JPH09145765A - Method and device for reproducing and testing migration - Google Patents
Method and device for reproducing and testing migrationInfo
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- JPH09145765A JPH09145765A JP32401595A JP32401595A JPH09145765A JP H09145765 A JPH09145765 A JP H09145765A JP 32401595 A JP32401595 A JP 32401595A JP 32401595 A JP32401595 A JP 32401595A JP H09145765 A JPH09145765 A JP H09145765A
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- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Testing Resistance To Weather, Investigating Materials By Mechanical Methods (AREA)
- Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)
Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、マイグレーション
再現試験方法及びその装置に関し、例えば、ポジスタ
(Posistor)と称される正特性サーミスタPTC(Posi
tive Temperature Coefficient Thermistor)素子内蔵の
電気部品において、PTC素子(以下、PTCサーミス
タと称することがある。)に発生しうるマイグレーショ
ンの再現試験方法及びその装置に関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a migration reproduction test method and an apparatus therefor, for example, a positive temperature coefficient thermistor PTC (Positor) called a posistor.
TECHNICAL FIELD The present invention relates to a method and apparatus for reproducing a migration that may occur in a PTC element (hereinafter, also referred to as a PTC thermistor) in an electrical component having a built-in tive temperature coefficient (Coefficient Thermistor) element.
【0002】[0002]
【従来の技術】カラーテレビジョン受像管においては、
受像管のネック部に設けられている三原色(赤、緑、
青)用の電子銃から高速で放射された電子ビームが、受
像管のフェイスプレート内面に規則正しく配列塗布され
た螢光体上に選択的に入射し、対応する螢光体を発光さ
せることにより、カラー映像が得られる。2. Description of the Related Art In a color television picture tube,
The three primary colors (red, green,
The electron beam emitted at high speed from the (blue) electron gun is selectively incident on the phosphors which are regularly arranged and coated on the inner surface of the face plate of the picture tube, and the corresponding phosphors are caused to emit light. Color images can be obtained.
【0003】ところが、上記のようにして放射される電
子の入射によってフェイスプレート内面は磁気を帯びる
ようになり、この磁気がテレビジョンの受像中に螢光膜
に残留し、蓄積されるため、テレビジョン画面が帯磁し
易くなる。この残留磁気の影響によって、電子銃から放
射された電子ビームが、目的とする螢光体位置に正しく
ランディングせず、テレビジョン画面に色むらを発生さ
せてしまう。However, due to the incidence of electrons emitted as described above, the inner surface of the face plate becomes magnetized, and this magnetism remains and accumulates in the fluorescent film during the reception of the image on the television. John screen is easily magnetized. Due to the influence of this residual magnetism, the electron beam emitted from the electron gun does not land correctly on the target fluorescent body position, causing color unevenness on the television screen.
【0004】図14は、このような現象により、テレビジ
ョン受像機45の画面45aに色むら46Aや46Bが現れた状
態を示している。こうした色むらは一様ではなく、色、
濃淡、範囲、場所等は様々であって、不可避的に生じる
ものである。FIG. 14 shows a state where color irregularities 46A and 46B appear on the screen 45a of the television receiver 45 due to such a phenomenon. Such color unevenness is not uniform,
There are various shades, areas, places, etc., and they occur inevitably.
【0005】従って、このための対策として、例えば図
15に示すように、受像管45のファンネル部42の外面に消
磁用コイル43を設けて、上記したような画面内の残留磁
気を消去する方法が採られている。Therefore, as a countermeasure for this, for example, as shown in FIG.
As shown in FIG. 15, a degaussing coil 43 is provided on the outer surface of the funnel portion 42 of the picture tube 45 to eliminate the residual magnetism in the screen as described above.
【0006】このためには、図10に示すようなPTC素
子26を設けた後述するポジスタが上記の消磁用コイル43
に接続して、受像管45の近傍に取り付けられる。即ち、
図13のような消磁回路を構成して残留磁気を消去し、色
むら46A、46Bを除去するようにしている(この図にお
いて、DGC(De−Gauss Coil)は上記の消磁用コイル
43を表している)。For this purpose, the degaussing coil 43 described above is provided by a posistor, which will be described later, provided with a PTC element 26 as shown in FIG.
And is attached in the vicinity of the picture tube 45. That is,
A degaussing circuit as shown in FIG. 13 is configured to eliminate residual magnetism and remove color irregularities 46A and 46B (in this figure, the DGC (De-Gauss Coil) is the above degaussing coil).
Represents 43).
【0007】このようにして螢光体上の残留磁気を消磁
するためには、図13及び図14に示すように、テレビジョ
ン受像機45の電源44のスイッチSWをONすると同時
に、ポジスタのPTC素子26を通して大電流を消磁用コ
イル43に瞬時に流し、これにより発生する逆磁界で上記
残留磁気を打ち消し、消磁する。In order to demagnetize the residual magnetism on the fluorescent material in this way, as shown in FIGS. 13 and 14, the switch SW of the power supply 44 of the television receiver 45 is turned on and, at the same time, the PTC of the posistor is turned on. A large current is momentarily passed through the degaussing coil 43 through the element 26, and the reverse magnetic field generated thereby cancels the residual magnetism and degausses it.
【0008】この瞬時に流れる電流はテレビジョン機器
の種類により異なるが、3〜4A又は7〜8Aの大電流
である。このような大電流により生じる熱でテレビジョ
ンの受像管は高温になり易いため、この大電流はすぐに
数mAの微小電流に減少させて発熱を防止する必要があ
る。This instantaneously flowing electric current is a large electric current of 3 to 4 A or 7 to 8 A, though it depends on the type of television equipment. Since heat generated by such a large current easily causes the picture tube of the television to become hot, it is necessary to immediately reduce the large current to a minute current of several mA to prevent heat generation.
【0009】従って、消磁用コイル43に必要な大電流を
供給すると共に、その供給後はすぐに電流を遮断若しく
は著しく減少させることが必要となるが、これは、上記
したポジスタのPTC素子26によって可能である。Therefore, it is necessary to supply the necessary large current to the degaussing coil 43 and immediately cut off or significantly reduce the current immediately after the supply, which is caused by the PTC element 26 of the posistor described above. It is possible.
【0010】即ち、図12はこのポジスタの抵抗の温度特
性を示すものであるが、一般のサーミスタの特性39は温
度の上昇に伴って抵抗が減少するのに対して、PTCサ
ーミスタの特性38の場合は、常温では50Ω以下である抵
抗値が温度の上昇に伴って急上昇し、約 200℃で抵抗は
約108 Ωにも達する。この温度上昇の過程でほぼ 120℃
〜150 ℃から 200℃の間の温度領域がポジスタの動作温
度であり、この温度領域における温度Tにおいてポジス
タの抵抗が106 〜108 Ωと大きくなり、殆んど電流が流
れなくなる。That is, FIG. 12 shows the temperature characteristic of the resistance of this posistor, whereas the characteristic 39 of a general thermistor decreases as the temperature rises, whereas the characteristic 38 of the PTC thermistor decreases. In this case, the resistance value, which is less than 50 Ω at room temperature, rises sharply as the temperature rises, and reaches about 10 8 Ω at about 200 ° C. In the process of this temperature rise, almost 120 ℃
The operating temperature of the posistor is in the temperature range between 150 ° C and 200 ° C, and the resistance of the posistor is as large as 10 6 to 10 8 Ω at the temperature T in this temperature range, and almost no current flows.
【0011】ポジスタの動作温度はポジスタ自体が抵抗
値を有した発熱体であることから、電源ON後にポジス
タを通して消磁用コイル43に大電流を流して上記の残留
磁気を消去した後は、ポジスタの自己発熱の温度でポジ
スタの抵抗が著しく大きくなり、自動的に電流が遮断若
しくは激減し、回路を遮断してそれ以上の温度上昇を防
ぐことになる。そして、 200℃になったときにポジスタ
によって大電流は遮断される。The operating temperature of the posistor is that the posistor itself is a heating element having a resistance value. Therefore, after the power is turned on, a large current is passed through the degaussing coil 43 through the posistor to erase the above-mentioned residual magnetism. At the temperature of self-heating, the resistance of the posistor becomes remarkably large, the current is automatically cut off or drastically reduced, and the circuit is cut off to prevent further temperature rise. Then, when the temperature reaches 200 ° C, a large current is cut off by the posistor.
【0012】従って、ポジスタはテレビジョン画面の色
むらを除去するための必要不可欠な部品であるが、消磁
後は電流を十分に遮断する性能を有していなければ、電
流が流れすぎてテレビジョンが発煙や発火の事故を生じ
るおそれがある。Therefore, the posistor is an indispensable component for removing the color unevenness of the television screen, but if it does not have the ability to sufficiently cut off the current after degaussing, the current will flow too much and the television May cause smoke or fire accidents.
【0013】即ち、ポジスタ内のPTC素子26の両面に
設けた電極材である銀がマイグレーション(移動)して
短絡現象を起こすことがあれば、ポジスタの動作温度に
なっても電流が遮断されない場合、上記の事故が生じる
ことがある。That is, if silver, which is an electrode material provided on both sides of the PTC element 26 in the posistor, migrates to cause a short circuit phenomenon, the current is not interrupted even at the operating temperature of the posistor. , The above accident may occur.
【0014】銀のマイグレーション発生の原因として
は、次の〜に述べるように、空気中の水分(OHイ
オン)の作用で水酸化銀(AgOH)が生じることが主
因と考えられる。It is considered that the main cause of silver migration is that silver hydroxide (AgOH) is produced by the action of moisture (OH ions) in the air, as described in the following items.
【0015】 高温度雰囲気と電位差の存在によっ
て、電極の銀、及び電極を設ける絶縁材面上の水分がA
g→Ag+ 、H2 O→H+ +OH- のように電離し、対
極側へと移動し易くなる。Due to the presence of a high temperature atmosphere and a potential difference, silver on the electrodes and moisture on the surface of the insulating material on which the electrodes are provided are
Ionization occurs as in g → Ag + , H 2 O → H + + OH − , and it becomes easy to move to the counter electrode side.
【0016】 Ag+ とOH- はアノードに近い領域
で水酸化銀(AgOH)を生成して析出する。Ag + and OH − form and precipitate silver hydroxide (AgOH) in a region near the anode.
【0017】 AgOHは分解してアノード領域でAgOH decomposes and decomposes in the anode region
【化1】 のように酸化銀となり、これは電気化学的マイグレーシ
ョンにより成長する。Embedded image Like silver oxide, which grows by electrochemical migration.
【0018】 その後に絶縁材中の還元物質により、After that, by the reducing substance in the insulating material,
【化2】 のプロセスを経る場合は、Ag+ の移動によってカソー
ド領域で金属Agが電気化学的マイグレーションにより
成長する。Embedded image In the case of the above process, the migration of Ag + causes the metal Ag to grow in the cathode region by electrochemical migration.
【0019】このような銀の電気化学的マイグレーショ
ンを防止するためには、両面の銀電極の間に水分を与え
ないようにすることであるが、これは空気中のOHイオ
ンが要因である限り不可能であり、決定的な防止策はな
いのが実状である。In order to prevent such electrochemical migration of silver, it is necessary not to give water between the silver electrodes on both sides, but this is due to OH ions in the air. It is impossible and there is no definitive preventive measure.
【0020】従って、空気中の水分の影響が避けられな
いことから、前述したような発火事故等を防止するため
には、温度や湿度等のどのような条件、状況においてど
の程度のマイグレーションが進行するかを掌握するこ
と、特に長期間の間に水分によるマイグレーションが生
じることを見越して予めこれに対応した条件で高温多湿
下での加速劣化試験を行い、その結果を目安にすること
が製品の品質管理上の重要な事項となる。Therefore, since the influence of moisture in the air is unavoidable, in order to prevent the above-mentioned ignition accident and the like, how much migration progresses under what conditions and conditions such as temperature and humidity. In anticipation of moisture migration due to moisture over a long period of time, an accelerated deterioration test under high temperature and high humidity under conditions corresponding to this in advance should be performed, and the result should be used as a guideline for the product. It becomes an important matter in quality control.
【0021】このためには、様々な条件下においてポジ
スタ内における銀電極のマイグレーションを再現する試
験が必要不可欠であるが、従来は確実な試験方法が確立
されていない。For this purpose, a test for reproducing the migration of the silver electrode in the posistor under various conditions is indispensable, but a reliable test method has not been established so far.
【0022】マイグレーション発生要因を再現するに
は、OHイオンのもととなる結露や湿度を与えればよ
く、更にこれの評価試験のためには、加速性が得られる
ように結露や湿度を効率的に安定して付与することが重
要である。しかし、実際には、ポジスタ内のPTC素子
は動作温度が一般には 140℃以上と高温なため、結露や
湿度を与えても瞬時に気化してしまい、OHイオンを加
速して付与することは困難であった。In order to reproduce the cause of migration, it is sufficient to apply the dew condensation or humidity which is the source of the OH ion, and for the evaluation test of this, the dew condensation and humidity are efficiently adjusted so that acceleration can be obtained. It is important to stably apply to. However, in reality, the operating temperature of the PTC element in the posistor is generally as high as 140 ° C or higher, so that even if condensation or humidity is applied, it vaporizes instantly, and it is difficult to accelerate and apply OH ions. Met.
【0023】例えば、一般に試みられたマイグレーショ
ンの再現試験とその結果としては、次のようなものがあ
る。For example, the following migration reproducibility tests have been generally attempted and the results thereof are as follows.
【0024】 ポジスタを低温槽で冷やしてから、直
ぐに高温高湿槽に入れて結露させながら通電する(但
し、この通電は、ポジスタの実使用時の通電に対応する
ものである)。After the posistor is cooled in a low temperature tank, it is immediately placed in a high temperature and high humidity tank to be energized while dew condensation occurs (however, this energization corresponds to the energization during actual use of the posistor).
【0025】しかし、これは、ポジスタの槽間移動スピ
ードや環境で結露量が変動するという不安定要因があ
る。また、1回の槽間移動で一瞬の結露しか得られず、
加速試験には不向きであった。However, this has an unstable factor that the amount of dew condensation fluctuates depending on the movement speed of the posistor between the tanks and the environment. In addition, only one moment of dew condensation can be obtained with one movement between tanks,
Not suitable for accelerated tests.
【0026】 噴霧器で水蒸気を吹きつけて通電す
る。Electric power is supplied by spraying steam with a sprayer.
【0027】この場合は、素子表面が 140℃以上と高温
のため、瞬時に蒸発してしまい、結露を起こすことは不
可能であった。In this case, since the surface of the element was as high as 140 ° C. or higher, it was instantly evaporated and it was impossible to cause dew condensation.
【0028】 高温高湿槽に入れて通電する。It is placed in a high temperature and high humidity tank and energized.
【0029】これはと同様の理由により、結露を起こ
すことは不可能であった。It was impossible to cause dew condensation for the same reason as above.
【0030】[0030]
【発明が解決しようとする課題】本発明は、上記のよう
な事情に鑑みてなされたものであって、被試験物に対し
て安定かつ確実に結露を生じさせ、しかも、その結露を
持続させて、この結露によって被試験物にマイグレーシ
ョンを加速させ、短時間にして信頼性良く実現可能なマ
イグレーション再現試験方法及びその装置を提供するこ
とを目的とするものである。DISCLOSURE OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above circumstances, and it causes stable and reliable dew condensation on an object to be tested, and maintains the dew condensation. It is an object of the present invention to provide a migration reproduction test method and a device therefor capable of accelerating migration to a DUT by this dew condensation and realizing it in a short time and with high reliability.
【0031】[0031]
【課題を解決するための手段】本発明者は、上記の目的
を達成するために鋭意検討を重ねた結果、密閉された容
器内で被試験物を水蒸気に曝すことに着目し、更にその
容器内に水を入れ、ヒータにより容器を加熱して強制的
に蒸気を発生させ、しかも、被試験物をこの容器内の蒸
気雰囲気中に通電可能に保持させることにより、被試験
物を結露させてマイグレーションを短時間かつ確実に再
現することができるとの結論を得、本発明に到達したも
のである。As a result of intensive studies to achieve the above object, the present inventor has focused on exposing a test object to water vapor in a closed container, and further Water is put in the container and the heater is used to heat the container to forcibly generate steam. Furthermore, by holding the DUT in the steam atmosphere in the container so that it can be energized, the DUT is condensed. The present invention has been reached based on the conclusion that migration can be reproduced reliably in a short time.
【0032】即ち、本発明は、密閉可能な容器内におい
て、被試験物を支持し、前記被試験物に対して結露を生
ぜしめ、この結露によって前記被試験物にマイグレーシ
ョンを発生させる、マイグレーション再現試験方法に係
るものである。That is, according to the present invention, a reproduction of migration is performed in which an object to be tested is supported in a container which can be sealed, and dew condensation is caused on the object to be tested, and the dew condensation causes migration to the object to be tested. It relates to the test method.
【0033】また、本発明は、密閉可能な容器と、この
容器内に被試験物を支持する支持手段と、前記被試験物
に対して結露を生ぜしめる結露付与手段とが設けられ、
前記被試験物にマイグレーションを発生させるように構
成した、マイグレーション再現試験装置にも係るもので
ある。Further, the present invention is provided with a container which can be sealed, a supporting means for supporting the object to be tested in the container, and a means for imparting dew condensation to the object to be tested,
The present invention also relates to a migration reproduction test apparatus configured to generate migration in the DUT.
【0034】[0034]
【発明の実施の形態】本発明によるマイグレーション再
現試験方法においては、前記被試験物を通電可能に高温
圧力容器内に支持すると共に、加熱によって前記高温圧
力容器内の水を蒸発させ、この水蒸気を前記被試験物に
結露させ、前記水蒸気が前記高温圧力容器外に漏出しな
いように前記高温圧力容器に密閉手段を設けることが望
ましい。BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION In the migration reproduction test method according to the present invention, the object to be tested is supported in a high temperature pressure vessel so that it can be energized, and the water in the high temperature pressure vessel is evaporated by heating, and this steam is removed. It is desirable to provide a sealing means in the high temperature pressure vessel so that the water vapor does not leak to the outside of the high temperature pressure vessel by causing dew condensation on the DUT.
【0035】また、前記被試験物を前記容器内に支持
し、所定の温度、所定の蒸気圧で所定の時間試験するこ
とが望ましい。It is desirable that the object to be tested is supported in the container and tested at a predetermined temperature and a predetermined vapor pressure for a predetermined time.
【0036】そして、前記容器の内容積に対する水の量
と加熱エネルギーとの少なくとも一方を変化させること
が望ましい。It is desirable to change at least one of the amount of water and the heating energy with respect to the inner volume of the container.
【0037】更に、前記容器の内温を前記被試験物の実
使用時の動作温度以上とし、前記容器内の湿度を40%〜
飽和蒸気圧とし、試験時間を1分以上とすることが望ま
しい。Furthermore, the internal temperature of the container is set to be equal to or higher than the operating temperature during actual use of the DUT, and the humidity in the container is 40% to 40%.
It is desirable to set the saturated vapor pressure and the test time to 1 minute or more.
【0038】上記の試験方法は、被試験物としてポジス
タを用い、例えば、陰極線管の消磁回路に使用するポジ
スタを試験するのに好適な方法である。The above-mentioned test method is a method suitable for testing, for example, a posistor used in a degaussing circuit of a cathode ray tube, using a posistor as an object to be tested.
【0039】また、本発明によるマイグレーション再現
試験装置においては、前記被試験物を収容する密閉可能
な高温圧力容器に、前記被試験物を通電可能に支持する
支持手段と、前記高温圧力容器を加熱する加熱手段と、
前記高温圧力容器内の水を蒸発させ、この水蒸気を前記
被試験物に結露させる水蒸気発生手段と、前記水蒸気を
前記高温圧力容器外へ漏出させないための密閉手段とが
設けられていることが望ましい。Further, in the migration reproduction test apparatus according to the present invention, a supporting means for supporting the DUT so that the DUT can be energized and a high temperature pressure container for accommodating the DUT are heated. Heating means to
It is desirable that a water vapor generation unit that evaporates water in the high temperature pressure container and condenses the water vapor on the DUT, and a sealing unit that prevents the water vapor from leaking out of the high temperature pressure container are provided. .
【0040】そして、更に、前記容器内の温度を検出す
る温度検出手段と、前記容器内の圧力を検出する圧力検
出手段とが設けられていることが望ましい。Further, it is desirable that temperature detection means for detecting the temperature inside the container and pressure detection means for detecting the pressure inside the container are provided.
【0041】また、前記被試験物の支持手段が容器にね
じ込み固定された電流導入端子本体を有し、この電流導
入端子本体内に圧入された絶縁性粉体により、電流導線
を気密に支持するように構成さていることが望ましい。Further, the means for supporting the object to be tested has a current introducing terminal body screwed and fixed to the container, and the current conducting wire is airtightly supported by the insulating powder pressed into the current introducing terminal body. It is desirable to be configured as follows.
【0042】上記の装置は、被試験物としてポジスタを
容器内に支持し、例えば、陰極線管の消磁回路に使用す
るポジスタの電極間のマイグレーションを再現試験する
のに好適な装置である。The above-mentioned device is a device suitable for supporting a posistor as an object to be tested in a container and for reproducing a migration between electrodes of a posistor used for a degaussing circuit of a cathode ray tube.
【0043】[0043]
【実施例】以下、本発明の実施例を詳細に説明する。Embodiments of the present invention will be described below in detail.
【0044】図1は、本発明をポジスタのマイグレーシ
ョン再現試験に適用した実施例に使用する密閉容器内
に、ポジスタを支持した状態を示す断面図である。FIG. 1 is a sectional view showing a state in which a posistor is supported in an airtight container used in an embodiment in which the present invention is applied to a migration reproduction test of a posistor.
【0045】図1に示す如く、このマイグレーション再
現試験方法は、オートクレーブ本体として構成された密
閉可能な容器1(例えばステンレス製の耐圧力密閉容
器)の中にポジスタ10を支持し、これにマイグレーショ
ン加速のために結露を生じさせるものである。即ち、結
露付与手段として、容器1の中に予め水40を所定量収容
しておき、この水を加熱して容器1内で水蒸気を発生さ
せることにより、容器1内に蒸気を充満させれば、被試
験物であるポジスタ10内のPTC素子26(後述の図5参
照)に強制的に結露を生じさせられる。As shown in FIG. 1, in this migration reproduction test method, a posistor 10 is supported in a sealable container 1 (for example, a pressure-resistant closed container made of stainless steel) configured as an autoclave body, and migration acceleration is performed on this. This causes dew condensation. That is, as a means for imparting dew condensation, if a predetermined amount of water 40 is stored in the container 1 in advance and the water is heated to generate steam in the container 1, the container 1 can be filled with steam. Condensation can be forcedly generated on the PTC element 26 (see FIG. 5 described later) in the posistor 10 which is the DUT.
【0046】この場合、ポジスタ10に電流導入端子9を
介して外部から定格仕様の電圧をかけるため、 140℃以
上の高温になるが、ポジスタ10は密閉容器1内の蒸気雰
囲気中にあるので、生じた結露による水分は継続してポ
ジスタ10に付着し、覆うようになる。そして、容器1内
の温度や蒸気圧は容器1の外部に設けた計器によって制
御され、所定の時間中、所定の条件の下で試験を行うこ
とが可能となる。In this case, since the rated voltage is applied to the posistor 10 from the outside through the current introduction terminal 9, the temperature rises to 140 ° C. or higher, but since the posistor 10 is in the vapor atmosphere in the closed container 1, Moisture due to the generated dew condensation continues to adhere to and cover the posistor 10. Then, the temperature and vapor pressure inside the container 1 are controlled by an instrument provided outside the container 1, and a test can be performed under a predetermined condition for a predetermined time.
【0047】図2は、上記したようにポジスタ10を支持
した密閉容器1の周囲にヒータ11を配し、このヒータ11
により容器1を所定温度に加熱できるオートクレーブ21
を示す断面図である。In FIG. 2, the heater 11 is arranged around the closed container 1 supporting the posistor 10 as described above.
Autoclave 21 that can heat container 1 to a specified temperature by
FIG.
【0048】容器1の本体2の上部には蓋3が設けら
れ、本体2と蓋3の間にはパッキン4Aを配し、蓋3は
ボルト5によって本体2に締め付けられて固定されてい
る。そして、本体2は、ヒータ線12を内設したヒータ11
によって側面及び底面を囲まれ、加熱される構造になっ
ている。A lid 3 is provided on the upper portion of the main body 2 of the container 1, a packing 4A is arranged between the main body 2 and the lid 3, and the lid 3 is fastened and fixed to the main body 2 with bolts 5. The main body 2 has a heater 11 having a heater wire 12 provided therein.
Surrounded by the sides and bottom by, it is structured to be heated.
【0049】ヒータ11の外面には凹部13が設けられ、こ
の凹部内に熱電対14が配され、そのリード線14a、14b
が図示省略した電圧計に接続されていて、ヒータ温度を
検出し、そのパワーをコントロールしている。一方、容
器1の蓋3にも熱電対ケース6が蓋3の内側に熔接によ
り結合されて容器1の内部に下向きに突設され、その中
に熱電対7が配されそのリード線7a、7bが貫通孔3
aを通して図示省略した電圧計に接続されていて、容器
1の内温を検出している。A concave portion 13 is provided on the outer surface of the heater 11, and a thermocouple 14 is arranged in the concave portion and its lead wires 14a and 14b.
Is connected to a voltmeter (not shown) to detect the heater temperature and control its power. On the other hand, a thermocouple case 6 is also welded to the lid 3 of the container 1 by being welded to the inside of the lid 3 so as to project downward inside the container 1, and a thermocouple 7 is arranged therein and its lead wires 7a, 7b are provided. Is through hole 3
It is connected to a voltmeter (not shown) through a and detects the internal temperature of the container 1.
【0050】従って、熱電対14は容器1の本体2の加熱
温度を制御するためのものであり、もう一方の熱電対7
は容器1の内部の温度を計測するためのものである。そ
して、この双方の計測温度により、ヒータ11の加熱量を
調節して容器1の内温を所定の温度にし、試験を行うこ
とができる。Therefore, the thermocouple 14 is for controlling the heating temperature of the main body 2 of the container 1, and the other thermocouple 7 is used.
Is for measuring the temperature inside the container 1. Then, the test can be performed by adjusting the heating amount of the heater 11 to bring the internal temperature of the container 1 to a predetermined temperature based on the both measured temperatures.
【0051】また、蓋3の上には圧力計8が設けられ、
その導管8aが蓋3を貫通している。そして、本体2の
底部に試験の条件に応じて適量収容された水40が上記し
たヒータ11により加熱されて水蒸気化され、この蒸気圧
は圧力計8によって計測されるようになっている。A pressure gauge 8 is provided on the lid 3.
The conduit 8a penetrates the lid 3. Then, the water 40, which is stored in an appropriate amount at the bottom of the main body 2 in accordance with the test conditions, is heated by the heater 11 to be steamed, and the steam pressure is measured by the pressure gauge 8.
【0052】蓋3には複数のねじ穴3bが設けられ、こ
れらに電流導入端子9がそれぞれねじ込まれて固定され
るようになっている。この電流導入端子9に支持された
電流導線17は容器1内に導かれ、その先端にポジスタ10
が接続されて保持される。従って、ポジスタの試験に際
しては、先ず、蓋3を本体2から外した状態で電流導線
17にポジスタ10を接続し、所定量の水40を本体2へ注入
してから蓋3を本体2へ被せてボルト5により固定す
る。The lid 3 is provided with a plurality of screw holes 3b, and the current introducing terminals 9 are respectively screwed and fixed in these holes. The current conducting wire 17 supported by the current introducing terminal 9 is guided into the container 1, and the posistor 10 is attached to the tip thereof.
Are connected and held. Therefore, when testing the posistor, first, with the lid 3 removed from the body 2,
The posistor 10 is connected to 17, and a predetermined amount of water 40 is injected into the main body 2, and then the lid 3 is put on the main body 2 and fixed by the bolt 5.
【0053】図3は、本発明の他の実施例を示す断面図
であるが、図2に示した装置と比べて、単数のポジスタ
10を試験する装置(オートクレーブ)31として構成した
ものである。FIG. 3 is a cross-sectional view showing another embodiment of the present invention. Compared with the device shown in FIG. 2, a single posistor is used.
It is configured as a device (autoclave) 31 for testing 10.
【0054】この場合、被試験物の装着数以外は図2の
実施例と同様であるので、各部の説明はここでは省略す
る。なお、図2の実施例の装置によっても、例えば単数
のポジスタ10を装着して試験することもできる。In this case, except for the number of objects to be tested, the same as in the embodiment of FIG. 2, so the description of each part is omitted here. It should be noted that the apparatus of the embodiment shown in FIG. 2 can also be used for testing, for example, by mounting a single posistor 10.
【0055】電流導入端子9は、図4に示すような構造
になっている。この電流導入端子9は、本体15、袋ナッ
ト16及び圧接管18で構成され、本体15の先端はねじ部15
aが形成され、他端側にもねじ部15bが形成されて袋ナ
ット16のねじ部16aが螺合するようになっている。ねじ
部15aの端面15dは蓋3に対しパッキン4Bによって密
にシールされている。圧接管18は袋ナット16側で本体15
に嵌入し、後述する絶縁性粉体19を圧接して固める役割
をしている。The current introducing terminal 9 has a structure as shown in FIG. The current introducing terminal 9 is composed of a main body 15, a cap nut 16 and a pressure welding tube 18, and the tip of the main body 15 has a threaded portion 15
a is formed, and a threaded portion 15b is also formed on the other end side so that the threaded portion 16a of the cap nut 16 is screwed. The end surface 15d of the screw portion 15a is tightly sealed to the lid 3 by a packing 4B. The pressure welding tube 18 is the body 15 on the side of the cap nut 16.
And plays a role of press-contacting and solidifying the insulating powder 19 described later.
【0056】本体15のねじ部15a側の内部には、電流導
線17を支持した絶縁材20が歯止め部15cまで嵌入し、電
流導線17は袋ナット16に設けた穴から外部へ導かれてい
る。そして、電流導線17はポジスタ10の側から上記した
絶縁材20を貫通し、更に、本体15の中で圧接管18によっ
て圧入された絶縁性粉体19の中心部に位置固定され、外
部へ導出されている。An insulating material 20 supporting the current conducting wire 17 is fitted into the pawl portion 15c inside the threaded portion 15a of the main body 15, and the current conducting wire 17 is guided to the outside through a hole provided in the cap nut 16. . Then, the current conducting wire 17 penetrates through the insulating material 20 from the side of the posistor 10 and is further fixed in position at the central portion of the insulating powder 19 press-fitted by the pressure welding tube 18 in the main body 15 and led out to the outside. Has been done.
【0057】即ち、電流導線17を支持した絶縁材20を本
体15の上部(外部側)から挿入し、次に絶縁性粉体19
(例えばセラミックス粉)を装入してから圧接管18を挿
入し、次に電流導線17の位置を決めた上で袋ナット16で
締めつける。圧接管18の上部は内側へフランジ部18aが
形成されているため、袋ナット16の締めつけによって絶
縁性粉体19を絶縁材20及び本体15のテーパ面15cに対し
て押し付けつつ本体15の内部で押し固め、絶縁性粉体19
は図4に示すような形状で本体15の内部で固まり、導線
17を堅固に固定する。That is, the insulating material 20 supporting the current conducting wire 17 is inserted from the upper portion (outside) of the main body 15, and then the insulating powder 19
After inserting (for example, ceramic powder), the pressure contact tube 18 is inserted, the position of the current conducting wire 17 is determined, and then the cap nut 16 is tightened. Since the flange portion 18a is formed inwardly on the upper portion of the press-contact pipe 18, the insulating powder 19 is pressed against the insulating material 20 and the tapered surface 15c of the main body 15 by tightening the cap nut 16 and inside the main body 15. Compacted and insulating powder 19
Has a shape as shown in FIG.
Fix 17 firmly.
【0058】電流導入端子9は上記のような構成によ
り、大電流が流れる電流導線17を確実に絶縁して支持す
る。そして、上記したパッキン4A、4B、絶縁性粉体
19によって、容器1内の蒸気圧を外気と遮断して密閉性
を保持するように構成されている。The current introducing terminal 9 having the above-mentioned structure surely insulates and supports the current conducting wire 17 through which a large current flows. Then, the packings 4A and 4B described above and the insulating powder
By 19, the vapor pressure in the container 1 is cut off from the outside air to maintain the airtightness.
【0059】この電流導入端子9は、容器1の蓋3に設
けられているねじ部にねじ込まれた後に、図5に示すポ
ジスタ10を電流導線の先端に接続させる。図6は、図5
に示すポジスタ10の分解斜視図(但し、ニッケル下地膜
は図示省略)である。The current introducing terminal 9 is screwed into the screw portion provided on the lid 3 of the container 1, and then the posistor 10 shown in FIG. 5 is connected to the tip of the current conducting wire. FIG. 6 shows FIG.
FIG. 3 is an exploded perspective view of the posistor 10 shown in FIG. 1 (however, the nickel base film is not shown).
【0060】ポジスタ10のケース41の中には、端子板23
の一方の側面にPTC素子26(例えばヒータ用の26A)
を端子板24で挟み、他方の側面にはPTC素子26(例え
ば消磁用の26B)を端子板23、24、25の各間に挟んで装
入されている。そして、各PTC素子26A、26Bは、端
子板24及び25に設けられている弾性コンタクト部24a及
び25aによって中央部の端子板23に対し押圧されてい
る。In the case 41 of the posistor 10, the terminal board 23
PTC element 26 (eg 26A for heater) on one side
Is sandwiched between the terminal plates 24, and the PTC element 26 (for example, demagnetizing 26B) is inserted between the terminal plates 23, 24, 25 on the other side surface. The PTC elements 26A, 26B are pressed against the central terminal plate 23 by elastic contact portions 24a, 25a provided on the terminal plates 24, 25.
【0061】ケース41の底面には、各端子板23、24、25
の下部が貫通する貫通孔40(図5参照)が設けられてお
り、各端子板23、24、25の下部に設けた弾性片部23a、
24b、25bが貫通孔にそれぞれ嵌入若しくは当接して、
各端子板23、24、25をケース41に対して固定している。
このようにして各端子板23、24、25を固定後に蓋22が被
せられる。なお、端子板23、24、25の各下端の導線接続
部23b、24c、25cにはそれぞれ、対応した電流導線17
の17b、17c、17aが接続される。On the bottom surface of the case 41, each terminal plate 23, 24, 25
Is provided with a through hole 40 (see FIG. 5) through which the lower part of each of the terminal plates 23, 24, 25 is provided.
24b and 25b are fitted or abutted in the through holes,
Each terminal plate 23, 24, 25 is fixed to the case 41.
In this way, the lid 22 is put on after fixing the terminal plates 23, 24, 25. It should be noted that the corresponding current conductors 17 are connected to the conductor connecting portions 23b, 24c, 25c at the lower ends of the terminal plates 23, 24, 25, respectively.
17b, 17c and 17a are connected.
【0062】図5(a)はこのようにして組み立てられ
たポジスタ10の断面図であり、(b)は(a)のb−b
線断面図である。FIG. 5A is a sectional view of the posistor 10 assembled in this way, and FIG. 5B is a sectional view taken along the line bb of FIG.
It is a line sectional view.
【0063】ポジスタ10の中にセットされるPTC素子
26は図10の斜視図に明示するような形状をなし、その絶
縁性本体29はチタン酸バリウム等のセラミックスで円盤
状に形成され、両面にはニッケル下地膜を介して銀電極
27A、27Bが成膜されたものである。そして、これがポ
ジスタ10に組み込まれて、前述したようにテレビジョン
受像管の近傍に取り付けられ、図15に示した受像管の外
部に設けられる消磁用コイル43と図13に示すような回路
を構成している。PTC element set in the posistor 10
26 has a shape as clearly shown in the perspective view of FIG. 10, the insulating main body 29 is made of a ceramic such as barium titanate in a disk shape, and silver electrodes are provided on both sides with a nickel base film interposed therebetween.
27A and 27B are formed. Then, this is incorporated into the posistor 10, is mounted in the vicinity of the television picture tube as described above, and constitutes the degaussing coil 43 provided outside the picture tube shown in FIG. 15 and the circuit shown in FIG. doing.
【0064】即ち、図13において、破線で囲まれた部分
はポジスタ10であり、このポジスタ10の中に設けられて
いる2つのPTC素子のうち、一方のPTC素子26Aは
ヒータ用、他方のPTC素子26Bは消磁用であって、図
5に示したものに対応している。そして、ポジスタ10の
各端子の消磁回路内での接続位置は、図5及び図13にお
いて、、で示している。That is, in FIG. 13, a portion surrounded by a broken line is the posistor 10, and of the two PTC elements provided in the posistor 10, one PTC element 26A is for a heater and the other PTC element is a PTC element. Element 26B is for degaussing and corresponds to that shown in FIG. The connection position of each terminal of the posistor 10 in the degaussing circuit is indicated by in FIGS. 5 and 13.
【0065】これらのPTC素子26A、26Bはいずれ
も、大電流によりすぐにその動作温度以上に昇温する
が、消磁用として作用するPTC素子26Bの温度を保持
するために、他方のPTC素子26Aがヒータ用として、
図5及び図6に示したようにPTC素子26Bに対して言
わば背中合わせに設置されている。Each of these PTC elements 26A and 26B immediately rises to the operating temperature or higher due to a large current, but in order to maintain the temperature of the PTC element 26B which acts for degaussing, the other PTC element 26A For heater
As shown in FIGS. 5 and 6, the PTC elements 26B are installed back to back, so to speak.
【0066】図13において、電源44をオンすると、各P
TC素子26A、26B及び消磁用コイル43に大電流が流
れ、消磁用コイル43から既述したテレビジョン受像機の
画面上の色むらを消去するための磁界が発生し、これが
十分に生じた後、ポジスタの動作温度に昇温すると、P
TC素子26Bの抵抗が急激に増大し、もはや消磁用コイ
ル43には電流が流れなくなり、この消磁回路の動作が停
止する。In FIG. 13, when the power supply 44 is turned on, each P
After a large current flows through the TC elements 26A and 26B and the degaussing coil 43, a magnetic field is generated from the degaussing coil 43 to erase the color unevenness on the screen of the television receiver described above. , When the operating temperature of the posistor is raised, P
The resistance of the TC element 26B sharply increases, and the current no longer flows through the degaussing coil 43, so that the operation of this degaussing circuit is stopped.
【0067】このような目的で用いられるポジスタ10
は、端子板23、24、25の挿通孔40や各組み込み部品間の
隙間等によってケース41内に気密に封入することができ
ないため、ケース41内のPTC素子26A、26Bはポジス
タ10の外部から侵入した空気に含まれる水分からのOH
イオンにより、既述した電気化学的マイグレーションが
発生する。このマイグレーションは、PTC素子26A、
26Bの銀電極27A、27Bの周縁から銀イオンが絶縁耐29
の周面上に拡散することによるものであり、これが進行
すれば両電極間が短絡してしまう。The posistor 10 used for such a purpose
Cannot be hermetically sealed in the case 41 due to the insertion holes 40 of the terminal plates 23, 24, 25 and the gaps between the respective built-in parts, so that the PTC elements 26A, 26B in the case 41 can be removed from the outside of the posistor 10. OH from water contained in invading air
The ions cause the above-described electrochemical migration. This migration is caused by the PTC element 26A,
Insulation resistance of silver ions from the periphery of the silver electrodes 27A and 27B of 26B 29
This is due to diffusion on the peripheral surface of the electrode, and if this progresses, a short circuit will occur between both electrodes.
【0068】従って、本実施例では、長期間経過後にテ
レビジョン受像機において上記した現象によってポジス
タ10のPTC素子に発生する銀のマイグレーションを人
為的に生ぜしめている。即ち、長期間経過した状態と等
価となるように、密閉した容器の中で様々な極めて苛酷
な状況を作ることにより、ポジスタ内のPTC素子に短
時間で確実にマイグレーションを生ぜしめ、強制的に加
速試験を行えるようにしている。Therefore, in the present embodiment, the migration of silver generated in the PTC element of the posistor 10 is artificially caused by the above-mentioned phenomenon in the television receiver after a long time has passed. That is, by creating various extremely harsh conditions in a sealed container so as to be equivalent to a state where a long time has passed, the PTC element in the posistor is surely caused to migrate in a short time, and is forced. Accelerated testing is possible.
【0069】本実施例によれば、ポジスタ10を支持した
容器21又は31内において高温、高湿度で気密な蒸気雰囲
気にポジスタ10を曝すことができ、これによって、ポジ
スタ10の動作温度以上又は 140℃以上の高温下、40%〜
飽和蒸気圧の温度条件下でPTC素子の表面にOHイオ
ンを容易に付着せしめ、連続して結露を生じさせること
が可能となる。According to the present embodiment, the posistor 10 can be exposed to the vapor atmosphere which is high in temperature, high humidity and airtight in the container 21 or 31 supporting the posistor 10, whereby the operating temperature of the posistor 10 or higher or 140 40% ~ under high temperature above ℃
Under the temperature condition of saturated vapor pressure, OH ions can be easily attached to the surface of the PTC element, and dew condensation can be continuously generated.
【0070】また、設定条件に合わせて、温度や湿度を
任意に変更できるため、マイグレーション再現への加速
係数をコントロールすることができる。Since the temperature and the humidity can be arbitrarily changed according to the set conditions, the acceleration coefficient for reproducing the migration can be controlled.
【0071】更に、このマイグレーション再現試験は、
オートクレーブとして構成された密閉容器内で行われる
ので、不安定要因はなく、再現性良く試験を行え、しか
も、ポジスタの信頼性評価(マイグレーションの有無)
を短時間で確認できることになる。試験に要する時間は
1分以上であればよい。Furthermore, this migration reproduction test
Since it is carried out in an airtight container configured as an autoclave, there are no instability factors, tests can be performed with good reproducibility, and the reliability of the posistor can be evaluated (whether or not migration has occurred).
Can be confirmed in a short time. The time required for the test may be 1 minute or more.
【0072】次に、上記した本実施例によるマイグレー
ション再現試験装置を用いて実施したマイグレーション
再現の試験例を説明する。Next, a test example of migration reproduction performed by using the migration reproduction test apparatus according to the present embodiment described above will be described.
【0073】<試験例1>図10のPTCサーミスタ26を
2個(消磁用26B、ヒータ用26A)を用いて、図5のよ
うに構成したポジスタ10を図3に示した試験装置31のス
テンレス製の耐圧力密閉容器1内にセットした。容器本
体2には適量の水を入れ、ヒータ11により加熱してポジ
スタ10近傍の温度(密閉空間の内温)を 155℃に設定
し、この温度で、ポジスタに電流導入端子9を介して定
格仕様の電圧で6時間の印加通電を行った。<Test Example 1> Two PTC thermistors 26 (26B for demagnetization, 26A for heaters) of FIG. 10 were used to construct the posistor 10 as shown in FIG. It was set in a pressure resistant airtight container 1. Put a proper amount of water in the container body 2 and heat it by the heater 11 to set the temperature in the vicinity of the posistor 10 (internal temperature of the closed space) to 155 ° C. At this temperature, the posistor is rated via the current introducing terminal 9. The applied voltage was applied for 6 hours at the specified voltage.
【0074】試験後、装置31からポジスタ10を取り出
し、そのケース41を開けてPTCサーミスタ26を取り出
し、そしてPTCサーミスタ26の側面を光学顕微鏡、走
査型電子顕微鏡及びエネルギー分散型X線分光装置によ
り、PTCサーミスタ26の銀電極からの電極材Agのマ
イグレーションの有無を調べた。After the test, the posistor 10 is taken out from the device 31, the case 41 is opened, the PTC thermistor 26 is taken out, and the side surface of the PTC thermistor 26 is taken by an optical microscope, a scanning electron microscope and an energy dispersive X-ray spectroscope. The presence or absence of migration of the electrode material Ag from the silver electrode of the PTC thermistor 26 was examined.
【0075】その結果、図7に示すように、PTC素子
26にAgマイグレーション37の成長分布が確認され、ま
た、この部分は定性分析により銀であることが確認され
た。更に、Agマイグレーション37は、図示のように両
側の電極27A、27Bから本体29の側面に成長しており、
図9に示す一般不良品での発生モードとほぼ一致してい
た(但し、ニッケル下地膜は図示省略)。As a result, as shown in FIG.
The growth distribution of Ag migration 37 was confirmed in 26, and this portion was confirmed to be silver by qualitative analysis. Furthermore, the Ag migration 37 has grown from the electrodes 27A and 27B on both sides to the side surface of the main body 29 as shown in the figure,
It almost coincided with the generation mode in the general defective product shown in FIG. 9 (however, the nickel underlayer film is not shown).
【0076】<試験例2>ポジスタ10近傍の温度を 191
℃に設定した以外は上記の試験例1と同様に試験を行
い、同様にしてAgマイグレーションの有無を調べた。<Test Example 2> The temperature near the posistor 10 was set to 191
The same test as in Test Example 1 was conducted except that the temperature was set to 0 ° C., and the presence or absence of Ag migration was examined in the same manner.
【0077】その結果、図8に示すように、PTC素子
26にマイグレーション37の成長分布が確認され、また、
この部分は定性分析で銀であることが確認された。更
に、試験例1の場合と同じく、両側の電極27A、27Bか
ら本体29の側面にかけてAgマイグレーション37が成長
しており、図9に示す一般不良品発生モードとほぼ一致
していた。As a result, as shown in FIG.
Migration distribution to 26 confirmed the growth distribution of 37,
Qualitative analysis confirmed that this part was silver. Further, as in the case of Test Example 1, Ag migration 37 grew from the electrodes 27A, 27B on both sides to the side surface of the main body 29, which almost coincided with the general defective product generation mode shown in FIG.
【0078】<試験例3>ポジスタ10近傍の温度をポジ
スタ10の動作点温度〜250 ℃の範囲で10℃毎に試験を行
った。また、これらの各温度での通電印加時間を各々10
分、30分、1時間、2時間、4時間、6時間、10時間と
した。更に、装置31内の水の量を変えて、湿度が飽和水
蒸気圧から60%の範囲で10%毎に試験を行った。その他
の条件は総て、試験例1と同様とした。<Test Example 3> The temperature in the vicinity of the posistor 10 was tested every 10 ° C within the range of the operating point temperature of the posistor 10 to 250 ° C. Also, the energizing application time at each of these temperatures is 10
Minutes, 30 minutes, 1 hour, 2 hours, 4 hours, 6 hours, and 10 hours. Further, the amount of water in the device 31 was changed, and the test was conducted every 10% in the humidity range of 60% from the saturated steam pressure. All other conditions were the same as in Test Example 1.
【0079】その結果、総ての温度、時間、湿度の条件
で、試験実施後に銀のAgマイグレーションが確認され
た。また、この場合、両電極27A、27Bから本体29の側
面へのAgマイグレーションの量が、温度、湿度、時間
に依存して増加することが確認された。As a result, Ag migration of silver was confirmed after the test under all temperature, time and humidity conditions. Further, in this case, it was confirmed that the amount of Ag migration from both electrodes 27A and 27B to the side surface of the main body 29 increased depending on temperature, humidity and time.
【0080】<試験例4>図2に示す試験装置21を用い
て、複数個のポジスタ10をステンレス製の耐圧力密閉容
器1内にセットし、容器本体2に適量の水を入れ、ポジ
スタ10近傍の温度を 160℃に設定した以外は上記試験例
1と同様にして、複数個のポジスタ10に対し同時に6時
間の加熱試験を行い、Agマイグレーション発生の有無
を調べた。<Test Example 4> Using the test apparatus 21 shown in FIG. 2, a plurality of posistors 10 are set in a pressure-resistant closed container 1 made of stainless steel, and an appropriate amount of water is put into the container body 2 to make the posistor 10 In the same manner as in Test Example 1 except that the temperature in the vicinity was set to 160 ° C., a plurality of posistors 10 were simultaneously subjected to a heating test for 6 hours to examine whether Ag migration occurred.
【0081】その結果、上記試験例1の場合とほぼ同様
なAgマイグレーションの成長分布が確認され、また、
この部分は定性分析で銀であることが確認され、Agマ
イグレーションの成長状況も図9の一般不良品発生モー
ドと一致した。As a result, almost the same growth distribution of Ag migration was confirmed as in the case of Test Example 1 above.
This portion was confirmed to be silver by qualitative analysis, and the growth status of Ag migration was also in agreement with the general defective product generation mode in FIG.
【0082】<試験例5>この例では、図11に示すPT
C素子30を用いた以外は上記試験例1と同様の手順で試
験を行った。このPTC素子30は、Agマイグレーショ
ンを押さえる目的で開発されたものであり、図10のPT
C素子26と同様のセラミックス製の本体29の両面に設け
たニッケル下地膜28A、28Bを本体周縁部でリング状に
露出させ、このリング状の周縁部の内側に銀電極27A、
27Bがそれぞれ形成されている。従って、両面の銀電極
27A−27B間の沿面距離は、図10のものに比べて長くな
っており、Agマイグレーションが生じ難い構造となっ
ている。なお、ニッケル下地膜28A、28Bは無電解メッ
キで、銀電極27A、27Bは電気メッキで形成されている
が、これは図10の素子でも同様である。<Test Example 5> In this example, the PT shown in FIG.
A test was conducted in the same procedure as in Test Example 1 except that the C element 30 was used. This PTC element 30 was developed for the purpose of suppressing Ag migration.
The nickel underlayer films 28A and 28B provided on both sides of a ceramic body 29 similar to the C element 26 are exposed in a ring shape at the peripheral edge of the main body, and a silver electrode 27A is provided inside the ring-shaped peripheral edge.
27B are formed respectively. Therefore, silver electrodes on both sides
The creepage distance between 27A and 27B is longer than that in FIG. 10, and the structure is such that Ag migration does not easily occur. Although the nickel base films 28A and 28B are formed by electroless plating and the silver electrodes 27A and 27B are formed by electroplating, the same applies to the element of FIG.
【0083】試験後、上記試験例1と同様にして、銀電
極27A、27BからのAgマイグレーション発生の有無を
調べた結果、上記した各試験例1〜4の結果に比べて、
Agマイグレーションは極僅かではあるが生じていた。
これは、光学顕微鏡では判別し難く、走査型電子顕微鏡
及びエネルギー分散型X線分光装置により観察できる程
度の僅かの量であった。このことは、図11の素子30は優
れた耐マイグレーション性を有していることを意味して
いるが、Agマイグレーションは全く生じないことが望
まれる。After the test, the presence or absence of Ag migration from the silver electrodes 27A and 27B was examined in the same manner as in Test Example 1 above. As a result, as compared with the results of Test Examples 1 to 4 above,
Ag migration occurred although it was very slight.
This was a very small amount that was difficult to discriminate with an optical microscope and could be observed with a scanning electron microscope and an energy dispersive X-ray spectrometer. This means that the element 30 of FIG. 11 has excellent migration resistance, but it is desired that Ag migration does not occur at all.
【0084】このように、上記した各試験例で明らかな
如く、従来の試験方法では、PTC素子に結露させよう
としても瞬時に乾燥してしまい、人為的にマイグレーシ
ョンを再現させることは不可能であったが、本実施例の
方法及び装置によれば、安定して確実に結露を生ぜしめ
てこの結露状態を持続させ、短時間でマイグレーション
を容易に再現させ得る試験が可能となる。As described above, as is apparent from each of the above-mentioned test examples, in the conventional test method, even if dew condensation is caused on the PTC element, it is instantly dried, and it is impossible to artificially reproduce the migration. However, according to the method and apparatus of the present embodiment, it is possible to perform a test in which dew condensation is stably and surely generated, the dew condensation state is maintained, and migration can be easily reproduced in a short time.
【0085】本実施例によれば、テレビジョンの受像管
の近傍に取付けられるポジスタにおいて、通常の使用状
態では数年以上かかって生じるAgマイグレーション
を、短時間で人為的に再現することができる方法及び装
置によって、マイグレーション防止対策部品の有効性や
耐マイグレーション性を即座に確認することが可能にな
る。従って、更に完全なPTC素子の開発への展望が開
かれ、製品の信頼性向上に寄与することができるもので
ある。According to this embodiment, in a posistor mounted in the vicinity of a picture tube of a television, Ag migration, which takes several years or more under normal use, can be artificially reproduced in a short time. The device and the device make it possible to immediately confirm the effectiveness and migration resistance of the migration prevention component. Therefore, the prospect for the development of a more complete PTC element is opened, and it can contribute to the improvement of the reliability of the product.
【0086】以上、本発明の実施例を説明したが、上述
した実施例は本発明の技術的思想に基づいて様々な変形
が可能である。Although the embodiments of the present invention have been described above, the above-mentioned embodiments can be variously modified based on the technical idea of the present invention.
【0087】例えば、上述した密閉容器、ポジスタ、P
TCサーミスタ等の構造及び形状、材質等は他の任意な
ものにすることができる。密閉容器については特にその
密閉構造は種々採用できる。ポジスタを構成するPTC
サーミスタのうち、ヒータ用のもの(上述した27A)は
必ずしも用いなくてもよい。For example, the above-mentioned closed container, posistor, P
The structure, shape, material, etc. of the TC thermistor or the like can be any other desired one. Regarding the closed container, various closed structures can be adopted. PTC that constitutes a posistor
Of the thermistors, the one for the heater (27A described above) does not necessarily have to be used.
【0088】また、ポジスタの保持方法や電流導入の方
法も上述した実施例以外の様々な方法を採り得る。加熱
用のヒータは、密閉容器と一体化してよく、或いは密閉
容器の壁部に埋設してもよい。水蒸気の供給又は発生方
法も容器内における加熱式ではなく、例えば容器の外部
で水を加熱して発生させた水蒸気を容器内へ供給する方
式も可能である。Also, various methods other than the above-mentioned embodiments can be adopted as the method of holding the posistor and the method of introducing the current. The heater for heating may be integrated with the closed container or may be embedded in the wall of the closed container. The method of supplying or generating water vapor is not limited to the heating method inside the container, but a method of supplying water vapor generated by heating water outside the container into the container is also possible.
【0089】また、PTCサーミスタを容したポジスタ
を上述したように試験に供する以外にも、PTCサーミ
スタ自体を上述したと同様に密閉容器内に支持し、マイ
グレーション試験を行うこともできる。Further, in addition to using the posistor containing the PTC thermistor for the test as described above, it is also possible to carry out the migration test by supporting the PTC thermistor itself in the closed container as described above.
【0090】更に、上述した実施例はポジスタ内のPT
C素子のマイグレーション再現試験に関するものである
が、これ以外にも、例えば、半導体装置の配線間の短絡
等の原因となるマイグレーションの再現試験にも本発明
は適用可能である。Further, in the above-described embodiment, the PT in the posistor is used.
Although it relates to a migration reproduction test of the C element, the present invention is also applicable to a reproduction reproduction test of a migration that causes a short circuit between wirings of a semiconductor device, for example.
【0091】[0091]
【発明の作用効果】本発明は、上述した如く、密閉可能
な容器内において、被試験物を支持し、この被試験物に
対して結露を生ぜしめて、この結露によって被試験物に
マイグレーションを発生させるようにしているので、密
閉容器内で安定かつ確実に結露を生ぜしめてこの結露状
態を安定に持続させ、再現性良くマイグレーションの加
速試験を短時間にして信頼性良く行え、製品の特性評価
を確実に行い、かつ高品質な製品開発に寄与することが
できる。As described above, according to the present invention, an object to be tested is supported in a container that can be sealed, and dew condensation is caused on the object to be tested, and the dew condensation causes migration to the object to be tested. Therefore, it is possible to generate stable and reliable dew condensation in a closed container to maintain this dew condensation state in a stable manner, and to perform an accelerated migration migration test with good reproducibility in a short time and with reliability. It is possible to surely contribute to the development of high quality products.
【図1】本発明の実施例によるマイグレーション再現試
験装置の密閉容器を示す断面図である。FIG. 1 is a cross-sectional view showing a closed container of a migration reproduction test apparatus according to an embodiment of the present invention.
【図2】同マイグレーション再現装置を示す断面図であ
る。FIG. 2 is a sectional view showing the migration reproducing apparatus.
【図3】本発明の他の実施例によるマイグレーション再
現試験装置を示す断面図である。FIG. 3 is a sectional view showing a migration reproduction test apparatus according to another embodiment of the present invention.
【図4】本発明の各実施例によるマイグレーション再現
試験装置に用いる電流導入端子の半断面斜視図である。FIG. 4 is a half cross-sectional perspective view of a current introducing terminal used in the migration reproduction test apparatus according to each example of the present invention.
【図5】(a)は同マイグレーション再現試験に供され
るポジスタを示す断面図、(b)は(a)のb−b線断
面図である。5A is a sectional view showing a posistor used in the migration reproduction test, and FIG. 5B is a sectional view taken along line bb of FIG.
【図6】同ポジスタの分解斜視図である。FIG. 6 is an exploded perspective view of the same posistor.
【図7】同実施例によるAgマイグレーション再現試験
後のPTC素子の側面の拡大図である。FIG. 7 is an enlarged side view of the PTC element after the Ag migration reproduction test according to the example.
【図8】同実施例による他のAgマイグレーション再現
試験後のPTC素子の側面の拡大図である。FIG. 8 is an enlarged side view of the PTC element after another Ag migration reproduction test according to the example.
【図9】AgマイグレーションによるPTC素子の一般
不良品の側面の拡大図である。FIG. 9 is an enlarged side view of a general defective product of a PTC element due to Ag migration.
【図10】従来例によるPTC素子の斜視図である。FIG. 10 is a perspective view of a PTC element according to a conventional example.
【図11】同他のPTC素子の斜視図である。FIG. 11 is a perspective view of another PTC element.
【図12】PTC素子の抵抗の温度特性を通常のサーミス
タと比較して示すグラフである。FIG. 12 is a graph showing a temperature characteristic of resistance of a PTC element in comparison with a normal thermistor.
【図13】PTC素子を用いたポジスタを接続した消磁回
路の等価回路図である。FIG. 13 is an equivalent circuit diagram of a degaussing circuit in which a posistor using a PTC element is connected.
【図14】テレビジョン受像管の画面の色むらと消磁電流
を説明するための概略図である。[Fig. 14] Fig. 14 is a schematic diagram for explaining the color unevenness and the degaussing current of the screen of the television picture tube.
【図15】テレビジョン受像管に設けられる消磁用コイル
の配置を示す同受像管の概略背面図である。[Fig. 15] Fig. 15 is a schematic rear view of the picture tube showing the arrangement of degaussing coils provided in the picture tube.
1・・・密閉容器 2・・・容器本体 3・・・蓋 4・・・パッキン 7、14・・・熱電対 7a、7b、14a、14b・・・リード線 8・・・圧力計 8a・・・導管 9・・・電流導入端子 10・・・ポジスタ 11・・・ヒータ 12・・・ヒータ線 15a、15b・・・ねじ部 15c・・・歯止め 16・・・袋ナット 16a・・・ねじ部 17・・・電流導線 18・・・圧接管 19・・・絶縁性粉体 20・・・絶縁材 21、31・・・マイグレーション再現試験装置 23、24、25・・・端子板 23a、24b、25b・・・弾性片 23b、24c、25c・・・接続部 24a、25a・・・弾性コンタクト部 26、26A、26B、30・・・PTC素子 27A、27B・・・銀電極 28A、28B・・・ニッケル下地膜 29・・・絶縁性本体 37・・・Agマイグレーション 38・・・PTCサーミスタ特性曲線 39・・・サーミスタ特性曲線 40・・・水 42・・・テレビジョン受像管(陰極線管) 43・・・消磁用コイル(デガウスコイル) 44・・・電源 45a・・・画面 46A、46B・・・色むら 1 ... Airtight container 2 ... Container body 3 ... Lid 4 ... Packing 7, 14 ... Thermocouple 7a, 7b, 14a, 14b ... Lead wire 8 ... Pressure gauge 8a. ..Conduit 9 ... Current introducing terminal 10 ... Positor 11 ... Heater 12 ... Heater wire 15a, 15b ... Screw 15c ... Pawl 16 ... Cap nut 16a ... Screw Part 17 ... Current conductor 18 ... Pressure contact tube 19 ... Insulating powder 20 ... Insulating material 21, 31 ... Migration reproduction tester 23, 24, 25 ... Terminal board 23a, 24b , 25b ... Elastic pieces 23b, 24c, 25c ... Connection portions 24a, 25a ... Elastic contact portions 26, 26A, 26B, 30 ... PTC elements 27A, 27B ... Silver electrodes 28A, 28B. ..Nickel base film 29 ... Insulating body 37 ... Ag migration 38 ... PTC thermistor characteristic curve 39 ... Thermistor characteristics Curve 40 ... water 42 ... television picture tube (CRT) 43 ... degaussing coil (degaussing coil) 44 ... Power 45a ... screen 46A, 46B ... color unevenness
Claims (13)
支持し、前記被試験物に対して結露を生ぜしめ、この結
露によって前記被試験物にマイグレーションを発生させ
る、マイグレーション再現試験方法。1. A migration reproduction test method in which an object to be tested is supported in an airtight container to cause condensation on the object to be tested, and the condensation causes migration to occur on the object to be tested.
支持すると共に、加熱によって前記高温圧力容器内の水
を蒸発させ、この水蒸気を前記被試験物に結露させ、前
記水蒸気が前記高温圧力容器外に漏出しないように前記
高温圧力容器に密閉手段を設ける、請求項1に記載した
方法。2. The device under test is supported in a high temperature pressure vessel so that it can be energized, and the water in the high temperature pressure container is evaporated by heating to cause the water vapor to condense on the device under test. The method according to claim 1, wherein the high temperature pressure vessel is provided with a sealing means so as not to leak out of the pressure vessel.
度、所定の蒸気圧で所定の時間試験する、請求項1に記
載した方法。3. The method according to claim 1, wherein the DUT is supported in a container and tested at a predetermined temperature and a predetermined vapor pressure for a predetermined time.
ルギーとの少なくとも一方を変化させる、請求項3に記
載した方法。4. The method according to claim 3, wherein at least one of the amount of water and the heating energy with respect to the inner volume of the container is changed.
温度以上とし、前記容器内の湿度を40%〜飽和蒸気圧と
し、試験時間を1分以上とする、請求項3に記載した方
法。5. The method according to claim 3, wherein the inner temperature of the container is set to be equal to or higher than the operating temperature when the test object is actually used, the humidity in the container is set to 40% to saturated vapor pressure, and the test time is set to 1 minute or longer. The method described.
項1に記載した方法。6. The method according to claim 1, wherein a posistor is used as the DUT.
を試験する、請求項6に記載した方法。7. The method according to claim 6, wherein a posistor used in a degaussing circuit of a cathode ray tube is tested.
物を支持する支持手段と、前記被試験物に対して結露を
生ぜしめる結露付与手段とが設けられ、前記被試験物に
マイグレーションを発生させるように構成した、マイグ
レーション再現試験装置。8. A container which can be sealed, a support means for supporting an object to be tested in the container, and a means for imparting dew condensation to the object to be tested are provided, and migration to the object to be tested. A migration reproduction test device configured to generate
容器に、 前記被試験物を通電可能に支持する支持手段と、 前記高温圧力容器を加熱する加熱手段と、 前記高温圧力容器内の水を蒸発させ、この水蒸気を前記
被試験物に結露させる水蒸気発生手段と、 前記水蒸気を前記高温圧力容器外へ漏出させないための
密閉手段とが設けられている、請求項8に記載した装
置。9. A hermetically sealed high-temperature pressure container containing a device under test, supporting means for supporting the device under test in an electrically conductive manner, heating means for heating the high-temperature pressure container, and The apparatus according to claim 8, further comprising: a steam generating unit that evaporates water and causes the steam to condense on the DUT; and a sealing unit that prevents the steam from leaking out of the high temperature pressure vessel.
と、前記容器内の圧力を検出する圧力検出手段とが設け
られている、請求項9に記載した装置。10. The apparatus according to claim 9, further comprising temperature detecting means for detecting a temperature inside the container and pressure detecting means for detecting a pressure inside the container.
定された電流導入端子本体を有し、この電流導入端子本
体内に圧入された絶縁性粉体により、電流導線を気密に
支持するように構成されている、請求項9に記載した装
置。11. The means for supporting an object to be tested has a current introducing terminal body screwed and fixed to a container, and an insulating powder press-fit into the current introducing terminal body so as to support the current conducting wire in an airtight manner. The device of claim 9, wherein the device is configured to.
される、請求項8に記載した装置。12. The apparatus according to claim 8, wherein a posistor as a device under test is supported in the container.
の電極間のマイグレーションを再現試験する、請求項12
に記載した装置。13. The reproduction test of migration between electrodes of a posistor used in a degaussing circuit of a cathode ray tube.
The device described in 1.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP32401595A JPH09145765A (en) | 1995-11-17 | 1995-11-17 | Method and device for reproducing and testing migration |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP32401595A JPH09145765A (en) | 1995-11-17 | 1995-11-17 | Method and device for reproducing and testing migration |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH09145765A true JPH09145765A (en) | 1997-06-06 |
Family
ID=18161193
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP32401595A Pending JPH09145765A (en) | 1995-11-17 | 1995-11-17 | Method and device for reproducing and testing migration |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH09145765A (en) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN109188139A (en) * | 2018-09-14 | 2019-01-11 | 安徽苏立科技股份有限公司 | A kind of heating tube dry combustion method Quench experiment test equipment |
CN109188141A (en) * | 2018-09-14 | 2019-01-11 | 安徽苏立科技股份有限公司 | A kind of heating tube Multi-function experimental test equipment |
-
1995
- 1995-11-17 JP JP32401595A patent/JPH09145765A/en active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN109188139A (en) * | 2018-09-14 | 2019-01-11 | 安徽苏立科技股份有限公司 | A kind of heating tube dry combustion method Quench experiment test equipment |
CN109188141A (en) * | 2018-09-14 | 2019-01-11 | 安徽苏立科技股份有限公司 | A kind of heating tube Multi-function experimental test equipment |
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