JPH09261212A - Clock extracting device - Google Patents

Clock extracting device

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Publication number
JPH09261212A
JPH09261212A JP8062944A JP6294496A JPH09261212A JP H09261212 A JPH09261212 A JP H09261212A JP 8062944 A JP8062944 A JP 8062944A JP 6294496 A JP6294496 A JP 6294496A JP H09261212 A JPH09261212 A JP H09261212A
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JP
Japan
Prior art keywords
clock
phase
circuit
data
input
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP8062944A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Shinichi Shiozu
真一 塩津
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP8062944A priority Critical patent/JPH09261212A/en
Publication of JPH09261212A publication Critical patent/JPH09261212A/en
Withdrawn legal-status Critical Current

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  • Stabilization Of Oscillater, Synchronisation, Frequency Synthesizers (AREA)
  • Dc Digital Transmission (AREA)
  • Synchronisation In Digital Transmission Systems (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To adequately execute the re-timing processing of input data by judging the phase of an input signanl based on a specified secondary clock and adjusting a phase based on the third clock selected from the second clock. SOLUTION: A multi-phase clock generating circuit 20 generates plural clocks CLK1-CLK8 based on a frequency dividing clock CLK 1 from a PLL circuit 10 and a data edge detecting circuit 30 detects the rising/falling timing edges of input data so as to generate a pulse (e) at every timing cycle. An optimum phase judging circuit 40 counts the number of reference clocks betwewen the pulses (e) and outputs setting informamtion of a required position in input data and an optimum phase selecting circuit 50 selects an optimum phase clock from the clocks CLK1-CLK8 based on the information. A data re-timing circuit 70 adjusts the phase of delay data outputted from a timing adjusting circuit 60 based on the optimum phase clock and outputs an extraction clock CLK9 and extraction data.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、クロック抽出回路
に関し、特に入力されたデータを抽出したクロックでリ
タイミング処理する際、入力データとクロックの位相を
最適化し、タイミングのずれを抑制するクロック抽出回
路に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a clock extraction circuit, and more particularly to a clock extraction circuit that optimizes the phases of input data and a clock and suppresses a timing shift when retiming input data with the extracted clock. Regarding the circuit.

【0002】[0002]

【従来の技術】入力データからクロック抽出し、入力デ
ータと一致する周波数および位相のクロックを生成する
位相同期回路(phase locked loop:PLL回路)を利
用したクロック抽出回路の例は、たとえば特開平2−1
23566号公報あるいは特開平7−46231号公報
等に示されている。
2. Description of the Related Art An example of a clock extraction circuit that uses a phase locked loop (PLL circuit) that extracts a clock from input data and generates a clock having a frequency and a phase that match the input data is disclosed in, for example, Japanese Patent Laid-Open No. Hei 2 -1
No. 23566 or Japanese Patent Laid-Open No. 7-46231.

【0003】図11に従来一般的に用いられているクロ
ック抽出回路の構成を示す。図に示すように、入力デー
タDinは、PLL回路10およびデータ・リタイミング
回路70に共通に入力される。PLL回路10に入力さ
れた入力データDinは、位相比較器11おいて、基準ク
ロックCLKVと位相の比較が行なわれ、位相の誤差に
比例した電圧fupおよびfdownが出力され、この電圧に
よりチャージポンプ12の出力が制御される。チャージ
ポンプ12から出力された誤差電圧は、低域フィルタ1
3により周波数帯域を制限された後、電圧制御発振器
(VCO)14の制御端子に入力される。VCO14
は、制御入力に基づいて、入力データDinとVCO14
の発信周波数差および位相差を低減する方向に基準クロ
ックCLKVを制御する。このようにして、PLL回路
10に入力されたデジタル信号(入力データDin)から
基準クロックCLKVが生成される。
FIG. 11 shows the configuration of a clock extraction circuit generally used conventionally. As shown in the figure, the input data D in is commonly input to the PLL circuit 10 and the data retiming circuit 70. The input data D in input to the PLL circuit 10 is compared in phase with the reference clock CLKV in the phase comparator 11, and voltages f up and f down proportional to the phase error are output. The output of the charge pump 12 is controlled. The error voltage output from the charge pump 12 is the low-pass filter 1
After the frequency band is limited by 3, the voltage is input to the control terminal of the voltage controlled oscillator (VCO) 14. VCO14
Is based on the control input, input data D in and VCO 14
The reference clock CLKV is controlled so as to reduce the difference in the transmission frequency and the difference in the phase. In this way, the reference clock CLKV is generated from the digital signal (input data D in ) input to the PLL circuit 10.

【0004】一方、データ・リタイミング回路70に入
力された入力データDinは、PLL回路10により生成
された基準クロックCLKVに基づいて、位相調整が行
なわれ、抽出データDoutおよび抽出クロックCLK9
が出力される。ここで、PLL回路10の位相比較回路
11の構成を説明すると、入力データDinは、遅延回路
(ディレイゲート)11aにより一定の遅延時間deray
1が付加され、本来の入力データDinとともに、排他的
NOR回路(EXNOR)11bに入力される。EXN
OR11bの出力aは、基準クロックCLKVとともに
NOR回路(NOR)11cに入力される一方、NOT
回路(インバータ)11eにより反転された基準クロッ
クCLKVとともに、NOR11dにも入力される。こ
れらのNOR11c、11dは、入力データDinと基準
クロックCLKVとの位相誤差に比例した電圧fupおよ
びfdownを出力する。
On the other hand, the input data D in input to the data retiming circuit 70 is subjected to phase adjustment based on the reference clock CLKV generated by the PLL circuit 10, and the extracted data D out and the extracted clock CLK9.
Is output. Here, the configuration of the phase comparison circuit 11 of the PLL circuit 10 will be described. The input data D in has a constant delay time deray by the delay circuit (delay gate) 11a.
1 is added and input to the exclusive NOR circuit (EXNOR) 11b together with the original input data D in . EXN
The output a of the OR 11b is input to the NOR circuit (NOR) 11c together with the reference clock CLKV, while NOT
The reference clock CLKV inverted by the circuit (inverter) 11e is also input to the NOR 11d. These NORs 11c and 11d output voltages f up and f down proportional to the phase error between the input data D in and the reference clock CLKV.

【0005】次に、データ・リタイミング回路70の構
成を説明すると、PLL回路10により生成された基準
クロックCLKVはディレイゲート70bにより一定の
遅延時間delay4が付加され、リタイミング用クロック
bとしてフリップフロップ(FF)70aのC端子に入
力される。また入力データDinは、FF70aのD端子
に入力される。そのため、FF70aの出力Qからは、
リタイミング用クロックbに基づいて位相調整された入
力データDinが抽出データDoutとして出力される。基
準クロックCLKVに遅延時間deray4が付加されたリ
タイミング用クロックbは、インバータ80により反転
され、抽出クロックCLK9として出力される。
Next, the structure of the data retiming circuit 70 will be described. The reference clock CLKV generated by the PLL circuit 10 is added with a constant delay time delay4 by the delay gate 70b, and the flip-flop is used as the retiming clock b. It is input to the C terminal of the (FF) 70a. The input data D in is input to the D terminal of the FF 70a. Therefore, from the output Q of the FF 70a,
The input data D in whose phase is adjusted based on the retiming clock b is output as the extracted data D out . The retiming clock b obtained by adding the delay time delay4 to the reference clock CLKV is inverted by the inverter 80 and output as the extraction clock CLK9.

【0006】このようなクロック抽出回路1におけるタ
イミングチャートを図12に示す。時刻Tを一周期とす
る入力データDinを入力とするEXNOR11bにより
入力データDinの立上り/立下りのデータ・エッジが検
出されるとともに、ディレイゲート11aにより遅延時
間delay1が、出力aに反映される。つまり、PLL回
路10により生成された基準クロックCLKVは、論理
回路をはじめとする種々の遅延要素により遅延時間を必
然的に有することとなる。そのため、リタイミング用ク
ロック(抽出クロックの反転信号)bにより入力データ
inの位相調整を行うデータ・リタイミング回路70に
おいて、入力データDinに対し、たとえばデータの中央
(1/2T)で立上り動作を行うようにディレイゲート
70bを設けて基準クロックCLKVに遅延時間delay
4を付加して、入力データDinと所定のタイミングを設
定し、位相調整を施した抽出データDoutを得ていた。
FIG. 12 shows a timing chart in such a clock extraction circuit 1. The EXNOR 11b, which receives the input data D in having one cycle of the time T, detects the rising / falling data edge of the input data D in , and the delay time delay1 is reflected in the output a by the delay gate 11a. It That is, the reference clock CLKV generated by the PLL circuit 10 inevitably has a delay time due to various delay elements such as a logic circuit. Therefore, in the data retiming circuit 70 that adjusts the phase of the input data D in with the retiming clock (inverted signal of the extracted clock) b, the input data D in rises at the center (1 / 2T) of the data, for example. A delay gate 70b is provided so as to operate and a delay time delay is applied to the reference clock CLKV.
4 is added, the input data D in and a predetermined timing are set, and the phase-adjusted extracted data D out is obtained.

【0007】すなわち、従来のクロック抽出回路におい
ては、データ・リタイミング回路70による入力データ
inの位相調整に際し、入力データDinとリタイミング
用クロックbの位相を合わせるために、入力データDin
経路あるいはクロック経路にディレイゲートを設けて、
入力データの中央にリタイミング用クロックbの立上り
タイミングが設定されるように調整していた。
[0007] That is, in the conventional clock extraction circuit, upon the phase adjustment of the input data D in accordance with data retiming circuit 70, in order to match the input data D in the retiming clock b of the phase, the input data D in
Providing a delay gate on the path or clock path,
The adjustment is made so that the rising timing of the retiming clock b is set in the center of the input data.

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】上述したクロック抽出
回路1のPLL回路10においては、位相比較器11で
の入力データDinの立上り/立下りエッジの検出のた
め、あるいはデータ・リタイミング回路の基準クロック
CLKVへの遅延時間付加のためにディレイゲート11
aおよび70bが設けられているが、一般にディレイゲ
ートは、周辺温度、電源電圧等の変動に影響されやす
く、またPLL回路10と同等の遅延能力を有するディ
レイゲート70bをデータ・リタイミング回路70に設
置していたため、前述の変動要因に対して同等の誤差を
生じることとなり、基準クロックCLKVのタイミング
の変動幅が拡大して、所望のタイミング位置での入力デ
ータの位相調整ができなくなる問題があった。特に入力
データにジッタが多い場合には、前述したタイミングの
ずれがエラーの原因となり、クロック抽出回路を使用し
た機器の動作不良が深刻となる問題があった。
In the PLL circuit 10 of the clock extraction circuit 1 described above, the phase comparator 11 detects the rising / falling edge of the input data D in or the data retiming circuit. The delay gate 11 is added to add a delay time to the reference clock CLKV.
Although the delay gates a and 70b are provided, in general, the delay gate is easily affected by fluctuations in the ambient temperature, the power supply voltage, and the like, and the delay gate 70b having a delay capability equivalent to that of the PLL circuit 10 is provided in the data retiming circuit 70. Since it is installed, an equivalent error is generated with respect to the above-mentioned fluctuation factors, and the fluctuation range of the timing of the reference clock CLKV is expanded, and there is a problem that the phase adjustment of the input data cannot be performed at the desired timing position. It was In particular, when the input data has a lot of jitter, the above-mentioned timing shift causes an error, and there is a problem that the malfunction of the device using the clock extraction circuit becomes serious.

【0009】本発明の目的は、ディレイゲートを利用し
たクロック抽出回路において、使用温度や電源電圧等の
変動による抽出クロックのタイミング変動を抑制し、も
って入力データのリタイミング処理を的確に行うことが
できるクロック抽出回路を提供することにある。特に、
入力データの所望の位置、たとえば中央(1/2T)に
抽出クロックの立上りタイミングを確実に設定して入力
データの最適なリタイミング処理を行うことにより、エ
ラーの発生を抑制することを目的とする。
An object of the present invention is to suppress the timing fluctuation of the extracted clock due to the fluctuation of the operating temperature, the power supply voltage, etc. in the clock extraction circuit using the delay gate, and thereby accurately perform the retiming process of the input data. It is to provide a clock extraction circuit capable of performing. Especially,
An object of the present invention is to suppress the occurrence of an error by surely setting the rising timing of the extraction clock at a desired position of the input data, for example, the center (1 / 2T), and performing the optimum retiming processing of the input data. .

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、請求項1記載の発明は、入力信号との位相が比較
され、該位相の誤差に比例した誤差電圧に基づいて前記
入力信号に同期した周波数有する基準クロックを生成す
る位相同期手段と、該基準クロックから所定の遅延を有
する抽出クロックと、前記基準クロックに基づいて前記
入力信号のタイミングを調整制御したリタイミング信号
とを出力するリタイミング調整手段とを具備するクロッ
ク抽出回路において、前記リタイミング調整手段が、前
記基準クロックに基づいて所定の位相を持つ複数の2次
クロックを生成する多位相クロック生成手段と、前記2
次クロックに基づいて前記入力信号の立上りおよび立下
りエッジを検出するデータ・エッジ検出手段と、前記基
準クロックおよび前記データ・エッジ検出手段により検
出された入力信号のエッジに基づいて前記入力信号の位
相を判定する位相判定手段と、前記位相判定手段からの
判定結果に基づいて、前記複数の2次クロックから前記
入力信号の位相調整に用いるクロックを選択し、3次ク
ロックとして出力する位相選択手段と、前記基準クロッ
クから前記3次クロックを生成する際の遅延時間を前記
入力信号に反映するタイミング調整手段と、前記タイミ
ング調整手段により所定の遅延時間を付加された前記入
力信号を、前記3次クロックに基づいて位相調整するリ
タイミング手段と、を有して構成される。
In order to achieve the above object, the invention according to claim 1 compares the phase with an input signal, and based on an error voltage proportional to the error of the phase, the input signal is Phase synchronization means for generating a reference clock having a frequency synchronized with the reference clock, an extraction clock having a predetermined delay from the reference clock, and a retiming signal in which the timing of the input signal is adjusted and controlled based on the reference clock. A clock extraction circuit comprising retiming adjusting means, wherein the retiming adjusting means generates a plurality of secondary clocks having a predetermined phase based on the reference clock;
Data edge detecting means for detecting rising and falling edges of the input signal based on a next clock, and a phase of the input signal based on edges of the input signal detected by the reference clock and the data edge detecting means And a phase selection unit that selects a clock used for phase adjustment of the input signal from the plurality of secondary clocks based on the determination result from the phase determination unit and outputs the selected clock as a tertiary clock. A timing adjusting means for reflecting a delay time when the third-order clock is generated from the reference clock in the input signal, and the input signal added with a predetermined delay time by the timing adjusting means, the third-order clock And a retiming means for adjusting the phase on the basis of.

【0011】このような構成により本発明のクロック抽
出回路は、位相同期手段により入力信号(入力データ)
から生成された基準クロックに基づいて、多位相クロッ
ク生成手段における異なる位相の複数の2次クロックの
生成、またデータ・エッジ検出手段における入力信号の
エッジの検出およびタイミング周期毎のパルスの発生が
実行され、位相判定手段により入力データの1周期毎の
基準クロック数がカウントされ、カウント値の1/2、
すなわち入力データの中央の位置を設定し、位相選択手
段によりデータの中央位置に相当する位相の2次クロッ
ク(最適位相クロック)を選択する。タイミング調整手
段により上記の最適位相クロックの設定処理により生じ
る遅延時間相当が入力データに付加され、データ・リタ
イミング手段により最適位相クロックに基づいて入力デ
ータの位相調整処理が施される。
With such a configuration, the clock extraction circuit of the present invention uses the phase synchronization means to input the input signal (input data).
On the basis of the reference clock generated from, the multi-phase clock generation means generates a plurality of secondary clocks of different phases, and the data edge detection means detects the edge of the input signal and generates a pulse for each timing cycle. Then, the number of reference clocks for each cycle of the input data is counted by the phase determination means, and half of the count value,
That is, the center position of the input data is set, and the phase selecting means selects the secondary clock (optimal phase clock) of the phase corresponding to the center position of the data. The timing adjusting means adds the delay time equivalent to the optimum phase clock setting processing to the input data, and the data retiming means performs the phase adjusting processing of the input data based on the optimum phase clock.

【0012】[0012]

【発明の実施の形態】以下に、本発明の請求項1に係る
クロック抽出回路について図を示して詳しく説明する。
図1に本発明のクロック抽出回路の基本構成を示す。図
1において、PLL回路(位相同期手段)10に入力さ
れる入力データDinは、位相比較器11、チャージポン
プ12、低域フィルタ13および電圧制御発振器(VC
O)14を介して源発振である基準クロックCLKVが
生成される。基準クロックCLKVは分周器15を介し
て所定の分周処理が施され、位相比較器にクロックCL
K1として供給される。ここで、分周器15は、基準ク
ロックCLKVを1/n分周するものであり、本実施例
では1/8分周を行うものとする。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS A clock extraction circuit according to claim 1 of the present invention will be described in detail below with reference to the drawings.
FIG. 1 shows the basic configuration of the clock extraction circuit of the present invention. In FIG. 1, input data D in input to a PLL circuit (phase synchronizing means) 10 includes a phase comparator 11, a charge pump 12, a low pass filter 13 and a voltage controlled oscillator (VC).
O) 14 generates the reference clock CLKV which is the source oscillation. The reference clock CLKV is subjected to predetermined frequency division processing via the frequency divider 15, and the phase comparator is supplied with the clock CL.
Supplied as K1. Here, the frequency divider 15 frequency-divides the reference clock CLKV by 1 / n, and in the present embodiment, frequency-dividing by 1/8.

【0013】データ・リタイミング調整回路(リタイミ
ング調整手段)100は、PLL回路10により生成さ
れた分周クロックCLK1に基づいて、所望の位相を有
する複数(8個)のクロックCLK1〜CLK8を生成
する多位相クロック生成回路(多位相クロック生成手
段)20と、入力データDinの立上り/立下りのタイミ
ングエッジを検出し、タイミング周期毎にパルスeを発
生するデータ・エッジ検出回路(データ・エッジ検出手
段)30と、データ・エッジ検出パルスe間の基準クロ
ックCLKV数をカウントし、入力データDinの所望の
位置、たとえば中央(カウント値の1/2)を設定する
設定情報g1〜g3を出力する最適位相判定回路(位相判
定手段)40と、設定情報g1〜g3に基づいて入力デー
タDinの所望の位置に相当する最適位相クロック(リタ
イミング用クロック)hをクロックCLK1〜CLK8
から選択する最適位相選択回路(位相選択手段)50
と、上記最適位相クロックhの設定処理過程で生じる遅
延時間相当の遅延を入力データDinに付加し、遅延デー
タiを出力するタイミング調整回路(タイミング調整手
段)60と、最適位相クロックhに基づいて遅延データ
iの位相調整を行ない、抽出クロックCLK9および抽
出クロックCLK9に同期した抽出データDinを出力す
るデータ・リタイミング回路(リタイミング手段)70
とから構成される。
A data retiming adjusting circuit (retiming adjusting means) 100 generates a plurality of (eight) clocks CLK1 to CLK8 having a desired phase based on the divided clock CLK1 generated by the PLL circuit 10. A multi-phase clock generation circuit (multi-phase clock generation means) 20 and a data edge detection circuit (data edge) that detects a rising / falling timing edge of the input data D in and generates a pulse e at each timing cycle. and detecting means) 30, a data edge detection pulse counts reference clocks CLKV number between e, desired position, for example, central (setting information for setting the 1/2) of the count value g 1 to g of the input data D in The optimum phase determination circuit (phase determination means) 40 that outputs 3 and the desired position of the input data D in based on the setting information g 1 to g 3. The optimum phase clock (retiming clock) h corresponding to
Optimal phase selection circuit (phase selection means) 50 to be selected from
And a timing adjusting circuit (timing adjusting means) 60 for adding a delay corresponding to the delay time generated in the process of setting the optimum phase clock h to the input data D in and outputting the delay data i, and the optimum phase clock h The data retiming circuit (retiming means) 70 for adjusting the phase of the delay data i by outputting the extracted clock CLK9 and the extracted data D in synchronized with the extracted clock CLK9.
It is composed of

【0014】次に、本実施例のクロック抽出回路の各構
成について、具体的な回路構成例を示し、タイミングチ
ャートにより動作を説明する。 〔1〕PLL回路 本実施例に示したPLL回路10は、図11に示した構
成と同等であり、このような構成により入力データDin
に同期した基準クロックCLKV(源発振)がVCO1
4から出力される。本発明においては、基準クロックC
LKVを分周器15により1/8分周した分周クロック
CLK1を位相比較器11に比較クロックとして入力
し、入力データDinとの位相比較が行なわれる。
Next, regarding each configuration of the clock extraction circuit of this embodiment, a concrete circuit configuration example will be shown, and the operation will be described with reference to a timing chart. [1] PLL Circuit The PLL circuit 10 shown in the present embodiment is equivalent to the configuration shown in FIG. 11, and the input data D in
Reference clock CLKV (source oscillation) synchronized with VCO1
It is output from 4. In the present invention, the reference clock C
The frequency-divided clock CLK1 obtained by frequency-dividing LKV by 1/8 by the frequency divider 15 is input to the phase comparator 11 as a comparison clock, and the phase comparison with the input data D in is performed.

【0015】そのため、図2のタイミングチャートに示
すように、分周器15により分周クロックCLK1の立
上りタイミングを調整(矢印)することにより、位相比
較器11から出力される位相誤差に相当する電圧fup
よびfdownの面積比を変化させることができるため、チ
ャージポンプ12の出力を適切に制御することができ
る。ここで、クロック抽出処理の前提として、入力デー
タDinに周期Tで切り替わる”1”、”0”の繰り返し
パターンを入力する必要がある。 〔2〕多位相クロック生成回路 多位相クロック生成回路20は、図3に示すように、P
LL回路10により生成された分周クロックCLK1を
入力とし、7段のディレイゲート20a〜20fにより
所定の遅延を付加し、位相の異なる複数のクロックCL
K2〜CLK8を出力する。
Therefore, as shown in the timing chart of FIG. 2, the voltage corresponding to the phase error output from the phase comparator 11 is adjusted by adjusting (arrow) the rising timing of the divided clock CLK1 by the frequency divider 15. Since the area ratio of f up and f down can be changed, the output of the charge pump 12 can be appropriately controlled. Here, as a premise of the clock extraction processing, it is necessary to input a repeating pattern of "1" and "0" which is switched at a cycle T to the input data D in . [2] Multi-Phase Clock Generation Circuit As shown in FIG.
The divided clock CLK1 generated by the LL circuit 10 is input, a predetermined delay is added by seven stages of delay gates 20a to 20f, and a plurality of clocks CL having different phases are added.
Outputs K2 to CLK8.

【0016】図4のタイミングチャートに示すように、
ディレイゲート20a〜20fが有する遅延時間delay
3により、各ディレイゲートの出力から取り出されるク
ロックCLK2〜CLK8は各々delay3の位相差で生
成される。ディレイゲート20a〜20fにより付加さ
れる遅延時間delay3の設定は小さいほど、また生成さ
れる多位相クロックの数が多いほど、後述するデータ・
リタイミング処理の際、入力データDinの中央にクロッ
クの立上りタイミングをより正確に設定することができ
る。 〔3〕データ・エッジ検出回路 データ・エッジ検出回路30は、図4に示すように、入
力データDinに遅延時間delay2を付加し、遅延データ
Dとして出力するディレイゲート30aと、遅延データ
DをD端子入力とし、分周クロックCLK1をC端子入
力とするフリップフロップ(FF)30bと、遅延デー
タDをD端子入力とし、多位相クロック生成回路20に
より出力されるクロックCLK2をC端子入力とするF
F30cと、FF30bおよび30cのQ出力D1およ
びD2を入力とし、排他的NOR論理eを出力するEX
NOR30dから構成される。ここで、ディレイゲート
30aが付加する遅延時間delay2は、上述のPLL回
路10で与えられる遅延よりも大きく設定される。
As shown in the timing chart of FIG.
Delay time delay included in the delay gates 20a to 20f
3, the clocks CLK2 to CLK8 extracted from the output of each delay gate are generated with a phase difference of delay3. The smaller the setting of the delay time delay3 added by the delay gates 20a to 20f, and the larger the number of multi-phase clocks generated, the later-described data.
During the retiming process, the clock rising timing can be set more accurately in the center of the input data D in . [3] Data Edge Detection Circuit As shown in FIG. 4, the data edge detection circuit 30 adds the delay time delay2 to the input data D in and outputs the delay gate 30a for outputting the delay data D and the delay data D. A flip-flop (FF) 30b having a D terminal input and a divided clock CLK1 having a C terminal input, delay data D having a D terminal input, and a clock CLK2 output from the multi-phase clock generation circuit 20 having a C terminal input. F
An EX that receives the F30c and the Q outputs D1 and D2 of the FFs 30b and 30c as inputs and outputs the exclusive NOR logic e
It is composed of NOR 30d. Here, the delay time delay2 added by the delay gate 30a is set to be larger than the delay given by the PLL circuit 10 described above.

【0017】このような構成により、図5のタイミング
チャートに示すように、入力データDinに対しdelay2
の遅延時間が付加された遅延データがFF30bにおい
てクロックCLK1のタイミングで保持されてQ出力D
1が得られ、またFF30cにおいてクロックCLK2
のタイミングで保持されてQ出力D2が得られる。次い
で、これらの出力D1およびD2の排他的NOR論理に
よりデータ・エッジを示すパルス出力eが出力される。 〔4〕最適位相判定回路 最適位相判定回路40は、図6に示すように、データ・
エッジ検出回路30から出力されるパルス出力eがS端
子に共通に入力され、基準クロックCLKVがC端子に
入力され、またQ*出力(Q*:Qの反転出力とする)の
反転信号f0がD端子に入力されたFF40aと前段の
FFのQ出力がC端子に入力され、またQ*出力の反転
信号f1〜f3が各々のD端子に入力されたFF40b〜
40dからなる第1のフリップフロップ群と、パルス出
力eがC端子に共通に入力され、FF40b〜40dの
*出力の反転信号f1〜f3を各々D端子入力とし、ま
たQ*出力の反転信号g1〜g3を最適位相の判定情報と
して出力するFF40e〜40gからなる第2のフリッ
プフロップ群とから構成される。
With such a configuration, as shown in the timing chart of FIG. 5, delay 2 is applied to the input data D in .
The delay data to which the delay time is added is held at the timing of the clock CLK1 in the FF 30b and the Q output D
1 is obtained, and the clock CLK2 is obtained in the FF 30c.
The Q output D2 is obtained by being held at the timing of. The exclusive NOR logic of these outputs D1 and D2 then outputs a pulse output e indicating a data edge. [4] Optimum Phase Judgment Circuit The optimum phase judgment circuit 40, as shown in FIG.
The pulse output e output from the edge detection circuit 30 is commonly input to the S terminal, the reference clock CLKV is input to the C terminal, and the inverted signal f 0 of the Q * output (Q * : inverted output of Q) is output. FF40b~ but the Q output of the FF of FF40a and preceding stage is input to the D terminal is input to the C terminal, and the Q * output inverted signals f 1 ~f 3 of is inputted to each of the D terminal
A first flip-flop group consisting 40d, pulse output e is input in common to the C terminal, and each D terminal receives the inverted signal f 1 ~f 3 of Q * output of FF40b~40d, also Q * output composed of the second flip-flop group consisting FF40e~40g for outputting an inverted signal g 1 to g 3 as the determination information of the optimum phase.

【0018】このような構成により、図7のタイミング
チャートに示すように、データ・エッジ検出回路30か
ら出力される第1のパルス出力e1から第2のパルス出
力e2間をカウント期間として、基準クロックCLKV
のクロック数を第1のフリップフロップ群により計測す
る。このカウント値f1〜f3は、第2のフリップフロッ
プ群により1/2倍、すなわち入力データDinの中央の
位置(1/2T)に相当する位相判定情報g1=”
0”、g2=”0”、g3=”1”として出力する。 〔5〕最適位相選択回路 最適位相選択回路50は、図8に示すように、最適位相
判定回路40から出力される位相判定情報g1を共通の
S端子入力とし、クロックCLK1およびCLK2を各
々D1およびD2端子入力とするMUX論理回路(MU
X)50aと、同様にクロックCLK3およびCLK4
を各々D1およびD2端子入力とするMUX50bと、
クロックCLK5およびCLK6を各々D1およびD2
端子入力とするMUX50cと、クロックCLK7およ
びCLK8を各々D1およびD2端子入力とするMUX
50dとからなる第1のMUX群と、位相判定情報g2
を共通のS端子入力とし、MUX50aおよびMUX5
0bのQ出力を各々D1およびD2端子入力とするMU
X50eと、MUX50cおよびMUX50dのQ出力
を各々D1およびD2端子入力とするMUX50fとか
らなる第2のMUX群と、位相判定情報g3をS端子入
力とし、MUX50eおよびMUX50fのQ出力を各
々D1およびD2端子入力とし、Q出力を最適位相クロ
ックhとして出力するMUX50g(第3のMUX
(群))から構成される。ここで、MUX論理は、S端
子入力が”0”の時D1端子入力がQ出力に反映され、
S端子入力が”1”の時D2端子入力がQ出力に反映さ
れるものである。
With such a configuration, as shown in the timing chart of FIG. 7, a period between the first pulse output e 1 and the second pulse output e 2 output from the data edge detection circuit 30 is set as a count period. Reference clock CLKV
The number of clocks is measured by the first flip-flop group. The count values f 1 to f 3 are multiplied by ½ by the second flip-flop group, that is, the phase determination information g 1 = "which corresponds to the central position (1 / 2T) of the input data D in.
0 ", g 2 =" 0 ", g 3 =" output as 1 ". [5] optimum phase selecting circuit optimum phase selection circuit 50, as shown in FIG. 8, is outputted from the optimum phase determining circuit 40 A MUX logic circuit (MU) in which the phase determination information g 1 is a common S terminal input and the clocks CLK1 and CLK2 are D1 and D2 terminal inputs, respectively.
X) 50a, as well as clocks CLK3 and CLK4
MUX50b, which is respectively the D1 and D2 terminal inputs,
Clocks CLK5 and CLK6 to D1 and D2 respectively
MUX 50c for terminal input and MUX for clocks CLK7 and CLK8 as D1 and D2 terminal inputs, respectively
50d and the first MUX group, and the phase determination information g 2
As a common S terminal input, and MUX50a and MUX5
MU which inputs Q output of 0b to D1 and D2 terminal respectively
A second MUX group consisting of X50e and MUX50f whose Q outputs of MUX50c and MUX50d are input to D1 and D2 terminals respectively, and phase determination information g 3 is an S terminal input, and Q outputs of MUX50e and MUX50f are respectively D1 and The MUX 50g (third MUX) that receives the D2 terminal input and outputs the Q output as the optimum phase clock h
(Group)). Here, in the MUX logic, when the S terminal input is "0", the D1 terminal input is reflected in the Q output,
When the S terminal input is "1", the D2 terminal input is reflected in the Q output.

【0019】このような構成により、図7および図10
のタイミングチャートに示すように、入力データDin
データ・エッジを示すパルス出力eにより設定されるカ
ウント期間中の場合、最適位相判定回路40から出力さ
れる位相判定情報は、g1=”1”、g2=”1”、g3
=”1”であり、MUX50a〜gは全てS端子に”
1”が入力される。そのため、出力されるクロックh
は、図8の点線のようにクロックCLK8が選択され
る。次にカウント期間終了後の場合、最適位相判定回路
40から出力される位相判定情報は、g1=”0”、g2
=”0”、g3=”1”となり、MUX50a〜fのS
端子に”0”が入力される。そのため、出力されるクロ
ックhは、図8の点線のようにクロックCLK5が選
択される。ここで、最適位相クロックhの選択において
は、図10に示すように、第1、第2および第3のMU
X群により、クロックCLK5およびCLK8には、M
UX3段分の遅延が付加される。 〔6〕タイミング調整回路 タイミング調整回路60は、図9に示すように、データ
・エッジ検出回路30により出力される遅延データDを
D1端子入力とし、S端子が接地されたMUX60a
と、MUX60aのQ出力をD1端子入力とし、S端子
が接地されたMUX60bと、MUX60bのQ出力を
D1端子入力とし、S端子が接地され、Q出力をリタイ
ミング用データiとして出力するMUX60cとから構
成される。
With such a configuration, FIG. 7 and FIG.
As shown in the timing chart of 1., during the count period set by the pulse output e indicating the data edge of the input data D in , the phase determination information output from the optimum phase determination circuit 40 is g 1 = “1”. ", G 2 =" 1 ", g 3
= "1", and MUX 50a-g are all connected to S terminal
1 "is input. Therefore, the output clock h
, The clock CLK8 is selected as indicated by the dotted line in FIG. Next, after the end of the counting period, the phase determination information output from the optimum phase determination circuit 40 is g 1 = “0”, g 2
= “0”, g 3 = “1”, and S of MUX 50a-f
"0" is input to the terminal. Therefore, as the output clock h, the clock CLK5 is selected as shown by the dotted line in FIG. Here, in selecting the optimum phase clock h, as shown in FIG. 10, the first, second and third MUs are selected.
Due to the X group, the clocks CLK5 and CLK8 have M
A delay of three stages of UX is added. [6] Timing Adjustment Circuit As shown in FIG. 9, the timing adjustment circuit 60 uses the delay data D output from the data edge detection circuit 30 as the D1 terminal input, and the S terminal grounded.
And the MUX 60b with the Q output of the MUX 60a as the D1 terminal input and the S terminal grounded, and the MUX 60c with the Q output of the MUX 60b as the D1 terminal input, the S terminal grounded, and the Q output as the retiming data i. Composed of.

【0020】このような構成により、図10のタイミン
グチャートに示すように、遅延データDには、前述した
最適位相選択回路50において最適位相クロックhに付
加された遅延と同等の遅延(MUX3段分)が付加さ
れ、互いの遅延が打ち消される。 〔7〕データ・リタイミング回路 データ・リタイミング回路70は、図9に示すように、
最適位相選択回路50から出力される最適位相クロック
hをC端子入力とし、タイミング調整回路60から出力
されるリタイミング用データiをD端子入力とし、Q出
力を抽出データDoutとして出力するFF70aにより
構成される。また最適位相クロックhは、インバータ8
0により反転され抽出クロックCLK9として出力され
る。
With such a configuration, as shown in the timing chart of FIG. 10, the delay data D has the same delay (three MUX stages) as the delay added to the optimum phase clock h in the optimum phase selection circuit 50 described above. ) Is added to cancel each other's delay. [7] Data Retiming Circuit The data retiming circuit 70, as shown in FIG.
The optimum phase clock h output from the optimum phase selection circuit 50 is used as the C terminal input, the retiming data i output from the timing adjustment circuit 60 is used as the D terminal input, and the Q output is output as the extracted data D out. Composed. The optimum phase clock h is
It is inverted by 0 and output as the extracted clock CLK9.

【0021】このような構成により、図10のタイミン
グチャートに示すように、リタイミング用データiはデ
ータの中央(1/2T)に立上りタイミングを持つ最適
位相クロックh(CLK5)により位相が調整され、抽
出データDoutとして出力される。以後、抽出クロック
CLK9(最適位相クロックの反転信号)の位相と一致
した抽出データDoutが得られる。
With such a configuration, as shown in the timing chart of FIG. 10, the phase of the retiming data i is adjusted by the optimum phase clock h (CLK5) having the rising timing at the center (1 / 2T) of the data. , And is output as extracted data D out . After that, the extracted data D out that matches the phase of the extracted clock CLK9 (the inverted signal of the optimum phase clock) is obtained.

【0022】このように、PLL回路10により生成さ
れた基準クロックCLKVおよび分周クロックCLK1
に基づいて、多位相クロック生成回路20、データ・エ
ッジ検出回路30、最適位相判定回路40および最適位
相選択回路50により、入力データDinのリタイミング
処理に最適な位相を有するクロックを抽出し、次いで最
適位相クロックに基づいて、タイミング調整回路60お
よびデータ・リタイミング回路70により、入力データ
inのリタイミング処理を行なうことができる。ここ
で、最適位相クロックの生成の際に、選択対象となる多
位相クロックをPLL回路10の遅延よりも小さいディ
レイゲートを用いて生成しているため、周辺温度や電源
電圧等の変動要因に対して、抽出クロックの変動量を小
さく抑え、入力データDinの所定の位置に立上りタイミ
ングを設定することができるため、データの位相調整を
良好に実施することができる。
As described above, the reference clock CLKV and the divided clock CLK1 generated by the PLL circuit 10.
On the basis of the above, the multi-phase clock generation circuit 20, the data edge detection circuit 30, the optimum phase determination circuit 40, and the optimum phase selection circuit 50 extract the clock having the optimum phase for the retiming processing of the input data D in , Then, based on the optimum phase clock, the timing adjustment circuit 60 and the data retiming circuit 70 can perform retiming processing of the input data D in . Here, since the multi-phase clock to be selected is generated using the delay gate that is smaller than the delay of the PLL circuit 10 when generating the optimum phase clock, it is possible to prevent fluctuation factors such as the ambient temperature and the power supply voltage. Thus, the fluctuation amount of the extracted clock can be suppressed to a small level and the rising timing can be set at a predetermined position of the input data D in , so that the phase of the data can be adjusted well.

【0023】上述した実施例におけるデータ・リタイミ
ング調整制御は、一連のクロックの抽出処理、入力デー
タDinのリタイミング処理を実施する際に、入力データ
inに”1”、”0”の繰り返しパターンを入力する手
法を示したが、所定周期ごとにこのような繰り返しパタ
ーンを入力することにより、あるいは繰り返しパターン
が入力されることにより自動的に実行するように構成す
ることにより、最適位相のクロックが精度良く選択さ
れ、エラー抑制効果を向上させることができる。
[0023] Data retiming adjustment control in the embodiment described above, in the practice of the extraction process of the series of clock retiming processing of input data D in, "1" to the input data D in, the "0" Although the method of inputting a repetitive pattern has been shown, by inputting such a repetitive pattern at a predetermined cycle or by configuring the repetitive pattern to be automatically executed, the optimum phase The clock is selected with high accuracy, and the error suppression effect can be improved.

【0024】なお、本実施例における多位相クロック生
成のためのディレイゲートの段数、基準クロックCLK
Vのクロック数のカウントおよびデータの所定位置設定
のためのFFの段数、また最適位相のクロックを選択す
るためのMUXの段数は、基準クロックを分周する分周
器(1/n)15の設定に応じて適切に決定される。
The number of stages of delay gates for generating a multi-phase clock and the reference clock CLK in the present embodiment.
The number of FF stages for counting the number of V clocks and setting a predetermined position of data, and the number of MUX stages for selecting the clock of the optimum phase are determined by the frequency divider (1 / n) 15 for dividing the reference clock. It is appropriately determined according to the setting.

【0025】[0025]

【発明の効果】以上説明したように、本発明のクロック
抽出回路によれば、周辺温度、電源電圧の変動に影響さ
れることなく、入力データのタイミングの中央にクロッ
ク信号の立上りタイミングを的確に設定することができ
るため、ジッタの多いデータが入力してもリタイミング
時のエラーの発生を抑制することができる。
As described above, according to the clock extraction circuit of the present invention, the rising timing of the clock signal can be accurately set at the center of the timing of the input data without being affected by the fluctuation of the ambient temperature and the power supply voltage. Since it can be set, it is possible to suppress the occurrence of an error at the retiming even if the data with a lot of jitter is input.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明に係るクロック抽出回路の基本構成を示
す図である。
FIG. 1 is a diagram showing a basic configuration of a clock extraction circuit according to the present invention.

【図2】本発明に適用される位相同期回路におけるタイ
ミングチャートを示す図である。
FIG. 2 is a diagram showing a timing chart in the phase locked loop circuit applied to the present invention.

【図3】本発明に適用されるデータ・エッジ検出回路お
よび多位相クロック生成回路の一例を示す図である。
FIG. 3 is a diagram showing an example of a data edge detection circuit and a multi-phase clock generation circuit applied to the present invention.

【図4】本発明に適用される多位相クロック生成回路に
おけるタイミングチャートを示す図である。
FIG. 4 is a diagram showing a timing chart in the multi-phase clock generation circuit applied to the present invention.

【図5】本発明に適用されるデータ・エッジ検出回路に
おけるタイミングチャートを示す図である。
FIG. 5 is a diagram showing a timing chart in the data edge detection circuit applied to the present invention.

【図6】本発明に適用される最適位相判定回路の一例を
示す図である。
FIG. 6 is a diagram showing an example of an optimum phase determination circuit applied to the present invention.

【図7】本発明に適用される最適位相判定回路における
タイミングチャートを示す図である。
FIG. 7 is a diagram showing a timing chart in the optimum phase determination circuit applied to the present invention.

【図8】本発明に適用される最適位相選択回路の一例を
示す図である。
FIG. 8 is a diagram showing an example of an optimum phase selection circuit applied to the present invention.

【図9】本発明に適用されるタイミング調整回路および
データ・リタイミング回路の一例を示す図である。
FIG. 9 is a diagram showing an example of a timing adjustment circuit and a data retiming circuit applied to the present invention.

【図10】本発明に適用される最適位相選択回路、タイ
ミング調整回路およびデータ・リタイミング回路におけ
るタイミングチャートを示す図である。
FIG. 10 is a diagram showing a timing chart in the optimum phase selection circuit, timing adjustment circuit, and data retiming circuit applied to the present invention.

【図11】従来のクロック抽出回路の構成を示す図であ
る。
FIG. 11 is a diagram showing a configuration of a conventional clock extraction circuit.

【図12】従来のクロック抽出回路におけるタイミング
チャートを示す図である。
FIG. 12 is a diagram showing a timing chart in a conventional clock extraction circuit.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 クロック抽出回路 10 位相同期回路(PLL回路:位相同期手段) 11 位相比較器 11a 遅延ゲート 11b 排他的NOR回路(EXNOR) 11c、11d NOR回路 11e NOT回路(インバータ) 12 チャージポンプ 13 低域フィルタ 14 電圧制御発振器(VGO) 15 分周器 20 多位相クロック生成回路(多位相クロック生
成手段) 30 データ・エッジ検出回路(データ・エッジ検
出手段) 40 最適位相判定回路(位相判定手段) 50 最適位相選択回路(位相選択手段) 60 タイミング調整回路(タイミング調整手段) 70 データ・リタイミング回路(データ・リタイ
ミング手段) 80 NOT回路(インバータ) 100 データ・リタイミング調整回路
1 Clock Extraction Circuit 10 Phase Synchronous Circuit (PLL Circuit: Phase Synchronous Means) 11 Phase Comparator 11a Delay Gate 11b Exclusive NOR Circuit (EXNOR) 11c, 11d NOR Circuit 11e NOT Circuit (Inverter) 12 Charge Pump 13 Low-pass Filter 14 Voltage controlled oscillator (VGO) 15 Frequency divider 20 Multi-phase clock generation circuit (multi-phase clock generation means) 30 Data edge detection circuit (data edge detection means) 40 Optimal phase determination circuit (phase determination means) 50 Optimal phase selection Circuit (phase selection means) 60 Timing adjustment circuit (timing adjustment means) 70 Data retiming circuit (data retiming means) 80 NOT circuit (inverter) 100 Data retiming adjustment circuit

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】入力信号との位相が比較され、該位相の誤
差に比例した誤差電圧に基づいて前記入力信号に同期し
た周波数有する基準クロックを生成する位相同期手段
と、該基準クロックから所定の遅延を有する抽出クロッ
クと、前記基準クロックに基づいて前記入力信号のタイ
ミングを調整制御したリタイミング信号とを出力するリ
タイミング調整手段とを具備するクロック抽出回路にお
いて、 前記リタイミング調整手段が、前記基準クロックに基づ
いて所定の位相を持つ複数の2次クロックを生成する多
位相クロック生成手段と、前記2次クロックに基づいて
前記入力信号の立上りおよび立下りエッジを検出するデ
ータ・エッジ検出手段と、前記基準クロックおよび前記
データ・エッジ検出手段により検出された入力信号のエ
ッジに基づいて前記入力信号の位相を判定する位相判定
手段と、前記位相判定手段からの判定結果に基づいて、
前記複数の2次クロックから前記入力信号の位相調整に
用いるクロックを選択し、3次クロックとして出力する
位相選択手段と、前記基準クロックから前記3次クロッ
クを生成する際の遅延時間を前記入力信号に反映するタ
イミング調整手段と、前記タイミング調整手段により所
定の遅延時間を付加された前記入力信号を、前記3次ク
ロックに基づいて位相調整するリタイミング手段と、を
有することを特徴とするクロック抽出回路。
1. A phase synchronizing means for comparing a phase with an input signal and generating a reference clock having a frequency synchronized with the input signal based on an error voltage proportional to an error of the phase, and a predetermined clock from the reference clock. A clock extraction circuit comprising: an extracted clock having a delay; and a retiming adjusting unit that outputs a retiming signal that adjusts and controls the timing of the input signal based on the reference clock, wherein the retiming adjusting unit comprises: Multi-phase clock generation means for generating a plurality of secondary clocks having a predetermined phase based on a reference clock; and data edge detection means for detecting rising and falling edges of the input signal based on the secondary clocks. , Based on the edges of the input signal detected by the reference clock and the data edge detection means Phase determining means for determining the phase of the input signal, based on the determination result from the phase determining means,
A phase selection unit that selects a clock used for phase adjustment of the input signal from the plurality of secondary clocks and outputs the selected clock as a tertiary clock, and a delay time when the tertiary clock is generated from the reference clock, the input signal And a retiming means for adjusting the phase of the input signal to which a predetermined delay time has been added by the timing adjusting means based on the third-order clock. circuit.
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