JPH09231582A - Optical pickup device - Google Patents

Optical pickup device

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JPH09231582A
JPH09231582A JP3409596A JP3409596A JPH09231582A JP H09231582 A JPH09231582 A JP H09231582A JP 3409596 A JP3409596 A JP 3409596A JP 3409596 A JP3409596 A JP 3409596A JP H09231582 A JPH09231582 A JP H09231582A
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JP
Japan
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objective lens
substrate
pickup device
optical pickup
optical
Prior art date
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Withdrawn
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JP3409596A
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Japanese (ja)
Inventor
Genichi Iizuka
源一 飯塚
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Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
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Publication date
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  • Moving Of The Head For Recording And Reproducing By Optical Means (AREA)
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To relax the mounting accuracy for a semiconductor laser element on a substrate and to facilitate the manufacturing of a device by flexibly displacing the position of a substrate part, mounting an optical part, between the position on which a light emitting element is arranged and the position on which an objective lens is arranged. SOLUTION: In this optical pickup device, a substrate 36 is flexibly displaced in the direction of a principal plane part (vertical direction) at a flexibly displacing part 52 located between the position on which a semiconductor laser element (laser coupler) is arranged and the position on which an objective lens driving mechanism 6 is arranged. In the optical pickup device, the inclination of the laser coupler 3 to the objective lens driving mechanism 6 is adjustable by means of the flexible displacement of such a substrate part 36.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、光ディスクの如き
光学記録媒体に対して情報信号の記録再生を行う光学ピ
ックアップ装置に関する技術分野に属する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a technical field of an optical pickup device for recording / reproducing information signals on / from an optical recording medium such as an optical disk.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、光ディスクの如き光学記録媒体が
提案され、この光ディスクより情報信号の読み取りを行
う光学ピックアップ装置が提案されている。
2. Description of the Related Art Conventionally, an optical recording medium such as an optical disc has been proposed, and an optical pickup device for reading an information signal from the optical disc has been proposed.

【0003】この光学ピックアップ装置は、半導体レー
ザ素子の如き光源と、この光源より発せられる光束を導
く複数の光学部品とを有して構成されている。この光源
より発せられた光束は、対物レンズにより、上記光ディ
スクの信号記録層上に集光される。
This optical pickup device is composed of a light source such as a semiconductor laser element and a plurality of optical components for guiding a light beam emitted from the light source. The light beam emitted from this light source is focused on the signal recording layer of the optical disc by the objective lens.

【0004】そして、上記信号記録層上に集光された光
束は、この信号記録層により反射され、上記対物レンズ
に戻る。上記対物レンズに戻った光束は、ビームスプリ
ッタにより、上記光源に戻る光路より分割され、フォト
ダイオードの如き光検出器により受光される。この光検
出器より出力される光検出出力は、上記光ディスクに記
録された情報信号の読み取り信号となる。
Then, the light beam condensed on the signal recording layer is reflected by the signal recording layer and returns to the objective lens. The light beam returning to the objective lens is split by the beam splitter from the optical path returning to the light source, and is received by a photodetector such as a photodiode. The photodetection output output from the photodetector becomes a read signal of the information signal recorded on the optical disc.

【0005】このような光学ピックアップ装置を有して
構成される光ディスク再生装置においては、上記光ディ
スクが中心部分を保持されて回転操作されるとともに、
該光学ピックアップ装置が上記対物レンズを該光ディス
クの主面部に対向させた状態に支持される。この光学ピ
ックアップ装置は、上記光ディスクの内外周に亘って移
動操作されることにより、この光ディスクの信号記録層
の全面に亘って、情報信号の読み取りを行うことができ
る。
In an optical disk reproducing apparatus having such an optical pickup device, the optical disk is rotated while being held at its central portion,
The optical pickup device is supported with the objective lens facing the main surface of the optical disc. By moving the optical pickup device over the inner and outer circumferences of the optical disc, the information signal can be read over the entire surface of the signal recording layer of the optical disc.

【0006】このような光学ピックアップ装置として、
1枚の基板部上に上記半導体レーザ素子、上記光検出
器、上記ビームスプリッタ及び対物レンズ駆動機構を配
設し、これら素子及び光学部品を該基板部に取付けられ
るカバー部材(シェルカバー)によって覆って構成した
ものが提案されている。
As such an optical pickup device,
The semiconductor laser device, the photodetector, the beam splitter, and the objective lens driving mechanism are arranged on one substrate portion, and these elements and optical components are covered by a cover member (shell cover) attached to the substrate portion. It has been proposed that it is configured.

【0007】この光学ピックアップ装置においては、上
記半導体レーザ素子より発せられた光束は、上記ビーム
スプリッタを介して、上記対物レンズ駆動機構により支
持された対物レンズに入射されて、上記光ディスクの信
号記録層上に集光される。そして、この光束は、上記信
号記録層により反射され、上記対物レンズ及び上記ビー
ムスプリッタを介して、上記光検出器により受光され
る。
In this optical pickup device, the light flux emitted from the semiconductor laser element is incident on the objective lens supported by the objective lens driving mechanism via the beam splitter, and the signal recording layer of the optical disc is recorded. Focused on top. Then, this light flux is reflected by the signal recording layer and is received by the photodetector via the objective lens and the beam splitter.

【0008】上記対物レンズ駆動機構は、上記対物レン
ズを支持するとともに、この対物レンズを、この対物レ
ンズの光軸方向及びこの光軸方向に直交する方向に移動
操作する機構である。この対物レンズ駆動機構は、上記
光ディスクに記録された情報信号の読み取り信号に応じ
て上記対物レンズを移動操作することによって、この対
物レンズを該光ディスクの回転に伴う偏心やいわゆる面
振れに追従させて移動させ、この対物レンズにより形成
される上記光束の集光点が、常に、該光ディスクの信号
記録層の表面部の記録トラック上に形成されるようにす
る。
The objective lens drive mechanism is a mechanism for supporting the objective lens and moving the objective lens in the optical axis direction of the objective lens and in the direction orthogonal to the optical axis direction. The objective lens driving mechanism moves the objective lens in accordance with a read signal of an information signal recorded on the optical disc to cause the objective lens to follow eccentricity and so-called surface wobbling caused by rotation of the optical disc. It is moved so that the focal point of the light flux formed by the objective lens is always formed on the recording track on the surface of the signal recording layer of the optical disc.

【0009】このような光学ピックアップ装置において
は、上記対物レンズ駆動機構は、上記基板部上におい
て、上記半導体レーザ素子の位置を基準として正確に位
置決めして取付ける必要がある。
In such an optical pickup device, the objective lens drive mechanism needs to be accurately positioned and mounted on the substrate portion with the position of the semiconductor laser element as a reference.

【0010】そして、このような光学ピックアップ装置
においては、上記カバー部材に、上記光ディスク再生装
置において支持される被支持部が設けられている。した
がって、上記カバー部材は、上記基板部に対して、正確
に位置決めされて取付けられる必要がある。また、この
カバー部材は、外方側より伝幡する振動や衝撃により上
記基板部に対して移動しないように、すなわち、この基
板部に対していわゆるガタのない状態に取付けられる必
要がある。
In such an optical pickup device, the cover member is provided with a supported portion which is supported in the optical disk reproducing device. Therefore, the cover member needs to be accurately positioned and attached to the substrate portion. Further, the cover member needs to be attached so that it does not move with respect to the substrate portion due to vibration or impact transmitted from the outside, that is, in a so-called play-free state with respect to the substrate portion.

【0011】[0011]

【発明が解決しようとする課題】ところで、上述のよう
な光学ピックアップ装置においては、上記半導体レーザ
素子の上記基板部上への取付けにあたって、この基板部
に対する上記カバー部の取付けにおける誤差も考慮しつ
つ、正確な位置決めを行う必要がある。
By the way, in the above optical pickup device, when the semiconductor laser element is mounted on the substrate portion, an error in mounting the cover portion on the substrate portion is taken into consideration. , It is necessary to make accurate positioning.

【0012】例えば、上記半導体レーザ素子は、上記基
板部に対する浮き上がり量の許容値を、所定位置に対し
て0.01mm(10μm)程度以内とする必要があ
る。この精度は、上記半導体レーザ素子を上記基板部に
対して接着により取付けることとした場合においては、
取付け精度の限界に近いものであり、大量に生産した場
合においては、この許容値より外れるものが多発するこ
ととなる。
For example, in the semiconductor laser device, the allowable value of the amount of floating with respect to the substrate portion needs to be within 0.01 mm (10 μm) with respect to a predetermined position. This accuracy is obtained when the semiconductor laser device is attached to the substrate portion by adhesion.
This is close to the limit of the mounting accuracy, and when it is mass-produced, there are many cases that deviate from this allowable value.

【0013】上記基板部に対して上記許容値を越える位
置ずれを起こして上記半導体レーザ素子が接着された場
合には、これら基板部及び半導体レーザ素子は、再使用
される余地がなく、廃棄されることとなっている。
When the semiconductor laser element is bonded to the substrate portion by a positional displacement exceeding the allowable value, the substrate portion and the semiconductor laser element have no room for reuse and are discarded. It is supposed to be.

【0014】そこで、本発明は、上述の実情に鑑みて提
案されるものであって、基板部上に半導体レーザ素子が
取付けられて構成される光学ピックアップ装置であっ
て、該基板に対する半導体レーザ素子の取付け精度が緩
和され、製造が容易化されるとともに、これら基板部及
び半導体レーザ素子の有効な利用を図ることができるよ
うになされた光学ピックアップ装置の提供という課題を
解決しようとするものである。
Therefore, the present invention is proposed in view of the above-mentioned circumstances, and is an optical pickup device constituted by mounting a semiconductor laser element on a substrate portion, and the semiconductor laser element for the substrate is provided. It is intended to solve the problem of providing an optical pickup device in which the mounting accuracy is eased, manufacturing is facilitated, and the substrate portion and the semiconductor laser element can be effectively used. .

【0015】[0015]

【課題を解決するための手段】上述の課題を解決するた
め、本発明に係る光学ピックアップ装置は、基板部と、
この基板部に固定して配設された発光素子及びこの発光
素子より発せられた光束を光学記録媒体上に集光させる
対物レンズを有して構成された光学部と、該基板部上に
配設され該対物レンズを移動操作可能に支持している対
物レンズ駆動機構とを備え、上記基板部は、上記発光素
子が配設された位置と上記対物レンズ駆動機構が配設さ
れた位置との間に位置する屈曲変位部において屈曲変位
が可能となされ、この屈曲変位によって該発光素子の該
対物レンズ駆動機構に対する傾きの調整が可能となされ
たものである。
In order to solve the above-mentioned problems, an optical pickup device according to the present invention comprises a substrate portion,
An optical part configured to have a light emitting element fixedly arranged on the substrate part and an objective lens for condensing a light beam emitted from the light emitting element on an optical recording medium, and an optical part arranged on the substrate part. And an objective lens drive mechanism that supports the objective lens so that the objective lens can be moved and operated, and the substrate portion includes a position where the light emitting element is disposed and a position where the objective lens drive mechanism is disposed. Bending displacement can be performed in the bending displacement portion located between them, and the inclination of the light emitting element with respect to the objective lens driving mechanism can be adjusted by this bending displacement.

【0016】また、本発明は、上記光学ピックアップ装
置において、上記基板部は、上記屈曲変位部よりも上記
対物レンズ駆動装置が配設された側の部分を基準とし
て、位置決め保持されることとしたものである。
Further, according to the present invention, in the above optical pickup device, the substrate portion is positioned and held with reference to a portion on the side on which the objective lens driving device is arranged with respect to the bending displacement portion. It is a thing.

【0017】そして、本発明は、上記光学ピックアップ
装置において、上記基板部は、鉄により形成されている
こととしたものである。
Further, according to the present invention, in the above optical pickup device, the substrate portion is made of iron.

【0018】[0018]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
を参照しながら説明する。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0019】本発明に係る光学ピックアップ装置は、図
1に示すように、光学記録媒体である光ディスク101
の信号記録層102の表面部上に光束を集光させて照射
し、この光束に反射光束に基づいて、該光ディスク10
1に記録された情報信号の読み取りを行う装置である。
The optical pickup device according to the present invention, as shown in FIG. 1, is an optical disc 101 which is an optical recording medium.
A light flux is condensed and irradiated on the surface of the signal recording layer 102, and the light flux is reflected on the light flux to cause the optical disc 10 to
1 is a device for reading the information signal recorded in 1.

【0020】この光学ピックアップ装置を有して構成さ
れる光ディスク再生装置においては、上記光ディスク1
01が中心部分を保持されて回転操作されるとともに、
該光学ピックアップ装置が上記光束を集光させる対物レ
ンズ20を該光ディスク101の主面部に対向させた状
態に支持される。そして、この光学ピックアップ装置
は、上記光ディスク101の内外周に亘って移動操作さ
れることにより、この光ディスク101の信号記録層の
全面に亘って、情報信号の読み取りを行うことができ
る。
In the optical disc reproducing apparatus having the optical pickup device, the optical disc 1 is used.
01 is rotated while holding the central part,
The optical pickup device is supported in a state in which the objective lens 20 for condensing the light flux is opposed to the main surface portion of the optical disc 101. The optical pickup device can be moved over the inner and outer circumferences of the optical disc 101 to read the information signal over the entire surface of the signal recording layer of the optical disc 101.

【0021】この光学ピックアップ装置は、1枚の基板
部2,36上に、半導体レーザ素子、光検出器、ビーム
スプリッタ及び上記対物レンズ20を支持する対物レン
ズ駆動機構6を配設し、これら素子及び光学部品を該基
板部2,36に取付けられるカバー部材であるシェルカ
バー30によって覆って構成したものである。
In this optical pickup device, a semiconductor laser element, a photodetector, a beam splitter, and an objective lens driving mechanism 6 for supporting the objective lens 20 are arranged on one substrate portion 2, 36, and these elements are arranged. And the optical component is covered with a shell cover 30 which is a cover member attached to the substrate portions 2 and 36.

【0022】上記基板部2,36は、第1の基板部であ
るベース基板2と、このベース基板2の上面部に取付け
られた第2の基板部となるプリント基板36とにより構
成されている。
The board parts 2 and 36 are composed of a base board 2 which is a first board part, and a printed board 36 which is a second board part attached to an upper surface part of the base board 2. .

【0023】上記ベース基板2は、鉄板により形成され
ている。また、上記プリント基板36は、種々の絶縁材
料よりなる基材部と、この基材部の主面部上に所定の形
状を有して形成された銅箔からなるプリント配線パター
ンと、この配線パターンを覆うレジスト膜とを有して構
成されている。
The base substrate 2 is formed of an iron plate. The printed circuit board 36 includes a base material portion made of various insulating materials, a printed wiring pattern made of a copper foil having a predetermined shape on the main surface portion of the base material portion, and the wiring pattern. And a resist film covering the same.

【0024】上記プリント基板36は、図2乃至図5に
示すように、上記ベース基板2の上面部の一部を上方側
に露出させた状態でこのベース基板2の上面部に該ベー
ス基板2に沿って取付けられている。このベース基板2
の上方側への露出部は、基準面44となる。
As shown in FIGS. 2 to 5, the printed circuit board 36 is formed on the upper surface of the base substrate 2 with a part of the upper surface of the base substrate 2 exposed to the upper side. Is installed along with. This base substrate 2
The exposed portion of the upper side of the is the reference surface 44.

【0025】また、上記プリント基板36は、上記ベー
ス基板2の上面部の縁部より外方側に食み出した鍔部分
50を有している。この鍔部分50は、図2及び図3に
示すように、上記ベース基板2に設けられた欠損部3
8,39上を上記プリント基板36が覆うことにより形
成されている。
The printed circuit board 36 has a flange portion 50 protruding outward from the edge of the upper surface of the base substrate 2. As shown in FIGS. 2 and 3, the brim portion 50 has a defect portion 3 provided on the base substrate 2.
The printed circuit board 36 is formed by covering the upper part of the printed circuit board 8, 39.

【0026】なお、上記基準面44と上記鍔部分50と
は、図5に示すように、隣接させて設けてもよい(な
お、図5中において括弧を付した数字は、寸法の例を示
したものであり、単位はmmである)。
The reference surface 44 and the collar portion 50 may be provided adjacent to each other, as shown in FIG. 5 (note that the numbers in parentheses in FIG. 5 are examples of dimensions). The unit is mm).

【0027】上記プリント基板36上には、光学部が配
設されている。この光学部は、上記プリント基板36上
に固定して配設された発光素子となる半導体レーザ素子
10と、受光素子となる第1及び第2の光検出器(フォ
トダイオード)14a,14bと、該半導体レーザ素子
10より発せられたレーザ光束を上記光ディスク101
の信号記録層102の表面部上に集光させる光学部品と
なる対物レンズ20とを有して構成されている。
An optical section is arranged on the printed circuit board 36. The optical section is a semiconductor laser element 10 serving as a light emitting element, which is fixedly provided on the printed circuit board 36, and first and second photodetectors (photodiodes) 14a and 14b serving as light receiving elements. A laser beam emitted from the semiconductor laser device 10 is transferred to the optical disc 101.
And the objective lens 20 which is an optical component for condensing light on the surface of the signal recording layer 102.

【0028】上記半導体レーザチップ10及び上記各光
検出器14a,14bは、図9に示すように、同一の半
導体基材部13上に配設されることにより、レーザカプ
ラ(L/C)3を構成している。すなわち、上記半導体
基材部13上には、ヒートシンク11を介して、上記半
導体レーザ素子10が配設されている。また、上記第1
及び第2の光検出器14a,14bは、それぞれ複数の
受光面に分割された状態で、上記半導体基材部13上に
形成されている。
As shown in FIG. 9, the semiconductor laser chip 10 and the photodetectors 14a and 14b are arranged on the same semiconductor base material portion 13, so that the laser coupler (L / C) 3 is formed. Are configured. That is, the semiconductor laser element 10 is disposed on the semiconductor base material portion 13 via the heat sink 11. In addition, the first
The second photodetectors 14a and 14b are formed on the semiconductor base member 13 in a state of being divided into a plurality of light receiving surfaces, respectively.

【0029】そして、このレーザカプラ3においては、
上記各光検出器14a,14b上に位置して、ビームス
プリッタプリズム12が配設されている。このビームス
プリッタプリズム12は、上記半導体基材部13の上面
部に対して所定の傾斜角を有する斜面部であるビームス
プリッタ面12Rを、上記半導体レーザ素子10側に向
けている。
Then, in this laser coupler 3,
A beam splitter prism 12 is provided on each of the photodetectors 14a and 14b. The beam splitter prism 12 has a beam splitter surface 12R, which is an inclined surface portion having a predetermined inclination angle with respect to an upper surface portion of the semiconductor base material portion 13, directed toward the semiconductor laser element 10 side.

【0030】上記レーザカプラ3は、上記プリント基板
36上に、上記半導体基材部13の上面部を該プリント
基板36の上面部に対して平行として、接着によって固
定される。
The laser coupler 3 is fixed on the printed circuit board 36 by gluing with the upper surface of the semiconductor substrate 13 parallel to the upper surface of the printed circuit board 36.

【0031】このレーザカプラ3において、上記半導体
レーザ素子10は、上記ビームスプリッタ面12Rに向
けてレーザ光束を発する。この半導体レーザ素子10よ
り発せられたレーザ光束は、上記ビームスプリッタ面1
2Rにより反射され、上記半導体基材部13に対する垂
直上方に射出される。
In this laser coupler 3, the semiconductor laser element 10 emits a laser beam toward the beam splitter surface 12R. The laser light flux emitted from the semiconductor laser device 10 is the beam splitter surface 1 described above.
The light is reflected by 2R and is emitted vertically above the semiconductor base portion 13.

【0032】上記レーザカプラ3より射出されたレーザ
光束は、このレーザカプラ3の上方側を覆うようして上
記プリント基板36上に配設された反射ミラー4により
反射されて、このプリント基板36の上面部に平行な方
向に偏向される。そして、このレーザ光束は、上記プリ
ント基板36上に上記対物レンズ20の下方に位置して
配設された反射プリズム5により反射され、該プリント
基板36の上面部に対する垂直上方側に偏向される。上
記対物レンズ20は、後述する対物レンズ駆動機構6に
より、上記プリント基板36の上方側にこのプリント基
板36より離間して支持されている。
The laser beam emitted from the laser coupler 3 is reflected by the reflection mirror 4 provided on the printed board 36 so as to cover the upper side of the laser coupler 3, and the laser beam of the printed board 36 is reflected. It is deflected in a direction parallel to the upper surface portion. Then, the laser light flux is reflected by the reflection prism 5 disposed below the objective lens 20 on the printed circuit board 36, and is deflected to the upper side perpendicular to the upper surface portion of the printed circuit board 36. The objective lens 20 is supported above the printed circuit board 36 by an objective lens driving mechanism 6 which will be described later and is spaced apart from the printed circuit board 36.

【0033】上記反射プリズム5を介して上記対物レン
ズ20に入射したレーザ光束は、この対物レンズ20に
より、上記光ディスク101の信号記録層102の表面
部上に集光される。
The laser light flux incident on the objective lens 20 via the reflection prism 5 is condensed by the objective lens 20 on the surface portion of the signal recording layer 102 of the optical disc 101.

【0034】そして、上記信号記録層102の表面部上
に集光されたレーザ光束は、この信号記録層102によ
り反射され、上記対物レンズ20に戻る。上記対物レン
ズ20に戻った反射光束は、上記反射プリズム5及び上
記反射ミラー4を介して、上記ビームスプリッタ面12
Rに戻る。
The laser light flux focused on the surface of the signal recording layer 102 is reflected by the signal recording layer 102 and returns to the objective lens 20. The reflected light flux returning to the objective lens 20 is passed through the reflection prism 5 and the reflection mirror 4 and the beam splitter surface 12
Return to R.

【0035】上記ビームスプリッタ面12Rに戻った反
射光束は、このビームスプリッタ面12Rを透過して上
記ビームスプリッタプリズム12内に入射することによ
り、上記半導体レーザ素子10に戻る光路より分割さ
れ、上記第1の光検出器14aにより受光される。ま
た、この反射光束は、上記第1の光検出器14aの表面
部及び上記ビームスプリッタプリズム12の内面部によ
り反射されて、上記第2の光検出器14bにも受光され
る。
The reflected light flux returning to the beam splitter surface 12R is split from the optical path returning to the semiconductor laser element 10 by passing through the beam splitter surface 12R and entering the beam splitter prism 12. The light is received by the first photodetector 14a. Further, this reflected light flux is reflected by the surface portion of the first photodetector 14a and the inner surface portion of the beam splitter prism 12, and is also received by the second photodetector 14b.

【0036】上記各光検出器14a,14bより出力さ
れる光検出出力に基づいて、上記光ディスク101に記
録された情報信号の読み取り信号(RF信号)、上記対
物レンズ20による上記光束の集光点と上記信号記録層
102の表面部との光軸方向のずれ(フォーカスエラ
ー)を示すフォーカスエラー信号(FE信号)、及び、
該集光点と該信号記録層102の表面部に形成された記
録トラックとの光軸及び該記録トラックに直交する方向
のずれ(トラッキングエラー)を示すトラッキングエラ
ー信号(TE信号)が算出される。
A read signal (RF signal) of an information signal recorded on the optical disc 101 based on the photodetection outputs output from the photodetectors 14a and 14b, and the focal point of the light flux by the objective lens 20. And a focus error signal (FE signal) indicating a deviation (focus error) between the surface of the signal recording layer 102 and the surface portion, and
A tracking error signal (TE signal) indicating the optical axis between the converging point and the recording track formed on the surface of the signal recording layer 102 and the deviation (tracking error) in the direction orthogonal to the recording track is calculated. .

【0037】すなわち、上記読み取り信号(RF信号)
は、上記各光検出器14a,14bの各光検出出力の和
として得られる。また、上記フォーカスエラー信号(F
E信号)は、上記各光検出器14a,14bの各光検出
出力の差として得られる。
That is, the read signal (RF signal)
Is obtained as the sum of the photodetection outputs of the photodetectors 14a and 14b. In addition, the focus error signal (F
E signal) is obtained as a difference between the photodetection outputs of the photodetectors 14a and 14b.

【0038】さらに、上記トラッキングエラー信号(T
E信号)は、上記第1の光検出器14aの一側側の受光
面からの光検出出力(A)及び上記第2の光検出器14
aの他側側の受光面からの光検出出力(D)の和と、該
第1の光検出器14aの他側側の受光面からの光検出出
力(B)及び該第2の光検出器14aの一側側の受光面
からの光検出出力(C)の和との差((A+D)−(B
+C))として得られる。
Further, the tracking error signal (T
E signal) is the photodetection output (A) from the light receiving surface on one side of the first photodetector 14a and the second photodetector 14
a, the sum of the photodetection outputs (D) from the light-receiving surface on the other side, and the photodetection output (B) from the light-receiving surface on the other side of the first photodetector 14a and the second photodetection. Difference ((A + D)-(B) with the sum of the photodetection output (C) from the light receiving surface on one side of the container 14a.
+ C)).

【0039】なお、上記各光検出器14a,14bにお
いて、一側側の受光面と他側側の受光面との分割線は、
図10に示すように、上記光ディスク101における記
録トラックの接線方向Tに対して、45°の角度をなす
ようになされている。上記記録トラックは、上記信号記
録層102の表面部上において、上記光ディスク101
の中心部を中心とする略々同心円状をなす螺旋状に形成
されている。
In each of the photodetectors 14a and 14b, the dividing line between the light receiving surface on one side and the light receiving surface on the other side is
As shown in FIG. 10, an angle of 45 ° is formed with respect to the tangential direction T of the recording track on the optical disc 101. The recording track is formed on the surface of the signal recording layer 102 on the optical disc 101.
Is formed in a spiral shape having a substantially concentric circle shape centered on the central part of the.

【0040】そして、上記プリント基板36上には、上
記対物レンズ駆動機構6が配設されている。この対物レ
ンズ駆動機構6は、図21に示すように、上記対物レン
ズ20を移動操作可能に支持するレンズボビン21とこ
のレンズボビン21を移動操作する磁気回路部とを有し
て構成されている。
The objective lens driving mechanism 6 is arranged on the printed circuit board 36. As shown in FIG. 21, the objective lens driving mechanism 6 is configured to have a lens bobbin 21 that movably supports the objective lens 20 and a magnetic circuit unit that moves and operates the lens bobbin 21. .

【0041】この対物レンズ駆動機構6は、上記対物レ
ンズ20を支持するとともに、この対物レンズ20を、
この対物レンズ20の光軸方向及びこの光軸方向に直交
する方向に移動操作する機構である。
The objective lens drive mechanism 6 supports the objective lens 20 and also supports the objective lens 20.
This is a mechanism for moving the objective lens 20 in the optical axis direction and in a direction orthogonal to the optical axis direction.

【0042】この対物レンズ駆動機構6は、上記フォー
カスエラー信号及びトラッキングエラー信号に応じて上
記対物レンズ20を移動操作することによって、この対
物レンズ20を該光ディスク101の回転に伴う偏心や
いわゆる面振れに追従させて移動させ、この対物レンズ
101により形成される上記光束の集光点が、常に、上
記記録トラック上に形成されるようにする。
The objective lens driving mechanism 6 operates the objective lens 20 according to the focus error signal and the tracking error signal to move the objective lens 20 so that the objective lens 20 is eccentric with the rotation of the optical disc 101 or so-called surface wobbling. And is moved so that the focal point of the light flux formed by the objective lens 101 is always formed on the recording track.

【0043】この対物レンズ駆動機構6は、上記プリン
ト基板36上において移動調整後にこのプリント基板3
6に対して固定される調整プレート54を有して構成さ
れている。この調整プレート54上には、支持ブロック
6eが固定して配設されている。この支持ブロック6e
は、4本の板バネ22,23,24,25を介して、上
記レンズボビン21を支持している。このレンズボビン
21には、上記対物レンズ20が取付けられている。こ
のレンズボビン21は、上記各板バネ22,23,2
4,25の弾性変位により、上下及び左右方向の2軸方
向に移動可能となされている。
The objective lens drive mechanism 6 is moved and adjusted on the printed circuit board 36, and then the printed circuit board 3 is adjusted.
The adjustment plate 54 is fixed to the unit 6 and is configured. A support block 6e is fixedly disposed on the adjustment plate 54. This support block 6e
Supports the lens bobbin 21 via four leaf springs 22, 23, 24, 25. The objective lens 20 is attached to the lens bobbin 21. The lens bobbin 21 includes the leaf springs 22, 23, 2
Due to the elastic displacement of 4, 25, it is movable in two axial directions, that is, vertical and horizontal directions.

【0044】また、上記レンズボビン21には、上記磁
気回路部を構成するコイルボビン26が取付けられてい
る。このコイルボビン26には、フォーカスコイル26
aが外周面部に巻回されるとともに、略々円環状に巻回
された一対のトラッキングコイル26bが取付けられて
いる。
A coil bobbin 26 constituting the magnetic circuit section is attached to the lens bobbin 21. This coil bobbin 26 has a focus coil 26
A is wound around the outer peripheral surface portion, and a pair of tracking coils 26b wound in a substantially annular shape are attached.

【0045】そして、上記プリント基板36上には、上
記調整プレート54に連動して移動調整される可動ヨー
ク60が配設されている。この可動ヨーク60は、図2
1乃至図23に示すように、被結合部となる一対の係合
突起(ダボ)63,64を有しており、これら係合突起
63,64を上記調整プレート54の前端側のアーム部
56,58に設けられた穴59及び長穴57に嵌入係合
させることにより、該調整プレート54の移動調整に連
動して移動調整される。この可動ヨーク60は、上記プ
リント基板60の上面部に沿う2次元方向に移動調整さ
れる。
On the printed circuit board 36, there is arranged a movable yoke 60 which is moved and adjusted in conjunction with the adjusting plate 54. This movable yoke 60 is shown in FIG.
As shown in FIGS. 1 to 23, a pair of engaging protrusions (doughs) 63, 64 which are to be coupled are provided, and these engaging protrusions 63, 64 are provided on the arm portion 56 on the front end side of the adjusting plate 54. , 58 are fitted in and engaged with the holes 59 and the elongated holes 57, the movement of the adjustment plate 54 is adjusted. The movable yoke 60 is moved and adjusted in a two-dimensional direction along the upper surface portion of the printed circuit board 60.

【0046】この可動ヨーク60は、上方側に突設され
た一対のヨーク27a,27bを有している。これらヨ
ーク27a,27bの一方には、マグネット28が取付
けられている。これらマグネット28及び各ヨーク27
a,27bは、上記可動ヨーク60を介して、磁気回路
を形成している。この磁気回路においては、上記マグネ
ット28と他方のヨーク27aとの間が、磁気ギャップ
部となっている。
The movable yoke 60 has a pair of yokes 27a and 27b protruding upward. A magnet 28 is attached to one of the yokes 27a and 27b. These magnets 28 and each yoke 27
The a and 27b form a magnetic circuit via the movable yoke 60. In this magnetic circuit, a magnetic gap portion is formed between the magnet 28 and the other yoke 27a.

【0047】上記コイルボビン26は、上記レンズボビ
ン21に取付けられることにより、上記フォーカスコイ
ル26aの一部及び上記各トラッキングコイル26bの
一部を上記磁気回路の磁気ギャップ内に位置させてい
る。
The coil bobbin 26 is attached to the lens bobbin 21 to position a part of the focus coil 26a and a part of each tracking coil 26b within the magnetic gap of the magnetic circuit.

【0048】すなわち、上記フォーカスコイル26aに
上記フォーカスエラー信号に応じた駆動電流が供給され
ることにより、このフォーカスコイル26aは、上記磁
気ギャップ部内の磁束により電磁力を受け、上記レンズ
ボビン21を上記対物レンズ20の光軸方向(上下方
向)に移動させる。また、上記トラッキングコイル26
bに上記トラッキングエラー信号に応じた駆動電流が供
給されることにより、このトラッキングコイル26b
は、上記磁気ギャップ部内の磁束により電磁力を受け、
上記レンズボビン21を上記対物レンズ20の光軸に直
交する方向(左右方向)に移動させる。
That is, when the focus coil 26a is supplied with a drive current corresponding to the focus error signal, the focus coil 26a receives an electromagnetic force due to the magnetic flux in the magnetic gap portion, and the lens bobbin 21 is moved to the focus coil 26a. The objective lens 20 is moved in the optical axis direction (vertical direction). In addition, the tracking coil 26
By supplying a drive current corresponding to the tracking error signal to b, the tracking coil 26b
Receives an electromagnetic force due to the magnetic flux in the magnetic gap,
The lens bobbin 21 is moved in a direction (left-right direction) orthogonal to the optical axis of the objective lens 20.

【0049】そして、この光学ピックアップ装置におい
ては、上記基板部2,36に対して、上記シェルカバー
30が取付けられている。
In this optical pickup device, the shell cover 30 is attached to the substrate portions 2 and 36.

【0050】このシェルカバー30は、図6乃至図8に
示すように、上記基板部2,36上に取付けられること
により上記光学部を覆うことができる形状を有して、P
PS樹脂や亜鉛ダイカストの如き寸法精度及び剛性の高
い材料により、例えば射出成形の如き手段により形成さ
れている。
As shown in FIGS. 6 to 8, the shell cover 30 has a shape capable of covering the optical portion by being mounted on the substrate portions 2 and 36.
It is made of a material having high dimensional accuracy and rigidity, such as PS resin or zinc die casting, by means such as injection molding.

【0051】このシェルカバー30は、上記基板部2,
36に対向する下面部分に、下方側に向けて突設された
第1の当接部である複数の当接杆43,43を有してい
る。また、このシェルカバー30は、側方側部分に、第
2の当接部である一対の当接爪42,42を有してい
る。これら当接爪42,42は、上記シェルカバー30
の下面部より下方側に向けて突設された支持杆41,4
1の下端側に、側方に向けて突設されている。
The shell cover 30 includes the substrate portion 2,
A plurality of contact rods 43, 43, which are first contact portions protruding downward, are provided on the lower surface portion facing 36. Further, the shell cover 30 has a pair of contact claws 42, 42, which are second contact parts, on the side portion. These abutting claws 42, 42 correspond to the shell cover 30.
Support rods 41, 4 projecting downward from the lower surface of the
It is provided at the lower end side of 1 so as to project laterally.

【0052】上記各当接杆43,43の下端部と上記各
当接爪42,42の上面部とは、図8に示すように、互
いに同一平面P上に位置する関係となっている。
As shown in FIG. 8, the lower end portions of the contact rods 43, 43 and the upper surface portions of the contact claws 42, 42 are located on the same plane P with each other.

【0053】そして、このシェルカバー30が上記基板
部2,36に取付けられるとき、上記当接杆43,43
の下端部は、図2及び図3に示すように、上記ベース基
板2の上面部の上方側への露出部分である上記基準面4
4に当接される。また、このシェルカバー30が上記基
板部2,36に取付けられるとき、上記各当接爪42,
42の上面部は、図2及び図3に示すように、上記プリ
ント基板36の鍔部分50の下面部に当接される。
When the shell cover 30 is attached to the base plates 2 and 36, the contact rods 43 and 43 are attached.
As shown in FIGS. 2 and 3, the lower end portion of the reference surface 4 is an exposed portion of the upper surface of the base substrate 2 to the upper side.
4 abuts. Further, when the shell cover 30 is attached to the board portions 2 and 36, the contact claws 42,
As shown in FIGS. 2 and 3, the upper surface of 42 is in contact with the lower surface of the collar portion 50 of the printed circuit board 36.

【0054】上記プリント基板36の下面部は上記ベー
ス基板2の上面部に沿っているため、これらプリント基
板36の下面部及びベース基板2の上面部は、同一平面
上に位置している。そして、上記各当接杆43,43の
下端部及び上記各当接爪42,42の上面部は互いに同
一平面上に位置しているので、該各当接杆43,43の
下端部が上記基準面44に当接され該各当接爪42,4
2の上面部が上記鍔部分50の下面部に当接されること
により、上記シェルカバー30は、上記基板部2,36
に対して、上下方向(すなわち、この基板部2,36に
対する接離方向)について、正確に位置決めされる。
Since the lower surface of the printed circuit board 36 is along the upper surface of the base substrate 2, the lower surface of the printed circuit board 36 and the upper surface of the base substrate 2 are located on the same plane. Since the lower end portions of the contact rods 43, 43 and the upper surface portions of the contact claws 42, 42 are located on the same plane, the lower end portions of the contact rods 43, 43 are The abutting claws 42, 4 abutted on the reference surface 44
When the upper surface of the shell cover 30 is brought into contact with the lower surface of the collar portion 50, the shell cover 30 moves to the base plate portions 2, 36.
On the other hand, the positioning is accurately performed in the up-down direction (that is, in the contacting / separating direction with respect to the substrate portions 2 and 36).

【0055】そして、上記シェルカバー30は、図2に
示すように、上記基板部2,36に形成されたネジ挿通
孔40に下方側より挿通されたネジ37を、下方側に向
けて形成されたネジ穴に螺入されることにより、該基板
部2,36に対して取付けられる。
As shown in FIG. 2, the shell cover 30 is formed so that the screws 37 inserted from the lower side into the screw insertion holes 40 formed in the substrate portions 2 and 36 are directed downward. It is attached to the board portions 2 and 36 by being screwed into the screw holes.

【0056】そして、上記シェルカバー30は、上面部
に、上記対物レンズ20を上方側に臨ませるための透孔
31を有している。
The shell cover 30 has a through hole 31 on the upper surface for exposing the objective lens 20 to the upper side.

【0057】上記シェルカバー30は、成形型を用いた
成形により形成する場合において、上記平面Pをパーテ
ィングライン(型割部)上に位置する平面であることと
して形成することにより、上記各当接杆43,43の下
端部及び上記各当接爪42,42の上面部を正確に同一
平面上に位置させて形成することができる。
When the shell cover 30 is formed by molding using a molding die, by forming the plane P as a plane located on the parting line (die-cutting portion), the shell cover 30 can be formed by the above-mentioned steps. It is possible to form the lower ends of the contact rods 43, 43 and the upper surfaces of the contact claws 42, 42 on exactly the same plane.

【0058】なお、平板状の部材である基板部にカバー
部材を取付けるための構成として、図27に示すよう
に、該カバー部材130の側縁部分に当接杆143及び
引っ掛け爪141を一体的に設け、該基板部112の上
面部の側縁部近傍に該当接杆143の下端部を当接させ
るとともに、該引っ掛け爪141を該基板部112の側
縁部に引っ掛けるものが考えられる。上記引っ掛け爪1
41の下端側には、上記当接杆143に向けて爪部14
2を突設しておく。
As a structure for attaching the cover member to the base plate portion which is a flat member, as shown in FIG. 27, the contact rod 143 and the hooking claw 141 are integrally formed on the side edge portion of the cover member 130. It is conceivable that the lower end portion of the corresponding rod 143 is brought into contact with the side edge portion of the upper surface portion of the substrate portion 112 while the hook claw 141 is hooked on the side edge portion of the substrate portion 112. Above hook 1
On the lower end side of 41, the claw portion 14 faces toward the contact rod 143.
2 is projected.

【0059】このような構成により上記カバー部材13
0を上記基板部112に取付ける場合には、上記引っ掛
け爪141は、該カバー部材130が該基板部112に
取付けられるときに、該基板部112の外周縁よりも外
側に弾性変形される。したがって、この場合には、上記
カバー部材130は、上記引っ掛け爪141の弾性変形
が可能となる程度の弾性を有する材料により形成されて
いる必要がある。
With this structure, the cover member 13
When 0 is attached to the substrate portion 112, the hooking claw 141 is elastically deformed outside the outer peripheral edge of the substrate portion 112 when the cover member 130 is attached to the substrate portion 112. Therefore, in this case, the cover member 130 needs to be formed of a material having elasticity such that the hooking claw 141 can be elastically deformed.

【0060】このような弾性を有する材料、例えば、A
BS樹脂の如き合成樹脂材料は、寸法精度が低く、ま
た、熱変形を起こす温度が低いため、上記被支持部が設
けられるカバー部材を形成する材料として不適切であ
る。
A material having such elasticity, for example, A
Synthetic resin materials such as BS resin are not suitable as materials for forming the cover member on which the supported portion is provided, because the dimensional accuracy is low and the temperature that causes thermal deformation is low.

【0061】上記カバー部材は、寸法精度が高いが弾性
を有しないPPS樹脂や亜鉛ダイカストにより形成され
ているので、上述の如き引っ掛け爪を設ける構成により
上記基板部に取付けることはできない。
Since the cover member is formed of PPS resin or zinc die-casting, which has high dimensional accuracy but does not have elasticity, it cannot be attached to the substrate portion due to the above-described structure of providing the hooking claw.

【0062】また、上記基板部112にカバー部材13
0を取付けるための構成としては、図28に示すよう
に、該カバー部材130の側縁部分に上下一対の支持片
144,145を設け、該基板部112の側縁部近傍を
該各支持片144,145間に挟むようにしたものが考
えられる。
Further, the cover member 13 is attached to the substrate portion 112.
28, a pair of upper and lower support pieces 144 and 145 are provided at the side edge portions of the cover member 130 and the vicinity of the side edge portions of the base plate portion 112 is provided as shown in FIG. It is conceivable that it is sandwiched between 144 and 145.

【0063】このような構成においては、上記基板部1
12の厚さの精度と上記各支持片144,145の位置
及び厚さの精度とに依り、これら基板部112と各支持
片144,145との間は、圧入になるか、または、遊
嵌(ガタ)になるかのいずれかであり、上記シェルカバ
ー30を上記基板部2,36に取付ける構成として不適
当である。
In such a structure, the substrate portion 1
Depending on the accuracy of the thickness of 12 and the accuracy of the position and thickness of each of the support pieces 144 and 145, the space between the substrate portion 112 and each of the support pieces 144 and 145 is press-fitted or loosely fitted. This is either (backlash) and is unsuitable as a configuration for attaching the shell cover 30 to the board portions 2 and 36.

【0064】そして、上記シェルカバー30は、一側側
部分に被支持部である係合溝32を有している。この係
合溝32は、上記シェルカバー30の一側部より側方側
に向けて一対の結合片33,34が突設されることによ
り、これら結合片33,34の間の部分として形成され
ている。また、このシェルカバー30の他側側部分に
は、被支持部であるスラストスリーブ部35が形成され
ている。このスラストスリーブ部35は、直線円柱状の
透孔として形成されている。
The shell cover 30 has an engaging groove 32 which is a supported portion at one side portion. The engagement groove 32 is formed as a portion between the coupling pieces 33, 34 by a pair of coupling pieces 33, 34 protruding from one side portion of the shell cover 30 toward the lateral side. ing. A thrust sleeve portion 35, which is a supported portion, is formed on the other side portion of the shell cover 30. The thrust sleeve portion 35 is formed as a linear cylindrical through hole.

【0065】上記光ディスク再生装置においては、図1
に示すように、上記スラストスリーブ部35に該光ディ
スク再生装置の支持シャフト104が挿通され、上記係
合溝32に該光ディスク再生装置の支持片部103が嵌
入係合することにより、この光学ピックアップ装置は、
所定の位置に支持される。
In the above-mentioned optical disk reproducing apparatus, FIG.
As shown in FIG. 3, the support shaft 104 of the optical disk reproducing device is inserted into the thrust sleeve portion 35, and the supporting piece 103 of the optical disk reproducing device is fitted into the engaging groove 32 to engage with the optical pickup device. Is
It is supported in place.

【0066】そして、上記プリント基板36は、図4、
図18及び図19に示すように、上記ベース基板2の側
縁部よりも外方側に突出したショートランド部46を有
している。このショートランド部46上には、上記半導
体レーザ素子10の電源供給端子(+端子)が接続され
たプリント配線パターンに連続する一方のショートラン
ド47と、この一方のショートランド47に近接して、
該半導体レーザ素子10の接地端子(グランド(GN
D)端子)が接続されたプリント配線パターンに連続す
る他方のショートランド48とが形成されている。
The printed circuit board 36 is shown in FIG.
As shown in FIGS. 18 and 19, it has a short land portion 46 protruding outward from the side edge portion of the base substrate 2. On the short land portion 46, one short land 47 continuous with the printed wiring pattern to which the power supply terminal (+ terminal) of the semiconductor laser element 10 is connected, and in proximity to the one short land 47,
The ground terminal of the semiconductor laser device 10 (ground (GN
D) The other short land 48 continuous to the printed wiring pattern to which the terminal) is connected is formed.

【0067】これら各ショートランド47,48は、こ
の光学ピックアップ装置の単体での輸送、搬送中におい
て、半田付け等により、互いに短絡(ショート)され
る。すなわち、この状態では、上記半導体レーザ素子1
0の電源供給端子と接地端子とが短絡された状態となっ
ており、この半導体レーザ素子10の静電破壊が防止さ
れる。
The respective short lands 47 and 48 are short-circuited (short-circuited) with each other by soldering or the like during transportation and transportation of the optical pickup device alone. That is, in this state, the semiconductor laser device 1 is
The power supply terminal of 0 and the ground terminal are in a short-circuited state, and electrostatic breakdown of the semiconductor laser element 10 is prevented.

【0068】そして、この光学ピックアップ装置を使用
するとき、すなわち、この光学ピックアップ装置を上記
光ディスク再生装置に組み込むときには、図20に示す
ように、上記ショートランド部46を上記ベース基板2
の側縁部に沿って折り取ることにより、上記半導体レー
ザ素子10の電源供給端子と接地端子との短絡を解除す
ることができる。
When the optical pickup device is used, that is, when the optical pickup device is incorporated in the optical disc reproducing device, as shown in FIG.
The short circuit between the power supply terminal and the ground terminal of the semiconductor laser element 10 can be released by folding the semiconductor laser element 10 along the side edge thereof.

【0069】上記プリント基板36は、上記ショートラ
ンド部46の折り取りのし易さを考えると、ガラス−エ
ポキシプリント基板が適しており、厚さは0.2mm程
度が適当である。
The printed circuit board 36 is preferably a glass-epoxy printed circuit board, and has a thickness of about 0.2 mm, considering the ease of breaking the short land portion 46.

【0070】なお、上記プリント基板36上には、図1
0及び図17に示すように、上記各信号(RF信号、F
E信号、TE信号)の取り出し、上記半導体レーザ素子
10への電源供給、及び、上記対物レンズ駆動機構への
駆動電流の供給のためのコネクタ53が設けられてい
る。
On the printed circuit board 36, as shown in FIG.
0 and FIG. 17, each of the above signals (RF signal, F signal
A connector 53 is provided for taking out (E signal, TE signal), supplying power to the semiconductor laser element 10, and supplying a drive current to the objective lens drive mechanism.

【0071】そして、この光学ピックアップ装置におい
ては、上記基板部2,36は、図10及び図11に示す
ように、上記半導体レーザ素子10が配設された位置
(すなわち、上記レーザカプラ3が取付けられた位置)
と上記対物レンズ駆動機構6が配設された位置との間に
位置する屈曲変位部(ベース基板曲げ位置)52におい
て、主面部方向(上下方向)への屈曲変位が可能となさ
れている。
Then, in this optical pickup device, as shown in FIGS. 10 and 11, the substrate portions 2 and 36 are located at the positions where the semiconductor laser device 10 is disposed (that is, the laser coupler 3 is attached thereto). Position)
In the bending displacement portion (base substrate bending position) 52 located between and the position where the objective lens driving mechanism 6 is disposed, the bending displacement in the main surface portion direction (vertical direction) is possible.

【0072】この光学ピックアップ装置においては、こ
のような上記基板部2,36の屈曲変位によって、上記
レーザカプラ3の上記対物レンズ駆動機構6に対する傾
きの調整が可能となされている。
In this optical pickup device, the tilt displacement of the laser coupler 3 with respect to the objective lens drive mechanism 6 can be adjusted by such bending displacement of the substrate portions 2 and 36.

【0073】すなわち、図10に示すように、上記屈曲
変位部52と上記レーザカプラ3が取付けられた側の側
縁部までの距離Lが10mm乃至11mmであるとする
と、図12に示すように、この側縁部を上方側、また
は、下方側に0.1mm移動するだけ該屈曲変位部52
を屈曲させると、 sin-1(0.1/11)=0.52° より、該レーザカプラ3を±0.52°に亘って傾き調
整することができることがわかる。このとき、上記基板
部2,36を屈曲させる方向は、EFバランス(上記フ
ォーカスエラー信号の中立点と上記読み取り信号におけ
るジッタの最良状態とのずれの方向)の極性(+側、−
側)に応じて定めておくことができる。
That is, assuming that the distance L between the bending displacement portion 52 and the side edge portion on the side where the laser coupler 3 is attached is 10 mm to 11 mm as shown in FIG. 10, as shown in FIG. , The bending displacement portion 52 by moving the side edge portion upward or downward by 0.1 mm.
It is found that when the laser is bent, the tilt of the laser coupler 3 can be adjusted over ± 0.52 ° from sin −1 (0.1 / 11) = 0.52 °. At this time, the direction in which the board portions 2 and 36 are bent depends on the polarity (+ side, − side) of the EF balance (the direction in which the neutral point of the focus error signal deviates from the best state of jitter in the read signal).
Side).

【0074】そして、上記基板部2,36は、上記光デ
ィスク再生装置においては、上記屈曲変位部52よりも
上記対物レンズ駆動装置6が配設された側の部分を基準
として、位置決め保持される。すなわち、この基板部
2,36は、上記屈曲変位部52よりも上記対物レンズ
駆動装置6が配設された側の部分において、上記シェル
カバー30に対して位置決めされる。したがって、上記
基板部2,36を屈曲させることによる調整は、上記光
ディスク再生装置の基準面に対して上記レーザカプラ3
が傾けられる状態で行われる。
In the optical disc reproducing apparatus, the substrate portions 2 and 36 are positioned and held with reference to the portion on the side where the objective lens driving device 6 is arranged with respect to the bending displacement portion 52. That is, the board portions 2 and 36 are positioned with respect to the shell cover 30 in a portion on the side where the objective lens driving device 6 is arranged with respect to the bending displacement portion 52. Therefore, the adjustment by bending the substrate portions 2 and 36 is performed by the laser coupler 3 with respect to the reference plane of the optical disk reproducing device.
Is tilted.

【0075】なお、上記ベース基板2は、鉄板により形
成されることが好ましい。アルミニウム(AL)では屈
曲させることにより折れる虞れがあり、亜鉛(Zn)で
は屈曲させることによりクリープを生ずる虞れがあり、
また、ステンレス(Sus)では屈曲させてもスプリン
グバックにより戻ってしまい高精度の調整ができないた
めである。
The base substrate 2 is preferably formed of an iron plate. Aluminum (AL) may be broken by bending, and zinc (Zn) may be bent to cause creep.
Also, even if bent with stainless steel (Sus), it will return due to spring back and high-precision adjustment cannot be performed.

【0076】なお、この光学ピックアップ装置における
部品精度及びマウント精度の例を、図13乃至図16に
より、以下に挙げる。
An example of component accuracy and mounting accuracy in this optical pickup device will be given below with reference to FIGS. 13 to 16.

【0077】この光学ピックアップ装置においては、上
記対物レンズ20より射出される主光線の位置は、上記
シェルカバー30の位置を基準として、±0.3mm以
内を目標としている。また、この光学ピックアップ装置
においては、上記主光線の倒れは、上記シェルカバー3
0の位置を基準として、±0.5°以内を目標としてい
る。
In this optical pickup device, the position of the principal ray emitted from the objective lens 20 is targeted within ± 0.3 mm with reference to the position of the shell cover 30. Further, in this optical pickup device, the fall of the chief ray is caused by the shell cover 3
The target is within ± 0.5 ° with reference to the position of 0.

【0078】そして、上記基板部2,36と上記シェル
カバー30との位置ずれは、X軸方向(該基板部2,3
6の上面部及び上記記録トラックに沿う方向)及びY方
向(該基板部2,36の上面部に沿い上記記録トラック
に直交する方向)について、それぞれ±0.05mm以
内である。また、このシェルカバー30の上記基板部
2,36に対する高さ方向のずれは、±0.05mm以
内である。したがって、上記基板部2,36と上記シェ
ルカバー30との傾きの誤差は、図13に示すように、
X方向について、 sin-1(0.05/22)=0.13° Y方向について、 sin-1(0.05/15)=0.19° となる。ただし、X方向についての上記基準面44同士
の間隔が22mmで、Y方向についての上記基準面44
同士の間隔が15mmである場合においてである。
The positional deviation between the board portions 2 and 36 and the shell cover 30 is caused by the X-axis direction (the board portions 2 and 3).
6 within ± 0.05 mm with respect to the upper surface of 6 and the direction along the recording track) and the Y direction (direction along the upper surface of the substrate portions 2 and 36 and perpendicular to the recording track). Further, the displacement of the shell cover 30 in the height direction with respect to the substrate portions 2 and 36 is within ± 0.05 mm. Therefore, as shown in FIG. 13, the inclination error between the board portions 2 and 36 and the shell cover 30 is as follows.
In the X direction, sin −1 (0.05 / 22) = 0.13 ° In the Y direction, sin −1 (0.05 / 15) = 0.19 °. However, the distance between the reference surfaces 44 in the X direction is 22 mm, and the reference surface 44 in the Y direction is
This is when the distance between them is 15 mm.

【0079】そして、上記基板部2,36上における上
記対物レンズ駆動機構6の位置の基準となる基準穴の位
置ずれの精度は、X方向、Y方向ともに、±0.05m
m以内である。また、上記基板部2,36の上面部の平
面度は、図14に示すように、±0.02mm以内であ
る。上記対物レンズ20の光軸と上記半導体レーザ素子
10(上記レーザカプラ3)との距離Lを10mmとす
ると、この半導体レーザ素子10が取付けられる部分の
傾きは、X方向について、 sin-1(0.02/10)=0.10° Y方向について、 sin-1(0.02/10)=0.10° となる。
The accuracy of the positional deviation of the reference hole, which serves as a reference for the position of the objective lens driving mechanism 6 on the substrate portions 2 and 36, is ± 0.05 m in both the X and Y directions.
It is within m. Further, the flatness of the upper surface portions of the substrate portions 2 and 36 is within ± 0.02 mm as shown in FIG. Assuming that the distance L between the optical axis of the objective lens 20 and the semiconductor laser device 10 (laser coupler 3) is 10 mm, the inclination of the portion to which the semiconductor laser device 10 is attached is sin −1 (0 .02 / 10) = 0.10 ° In the Y direction, sin −1 (0.02 / 10) = 0.10 °.

【0080】次に、上記反射ミラー4及び上記反射プリ
ズム5の位置精度を考えると、上記基板部2,36に対
する位置ずれが、X方向、Y方向ともに、±0.05m
m以内であり、これらの間のスパンの誤差は、±0.1
mm以内である。上記反射ミラー4の基板部2,36へ
の取付け精度は、図15に示すように、±0.2°以内
であり、この反射ミラー4及び上記反射プリズム5間の
平行度は、±0.1°以内である。
Next, considering the positional accuracy of the reflection mirror 4 and the reflection prism 5, the positional deviation with respect to the substrate portions 2 and 36 is ± 0.05 m in both the X and Y directions.
Within m, the error of span between them is ± 0.1
Within mm. As shown in FIG. 15, the accuracy of mounting the reflection mirror 4 on the substrate portions 2 and 36 is within ± 0.2 °, and the parallelism between the reflection mirror 4 and the reflection prism 5 is ± 0. It is within 1 °.

【0081】そして、上記レーザカプラ3の上記基板部
2,36に対する位置ずれは、X方向、Y方向ともに、
±0.05mm以内である。また、上記レーザカプラ3
の上記基板部2,36に対する浮きは、図16に示すよ
うに、±0.01mm以内である。したがって、ディス
クレーザカプラ3の上記基板部2,36に対する傾き
は、X方向について、 sin-1(0.01/1.8)=0.32° Y方向について、 sin-1(0.01/3.4)=0.17° となる。ただし、X方向についての上記レーザカプラ3
の長さが1.8mmで、Y方向についての該レーザカプ
ラ3の長さが3.4mmである場合においてである。
The positional deviation of the laser coupler 3 with respect to the substrate portions 2 and 36 is caused in both the X and Y directions.
Within ± 0.05 mm. In addition, the laser coupler 3
The float of the substrate parts 2 and 36 is within ± 0.01 mm as shown in FIG. Therefore, the inclination of the disc laser coupler 3 with respect to the substrate portions 2 and 36 is sin −1 (0.01 / 1.8) = 0.32 ° in the X direction and sin −1 (0.01 / 0.01 in the Y direction. 3.4) = 0.17 °. However, the laser coupler 3 in the X direction
Is 1.8 mm, and the length of the laser coupler 3 in the Y direction is 3.4 mm.

【0082】ここで、上記主光線のX方向についての倒
れを計算すると、 √((0.32)2+(0.2)2+(0.1)2
(0.1)2+(0.13)2)=0.42° また、上記主光線のY方向についての倒れを計算する
と、 √((0.17)2+(0.2)2+(0.1)2
(0.1)2+(0.19)2)=0.35° そして、上記主光線のX方向についての位置ずれを計算
すると、 √((0.05)2+(0.05)2+(0.1)2
(0.05)2+(0.05)2+(23×sin0.42
°)2)=0.21mm 次に、上記主光線のY方向についての位置ずれを計算す
ると、 √((0.05)2+(0.05)2+(0.05)2
(0.05)2+(23×sin0.35°)2)=0.1
7mm となる。この結果により、上記主光線のX方向について
の倒れ(0.42°)が、上記目標値の±0.5°に接
近しており、この項目についての不良率の増大が予想さ
れる。
Here, when the tilt of the chief ray in the X direction is calculated, √ ((0.32) 2 + (0.2) 2 + (0.1) 2 +
(0.1) 2 + (0.13) 2 ) = 0.42 ° When the tilt of the principal ray in the Y direction is calculated, √ ((0.17) 2 + (0.2) 2 + (0.1) 2 +
(0.1) 2 + (0.19) 2 ) = 0.35 ° When the displacement of the principal ray in the X direction is calculated, √ ((0.05) 2 + (0.05) 2 + (0.1) 2 +
(0.05) 2 + (0.05) 2 + (23 x sin 0.42
°) 2 ) = 0.21 mm Next, when the displacement of the principal ray in the Y direction is calculated, √ ((0.05) 2 + (0.05) 2 + (0.05) 2 +
(0.05) 2 + (23 x sin 0.35 °) 2 ) = 0.1
It will be 7 mm. As a result, the tilt of the chief ray in the X direction (0.42 °) approaches the target value of ± 0.5 °, and an increase in the defect rate for this item is expected.

【0083】この光学ピックアップ装置においては、上
記基板部2,36の屈曲変位による調整によって、上記
主光線のX方向についての倒れを修正することができ、
不良率の減少を実現できる。
In this optical pickup device, the tilt of the chief ray in the X direction can be corrected by adjusting the bending displacement of the substrate portions 2 and 36.
A reduction in defective rate can be realized.

【0084】次に、この光学ピックアップ装置の組立及
び調整の手順について説明する。
Next, the procedure for assembling and adjusting the optical pickup device will be described.

【0085】この光学ピックアップ装置を組み立てるに
は、まず、上記基板部2,36上の所定の位置に、上記
レーザカプラ3を接着により固定して配設する。
In order to assemble this optical pickup device, first, the laser coupler 3 is fixed and disposed by adhesion at a predetermined position on the substrate portions 2 and 36.

【0086】次に、上記対物レンズ20が取付けられた
レンズボビン21を上記各板バネ22,23,24,2
5を介して移動操作可能に支持している調整プレート5
4を、上記基板部2,36上に配設する。
Next, the lens bobbin 21 to which the objective lens 20 is attached is attached to the leaf springs 22, 23, 24, 2 described above.
Adjustment plate 5 supported so as to be movable via
4 is arranged on the substrate portions 2 and 36.

【0087】そして、上記調整プレート54の上記基板
部2,36に対する位置を調整することにより、上記レ
ンズボビン21の位置を上記半導体レーザ素子10に対
する所定位置とする。
Then, the position of the lens bobbin 21 is set to a predetermined position with respect to the semiconductor laser element 10 by adjusting the position of the adjusting plate 54 with respect to the substrate portions 2 and 36.

【0088】上記レンズボビン21の位置を上記半導体
レーザ素子10に対する所定位置とする調整は、上記光
ディスク101に記録されている情報信号を読み取り、
上記読み取り信号(RF信号)のレベル及びジッタ、E
Fバランス(上記フォーカスエラー信号の中立点と上記
読み取り信号におけるジッタの最良状態とのずれの量)
とが最良となる位置を探すことにより行う。
For adjusting the position of the lens bobbin 21 to a predetermined position with respect to the semiconductor laser device 10, the information signal recorded on the optical disc 101 is read,
Level and jitter of the read signal (RF signal), E
F balance (amount of deviation between the neutral point of the focus error signal and the best state of jitter in the read signal)
This is done by finding the position where and are the best.

【0089】この調整プレート54の位置調整は、上記
基板部2,36上において3次元方向に移動及び回転
(傾き)させることにより行われる。
The position of the adjusting plate 54 is adjusted by moving and rotating (tilting) in the three-dimensional direction on the substrate portions 2 and 36.

【0090】上記調整プレート54は、上記レンズボビ
ン21の位置が上記半導体レーザ素子10に対する所定
位置となった状態で、図23に示すように、後端側部分
55を上記プリント基板36に対して半田66により半
田付けされることにより、上記基板部2,36に対して
固定される。
With the position of the lens bobbin 21 at the predetermined position with respect to the semiconductor laser device 10, the adjusting plate 54 has its rear end portion 55 with respect to the printed circuit board 36, as shown in FIG. By being soldered with the solder 66, it is fixed to the substrate portions 2 and 36.

【0091】このような上記調整プレート54の調整に
より、上記対物レンズ駆動機構6は、上記対物レンズ2
0を上記半導体レーザ素子10の位置を基準とした最良
の位置にて支持する状態に調整される。
By adjusting the adjusting plate 54 as described above, the objective lens driving mechanism 6 causes the objective lens 2 to move.
It is adjusted to a state in which 0 is supported at the best position with reference to the position of the semiconductor laser device 10.

【0092】そして、上記ヨーク27a,27bを上記
レンズボビン21の位置、すなわち、上記コイルボビン
26の位置を基準として位置決めし、上記基板部2,3
6上に配設する。
Then, the yokes 27a and 27b are positioned with reference to the position of the lens bobbin 21, that is, the position of the coil bobbin 26, and the substrate parts 2, 3
6 above.

【0093】上記各ヨーク27a,27bは、上述した
ように、上記可動ヨーク60を介して連結されて上記基
板部2,36上に配設され、この基板部2,36の上面
部に沿う2次元方向に移動可能となされている。また、
上記可動ヨーク60は、この基板部2,36上における
位置調整を行うための被結合部となる係合突起(ダボ)
63,64を有しており、これら係合突起63,64を
介して、上記調整プレート54に対して連結されてい
る。
As described above, the yokes 27a and 27b are connected to each other via the movable yoke 60 and arranged on the substrate portions 2 and 36, and are arranged along the upper surface portion of the substrate portions 2 and 36. It is designed to be movable in the dimension. Also,
The movable yoke 60 is an engaging projection (dough) that serves as a coupled portion for adjusting the position on the substrate portions 2 and 36.
It has 63 and 64, and is connected to the adjusting plate 54 through these engaging projections 63 and 64.

【0094】すなわち、上記各ヨーク27a,27b
は、上記調整プレート54の上記基板部2,36上にお
ける移動の該基板部2,36の上面部に沿う2次元方向
の成分に追従して、この基板部2,36上を移動され
る。したがって、これらヨーク27a,27bの上記コ
イルボビン26の位置を基準とする位置決めは、上記調
整プレート54の移動調整と同時に行われる。
That is, each of the above-mentioned yokes 27a, 27b
Is moved on the substrate portions 2 and 36 following the two-dimensional component of the movement of the adjustment plate 54 on the substrate portions 2 and 36 along the upper surface portion of the substrate portions 2 and 36. Therefore, the positioning of the yokes 27a and 27b with reference to the position of the coil bobbin 26 is performed simultaneously with the movement adjustment of the adjustment plate 54.

【0095】そして、上記各ヨーク27a,27bは、
上記基板部2,36の上面部上における位置を、上記半
導体レーザ素子10を基準として位置調整されたレンズ
ボビン21の位置を基準として定められた状態で、該基
板部2,36に対して固定される。これらヨーク27
a,27bの上記基板部2,36に対する固定は、上記
可動ヨーク60に設けられたネジ挿通孔61,62に挿
通させたネジ65,65を該基板部2,36のネジ穴に
螺入させることにより行う。
The respective yokes 27a and 27b are
The position of the substrate portions 2 and 36 on the upper surface portion is fixed to the substrate portions 2 and 36 with the position of the lens bobbin 21 adjusted with the semiconductor laser device 10 as a reference. To be done. These yokes 27
The a and 27b are fixed to the board portions 2 and 36 by screwing the screws 65 and 65 inserted in the screw insertion holes 61 and 62 provided in the movable yoke 60 into the screw holes of the board portions 2 and 36. By doing.

【0096】このような上記調整プレート54及び上記
可動ヨーク60の調整により、上記対物レンズ駆動機構
6は、上記各ヨーク27a,27bが上記基板部2,3
6に対して垂直に配設された状態で、かつ、これらヨー
ク27a,27bと上記コイルボビン26との間の間隔
を充分に確保した状態に調整される。
By adjusting the adjusting plate 54 and the movable yoke 60 as described above, in the objective lens driving mechanism 6, the yokes 27a and 27b are arranged in the substrate portions 2 and 3 respectively.
It is adjusted in a state in which it is arranged perpendicular to 6 and a sufficient space between the yokes 27a and 27b and the coil bobbin 26 is secured.

【0097】ここで、図24に示すように、各ヨーク1
27a,127bが基板部112上に固定して取付けら
れている場合には、図24中矢印A及び矢印Bで示す該
基板部112上の2次元方向、または、矢印C及び矢印
Dで示す該基板部112上での傾き方向にコイルボビン
126の位置を調整すると、該各ヨーク127a,12
7bと該コイルボビン126の内壁部との間の間隔が狭
くなってしまう。上記各ヨーク127a,127bと上
記コイルボビン126の内壁部との間の間隔が狭くなる
と、このコイルボビン126の上記基板部112に対す
る移動可能範囲が狭められてしまい、光学ピックアップ
装置の正常な動作が阻害される虞れがある。
Now, as shown in FIG. 24, each yoke 1
When 27a and 127b are fixedly attached to the substrate portion 112, the two-dimensional direction on the substrate portion 112 indicated by the arrow A and the arrow B in FIG. When the position of the coil bobbin 126 is adjusted in the tilting direction on the substrate 112, the yokes 127a, 12 are
The distance between 7b and the inner wall of the coil bobbin 126 becomes narrow. If the distance between each of the yokes 127a and 127b and the inner wall of the coil bobbin 126 becomes narrow, the movable range of the coil bobbin 126 with respect to the substrate portion 112 becomes narrow, which hinders the normal operation of the optical pickup device. There is a risk that

【0098】また、図25に示すように、調整プレート
154と上記各ヨーク127a,127bとを一体化
し、この調整プレート154の位置調整に同期して、該
各ヨーク127a,127bも上記基板部112上を移
動させることとすると、上記コイルボビン126が板バ
ネ124の捻れ等により該調整プレート154に対して
傾いて支持されている場合には、該各ヨーク127a,
127bと該コイルボビン126の内壁部との間の間隔
が狭くなる。
Further, as shown in FIG. 25, the adjusting plate 154 and the yokes 127a and 127b are integrated, and the yokes 127a and 127b are also synchronized with the position adjustment of the adjusting plate 154. When the coil bobbin 126 is moved upward, when the coil bobbin 126 is tilted and supported with respect to the adjustment plate 154 due to the twist of the leaf spring 124, the yoke 127a,
The distance between 127b and the inner wall of the coil bobbin 126 becomes narrower.

【0099】さらに、上記コイルボビン126が上記基
板部112に対して傾いていると、図26に示すよう
に、このコイルボビン126の、下方側、すなわち、上
記基板部112側への移動可能ストロークが減少してし
まう。上記コイルボビン126の下方側への移動可能ス
トロークは、このコイルボビン126の上記基板部11
2への当接により規制されているからである。
Further, when the coil bobbin 126 is tilted with respect to the base plate portion 112, as shown in FIG. 26, the movable stroke of the coil bobbin 126 toward the lower side, that is, the base plate portion 112 side is reduced. Resulting in. The stroke of the coil bobbin 126 that can be moved to the lower side depends on the substrate portion 11 of the coil bobbin 126.
This is because it is regulated by the contact with 2.

【0100】[0100]

【発明の効果】上述のように、本発明に係る光学ピック
アップ装置においては、発光素子及び対物レンズを有す
る光学部が取付けられた基板部は、該発光素子が配設さ
れた位置と該対物レンズが配設された位置との間に位置
する屈曲変位部において屈曲変位が可能となされ、この
屈曲変位によって該発光素子の該対物レンズに対する傾
きの調整が可能となされている。
As described above, in the optical pickup device according to the present invention, the substrate portion to which the optical portion having the light emitting element and the objective lens is attached has the position where the light emitting element is arranged and the objective lens. The bending displacement can be performed in the bending displacement portion located between the position where the light emitting element is disposed, and the inclination of the light emitting element with respect to the objective lens can be adjusted by the bending displacement.

【0101】すなわち、本発明は、基板部上に半導体レ
ーザ素子が取付けられて構成される光学ピックアップ装
置であって、該基板に対する半導体レーザ素子の取付け
精度が緩和され、製造が容易化されるとともに、これら
基板部及び半導体レーザ素子の有効な利用を図ることが
できるようになされた光学ピックアップ装置を提供する
ことができるものである。
That is, the present invention is an optical pickup device constructed by mounting a semiconductor laser element on a substrate portion, and the mounting accuracy of the semiconductor laser element on the substrate is relaxed, and the manufacturing is facilitated. Thus, it is possible to provide an optical pickup device capable of effectively utilizing the substrate portion and the semiconductor laser element.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明に係る光学ピックアップ装置の構成を示
す縦断面図である。
FIG. 1 is a longitudinal sectional view showing a configuration of an optical pickup device according to the present invention.

【図2】上記光学ピックアップ装置の概略的な構成を示
す分解斜視図である。
FIG. 2 is an exploded perspective view showing a schematic configuration of the optical pickup device.

【図3】上記光学ピックアップ装置におけるシェルカバ
ーの基板部への取付け状態の要部を示す要部縦断面図で
ある。
FIG. 3 is a longitudinal cross-sectional view of a main part showing a main part of the optical pickup device in a state where a shell cover is attached to a substrate part.

【図4】上記光学ピックアップ装置の基板部の構成を示
す平面図である。
FIG. 4 is a plan view showing a configuration of a substrate portion of the optical pickup device.

【図5】上記光学ピックアップ装置におけるシェルカバ
ーの基板部への取付け状態の要部を示す要部斜視図であ
る。
FIG. 5 is a main part perspective view showing a main part of a state where the shell cover is attached to the substrate part in the optical pickup device.

【図6】上記光学ピックアップ装置のシェルカバーの構
成を示す斜視図である。
FIG. 6 is a perspective view showing a configuration of a shell cover of the optical pickup device.

【図7】上記光学ピックアップ装置のシェルカバーの構
成を示す平面図である。
FIG. 7 is a plan view showing a configuration of a shell cover of the optical pickup device.

【図8】上記光学ピックアップ装置のシェルカバーの構
成を示す縦断面図である。
FIG. 8 is a vertical sectional view showing a configuration of a shell cover of the optical pickup device.

【図9】上記光学ピックアップ装置のレーザカプラの構
成を示す斜視図である。
FIG. 9 is a perspective view showing a configuration of a laser coupler of the optical pickup device.

【図10】上記光学ピックアップ装置における光学部品
の位置関係を示す平面図である。
FIG. 10 is a plan view showing a positional relationship of optical components in the optical pickup device.

【図11】上記光学ピックアップ装置における光学部品
の位置関係を示す縦断面図である。
FIG. 11 is a vertical cross-sectional view showing a positional relationship of optical components in the optical pickup device.

【図12】上記光学ピックアップ装置におけるレーザカ
プラの位置調整を示す側面図である。
FIG. 12 is a side view showing position adjustment of a laser coupler in the optical pickup device.

【図13】上記光学ピックアップ装置における基板部に
対するシェルカバーの位置の平面内の誤差を示す平面図
である。
FIG. 13 is a plan view showing an error in the plane of the position of the shell cover with respect to the substrate portion in the optical pickup device.

【図14】上記光学ピックアップ装置における基板部に
対するレーザカプラの位置の平面内の誤差を示す平面図
である。
FIG. 14 is a plan view showing an in-plane error of the position of the laser coupler with respect to the substrate portion in the optical pickup device.

【図15】上記光学ピックアップ装置における光学部品
の位置精度を示す縦断面図である。
FIG. 15 is a vertical cross-sectional view showing the positional accuracy of optical components in the optical pickup device.

【図16】上記光学ピックアップ装置における基板部に
対するレーザカプラの位置の傾きによる誤差を示す平面
図である。
FIG. 16 is a plan view showing an error due to the inclination of the position of the laser coupler with respect to the substrate portion in the optical pickup device.

【図17】上記光学ピックアップ装置における光学部品
の配置を示す平面図である。
FIG. 17 is a plan view showing the arrangement of optical components in the optical pickup device.

【図18】上記光学ピックアップ装置における基板部の
形状を示す平面図である。
FIG. 18 is a plan view showing a shape of a substrate portion in the optical pickup device.

【図19】上記光学ピックアップ装置における基板部の
形状を示す側面図である。
FIG. 19 is a side view showing the shape of a substrate portion in the optical pickup device.

【図20】上記光学ピックアップ装置の基板部のショー
トランド部を折曲させた状態を示す側面図である。
FIG. 20 is a side view showing a state where the short land portion of the substrate portion of the optical pickup device is bent.

【図21】上記光学ピックアップ装置の対物レンズ駆動
機構の構成を示す分解斜視図である。
FIG. 21 is an exploded perspective view showing a configuration of an objective lens driving mechanism of the optical pickup device.

【図22】上記光学ピックアップ装置の対物レンズ駆動
機構においてコイルボビンの位置を調整する調整機構の
構成を示す分解斜視図である。
FIG. 22 is an exploded perspective view showing the configuration of an adjusting mechanism for adjusting the position of the coil bobbin in the objective lens driving mechanism of the optical pickup device.

【図23】上記光学ピックアップ装置の対物レンズ駆動
機構においてコイルボビンの位置を調整する調整機構の
構成を示す縦断面図である。
FIG. 23 is a vertical cross-sectional view showing the configuration of an adjusting mechanism for adjusting the position of the coil bobbin in the objective lens driving mechanism of the optical pickup device.

【図24】従来の光学ピックアップ装置の対物レンズ駆
動機構においてコイルボビンの位置を調整する調整機構
の構成を破断して示す斜視図である。
FIG. 24 is a perspective view showing a broken configuration of an adjusting mechanism for adjusting the position of a coil bobbin in an objective lens driving mechanism of a conventional optical pickup device.

【図25】従来の光学ピックアップ装置の対物レンズ駆
動機構においてコイルボビンの位置を調整する調整機構
の構成を示す縦断面図である。
FIG. 25 is a vertical cross-sectional view showing the configuration of an adjusting mechanism for adjusting the position of the coil bobbin in the objective lens driving mechanism of the conventional optical pickup device.

【図26】従来の光学ピックアップ装置の対物レンズ駆
動機構においてコイルボビンの位置を調整する調整機構
の構成を示す正面図である。
FIG. 26 is a front view showing the configuration of an adjusting mechanism for adjusting the position of the coil bobbin in the objective lens driving mechanism of the conventional optical pickup device.

【図27】従来の光学ピックアップ装置におけるシェル
カバーの基板部への取付け状態の要部を示す要部縦断面
図である。
FIG. 27 is a vertical cross-sectional view of a main part showing a main part of a conventional optical pickup device in a state where a shell cover is attached to a substrate part.

【図28】従来の光学ピックアップ装置におけるシェル
カバーの基板部への取付け状態の要部の他の例を示す要
部縦断面図である。
FIG. 28 is a vertical cross-sectional view of a main part showing another example of the main part in a state where the shell cover is attached to the substrate part in the conventional optical pickup device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

2 ベース基板、3 レーザカプラ(L/C)、4 反
射ミラー、5 反射プリズム、6 対物レンズ駆動機
構、10 半導体レーザ素子、13 半導体基材部、1
4a 第1の光検出器、14b 第2の光検出器、20
対物レンズ、21 レンズボビン、26 コイルボビ
ン、27a,27b ヨーク、28 マグネット、30
シェルカバー、32 係合溝、35 スラストスリー
ブ部、36プリント基板、42 当接爪、43 当接
杆、44 基準面、46 ショートランド部、47 一
方のショートランド、48 他方のショートランド、5
0鍔部、52 ベース基板曲げ位置、54 調整プレー
ト、60 可動ヨーク、63,64 係合突起
2 base substrate, 3 laser coupler (L / C), 4 reflection mirror, 5 reflection prism, 6 objective lens drive mechanism, 10 semiconductor laser device, 13 semiconductor substrate part, 1
4a 1st photodetector, 14b 2nd photodetector, 20
Objective lens, 21 lens bobbin, 26 coil bobbin, 27a, 27b yoke, 28 magnet, 30
Shell cover, 32 engagement groove, 35 thrust sleeve part, 36 printed circuit board, 42 contact claw, 43 contact rod, 44 reference surface, 46 short land part, 47 one short land, 48 one other short land, 5
0 collar part, 52 base board bending position, 54 adjustment plate, 60 movable yoke, 63, 64 engaging protrusion

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 基板部と、 上記基板部に固定して配設された発光素子及びこの発光
素子より発せられた光束を光学記録媒体上に集光させる
対物レンズを有して構成された光学部と、 上記基板部上に配設され、上記対物レンズを移動操作可
能に支持している対物レンズ駆動機構とを備え、 上記基板部は、上記発光素子が配設された位置と上記対
物レンズ駆動機構が配設された位置との間に位置する屈
曲変位部において、屈曲変位が可能となされ、この屈曲
変位によって該発光素子の該対物レンズ駆動機構に対す
る傾きの調整が可能となされた光学ピックアップ装置。
1. An optical system comprising a substrate portion, a light emitting element fixedly arranged on the substrate portion, and an objective lens for condensing a light beam emitted from the light emitting element onto an optical recording medium. And an objective lens driving mechanism which is disposed on the substrate portion and movably supports the objective lens. The substrate portion includes a position where the light emitting element is disposed and the objective lens. An optical pickup in which a bending displacement can be performed in a bending displacement portion located between the driving mechanism and a position, and the inclination of the light emitting element with respect to the objective lens driving mechanism can be adjusted by the bending displacement. apparatus.
【請求項2】 基板部は、屈曲変位部よりも対物レンズ
駆動装置が配設された側の部分を基準として、位置決め
保持されることとなされた請求項1記載の光学ピックア
ップ装置。
2. The optical pickup device according to claim 1, wherein the substrate portion is positioned and held with reference to a portion on the side where the objective lens driving device is arranged, relative to the bending displacement portion.
【請求項3】 基板部は、鉄により形成されていること
となされた請求項1記載の光学ピックアップ装置。
3. The optical pickup device according to claim 1, wherein the substrate portion is made of iron.
JP3409596A 1996-02-21 1996-02-21 Optical pickup device Withdrawn JPH09231582A (en)

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