JPH09246920A - Semiconductor integrated circuit device - Google Patents
Semiconductor integrated circuit deviceInfo
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- JPH09246920A JPH09246920A JP8080862A JP8086296A JPH09246920A JP H09246920 A JPH09246920 A JP H09246920A JP 8080862 A JP8080862 A JP 8080862A JP 8086296 A JP8086296 A JP 8086296A JP H09246920 A JPH09246920 A JP H09246920A
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】この発明は、半導体集積回路
装置に関し、主として内蔵されるPLL回路を用いたク
ロック発生技術に利用して有効な技術に関するものであ
る。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a semiconductor integrated circuit device, and more particularly to a technique effective when applied to a clock generation technique using a built-in PLL circuit.
【0002】[0002]
【従来の技術】所望のパルスデューティのパルス信号を
形成する回路として、入力パルスとそれを遅延させた信
号とを論理的に処理して、上記遅延時間の調整により所
望のパルス幅のパルスを得るようにしたものが一般的に
考えられる。2. Description of the Related Art As a circuit for forming a pulse signal having a desired pulse duty, an input pulse and a delayed signal thereof are logically processed, and a pulse having a desired pulse width is obtained by adjusting the delay time. It is generally considered that this is done.
【0003】[0003]
【発明が解決しようとする課題】上記のように入力パル
スと遅延回路により遅延させたパルスとを論理的に処理
してパルスデューティを設定するものでは、パルスデュ
ーティの可変率が入力パルスの周波数に依存するため、
PLL回路のように様々な周波数に変化させることがで
きるパルス発生回路により形成されたパルスに対しては
適用できない。In the case where the pulse duty is set by logically processing the input pulse and the pulse delayed by the delay circuit as described above, the variable rate of the pulse duty is set to the frequency of the input pulse. Depends on
It cannot be applied to a pulse formed by a pulse generating circuit that can be changed to various frequencies like a PLL circuit.
【0004】この発明の目的は、簡単な構成で、しかも
入力パルスの周波数に依存しないで所望のデューティの
パルスを得ることができるパルス発生回路を内蔵した半
導体集積回路装置を提供することにある。この発明の前
記ならびにそのほかの目的と新規な特徴は、本明細書の
記述および添付図面から明らかになるであろう。An object of the present invention is to provide a semiconductor integrated circuit device having a pulse generator circuit having a simple structure and capable of obtaining a pulse having a desired duty without depending on the frequency of an input pulse. The above and other objects and novel features of the present invention will become apparent from the description of the present specification and the accompanying drawings.
【0005】[0005]
【課題を解決するための手段】本願において開示される
発明のうち代表的なものの概要を簡単に説明すれば、下
記の通りである。すなわち、制御電圧に対応した動作電
流が供給されるCMOSインバータ回路を1つの遅延回
路として奇数段の遅延回路からなるリングオシレータを
含むPLL回路において、上記リングオシレータの各遅
延信号が段数に対応したタイミング差を持つことを利用
し、かかる各遅延回路の出力信号をセレクタにより選択
的に出力させ上記リングオシレータの発振出力との論理
処理により所望のデューティを持つ内部パルス信号を形
成する。The following is a brief description of an outline of a typical invention among the inventions disclosed in the present application. That is, in a PLL circuit including a ring oscillator including odd-numbered stages of delay circuits each having a CMOS inverter circuit supplied with an operating current corresponding to a control voltage as one delay circuit, each delay signal of the ring oscillator has a timing corresponding to the number of stages. By utilizing the difference, the output signal of each delay circuit is selectively output by the selector and logically processed with the oscillation output of the ring oscillator to form an internal pulse signal having a desired duty.
【0006】[0006]
【発明の実施の形態】図1には、この発明に係るパルス
発生回路の要部一実施例の回路図が示されている。同図
の各回路素子は、公知の半導体集積回路の製造技術によ
り単結晶シリコンのような1個の半導体基板上において
形成される。同図において、ゲートに○が付されたもの
はPチャンネル型MOSFETを表している。このこと
は、以下の図面においても同様である。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS FIG. 1 shows a circuit diagram of an embodiment of a main part of a pulse generating circuit according to the present invention. Each circuit element in the figure is formed on a single semiconductor substrate such as single crystal silicon by a known semiconductor integrated circuit manufacturing technique. In the same figure, the one with a circle attached to the gate represents a P-channel MOSFET. This also applies to the following drawings.
【0007】VCO(電圧制御型発振)回路9は、リン
グオシレータが用いられる。つまり、Nチャンネル型M
OSFETQ5とPチャンネル型MOSFETQ6から
なるCMOSインバータ回路12に対して、動作電流を
Nチャンネル型MOSFETQ3とPチャンネル型MO
SFETQ4から供給するようにし、かかるMOSFE
TQ3とQ4とを発振周波数の制御電圧に対応した制御
電流が流れるようにするものである。A ring oscillator is used as the VCO (voltage controlled oscillation) circuit 9. That is, N channel type M
For the CMOS inverter circuit 12 including the OSFET Q5 and the P-channel MOSFET Q6, the operating current is changed to the N-channel MOSFET Q3 and the P-channel MO.
Supply from SFET Q4
A control current corresponding to the control voltage of the oscillation frequency flows through TQ3 and Q4.
【0008】上記制御電圧は、上記Nチャンネル型MO
SFETQ3のゲートに直接印加さされる。かかるMO
SFETQ3は、電圧/電流変換動作を行い、制御電圧
に対応された制御電流を形成する電流源MOSFETと
して動作する。上記制御電圧は、Nチャンネル型MOS
FETQ1により電流信号に変換される。この変換され
たドレイン電流は、ダイオード形態にされたPチャンネ
ル型MOSFETQ2に供給される。このPチャンネル
型MOSFETQ2と上記Pチャンネル型MOSFET
Q4とは電流ミラー形態とされ、MOSFETQ4から
上記制御電圧に対応された動作電流を形成されて上記C
MOSインバータ回路12のPチャンネル型MOSFE
TQ6に供給される。The control voltage is the N-channel type MO.
It is applied directly to the gate of SFET Q3. Such MO
The SFET Q3 performs a voltage / current conversion operation and operates as a current source MOSFET that forms a control current corresponding to the control voltage. The control voltage is an N-channel MOS
It is converted into a current signal by the FET Q1. The converted drain current is supplied to the diode-type P-channel MOSFET Q2. The P-channel MOSFET Q2 and the P-channel MOSFET
Q4 is in the form of a current mirror, and an operating current corresponding to the control voltage is formed from the MOSFET Q4 to generate the C
P-channel type MOSFE of the MOS inverter circuit 12
It is supplied to TQ6.
【0009】同図では、上記CMOSインバータ回路1
2を含めて同様な5個のCMOSインバータ回路がリン
グ状に縦列形態に接続される。各CMOSインバータ回
路は、前記同様に制御電圧に対応してた電流を形成する
Nチャンネル型MOSFETとPチャンネル型MOSF
ETから動作電流が供給される。例えば、制御電圧が低
くされると、各CMOSインバータ回路に流れる動作電
流が減少する。このようなCMOSインバータ回路の動
作電流が減少すると、CMOSインバータ回路の出力信
号により次段のCMOSインバータ回路の入力容量の充
電又は放電電流が減少させられる結果、信号遅延時間が
増大して発振周波数を低下させる。逆に、制御電圧が高
くされると、各CMOSインバータ回路に流れる動作電
流が増加する。このようなCMOSインバータ回路の動
作電流が増加すると、CMOSインバータ回路の出力信
号により次段のCMOSインバータ回路の入力容量の充
電又は放電電流が増加させられる結果、信号遅延時間が
減少して発振周波数を高くさせる。このようにして、制
御電圧に対応した発振パルスが得られる。In the figure, the CMOS inverter circuit 1 described above is used.
Five similar CMOS inverter circuits including 2 are connected in a ring form in a column form. Each CMOS inverter circuit has an N-channel type MOSFET and a P-channel type MOSF which form a current corresponding to a control voltage as described above.
An operating current is supplied from ET. For example, when the control voltage is lowered, the operating current flowing through each CMOS inverter circuit decreases. When the operating current of such a CMOS inverter circuit decreases, the charge or discharge current of the input capacitance of the CMOS inverter circuit of the next stage is decreased by the output signal of the CMOS inverter circuit. As a result, the signal delay time increases and the oscillation frequency increases. Lower. Conversely, when the control voltage is increased, the operating current flowing through each CMOS inverter circuit increases. When the operating current of such a CMOS inverter circuit increases, the charge or discharge current of the input capacitance of the CMOS inverter circuit of the next stage is increased by the output signal of the CMOS inverter circuit. As a result, the signal delay time decreases and the oscillation frequency decreases. Make it higher In this way, the oscillation pulse corresponding to the control voltage is obtained.
【0010】上記CMOSインバータ回路は、それぞれ
が同じ素子定数のMOSFETにより構成される。それ
故、VCO発振出力信号を基準にすると、上記実施例の
ように5段のCMOSインバータ回路の出力信号は、発
振パルスの1/2周期に対して1/5ずつの遅延時間を
持つものである。本願発明者においては、このことを利
用して出力パルスのパルスデューティを設定することを
考えた。The CMOS inverter circuit is composed of MOSFETs each having the same element constant. Therefore, based on the VCO oscillation output signal, the output signal of the 5-stage CMOS inverter circuit as in the above embodiment has a delay time of ⅕ to 1/2 cycle of the oscillation pulse. is there. The inventor of the present application considered using this fact to set the pulse duty of the output pulse.
【0011】つまり、CMOSインバータ回路の各段の
出力信号は、クロック(1)、クロック(2)、クロッ
ク(3)及びクロック(4)として、セレクタ11に供
給し、このセレクタにより所望のパルスデューティを得
るのに必要なパルスを選択して、上記VCO出力信号と
ともにゲート回路13と14に供給し、上記VCOに同
期し、かつそれぞれが所望のパルスデューティとなる出
力(1)と出力(2)を得るようにするものである。That is, the output signal of each stage of the CMOS inverter circuit is supplied to the selector 11 as a clock (1), a clock (2), a clock (3) and a clock (4), and a desired pulse duty is supplied by this selector. Output to the gate circuits 13 and 14 together with the VCO output signal and synchronized with the VCO, and outputs (1) and (2) that have the desired pulse duty. Is to get.
【0012】この実施例では、特に制限されないが、2
通りの出力(1)と出力(2)を得る出力回路が設けら
れている。1つは、ナンドゲート回路13とインバータ
回路N1により、論理積処理を行ってVCO出力信号に
比べてパルスデューティが小さくされた出力(1)を得
るものである。他の1つは、ノアゲート回路14とイン
バータ回路N2により論理和処理を行ってVCO出力信
号に比べてパルスデューティが大きくされた出力(2)
を得るものである。In this embodiment, although not particularly limited, 2
An output circuit is provided to obtain the normal output (1) and output (2). One is to obtain an output (1) whose pulse duty is smaller than that of the VCO output signal by performing an AND process by the NAND gate circuit 13 and the inverter circuit N1. The other one is an output (2) in which the pulse duty is made larger than that of the VCO output signal by performing the logical sum processing by the NOR gate circuit 14 and the inverter circuit N2.
Is what you get.
【0013】図2には、上記パルス発生回路の動作の一
例を説明するためのタイミング図が示されている。クロ
ック(1)とクロック(2)との遅延時間tは、発振周
期の半周期をCMOSインバータ回路の段数で除算した
もの、つまり、発振周期/(2×段数)である。言い換
えるならば、クロック(1)を基準にしてみると、その
立ち上がり(又は立ち下がり)から5×tの遅延時間後
に、VCO出力信号が立ち上がる(又は立ち下がる)と
いう関係にある。FIG. 2 is a timing chart for explaining an example of the operation of the pulse generating circuit. The delay time t between the clock (1) and the clock (2) is the half cycle of the oscillation cycle divided by the number of stages of the CMOS inverter circuit, that is, the oscillation cycle / (2 × the number of stages). In other words, when the clock (1) is used as a reference, the VCO output signal rises (or falls) after a delay time of 5 × t from its rise (or fall).
【0014】出力(1)は、上記セレタクによりクロッ
ク(3)を選択した場合が示されている。つまり、出力
(1)は、クロック(3)がハイレベルの期間でVCO
出力信号がロジックスレョショルドを越えたタイミング
で立ち上がり、VCO出力信号がハイレベルの期間でク
ロック(3)がロジックスレッショルド以下に低下した
タイミングで立ち下がる。これにより、3/10=30
%のパルスデューティのパルスを得ることができる。The output (1) is shown when the clock (3) is selected by the above selection. That is, the output (1) is output from the VCO during the high level period of the clock (3).
The output signal rises at the timing when it exceeds the logic threshold, and falls when the clock (3) falls below the logic threshold while the VCO output signal is at the high level. Therefore, 3/10 = 30
It is possible to obtain a pulse with a pulse duty of%.
【0015】出力(2)は、上記セレタクにより上記ク
ロック(3)を選択した場合が示されている。つまり、
出力(2)は、クロック(3)がロジックスレッショル
ドを越えたタイミングで立ち上がり、VCO出力信号が
ロジックスレッショルド以下に低下したタイミングで立
ち下がる。これにより、7/10=70%のパルスデュ
ーティのパルスを得ることができる。The output (2) is shown when the clock (3) is selected by the selection. That is,
The output (2) rises at the timing when the clock (3) exceeds the logic threshold and falls at the timing when the VCO output signal falls below the logic threshold. This makes it possible to obtain a pulse with a pulse duty of 7/10 = 70%.
【0016】セレタタ11は、上記のように必ずしも4
つのうちの1つのクロック信号を上記2つの出力回路に
供給するものの他、それぞれの出力回路に対して1つを
選択するものであってもよい。そして、出力(1)と出
力(2)は、常に一対のものとして出力させる必要はな
く、必要とされるデューティを持つ1のクロックパルス
のみを使用するものであってもよい。As described above, the selector 11 does not necessarily have to be 4
One of the two output circuits may be supplied to the two output circuits, or one of them may be selected for each output circuit. The output (1) and the output (2) do not always have to be output as a pair, and only one clock pulse having a required duty may be used.
【0017】図3には、上記リングオシレータを含むP
LL回路の全体の構成図が示されている。特に制限され
ないが、出力パルスの周波数そのものを任意に設定する
場合には、基準周波数信号がプログラムカウンタ(分周
回路)により分周させられる。位相比較回路は、上記分
周信号とVCO出力信号との位相差(周波数差)出力を
形成し、ループフィルタはそれを平滑して制御電圧を形
成し、上記リングオシレータのVCO出力信号が上記分
周信号に一致させる。FIG. 3 shows the P including the ring oscillator.
An overall block diagram of the LL circuit is shown. Although not particularly limited, when the frequency itself of the output pulse is arbitrarily set, the reference frequency signal is divided by the program counter (frequency dividing circuit). The phase comparison circuit forms a phase difference (frequency difference) output between the divided signal and the VCO output signal, and the loop filter smooths it to form a control voltage, and the VCO output signal of the ring oscillator is divided into the above divided parts. Match the frequency signal.
【0018】上記のようなプログラムカンウタの他、同
図において点線で示すようにシステムクロックを基準信
号として用いるものであってもよい。例えば、メモリや
各種周辺回路を構成する半導体集積回路装置では、それ
が搭載されるマイクロコンピュータシステムのシステム
クロックが入力されてそれに同期した内部クロック信号
を発生させる。この場合には、マイクロプロセッサから
のアドレス信号やデータの取り込みおいて、セットアッ
プタイムとホールドタイムを、信号伝送経路での遅延を
考慮して、最適にするために上記パルスデューティの調
整が役立つものとなる。In addition to the above program counter, the system clock may be used as the reference signal as shown by the dotted line in the figure. For example, in a semiconductor integrated circuit device that constitutes a memory or various peripheral circuits, a system clock of a microcomputer system in which the memory is mounted is input and an internal clock signal synchronized with the system clock is generated. In this case, the adjustment of the pulse duty may be useful for optimizing the setup time and hold time in taking in the address signal and data from the microprocessor in consideration of the delay in the signal transmission path. Become.
【0019】この実施例では、上記のようにリングオシ
レータの発振信号がシステムクロックに同期して設定さ
れ、かつその周波数に対応した周期が、上記リングオシ
レータでの遅延信号に等分されるので、パルスデューテ
ィは周波数に影響されずに所望のデューティを維持する
ことができる。しかも、リングオシレータの遅延段の信
号を利用するものであるので、セレクタと論理回路を追
加するという極めて簡単な構成により実現できる。ま
た、上記セットアップとホールドタイムの設定の他に、
システムクロックを取り込み信号のデューティを変化さ
せ、取り込むクロック数を制御するようにも利用でき
る。In this embodiment, the oscillation signal of the ring oscillator is set in synchronization with the system clock as described above, and the period corresponding to the frequency is equally divided into the delay signal of the ring oscillator. The pulse duty can maintain a desired duty without being influenced by the frequency. Moreover, since the signal of the delay stage of the ring oscillator is used, it can be realized by an extremely simple configuration in which a selector and a logic circuit are added. In addition to the setup and hold time settings above,
It can also be used to control the number of clocks to fetch the system clock by changing the duty of the signal.
【0020】この実施例では、上記セレクタ11の選択
信号Sは、ヒューズFの切断の有無により形成される。
電源電圧と回路の接地電位間にPチャンネル型MOSF
ETQ7とヒューズFとを直列接続し、その相互接続点
の信号をCMOSインバータ回路N3を介して上記Pチ
ャンネル型MOSFETQ7のゲートに帰還させる。こ
れにより、ヒューズFが切断されたなら、MOSFET
Q7とインバータ回路N3がラッチ回路を構成して、ロ
ウレベルの選択信号Sを形成する。もしも、ヒューズF
が切断されないなら、インバータ回路N3の入力信号が
ロウレベルとなり、ハイレベルの選択信号Sを形成し、
上記Pチャンネル型MOSFETQ7をオフ状態にする
ので、ヒューズFに直流電流が流れなくすることができ
る。In this embodiment, the selection signal S of the selector 11 is formed depending on whether the fuse F is blown or not.
P-channel MOSF between power supply voltage and circuit ground potential
The ETQ7 and the fuse F are connected in series, and the signal at the interconnection point is fed back to the gate of the P-channel MOSFET Q7 via the CMOS inverter circuit N3. As a result, if the fuse F is blown, the MOSFET
Q7 and the inverter circuit N3 form a latch circuit and form a low-level selection signal S. Hello F
If is not cut off, the input signal of the inverter circuit N3 becomes low level and the high level selection signal S is formed,
Since the P-channel MOSFET Q7 is turned off, it is possible to prevent the direct current from flowing through the fuse F.
【0021】セレクタ11は、特に制限されないが、C
MOSスイッチ回路から構成される。上記のように4つ
の入力の中から1つを選ぶ場合には、上記同様なヒュー
ズ回路が2組設けられ、それをデコードして1つのの選
択信号を形成する。此の他、各スイッチ毎に一対一にス
イッチを設け、ヒューズを切断したものが選択されるよ
うにしてもよい。The selector 11 is not particularly limited, but is C
It is composed of a MOS switch circuit. When one of the four inputs is selected as described above, two sets of fuse circuits similar to those described above are provided and are decoded to form one selection signal. In addition to this, one switch may be provided for each switch, and the one with the fuse blown may be selected.
【0022】上記の実施例から得られる作用効果は、下
記の通りである。 (1) 制御電圧に対応した動作電流が供給されるCM
OSインバータ回路を1つの遅延回路として奇数段の遅
延回路からなるリングオシレータを含むPLL回路にお
いて、上記リングオシレータの各遅延信号が段数に対応
したタイミング差を持つことを利用し、かかる各遅延回
路の出力信号をセレクタにより選択的に出力させ上記リ
ングオシレータの発振出力との論理処理により所望のデ
ューティを持つ内部パルス信号を形成することより、簡
単な構成により周波数に影響されずに所望のデューティ
を維持した出力パルスを得ることができるという効果が
得られる。The operational effects obtained from the above embodiment are as follows. (1) CM to which operating current corresponding to control voltage is supplied
In a PLL circuit including a ring oscillator including an odd number of stages of delay circuits with the OS inverter circuit as one delay circuit, the fact that each delay signal of the ring oscillator has a timing difference corresponding to the number of stages is used to The output signal is selectively output by the selector and logical processing is performed with the oscillation output of the ring oscillator to form an internal pulse signal with the desired duty, and the desired duty is maintained without being affected by the frequency with a simple configuration. It is possible to obtain the effect that the output pulse can be obtained.
【0023】(2) CMOSインバータ回路を利用し
て遅延回路するリングオシレータを用いることにより、
少ない消費電流のパルス発生回路を得ることができると
いう効果が得られる。(2) By using a ring oscillator that delays using a CMOS inverter circuit,
The effect that a pulse generation circuit with low current consumption can be obtained is obtained.
【0024】(3) プログラム素子によりパルスデュ
ーティを設定することにより、その使用目的に応じた出
力パルスを得ることができるから、半導体集積回路装置
の汎用性を高くすることができるという効果が得られ
る。(3) By setting the pulse duty by the program element, an output pulse according to the purpose of use can be obtained, so that the versatility of the semiconductor integrated circuit device can be enhanced. .
【0025】以上本発明者よりなされた発明を実施例に
基づき具体的に説明したが、本願発明は前記実施例に限
定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種
々変更可能であることはいうまでもない。例えば、イン
バータ回路は、上記のようなCMOSインバータ回路の
他、差動回路を用いたいものであってもよい。つまり、
半導体集積回路装置はCMOS集積回路の他、ECL
(エミッタ・カップルド・ロジック)回路等のようなバ
イポーラ集積回路であってもよい。Although the invention made by the present inventor has been specifically described based on the embodiments, the invention of the present application is not limited to the embodiments and various modifications can be made without departing from the scope of the invention. Needless to say. For example, the inverter circuit may use a differential circuit other than the CMOS inverter circuit as described above. That is,
Semiconductor integrated circuit devices include ECL in addition to CMOS integrated circuits.
It may be a bipolar integrated circuit such as an (emitter coupled logic) circuit.
【0026】セレクタは、前記のようなスイッチを用い
るもの他、マスタースライス方式により配線を形成し
て、所望の遅延信号のみを伝達させるようにするもので
あってもよい。制御信号は、外部端子から制御信号を供
給して1つの選ぶようにするものであってもよい。この
ように外部端子を設けた場合には、ユーザーにおいて内
部パルスのパルスデューティを設定することができるも
のとなる。この発明は、パルス発生回路を内蔵した半導
体集積回路装置に広く利用できる。The selector may use the switch as described above, or may form a wiring by the master slice method so as to transmit only a desired delayed signal. The control signal may be supplied from the external terminal to select one. When the external terminal is provided in this way, the user can set the pulse duty of the internal pulse. INDUSTRIAL APPLICABILITY The present invention can be widely used for semiconductor integrated circuit devices having a pulse generation circuit built therein.
【0027】[0027]
【発明の効果】本願において開示される発明のうち代表
的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば、下
記の通りである。すなわち、制御電圧に対応した動作電
流が供給されるCMOSインバータ回路を1つの遅延回
路として奇数段の遅延回路からなるリングオシレータを
含むPLL回路において、上記リングオシレータの各遅
延信号が段数に対応したタイミング差を持つことを利用
し、かかる各遅延回路の出力信号をセレクタにより選択
的に出力させ上記リングオシレータの発振出力との論理
処理により所望のデューティを持つ内部パルス信号を形
成することより、簡単な構成により周波数に影響されず
に所望のデューティを維持した出力パルスを得ることが
できる。The effects obtained by typical ones of the inventions disclosed in the present application will be briefly described as follows. That is, in a PLL circuit including a ring oscillator including odd-numbered stages of delay circuits each having a CMOS inverter circuit supplied with an operating current corresponding to a control voltage as one delay circuit, each delay signal of the ring oscillator has a timing corresponding to the number of stages. By utilizing the difference, the output signal of each delay circuit is selectively output by the selector, and the internal pulse signal having the desired duty is formed by logical processing with the oscillation output of the ring oscillator. The configuration makes it possible to obtain an output pulse that maintains a desired duty without being affected by the frequency.
【図1】この発明に係るクロック発生回路の一実施例を
示す要部回路図である。FIG. 1 is a circuit diagram of essential parts showing an embodiment of a clock generation circuit according to the present invention.
【図2】図1のクロック発生回路の動作の一例を説明す
るためのタイミング図である。FIG. 2 is a timing chart for explaining an example of the operation of the clock generation circuit of FIG.
【図3】この発明に係るクロック発生回路の一実施例を
示す全体回路図である。FIG. 3 is an overall circuit diagram showing an embodiment of a clock generation circuit according to the present invention.
9…VCO回路、11…セレタク、12…CMOSイン
バータ回路、13…ナンドゲート回路、14…ノアゲー
ト回路、Q1〜Q7…MOSFET、N1〜N3…イン
バータ回路、F…ヒューズ、S…選択信号。9 ... VCO circuit, 11 ... Select, 12 ... CMOS inverter circuit, 13 ... NAND gate circuit, 14 ... NOR gate circuit, Q1-Q7 ... MOSFET, N1-N3 ... Inverter circuit, F ... Fuse, S ... Selection signal.
Claims (3)
るCMOSインバータ回路を1つの遅延回路として奇数
段の遅延回路からなるリングオシレータを含むPLL回
路と、上記各遅延回路の出力信号を選択的に出力させる
セレクタと、かかるセレクタの出力信号と上記リングオ
シレータの発振出力とを受ける論理回路とを備えてな
り、かかる論理回路により所望のデューティを持つ内部
パルス信号を形成するパルス発生回路を内蔵してなるこ
とを特徴とする半導体集積回路装置。1. A PLL circuit including a ring oscillator composed of odd-numbered delay circuits with a CMOS inverter circuit to which an operating current corresponding to a control voltage is supplied as one delay circuit, and an output signal of each delay circuit is selectively selected. And a logic circuit that receives the output signal of the selector and the oscillation output of the ring oscillator, and has a built-in pulse generation circuit that forms an internal pulse signal with a desired duty by the logic circuit. A semiconductor integrated circuit device characterized by the following.
圧に対応した電流を流すようにされたPチャンネル型M
OSFETとNチャンネル型MOSFETを通して動作
電流が供給されるものであることを特徴とする請求項1
の半導体集積回路装置。2. The P-channel type M in which the CMOS inverter circuit is adapted to flow a current corresponding to a control voltage.
The operating current is supplied through an OSFET and an N-channel MOSFET.
Semiconductor integrated circuit device.
より形成された選択信号により所望の遅延回路の出力信
号を選択するものであることを特徴とする請求項1又は
請求項2の半導体集積回路装置。3. The semiconductor integrated circuit device according to claim 1, wherein the selector selects a desired output signal of the delay circuit according to a selection signal formed by a programmable element.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8080862A JPH09246920A (en) | 1996-03-08 | 1996-03-08 | Semiconductor integrated circuit device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8080862A JPH09246920A (en) | 1996-03-08 | 1996-03-08 | Semiconductor integrated circuit device |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH09246920A true JPH09246920A (en) | 1997-09-19 |
Family
ID=13730158
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP8080862A Withdrawn JPH09246920A (en) | 1996-03-08 | 1996-03-08 | Semiconductor integrated circuit device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH09246920A (en) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6147532A (en) * | 1998-08-07 | 2000-11-14 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | PLL circuit capable of preventing malfunction of FF circuits connected thereto and semiconductor integrated circuit including the PLL circuit |
KR100525080B1 (en) * | 1999-02-05 | 2005-11-01 | 매그나칩 반도체 유한회사 | Average duty cycle corrector |
DE102004021003B4 (en) * | 2003-04-22 | 2006-06-14 | Samsung Electronics Co., Ltd., Suwon | Frequency synthesizer and associated operating method |
JP2006270945A (en) * | 2005-02-28 | 2006-10-05 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | Semiconductor device and electronic apparatus using it |
JP2008228301A (en) * | 2007-03-08 | 2008-09-25 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Ring oscillator |
US8946710B2 (en) | 2005-02-28 | 2015-02-03 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device and electronic apparatus using the same |
-
1996
- 1996-03-08 JP JP8080862A patent/JPH09246920A/en not_active Withdrawn
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A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
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