JPH0876103A - Aligning device for aligning marks - Google Patents

Aligning device for aligning marks

Info

Publication number
JPH0876103A
JPH0876103A JP23942594A JP23942594A JPH0876103A JP H0876103 A JPH0876103 A JP H0876103A JP 23942594 A JP23942594 A JP 23942594A JP 23942594 A JP23942594 A JP 23942594A JP H0876103 A JPH0876103 A JP H0876103A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
liquid crystal
marks
alignment
difference
regions
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP23942594A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yasuyuki Moriguchi
泰之 森口
Kenji Aiko
健二 愛甲
Tatsuya Chiba
龍也 千葉
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi High Tech Corp
Original Assignee
Hitachi Electronics Engineering Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Electronics Engineering Co Ltd filed Critical Hitachi Electronics Engineering Co Ltd
Priority to JP23942594A priority Critical patent/JPH0876103A/en
Publication of JPH0876103A publication Critical patent/JPH0876103A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Liquid Crystal (AREA)
  • Control Of Position Or Direction (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Abstract

PURPOSE: To make it possible to exactly find the coordinate values of both marks having good reflectivity and to execute exact positioning by attenuating illumination light to both marks and the regions in the peripheries thereof by the component corresponding to the difference of reflectivity, thereby lessening the difference between the levels of the reflected light of both marks. CONSTITUTION: A liquid crystal filter 8 disposed in an illumination system 42 has liquid crystals and a TFT substrate and an impression voltage V is impressed on the respective TFT elements of the TFT substrate by a driving circuit 8. The orientation of the liquid crystal molecules of the liquid crystal filter 8 corresponding to the TFT elements impressed with the impression voltage V is continuously changed according to the intensity of the electric fields which the TFT elements generate by the impressed voltage and, therefore, the transmittance of the liquid crystal filter 8 changes as well according thereto. The impression voltage V corresponding to the difference in the level is then impressed to the TFT elements corresponding to the aligning marks having the good reflectivity and the regions in the peripheries thereof by the driving circuit 8a. Consequently, these regions are inrradiated with the light attenuated in the transmittance of the regions of the liquid crystal filter 8 for the regions corresponding to the level difference.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】この発明は、カラー液晶板などの
部品ワークの組立てにおいて、2枚のワークの位置合せ
マークに対する位置合せ装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an alignment device for aligning the alignment marks of two works in the assembly of component works such as color liquid crystal plates.

【0002】[0002]

【従来の技術】最近における各種の画像表示機器には、
画像をカラー表示する液晶パネルまたは液晶板が多用さ
れている。図4は、その一例として、ビデオカメラのフ
ァインダーに使用されているカラー液晶板1の構成素材
を示す。カラー液晶板1は、ガラス板111 の表面に3原
色の画素Gがマトリックスに配列されたカラーフィルタ
11と、ガラス板121 の表面に、各画素Gに対応するTF
T素子が形成されたTFT基板12よりなり、カラーフィ
ルタ11とTFT基板12の両端の余白部には、位置合せ用
として、マークMC1,MC2と、マークMT1,MT2とがそ
れぞれ形成されている。マークMC1,MC2はクロームを
蒸着して形成され、マークMT1,MT2はTFT素子と同
じ素材により形成される。また、TFT基板12の周辺の
余白部には、充填口(IN)を除き、紫外線により硬化
するUV硬化接着剤122 が塗布されている。
2. Description of the Related Art Recently, various image display devices include
Liquid crystal panels or plates that display images in color are often used. FIG. 4 shows, as an example, constituent materials of the color liquid crystal plate 1 used in a viewfinder of a video camera. The color liquid crystal plate 1 is a color filter in which pixels G of three primary colors are arranged in a matrix on the surface of a glass plate 111.
11 and the TF corresponding to each pixel G on the surface of the glass plate 121.
The TFT substrate 12 on which the T element is formed includes marks M C1 and M C2 and marks M T1 and M T2 for alignment, respectively, in the margins at both ends of the color filter 11 and the TFT substrate 12. Has been done. The marks M C1 and M C2 are formed by depositing chrome, and the marks M T1 and M T2 are formed of the same material as the TFT element. Further, a UV curable adhesive 122 that is cured by ultraviolet rays is applied to the marginal area around the TFT substrate 12 except for the filling port (IN).

【0003】図5は、上記のカラー液晶板1の組立て装
置の構成を示し、これにより液晶板1の組立て手順を説
明する。TFT基板12はXY移動テーブル2に載置さ
れ、これに対してカラーフィルタ11は石英ガラスよりな
る吸着板3に吸着されて保持され、図示しないZ移動機
構により降下してTFT基板12に接近し、適当なギャッ
プの位置に停止する。検出光学系4の2個の受像カメラ
41a,41b により、右側のマークMC1,MT1と、左側のマ
ークMC2,MT2とがそれぞれ受像され、各画像信号が信
号処理部5により処理されて各マークのXY座標が検出
され、この座標データが移動制御部6に入力してXY移
動テーブル2をXまたはY移動し、マークMT1がM
C1に、またマークMT2がMC2に、それぞれ一定の間隔δ
x(後に詳述する)をなして位置合せされる。両側にお
ける位置合せが終了すると、吸着板3をさらに下降して
カラーフィルタ11の下面をUV硬化接着剤122 に押圧
し、紫外線を照射すると硬化して両者が接着される。つ
いでカラーフィルタ11の吸着を解放して吸着板3を引き
上げた後、充填機構7により液晶(LC)を充填口(I
N)より内部に注入し、さらに、必要なITO電極膜や
偏光膜などを貼り付けてカラー液晶板1が完成する。
FIG. 5 shows the structure of the assembling apparatus of the color liquid crystal plate 1 described above, and the assembling procedure of the liquid crystal plate 1 will be described. The TFT substrate 12 is placed on the XY moving table 2, while the color filter 11 is adsorbed and held by the adsorption plate 3 made of quartz glass, and lowered by the Z moving mechanism (not shown) to approach the TFT substrate 12. , Stop at the appropriate gap position. Two image-receiving cameras with detection optical system 4
41a and 41b receive the marks M C1 and M T1 on the right side and the marks M C2 and M T2 on the left side, respectively, and each image signal is processed by the signal processing unit 5 to detect the XY coordinates of each mark. This coordinate data is input to the movement control unit 6 to move the XY movement table 2 in X or Y, and the mark M T1 becomes M.
C1 and the mark M T2 are on M C2 at a constant interval δ.
x (described in detail below). When the alignment on both sides is completed, the suction plate 3 is further lowered to press the lower surface of the color filter 11 against the UV curable adhesive 122, and the UV curable adhesive 122 is cured by irradiation with ultraviolet rays so that the both are adhered. Then, after the suction of the color filter 11 is released and the suction plate 3 is pulled up, the filling mechanism 7 fills the liquid crystal (LC) with the filling port (I
N) is injected into the interior, and necessary ITO electrode film, polarizing film, etc. are attached to complete the color liquid crystal plate 1.

【0004】図6は、上記の検出光学系4の概略の構成
と、両マークMC,MT の相互の位置関係を示す。図6
(a) において、検出光学系4は、上記の2個の受像カメ
ラ41a,41b と、白色光源421 と2枚の中継レンズ422,42
3 よりなる照明系42、ハーフミラー43、およびテレセン
トリック・レンズ44とにより構成される。光源421 より
の照明光LT は、中継レンズ422 により平行とされ、中
継レンズ423 により集束されてハーフミラー43により反
射され、テレセントリック・レンズ44により再び平行に
変換されて、カラーフィルタ11とTFT基板12に対して
垂直に照射され、右側のマークMC1,MT1とその周辺の
反射光LR が受像カメラ41a に、左側のマークMC2,M
T2とその周辺の反射光LR が受像カメラ41b にそれぞれ
受像される。図6(b) において、対応する2個のマーク
C ,MT は、X方向に適当な間隔δxをなして位置合
せされる。このように間隔δxをなして位置合せする理
由は、両者を一致する方法では、両者が重なり合ったと
き、それぞれが明確に区別されず、従って正確な位置合
せがなされないからである。これに対して位置合せ以前
の状態は、マークMC は例えば図示MC'の位置にあり、
マークMT は例えば図示MT'の位置にある。そこで、位
置合せされた状態の両マークMC ,MT に対して、位置
ズレの最大範囲に対する位置ズレ円Cを仮定し、それぞ
れの半径をδx/2として両マークMC ,MT の位置合
せ間隔δxが定められている。
FIG. 6 shows a schematic structure of the above-mentioned detection optical system 4 and a mutual positional relationship between the marks M C and M T. Figure 6
In (a), the detection optical system 4 includes the above-mentioned two image receiving cameras 41a and 41b, a white light source 421, and two relay lenses 422 and 42.
The illumination system 42 is composed of three, a half mirror 43, and a telecentric lens 44. Illumination light L T from the light source 421 is collimated by the relay lens 422, focused by the relay lens 423, reflected by the half mirror 43, and again converted into parallel by the telecentric lens 44, and then the color filter 11 and the TFT substrate. The marks M C1 and M T1 on the right side and the reflected light L R on the periphery of the mark 12 which are radiated perpendicularly to 12 are projected onto the image receiving camera 41a, and marks C C2 and M on the left side
The reflected light L R of T2 and its surroundings is received by the image receiving camera 41b. In FIG. 6B, the corresponding two marks M C and M T are aligned with each other at an appropriate distance δx in the X direction. The reason for performing the alignment with the interval δx in this way is that in the method of matching the two, when the two overlap, they are not clearly distinguished from each other, and therefore, accurate alignment is not performed. On the other hand, in the state before the alignment, the mark M C is, for example, at the position of M C '
The mark M T is located, for example, at the position of M T 'in the figure. Therefore, with respect to both marks M C and M T in the aligned state, a position deviation circle C is assumed with respect to the maximum range of the position deviation, and the respective radii are set to δx / 2, and the positions of both marks M C and M T are set. The matching interval δx is defined.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】さて、前記したよう
に、カラーフィルタ11のマークMC はクロームにより形
成されているため、その反射率はかなり良好である。こ
れに対してTFT基板12のマークMT は、TFT素子と
同じ素材により形成されており、素材には各種があるが
いずれにしにもその反射率はかなり低い。さらに具合が
悪いことには、押圧されたUV硬化接着剤122 がにじみ
出て広がり、マークMT をカバーするためにその映像が
ボケて明確とならないことが多い。これらにより、両マ
ークMC,MTの反射光のレベルには、大きい差異が生じ
ている。図7は、両マークMC,MT の反射光の相対レベ
ルの一例を示し、マークMC のレベルは非常に大きく、
ガラス板111 の反射光に対して大きいS/N比を示す。
これに対して、マークMC のレベルは非常に小さくて、
ガラス板121 またはUV硬化接着剤122 の反射光の間に
わずかに突出しており、両マークMC,MT の反射光のレ
ベル差が大きいことが認められる。上記のレベル差の大
きい両マークMC,MT を、受像カメラ41により受像する
場合、低レベルのマークMT を明瞭に受像するために受
像カメラ41の感度を増加すると、マークMC の映像が飽
和して、そのXY座標値が正確に求められない。そこ
で、マークMC に対する照明光LT を減光し、マークM
T に対しては減光しないことが必要であり、これには減
光フィルタが有効である。ただし、通常の光学フィルタ
によるときは、間隔δxをなす両マークMC,MT の領域
を区分して、マークMC の領域のみを減光するフィルタ
が必要であるが、このような部分的な減光フィルタの製
作はかならずしも容易でない。また、マークMT の反射
レベルはTFT基板12のロットなどにより変化するの
で、これ対応して減光フィルタを交換する必要がある、
など光学フィルタには難点がある。この発明は以上に鑑
みてなされたもので、任意の2枚のワークに設けられ、
反射率に大きい差異のある2個の位置合せマークを対象
とし、良好な反射率の位置合せマークに対して、両者の
反射率の差異に相当して照明光を減光する手段を具備す
る、位置合せ装置を提供することを目的とする。
As described above, since the mark M C of the color filter 11 is made of chrome, its reflectance is quite good. On the other hand, the mark M T of the TFT substrate 12 is formed of the same material as the TFT element, and there are various materials, but the reflectance is considerably low in any case. In addition, if the UV curable adhesive 122 is pressed, the UV curable adhesive 122 oozes and spreads, and the image is often blurred and unclear because it covers the mark M T. Due to these, a large difference occurs in the level of the reflected light of both marks M C and M T. FIG. 7 shows an example of the relative level of the reflected light of both marks M C and M T , where the level of the mark M C is very large.
It exhibits a large S / N ratio with respect to the reflected light from the glass plate 111.
On the other hand, the mark M C has a very small level,
It is recognized that the light slightly protrudes between the reflected lights of the glass plate 121 or the UV curing adhesive 122, and the level difference between the reflected lights of the marks M C and M T is large. When both the marks M C and M T having a large level difference are received by the image receiving camera 41, if the sensitivity of the image receiving camera 41 is increased in order to clearly receive the low level mark M T , the image of the mark M C is displayed. Is saturated, and the XY coordinate values cannot be obtained accurately. Therefore, the illumination light L T for the mark M C is dimmed and the mark M C is reduced.
For T , it is necessary not to dim, and a neutral density filter is effective for this. However, in the case of using a normal optical filter, a filter that divides the regions of both marks M C and M T forming the interval δx and dims only the region of the mark M C is necessary. It is not always easy to manufacture a simple neutral density filter. Moreover, since the reflection level of the mark M T changes depending on the lot of the TFT substrate 12, it is necessary to replace the neutral density filter accordingly.
Optical filters have some drawbacks. The present invention has been made in view of the above, and is provided on any two workpieces,
Targeting two alignment marks having a large difference in reflectance, the alignment mark having a good reflectance is provided with means for reducing the illumination light corresponding to the difference in reflectance between the two. An object is to provide an alignment device.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】この発明は、位置合せマ
ークの位置合せ装置であって、上側と下側の2枚のワー
クの両端にそれぞれ設けられ、互いに対応する2個の位
置合せマークの、それぞれの反射率に大きい差異がある
とき、良好な反射率を有する位置合せマークとその周辺
の領域に対して、差異に相当する分照明光を減光して照
明する、液晶とTFT基板とを有する液晶フィルタを照
明系に配設し、TFT基板の各TFT素子に対して印加
電圧を印加する駆動回路を設けて構成される。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention is an alignment mark alignment device, which is provided at both ends of two upper and lower workpieces, and has two alignment marks corresponding to each other. , When there is a large difference between the respective reflectances, the alignment mark having a good reflectance and the area around it are illuminated by dimming illumination light by an amount corresponding to the difference. The liquid crystal filter having the above is arranged in the illumination system, and a drive circuit for applying an applied voltage to each TFT element of the TFT substrate is provided.

【0007】[0007]

【作用】上記の位置合せ装置においては、照明系に配設
された液晶フィルタは、液晶とTFT基板とを有し、T
FT基板の各TFT素子は駆動回路により印加電圧が印
加される。液晶フィルタの液晶は、印加電圧が印加され
たTFT素子に対応する液晶分子の配向が、印加電圧に
よりTFT素子が発生する電界強度に応じて連続的に変
化するため、これに従って液晶フィルタの透過率も連続
的に変化する。予め、全TFT素子に対する印加電圧の
印加を停止して、2個の位置合せマークを受像カメラに
より撮像し、画像信号を信号処理部により処理して、両
位置合せマークの受光レベルのレベル差を求める。駆動
回路により、良好な反射率を有する位置合せマークとそ
の周辺の領域に対応するTFT素子に対して、レベル差
に相当する印加電圧を印加すると、この領域に対する液
晶フィルタの領域の透過率が、レベル差に相当する分低
下して照明光が減光されて、良好な反射率を有する位置
合せマークとその周辺の領域に対して照射される。一
方、反射率が良好でない位置合せマークに対しては減光
されないので、両者の反射光のレベル差が小さくなる
か、または無くなって両マークが受像カメラに明瞭に撮
像されて、それぞれのXY座標値が正確に求められて、
2枚のワークが正しく位置合せされる。
In the above alignment apparatus, the liquid crystal filter arranged in the illumination system has a liquid crystal and a TFT substrate, and T
An applied voltage is applied to each TFT element on the FT substrate by a drive circuit. In the liquid crystal of the liquid crystal filter, the orientation of the liquid crystal molecules corresponding to the TFT element to which an applied voltage is applied continuously changes according to the electric field strength generated by the TFT element due to the applied voltage. Also changes continuously. The application of the applied voltage to all the TFT elements is stopped in advance, two alignment marks are imaged by the image receiving camera, the image signal is processed by the signal processing unit, and the level difference between the light receiving levels of both alignment marks is calculated. Ask. When a driving circuit applies an applied voltage corresponding to the level difference to the alignment mark having a good reflectance and the TFT element corresponding to the peripheral region, the transmittance of the liquid crystal filter region with respect to this region becomes The illumination light is reduced by the amount corresponding to the level difference, and the alignment mark having a good reflectance and the area around it are irradiated. On the other hand, the alignment marks with poor reflectance are not dimmed, so the level difference between the two reflected lights becomes smaller or disappears, and both marks are clearly imaged by the image receiving camera, and their XY coordinates The value is calculated accurately,
The two workpieces are aligned correctly.

【0008】[0008]

【実施例】図1は、この発明の位置合せ装置の一実施例
における構成図、図2は液晶フィルタ8の一実施例にお
ける分解図と、その透過率の曲線図、図3は位置合せに
おける液晶フィルタ8の作用説明図である。
1 is a block diagram of an embodiment of an alignment apparatus of the present invention, FIG. 2 is an exploded view of an embodiment of a liquid crystal filter 8 and a curve diagram of its transmittance, and FIG. 3 is a view of alignment. FIG. 8 is an explanatory view of the operation of the liquid crystal filter 8.

【0009】図1において、この発明における検出光学
系4’は、前記した図6(a) の検出光学系4に対して、
照明系41の中継レンズ412 と413 の間に、液晶フィルタ
8を挿入して構成され、これに対してTFT駆動回路8
a と、メモリ(MEM)9aを有するマイクロプロセッ
サ(MPU)9を設ける。なお、両受像カメラ41a,41b
に対する従来の信号処理部5はMPU9に接続する。
In FIG. 1, a detection optical system 4'according to the present invention is different from the detection optical system 4 shown in FIG.
The liquid crystal filter 8 is inserted between the relay lenses 412 and 413 of the illumination system 41.
and a microprocessor (MPU) 9 having a memory (MEM) 9a. Both image receiving cameras 41a, 41b
The conventional signal processing unit 5 is connected to the MPU 9.

【0010】図2(a) において、液晶フィルタ8は、上
より順に、偏光膜A81と、上表面にITOの透明電極82
1 を有するガラス板82、 上表面にTFT素子831 が形成
されたTFT基板83、偏光膜B84、およびガラス板82と
TFT基板83の間に注入される液晶(LC)よりなり、
ガラス板82とTFT基板83とを適当なギャップ離隔して
LCを注入して封止した後、上下の各層を密着して構成
される。偏光膜A81と偏光膜B84は、それぞれの偏光面
を互いに直角方向として配設し、透明電極821は接地す
る。またLCはTN型のものとする。図2(b) は、TN
型のLCにより構成された液晶フィルタ8の光透過率の
変化曲線の一例を示し、横軸をTFT素子831 に対する
印加電圧vの実効値vrms 、縦軸を光透過率(%)とす
る。印加電圧vrms が2V以下では透過率は100%で
あるが、これを越えると約4Vでほぼ0%に低下する。
透過率の傾斜角または曲線の急峻度はLCの厚さに依存
し、図示の曲線は厚さが約9μmに対するものである。
光を急速にON,OFFするためには急峻な方が好まし
いが、この発明の場合は、照明光LT に対して所望の透
過率をうるためには、緩やかな傾斜のほうが制御し易い
ので、そのような傾斜角となるLCの厚さを選定し、印
加電圧vに対する透過率特性を測定し、測定データをM
EM9a に記憶しておく。
In FIG. 2A, the liquid crystal filter 8 comprises, in order from the top, a polarizing film A81 and an ITO transparent electrode 82 on the upper surface.
1. A glass plate 82 having 1, a TFT substrate 83 having a TFT element 831 formed on its upper surface, a polarizing film B84, and a liquid crystal (LC) injected between the glass plate 82 and the TFT substrate 83,
After the glass plate 82 and the TFT substrate 83 are separated by an appropriate gap and LC is injected and sealed, the upper and lower layers are adhered to each other. The polarizing film A81 and the polarizing film B84 are arranged such that their polarization planes are perpendicular to each other, and the transparent electrode 821 is grounded. The LC is a TN type. Figure 2 (b) shows the TN
An example of a change curve of the light transmittance of the liquid crystal filter 8 constituted by the LC type is shown, the horizontal axis is the effective value v rms of the applied voltage v to the TFT element 831 and the vertical axis is the light transmittance (%). When the applied voltage v rms is 2 V or less, the transmittance is 100%. When the applied voltage v rms is more than this, the transmittance drops to almost 0% at about 4 V.
The slope of the transmittance or the steepness of the curve depends on the thickness of the LC, the curves shown are for a thickness of about 9 μm.
In order to turn on and off the light rapidly, it is preferable to be steep, but in the case of the present invention, in order to obtain a desired transmittance for the illumination light L T , a gentle inclination is easier to control. The thickness of the LC having such an inclination angle is selected, the transmittance characteristic with respect to the applied voltage v is measured, and the measured data is M
Store in EM9a.

【0011】以下、前記した図4のカラー液晶板1を例
として、図1〜図3により位置合せ手順を説明する。図
1において、全TFT素子831 に対する印加電圧vの印
加を停止して、液晶フィルタ8の透過率を100%とす
る。適当なカラーフィルタ11とTFT基板12の各マーク
をサンプルとし、対応する2個のマークMC ,MT を受
像カメラ41により受像する。この場合、前記と同様に、
マークMC の反射率は良好とし、マークMT 2 は良好で
なく、両者の反射率には大差があるとする。図3(a)
は、両受像カメラ41a,41b に受像されたサンプルマーク
の各画像を示し、受像カメラ41a の画像は、境界線x1
の両側の領域S1,S2 内の位置ズレ円Cの中に、マーク
C1,MT1が散在し、同様に受像カメラ41b の画像は、
境界線x2 の両側の領域S3,S4 内の位置ズレ円Cの中
に、マークMC1,MT1が散在している。両受像カメラ41
a,41b の画像信号を信号処理部5により処理して、どち
らか片側の両マークMC ,MT の受光レベルのレベル
差、または両側のレベル差の平均値を求め、このデータ
をMEM9a に記憶する。また、MEM9a には予め上
記の境界線x1,x2 のX座標データを記憶しておく。カ
ラーフィルタ11とTFT基板12の位置合せにおいては、
上記によりMEM9a に記憶された境界線x1,x2 の座
標データと、両マークMC,MT のレベル差データ、およ
び透過率特性の測定データをMPU9により読出し、レ
ベル差に相当する印加電圧vs などのTFT素子831 に
対する制御データを作成してTFT駆動回路8a に渡
す。TFT駆動回路8a においては、制御データにもと
づいて、領域S2,S3 に対応する各TFT素子831 に対
して印加電圧vs を印加すると、これらに対応する液晶
分子の配向が印加電圧vs に従って変化して、図3(b)
にハッチングで示すように、液晶フィルタ8の両領域S
2,S3 に対応する部分の透過率がレベル差に相当する分
低下する。ただし図(b) では、境界線x1,x2 をZ座標
1,zで示す。以上により、光源421 よりの照明光LT
は液晶フィルタ8により部分的に減光されて両領域S2,
3 に照射され、両マークMC,MT の反射光は、図3
(c) に示すようにレベル差が小さくなって両受像カメラ
41a,41b にそれぞれ明瞭に受像され、信号処理部5にお
いて両マークMC,MT のXY座標値が正確に検出され
て、カラーフィルタ11とTFT基板12が正しく位置合せ
される。
The positioning procedure will be described below with reference to FIGS. 1 to 3 by taking the color liquid crystal plate 1 of FIG. 4 as an example. In FIG. 1, the application of the applied voltage v to all the TFT elements 831 is stopped and the transmittance of the liquid crystal filter 8 is set to 100%. Each mark on the appropriate color filter 11 and the TFT substrate 12 is used as a sample, and the corresponding two marks M C and M T are received by the image receiving camera 41. In this case, as above,
It is assumed that the reflectance of the mark M C is good, the reflectance of the mark M T 2 is not good, and there is a large difference between the reflectances of the two. Figure 3 (a)
Indicates each image of the sample mark received by both image receiving cameras 41a and 41b, and the image of the image receiving camera 41a has a boundary line x 1
Marks M C1 and M T1 are scattered in the misalignment circles C in the regions S 1 and S 2 on both sides of the image. Similarly, the image of the image receiving camera 41b is
The marks M C1 and M T1 are scattered in the misaligned circles C in the regions S 3 and S 4 on both sides of the boundary line x 2 . Both receiver cameras 41
The image signals of a and 41b are processed by the signal processing unit 5 to obtain the level difference between the light receiving levels of the marks M C and M T on either side or the average value of the level differences between the two sides, and this data is stored in the MEM 9a. Remember. Further, the X coordinate data of the boundary lines x 1 and x 2 are stored in the MEM 9a in advance. In aligning the color filter 11 and the TFT substrate 12,
The coordinate data of the boundaries x 1 and x 2 stored in the MEM 9a, the level difference data of both marks M C and M T , and the measured data of the transmittance characteristic are read out by the MPU 9, and the applied voltage corresponding to the level difference is read out. Control data for the TFT element 831 such as v s is created and passed to the TFT drive circuit 8a. In the TFT drive circuit 8a, when the applied voltage v s is applied to each TFT element 831 corresponding to the regions S 2 and S 3 based on the control data, the orientation of the liquid crystal molecules corresponding to these is applied voltage v s. According to Fig. 3 (b)
As shown by hatching in both areas S of the liquid crystal filter 8,
The transmittance of the portion corresponding to 2 and S 3 is reduced by the amount corresponding to the level difference. However, in the figure (b), the boundary lines x 1 and x 2 are indicated by Z coordinates z 1 and z. From the above, the illumination light L T from the light source 421
Is partly dimmed by the liquid crystal filter 8 so that both areas S 2 ,
The reflected light of both marks M C and M T irradiated on S 3 is shown in FIG.
As shown in (c), the level difference becomes smaller and
The images are clearly received by 41a and 41b respectively, and the XY coordinate values of both marks M C and M T are accurately detected by the signal processing unit 5, so that the color filter 11 and the TFT substrate 12 are properly aligned.

【0012】上記の実施例においては、カラー液晶板1
を例としたが、これに限らず、反射率に大差があり適当
に離隔した2個の位置合せマークを有する、任意の2枚
のワークに対しても、上記と同様に、両位置合せマーク
の反射光のレベル差が小さくされて、両者が明確に受像
されて位置合せが正しくできるものである。
In the above embodiment, the color liquid crystal plate 1 is used.
However, the present invention is not limited to this, and both alignment marks can be applied to any two workpieces that have two alignment marks that have a large difference in reflectance and are appropriately separated. The difference in the level of the reflected light is reduced so that both are clearly received and the alignment can be performed correctly.

【0013】[0013]

【発明の効果】以上の説明のとおり、この発明による位
置合せ装置は、検出光学系の照明系に液晶フィルタを配
設し、液晶フィルタの各TFT素子に対する駆動回路な
どを設けて構成され、2枚のワークにそれぞれ設けら
れ、対応する2個の位置合せマークの反射率に大差があ
るとき、良好な反射率のマークとその周辺の領域に対す
る照明光を、液晶フィルタにより大差に相当する分減光
し、両マークの反射光のレベル差を小さくして受像カメ
ラに明確に受像するもので、これにより両マークのXY
座標値がそれぞれ正確に求められて正しく位置合せでき
る効果には、大きいものがある。
As described above, the alignment apparatus according to the present invention is configured by disposing the liquid crystal filter in the illumination system of the detection optical system and providing the drive circuit for each TFT element of the liquid crystal filter. When there is a large difference in the reflectance between the two corresponding alignment marks provided on each of the workpieces, the illumination light for the marks with good reflectance and the surrounding area is reduced by the liquid crystal filter by an amount equivalent to the large difference. Light is emitted, and the level difference of the reflected light of both marks is reduced to clearly receive the image on the image receiving camera.
The effect that each coordinate value is accurately obtained and the correct alignment can be achieved has a great effect.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】図1は、この発明の位置合せ装置の一実施例に
おける構成図である。
FIG. 1 is a configuration diagram of an embodiment of an alignment apparatus of the present invention.

【図2】図2は、液晶フィルタの一実施例における分解
図と、その透過率の曲線図である。
FIG. 2 is an exploded view of an example of a liquid crystal filter and a curve diagram of its transmittance.

【図3】図3は、位置合せにおける液晶フィルタの作用
説明図である。
FIG. 3 is an explanatory view of the action of the liquid crystal filter in alignment.

【図4】図4は、ビデオカメラのファインダーに使用さ
れているカラー液晶板の構成素材の表面図である。
FIG. 4 is a surface view of constituent materials of a color liquid crystal plate used in a viewfinder of a video camera.

【図5】図5は、カラー液晶板の組立て装置の概略構成
図である。
FIG. 5 is a schematic configuration diagram of a device for assembling a color liquid crystal plate.

【図6】図6は、検出光学系の概略構成図と、2つのマ
ークの相互の位置関係の説明図である
FIG. 6 is a schematic configuration diagram of a detection optical system and an explanatory diagram of a mutual positional relationship between two marks.

【図7】図7は、2つのマークの反射光の相対レベルの
一例を示す波形図である。
FIG. 7 is a waveform diagram showing an example of relative levels of reflected light of two marks.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…カラー液晶板、11…カラーフィルタ、111 …ガラス
板、12…TFT基板、121 …ガラス板、122 …UV硬化
接着剤、2…XY移動テーブル、3…吸着板、4…検出
光学系、4’…この発明における検出光学系、41a,41b
…受像カメラ、42…照明系、421 …白色光源、422,423
…中継レンズ、43…ハーフミラー、44…テレセントリッ
ク・レンズ、5…信号処理部、6…移動制御部、7…充
填機構、8…液晶フィルタ、81…偏光膜A、82…ガラス
板、821 …ITOの薄膜電極、83…TFT基板、831 …
TFT素子、84…偏光膜B、8a …駆動回路、9…マイ
クロプロセッサ(MPU)、9a …メモリ(MEM)、
C,MT …位置合せマーク、MC',MT'…位置ズレした
位置合せマーク、LC…液晶、C…位置ズレ円、δx…
位置合せマークの位置合せ間隔、S1,S2,S3,S4 …領
域、x1,x2,z1,z2 …各領域の境界線、v…印加電
圧、vrms …印加電圧の実効値。
1 ... Color liquid crystal plate, 11 ... Color filter, 111 ... Glass plate, 12 ... TFT substrate, 121 ... Glass plate, 122 ... UV curing adhesive, 2 ... XY moving table, 3 ... Suction plate, 4 ... Detection optical system, 4 '... Detection optical system according to the present invention, 41a, 41b
… Image receiving camera, 42… Illumination system, 421… White light source, 422, 423
... relay lens, 43 ... half mirror, 44 ... telecentric lens, 5 ... signal processing unit, 6 ... movement control unit, 7 ... filling mechanism, 8 ... liquid crystal filter, 81 ... polarizing film A, 82 ... glass plate, 821 ... ITO thin film electrode, 83 ... TFT substrate, 831 ...
TFT element, 84 ... Polarizing film B, 8a ... Driving circuit, 9 ... Microprocessor (MPU), 9a ... Memory (MEM),
M C , M T ... Alignment mark, M C ', M T ' ... Misaligned alignment mark, LC ... Liquid crystal, C ... Misaligned circle, δx ...
Alignment interval of alignment marks, S 1 , S 2 , S 3 , S 4 ... Region, x 1 , x 2 , z 1 , z 2 ... Boundary of each region, v ... Applied voltage, v rms ... Applied voltage Effective value of.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H01L 21/027 21/68 F ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (51) Int.Cl. 6 Identification number Office reference number FI technical display location H01L 21/027 21/68 F

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】上側と下側の2枚のワークの両端にそれぞ
れ設けられ、互いに対応し、かつ適当な間隔をなして位
置合せされる2個の位置合せマークを対象とし、光源よ
りの照明光をハーフミラーを介してテレセントリック・
レンズにより平行照明光に変換し、該平行照明光を一定
のギャップで重ね合わせた該両位置合せ板に対して垂直
に照射する照明系と、該両端の両位置合せマークをそれ
ぞれ撮像する2個の受像カメラとを有する検出光学系、
および該両受像カメラの画像信号を処理する信号処理部
とを具備するワーク組立て装置において、 前記対応する2個の位置合せマークの、それぞれの反射
率に大きい差異があるとき、良好な反射率を有する位置
合せマークとその周辺の領域に対して、該差異に相当す
る分前記照明光を減光して照明する、液晶とTFT基板
とを有する液晶フィルタを、前記照明系に配設し、該T
FT基板の各TFT素子に対して印加電圧を印加する駆
動回路を設けたことを特徴とする、位置合せマークの位
置合せ装置。
1. An illumination from a light source for two alignment marks which are provided at both ends of an upper work and a lower work respectively and which correspond to each other and are aligned at appropriate intervals. Telecentric light through half mirror
An illumination system that converts the parallel illumination light into parallel illumination light by a lens and irradiates the alignment plates that are superposed at a constant gap vertically to each other, and two alignment marks at both ends of the illumination system. Detection optical system having an image receiving camera of
And a signal processing unit for processing the image signals of both of the image receiving cameras, a good reflectance is obtained when there is a large difference in reflectance between the corresponding two alignment marks. A liquid crystal filter having a liquid crystal and a TFT substrate for illuminating the alignment mark and its surrounding area by dimming the illumination light by an amount corresponding to the difference is disposed in the illumination system. T
An alignment mark alignment device comprising a drive circuit for applying an applied voltage to each TFT element of an FT substrate.
JP23942594A 1994-09-07 1994-09-07 Aligning device for aligning marks Pending JPH0876103A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP23942594A JPH0876103A (en) 1994-09-07 1994-09-07 Aligning device for aligning marks

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP23942594A JPH0876103A (en) 1994-09-07 1994-09-07 Aligning device for aligning marks

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0876103A true JPH0876103A (en) 1996-03-22

Family

ID=17044587

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP23942594A Pending JPH0876103A (en) 1994-09-07 1994-09-07 Aligning device for aligning marks

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0876103A (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7773179B2 (en) Patterning phase difference plate, production method for patterning phase difference plate, 2D/3D switching type liquid crystal display panel, and 2D/3D switching type liquid crystal display unit
KR100675534B1 (en) Method of manufacturing a circuit device or display device, and large size display apparatus
CA2358685C (en) Method of alignment between sheet materials, method of alignment, substrate assembling method and aligning apparatus
CN1650227A (en) Prism structure and projector
EP0313395A2 (en) A projection-type color display apparatus
KR100458613B1 (en) Method and system for fabricating a liquid crystal display by optically detecting anisotropic angular misalignment
JPH08146371A (en) Liquid crystal display device and its production
JPH0876103A (en) Aligning device for aligning marks
US4928181A (en) Methods and apparatus for optically enhancing selected features in an input image
JP2931505B2 (en) Inspection apparatus and inspection method for color filter used in matrix type display device
JP3731367B2 (en) Manufacturing method of electro-optical device
JP2001125092A (en) Liquid crystal display device and method of producing the same
CN100419504C (en) Manufacturing apparatus of optical device, manufacturing method thereof and projector
CN1307462C (en) Position modulation device and method of light modulation equipment and its initial position modulation clamp
JPH08101404A (en) Detection of defect of tft substrate and defect inspection apparatus
JPH049922A (en) Projection type color liquid crystal display device
US20090015733A1 (en) Retardation Film and Projection Display Apparatus
JPH09179043A (en) Variable dimming method of positioning optical system
JPH01191826A (en) Liquid crystal display device
JP3693136B2 (en) Method for overlaying liquid crystal panel and apparatus therefor
JP5513729B2 (en) Method for producing color filter forming substrate
JP5453754B2 (en) Alignment mark position detection method and color filter forming substrate manufacturing method
JPH03265820A (en) Liquid crystal display and production thereof
TW202242512A (en) Electronic device and display projection system
JPH08166353A (en) Method and apparatus for inspecting film quality of film member