JPH09281400A - Object observation device - Google Patents

Object observation device

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JPH09281400A
JPH09281400A JP8115797A JP11579796A JPH09281400A JP H09281400 A JPH09281400 A JP H09281400A JP 8115797 A JP8115797 A JP 8115797A JP 11579796 A JP11579796 A JP 11579796A JP H09281400 A JPH09281400 A JP H09281400A
Authority
JP
Japan
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light
image
polarizer
objective lens
polarization
Prior art date
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Pending
Application number
JP8115797A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Tsuneyuki Hagiwara
恒幸 萩原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Nikon Corp filed Critical Nikon Corp
Priority to JP8115797A priority Critical patent/JPH09281400A/en
Publication of JPH09281400A publication Critical patent/JPH09281400A/en
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To adjust the contrast of the observed images of a phase object with simple constitution. SOLUTION: The phase difference of the two orthogonal linearly polarized light components of the light from an object 14 is made arbitrary adjustable by a polarizer 18 and a quarter-wave plate 20. The phase difference α applied to the output light of the quarter-wave plate 20 is expressed by α=2θ1-π/2. The linearly polarized light component parallel with a (y) direction as to zero order light is extracted by a ring band polarizing plate 22 and the linearly polarized light component parallel with an (x) direction as to diffracted light is extracted. Coherent rays are transmitted respectively from the zero order light and the diffracted light and the bright and dark images are observed by the coherent rays in an analyzer 24. The contrast of the observed images are easily adjusted by rotating the polarizer 18.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、位相物体の観察
などに好適な物体観察装置の改良に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an improvement of an object observation apparatus suitable for observing a phase object.

【0002】[0002]

【背景技術】位相物体を観察する位相差顕微鏡は、光の
位相差を明暗の差に変換して、物体の厚さや屈折率など
の差を肉眼で観察できるようにしたもので、例えば「Ni
konTECHNICAL JOURNAL」1974, No.6に記載されている。
その基本的な構成は、図11に示すようになっており、
コンデンサレンズ100の前焦点位置にリング状の絞り
(リング絞り)102が設けられており、対物レンズ1
04の後焦点位置に輪帯偏光板(位相板)106が設け
られている。
BACKGROUND ART A phase contrast microscope for observing a phase object is one that converts the phase difference of light into a difference between light and dark so that the difference in the thickness or refractive index of the object can be observed with the naked eye.
kon TECHNICAL JOURNAL ”1974, No.6.
The basic structure is as shown in FIG.
A ring-shaped diaphragm (ring diaphragm) 102 is provided at the front focus position of the condenser lens 100, and the objective lens 1
An annular polarizing plate (phase plate) 106 is provided at the back focus position 04.

【0003】リング絞り102を透過したリング状の光
は、コンデンサレンズ100で集光された後、観察対象
の位相物体108に入射する。位相物体108を透過し
た光は、輪帯偏光板106に入射するが、輪帯偏光板1
06はリング絞り102と像が重なる大きさとなってお
り、位相物体108を直接透過した光(0次光)に対し
て一定の大きさ(λ/4,λは光の波長)の位相変化が
与えられる。接眼レンズ110には、この位相変化を受
けた0次光と、位相物体108で回折された回折光とが
入射し、両者の干渉によって明暗の像が形成される。こ
れによって、位相物体108によって生ずる光の位相差
が振幅差となり、肉眼112で明暗として観察できるよ
うになる。
The ring-shaped light transmitted through the ring diaphragm 102 is condensed by the condenser lens 100 and then enters the phase object 108 to be observed. The light transmitted through the phase object 108 enters the annular polarization plate 106, but the annular polarization plate 1
06 is a size in which the image overlaps with the ring diaphragm 102, and a phase change of a constant size (λ / 4, λ is the wavelength of the light) with respect to the light (zero-order light) directly transmitted through the phase object 108. Given. The zero-order light that has undergone this phase change and the diffracted light diffracted by the phase object 108 enter the eyepiece lens 110, and a bright and dark image is formed by the interference between the two. As a result, the phase difference of the light generated by the phase object 108 becomes the amplitude difference, and the naked eye 112 can observe it as bright and dark.

【0004】ところで、1995年度「光計測シンポジ
ウム」論文集のp.90〜93には、上述した固定の輪
帯偏光板106の代わりに液晶による可変輪帯偏光板を
使用した位相差顕微鏡が記載されている。図12(A)
には可変輪帯偏光板120の側面が示されており、同図
(B)には平面が示されている。可変輪帯偏光板120
は、全体が液晶セル構成となっており、中央付近であっ
て0次光の透過位置にリング状透明電極122a,12
2bが形成されている。セル内の液晶124としては、
ホモジニアス配列したネマチック液晶が用いられてい
る。透明電極122a,122b間に電圧を印加する
と、液晶124の分子配向が変化してその屈折率が変化
する。これにより、対物レンズ104(図8参照)側か
らの入射光のうち、0次光にのみ位相変調が与えられ
る。
By the way, p. 90 to 93, a phase contrast microscope using a variable annular polarizing plate made of liquid crystal instead of the fixed annular polarizing plate 106 described above is described. Figure 12 (A)
Shows the side surface of the variable annular polarization plate 120, and FIG. Variable annular polarization plate 120
Has a liquid crystal cell structure as a whole, and the ring-shaped transparent electrodes 122a and
2b is formed. As the liquid crystal 124 in the cell,
A nematic liquid crystal with a homogeneous alignment is used. When a voltage is applied between the transparent electrodes 122a and 122b, the molecular orientation of the liquid crystal 124 changes and its refractive index changes. As a result, of the incident light from the objective lens 104 (see FIG. 8) side, only the 0th-order light is phase-modulated.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】ところで、このような
位相差顕微鏡において所望のコントラストの観察像を得
るためには、対物レンズ104と輪帯偏光板106を全
体として交換する必要がある。別言すれば、所望の複数
のコントラストに対応して、対物レンズ104と輪帯偏
光板106を用意しなければならないという不都合があ
る。また、図12の背景技術では、可変輪帯偏光板とし
て複雑な構造の液晶セルを必要とするとともに、その制
御系も複雑なものが必要である。
By the way, in order to obtain an observation image with a desired contrast in such a phase contrast microscope, it is necessary to replace the objective lens 104 and the annular polarizing plate 106 as a whole. In other words, there is an inconvenience that the objective lens 104 and the annular polarizing plate 106 must be prepared corresponding to a plurality of desired contrasts. Further, in the background art of FIG. 12, a liquid crystal cell having a complicated structure is required as a variable annular polarization plate, and a control system thereof is also required to be complicated.

【0006】この発明は、以上の点に着目したもので、
その目的は、簡便な構成で観察像のコントラスト調整を
行うことである。他の目的は、単純な光学的構成によっ
て位相物体の位相変化量に応じたコントラスト調整を簡
便に行うことである。
The present invention focuses on the above points,
The purpose is to adjust the contrast of the observed image with a simple structure. Another object is to simply adjust the contrast according to the amount of phase change of the phase object with a simple optical configuration.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】[Means for Solving the Problems]

【発明の開示】前記目的を達成するため、この発明は、
観察対象の物体からの光を集光するための対物レンズ
(16);物体を照明して、対物レンズの瞳近傍に選択的
にフィルタリング可能な光像を得るための照明手段(1
0,12,40,42,44,46,48);回転可能なポラライザ及び1
/4波長板を含み、対物レンズからの入射光の直交する
2つの直線偏光成分の位相差を任意に調整するための位
相差調整手段(18,20);この位相差調整手段からの入
射光の0次光及び回折光に対し、前記1/4波長板の光
学軸に対して同一及び直交する方向でそれぞれ抽出する
ための第1フィルタ手段(22);この第1フィルタ手段
からの入射光から可干渉な偏光成分を得るための第2フ
ィルタ手段(24);を備えたことを特徴とする。
DISCLOSURE OF THE INVENTION To achieve the above object, the present invention provides:
Objective lens (16) for collecting light from the object to be observed; Illuminating means for illuminating the object to obtain a light image that can be selectively filtered near the pupil of the objective lens (1
0,12,40,42,44,46,48); rotatable polarizer and 1
Phase difference adjusting means (18, 20) for arbitrarily adjusting the phase difference between the two linearly polarized light components of the incident light from the objective lens, which include a / 4 wavelength plate, and the incident light from the phase difference adjusting means. Filter means (22) for extracting the 0th-order light and the diffracted light in the same and orthogonal directions with respect to the optical axis of the quarter-wave plate, respectively, and incident light from the first filter means. A second filter means (24) for obtaining a coherent polarization component from

【0008】他の発明は、前記第1フィルタ手段からの
入射光から、第1及び第2の異なる方向において可干渉
な偏光成分をそれぞれ得るための第3フィルタ手段(5
2);この第3フィルタ手段によって得られた第1の方
向の可干渉な偏光成分に基づいて第1の像を得るための
第1の撮像手段(56);第3フィルタ手段によって得ら
れた第2の方向の可干渉な偏光成分に基づいて第2の像
を得るための第2の撮像手段(60);これらの撮像手段
によって得られた第1及び第2の像の差画像を得るため
の差画像生成手段(62);を備えたことを特徴とする。
In another invention, third filter means (5) for respectively obtaining coherent polarization components in the first and second different directions from the incident light from the first filter means.
2); first imaging means (56) for obtaining a first image based on the coherent polarization component in the first direction obtained by the third filter means; obtained by the third filter means Second image pickup means (60) for obtaining a second image based on the coherent polarization component in the second direction; a difference image between the first and second images obtained by these image pickup means is obtained. A difference image generating means (62);

【0009】更に他の発明は、前記撮像手段を一つのみ
とするとともに、前記ポラライザ又は第2フィルタ手段
を第1の偏光方向としたときに撮像された第1の像と、
ポラライザ又は第2フィルタ手段を第1の偏光方向と異
なる第2の偏光方向としたときに撮像された第2の像と
を格納するためのメモリ手段(76);このメモリ手段に
格納された第1及び第2の像の差画像を得るための差画
像生成手段(74);を備えたことを特徴とする。
In still another aspect of the invention, the number of the image pickup means is only one, and the first image picked up when the polarizer or the second filter means has the first polarization direction,
Memory means (76) for storing a second image captured when the polarizer or the second filter means is set to a second polarization direction different from the first polarization direction; A difference image generating means (74) for obtaining a difference image of the first and second images is provided.

【0010】更に他の発明は、前記いずれかにおいて、
前記照明手段が照明光を集光するためのコンデンサレン
ズを含み、前記ポラライザを前記コンデンサレンズの瞳
近傍に配置したことを特徴とする。
[0010] Still another invention is, in any of the above,
The illumination means includes a condenser lens for condensing the illumination light, and the polarizer is arranged in the vicinity of the pupil of the condenser lens.

【0011】本発明の主要な態様には、以下のものが含
まれる。
The main aspects of the present invention include the following:

【0012】(1)物体を照明する照明手段(40,42,44,
46,48,10,12)、該物体からの光線を集光し、瞳平面近
傍に選択的にフィルタリングし得る空間周波数スペクト
ルを生成する、光軸に沿って配置された対物レンズ(1
6)、前記瞳平面近傍を通過する光線を前記光軸に対し
て任意の方位角の偏波面の直線偏光にする回転可能なポ
ラライザ(18)、前記瞳平面近傍に位置し、前記の直線
偏光が通過し得る1/4波長板(20)、前記1/4波長
板を通過した光線のうち物体により回折されない空間周
波数成分のみを包含可能な面積を有し、第一方位の偏波
面の直線偏光の成分のみを透過させる第一空間フィルタ
(22)、前記1/4波長板を通過した光線のうち前記第
一空間フィルタに包含されない空間周波数成分を包含可
能な面積を有し、第一方位と直交する第二方位の偏波面
の直線偏光の成分のみを透過させる第二空間フィルタ
(22)、前記第一空間フィルタと前記第二空間フィルタ
を通過した光線のうち、第三方位の偏波面の直線偏光の
みを透過させる、第三方位をなすアナライザ(24)を有
し、前記1/4波長板の光学軸の方位と前記第一方位は
90度の整数倍の角度をなし、前記アナライザをなす第
三方位は、前記1/4波長板の光学軸の方位に対して9
0度の整数倍に45度を加えた角度をなすことを特徴と
する物体観察装置。
(1) Illumination means (40, 42, 44, for illuminating an object
46,48,10,12), an objective lens (1) arranged along the optical axis that collects light rays from the object and produces a spatial frequency spectrum that can be selectively filtered near the pupil plane.
6), a rotatable polarizer (18) for converting a light beam passing near the pupil plane into a linearly polarized light having a plane of polarization at an arbitrary azimuth angle with respect to the optical axis, the linearly polarized light being located near the pupil plane. A quarter wave plate (20) that can pass through, and has an area that can include only the spatial frequency component that is not diffracted by the object among the light rays that have passed through the quarter wave plate, and the straight line of the polarization plane in the first direction. A first spatial filter (22) that transmits only a polarized component, has an area that can include a spatial frequency component that is not included in the first spatial filter among the rays that have passed through the quarter wavelength plate, and has a first azimuth direction. A second spatial filter (22) that transmits only the linearly polarized light component of the polarization plane of the second azimuth direction orthogonal to, and the polarization plane of the third azimuth direction among the rays that have passed through the first spatial filter and the second spatial filter. 3rd direction, which transmits only the linearly polarized light of And the first azimuth forms an angle that is an integral multiple of 90 degrees, and the third azimuth forming the analyzer is the ¼ 9 with respect to the azimuth of the optical axis of the wave plate
An object observation device characterized by forming an angle obtained by adding 45 degrees to an integral multiple of 0 degrees.

【0013】(2)前記照明手段及び対物レンズを含
み、前記瞳平面近傍を通過する光線を前記光軸に対して
第一方位の偏波面の直線偏光にする、回転可能なポララ
イザ(18)、前記瞳平面近傍に位置し、前記の直線偏光
が通過し得る1/4波長板(20)、前記1/4波長板を
通過した光線のうち物体により回折されない空間周波数
成分のみを包含可能な面積を有し、第二方位の偏波面の
直線偏光の成分のみを透過させる第一空間フィルタ(2
2)、前記1/4波長板を通過した光線のうち前記第一
空間フィルタに包含されない空間周波数成分を包含可能
な面積を有し、第二方位と直交する第三方位の偏波面の
直線偏光の成分のみを透過させる第二空間フィルタ(2
2)、前記第一空間フィルタと前記第二空間フィルタを
通過した光線のうち、第四方位の偏波面の直線偏光のみ
を透過させ、これと直交する第五方位の偏波面の直線偏
光を反射させる偏光ビームスプリッタ(52)、前記第四
方位の偏波面の直線偏光の光線による第一の物体像を光
電変換する第一光電変換素子(56)、前記第五方位の偏
波面の直線偏光の光線による第二の物体像を光電変換す
る第二光電変換素子(60)、前記第一,第二の光電変換
素子の信号の差信号を生成し、この差信号に基づいて差
画像を生成する差画像生成手段(62)、この差画像を表
示する画像表示手段(64)を有し、前記1/4波長板の
光学軸の方位と前記第二方位は90゜の整数倍の角度を
なし、前記アナライザのなす第四方位は、前記1/4波
長板の光学軸の方位に対して90゜の整数倍に45゜を
加えた角度をなすことを特徴とする物体観察装置。
(2) A rotatable polarizer (18) including the illuminating means and the objective lens, which converts a light beam passing through the vicinity of the pupil plane into a linearly polarized light having a polarization plane in a first direction with respect to the optical axis, A quarter wavelength plate (20) that is located near the pupil plane and that can pass the linearly polarized light, and an area that can include only spatial frequency components that are not diffracted by an object among the rays that have passed through the quarter wavelength plate. And a first spatial filter (2 that transmits only the linearly polarized light component of the plane of polarization in the second direction
2), linearly polarized light having a plane of polarization in a third azimuth direction orthogonal to the second azimuth having an area capable of including a spatial frequency component that is not included in the first spatial filter among light rays that have passed through the ¼ wavelength plate The second spatial filter (2
2) Among the light rays that have passed through the first spatial filter and the second spatial filter, only the linearly polarized light of the polarization plane of the fourth azimuth is transmitted and the linearly polarized light of the polarization plane of the fifth azimuth orthogonal to this is reflected. A polarization beam splitter (52), a first photoelectric conversion element (56) for photoelectrically converting a first object image by a linearly polarized light beam having a polarization plane in the fourth azimuth, and a linear polarization having a polarization plane in the fifth azimuth. A second photoelectric conversion element (60) for photoelectrically converting a second object image formed by light rays, generates a difference signal between the signals of the first and second photoelectric conversion elements, and generates a difference image based on the difference signal. A difference image generating means (62) and an image display means (64) for displaying the difference image, wherein the azimuth of the optical axis of the quarter wavelength plate and the second azimuth form an angle that is an integral multiple of 90 °. , The fourth azimuth formed by the analyzer is the azimuth of the optical axis of the quarter wavelength plate. Object observation device, characterized in that an angle of plus 45 ° to 90 ° integral multiple with.

【0014】(3)前記照明手段,対物レンズ,ポララ
イザ,1/4波長板,第一空間フィルタ及び第二空間フ
ィルタを含み、前記第一空間フィルタと前記第二空間フ
ィルタを通過した光線のうち、第四方位の偏波面の直線
偏光のみを透過させるアナライザ(72)、前記第四方位
の偏波面の直線偏光の光線による物体像を光電変換する
光電変換素子(56)、前記第一方位(又は第四方位)を
第五方位に一致させたときに得られる物体の第一画像を
格納するとともに、前記第一方位(又は第四方位)を、
第五方位に直交する第六方位に一致させたときに得られ
る物体の第二画像を格納する画像格納手段(76)、この
画像格納手段に格納された前記第一画像と第二画像を取
り出し、これらの差画像を生成する差画像生成手段(7
4)、この差画像を表示する画像表示手段(64)を有
し、前記1/4波長板の光学軸の方位と前記第二方位は
90゜の整数倍の角度をなし、前記アナライザのなす第
四方位は、前記1/4波長板の光学軸の方位に対して9
0゜の整数倍に40゜を加えた角度をなし、前記第五方
位は、前記1/4波長板の光学軸の方位に対して90゜
の整数倍に45゜を加えた角度なすことを特徴とする物
体観察装置。
(3) Of the light rays passing through the first spatial filter and the second spatial filter, including the illuminating means, the objective lens, the polarizer, the quarter wavelength plate, the first spatial filter and the second spatial filter. An analyzer (72) that transmits only linearly polarized light of the plane of polarization of the fourth azimuth, a photoelectric conversion element (56) that photoelectrically converts an object image by the light of linearly polarized light of the plane of polarization of the fourth azimuth, the first azimuth ( Or a fourth orientation) stores the first image of the object obtained when the fifth orientation is matched with the fifth orientation, and the first orientation (or fourth orientation) is
An image storage means (76) for storing a second image of the object obtained when the object is matched with the sixth direction orthogonal to the fifth direction, and the first image and the second image stored in this image storage means are taken out. , Difference image generating means for generating these difference images (7
4) has an image display means (64) for displaying this difference image, and the azimuth of the optical axis of the quarter-wave plate and the second azimuth make an angle of an integral multiple of 90 °, The fourth azimuth is 9 with respect to the azimuth of the optical axis of the quarter-wave plate.
The fifth azimuth is an integer multiple of 0 ° plus 40 °, and the fifth azimuth is an integer multiple of 90 ° plus 45 ° with respect to the azimuth of the optical axis of the quarter wavelength plate. Characteristic object observation device.

【発明の効果】本発明によれば、次のような効果があ
る。 (1)観察者は、ポラライザを回転させて、その光軸に
対する方位を調整することで、ダークコントラストから
ブライトコントラストまで連続的に観察像のコントラス
ト変化させることができ、簡便な操作で所望のコントラ
ストによる像の観察を行うことが可能となる。背景技術
によれば、液晶セルという複雑な構成の可変位相手段が
必要とされるのに対し、本発明では、ポラライザと1/
4波長板という極めて一般的な光学素子を用いるのみで
簡単に可変位相手段が実現されている。 (2)2つの干渉像の差画像を得ることとしたので、像
の強度成分(振幅成分)が良好に打ち消されて位相像の
みを簡便な構成で観察することが可能となる。この発明
の前記及び他の目的,特徴,利点は、以下の詳細な説明
及び添付図面から明瞭になろう。
According to the present invention, the following effects can be obtained. (1) The observer can rotate the polarizer and adjust the azimuth with respect to the optical axis to continuously change the contrast of the observed image from dark contrast to bright contrast. It is possible to observe the image by. According to the background art, a variable phase means having a complicated structure called a liquid crystal cell is required, whereas in the present invention, a polarizer and 1 /
The variable phase means is easily realized only by using a very general optical element called a four-wave plate. (2) Since the difference image between the two interference images is obtained, the intensity component (amplitude component) of the image is canceled well, and only the phase image can be observed with a simple configuration. The above and other objects, features, and advantages of the present invention will be apparent from the following detailed description and the accompanying drawings.

【0015】[0015]

【発明の実施の形態】以下、発明の実施の形態につい
て、実施例を参照しながら詳細に説明する。本発明にか
かる物体観察装置は、特に、位相像の観察を行う位相差
顕微鏡としての応用に好適である。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to Examples. The object observation device according to the present invention is particularly suitable for application as a phase contrast microscope for observing a phase image.

【0016】[0016]

【実施例の基本的形態1】最初に、実施例の基本的な形
態1について図1を参照しながら説明する。図示しない
光源から出力された光は、リング絞り10によってリン
グ状に絞られた後、コンデンサレンズ12に入射する。
そして、このコンデンサレンズ12で集光された光が位
相物体14に入射し、位相物体14を透過した光が対物
レンズ16に入射する。この対物レンズ16の瞳位置近
傍には、 入射光から任意の偏波面の方向であって、常に同じ振
幅の直線偏光を得るための回転可能なポラライザ18, 直線偏光の光を透過する1/4波長板20, 入射光のうち、位相物体14によって回折されない0
次スペクトル成分と他のスペクトル成分を直交する直線
偏光に分離するための輪帯偏光板22, 入射光から同一偏光方向の可干渉の光を抽出するため
のアナライザ(偏光ビームスプリッタ)24, が、その順で光軸AXに沿って設けられている。
Basic Mode 1 of Embodiment First, a basic mode 1 of the embodiment will be described with reference to FIG. The light output from a light source (not shown) is focused into a ring shape by the ring diaphragm 10 and then enters the condenser lens 12.
Then, the light condensed by the condenser lens 12 enters the phase object 14, and the light transmitted through the phase object 14 enters the objective lens 16. In the vicinity of the pupil position of the objective lens 16, a rotatable polarizer 18 for obtaining linearly polarized light of an arbitrary polarization plane from the incident light and always having the same amplitude, 1/4 which transmits linearly polarized light Wave plate 20, out of incident light, not diffracted by phase object 14
An annular polarization plate 22 for separating the next spectral component and other spectral components into orthogonal linearly polarized light, an analyzer (polarizing beam splitter) 24 for extracting coherent light in the same polarization direction from the incident light, They are provided in that order along the optical axis AX.

【0017】これらの素子に対して、それぞれ直交座標
(X1,Y1)〜(X5,Y5)を、光軸AXに対して直交
し、かつ同じ方位となるように設定する。つまり、リン
グ絞り10側から見たときに、各座標軸が重なるように
座標を設定する。以下、それらの方位を単に(x,y)
と表現する。
For these elements, the Cartesian coordinates (X 1 , Y 1 ) to (X 5 , Y 5 ) are set so as to be orthogonal to the optical axis AX and have the same orientation. That is, the coordinates are set so that the coordinate axes overlap when viewed from the ring diaphragm 10 side. Hereafter, those directions are simply (x, y)
Express.

【0018】次に、これらの座標軸と各素子の偏光方向
との関係を説明する。まず、ポラライザ18は、図2
(A)に示すように、x軸に対する方位角θ1が透過する
光の偏光方向であり、この角度θ1は、ポラライザ18
を回転させることで変更可能となっている。1/4波長
板20は、図2(B)に示すように、光学軸である早い
軸neとこれに直交する遅い軸noを有し、早い軸ne
方位角はy軸に一致しており、遅い軸noの方位角はx
軸に一致して設定されている。入射光のうち、遅い軸n
oに平行な偏波面の直線偏光成分は、早い軸neに平行な
偏波面の直線偏光成分に対して1/4波長(90゜)の
位相遅れが生じる。
Next, the relationship between these coordinate axes and the polarization direction of each element will be described. First, the polarizer 18 is shown in FIG.
As shown in (A), the azimuth angle θ 1 with respect to the x-axis is the polarization direction of the transmitted light, and this angle θ 1 is the polarizer 18.
It can be changed by rotating. As shown in FIG. 2B, the quarter-wave plate 20 has a fast axis n e that is an optical axis and a slow axis n o that is orthogonal to this, and the azimuth of the fast axis n e is the y-axis. match is, the azimuth angle of the slow axis n o is x
It is set to match the axis. Of the incident light, the slow axis n
linearly polarized light component of the polarization plane parallel to o, the phase delay of 1/4 wavelength (90 degrees) occurs for linearly polarized light component in the polarization plane parallel to the fast axis n e.

【0019】例えば、ポラライザ18の方位角θ1が1
/4波長板20の早い軸neと一致しているときは、対
物レンズ16の透過光のうちの早い軸ne方向の偏光光
がそのまま輪帯偏光板22に入射する。ポラライザ18
の方位角θ1が1/4波長板20の遅い軸noと一致して
いるときは、対物レンズ16の透過光のうちの遅い軸n
o方向の偏光光が1/4波長板20による90゜位相遅
れの後に輪帯偏光板22に入射する。このようにして、
ポラライザ18と1/4波長板20とによって物体14
からの光のうちの直交する2つの直線偏光成分の位相差
を任意に調整可能であり、1/4波長板20の出力光に
与えられる位相差αは、α=2θ1−π/2で表わされ
る。
For example, the azimuth angle θ1 of the polarizer 18 is 1
When it coincides with the fast axis n e of the / 4 wavelength plate 20, the polarized light in the fast axis n e direction of the transmitted light of the objective lens 16 enters the annular polarization plate 22 as it is. Polarizer 18
When the azimuth angle .theta.1 of the object coincides with the slow axis no of the quarter-wave plate 20, the slow axis n of the transmitted light of the objective lens 16 is transmitted.
The polarized light in the o direction is incident on the annular polarization plate 22 after a phase delay of 90 ° due to the quarter-wave plate 20. In this way,
The object 14 is formed by the polarizer 18 and the quarter-wave plate 20.
It is possible to arbitrarily adjust the phase difference between the two linearly polarized light components orthogonal to each other out of the light from, and the phase difference α given to the output light of the quarter-wave plate 20 is represented by α = 2θ1−π / 2. Be done.

【0020】輪帯偏光板22は、輪帯部22aと、それ
以外の中央部22bによって構成されている。輪帯部2
2aは、図2(C)に矢印で示すように、y軸に平行な
偏波面の直線偏光成分のみを透過させ、中央部分22b
はx軸に平行な偏波面の直線偏光成分のみを透過させ
る。また、輪帯偏光板22の輪帯部22aの大きさは、
位相物体14の位置に設計された所定の厚みのスライド
ガラスなどの光透過性の平行平板以外の物体が存在しな
いときに、対物レンズ16の瞳位置近傍に形成されるリ
ング絞り10の空間像の大きさに一致させるようにす
る。つまり、位相物体14によって回折されない直接光
(0次光)の大きさに一致させる。このような構成によ
って、0次光についてはy方向に平行な直線偏光成分Y
0が抽出され、回折光についてはx方向に平行な直線偏
光成分Xdが抽出される。
The ring-shaped polarizing plate 22 is composed of a ring-shaped portion 22a and a central portion 22b other than that. Zone 2
2a transmits only the linearly polarized light component of the polarization plane parallel to the y-axis, as shown by the arrow in FIG.
Transmits only the linearly polarized light component of the plane of polarization parallel to the x-axis. Further, the size of the ring portion 22a of the ring polarizing plate 22 is
When there is no object other than a light-transmissive parallel plate such as a slide glass having a predetermined thickness designed at the position of the phase object 14, the aerial image of the ring diaphragm 10 formed near the pupil position of the objective lens 16 is formed. Try to match the size. That is, the magnitude of the direct light (0th-order light) that is not diffracted by the phase object 14 is matched. With such a configuration, for the 0th-order light, the linearly polarized light component Y parallel to the y direction is generated.
0 is extracted, and the linearly polarized light component Xd parallel to the x direction is extracted from the diffracted light.

【0021】次に、アナライザ24は、図2(D)に示
すように、アナライザ角θ2に平行な偏波面の直線偏光
成分の光線iを光軸AXの方向に透過する機能を有して
いる。アナライザ角θ2は、例えば45°に設定されて
いる。アナライザ24を透過する可干渉な光線iは、対
物レンズ16の像面上で干渉像を形成する。
Next, as shown in FIG. 2D, the analyzer 24 has a function of transmitting the light ray i of the linearly polarized component of the plane of polarization parallel to the analyzer angle θ 2 in the direction of the optical axis AX. There is. The analyzer angle θ 2 is set to 45 °, for example. The coherent light ray i passing through the analyzer 24 forms an interference image on the image plane of the objective lens 16.

【0022】このアナライザ24によって、物体の0次
スペクトル成分とそれ以外のスペクトル成分の間に付加
される位相差がπだけ異なる2つの干渉像を形成する可
干渉の偏光成分が取り出される。詳述すると、輪帯偏光
板22からは、図2(C)に示したように、0次光につ
いてはy方向の偏光成分Y0, 回折光についてはx方向
の偏光成分Xdがそれぞれ出力される。これに対し、ア
ナライザ24では、図2(D)に示すi方向の偏光成分
が透過する。すなわち、0次光,回折光それぞれについ
て、i方向成分がアナライザ24を透過する。このた
め、両者が干渉して明暗の画像が観察されるようにな
る。
The analyzer 24 extracts coherent polarized components forming two interference images having a phase difference of π added between the 0th-order spectral component of the object and the other spectral components. More specifically, as shown in FIG. 2 (C), the annular polarization plate 22 outputs the y-direction polarization component Y0 for the 0th-order light and the x-direction polarization component Xd for the diffracted light. . On the other hand, in the analyzer 24, the polarized component in the i direction shown in FIG. That is, the i-direction component of each of the 0th-order light and the diffracted light passes through the analyzer 24. For this reason, the two interfere with each other and a bright and dark image is observed.

【0023】次に、以上のようにして得られる光学像に
ついて、数式を用いて説明する。なお、以下の説明で
は、結像系のOTFの影響は考慮しないこととし、輪帯
偏光板22の輪帯部22aの幅は十分に小さくハロなど
の影響もないものとする。観察対象である位相物体14
の透過光分布O(x,y)は、例えば次の(1)式で表わさ
れる。この(1)式は複素表示であり、exp[jφ(x,
y)]は位相成分を表わす。「j」は虚数単位である。
Next, the optical image obtained as described above will be described using mathematical expressions. In the following description, it is assumed that the influence of the OTF of the image forming system is not taken into consideration, and the width of the ring zone 22a of the ring polarization plate 22 is sufficiently small and there is no influence of halo or the like. Phase object 14 to be observed
The transmitted light distribution O (x, y) of is expressed by, for example, the following equation (1). This equation (1) is a complex representation, and exp [jφ (x,
y)] represents the phase component. "J" is an imaginary unit.

【0024】[0024]

【数1】 [Equation 1]

【0025】次に、輪帯偏光板22の輪帯部22aで
は、入射光に対して一定の振幅変化aと位相変化αが与
えられるので、その透過光分布は(2)式によって示さ
れる。
Next, in the annular zone 22a of the annular polarization plate 22, a constant amplitude change a and phase change α are given to the incident light, so the transmitted light distribution is expressed by equation (2).

【0026】[0026]

【数2】 [Equation 2]

【0027】次に、光線iに相当する像面上の強度分布
I(x,y)は、次の(3)式で示される(例えば、東海大
出版会「光学の原理II」P.639参照)。なお、同式
中、Aは前記(2)式,Cは定数である。この(3)式に
前記(1)及び(2)式を代入して整理すると、(4)式
となる。
Next, the intensity distribution I (x, y) on the image plane corresponding to the ray i is expressed by the following equation (3) (for example, Tokai Univ., "Principle of Optics II", P.639). reference). In the equation, A is the equation (2) and C is a constant. Substituting equations (1) and (2) into equation (3) and rearranging yields equation (4).

【0028】[0028]

【数3】 (Equation 3)

【数4】 (Equation 4)

【0029】更に、これを、ダークコントラスト像I-
(x,y),ブライトコントラスト像I+(x,y)に対応し
て書き直すと、それぞれ次の(5),(6)式に示すよう
になる。なお、上述したように、α=2θ1−π/2で
ある。これら(5),(6)式から明らかなように、ポラ
ライザ18の方位角θ1を変化させることによって、像
のダークコントラストからブライトコントラストまで連
続的に変化させることが可能である。なお、(5),
(6)式の第1項に対する第2項の比は、位相物体14
の像のコントラストを示すが、これらの比も、同様にポ
ラライサ18の方位角θ1によって連続的に変化させる
ことができる。
Furthermore, this, dark-contrast images I -
Rewriting for (x, y) and the bright contrast image I + (x, y) gives the following equations (5) and (6), respectively. As described above, α = 2θ1−π / 2. As is clear from these equations (5) and (6), by changing the azimuth angle θ1 of the polarizer 18, it is possible to continuously change from dark contrast to bright contrast of the image. In addition, (5),
The ratio of the second term to the first term in equation (6) is determined by the phase object 14
The contrast of these images is shown, and these ratios can be similarly continuously changed by the azimuth angle θ1 of the polarizer 18.

【0030】[0030]

【数5】 (Equation 5)

【数6】 (Equation 6)

【0031】[0031]

【実施例1】次に、図3を参照しながら実施例1につい
て説明する。光源40としては水銀ランプが用いられて
おり、これから射出された光線は干渉フィルタ42によ
って最適な波長が選択される。干渉フィルタ42を透過
した光は、コレクタレンズ44,第一リレーレンズ4
6,第2リレーレンズ48を順に経て、コンデンサレン
ズ12の瞳位置近傍に位置するリング絞り10に入射す
る。
First Embodiment Next, a first embodiment will be described with reference to FIG. A mercury lamp is used as the light source 40, and the optimum wavelength of the light beam emitted from this is selected by the interference filter 42. The light transmitted through the interference filter 42 is collected by the collector lens 44 and the first relay lens 4
6, through the second relay lens 48 in this order, and enters the ring diaphragm 10 located near the pupil position of the condenser lens 12.

【0032】リング絞り10を通過した光は、コンデン
サレンズ12によって屈折し、スライドガラス13上の
位相物体14を透過照明する。位相物体14を透過した
光は対物レンズ16に入射する。この対物レンズ16の
瞳位置近傍には、回転可能なポラライザ18,1/4波
長板20,輪帯偏光板22,及びアナライザ24が配置
されている。対物レンズ16で屈折した光は、それらポ
ラライザ18,1/4波長板20,輪帯偏光板22を順
に通過し、更にアナライザ24に入射する。そして、所
定の偏光方向の光がアナライザ24を透過して光線iと
なり、これが接眼レンズ50を介して肉眼(図示せず)
に入射する。これにより、対物レンズ16の像平面に形
成された像が接眼レンズ50を介して観察される。
The light that has passed through the ring diaphragm 10 is refracted by the condenser lens 12 and illuminates the phase object 14 on the slide glass 13 through transmission. The light transmitted through the phase object 14 enters the objective lens 16. A rotatable polarizer 18, a quarter-wave plate 20, an annular polarizing plate 22, and an analyzer 24 are arranged near the pupil position of the objective lens 16. The light refracted by the objective lens 16 sequentially passes through the polarizer 18, the quarter-wave plate 20, and the annular polarizing plate 22, and then enters the analyzer 24. Then, light of a predetermined polarization direction passes through the analyzer 24 and becomes a light ray i, which is transmitted through the eyepiece lens 50 to the naked eye (not shown).
Incident on. As a result, the image formed on the image plane of the objective lens 16 is observed through the eyepiece lens 50.

【0033】観察者は、ポラライザ18の方位角θ1を
調整することで、前記(5),(6)式に示したように像
のコントラストを調整することができ、所望のコントラ
ストの像を観察できる。
By adjusting the azimuth angle θ1 of the polarizer 18, the observer can adjust the image contrast as shown in the equations (5) and (6), and observe the image with the desired contrast. it can.

【0034】[0034]

【実施例2】次に、図6を参照しながら実施例2につい
て説明する。前記実施例1とほぼ同様の構成であるが、
ポラライザ18の設置箇所が異なる。すなわち、本実施
例では、ポラライザ18がコンデンサレンズ12の瞳平
面近傍に配置されている。コンデンサレンズ12の瞳と
対物レンズ16の瞳は共役関係にあるので、同様の像を
観察することができる。
Second Embodiment Next, a second embodiment will be described with reference to FIG. Although the configuration is almost the same as that of the first embodiment,
The installation location of the polarizer 18 is different. That is, in this embodiment, the polarizer 18 is arranged near the pupil plane of the condenser lens 12. Since the pupil of the condenser lens 12 and the pupil of the objective lens 16 have a conjugate relationship, a similar image can be observed.

【0035】この実施例は、特に、ポラライザ18の平
面度が良好でないときや、ポラライザ18の回転軸が光
軸AXに対して完全に垂直でないときに有効である。こ
のような状況でポラライザ18を回転させた場合でも、
像平面上での像の移動が生じないという利点がある。
This embodiment is particularly effective when the flatness of the polarizer 18 is not good or when the rotation axis of the polarizer 18 is not completely perpendicular to the optical axis AX. Even if the polarizer 18 is rotated in such a situation,
There is an advantage that the image does not move on the image plane.

【0036】[0036]

【実施例の基本的形態2】次に、実施例の基本的な形態
2について図5を参照しながら説明する。この例は、図
1に示した基本的形態1に対して、アナライザ24の代
わりに偏光ビームスプリッタ52を設けたものである。
なお、偏光ビームスプリッタ52によって光軸AXを折
り返した反射側光軸AX1に直交し、かつ直交座標(X
1,Y1)〜(X5,Y5)と同じ方位となるように、直交
座標(X6,Y6)を設定する。
[Basic Form 2 of Embodiment] Next, a basic form 2 of the embodiment will be described with reference to FIG. In this example, a polarization beam splitter 52 is provided instead of the analyzer 24 in addition to the basic form 1 shown in FIG.
It should be noted that the polarization beam splitter 52 is orthogonal to the reflection-side optical axis AX1 where the optical axis AX is folded back, and the orthogonal coordinate (X
1, Y 1) ~ (X 5, Y 5) so as to have the same orientation as, sets an orthogonal coordinate (X 6, Y 6).

【0037】偏光ビームスプリッタ52は、図6(A)
に示すように、アナライザ角θ2に平行な偏波面の直線
偏光成分の光線i1を光軸AXの方向に透過し、反アナ
ライザ角θ3=θ2+90°に平行な偏波面の直線偏光成
分の光線i2を光軸AX1の方向の反射させる機能を有
している。例えば、アナライザ角θ2は45°に設定さ
れ、反アナライザ角θ3は45+90=135°に設定
される。偏光ビームスプリッタ52を透過する可干渉な
光線i1は、対物レンズ16の像面上でダークコントラ
ストの干渉像I-(x,y)を形成する。偏光ビームスプリ
ッタ52によって反射される可干渉な光線i2は、対物
レンズ16の像面上でブライトコントラストの干渉像I
+(x,y)を形成する。
The polarization beam splitter 52 is shown in FIG.
As shown in, the ray i1 of the linearly polarized component of the plane of polarization parallel to the analyzer angle θ 2 is transmitted in the direction of the optical axis AX, and the linearly polarized component of the plane of polarization parallel to the anti-analyzer angle θ 3 = θ 2 + 90 ° It has a function of reflecting the light ray i2 in the direction of the optical axis AX1. For example, the analyzer angle θ 2 is set to 45 ° and the anti-analyzer angle θ 3 is set to 45 + 90 = 135 °. The coherent ray i1 that passes through the polarization beam splitter 52 forms a dark contrast interference image I (x, y) on the image plane of the objective lens 16. The coherent ray i2 reflected by the polarization beam splitter 52 is a bright contrast interference image I on the image plane of the objective lens 16.
Form + (x, y).

【0038】この偏光ビームスプリッタ52によって、
物体の0次スペクトル成分とそれ以外のスペクトル成分
の間に付加される位相差がπだけ異なる2つの干渉像を
形成する可干渉の偏光成分が取り出される。詳述する
と、輪帯偏光板22からは、図2(C)に示したよう
に、0次光についてはy方向の偏光成分Y0, 回折光に
ついてはx方向の偏光成分Xdがそれぞれ出力される。
これに対し、偏光ビームスプリッタ52では、図6
(A)に示すi1方向の偏光成分が透過し、i2方向の偏
光成分が反射される。従って、0次光については、図6
(B)に示すように、i1方向成分Y01が透過され、i2
方向成分Y02が反射される。回折光についても同様であ
り、同図(C)に示すように、i1方向成分Xd1が透過さ
れ、i2方向成分XYd2が反射される。
With this polarization beam splitter 52,
A coherent polarization component forming two interference images having a phase difference of π added between the 0th-order spectral component of the object and the other spectral components is extracted. More specifically, as shown in FIG. 2 (C), the annular polarization plate 22 outputs the y-direction polarization component Y0 for the 0th-order light and the x-direction polarization component Xd for the diffracted light. .
On the other hand, in the polarization beam splitter 52, as shown in FIG.
The polarized component in the i1 direction shown in (A) is transmitted, and the polarized component in the i2 direction is reflected. Therefore, regarding the 0th-order light, as shown in FIG.
As shown in (B), the i1 direction component Y01 is transmitted and i2
The directional component Y02 is reflected. The same applies to diffracted light. As shown in FIG. 7C, the i1 direction component Xd1 is transmitted and the i2 direction component XYd2 is reflected.

【0039】i1方向の透過成分は、図6(B)のY01と
同図(C)のXd1であり、両者は平行な直線偏光であ
る。このため、両者が干渉して明暗の画像が観察される
ようになる。i2方向の透過成分は、図6(B)のY02と
同図(C)のXd2であり、両者は平行な直線偏光であ
る。このため、両者が干渉して明暗の画像が観察される
ようになる。
The transmission component in the i1 direction is Y01 in FIG. 6B and Xd1 in FIG. 6C, both of which are parallel linearly polarized light. For this reason, the two interfere with each other and a bright and dark image is observed. The transmission component in the i2 direction is Y02 in FIG. 6 (B) and Xd2 in FIG. 6 (C), both of which are parallel linearly polarized light. For this reason, the two interfere with each other and a bright and dark image is observed.

【0040】次に、以上のような干渉像を利用して純粋
な位相分布像を得るための手法を、数式を用いて説明す
る。なお、上述した場合と同様にして、結像系のOTF
の影響は考慮しないこととし、輪帯偏光板22の輪帯部
22aの幅は十分に小さくハロなどの影響もないものと
する。観察対象である位相物体14の透過光分布O(x,
y)は、例えば次の(7)式で表わされるものとする。
Next, a method for obtaining a pure phase distribution image using the above interference image will be described using mathematical expressions. Note that the OTF of the imaging system is similar to the above case.
The influence of the above is not taken into consideration, and the width of the ring zone 22a of the ring polarization plate 22 is sufficiently small and there is no influence of halo or the like. The transmitted light distribution O (x, of the phase object 14 to be observed is
y) is represented by, for example, the following equation (7).

【0041】[0041]

【数7】 (Equation 7)

【0042】ここで、ρ(x,y)は振幅成分を表わし、e
xp[jφ(x,y)]は位相成分を表わす。ここで、位相
物体14の大きさが、(x,y)=(2g,2h)であるとする
と、物体の平均振幅bは、それらの範囲で積分を行って
全面積で割ればよいから、次の(8)式で示される。
Here, ρ (x, y) represents an amplitude component, and e
xp [jφ (x, y)] represents a phase component. Here, if the size of the phase object 14 is (x, y) = (2g, 2h), the average amplitude b of the object may be integrated in these ranges and divided by the total area. It is shown by the following equation (8).

【0043】[0043]

【数8】 (Equation 8)

【0044】次に、(2)式に示したように、輪帯偏光
板22の輪帯部22aでは、入射光に対して一定の振幅
変化a1と位相変化αが与えられるので、その透過特性
は(9)式によって示される。
Next, as shown in the equation (2), the annular zone 22a of the annular polarizing plate 22 is given a constant amplitude change a1 and phase change α with respect to the incident light. Is given by equation (9).

【0045】[0045]

【数9】 [Equation 9]

【0046】次に、光線i1,i2に対応した各像平面上
での強度分布I(x,y)は、次の(10)式で示される
(例えば、東海大出版会「光学の原理II」P.639参
照)。なお、同式中、Aは振幅透過率,CはC1*b,C
1は定数である。この(10)式に前記(8)式を代入して
整理すると、(11)式となる。
Next, the intensity distribution I (x, y) on each image plane corresponding to the rays i1 and i2 is expressed by the following equation (10) (for example, Tokai Univ. (See page 639). In the equation, A is the amplitude transmittance, C is C1 * b, C
1 is a constant. Substituting equation (8) into equation (10) and rearranging it yields equation (11).

【0047】[0047]

【数10】 (Equation 10)

【数11】 [Equation 11]

【0048】ここで、a1=sinθ1,a2=cosθ1,α=
−π/2であり、θ2=θ1+π/2であることから、これ
らを(11)式に代入して光線i1,i2に対応した各像平
面上での強度分布Ii1(x,y),Ii2(x,y)を求める
と、次の(12),(13)式のようになる。
Here, a1 = sin θ1, a2 = cos θ1, α =
Since −π / 2 and θ 2 = θ 1 + π / 2, these are substituted into the equation (11) and the intensity distribution Ii1 (x, y on the image plane corresponding to the rays i1 and i2 is obtained. ) And Ii2 (x, y) are obtained, the following equations (12) and (13) are obtained.

【0049】[0049]

【数12】 (Equation 12)

【数13】 (Equation 13)

【0050】そして、これら強度分布Ii1(x,y),Ii
2(x,y)と、ダークコントラスト像I-(x,y),ブライ
トコントラスト像I+(x,y)との関係を示すと、次の
(14),(15)式にそれぞれ示すようになる。
Then, these intensity distributions Ii1 (x, y), Ii
The relationship between 2 (x, y) and the dark contrast image I (x, y) and the bright contrast image I + (x, y) is shown in the following equations (14) and (15), respectively. become.

【0051】[0051]

【数14】 [Equation 14]

【数15】 (Equation 15)

【0052】ここで、両者の差画像を得ると、次の(1
6)式のようになる。これに、(12)式及び(13)式を
代入すると、(17)式に示すようになる。
Here, when the difference image between the two is obtained, the following (1
6) It becomes like the formula. By substituting the equations (12) and (13) into this, the equation (17) is obtained.

【0053】[0053]

【数16】 (Equation 16)

【数17】 [Equation 17]

【0054】この(17)式において、ポラライザ18の
方位角θ1をπ/4とすると、次の(18)のようにな
り、更にφ(x,y)が小さいとすると、(19)式のよう
になる。これらの式に示すように、差画像は物体に位相
変化が生じたときのみ画像化される。
In this equation (17), assuming that the azimuth angle θ1 of the polarizer 18 is π / 4, the following equation (18) is obtained, and assuming that φ (x, y) is smaller, equation (19) Like As shown in these equations, the difference image is imaged only when a phase change occurs in the object.

【0055】[0055]

【数18】 (Equation 18)

【数19】 [Equation 19]

【0056】ところで、一般に位相物体14の振幅分布
は平坦であって、ρ(x,y)≒bと見做せる。すると、
前記(19)式は完全に位相分布φ(x,y)に比例するよ
うになり、位相分布像のみを良好に観察することができ
る。なお、振幅分布ρ(x,y)の値が位相物体14の位
置によって多少変化したとしても、(19)式の差画像の
強度分布は、位相物体14の平均振幅bによって規格化
された振幅量しか変調を受けない。また、ポラライザ1
8のを回転させると、45゜毎に差画像の強度が増大し
たり、低下したりすることとなる。更に、ポラライザ1
8の方位角をθ1≠π/4とすると、振幅分布像を観察
することも可能となり、位相変化のない物体も画像化で
きる。
By the way, in general, the amplitude distribution of the phase object 14 is flat and can be regarded as ρ (x, y) ≈b. Then
The equation (19) becomes completely proportional to the phase distribution φ (x, y), and only the phase distribution image can be observed well. Even if the value of the amplitude distribution ρ (x, y) changes a little depending on the position of the phase object 14, the intensity distribution of the difference image of the equation (19) has the amplitude normalized by the average amplitude b of the phase object 14. Only the amount is modulated. Also, Polarizer 1
When 8 is rotated, the intensity of the difference image increases or decreases every 45 °. Furthermore, Polarizer 1
When the azimuth angle of 8 is θ1 ≠ π / 4, it is possible to observe an amplitude distribution image, and an object without a phase change can be imaged.

【0057】上述したように、背景技術によれば、液晶
セルという複雑な構成の可変位相手段が必要とされるの
に対し、本発明では、ポラライザと1/4波長板という
極めて一般的な光学素子を用いるのみで簡単に可変位相
手段が実現されている。
As described above, according to the background art, a variable phase means having a complicated structure called a liquid crystal cell is required, whereas in the present invention, an extremely general optical system including a polarizer and a quarter wave plate is used. The variable phase means is easily realized only by using the element.

【0058】[0058]

【実施例3】次に、図7を参照しながら、前記基本的形
態2に対応する実施例3について説明する。光源40か
ら偏光ビームスプリッタ52に至る構成は、前記図5と
同様であり、ポラライザ18の方位角θ1は1/4波長
板20の光学軸に対して45°の方位,偏光ビームスプ
リッタ52のアナライザ角は1/4波長板20の光学軸
に対して45°の方位となっている。
Third Embodiment Next, a third embodiment corresponding to the basic mode 2 will be described with reference to FIG. The configuration from the light source 40 to the polarization beam splitter 52 is the same as that in FIG. 5, and the azimuth angle θ 1 of the polarizer 18 is 45 ° with respect to the optical axis of the ¼ wavelength plate 20, and the polarization beam splitter 52 has the same azimuth angle θ 1 . The analyzer angle has an azimuth of 45 ° with respect to the optical axis of the quarter-wave plate 20.

【0059】偏光ビームスプリッタ52では、アナライ
ザ角に平行な偏波面の直線偏光の光線i1が透過し、ア
ナライザ角に垂直な偏波面の直線偏光の光線i2が反射
される。これらのうち、光線i1はレンズ54によって
屈折され、対物レンズ16の物平面に共役な像平面に干
渉像が形成される。そして、像平面上に光検知面が位置
する2次元撮像素子56によって光学像が光電変換さ
れ、2次元撮像素子56から映像信号が出力される。他
方、光線i2はレンズ58によって屈折され、対物レン
ズ16の物平面に共役な像平面に干渉像が形成される。
そして、像平面上に光検知面が位置する2次元撮像素子
60によって光学像が光電変換され、2次元撮像素子6
0から映像信号が出力される。
The polarization beam splitter 52 transmits a linearly polarized light ray i1 having a plane of polarization parallel to the analyzer angle and a linearly polarized light ray i2 having a plane of polarization perpendicular to the analyzer angle. Among these, the light ray i1 is refracted by the lens 54, and an interference image is formed on an image plane conjugate with the object plane of the objective lens 16. Then, the optical image is photoelectrically converted by the two-dimensional image pickup device 56 whose light detection surface is located on the image plane, and a video signal is output from the two-dimensional image pickup device 56. On the other hand, the light ray i2 is refracted by the lens 58, and an interference image is formed on an image plane conjugate with the object plane of the objective lens 16.
Then, the optical image is photoelectrically converted by the two-dimensional image pickup device 60 having the light detection surface on the image plane, and the two-dimensional image pickup device 6
A video signal is output from 0.

【0060】撮像素子56,60から出力された2つの
映像信号は、差動増幅器62に入力され、差動増幅器6
2から差動信号が出力される。この差動信号は、画像表
示部64に出力され、ここで位相物体の像が表示され
る。なお、対物レンズ16の視野内の任意の位置の物点
と、これと共役な2つの像点に対応する映像信号内の位
置の情報(例えばクロックパルスの数)が完全に一致す
るように、(つまり、もし物体が振幅分布のみで示され
る場合に、差動信号がゼロになるように)、2つの2次
元撮像素子56,60の光軸を横切る方向の位置や信号
の出力タイミングなどが調整されている。画像表示部6
4の観察者は、回転可能なポラライザ18の光軸AXに
対する方位角θ1を調整することで、差動出力の大き
さ,別言すればコントラストを調整できる。
The two video signals output from the image pickup devices 56 and 60 are input to the differential amplifier 62, and the differential amplifier 6
A differential signal is output from 2. This differential signal is output to the image display unit 64, where an image of the phase object is displayed. It should be noted that an object point at an arbitrary position within the field of view of the objective lens 16 and information on the position (for example, the number of clock pulses) in the video signal corresponding to the two image points conjugate with the object point are completely matched. (That is, if the object is represented by only the amplitude distribution, the differential signal becomes zero.) The positions of the two two-dimensional image pickup devices 56 and 60 in the direction crossing the optical axis, the signal output timing, and the like are Has been adjusted. Image display section 6
The observer of No. 4 can adjust the magnitude of the differential output, in other words, the contrast by adjusting the azimuth angle θ1 of the rotatable polarizer 18 with respect to the optical axis AX.

【0061】コントラストは、明暗の相対強度を示す。
本画像では、位相差によって明暗が逆転する。例えば、
グレーレベルを位相差ゼロとすると、黒は−側,白は+
側の位相を表わす画像を形成する。このとき、ポラライ
ザ18を回転すると、黒い部分と白い部分のコントラス
トが向上して見えるが、実際はグレーレベルを中心にゲ
インを調整しているにすぎない。
Contrast indicates the relative intensity of light and dark.
In this image, light and dark are reversed due to the phase difference. For example,
Assuming that the gray level has no phase difference, black is on the negative side and white is on the positive side.
An image representing the side phase is formed. At this time, when the polarizer 18 is rotated, the contrast between the black part and the white part appears to be improved, but in reality, the gain is merely adjusted around the gray level.

【0062】[0062]

【実施例4】次に、図8を参照しながら実施例4につい
て説明する。光源40から対物レンズ16に至る部分
は、前記実施例3と同様である。本実施例では、ポララ
イザ18のポラライザ角が、θ1=45゜の方位と、こ
れに直角な方位θ1=135°にアクチュエータ70に
よって切り替えられるようになっている。また、アナラ
イザ72のアナライザ角が、1/4波長板20の光学軸
に対して45°の方位となっている。
Fourth Embodiment Next, a fourth embodiment will be described with reference to FIG. The part from the light source 40 to the objective lens 16 is the same as that in the third embodiment. In the present embodiment, the polarizer angle of the polarizer 18 is switched by the actuator 70 between the azimuth of θ 1 = 45 ° and the azimuth θ 1 = 135 ° perpendicular to the azimuth. Further, the analyzer angle of the analyzer 72 is oriented at 45 ° with respect to the optical axis of the quarter-wave plate 20.

【0063】コンピュータ74によってアクチュエータ
70の動作が制御され、ポラライザ18のポラライザ角
が45°となったときは、実施例3の直線偏光の光i1
がアナライザ72から出力され、ポラライザ角が135
°となったときは、実施例3の直線偏光の光i2がアナ
ライザ72から出力される。
When the operation of the actuator 70 is controlled by the computer 74 and the polarizer angle of the polarizer 18 becomes 45 °, the linearly polarized light i1 of the third embodiment is obtained.
Is output from the analyzer 72 and the polarizer angle is 135
When the angle becomes 0, the linearly polarized light i2 of the third embodiment is output from the analyzer 72.

【0064】これら光線i1又は光線i2は、レンズ54
によって屈折され、対物レンズ16の物平面に共役な像
平面に干渉像が形成される。そして、像平面上に光検知
面が位置する2次元撮像素子56によって光学像が光電
変換され、2次元撮像素子56から映像信号が出力され
る。前記2つのポラライザ角に対応して得られる2つの
画像信号は、画像格納部76でA/D変換され、2つの
画像データとして格納される。これらの画像データは、
コンピュータ74に供給される。
The light ray i1 or the light ray i2 is transmitted to the lens 54.
Is refracted by, and an interference image is formed on an image plane conjugate with the object plane of the objective lens 16. Then, the optical image is photoelectrically converted by the two-dimensional image pickup device 56 whose light detection surface is located on the image plane, and a video signal is output from the two-dimensional image pickup device 56. The two image signals obtained corresponding to the two polarizer angles are A / D converted by the image storage unit 76 and stored as two image data. These image data are
It is supplied to the computer 74.

【0065】コンピュータ74では、画像格納部76内
の2つの画像データから、それら像の差に等しい差画像
データが算出され、これがD/A変換の後、画像表示部
64に出力されて差画像が表示される。観察者は、イン
ターフェース78を介してコンピュータ74に必要な情
報,例えば画像取り込みの指示,記憶された画像データ
の呼出しなどを指示することができる。
In the computer 74, the difference image data equal to the difference between the two images is calculated from the two image data in the image storage section 76, and after this D / A conversion, it is output to the image display section 64 and the difference image data is outputted. Is displayed. The observer can instruct the computer 74 through the interface 78 about necessary information, for example, an instruction to capture an image and a call to stored image data.

【0066】この実施例4によれば、実施例3と比較し
て、1つの撮像素子のみを用いて差画像を得ることがで
きるという利点がある。
According to the fourth embodiment, compared with the third embodiment, there is an advantage that a difference image can be obtained by using only one image pickup device.

【0067】[0067]

【実施例5】次に、図9を参照しながら実施例5につい
て説明する。前記実施例4とほぼ同様の構成であるが、
ポラライザ18の設置箇所が異なる。すなわち、本実施
例では、実施例2と同様に、ポラライザ18がコンデン
サレンズ12の瞳平面近傍に配置されている。光学的に
は実施例4と等価であるが、ポラライザ18の平面度が
良好でないときや、ポラライザ18の回転軸が光軸AX
に対して完全に垂直でないときに本実施例は有効であ
る。このような状況でアクチュエータ70によってポラ
ライザ18を回転させた場合でも、像平面で像が移動す
ることがなく、位置が完全に一致した2つの画像を2つ
のポラライザ角に対応させて得ることができる。従っ
て、差画像が容易に得られる。
Fifth Embodiment Next, a fifth embodiment will be described with reference to FIG. Although the configuration is almost the same as that of the fourth embodiment,
The installation location of the polarizer 18 is different. That is, in the present embodiment, the polarizer 18 is arranged near the pupil plane of the condenser lens 12 as in the second embodiment. Although it is optically equivalent to the fourth embodiment, when the flatness of the polarizer 18 is not good, or the rotation axis of the polarizer 18 is the optical axis AX.
This embodiment is effective when it is not completely perpendicular to. Even when the polarizer 18 is rotated by the actuator 70 in such a situation, the image does not move on the image plane, and two images whose positions are completely matched can be obtained corresponding to two polarizer angles. . Therefore, a difference image can be easily obtained.

【0068】[0068]

【実施例6】次に、図10を参照しながら実施例6につ
いて説明する。この実施例6は、前記実施例4,5の変
形例である。実施例4,5では、アクチュエータ70に
よってポラライザ18が回転するが、本実施例ではアナ
ライザ72が回転する構成となっている。すなわち、ア
ナライザ角が1/4波長板20の光学軸に対して45
°,135°となるように、アクチュエータ70によっ
てアナライザ72が回転駆動される。そして、各アナラ
イザ角に対応する2つの画像がそれぞれ2次元撮像素子
56で光電変換により取り込まれる。なお、ポラライザ
18の方位は45°に設定されている。
Sixth Embodiment Next, a sixth embodiment will be described with reference to FIG. The sixth embodiment is a modification of the fourth and fifth embodiments. In the fourth and fifth embodiments, the polarizer 70 is rotated by the actuator 70, but in this embodiment, the analyzer 72 is rotated. That is, the analyzer angle is 45 with respect to the optical axis of the quarter-wave plate 20.
The analyzer 72 is rotationally driven by the actuator 70 so that the angle becomes 135 °. Then, the two images corresponding to the respective analyzer angles are captured by the two-dimensional image sensor 56 by photoelectric conversion. The azimuth of the polarizer 18 is set to 45 °.

【0069】[0069]

【他の実施例】この発明には数多くの実施の形態があ
り、以上の開示に基づいて多様に改変することが可能で
ある。例えば、次のようなものも含まれる。 (1)前記実施例では、CCDなどの2次元撮像素子を
用いたが、撮像手段であれば、どのようなものを用いて
もよい。また、アナライザ出力を光学的に観察するよう
にしてもよい。
Other Embodiments The present invention has many embodiments and can be variously modified based on the above disclosure. For example, the following is also included. (1) In the above embodiment, a two-dimensional image pickup device such as a CCD was used, but any image pickup means may be used. Also, the analyzer output may be optically observed.

【0070】(2)その他、必要に応じてリレー光学系
やミラーを用いてよい。光源も、水銀ランプの他、各種
のものを用いてよい。
(2) In addition, a relay optical system or a mirror may be used if necessary. As the light source, various ones other than the mercury lamp may be used.

【0071】(3)前記実施例は、本発明を主として顕
微鏡に適用したものであるが、物体の表面観察装置全般
に本発明は適用可能である。例えば、物体の段差測定,
磁気ヘッド,ウエハ,レチクルなどの欠陥検査,物体の
表面形状を加味した位置測定に有効である。
(3) In the above-mentioned embodiment, the present invention is mainly applied to a microscope, but the present invention can be applied to all surface observing devices for objects. For example, measuring the step of an object,
It is effective for defect inspection of magnetic heads, wafers, reticles, etc., and position measurement taking into consideration the surface shape of the object.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】この発明の実施例の基本的形態1を示す斜視図
である。
FIG. 1 is a perspective view showing a basic form 1 of an embodiment of the present invention.

【図2】図1の各構成要素の基本的な作用を示す図であ
る。
FIG. 2 is a diagram showing a basic operation of each component of FIG.

【図3】本発明の実施例1を示す図である。FIG. 3 is a diagram showing a first embodiment of the present invention.

【図4】本発明の実施例2を示す図である。FIG. 4 is a diagram showing a second embodiment of the present invention.

【図5】この発明の実施例の基本的形態2を示す斜視図
である。
FIG. 5 is a perspective view showing a basic form 2 of the embodiment of the invention.

【図6】図5の主要要素の基本的な作用を示す図であ
る。
FIG. 6 is a diagram showing the basic operation of the main elements of FIG.

【図7】本発明の実施例3を示す図である。FIG. 7 is a diagram showing Embodiment 3 of the present invention.

【図8】本発明の実施例4を示す図である。FIG. 8 is a diagram showing Embodiment 4 of the present invention.

【図9】本発明の実施例5を示す図である。FIG. 9 is a diagram showing a fifth embodiment of the present invention.

【図10】本発明の実施例6を示す図である。FIG. 10 is a diagram showing Embodiment 6 of the present invention.

【図11】位相差顕微鏡の一般的な構成を示す図であ
る。
FIG. 11 is a diagram showing a general configuration of a phase contrast microscope.

【図12】背景技術の位相板の構成を示す図である。FIG. 12 is a diagram showing a configuration of a phase plate of the background art.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10…リング絞り 12…コンデンサレンズ 14…位相物体 16…対物レンズ 18…ポラライザ 20…1/4波長板 22…輪帯偏向板 22a…輪帯部 22b…中央部 24…アナライザ 40…光源 42…干渉フィルタ 44…コレクタレンズ 46…第1リレーレンズ 48…第2リレーレンズ 50…接眼レンズ 52…偏光ビームスプリッタ(アナライザ) 54,58…レンズ 56,60…2次元撮像素子 62…差動増幅器 64…画像表示部 70…アクチュエータ 72…アナライザ 74…コンピュータ 76…画像格納部 78…インターフェース Reference numeral 10 ... Ring diaphragm 12 ... Condenser lens 14 ... Phase object 16 ... Objective lens 18 ... Polarizer 20 ... Quarter wave plate 22 ... Ring zone deflector 22a ... Ring zone 22b ... Center part 24 ... Analyzer 40 ... Light source 42 ... Interference Filter 44 ... Collector lens 46 ... First relay lens 48 ... Second relay lens 50 ... Eyepiece lens 52 ... Polarization beam splitter (analyzer) 54, 58 ... Lens 56, 60 ... Two-dimensional image sensor 62 ... Differential amplifier 64 ... Image Display unit 70 ... Actuator 72 ... Analyzer 74 ... Computer 76 ... Image storage unit 78 ... Interface

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 G01N 21/88 G01N 21/88 J G02B 21/00 G02B 21/00 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (51) Int.Cl. 6 Identification code Internal reference number FI Technical display location G01N 21/88 G01N 21/88 J G02B 21/00 G02B 21/00

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 観察対象の物体からの光を集光するため
の対物レンズ;物体を照明して、対物レンズの瞳近傍に
選択的にフィルタリング可能な光像を得るための照明手
段;回転可能なポラライザ及び1/4波長板を含み、対
物レンズからの入射光の直交する2つの直線偏光成分の
位相差を任意に調整するための位相差調整手段;この位
相差調整手段からの入射光の0次光及び回折光に対し、
前記1/4波長板の光学軸に対して同一及び直交する方
向でそれぞれ抽出するための第1フィルタ手段;この第
1フィルタ手段からの入射光から可干渉な偏光成分を得
るための第2フィルタ手段;を備えたことを特徴とする
物体観察装置。
1. An objective lens for collecting light from an object to be observed; illumination means for illuminating the object to obtain a selectively filterable light image in the vicinity of the pupil of the objective lens; rotatable. Phase difference adjusting means for arbitrarily adjusting the phase difference between two linearly polarized light components orthogonal to each other of the incident light from the objective lens, including a polarizer and a quarter wave plate; For 0th order light and diffracted light,
First filter means for extracting in the same and orthogonal directions with respect to the optical axis of the quarter-wave plate respectively; second filter for obtaining coherent polarization components from the incident light from the first filter means An object observing apparatus comprising: means.
【請求項2】 観察対象の物体からの光を集光するため
の対物レンズ;物体を照明して、対物レンズの瞳近傍に
選択的にフィルタリング可能な光像を得るための照明手
段;回転可能なポラライザ及び1/4波長板を含み、対
物レンズからの入射光の直交する2つの直線偏光成分の
位相差を任意に調整するための位相差調整手段;この位
相差調整手段からの入射光の0次光及び回折光に対し、
前記1/4波長板の光学軸に対して同一及び直交する方
向でそれぞれ抽出するための第1フィルタ手段;この第
1フィルタ手段からの入射光から、第1及び第2の異な
る方向において可干渉な偏光成分をそれぞれ得るための
第3フィルタ手段;この第3フィルタ手段によって得ら
れた第1の方向の可干渉な偏光成分に基づいて第1の像
を得るための第1の撮像手段;第3フィルタ手段によっ
て得られた第2の方向の可干渉な偏光成分に基づいて第
2の像を得るための第2の撮像手段;これらの撮像手段
によって得られた第1及び第2の像の差画像を得るため
の差画像生成手段;を備えたことを特徴とする物体観察
装置。
2. An objective lens for condensing light from an object to be observed; an illumination means for illuminating the object to obtain a selectively filterable optical image in the vicinity of the pupil of the objective lens; rotatable. Phase difference adjusting means for arbitrarily adjusting the phase difference between two linearly polarized light components orthogonal to each other of the incident light from the objective lens, including a polarizer and a quarter wave plate; For 0th order light and diffracted light,
First filter means for extracting in the same and orthogonal directions with respect to the optical axis of the quarter-wave plate respectively; coherent in first and second different directions from incident light from the first filter means Filter means for obtaining different polarization components respectively; first imaging means for obtaining a first image based on the coherent polarization components in the first direction obtained by the third filter means; 3 second image pickup means for obtaining a second image based on the coherent polarization component in the second direction obtained by the filter means; of the first and second images obtained by these image pickup means An object observation apparatus comprising: a difference image generating unit for obtaining a difference image.
【請求項3】 観察対象の物体からの光を集光するため
の対物レンズ;物体を照明して、対物レンズの瞳近傍に
選択的にフィルタリング可能な光像を得るための照明手
段;回転可能なポラライザ及び1/4波長板を含み、対
物レンズからの入射光の直交する2つの直線偏光成分の
位相差を任意に調整するための位相差調整手段;この位
相差調整手段からの入射光の0次光及び回折光に対し、
前記1/4波長板の光学軸に対して同一及び直交する方
向でそれぞれ抽出するための第1フィルタ手段;この第
1フィルタ手段からの入射光から可干渉な偏光成分を得
るための第2フィルタ手段;この第2フィルタ手段によ
って得られた偏光成分による像を得るための撮像手段;
前記ポラライザ又は第2フィルタ手段を第1の偏光方向
としたときに撮像された第1の像と、ポラライザ又は第
2フィルタ手段を第1の偏光方向と異なる第2の偏光方
向としたときに撮像された第2の像とを格納するための
メモリ手段;このメモリ手段に格納された第1及び第2
の像の差画像を得るための差画像生成手段;を備えたこ
とを特徴とする物体観察装置。
3. An objective lens for collecting light from an object to be observed; an illumination means for illuminating the object to obtain a light image that can be selectively filtered near the pupil of the objective lens; rotatable. Phase difference adjusting means for arbitrarily adjusting the phase difference between two linearly polarized light components orthogonal to each other of the incident light from the objective lens, including a polarizer and a quarter wave plate; For 0th order light and diffracted light,
First filter means for extracting in the same and orthogonal directions with respect to the optical axis of the quarter-wave plate respectively; second filter for obtaining coherent polarization components from the incident light from the first filter means Means; imaging means for obtaining an image by the polarization component obtained by the second filter means;
A first image taken when the polarizer or the second filter means is set to the first polarization direction, and an image when the polarizer or the second filter means is set to the second polarization direction different from the first polarization direction. Memory means for storing the stored second image; first and second stored in the memory means
Difference image generating means for obtaining a difference image of the image of the object.
【請求項4】 前記照明手段は、照明光を集光するため
のコンデンサレンズを含み、 前記ポラライザを前記コンデンサレンズの瞳近傍に配置
したことを特徴とする請求項1,2又は3記載の物体観
察装置。
4. The object according to claim 1, wherein the illuminating means includes a condenser lens for condensing illumination light, and the polarizer is arranged near a pupil of the condenser lens. Observation device.
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009092401A (en) * 2007-10-04 2009-04-30 Toyo Seikan Kaisha Ltd Apparatus and method for inspection
JP2009169420A (en) * 2008-01-18 2009-07-30 Gwangju Inst Of Science & Technology Polariscopic phase microscope
US9395529B2 (en) 2011-05-02 2016-07-19 Olympus Corporation Microinsemination method using microscope
JP2021110866A (en) * 2020-01-14 2021-08-02 浜松ホトニクス株式会社 Observation device and observation method

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