JPH09298229A - Transportation device for semiconductor wafer - Google Patents

Transportation device for semiconductor wafer

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Publication number
JPH09298229A
JPH09298229A JP13949196A JP13949196A JPH09298229A JP H09298229 A JPH09298229 A JP H09298229A JP 13949196 A JP13949196 A JP 13949196A JP 13949196 A JP13949196 A JP 13949196A JP H09298229 A JPH09298229 A JP H09298229A
Authority
JP
Japan
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semiconductor wafer
holder
wafer
pure water
transfer
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP13949196A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Sadao Mitsushima
貞夫 満島
Masanori Takemura
雅則 竹村
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Mitsubishi Materials Silicon Corp
Mitsubishi Materials Corp
Original Assignee
Mitsubishi Materials Silicon Corp
Mitsubishi Materials Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Materials Silicon Corp, Mitsubishi Materials Corp filed Critical Mitsubishi Materials Silicon Corp
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  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To prevent the occurrence of a scar on the surface of a semiconductor wafer while it is transported in liquid and to prevent the contamination of particles and metal and to easily turn over wafer in the middle transportation. SOLUTION: Holes 13 are formed below a chute-like channel 11 and pure water is jetted from the holes 13 so as to form a flow. A holder 14 opened to an upstream side is provided in the middle of the channel and the wafer 12 is stored and kept. The holder 14 can freely rotate with a horizontal shaft as a center and the holder is arranged so that a part is immersed on a tank 16. The inner face of the holder 14 is a tapered form and a central part becomes hollow. When the wafer is inserted, the central part holds the peripheral part. The insertion of the wafer is detected and the supply of pure water is stopped. The holder 14 turned over by 180 degrees by driving a motor and the wafer 12 is turned over. The supply of pure water is resumed and it is transported to a downstream side by turning a face 12A upward. The particles and metal are prevented from adhering to the face 12A which is immersed in pure water.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は半導体ウェーハの
搬送装置、特に液体移送手段を用いた半導体ウェーハの
搬送装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a semiconductor wafer transfer device, and more particularly to a semiconductor wafer transfer device using liquid transfer means.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来からの半導体ウェーハの枚葉式の搬
送方法としては、以下の方法が知られていた。乾燥状態
でのウェーハ搬送は、ベルト搬送・ロボット搬送・気体
浮遊搬送・ウォーキングビーム搬送などがあった。ま
た、湿潤状態でのウェーハ搬送には液体に浮遊させて搬
送する方法が知られていた。また、ウェーハの表裏面を
反転する技術としては、真空吸着するか、ウェーハの周
辺部を機械的に保持し、ロボットで反転するものが知ら
れていた。
2. Description of the Related Art The following methods have been known as conventional single-wafer transfer methods for semiconductor wafers. Wafer transfer in the dry state included belt transfer, robot transfer, gas floating transfer, and walking beam transfer. In addition, a method of suspending the wafer in a liquid and carrying the wafer in a wet state has been known. Further, as a technique of reversing the front and back surfaces of the wafer, there has been known a technique of vacuum suction or mechanically holding the peripheral portion of the wafer and reversing it by a robot.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな接触式の搬送装置にあっては、その表面にごみ・パ
ーティクルなどが付着するという欠点があった。また、
表面に金属汚染が生じることがあった。また、表面にキ
ズがつく虞もあった。また、非接触式の搬送では、表裏
を反転させるに際して機械的接触による反転装置を使用
していたため、同様にごみ付着・金属汚染・キズ発生の
問題があった。また、その装置としては構造が複雑で、
高価になっていた。
However, such a contact type conveying device has a drawback in that dust and particles adhere to the surface thereof. Also,
Metal contamination may occur on the surface. In addition, the surface may be scratched. Further, in the non-contact type conveyance, since the reversing device by mechanical contact is used when reversing the front and the back, there are similarly problems of dust adhesion, metal contamination, and scratches. Also, the structure of the device is complicated,
It was getting expensive.

【0004】[0004]

【発明の目的】そこで、この発明の目的は、表面にごみ
・パーティクル等が付着することを防いだ半導体ウェー
ハの搬送装置を提供することである。また、この発明の
目的は、簡単な構造で反転可能とした半導体ウェーハの
搬送装置を提供するものである。また、この発明の目的
は、半導体ウェーハの面に非接触で半導体ウェーハを反
転可能とした搬送装置を提供するものである。さらに、
この発明の目的は、狭いスペースに組み込むことが可能
なウェーハ反転機構を有するウェーハ搬送装置を提供す
ることである。
SUMMARY OF THE INVENTION It is therefore an object of the present invention to provide a semiconductor wafer transfer device which prevents dust and particles from adhering to the surface. Another object of the present invention is to provide a semiconductor wafer transfer device which can be inverted with a simple structure. Another object of the present invention is to provide a carrier device capable of inverting a semiconductor wafer without contacting the surface of the semiconductor wafer. further,
An object of the present invention is to provide a wafer transfer device having a wafer reversing mechanism that can be installed in a narrow space.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】請求項1に記載の発明
は、液体に浮かせて半導体ウェーハを移送する移送手段
と、この移送手段による移送経路の途中に設けられ、移
送されてきた半導体ウェーハを保持可能な保持手段と、
この保持手段に保持された半導体ウェーハをその表面に
含まれる直線を中心軸として所定角度回転させることに
より半導体ウェーハを反転させる反転手段とを備えた半
導体ウェーハの搬送装置である。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a transfer means for transferring a semiconductor wafer floating in a liquid, and a semiconductor wafer transferred and provided in the middle of a transfer path by the transfer means. Holding means capable of holding,
The semiconductor wafer transfer apparatus is provided with a reversing unit for reversing the semiconductor wafer held by the holding unit by rotating the semiconductor wafer by a predetermined angle about a straight line included in the surface as a central axis.

【0006】請求項2に記載の発明は、上記保持手段
は、半導体ウェーハの表裏両面の周辺部にのみ接触して
これを保持する請求項1に記載の半導体ウェーハの搬送
装置である。
According to a second aspect of the invention, there is provided the semiconductor wafer transfer apparatus according to the first aspect, wherein the holding means contacts only the peripheral portions of the front and back surfaces of the semiconductor wafer to hold the semiconductor wafer.

【0007】請求項3に記載の発明は、上記保持手段
は、一対の平板間に所定間隔の隙間を形成し、この隙間
に半導体ウェーハを挿入して保持する構成であって、上
記一対の平板の対向面に中央部が窪むようにテーパを形
成した請求項2に記載の半導体ウェーハの搬送装置であ
る。
According to a third aspect of the present invention, the holding means has a structure in which a gap having a predetermined interval is formed between the pair of flat plates, and the semiconductor wafer is inserted and held in the gap. 3. The semiconductor wafer transfer device according to claim 2, wherein a taper is formed on the facing surface so that the central portion is recessed.

【0008】[0008]

【作用】請求項1に記載の発明によれば、移送手段によ
り半導体ウェーハを液体に浮かせて移送する。そして、
この移送手段によって移送されてきた半導体ウェーハを
保持手段によって保持する。この保持手段に保持された
半導体ウェーハを、回転手段により半導体ウェーハの表
面に含まれる直線を中心軸として所定角度回転させ、半
導体ウェーハを反転させる。その結果、半導体ウェーハ
の一面を例えば純水によって覆った状態で所望位置まで
搬送することができ、その面に対するキズの発生および
表面汚染(パーティクル・金属)を防ぐことができる。
例えば仕上げ研磨工程からカセットへの収納までの半導
体ウェーハの搬送に使用することができる。なお、反転
に際しても半導体ウェーハは液体で保護され機械的な破
損等を防ぐことができる。
According to the first aspect of the invention, the semiconductor wafer is floated in the liquid and transferred by the transfer means. And
The semiconductor wafer transferred by the transfer means is held by the holding means. The semiconductor wafer held by the holding means is rotated by a predetermined angle about a straight line included in the surface of the semiconductor wafer as a central axis by the rotating means, and the semiconductor wafer is inverted. As a result, one surface of the semiconductor wafer can be transported to a desired position while being covered with pure water, for example, and it is possible to prevent generation of scratches and surface contamination (particles / metals) on the surface.
For example, it can be used for transporting a semiconductor wafer from the final polishing step to the storage in a cassette. Even when the semiconductor wafer is turned over, the semiconductor wafer is protected by the liquid and mechanical damage can be prevented.

【0009】請求項2に記載の発明では、上記保持手段
は、半導体ウェーハの表裏両面の一部に接触してこれを
保持する。よって、保持手段での半導体ウェーハの接触
部位が少なくなりごみ・パーティクル等の異物の付着を
最小限のものとすることができる。
According to a second aspect of the present invention, the holding means makes contact with a part of both front and back surfaces of the semiconductor wafer to hold it. Therefore, the contact portion of the semiconductor wafer on the holding means is reduced, and the adhesion of foreign matters such as dust and particles can be minimized.

【0010】請求項3に記載の発明では、上記保持手段
は、一対の平板間に所定間隔の隙間を形成し、この隙間
に半導体ウェーハを挿入して保持する構成であって、上
記一対の平板の対向面に中央部が窪むようにテーパを形
成してある。このため、半導体ウェーハは液体によって
搬送されてきても、スムーズに保持手段により保持さ
れ、その後の反転も容易に行える。
According to a third aspect of the present invention, the holding means has a structure in which a gap having a predetermined interval is formed between the pair of flat plates, and the semiconductor wafer is inserted and held in the gap. A taper is formed on the facing surface so that the central portion is depressed. Therefore, even if the semiconductor wafer is transported by the liquid, it is smoothly held by the holding means, and the subsequent reversal can be easily performed.

【0011】[0011]

【発明の実施の形態】以下、この発明の一実施例を図面
を参照して説明する。図1〜図5はこの発明の一実施例
に係る半導体ウェーハの搬送装置を示す図である。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS One embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. 1 to 5 are views showing a semiconductor wafer transfer apparatus according to an embodiment of the present invention.

【0012】これらの図において、11は半導体ウェー
ハ(例えば鏡面シリコンウェーハ)12の搬送路を形成
する流路であって、所定の樋状に形成されている。この
樋状の流路11の下面には純水またはその他の液体が複
数の孔13を介して噴出しており、流路11にて下流側
に向かっての流れを形成している。すなわち、これらの
複数の純水噴出孔13および樋状の流路11は、液体で
ある純水に半導体ウェーハ12を浮かせて例えばポリッ
シュからカセット移載工程に移送する移送手段を構成し
ている。
In these figures, reference numeral 11 denotes a flow path for forming a transfer path for a semiconductor wafer (for example, a mirror surface silicon wafer) 12, which is formed in a predetermined gutter shape. Pure water or other liquid is jetted out through the plurality of holes 13 on the lower surface of the gutter-shaped channel 11, and forms a flow toward the downstream side in the channel 11. That is, the plurality of pure water ejection holes 13 and the trough-shaped flow passage 11 constitute a transfer means for floating the semiconductor wafer 12 in pure water which is a liquid and transferring it from the polish to the cassette transfer step.

【0013】そして、流路11の途中には、半導体ウェ
ーハ12の保持手段であるホルダ14が設けられてい
る。ホルダ14は移送されてきた半導体ウェーハ12を
保持可能な構造であって、上流に向かって一面が開口し
た筺状または鞘状に形成されている。すなわち、互いに
平行な上板14Aと下板14Bとが半導体ウェーハ12
が挿入可能な間隔で対向して設けられるとともに、この
開口14Cの反対側に位置する複数の底板部材14Dが
挿入された半導体ウェーハ12を停止させ内部に収納す
る構造である。また、上板14A・下板14Bには純水
の供給孔14Eが複数個形成されている。
A holder 14 as a means for holding the semiconductor wafer 12 is provided in the middle of the flow path 11. The holder 14 has a structure capable of holding the transferred semiconductor wafer 12, and is formed in a box-like or sheath-like shape whose one surface is open toward the upstream side. That is, the upper plate 14A and the lower plate 14B, which are parallel to each other, are
Are provided to face each other at an insertable interval, and a plurality of bottom plate members 14D located on the opposite side of the opening 14C are inserted and the semiconductor wafer 12 is stopped and accommodated inside. A plurality of pure water supply holes 14E are formed in the upper plate 14A and the lower plate 14B.

【0014】さらに、このホルダ14の両側板には同一
の軸線上にある軸15A,15Bがそれぞれ突設されて
いる。軸15A,15Bは側板から流路11に対して垂
直に突出し、かつ水平方向に延びている。軸15A、1
5Bは、半導体ウェーハ12がホルダ14に挿入・保持
されたときのホルダ14の回転中心軸となる。すなわ
ち、ホルダ14はこの水平な軸15A,15Bを中心に
してその軸線回りに回転可能に構成されている。回転さ
せる手段としてはモータ等の出力軸を軸15A、15B
に連結して使用することができる。そして、軸15A,
15Bはホルダ14を所定の水平位置で停止させること
ができるように、例えばストッパで位置決めされてい
る。なお、ホルダ14は水平な軸15A、15Bを中心
として流路11の方向を示す直線を含む平面で360度
回転可能であり、回転中においては純水が満たされた水
槽16内にその一部が浸されるようにこの水槽16上に
回転自在に支持されている。また、この水槽16は樋状
の流路11の途中の所定位置に配設されている。なお、
水槽16には注水口17から純水が供給され、オーバフ
ローしており、半導体ウェーハ12の洗浄槽として用い
ることができる。また、これらの純水の給排・供給量・
流速等は図示していない制御装置で管理するものとす
る。
Further, on both side plates of the holder 14, shafts 15A and 15B on the same axis are provided in a protruding manner. The shafts 15A and 15B project vertically from the side plate with respect to the flow path 11 and extend in the horizontal direction. Shaft 15A, 1
5B serves as a rotation center axis of the holder 14 when the semiconductor wafer 12 is inserted and held in the holder 14. That is, the holder 14 is configured to be rotatable around the horizontal shafts 15A and 15B around the axis. As a means for rotating, an output shaft such as a motor is used as shafts 15A and 15B
It can be used by connecting to. And the shaft 15A,
15B is positioned by, for example, a stopper so that the holder 14 can be stopped at a predetermined horizontal position. The holder 14 is rotatable about a horizontal axis 15A, 15B in a plane including a straight line showing the direction of the flow path 11 by 360 degrees, and part of the holder 14 is placed in a water tank 16 filled with pure water during rotation. Is rotatably supported on the water tank 16 so that The water tank 16 is arranged at a predetermined position in the middle of the gutter-shaped flow path 11. In addition,
Pure water is supplied to the water tank 16 from the water injection port 17 and overflows, so that the water tank 16 can be used as a cleaning tank for the semiconductor wafer 12. In addition, the supply / discharge / supply amount of these pure water
The flow velocity and the like are managed by a control device (not shown).

【0015】さらに、ホルダ14の上記一対の上板14
A,下板14Bの隙間には半導体ウェーハ12が挿入さ
れる。図5に示すように、この半導体ウェーハ12が挿
入されてその一面が接触する一対の上板14A,14B
の各対向する内面14F,14Gには、その中央部が窪
むようにテーパがそれぞれ形成されている。換言する
と、これらの内面14F,14Gはいずれも、流路方向
に沿ってその中央部が最も低くこれから最も離れた側板
側が高い傾斜面で形成されている。
Further, the pair of upper plates 14 of the holder 14
The semiconductor wafer 12 is inserted into the gap between the A and the lower plate 14B. As shown in FIG. 5, a pair of upper plates 14A and 14B into which the semiconductor wafer 12 is inserted and one surface of which is in contact with each other.
The inner surfaces 14F and 14G facing each other are each tapered so that the central portion thereof is recessed. In other words, each of the inner surfaces 14F, 14G is formed as an inclined surface having the lowest central portion along the flow path direction and the higher side plate side farthest from the central portion.

【0016】以上の構成に係る半導体ウェーハの搬送装
置にあっては、純水が供給されて流れが形成された流路
11に半導体ウェーハ12が投入されると、半導体ウェ
ーハ12は純水に浮かんでこの流路11に沿って流され
る(図2)。そして、半導体ウェーハ12はホルダ14
に挿入される。ホルダ14は半導体ウェーハ12が挿入
されたことを例えばセンサで検知し、純水の供給を停止
するとともに、モータを駆動してホルダ14を反転させ
る。すなわち、軸15A,15Bを180度回転させ
る。この結果、半導体ウェーハ12も反転される。そし
て、純水の供給を再開することで、半導体ウェーハ12
の純水に浸されていた面12Aが上を向いて下流に向か
って搬送される(図3、図4)。すなわち、搬送中に純
水に浸された面12Aにはパーティクル・金属等の異物
が付着することはない。よって、このホルダ14を次工
程装置、例えばカセット移載・収納装置の近傍に配設し
てあれば、純水洗浄またはリンスとウェーハ搬送とを同
時に行えることとなる。また、半導体ウェーハ12のホ
ルダ14での接触はその一部(周辺部)のみに過ぎず、
接触による不具合は可能な限り排除することができる。
In the semiconductor wafer transfer apparatus having the above structure, when the semiconductor wafer 12 is put into the flow path 11 in which pure water is supplied and a flow is formed, the semiconductor wafer 12 floats in pure water. Then, it is made to flow along this flow path 11 (FIG. 2). Then, the semiconductor wafer 12 is held in the holder 14
Is inserted into. The holder 14 detects that the semiconductor wafer 12 has been inserted by, for example, a sensor, stops the supply of pure water, and drives the motor to reverse the holder 14. That is, the shafts 15A and 15B are rotated 180 degrees. As a result, the semiconductor wafer 12 is also inverted. Then, by restarting the supply of pure water, the semiconductor wafer 12
The surface 12A, which had been immersed in the pure water, faces upward and is conveyed downstream (FIGS. 3 and 4). That is, no foreign matter such as particles or metal adheres to the surface 12A immersed in pure water during transportation. Therefore, if this holder 14 is disposed in the vicinity of the next process device, for example, the cassette transfer / storage device, pure water cleaning or rinsing and wafer transfer can be performed at the same time. Further, the contact of the semiconductor wafer 12 with the holder 14 is only a part (peripheral part) thereof,
Problems due to contact can be eliminated as much as possible.

【0017】なお、移送手段である液体としては純水の
他にもその他の液体を使用することができる。また、上
記実施例ではホルダ14の反転後は開口14Cを上流に
向けた初期状態に戻しておく必要があるが、ストッパ2
1を、図6に示すように、出没自在に上下両板22,2
3に配設しておくことで、その初期化復帰を行う必要が
無くなる。よって、搬送効率を高めることが可能とな
る。
Incidentally, other than pure water, other liquids can be used as the liquid serving as the transfer means. Further, in the above embodiment, it is necessary to return the opening 14C to the initial state in which the opening 14C is directed upstream after the holder 14 is reversed.
1, as shown in FIG. 6, both upper and lower plates 22 and 2 are freely retractable.
By arranging it in No. 3, it is not necessary to perform the initialization restoration. Therefore, it is possible to improve the transportation efficiency.

【0018】図7〜図9はこの発明に係るウェーハ搬送
装置のさらに他の実施例を示している。この実施例によ
れば、ホルダ34さらにコンパクトに形成したものであ
る。ウェーハ反転手段であるホルダ34のサイズを、上
記実施例の約半分とし、半導体ウェーハ12の一部(半
分弱)がホルダ34からはみ出した状態で反転させるこ
とができる。すなわち、ホルダ34の回転軸と直交方向
の長さを半導体ウェーハ12の半分強の長さに形成して
いる。この実施例によれば、反転手段であるホルダ34
をさらに小型化することができる。
7 to 9 show still another embodiment of the wafer transfer apparatus according to the present invention. According to this embodiment, the holder 34 is made more compact. The size of the holder 34, which is the wafer reversing means, is about half that of the above-described embodiment, and the semiconductor wafer 12 can be reversed with a part (a little less than half) of the semiconductor wafer 12 protruding from the holder 34. That is, the length of the holder 34 in the direction orthogonal to the rotation axis is formed to be a little over half the length of the semiconductor wafer 12. According to this embodiment, the holder 34, which is the reversing means,
Can be further reduced in size.

【0019】[0019]

【発明の効果】この発明によれば、液体での搬送中に、
半導体ウェーハの表面にキズの発生がなく、パーティク
ル・金属等の汚染を防ぎ、搬送中のウェーハの反転を簡
単に行うことができる。液体として純水を使用すれば純
水での洗浄工程を省略することができる。
According to the present invention, during transportation with liquid,
There are no scratches on the surface of the semiconductor wafer, contamination of particles, metals, etc. can be prevented, and the wafer can be easily inverted during transportation. If pure water is used as the liquid, the washing process with pure water can be omitted.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】この発明の一実施例に係る半導体ウェーハの搬
送装置を示す平面図である。
FIG. 1 is a plan view showing a semiconductor wafer transfer device according to an embodiment of the present invention.

【図2】この発明の一実施例に係る半導体ウェーハの搬
送装置を示す縦断面図である。
FIG. 2 is a longitudinal sectional view showing a semiconductor wafer transfer device according to an embodiment of the present invention.

【図3】この発明の一実施例に係る半導体ウェーハの搬
送装置の動作を示す縦断面図である。
FIG. 3 is a longitudinal sectional view showing the operation of the semiconductor wafer transfer apparatus according to the embodiment of the present invention.

【図4】この発明の一実施例に係る半導体ウェーハの搬
送装置の動作を示す縦断面図である。
FIG. 4 is a longitudinal sectional view showing the operation of the semiconductor wafer transfer apparatus according to the embodiment of the present invention.

【図5】この発明の一実施例に係る半導体ウェーハの搬
送装置の一部であるホルダを示す正面図である。
FIG. 5 is a front view showing a holder which is a part of a semiconductor wafer transfer device according to an embodiment of the present invention.

【図6】この発明の他の実施例に係るホルダを示す縦断
面図である。
FIG. 6 is a vertical sectional view showing a holder according to another embodiment of the present invention.

【図7】この発明のさらに他の実施例に係る半導体ウェ
ーハの搬送装置を示す縦断面図である。
FIG. 7 is a longitudinal sectional view showing a semiconductor wafer transfer device according to still another embodiment of the present invention.

【図8】この発明のさらに他の実施例に係る半導体ウェ
ーハの搬送装置の動作を示す縦断面図である。
FIG. 8 is a vertical cross-sectional view showing the operation of a semiconductor wafer transfer apparatus according to still another embodiment of the present invention.

【図9】この発明のさらに他の実施例に係る半導体ウェ
ーハの搬送装置の動作を示す縦断面図である。
FIG. 9 is a vertical cross-sectional view showing the operation of a semiconductor wafer transfer apparatus according to still another embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

11 流路(移送経路)、 12 半導体ウェーハ、 13 純水噴出孔(移送手段)、 14 ホルダ(保持手段)、 14A,14B 上板と下板、 14F,14G テーパ内面(一対の平板の対向面)、 15A,15B 回転中心軸(反転手段)。 11 flow paths (transfer path), 12 semiconductor wafers, 13 pure water ejection holes (transfer means), 14 holders (holding means), 14A, 14B upper and lower plates, 14F, 14G taper inner surfaces (opposing surfaces of a pair of flat plates) ), 15A, 15B Central axis of rotation (reversing means).

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 液体に浮かせて半導体ウェーハを移送す
る移送手段と、 この移送手段による移送経路の途中に設けられ、移送さ
れてきた半導体ウェーハを保持可能な保持手段と、 この保持手段に保持された半導体ウェーハをその表面に
含まれる直線を中心軸として所定角度回転させることに
より半導体ウェーハを反転させる反転手段とを備えた半
導体ウェーハの搬送装置。
1. A transfer means for floating a semiconductor wafer to transfer a semiconductor wafer, a holding means provided in the middle of a transfer path by the transfer means, capable of holding the transferred semiconductor wafer, and held by the holding means. And a reversing means for reversing the semiconductor wafer by rotating the semiconductor wafer by a predetermined angle about a straight line included in its surface as a central axis.
【請求項2】 上記保持手段は、半導体ウェーハの表裏
両面の周辺部にのみ接触してこれを保持する請求項1に
記載の半導体ウェーハの搬送装置。
2. The semiconductor wafer transfer apparatus according to claim 1, wherein the holding means is in contact with and holds only the peripheral portions of the front and back surfaces of the semiconductor wafer.
【請求項3】 上記保持手段は、一対の平板間に所定間
隔の隙間を形成し、この隙間に半導体ウェーハを挿入し
て保持する構成であって、上記一対の平板の対向面に中
央部が窪むようにテーパを形成した請求項2に記載の半
導体ウェーハの搬送装置。
3. The holding means has a structure in which a gap having a predetermined interval is formed between a pair of flat plates, and a semiconductor wafer is inserted and held in the gap, and a central portion is provided on an opposing surface of the pair of flat plates. The semiconductor wafer transfer device according to claim 2, wherein the taper is formed so as to be recessed.
JP13949196A 1996-05-08 1996-05-08 Transportation device for semiconductor wafer Withdrawn JPH09298229A (en)

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JP13949196A JPH09298229A (en) 1996-05-08 1996-05-08 Transportation device for semiconductor wafer

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JP13949196A JPH09298229A (en) 1996-05-08 1996-05-08 Transportation device for semiconductor wafer

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JPH09298229A true JPH09298229A (en) 1997-11-18

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JP13949196A Withdrawn JPH09298229A (en) 1996-05-08 1996-05-08 Transportation device for semiconductor wafer

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JP (1) JPH09298229A (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2019119801A1 (en) * 2017-12-22 2019-06-27 君泰创新(北京)科技有限公司 Battery cell overturning apparatus and method

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