JPH09262230A - X ray ct apparatus - Google Patents

X ray ct apparatus

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Publication number
JPH09262230A
JPH09262230A JP8077447A JP7744796A JPH09262230A JP H09262230 A JPH09262230 A JP H09262230A JP 8077447 A JP8077447 A JP 8077447A JP 7744796 A JP7744796 A JP 7744796A JP H09262230 A JPH09262230 A JP H09262230A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
ray beam
ray
detector
beam generation
generation source
Prior art date
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Application number
JP8077447A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Tatsuro Suzuki
達郎 鈴木
Yasuo Saito
泰男 齊藤
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Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP8077447A priority Critical patent/JPH09262230A/en
Publication of JPH09262230A publication Critical patent/JPH09262230A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an X ray CT apparatus capable of obtaining high quality image data by efficiently conducting helical scanning. SOLUTION: The X ray CT 1 apparatus compruses plural X ray beam generators 9-1, 9-2 for exposing an object laid on a bed with X rays, X ray detectors 15-1, 15-2 for detecting the exposed X ray from the X ray beam sources 9-1, 9-2, a means for revolving the plural X ray sources 9-1, 9-2 surrounding the object, an X ray source sliding unit 11 for setting the spacing in the direction of the revolution axis of the plural X ray sources 9-1, 9-2. A helical scanning is conducted by revolving at least two X ray sources 9-1, 9-2 and moving the bed in the direction of the revolving axis at the same time.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、X線CT装置に関
し、特に、ヘリカルスキャンを行うX線CT装置に関す
るものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an X-ray CT apparatus, and more particularly to an X-ray CT apparatus that performs a helical scan.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、X線ビームを曝射するX線ビーム
発生源(X線管)等を備える回転部を連続的に回転させ
る連続回転型CTが種々提案されている。このような連
続回転型CTは、架台(ガントリー)に固定された固定
部から前記回転部への高電圧の供給や信号の伝達を行う
スリップリングや、前記固定部と回転部との信号の伝達
を行う光を媒体にした信号伝達手段を用いることによっ
て実現されている。また、この連続回転型CTには、連
続回転型の第三世代CTと、連続回転型の第四世代CT
とがある。
2. Description of the Related Art In recent years, various continuous-rotation CTs have been proposed which continuously rotate a rotating unit including an X-ray beam generation source (X-ray tube) that emits an X-ray beam. Such a continuous rotation type CT is a slip ring for supplying a high voltage or transmitting a signal from a fixed portion fixed to a gantry to the rotating portion, or transmitting a signal between the fixed portion and the rotating portion. It is realized by using a signal transmission means using light as a medium for performing. In addition, the continuous rotation type CT includes a continuous rotation type third generation CT and a continuous rotation type fourth generation CT.
There is.

【0003】連続回転型の第三世代CTは、X線ビーム
発生源毎にこのX線ビーム発生源と同期して回転する検
出器を有する。前記検出器としては、一列検出器と二次
元検出器があり、ぞれぞれ図38(a),(b)に示
す。図38(a)に示すように一列検出器100は、X
線ビーム発生源101から曝射されるX線ビームに対応
させて検出部103を円弧状(もしくは直線状)に一列
に配列したものである。また、二次元検出器110は、
図38(b)に示すようにX線ビーム発生源111の回
転軸方向(以下、単に回転軸方向と記す)に円弧状の検
出部列113を複数有している。尚、二次元検出器とし
ては、二列の検出部列を有する検出器、直線状の検出部
列を有する平面検出器、イメージインテンシファイア
(I.I.)も含むものである。
The continuous rotation type third generation CT has a detector that rotates in synchronization with each X-ray beam generation source for each X-ray beam generation source. As the detector, there are a single-row detector and a two-dimensional detector, which are shown in FIGS. 38 (a) and 38 (b), respectively. As shown in FIG. 38 (a), the single-row detector 100 has X
The detection units 103 are arranged in a line in an arc shape (or a linear shape) corresponding to the X-ray beam emitted from the line beam generation source 101. In addition, the two-dimensional detector 110 is
As shown in FIG. 38 (b), the X-ray beam generation source 111 has a plurality of arc-shaped detection unit rows 113 in the rotation axis direction (hereinafter, simply referred to as the rotation axis direction). The two-dimensional detector includes a detector having two rows of detectors, a flat detector having a linear detector row, and an image intensifier (II).

【0004】連続回転型の第四世代CTを図39に示
す。図39に示すように連続回転型の第四世代CTは、
回転軸を中心に所定の円周上を回転するX線ビーム発生
源121と、台架に固定され、前記回転軸を中心とし、
内面を検出面とする円筒状に配列した検出器123とを
有している。
A continuous rotation type fourth generation CT is shown in FIG. As shown in FIG. 39, the continuous rotation type fourth generation CT is
An X-ray beam generation source 121 that rotates on a predetermined circumference around a rotation axis, and is fixed to a pedestal and has the rotation axis as a center,
It has a detector 123 arranged in a cylindrical shape having an inner surface as a detection surface.

【0005】また、複数のX線ビーム発生源をとそれに
対応する検出器を持ち、前記X線ビーム発生源をその回
転軸と平行な方向に移動させる移動手段を有するX線C
T装置において、スライス厚に応じて前記X線ビーム発
生源を移動可能としたものが提案されている。尚、X線
ビーム発生源と、このX線ビーム発生源と同期して回転
する検出器とを有する第三世代CTの場合には、X線ビ
ーム発生源とともに検出器も回転軸と平行な方向に移動
させることを含んでいる。ここでスライス厚とは、入射
したX線に対する検出器列の回転軸方向感度分布の半値
幅を回転中心に投影した値として定義されるのが一般的
である。尚、その検出器列に入射するファン状のX線ビ
ームの回転中心における厚さと考えても良い。
Further, an X-ray C having a plurality of X-ray beam sources and detectors corresponding thereto and having a moving means for moving the X-ray beam sources in a direction parallel to the rotation axis thereof.
In the T-apparatus, it has been proposed that the X-ray beam generation source can be moved according to the slice thickness. In the case of the third generation CT having an X-ray beam generation source and a detector that rotates in synchronization with the X-ray beam generation source, the detector along with the X-ray beam generation direction is parallel to the rotation axis. Including moving to. Here, the slice thickness is generally defined as a value obtained by projecting the half value width of the sensitivity distribution in the rotation axis direction of the detector array with respect to the incident X-ray onto the rotation center. It should be noted that the thickness at the rotation center of the fan-shaped X-ray beam incident on the detector row may be considered.

【0006】前記X線ビーム発生源をその回転軸と平行
な方向に移動させるのは、スライス厚を変更した場合、
撮影されない部分やオーバーラップして撮影される部分
が生じるのを防ぐためである。これにより、いずれのス
ライス厚を選択しても連続した複数スライスのコンベン
ショナルスキャンを行うことが可能となる。尚、コンベ
ンショナルスキャンとは、スキャン中に被検体を載置す
る天板の移動を行わないスキャンモードである。
The X-ray beam source is moved in a direction parallel to its rotation axis when the slice thickness is changed.
This is to prevent a part that is not photographed or a part that is photographed by overlapping. This makes it possible to perform continuous scanning of a plurality of continuous slices regardless of which slice thickness is selected. The conventional scan is a scan mode in which the top plate on which the subject is placed is not moved during the scan.

【0007】また、連続回転型の第三世代CT、連続回
転型の第四世代CTでは、前記回転部の回転とともに連
続的に天板を移動させることで、被検体の画像データを
螺旋状に収集するヘリカルスキャンを行うことも可能で
ある。さらに、連続回転型の第三世代CT、連続回転型
の第四世代CTにおいて、二次元検出器を有するもので
ヘリカルスキャンを行った場合は、ヘリカルスキャンの
速度向上、スライス方向分解能向上、パーシャルボリュ
ームアーチファクト(単位体積の一部を占める異なる物
質の割合によりCT値が変化することによって生じるア
ーチファクト)の軽減といった効果がある。
Further, in the continuous rotation type third generation CT and the continuous rotation type fourth generation CT, the top plate is continuously moved along with the rotation of the rotating portion, thereby making the image data of the subject into a spiral shape. It is also possible to perform a helical scan to collect. Further, in the continuous rotation type 3rd generation CT and the continuous rotation type 4th generation CT, when helical scan is performed with a two-dimensional detector, the speed of helical scan is improved, the resolution in the slice direction is improved, and the partial volume is increased. This has the effect of reducing artifacts (artifacts that occur when the CT value changes due to the proportion of different substances that occupy part of the unit volume).

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、一列検
出器を有するX線CT装置(連続回転型の第三世代C
T、連続回転型の第四世代CTを含む)におけるヘリカ
ルスキャンの軌跡は、横軸に被検体における回転軸方向
のスキャン位置、縦軸にX線ビーム発生源または検出器
の回転角度をとると、図40のように表される。このヘ
リカルスキャンの軌跡は、三次元的に考えると、回転軸
を中心とした螺旋軌道となる。
However, an X-ray CT apparatus having a one-row detector (continuous rotation type third generation C
T, including the continuous rotation type fourth generation CT), the locus of the helical scan in which the horizontal axis represents the scan position in the rotational axis direction of the subject and the vertical axis represents the rotation angle of the X-ray beam source or detector. , As shown in FIG. The trajectory of the helical scan is a spiral trajectory centered on the rotation axis when considered three-dimensionally.

【0009】ここで回転軸方向のスキャン位置とは、X
線ビーム発生源の焦点と対象とする検出器列へ入射した
X線の回転軸方向の中央とで規定される平面と回転軸と
の交点の位置により表す。その検出器列に入射するファ
ン状X線ビームのビーム厚方向の中央が回転軸と交わる
点と考えても良い。
Here, the scan position in the direction of the rotation axis is X
It is represented by the position of the intersection of the rotation axis and the plane defined by the focal point of the line beam generation source and the center of the X-ray incident on the target detector array in the rotation axis direction. It may be considered that the center of the fan-shaped X-ray beam incident on the detector row in the beam thickness direction intersects the rotation axis.

【0010】近年、回転軸方向のスキャン速度(ヘリカ
ルスキャン速度)を高速化することが求められている
が、1回転当たりの点板送り速度を固定したとすると、
前記高速化のためには、回転部の速度を高速化しなけれ
ばならない。しかし、前記回転部の高速化は、機構的に
限界があり、ヘリカルスキャン速度は、回転機構の能力
により限定されてしまうという問題がある。
In recent years, it has been required to increase the scanning speed (helical scanning speed) in the rotational axis direction. However, if the point plate feed speed per rotation is fixed,
In order to increase the speed, the speed of the rotating part must be increased. However, there is a mechanical limitation in increasing the speed of the rotating unit, and there is a problem that the helical scan speed is limited by the capacity of the rotating mechanism.

【0011】高速でヘリカルスキャンを行う方法とし
て、n列の検出器(二次元検出器)を使用する方法があ
る。このn列の検出器を有するX線CT装置の場合に
は、1回転当たりの天板送りをトータルのスライス厚と
一致させた場合、ヘリカルスキャン速度をn倍とするこ
とができる。
As a method for performing a helical scan at high speed, there is a method using an n-row detector (two-dimensional detector). In the case of the X-ray CT apparatus having the detectors of n rows, the helical scan speed can be increased by n times when the top plate feed per rotation is matched with the total slice thickness.

【0012】二次元検出器として例えば三列検出器を有
するX線CT装置におけるヘリカルスキャンの軌跡は、
横軸に被検体における回転軸方向のスキャン位置、縦軸
にX線ビーム発生源または検出器の回転角度をとると、
図41のように表される。このヘリカルスキャンの軌跡
は、三次元的に考えると、回転軸を中心とした複数の螺
旋軌道となる。
The trajectory of a helical scan in an X-ray CT apparatus having, for example, a three-row detector as a two-dimensional detector is
If the horizontal axis is the scan position in the rotational axis direction of the subject and the vertical axis is the rotation angle of the X-ray beam source or detector,
It is represented as in FIG. 41. When viewed three-dimensionally, the trajectory of this helical scan becomes a plurality of spiral trajectories centered on the rotation axis.

【0013】しかし、X線ビーム発生源を含んで回転軸
に垂直な面(ミッドプレーン)から離れた検出器列とな
るにしたがって、核検出器列に入るX線ビームは、前記
ミッドプレーンに対する角度(コーン角度)が大きくな
るため画質劣化を招く。つまり、高速とはなるが、画質
は低下することになる。
However, as the detector array is separated from the plane (midplane) perpendicular to the rotation axis including the X-ray beam generation source, the X-ray beam entering the nuclear detector array becomes an angle with respect to the midplane. Since the (cone angle) becomes large, the image quality deteriorates. That is, although the speed is high, the image quality is deteriorated.

【0014】以上のように高画質かつ高速なヘリカルス
キャンを行うことは、従来の方法では限界がある。そこ
で、前記コーン角度の影響のない高速ヘリカルスキャン
の方法として、複数のX線ビーム発生源を有するX線C
T装置でのヘリカルスキャンが考えられる。
As described above, performing the high-quality and high-speed helical scan is limited in the conventional method. Therefore, as a method of high-speed helical scanning that is not affected by the cone angle, an X-ray C having a plurality of X-ray beam generation sources is used.
A helical scan with the T device can be considered.

【0015】しかし、前記コンベンショナルスキャンで
連続した複数スライスが撮れるようにX線ビーム発生源
の回転軸方向の位置を固定すると、複数のX線ビーム発
生源によるヘリカルスキャンの軌跡は等間隔にならない
という問題が生じる。これを2つのX線ビーム発生源を
有するX線CT装置を例にとって説明する。
However, if the position of the X-ray beam generator in the direction of the rotation axis is fixed so that a plurality of consecutive slices can be taken by the conventional scan, the loci of helical scan by the plurality of X-ray beam generators will not be at equal intervals. The problem arises. This will be described by taking an X-ray CT apparatus having two X-ray beam generation sources as an example.

【0016】例えば、図42に示すように、2つのX線
ビーム発生源A,Bが、角度120度、回転軸方向の間
隔ICONVに設定され、コンベンショナルスキャンが行わ
れるとする。このとき、連続した2つのスライス画像を
得るためには、スライス厚を間隔ICONVとすることにな
る。
For example, as shown in FIG. 42, it is assumed that two X-ray beam sources A and B are set at an angle of 120 degrees and an interval I CONV in the direction of the rotation axis to perform a conventional scan. At this time, in order to obtain two consecutive slice images, the slice thickness is set to the interval I CONV .

【0017】しかしこの間隔ICONVのまま天板スライド
量を1回転当たり、間隔ICONVの2倍としたヘリカルス
キャンを行うと、図43に示すように、X線ビーム発生
源Aによる軌跡からX線ビーム発生源Bによる軌跡まで
の回転軸方向の間隔Ihel1と、X線ビーム発生源Bによ
る軌跡からX線ビーム発生源Aによる軌跡までの回転軸
方向の間隔Ihel2とは異なる値となり、2つのヘリカル
スキャンの軌跡は等間隔にならない(Ihel1≠Ihel2
2×ICONV=Ihel1+Ihel2)。
[0017] However top plate sliding amount per rotation remains in this interval I CONV, the helical-scan that twice the interval I CONV, as shown in FIG. 43, from the trajectory by the X-ray beam source A X a rotation axis direction of the spacing I Hel1 up trajectories by linear beam source B, becomes a value different from the rotation axis direction of the spacing I Hel2 from the trajectory by the X-ray beam source B to the locus by X-ray beam source a, The trajectories of the two helical scans are not evenly spaced (I hel1 ≠ I hel2 ,
2 × I CONV = I hel1 + I hel2 ).

【0018】図43において、各スライス厚を間隔I
CONVとしたとき、スライス厚を考慮して図に示すと図4
4のようになる。このような等間隔でないヘリカルスキ
ャンではその軌跡に重なりやギャップができてしまうこ
とが分かる。このため、オーバーラップしてスキャンし
た部分とスキャンしてない欠落部分が生じ、画質の劣化
となる。
In FIG. 43, each slice thickness is represented by an interval I.
When it is set to CONV , it is shown in Fig.
It looks like 4. It can be seen that in such a helical scan that is not equidistant, there are overlaps and gaps in the locus. Therefore, an overlapped scanned portion and an unscanned missing portion occur, resulting in deterioration of image quality.

【0019】また、図45に示すように3つのX線ビー
ム発生源C,D,Eが角度120度、回転軸方向間隔I
CONVに設定され、コンベンショナルスキャンが行われた
とする。しかしこの間隔ICONVのまま天板スライド量を
1回転当たり、間隔ICONVの3倍としたヘリカルスキャ
ンを行うと、図46に示すように、3つのX線ビーム発
生源C,D,Eによるヘリカルスキャンの軌跡は互いに
重なってしまうことになる。このように、コンベンショ
ナルスキャンのX線ビーム発生源の間隔の設定ではヘリ
カルスキャンには適用できないことが分かる。
Further, as shown in FIG. 45, the three X-ray beam sources C, D and E have an angle of 120 degrees and a rotation axis direction interval I.
It is assumed that CONV is set and a conventional scan is performed. However, when the top plate slide amount per rotation is kept at this interval I CONV and a helical scan is performed with three times the interval I CONV , as shown in FIG. 46, three X-ray beam generators C, D and E are used. The loci of helical scans will overlap each other. As described above, it is understood that the setting of the interval of the X-ray beam generation source of the conventional scan cannot be applied to the helical scan.

【0020】従って、コンベンショナルスキャンのX線
ビーム発生源の間隔の設定をヘリカルスキャンに適用し
た場合、それぞれのX線ビーム発生源に対応したヘリカ
ルスキャンの軌跡が等間隔でなく、スライス厚を考慮す
ると、その軌跡にはオーバーラップや欠落部分が生じ、
画質の劣化を招くという問題がある。
Therefore, when the setting of the interval of the X-ray beam source of the conventional scan is applied to the helical scan, the loci of the helical scan corresponding to the respective X-ray beam sources are not at equal intervals, and the slice thickness is taken into consideration. , There are overlaps and missing parts in the trajectory,
There is a problem of causing deterioration of image quality.

【0021】本発明は、上記課題に鑑みてなされたもの
で、ヘリカルスキャンを効果的に行うことで、高画質の
画像データを得ることが可能なX線CT装置を提供する
ことを目的とする。
The present invention has been made in view of the above problems, and an object of the present invention is to provide an X-ray CT apparatus capable of obtaining high-quality image data by effectively performing a helical scan. .

【0022】[0022]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
本発明は、X線を寝台上の被検体に曝射する複数のX線
ビーム発生源と、このX線ビーム発生源から曝射された
X線を検出する検出器と、前記複数のX線ビーム発生源
を前記被検体の回りに回転させる回転手段と、前記複数
のX線ビーム発生源の回転軸方向の間隔を設定する設定
手段とを有して前記少なくとも2つのX線発生源を回転
させると共に寝台を回転軸方向に移動してヘリカルスキ
ャンを行うことを要旨とする。
In order to achieve the above object, the present invention provides a plurality of X-ray beam generators for irradiating a subject on a bed with X-rays, and the X-ray beam generators. Detector for detecting X-rays, rotating means for rotating the plurality of X-ray beam generation sources around the subject, and setting means for setting intervals between the plurality of X-ray beam generation sources in the rotation axis direction. With the above, the gist is to rotate the at least two X-ray generation sources and move the bed in the rotation axis direction to perform the helical scan.

【0023】本発明のX線CT装置にあっては、X線ビ
ーム発生源設定手段により、ヘリカルスキャンに使用さ
れる少なくとも2つのX線ビーム発生源の前記回転軸方
向の間隔が設定されるので、ヘリカルスキャンを効果的
に行うことができ、高画質の画像データを得ることがで
きる。
In the X-ray CT apparatus of the present invention, the X-ray beam source setting means sets the distance between the at least two X-ray beam sources used for helical scanning in the rotational axis direction. The helical scan can be effectively performed, and high-quality image data can be obtained.

【0024】また、前記設定手段は、ヘリカルスキャン
に使用する少なくとも2つの前記X線ビーム発生源のヘ
リカルスキャンによる螺旋軌道が互いに等間隔となるよ
うに前記複数のX線ビーム発生源の前記回転軸方向の間
隔を設定するようにしても良い。この場合、コーン角度
の影響の無いマルチスライスヘリカルスキャンが可能と
なる。さらに、前記設定手段は、ヘリカルスキャンをす
る回転軸方向の領域を複数の領域に分け、それぞれの領
域に対し1つのX線ビーム発生源とその対応した検出器
でヘリカルスキャンを行うように、ヘリカルスキャンに
使用する少なくとも2つの前記X線ビーム発生源の回転
軸方向の間隔を設定するようにしても良い。この場合、
回転軸方向の領域を複数の領域に分け、それぞれの領域
に対し、1つのX線びーむ発生源と対応した検出器でヘ
リカルスキャンをするように設定する。これにより、前
記ヘリカルスキャンの軌道が互いに等間隔となるように
設定する場合と比べ、高画質(同じスキャン速度の場
合)となる。さらに、前記設定手段は、前記領域の数を
前記X線ビーム発生源の数と同一数とし、それぞれの領
域に対して1つのX線ビーム発生源と対応した検出器で
ヘリカルスキャンを行うように前記複数のX線ビーム発
生源の回転軸方向の間隔を設定するようにしても良い。
この場合、1回でヘリカルスキャンが完了する。さら
に、前記設定手段は、前記領域の境界についてはオーバ
ーラップさせてヘリカルスキャンを行うように前記ヘリ
カルスキャンに使用する少なくとも2つの前記X線ビー
ム発生源の前記回転軸方向の間隔を設定するようにして
も良い。この場合、この場合、互いの領域のデータを使
用しないで再構成できるので、境界部の画質が向上す
る。また、前記検出器により収集されたデータの内、前
記オーバーラップさせた部分の少なくとも一部について
は、重み付けを線形とした加算平均を行うようにしても
良い。この場合、境界部でのアーチファクトや不連続性
を無くすことができる。また、前記設定手段は、ヘリカ
ルスキャンに使用する少なくとも2つのX線ビーム発生
源のヘリカルスキャンによる螺旋軌道の少なくとも一部
が同一螺旋軌道となるように前記少なくとも2つのX線
ビーム発生源の前記回転軸方向の間隔を設定するように
しても良い。この場合、ヘリカルスキャンによる螺旋軌
道の異なりが原因のアーチファクトを無くすことができ
る。また、前記X線ビーム発生源は、ヘリカルスキャン
を行う領域にのみX線を曝射するようにその曝射のタイ
ミングがそれぞれ制御されるようにしても良い。この場
合、被爆を最小限に抑えることができる。また、前記検
出器は、対応するX線ビーム発生源と共に同期して前記
回転手段により回転されるようにしても良い。さらに、
前記検出器は、内面を検出面とする円筒状のものとして
も良い。また、前記設定手段は、X線ビーム発生源と共
に対応する検出器も前記回転軸方向に前記X線ビーム発
生源と同一量だけ移動させるようにしても良い。この場
合、X線入射位置が一定となるので検出器感度を常に同
じに保つことができる。また、検出器の回転軸方向の幅
を小さくすることができる。さらに、前記設定手段は、
前記X線ビーム発生源と、それに対応する検出器を同一
の固定部材上に固定して前記固定部材ごと前記X線ビー
ム発生源と前記検出器を移動させるようにしても良い。
この場合、X線発生源と検出器の移動量が同じであるこ
とを保証できる。また、前記検出器は、検出セグメント
を二次元的に配列した二次元検出器としても良い。ま
た、前記ヘリカルスキャンを複数回、一連のシーケンス
として行う手段をさらに備えるようにしても良い。
The setting means may rotate the rotation axes of the plurality of X-ray beam generating sources so that at least two of the X-ray beam generating sources used for helical scanning have helical orbits by helical scanning at equal intervals. You may make it set the space | interval of a direction. In this case, a multi-slice helical scan without the influence of the cone angle becomes possible. Further, the setting means divides the area in the rotation axis direction for helical scanning into a plurality of areas, and for each area, one X-ray beam generation source and a detector corresponding thereto are used to perform helical scanning. You may make it set the space | interval of the rotation axis direction of at least 2 said X-ray beam generation source used for scanning. in this case,
The region in the direction of the rotation axis is divided into a plurality of regions, and each region is set so that a detector corresponding to one X-ray beam generation source performs helical scanning. As a result, the image quality is higher (when the scanning speed is the same) as compared with the case where the orbits of the helical scan are set to have equal intervals. Further, the setting means sets the number of the regions to be the same as the number of the X-ray beam generation sources, and performs helical scanning with a detector corresponding to one X-ray beam generation source for each region. You may make it set the space | interval of the rotation axis direction of the said some X-ray beam generation source.
In this case, the helical scan is completed once. Further, the setting means sets the interval in the rotation axis direction of at least two of the X-ray beam generation sources used for the helical scan so that the boundaries of the regions are overlapped and the helical scan is performed. May be. In this case, in this case, since the data can be reconstructed without using the data in the respective areas, the image quality at the boundary portion is improved. Further, in the data collected by the detector, at least a part of the overlapped portion may be subjected to arithmetic averaging with linear weighting. In this case, artifacts and discontinuity at the boundary can be eliminated. Further, the setting means rotates the at least two X-ray beam generation sources so that at least a part of the spiral orbits of the helical scan of the at least two X-ray beam generation sources used for the helical scan become the same spiral orbit. You may make it set the space | interval of an axial direction. In this case, it is possible to eliminate the artifact caused by the difference in the spiral trajectory due to the helical scan. Further, the X-ray beam generation source may be controlled in its irradiation timing so as to irradiate X-rays only to a region where a helical scan is performed. In this case, exposure can be minimized. Further, the detector may be rotated by the rotating means in synchronization with the corresponding X-ray beam generation source. further,
The detector may have a cylindrical shape having an inner surface as a detection surface. Further, the setting means may move the X-ray beam generation source and the corresponding detector by the same amount as the X-ray beam generation source in the rotation axis direction. In this case, since the X-ray incident position is constant, the detector sensitivity can always be kept the same. Further, the width of the detector in the rotation axis direction can be reduced. Further, the setting means is
The X-ray beam generation source and the detector corresponding thereto may be fixed on the same fixing member, and the X-ray beam generation source and the detector may be moved together with the fixing member.
In this case, it can be guaranteed that the X-ray generation source and the detector have the same amount of movement. Further, the detector may be a two-dimensional detector in which detection segments are two-dimensionally arranged. Further, a unit for performing the helical scan a plurality of times as a series of sequences may be further provided.

【0025】[0025]

【発明の実施の形態】以下、本発明に係る実施の形態を
図面を参照して説明する。図1は本発明に係るX線CT
装置の第1の実施形態を示したブロック図である。尚、
第1の実施携帯のX線CT装置1は、2つのX線ビーム
発生源を有する場合である。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 shows an X-ray CT according to the present invention.
It is the block diagram which showed the 1st Embodiment of an apparatus. still,
The X-ray CT apparatus 1 of the first embodiment is a case where it has two X-ray beam generation sources.

【0026】第1の実施形態のX線CT装置1は、ヘリ
カルスキャンにおいて2つのX線ビーム発生源による軌
跡が、互いに等間隔の螺旋軌道となるように前記2つの
X線ビーム発生源の間隔を設定するものである。尚ここ
では、連続回転型の第3世代CTに適用した場合を例に
して説明する。
In the X-ray CT apparatus 1 of the first embodiment, the distance between the two X-ray beam sources is set so that the trajectories of the two X-ray beam sources in the helical scan are spiral orbits at equal intervals. Is to be set. In addition, here, a case where the present invention is applied to a continuous rotation type third generation CT will be described as an example.

【0027】図1に示すように、第1の実施形態のX線
CT装置1は、中央制御ユニット3と、高電圧発生器5
と、架台コントローラ7と、X線ビーム発生源9-1,9
-2と、X線ビーム発生源スライド部11と、プリコリメ
ータコントローラ13と、検出器15-1,15-2と、デ
ータ収集部17-1,17-2と、画像再構成ユニット19
と、画像表示ユニット21と、データ保存ユニット23
と、寝台25と、寝台コントローラ27と、天板スライ
ドコントローラ29とを有している。
As shown in FIG. 1, the X-ray CT apparatus 1 of the first embodiment has a central control unit 3 and a high voltage generator 5.
, Gantry controller 7, X-ray beam generation sources 9-1, 9
-2, the X-ray beam source slide unit 11, the pre-collimator controller 13, the detectors 15-1 and 15-2, the data acquisition units 17-1 and 17-2, and the image reconstruction unit 19
, Image display unit 21, and data storage unit 23
, A bed 25, a bed controller 27, and a tabletop slide controller 29.

【0028】中央制御ユニット3は、操作者により図示
しない入力装置を用いて入力されたヘリカルスキャン条
件を基に、ヘリカルスキャンにおいて、X線ビーム発生
源9-1,9-2による軌跡が、互いに等間隔の螺旋軌道と
なるようにX線ビーム発生源9-2の設定位置を演算する
とともに、X線ビームの曝射タイミングを演算する。ま
た、中央制御ユニット3は、前記X線ビーム発生源9-2
の設定位置と、X線ビーム発生源スライド制御信号と、
前記入力されたヘリカルスキャン条件とを基にして、X
線ビーム発生源9-2の設定位置を示すX線ビーム発生源
スライド制御信号と、プリコリメータ幅を示すプリコリ
メータ幅制御信号とを架台コントローラ7に出力し、ま
た、前記X線ビームの曝射タイミングを示すX線ビーム
曝射タイミング制御信号を高電圧発生器5に出力し、さ
らに、データ収集のタイミングを示すデータ収集制御信
号をデータ収集部17-1,17-2に出力し、さらに、天
板25aの移動量を示す天板スライド制御信号を寝台コ
ントローラ27に出力する。
In the central control unit 3, the loci of the X-ray beam generation sources 9-1 and 9-2 are mutually determined in the helical scan based on the helical scan condition input by the operator using an input device (not shown). The setting positions of the X-ray beam generation source 9-2 are calculated so that the spiral orbits are evenly spaced, and the X-ray beam irradiation timing is calculated. Further, the central control unit 3 uses the X-ray beam generation source 9-2.
Setting position of X-ray beam source slide control signal,
Based on the inputted helical scan conditions, X
An X-ray beam source slide control signal indicating the set position of the beam source 9-2 and a pre-collimator width control signal indicating the pre-collimator width are output to the gantry controller 7, and the X-ray beam is emitted. The X-ray beam exposure timing control signal indicating the timing is output to the high voltage generator 5, and the data acquisition control signal indicating the data acquisition timing is output to the data acquisition units 17-1 and 17-2. A top slide control signal indicating the amount of movement of the top 25a is output to the bed controller 27.

【0029】高電圧発生器5は、中央制御ユニット3か
ら出力されたX線ビーム曝射タイミング制御信号を基
に、X線管9a-1,9a-2に対し、電子加速用高電圧と
フィラメント加熱用電流を供給する。尚ここでは、2つ
のX線ビーム発生源9-1,9-2で1つの高電圧発生器5
を共用しているが、X線ビーム発生源9-1,9-2毎に高
電圧発生器5を備えるようにしても良い。
The high voltage generator 5 supplies a high voltage for electron acceleration and a filament to the X-ray tubes 9a-1 and 9a-2 based on the X-ray beam irradiation timing control signal output from the central control unit 3. Supply heating current. In this case, two X-ray beam sources 9-1 and 9-2 are used as one high voltage generator 5.
However, the high voltage generator 5 may be provided for each of the X-ray beam generation sources 9-1 and 9-2.

【0030】架台コントローラ7は、中央制御ユニット
3から出力されたX線ビーム発生源スライド制御信号を
X線ビーム発生源スライド部11に対して出力する。さ
らに架台コントローラ7は、中央制御ユニット3から出
力されたプリコリメータ幅制御信号をプリコリメータコ
ントローラ13に対して出力する。さらに、架台コント
ローラ7は、中央制御ユニット3から出力された制御信
号を基に、図示しない回転部の回転制御を行う。
The gantry controller 7 outputs the X-ray beam source slide control signal output from the central control unit 3 to the X-ray beam source slide unit 11. Further, the gantry controller 7 outputs the pre-collimator width control signal output from the central control unit 3 to the pre-collimator controller 13. Further, the gantry controller 7 controls the rotation of a rotating unit (not shown) based on the control signal output from the central control unit 3.

【0031】X線ビーム発生源9-1,9-2は、X線を曝
射するX線管9a-1,9a-2と、X線管9a-1,9a-2
のX線曝射側に設けられたスリット状の開口部(図示せ
ず)を備えるプリコリメータ9b-1,9b-2を有し、高
電圧発生器5から供給される電子加速用高電圧とフィラ
メント加熱用電流によってX線管9aから曝射したX線
を、プリコリメータ9b-1,9b-2を介してファンビー
ムとして曝射する。
The X-ray beam generators 9-1 and 9-2 include X-ray tubes 9a-1 and 9a-2 for irradiating X-rays and X-ray tubes 9a-1 and 9a-2.
And a high voltage for electron acceleration supplied from the high voltage generator 5 having pre-collimators 9b-1 and 9b-2 provided with slit-shaped openings (not shown) provided on the X-ray irradiation side of The X-rays emitted from the X-ray tube 9a by the filament heating current are emitted as fan beams through the pre-collimators 9b-1 and 9b-2.

【0032】X線ビーム発生源スライド部11は、架台
コントローラ7から出力されたX線ビーム発生源スライ
ド制御信号を基に、X線ビーム発生源9-2の位置をスラ
イドする。図2(a),(b)にX線ビーム発生源スラ
イド部11の一例を示す。尚、図2(a)はX線ビーム
発生源スライド部11の正面図であり、図2(b)はそ
の側面図である。
The X-ray beam source slide unit 11 slides the position of the X-ray beam source 9-2 based on the X-ray beam source slide control signal output from the gantry controller 7. FIGS. 2A and 2B show an example of the X-ray beam source slide unit 11. 2A is a front view of the X-ray beam generation source slide unit 11, and FIG. 2B is a side view thereof.

【0033】図2に示すようにX線ビーム発生源スライ
ド部11は、回転部のフレーム41の上面に設けられた
アクチュエータ43と、アクチュエータ43に接続され
たボールネジ軸45と、ボールネジ軸45の回転角度に
応じてボールネジ軸45上を移動するボールネジブロッ
ク49とを有する。このボールネジブロック49上にス
ライドフレーム47を介してX線ビーム発生源9-2が設
置されている。また、ボールネジ軸45の両端部に対応
するフレーム41上にはガイド51がそれぞれ設けられ
ている。尚、ボールネジ軸45、ボールネジブロック4
9およびガイド51は、プリコリメータを挟み、両側に
それぞれ設けられている。尚、アクチュエータ43の回
転は図示しないベルトを介して他方のボールネジ軸45
に伝達される。
As shown in FIG. 2, the X-ray beam source slide unit 11 includes an actuator 43 provided on the upper surface of the rotating frame 41, a ball screw shaft 45 connected to the actuator 43, and a rotation of the ball screw shaft 45. The ball screw block 49 moves on the ball screw shaft 45 according to the angle. An X-ray beam generation source 9-2 is installed on the ball screw block 49 via a slide frame 47. Guides 51 are provided on the frame 41 corresponding to both ends of the ball screw shaft 45. The ball screw shaft 45 and the ball screw block 4
9 and the guide 51 are respectively provided on both sides of the precollimator. The rotation of the actuator 43 is performed by rotating the other ball screw shaft 45 through a belt (not shown).
Is transmitted to

【0034】このため、アクチュエータ43を回転させ
ることにより、ガイド51内をボールネジブロック49
がボールネジ軸45に沿って移動し、これにより、ボー
ルネジブロック49の上面のスライドフレーム47に設
置されたX線ビーム発生源9-2が移動する。尚、アクチ
ュエータ41の回転量は、架台コントローラ7から出力
されるX線ビーム発生源スライド制御信号を基に、X線
ビーム発生源スライドコントローラ53によって制御さ
れる。また、アクチュエータ43としては、位置制御サ
ーボコントローラとモータを使用しても良いし、パルス
モータを使用しても良い。
Therefore, by rotating the actuator 43, the inside of the guide 51 is moved into the ball screw block 49.
Moves along the ball screw shaft 45, whereby the X-ray beam generation source 9-2 installed on the slide frame 47 on the upper surface of the ball screw block 49 moves. The rotation amount of the actuator 41 is controlled by the X-ray beam source slide controller 53 based on the X-ray beam source slide control signal output from the gantry controller 7. Further, as the actuator 43, a position control servo controller and a motor may be used, or a pulse motor may be used.

【0035】尚、X線ビーム発生源スライド部11は、
X線ビーム発生源9-2から曝射されるX線ビームを回転
軸方向に移動できれば、いずれのものを用いても良い。
例えばX線ビーム発生源9-2内部でターゲットとカソー
ドを回転軸方向に移動させる。X線ビーム発生源9-2内
部で複数のターゲットとカソードを設け、使用するター
ゲットとカソードを切り換える。また、この切り換えと
前記ターゲットとカソードの移動を組み合わせる。ま
た、電子ビームを電磁界により振り、X線ビーム焦点位
置を移動させる。さらに、前記のものを組み合わせる。
等がある。
The X-ray beam source slide unit 11 is
Any one may be used as long as the X-ray beam emitted from the X-ray beam generation source 9-2 can be moved in the rotation axis direction.
For example, the target and the cathode are moved in the rotation axis direction inside the X-ray beam generation source 9-2. A plurality of targets and cathodes are provided inside the X-ray beam generation source 9-2, and the target and cathode to be used are switched. Further, this switching is combined with the movement of the target and the cathode. Further, the electron beam is swung by the electromagnetic field to move the X-ray beam focal point position. Furthermore, the above is combined.
Etc.

【0036】プリコリメータコントローラ13-1,13
-2は、架台コントローラ7から出力されたプリコリメー
タ幅制御信号を基に、プリコリメータ9b-1,9b-2を
このプリコリメータ幅制御信号に対応するスリット幅
(プリコリメータ幅)にする。
Precollimator controllers 13-1, 13
-2 sets the pre-collimator 9b-1 and 9b-2 to the slit width (pre-collimator width) corresponding to the pre-collimator width control signal based on the pre-collimator width control signal output from the gantry controller 7.

【0037】検出器15-1,15-2は、X線ビーム発生
源9-1,9-2から曝射され、被検体を通過したX線を電
気信号に変換する。また、検出器15-2は、図3に示す
ようにX線ビーム発生源9-2を最大移動幅L移動させて
もX線ビームを検出可能な幅を有する。尚、図3では、
X線ビーム発生源9-2や検出器15-2の回転方向の取り
付け角度差を説明の都合上0として示しているが、実際
にはこれらが互いに干渉しないように取り付け角度差が
設定されなければならない。
The detectors 15-1 and 15-2 convert the X-rays, which are emitted from the X-ray beam generating sources 9-1 and 9-2 and have passed through the subject, into electric signals. Further, the detector 15-2 has a width capable of detecting the X-ray beam even when the X-ray beam generation source 9-2 is moved by the maximum movement width L as shown in FIG. In FIG. 3,
The installation angle difference in the rotation direction of the X-ray beam generation source 9-2 and the detector 15-2 is shown as 0 for convenience of explanation, but in reality, the installation angle difference must be set so that these do not interfere with each other. I have to.

【0038】また、検出器15-1,15-2としては、図
1(a)に示す一列検出器100と同様、検出部を円弧
状(もしくは直線状)に一列に配列したものでも良い
し、図(1)(b)に示す二次元検出器110同様、検
出部列を複数有したものでも良い。また、二次元検出器
としては、二列の検出部列を有する検出器、直線状の検
出部列を有する平面検出器、イメージインテンシファイ
ア(I.I.)も含むものである。
As the detectors 15-1 and 15-2, as in the case of the single-row detector 100 shown in FIG. 1A, the detectors may be arranged in a line in an arc shape (or a linear shape). As in the two-dimensional detector 110 shown in FIGS. 1A and 1B, a plurality of detector rows may be provided. The two-dimensional detector also includes a detector having two rows of detectors, a flat panel detector having a linear detector row, and an image intensifier (II).

【0039】データ収集部17-1,17-2は、検出器1
5-1,15-2により変換された電気信号を、中央制御ユ
ニット3から出力されたデータ収集制御信号に対応させ
て収集し、画像再構成ユニット19に供給する。
The data collection units 17-1 and 17-2 are connected to the detector 1
The electrical signals converted by 5-1 and 15-2 are collected corresponding to the data collection control signal output from the central control unit 3, and are supplied to the image reconstruction unit 19.

【0040】画像再構成ユニット19は、データ収集部
17-1,17-2から供給される電気信号を、中央制御ユ
ニット3から出力された制御信号を基に、画像データと
して再構成する。
The image reconstructing unit 19 reconstructs the electric signals supplied from the data collecting units 17-1 and 17-2 as image data based on the control signal output from the central control unit 3.

【0041】画像表示ユニット21は、モニタ(図示せ
ず)を備え、画像再構成ユニット19により再構成され
た画像データを、中央制御ユニット3から出力された制
御信号を基に、前記モニタ上に表示する。
The image display unit 21 includes a monitor (not shown), and the image data reconstructed by the image reconstruction unit 19 is displayed on the monitor based on the control signal output from the central control unit 3. indicate.

【0042】データ保存ユニット23は、メモリや磁気
ディスク(図示せず)を備え、画像再構成ユニット19
により再構成された画像データを、中央制御ユニット3
からデータ保存ユニット23に出力された制御信号を基
に、前記メモリや磁気ディスクに保存する。
The data storage unit 23 includes a memory and a magnetic disk (not shown), and the image reconstruction unit 19
The image data reconstructed by the central control unit 3
The data is stored in the memory or the magnetic disk based on the control signal output from the data storage unit 23.

【0043】寝台25は、回転軸方向と、上下方向に移
動可能な天板25aから成る。この天板25aの上面に
は被検体が載置される。
The bed 25 comprises a top plate 25a which is movable in the direction of the rotation axis and in the vertical direction. A subject is placed on the top surface of the top plate 25a.

【0044】寝台コントローラ27は、中央制御ユニッ
ト3から出力された制御信号を基に、天板25aの移動
量を指示する制御信号を天板スライド部29に出力す
る。
The bed controller 27 outputs a control signal for instructing the amount of movement of the tabletop 25a to the tabletop slide portion 29 based on the control signal output from the central control unit 3.

【0045】天板スライド部29は、寝台コントローラ
27から出力された制御信号を基に、天板29aを移動
させる。
The tabletop slide section 29 moves the tabletop 29a based on the control signal output from the bed controller 27.

【0046】尚、中央制御ユニット3、画像再構成ユニ
ット19、画像表示ユニット21、データ保存ユニット
23および図示しない入力装置によりコンソール31を
構成している。この中央制御ユニット3、画像再構成ユ
ニット19、画像表示ユニット21、データ保存ユニッ
ト23および図示しない入力装置は、システムバス33
aにそれぞれ接続され、相互に信号の送受信が可能であ
る。
The central control unit 3, the image reconstruction unit 19, the image display unit 21, the data storage unit 23 and an input device (not shown) constitute a console 31. The central control unit 3, the image reconstruction unit 19, the image display unit 21, the data storage unit 23 and the input device (not shown) are the system bus 33.
a are connected to each other, and signals can be mutually transmitted and received.

【0047】また、高電圧発生器5、架台コントローラ
7、X線ビーム発生源9、X線ビーム発生源スライド部
11、プリコリメータコントローラ13、検出器15-
1,15-2およびデータ収集部17-1,17-2は、架台
33内に設けられている。
Further, the high voltage generator 5, the gantry controller 7, the X-ray beam source 9, the X-ray beam source slide unit 11, the pre-collimator controller 13, the detector 15-
The 1, 15-2 and the data collecting units 17-1, 17-2 are provided in the gantry 33.

【0048】次に、第1の実施形態のX線CT装置1の
動作を、図4に示す中央制御ユニット3の診断開始まで
の動作の流れを示すフローチャートを参照して説明す
る。
Next, the operation of the X-ray CT apparatus 1 according to the first embodiment will be described with reference to the flowchart shown in FIG. 4 which shows the flow of operation up to the diagnosis start of the central control unit 3.

【0049】まず、操作者は、ヘリカルスキャン条件を
コンソール31の図示しない入力装置を用いて入力す
る。
First, the operator uses the input device (not shown) of the console 31 to input the helical scan conditions.

【0050】ヘリカルスキャン条件が入力されると中央
制御ユニット3は、ヘリカルスキャンにおいて、X線ビ
ーム発生源9-1,9-2による軌跡が、互いに等間隔の螺
旋軌道となるようにX線ビーム発生源9-2の設定位置を
演算するとともに、X線ビームの曝射タイミングを演算
する(ステップS1)。
When the helical scan conditions are input, the central control unit 3 causes the X-ray beam so that the trajectories of the X-ray beam sources 9-1 and 9-2 become helical orbits at equal intervals in the helical scan. The setting position of the source 9-2 is calculated, and the exposure timing of the X-ray beam is calculated (step S1).

【0051】ここで、ヘリカルスキャンにおいて、X線
ビーム発生源9-1,9-2による軌跡が、互いに等間隔の
螺旋軌道となるようにX線ビーム発生源9-2の位置を設
定する例を説明する。
Here, in the helical scan, an example of setting the position of the X-ray beam generation source 9-2 so that the trajectories of the X-ray beam generation sources 9-1 and 9-2 are spiral orbits at equal intervals. Will be explained.

【0052】2つのX線ビーム発生源9-1,9-2を有す
る場合、横軸に被検体における回転軸方向のスキャン位
置、縦軸にX線ビーム発生源または検出器の回転角度を
とると、ヘリカルスキャンにおいてX線ビーム発生源9
-1,9-2による軌跡は図5のように表される。
When two X-ray beam generators 9-1 and 9-2 are provided, the horizontal axis represents the scan position in the direction of the rotation axis of the subject, and the vertical axis represents the rotation angle of the X-ray beam source or detector. And the X-ray beam source 9 in the helical scan
The trajectories of -1, 9-2 are shown in Fig. 5.

【0053】このとき、X線ビーム発生源9-1の相対的
な位置は固定であるため、X線ビーム発生源9-2の位置
は、X線ビーム発生源9-2による軌跡が、図5に実線で
示すX線ビーム発生源9-1による軌跡の中間となるよう
に演算する。即ち、X線ビーム発生源9-1による軌跡か
らX線ビーム発生源9-2による軌跡までの回転軸方向の
間隔Ihel1と、X線ビーム発生源9-2による軌跡からX
線ビーム発生源9-1による軌跡までの回転軸方向の間隔
hel2が等しくなる位置を演算する。
At this time, since the relative position of the X-ray beam generation source 9-1 is fixed, the position of the X-ray beam generation source 9-2 is shown by the locus of the X-ray beam generation source 9-2. 5 is calculated so as to be in the middle of the locus by the X-ray beam generation source 9-1 shown by the solid line. That is, the distance I hel1 in the direction of the rotation axis from the locus of the X-ray beam generation source 9-1 to the locus of the X-ray beam generation source 9-2, and X from the locus of the X-ray beam generation source 9-2.
The position where the distance I hel2 in the direction of the rotation axis to the locus by the line beam source 9-1 is equal is calculated.

【0054】例えばX線ビーム発生源9-1に対してX線
ビーム発生源9-2が120度回転した位置に設けられ、
天板25aの回転軸方向の移動量が1回転当たりS(m
m)である場合、X線ビーム発生源9-1に対するX線ビ
ーム発生源9-2の位置xは、以下に示す式(1)から演
算される。 x=S/6…(1)
For example, the X-ray beam generator 9-2 is provided at a position rotated by 120 degrees with respect to the X-ray beam generator 9-1,
The amount of movement of the top plate 25a in the rotation axis direction is S (m
m), the position x of the X-ray beam generation source 9-2 with respect to the X-ray beam generation source 9-1 is calculated from the equation (1) shown below. x = S / 6 (1)

【0055】また、図5に示すようにX線ビーム発生源
9-1に対するX線ビーム発生源9-2の位置が設定され場
合のX線ビームの曝射タイミングの例を図6(a),
(b)に示す。尚、図6(a),(b)中、横軸は時間
(天板移動距離)を示している。
Further, as shown in FIG. 5, an example of the exposure timing of the X-ray beam when the position of the X-ray beam generation source 9-2 with respect to the X-ray beam generation source 9-1 is set is shown in FIG. 6 (a). ,
(B). In addition, in FIGS. 6A and 6B, the horizontal axis represents time (top moving distance).

【0056】図6(a)は、X線ビームの曝射を撮影領
域のみに限定する場合の例である。即ち、X線ビーム発
生源9-1とX線ビーム発生源9-2の回転軸方向の位置が
異なるので、X線ビーム発生源9-1のX線ビーム曝射開
始と終了のタイミングは、X線ビーム発生源9-2のX線
ビーム曝射開始と終了のタイミングよりそれぞれ遅くな
る。この場合、X線ビームの曝射を撮影領域のみに限定
するので、被検体の被爆量を最小限に抑えることができ
る。
FIG. 6A shows an example in which the exposure of the X-ray beam is limited to only the imaging area. That is, since the positions of the X-ray beam generation source 9-1 and the X-ray beam generation source 9-2 in the rotation axis direction are different, the timing of starting and ending the X-ray beam irradiation of the X-ray beam generation source 9-1 is It becomes later than the timing of starting and ending the X-ray beam irradiation of the X-ray beam source 9-2. In this case, since the exposure of the X-ray beam is limited to only the imaging region, it is possible to minimize the exposure dose of the subject.

【0057】図6(b)は、X線ビームの曝射をX線ビ
ーム発生源9-1とX線ビーム発生源9-2同時に行う場合
の例である。即ち、一方が撮影領域内に入りX線ビーム
の曝射が開始された時、他方も同時にX線ビームの曝射
を開始し、また、双方が撮影領域外に出るまで、双方と
もX線ビームの曝射を終了しない。この場合、図6
(a)に示す場合に比べ、X線ビームの曝射時間は変わ
らないが、双方とも同時に曝射開始、終了である分、被
爆量が増える。しかしながら、双方とも同時に曝射開
始、終了であるので、X線ビームの曝射タイミングの制
御は簡単になる。尚、一般に指定されたX線量を安定し
て曝射するまでには所定の時間が掛かるが、上記の説明
においては、X線ビーム曝射が安定するまでの時間は除
いている。
FIG. 6B shows an example in which X-ray beam irradiation is performed simultaneously with the X-ray beam generation source 9-1 and the X-ray beam generation source 9-2. That is, when one enters the imaging area and the exposure of the X-ray beam is started, the other simultaneously starts the irradiation of the X-ray beam, and until both of them go out of the imaging area, both X-ray beams are emitted. Does not end the exposure of. In this case, FIG.
Although the exposure time of the X-ray beam does not change as compared with the case shown in (a), the amount of exposure increases due to the start and end of exposure of both of them at the same time. However, since both start and end the irradiation at the same time, it becomes easy to control the irradiation timing of the X-ray beam. Incidentally, it takes a predetermined time to stably irradiate the designated X-ray dose, but in the above description, the time until the X-ray beam exposure becomes stable is excluded.

【0058】中央制御ユニット3は、操作者により入力
されたヘリカルスキャン条件と、前記演算されたX線ビ
ーム発生源3設定位置とから、X線ビーム発生源9のス
ライド量を示すX線ビーム発生源スライド制御信号と、
プリコリメータ幅を示すプリコリメータ幅制御信号とを
架台コントローラ7に出力する(ステップS3)。ま
た、中央制御ユニット3は、前記演算されたX線ビーム
の曝射タイミングから、曝射タイミングを示すX線ビー
ム曝射タイミング制御信号を高電圧発生器5に出力する
(ステップS5)。さらに、中央制御ユニット3は、デ
ータ収集のタイミングを示すデータ収集制御信号をデー
タ収集部17-1,17-2に出力し、天板25aの移動量
を示す天板移動制御信号を寝台コントローラ27に出力
する(ステップS7,S9)。
The central control unit 3 generates the X-ray beam which indicates the sliding amount of the X-ray beam source 9 from the helical scan condition input by the operator and the calculated setting position of the X-ray beam source 3. Source slide control signal,
A pre-collimator width control signal indicating the pre-collimator width is output to the gantry controller 7 (step S3). Further, the central control unit 3 outputs an X-ray beam exposure timing control signal indicating the exposure timing to the high voltage generator 5 from the calculated X-ray beam exposure timing (step S5). Further, the central control unit 3 outputs a data collection control signal indicating the timing of data collection to the data collection units 17-1 and 17-2, and outputs a top movement control signal indicating the movement amount of the top 25a to the bed controller 27. (Steps S7 and S9).

【0059】X線ビーム発生源スライド制御信号とプリ
コリメータ幅制御信号が中央制御ユニット3から出力さ
れると架台コントローラ7は、X線ビーム発生源スライ
ド制御信号をX線ビーム発生源スライド部11に出力す
るとともに、プリコリメータ幅制御信号をプリコリメー
タコントローラ13-1,13-2に出力する。また架台コ
ントローラ7は、中央制御ユニット3からの指示に従っ
て図示しない回転部の回転速度を決定する。
When the X-ray beam source slide control signal and the pre-collimator width control signal are output from the central control unit 3, the gantry controller 7 sends the X-ray beam source slide control signal to the X-ray beam source slide section 11. In addition to the output, the pre-collimator width control signal is output to the pre-collimator controllers 13-1 and 13-2. Further, the gantry controller 7 determines the rotation speed of a rotating unit (not shown) according to an instruction from the central control unit 3.

【0060】次いで、X線ビーム発生源スライド部11
では、X線ビーム発生源スライド制御信号が架台コント
ローラ7から出力されると、これを基にX線ビーム発生
源9-2の位置を、X線ビーム発生源スライドコントロー
ラ53とアクチュエータ41を介して移動する。尚、X
線ビーム発生源9-2移動の際、X線ビーム発生源9-2以
外に、回転軸方向の重量バランスを保つための錘(図示
せず)が取り付けられている場合は、この錘も同時に移
動させるようにする。
Next, the X-ray beam source slide unit 11
Then, when the X-ray beam source slide control signal is output from the gantry controller 7, based on this, the position of the X-ray beam source 9-2 is set via the X-ray beam source slide controller 53 and the actuator 41. Moving. Incidentally, X
If a weight (not shown) for maintaining weight balance in the rotation axis direction is attached in addition to the X-ray beam generation source 9-2 when moving the radiation beam generation source 9-2, this weight is also simultaneously Try to move.

【0061】また、プリコリメータコントローラ13-
1,13-2は、プリコリメータ幅制御信号が架台コント
ローラ7から出力されると、これを基にプリコリメータ
9b-1,9b-2のプリコリメータ幅をそれぞれ設定す
る。
The pre-collimator controller 13-
When the pre-collimator width control signal is output from the gantry controller 7, the reference numerals 1 and 13-2 set the pre-collimator widths of the pre-collimators 9b-1 and 9b-2, respectively.

【0062】そして、高電圧発生器5は、X線ビーム曝
射タイミング制御信号が中央制御ユニット3から出力さ
れると、これを基にX線ビームの曝射タイミングを決定
する。
When the X-ray beam irradiation timing control signal is output from the central control unit 3, the high voltage generator 5 determines the X-ray beam irradiation timing based on this.

【0063】また、データ収集部17-1,17-2は、デ
ータ収集制御信号が中央制御ユニット3から出力される
と、これを基に検出器15-1,15-2から電気信号を収
集するタイミングを決定する。
When the data collection control signal is output from the central control unit 3, the data collection units 17-1 and 17-2 collect electrical signals from the detectors 15-1 and 15-2 based on the data collection control signal. Decide when to do it.

【0064】一方、寝台コントローラ27では、天板移
動制御信号が中央制御ユニット3から出力されると、天
板スライド部29に天板25aの上下方向の位置と、回
転部1回転当たりの天板25aの移動量を設定させる。
On the other hand, when the couch controller 27 outputs the couchtop movement control signal from the central control unit 3, the couchtop slide portion 29 vertically positions the couchtop 25a and the couchtop per one rotation of the rotating section. The movement amount of 25a is set.

【0065】そして、操作者によりコンソール31の図
示しない入力装置を用いて診断介しキーが押されると
(ステップS11)、中央制御ユニット3は、診断開始
命令を架台コントローラ7、高電圧発生器5、データ収
集部17-1,17-2および寝台コントローラ27に出力
してヘリカルスキャンによる診断を開始する(ステップ
S13,S15)。
When the operator presses a key through the diagnosis using the input device (not shown) of the console 31 (step S11), the central control unit 3 issues a diagnosis start command to the gantry controller 7, the high voltage generator 5, The data is output to the data collecting units 17-1 and 17-2 and the bed controller 27 to start the diagnosis by the helical scan (steps S13 and S15).

【0066】診断が開始されると、寝台コントローラ2
7は、前記設定された移動量で天板25aを移動させ
る。一方、X線ビーム発生源9から所定のタイミングで
X線ビームが曝射され、被検体を通過したX線が検出器
15-1,15-2により電気信号に変換される。そして、
前記変換された電気信号がデータ収集部17-1,17-2
により所定のタイミングで収集され、画像再構成ユニッ
ト19に供給される。画像再構成ユニット19では、デ
ータ収集部17-1,17-2から供給される電気信号を画
像データとして再構成する。尚、画像再構成ユニット1
9は、データ収集部17-1,17-2から供給される電気
信号を処理せず、そのままシステムバス33aを介して
直接データ保存ユニット23のメモリに保存することも
できる。また、データ収集部17-1,17-2により収集
された電気信号は常に画像再構成ユニット19まで供給
されており、画像再構成ユニット19で必要な電気信号
を中央制御ユニット3からの制御信号により取捨選択で
きるようにしても良いし、中央制御ユニット3からの信
号により、データ収集部17-1,17-2側でいずれの電
気信号を画像再構成ユニット19に供給するかを判断す
るようにしても良い。
When the diagnosis is started, the bed controller 2
7 moves the top plate 25a by the set movement amount. On the other hand, the X-ray beam is emitted from the X-ray beam generation source 9 at a predetermined timing, and the X-rays passing through the subject are converted into electric signals by the detectors 15-1 and 15-2. And
The converted electrical signals are data collection units 17-1, 17-2.
Are collected at a predetermined timing by and are supplied to the image reconstruction unit 19. The image reconstruction unit 19 reconstructs the electric signals supplied from the data collection units 17-1 and 17-2 as image data. The image reconstruction unit 1
9 does not process the electric signals supplied from the data collection units 17-1 and 17-2, but can directly store the electric signals in the memory of the data storage unit 23 via the system bus 33a. The electric signals collected by the data collecting units 17-1 and 17-2 are always supplied to the image reconstruction unit 19, and the electric signals required by the image reconstruction unit 19 are controlled by the control signal from the central control unit 3. Alternatively, the data collection units 17-1 and 17-2 may determine which electric signal to supply to the image reconstruction unit 19 based on a signal from the central control unit 3. You can

【0067】そして、再構成された画像データは、画像
表示ユニット21のモニタ上に表示される。また、操作
者からの命令に応じてデータ保存ユニット23のメモリ
に前記画像データを保存する。
Then, the reconstructed image data is displayed on the monitor of the image display unit 21. In addition, the image data is stored in the memory of the data storage unit 23 according to a command from the operator.

【0068】こうして、2つのX線ビーム発生源9-1,
9-2の軌跡が、互いに等間隔の螺旋軌道となるようにX
線ビーム発生源9-1,9-2の間隔が設定されてヘリカル
スキャンが行われる。
Thus, the two X-ray beam sources 9-1,
X so that the locus of 9-2 becomes a spiral orbit at equal intervals.
Helical scanning is performed by setting the distance between the line beam generation sources 9-1 and 9-2.

【0069】このように、第1の実施形態のX線CT装
置1では、2つのX線ビーム発生源9-1,9-2の軌跡
が、互いに等間隔の螺旋軌道となるので、ヘリカルスキ
ャンを効果的に行うことができ、高画質の画像データを
得ることができる。
As described above, in the X-ray CT apparatus 1 according to the first embodiment, the trajectories of the two X-ray beam sources 9-1 and 9-2 are spiral orbits at equal intervals, so that the helical scan is performed. Can be effectively performed, and high-quality image data can be obtained.

【0070】尚、第1の実施形態のX線CT装置1で
は、連続回転型第3世代CTに適用した場合を例にして
説明したが、本発明はこれに限定されること無く、連続
回転型第4世代CTにも適用することができる。この場
合、内面を検出面とする円筒状の検出器は、前記図3に
示した場合と同様に、X線ビーム発生源9を最大移動幅
L移動させてもX線ビームを検出可能な幅とする。尚、
連続回転型第4世代CTに適用した場合のX線ビーム発
生源の移動は、前記X線CT装置1の場合と同様にして
行われる。
In the X-ray CT apparatus 1 of the first embodiment, the case where the X-ray CT apparatus 1 is applied to the continuous rotation type third generation CT has been described as an example, but the present invention is not limited to this, and the continuous rotation type. It is also applicable to the type 4th generation CT. In this case, the cylindrical detector having the inner surface as the detection surface has a width capable of detecting the X-ray beam even if the X-ray beam generation source 9 is moved by the maximum movement width L as in the case shown in FIG. And still,
The movement of the X-ray beam generation source when applied to the continuous rotation type fourth generation CT is performed in the same manner as in the case of the X-ray CT apparatus 1.

【0071】また、第1の実施形態のX線CT装置1で
は、X線ビーム発生源9を2個有する場合を例にして説
明したが、本発明はこれに限定されること無く、X線ビ
ーム発生源9を2個以上(n個)有する場合も適用する
ことができる。この場合、(n−1)個のX線ビーム発
生源スライド部11を設けるようにする。
Further, the X-ray CT apparatus 1 of the first embodiment has been described by taking the case of having two X-ray beam generation sources 9 as an example, but the present invention is not limited to this, and the X-ray CT source 1 is not limited to this. It can also be applied to the case where there are two or more (n) beam generation sources 9. In this case, (n-1) X-ray beam source slide parts 11 are provided.

【0072】図7は本発明に係るX線CT装置の第2の
実施形態を示したブロック図である。尚、図1で示した
ものと同一のものは同一の記号を付して詳細な説明を省
略した。また、この第2の実施形態は、連続回転型の第
3世代CTに適用されるものである。
FIG. 7 is a block diagram showing a second embodiment of the X-ray CT apparatus according to the present invention. The same components as those shown in FIG. 1 are designated by the same reference numerals and detailed description thereof is omitted. The second embodiment is applied to the continuous rotation type third generation CT.

【0073】第2の実施形態のX線CT装置60は、ヘ
リカルスキャンにおいて2つのX線ビーム発生源9-1,
9-2による軌跡が、互いに等間隔の螺旋軌道となるよう
に前記2つのX線ビーム発生源9-1,9-2の間隔および
それに対応させて2つの検出器15-1,15-2の間隔を
設定するものである。このため、図7に示すように第2
の実施形態のX線CT装置60では、図1に示す第1の
実施形態のX線CT装置1に加えて、検出器スライド部
61を設けたものである。
The X-ray CT apparatus 60 of the second embodiment has two X-ray beam generation sources 9-1,
The distance between the two X-ray beam sources 9-1 and 9-2 and the two detectors 15-1 and 15-2 corresponding to the distance so that the loci by 9-2 are spiral orbits at equal intervals. Is to set the interval. Therefore, as shown in FIG.
In the X-ray CT apparatus 60 according to the second embodiment, a detector slide portion 61 is provided in addition to the X-ray CT apparatus 1 according to the first embodiment shown in FIG.

【0074】検出器スライド部61は、架台コントロー
ラ7から出力される検出器スライド制御信号を基に、検
出器15-2の位置をスライドする。この検出器スライド
部61は、図2(a),(b)に示すX線ビーム発生源
スライド部11と同一の構成にしても良いし、X線ビー
ム発生源9-2と検出器15-2とを同時にスライドさせる
ように構成しても良い。
The detector slide section 61 slides the position of the detector 15-2 based on the detector slide control signal output from the gantry controller 7. The detector slide unit 61 may have the same configuration as the X-ray beam generator slide unit 11 shown in FIGS. 2A and 2B, or the X-ray beam generator 9-2 and the detector 15-. You may comprise so that 2 and may be slid simultaneously.

【0075】図8(a),(b)に、X線ビーム発生源
スライド部11と同一の構成の検出器スライド部61の
一例を示す。尚、図8(a)は検出器スライド部61の
正面図であり、図8(b)はその側面図である。また、
図2(a),(b)で示したものと同一のものは同一の
記号を付して詳細な説明を省略した。
FIGS. 8A and 8B show an example of the detector slide portion 61 having the same structure as the X-ray beam source slide portion 11. 8A is a front view of the detector slide portion 61, and FIG. 8B is a side view thereof. Also,
The same components as those shown in FIGS. 2A and 2B are designated by the same reference numerals and detailed description thereof is omitted.

【0076】図8(a),(b)に示すように検出器ス
ライド部61は、X線ビーム発生源スライド部11のX
線ビーム発生源スライドコントローラ53に代えて、検
出器スライドコントローラ63を設けたものである。ア
クチュエータ41の回転量は、架台コントローラ7から
出力される検出器スライド制御信号を基に、検出器スラ
イドコントローラ63によって制御される。尚、検出器
スライド部61は、X線ビーム発生源スライド部11と
同様に動作する。
As shown in FIGS. 8A and 8B, the detector slide portion 61 is the X-ray beam source slide portion X of the X-ray beam generation source slide portion 11.
A detector slide controller 63 is provided in place of the line beam source slide controller 53. The rotation amount of the actuator 41 is controlled by the detector slide controller 63 based on the detector slide control signal output from the gantry controller 7. The detector slide unit 61 operates similarly to the X-ray beam source slide unit 11.

【0077】このように、第2の実施形態のX線CT装
置60では、常にX線ビーム発生源9-2に対する検出器
15-2の相対位置が一定であるため、同じX線ビーム厚
であれば、それを受ける検出器15-2上の回転軸方向の
位置は常に同一となり、検出器15-2の回転軸方向の感
度分布が一定でないことに起因する画質劣化が生じにく
くなる。
As described above, in the X-ray CT apparatus 60 of the second embodiment, the relative position of the detector 15-2 to the X-ray beam generation source 9-2 is always constant, so that the same X-ray beam thickness is obtained. If so, the position in the rotation axis direction on the detector 15-2 that receives it is always the same, and image quality deterioration due to the non-uniform sensitivity distribution in the rotation axis direction of the detector 15-2 is less likely to occur.

【0078】図9(a),(b)は、本発明に係るX線
CT装置の第3の実施形態を示した図である。第3実施
形態では、X線ビーム発生源9-2と検出器15-2とを同
時にスライドさせる構成の検出器スライド部61Bを有
するものである。このため、アクチュエータはX線ビー
ム発生源9-2と検出器15-2用の2つを持つ必要はなく
1つですむ。尚、図9(a)は検出器スライド部61B
の正面図であり、図9(b)はその側面図である。
FIGS. 9A and 9B are views showing an X-ray CT apparatus according to the third embodiment of the present invention. The third embodiment has a detector slide portion 61B configured to simultaneously slide the X-ray beam generation source 9-2 and the detector 15-2. Therefore, it is not necessary to have two actuators for the X-ray beam source 9-2 and the detector 15-2, but only one. Incidentally, FIG. 9A shows the detector slide portion 61B.
FIG. 9 (b) is a side view thereof.

【0079】図9(a),(b)に示すように検出器ス
ライド部61Bは、略円環状の回転部ベースフレーム6
5と、この回転部ベースフレーム65の内面に摺動可能
に固定される略円環状のスライドフレーム67と、この
スライドフレーム67を回転部ベースフレーム65の内
面に沿って摺動させる検出器スライドコントローラ(図
示せず)とから成る。
As shown in FIGS. 9 (a) and 9 (b), the detector slide portion 61B has a substantially annular rotating portion base frame 6
5, a substantially annular slide frame 67 that is slidably fixed to the inner surface of the rotating portion base frame 65, and a detector slide controller that slides the slide frame 67 along the inner surface of the rotating portion base frame 65. (Not shown) and.

【0080】検出器スライド部61Bでは、回転部ベー
スフレーム65に一方のX線ビーム発生源9-1とそれに
対応する検出器15-1とが固定され、スライドフレーム
67にもう一方のX線ビーム発生源9-2とそれに対応す
る検出器15-2が固定される。そして、スライドフレー
ム67ごとX線ビーム発生源9-2と検出器15-2を前記
検出器スライドコントローラによって回転軸方向に移動
させる。尚、回転部ベースフレーム65とスライドフレ
ーム67とが摺動する面には、ボールベアリング等が設
けられる。また、前記検出器スライドコントローラは、
図示しないアクチュエータを用いてスライドフレーム6
7を回転部ベースフレーム65の内面に沿って摺動させ
る。このアクチュエータは、前記アクチュエータ41と
同様の構成となっている。
In the detector slide portion 61B, one X-ray beam generation source 9-1 and the corresponding detector 15-1 are fixed to the rotating portion base frame 65, and the other X-ray beam is attached to the slide frame 67. The source 9-2 and the corresponding detector 15-2 are fixed. Then, the X-ray beam generation source 9-2 and the detector 15-2 together with the slide frame 67 are moved in the rotation axis direction by the detector slide controller. A ball bearing or the like is provided on the surface on which the rotary base frame 65 and the slide frame 67 slide. In addition, the detector slide controller,
Slide frame 6 using an actuator (not shown)
7 is slid along the inner surface of the rotating part base frame 65. This actuator has the same structure as the actuator 41.

【0081】この検出器スライド部61Bを用いた場
合、X線ビーム発生源9-2と検出器15-2を組にしてス
ライドフレーム67ごと移動させるので、X線ビーム発
生源9-2に対する検出器15-2の相対位置を高い制度で
保つことができる。
When the detector slide portion 61B is used, the X-ray beam generation source 9-2 and the detector 15-2 are moved together with the slide frame 67, so that the detection with respect to the X-ray beam generation source 9-2 is performed. The relative position of the container 15-2 can be maintained with high accuracy.

【0082】また、第3の実施形態の検出器15-2は、
図10に示すようにX線ビーム発生源9-2を移動させた
とき、それと同じだけ移動される。このため、第3の実
施形態の検出器15-2は、第1の実施形態の検出器15
-2に比べて、回転軸方向の幅が狭いものを用いることが
できる。
The detector 15-2 of the third embodiment is
When the X-ray beam generation source 9-2 is moved as shown in FIG. 10, it is moved by the same amount. Therefore, the detector 15-2 of the third embodiment is the same as the detector 15-2 of the first embodiment.
Compared with -2, the width of the axis of rotation can be narrower.

【0083】尚、図10では、X線ビーム発生源9-2や
検出器15-2の回転軸方向の取り付け角度差を説明の都
合上0として示しているが、実際にはこれらが互いに干
渉しないように取り付け角度差が設定されなければなら
ない。また、X線ビーム発生源9-2、検出器15-2移動
の際、X線ビーム発生源9-2、検出器15-2以外に、回
転軸方向の重量バランスを保つための錘(図示せず)が
取り付けられている場合は、この錘も同時に移動させる
ようにする。
In FIG. 10, the mounting angle difference of the X-ray beam generation source 9-2 and the detector 15-2 in the rotation axis direction is shown as 0 for convenience of explanation, but in reality, these interfere with each other. The mounting angle difference must be set so as not to. Further, when the X-ray beam generation source 9-2 and the detector 15-2 are moved, in addition to the X-ray beam generation source 9-2 and the detector 15-2, a weight (Fig. If attached (not shown), move this weight at the same time.

【0084】また、図10に示した例では、2つのX線
ビーム発生源9-1,9-2(2つの検出器15-1,15-
2)の場合を説明したが、図11に示すように3つのX
線ビーム発生源9-1,9-2,9-3(3つの検出器15-
1,15-2,15-3)を用いても良い。この場合、螺旋
軌道を等間隔にするとX線ビーム発生源9-1,9-2,9
-3の設置位置は120度間隔となる。
In the example shown in FIG. 10, two X-ray beam sources 9-1 and 9-2 (two detectors 15-1 and 15-
The case of 2) was explained, but as shown in FIG.
Line beam sources 9-1, 9-2, 9-3 (three detectors 15-
1, 15-2, 15-3) may be used. In this case, if the spiral orbits are evenly spaced, the X-ray beam generation sources 9-1, 9-2, 9
The installation positions of -3 are 120 degrees apart.

【0085】次に、本発明に係るX線CT装置の第4の
実施形態を説明する。尚、第4の実施形態のX線CT装
置の構成は、図1に示した第1の実施形態のX線CT装
置1もしくは図7に示した第2の実施形態のX線CT装
置60と同一となるので図示および詳細な説明は省略す
る。またここでは、図1、図7で示したものと同一部材
は、同一の記号を用いて説明する。
Next, a fourth embodiment of the X-ray CT apparatus according to the present invention will be described. The configuration of the X-ray CT apparatus according to the fourth embodiment is the same as the X-ray CT apparatus 1 according to the first embodiment shown in FIG. 1 or the X-ray CT apparatus 60 according to the second embodiment shown in FIG. Since they are the same, their illustration and detailed description are omitted. Also, here, the same members as those shown in FIGS. 1 and 7 will be described using the same symbols.

【0086】第4の実施形態のX線CT装置の中央制御
ユニット3は、X線ビーム発生源9-1と、X線ビーム発
生源9-2によるスライス厚の合計が、回転部1回転当た
りの天板25aの移動量と等しくなるようにする。
In the central control unit 3 of the X-ray CT apparatus according to the fourth embodiment, the total slice thickness of the X-ray beam generation source 9-1 and the X-ray beam generation source 9-2 is one rotation of the rotary unit. The moving amount of the top plate 25a is set to be equal.

【0087】このとき、X線ビーム発生源9-1と、X線
ビーム発生源9-2によるスライス厚が操作者により指定
された場合、中央制御ユニット3は、そのスライス厚の
合計と、回転部1回転当たりの天板25aの移動量が同
一となるように、回転部1回転当たりの天板25aの移
動量を決定する。また、回転部1回転当たりの天板25
aの移動量が操作者により指定された場合、中央制御ユ
ニット3は、その天板25aの移動量と、X線ビーム発
生源9-1とX線ビーム発生源9-2によるスライス厚の合
計が同一となるように、X線ビーム発生源9-1によるス
ライス厚と、X線ビーム発生源9-2によるスライス厚を
決定する。
At this time, when the operator specifies the slice thicknesses by the X-ray beam generating source 9-1 and the X-ray beam generating source 9-2, the central control unit 3 determines the total slice thickness and the rotation. The amount of movement of the top plate 25a per rotation of the rotating unit is determined so that the amount of movement of the top plate 25a per unit rotation is the same. Also, the top plate 25 per one rotation of the rotating unit
When the movement amount of a is designated by the operator, the central control unit 3 determines the total movement amount of the top plate 25a and the total slice thickness of the X-ray beam source 9-1 and the X-ray beam source 9-2. The slice thickness by the X-ray beam generation source 9-1 and the slice thickness by the X-ray beam generation source 9-2 are determined so that

【0088】例えば図12に示すように、X線ビーム発
生源9-1によるスライス厚W1 と、X線ビーム発生源9
-2によるスライス厚W2 の合計(W1 +W2 )と、回転
部1回転当たりの天板25aの移動量を等しくする。
For example, as shown in FIG. 12, the slice thickness W1 by the X-ray beam generator 9-1 and the X-ray beam generator 9-1
The total amount (W1 + W2) of the slice thickness W2 by -2 is made equal to the movement amount of the top plate 25a per one rotation of the rotary unit.

【0089】尚、図12に示す例では、X線ビーム発生
源9-1によるスライス厚W1 と、X線ビーム発生源9-2
によるスライス厚W2 と、X線ビーム発生源9-1による
軌跡からX線ビーム発生源9-2による軌跡までの回転軸
方向の間隔Ihel1と、X線ビーム発生源9-2による軌跡
からX線ビーム発生源9-1による軌跡までの回転軸方向
の間隔Ihel2とが全て等しくなるように(W1 =W2 =
hel1=Ihel2)、中央制御ユニット3は、X線ビーム
発生源9-1とX線ビーム発生源9-2との間隔と、各スラ
イス厚W1 ,W2 を決定している。
In the example shown in FIG. 12, the slice thickness W1 by the X-ray beam generator 9-1 and the X-ray beam generator 9-2 are used.
Slice thickness W2 by X, the distance I hel1 in the rotation axis direction from the locus by the X-ray beam source 9-1 to the locus by the X-ray beam source 9-2, and X by the locus by the X-ray beam source 9-2. All the distances I hel2 in the direction of the rotation axis to the locus by the line beam source 9-1 should be equal (W1 = W2 =
I hel1 = I hel2 ), the central control unit 3 determines the distance between the X-ray beam source 9-1 and the X-ray beam source 9-2 and the slice thicknesses W 1 and W 2.

【0090】このように、第4の実施形態のX線CT装
置では、X線ビーム発生源9-1と、X線ビーム発生源9
-2によるスライス厚の合計が、回転部1回転当たりの天
板25aの移動量と等しくなるようにしているので、最
小限の曝射で撮影領域を漏れなくスキャンすることがで
きる。
As described above, in the X-ray CT apparatus according to the fourth embodiment, the X-ray beam generation source 9-1 and the X-ray beam generation source 9 are used.
Since the total slice thickness of -2 is set to be equal to the movement amount of the top plate 25a per one rotation of the rotating unit, it is possible to scan the imaging region without omission with the minimum exposure.

【0091】次に、本発明に係るX線CT装置の第5の
実施形態を説明する。尚、第5の実施形態のX線CT装
置の構成は、図1に示した第1の実施形態のX線CT装
置1もしくは図7に示した第2の実施形態のX線CT装
置60とX線ビーム発生源9、検出器17の数が異なる
のみであるので、図示および詳細な説明は省略する。ま
たここでは、図1、図7で示したものと同一部材は、同
一の記号を用いて説明する。
Next, a fifth embodiment of the X-ray CT apparatus according to the present invention will be described. The configuration of the X-ray CT apparatus of the fifth embodiment is the same as that of the X-ray CT apparatus 1 of the first embodiment shown in FIG. 1 or the X-ray CT apparatus 60 of the second embodiment shown in FIG. Since only the numbers of the X-ray beam generation sources 9 and the detectors 17 are different, illustration and detailed description are omitted. Also, here, the same members as those shown in FIGS. 1 and 7 will be described using the same symbols.

【0092】第5の実施形態のX線CT装置は、3つの
X線ビーム発生源9-1,9-2,9-3を120度間隔で設
けるとともに、それに対応して3つの検出器を設けたも
のである。尚、X線ビーム発生源9-3は、前記回転部に
固定され、X線ビーム発生源9-1,9-2は、それぞれ対
応するX線ビーム発生源スライド部11によって回転軸
方向に移動可能となっている。またここでは、検出器と
して一列検出器を用いている。
In the X-ray CT apparatus of the fifth embodiment, three X-ray beam sources 9-1, 9-2, 9-3 are provided at 120 ° intervals, and three detectors are correspondingly provided. It is provided. The X-ray beam generation source 9-3 is fixed to the rotating part, and the X-ray beam generation sources 9-1 and 9-2 are moved in the rotation axis direction by the corresponding X-ray beam generation slide parts 11. It is possible. Further, here, a single-row detector is used as the detector.

【0093】図12に示すように、第5の実施形態のX
線CT装置では、3つのX線ビーム発生源9-1,9-2,
9-3の設定位置が同一のミッドプレーン上、即ち、同一
面上に設定されることとなる。尚、図12中、点線で示
すX線ビーム発生源は、コンベンショナルスキャン時の
設定位置を示している。
As shown in FIG. 12, X of the fifth embodiment
In the X-ray CT system, three X-ray beam sources 9-1, 9-2,
The setting positions of 9-3 are set on the same midplane, that is, on the same plane. Note that, in FIG. 12, the X-ray beam generation source indicated by the dotted line indicates the setting position during conventional scanning.

【0094】この場合、X線ビーム発生源9-1による軌
跡からX線ビーム発生源9-2による軌跡までの回転軸方
向の間隔Ihel1と、X線ビーム発生源9-2による軌跡か
らX線ビーム発生源9-3による軌跡までの回転軸方向の
間隔Ihel2と、X線ビーム発生源9-3による軌跡からX
線ビーム発生源9-1による軌跡までの回転軸方向の間隔
hel3は等しくなる。
In this case, the distance I hel1 in the direction of the rotation axis from the locus of the X-ray beam generation source 9-1 to the locus of the X-ray beam generation source 9-2 and the locus of the X-ray beam generation source 9-2 to X The distance I hel2 in the direction of the rotation axis to the trajectory of the X-ray beam generator 9-3 and the X from the trajectory of the X-ray beam generator 9-3
The distance I hel3 in the direction of the rotation axis to the locus by the line beam source 9-1 becomes equal.

【0095】また、図14にX線ビーム発生源9-1,9
-2,9-3から曝射されるX線ビームの曝射タイミングを
示す。3つのX線ビーム発生源9-1,9-2,9-3の設定
位置が同一のミッドプレーン上となるので、X線ビーム
発生源9-1,9-2,9-3から曝射されるX線ビーム曝射
タイミングは、図14に示すように、3つとも同時とな
る。
Further, the X-ray beam generators 9-1 and 9 are shown in FIG.
-The exposure timing of the X-ray beam emitted from 9-3 is shown. Since the setting positions of the three X-ray beam sources 9-1, 9-2, 9-3 are on the same midplane, the X-ray beam sources 9-1, 9-2, 9-3 irradiate As shown in FIG. 14, the X-ray beam irradiation timings are the same for all three.

【0096】このように、第5の実施形態のX線CT装
置では、3つのX線ビーム発生源9-1,9-2,9-3を1
20度間隔で設けることにより、X線ビーム発生源9-
1,9-2,9-3の設定位置が同一のミッドプレーン上と
なるので、X線ビーム曝射タイミングを容易に制御する
ことができる。
As described above, in the X-ray CT apparatus of the fifth embodiment, the three X-ray beam generation sources 9-1, 9-2, 9-3 are set to one.
The X-ray beam generation source 9-is provided at intervals of 20 degrees.
Since the setting positions of 1, 9-2 and 9-3 are on the same midplane, the X-ray beam irradiation timing can be easily controlled.

【0097】尚、第5の実施形態のX線CT装置では、
3つのX線ビーム発生源9-1,9-2,9-3を全て用いて
ヘリカルスキャンを行うが、3つのX線ビーム発生源9
-1,9-2,9-3の内2つ、または1つのみを使用してヘ
リカルスキャンを行うことも可能である。例えばX線ビ
ーム発生源9-1,9-2を使用してヘリカルスキャンを行
う場合には、2つのヘリカルスキャンの軌跡が互いに等
間隔となるように、X線ビーム発生源9-1とX線ビーム
発生源9-2との回転軸方向の間隔を設定することで実現
可能である。
In the X-ray CT apparatus of the fifth embodiment,
Helical scanning is performed using all three X-ray beam sources 9-1, 9-2, 9-3.
It is also possible to perform the helical scan by using two or only one of -1, 9-2 and 9-3. For example, when performing a helical scan using the X-ray beam generators 9-1 and 9-2, the X-ray beam generators 9-1 and the X-ray beam generators 9-1 and X-2 are arranged so that the trajectories of the two helical scans are at equal intervals. This can be realized by setting the distance in the direction of the rotation axis from the line beam generation source 9-2.

【0098】また、X線ビーム発生源9-1とX線ビーム
発生源9-2との組み合わせに限らず、X線ビーム発生源
9-2とX線ビーム発生源9-3、X線ビーム発生源9-1と
X線ビーム発生源9-3でも良い。尚、X線ビーム発生源
9-1とX線ビーム発生源9-2を使用する場合は、2つの
移動量を平均化して等しくするようにすれば、X線ビー
ム発生源9-1,9-2の移動時間を短縮することができ
る。
The combination of the X-ray beam generation source 9-1 and the X-ray beam generation source 9-2 is not limited to the combination of the X-ray beam generation source 9-2, the X-ray beam generation source 9-3, and the X-ray beam generation source. The source 9-1 and the X-ray beam source 9-3 may be used. When the X-ray beam generating source 9-1 and the X-ray beam generating source 9-2 are used, if the two moving amounts are averaged and made equal, the X-ray beam generating sources 9-1, 9 -Travel time of 2 can be shortened.

【0099】尚、第5実施例のX線CT装置では、検出
器として一列検出器を用いているが、本発明はこれに限
定されること無く、図15に示すように検出器として二
列検出器15-1,15-2,15-3を用いても良い。この
場合も3つのX線ビーム発生源9-1,9-2,9-3の設定
位置が同一のミッドプレーン上、即ち、同一面上に設定
されることとなる。尚、図15中、点線で示すX線ビー
ム発生源は、コンベンショナルスキャン時の設定位置を
示している。
Although the X-ray CT apparatus of the fifth embodiment uses a single-row detector as a detector, the present invention is not limited to this, and as shown in FIG. 15, a double-row detector is used. The detectors 15-1, 15-2, 15-3 may be used. Also in this case, the setting positions of the three X-ray beam generation sources 9-1, 9-2, 9-3 are set on the same midplane, that is, on the same plane. Incidentally, in FIG. 15, the X-ray beam generation source indicated by the dotted line indicates the setting position during conventional scanning.

【0100】また、この場合、検出器15-1の2つの検
出器列15-1A ,15-1B による軌跡の回転軸方向の間
隔Ihel11 と、検出器15-1の検出器列15-1B による
軌跡から検出器15-2の検出器列15-2A による軌跡ま
での回転軸方向の間隔Ihel1 2 と、検出器15-2の2つ
の検出器列15-2A ,15-2B による軌跡の回転軸方向
の間隔Ihel21 と、検出器15-2の検出器列15-2B に
よる軌跡から検出器15-3の検出器列15-3A による軌
跡までの回転軸方向の間隔Ihel22 と、検出器15-3の
2つの検出器列15-3A ,15-3B による軌跡の回転軸
方向の間隔Ihe l31 と、検出器15-3の検出器列15-3
B による軌跡から検出器15-1の検出器列15-1A によ
る軌跡までの回転軸方向の間隔Ihel32 とが等しくなる
ようにする。
In this case, the distance I hel11 in the direction of the rotation axis of the locus of the two detector rows 15-1A and 15-1B of the detector 15-1 and the detector row 15-1B of the detector 15-1. by a detector of the rotation axis direction of the by column 15-2A to trace interval I Hel1 2 detector 15-2 from the trajectory, the two detector rows 15-2A detectors 15-2 trajectory by 15-2B a rotation axis direction of the spacing I hel21, the detector 15-2 of the detector row detector rotation axis direction of the spacing I Hel22 of by column 15-3A to the locus of the detector 15-3 from the trajectory by 15-2B, detection two detector rows 15-3A vessels 15-3, the rotation axis direction of the spacing I he l31 trajectory by 15-3B, detector row 15-3 of the detector 15-3
The distance I hel32 in the rotation axis direction from the locus of B to the locus of the detector array 15-1A of the detector 15-1 is made equal.

【0101】また、この場合も3つのX線ビーム発生源
9-1,9-2,9-3の設定位置が同一のミッドプレーン上
となるので、X線ビーム発生源9-1,9-2,9-3から曝
射されるX線ビーム曝射タイミングは、図14に示す場
合と同様に3つとも同時となる。
Also in this case, since the setting positions of the three X-ray beam sources 9-1, 9-2, 9-3 are on the same midplane, the X-ray beam sources 9-1, 9- The X-ray beam irradiation timings irradiated from 2, 9-3 are all three at the same time as in the case shown in FIG.

【0102】さらに、検出器15-1,15-2,15-3と
して3列以上の検出器の場合に対しても適用することが
できるし、他の種類の二次元検出器の場合に対しても適
用することができる。この場合、存在する全ての検出器
列を使用する必要は無く、例えば1つの検出器列のみを
使用して、互いに等間隔のヘリカルスキャン軌跡を実現
するようにしても良い。また、3列以上の検出器列を有
する検出器の場合には、その内の一部の列のみを使用し
て互いに等間隔のヘリカルスキャン軌跡を実現するよう
にしても良い。さらに、一部の検出器を使用して互いに
等間隔のヘリカルスキャン軌跡を実現するようにしても
良い。さらに、一部の検出器を使用することと、一部の
検出器列を使用することを組み合わせて、互いに等間隔
のヘリカルスキャン軌跡を実現するようにしても良い。
Further, the detectors 15-1, 15-2, and 15-3 can be applied to the case of a detector having three or more rows, and to the case of other types of two-dimensional detectors. Can also be applied. In this case, it is not necessary to use all the existing detector rows, and for example, only one detector row may be used to realize helical scan loci at equal intervals. In the case of a detector having three or more detector rows, only some of the rows may be used to realize helical scan loci at equal intervals. Further, some detectors may be used to realize helical scan loci evenly spaced from each other. Furthermore, the use of some detectors and the use of some detector rows may be combined to realize helical scan trajectories at equal intervals.

【0103】次に、本発明に係るX線CT装置の第6の
実施形態を説明する。尚、第6の実施形態のX線CT装
置の構成は、図1に示した第1の実施形態のX線CT装
置1もしくは図7に示した第2の実施形態のX線CT装
置60とX線ビーム発生源9、検出器17の数が異なる
のみであるので、図示および詳細な説明は省略する。ま
たここでは、図1、図7で示したものと同一部材は、同
一の記号を用いて説明する。
Next, a sixth embodiment of the X-ray CT apparatus according to the present invention will be described. The configuration of the X-ray CT apparatus according to the sixth embodiment is the same as the X-ray CT apparatus 1 according to the first embodiment shown in FIG. 1 or the X-ray CT apparatus 60 according to the second embodiment shown in FIG. Since only the numbers of the X-ray beam generation sources 9 and the detectors 17 are different, illustration and detailed description are omitted. Also, here, the same members as those shown in FIGS. 1 and 7 will be described using the same symbols.

【0104】第6の実施形態のX線CT装置は、所定の
領域毎に1つのX線ビーム発生源およびそれに対応した
検出器でヘリカルスキャンを行うものである。ここで
は、図16に示すように、3つのX線ビーム発生源9-
1,9-2,9-3を120度間隔で設けるとともに、それ
に対応して3つの検出器15-1,15-2,15-3を設
け、撮影領域を3つに分けて領域毎にヘリカルスキャン
を行う場合を例にして説明する。
The X-ray CT apparatus of the sixth embodiment performs helical scanning with one X-ray beam generation source and a detector corresponding thereto for each predetermined area. Here, as shown in FIG. 16, three X-ray beam generators 9-
1, 9-2, 9-3 are provided at intervals of 120 degrees, and three detectors 15-1, 15-2, 15-3 are provided correspondingly, and the imaging area is divided into three areas for each area. A case of performing a helical scan will be described as an example.

【0105】図16に示す例では、X線ビーム発生源9
-1は領域a1、X線ビーム発生源9-2は領域a2、X線
ビーム発生源9-3は領域a3をヘリカルスキャンする。
In the example shown in FIG. 16, the X-ray beam generation source 9
-1 helically scans the area a1, the X-ray beam generator 9-2 helically scans the area a2, and the X-ray beam generator 9-3 helically scans the area a3.

【0106】またこの場合、必ずしも各領域(領域a
1、領域a2、領域a3)の大きさは同一とする必要は
ないが、同一とし、かつ、各領域の開始点の間隔をX線
ビーム発生源9-1,9-2,9-3の間隔と等しく設定した
場合には、X線ビーム曝射タイミングは、図17に示す
ように同時となり、X線ビーム曝射タイミングを容易に
制御することができる。
In this case, each area (area a
1, the area a2, and the area a3) do not have to be the same in size, but they are the same, and the intervals between the start points of the areas are the same as those of the X-ray beam generators 9-1, 9-2, 9-3. When set to be equal to the interval, the X-ray beam irradiation timings are the same as shown in FIG. 17, and the X-ray beam irradiation timings can be easily controlled.

【0107】第6の実施形態のX線CT装置では、設定
され得る最大の回転軸方向のX線ビーム発生源間隔をI
max とすると、ヘリカルスキャンの合計の撮影領域がI
max*(X線ビーム発生源数)よりも小さい場合に適用
可能である。
In the X-ray CT apparatus of the sixth embodiment, the maximum X-ray beam source spacing in the direction of the rotation axis that can be set is I.
If max is set, the total imaging area of the helical scan is I
It is applicable when it is smaller than max * (the number of X-ray beam sources).

【0108】このように、第6の実施形態のX線CT装
置では、領域毎に1つのX線ビーム発生源およびそれに
対応した検出器でヘリカルスキャンを行うようにしてい
るので、1つの領域内で複数の検出器を使用することが
無く、検出器間の感度差による生じる画質の劣化を防止
することができる。
As described above, in the X-ray CT apparatus according to the sixth embodiment, one X-ray beam generation source and a detector corresponding to each area are used to perform the helical scan. Therefore, it is possible to prevent deterioration of image quality caused by a difference in sensitivity between detectors without using a plurality of detectors.

【0109】尚、第6の実施形態のX線CT装置では、
X線ビーム発生源9-1,9-2,9-3から同時にX線ビー
ムを曝射するようにしているが、図18に示すようにX
線ビーム曝射タイミングをずらすことで、より広い領域
をヘリカルスキャンすることができる。
Incidentally, in the X-ray CT apparatus of the sixth embodiment,
Although the X-ray beams are simultaneously emitted from the X-ray beam generation sources 9-1, 9-2, 9-3, as shown in FIG.
By shifting the irradiation timing of the line beam, a wider area can be helically scanned.

【0110】この場合、図19に示すように、まずX線
ビーム発生源9-1がX線ビームの曝射を開始する。次い
でX線ビーム発生源9-2に対応するスキャン位置が領域
a2に差し掛かった段階でX線ビーム発生源9-2もX線
ビームの曝射を開始する。同様にX線ビーム発生源9-3
も領域a3の開始点でX線ビームの曝射を開始する。そ
の後、X線ビーム発生源9-1は、そのスキャン位置が領
域a1の終了点を通過した時点でX線ビームの曝射を終
了する。同様にX線ビーム発生源9-2,9-3もそれぞれ
の領域a2,a3の終了点でX線ビームの曝射を終了す
る。
In this case, as shown in FIG. 19, first, the X-ray beam generation source 9-1 starts irradiation of the X-ray beam. Next, when the scan position corresponding to the X-ray beam generation source 9-2 approaches the area a2, the X-ray beam generation source 9-2 also starts the X-ray beam irradiation. Similarly, the X-ray beam source 9-3
Also starts irradiation of the X-ray beam at the start point of the region a3. After that, the X-ray beam generation source 9-1 ends the irradiation of the X-ray beam when the scan position passes the end point of the area a1. Similarly, the X-ray beam generators 9-2 and 9-3 also terminate the exposure of the X-ray beam at the end points of the respective regions a2 and a3.

【0111】またこの場合では、設定され得る最大の回
転軸方向のX線ビーム発生源間隔をImax とすると、ヘ
リカルスキャンの合計の撮影領域がImax *(X線ビー
ム発生源数)よりも大きい場合に適用するのが一般的で
ある。
In this case, if the maximum X-ray beam source spacing in the direction of the rotation axis that can be set is Imax, the total imaging area of the helical scan is larger than Imax * (the number of X-ray beam sources). It is generally applied to.

【0112】また、第6の実施形態のX線CT装置で
は、3つのX線ビーム発生源9-1,9-2,9-3を全て用
いてヘリカルスキャンを行うが、3つのX線ビーム発生
源9-1,9-2,9-3の内2つ、または1つのみを使用し
てヘリカルスキャンを行うことも可能である。例えばX
線ビーム発生源9-1,9-2を使用してヘリカルスキャン
を行う場合を図20に示す。
Further, in the X-ray CT apparatus of the sixth embodiment, helical scanning is performed using all three X-ray beam sources 9-1, 9-2, 9-3, but three X-ray beams are used. It is also possible to use two or only one of the sources 9-1, 9-2 and 9-3 to perform the helical scan. For example X
FIG. 20 shows a case where helical scanning is performed using the line beam generation sources 9-1 and 9-2.

【0113】図20に示すように、撮影領域を2つに分
け、領域毎にヘリカルスキャンを行う。即ち、X線ビー
ム発生源9-1は領域a1、X線ビーム発生源9-2は領域
a2をヘリカルスキャンする。この時、必ずしも各領域
(領域a1、領域a2)の大きさは同一とする必要はな
いが、同一とし、かつ、各領域の開始点の間隔をX線ビ
ーム発生源9-1,9-2の間隔と等しく設定した場合に
は、X線ビーム曝射タイミングは、図21に示すように
同時となり、X線ビーム曝射タイミングを容易に制御す
ることができる。また、X線ビーム発生源9-1とX線ビ
ーム発生源9-2を使用する場合は、2つの移動量を平均
化して等しくするようにすれば、X線ビーム発生源9-
1,9-2の移動時間を短縮することができる。
As shown in FIG. 20, the photographing area is divided into two areas, and a helical scan is performed for each area. That is, the X-ray beam generation source 9-1 scans the area a1 and the X-ray beam generation source 9-2 scans the area a2. At this time, the sizes of the areas (area a1 and area a2) do not necessarily have to be the same, but they are the same and the intervals between the start points of the areas are set to the X-ray beam generation sources 9-1 and 9-2. When the interval is set to be equal to, the X-ray beam irradiation timings are the same as shown in FIG. 21, and the X-ray beam irradiation timings can be easily controlled. Further, when the X-ray beam generation source 9-1 and the X-ray beam generation source 9-2 are used, if the two movement amounts are averaged to be equal, the X-ray beam generation source 9-
The travel time of 1, 9-2 can be shortened.

【0114】さらに、第6の実施形態のX線CT装置で
は、検出器として一列検出器を用いているが、本発明は
これに限定されること無く、図22に示すように検出器
として二列検出器15-1,15-2,15-3を用いても良
い。この場合、撮影領域を3つに分け、領域毎にヘリカ
ルスキャンを行う。即ち、X線ビーム発生源9-1は領域
a1、X線ビーム発生源9-2は領域a2、X線ビーム発
生源9-3は領域a3をヘリカルスキャンする。
Furthermore, in the X-ray CT apparatus of the sixth embodiment, a single-row detector is used as the detector, but the present invention is not limited to this, and as shown in FIG. The column detectors 15-1, 15-2, 15-3 may be used. In this case, the imaging region is divided into three, and the helical scan is performed for each region. That is, the X-ray beam generator 9-1 performs a helical scan on the area a1, the X-ray beam generator 9-2 on the area a2, and the X-ray beam generator 9-3 on the area a3.

【0115】またこの場合、必ずしも各領域(領域a
1、領域a2、領域a3)の大きさは同一とする必要は
ないが、同一とし、かつ、各領域の開始点の間隔をX線
ビーム発生源9-1,9-2,9-3の間隔と等しく設定した
場合には、X線ビーム曝射タイミングは、図23に示す
ように同時となり、X線ビーム曝射タイミングを容易に
制御することができる。
In this case, each area (area a
1, the area a2, and the area a3) do not have to be the same in size, but they are the same, and the intervals between the start points of the areas are the same as those of the X-ray beam generators 9-1, 9-2, 9-3. When set to be equal to the interval, the X-ray beam irradiation timings are the same as shown in FIG. 23, and the X-ray beam irradiation timings can be easily controlled.

【0116】さらに、第6の実施形態のX線CT装置で
は、検出器として3列以上の検出器を用いた場合にも適
用することができるし、他の種類の二次元検出器を用い
た場合にも適用することができる。
Furthermore, the X-ray CT apparatus according to the sixth embodiment can be applied to the case where three or more rows of detectors are used as the detector, and another type of two-dimensional detector is used. It can also be applied in cases.

【0117】次に、第6の実施形態のX線CT装置を用
いた場合の撮影領域幅に対する領域数の設定方法および
X線ビーム曝射タイミングの例を図24に示す。ここ
で、設定され得る最大の回転軸方向のX線ビーム発生源
の間隔をImax とし、操作者により指定された撮影領域
幅により4つのケースに分ける。
Next, FIG. 24 shows an example of a method of setting the number of areas with respect to the imaging area width and the X-ray beam irradiation timing when the X-ray CT apparatus of the sixth embodiment is used. Here, the maximum settable interval between the X-ray beam generation sources in the rotation axis direction is Imax, and the case is divided into four cases according to the imaging region width designated by the operator.

【0118】撮影領域≦Imax の場合(C1YES )、領
域数を1とし、1つのX線ビーム発生源(X線ビーム発
生源9-1、X線ビーム発生源9-2またはX線ビーム発生
源9-3)を使用したヘリカルスキャンを行う。
When the imaging region ≦ Imax (C1YES), the number of regions is set to 1, and one X-ray beam generator (X-ray beam generator 9-1, X-ray beam generator 9-2 or X-ray beam generator) is used. Perform a helical scan using 9-3).

【0119】Imax ≦撮影領域<3*Imax の場合(C
1NO,C3YES )、領域数を2とし、それぞれの領域の
大きさは撮影領域/2とする。2つのX線ビーム発生源
(X線ビーム発生源9-1とX線ビーム発生源9-2、X線
ビーム発生源9-2とX線ビーム発生源9-3またはX線ビ
ーム発生源9-3とX線ビーム発生源9-1)を使用したヘ
リカルスキャンを行う。2つのX線ビーム発生源のX線
ビーム曝射タイミングは同時とする。
When Imax ≦ shooting area <3 * Imax (C
1NO, C3YES), the number of areas is 2, and the size of each area is imaging area / 2. Two X-ray beam sources (X-ray beam source 9-1 and X-ray beam source 9-2, X-ray beam source 9-2 and X-ray beam source 9-3 or X-ray beam source 9 -3 and an X-ray beam source 9-1) are used to perform a helical scan. The X-ray beam irradiation timings of the two X-ray beam generation sources are the same.

【0120】2*Imax ≦撮影領域<3*Imax の場合
(C3NO,C5YES )、領域数を3とし、それぞれの領
域の大きさは撮影領域/3とする。3つのX線ビーム発
生源(X線ビーム発生源9-1とX線ビーム発生源9-2と
X線ビーム発生源9-3)を使用したヘリカルスキャンを
行う。3つのX線ビーム発生源のX線ビーム曝射タイミ
ングは同時とする。
When 2 * Imax ≦ photographing region <3 * Imax (C3NO, C5YES), the number of regions is 3, and the size of each region is photographing region / 3. Helical scanning is performed using three X-ray beam generation sources (X-ray beam generation source 9-1, X-ray beam generation source 9-2 and X-ray beam generation source 9-3). The X-ray beam irradiation timings of the three X-ray beam generation sources are the same.

【0121】3*Imax <撮影領域の場合(C5NO)、
領域数を3とし、それぞれの領域の大きさは撮影領域/
3とする。3つのX線ビーム発生源(X線ビーム発生源
9-1とX線ビーム発生源9-2とX線ビーム発生源9-3)
を使用したヘリカルスキャンを行う。各X線ビーム発生
源からのX線ビーム曝射タイミングをずらすことで、前
記2*Imax ≦撮影領域<3*Imax の場合より広い領
域のヘリカルスキャンを行う。
When 3 * Imax <shooting area (C5 NO),
The number of areas is 3, and the size of each area is
3 is assumed. Three X-ray beam sources (X-ray beam source 9-1, X-ray beam source 9-2 and X-ray beam source 9-3)
Perform a helical scan using. By shifting the X-ray beam irradiation timing from each X-ray beam generation source, a helical scan of a wider area than in the case of 2 * Imax ≦ imaging area <3 * Imax is performed.

【0122】こうして、操作者により指定された撮影領
域幅を基に、4つのケースに分けて領域数と、X線ビー
ム曝射タイミングが決定される。
In this way, the number of regions and the X-ray beam exposure timing are determined in four cases based on the imaging region width designated by the operator.

【0123】次に、本発明に係るX線CT装置の第7の
実施形態を説明する。尚、第7の実施形態のX線CT装
置の構成は、図1に示した第1の実施形態のX線CT装
置1もしくは図7に示した第2の実施形態のX線CT装
置60とX線ビーム発生源9、検出器17の数が異なる
のみであるので、図示および詳細な説明は省略する。ま
たここでは、図1、図7で示したものと同一部材は、同
一の記号を用いて説明する。
Next, a seventh embodiment of the X-ray CT apparatus according to the present invention will be described. The configuration of the X-ray CT apparatus according to the seventh embodiment is the same as that of the X-ray CT apparatus 1 according to the first embodiment shown in FIG. 1 or the X-ray CT apparatus 60 according to the second embodiment shown in FIG. Since only the numbers of the X-ray beam generation sources 9 and the detectors 17 are different, illustration and detailed description are omitted. Also, here, the same members as those shown in FIGS. 1 and 7 will be described using the same symbols.

【0124】第7の実施形態のX線CT装置は、ヘリカ
ルスキャン条件の異なる複数の領域を一連の動作でヘリ
カルスキャンするようにしたものである。
The X-ray CT apparatus of the seventh embodiment is such that a plurality of regions having different helical scan conditions are helically scanned by a series of operations.

【0125】例えば図25に示すようなヘリカルスキャ
ン条件を撮影領域毎に設定する。この時、スキャノ像上
で撮影領域の回転を指定し、各撮影領域に対して、領域
幅、使用X線ビーム発生源数、スライス厚、1回転当た
りの天板送り、X線管電圧、X線管電流を入力する。
尚、使用使用X線ビーム発生源数が自動とされた場合に
は、前記図24に示した例に基づいてスキャン方法が決
定される。
For example, a helical scan condition as shown in FIG. 25 is set for each photographing area. At this time, the rotation of the imaging area is designated on the scanograph image, and the area width, the number of X-ray beam sources used, the slice thickness, the top plate feed per rotation, the X-ray tube voltage, the X-axis, and the X-ray tube voltage are set for each imaging area. Enter the tube current.
When the number of used X-ray beam generation sources is automatic, the scanning method is determined based on the example shown in FIG.

【0126】ここでは、図26に示すように、3つのX
線ビーム発生源9-1,9-2,9-3を120度間隔で設け
るとともに、それに対応して3つの検出器15-1,15
-2,15-3を設け、1回転当たりの天板送りの異なる複
数の領域をスキャンする場合を例にして説明する。
Here, as shown in FIG. 26, three X
The line beam sources 9-1, 9-2, 9-3 are provided at 120 ° intervals, and three detectors 15-1, 15 are provided correspondingly.
An example will be described in which -2 and 15-3 are provided and a plurality of areas having different top plate feeds per rotation are scanned.

【0127】図26に示す例では、撮影条件の異なる撮
影領域a1,a2をそれぞれ3つの領域に分け、この領
域毎にヘリカルスキャンを行う。即ち、X線ビーム発生
源9-1は領域a11と領域a21、X線ビーム発生源9
-2は領域a12と領域a22、X線ビーム発生源9-3は
領域a13と領域a23をヘリカルスキャンする。撮影
領域a1,a2での撮影条件の違いは、1回転当たりの
天板送りが異なる点である。また、X線ビーム発生源の
間隔を途中で変えるようにしている。尚、X線ビーム曝
射は、対応する領域に対してのみ行うようにする。
In the example shown in FIG. 26, the photographing areas a1 and a2 having different photographing conditions are divided into three areas, and a helical scan is performed for each of these areas. That is, the X-ray beam generation source 9-1 includes the regions a11 and a21, and the X-ray beam generation source 9-1.
-2 helically scans the regions a12 and a22, and the X-ray beam generator 9-3 helically scans the regions a13 and a23. The difference between the photographing conditions in the photographing regions a1 and a2 is that the top feed per rotation is different. Further, the interval between the X-ray beam generation sources is changed on the way. The X-ray beam irradiation is performed only on the corresponding area.

【0128】ここで、撮影領域a1、撮影領域a2と
も、各領域(領域11、12、13および領域21、2
2、23)の開始点の間隔をX線ビーム発生源の間隔と
一致させ、かつ領域の大きさをそれぞれ等しくした場合
のX線ビーム曝射タイミングを図27に示す。
Here, both the photographing area a1 and the photographing area a2 (areas 11, 12, 13 and areas 21, 2).
FIG. 27 shows the X-ray beam irradiation timing in the case where the distance between the starting points of (2, 23) is made equal to the distance between the X-ray beam generation sources and the sizes of the regions are made equal to each other.

【0129】撮影領域a1の撮影が終了した時点から撮
影領域a2の撮影が始まるまでの間で、天板速度の変更
がなされるようにする。尚、前記天板速度変更の間は、
X線ビーム曝射は停止させる。また、X線ビーム発生源
9-1,9-2,9-3の間隔の変更もこの間になされる。つ
まり、撮影領域a1が終了した後、撮影領域a2の領域
a21,a22,a23の各開始点にX線ビーム発生源
9-1,9-2,9-3が位置するようにX線ビーム発生源9
-1,9-2,9-3の間隔を設定し、再び撮影領域a2のヘ
リカルスキャンを行う。
The top speed is changed between the time when the photographing of the photographing area a1 is finished and the time when the photographing of the photographing area a2 is started. During the change of the top speed,
X-ray beam exposure is stopped. Further, the intervals of the X-ray beam generation sources 9-1, 9-2, 9-3 are also changed during this time. In other words, after the imaging area a1 is finished, the X-ray beam generation is performed so that the X-ray beam generation sources 9-1, 9-2, 9-3 are located at the start points of the areas a21, a22, and a23 of the imaging area a2. Source 9
The intervals of -1, 9-2, 9-3 are set, and the helical scan of the imaging area a2 is performed again.

【0130】この場合、1回転当たりの天板送りが異な
る2つの撮影領域a1,a2を一連の動作でヘリカルス
キャンし、また、X線ビーム発生源の間隔を途中で変え
るようにしているので、診断効率が向上する。
In this case, the two imaging areas a1 and a2 having different top plate feeds per rotation are helically scanned by a series of operations, and the interval between the X-ray beam generating sources is changed on the way. Diagnostic efficiency is improved.

【0131】次に、撮影領域a1の幅がX線ビーム発生
源最大間隔Imax *(X線ビーム発生源数)より大きい
場合を含む例を図28に示す。この例は、撮影領域a1
では図29に示すように各X線ビーム曝射タイミングを
ずらすことで、より広い領域のヘリカルスキャンを可能
にしている。
Next, FIG. 28 shows an example including a case where the width of the imaging area a1 is larger than the maximum X-ray beam generation source interval Imax * (the number of X-ray beam generation sources). In this example, the shooting area a1
Then, by shifting the X-ray beam irradiation timings as shown in FIG. 29, a helical scan of a wider area is enabled.

【0132】この場合、図26に示す例に加え、X線ビ
ーム発生源最大間隔Imax *(X線ビーム発生源数)よ
り大きくなる場合でも適用することができる。
In this case, in addition to the example shown in FIG. 26, the present invention can be applied even when it is larger than the maximum X-ray beam generation source interval Imax * (the number of X-ray beam generation sources).

【0133】次に、1回転当たりの天板送りは同じで、
他の条件が異なる場合を図29に示す。この例では、撮
影領域a2に関しては3つのX線ビーム発生源9-1,9
-2,9-3の内の一部(X線ビーム発生源9-1とX線ビー
ム発生源9-2)を使用してヘリカルスキャンするという
ものである。尚、この図30に示す例では、X線ビーム
発生源9-1,9-2,9-3の間隔を途中で変えることがな
いので、図31に示すようにX線ビーム曝射タイミング
を調節することで、診断を行う領域の幅を変更してい
る。
Next, the top plate feed per rotation is the same,
FIG. 29 shows the case where other conditions are different. In this example, three X-ray beam sources 9-1 and 9 are used for the imaging area a2.
A part of -2 and 9-3 (X-ray beam generation source 9-1 and X-ray beam generation source 9-2) is used for helical scanning. In the example shown in FIG. 30, since the intervals between the X-ray beam sources 9-1, 9-2, 9-3 are not changed on the way, the X-ray beam irradiation timing is set as shown in FIG. By adjusting, the width of the region to be diagnosed is changed.

【0134】この場合、X線ビーム発生源9-1,9-2,
9-3の間隔を途中で変えることがないので、その分、X
線ビーム発生源9-1,9-2,9-3の移動制御が簡単にな
る。
In this case, the X-ray beam generators 9-1, 9-2,
Since the 9-3 interval is not changed on the way, X
The movement control of the line beam sources 9-1, 9-2, 9-3 is simplified.

【0135】このように、第7の実施形態のX線CT装
置では、ヘリカルスキャン条件の異なる複数の領域を一
連の動作でヘリカルスキャンするようにしているので、
診断効率が向上する。
As described above, in the X-ray CT apparatus according to the seventh embodiment, a plurality of regions having different helical scan conditions are helically scanned by a series of operations.
Diagnostic efficiency is improved.

【0136】尚、第7の実施形態のX線CT装置では、
撮影領域が互いに隣接している場合を例にして説明した
が、隣接していない場合でも適用できる。また、検出器
として二次元検出器を用いた場合にも適用することがで
きる。
Incidentally, in the X-ray CT apparatus of the seventh embodiment,
The case where the imaging regions are adjacent to each other has been described as an example, but the present invention can be applied even when the imaging regions are not adjacent to each other. It can also be applied when a two-dimensional detector is used as the detector.

【0137】次に、本発明に係るX線CT装置の第8の
実施形態を説明する。尚、第8の実施形態のX線CT装
置の構成は、図1に示した第1の実施形態のX線CT装
置1もしくは図7に示した第2の実施形態のX線CT装
置60と同一構成であるので、図示および詳細な説明は
省略する。またここでは、図1、図7で示したものと同
一部材は、同一の記号を用いて説明する。
Next, an eighth embodiment of the X-ray CT apparatus according to the present invention will be described. The configuration of the X-ray CT apparatus according to the eighth embodiment is the same as the X-ray CT apparatus 1 according to the first embodiment shown in FIG. 1 or the X-ray CT apparatus 60 according to the second embodiment shown in FIG. Since they have the same configuration, illustration and detailed description thereof are omitted. Also, here, the same members as those shown in FIGS. 1 and 7 will be described using the same symbols.

【0138】所定位置の画像データを再構成するために
は、画像データの補間が必要であり、360度補間であ
れば、再構成する位置を中心に360度、対向ビーム補
間であれば、再構成する位置を中心に(180度+X線
ビームのファン角度/2)分の画像データが必要とな
る。
In order to reconstruct the image data at a predetermined position, it is necessary to interpolate the image data. If it is 360 degree interpolation, it is 360 degrees centered on the reconstructed position, and if it is the counter beam interpolation, it is reconstructed. Image data corresponding to (180 degrees + fan angle of X-ray beam / 2) is required around the constituent position.

【0139】隣接した所定の領域毎に1つのX線ビーム
発生源およびそれに対応した検出器でヘリカルスキャン
を行った場合、境界部付近では、前述したように1つの
X線ビーム発生源に対応した画像データのみでは再構成
できない部分が生じるので双方の領域の画像データを使
用した再構成が必要となる。しかし、前記領域毎に1つ
のX線ビーム発生源およびそれに対応した検出器でヘリ
カルスキャンを行った場合、領域が異なるとX線ビーム
発生源に対応する螺旋軌道も異なるので、アーチファク
ト等の画質劣化を起こしやすいという問題がある。この
領域境界部での画質劣化を防止するため、第8の実施形
態では、領域と領域の境界部よりそれぞれ所定量分オー
バーラップさせるというものである。
When a helical scan is performed with one X-ray beam generation source and a detector corresponding thereto for each adjacent predetermined region, in the vicinity of the boundary portion, one X-ray beam generation source corresponds to one as described above. Since some parts cannot be reconstructed with only the image data, it is necessary to reconstruct using the image data of both areas. However, when helical scanning is performed with one X-ray beam generation source and a detector corresponding thereto for each region, the spiral orbit corresponding to the X-ray beam generation source also differs for different regions, so image quality deterioration such as artifacts occurs. There is a problem that it is easy to cause. In order to prevent the image quality deterioration at the area boundary portion, in the eighth embodiment, the areas are overlapped from each other by a predetermined amount.

【0140】領域の境界部をオーバーラップしてヘリカ
ルスキャンを行った場合のヘリカルスキャン軌跡を図3
2に示す。この例は、1回転当たりの天板送りが領域a
1、領域a2ともに等しい場合であり、前記オーバーラ
ップさせる領域(以下、オーバーラップ領域と記す)O
1,O2は、それぞれ境界より1回転分である。尚、オ
ーバーラップ領域O1,O2は、それぞれ(180度+
X線ビームのファン角度/2)分としても良い。また、
1回転当たりの天板送りが領域a1と領域a2で等しく
ない場合もオーバーラップ領域O1,O2は、それぞれ
1回転分、または、(180度+X線ビームのファン角
度/2)分とする。
FIG. 3 shows a helical scan locus in the case where a helical scan is performed by overlapping the boundaries of the regions.
It is shown in FIG. In this example, the top plate feed per rotation is area a.
1 and the area a2 are equal, and the area to be overlapped (hereinafter referred to as an overlap area) O
1 and O2 are each one rotation from the boundary. The overlapping areas O1 and O2 are (180 degrees +
It may be a fan angle of the X-ray beam / 2). Also,
Even when the top plate feed per rotation is not equal in the areas a1 and a2, the overlapping areas O1 and O2 are each one rotation or (180 degrees + X-ray beam fan angle / 2).

【0141】このように、第8の実施形態のX線CT装
置では、領域の境界部よりそれぞれ所定量オーバーラッ
プさせているので、いずれの位置の画像データを再構成
する場合も一方のX線ビーム発生源に対応した画像デー
タのみで画像データを再構成することができる。
As described above, in the X-ray CT apparatus according to the eighth embodiment, the regions are overlapped by a predetermined amount, so that the image data at any position can be reconstructed by one X-ray. The image data can be reconstructed only by the image data corresponding to the beam generation source.

【0142】尚、第8の実施形態のX線CT装置では、
検出器として一列検出器を用いた場合を例にして説明し
たが、本発明はこれに限定されること無く、例えば二次
元検出器を用いた場合にも適用することができる。
Incidentally, in the X-ray CT apparatus of the eighth embodiment,
The case where the single-row detector is used as the detector has been described as an example, but the present invention is not limited to this, and can be applied to the case where a two-dimensional detector is used, for example.

【0143】検出器として二列検出器を用い、領域の境
界部をオーバーラップさせてヘリカルスキャンさせた場
合のヘリカルスキャン軌跡を図33に示す。図33に示
すように二次元検出器15-1,15-2を用いた場合で
は、隣の領域に最も近い検出器列のスキャン位置が境界
上にある状態から、隣の領域の方向に更に1回転分また
は180度プラスファン角度分をオーバーラップさせる
ようにする。図33に示した例では、1回転当たりの天
板送りが領域a1,a2ともに等しい場合の例であり、
オーバーラップ領域O1,O2は、それぞれ境界より1
回転分である。尚、オーバーラップ領域O1,O2は、
それぞれ180度プラスX線ビームのファン角度分とし
ても良い。また、1回転当たりの天板送りが領域a1と
領域a2で等しくない場合もオーバーラップ領域O1,
O2は、それぞれ1回転分、または、180度プラスX
線ビームのファン角度分とする。
FIG. 33 shows a helical scan locus in the case where a two-row detector is used as the detector and the helical scanning is performed by overlapping the boundary portion of the regions. As shown in FIG. 33, in the case of using the two-dimensional detectors 15-1 and 15-2, from the state where the scan position of the detector row closest to the adjacent area is on the boundary, the direction of the adjacent area is further increased. Make one rotation or 180 degrees plus the fan angle overlap. In the example shown in FIG. 33, the top plate feed per rotation is the same in both the areas a1 and a2,
The overlap areas O1 and O2 are each 1 from the boundary.
It is a rotation. The overlap areas O1 and O2 are
Each may be 180 degrees plus the fan angle of the X-ray beam. Also, when the top feed per rotation is not equal in the areas a1 and a2, the overlap area O1,
O2 is equivalent to one rotation or 180 degrees plus X
It is the fan angle of the line beam.

【0144】次に、本発明に係るX線CT装置の第9の
実施形態を説明する。尚、第9の実施形態のX線CT装
置の構成は、図1に示した第1の実施形態のX線CT装
置1もしくは図7に示した第2の実施形態のX線CT装
置60とX線ビーム発生源9、検出器17の数が異なる
のみであるので、図示および詳細な説明は省略する。ま
たここでは、図1、図7で示したものと同一部材は、同
一の記号を用いて説明する。
Next, a ninth embodiment of the X-ray CT apparatus according to the present invention will be described. The configuration of the X-ray CT apparatus of the ninth embodiment is the same as that of the X-ray CT apparatus 1 of the first embodiment shown in FIG. 1 or the X-ray CT apparatus 60 of the second embodiment shown in FIG. Since only the numbers of the X-ray beam generation sources 9 and the detectors 17 are different, illustration and detailed description are omitted. Also, here, the same members as those shown in FIGS. 1 and 7 will be described using the same symbols.

【0145】第9の実施形態では、前記領域境界部での
画質劣化を防止するため、撮影に使用する各X線ビーム
発生源に対応したヘリカルスキャン軌跡が同一の螺旋軌
道上にのるようにX線ビーム発生源の回転軸方向の間隔
を設定するものである。
In the ninth embodiment, in order to prevent the image quality from deteriorating at the area boundary portion, the helical scan loci corresponding to the respective X-ray beam sources used for imaging are placed on the same spiral orbit. The distance between the X-ray beam generation sources in the rotation axis direction is set.

【0146】角度120度毎に3つのX線ビーム発生源
を有する場合において、X線ビーム発生源の描く螺旋軌
道が同一の螺旋軌道にのるようにX線ビーム発生源の回
転軸方向の間隔を設定してヘリカルスキャンを行ったと
きのヘリカルスキャン軌跡を図34に示す。尚、前期同
一の螺旋軌道上にのせるためには、1回転当たりの天板
送りが等しく、かつ、隣接した領域である必要がある。
When three X-ray beam generators are provided at every 120 degrees, the intervals of the X-ray beam generators in the rotation axis direction are set so that the spiral trajectories drawn by the X-ray beam generators are on the same spiral trajectory. FIG. 34 shows a helical scan locus when performing a helical scan with the setting of. In addition, in order to put them on the same spiral orbit in the previous period, it is necessary that the top plate feed per rotation is the same and the regions are adjacent to each other.

【0147】X線ビーム発生源が角度120度毎に設け
られている場合、領域幅は、 領域幅=(整数+1/3)回転に相当する天板送り距離 とすることで、図34に示すように各X線ビーム発生源
に対応したヘリカルスキャン軌跡を同一の螺旋軌道上に
乗せることができる。尚、使用するX線ビーム発生源の
数やその取り付け角度により、領域幅は異なる。図34
に示す例では、各領域幅は、5と1/3回転相当の天板
送り距離である。
When the X-ray beam generation source is provided at an angle of 120 degrees, the area width is set to the area width = (integer + 1/3) rotation, which is shown in FIG. As described above, the helical scan loci corresponding to the respective X-ray beam generation sources can be placed on the same spiral orbit. The region width differs depending on the number of X-ray beam generators used and the mounting angle thereof. FIG.
In the example shown in, each area width is a top plate feed distance equivalent to 5 and 1/3 rotation.

【0148】このように、第9の実施形態のX線CT装
置は、連続した1つの螺旋軌道の画像データが得られ、
螺旋軌道が異なることによるアーチファクトや画像の不
連続性を無くすことができる。この場合、第8の実施形
態のようにオーバーラップさせなくても互いの領域のデ
ータを補間して再構成することもできる。
As described above, the X-ray CT apparatus according to the ninth embodiment can obtain image data of one continuous spiral trajectory,
Artifacts and image discontinuities due to different spiral trajectories can be eliminated. In this case, it is also possible to interpolate and reconstruct the data of the mutual areas without overlapping as in the eighth embodiment.

【0149】尚、第9の実施形態のX線CT装置では、
検出器として一列検出器を用いた場合を例にして説明し
たが、本発明はこれに限定されること無く、例えば二次
元検出器を用いた場合にも適用することができる。
In the X-ray CT apparatus of the ninth embodiment,
The case where the single-row detector is used as the detector has been described as an example, but the present invention is not limited to this, and can be applied to the case where a two-dimensional detector is used, for example.

【0150】角度120度毎に3つのX線ビーム発生源
と、それぞれのX線ビーム発生源に対応する二列検出器
とを有する場合において、X線ビーム発生源の描く螺旋
軌道が同一の螺旋軌道にのるようにX線ビーム発生源の
回転軸方向の間隔を設定してヘリカルスキャンを行った
ときのヘリカルスキャン軌跡を図35に示す。
In the case of having three X-ray beam generators for every 120 degrees and two row detectors corresponding to the respective X-ray beam generators, the spiral trajectories drawn by the X-ray beam generators have the same spiral orbit. FIG. 35 shows a helical scan locus when a helical scan is performed by setting an interval in the rotation axis direction of the X-ray beam generation source so as to follow the orbit.

【0151】図35に示すように、二列検出器15-1,
15-2,15-3を有する場合、2つの連続した螺旋軌道
上の画像データが得られる。また、3列以上の検出器列
を有する場合には、検出器列の数と同数の螺旋軌道上の
画像データが得られる。さらに、二次元検出器の一部を
検出器列を使用したヘリカルスキャンの場合には、その
使用した列数と同数の螺旋軌道上の画像データが得られ
ることになる。
As shown in FIG. 35, the two-row detector 15-1,
With 15-2 and 15-3, image data on two continuous spiral trajectories are obtained. Further, in the case of having three or more detector rows, the same number of image data on spiral trajectories as the number of detector rows can be obtained. Furthermore, in the case of a helical scan using a detector row as a part of the two-dimensional detector, the same number of image data on the spiral orbit as the number of rows used is obtained.

【0152】次に、本発明に係るX線CT装置の第10
の実施形態を説明する。尚、第10の実施形態のX線C
T装置の構成は、図1に示した第1の実施形態のX線C
T装置1もしくは図7に示した第2の実施形態のX線C
T装置60と同一構成であるので、図示および詳細な説
明は省略する。またここでは、図1、図7で示したもの
と同一部材は、同一の記号を用いて説明する。
Next, the tenth X-ray CT apparatus according to the present invention will be described.
An embodiment will be described. The X-ray C of the tenth embodiment
The configuration of the T apparatus is the X-ray C of the first embodiment shown in FIG.
T apparatus 1 or X-ray C of the second embodiment shown in FIG.
Since it has the same configuration as the T device 60, its illustration and detailed description are omitted. Also, here, the same members as those shown in FIGS. 1 and 7 will be described using the same symbols.

【0153】第10の実施形態では、前記領域境界部で
の画質劣化を防止するため、図36に示すように、撮影
に使用する各X線ビーム発生源に対応したヘリカルスキ
ャン軌跡が同一の螺旋軌道上にのるようにX線ビーム発
生源の回転軸方向の間隔を設定し、かつ、領域の境界部
をオーバーラップさせてヘリカルスキャンを行い、前記
オーバーラップ領域の画像データの一部または全部に図
37に示すような重み付けを行うというものである。
In the tenth embodiment, as shown in FIG. 36, in order to prevent the image quality from deteriorating at the area boundary portion, the spiral scan loci corresponding to the respective X-ray beam generation sources used for imaging have the same spiral. A part of the image data of the overlap region is wholly or completely set by setting the interval of the X-ray beam generation source in the direction of the rotation axis so as to be on the orbit, and performing the helical scan by overlapping the boundary part of the region. The weighting as shown in FIG. 37 is performed.

【0154】図37に示すように、領域a1側の重み付
けは、領域a1とオーバーラップ領域との境界を重み
「1」、オーバーラップ領域と領域a2の境界を重み
「0」とした線形とし、領域a2側の重み付けは、領域
a2とオーバーラップ領域との境界を重み「1」、オー
バーラップ領域と領域a1の境界を重み「0」とした線
形とする。そして、オーバーラップ領域では、この重み
付けされた画像データの加算平均をその位置の画像デー
タとする。尚、この重み付けは必ずしもリニアでなくて
も良い。この場合、データの加算平均は補正および対数
変換後のデータであることは言うまでもない。
As shown in FIG. 37, the weighting on the side of the area a1 is linear such that the boundary between the area a1 and the overlap area is "1" and the boundary between the overlap area and the area a2 is "0". The weighting on the side of the area a2 is linear such that the boundary between the area a2 and the overlap area has a weight of "1" and the boundary between the overlap area and the area a1 has a weight of "0". Then, in the overlap area, the arithmetic mean of the weighted image data is used as the image data at that position. Note that this weighting does not necessarily have to be linear. In this case, it goes without saying that the arithmetic mean of the data is the data after correction and logarithmic conversion.

【0155】このように、第10の実施形態のX線CT
装置では、撮影に使用する各X線ビーム発生源に対応し
たヘリカルスキャン軌跡が同一の螺旋軌道上にのるよう
にX線ビーム発生源の回転軸方向の間隔を設定し、か
つ、領域の境界部をオーバーラップさせてヘリカルスキ
ャンを行い、前記オーバーラップ領域の画像データの一
部または全部に図37に示すような重み付けを行ってい
るので、オーバーラップ領域では、この重み付けされた
画像データの加算平均をその位置の画像データとするこ
とで、領域境界部での画質劣化を防止することができ
る。
Thus, the X-ray CT of the tenth embodiment
The apparatus sets the intervals of the X-ray beam sources in the rotation axis direction so that the helical scan loci corresponding to the X-ray beam sources used for imaging lie on the same spiral orbit, and the boundary of the region. The parts are overlapped and helical scan is performed, and part or all of the image data in the overlap area is weighted as shown in FIG. 37. Therefore, in the overlap area, addition of the weighted image data is performed. By using the average as the image data at that position, it is possible to prevent image quality deterioration at the region boundary portion.

【0156】[0156]

【発明の効果】以上説明したよう本発明によれば、X線
ビーム発生源の回転軸方向の間隔を設定する設定手段に
より設定するようにしているので、ヘリカルスキャンを
効果的に行うことができ、高画質の画像データを得るこ
とが可能となる。
As described above, according to the present invention, since the setting means for setting the interval of the X-ray beam generation source in the rotation axis direction is used, the helical scan can be effectively performed. Therefore, it becomes possible to obtain high-quality image data.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明に係るX線CT装置の第1の実施形態を
示すブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram showing a first embodiment of an X-ray CT apparatus according to the present invention.

【図2】図1に示したX線ビーム発生源スライド部の一
例を示す図である。
FIG. 2 is a diagram showing an example of an X-ray beam generation source slide unit shown in FIG.

【図3】図1に示した検出器を示す図である。FIG. 3 is a diagram showing the detector shown in FIG. 1.

【図4】図1に示した中央制御ユニットの診断開始まで
の動作の流れを示すフローチャートである。
FIG. 4 is a flowchart showing a flow of operations of the central control unit shown in FIG. 1 up to the start of diagnosis.

【図5】第1の実施形態における2つのX線ビーム発生
源を有する場合のヘリカルスキャン軌跡を示す図であ
る。
FIG. 5 is a diagram showing a helical scan locus in the case of having two X-ray beam generation sources in the first embodiment.

【図6】X線ビームの曝射を撮影領域のみにする場合と
(a)、X線ビームの曝射を2つのX線ビーム発生源で
同時にする場合のX線ビーム曝射タイミングを示す図で
ある。
FIG. 6 is a diagram showing X-ray beam irradiation timings when X-ray beam irradiation is performed only in the imaging region and (a) when two X-ray beam irradiation sources are simultaneously used. Is.

【図7】本発明に係るX線CT装置の第2の実施形態を
示すブロック図である。
FIG. 7 is a block diagram showing a second embodiment of an X-ray CT apparatus according to the present invention.

【図8】図7に示したX線ビーム発生源スライド部の一
例を示す図である。
8 is a diagram showing an example of an X-ray beam source slide unit shown in FIG.

【図9】本発明に係るX線CT装置の第3の実施形態で
あり、X線ビーム発生源と検出器とを同時にスライドさ
せる構成の検出器を示す図である。
FIG. 9 is a diagram showing a third embodiment of the X-ray CT apparatus according to the present invention, showing a detector configured to simultaneously slide an X-ray beam generation source and a detector.

【図10】図7に示した検出器を示す図である。10 is a diagram showing the detector shown in FIG. 7. FIG.

【図11】X線ビーム発生源が3つの場合の例を示す図
である。
FIG. 11 is a diagram showing an example in which there are three X-ray beam generation sources.

【図12】本発明に係るX線CT装置の第4の実施形態
を説明するための図である。
FIG. 12 is a diagram for explaining the fourth embodiment of the X-ray CT apparatus according to the present invention.

【図13】本発明に係るX線CT装置の第5の実施形態
を説明するための図である。
FIG. 13 is a diagram for explaining the fifth embodiment of the X-ray CT apparatus according to the present invention.

【図14】図13に示した場合のX線ビーム放射タイミ
ングを示す図である。
FIG. 14 is a diagram showing an X-ray beam emission timing in the case shown in FIG.

【図15】図13に示した例を二列検出器に適用した場
合を示す図である。
FIG. 15 is a diagram showing a case where the example shown in FIG. 13 is applied to a two-row detector.

【図16】本発明に係るX線CT装置の第6の実施形態
を説明するための図である。
FIG. 16 is a diagram for explaining the sixth embodiment of the X-ray CT apparatus according to the present invention.

【図17】図16に示した場合のX線ビーム放射タイミ
ングを示す図である。
FIG. 17 is a diagram showing an X-ray beam emission timing in the case shown in FIG. 16.

【図18】3つのX線ビーム発生源のX線ビーム曝射タ
イミングずらした場合を示す図である。
FIG. 18 is a diagram showing a case where X-ray beam irradiation timings of three X-ray beam generation sources are shifted.

【図19】3つのX線ビーム発生源を有する場合のヘリ
カルスキャン軌跡を示す図である。
FIG. 19 is a diagram showing a helical scan locus in the case of having three X-ray beam generation sources.

【図20】3つのX線ビーム発生源の内の2つのみを使
用した場合のヘリカルスキャン軌跡を示した図である。
FIG. 20 is a diagram showing a helical scan trajectory when only two of the three X-ray beam sources are used.

【図21】図20に示した場合のX線ビーム放射タイミ
ングを示す図である。
FIG. 21 is a diagram showing X-ray beam emission timing in the case shown in FIG. 20.

【図22】図16に示した場合の検出器を二列検出器に
代えたときのヘリカルスキャンによる軌跡を示した図で
ある。
22 is a diagram showing a locus by a helical scan when the detector shown in FIG. 16 is replaced with a two-row detector.

【図23】図22に示した場合のX線ビーム放射タイミ
ングを示す図である。
FIG. 23 is a diagram showing X-ray beam emission timing in the case shown in FIG. 22.

【図24】第6の実施形態のX線CT装置を用いた場合
の撮影領域幅に対する領域数の設定方法およびX線ビー
ム曝射タイミングの例を示す図である。
FIG. 24 is a diagram showing an example of a method of setting the number of areas with respect to the imaging area width and an X-ray beam exposure timing when the X-ray CT apparatus according to the sixth embodiment is used.

【図25】撮影領域毎のヘリカルスキャン条件の例を示
した図である。
FIG. 25 is a diagram showing an example of helical scan conditions for each imaging region.

【図26】本発明に係るX線CT装置の第7の実施形態
を説明するための図である。
FIG. 26 is a diagram for explaining the seventh embodiment of the X-ray CT apparatus according to the present invention.

【図27】図26に示した場合のX線ビーム放射タイミ
ングを示す図である。
FIG. 27 is a diagram showing X-ray beam emission timing in the case shown in FIG. 26.

【図28】第7の実施形態において撮影領域の幅がX線
ビーム発生源最大間隔Imax *(X線ビーム発生源数)
より大きい場合を含む時を説明するための図である。
FIG. 28 is a width of an imaging region in the seventh embodiment, the maximum interval Imax * of X-ray beam generation sources (number of X-ray beam generation sources).
It is a figure for demonstrating the time including a larger case.

【図29】図28に示した場合のX線ビーム放射タイミ
ングを示す図である。
FIG. 29 is a diagram showing an X-ray beam emission timing in the case shown in FIG. 28.

【図30】第7の実施形態において1回転当たりの天板
送りは同じで、他の条件が異なる場合を説明するための
図である。
FIG. 30 is a diagram for explaining a case where the top plate feed per rotation is the same and the other conditions are different in the seventh embodiment.

【図31】図30に示した場合のX線ビーム放射タイミ
ングを示す図である。
31 is a diagram showing X-ray beam emission timing in the case shown in FIG. 30. FIG.

【図32】本発明に係るX線CT装置の第8の実施形態
を説明するための図である。
FIG. 32 is a view for explaining the eighth embodiment of the X-ray CT apparatus according to the present invention.

【図33】図32に示した場合の検出器を二列検出器に
代えたときの図である。
FIG. 33 is a diagram when the detector shown in FIG. 32 is replaced with a two-row detector.

【図34】本発明に係るX線CT装置の第9の実施形態
を説明するための図である。
FIG. 34 is a view for explaining the ninth embodiment of the X-ray CT apparatus according to the present invention.

【図35】図34に示した場合の検出器を二列検出器に
代えたときの図である。
FIG. 35 is a diagram when the detector shown in FIG. 34 is replaced with a two-row detector.

【図36】本発明に係るX線CT装置の第10の実施形
態を説明するための図である。
FIG. 36 is a view for explaining the tenth embodiment of the X-ray CT apparatus according to the present invention.

【図37】図36に示した場合の重み付けの例を示す図
である。
FIG. 37 is a diagram showing an example of weighting in the case shown in FIG. 36.

【図38】一列検出器と二次元検出器の例を示す図であ
る。
FIG. 38 is a diagram showing an example of a single-row detector and a two-dimensional detector.

【図39】連続回転型の第四世代CTの例を示す図であ
る。
FIG. 39 is a diagram showing an example of a continuous rotation type fourth generation CT.

【図40】一列検出器を有するX線CT装置におけるヘ
リカルスキャン軌跡を示す図である。
FIG. 40 is a diagram showing a helical scan locus in an X-ray CT apparatus having a single-row detector.

【図41】三列検出器を有するX線CT装置におけるヘ
リカルスキャン軌跡を示す図である。
FIG. 41 is a diagram showing a helical scan locus in an X-ray CT apparatus having a three-row detector.

【図42】2つのX線ビーム発生源を有する場合のコン
ベンショナルスキャンを説明するための図である。
FIG. 42 is a diagram for explaining conventional scanning in the case of having two X-ray beam generation sources.

【図43】X線ビーム発生源をコンベンショナルスキャ
ンの設定のままヘリカルスキャンを行った場合のヘリカ
ルスキャン軌跡を示した図である。
FIG. 43 is a diagram showing a helical scan locus when a helical scan is performed with an X-ray beam generation source set to a conventional scan.

【図44】X線ビーム発生源をコンベンショナルスキャ
ンの設定のままヘリカルスキャンを行った場合でかつス
ライス厚を考慮したときのヘリカルスキャン軌跡を示し
た図である。
FIG. 44 is a diagram showing a helical scan locus when a helical scan is performed with an X-ray beam generation source set to a conventional scan and the slice thickness is taken into consideration.

【図45】3つのX線ビーム発生源を有する場合のコン
ベンショナルスキャンを説明するための図である。
FIG. 45 is a diagram for explaining conventional scanning in the case of having three X-ray beam generation sources.

【図46】3つのX線ビーム発生源を有する場合のX線
ビーム発生源をコンベンショナルスキャンの設定のまま
ヘリカルスキャンを行った場合のヘリカルスキャン軌跡
を示した図である。
FIG. 46 is a diagram showing a helical scan locus in a case where a helical scan is performed with the X-ray beam generation source having three X-ray beam generation sources set in the conventional scan mode.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 X線CT装置 3 中央制御ユニット 5 高電圧発生器 7 架台コントローラ 9 X線ビーム発生源 11 X線ビーム発生源スライド部 13 プリコリメータコントローラ 15 検出器 17 データ収集部 19 画像再構成ユニット 21 画像表示ユニット 23 データ保存ユニット 25 寝台 27 寝台コントローラ 29 天板スライドコントローラ 31 コンソール 33 架台 1 X-ray CT apparatus 3 Central control unit 5 High voltage generator 7 Stand controller 9 X-ray beam source 11 X-ray beam source slide section 13 Pre-collimator controller 15 Detector 17 Data acquisition section 19 Image reconstruction unit 21 Image display Unit 23 Data storage unit 25 Bed 27 Bed controller 29 Top slide controller 31 Console 33 Frame

Claims (14)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 X線を寝台上の被検体に曝射する複数の
X線ビーム発生源と、 このX線ビーム発生源から曝射されたX線を検出する検
出器と、 前記複数のX線ビーム発生源を前記被検体の回りに回転
させる回転手段と、 前記複数のX線ビーム発生源の回転軸方向の間隔を設定
する設定手段と、 を有して前記少なくとも2つのX線発生源を回転させる
と共に寝台を回転軸方向に移動してヘリカルスキャンを
行うことを特徴とするX線CT装置。
1. A plurality of X-ray beam generators for irradiating a subject on a bed with X-rays, a detector for detecting X-rays emitted from the X-ray beam generators, and the plurality of X's. The at least two X-ray generation sources, comprising: a rotation unit that rotates the X-ray beam generation source around the subject; and a setting unit that sets an interval between the plurality of X-ray beam generation sources in the rotation axis direction. An X-ray CT apparatus characterized by rotating the bed and moving the bed in the rotation axis direction to perform a helical scan.
【請求項2】 前記設定手段は、ヘリカルスキャンに使
用する少なくとも2つの前記X線ビーム発生源のヘリカ
ルスキャンによる螺旋軌道が互いに等間隔となるように
前記複数のX線ビーム発生源の前記回転軸方向の間隔を
設定することを特徴とする請求項1記載のX線CT装
置。
2. The rotating shafts of the plurality of X-ray beam generating sources are set so that the spiral orbits of the at least two X-ray beam generating sources used for helical scanning by the helical scanning are at equal intervals. The X-ray CT apparatus according to claim 1, wherein an interval between directions is set.
【請求項3】 前記設定手段は、ヘリカルスキャンをす
る回転軸方向の領域を複数の領域に分け、それぞれの領
域に対し1つのX線ビーム発生源とその対応した検出器
でヘリカルスキャンを行うように、ヘリカルスキャンに
使用する少なくとも2つの前記X線ビーム発生源の回転
軸方向の間隔を設定することを特徴とする請求項1記載
のX線CT装置。
3. The setting means divides an area in the rotation axis direction for helical scanning into a plurality of areas, and one X-ray beam generation source and its corresponding detector perform helical scanning for each area. The X-ray CT apparatus according to claim 1, further comprising: setting at least two intervals of the X-ray beam generation sources used for helical scanning in a rotation axis direction.
【請求項4】 前記設定手段は、前記領域の数を前記X
線ビーム発生源の数と同一数とし、それぞれの領域に対
して1つのX線ビーム発生源と対応した検出器でヘリカ
ルスキャンを行うように前記複数のX線ビーム発生源の
回転軸方向の間隔を設定することを特徴とする請求項3
記載のX線CT装置。
4. The setting means sets the number of the areas to the X
The number of X-ray beam generators is the same as the number of X-ray beam generators, and the intervals between the plurality of X-ray beam generators in the direction of the rotation axis are such that helical scanning is performed by a detector corresponding to one X-ray beam generator for each region. 4. The method according to claim 3, wherein
The described X-ray CT apparatus.
【請求項5】 前記設定手段は、前記領域の境界につい
てはオーバーラップさせてヘリカルスキャンを行うよう
に前記ヘリカルスキャンに使用する少なくとも2つの前
記X線ビーム発生源の前記回転軸方向の間隔を設定する
ことを特徴とする請求項3記載のX線CT装置。
5. The setting means sets an interval in the rotation axis direction of at least two of the X-ray beam generation sources used for the helical scan so that a helical scan is performed by overlapping the boundaries of the regions. The X-ray CT apparatus according to claim 3, wherein:
【請求項6】 前記検出器により収集されたデータの
内、前記オーバーラップさせた部分の少なくとも一部に
ついては、重み付けを線形とした加算平均を行うことを
特徴とする請求項5記載のX線CT装置。
6. The X-ray according to claim 5, wherein, for at least a part of the overlapped portion of the data collected by the detector, arithmetic averaging with linear weighting is performed. CT device.
【請求項7】 前記設定手段は、ヘリカルスキャンに使
用する少なくとも2つのX線ビーム発生源のヘリカルス
キャンによる螺旋軌道の少なくとも一部が同一螺旋軌道
となるように前記少なくとも2つのX線ビーム発生源の
前記回転軸方向の間隔を設定することを特徴とする請求
項3または請求項5のいずれか記載のX線CT装置。
7. The at least two X-ray beam generators so that at least a part of the spiral orbits of the helical scans of the at least two X-ray beam generators used for the helical scan are the same spiral orbit. The X-ray CT apparatus according to claim 3 or 5, wherein an interval in the direction of the rotation axis is set.
【請求項8】 前記X線ビーム発生源は、ヘリカルスキ
ャンを行う領域にのみX線を曝射するようにその曝射の
タイミングがそれぞれ制御されることを特徴とする請求
項3記載のX線CT装置。
8. The X-ray generation source according to claim 3, wherein the X-ray beam generation source is controlled in its irradiation timing so as to irradiate the X-ray only to a region for helical scanning. CT device.
【請求項9】 前記検出器は、対応するX線ビーム発生
源と共に同期して前記回転手段により回転されることを
特徴とする請求項1〜請求項8のいずれか一項記載のX
線CT装置。
9. The X according to claim 1, wherein the detector is rotated by the rotating means in synchronization with a corresponding X-ray beam source.
Line CT device.
【請求項10】 前記検出器は、内面を検出面とする円
筒状のものであることを特徴とする請求項1〜請求項8
のいずれか一項記載のX線CT装置。
10. The detector according to claim 1, wherein the detector has a cylindrical shape having an inner surface as a detection surface.
The X-ray CT apparatus according to any one of 1.
【請求項11】 前記設定手段は、X線ビーム発生源と
共に対応する検出器も前記回転軸方向に前記X線ビーム
発生源と同一量だけ移動させることを特徴とする請求項
9または請求項10のいずれか記載のX線CT装置。
11. The setting means moves the X-ray beam generation source and the corresponding detector by the same amount as the X-ray beam generation source in the rotation axis direction. X-ray CT apparatus according to any one of 1.
【請求項12】 前記設定手段は、前記X線ビーム発生
源と、それに対応する検出器を同一の固定部材上に固定
して前記固定部材ごと前記X線ビーム発生源と前記検出
器を移動させることを特徴とする請求項11記載のX線
CT装置。
12. The setting means fixes the X-ray beam generation source and a detector corresponding thereto on the same fixing member, and moves the X-ray beam generation source and the detector together with the fixing member. The X-ray CT apparatus according to claim 11, wherein:
【請求項13】 前記検出器は、検出セグメントを二次
元的に配列した二次元検出器であることを特徴とする請
求項9または請求項10のいずれか記載のX線CT装
置。
13. The X-ray CT apparatus according to claim 9, wherein the detector is a two-dimensional detector in which detection segments are two-dimensionally arranged.
【請求項14】 前記ヘリカルスキャンを複数回、一連
のシーケンスとして行う手段をさらに備えたことを特徴
とする請求項1〜請求項8のいずれか一項記載のX線C
T装置。
14. The X-ray C according to claim 1, further comprising means for performing the helical scan a plurality of times as a series of sequences.
T device.
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