JPH09130999A - Semiconductor integrated circuit device and sound powered rfid using this device - Google Patents

Semiconductor integrated circuit device and sound powered rfid using this device

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Publication number
JPH09130999A
JPH09130999A JP7306445A JP30644595A JPH09130999A JP H09130999 A JPH09130999 A JP H09130999A JP 7306445 A JP7306445 A JP 7306445A JP 30644595 A JP30644595 A JP 30644595A JP H09130999 A JPH09130999 A JP H09130999A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
voltage
cpu
rectifying
rfid
power supply
Prior art date
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Pending
Application number
JP7306445A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Kikuzo Sawada
喜久三 澤田
Hidekazu Ishii
英一 石井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nippon Steel Corp
Original Assignee
Nippon Steel Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Steel Corp filed Critical Nippon Steel Corp
Priority to JP7306445A priority Critical patent/JPH09130999A/en
Publication of JPH09130999A publication Critical patent/JPH09130999A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a sound powered RFID which can prevent the supply of overpower when a communication distance with a host station becomes shorter and also can prevent a malfunction when the supplied power decreases because of an extended communication distance. SOLUTION: A voltage regulator 2 is provided for regulating a DC voltage generated by a voltage commutation circuit 1 so as not to make it exceed a given value. This can prevent a DC voltage used as an internal supply voltage from building up more than required even if a high AC voltage is generated because of the electromagnetic induction caused by a shortened communication distance. Also, a reset circuit 3 is provided for resetting CPUs and EEPROMs when the DC voltage above decreases below the given level. This makes it possible for the CPUs and EEPROMs to stop operating in the case where there is a risk that an extended communication distance causes the internal supply voltage to drop to a level at which the CPUs and EEPROMs cannot operate properly.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、半導体集積回路装
置およびこれを用いた無電池方式のRFID(Radio Fr
equency Indentification )に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a semiconductor integrated circuit device and a battery-less RFID (Radio Fr.
equency Indentification).

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、IC(集積回路)を内蔵したIC
カードが様々な分野で利用されつつある。従来のICカ
ードは、EEPROM(電気的に消去可能なプログラマ
ブルROM)を内蔵しており、上記EEPROMにデー
タを記憶したり、このEEPROMに記憶されているデ
ータを用いて所定の命令を実行したりするようになされ
ていた。
2. Description of the Related Art In recent years, ICs incorporating ICs (integrated circuits)
Cards are being used in various fields. The conventional IC card has a built-in EEPROM (electrically erasable programmable ROM), stores data in the EEPROM, and executes a predetermined command using the data stored in the EEPROM. It was designed to do.

【0003】しかし、このようなICカードを使用する
場合は、カードリーダなどの専用の読み取り装置にIC
カードを挿入しなくてはならないため、非常に面倒であ
った。そこで、最近では、無線周波数帯の電波を使って
ホスト側とデータをやり取りすることにより、カードを
一々挿入することなく簡便に操作できるようにした非接
触方式のICカード、すなわち、RFID(Radio Freq
uency Indentification )あるいはデータキャリアが提
案されるに至っている。
However, when such an IC card is used, the IC is loaded in a dedicated reading device such as a card reader.
It was very troublesome because I had to insert the card. Therefore, recently, by exchanging data with the host side using radio waves in the radio frequency band, a non-contact type IC card that can be easily operated without inserting the card one by one, that is, an RFID (Radio Freq
uency Indentification) or data carriers have been proposed.

【0004】ところで、上記RFIDを動作させるため
には、その内蔵ICに電力を供給することが必要であ
る。そのため、従来は、IC駆動用の電池を内蔵したR
FIDが多く提案されていた。一方、近年ではホスト側
から送られてくる電波を利用して内部で電力をつくり出
すことができるようにした無電池方式のRFIDも提案
されている。
In order to operate the RFID, it is necessary to supply power to its built-in IC. Therefore, in the past, an R that has a built-in IC drive battery has been used.
Many FIDs have been proposed. On the other hand, in recent years, a batteryless RFID has also been proposed in which electric power can be internally generated by using electric waves sent from the host side.

【0005】すなわち、このような無電池方式のRFI
Dでは、ホスト側から送られてくる電波から電磁誘導に
より交流電圧を発生させ、それを直流電圧に整流するこ
とにより、IC駆動に必要な電力を内部でつくり出すこ
とができるようになされていた。
That is, such a batteryless RFI
In D, an AC voltage is generated by electromagnetic induction from a radio wave sent from the host side and is rectified into a DC voltage, so that the electric power required for driving the IC can be internally generated.

【0006】従来、このような無電池方式のRFID
は、種々のデータを記憶するためのEEPROMと、上
記EEPROMに記憶されているデータに従って動作す
るロジック回路と、電波を使ってホスト側とデータのや
り取りを行うためのRF部と、ホスト側から送られてく
る電波を用いて電力をつくり出すパワー部とを備えるの
が一般的であった。
[0006] Conventionally, such a batteryless RFID
Is an EEPROM for storing various data, a logic circuit that operates in accordance with the data stored in the EEPROM, an RF unit for exchanging data with the host side using radio waves, and a signal sent from the host side. It was generally provided with a power unit that generates electric power using the received radio waves.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】上記従来の無電池方式
のRFIDでは、電磁誘導による起電力の大きさは、ホ
ストとRFIDとの距離(通信距離)の2乗に比例して
変化するようになっていた。このため、通信距離が短く
なり過ぎると、ICに過大な電力が供給されてしまい、
ICに必要以上に大きな負担をかけてしまうという問題
があった。
In the conventional batteryless RFID, the magnitude of electromotive force due to electromagnetic induction changes in proportion to the square of the distance (communication distance) between the host and the RFID. Was becoming. For this reason, if the communication distance becomes too short, excessive power will be supplied to the IC,
There has been a problem that the IC is burdened more than necessary.

【0008】一方、通信距離が離れると、ICに供給さ
れる電力は小さくなり、上記ICは電力不足で動作しな
いようになる。この場合、従来のRFIDは、電力不足
で動作しなくなる限界までICが動作し続けるようにな
っていた。しかしながら、これでは、ICが正常に動作
するために必要な電力が十分に得られないにもかかわら
ずICが動作し続けることとなり、誤動作を起こしてし
まうことがあるという問題があった。
On the other hand, as the communication distance increases, the power supplied to the IC decreases, and the IC does not operate due to insufficient power. In this case, the conventional RFID has been designed so that the IC continues to operate up to the limit at which it cannot operate due to power shortage. However, this has a problem that the IC continues to operate even though the power required for the IC to operate normally is not sufficiently obtained, which may cause a malfunction.

【0009】本発明は、このような問題を解決するため
に成されたものであり、ホストとの通信距離が短くなっ
たときに過大な電力が供給されないようにするととも
に、ホストとの通信距離が長くなって供給される電力が
少なくなったときに誤動作しないようにすることを目的
とする。
The present invention has been made to solve such a problem, and prevents an excessive power from being supplied when the communication distance with the host becomes short, and the communication distance with the host. The purpose is to prevent malfunctions when the power supply becomes low due to a long time.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】本発明の半導体集積回路
装置は、外部より送信される電波から電磁誘導により発
生されて供給された交流信号を整流して直流の内部電源
電圧をつくり出す電圧整流手段を内蔵する半導体集積回
路装置であって、上記電圧整流手段により得られる直流
電圧の大きさが所定値よりも大きくならないように制御
する電圧制御手段を備えたことを特徴としている。
The semiconductor integrated circuit device of the present invention is a voltage rectifying means for rectifying an AC signal generated from electromagnetic waves transmitted from the outside by electromagnetic induction and supplied to generate a DC internal power supply voltage. A semiconductor integrated circuit device having a built-in circuit is provided with voltage control means for controlling the magnitude of the DC voltage obtained by the voltage rectification means so as not to exceed a predetermined value.

【0011】本発明の他の特徴とするところは、データ
を記憶するための記憶手段と、上記記憶手段の記憶内容
に従って動作するCPUと、外部より送信される電波か
ら電磁誘導により発生されて供給された交流信号を整流
して直流の内部電源電圧をつくり出す電圧整流手段とを
内蔵する半導体集積回路装置であって、上記電圧整流手
段により得られる直流電圧が所定レベル以下のときに、
上記CPUおよび上記記憶手段をリセット状態にするリ
セット手段を備えたことを特徴としている。
Another feature of the present invention is that storage means for storing data, a CPU that operates in accordance with the storage contents of the storage means, and electromagnetic waves generated from an externally transmitted electromagnetic wave are supplied. A semiconductor integrated circuit device having a voltage rectifying means for rectifying the generated AC signal to generate a DC internal power supply voltage, wherein the DC voltage obtained by the voltage rectifying means is below a predetermined level,
It is characterized in that a reset means for setting the CPU and the storage means in a reset state is provided.

【0012】また、本発明の無電池方式のRFIDは、
電波を使って外部との間でデータを送受信するととも
に、受信した電波から内部電源電圧をつくり出すように
なされた半導体集積回路装置を内蔵する無電池方式のR
FIDであって、上記RFIDの外部より送信される電
波から電磁誘導により交流電圧を発生する電圧発生手段
と、上記電圧発生手段により発生される交流電圧を直流
電圧に整流する電圧整流手段と、上記電圧整流手段によ
り得られる直流電圧の大きさが所定値よりも大きくなら
ないように制御する電圧制御手段とを備えることを特徴
としている。
The batteryless RFID of the present invention is
A battery-less R that has a built-in semiconductor integrated circuit device that is designed to transmit and receive data to and from the outside using radio waves and to generate an internal power supply voltage from the received radio waves.
FID, voltage generating means for generating an AC voltage from electromagnetic waves transmitted from outside the RFID by electromagnetic induction, voltage rectifying means for rectifying the AC voltage generated by the voltage generating means into a DC voltage, and And a voltage control means for controlling the magnitude of the DC voltage obtained by the voltage rectifying means so as not to exceed a predetermined value.

【0013】本発明の他の特徴とするところは、データ
を記憶するための記憶手段と、上記記憶手段の記憶内容
に従って動作するCPUと、上記CPUによる制御に従
って外部との間で電波によるデータの送受信を行うとと
もに、受信した電波から内部電源電圧をつくり出すパワ
ー/送受信手段とを備えた半導体集積回路装置を内蔵す
る無電池方式のRFIDであって、上記RFIDの外部
より送信される電波から電磁誘導により交流電圧を発生
する電圧発生手段と、上記電圧発生手段により発生され
る交流電圧を直流電圧に整流する電圧整流手段と、上記
電圧整流手段により得られる直流電圧が所定レベル以下
のときに、上記CPUおよび上記記憶手段をリセット状
態にするリセット手段とを備えることを特徴としてい
る。
Another feature of the present invention is that the storage means for storing the data, the CPU operating according to the storage contents of the storage means, and the outside of the data by radio waves under the control of the CPU. A batteryless RFID that has a built-in semiconductor integrated circuit device that performs power transmission / reception and that has a power / transmission / reception means that creates an internal power supply voltage from the received radio wave, the electromagnetic induction from the radio wave transmitted from the outside of the RFID. By means of a voltage generating means for generating an AC voltage, a voltage rectifying means for rectifying the AC voltage generated by the voltage generating means into a DC voltage, and the DC voltage obtained by the voltage rectifying means is below a predetermined level, It is characterized by comprising a CPU and a reset means for setting the storage means in a reset state.

【0014】本発明のその他の特徴とするところは、デ
ータを記憶するための記憶手段と、上記記憶手段の記憶
内容に従って動作するCPUと、上記CPUによる制御
に従って外部との間で電波によるデータの送受信を行う
とともに、受信した電波から内部電源電圧をつくり出す
パワー/送受信手段とを備えた半導体集積回路装置を内
蔵する無電池方式のRFIDであって、上記RFIDの
外部より送信される電波から電磁誘導により交流電圧を
発生する電圧発生手段と、上記電圧発生手段により発生
される交流電圧を直流電圧に整流する電圧整流手段と、
上記電圧整流手段により得られる直流電圧の大きさが所
定値よりも大きくならないように制御する電圧制御手段
と、上記電圧整流手段により得られる直流電圧が所定レ
ベル以下のときに、上記CPUおよび上記記憶手段をリ
セット状態するリセット手段とを備えることを特徴とし
ている。
Another feature of the present invention is that storage means for storing data, a CPU operating in accordance with the stored contents of the storage means, and data transmitted by radio waves between the outside under the control of the CPU. A batteryless RFID that has a built-in semiconductor integrated circuit device that performs power transmission / reception and that has a power / transmission / reception means that creates an internal power supply voltage from the received radio wave, the electromagnetic induction from the radio wave transmitted from the outside of the RFID. A voltage generating means for generating an AC voltage by the voltage generating means, a voltage rectifying means for rectifying the AC voltage generated by the voltage generating means into a DC voltage,
Voltage control means for controlling the magnitude of the DC voltage obtained by the voltage rectifying means so as not to exceed a predetermined value; and the CPU and the memory when the DC voltage obtained by the voltage rectifying means is below a predetermined level. Reset means for resetting the means.

【0015】本発明のその他の特徴とするところは、上
記リセット手段は、上記電圧整流手段により得られる直
流電圧が徐々に大きくなっていく場合に、上記直流電圧
が第1のしきい値よりも大きくなったときに上記CPU
および上記記憶手段のリセット状態を解除するととも
に、上記電圧整流手段により得られる直流電圧が徐々に
小さくなっていく場合に、上記直流電圧が第2のしきい
値よりも小さくなったときに上記記憶手段をリセット状
態にし、上記直流電圧が上記第2のしきい値よりも小さ
な第3のしきい値よりも小さくなったときに上記CPU
をリセット状態することを特徴としている。
Another feature of the present invention is that in the reset means, when the DC voltage obtained by the voltage rectifying means gradually increases, the DC voltage is higher than a first threshold value. The above CPU when it grows
And when the direct current voltage obtained by the voltage rectifying means gradually decreases while the reset state of the storage means is released, and when the direct current voltage becomes smaller than a second threshold value, the storage The CPU is reset when the means is in a reset state and the DC voltage becomes smaller than a third threshold value which is smaller than the second threshold value.
Is characterized by being reset.

【0016】本発明のその他の特徴とするところは、上
記第2のしきい値は、上記第1のしきい値よりも小さい
ことを特徴としている。
Another feature of the present invention is that the second threshold value is smaller than the first threshold value.

【0017】本発明のその他の特徴とするところは、電
波を使って外部との間でデータを送受信するとともに、
受信した電波から内部電源電圧をつくり出すようになさ
れた半導体集積回路装置を内蔵する無電池方式のRFI
Dであって、上記RFIDの外部より送信される電波か
ら電磁誘導により交流電圧を発生する電圧発生手段と、
上記電圧発生手段により発生される交流電圧を直流電圧
に整流する電圧整流手段と、上記電圧整流手段により得
られる直流電力を蓄電する蓄電手段と、上記電圧整流手
段により得られる直流電圧が所定レベルよりも小さくな
ったときに上記蓄電手段に蓄積されている直流電力を内
部電源電力として利用するように制御する制御手段とを
備えることを特徴としている。
Another feature of the present invention is that it uses radio waves to transmit and receive data to and from the outside, and
Battery-free RFI incorporating a semiconductor integrated circuit device designed to generate an internal power supply voltage from received radio waves
D, voltage generating means for generating an AC voltage by electromagnetic induction from a radio wave transmitted from the outside of the RFID,
The voltage rectifying means for rectifying the AC voltage generated by the voltage generating means into a DC voltage, the storage means for storing the DC power obtained by the voltage rectifying means, and the DC voltage obtained by the voltage rectifying means are higher than a predetermined level. And a control means for controlling the DC power stored in the power storage means to be used as the internal power supply when the power becomes small.

【0018】本発明は上記技術手段より成るので、半導
体集積回路装置の外部より送信される電波から電磁誘導
により発生されて供給された交流信号の電圧レベルが非
常に大きくなっても、内部電源電圧として使用する直流
電圧の大きさが必要以上に大きくならないように制御さ
れる。例えば、本発明の半導体集積回路装置を無電池方
式のRFIDに応用した場合には、RFIDと通信相手
装置との通信距離が短くなり、電磁誘導により発生する
交流電圧が非常に大きくなっても、内部電源電圧として
使用する直流電圧の大きさが必要以上に大きくならない
ように制御される。
Since the present invention comprises the above technical means, even if the voltage level of the AC signal generated and supplied by electromagnetic induction from the electric wave transmitted from the outside of the semiconductor integrated circuit device becomes very large, the internal power supply voltage is increased. The DC voltage used as is controlled so that it does not become larger than necessary. For example, when the semiconductor integrated circuit device of the present invention is applied to a battery-less RFID, the communication distance between the RFID and the communication partner device becomes short, and even if the AC voltage generated by electromagnetic induction becomes very large, The DC voltage used as the internal power supply voltage is controlled so as not to be higher than necessary.

【0019】また、本発明の他の特徴によれば、半導体
集積回路装置の外部より送信される電波から電磁誘導に
より発生されて供給された交流信号の電圧レベルが小さ
くなり、発生される内部電源電圧がCPUおよび記憶手
段が正常に動作できなくなる恐れのあるレベルにまで小
さくなった場合に、CPUおよび記憶手段が動作し続け
るということがなくなる。例えば、本発明の半導体集積
回路装置を無電池方式のRFIDに応用した場合には、
RFIDと通信相手装置との通信距離が長くなって、電
圧整流手段により生成される直流電圧の大きさが、CP
Uおよび記憶手段が正常に動作できなくなる恐れのある
レベルにまで小さくなった場合に、CPUおよび記憶手
段が動作し続けるということがなくなる。
According to another feature of the present invention, the voltage level of the AC signal generated and supplied by electromagnetic induction from a radio wave transmitted from the outside of the semiconductor integrated circuit device is reduced, and the generated internal power supply is generated. When the voltage is reduced to a level at which the CPU and the storage means may not operate normally, the CPU and the storage means do not continue to operate. For example, when the semiconductor integrated circuit device of the present invention is applied to a batteryless RFID,
As the communication distance between the RFID and the communication partner device becomes longer, the magnitude of the DC voltage generated by the voltage rectifying means becomes CP.
When the U and the storage means are reduced to a level where they may not operate normally, the CPU and the storage means do not continue to operate.

【0020】また、本発明のその他の特徴によれば、リ
セット手段によりCPUおよび記憶手段がリセットにさ
れる際に、まず最初に記憶手段がリセットされてデータ
の書き込みが禁止され、その後でCPUがリセットされ
るようになり、リセット時における誤動作によって誤っ
たデータが記憶手段に書き込まれてしまう不都合が防止
される。
According to another feature of the present invention, when the reset means resets the CPU and the storage means, the storage means is first reset to inhibit the writing of data, and then the CPU As a result of resetting, it is possible to prevent the inconvenience that wrong data is written in the storage means due to a malfunction at the time of resetting.

【0021】また、本発明のその他の特徴によれば、C
PUおよび記憶手段のリセット状態が解除される第1の
しきい値よりも、記憶手段がリセット状態にされる第2
のしきい値の方が小さいので、電圧整流手段により生成
される内部電源電圧が第1のしきい値より小さくても第
2のしきい値より小さくなければ記憶手段はリセットさ
れないようになり、意図しない電圧レベルの変動によっ
て内部電源電圧が第1のしきい値を下回った場合に記憶
手段が簡単にリセットされないようになる。
According to another characteristic of the present invention, C
A second threshold value in which the storage means is reset to a level higher than a first threshold value in which the reset states of the PU and the storage means are released.
Since the threshold value of is smaller than the first threshold value, the storage means is not reset unless the internal power supply voltage generated by the voltage rectifying means is smaller than the first threshold value. The storage means is not easily reset when the internal power supply voltage falls below the first threshold value due to an unintentional fluctuation of the voltage level.

【0022】また、本発明のその他の特徴によれば、本
発明のRFIDが正常動作するのに十分な内部電源電圧
が得られている間に蓄電が行われるとともに、内部電源
電圧の大きさが内蔵ICが正常動作できなくなる恐れの
あるレベルにまで小さくなったときに、上記蓄電された
電力が内部電源電力として利用されるようになり、正常
動作を可能にする内部電源電力がより長い時間確保され
るようになる。
According to another feature of the present invention, the power is stored while the internal power supply voltage sufficient for the RFID of the present invention to operate normally is obtained, and the magnitude of the internal power supply voltage is increased. When the built-in IC is reduced to a level where it may not operate normally, the stored power is used as internal power supply power, and the internal power supply power that enables normal operation is secured for a longer time. Will be done.

【0023】[0023]

【発明の実施の形態】以下、本発明の一実施形態を図面
に基づいて説明する。図1は、本実施形態による無電池
方式のRFIDの特徴を最もよく表すパワー/RF部の
構成を示すブロック図であり、図2は、図1に示すパワ
ー/RF部を利用した無電池方式のRFIDの構成を示
すブロック図である。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS One embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of a power / RF unit that best expresses the characteristics of the battery-less RFID according to the present embodiment, and FIG. 2 is a battery-free system using the power / RF unit shown in FIG. 3 is a block diagram showing the configuration of the RFID of FIG.

【0024】まず、図2を用いて本実施形態による無電
池方式のRFIDの全体構成および動作について説明す
る。図2において、21はCPU、22はROM、23
はEEPROMであり、ROM22やEEPROM23
には、CPU21の実行プログラムや種々のデータが記
憶されるようになっている。
First, the overall configuration and operation of the batteryless RFID according to the present embodiment will be described with reference to FIG. In FIG. 2, 21 is a CPU, 22 is a ROM, and 23.
Is an EEPROM, and the ROM 22 and the EEPROM 23
The execution program of the CPU 21 and various data are stored in the.

【0025】上記ROM22の記憶容量は、例えば10
24ワード×12ビットであり、上記EEPROM23
の記憶容量は、例えば2048ワード×12ビットであ
る。これらのROM22およびEEPROM23は、同
一のメモリ空間に位置している。そのうち、EEPRO
M23のメモリ空間においては、上記CPU21の実行
プログラムや種々のデータの書き換えが可能である。
The storage capacity of the ROM 22 is, for example, 10
24 words × 12 bits, and the EEPROM 23
The storage capacity of is, for example, 2048 words × 12 bits. The ROM 22 and the EEPROM 23 are located in the same memory space. Among them, EEPRO
In the memory space of M23, the execution program of the CPU 21 and various data can be rewritten.

【0026】すなわち、CPU21は、ROM22やE
EPROM23の記憶内容に従って種々の命令を実行す
るが、その命令そのものをEEPROM23を使って自
由に書き換えることが可能である。つまり、CPU21
の実行プログラムをRFIDの外部から自由に書き換え
ることが可能である。
That is, the CPU 21 has the ROM 22 and the E
Various instructions are executed according to the contents stored in the EPROM 23, and the instructions themselves can be freely rewritten using the EEPROM 23. That is, the CPU 21
The execution program of can be freely rewritten from outside the RFID.

【0027】このように、本実施形態では、従来の無電
池方式のRFIDにおいてロジック回路を用いていた代
わりに、CPU21を用いている。CPU21を内蔵す
ることにより、命令実行のプロトコルを自由に組むこと
ができるようになるだけでなく、多数のRFIDで送受
信される電波の同時認識もできるようになる。
As described above, in this embodiment, the CPU 21 is used instead of using the logic circuit in the conventional batteryless RFID. By incorporating the CPU 21, not only can a command execution protocol be freely configured, but also radio waves transmitted and received by a large number of RFIDs can be simultaneously recognized.

【0028】また、ロジック回路では1つの動作が終わ
るまで次の動作を行うことができないのに対して、CP
U21では複数の動作を同時に行うことができる。例え
ば、EEPROM23へのデータの書き込み中に、RO
M22に記憶されているデータを読み出して処理するこ
とができる。このため、全体としての処理時間を短くす
ることもできるようになる。
Further, in the logic circuit, the next operation cannot be performed until one operation is completed.
U21 can perform a plurality of operations at the same time. For example, while writing data to the EEPROM 23, the RO
The data stored in M22 can be read and processed. Therefore, the processing time as a whole can be shortened.

【0029】上記CPU21と上記ROM22、および
上記CPU21と上記EEPROM23との間のデータ
のやり取りは、それぞれアドレスバス25およびデータ
バス26を介して行われる。上記アドレスバス25およ
びデータバス26のバス幅は、共に12ビットである。
また、CPU21内に備えられている図示しないALU
(算術論理演算ユニット)やレジスタの1ワードも12
ビットである。
Data is exchanged between the CPU 21 and the ROM 22, and between the CPU 21 and the EEPROM 23 via an address bus 25 and a data bus 26, respectively. The bus widths of the address bus 25 and the data bus 26 are both 12 bits.
An ALU (not shown) provided in the CPU 21
(Arithmetic and logic unit) and 1 word of register is 12
Is a bit.

【0030】このように、バス幅、およびALUやレジ
スタの1ワードを12ビットとすることにより、CPU
21の1つの命令を構成するオペコードおよびオペラン
ドを1ワードで記述することが可能となる。また、イミ
ティエートアドレスも1ワードで記述することが可能と
なる。
As described above, by setting the bus width and one word of the ALU and the register to 12 bits, the CPU
It is possible to describe the operation code and the operand that compose one instruction 21 in one word. Also, the immediate address can be described in one word.

【0031】24はパワー/RF部である。このパワー
/RF部24は、電波(例えば、無線周波数帯などの高
周波の電波)を使って、図示しないホスト側の装置との
間で種々のデータを送受信するRF部と、上記ホスト側
から送られてくる電波を用いて内部電源電力をつくり出
すパワー部とを兼ね備えている。
Reference numeral 24 is a power / RF section. The power / RF unit 24 uses an electric wave (for example, a high-frequency electric wave such as a radio frequency band) to transmit / receive various data to / from a device on the host side, not shown, It also serves as a power unit that uses the received radio waves to generate internal power.

【0032】すなわち、上記パワー/RF部24に備え
られているいくつかの端子のうち、S1,S2は電波の
送受信用端子であり、これら2つの電波送受信用端子S
1,S2を介して本実施形態のRFIDと図示しないホ
スト側とで電波によりデータを送受信するようになって
いる。
That is, among the several terminals provided in the power / RF section 24, S1 and S2 are terminals for transmitting and receiving radio waves, and these two terminals S for transmitting and receiving radio waves.
Data is transmitted and received by radio waves between the RFID of this embodiment and a host side (not shown) via S1 and S2.

【0033】また、上記電波送受信用端子S1,S2に
は、同調用コイル30とコンデンサ31とから成る共振
回路が接続されている。そして、この共振回路に外部の
ホストから送信される電波によって発生する磁界の変化
に応じて同調用コイル30に交流電圧が誘導される。パ
ワー/RF部24は、このようにして誘導された交流電
圧を上記電波送受信用端子S1,S2を介して入力し、
それを直流電圧に整流することにより内部電源電力を得
るようにしている。
A resonance circuit composed of a tuning coil 30 and a capacitor 31 is connected to the radio wave transmitting / receiving terminals S1 and S2. Then, an AC voltage is induced in the tuning coil 30 in response to a change in the magnetic field generated by an electric wave transmitted from an external host to the resonance circuit. The power / RF unit 24 inputs the AC voltage thus induced through the radio wave transmitting / receiving terminals S1 and S2,
The internal power supply power is obtained by rectifying it into a DC voltage.

【0034】上記パワー/RF部24で生成された直流
電圧は、内部電圧端子CVddおよび内部グランド端子
CGNDを介して出力される。上記内部電圧端子CVd
dおよび内部グランド端子CGNDには、平滑化コンデ
ンサ32が接続されており、出力される直流電圧の安定
化が図られている。
The DC voltage generated by the power / RF unit 24 is output via the internal voltage terminal CVdd and the internal ground terminal CGND. The internal voltage terminal CVd
A smoothing capacitor 32 is connected to d and the internal ground terminal CGND to stabilize the output DC voltage.

【0035】上記パワー/RF部24は、I/Oバス2
7を介してCPU21、タイマー28およびシリアルI
/Oポート29に接続されている。本実施形態では、こ
のようにタイマー31を内蔵することにより、ソフトウ
ェアによるリセット動作を実現することが可能となる。
このタイマー28は、例えば、24ビットタイマーで構
成される。
The power / RF unit 24 is the I / O bus 2
CPU 21, timer 28 and serial I via
Connected to the / O port 29. In the present embodiment, by incorporating the timer 31 in this way, it is possible to realize the reset operation by software.
The timer 28 is, for example, a 24-bit timer.

【0036】また、上記シリアルI/Oポート29には
3つの入出力端子I/O0 ,I/O1 ,I/O2 が接続
されており、これらの入出力端子I/O0 ,I/O1
I/O2 を介して外部負荷を接続することが可能であ
る。外部負荷としては、例えばLED(図示せず)を用
いることができる。
Three input / output terminals I / O 0 , I / O 1 and I / O 2 are connected to the serial I / O port 29, and these input / output terminals I / O 0 and I / O 0 , I / O 1 ,
It is possible to connect an external load via I / O 2 . As the external load, for example, an LED (not shown) can be used.

【0037】このようにLEDを接続した場合は、本実
施形態のRFIDとホストとが近づいて通信可能な範囲
内に入ったときにLEDが点灯するようにすることがで
き、通信が可能かどうかをユーザが一目で分かるように
することができる。この外部負荷であるLEDを駆動す
るための電源をつくり出すのも上記パワー/RF部24
である。
When the LEDs are connected in this way, the LEDs can be turned on when the RFID of the present embodiment and the host approach and enter the range where communication is possible. Can be made visible to the user at a glance. The power / RF unit 24 also creates a power supply for driving the LED which is the external load.
It is.

【0038】本実施形態の半導体集積回路装置は、上述
したCPU21、ROM22、EEPROM23、パワ
ー/RF部24、アドレスバス25、データバス26、
I/Oバス27、タイマー28およびシリアルI/Oポ
ート29が1チップ化されて構成される。
The semiconductor integrated circuit device according to the present embodiment includes the CPU 21, ROM 22, EEPROM 23, power / RF section 24, address bus 25, data bus 26, and
The I / O bus 27, the timer 28, and the serial I / O port 29 are integrated into one chip.

【0039】次に、図1を用いて上記したパワー/RF
部24の詳細な構成および動作について説明する。図1
に示すように、本実施形態のパワー/RF部24は、電
圧整流回路1と、電圧レギュレータ2と、リセット回路
3と、FSK(周波数偏移変調)回路4と、PSK(位
相偏移変調)回路5と、クロック回路6とを備えてい
る。
Next, the power / RF described above with reference to FIG.
The detailed configuration and operation of the unit 24 will be described. FIG.
As shown in FIG. 3, the power / RF unit 24 of this embodiment includes a voltage rectifier circuit 1, a voltage regulator 2, a reset circuit 3, an FSK (frequency shift keying) circuit 4, and a PSK (phase shift keying). The circuit 5 and the clock circuit 6 are provided.

【0040】これらの構成のうち、電圧整流回路1、電
圧レギュレータ2およびリセット回路3により、上述し
た本実施形態のパワー部が構成される。また、FSK回
路4、PSK回路5およびクロック回路6により、上述
した本実施形態のRF部が構成される。
Of these configurations, the voltage rectifier circuit 1, the voltage regulator 2 and the reset circuit 3 constitute the power section of the present embodiment described above. In addition, the FSK circuit 4, the PSK circuit 5, and the clock circuit 6 constitute the RF unit of this embodiment described above.

【0041】まず最初に、パワー部について説明する。
上記電圧整流回路1は、その入力側に2つの電波送受信
用端子S1,S2が接続されるとともに、出力側に内部
電圧端子CVddおよび内部グランド端子CGNDが接
続されている。
First, the power section will be described.
The voltage rectifier circuit 1 has two radio wave transmitting / receiving terminals S1 and S2 connected to its input side, and an internal voltage terminal CVdd and an internal ground terminal CGND connected to its output side.

【0042】この電圧整流回路1は、2つの電波送受信
用端子S1,S2より入力される単相の交流電圧を直流
電圧に整流することにより、出力電圧がほぼ一定になる
ように制御するものである。この電圧整流回路1には、
交流の両方向成分(1サイクル分の全て)を直流電圧に
変換する全波整流回路を用いるのが好ましい。
The voltage rectifying circuit 1 controls the output voltage to be substantially constant by rectifying a single-phase AC voltage input from the two radio wave transmitting / receiving terminals S1 and S2 into a DC voltage. is there. In this voltage rectifier circuit 1,
It is preferable to use a full-wave rectifier circuit that converts the bidirectional components of AC (all for one cycle) into DC voltage.

【0043】図3は、この電圧整流回路1の具体的な構
成例を示す図である。図3に示すように、本実施形態の
電圧整流回路1は、2つの電波送受信用端子S1,S2
の間に4つの整流素子D1〜D4がブリッジ型に接続さ
れて構成されている。この電圧整流回路1により生成さ
れた直流電圧は、内部電圧端子CVddおよび内部グラ
ンド端子CGNDを介して出力される。
FIG. 3 is a diagram showing a concrete configuration example of the voltage rectifier circuit 1. As shown in FIG. 3, the voltage rectifier circuit 1 of this embodiment has two radio wave transmitting / receiving terminals S1 and S2.
The four rectifying elements D1 to D4 are connected in a bridge configuration between the two. The DC voltage generated by the voltage rectifier circuit 1 is output via the internal voltage terminal CVdd and the internal ground terminal CGND.

【0044】電圧レギュレータ2は、上記電圧整流回路
1の出力側に並列に接続されている。すなわち、上記電
圧レギュレータ2の一方の入力端子は上記内部電圧端子
CVddに接続され、他方の入力端子は上記内部グラン
ド端子CGNDに接続されている。これにより、上記電
圧整流回路1で生成された直流電圧がこの電圧レギュレ
ータ2に供給される。
The voltage regulator 2 is connected in parallel to the output side of the voltage rectifier circuit 1. That is, one input terminal of the voltage regulator 2 is connected to the internal voltage terminal CVdd, and the other input terminal is connected to the internal ground terminal CGND. As a result, the DC voltage generated by the voltage rectifier circuit 1 is supplied to the voltage regulator 2.

【0045】この電圧レギュレータ2は、上記電圧整流
回路1で生成される直流電圧を一定レベル以下に抑える
ように制御するものである。すなわち、上記電圧整流回
路1より供給される直流電圧が所定のしきい値(例えば
3V)を越えるかどうかを判断し、そのしきい値を越え
る場合はリミット動作をかけることにより、外部からの
電波を使って生成する内部電源電圧の大きさが上記所定
のしきい値よりも大きくならないように制御する。
The voltage regulator 2 controls the DC voltage generated by the voltage rectifier circuit 1 so as to keep it below a certain level. That is, it is determined whether or not the DC voltage supplied from the voltage rectifier circuit 1 exceeds a predetermined threshold value (for example, 3V), and if it exceeds the threshold value, a limit operation is performed to thereby prevent the radio wave from the outside The control is performed so that the magnitude of the internal power supply voltage generated by using does not exceed the predetermined threshold value.

【0046】このような電圧レギュレータ2を設けるこ
とにより、本実施形態のRFIDと図示しないホストと
の通信距離が短くなり、図2の同調用コイル30に誘導
される交流電圧が非常に大きくなっても、内部電源電圧
として使用する直流電圧の大きさが必要以上に大きくな
らないようにすることができる。これにより、RFID
とホストとが近づいたときに内蔵ICに過大な電力が供
給されることを防ぎ、ICにかかる負担を少なくするこ
とができる。
By providing such a voltage regulator 2, the communication distance between the RFID of this embodiment and a host (not shown) is shortened, and the AC voltage induced in the tuning coil 30 of FIG. 2 is greatly increased. Also, the magnitude of the DC voltage used as the internal power supply voltage can be prevented from becoming unnecessarily large. This enables RFID
When the host and the host approach each other, excessive power is prevented from being supplied to the built-in IC, and the load on the IC can be reduced.

【0047】また、リセット回路3は、上記電圧レギュ
レータ2と同様に、電圧整流回路1の出力側に並列に接
続されている。すなわち、リセット回路3の一方の入力
端子は上記内部電圧端子CVddに接続され、他方の入
力端子は上記内部グランド端子CGNDに接続されてい
る。これにより、上記電圧整流回路1で生成された直流
電圧(電圧レギュレータ2でリミット動作がかけられて
いるときはその電圧)がこのリセット回路3に供給され
る。
Further, the reset circuit 3 is connected in parallel to the output side of the voltage rectifier circuit 1 as in the voltage regulator 2. That is, one input terminal of the reset circuit 3 is connected to the internal voltage terminal CVdd, and the other input terminal is connected to the internal ground terminal CGND. As a result, the DC voltage generated by the voltage rectifier circuit 1 (the voltage when the voltage regulator 2 is performing the limit operation) is supplied to the reset circuit 3.

【0048】このリセット回路3は、電圧整流回路1よ
り供給される直流電圧のレベルが所定のしきい値より小
さいときに、CPU21およびEEPROM23の動作
をリセットするように制御するものである。このような
制御は、2つのリセット信号RST1 ,RST2 のレベ
ル(“H”レベルまたは“L”レベル)を制御すること
によって行う。また、このリセット回路3に用いられる
上記所定のしきい値は、CPU21およびEEPROM
23が正常に動作するのに十分な電圧レベルに設定され
る。
The reset circuit 3 controls to reset the operations of the CPU 21 and the EEPROM 23 when the level of the DC voltage supplied from the voltage rectifier circuit 1 is smaller than a predetermined threshold value. Such control is performed by controlling the levels (“H” level or “L” level) of the two reset signals RST 1 and RST 2 . The predetermined threshold value used in the reset circuit 3 is set to the CPU 21 and the EEPROM.
23 is set to a voltage level sufficient for normal operation.

【0049】このようなリセット回路3を設けることに
より、本実施形態のRFIDと図示しないホストとの通
信距離が長くなって、電圧整流回路1で生成される直流
電圧の大きさが非常に小さくなったときに、CPU21
およびEEPROM23が動作し続けることによって誤
動作を起こしてしまうことを防ぐことができる。
By providing such a reset circuit 3, the communication distance between the RFID of this embodiment and the host (not shown) becomes long, and the magnitude of the DC voltage generated by the voltage rectifier circuit 1 becomes extremely small. When the CPU 21
Also, it is possible to prevent the malfunction of the EEPROM 23 due to the continuous operation of the EEPROM 23.

【0050】ところで、リセット回路3によりリセット
がかけられた時点でRFIDがホストと通信途中である
ことも考えられる。この場合に内蔵ICの全てを同時に
リセットすると、リセット時における誤動作によってE
EPROM23の内容が書き換えられてしまうことが考
えられる。
By the way, it is possible that the RFID is in the process of communicating with the host when the reset circuit 3 resets the RFID. In this case, if all the built-in ICs are reset at the same time, E
It is possible that the contents of the EPROM 23 will be rewritten.

【0051】周知のように、EEPROM23は不揮発
性のメモリであり、電源が切られてもその記憶内容は失
われない。したがって、EEPROM23の内容が誤動
作によって書き換えられると、その誤った内容がそのま
ま残されてしまうことになり、著しく不都合である。
As is well known, the EEPROM 23 is a non-volatile memory, and its stored contents are not lost even when the power is turned off. Therefore, if the contents of the EEPROM 23 are rewritten due to an erroneous operation, the erroneous contents are left as they are, which is extremely inconvenient.

【0052】そこで、本実施形態では、リセット回路3
を以下のように動作させることにより、上記の不都合を
防止している。すなわち、本実施形態では、図4に示す
ように、3種類のリセット電圧Vrst1、Vrst2、Vrst3
を利用してCPU21およびEEPROM23のリセッ
ト動作を制御している。
Therefore, in the present embodiment, the reset circuit 3
The above-mentioned inconvenience is prevented by operating the following. That is, in the present embodiment, as shown in FIG. 4, three types of reset voltages V rst1 , V rst2 , and V rst3 are used.
Is used to control the reset operation of the CPU 21 and the EEPROM 23.

【0053】図4に示すグラフにおいて、縦軸は電圧レ
ベルを示し、横軸は時間を示している。このグラフは、
本実施形態のRFIDと図示しないホストとの通信距離
が徐々に短くなることによって内部で生成される電源電
圧が大きくなっていき、その後、通信距離が徐々に長く
なることによって内部で生成される電源電圧が小さくな
っていく様子を表している。
In the graph shown in FIG. 4, the vertical axis represents voltage level and the horizontal axis represents time. This graph is
The power supply voltage internally generated increases as the communication distance between the RFID of this embodiment and the host (not shown) gradually decreases, and then the power supply internally generated by the communication distance gradually increases. It shows how the voltage decreases.

【0054】この図4において、内部電源電圧VDD
(図1の内部電圧端子CVddに現れる電圧)が徐々に
大きくなっていく過程で、その電圧レベルが第1のリセ
ット電圧Vrst1に達するまでの期間は、第1、第2のリ
セット信号RST1 ,RST2は共に“H”レベル(内
部電源電圧VDDと同じ電圧)であり、CPU21およ
びEEPROM23は両方ともリセット状態にある。
In FIG. 4, the internal power supply voltage VDD
In the process in which (the voltage appearing at the internal voltage terminal CVdd in FIG. 1) gradually increases, the first and second reset signals RST 1 are supplied until the voltage level reaches the first reset voltage V rst1. , RST 2 are both at “H” level (the same voltage as the internal power supply voltage VDD), and both the CPU 21 and the EEPROM 23 are in the reset state.

【0055】そして、内部電源電圧VDDの電圧レベル
が第1のリセット電圧Vrst1に達すると、第1、第2の
リセット信号RST1 ,RST2 は共に“L”レベル
(内部グランド電圧VGNDと同じ電圧)となり、CP
U21およびEEPROM23は両方ともリセット状態
が解除される。この第1のリセット電圧Vrst1は、例え
ば2.7Vである。
When the voltage level of the internal power supply voltage VDD reaches the first reset voltage V rst1 , both the first and second reset signals RST 1 and RST 2 are at "L" level (the same as the internal ground voltage VGND). Voltage), and CP
Both U21 and EEPROM 23 are released from the reset state. The first reset voltage V rst1 is, for example, 2.7V.

【0056】次いで、内部電源電圧VDDのレベルが更
に上がっていって3Vに達すると、電圧レギュレータ2
の制御により、それ以上電圧が上がらないように抑えら
れる。その後、内部電源電圧VDDが徐々に小さくなっ
ていき、第2のリセット電圧Vrst2まで電圧レベルが小
さくなると、まず最初に第2のリセット信号RST2
“H”レベルになり、EEPROM23がリセットされ
る。これにより、EEPROM23へのデータの書き込
みが禁止される。
Next, when the level of the internal power supply voltage VDD further rises to reach 3V, the voltage regulator 2
With the control of, the voltage can be suppressed so that it does not rise further. After that, when the internal power supply voltage VDD gradually decreases and the voltage level decreases to the second reset voltage V rst2 , the second reset signal RST 2 first becomes “H” level, and the EEPROM 23 is reset. It As a result, the writing of data to the EEPROM 23 is prohibited.

【0057】この第2のリセット電圧Vrst2は、上記第
1のリセット電圧Vrst1の値よりもわずかに小さな値、
例えば2.3Vに設定される。このように、第2のリセ
ット電圧Vrst2を第1のリセット電圧Vrst1の値よりも
小さな値に設定することにより、以下のようなメリット
が得られる。
This second reset voltage V rst2 is a value slightly smaller than the value of the first reset voltage V rst1 ,
For example, it is set to 2.3V. Thus, by setting the second reset voltage V rst2 to a value smaller than the value of the first reset voltage V rst1 , the following merits are obtained.

【0058】すなわち、図4においては、図の簡略化の
ために、本実施形態のRFIDと図示しないホストとの
通信距離が十分に近い場合に内部で生成される内部電源
電圧VDDのレベルが常に3Vに保たれているように示
されているが、実際には電圧レベルは多少変動してい
る。そして、その変動している電圧レベルが、第1のリ
セット電圧Vrst1である2.7Vを下回ることがある。
That is, in FIG. 4, for simplification of the drawing, when the communication distance between the RFID of this embodiment and the host (not shown) is sufficiently short, the level of the internal power supply voltage VDD generated internally is always constant. Although shown as being held at 3V, the voltage level is actually slightly fluctuating. Then, the fluctuating voltage level may fall below 2.7V which is the first reset voltage V rst1 .

【0059】この場合に、第2のリセット電圧Vrst2
第1のリセット電圧Vrst1と同じ値の2.7Vとしてお
くと、変動している電圧レベルが2.7Vを下回ったと
きにEEPROM23が意図していないのにリセットさ
れてしまう。そこで、本実施形態のように、第2のリセ
ット電圧Vrst2を第1のリセット電圧Vrst1よりも小さ
い値の2.3Vとしておけば、変動している電圧レベル
によってEEPROM23が簡単にリセットされないよ
うにすることができる。
In this case, if the second reset voltage V rst2 is set to 2.7 V, which is the same value as the first reset voltage V rst1 , the EEPROM 23 will be set when the fluctuating voltage level falls below 2.7 V. It was reset even though it was not intended. Therefore, if the second reset voltage V rst2 is set to 2.3 V, which is a value smaller than the first reset voltage V rst1 , as in this embodiment, the EEPROM 23 is not easily reset due to the fluctuating voltage level. Can be

【0060】次いで、内部電源電圧VDDが更に小さく
なって第3のリセット電圧Vrst3まで電圧レベルが小さ
くなると、次に第1のリセット信号RST1 が“H”レ
ベルになり、CPU21がリセットされる。この第3の
リセット電圧Vrst3は、例えば2.0Vに設定される。
Next, when the internal power supply voltage VDD further decreases and the voltage level decreases to the third reset voltage Vrst3 , the first reset signal RST 1 next becomes "H" level and the CPU 21 is reset. . The third reset voltage Vrst3 is set to 2.0V, for example.

【0061】このように、本実施形態においては、V
rst1>Vrst2>Vrst3の関係が保たれており、CPU2
1がリセットされるときにはEEPROM23は既にリ
セットされ、データの書き込みが禁止されている。これ
により、リセット時におけるCPU21の誤動作によっ
て誤ったデータがEEPROM23に書き込まれてしま
うという不都合をなくすことができる。
As described above, in this embodiment, V
The relationship of rst1 > V rst2 > V rst3 is maintained, and CPU2
When 1 is reset, the EEPROM 23 has already been reset and writing of data is prohibited. As a result, it is possible to eliminate the inconvenience that incorrect data is written in the EEPROM 23 due to the malfunction of the CPU 21 at the time of reset.

【0062】図5は、以上のような動作を実現するため
のリセット回路3の具体的な構成例を示す図である。以
下、この図5に基づいて、図4を用いて説明したリセッ
ト回路3の構成および動作について説明する。
FIG. 5 is a diagram showing a specific configuration example of the reset circuit 3 for realizing the above operation. The configuration and operation of the reset circuit 3 described with reference to FIG. 4 will be described below with reference to FIG.

【0063】図5において、MP11,MP12,MP13
MP14は第1〜第4のPチャンネルエンハンスメント型
トランジスタ、MN11,MN12は第1、第2のNチャン
ネルエンハンスメント型トランジスタ、MD11はNチャ
ンネルデプレッション型トランジスタ、IV11,I
12,IV13,IV14は第1〜第4のインバータ回路で
ある。
In FIG. 5, MP 11 , MP 12 , MP 13 ,
MP 14 is the first to fourth P-channel enhancement type transistors, MN 11 and MN 12 are the first and second N-channel enhancement type transistors, MD 11 is the N-channel depletion type transistor, IV 11 and I
V 12 , IV 13 , and IV 14 are first to fourth inverter circuits.

【0064】上記第1のPチャンネルエンハンスメント
型トランジスタMP11は、そのゲート端子が内部グラン
ド端子CGNDに接続され、ソース端子が内部電圧端子
CVddに接続されている。また、ドレイン端子は第2
のPチャンネルエンハンスメント型トランジスタMP12
のドレイン端子と、Nチャンネルデプレッション型トラ
ンジスタMD11のドレイン端子およびゲート端子と、第
1、第2のNチャンネルエンハンスメント型トランジス
タMN11,MN12の各ゲート端子とに接続されている。
以下、この接続点にかかる電圧を第1の電圧V1 とす
る。
The gate terminal of the first P-channel enhancement type transistor MP 11 is connected to the internal ground terminal CGND, and the source terminal is connected to the internal voltage terminal CVdd. The drain terminal is the second
P-channel enhancement type transistor MP 12
Of the N-channel depletion type transistor MD 11 and the drain terminal and the gate terminal of the N-channel depletion type transistor MD 11 , and the gate terminals of the first and second N-channel enhancement type transistors MN 11 and MN 12 .
Hereinafter, the voltage applied to this connection point will be referred to as a first voltage V 1 .

【0065】上記第2のPチャンネルエンハンスメント
型トランジスタMP12のソース端子は内部電圧端子CV
ddに接続され、ゲート端子は第1のインバータ回路I
11の入力端子に接続されている。また、上記Nチャン
ネルデプレッション型トランジスタMD11のソース端子
は内部グランド端子CGNDに接続されている。
The source terminal of the second P-channel enhancement type transistor MP 12 is the internal voltage terminal CV.
dd and the gate terminal is the first inverter circuit I
It is connected to the input terminal of V 11 . The source terminal of the N-channel depletion type transistor MD 11 is connected to the internal ground terminal CGND.

【0066】また、第3のPチャンネルエンハンスメン
ト型トランジスタMP13は、そのゲート端子が内部グラ
ンド端子CGNDに接続され、ソース端子が内部電圧端
子CVddに接続されている。また、ドレイン端子は第
1のNチャンネルエンハンスメント型トランジスタMN
11のドレイン端子と、第2のPチャンネルエンハンスメ
ント型トランジスタMP12のゲート端子と、第1のイン
バータ回路IV11の入力端子とに接続されている。以
下、この接続点にかかる電圧を第2の電圧V2 とする。
The gate terminal of the third P-channel enhancement type transistor MP 13 is connected to the internal ground terminal CGND and the source terminal thereof is connected to the internal voltage terminal CVdd. The drain terminal is the first N-channel enhancement type transistor MN.
11 is connected to the drain terminal, the gate terminal of the second P-channel enhancement type transistor MP 12 , and the input terminal of the first inverter circuit IV 11 . Hereinafter, the voltage applied to this connection point will be referred to as the second voltage V 2 .

【0067】上記第1のNチャンネルエンハンスメント
型トランジスタMN11の残りの端子であるソース端子は
内部グランド端子CGNDに接続されている。また、上
記第1のインバータ回路IV11の出力端子は第2のイン
バータ回路IV12の入力端子に接続され、この第2のイ
ンバータ回路IV12の出力端子から第1のリセット信号
RST1 が出力されるようになっている。
The source terminal which is the remaining terminal of the first N-channel enhancement type transistor MN 11 is connected to the internal ground terminal CGND. Further, the output terminal of the first inverter circuit IV 11 is connected to the input terminal of the second inverter circuit IV 12, the first reset signal RST 1 from the output terminal of the second inverter circuit IV 12 is outputted It has become so.

【0068】また、第4のPチャンネルエンハンスメン
ト型トランジスタMP14は、そのゲート端子が内部グラ
ンド端子CGNDに接続され、ソース端子が内部電圧端
子CVddに接続されている。また、ドレイン端子は第
2のNチャンネルエンハンスメント型トランジスタMN
12のドレイン端子と、第3のインバータ回路IV13の入
力端子とに接続されている。以下、この接続点にかかる
電圧を第3の電圧V3とする。
The gate terminal of the fourth P-channel enhancement type transistor MP 14 is connected to the internal ground terminal CGND, and the source terminal thereof is connected to the internal voltage terminal CVdd. The drain terminal is the second N-channel enhancement type transistor MN.
It is connected to the drain terminal of 12 and the input terminal of the third inverter circuit IV 13 . Hereinafter, the voltage applied to this connection point will be referred to as the third voltage V 3 .

【0069】上記第2のNチャンネルエンハンスメント
型トランジスタMN12の残りの端子であるソース端子は
内部グランド端子CGNDに接続されている。また、上
記第3のインバータ回路IV13の出力端子は第4のイン
バータ回路IV14の入力端子に接続され、この第4のイ
ンバータ回路IV14の出力端子から第2のリセット信号
RST2 が出力されるようになっている。
The source terminal, which is the remaining terminal of the second N-channel enhancement type transistor MN 12 , is connected to the internal ground terminal CGND. Further, the output terminal of the third inverter circuit IV 13 is connected to the input terminal of the fourth inverter circuit IV 14, the reset signal RST 2 from the output terminal of the second of the fourth inverter circuit IV 14 is outputted It has become so.

【0070】このような構成において、上記第1〜第4
のPチャンネルエンハンスメント型トランジスタM
11,MP12,MP13,MP14のしきい値電圧、および
Nチャンネルデプレッション型トランジスタMD11のし
きい値電圧は、それぞれ−0.6Vに設定されている。
また、第1、第2のNチャンネルエンハンスメント型ト
ランジスタMN11,MN12のしきい値電圧は、それぞれ
+0.6Vに設定されている。
In such a structure, the above first to fourth
P-channel enhancement type transistor M
The threshold voltage of P 11 , MP 12 , MP 13 , and MP 14 and the threshold voltage of the N-channel depletion type transistor MD 11 are set to −0.6V, respectively.
The threshold voltages of the first and second N-channel enhancement type transistors MN 11 and MN 12 are set to + 0.6V, respectively.

【0071】また、上記内部電圧端子CVddには電圧
整流回路1で生成される内部電源電圧VDDが供給さ
れ、上記内部グランド端子CGNDには内部グランド電
圧VGNDが供給される。また、第1のリセット信号R
ST1 が“H”レベルになるとCPU21がリセットさ
れ、第2のリセット信号RST2 が“H”レベルになる
とEEPROM23がリセットされるようになってい
る。
The internal power supply voltage VDD generated by the voltage rectifier circuit 1 is supplied to the internal voltage terminal CVdd, and the internal ground voltage VGND is supplied to the internal ground terminal CGND. Also, the first reset signal R
The CPU 21 is reset when ST 1 goes to "H" level, and the EEPROM 23 is reset when the second reset signal RST 2 goes to "H" level.

【0072】以下、動作について説明する。まず最初
に、図4に示すように、内部電源電圧VDDが内部グラ
ンド電圧VGNDから徐々に上昇していく場合の動作に
ついて説明する。
The operation will be described below. First, the operation when the internal power supply voltage VDD gradually rises from the internal ground voltage VGND as shown in FIG. 4 will be described.

【0073】まず、内部電源電圧VDDが第1のPチャ
ンネルエンハンスメント型トランジスタMP11のしきい
値電圧より高くなると、上記第1のPチャンネルエンハ
ンスメント型トランジスタMP11はオン状態となる。こ
こで、第1のPチャンネルエンハンスメント型トランジ
スタMP11のしきい値電圧は−0.6Vであるので、第
1のPチャンネルエンハンスメント型トランジスタMP
11は、内部電源電圧VDDの値にかかわらず常にオン状
態である。
[0073] First, the internal power supply voltage VDD is higher than the threshold voltage of the first P-channel enhancement transistor MP 11, the first P-channel enhancement type transistor MP 11 is turned on. Here, since the threshold voltage of the first P-channel enhancement type transistor MP 11 is −0.6 V, the first P-channel enhancement type transistor MP 11 is used.
11 is always on regardless of the value of the internal power supply voltage VDD.

【0074】また、第3、第4のPチャンネルエンハン
スメント型トランジスタMP13、MP14のしきい値電圧
も−0.6Vであるから、これらの各トランジスタMP
13、MP14についても第1のPチャンネルエンハンスメ
ント型トランジスタMP11と同様に、内部電源電圧VD
Dの値にかかわらず常にオン状態となる。
Further, since the threshold voltage of the third and fourth P-channel enhancement type transistors MP 13 and MP 14 is also −0.6V, each of these transistors MP 13
Similarly to the first P-channel enhancement type transistor MP 11 , 13 and MP 14 have the same internal power supply voltage VD.
It is always on regardless of the value of D.

【0075】第1のPチャンネルエンハンスメント型ト
ランジスタMP11がオン状態となり、内部電源電圧VD
Dが更に高くなると、それにつれて第1の電圧V1 は内
部グランド電圧VGNDよりも高くなる。このとき、第
1の電圧V1 は、第1のPチャンネルエンハンスメント
型トランジスタMP11とNチャンネルデプレッション型
トランジスタMD11とのオン抵抗値の比により決定され
る。
The first P-channel enhancement type transistor MP 11 is turned on, and the internal power supply voltage VD
When D becomes higher, the first voltage V 1 becomes higher than the internal ground voltage VGND. At this time, the first voltage V 1 is determined by the ratio of the ON resistance values of the first P-channel enhancement type transistor MP 11 and the N-channel depletion type transistor MD 11 .

【0076】そして、上記第1の電圧V1 が、第1、第
2のNチャンネルエンハンスメント型トランジスタMN
11、MN12のしきい値電圧(+0.6V)より高くなる
と、上記第1、第2のNチャンネルエンハンスメント型
トランジスタMN11、MN12はオン状態となる。このと
き、第3、第4のPチャンネルエンハンスメント型トラ
ンジスタMP13、MP14は既にオン状態となっている。
The first voltage V 1 is applied to the first and second N-channel enhancement type transistors MN.
When the voltage becomes higher than the threshold voltage (+0.6 V) of 11 , MN 12 , the first and second N-channel enhancement type transistors MN 11 , MN 12 are turned on. At this time, the third and fourth P-channel enhancement type transistors MP 13 and MP 14 are already in the ON state.

【0077】このため、第2の電圧V2 は、第3のPチ
ャンネルエンハンスメント型トランジスタMP13と第1
のNチャンネルエンハンスメント型トランジスタMN11
とのオン抵抗値の比によって決定される。また、第3の
電圧V3 は、第4のPチャンネルエンハンスメント型ト
ランジスタMP14と第2のNチャンネルエンハンスメン
ト型トランジスタMN12とのオン抵抗値の比によって決
定される。
Therefore, the second voltage V 2 is the same as that of the third P-channel enhancement type transistor MP 13
N-channel enhancement type transistor MN 11
And the on-resistance value of The third voltage V 3 is determined by the ratio of the on resistance values of the fourth P-channel enhancement type transistor MP 14 and the second N-channel enhancement type transistor MN 12 .

【0078】すなわち、上記第1、第2のNチャンネル
エンハンスメント型トランジスタMN11、MN12がオン
状態となる前は、第2の電圧V2 および第3の電圧V3
は共に内部電源電圧VDDと等しくなっている。これに
対して、内部電源電圧VDDの上昇に伴って第1の電圧
1 が高くなり、第1、第2のNチャンネルエンハンス
メント型トランジスタMN11、MN12がオン状態になる
に従い、上記第2の電圧V2 および第3の電圧V3 は内
部電源電圧VDDから下がり始める。
That is, before the first and second N-channel enhancement type transistors MN 11 and MN 12 are turned on, the second voltage V 2 and the third voltage V 3 are applied.
Are both equal to the internal power supply voltage VDD. On the other hand, as the internal power supply voltage VDD rises, the first voltage V 1 rises and the first and second N-channel enhancement type transistors MN 11 and MN 12 are turned on. Voltage V 2 and the third voltage V 3 start falling from the internal power supply voltage VDD.

【0079】本実施形態では、第1のNチャンネルエン
ハンスメント型トランジスタMN11のオン抵抗が、第2
のNチャンネルエンハンスメント型トランジスタMN12
のオン抵抗よりも小さくなるように各トランジスタMN
11、MN12を設定しておく。このようにすることによ
り、第1の電圧V1 が同じでも、第2の電圧V2 の方が
第3の電圧V3 の電圧よりも低くなる。
In this embodiment, the ON resistance of the first N-channel enhancement type transistor MN 11 is the second
N-channel enhancement type transistor MN 12
Each transistor MN to be smaller than the on resistance of
11 and MN 12 are set. By doing so, even if the first voltage V 1 is the same, the second voltage V 2 is lower than the third voltage V 3 .

【0080】このようにして第2の電圧V2 および第3
の電圧V3 が内部電源電圧VDDから徐々に下がってい
き、まず第2の電圧V2 が(内部電源電圧VDD+第2
のPチャンネルエンハンスメント型トランジスタMP12
のしきい値電圧)のレベル以下になると、第2のPチャ
ンネルエンハンスメント型トランジスタMP12がオン状
態となる。これにより、第1の電圧V1 が急速に高くな
る。
In this way, the second voltage V 2 and the third voltage V 2
Of the voltage V 3 gradually decreases from the internal power supply voltage VDD, the second of the voltage V 2 First (internal power supply voltage VDD + the second
P-channel enhancement type transistor MP 12
Second threshold voltage), the second P-channel enhancement type transistor MP 12 is turned on. This causes the first voltage V 1 to rise rapidly.

【0081】これに伴い、第2の電圧V2 が第1のイン
バータ回路IV11による論理反転電圧を下回ったとき
に、第1のインバータ回路IV11および第2のインバー
タ回路IV12により第2の電圧V2 が論理反転されて出
力される第1のリセット信号RST1 の電圧は、内部電
源電圧VDD(すなわち“H”レベル)から内部グラン
ド電圧VGND(すなわち“L”レベル)へと遷移す
る。
[0081] Accordingly, when the second voltage V 2 is below the logic inversion voltage of the first inverter circuit IV 11, the first inverter circuit IV 11 and the second inverter circuit IV 12 of the second The voltage of the first reset signal RST 1 that is logically inverted from the voltage V 2 and output is changed from the internal power supply voltage VDD (that is, “H” level) to the internal ground voltage VGND (that is, “L” level).

【0082】また、上記第2のPチャンネルエンハンス
メント型トランジスタMP12がオン状態となることによ
り第1の電圧V1 が急速に高くなるのに従って、第3の
電圧V3 も小さくなり、第3のインバータ回路IV13
よる論理反転電圧を下回る。すると、第3のインバータ
回路IV13および第4のインバータ回路IV14により第
3の電圧V3 が論理反転されて出力される第2のリセッ
ト信号RST2 の電圧も、内部電源電圧VDDから内部
グランド電圧VGNDへと遷移する。
As the first P-channel enhancement type transistor MP 12 is turned on to rapidly increase the first voltage V 1 , the third voltage V 3 also decreases and the third voltage V 3 decreases. It falls below the logic inversion voltage by the inverter circuit IV 13 . Then, the voltage of the second reset signal RST 2 that is the logical inversion of the third voltage V 3 output by the third inverter circuit IV 13 and the fourth inverter circuit IV 14 is also changed from the internal power supply voltage VDD to the internal ground. Transition to voltage VGND.

【0083】上述のように、第2のPチャンネルエンハ
ンスメント型トランジスタMP12がオン状態になるに伴
って、第1の電圧V1 は急速に高くなるので、第1のリ
セット信号RST1 が“H”レベルから“L”レベルへ
遷移するときの内部電源電圧VDDの値と、第2のリセ
ット信号RST2 が“H”レベルから“L”レベルへ遷
移するときの内部電源電圧VDDの値とは、ほぼ等しく
なる。このときの内部電源電圧VDDが第1のリセット
電圧Vrst1(例えば2.7V)に相当する。
As described above, the first voltage V 1 rapidly rises as the second P-channel enhancement type transistor MP 12 is turned on, so that the first reset signal RST 1 becomes “H”. The value of the internal power supply voltage VDD at the time of transition from the “level” to the “L” level and the value of the internal power supply voltage VDD at the time of the transition of the second reset signal RST 2 from the “H” level to the “L” level , Become almost equal. The internal power supply voltage VDD at this time corresponds to the first reset voltage V rst1 (for example, 2.7 V).

【0084】次に、内部電源電圧VDDが飽和電圧(+
3V)から内部グランド電圧VGNDへと徐々に下降し
ていく場合の動作について説明する。第1の電圧V
1 は、内部電源電圧VDDの下降に伴って下がり始め
る。このとき、第1の電圧V1 は、1/{(1/第1の
Pチャンネルエンハンスメント型トランジスタMP11
オン抵抗)+(1/第2のPチャンネルエンハンスメン
ト型トランジスタMP12のオン抵抗)}の値と、Nチャ
ンネルデプレッション型トランジスタMD11のオン抵抗
値との比により決定される。
Next, when the internal power supply voltage VDD is saturated voltage (+
The operation when the voltage gradually decreases from (3 V) to the internal ground voltage VGND will be described. First voltage V
The value of 1 starts to drop as the internal power supply voltage VDD drops. At this time, the first voltage V 1 is 1 / {(1 / ON resistance of the first P-channel enhancement transistor MP 11 ) + (1 / ON resistance of the second P-channel enhancement transistor MP 12 )} And the on-resistance value of the N-channel depletion type transistor MD 11 are determined.

【0085】上記第1の電圧V1 が下がるにつれて、第
2の電圧V2 および第3の電圧V3は上がり始める。こ
のとき、第1のNチャンネルエンハンスメント型トラン
ジスタMN11のオン抵抗値は第2のNチャンネルエンハ
ンスメント型トランジスタMN12のオン抵抗値より小さ
いため、第3の電圧V3 は第2の電圧V2 より高くなっ
ている。
As the first voltage V 1 drops, the second voltage V 2 and the third voltage V 3 start to rise. At this time, since the ON resistance value of the first N-channel enhancement type transistor MN 11 is smaller than the ON resistance value of the second N-channel enhancement type transistor MN 12 , the third voltage V 3 is higher than the second voltage V 2 . It's getting higher.

【0086】したがって、内部電源電圧VDDが下がる
につれて、まず第3の電圧V3 が第3のインバータ回路
IV13の論理反転電圧より高くなる。これにより、第2
のリセット信号RST2 の電圧が、内部グランド電圧V
GND(“L”レベル)から内部電源電圧VDD
(“H”レベル)へと遷移する。このときの内部電源電
圧VDDが第2のリセット電圧Vrst2(例えば2.3
V)に相当する。
Therefore, as the internal power supply voltage VDD decreases, the third voltage V 3 first becomes higher than the logic inversion voltage of the third inverter circuit IV 13 . Thereby, the second
Of the reset signal RST 2 of the internal ground voltage V
Internal power supply voltage VDD from GND (“L” level)
("H" level). The internal power supply voltage VDD at this time is the second reset voltage V rst2 (for example, 2.3).
V).

【0087】さらに内部電源電圧VDDが下がっていく
と、次に第2の電圧V2 が第1のインバータ回路IV11
の論理反転電圧よりも高くなり、第1のリセット信号R
ST1 の電圧が、内部グランド電圧VGND(“L”レ
ベル)から内部電源電圧VDD(“H”レベル)へと遷
移する。このときの内部電源電圧VDDが第3のリセッ
ト電圧Vrst3(例えば2.0V)に相当する。
When the internal power supply voltage VDD further decreases, the second voltage V 2 then changes to the first inverter circuit IV 11
Higher than the logic inversion voltage of the first reset signal R
The voltage of ST 1 changes from the internal ground voltage VGND (“L” level) to the internal power supply voltage VDD (“H” level). The internal power supply voltage VDD at this time corresponds to the third reset voltage V rst3 (for example, 2.0 V).

【0088】このように、本実施形態では、内部電源電
圧VDDが小さくなっていくときに、まず最初に内部電
源電圧VDDが第2のリセット電圧Vrst2まで小さくな
った時点でEEPROM23をリセットし、更に内部電
源電圧VDDが第3のリセット電圧Vrst3まで小さくな
った時点でCPU21をリセットするようにしている。
つまり、CPU21をリセットする前に必ずEEPRO
M23をリセットしてデータの書き込みを禁止するよう
にしている。
As described above, in this embodiment, when the internal power supply voltage VDD decreases, the EEPROM 23 is reset when the internal power supply voltage VDD first decreases to the second reset voltage V rst2 . Further, the CPU 21 is reset when the internal power supply voltage VDD decreases to the third reset voltage Vrst3 .
In other words, be sure to set EEPRO before resetting the CPU 21.
M23 is reset to prohibit writing of data.

【0089】このようにすることにより、リセット時に
おけるCPU21の誤動作によって誤ったデータがEE
PROM23に書き込まれてしまうという不都合をなく
すことができ、CPU21およびEEPROM23が常
に正常に動作するようにすることができる。
By doing so, the erroneous data is EE due to the malfunction of the CPU 21 at the time of reset.
The inconvenience of being written in the PROM 23 can be eliminated, and the CPU 21 and the EEPROM 23 can always operate normally.

【0090】次に、図1に示したRF部について説明す
る。RF部を構成するFSK回路4およびPSK回路5
は、それぞれ上記した2つの電波送受信用端子S1,S
2に接続されている。ここで、上記FSK回路4はデー
タ受信用に用いられ、上記PSK回路5はデータ送信用
に用いられる。
Next, the RF section shown in FIG. 1 will be described. FSK circuit 4 and PSK circuit 5 forming the RF unit
Are the above-mentioned two radio wave transmitting / receiving terminals S1 and S, respectively.
2 are connected. Here, the FSK circuit 4 is used for data reception, and the PSK circuit 5 is used for data transmission.

【0091】すなわち、FSK回路4は、周波数のシフ
トにより情報を伝送する。例えば、電波送受信用端子S
1,S2で受信したデータ値が“1”であるときには1
25KHzの正弦波を伝送路に送り出し、受信したデー
タ値が“0”であるときには117.65KHzの正弦
波を伝送路に送り出すようにする。
That is, the FSK circuit 4 transmits information by shifting the frequency. For example, a terminal S for transmitting and receiving radio waves
1 when the data value received in S1, S2 is "1"
A sine wave of 25 KHz is sent to the transmission line, and when the received data value is "0", a sine wave of 117.65 KHz is sent to the transmission line.

【0092】また、PSK回路5は、位相のシフトによ
り情報を伝送する。例えば、搬送周波数が62.5KH
zの4相位相変調を用いることができる。この場合は、
信号の種類が位相で0°、90°、180°270°と
4種類あるので、1つの信号あたり2ビットの伝送が行
われる。
Further, the PSK circuit 5 transmits information by shifting the phase. For example, the carrier frequency is 62.5KH
Quadrature phase modulation of z can be used. in this case,
Since there are four types of signals, 0 °, 90 °, 180 °, and 270 ° in phase, 2-bit transmission is performed for each signal.

【0093】また、クロック回路6は、上記FSK回路
4で異なる周波数の信号を検出するための基準となるク
ロックパルスを発生するものである。例えば、上記FS
K回路4は、クロック回路6より供給されるクロックパ
ルスをデータ値“1”、“0”に応じて異なる分周比で
分周することにより上記した125KHzの信号および
117.65KHzの信号を検出する。
Further, the clock circuit 6 generates a clock pulse which serves as a reference for detecting signals of different frequencies in the FSK circuit 4. For example, the FS
The K circuit 4 detects the above 125 KHz signal and 117.65 KHz signal by dividing the clock pulse supplied from the clock circuit 6 with different division ratios according to the data values "1" and "0". To do.

【0094】このように、本実施形態では、電波の送受
信をFSK方式(受信)とPSK方式(送信)とに分け
て行うようにしている。また、本実施形態では、従来の
ロジック回路と異なり、CPU21を内蔵している。し
たがって、送信用の電波と受信用の電波とをCPU21
が認識することができ、データの送受信を同時に行うこ
とができるようになる。
As described above, in the present embodiment, the transmission and reception of radio waves are divided into the FSK system (reception) and the PSK system (transmission). Further, in the present embodiment, unlike the conventional logic circuit, the CPU 21 is incorporated. Therefore, the CPU 21 transmits the transmission radio wave and the reception radio wave.
Can be recognized, and data can be transmitted and received at the same time.

【0095】なお、以上の実施形態では、RFIDとホ
ストとの通信距離が離れて内部電源電圧VDDが所定レ
ベルよりも小さくなったときに、CPU21およびEE
PROM23をリセットすることにより、CPU21お
よびEEPROM23が誤動作しないようにすることが
できるようにしている。これに対して、蓄電池を内蔵す
ることにより誤動作を防止するようにすることもでき
る。
In the above embodiment, when the communication distance between the RFID and the host is increased and the internal power supply voltage VDD becomes lower than a predetermined level, the CPU 21 and the EE are not affected.
By resetting the PROM 23, the CPU 21 and the EEPROM 23 can be prevented from malfunctioning. On the other hand, it is possible to prevent malfunction by incorporating a storage battery.

【0096】すなわち、CPU21およびEEPROM
23が正常に動作するのに十分な内部電源電圧VDDが
得られている間に上記蓄電池に蓄電しておく。そして、
RFIDとホストとの通信距離が離れてCPU21やE
EPROM23が誤動作してしまう恐れがある程度にま
で内部電源電圧VDDが小さくなったときに、上記蓄電
池に蓄電しておいた電力をCPU21およびEEPRO
M23を動作させるのに用いるようにする。
That is, the CPU 21 and the EEPROM
The storage battery is charged while the internal power supply voltage VDD sufficient for normal operation of the battery 23 is obtained. And
The communication distance between the RFID and the host is long and the CPU 21 or E
When the internal power supply voltage VDD becomes small to the extent that the EPROM 23 may malfunction, the electric power stored in the storage battery is stored in the CPU 21 and EEPRO.
It is used to operate M23.

【0097】このようにすれば、CPU21およびEE
PROM23が正常動作するのに十分な電力をより長い
時間確保することができ、CPU21およびEEPRO
M23が誤動作を起こしてしまう恐れをより少なくする
ことができる。このようなことは、例えば、図2に示し
た平滑化コンデンサ32を蓄電池として用いることで実
現可能である。
In this way, the CPU 21 and the EE
Power sufficient for the normal operation of the PROM 23 can be secured for a longer period of time, and the CPU 21 and EEPRO
It is possible to further reduce the risk that the M23 will malfunction. Such a thing can be realized, for example, by using the smoothing capacitor 32 shown in FIG. 2 as a storage battery.

【0098】ただし、蓄電池を用いることによって正常
動作可能な時間を長くすることができても、蓄電池が切
れるときにCPU21およびEEPROM23が誤動作
を起こしてしまうことも考えられる。しかし、このよう
な誤動作は、蓄電池と上述したリセット動作(正確には
リセット動作に類似の動作)とを併用することにより回
避することができる。
However, even if the normal operation time can be extended by using the storage battery, it is possible that the CPU 21 and the EEPROM 23 malfunction when the storage battery runs out. However, such an erroneous operation can be avoided by using the storage battery and the above-described reset operation (correctly, operation similar to the reset operation) together.

【0099】すなわち、CPU21およびEEPROM
23が正常に動作するのに十分な内部電源電圧VDDが
得られている間に蓄電池に蓄電しておく。そして、RF
IDとホストとの通信距離が離れて内部電源電圧VDD
が所定値(CPU21やEEPROM23が正常動作す
るのに十分な値)よりも小さくなったときに、CPU2
1およびEEPROM23が現在実行している処理の終
了命令を出す。
That is, the CPU 21 and the EEPROM
The storage battery is charged while the internal power supply voltage VDD sufficient for normal operation of the battery 23 is obtained. And RF
The communication distance between the ID and the host is long, and the internal power supply voltage VDD
Is smaller than a predetermined value (a value sufficient for the CPU 21 and the EEPROM 23 to operate normally), the CPU 2
1 and the EEPROM 23 issue an instruction to end the process currently being executed.

【0100】この終了命令が出されたら、CPU21お
よびEEPROM23は、上記蓄電池に蓄電しておいた
電力を用いてCPU21およびEEPROM23が現在
行っている処理を終了させるように動作する。このよう
にすれば、CPU21およびEEPROM23の処理途
中で電源が切れてしまうことが少なくなり、誤動作を起
こしてしまう恐れを更に少なくすることができる。
When this termination command is issued, the CPU 21 and the EEPROM 23 operate to terminate the processing currently being performed by the CPU 21 and the EEPROM 23 using the electric power stored in the storage battery. By doing so, the power supply is less likely to be cut off during the processing of the CPU 21 and the EEPROM 23, and the risk of malfunction can be further reduced.

【0101】[0101]

【発明の効果】本発明は上述したように、電圧整流手段
により生成される内部電源電圧の大きさが所定値よりも
大きくならないように制御する電圧制御手段を設けたの
で、半導体集積回路装置の外部より送信される電波から
電磁誘導により発生されて供給された交流信号の電圧レ
ベルが非常に大きくなっても、内部電源電圧として使用
する直流電圧の大きさが必要以上に大きくならないよう
にすることができる。
As described above, the present invention is provided with the voltage control means for controlling the magnitude of the internal power supply voltage generated by the voltage rectification means so as not to exceed a predetermined value. Even if the voltage level of the AC signal generated by electromagnetic induction from the radio waves transmitted from the outside and supplied becomes extremely high, the magnitude of the DC voltage used as the internal power supply voltage should not be higher than necessary. You can

【0102】例えば、本発明の半導体集積回路装置を、
電波を使って外部との間でデータを送受信するととも
に、受信した電波から電磁誘導により内部電源電力をつ
くり出すことが可能な無電池方式のRFIDに応用した
場合には、RFIDと通信相手装置との通信距離が短く
なり、電磁誘導により生成される交流電圧が非常に大き
くなっても、内部電源電圧として使用する直流電圧の大
きさが必要以上に大きくならないようにすることがで
き、RFIDに過大な電力が供給されることを防ぎ、R
FIDにかかる負担を少なくすることができる。
For example, the semiconductor integrated circuit device of the present invention is
When applied to a battery-less RFID that can send and receive data to and from the outside using radio waves and can generate internal power supply power from the received radio waves by electromagnetic induction, the RFID and the communication partner device Even if the communication distance becomes short and the AC voltage generated by electromagnetic induction becomes very large, the size of the DC voltage used as the internal power supply voltage can be prevented from becoming unnecessarily large. Prevents power from being supplied and R
The burden on the FID can be reduced.

【0103】また、本発明の他の特徴によれば、電圧整
流手段により生成される内部電源電力の電圧が所定レベ
ル以下のときにCPUおよび記憶手段をリセット状態に
するリセット手段を設けたので、半導体集積回路装置の
外部より送信される電波から電磁誘導により発生されて
供給された交流信号の電圧レベルが小さくなり、発生さ
れる内部電源電力の電圧がCPUおよび記憶手段が正常
に動作できなくなる恐れのあるレベルにまで小さくなっ
た場合においても、CPUおよび記憶手段が動作し続け
るということをなくすことができる。
Further, according to another feature of the present invention, the reset means is provided for setting the CPU and the storage means in the reset state when the voltage of the internal power supply generated by the voltage rectifying means is below a predetermined level. The voltage level of the AC signal generated and supplied by electromagnetic induction from the electric wave transmitted from the outside of the semiconductor integrated circuit device becomes small, and the generated internal power supply voltage may cause the CPU and the storage unit to not operate normally. It is possible to prevent the CPU and the storage means from continuing to operate even when the level is reduced to a certain level.

【0104】例えば、本発明の半導体集積回路装置を無
電池方式のRFIDに応用した場合には、RFIDと通
信相手装置との通信距離が長くなって、CPUおよび記
憶手段が正常に動作できなくなる恐れのあるレベルにま
で内部発生の電源電圧が小さくなった場合に、CPUお
よび記憶手段が動作し続けるということをなくすことが
でき、CPUおよびEEPROMが誤動作を起こしてし
まう不都合を少なくすることができる。
For example, when the semiconductor integrated circuit device of the present invention is applied to a battery-less RFID, the communication distance between the RFID and the communication partner device becomes long, and the CPU and storage means may not operate normally. When the internally generated power supply voltage is reduced to a certain level, the CPU and the storage means can be prevented from continuing to operate, and the inconvenience that the CPU and the EEPROM malfunction can be reduced.

【0105】また、本発明のその他の特徴によれば、電
圧整流手段により得られる直流電力の電圧が徐々に小さ
くなっていく場合に、上記直流電圧が第2のしきい値よ
りも小さくなったときに記憶手段をリセット状態にし、
上記直流電圧が上記第2のしきい値よりも小さな第3の
しきい値よりも小さくなったときにCPUをリセット状
態するようにしたので、まず最初に記憶手段をリセット
してデータの書き込みを禁止した後でCPUをリセット
するようにすることができ、リセット時におけるCPU
の誤動作によって誤ったデータが記憶手段に書き込まれ
てしまう不都合をなくすことができる。
Further, according to another feature of the present invention, when the voltage of the DC power obtained by the voltage rectifying means gradually decreases, the DC voltage becomes smaller than the second threshold value. Sometimes the storage means is reset,
Since the CPU is set to the reset state when the DC voltage becomes smaller than the third threshold value which is smaller than the second threshold value, the memory means is first reset to write the data. The CPU can be reset after the prohibition.
It is possible to eliminate the inconvenience that erroneous data is written in the storage means due to the erroneous operation.

【0106】また、本発明のその他の特徴によれば、電
圧整流手段により得られる直流電圧が徐々に大きくなっ
ていく際に、CPUおよび記憶手段のリセット状態を解
除する基準電圧となる第1のしきい値よりも上記第2の
しきい値を小さくしたので、電圧整流手段により生成さ
れる内部電源の電圧が第1のしきい値より小さくても第
2のしきい値より小さくなければ記憶手段はリセットさ
れないようにすることができ、意図しない電圧レベルの
変動によって内部電源の電圧が第1のしきい値を下回っ
た場合に記憶手段が簡単にリセットされないようにする
ことができ、これにより、動作の安定化を図ることがで
きる。
According to another feature of the present invention, when the DC voltage obtained by the voltage rectifying means gradually increases, the first voltage becomes a reference voltage for releasing the reset state of the CPU and the storage means. Since the second threshold value is set smaller than the threshold value, the internal power supply voltage generated by the voltage rectifying means is stored even if it is smaller than the first threshold value but not smaller than the second threshold value. The means may not be reset and the storage means may not be easily reset if the voltage of the internal power supply falls below the first threshold value due to an unintended voltage level variation, whereby It is possible to stabilize the operation.

【0107】また、本発明のその他の特徴によれば、電
圧整流手段によって誘導交流電圧から生成される直流電
力を蓄電する蓄電手段と、上記電圧整流手段により得ら
れる直流電圧が所定レベルよりも小さくなったときに上
記蓄電手段に蓄積されている電力を内部電源として利用
するように制御する制御手段とを設けたので、正常動作
可能な内部発生の電源電圧をより長い時間確保すること
ができ、RFIDが電力不足によって誤動作を起こして
しまう恐れを少なくすることができる。
Further, according to another feature of the present invention, the storage means for storing the DC power generated from the induced AC voltage by the voltage rectification means and the DC voltage obtained by the voltage rectification means are smaller than a predetermined level. Since the control means for controlling the electric power stored in the power storage means to be used as an internal power source when it becomes, it is possible to secure an internally generated power source voltage capable of normal operation for a longer time, It is possible to reduce the risk that the RFID may malfunction due to insufficient power.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の一実施形態であり、本発明による無電
池方式のRFIDの特徴を最もよく表すパワー/RF部
の構成を示すブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of a power / RF unit, which is an embodiment of the present invention and best expresses the characteristics of a battery-less RFID according to the present invention.

【図2】図1に示したパワー/RF部を利用した本実施
形態による無電池方式のRFIDの全体的な構成を示す
ブロック図である。
FIG. 2 is a block diagram showing an overall configuration of a batteryless RFID according to the present embodiment using the power / RF unit shown in FIG.

【図3】図1に示した電圧整流回路の具体的な構成例を
示す図である。
FIG. 3 is a diagram showing a specific configuration example of the voltage rectifier circuit shown in FIG.

【図4】図1に示したリセット回路の動作を説明するた
めの図である。
FIG. 4 is a diagram for explaining the operation of the reset circuit shown in FIG.

【図5】図1に示したリセット回路の具体的な構成例を
示す図である。
5 is a diagram showing a specific configuration example of the reset circuit shown in FIG.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 電圧整流回路 2 電圧レギュレータ 3 リセット回路 4 FSK回路 5 PSK回路 6 クロック回路 21 CPU 22 ROM 23 EEPROM 24 パワー/RF部 28 タイマー 29 シリアルI/Oポート 30 同調用コイル 31 コンデンサ 32 平滑化コンデンサ S1,S2 電波送受信用端子 CVdd 内部電圧端子 CGND 内部グランド端子 VDD 内部電源電圧 VGND 内部グランド電圧 RST1 ,RST2 リセット信号 Vrst1,Vrst2,Vrst3 リセット電圧1 Voltage Rectifier Circuit 2 Voltage Regulator 3 Reset Circuit 4 FSK Circuit 5 PSK Circuit 6 Clock Circuit 21 CPU 22 ROM 23 EEPROM 24 Power / RF Section 28 Timer 29 Serial I / O Port 30 Tuning Coil 31 Capacitor 32 Smoothing Capacitor S1, S2 Radio wave transmitting / receiving terminal CVdd Internal voltage terminal CGND Internal ground terminal VDD Internal power supply voltage VGND Internal ground voltage RST 1 , RST 2 Reset signal V rst1 , V rst2 , V rst3 Reset voltage

Claims (8)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 外部より送信される電波から電磁誘導に
より発生されて供給された交流信号を整流して直流の内
部電源電圧をつくり出す電圧整流手段を内蔵する半導体
集積回路装置であって、 上記電圧整流手段により得られる直流電圧の大きさが所
定値よりも大きくならないように制御する電圧制御手段
を備えたことを特徴とする半導体集積回路装置。
1. A semiconductor integrated circuit device comprising voltage rectifying means for rectifying an AC signal generated and supplied by electromagnetic induction from a radio wave transmitted from the outside to generate a DC internal power supply voltage, wherein the voltage A semiconductor integrated circuit device comprising a voltage control means for controlling the magnitude of a DC voltage obtained by the rectifying means so as not to exceed a predetermined value.
【請求項2】 データを記憶するための記憶手段と、上
記記憶手段の記憶内容に従って動作するCPUと、外部
より送信される電波から電磁誘導により発生されて供給
された交流信号を整流して直流の内部電源電圧をつくり
出す電圧整流手段とを内蔵する半導体集積回路装置であ
って、 上記電圧整流手段により得られる直流電圧が所定レベル
以下のときに、上記CPUおよび上記記憶手段をリセッ
ト状態にするリセット手段を備えたことを特徴とする半
導体集積回路装置。
2. Storage means for storing data, a CPU operating in accordance with the stored contents of the storage means, an AC signal generated by electromagnetic induction from a radio wave transmitted from the outside and rectified to generate a direct current. And a voltage rectifying means for generating an internal power supply voltage of the semiconductor integrated circuit device, which resets the CPU and the memory means when the DC voltage obtained by the voltage rectifying means is below a predetermined level. A semiconductor integrated circuit device comprising means.
【請求項3】 電波を使って外部との間でデータを送受
信するとともに、受信した電波から内部電源電圧をつく
り出すようになされた半導体集積回路装置を内蔵する無
電池方式のRFIDであって、 上記RFIDの外部より送信される電波から電磁誘導に
より交流電圧を発生する電圧発生手段と、 上記電圧発生手段により発生される交流電圧を直流電圧
に整流する電圧整流手段と、 上記電圧整流手段により得られる直流電圧の大きさが所
定値よりも大きくならないように制御する電圧制御手段
とを備えることを特徴とする無電池方式のRFID。
3. A battery-less RFID having a built-in semiconductor integrated circuit device adapted to transmit / receive data to / from the outside using radio waves and to generate an internal power supply voltage from the received radio waves. A voltage generating means for generating an AC voltage by electromagnetic induction from a radio wave transmitted from the outside of the RFID, a voltage rectifying means for rectifying the AC voltage generated by the voltage generating means into a DC voltage, and the voltage rectifying means. A battery-less RFID, comprising: a voltage control unit that controls the magnitude of the DC voltage so as not to exceed a predetermined value.
【請求項4】 データを記憶するための記憶手段と、上
記記憶手段の記憶内容に従って動作するCPUと、上記
CPUによる制御に従って外部との間で電波によるデー
タの送受信を行うとともに、受信した電波から内部電源
電圧をつくり出すパワー/送受信手段とを備えた半導体
集積回路装置を内蔵する無電池方式のRFIDであっ
て、 上記RFIDの外部より送信される電波から電磁誘導に
より交流電圧を発生する電圧発生手段と、 上記電圧発生手段により発生される交流電圧を直流電圧
に整流する電圧整流手段と、 上記電圧整流手段により得られる直流電圧が所定レベル
以下のときに、上記CPUおよび上記記憶手段をリセッ
ト状態にするリセット手段とを備えることを特徴とする
無電池方式のRFID。
4. Storage means for storing data, a CPU that operates according to the stored contents of the storage means, and data transmission and reception by radio waves between the outside under the control of the CPU, and from the received radio waves. A battery-less RFID having a built-in semiconductor integrated circuit device having power / transmission / reception means for generating an internal power supply voltage, the voltage generation means generating an AC voltage by electromagnetic induction from a radio wave transmitted from the outside of the RFID. A voltage rectifying means for rectifying an alternating voltage generated by the voltage generating means into a direct current voltage; and a resetting state of the CPU and the storing means when the direct current voltage obtained by the voltage rectifying means is below a predetermined level. A battery-less RFID, comprising:
【請求項5】 データを記憶するための記憶手段と、上
記記憶手段の記憶内容に従って動作するCPUと、上記
CPUによる制御に従って外部との間で電波によるデー
タの送受信を行うとともに、受信した電波から内部電源
電圧をつくり出すパワー/送受信手段とを備えた半導体
集積回路装置を内蔵する無電池方式のRFIDであっ
て、 上記RFIDの外部より送信される電波から電磁誘導に
より交流電圧を発生する電圧発生手段と、 上記電圧発生手段により発生される交流電圧を直流電圧
に整流する電圧整流手段と、 上記電圧整流手段により得られる直流電圧の大きさが所
定値よりも大きくならないように制御する電圧制御手段
と、 上記電圧整流手段により得られる直流電圧が所定レベル
以下のときに、上記CPUおよび上記記憶手段をリセッ
ト状態するリセット手段とを備えることを特徴とする無
電池方式のRFID。
5. A storage unit for storing data, a CPU that operates according to the stored contents of the storage unit, and data transmission and reception by radio waves between the outside under the control of the CPU, and from the received radio waves. A battery-less RFID having a built-in semiconductor integrated circuit device having power / transmission / reception means for generating an internal power supply voltage, the voltage generation means generating an AC voltage by electromagnetic induction from a radio wave transmitted from the outside of the RFID. Voltage rectifying means for rectifying the AC voltage generated by the voltage generating means into a DC voltage, and voltage control means for controlling the magnitude of the DC voltage obtained by the voltage rectifying means so as not to exceed a predetermined value. When the DC voltage obtained by the voltage rectifying means is below a predetermined level, the CPU and the storage means are RFID-free battery system characterized by comprising a reset means for setting conditions.
【請求項6】 上記リセット手段は、上記電圧整流手段
により得られる直流電圧が徐々に大きくなっていく場合
に、上記直流電圧が第1のしきい値よりも大きくなった
ときに上記CPUおよび上記記憶手段のリセット状態を
解除するとともに、上記電圧整流手段により得られる直
流電圧が徐々に小さくなっていく場合に、上記直流電圧
が第2のしきい値よりも小さくなったときに上記記憶手
段をリセット状態にし、上記直流電圧が上記第2のしき
い値よりも小さな第3のしきい値よりも小さくなったと
きに上記CPUをリセット状態することを特徴とする請
求項4または5に記載の無電池方式のRFID。
6. The reset means includes the CPU and the CPU when the DC voltage obtained by the voltage rectifying means gradually increases and the DC voltage exceeds a first threshold value. When the reset state of the storage means is released and the direct current voltage obtained by the voltage rectifying means gradually decreases, the storage means is operated when the direct current voltage becomes smaller than the second threshold value. 6. The CPU according to claim 4, wherein the CPU is brought into a reset state, and the CPU is brought into a reset state when the DC voltage becomes smaller than a third threshold value which is smaller than the second threshold value. Battery-less RFID.
【請求項7】 上記第2のしきい値は、上記第1のしき
い値よりも小さいことを特徴とする請求項6に記載の無
電池方式のRFID。
7. The battery-less RFID according to claim 6, wherein the second threshold value is smaller than the first threshold value.
【請求項8】 電波を使って外部との間でデータを送受
信するとともに、受信した電波から内部電源電圧をつく
り出すようになされた半導体集積回路装置を内蔵する無
電池方式のRFIDであって、 上記RFIDの外部より送信される電波から電磁誘導に
より交流電圧を発生する電圧発生手段と、 上記電圧発生手段により発生される交流電圧を直流電圧
に整流する電圧整流手段と、 上記電圧整流手段により得られる直流電力を蓄電する蓄
電手段と、 上記電圧整流手段により得られる直流電圧が所定レベル
よりも小さくなったときに上記蓄電手段に蓄積されてい
る直流電力を内部電源電力として利用するように制御す
る制御手段とを備えることを特徴とする無電池方式のR
FID。
8. A battery-less RFID having a built-in semiconductor integrated circuit device, which is adapted to transmit / receive data to / from the outside using radio waves and generate an internal power supply voltage from the received radio waves. A voltage generating means for generating an AC voltage by electromagnetic induction from a radio wave transmitted from the outside of the RFID, a voltage rectifying means for rectifying the AC voltage generated by the voltage generating means into a DC voltage, and the voltage rectifying means. Power storage means for storing DC power, and control for controlling to use the DC power stored in the power storage means as internal power supply when the DC voltage obtained by the voltage rectification means becomes lower than a predetermined level. A batteryless R, characterized by comprising:
FID.
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