JPH0888634A - Communication path test equipment between intra-office equipments at time of system start of atm exchange - Google Patents

Communication path test equipment between intra-office equipments at time of system start of atm exchange

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JPH0888634A
JPH0888634A JP6224822A JP22482294A JPH0888634A JP H0888634 A JPH0888634 A JP H0888634A JP 6224822 A JP6224822 A JP 6224822A JP 22482294 A JP22482294 A JP 22482294A JP H0888634 A JPH0888634 A JP H0888634A
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JP
Japan
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test
communication path
test cell
atm
cell
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Application number
JP6224822A
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Japanese (ja)
Inventor
Hiroyuki Kudo
裕之 工藤
Nobuhiko Eguchi
信彦 江口
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Publication date
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Abstract

PURPOSE: To test the intra-office equipment before software control for the entire system is started at time of system start using the hardware to realize ATM routing for the continuity test among intra-office equipments before control data are sent to the intra-office equipments of an ATM exchange at time of system start. CONSTITUTION: In a state before the entire control of the system by the exchange control software 1 is started, a communication path test command means is used to provide a test command from the outside of the system. Thus, the continuity test among inter-equipment paths for control data communication is conducted by the hardware itself at time of system start by using a generating and evaluation means for a test cell including a pay-load part as to loopback header information, hardware switching (routing) for the test cell by an ATM switching means 3, and a test cell loopback means using the looped back header information in the test cell in a device 2 to be tested. The header information required for the routing is included in the test cell.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明はATM(Asynchronous Tr
ansfer Mode)交換機に関し、特にATM交換機のシステ
ム起動時における局内装置間の通信パス試験装置に関す
るものである。
The present invention relates to an ATM (Asynchronous Trunk).
The present invention relates to an ansfer mode) switch, and more particularly to a communication path test device between intra-station devices when the ATM switch system is activated.

【0002】[0002]

【従来の技術】ATM交換機内部におけるATMセルの
ルーティングは、ATMセルのヘッダ部分にあるルーテ
ィング情報を加入者収容装置等の共通部装置内部で交換
機制御ソフトウェアからの情報により随時書き換える事
によって実現している。
2. Description of the Related Art Routing of ATM cells inside an ATM switch is realized by rewriting the routing information in the header portion of the ATM cell inside a common unit device such as a subscriber accommodation device by information from the switch control software at any time. There is.

【0003】図8は、ATM交換機の基本的なシステム
構成例を図式的に描いたブロック図である。図8におい
て、交換機制御ソフト1からの交換機制御データは、制
御データ伝送制御装置2の制御データ/ATMセル変換
部6でATMセル化される。前記制御用のATMセル
は、いわゆるインバンド方式により、通常の音声/デー
タ等を運ぶユーザセルと同様にATM交換機3(スイッ
チ部)を通って加入者収容装置4等に分配される。
FIG. 8 is a block diagram schematically illustrating a basic system configuration example of an ATM exchange. In FIG. 8, the exchange control data from the exchange control software 1 is converted into ATM cells by the control data / ATM cell conversion unit 6 of the control data transmission control device 2. The control ATM cell is distributed by the so-called in-band method to the subscriber accommodation device 4 and the like through the ATM switch 3 (switch unit) in the same manner as a user cell carrying normal voice / data and the like.

【0004】上記制御データ通信においては前記制御用
のATMセルを使って、交換機制御ソフト1から加入者
収容装置4に対して加入者から送信されてくるユーザセ
ルをルーティングするためのヘッダ書換えテーブル情報
等が送られ、逆に加入者収容装置4からは障害情報等が
交換機制御ソフト1に対して送られる。加入者収容装置
4は、制御データ/ATMセル変換部7で受信した前記
ATMセルのヘッダ書換えテーブル情報に従って、そこ
に収容する各ATM加入者回路5のヘッダ書換え部8の
ルーティングテーブルを書き換える。
In the control data communication, header rewriting table information for routing the user cell transmitted from the subscriber to the subscriber accommodation device 4 from the exchange control software 1 using the control ATM cell. And the like, and conversely, failure information and the like are sent from the subscriber accommodation device 4 to the exchange control software 1. The subscriber accommodation device 4 rewrites the routing table of the header rewriting unit 8 of each ATM subscriber circuit 5 accommodated therein according to the header rewriting table information of the ATM cell received by the control data / ATM cell conversion unit 7.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】上述したように、加入
者収容装置4等の通話路系装置は、制御データ伝送用の
パスがつながって定常状態にならなければ交換機能を実
現することができないのである。そのためには、システ
ム起動によって、交換機制御ソフト1からの制御データ
が前記制御データ伝送用のパスを通してATM交換機を
構成する各局内装置内にそれぞれ設定され、ソフトウェ
アによるシステム全体の制御が可能となっていなければ
ならない。
As described above, the communication path system device such as the subscriber accommodation device 4 cannot realize the switching function unless the control data transmission path is connected and becomes a steady state. Of. To this end, when the system is started up, the control data from the exchange control software 1 is set in each in-station device constituting the ATM exchange through the control data transmission path, and the entire system can be controlled by software. There must be.

【0006】しかしながら、従来のATM交換機では、
システム起動時に前記交換機制御ソフト1からの制御デ
ータを流す際に前記制御データ伝送用パスの正常性を確
認することができず、そのため制御データパスの導通が
確認しないまま前記制御データを各局内装置間へ送出し
ていた。すなわち、従来のATM交換機には、上述した
ソフトウェア制御が確立する以前に制御データ伝送用パ
スの導通確認を行うための機能、例えばその導通確認の
ための試験用セルの生成機能等、を有しておらず、また
従来のATM交換機を構成する各局内装置にあっては、
例えば自立的にそのような試験用セルを折り返す機能、
その試験用セルを被試験ルートに流す機能、さらにはそ
の試験用セルを試験用セルの発生源に戻すための機能等
を有していなかった。
However, in the conventional ATM switch,
It is not possible to confirm the normality of the control data transmission path when the control data from the exchange control software 1 is flowed at the time of system startup, so that the control data is transmitted to each station device without confirming the continuity of the control data path. I was sending out to. That is, the conventional ATM switch has a function for confirming the continuity of the control data transmission path before the above software control is established, for example, a test cell generation function for confirming the continuity. No, and in each station device that constitutes the conventional ATM switch,
For example, the function of folding back such a test cell autonomously,
It does not have the function of flowing the test cell to the route under test, and the function of returning the test cell to the source of the test cell.

【0007】従って、従来においては制御データ伝送用
パスを用いてソフトウェア全体の制御を確立した後でな
ければその制御データ伝送用パスの導通試験が行えない
という一見矛盾した事態となり、このためシステム起動
時に制御データの通信が不安定になったり、またその通
信が不可能になる等の障害が発生し、さらにはその障害
の原因究明が非常に困難である等の種々の問題があっ
た。
Therefore, in the prior art, a continuity test of the control data transmission path can be performed only after the control of the entire software is established using the control data transmission path. There have been various problems such that the control data communication becomes unstable at times, and the communication becomes impossible, and it is very difficult to investigate the cause of the failure.

【0008】そこで本発明の目的は、上記種々の問題点
に鑑み、システム起動時であってATM交換機の局内装
置に制御データを送出する前に、ハードウェアによって
各局内装置間の自立的な導通試験のためのATMセルの
ルーティングを実現し、それによってシステム起動時の
ソフトウェア制御が機能する以前に制御データ伝送用パ
スの導通試験を可能としたATM交換機のシステム起動
時における局内装置間の通信パス試験装置を提供するこ
とにある。
Therefore, in view of the above-mentioned various problems, an object of the present invention is to establish a self-conducting state between the devices in each station by hardware before the control data is sent to the device in the station of the ATM switch at the time of system startup. A communication path between intra-station devices at the time of system startup of the ATM switch, which realizes the routing of ATM cells for the test, thereby enabling the continuity test of the control data transmission path before the software control at the time of system startup functions. To provide a test device.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】本発明によれば、ATM
交換機の局内装置間の通信パスを試験する装置は:AT
Mセルをそのヘッダ部に含まれる宛て先ヘッダ情報に従
って所定の局内装置へ導くATMスイッチング手段;シ
ステム起動時においてシステム全体のソフトウェア制御
が開始される前にも被試験装置に対する制御パスの導通
試験を指示する局内装置間の通信パス試験指示手段;前
記通信パス試験指示手段からの試験指示により、前記被
試験装置に対する制御パスの導通試験を行うための試験
用セルを前記ATMスイッチング手段に出力する試験用
セル発生手段;前記ATMスイッチング手段を介して前
記試験用セルを受信した際に、ATM交換機のシステム
ソフトウェア制御によらず自律的に前記試験用セルのヘ
ッダ部を所定のヘッダ情報に置き換えて折り返し、そし
て前記ATMスイッチング手段に出力する前記被試験装
置における試験用セル折り返し手段;そして前記ATM
スイッチング手段を介して前記試験用セル折り返し手段
によって折り返された試験用セルを受信し、その試験用
セルに対して所定の評価を行う試験用セル評価手段から
成るATM交換機の局内装置間の通信パス試験装置が提
供される。
According to the present invention, an ATM
The equipment that tests the communication path between the in-office equipment of the exchange is: AT
ATM switching means for guiding an M cell to a predetermined in-station device according to destination header information included in its header portion; continuity test of control path to device under test even before software control of the entire system is started at system startup Communication path test instructing means between in-station devices to be instructed; Test for outputting a test cell for conducting a continuity test of a control path to the device under test to the ATM switching means in response to a test instruction from the communication path test instructing means Cell generating means: When the test cell is received via the ATM switching means, the header part of the test cell is autonomously replaced by predetermined header information without depending on the system software control of the ATM switch and returned. , And for testing in the device under test that outputs to the ATM switching means Le folded unit; and the ATM
A communication path between intra-station devices of an ATM switch, which comprises a test cell evaluation means for receiving a test cell returned by the test cell return means via a switching means and performing a predetermined evaluation on the test cell. A test device is provided.

【0010】前記試験用セルは、宛て先ヘッダ情報を含
むヘッダ部と試験用セルであることを示す所定の表示と
を有し、前記所定の表示は、ヘッダ部における所定のビ
ット値(Oビット)、ヘッダ部における所定のビット群
の値(VPI/VCI又はPTI)、又はペイロード部
に書き込まれたOAMタイプ等が用いられる。また前記
試験用セルは、少なくとも1つの折り返し先のヘッダ情
報を含むペイロード部を有し、さらに前記制御パスの評
価のための試験用ビットパターン部を有する。
The test cell has a header portion containing destination header information and a predetermined indication indicating that the cell is a test cell. The predetermined indication is a predetermined bit value (O bit) in the header portion. ), A value of a predetermined bit group in the header part (VPI / VCI or PTI), or an OAM type written in the payload part. Further, the test cell has a payload portion including at least one return destination header information, and further has a test bit pattern portion for evaluating the control path.

【0011】前記試験用セル折り返し手段は、前記所定
の表示によって前記試験用セルを検出した際に、前記ヘ
ッダ部の宛て先ヘッダ情報を前記ペイロード部に含まれ
る折り返し先のヘッダ情報に置き換えたり、また前記所
定の表示によって前記試験用セルを検出した際に、前記
ペイロード部に含まれる折り返し先のヘッダ情報が複数
の場合には、前記ヘッダ部の宛て先ヘッダ情報を所定の
順序で前記ペイロード部に含まれる複数の折り返し先の
ヘッダ情報のうちの1つと置き換え、前記置き換えられ
た折り返し先のヘッダ情報は前記ペイロード部から削除
する。そして、前記ペイロード部に含まれる複数の折り
返し先のヘッダ情報のうち最後に前記ヘッダ部の宛て先
ヘッダ情報として置き換えられるヘッダ情報は、前記試
験用セル評価手段の宛て先を示す。または、前記試験用
セル折り返し手段は、前記所定の表示によって前記試験
用セルを検出した際に、そのヘッダ部の宛て先ヘッダ情
報を自ら保有する前記試験用セル評価手段に固有のヘッ
ダ情報に置き換える。
When the test cell is detected by the predetermined display, the test cell return means replaces the destination header information of the header section with the return destination header information included in the payload section, Further, when the test cell is detected by the predetermined display, when the return destination header information included in the payload portion is plural, the destination header information of the header portion is transferred in a predetermined order to the payload portion. Is replaced with one of a plurality of header information of the return destination included in the above, and the replaced header information of the return destination is deleted from the payload part. Then, the header information that is finally replaced as the destination header information of the header portion among the plurality of return destination header information included in the payload portion indicates the destination of the test cell evaluation means. Alternatively, when the test cell is detected by the predetermined display, the test cell return means replaces the destination header information of the header part with the header information unique to the test cell evaluation means which is held by itself. .

【0012】実施態様としては、前記試験用セル発生手
段及び前記試験用セル評価手段は1つのATM交換機試
験装置内に設けられ、前記試験用セル発生手段及び前記
試験用セル評価手段はATM交換機の制御データ伝送制
御装置(BSGCSH)に含まれ、さらに前記通信パス
試験指示手段はATM交換機の制御データ伝送制御装置
(BSGCSH)に含まれ、外部から試験指示を行う保
守・運用端末によって交換機制御ソフトウェアを介さず
に直接前記導通試験の指示を行うことができる。
In an embodiment, the test cell generation means and the test cell evaluation means are provided in one ATM switch test apparatus, and the test cell generation means and the test cell evaluation means are provided in an ATM switch. It is included in the control data transmission control device (BSGCSH), and the communication path test instruction means is included in the control data transmission control device (BSGCSH) of the ATM exchange, and the exchange control software is executed by a maintenance / operation terminal that issues a test instruction from the outside. The continuity test can be instructed directly without intervention.

【0013】さらに、前記ATMスイッチング手段はA
TM交換機のATMスイッチ部(ASSW)、前記被試
験装置はATM交換機の加入者収容装置(SIFS
H)、前記通信パス試験指示手段はATM交換機の交換
機制御ソフトウェア等で構成され、そして前記通信パス
試験指示手段はATM交換機に対して外部から試験指示
を行う保守・運用端末を含み、前記導通試験の指示は全
て前記保守・運用端末から行うことができる。
Further, the ATM switching means is A
The ATM switch section (ASSW) of the TM switch, and the device under test is a subscriber accommodation device (SIFS) of the ATM switch.
H), the communication path test instructing means is composed of exchange control software of an ATM exchange, and the communication path test instructing means includes a maintenance / operation terminal for externally issuing a test instruction to the ATM exchange, and the continuity test. All instructions can be issued from the maintenance / operation terminal.

【0014】[0014]

【作用】本発明によれば、交換機制御ソフトウェアによ
るシステム全体の制御が開始される以前の状態において
も、前記通信パス試験指示手段を使ってシステム外部か
ら試験指示を行うことで、折り返し用のヘッダ情報をペ
イロード部に含む前記試験用セルの発生及び評価手段、
前記ATMスイッチング手段による試験用セルのハード
ウェアスイッチング(ルーティング)、そして被試験装
置における試験用セルの折り返しヘッダ情報を利用した
前記試験用セル折り返し手段によって、システム起動時
にハード自律で制御データ通信用の装置間パスの導通試
験がなされる。
According to the present invention, even in a state before the control of the entire system by the exchange control software is started, a test instruction is given from the outside of the system by using the communication path test instructing means, so that the return header is returned. Generation and evaluation means of the test cell containing information in the payload section,
The hardware switching (routing) of the test cell by the ATM switching means and the test cell return means using the return header information of the test cell in the device under test are used for hardware autonomous control data communication at system startup. A continuity test of the inter-device path is performed.

【0015】前記折り返し用のヘッダ情報はペイロード
部に2次、3次等の折り返し情報として複数もつことが
でき、前記試験用セル折り返し手段は、これらを順次ヘ
ッダ部に入れ替えていくことにより複雑なパスルートの
導通試験も容易に実施できる。なお、前記試験用セル折
り返し手段は、被試験装置内部で固定的に保有するAT
M交換機試験装置へのヘッダアドレスを受信した試験用
セルのヘッダと入れ替える簡単な入れ替え操作により、
被試験装置とATM交換機試験装置との間の双方向導通
試験を行うことができる。前記試験用セル折り返し手段
は、ヘッダ中の前記所定の表示によって試験用セルと判
断し、交換機制御ソフトウェアによらずに被試験装置の
ハードウェア自律による単純なヘッダの入れ替え処理を
起動する。
A plurality of the header information for loopback can be provided in the payload section as secondary, tertiary, etc. loopback information, and the test cell loopback means is complicated by sequentially replacing these in the header section. The continuity test of the pass route can be easily performed. The test cell turning-back means is an AT that is fixedly held inside the device under test.
By a simple replacement operation that replaces the header address of the M switch test equipment with the header of the received test cell,
A bidirectional continuity test between the device under test and the ATM switch test device can be performed. The test cell returning means determines that the cell is a test cell based on the predetermined display in the header, and activates a simple header exchange process by hardware autonomy of the device under test without relying on the exchange control software.

【0016】試験用セルと判定するための前記所定の表
示には、ハードによる一致検出等が容易なOビット=1
の検出、予め取り決められた特定のVPI/VCI,P
TI、又はペイロード中に書き込むOAMタイプ等が用
いられる。また、前記通信パス試験指示手段は、パソコ
ンやワークステーション等によりATM交換機試験装置
へのパラメータ設定などが可能で、本発明による試験の
実施をATM交換機に依存することなく、外部から完全
に独立して行うことができる。前記パソコンやワークス
テーション等は、ATM交換制御ソフトウェア(交換処
理プロセッサ)本体に接続されてもよく、又はシグナリ
ング・データを処理する制御データ伝送制御装置(BS
GCSH)に直接接続されてもよい。
In the above-mentioned predetermined display for determining the test cell, O bit = 1 for easy coincidence detection by hardware.
Detection, a predetermined VPI / VCI, P
TI, OAM type to be written in the payload, or the like is used. Further, the communication path test instructing means can set parameters for the ATM switch test apparatus by a personal computer, a workstation or the like, and the test according to the present invention can be completely independent from the outside without depending on the ATM switch. Can be done by The personal computer, workstation, etc. may be connected to the main body of the ATM switching control software (switching processor), or a control data transmission controller (BS) for processing signaling data.
GCSH) may be directly connected.

【0017】さらに、本発明による他の実施態様として
試験用セルの発生/評価手段はATM交換機試験装置
に、試験用セルのヘッダをペイロードの中にある、第
2、第3のヘッダと付け替える機能をは制御データ伝送
制御装置(BSGCSH)、そして加入者収容装置(S
IFSH)は内部に保持している制御データ伝送制御装
置(BSGCSH)へ向かうような固定値のヘッダを付
けるのみとした機能分担等も考えられる。
Further, as another embodiment according to the present invention, the test cell generating / evaluating means has a function of replacing the header of the test cell with the second and third headers in the payload in the ATM switch test apparatus. Is a control data transmission control device (BSGCSH), and a subscriber accommodation device (S
It is also conceivable that the IFSH) may only be provided with a header having a fixed value so as to be directed to the control data transmission control device (BSGCSH) held internally.

【0018】[0018]

【実施例】図1は、本発明によるATM交換機のシステ
ム起動時における局内装置間の通信パス試験装置で用い
られる試験用セルのフォーマットの一例を示した図であ
る。図1に示すように、試験用ATMセルは、ATM交
換機の局内装置間のルーティング情報を与えるために1
バイトが新たに付加された6バイトのヘッダ部、そして
通信情報を収容する48バイトのペイロード部から構成
される。通常ATMセルのルーティングはソフト制御に
よりそのヘッダ部分を随時書き換えることによって実現
されるが、本発明の場合にはソフト制御が全く実行され
ない状態で前記試験用セルのルーティング制御を行うた
め、その導通試験用のセルには予めルーティングに必要
な全てのヘッダ情報を収容している。
FIG. 1 is a diagram showing an example of the format of a test cell used in a communication path test apparatus between intra-station devices when the system of an ATM switch according to the present invention is activated. As shown in FIG. 1, the test ATM cell is 1 in order to provide the routing information between the intra-station devices of the ATM switch.
It is composed of a 6-byte header part in which bytes are newly added, and a 48-byte payload part for accommodating communication information. Normally, the routing of the ATM cell is realized by rewriting the header portion of the ATM cell by software control at any time, but in the case of the present invention, since the routing control of the test cell is performed in the state where the software control is not executed at all, the continuity test is performed. The header cell contains all the header information necessary for routing in advance.

【0019】そのため、ATM交換機側に上記試験用セ
ルのヘッダ部とペイロード部のどちらも自由に設定でき
るATM交換機試験装置を用意し、図1に示すように試
験用セルのペイロード中に3組分のヘッダ情報領域(1
8バイト)と試験用のビット・パターン領域とを設け、
前者には2番目以降のヘッダ情報を順次収容し、そして
後者には例えばエラーレイトを測定するためのランダム
パターン等を書込んである。
Therefore, an ATM switch tester is provided on the side of the ATM switch in which both the header part and the payload part of the test cell can be freely set, and as shown in FIG. Header information area (1
8 bytes) and a bit pattern area for testing,
In the former, the second and subsequent header information are sequentially accommodated, and in the latter, for example, a random pattern or the like for measuring the error rate is written.

【0020】一方、前述した加入者収容装置や制御デー
タ伝送制御装置などの共通部装置側には、前記試験用セ
ルの折り返し機能を持たせてある。図2は、本発明によ
る試験用セルを使った折り返し機能の説明図であり、具
体的にはヘッダの入れ替え動作の一例を示している。図
2の(a)に示すように、システム起動時に前記ATM
交換機試験装置から試験用セルを受け取った最初の共通
部装置は、その折り返し機能を使って前記試験用セルを
2番目の共通部装置へ折り返すために、受取時のヘッダ
0は破棄してその代わりにペイロード中最上位の6バイ
トを新たなヘッダ1としてヘッダ領域に移動し、残りの
ヘッダ2及び3も6バイト上位にシフトする。ただし、
試験用のビット・パターン領域は動かさないこととす
る。
On the other hand, the common cell device side such as the subscriber accommodation device and the control data transmission control device described above is provided with a return function of the test cell. FIG. 2 is an explanatory diagram of the loopback function using the test cell according to the present invention, and specifically shows an example of the header replacement operation. As shown in FIG. 2 (a), the ATM is activated when the system is started.
The first common unit device that receives the test cell from the exchange testing device uses the return function to return the test cell to the second common unit device, so that the header 0 at the time of reception is discarded and replaced. Then, the uppermost 6 bytes in the payload are moved to the header area as a new header 1, and the remaining headers 2 and 3 are also shifted to the upper 6 bytes. However,
The test bit pattern area shall not be moved.

【0021】以降の2番目及び3番目の共通部装置の折
り返し動作も同様である(図2の(b)〜(d))。な
お、本折り返し機能を起動する際の条件としては、交換
機制御ソフトウェアからの制御データの装置間通信が未
だ確立されていない状態であること、及び受信した試験
用セルのヘッダ中に本発明によるセル・ヘッダ付け替え
機能を被試験装置に対して起動するための識別ビットが
設定されていることの2点が上げられる。
The subsequent folding operation of the second and third common unit devices is the same ((b) to (d) of FIG. 2). The conditions for activating the loopback function are that the inter-device communication of the control data from the exchange control software is not yet established, and the cell according to the present invention is included in the header of the received test cell. -There are two points that the identification bit is set to activate the header replacement function for the device under test.

【0022】図3は、図1及び図2の試験用セルを適用
したATM交換機システムの一実施例を示したものであ
る。なお、図8と同じものについては同一の符号を付し
ている。また、以降で説明する実施例に関しても同様に
同一符号を付している。図4は、図3に示す試験用セル
のヘッダ入れ替え動作の一例を示したものである。図3
において、まずATM交換機試験装置9から送出される
試験用セル(図4の(a))は、制御データ伝送制御装
置2である被試験装置1へ到達するよう設定されたヘッ
ダ(ヘッダ0)を持ち、そのペイロード部には3組のヘ
ッダ情報(ヘッダ1は被試験装置1から被試験装置2
へ、ヘッダ2は被試験装置2から被試験装置1へ、そし
てヘッダ3は被試験装置1からATM交換機試験装置へ
とそれぞれ向かうよう設定されている。)を有してい
る。本試験用セルのルーティング情報は、ATM交換機
3を構成するATMスイッチがハード的に識別する方路
選択ビットで構成されることから前記試験用セルはその
ヘッダ情報に従って自動的に目的の被試験装置に到達す
る。
FIG. 3 shows an embodiment of an ATM exchange system to which the test cells of FIGS. 1 and 2 are applied. The same parts as those in FIG. 8 are designated by the same reference numerals. Further, the same reference numerals are similarly attached to the embodiments described below. FIG. 4 shows an example of the header replacement operation of the test cell shown in FIG. FIG.
First, the test cell ((a) in FIG. 4) sent from the ATM switch test apparatus 9 has a header (header 0) set so as to reach the device under test 1, which is the control data transmission control device 2. And the payload portion thereof has three sets of header information (header 1 from device under test 1 to device under test 2).
, The header 2 is set to go from the device under test 2 to the device under test 1, and the header 3 is set to go from the device under test 1 to the ATM switch test apparatus. )have. Since the routing information of the main test cell is composed of the route selection bit that the ATM switch forming the ATM switch 3 identifies by hardware, the test cell automatically receives the target device under test according to its header information. To reach.

【0023】従って、図4の(a)に示す試験用セルは
ATMスイッチによって被試験装置1に到達する。前記
被試験装置1でATMセルの組立/分解等を行う共通部
装置は、図4の(b)に示すように受信したATMセル
のヘッダ部の入れ替えを行い、その試験用セルをATM
スイッチへ折り返し送出する。次に、前記試験用セルは
そのヘッダ情報(ヘッダ1)によりATMスイッチを介
して加入者収容装置4である被試験装置2へ到達する。
前記被試験装置2は、その共通部装置である制御データ
/ATMセル変換部7において前述した被試験装置1と
同様に図4の(c)に示すヘッダ部の入れ替えを行い、
その試験用セルをATMスイッチへ折り返し送出する。
Therefore, the test cell shown in FIG. 4A reaches the device under test 1 by the ATM switch. The common unit device for assembling / disassembling the ATM cell in the device under test 1 replaces the header part of the received ATM cell as shown in FIG.
Send it back to the switch. Next, the test cell reaches the device under test 2, which is the subscriber accommodation device 4, through the ATM switch by the header information (header 1).
The device under test 2 replaces the header portion shown in FIG. 4 (c) in the control data / ATM cell conversion unit 7 which is the common unit device, as in the device under test 1 described above.
The test cell is sent back to the ATM switch.

【0024】この場合、前記試験用セルは、ヘッダ部の
情報(ヘッダ2)に従って再び被試験装置1に折り返さ
れる(2装置間の双方向パスを同時に試験する場合に相
当する。)。前記被試験装置1は、受信した試験用セル
のヘッダ部を再度入れ換えて(図4の(d))、最終的
に試験用セルはそのヘッダ情報(ヘッダ3)に従って試
験用セルの送出元であるATM交換機試験装置9へ戻さ
れる。ATM交換機試験装置9では、送出した全セル数
と受信した全セル数とを比較したり、またそれらのペイ
ロード部に収められた試験用ビット・パターンを照合し
たりして誤りセル数/誤りビット数などをチェックする
ことができる。それによって、ATM交換機試験装置9
は、システム起動時であってソフトウェア制御が行われ
る前に、種々の局内装置間の制御データ伝送用のパスの
導通試験や通信品質試験を行うことが出来る。
In this case, the test cell is returned to the device under test 1 again according to the information in the header portion (header 2) (corresponding to the case of simultaneously testing the bidirectional path between the two devices). The device under test 1 replaces the header portion of the received test cell again ((d) of FIG. 4), and finally the test cell is the source of the test cell according to the header information (header 3). It is returned to a certain ATM switch test apparatus 9. The ATM switch test apparatus 9 compares the total number of transmitted cells with the total number of received cells, and collates the test bit patterns contained in their payloads to determine the number of error cells / error bits. You can check the number. As a result, the ATM switch testing device 9
Can conduct a continuity test and a communication quality test of a control data transmission path between various intra-station devices at system startup and before software control is performed.

【0025】図5は、現在FETEX−150というA
TM交換機で採用されているATMセルのフォーマット
例を示したものである。図5において、第1バイト目〜
第6バイト目までがヘッダ部、そして第7バイト目〜第
54バイト目までがペイロード部である。1バイト目の
Oビットは、前述したATM交換機試験装置等から送出
され、本ATMセルが試験用セルであることを指示する
(O=0;ユーザセル、O=1;装置内試験用セル)。
ATM交換機試験装置は、本ビットを使って被試験装置
に前述したセル・ヘッダの付け替えによるセル折り返し
を指示し(O=1)、試験用セルを受信した各局内装置
はセル・ヘッダ付け替え機能を実行する。
FIG. 5 shows the current FET EX-150
It shows an example of the format of an ATM cell used in a TM exchange. In FIG. 5, the first byte
The 6th byte up to the header part, and the 7th to 54th bytes up to the payload part. The O bit of the first byte is sent from the above-mentioned ATM switch test apparatus or the like and indicates that this ATM cell is a test cell (O = 0; user cell, O = 1; in-apparatus test cell). .
The ATM switch test device uses this bit to instruct the device under test to return cells by replacing the cell header (O = 1), and each in-station device that has received the test cell has the cell header replacement function. Run.

【0026】第1バイト目及び第2バイト目の" TAG
A" 及び "TAGB" の各ビット群は、ATMスイッチ
によってハードウェア的にATMセルをスイッチングす
る際の方路選択情報となる。本発明では以上の各パラメ
ータを使って試験用セルのルーティングを行う。なお、
他の各ビット若しくはビット群の機能に関しては、それ
らはATMセルにおいて一般的に規定されているもので
あり、ここではそれらについて説明しない。
"TAG" of the first byte and the second byte
Each bit group of "A" and "TAGB" serves as route selection information when the ATM cell is hardware switched by the ATM switch. In the present invention, the test cell is routed by using each of the above parameters. Incidentally,
Regarding the function of each of the other bits or groups of bits, they are generally defined in the ATM cell and will not be described here.

【0027】図6は、図5で示したFETEX−150
のATM交換機を構成する局内装置間の通信パス試験構
成の一実施例を示したブロック図である。図6におい
て、ATM交換機試験装置9は、ATM交換機プロセッ
サ1にペリフェラル・インタフェース(PIF)10,
11を経由して直接接続され、システム起動後にソフト
ウェアが立ち上がれば直ちに使用することができる。ま
た、オペレータは、コンソール12を介してATM交換
機の保守・運用等の各種設定をすることができる。
FIG. 6 shows the FET EX-150 shown in FIG.
FIG. 3 is a block diagram showing an example of a communication path test configuration between intra-station devices constituting the ATM switch of FIG. In FIG. 6, the ATM switch test apparatus 9 includes a peripheral interface (PIF) 10,
It is directly connected via 11 and can be used immediately if the software starts up after system startup. Further, the operator can make various settings such as maintenance and operation of the ATM exchange through the console 12.

【0028】前記ATM交換機試験装置9からの試験用
セルの送受信側は、直接ATMスイッチ(ASSW : A
synchronous transfer mode Subscriber SWitch )3に
接続される。制御データ伝送制御装置(BSGCSH :
Broadband Signalling Controler Shelf )2は、交換
ソフトウェアと各局内装置との間の制御データを送受信
する交換信号インタフェースする装置であり、上記と同
様にATM交換機プロセッサ1にPIF10,11経由
で直接接続されている。制御データ伝送制御装置2と各
加入者収容装置4との間の通信にはLAP通信プロトコ
ルが用いられ、ATMセルを使ってATMスイッチ3を
経由して行われる。加入者収容装置4は、ATM加入者
回路5等の通話路系カードを搭載する装置である。
The transmitting / receiving side of the test cell from the ATM switch test apparatus 9 is directly connected to an ATM switch (ASSW: A).
synchronous transfer mode Subscriber SWitch) 3 is connected. Control data transmission controller (BSGCSH:
The Broadband Signaling Controller Shelf) 2 is a device for performing a switching signal interface for transmitting and receiving control data between the switching software and each in-station device, and is directly connected to the ATM switching processor 1 via the PIFs 10 and 11 as in the above. . The LAP communication protocol is used for communication between the control data transmission control device 2 and each subscriber accommodation device 4, and is performed via the ATM switch 3 using ATM cells. The subscriber accommodation device 4 is a device in which a communication path card such as the ATM subscriber circuit 5 is mounted.

【0029】次に、本発明による試験装置について説明
する。ATM交換機試験装置9に対する導通試験のセッ
トアップは、ATM交換機プロセッサ1に接続されたコ
ンソール12から指示する。制御データ伝送制御装置2
と各加入者収容装置4との間のシグナリング・パスを試
験するには、まずATM交換機試験装置9から送出する
試験用セルのヘッダ部を制御データ伝送制御装置2へ向
かうように設定する。そして前記試験用セルのペイロー
ド部に書き込むヘッダの1番目は制御データ伝送制御装
置2から加入者収容装置4へのシグナリング・データ・
パスの往路を通るように設定、2番目は前記加入者収容
装置4から制御データ伝送制御装置2への復路を通るよ
うに、そして3番目は前記制御データ伝送制御装置2か
らATM交換機試験装置9へ戻るようにそれぞれ設定す
る。さらには、必要に応じて前記ペイロード部の残りの
部分に前記シグナリング・データ・パス接続品質の測定
等のために擬似ランダムパターン(PNパターン)を書
き込む。以上の設定終了後、前記ATM交換機試験装置
9に対して試験起動をかけ、前述した試験用セルを送出
する。
Next, the test apparatus according to the present invention will be described. The continuity test setup for the ATM switch test apparatus 9 is instructed from the console 12 connected to the ATM switch processor 1. Control data transmission control device 2
In order to test the signaling path between each subscriber accommodation device 4 and each subscriber accommodation device 4, first, the header portion of the test cell sent from the ATM switch test device 9 is set to face the control data transmission control device 2. The first header written in the payload portion of the test cell is the signaling data from the control data transmission control device 2 to the subscriber accommodation device 4.
The path is set so that it goes through the outward path, the second is from the subscriber accommodation apparatus 4 to the control data transmission control apparatus 2, and the third is from the control data transmission control apparatus 2 to the ATM switch test apparatus 9. Set each to return to. Further, if necessary, a pseudo random pattern (PN pattern) is written in the remaining part of the payload part for measuring the signaling data path connection quality and the like. After the above settings are completed, the ATM switch test apparatus 9 is started for test and the above-mentioned test cell is transmitted.

【0030】ATM交換機試験装置9から送出された試
験用セル(Oビット=1)は、ヘッダ部のTAGA及び
TAGBのルーティング情報に従ってATMスイッチ3
でスイッチングされて制御データ伝送制御装置2に到達
する。制御データ伝送制御装置2の共通部装置6は、受
信セルのOビットを検査し、Oビット=1であれば試験
用セルと判断してペイロード部分に書き込まれてあるデ
ータをヘッダ情報の部分だけ6バイト上位にシフトし、
そして擬似ランダムパターンの部分はそのままの状態で
ATMスイッチ3へ折り返し送出する。
The test cell (O bit = 1) sent from the ATM switch test apparatus 9 is ATM switch 3 according to the routing information of TAGA and TAGB in the header part.
It is switched by and reaches the control data transmission control device 2. The common unit 6 of the control data transmission control unit 2 inspects the O bit of the received cell, judges that it is a test cell if O bit = 1, and regards the data written in the payload part as the header information part only. Shift 6 bytes higher,
Then, the pseudo random pattern portion is sent back to the ATM switch 3 in the same state.

【0031】前記制御データ伝送制御装置2から送出さ
れる試験用セルは、そこで入れ替えられたヘッダに従っ
てシグナリング・データ・パスの往路を通って加入者収
容装置4に到達する。前記試験用セルは、加入者収容装
置4の共通部装置7において上述と同様の操作が行われ
て折り返しATMスイッチ3へ送出される。前記加入者
収容装置4から送出された試験用セルはATMスイッチ
3を介し、前記シグナリング・データ・パスの復路を通
って制御データ伝送制御装置2に到達する。そこでも上
記と同様に試験用セルのヘッダ入れ替え操作が行われ、
最終的に、試験用セルはATMスイッチ3を経由してA
TM交換機試験装置9へ戻ってくる。
The test cell sent from the control data transmission control device 2 reaches the subscriber accommodation device 4 through the outward path of the signaling data path according to the headers exchanged there. The test cell is sent to the return ATM switch 3 after the same operation as described above is performed in the common device 7 of the subscriber accommodation device 4. The test cell transmitted from the subscriber accommodation device 4 reaches the control data transmission control device 2 through the ATM switch 3 and the return path of the signaling data path. There, the header cell replacement operation of the test cell is performed in the same manner as above,
Finally, the test cell passes through the ATM switch 3
Return to the TM switch testing device 9.

【0032】ATM交換機試験装置9は、戻って来たセ
ルのヘッダを期待値と照合し、一致したものを順次取り
込んで計数する。そして、送出した全セル数と受信した
総セル数を比較することでセル損失の有無をチェックす
る。また、ペイロードに書き込まれた擬似ランダムパタ
ーンを照合し、ビット誤り率等のチェックを行う。AT
M交換機プロセッサ1は、前記ATM交換機試験装置9
による被試験パスの導通及び正常性が確認できたところ
で、制御データ伝送制御装置2から加入者収容装置4へ
のシグナリング・データの送信を指示し、それによって
網の起動を行う。
The ATM switch test apparatus 9 compares the header of the returned cell with the expected value, and sequentially captures the coincident cells and counts them. Then, the presence or absence of cell loss is checked by comparing the total number of cells transmitted and the total number of cells received. Further, the pseudo random pattern written in the payload is collated to check the bit error rate and the like. AT
The M switch processor 1 is provided with the ATM switch test device 9
When the continuity and normality of the path under test can be confirmed by, the control data transmission control device 2 instructs the transmission of signaling data to the subscriber accommodation device 4, thereby starting the network.

【0033】図7は、図5で示したFETEX−150
のATM交換機を構成する局内装置間の通信パス試験構
成の別の実施例を示したブロック図である。図7と図6
との間の構成上の相違は、制御データ伝送制御装置2が
ATM交換機試験装置9の機能を有していることであ
る。他の構成部分については図6と同様であるためここ
では更めて説明しない。
FIG. 7 shows the FET EX-150 shown in FIG.
FIG. 6 is a block diagram showing another embodiment of the communication path test configuration between the intra-station devices constituting the ATM switch of FIG. 7 and 6
The difference in the configuration between and is that the control data transmission control device 2 has the function of the ATM switch test device 9. The other components are the same as in FIG. 6 and will not be described further here.

【0034】図7の例では複数の加入者収容装置4が収
容されており、この場合には図6で説明した加入者収容
装置4から制御データ伝送制御装置2へ至るシグナリン
グ・データ・パスの復路を指示する試験用セルのヘッダ
情報は、図7の複数の加入者収容装置4の全てにおいて
も同一である。すなわち、加入者収容装置4で折り返さ
れる試験用セルのヘッダ部のTAGA及びTAGBの値
は一つの決まった値である。
In the example of FIG. 7, a plurality of subscriber accommodation devices 4 are accommodated. In this case, the signaling data path from the subscriber accommodation device 4 to the control data transmission control device 2 described in FIG. The header information of the test cell instructing the return path is the same in all of the plurality of subscriber accommodation devices 4 in FIG. 7. That is, the values of TAGA and TAGB in the header portion of the test cell returned by the subscriber accommodation device 4 are one fixed value.

【0035】従って、本実施例の場合、各加入者収容装
置4の共通部7は、予め制御データ伝送制御装置2の導
通試験部9へ到達するTAGA及びTAGBの各値を試
験用セルの折り返し用情報として固定的に保持してい
る。また、前記制御データ伝送制御装置2の導通試験部
9は、ペリフェラル・インタフェース10,11を経由
して与えられる各加入者収容装置4との間の導通試験指
示に従い、自由にヘッダ情報を設定できる機能を有して
いる。
Therefore, in the case of this embodiment, the common unit 7 of each subscriber accommodation device 4 returns the respective values of TAGA and TAGB reaching the continuity test unit 9 of the control data transmission control device 2 in advance to the test cell. It is fixedly held as information for use. Further, the continuity test section 9 of the control data transmission control device 2 can freely set the header information in accordance with the continuity test instruction with each subscriber accommodation device 4 given via the peripheral interfaces 10 and 11. It has a function.

【0036】オペレータはATM交換機プロセッサ1に
接続されたコンソール12を介し、まず制御データ伝送
制御装置2に対して試験対象となる加入者収容装置4の
試験用セルのヘッダ設定(TAGA,TAGB)を行
う。制御データ伝送制御装置2は、前記設定値を用いて
試験用セルを組み立て、それをATMスイッチ3に送出
する。被試験パスを通った試験用セルは、加入者収容装
置4に到達し、その共通部7で受信される。
The operator first sets the header setting (TAGA, TAGB) of the test cell of the subscriber accommodation device 4 to be tested to the control data transmission control device 2 via the console 12 connected to the ATM exchange processor 1. To do. The control data transmission control device 2 assembles a test cell using the set value and sends it to the ATM switch 3. The test cell that has passed the path under test reaches the subscriber accommodation device 4 and is received by the common unit 7.

【0037】システム起動時であってソフトウェアによ
る全体的な制御が未だ確立しておらず、制御データの局
内装置間通信が確立していない状態で、試験用セル(O
ビット=1)を受信すると、加入者収容装置4の共通部
7は装置内部のROM等に保持している折り返し用のヘ
ッダ情報を引き出して受信した試験用セルのヘッダと置
き換え、それを折り返しATMスイッチ3に送出する。
その結果、この試験用セルは制御データ伝送制御装置2
で受信され、前記試験対象となった加入者収容装置4と
制御データ伝送制御装置2との間におけるシグナリング
・データ・パスの往復路導通試験が完了する。
At the time of system startup, the overall control by the software has not been established yet, and the communication between the intra-station devices for the control data has not been established, the test cell (O
When the bit = 1) is received, the common unit 7 of the subscriber accommodation device 4 extracts the return header information held in the ROM or the like inside the device and replaces it with the received test cell header, and returns it to the return ATM. It is sent to the switch 3.
As a result, this test cell is controlled by the control data transmission control device 2
Then, the round trip continuity test of the signaling data path between the subscriber accommodation device 4 and the control data transmission control device 2, which is received as a result of the test, is completed.

【0038】前記伝送制御装置2は、送信した試験用セ
ルと受信した試験用セルの個数を計数し、その導通状態
をチェックする。チェック結果が良好であれば、このパ
スを使って伝送制御装置2と加入者収容装置4との間の
通信が開始される。なお、前記導通試験は、伝送制御装
置2と各加入者収容装置4との間でぞれぞれ実施され
る。
The transmission control device 2 counts the number of test cells transmitted and the number of test cells received, and checks the conduction state. If the check result is good, communication between the transmission control device 2 and the subscriber accommodation device 4 is started using this path. The continuity test is carried out between the transmission control device 2 and each subscriber accommodation device 4, respectively.

【0039】[0039]

【発明の効果】以上述べたように、従来のシステムでは
システム立ち上げ中の試験手段が無く、またATM交換
機試験装置自体も伝送制御装置と加入者収容装置との間
のシグナリング・データ・パスが確立していないと使用
できない構成であったのに対し、本発明による試験装置
を採用することにより、シグナリング・データ・パスの
確立等の条件に依存することなく導通試験が可能にな
る。
As described above, the conventional system has no test means during system startup, and the ATM switch test apparatus itself has a signaling data path between the transmission control apparatus and the subscriber accommodation apparatus. Whereas the configuration cannot be used unless it has been established, by adopting the test apparatus according to the present invention, the continuity test can be performed without depending on conditions such as establishment of a signaling data path.

【0040】また、本発明による試験用セルを用いれ
ば、試験対象となる前記シグナリング・データ・パス
を、往復パス又は複数の局内装置を経由したパス等、自
由に設定できる利点がある。さらに、前記試験用セル
は、ヘッダ部の試験指示ビットの設定(Oビット=1)
及びペイロード部の試験経路に対応する複数のヘッダ情
報の設定(TAGA,TAGB)等から容易に構成さ
れ、被試験対象となる装置は、簡易なヘッダの入れ替え
操作による折り返し機能のみで容易に実現される。さら
に、本発明によればヘッダ部の固定的な置き換えのみで
より簡易に往復パスの試験を実施することができる。
Further, the use of the test cell according to the present invention has an advantage that the signaling data path to be tested can be freely set such as a round-trip path or a path passing through a plurality of intra-station devices. Further, in the test cell, the test instruction bit of the header part is set (O bit = 1).
And a plurality of header information corresponding to the test path of the payload part (TAGA, TAGB), etc. are easily configured, and the device to be tested is easily realized only by the loopback function by a simple header exchange operation. It Further, according to the present invention, the round-trip path test can be more easily carried out only by fixedly replacing the header portion.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明によるATM交換機のシステム起動時に
おける局内装置間の通信パス試験装置で用いられる試験
用セルのフォーマットの一実施例を示した図である。
FIG. 1 is a diagram showing an embodiment of a format of a test cell used in a communication path test device between intra-station devices at the time of system activation of an ATM switch according to the present invention.

【図2】本発明による試験用セルを使ったヘッダの入れ
替え動作の説明図である。
FIG. 2 is an explanatory diagram of a header replacement operation using a test cell according to the present invention.

【図3】図1及び図2に示す試験用セルを適用したAT
M交換機システムの一実施例を示したものである。
FIG. 3 is an AT to which the test cell shown in FIGS. 1 and 2 is applied.
1 shows an example of an M switch system.

【図4】図3における試験用セルのヘッダ入れ替え動作
の一例を示した説明図である。
FIG. 4 is an explanatory diagram showing an example of a header replacement operation of the test cell in FIG.

【図5】ATM交換機で実際に採用されているATMセ
ルのフォーマットの一例を示した図である。
FIG. 5 is a diagram showing an example of an ATM cell format actually adopted in an ATM exchange.

【図6】ATM交換機における局内装置間の通信パス試
験構成の一実施例を示したブロック図である。
FIG. 6 is a block diagram showing an embodiment of a communication path test configuration between intra-station devices in an ATM exchange.

【図7】ATM交換機における局内装置間の通信パス試
験構成の別の実施例を示したブロック図である。
FIG. 7 is a block diagram showing another embodiment of a communication path test configuration between intra-station devices in an ATM exchange.

【図8】ATM交換機の基本的なシステム構成例を図式
的に描いたブロック図である。
FIG. 8 is a block diagram schematically illustrating a basic system configuration example of an ATM exchange.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…交換機制御ソフトウェア 2…制御データ伝送制御装置 3…ATM交換機(ATMスイッチ) 4…加入者収容装置 5…ATM加入者回路 6,7…制御データ/ATMセル変換部(共通部) 8…ヘッダ書換え部 9…ATM交換機試験装置 1 ... Exchange control software 2 ... Control data transmission control device 3 ... ATM exchange (ATM switch) 4 ... Subscriber accommodation device 5 ... ATM subscriber circuit 6, 7 ... Control data / ATM cell conversion unit (common unit) 8 ... Header Rewriting part 9 ... ATM exchange tester

Claims (18)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 ATM交換機の局内装置間の通信パスを
試験する装置は、 ATMセルをそのヘッダ部に含まれる宛て先ヘッダ情報
に従って所定の局内装置へ導くATMスイッチング手
段、 システム起動時においてシステム全体のソフトウェア制
御が開始される前にも被試験装置に対する制御パスの導
通試験を指示する局内装置間の通信パス試験指示手段、 前記通信パス試験指示手段からの試験指示により、前記
被試験装置に対する制御パスの導通試験を行うための試
験用セルを前記ATMスイッチング手段に出力する試験
用セル発生手段、 前記ATMスイッチング手段を介して前記試験用セルを
受信した際に、ATM交換機のシステムソフトウェア制
御によらず自律的に前記試験用セルのヘッダ部を所定の
ヘッダ情報に置き換えて折り返し、そして前記ATMス
イッチング手段に出力する前記被試験装置における試験
用セル折り返し手段、そして前記ATMスイッチング手
段を介して前記試験用セル折り返し手段によって折り返
された試験用セルを受信し、その試験用セルに対して所
定の評価を行う試験用セル評価手段から構成することを
特徴とするATM交換機の局内装置間の通信パス試験装
置。
1. An apparatus for testing a communication path between intra-station devices of an ATM exchange comprises: an ATM switching means for guiding an ATM cell to a predetermined intra-station device according to destination header information included in a header portion thereof; Before the software control is started, the communication path test instructing means between the intra-station devices for instructing the continuity test of the control path to the device under test, the control for the device under test by the test instruction from the communication path test instructing means A test cell generating means for outputting a test cell for conducting a path continuity test to the ATM switching means, and a system software control of the ATM switch when the test cell is received via the ATM switching means. Instead, the header part of the test cell is autonomously replaced with predetermined header information and returned. Then, the test cell return means in the device under test which outputs to the ATM switching means, and the test cell returned by the test cell return means via the ATM switching means are received, and the test cell is returned to the test cell. A communication path test device between intra-station devices of an ATM switch, characterized in that it comprises test cell evaluation means for performing predetermined evaluation.
【請求項2】 前記試験用セルは、宛て先ヘッダ情報を
含むヘッダ部と試験用セルであることを示す所定の表示
とを有する請求項1記載の通信パス試験装置。
2. The communication path test apparatus according to claim 1, wherein the test cell has a header portion including destination header information and a predetermined display indicating that the test cell is the test cell.
【請求項3】 前記所定の表示は、ヘッダ部における所
定のビット値(Oビット)である請求項2記載の通信パ
ス試験装置。
3. The communication path test apparatus according to claim 2, wherein the predetermined display is a predetermined bit value (O bit) in the header section.
【請求項4】 前記所定の表示は、ヘッダ部における所
定のビット群の値(VPI/VCI又はPTI)である
請求項2記載の通信パス試験装置。
4. The communication path test apparatus according to claim 2, wherein the predetermined display is a value (VPI / VCI or PTI) of a predetermined bit group in the header section.
【請求項5】 前記所定の表示は、ペイロード部に書き
込まれたOAMタイプである請求項2記載の通信パス試
験装置。
5. The communication path test apparatus according to claim 2, wherein the predetermined display is an OAM type written in a payload section.
【請求項6】 前記試験用セルは、さらに少なくとも1
つの折り返し先のヘッダ情報を含むペイロード部を有す
る請求項2記載の通信パス試験装置。
6. The test cell further comprises at least one.
The communication path test apparatus according to claim 2, further comprising a payload section including header information of one loopback destination.
【請求項7】 前記ペイロード部は、さらに前記制御パ
スの評価のための試験用ビットパターン部を有する請求
項6記載の通信パス試験装置。
7. The communication path test apparatus according to claim 6, wherein the payload section further includes a test bit pattern section for evaluating the control path.
【請求項8】 前記試験用セル折り返し手段は、前記所
定の表示によって前記試験用セルを検出した際に、前記
ヘッダ部の宛て先ヘッダ情報を前記ペイロード部に含ま
れる折り返し先のヘッダ情報に置き換える請求項6記載
の通信パス試験装置。
8. The test cell return means replaces the destination header information of the header section with the return destination header information included in the payload section when the test cell is detected by the predetermined display. The communication path test device according to claim 6.
【請求項9】 前記試験用セル折り返し手段は、前記所
定の表示によって前記試験用セルを検出した際に、前記
ペイロード部に含まれる折り返し先のヘッダ情報が複数
の場合には、前記ヘッダ部の宛て先ヘッダ情報を所定の
順序で前記ペイロード部に含まれる複数の折り返し先の
ヘッダ情報のうちの1つと置き換え、前記置き換えられ
た折り返し先のヘッダ情報は前記ペイロード部から削除
する請求項6記載の通信パス試験装置。
9. The test cell looping-back means, when the test cell is detected by the predetermined display, and when there is a plurality of loop-back destination header information included in the payload section, 7. The destination header information is replaced with one of a plurality of return destination header information included in the payload portion in a predetermined order, and the replaced return destination header information is deleted from the payload portion. Communication path test equipment.
【請求項10】 前記ペイロード部に含まれる複数の折
り返し先のヘッダ情報のうち最後に前記ヘッダ部の宛て
先ヘッダ情報として置き換えられるヘッダ情報は、前記
試験用セル評価手段の宛て先を示す請求項9記載の通信
パス試験装置。
10. The header information, which is finally replaced as destination header information of the header portion among a plurality of return destination header information included in the payload portion, indicates a destination of the test cell evaluation means. 9. The communication path test device according to item 9.
【請求項11】 前記試験用セル折り返し手段は、前記
所定の表示によって前記試験用セルを検出した際に、そ
のヘッダ部の宛て先ヘッダ情報を自ら保有する前記試験
用セル評価手段に固有のヘッダ情報に置き換える請求項
2記載の通信パス試験装置。
11. A header specific to the test cell evaluation means that, when the test cell return means detects the test cell according to the predetermined display, holds the destination header information of the header portion of the test cell. The communication path test device according to claim 2, which is replaced with information.
【請求項12】 前記試験用セル発生手段及び前記試験
用セル評価手段は、1つのATM交換機試験装置内に設
けられる請求項1又は11記載の通信パス試験装置。
12. The communication path test apparatus according to claim 1, wherein the test cell generation means and the test cell evaluation means are provided in one ATM switch test apparatus.
【請求項13】 前記試験用セル発生手段及び前記試験
用セル評価手段は、ATM交換機の制御データ伝送制御
装置(BSGCSH)に含まれる請求項1記載の通信パ
ス試験装置。
13. The communication path test apparatus according to claim 1, wherein the test cell generation means and the test cell evaluation means are included in a control data transmission control device (BSGCSH) of an ATM switch.
【請求項14】 さらに、前記通信パス試験指示手段
は、ATM交換機の制御データ伝送制御装置(BSGC
SH)に含まれ、そして外部から試験指示を行う保守・
運用端末を含み、前記導通試験の指示は全て前記保守・
運用端末から行う請求項13記載の通信パス試験装置。
14. The communication path test instructing means further comprises a control data transmission control device (BSGC) of an ATM exchange.
SH) included in the maintenance
Including the operation terminal, all instructions for the continuity test are related to the maintenance and
The communication path test apparatus according to claim 13, which is performed from an operation terminal.
【請求項15】 前記ATMスイッチング手段は、AT
M交換機のATMスイッチ部(ASSW)である請求項
1記載の通信パス試験装置。
15. The ATM switching means is an AT.
The communication path test apparatus according to claim 1, which is an ATM switch unit (ASSW) of an M switch.
【請求項16】 前記被試験装置は、ATM交換機の加
入者収容装置(SIFSH)である請求項1記載の通信
パス試験装置。
16. The communication path test apparatus according to claim 1, wherein the device under test is a subscriber accommodation device (SIFSH) of an ATM exchange.
【請求項17】 前記通信パス試験指示手段は、ATM
交換機の交換機制御ソフトウェアである請求項1記載の
通信パス試験装置。
17. The communication path test instruction means is an ATM.
2. The communication path test apparatus according to claim 1, which is switch control software for a switch.
【請求項18】 前記通信パス試験指示手段は、ATM
交換機に対して外部から試験指示を行う保守・運用端末
を含み、前記導通試験の指示は全て前記保守・運用端末
から行う請求項17記載の通信パス試験装置。
18. The communication path test instruction means is an ATM.
18. The communication path test apparatus according to claim 17, further comprising a maintenance / operation terminal for externally issuing a test instruction to the exchange, wherein all the continuity test instructions are given from the maintenance / operation terminal.
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