JPH09107012A - Automatic processing device of semiconductor exposure system - Google Patents

Automatic processing device of semiconductor exposure system

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Publication number
JPH09107012A
JPH09107012A JP7261455A JP26145595A JPH09107012A JP H09107012 A JPH09107012 A JP H09107012A JP 7261455 A JP7261455 A JP 7261455A JP 26145595 A JP26145595 A JP 26145595A JP H09107012 A JPH09107012 A JP H09107012A
Authority
JP
Japan
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wafer
exposure apparatus
cassette
processing
robot
Prior art date
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Pending
Application number
JP7261455A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Kenji Yuasa
研史 湯浅
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YUASA SEISAKUSHO KK
Original Assignee
YUASA SEISAKUSHO KK
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Filing date
Publication date
Application filed by YUASA SEISAKUSHO KK filed Critical YUASA SEISAKUSHO KK
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Publication of JPH09107012A publication Critical patent/JPH09107012A/en
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70691Handling of masks or workpieces
    • G03F7/70733Handling masks and workpieces, e.g. exchange of workpiece or mask, transport of workpiece or mask
    • G03F7/7075Handling workpieces outside exposure position, e.g. SMIF box

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To realize an automatic processing device which is capable of efficiently carrying out a stepper exposure process and lessened in floor space. SOLUTION: A cassette arrangement section 5 is arranged confronting the wafer loading/unloading opening 2a of a stepper exposure system 2, a processing section 6 is arranged between the cassette arrangement section 5 and the wafer loading/unloading opening 2a of the stepper exposure system 2 so as to make its lengthwise direction nearly vertical to the direction in which the cassette arrangement section 5 and the stepper exposure system 2 are arranged opposed to each other. An indexer robot 7 and a transfer robot 8 buffers 10 and 11 where wafers can he placed for each transfer direction are provided between an indexer robot 7 and a transfer robot 8 and between the indexer robot 7 and a turning robot 9.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、半導体露光装置の
自動処理装置に関する。
TECHNICAL FIELD The present invention relates to an automatic processing apparatus for a semiconductor exposure apparatus.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来より、半導体露光装置として、ステ
ッパ露光装置が知られている。このステッパ露光装置
は、ICパターン等に用いられる数倍の回路図形を有す
るレチクルパターン、及びレンズ系を用いて半導体とし
てのウェハ上にチップパターンを結像させ、ウェハ全体
を露光する装置であり、その前処理として、レジストの
コーティング処理、ベーク処理等が必要であり、後処理
として、デベロッパ処理、ベーク処理等が必要である。
2. Description of the Related Art Conventionally, a stepper exposure apparatus has been known as a semiconductor exposure apparatus. This stepper exposure apparatus is an apparatus for forming an image of a chip pattern on a wafer as a semiconductor by using a reticle pattern having a circuit figure several times larger than that used for an IC pattern and the like, and exposing the entire wafer. As its pretreatment, resist coating treatment, bake treatment and the like are required, and as post treatment, developer treatment, bake treatment and the like are necessary.

【0003】しかし、ステッパ露光装置は、ウェハの露
光のみを行うものであるため、その前処理又は後処理を
行う処理装置が必要となってくる。図5は、かかるステ
ッパ露光装置及びその前処理又は後処理を自動的に行う
自動処理装置を並列に配置したところを示す。この図に
おいて、自動処理装置1はステッパ露光装置2に連結さ
れている。この自動処理装置1では、ウェハの前処理又
は後処理を行いつつ、ステッパ露光装置2のウェハ出し
入れ口2aへと搬送するようになっているので、処理ラ
インが長手方向となり、自動処理装置1は、長手方向が
ステッパ露光装置2のウェハ出し入れ口2aに対して直
角となるように配置されている。
However, since the stepper exposure apparatus only exposes the wafer, it requires a processing apparatus for performing pre-processing or post-processing. FIG. 5 shows a parallel arrangement of such a stepper exposure apparatus and an automatic processing apparatus for automatically performing the pre-processing or post-processing. In this figure, an automatic processing apparatus 1 is connected to a stepper exposure apparatus 2. In this automatic processing apparatus 1, the wafer is pre-processed or post-processed and is transferred to the wafer loading / unloading port 2a of the stepper exposure apparatus 2, so that the processing line is in the longitudinal direction and the automatic processing apparatus 1 is The longitudinal direction is perpendicular to the wafer loading / unloading opening 2a of the stepper exposure apparatus 2.

【0004】尚、自動処理装置1では、前処理又は後処
理の少なくとも一方を行うようにすることができる。こ
の自動処理装置1が、ステッパ露光の後処理のみを行う
装置である場合、自動処理装置1には前処理が行われた
ウェハが搬送されてくる。このウェハは、カセットに挿
入され、通路4上を通るカセット搬送ロボット3によっ
て搬送される。そしてカセットは、自動処理装置1のカ
セット配置部5に置かれ、ウェハは、カセットから取り
出されてすぐにステッパ露光装置2へと搬送され、ステ
ッパ露光が行われる。ステッパ露光が終了すると、ウェ
ハはステッパ露光装置2から取り出され、後処理を経て
元のカセット配置部5へと搬送され、カセットに挿入さ
れる。
The automatic processor 1 can perform at least one of pretreatment and posttreatment. When the automatic processing apparatus 1 is an apparatus that performs only post-processing of stepper exposure, the pre-processed wafer is transferred to the automatic processing apparatus 1. This wafer is inserted into the cassette and is transported by the cassette transport robot 3 which passes over the passage 4. Then, the cassette is placed in the cassette placement unit 5 of the automatic processing apparatus 1, and the wafer is taken out from the cassette and immediately transferred to the stepper exposure apparatus 2 for stepper exposure. When the stepper exposure is completed, the wafer is taken out from the stepper exposure apparatus 2, is subjected to post-processing, is transported to the original cassette placement section 5, and is inserted into the cassette.

【0005】そして、処理済のウェハが挿入されたカセ
ットは、カセット搬送ロボットにより次工程へと搬送さ
れる。
Then, the cassette into which the processed wafer is inserted is transferred to the next step by the cassette transfer robot.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】ところで、従来の半導
体露光装置の自動処理装置では、長手方向がステッパ露
光装置2のウェハ出し入れ口2aの面と直交するように
配置されるため、自動処理装置1の横に破線で示すよう
なデッドスペースができてしまい、広いスペースを必要
とする。このデッドスペースを無くすために、例えば、
図6に示すような配置にすると、今度は、カセット搬送
ロボット3がステッパ露光装置2の近傍を通過すること
になり、例えば、レチクルの交換等のステッパ露光装置
2の操作、メインテナンス等の作業に影響をきたしてし
まう。
By the way, in the conventional automatic processing apparatus of the semiconductor exposure apparatus, since the longitudinal direction is arranged so as to be orthogonal to the surface of the wafer loading / unloading port 2a of the stepper exposure apparatus 2, the automatic processing apparatus 1 A dead space as shown by the broken line is created next to, which requires a large space. To eliminate this dead space, for example,
With the arrangement shown in FIG. 6, the cassette carrying robot 3 will pass near the stepper exposure apparatus 2 this time. For example, for operation of the stepper exposure apparatus 2 such as reticle exchange, maintenance work, and the like. It will have an impact.

【0007】さらに、自動処理装置1には、ウェハを搬
送する複数のロボットが備えられているが、従来の装置
では、かかるロボット間で直接つウェハの受渡しをして
いるため、ロボットが搬送作業中のときは、そのロボッ
トにウェハを渡そうとしても渡すことができず、作業性
が悪かった。本発明はこのような従来の課題に鑑みてな
されたもので、作業の効率化を図りつつ、省スペース化
を図ることが可能な半導体露光装置の自動処理装置を提
供することを目的とする。
Further, the automatic processing apparatus 1 is provided with a plurality of robots for transferring wafers. In the conventional apparatus, however, since the wafers are directly transferred between the robots, the robots perform the transfer work. In the middle, the workability was poor because the wafer could not be handed over to the robot. The present invention has been made in view of such conventional problems, and an object of the present invention is to provide an automatic processing apparatus for a semiconductor exposure apparatus capable of saving space while improving work efficiency.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】このため、請求項1の発
明にかかる装置は、レジストが塗布されたウェハを、所
望の回路パターンを用いて露光する半導体露光装置に連
結され、該半導体露光装置によるウェハ露光の前処理又
は後処理を行う処理部と、前記半導体露光装置又は処理
部に供給するウェハが挿入されたカセットを配置するカ
セット配置部と、カセット配置部、処理部、半導体露光
装置の各間、及び処理部内に備えられてウェハの搬送を
行う搬送手段と、を備えた半導体露光装置の自動処理装
置において、前記カセット配置部を、半導体露光装置の
ウェハの出し入れ口正面と対面するように配置し、前記
処理部を、カセット配置部と半導体露光装置との間に、
長手方向がこれらの対面方向と略直角方向となるように
配置した。
Therefore, an apparatus according to the invention of claim 1 is connected to a semiconductor exposure apparatus for exposing a wafer coated with a resist with a desired circuit pattern, and the semiconductor exposure apparatus Of the semiconductor exposure apparatus or the semiconductor exposure apparatus or the cassette placement section for arranging the cassette in which the wafer to be supplied to the processing section is inserted, the cassette placement section, the processing section, and the semiconductor exposure apparatus. In an automatic processing apparatus of a semiconductor exposure apparatus, comprising: a transfer unit provided in each interval and in a processing section and configured to transfer a wafer, the cassette arranging section faces a front surface of a wafer loading / unloading port of the semiconductor exposure apparatus. And the processing unit between the cassette placement unit and the semiconductor exposure apparatus,
It was arranged so that the longitudinal direction was substantially perpendicular to these facing directions.

【0009】かかる構成によれば、デッドスペースがな
くなり、省スペース化を図ることが可能となる。請求項
2の発明にかかる装置では、前記搬送手段は、ウェハを
載せるバッファを搬送方向別に備える一方、バッファに
ウェハを搬送方向別に載せることにより、バッファを介
して搬送するように構成されている。
According to this structure, there is no dead space, and it is possible to save space. In the apparatus according to the second aspect of the present invention, the transfer unit is provided with a buffer for mounting a wafer for each transfer direction, and is configured to transfer the wafer through the buffer by mounting the wafer on the buffer for each transfer direction.

【0010】かかる構成によれば、バッファを介してウ
ェハの受渡しが行われ、また、カセット配置部から処理
部を経由して半導体露光装置へとウェハを搬送する経路
と、半導体露光装置から処理部を経由してカセット配置
部へとウェハを搬送する経路と、が別になるため、作業
効率がよくなる。請求項3の発明にかかる装置では、前
記バッファは、搬送方向毎に複数備えられている。
According to this structure, the wafers are delivered and received through the buffer, and the wafer is transferred from the cassette arranging section to the semiconductor exposure apparatus via the processing section and the semiconductor exposure apparatus to the processing section. Since the route for transporting the wafer to the cassette placement section via is different, work efficiency is improved. In the apparatus according to the invention of claim 3, a plurality of the buffers are provided for each transport direction.

【0011】かかる構成によれば、露光装置及び前後処
理装置の処理速度の差を吸収することが可能となる。
According to this structure, it is possible to absorb the difference in processing speed between the exposure apparatus and the front-back processing apparatus.

【0012】[0012]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図1
〜図4に基づいて説明する。尚、図5と同一要素のもの
については同一符号を付して説明は省略する。図1,図
2,図3は、夫々、半導体露光装置の自動処理装置の本
実施の形態を示す平面図、図1のA−A’断面図、側面
図である。
FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of the present invention.
This will be described with reference to FIG. Note that the same components as those in FIG. 5 are denoted by the same reference numerals, and description thereof will be omitted. 1, FIG. 2, and FIG. 3 are a plan view, an AA ′ sectional view of FIG. 1, and a side view showing an embodiment of an automatic processing apparatus of a semiconductor exposure apparatus, respectively.

【0013】図1〜図3において、 自動処理装置1
は、半導体露光装置としてのステッパ露光装置2に連結
されてウェハ露光の前処理又は後処理を行う装置であ
り、カセット配置部5が、ステッパ露光装置2のウェハ
の出し入れ口2a正面と対面するように配置され、処理
部としてのプロセス部6が、カセット配置部5とステッ
パ露光装置2との間に、長手方向がステッパ露光装置2
のウェハの出し入れ口2aとカセット配置部5との対面
方向と略直角方向となるように配置されている。
1 to 3, the automatic processing apparatus 1 is shown.
Is a device that is connected to a stepper exposure device 2 as a semiconductor exposure device and performs pre-processing or post-processing of wafer exposure. The cassette placement unit 5 faces the front of the wafer loading / unloading port 2a of the stepper exposure device 2. And the process unit 6 as a processing unit is disposed between the cassette placement unit 5 and the stepper exposure apparatus 2 in the longitudinal direction.
Of the wafer loading / unloading port 2a and the cassette placement portion 5 are arranged so as to be substantially perpendicular to the facing direction.

【0014】ステッパ露光装置2には、レチクルパター
ンの交換等を行うための操作盤2bが備えられている
が、カセット搬送ロボット3の通路4がステッパ露光装
置2から離れているため、レチクルの交換、メインテナ
ンス等をカセット搬送と干渉することなく行える。ステ
ッパ露光装置2のウェハ出し入れ口2aには、夫々、ス
テッパ露光前、露光後のウェハを載せるステージ2c、
2dが配置されている。
The stepper exposure device 2 is provided with an operation panel 2b for exchanging the reticle pattern, but since the passage 4 of the cassette carrying robot 3 is separated from the stepper exposure device 2, the reticle exchange is performed. , Maintenance can be performed without interfering with cassette transportation. The wafer loading / unloading port 2a of the stepper exposure apparatus 2 has a stage 2c for mounting wafers before and after stepper exposure, respectively.
2d are arranged.

【0015】カセット配置部5には、例えば3つのカセ
ットが置けるようになっている。また、カセットは、複
数のウェハが載せられるように複数段となっている。プ
ロセス部6は、ステッパ露光装置2によるウェハ露光の
前処理又は後処理を行うところである。尚、本実施の形
態では、プロセス部6でステッパ露光の後処理だけを行
うものとする。
In the cassette placement section 5, for example, three cassettes can be placed. Further, the cassette has a plurality of stages so that a plurality of wafers can be placed. The process unit 6 is where pre-processing or post-processing of wafer exposure by the stepper exposure apparatus 2 is performed. In this embodiment, it is assumed that the process unit 6 only performs post-processes of stepper exposure.

【0016】プロセス部6のHP(ホットプレート)
は、ウェハを加熱してBAKE処理を行うプロセスエリアで
あり、CP(クールプレート)は、温められたウェハを
冷やすプロセスエリアであり、CUPは現像処理を行う
プロセスエリアであり、露光装置部は周辺露光を行うプ
ロセスエリアである。自動処理装置1には、かかる配置
に応じて各所にウェハを搬送する複数のロボットが備え
られている。
HP of the process section 6 (hot plate)
Is a process area for heating a wafer to perform a BAKE process, CP (cool plate) is a process area for cooling a warmed wafer, CUP is a process area for performing a development process, and an exposure apparatus section is a peripheral area. This is a process area for exposure. The automatic processing apparatus 1 is provided with a plurality of robots that transfer wafers to various places according to such arrangement.

【0017】まず、カセット配置部5近傍には、インデ
クサロボット7が備えられている。このインデクサロボ
ット7は、カセット配置部5と平行に移動し、また、プ
ロセス部6が前述のように配置されているので、旋回で
きるようになっている。プロセスロボエリア6aには、
搬送ロボット8が備えられている。この搬送ロボット8
は、上下左右に移動して各プロセスエリアにウェハを搬
送する。
First, an indexer robot 7 is provided near the cassette placement section 5. The indexer robot 7 moves in parallel with the cassette placement unit 5 and can rotate because the process unit 6 is placed as described above. In the process robot area 6a,
A transfer robot 8 is provided. This transfer robot 8
Moves the wafer up, down, left and right to transfer the wafer to each process area.

【0018】尚、インデクサロボット7、搬送ロボット
8には、図示しないが、延伸してウェハの受渡しをする
アームが備えられている。旋回ロボット9は、図4に示
すように、回転し、かつ伸縮自在なアーム9a,9bを
備え、アーム9a,9bを伸ばしてバッファ11又はバッ
ファ12のウェハを受け取る。また、先端のアーム9aに
は、真空チャックが設けられ、アーム9aにウェハが置
かれたとき、ウェハを吸引して固定するように構成され
ている。
Although not shown, the indexer robot 7 and the transfer robot 8 are provided with arms for extending and delivering the wafer. As shown in FIG. 4, the revolving robot 9 is provided with rotatable and extendable arms 9a and 9b, and the arms 9a and 9b are extended to receive the wafer of the buffer 11 or the buffer 12. Further, a vacuum chuck is provided on the arm 9a at the tip, and is configured to suck and fix the wafer when the wafer is placed on the arm 9a.

【0019】インデクサロボット7と搬送ロボット8と
の間には、バッファ10が設けられている。このバッファ
10には、方向別のステージIN,OUTがあり、ウェハ
を搬送方向別に載せるようになっている。尚、プロセス
部6、ステッパ露光の処理速度が大きく相違するとき
は、夫々、ステージIN,OUTの段数を複数にしても
よい。
A buffer 10 is provided between the indexer robot 7 and the transfer robot 8. This buffer
The stage 10 has stages IN and OUT for each direction, so that the wafer can be placed in each transfer direction. When the processing speeds of the process unit 6 and the stepper exposure are largely different, the number of stages IN and OUT may be plural.

【0020】インデクサロボット7と旋回ロボット9と
の間には、バッファ11が備えられている。このバッファ
11は、複数のウェハが載せられるように複数段となって
いる。そして、ウェハの載せる位置は、例えば、ウェハ
をステッパ露光装置2へ搬送するときはバッファ11の上
部に、ステッパ露光装置2から搬送されてきたときはバ
ッファ11の下部に載せるというように、搬送方向別に上
部・下部に分けられている。
A buffer 11 is provided between the indexer robot 7 and the turning robot 9. This buffer
11 has a plurality of stages so that a plurality of wafers can be placed. The wafer mounting position is, for example, such that the wafer is mounted on the upper portion of the buffer 11 when it is transported to the stepper exposure apparatus 2 and on the lower portion of the buffer 11 when it is transported from the stepper exposure apparatus 2. Separately divided into upper and lower parts.

【0021】尚、インデクサロボット7、搬送ロボット
8、旋回ロボット9、バッファ10〜12が搬送手段に相当
する。次に動作を説明する。カセット搬送ロボット3
は、通路4上を移動し、カセットを自動処理装置1のカ
セット配置部5の空いている位置に載せる。カセットは
カセット搬送ロボット3により記憶される。
The indexer robot 7, the transfer robot 8, the turning robot 9, and the buffers 10 to 12 correspond to the transfer means. Next, the operation will be described. Cassette transport robot 3
Moves on the passage 4 and places the cassette on an empty position of the cassette placement portion 5 of the automatic processing apparatus 1. The cassette is stored by the cassette transport robot 3.

【0022】インデクサロボット7は、アームを延ばし
てカセットからウェハを取り出して、一旦、アームを縮
め、バッファ10の前まで移動し、回転してアームを伸ば
してバッファ11の上部にウェハを載せる。尚、カセット
におけるウェハの位置は、元の位置に戻せるように記憶
されている。
The indexer robot 7 extends the arm to take out the wafer from the cassette, temporarily contracts the arm, moves to the front of the buffer 10, rotates and extends the arm to place the wafer on the buffer 11. The position of the wafer in the cassette is stored so that it can be returned to its original position.

【0023】旋回ロボット9は、アーム9a,9bを伸
ばしてこのウェハを受け取り、アーム9a,9bを縮め
て旋回し、再びアーム9a,9bを伸ばしてウェハをバ
ッファ12に載せ、ウェハはステッパ露光装置2のステー
ジ2cに載せられる。ステージ2cに載せられたウェハ
は、ステッパ露光装置2によりステッパ露光処理され
る。
The revolving robot 9 extends the arms 9a and 9b to receive the wafer, retracts the arms 9a and 9b and revolves, extends the arms 9a and 9b again to place the wafer on the buffer 12, and the wafer is a stepper exposure device. It is mounted on the second stage 2c. The wafer placed on the stage 2c is subjected to stepper exposure processing by the stepper exposure apparatus 2.

【0024】ウェハの露光処理が終了すると、ウェハは
ステージ2dに載せられ、バッファ12に搬送される。そ
して、旋回ロボット9は、アーム9a,9bを伸ばし、
このウェハを受け取ってウェハをバッファ11の下部に載
せる。インデクサロボット7は、バッファ11の下部に載
せられたウェハを受け取り、バッファ10の前まで移動し
てウェハをバッファ10のステージINに載せる。
When the exposure processing of the wafer is completed, the wafer is placed on the stage 2d and transferred to the buffer 12. Then, the turning robot 9 extends the arms 9a and 9b,
The wafer is received and placed on the lower part of the buffer 11. The indexer robot 7 receives the wafer placed under the buffer 11 and moves to the front of the buffer 10 to place the wafer on the stage IN of the buffer 10.

【0025】プロセルロボエリア6a内の搬送ロボット
8は、アームを伸ばしてバッファ10のステージIN上の
ウェハを受け取り、アームを縮め、上下左右方向に移動
して各処理工程へとウェハを搬送する。ウェハは、ここ
で、後処理、即ち、PEB 処理、COOL処理、DEV 処理、BA
KE処理、RECV処理が順次行われる。
The transfer robot 8 in the process cell robot area 6a extends the arm to receive the wafer on the stage IN of the buffer 10, contracts the arm, moves in the vertical and horizontal directions, and transfers the wafer to each processing step. Wafers are now post-processed: PEB process, COOL process, DEV process, BA process.
KE processing and RECV processing are sequentially performed.

【0026】後処理が終了すると、ウェハは、再び、バ
ッファ10のステージOUTに載せられ、インデクサロボ
ット7がステージOUT上のウェハを受け取り、回転し
てカセットの元の位置に置く。カセット配置部5におけ
るカセットの位置は、カセット搬送ロボット3に記憶さ
れているため、カセット搬送ロボット3は、処理済のウ
ェハが挿入されたカセットを次工程へと搬送する。
When the post-processing is completed, the wafer is placed on the stage OUT of the buffer 10 again, and the indexer robot 7 receives the wafer on the stage OUT and rotates it to put it in the original position of the cassette. Since the position of the cassette in the cassette placement unit 5 is stored in the cassette transfer robot 3, the cassette transfer robot 3 transfers the cassette in which the processed wafer is inserted to the next process.

【0027】かかる構成によれば、プロセス部6がステ
ッパ露光装置と略平行に配置され、この配置に応じてイ
ンデクサロボット7等が配置されているので、デッドス
ペースがなくなり、省スペース化を図ることができる。
また、カセット搬送ロボット3の通路4をステッパ露光
装置2から離れた位置に配置することができ、レチクル
の交換等の操作とカセット搬送ロボット3による搬送作
業とが互いに干渉せず、作業の効率化を図ることができ
る。
According to this structure, the process section 6 is arranged substantially parallel to the stepper exposure device, and the indexer robot 7 and the like are arranged in accordance with this arrangement, so that there is no dead space, and space is saved. You can
Further, the passage 4 of the cassette transfer robot 3 can be arranged at a position away from the stepper exposure device 2, and operations such as reticle exchange and the transfer work by the cassette transfer robot 3 do not interfere with each other, thus improving work efficiency. Can be achieved.

【0028】さらに、バッファ10、11は、搬送方向別に
ウェハを載せるように構成されているので、各ロボット
は、独自に移動することができ、作業効率が向上する。
尚、本実施の形態では、プロセス部が1つだけのシング
ルラインタイプのものについて説明したが、これに限ら
ず、プロセス部を2列にして、前処理及び後処理を行う
フルインラインタイプのものにすることもできる。
Further, since the buffers 10 and 11 are constructed so as to place the wafers in the respective transfer directions, each robot can move independently and the working efficiency is improved.
In addition, in the present embodiment, the single line type having only one process section has been described, but the present invention is not limited to this, and the full in-line type in which the process sections are arranged in two rows and pre-processing and post-processing are performed. You can also

【0029】このような配置にすることにより、容易に
処理ラインを追加することも可能となる。
With this arrangement, it is possible to easily add a processing line.

【0030】[0030]

【発明の効果】以上説明したように、請求項1の発明に
かかる装置によれば、デッドスペースがなくなり、省ス
ペース化を図ることができる。請求項2の発明にかかる
装置によれば、バッファを介してウェハの受渡しが行わ
れ、また、カセット配置部から半導体露光装置への搬送
経路と、半導体露光装置からカセット配置部への搬送経
路と、が別になるため、作業効率が向上する。
As described above, according to the device of the first aspect of the present invention, the dead space is eliminated and the space can be saved. According to the apparatus of the second aspect of the present invention, the wafers are delivered and received through the buffer, and the transfer path from the cassette arrangement unit to the semiconductor exposure apparatus and the transfer path from the semiconductor exposure apparatus to the cassette arrangement unit are provided. Since, and are different, work efficiency is improved.

【0031】請求項3の発明にかかる装置によれば、露
光装置及び前後処理装置の処理速度の差を吸収すること
ができ、さらに作業効率が向上する。
According to the apparatus of the third aspect of the present invention, it is possible to absorb the difference in processing speed between the exposure apparatus and the front-back processing apparatus, and further improve work efficiency.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の第1の実施の形態を示す平面図。FIG. 1 is a plan view showing a first embodiment of the present invention.

【図2】図1のA−A’断面図。FIG. 2 is a sectional view taken along the line A-A ′ in FIG.

【図3】図1の側面図。FIG. 3 is a side view of FIG. 1;

【図4】図1の旋回ロボットの斜視図。4 is a perspective view of the turning robot of FIG. 1. FIG.

【図5】従来の装置の配置図。FIG. 5 is a layout view of a conventional device.

【図6】従来の装置の配置説明図。FIG. 6 is an explanatory view of the arrangement of a conventional device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 自動処理装置 2 ステッパ露光装置 5 カセット配置部 6 プロセス部 7 インデクサロボット 8 搬送ロボット 9 旋回ロボット 10,11 バッファ 1 Automatic Processing Device 2 Stepper Exposure Device 5 Cassette Arrangement Unit 6 Process Unit 7 Indexer Robot 8 Transfer Robot 9 Swiveling Robot 10, 11 Buffer

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】レジストが塗布されたウェハを、所望の回
路パターンを用いて露光する半導体露光装置に連結さ
れ、該半導体露光装置によるウェハ露光の前処理又は後
処理を行う処理部と、前記半導体露光装置又は処理部に
供給するウェハが挿入されたカセットを配置するカセッ
ト配置部と、カセット配置部、処理部、半導体露光装置
の各間、及び処理部内に備えられてウェハの搬送を行う
搬送手段と、を備えた半導体露光装置の自動処理装置に
おいて、 前記カセット配置部を、半導体露光装置のウェハの出し
入れ口正面と対面するように配置し、前記処理部を、カ
セット配置部と半導体露光装置との間に、長手方向がこ
れらの対面方向と略直角方向となるように配置したこと
を特徴とする半導体露光装置の自動処理装置。
1. A processing unit connected to a semiconductor exposure apparatus for exposing a wafer coated with a resist using a desired circuit pattern to perform pre-processing or post-processing of wafer exposure by the semiconductor exposure apparatus; A cassette arranging section for arranging a cassette in which a wafer to be supplied to the exposure apparatus or the processing section is inserted, and a conveying means provided between the cassette arranging section, the processing section, the semiconductor exposure apparatus, and in the processing section for conveying the wafer In the automatic processing apparatus of the semiconductor exposure apparatus, comprising: the cassette arranging portion so as to face the front of the wafer loading / unloading port of the semiconductor exposure apparatus, and the processing portion, the cassette arranging portion and the semiconductor exposure apparatus. An automatic processing apparatus for a semiconductor exposure apparatus, characterized in that a longitudinal direction thereof is arranged substantially in the direction perpendicular to these facing directions.
【請求項2】前記搬送手段は、ウェハを載せるバッファ
を搬送方向別に備える一方、バッファにウェハを搬送方
向別に載せることにより、バッファを介して搬送するよ
うに構成されたことを特徴とする請求項1に記載の半導
体露光装置の自動処理装置。
2. The transfer means is provided with a buffer for mounting a wafer for each transfer direction, and is configured to transfer the wafer through the buffer by mounting the wafer on the buffer for each transfer direction. 1. An automatic processing apparatus for a semiconductor exposure apparatus according to 1.
【請求項3】前記バッファは、搬送方向毎に複数備えら
れたことを特徴とする請求項2に記載の半導体露光装置
の自動処理装置。
3. The automatic processing apparatus for a semiconductor exposure apparatus according to claim 2, wherein a plurality of said buffers are provided for each carrying direction.
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007287909A (en) * 2006-04-17 2007-11-01 Tokyo Electron Ltd Application/development device, control method for application/development device, and storage medium
JP2011211218A (en) * 2011-06-02 2011-10-20 Tokyo Electron Ltd Coating and developing device, method of controlling coating and developing device, and storage medium
US8747949B2 (en) 2006-04-17 2014-06-10 Tokyo Electron Limited Coating and developing system, method of controlling coating and developing system and storage medium

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