JPH09292435A - Protecting device for withstand voltage test - Google Patents
Protecting device for withstand voltage testInfo
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Abstract
Description
【０００１】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、例えば電力用ケー
ブル等の耐電圧試験を行う試験設備の保護装置にに係
り、特に、電力用ケーブル等の絶縁破壊時の発生するサ
ージ電圧を抑制して試験用変圧器を保護する耐電圧試験
保護装置の改良に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a protective device for a test facility for conducting a withstand voltage test of, for example, a power cable, and more particularly, by suppressing a surge voltage generated at the time of dielectric breakdown of a power cable or the like. The present invention relates to improvement of a withstand voltage test protection device for protecting a test transformer.
【０００２】[0002]
【従来の技術】地中送電線路は、主として人口密度の高
い都市近郊での送電に使用されており、その使用量は近
年の電力の需要の伸びに伴って年々増加している。この
地中送電線路として用いられるケーブルには、ＣＶケー
ブルと呼ばれる架橋ポリエチレンケーブルやＯＦケーブ
ルと呼ばれる絶縁油を満たしたケーブル等があるが、こ
のようなＣＶ／ＯＦケーブルに要求される運転電圧及び
容量も増大しているので、ケーブルを試験するための設
備も高電圧大電流化が進んでいる。2. Description of the Related Art Underground power transmission lines are mainly used for power transmission in the suburbs of densely populated cities, and the amount used has been increasing year by year with the recent increase in demand for electric power. The cables used as the underground power transmission line include a cross-linked polyethylene cable called a CV cable and a cable filled with insulating oil called an OF cable, and the operating voltage and capacity required for such a CV / OF cable. As the equipment for testing the cables is also increasing in high voltage and current.
【０００３】この高電圧大電流化によって特に問題とな
るのが、交流耐電圧試験時に供試ケーブルの絶縁破壊に
よって発生する地路サージである。例えば、試験電圧の
数倍に達するサージ電圧が発生する場合があるが、通
常、試験設備に用いられている試験用変圧器はそのよう
な高いサージ電圧に耐え得る構造とはなっていないた
め、サージが変圧器内に侵入して絶縁破壊が生ずる可能
性があった。A problem particularly caused by the increase in the high voltage and the large current is a ground surge which is caused by the dielectric breakdown of the sample cable during the AC withstanding voltage test. For example, a surge voltage that reaches several times the test voltage may occur, but normally the test transformer used in the test equipment is not structured to withstand such a high surge voltage. A surge could enter the transformer and cause dielectric breakdown.
【０００４】このようなサージ電圧を抑制するための一
般的な方法としては、試験用変圧器と被試験物たるケー
ブルとの間に保護用の抵抗体を挿入する方法がある。こ
こで、保護用の抵抗器を挿入した耐電圧試験装置の一例
を、図５に従って以下に説明する。すなわち、試験用変
圧器９とケーブル接続端１０との間には、試験用変圧器
９側から順にブッシング５、保護抵抗器２１、標準コン
デンサ１１が接続されている。ケーブル接続端１０は２
つに分岐して設けられ、このケーブル接続端１０にケー
ブル１２をループ状に接続し、通電用コイル２２等を用
いて通電することにより、耐電圧試験が可能な構成とな
っている。また、保護抵抗器２１は、ＳＦ6 ガスの封入
された密閉容器内に抵抗体３が配置されたものであり、
ケーブル破壊試験時に発生するサージを抑制する。As a general method for suppressing such surge voltage, there is a method of inserting a protective resistor between the test transformer and the cable as the DUT. Here, an example of a withstand voltage test apparatus in which a protective resistor is inserted will be described below with reference to FIG. That is, between the test transformer 9 and the cable connection end 10, the bushing 5, the protection resistor 21, and the standard capacitor 11 are connected in order from the test transformer 9 side. Cable connection end 10 is 2
The cable 12 is divided into two parts, the cable 12 is connected to the cable connection end 10 in a loop, and the voltage is applied by using the current-carrying coil 22 or the like, so that a withstand voltage test is possible. Further, the protective resistor 21 is one in which the resistor 3 is arranged in an airtight container in which SF 6 gas is sealed,
Suppresses surges that occur during cable breaking tests.
【０００５】[0005]
【発明が解決しようとする課題】ところで、上記のよう
なケーブル耐電圧試験装置の一例における保護抵抗器２
１は、被試験物たるケーブルの絶縁破壊時に発生するサ
ージ電圧を抑制する必要があるが、このケーブルが数十
ｍと長くなると、充電電流が数Ａと大きくなるため、通
常の抵抗体３では発熱量が大きくなりすぎる。そして、
このような発熱は抵抗体３の劣化を早めることにつなが
る。By the way, the protective resistor 2 in an example of the above-mentioned cable withstanding voltage test apparatus is described.
No. 1 needs to suppress the surge voltage generated at the time of the dielectric breakdown of the cable as the DUT, but if this cable becomes as long as several tens of meters, the charging current becomes as large as several amps. The amount of heat generated is too large. And
Such heat generation leads to hasten deterioration of the resistor 3.
【０００６】本発明は、以上のような従来技術の問題点
を解決するために提案されたものであり、その目的は、
大きな充電電流を常時通電可能で、高いサージ電圧を抑
制することができる耐電圧試験保護装置を提供すること
である。[0006] The present invention has been proposed to solve the above-mentioned problems of the prior art.
It is an object of the present invention to provide a withstand voltage test protection device capable of constantly supplying a large charging current and suppressing a high surge voltage.
【０００７】[0007]
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、請求項１記載の発明は、耐電圧試験に必要な高電
圧を発生する試験用変圧器と被試験物との間に、サージ
電圧抑制用の抵抗体が挿入された耐電圧試験保護装置に
おいて、前記抵抗体は、絶縁物により円筒状にモールド
されたインダクタンスの内部に配置され、前記抵抗体及
び前記インダクタンスは並列に接続されるとともに、絶
縁媒体を封入した密閉容器内に収容されていることを特
徴とする。In order to achieve the above object, the invention according to claim 1 is characterized in that between a test transformer for generating a high voltage necessary for a withstanding voltage test and an object to be tested, In a withstand voltage test protection device in which a resistor for suppressing surge voltage is inserted, the resistor is arranged inside an inductance molded in a cylindrical shape by an insulator, and the resistor and the inductance are connected in parallel. In addition, it is characterized in that it is housed in a closed container in which an insulating medium is sealed.
【０００８】以上のような請求項１記載の発明では、イ
ンダクタンスと抵抗体が電気的に並列に接続されている
ので、５０−６０Ｈｚの周波数である交流試験電流はイ
ンダクタンスに流れる。よって抵抗体には電流はほとん
ど流れない。一方、ケーブルの絶縁破壊に伴うサージ電
流の周波数は数ＭＨｚと極端に高いため、インダクタン
スを通過することが困難になり、抵抗体を通過すること
でサージ電圧が抑制される。In the invention according to claim 1 as described above, since the inductance and the resistor are electrically connected in parallel, an AC test current having a frequency of 50-60 Hz flows through the inductance. Therefore, almost no current flows through the resistor. On the other hand, since the frequency of the surge current due to the insulation breakdown of the cable is extremely high at several MHz, it becomes difficult to pass through the inductance, and the surge voltage is suppressed by passing through the resistor.
【０００９】請求項２記載の発明は、請求項１記載の耐
電圧試験保護装置において、前記抵抗体は、無誘導巻き
された少なくとも２つの金属抵抗線を、絶縁物によりモ
ールドしたものであることを特徴とする。According to a second aspect of the present invention, in the withstand voltage test protection device according to the first aspect, the resistor is formed by molding at least two non-inductively wound metal resistance wires with an insulator. Is characterized by.
【００１０】以上のような請求項２記載の発明では、サ
ージ電圧抑制用の抵抗体が、無誘導巻きされた金属抵抗
線であり、絶縁物によりモールドされているので、単位
長さあたりの耐電圧値が大きくなる。In the above-mentioned invention according to claim 2, since the resistor for suppressing surge voltage is a non-inductively wound metal resistance wire and is molded with an insulator, the resistance per unit length is improved. The voltage value increases.
【００１１】請求項３記載の発明は、請求項１又は請求
項２記載の耐電圧試験保護装置において、前記抵抗体を
配置した前記インダクタンスが複数直列に接続され、前
記各インダクタンスのそれぞれの端部を覆うリング形状
のシールドが設けられていることを特徴とする。According to a third aspect of the present invention, in the withstand voltage test protection device according to the first or second aspect, a plurality of the inductances in which the resistors are arranged are connected in series, and respective end portions of the respective inductances are connected. It is characterized in that a ring-shaped shield for covering is provided.
【００１２】以上のような請求項３記載の発明では、複
数の抵抗体が直列に接続されているので、長い抵抗体が
必要な場合であっても、強度上及び製作上の信頼性の維
持に問題がある一体の長い抵抗体を用いる必要がない。
そして、各インダクタンスの端部はシールドで覆われて
いるので、接続部分の電界上の問題は解消する。According to the third aspect of the invention as described above, since a plurality of resistors are connected in series, the strength and manufacturing reliability are maintained even when a long resistor is required. There is no need to use an integral long resistor.
Since the end of each inductance is covered with the shield, the problem of electric field at the connecting portion is solved.
【００１３】請求項４記載の発明は、請求項１〜３のい
ずれか１項に記載の耐電圧試験保護装置において、前記
シールドは、被試験物側から試験用変圧器側になるに従
って順に外径の小さいものが配設されていることを特徴
とする。According to a fourth aspect of the present invention, in the withstand voltage test protection device according to any one of the first to third aspects, the shield is externally arranged in order from the DUT side to the test transformer side. It is characterized in that those having a small diameter are provided.
【００１４】以上のような請求項４記載の発明では、サ
ージが発生する負荷側つまり被試験物側のシールド径が
最大で、試験用変圧器側のシールド径が最小なので、抵
抗体の電位分担を均一となる。In the above-mentioned invention of claim 4, the shield diameter on the load side, that is, the DUT side where a surge occurs is the maximum, and the shield diameter on the test transformer side is the minimum. Be uniform.
【００１５】請求項５記載の発明は、請求項１〜４のい
ずれか１項に記載の耐電圧試験保護装置において、前記
シールドは、前記インダクタンスの軸に平行な切断面に
より２分割されていること特徴とする。According to a fifth aspect of the present invention, in the withstand voltage test protection device according to any one of the first to fourth aspects, the shield is divided into two by a cut surface parallel to the axis of the inductance. It is characterized.
【００１６】以上のような請求項５記載の発明では、シ
ールドがインダクタンスの軸に平行な切断面で２分割さ
れているので、電路に対してループが構成されることが
防止され、インダクタンスの効果を妨げることなくシー
ルドの役割を果たすことができる。In the invention as described above, since the shield is divided into two parts by the cut surface parallel to the axis of the inductance, it is possible to prevent a loop from being formed with respect to the electric path, and the effect of the inductance. Can act as a shield without disturbing.
【００１７】請求項６記載の発明は、請求項１〜５のい
ずれか１項に記載の耐電圧試験保護装置において、前記
インダクタンスは、円周の１箇所を切り欠いた金属性の
リングが、互いにギャップを設けて絶縁支持具上に複数
同軸に配列固定され、かつ配列方向の各リングにおける
切り欠きが、その切り欠きの幅だけ順に時計回り又は反
時計回りにずれるように位置決めされ、電路がコイルと
なるように、隣接するリングの切り欠きの端部同士が導
電性の部材で接続されたものであることを特徴とする。According to a sixth aspect of the present invention, in the withstand voltage test protection device according to any one of the first to fifth aspects, the inductance is a metallic ring formed by cutting out one portion of a circumference, The plurality of coaxially arranged and fixed on the insulating support with a gap provided therebetween, and the notches in each ring in the arrangement direction are positioned so as to be sequentially shifted clockwise or counterclockwise by the width of the notches, and the electric path is formed. It is characterized in that the ends of the notches of the adjacent rings are connected by a conductive member so as to form a coil.
【００１８】以上のような請求項６記載の発明では、イ
ンダクタンスがリングの段積み構成となっているので、
ターン間の間隔を一定にすることが可能になる。また、
各リングが絶縁支持具上に配列固定されているので、注
形後においてもターン間の間隔を一定に保持することが
可能となる。In the invention according to claim 6 as described above, since the inductance has a stacked structure of rings,
It is possible to make the interval between turns constant. Also,
Since each ring is arrayed and fixed on the insulating support, it is possible to maintain a constant interval between turns even after casting.
【００１９】[0019]
【発明の実施の形態】請求項１〜６記載の発明に対応す
る一つの実施の形態を、図１〜図４に従って以下に説明
する。なお、図５に示した従来技術と同様の部材は同一
の符号を付し、説明は省略する。BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION An embodiment corresponding to the invention described in claims 1 to 6 will be described below with reference to FIGS. The same members as those in the conventional technique shown in FIG. 5 are designated by the same reference numerals, and the description thereof will be omitted.
【００２０】（１）実施の形態の構成 まず、本実施の形態の構成を説明する。すなわち、図１
に示すように、本実施の形態が適用される耐電圧試験装
置の基本的な構成は、図５に示す従来技術と同様である
が、保護抵抗器２１の代わりに、本実施の形態による保
護装置８が設けられている点が異なる。この保護装置８
は、図２に示すように、ＳＦ6 ガスなどの絶縁媒体を充
填したタンク１（密閉容器）内に、円筒状のインダクタ
ンス２が３つ直列に接続されて収容されている。各イン
ダクタンス２の軸線上には抵抗体３が収容され、これら
の抵抗体３も３つ直列に接続されている。タンク１内に
おけるインダクタンス２及び抵抗体３の図中左側端部
は、試験用変圧器に対してブッシング５を介して接続さ
れている。タンク１内におけるインダクタンス２及び抵
抗体３の図中右側端部は、絶縁スペーサ６によりタンク
１に取り付けられるとともに、接続導体７により電気的
に取り出されることにより、ケーブル１２を接続する負
荷側となっている。(1) Configuration of Embodiment First, the configuration of the present embodiment will be described. That is, FIG.
As shown in FIG. 5, the basic configuration of the withstand voltage test apparatus to which this embodiment is applied is the same as that of the conventional technique shown in FIG. 5, but instead of the protection resistor 21, the protection according to this embodiment is performed. The difference is that the device 8 is provided. This protection device 8
As shown in FIG. 2, three cylindrical inductances 2 are connected in series and housed in a tank 1 (closed container) filled with an insulating medium such as SF 6 gas. A resistor 3 is housed on the axis of each inductance 2 and three of these resistors 3 are also connected in series. The left ends of the inductor 2 and the resistor 3 in the tank 1 in the figure are connected to the test transformer via a bushing 5. The right ends of the inductance 2 and the resistor 3 in the tank 1 in the figure are attached to the tank 1 by the insulating spacer 6 and electrically taken out by the connection conductor 7 so that the cable 12 is connected to the load side. ing.
【００２１】各インダクタンス２は、図３に示すよう
に、円周の一部を切り欠いたリング１６が、絶縁支持具
２０上に互いにギャップｇを設けて複数同軸に配列固定
されている。配列方向の各リング１６における切り欠き
１７は、切り欠き１７の幅だけ順に時計回り若しくは反
時計回りにずれていくように位置決めされている。隣接
するリング１６の切り欠き１７の端部同士は、図３の矢
視Ｒ−Ｒ、Ｓ−Ｓ及びＴ−Ｔ断面図である図４に示すよ
うに、金属性のピン１８によって電気的に接続され、リ
ング１６の集合体による電路がコイルとなるように構成
されている。なお、図４における矢印は通電経路を示
す。これらのリング１６及び絶縁支持具２０は、全体が
絶縁物１９であるエポキシ樹脂によってモールド成形さ
れている。As shown in FIG. 3, in each of the inductances 2, a plurality of rings 16 are formed by cutting out a part of the circumference, and are coaxially arranged and fixed on the insulating support 20 with a gap g therebetween. The notches 17 in each ring 16 in the arrangement direction are positioned so that the width of the notches 17 is sequentially shifted clockwise or counterclockwise. The ends of the notches 17 of the adjacent rings 16 are electrically connected to each other by a metallic pin 18 as shown in FIG. 4 which is a sectional view taken along line RR, SS and TT of FIG. 3. It is configured such that the electric path formed by the assembly of the rings 16 connected to each other serves as a coil. In addition, the arrow in FIG. 4 shows an energization path. The ring 16 and the insulating support 20 are molded by epoxy resin, which is an insulator 19 as a whole.
【００２２】各インダクタンス２の両端部には、リング
状のシールド４が接続され、各々のシールド４は、図１
の矢視Ｘ−Ｘ、Ｙ−Ｙである図５（ａ），（ｂ）に示す
ように、インダクタンス２の軸に平行な切断面によって
分割されている。隣接するシールド４の分割線Ｃは、互
いに対向しないように、それぞれインダクタンス２の軸
を中心とする回転方向にずらした位置に設けられてい
る。また、各シールド４は、負荷側のシールド径φＤ１
が最大で、試験用変圧器側のシールド径φＤ２が最小と
なるように、負荷側から試験用変圧器側になるに従っ
て、シールド径が順に小さいものが配設されている。A ring-shaped shield 4 is connected to both ends of each inductance 2, and each shield 4 is formed as shown in FIG.
5 (a) and 5 (b), which are views X-X and Y-Y, are divided by a cutting plane parallel to the axis of the inductance 2. The dividing lines C of the adjacent shields 4 are provided at positions shifted in the rotation direction about the axis of the inductance 2 so as not to face each other. In addition, each shield 4 has a shield diameter φD1 on the load side.
Is the largest and the shield diameter φD2 on the test transformer side is the smallest, the shield diameters are arranged in order from the load side to the test transformer side.
【００２３】各抵抗体３は、図６に示すように、第１の
金属抵抗線１３ａと第２の金属抵抗線１３ｂとが各々逆
巻に巻かれ、これら金属抵抗線１３ａ，１３ｂの全体が
絶縁物１４であるエポキシ樹脂で注形されて形成されて
いる。また、金属抵抗線１３ａ又は金属抵抗線１３ｂの
表面にも絶縁物１４がコーティングされているので、金
属抵抗線１３ａ，１３ｂ同士が短絡しない構成となって
いる。そして、金属抵抗線１３ａ，１３ｂの端部には、
通電可能な電極１５が取り付けられ、インダクタンス２
と電気的に並列に接続されている。As shown in FIG. 6, each resistor 3 has a first metal resistance wire 13a and a second metal resistance wire 13b wound in reverse windings, and the entire metal resistance wires 13a, 13b are wound. The insulator 14 is formed by casting with an epoxy resin. Further, since the surface of the metal resistance wire 13a or the metal resistance wire 13b is also coated with the insulator 14, the metal resistance wires 13a and 13b are not short-circuited. Then, at the ends of the metal resistance wires 13a and 13b,
An electrode 15 that can be energized is attached, and the inductance 2
And electrically connected in parallel.
【００２４】（２）実施の形態の作用 以上のような構成を有する本実施の形態の作用は以下の
通りである。すなわち、本実施の形態においては、従来
技術と同様に、ケーブル接続端１０に被試験物としての
ケーブルの両端を接続し、通電させることにより試験を
行う。このとき、インダクタンス２と抵抗体３とが電気
的に並列に接続されているので、５０−６０Ｈｚの周波
数である交流試験電流はインダクタンス２側に流れる。
従って、抵抗３側には電流はほとんど流れない。一方、
ケーブルの絶縁破壊に伴うサージ電圧は、その周波数が
数ＭＨｚと極端に高くインダクタンス２を通過すること
が困難になり、抵抗体３を通過することにより抑制され
る。(2) Operation of the Embodiment The operation of the present embodiment having the above configuration is as follows. That is, in the present embodiment, the test is performed by connecting both ends of the cable as the DUT to the cable connecting end 10 and energizing the cable, as in the conventional technique. At this time, since the inductance 2 and the resistor 3 are electrically connected in parallel, an AC test current having a frequency of 50-60 Hz flows to the inductance 2 side.
Therefore, almost no current flows on the resistor 3 side. on the other hand,
The surge voltage due to the insulation breakdown of the cable is extremely high at a frequency of several MHz, which makes it difficult to pass through the inductance 2 and is suppressed by passing through the resistor 3.
【００２５】（３）実施の形態の効果 以上のような本実施の形態の効果は以下の通りである。
すなわち、交流試験電流はインダクタンス２側に流れ、
抵抗３側にはほとんど流れないので、発熱による老化を
防止することができる。従って、サージ電流を抑制でき
るとともに、被試験物たるケーブルが長くとも、試験用
の大きな充電電流を常時流すことができるので、安全性
・信頼性が向上する。(3) Effects of the Embodiment The effects of the present embodiment as described above are as follows.
That is, the AC test current flows to the inductance 2 side,
Since it hardly flows to the resistor 3 side, it is possible to prevent aging due to heat generation. Therefore, the surge current can be suppressed, and even if the cable as the DUT is long, a large charging current for the test can always flow, so that the safety and reliability are improved.
【００２６】次に、本実施の形態における抵抗体３は、
金属抵抗線１３ａ，１３ｂを逆巻きにする無誘導巻とし
て、絶縁物１４によりモールドされているので、単位長
さあたりの耐電圧値が大きくなり、信頼性が向上する。
また、抵抗体３は円筒状のインダクタンス２の内部に配
置されているので、全体をコンパクトにすることがで
き、同軸上に位置することから電界のコントロールが容
易となる。さらに、必要となるインダクタンスあるいは
抵抗値との関係で、軸方向に長い抵抗が要求される場合
に、これを一体形の抵抗体とすると強度上及び製作上の
信頼性に問題が生じるが、本実施の形態における抵抗体
３は複数のものを直列に接続することにより構成されて
いるので、強度上及び製作上の信頼性が保持可能な抵抗
体３を複数接続することにより、かかる信頼性が維持で
きる。このとき、電界上特に問題となる抵抗体３の端部
の電気的接続部はシールド４で覆われているので、信頼
性が損なわれることはない。Next, the resistor 3 in this embodiment is
Since the metal resistance wires 13a and 13b are non-inductively wound in the reverse winding and molded by the insulator 14, the withstand voltage value per unit length is increased and the reliability is improved.
Further, since the resistor 3 is arranged inside the cylindrical inductance 2, the whole can be made compact, and since it is positioned coaxially, the electric field can be easily controlled. Furthermore, if a long resistance is required in the axial direction due to the required inductance or resistance value, using this as an integral type resistor will cause problems in strength and manufacturing reliability. Since the resistor 3 in the embodiment is configured by connecting a plurality of resistors in series, the reliability can be improved by connecting a plurality of resistors 3 capable of maintaining reliability in strength and manufacturing. Can be maintained. At this time, since the electrical connection part at the end of the resistor 3 which is particularly problematic in terms of electric field is covered with the shield 4, the reliability is not impaired.
【００２７】そして、本実施の形態においては、各シー
ルド４間の静電容量によって、さらに、サージが発生す
る負荷側のシールド４の径が最大であり、試験変圧器側
のシールド４の径が最小となっているので、抵抗体３の
電位分担を均一とすることができる。また、シールド４
は、インダクタンス２の軸に平行な切断面により２分割
されているので、電路に対してループが構成されること
が防止され、インダクタンス２の効果を妨げることなく
シールド４の役割を果たすことができる。Further, in this embodiment, the diameter of the shield 4 on the load side where the surge is generated is further the maximum due to the capacitance between the shields 4, and the diameter of the shield 4 on the test transformer side is larger. Since it is the minimum, the potential sharing of the resistor 3 can be made uniform. Also, shield 4
Is divided into two by a cut surface parallel to the axis of the inductance 2, so that a loop is prevented from being formed with respect to the electric path, and the role of the shield 4 can be fulfilled without hindering the effect of the inductance 2. .
【００２８】さらに、本実施の形態においては、インダ
クタンス２が、通常の螺旋コイルでなくリングの段積み
構成となっているので、ターン間の間隔を一定にする事
が可能となる。そして、螺旋コイルの場合には注形の際
にコイルが収縮して残留応力が発生する可能性がある
が、各リング１６は注形時に絶縁支持具２０によって支
持されているので、注形後においてもターン間の間隔を
一定に保持することが可能となる。Further, in the present embodiment, since the inductance 2 has a stacked structure of rings instead of the usual spiral coil, it is possible to make the interval between turns constant. In the case of a spiral coil, there is a possibility that the coil contracts during casting to generate residual stress. However, since each ring 16 is supported by the insulating support tool 20 during casting, after the casting, Also in, it is possible to keep the interval between turns constant.
【００２９】（４）他の実施の形態 本発明は、上記のような実施の形態に限定されるもので
はなく、各部材の大きさ、数、形状等は適宜変更可能で
ある。例えば、インダクタンス２や抵抗体３及びインダ
クタンス２を構成するリング１６の数は、上記実施の形
態で示した数に限定されるものではなく、自由に増減変
更可能である。また、上記実施の形態に、非常に長い管
路母線やキャパシタンスを内蔵すれば、静電容量の大き
い開閉器の交流耐電圧試験を実施する装置にも適用可能
である。(4) Other Embodiments The present invention is not limited to the embodiments described above, and the size, number, shape, etc. of each member can be changed as appropriate. For example, the number of the rings 16 forming the inductance 2, the resistor 3 and the inductance 2 is not limited to the number shown in the above-mentioned embodiment, and can be freely increased or decreased. Further, by incorporating a very long bus line bus and capacitance into the above embodiment, it can be applied to an apparatus for carrying out an AC withstanding voltage test of a switch having a large electrostatic capacitance.
【００３０】[0030]
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
円筒状のインダクタンスの中心軸上に抵抗体を配置し、
インダクタンスと抵抗体とを並列に接続することによ
り、大きな充電電流を常時通電可能で、高いサージ電圧
を抑制可能な耐電圧試験保護装置を提供することができ
る。As described above, according to the present invention,
Place the resistor on the central axis of the cylindrical inductance,
By connecting the inductance and the resistor in parallel, it is possible to provide a withstand voltage test protection device that can always carry a large charging current and can suppress a high surge voltage.
【図１】本発明の耐電圧試験保護装置の一つの実施の形
態が組み込まれた耐電圧試験装置を示す簡略平面図であ
る。FIG. 1 is a simplified plan view showing a withstand voltage test apparatus in which an embodiment of a withstand voltage test protection apparatus of the present invention is incorporated.
【図２】本発明の耐電圧試験保護装置の一つの実施の形
態を示す側面透視図である。FIG. 2 is a side perspective view showing one embodiment of the withstand voltage test protection device of the present invention.
【図３】図２の実施の形態におけるインダクタンスを示
す正面透視図（ａ）及び一部透視側面図（ｂ）である。3 is a front perspective view (a) and a partially transparent side view (b) showing an inductance in the embodiment of FIG. 2. FIG.
【図４】図３のインダクタンスにおける矢視Ｒ−Ｒ断面
図、矢視Ｓ−Ｓ断面図及び矢視Ｔ−Ｔ断面図によって現
われる各リングの接続関係を示す模式図である。FIG. 4 is a schematic diagram showing a connection relationship of each ring, which is shown by the arrow RR cross-sectional view, the arrow SS cross-sectional view, and the arrow TT cross-sectional view in the inductance of FIG.
【図５】図２の実施の形態におけるＹ−Ｙ矢視図
（ａ）、Ｘ−Ｘ矢視図（ｂ）である。5A and 5B are a YY arrow view (a) and an XX arrow view (b) in the embodiment of FIG.
【図６】図２の実施の形態における抵抗体を示す側面透
視図である。FIG. 6 is a side perspective view showing a resistor according to the embodiment of FIG.
【図７】従来のケーブル耐電圧試験装置の一例を示す簡
略平面図である。FIG. 7 is a simplified plan view showing an example of a conventional cable withstand voltage test device.
１…タンク ２…インダクタンス ３…抵抗体 ４…シールド ５…ブッシング ６…絶縁スペーサ ７…接続導体 ８…保護装置 ９…試験用変圧器 １０…ケーブル接続端 １１…標準コンデンサ １２…ケーブル １３ａ…第１の金属抵抗線 １３ｂ…第２の金属抵抗線 １４…絶縁物 １５…電極 １６…リング １７…切り欠き １８…金属性のピン １９…絶縁物 ２０…絶縁支持具 ２１…保護抵抗器 ２２…通電用コイル DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Tank 2 ... Inductance 3 ... Resistor 4 ... Shield 5 ... Bushing 6 ... Insulation spacer 7 ... Connection conductor 8 ... Protective device 9 ... Test transformer 10 ... Cable connection end 11 ... Standard capacitor 12 ... Cable 13a ... 1st Metal resistance wire 13b ... Second metal resistance wire 14 ... Insulator 15 ... Electrode 16 ... Ring 17 ... Notch 18 ... Metal pin 19 ... Insulator 20 ... Insulation support 21 ... Protective resistor 22 ... For energization coil
Claims (6)
験用変圧器と被試験物との間に、サージ電圧抑制用の抵
抗体が挿入された耐電圧試験保護装置において、 前記抵抗体は、絶縁物により円筒状にモールドされたイ
ンダクタンスの内部に配置され、 前記抵抗体及び前記インダクタンスは並列に接続される
とともに、絶縁媒体を封入した密閉容器内に収容されて
いることを特徴とする耐電圧試験保護装置。1. A withstand voltage test protection device in which a resistor for suppressing surge voltage is inserted between a test transformer for generating a high voltage necessary for a withstand voltage test and a device under test, wherein the resistor is a resistor. Is arranged inside an inductance molded in a cylindrical shape by an insulator, and the resistor and the inductance are connected in parallel and housed in a hermetically sealed container enclosing an insulating medium. Withstanding voltage test protection device.
とも２つの金属抵抗線を、絶縁物によりモールドしたも
のであることを特徴とする請求項１記載の耐電圧試験保
護装置。2. The withstand voltage test protection device according to claim 1, wherein the resistor is formed by molding at least two non-inductively wound metal resistance wires with an insulating material.
スが複数直列に接続され、 前記各インダクタンスのそれぞれの端部を覆うリング形
状のシールドが設けられていることを特徴とする請求項
１又は請求項２記載の耐電圧試験保護装置。3. The plurality of the inductances in which the resistors are arranged are connected in series, and a ring-shaped shield covering each end of each of the inductances is provided. 2. Withstand voltage test protection device described in 2.
変圧器側になるに従って順に外径の小さいものが配設さ
れていることを特徴とする請求項１〜３のいずれか１項
に記載の耐電圧試験保護装置。4. The shield according to claim 1, wherein the shield has a smaller outer diameter in order from the DUT side to the test transformer side. Withstanding voltage test protection device described.
軸に平行な切断面により２分割されていること特徴とす
る請求項１〜４のいずれか１項に記載の耐電圧試験保護
装置。5. The withstand voltage test protection device according to claim 1, wherein the shield is divided into two parts by a cut surface parallel to the axis of the inductance.
切り欠いた金属性のリングが、互いにギャップを設けて
絶縁支持具上に複数同軸に配列固定され、かつ配列方向
の各リングにおける切り欠きが、その切り欠きの幅だけ
順に時計回り又は反時計回りにずれるように位置決めさ
れ、電路がコイルとなるように、隣接するリングの切り
欠きの端部同士が導電性の部材で接続されたものである
ことを特徴とする請求項１〜５のいずれか１項に記載の
耐電圧試験保護装置。6. The inductance comprises a plurality of metallic rings, which are cut out at one position on the circumference, are coaxially arranged and fixed on an insulating support with a gap provided therebetween, and a notch in each ring in the arrangement direction. Are positioned such that the width of the cutout is shifted clockwise or counterclockwise in order, and the ends of the cutouts of adjacent rings are connected by a conductive member so that the electric path serves as a coil. The withstand voltage test protection device according to any one of claims 1 to 5.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8105197A JPH09292435A (en) | 1996-04-25 | 1996-04-25 | Protecting device for withstand voltage test |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8105197A JPH09292435A (en) | 1996-04-25 | 1996-04-25 | Protecting device for withstand voltage test |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09292435A true JPH09292435A (en) | 1997-11-11 |
Family
ID=14400952
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8105197A Pending JPH09292435A (en) | 1996-04-25 | 1996-04-25 | Protecting device for withstand voltage test |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH09292435A (en) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6747751B2 (en) * | 1997-10-24 | 2004-06-08 | Canon Kabushiki Kaisha | Image formation apparatus having image memory |
| WO2012060414A1 (en) * | 2010-11-02 | 2012-05-10 | 矢崎総業株式会社 | High voltage testing device |
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| CN109212389A (en) * | 2018-08-28 | 2019-01-15 | 中铁十二局集团有限公司 | A kind of large-capacity power equipment ac voltage withstanding test method |
| KR102512946B1 (en) * | 2022-12-19 | 2023-03-22 | 유호전기공업주식회사 | Modular voltage measurement with easy installation |
-
1996
- 1996-04-25 JP JP8105197A patent/JPH09292435A/en active Pending
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