) * 2019-11-29 2021-06-03 株式会社ソシオネクスト Voltage hold circuit, voltage monitoring circuit, and semiconductor integrated circuit

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010178043A (en) * 2009-01-29 2010-08-12 Texas Instr Japan Ltd Receiving circuit
JP4706761B2 (en) * 2009-01-29 2011-06-22 日本テキサス・インスツルメンツ株式会社 Receiver circuit
WO2021106177A1 (en) * 2019-11-29 2021-06-03 株式会社ソシオネクスト Voltage hold circuit, voltage monitoring circuit, and semiconductor integrated circuit
JPWO2021106177A1 (en) * 2019-11-29 2021-06-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7205761B2 (en) Rotation state detecting device and rotation state detecting method
US4859872A (en) Synchronizing signal processing circuit
JP4646044B2 (en) Magnetic detector
JPH10163877A (en) Threshold control circuit of multi-valued comparator for demodulation circuit
US4112381A (en) Peak detector
JP3336668B2 (en) Sensor signal processing device
US7382118B2 (en) Device for detecting the wheel speed
JP2005323488A (en) Method and device for detecting motor rotation data
JPH0946192A (en) Waveform shaping circuit
US6194965B1 (en) Differential signal detection circuit
US6483356B2 (en) Sinusoidal signal generating circuit providing small phase difference with respect to reference signal and apparatus for driving oscillating element with circuit
WO1991013363A2 (en) Signal conditioning circuit
JPH1038931A (en) Apparatus for processing sensor signal
US20030039320A1 (en) Device and method for determining the respectively present level of a digital signal
JPH10135800A (en) Thresholding circuit
US4117355A (en) Temperature independent trigger pulse analysis circuit
KR940000929B1 (en) Digital frequency shift keying modulating circuit
US4430618A (en) Input buffer circuit
GB2272810A (en) Frequency-controlled switch
JP2598653B2 (en) Frequency-voltage conversion circuit
JPH10170533A (en) Rotation detecting system
JPH09189619A (en) Temperature detecting circuit using thermistor
JPH07159426A (en) Rotating speed detector
JP2658527B2 (en) Power failure detection circuit
JPH0843414A (en) Device of detecting speed of rotation