JPH09115928A - Diebonding method and its device - Google Patents

Diebonding method and its device

Info

Publication number
JPH09115928A
JPH09115928A JP26709095A JP26709095A JPH09115928A JP H09115928 A JPH09115928 A JP H09115928A JP 26709095 A JP26709095 A JP 26709095A JP 26709095 A JP26709095 A JP 26709095A JP H09115928 A JPH09115928 A JP H09115928A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
syringe
epoxy resin
nozzle
lead frame
needle
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP26709095A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Shigeki Yamada
茂樹 山田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Cable Ltd
Original Assignee
Hitachi Cable Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Cable Ltd filed Critical Hitachi Cable Ltd
Priority to JP26709095A priority Critical patent/JPH09115928A/en
Publication of JPH09115928A publication Critical patent/JPH09115928A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies
    • H01L24/741Apparatus for manufacturing means for bonding, e.g. connectors
    • H01L24/743Apparatus for manufacturing layer connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/83Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector
    • H01L2224/8319Arrangement of the layer connectors prior to mounting
    • H01L2224/83192Arrangement of the layer connectors prior to mounting wherein the layer connectors are disposed only on another item or body to be connected to the semiconductor or solid-state body

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Die Bonding (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a diebonding method and its device which can suppress liquid leak of epoxy resin occurring at nozzle terminal being attached to a syringe. SOLUTION: A needle bulb 10 contacts to inner wall 3d of a nozzle 3 with tapered shape and closes route 3 during waiting time for an applying work of epoxy resin 2, therefore the epoxy resin 2 is prevented from leaking from a nozzle terminal 3a. After a syringe 1 is transferred to a predetermined position by an arm 4 and it descends, terminal of a needle 12 contacts to a lead frame 13, and the needle bulb 10 opens when the syring 1 descends until it contacts to the nozzle terminal 3a. The epoxy resin 2 is ejected to the lead frame 13 from the nozzle by providing air with a higher pressure than an atmospheric pressure into the syringe 1 under condition. When the ejection of the epoxy resin 2 finishes, air supplying stops and the syringe 1 is elevated by the arm 4 above the lead frame 13, therefore liquid leak does not occur because the needle bulb 10 closes again.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、半導体チップを固
定するため、所定箇所に所要量のエポキシ樹脂を塗布す
るダイボンディング装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a die bonding apparatus for applying a required amount of epoxy resin to a predetermined portion to fix a semiconductor chip.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来より半導体チップをパッケージに配
置しリードフレームに接続する製造工程において、半導
体チップをエポキシ樹脂によってリードフレームに接着
固定するダイボンディング装置が使用されている。
2. Description of the Related Art Conventionally, in a manufacturing process in which a semiconductor chip is arranged in a package and connected to a lead frame, a die bonding apparatus for bonding and fixing the semiconductor chip to the lead frame with an epoxy resin is used.

【0003】ダイボンディング装置は、リードフレーム
上の所定の位置(ボンディングパッドが設けられている
位置) に、一定量のエポキシ樹脂を塗布し、そのエポキ
シ樹脂を塗布した位置に半導体チップを固定する装置で
ある。
A die bonding apparatus is an apparatus for applying a fixed amount of epoxy resin to a predetermined position (position where a bonding pad is provided) on a lead frame and fixing a semiconductor chip to the position where the epoxy resin is applied. Is.

【0004】この半導体チップの製造工程においては、
エポキシ樹脂の塗布量の正確さが重要である。特に、大
きさ300μm角程度の微小な半導体チップでは、エポ
キシ樹脂を約0.01μL(マイクロリッター)程度塗
布し、形状も直径500μm程度の半球状に塗布する必
要がある。
In the process of manufacturing this semiconductor chip,
The accuracy of the amount of epoxy resin applied is important. In particular, for a minute semiconductor chip having a size of about 300 μm square, it is necessary to apply about 0.01 μL (microliter) of epoxy resin and apply a hemispherical shape with a diameter of about 500 μm.

【0005】このエポキシ樹脂は、ディスペンス法と呼
ばれる方法により塗布されている。このディスペンス法
はシリンジ1に液状のエポキシ樹脂2を収容しておき、
空気圧を利用して一定量のエポキシ樹脂2をシリンジ先
端1aに設けられたノズル3から押し出してリードフレ
ーム上に塗布する方法である。
This epoxy resin is applied by a method called a dispensing method. In this dispensing method, a liquid epoxy resin 2 is stored in a syringe 1,
This is a method in which a certain amount of epoxy resin 2 is extruded from a nozzle 3 provided on a syringe tip end 1a using air pressure and applied onto a lead frame.

【0006】このエポキシ樹脂2の塗布は、シリンジ1
を駆動手段4により所定の位置まで移動させた後降下さ
せ、ノズル3の先端3aがリードフレームの表面に接触
したところで降下を停止し、シリンジ後端(上端)1b
にフランジ5を介して接続されたチューブ6で圧縮空気
を供給し、エポキシ樹脂2を押し出して塗布するもので
ある。
The epoxy resin 2 is applied to the syringe 1
Is moved to a predetermined position by the driving means 4 and then lowered. When the tip 3a of the nozzle 3 comes into contact with the surface of the lead frame, the lowering is stopped, and the syringe rear end (upper end) 1b.
The compressed air is supplied by the tube 6 connected to the via the flange 5, and the epoxy resin 2 is extruded and applied.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】ところで、従来の技術
では、シリンジ1及びノズル3は、リードフレームにエ
ポキシ樹脂2を塗布する瞬間以外は、リードフレームの
上方で次の塗布までの間待機することとなる。この間シ
リンジ1内の圧力は大気圧と平衡するような圧力に保た
れている。
By the way, in the prior art, the syringe 1 and the nozzle 3 stand by above the lead frame until the next application except at the moment of applying the epoxy resin 2 to the lead frame. Becomes During this time, the pressure in the syringe 1 is kept at a pressure that equilibrates with the atmospheric pressure.

【0008】しかしながら、シリンジ1内の圧力を平衡
に保っていても、エポキシ樹脂2は自重や振動により自
然にノズル先端3aから落下する。これを液ダレ7とい
うが、この液ダレ7は表面張力によりノズル先端に付着
し溜った状態になる(図3参照)。ノズル先端3aにエ
ポキシ樹脂2が溜まっていると前述したエポキシ樹脂2
の塗布量の制御が困難になり、小型チップをリードフレ
ームにダイボンディングする場合、エポキシ樹脂でチッ
プ全体が覆われたり、チップを吸着して移動するための
コレット先端(図示せず)やチップ等に付着して汚すこ
とになる。
However, even when the pressure inside the syringe 1 is kept in equilibrium, the epoxy resin 2 naturally drops from the nozzle tip 3a due to its own weight and vibration. This is referred to as liquid sag 7, and the liquid sag 7 is attached to and accumulated in the nozzle tip due to surface tension (see FIG. 3). The epoxy resin 2 described above when the epoxy resin 2 is accumulated at the nozzle tip 3a
It becomes difficult to control the coating amount of the chip, and when die-bonding a small chip to a lead frame, the entire chip is covered with epoxy resin, or the tip of a collet (not shown) for adsorbing the chip and moving it, etc. It will adhere to and become dirty.

【0009】そこでこの液ダレを防止するためにエポキ
シ樹脂の塗布作業以外の時間は、シリンジ1内の圧力を
大気圧より低い圧力に減少させて余分なエポキシ樹脂2
をシリンジ1内に吸引することが行われていたが、エポ
キシ樹脂2の塗布作業の待機中に、ノズル先端3aから
外気を取り込むため気泡8が生じてしまい、塗布量を精
密に制御する事ができない(図4参照)。
Therefore, in order to prevent the liquid dripping, the pressure in the syringe 1 is reduced to a pressure lower than the atmospheric pressure during the time other than the epoxy resin application work so that the excess epoxy resin 2
However, air bubbles are generated because air is taken in from the tip 3a of the nozzle while waiting for the application work of the epoxy resin 2, and the amount of application can be precisely controlled. No (see Figure 4).

【0010】本発明者らは、360μm角、厚さ160
μmの半導体チップを1000個ダイボンディングし、
エポキシ樹脂による半導体チップの表面汚染や半導体チ
ップのせん断強度の不良の個数を測定した。その結果、
半導体チップの表面の汚染が64個、せん断強度不良が
24個発生した。
The inventors of the present invention have obtained a 360 μm square and a thickness of 160.
Die bonding 1000 μm semiconductor chips,
The number of surface contaminations of the semiconductor chip due to the epoxy resin and the defective shear strength of the semiconductor chip were measured. as a result,
The contamination of the surface of the semiconductor chip was 64, and the shear strength defect was 24.

【0011】そこで、本発明の目的は、上記課題を解決
し、シリンジに取り付けられたノズルの先端に発生する
エポキシ樹脂の液ダレを抑止することができるダイボン
ディング方法及びその装置を提供することにある。
SUMMARY OF THE INVENTION Therefore, an object of the present invention is to solve the above problems and provide a die bonding method and an apparatus therefor capable of suppressing liquid sagging of an epoxy resin generated at the tip of a nozzle attached to a syringe. is there.

【0012】[0012]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明は、ボンディング用樹脂を収容したシリンジを
用いてダイボンディングする方法において、シリンジ先
端のノズルに出没するニードル弁を収容し、シリンジ先
端のノズルをリードフレーム上に当接した際にニードル
弁を開くようにしたものである。
In order to achieve the above object, the present invention provides a method of die bonding using a syringe containing a bonding resin, in which a needle valve protruding from and retracting to a nozzle at the tip of the syringe is housed. The needle valve is opened when the nozzle at the tip comes into contact with the lead frame.

【0013】また本発明は、ボンディング用樹脂を収容
したシリンジを用いてダイボンディングする装置におい
て、シリンジ先端のノズルにニードル弁を開閉自在に設
けたものである。
Further, according to the present invention, in a device for die-bonding using a syringe containing a bonding resin, a needle valve is provided at a nozzle at the tip of the syringe so as to be openable and closable.

【0014】上記構成に加え本発明は、ニードル弁とシ
リンジとの間に、ニードル弁を閉状態に付勢するバネを
設けてもよい。
In addition to the above construction, in the present invention, a spring for biasing the needle valve to the closed state may be provided between the needle valve and the syringe.

【0015】上記構成によって、ボンディング用樹脂の
塗布作業の待機中は、ニードル弁がノズルのテーパ状の
内壁に接触して樹脂経路を塞ぐので、ボンディング用樹
脂がノズル先端から落下(液ダレ)することがない。シ
リンジが所定の位置まで移動した後、降下するとニード
ル弁のニードル先端がリードフレームに当接し、ニード
ル弁が開く。この状態でシリンジ内に大気圧よりも高い
圧力の空気を供給することにより、ボンディング用樹脂
がノズルからリードフレームに吐出される。ボンディン
グ樹脂の吐出が終了すると、空気の供給が停止するとと
もにシリンジがリードフレームから離れてニードル弁が
閉じるので、液ダレがない。
With the above structure, while the bonding resin applying operation is on standby, the needle valve comes into contact with the tapered inner wall of the nozzle to close the resin path, so that the bonding resin drops (drips) from the nozzle tip. Never. When the syringe moves to a predetermined position and then descends, the needle tip of the needle valve comes into contact with the lead frame and the needle valve opens. By supplying air having a pressure higher than the atmospheric pressure into the syringe in this state, the bonding resin is discharged from the nozzle to the lead frame. When the discharging of the bonding resin is completed, the supply of air is stopped, the syringe is separated from the lead frame, and the needle valve is closed, so that the liquid does not drip.

【0016】また、ニードル弁とシリンジとの間に、ニ
ードル弁を閉状態に付勢するバネを設けた場合には、ノ
ズルの内壁にニードル弁が押し付けられるので、より確
実に液ダレが抑止され、ボンディング速度が速くなって
も対応できる。
When a spring for biasing the needle valve to the closed state is provided between the needle valve and the syringe, the needle valve is pressed against the inner wall of the nozzle, so that the liquid dripping is suppressed more reliably. It can be used even if the bonding speed becomes faster.

【0017】[0017]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を添付
図面に基づいて詳述する。
Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the accompanying drawings.

【0018】図1(a)、(b)は本発明のダイボンデ
ィング方法を適用した装置の一実施の形態を示す概念図
である。尚、図3及び図4に示した従来例と同様の部材
には共通の符号を用いた。
FIGS. 1A and 1B are conceptual views showing an embodiment of an apparatus to which the die bonding method of the present invention is applied. The same reference numerals are used for the same members as in the conventional example shown in FIGS. 3 and 4.

【0019】図1(a)に示すように、ボンディング用
樹脂としてのエポキシ樹脂2の吐出孔(例えば内径約φ
0.2mm)を持つディスペンス用のノズル3に、ニー
ドル付きの独楽状の弁(以下「ニードル弁」という。)
10が設けられている。ニードル弁10の弁体11の下
部は略45度のテーパ状に形成されその先端(下端)に
はニードル12が接続されている。ニードル12の長さ
は、ノズル3のエポキシ樹脂2を吐出する経路3cの長
さより長くなっている。このノズル3の後端(上端)3
bには、約70Pa・sのエポキシ樹脂2を収容した略
円筒状のシリンジ1の先端1aに取り付けられている。
シリンジ1の後端1bにはフランジ5が取り付けられて
おり、圧縮空気をシリンジ1内に供給するためのチュー
ブ6が接続されている。シリンジ1にはシリンジ1を上
下左右前後に移動し、保持するための駆動手段としての
アーム4が設けられている。
As shown in FIG. 1A, a discharge hole (for example, an inner diameter of about φ) of an epoxy resin 2 as a bonding resin is formed.
A top-shaped valve (hereinafter referred to as "needle valve") with a needle on a dispensing nozzle 3 having a diameter of 0.2 mm).
10 are provided. The lower portion of the valve body 11 of the needle valve 10 is formed in a taper shape of approximately 45 degrees, and the needle 12 is connected to the tip (lower end) thereof. The length of the needle 12 is longer than the length of the path 3c for discharging the epoxy resin 2 of the nozzle 3. The rear end (upper end) 3 of this nozzle 3
At point b, the tip 1a of a substantially cylindrical syringe 1 containing an epoxy resin 2 of about 70 Pa · s is attached.
A flange 5 is attached to the rear end 1b of the syringe 1, and a tube 6 for supplying compressed air into the syringe 1 is connected thereto. The syringe 1 is provided with an arm 4 as a drive unit for moving the syringe 1 vertically and horizontally and holding it.

【0020】次に作用について述べる。Next, the operation will be described.

【0021】エポキシ樹脂2の塗布作業の待機中は、ニ
ードル弁10がノズル3のテーパ状の内壁3dに接触し
てエポキシ樹脂2の経路3cを塞ぐので、エポキシ樹脂
2がノズル先端3aから落下(液ダレ)することがな
い。シリンジ1がアーム4によって所定の位置まで移動
した後、降下するとニードル12の先端12aがリード
フレーム13に当接し、ノズル先端3aと接触するまで
シリンジ1が降下するとニードル弁10が開く。この状
態でチューブ6からシリンジ1内に大気圧よりも高い圧
力の空気を供給することにより、エポキシ樹脂2がノズ
ル3からリードフレーム13に吐出される。エポキシ樹
脂2の吐出が終了すると、空気の供給を停止するととも
にアーム4によりシリンジ1がリードフレーム13の上
方に上昇し、ニードル弁10が再び閉じる。このためダ
イボンディング待機中に液ダレが生じることがない。
While waiting for the application of the epoxy resin 2, the needle valve 10 contacts the tapered inner wall 3d of the nozzle 3 and closes the path 3c of the epoxy resin 2, so that the epoxy resin 2 drops from the nozzle tip 3a ( There is no dripping. When the syringe 1 is moved to a predetermined position by the arm 4 and then descends, the tip 12a of the needle 12 contacts the lead frame 13, and when the syringe 1 descends until it contacts the nozzle tip 3a, the needle valve 10 opens. In this state, by supplying air having a pressure higher than the atmospheric pressure from the tube 6 into the syringe 1, the epoxy resin 2 is discharged from the nozzle 3 to the lead frame 13. When the discharge of the epoxy resin 2 is completed, the supply of air is stopped, the syringe 1 is raised by the arm 4 above the lead frame 13, and the needle valve 10 is closed again. Therefore, the liquid does not drip while waiting for die bonding.

【0022】このようなダイボンディング装置により、
銅製のリードフレームのボンディングパッドに圧力0.
5Kgf/cm2 、加圧時間30msecでディスペン
スを行うことができた。
With such a die bonding apparatus,
No pressure is applied to the bonding pad of the copper lead frame.
Dispensing could be performed at 5 Kgf / cm 2 and a pressing time of 30 msec.

【0023】次に最適条件についての根拠について述べ
る。
Next, the basis for the optimum conditions will be described.

【0024】エポキシ樹脂を収容するシリンジに取り付
けるノズル内の弁を開閉するニードルの外径は、ノズル
のエポキシ樹脂吐出孔の内径の30%から60%が適し
ている。
The outer diameter of the needle for opening and closing the valve in the nozzle attached to the syringe containing the epoxy resin is preferably 30% to 60% of the inner diameter of the epoxy resin discharge hole of the nozzle.

【0025】図2は本発明のダイボンディング方法の他
の実施の形態を示す概念図である。
FIG. 2 is a conceptual diagram showing another embodiment of the die bonding method of the present invention.

【0026】図1(a)、(b)に示した実施の形態と
の相違点は、ニードル弁10とシリンジ1との間に、ニ
ードル弁10を閉状態に付勢するバネ14を設けた点で
ある。
The difference from the embodiment shown in FIGS. 1A and 1B is that a spring 14 for biasing the needle valve 10 to a closed state is provided between the needle valve 10 and the syringe 1. It is a point.

【0027】このような構成にすることにより、粘性係
数130Pa・sから330Pa・sの高い粘度のエポ
キシ樹脂2をダイボンディングする場合や高速でダイボ
ンディングする場合でもニードル弁10が円滑に開閉
し、液ダレが生じることがない。
With this structure, the needle valve 10 can be smoothly opened and closed even when the epoxy resin 2 having a high viscosity of 130 Pa · s to 330 Pa · s is die-bonded or is die-bonded at a high speed. No dripping will occur.

【0028】以上において、本実施の形態によれば、シ
リンジ内の空気圧と、その空気圧を供給する時間とを制
御するだけでエポキシ樹脂の塗布量を安定に制御するこ
とができる。また、半導体チップのダイボンディング工
程において、エポキシ樹脂の液ダレを防止することがで
き、エポキシ樹脂の塗布量の安定供給を確保することが
できる。
As described above, according to the present embodiment, the application amount of the epoxy resin can be stably controlled only by controlling the air pressure in the syringe and the time for supplying the air pressure. Further, in the die bonding process of the semiconductor chip, it is possible to prevent liquid sagging of the epoxy resin, and to secure a stable supply of the epoxy resin coating amount.

【0029】本実施の形態により360μm角、厚さ1
60μmの半導体チップのダイボンディングを行い、1
000個の半導体チップ表面の汚れ及びせん断強度の不
良の発生頻度を調べた。その結果、1000個中64個
発生していた半導体チップ表面の汚れが2個に、100
0個中24個発生していたせん断強度の不良は3個にそ
れぞれ減少した。
According to the present embodiment, the thickness is 360 μm square and the thickness is 1
Die-bond a 60 μm semiconductor chip to 1
The frequency of occurrence of contamination and poor shear strength on the surface of 000 semiconductor chips was examined. As a result, 64 out of 1000 semiconductor chip surface stains became 2
The number of defective shear strength, which was 24 out of 0, was reduced to 3, respectively.

【0030】[0030]

【発明の効果】以上要するに本発明によれば、次のよう
な優れた効果を発揮する。
In summary, according to the present invention, the following excellent effects are exhibited.

【0031】半導体チップを液体状のエポキシ樹脂を用
いてダイボンディングする工程において、ダイボンディ
ング装置が待機中はニードル弁がノズルの内壁と接触
し、ノズル先端から露出したニードルがリードフレーム
と接触したときだけニードル弁がノズルの内壁から離れ
るので、ノズル先端に発生するエポキシ樹脂の液ダレを
抑止することができる。
In the process of die-bonding a semiconductor chip using a liquid epoxy resin, when the needle valve contacts the inner wall of the nozzle and the needle exposed from the nozzle tip contacts the lead frame while the die bonding apparatus is on standby. Since the needle valve only separates from the inner wall of the nozzle, it is possible to prevent the epoxy resin from dripping at the tip of the nozzle.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】(a)、(b)は本発明のダイボンディング方
法の一実施の形態を示す概念図である。
1A and 1B are conceptual diagrams showing an embodiment of a die bonding method of the present invention.

【図2】本発明のダイボンディング方法の他の実施の形
態を示す概念図である。
FIG. 2 is a conceptual diagram showing another embodiment of the die bonding method of the present invention.

【図3】ダイボンディング方法の従来例である。FIG. 3 is a conventional example of a die bonding method.

【図4】ダイボンディング方法の他の従来例である。FIG. 4 is another conventional example of a die bonding method.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 シリンジ 2 ボンディング樹脂(エポキシ樹脂) 3 ノズル 3a ノズル先端 3d 内壁 4 駆動手段(アーム) 10 ニードル弁 12 ニードル 13 リードフレーム DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Syringe 2 Bonding resin (epoxy resin) 3 Nozzle 3a Nozzle tip 3d Inner wall 4 Driving means (arm) 10 Needle valve 12 Needle 13 Lead frame

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 ボンディング用樹脂を収容したシリンジ
を用いてダイボンディングする方法において、シリンジ
先端のノズルに出没するニードル弁を収容し、シリンジ
先端のノズルをリードフレーム上に当接した際にニード
ル弁を開くようにしたことを特徴とするダイボンディン
グ方法。
1. A method of die-bonding using a syringe containing a bonding resin, wherein a needle valve protruding from and retracting to a nozzle at the tip of the syringe is accommodated, and the needle valve when the nozzle at the tip of the syringe abuts on a lead frame A die bonding method characterized in that the opening is made.
【請求項2】 ボンディング用樹脂を収容したシリンジ
を用いてダイボンディングする装置において、シリンジ
先端のノズルにニードル弁を開閉自在に設けたことを特
徴とするダイボンディング装置。
2. An apparatus for die bonding using a syringe containing a bonding resin, wherein a needle valve is provided at a nozzle at the tip of the syringe so as to be openable and closable.
【請求項3】 上記ニードル弁と上記シリンジとの間
に、ニードル弁を閉状態に付勢するバネを設けた請求項
2記載のダイボンディング装置。
3. The die bonding apparatus according to claim 2, wherein a spring for urging the needle valve in a closed state is provided between the needle valve and the syringe.
JP26709095A 1995-10-16 1995-10-16 Diebonding method and its device Pending JPH09115928A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP26709095A JPH09115928A (en) 1995-10-16 1995-10-16 Diebonding method and its device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP26709095A JPH09115928A (en) 1995-10-16 1995-10-16 Diebonding method and its device

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH09115928A true JPH09115928A (en) 1997-05-02

Family

ID=17439913

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP26709095A Pending JPH09115928A (en) 1995-10-16 1995-10-16 Diebonding method and its device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH09115928A (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100307527B1 (en) * 1998-12-22 2001-11-15 김영환 Epoxy supply nozzle for semiconductor die bonding
JP2008126208A (en) * 2006-11-24 2008-06-05 Sharp Corp Coating apparatus and coating method, molded product

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100307527B1 (en) * 1998-12-22 2001-11-15 김영환 Epoxy supply nozzle for semiconductor die bonding
JP2008126208A (en) * 2006-11-24 2008-06-05 Sharp Corp Coating apparatus and coating method, molded product

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8211261B2 (en) Semiconductor manufacturing method of die pick-up from wafer
US3933187A (en) Controlled epoxy dispensing technique as related to transistor chip bonding
JP2000294591A (en) Bump forming apparatus, semiconductor manufacturing apparatus and bump forming method
WO2000029128A1 (en) Method of forming paste
JP3048789B2 (en) Fluid coating device
JPH09115928A (en) Diebonding method and its device
US4754900A (en) Method of and apparatus for dispensing a controlled amount of a liquid metal
US10861714B2 (en) Heating of a substrate for epoxy deposition
JPS61234968A (en) Coating device
CN115188694A (en) Excessive mucilage binding remove device of chip package
JP5683660B1 (en) Die bonding equipment
JP2657320B2 (en) Inking device
JP2001129469A (en) Paste coating method
JP4945351B2 (en) Manufacturing method of semiconductor device
CN101231960A (en) Improvement of semiconductor device packaging technique
JPH05102209A (en) Semiconductor device manufacturing equipment
JP2000042467A (en) Method and apparatus for supply of liquid material
JPS6138655A (en) Method and device for applying adhesive onto chip carrier
JPH06285412A (en) Resin supplying device
JPH09148348A (en) Push pin and method of applying adhesive
JPS61133162A (en) Method and apparatus for coating liquid substance having medium and high viscosity
JPH07283254A (en) Resin sealing equipment
JP2000009961A (en) Connector connecting device
KR100413477B1 (en) Bonderhead for Wire Bonder
KR19990001716A (en) LOC leadframe adhesive application device and application method