JPH087382Y2 - Auto focus device - Google Patents

Auto focus device

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JPH087382Y2
JPH087382Y2 JP1989118843U JP11884389U JPH087382Y2 JP H087382 Y2 JPH087382 Y2 JP H087382Y2 JP 1989118843 U JP1989118843 U JP 1989118843U JP 11884389 U JP11884389 U JP 11884389U JP H087382 Y2 JPH087382 Y2 JP H087382Y2
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JP
Japan
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magnetic head
focus
image
sample
head
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正男 矢島
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Nidec Sankyo Corp
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Description

【考案の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本考案は、画像処理装置を用い、かつ、複数のピント
位置を有する試料に対するオートフォーカス装置に関す
る。
[Detailed Description of the Invention] [Industrial field of application] The present invention relates to an autofocus device for a sample having an image processing apparatus and having a plurality of focus positions.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

試料の画像を画像入力装置を通じて取り込み、取り込
まれた画像信号から、例えばコントラスト法によってピ
ント位置を検出するオートフォーカス装置が知られてい
る。コントラスト法とは、画像入力装置からの画像信号
は、像の明部と暗部との差、すなわちコントラストが合
焦点において最大となることを利用して焦点位置を検出
するものである。いま、画像入力装置のレンズを光軸方
向に相対移動させながらオートフォーカス装置の出力電
圧の変化をとると、第10図に示すよすに山形の曲線にな
る。この曲線のピーク位置が焦合点となる。
There is known an autofocus device that captures an image of a sample through an image input device and detects the focus position from the captured image signal by, for example, the contrast method. The contrast method is to detect the focus position by utilizing the fact that the image signal from the image input device has the maximum difference at the in-focus point, that is, the difference between the bright part and the dark part of the image. Now, when the output voltage of the autofocus device is changed while the lens of the image input device is relatively moved in the direction of the optical axis, the curve becomes a mountain curve as shown in FIG. The peak position of this curve is the focus point.

〔考案が解決しようとする問題点〕 上記コントラスト法によって試料に対する合焦点を検
出することができる。しかしながら、試料によっては画
像入力装置の光軸方向の複数のピント位置を有するもの
がある。例えば、回転ドラムに微小な磁気ヘッドを取り
付けてなるDAT用回転シリンダヘッドの自動組み立て工
程では、磁気ヘッドの像を干渉対物レンズを有する顕微
鏡光学系を介して画像処理装置に入力し、この入力され
た画像信号に基づいて磁気ヘッドの突出量や姿勢などを
測定する。この測定装置において、画像入力装置の顕微
鏡を光軸方向に相対移動させることによりオートフォー
カス装置の出力信号は第11図に示すように複数のピーク
を持った信号となる。複数のピークのうち曲線状のピー
クは試料の像によるピークであり、鋸歯形のピークは干
渉縞によるピークである。試料の像によるピークと干渉
縞によるピークとの間には光学系の構成によって決まる
一定の間隔Dがある。このような複数のピーク位置を有
する試料の場合、従来のオートフォーカス装置ではいず
れのピークに合焦するのか不定であり、使用目的に沿わ
ない場合があった。
[Problems to be Solved by the Invention] The in-focus point on the sample can be detected by the contrast method. However, some samples have a plurality of focus positions in the optical axis direction of the image input device. For example, in the automatic assembly process of a rotary cylinder head for DAT in which a minute magnetic head is attached to a rotating drum, the image of the magnetic head is input to an image processing apparatus via a microscope optical system having an interference objective lens, and this input is performed. The protrusion amount and posture of the magnetic head are measured based on the image signal. In this measuring device, the output signal of the autofocus device becomes a signal having a plurality of peaks by moving the microscope of the image input device relative to the optical axis direction, as shown in FIG. Among the plurality of peaks, the curved peak is the peak due to the image of the sample, and the sawtooth peak is the peak due to the interference fringes. There is a constant distance D between the peak of the image of the sample and the peak of the interference fringes, which is determined by the configuration of the optical system. In the case of such a sample having a plurality of peak positions, it is uncertain which peak is focused by the conventional autofocus device, and it may not meet the purpose of use.

本考案は、かかる従来技術の問題点を解消するために
なされたもので、複数のピント位置を有する試料であっ
ても、いずれのピント位置に合焦しているかを判断する
ことができ、もって、所定のピント位置に合焦すること
ができるようにしたオートフォーカス装置を提供するこ
とを目的とする。
The present invention has been made in order to solve the above-mentioned problems of the prior art, and it is possible to determine which focus position is in focus even for a sample having a plurality of focus positions. It is an object of the present invention to provide an autofocus device capable of focusing on a predetermined focus position.

〔課題を解決するための手段〕[Means for solving the problem]

本考案は、画像入力装置に用い、かつ、画像入力装置
の光軸方向に、試料に合焦したピント位置と干渉縞の発
生によるピント位置の複数のピント位置を有し、これら
ピント位置が一定の位置関係を有している試料に対する
オートフォーカス装置であって、前記複数のピント位置
に対応して表れる出力のピーク値及びそのときの位置を
検出し、各ピーク値と基準出力とを前記一定の位置関係
に基づいて比較することにより前記各ピーク値の、何れ
が試料に合焦したピント位置に対応するピーク値である
かを識別し、所定のピント位置に合焦することを特徴と
する。
INDUSTRIAL APPLICABILITY The present invention is used for an image input device, and has a plurality of focus positions in the optical axis direction of the image input device, which are a focus position focused on the sample and a focus position due to generation of interference fringes, and these focus positions are constant. An autofocus device for a sample having a positional relationship of, detecting the peak value of the output appearing corresponding to the plurality of focus positions and the position at that time, and determining each peak value and the reference output as the constant value. By comparing based on the positional relationship of the above, each of the peak values, which is the peak value corresponding to the focus position focused on the sample is identified, and it is focused on a predetermined focus position. .

〔作用〕[Action]

ピーク値が表れる位置の間隔があらかじめわかってい
れば、一つのピーク値と基準値との比較において条件を
満たしているときはその位置を所定の合焦位置と判断
し、上記条件を満たしていないときは、そのピーク位置
周辺のデータを0にし、再度ピーク位置を検出し、この
ピーク位置を所定の合焦位置と判断する。
If the distance between the positions where the peak value appears is known in advance, when the condition is satisfied in the comparison between one peak value and the reference value, that position is determined as the predetermined focus position, and the above condition is not satisfied. In this case, the data around the peak position is set to 0, the peak position is detected again, and this peak position is determined to be the predetermined focus position.

〔実施例〕〔Example〕

以下、図面を参照しながら本考案にかかるオートフォ
ーカス装置の実施例について説明する。
Embodiments of an autofocus device according to the present invention will be described below with reference to the drawings.

図示の実施例では、DAT用に用いられる回転ドラムに
おける磁気ヘッドの位置計測及び姿勢計測装置として構
成されているので、実施例の説明の前にDATにおける磁
気ヘッドの位置計測及び姿勢計測の概略について説明し
ておく。
In the illustrated embodiment, since it is configured as a magnetic head position measurement and attitude measurement device in a rotary drum used for DAT, a brief description of the magnetic head position measurement and attitude measurement in the DAT is given before the description of the embodiment. I will explain.

第8図は、画像入力装置から入力される磁気ヘッド27
の入力画像を示す。磁気ヘッド27は、ヘッドギャップ25
を挟んで配置されたセンダスト23,23と、各センダスト2
3,23の各一側に配置されたフェライトコア22,22と、ヘ
ッドギャップ25の各一端を一つの頂点としてセンダスト
23とフェライトコア22で囲まれた三角形の空間に配置さ
れたガラス24,24とを有してなる。画像入力装置からの
上記磁気ヘッドの画像信号は画像処理装置に入力され、
ヘッドギャップ25の位置が一定の点を基準としてX−X
座標上の位置として計測される。
FIG. 8 shows a magnetic head 27 input from the image input device.
The input image of is shown. The magnetic head 27 has a head gap 25.
Sendusts 23 and 23 arranged with the
Ferrite cores 22, 22 arranged on one side of 3, 23 and one end of head gap 25 as one apex
23 and glasses 24, 24 arranged in a triangular space surrounded by the ferrite core 22. The image signal of the magnetic head from the image input device is input to the image processing device,
XX with the position of head gap 25 as a reference
It is measured as a position on coordinates.

DATの回転ドラムには、2個の磁気ヘッドがドラムの
外周部に180度の間隔で取り付けられている。従って、
ドラムが180度回転したとき、2個の磁気ヘッドの位置
がそれぞれ正しい位置にあり、相互に合致していなけれ
ばならない。2個の磁気ヘッドの位置がそれぞれ正しい
位置にあるかどうか、かつ、相互に合致しているかどう
かは、一つの磁気ヘッドの画像信号を画像入力装置によ
り入力して位置計測を行った後、ドラムを180度回転し
て他方の磁気ヘッドの画像信号を画像入力装置より入力
して位置計測を行うことにより判断することができる。
また、2個の磁気ヘッドのテープとの摺接面は、テープ
との良好な摺接関係を得るために、ドラムの外周面から
適宜の量だけ突出させる必要があり、かつ、2個の磁気
ヘッドの突出量が一致していなければならない。さら
に、ギャップ25をテープに正しく摺接させるためには、
磁気ヘッド27が正しい姿勢になっていて、ギャップ25の
位置がドラム面から最も突出した位置になければならな
い。
On the rotating drum of the DAT, two magnetic heads are attached to the outer circumference of the drum at intervals of 180 degrees. Therefore,
When the drum rotates 180 degrees, the positions of the two magnetic heads must be in the correct positions and match each other. Whether or not the positions of the two magnetic heads are in the correct positions and whether they match each other is determined by inputting an image signal of one magnetic head with an image input device and measuring the position of the drum. Can be determined by rotating the position 180 degrees and inputting the image signal of the other magnetic head from the image input device to measure the position.
Further, the sliding contact surface of the two magnetic heads with the tape needs to be protruded from the outer peripheral surface of the drum by an appropriate amount in order to obtain a good sliding contact relationship with the tape, and The amount of protrusion of the head must match. In addition, in order to properly slide the gap 25 on the tape,
The magnetic head 27 must be in the correct posture, and the position of the gap 25 should be the most protruding position from the drum surface.

いま、画像入力装置の撮像光学系に干渉対物レンズを
有する顕微鏡を用いてこれを試料としての磁気ヘッドに
対して光軸方向に移動させると、前述のように磁気ヘッ
ドの画像が表れ、また、その位置から一定距離光軸方向
に移動した位置で干渉縞が表れる。第1図は磁気ヘッド
27が正しい姿勢で取り付けられている場合に画像入力装
置で得られる画像信号の例を示すもので、磁気ヘッドの
ギャップ25の像が表れる位置と干渉縞17が表れる位置と
が画像信号上において一致している。
Now, when a microscope having an interference objective lens is used in the image pickup optical system of the image input device and this is moved in the optical axis direction with respect to the magnetic head as a sample, an image of the magnetic head appears as described above. Interference fringes appear at a position moved from that position in the optical axis direction by a certain distance. Fig. 1 shows a magnetic head
27 shows an example of an image signal obtained by the image input device when 27 is attached in a correct posture, and the position where the image of the gap 25 of the magnetic head appears and the position where the interference fringes 17 appear on the image signal. I am doing it.

なお、本実施例では、磁気ヘッドのギャップ25の像が
表れる位置と干渉縞17の中心位置とを一致させている
が、一致させずに、所定の間隔をずらして磁気ヘッドを
取り付けている場合もある。第2図は磁気ヘッド27の姿
勢が不適当な場合で、磁気ヘッドのギャップ25が表れる
位置と干渉縞17が表れる位置が規定以上にずれている。
この磁気ヘッド27の姿勢の計測は、画像入力装置のオー
トフォーカス装置を利用することができる。第3図ない
し第6図は、磁気ヘッド27の姿勢計測に適用可能なオー
トフォーカス装置の例を示す。
In the present embodiment, the position where the image of the gap 25 of the magnetic head appears and the center position of the interference fringe 17 are made to coincide with each other. There is also. FIG. 2 shows a case in which the magnetic head 27 is not properly oriented, and the position where the gap 25 of the magnetic head appears and the position where the interference fringes 17 appear deviate by more than a prescribed amount.
The attitude of the magnetic head 27 can be measured by using the autofocus device of the image input device. 3 to 6 show an example of an autofocus device applicable to the attitude measurement of the magnetic head 27.

試料としての磁気ヘッドに対し画像入力装置のレンズ
を光軸方向に相対移動させることにより、第3図に示す
ように出力電圧に二つのピークa,bが表れる。ピークa
は磁気ヘッドに合焦したときのピークであり、ピークb
は干渉縞の発生によるピークであるが、オートフォーカ
ス装置では、いずれが磁気ヘッドに合焦したときのピー
クかはわからない。各ピークa,b間には光学系の構成に
よって決まる一定の距離Dがある。試料としての磁気ヘ
ッドがドラムに挿入されるときのばらつきはあらかじめ
わかっており、これをレンジWとする。合焦のためのス
キャン幅SはレンジWよりも大きい。ピークaにおける
出力電圧Vaとピークbにおける出力電圧Vbはどちらが大
きいか不定であるが、第3図の例ではVa>Vbとなってい
る。そこで、6図にも示すように、まず、画像入力装置
を取り付けたステージをスキャン幅Sの近点側の範囲外
である基準点Cまで移動し、この基準点Cにおける出力
電圧Vcにαを付加してなる電圧Vfを基準電圧としてメモ
リする。次に、ステージをスキャン幅Sの遠点側まで移
動させ、その間に表れるピークの最大値とその位置を求
め、最大値の位置(第3図の例ではピークaの位置)ま
でステージを移動させる。次に、この位置から距離Dだ
け遠点の方に離れた位置にステージを移動し、この移動
後の出力Veをメモリから取り出す。第3図の場合はVe=
Vbである。そこで、VeとVfを比較する。第3図ではVe>
Vfのため、ステージを最大値の位置、すなわちピークa
の位置まで移動させて停止させ、この位置を目的の合焦
位置とする。第3図においては上記ステージの移
動を示す。
By moving the lens of the image input device relative to the magnetic head as a sample in the optical axis direction, two peaks a and b appear in the output voltage as shown in FIG. Peak a
Is the peak when the magnetic head is focused, and the peak b
Is a peak due to generation of interference fringes, but the autofocus device cannot know which is the peak when the magnetic head is focused. There is a constant distance D between the peaks a and b, which is determined by the configuration of the optical system. The variation when the magnetic head as the sample is inserted into the drum is known in advance, and this is referred to as range W. The scan width S for focusing is larger than the range W. It is uncertain which of the output voltage Va at the peak a and the output voltage Vb at the peak b is larger, but in the example of FIG. 3, Va> Vb. Therefore, as shown in FIG. 6, first, the stage to which the image input device is attached is moved to a reference point C that is outside the near point side of the scan width S, and α is set to the output voltage Vc at this reference point C. The added voltage Vf is stored as a reference voltage. Next, the stage is moved to the far point side of the scan width S, the maximum value and the position of the peak appearing therebetween are obtained, and the stage is moved to the position of the maximum value (the position of peak a in the example of FIG. 3). . Next, the stage is moved to a position away from this position by a distance D toward the far point, and the output Ve after this movement is taken out from the memory. In the case of FIG. 3, Ve =
It is Vb. Therefore, we compare Ve and Vf. Ve> in Fig. 3
Due to Vf, the stage is at the position of maximum value, that is, peak a
Is moved to and stopped at this position, and this position is set as the target focus position. The movement of the stage is shown in FIG.

ところで、場合によっては第4図に示すように干渉縞
のピークbの出力電圧Vbが磁気ヘッドに合焦したときの
ピークaの出力電圧Vaよりも大きい場合がある。この場
合、第6図のVeとVfの比較においてVe<Vfとなって電圧
Vbの位置は磁気ヘッドに対する焦点位置ではなく、干渉
縞に対する焦点位置であることがわかるため、第5図に
鎖線の枠で示すように、Vb周辺のあらかじめ設定された
範囲、すなわち干渉縞によるピークが表れる前後の範囲
のデータを0として再び最大値及び最大値の位置を求め
るステップに進む。この最大値及び最大値の位置を求め
るステップでは、磁気ヘッドに合焦することによって表
れるピークaの位置が求める合焦位置となり、この位置
でステージが停止する。
By the way, in some cases, as shown in FIG. 4, the output voltage Vb of the peak b of the interference fringe may be larger than the output voltage Va of the peak a when the magnetic head is focused. In this case, in the comparison between Ve and Vf in FIG.
Since it can be seen that the position of Vb is not the focus position for the magnetic head but the focus position for the interference fringes, as shown by the dashed line frame in Fig. 5, a preset range around Vb, that is, the peak due to the interference fringes. With the data in the range before and after appearing as 0, the process proceeds to the step of obtaining the maximum value and the position of the maximum value again. In the step of obtaining the maximum value and the position of the maximum value, the position of the peak a appearing by focusing on the magnetic head becomes the desired focusing position, and the stage stops at this position.

こうして、磁気ヘッドに合焦した位置と干渉縞が発生
する位置とを検出することができ、それぞれの合焦位置
において表れる画像を処理することによって磁気ヘッド
のギャップが回転ドラム面から最も突出した位置にある
かどうか、すなわち磁気ヘッドが正しい姿勢で取り付け
られているかどうす計測することができる。
In this way, it is possible to detect the position where the magnetic head is focused and the position where the interference fringes are generated, and by processing the images appearing at the respective focusing positions, the position where the gap of the magnetic head is most protruded from the rotating drum surface is detected. Can be measured, that is, whether the magnetic head is mounted in the correct posture.

ここで、基準点Cの電圧Vcの値とa又はb点の電圧と
を比較するようにしたのはヘッド面の状態によって出力
電圧が異なるため、初めからVcを一定にしておくとa又
はb点の電圧がVcよりも低くなる場合が生じて合焦点を
検出することができない場合があるからである。従っ
て、その都度基準点Cの電圧Vcを求めて比較するように
している。また、Vc+α=Vfとしたのは、Vcだけでは電
圧が低く、Veがあまり高くなくてもVe>Vcが成立して合
焦位置を間違うことがであるからである。上記αは予じ
め実験により求めた最適値である。
Here, the value of the voltage Vc at the reference point C is compared with the voltage at the point a or b because the output voltage differs depending on the state of the head surface. Therefore, if Vc is kept constant from the beginning, a or b This is because the voltage at the point may be lower than Vc and the focus may not be detected. Therefore, the voltage Vc at the reference point C is obtained each time and compared. Further, the reason why Vc + α = Vf is set is that the voltage is low only by Vc, and Ve> Vc is established even if Ve is not so high that the focusing position may be wrong. The above α is an optimum value obtained by a preliminary experiment.

次に、上記オートフォーカス装置を利用したDAT用磁
気ヘッドの自動組み立て装置の例について説明する。
Next, an example of a device for automatically assembling a magnetic head for DAT using the above autofocus device will be described.

第7図において、DATの回転ドラム3の外周部には180
度間隔で磁気ヘッド1,2がねじ止めされている。ドラム
3は、モータ14によって回転駆動される治具12に磁気ヘ
ッド1,2側を上にして取り付けられている。ドラム3は
テープレコーダに組み込まれる場合は磁気ヘッド1,2側
を下にして固定ドラムに対して回転可能に取付けられ
る。
In FIG. 7, 180 is provided on the outer peripheral portion of the rotating drum 3 of the DAT.
Magnetic heads 1 and 2 are screwed at intervals. The drum 3 is attached to a jig 12 which is rotationally driven by a motor 14 with the magnetic heads 1 and 2 side up. When the drum 3 is incorporated in a tape recorder, the drum 3 is rotatably attached to the fixed drum with the magnetic heads 1 and 2 facing down.

治具12上のドラム3の上記磁気ヘッドの一つに対向さ
せて顕微鏡4が配置されている。顕微鏡4はその干渉対
物レンズ41の光軸42が上記磁気ヘッドの略中心部に位置
するように精密なステージ6に取り付けられている。顕
微鏡4で拡大して見る試料は磁気ヘッド1,2であり、サ
ブミクロンオーダーの精度で計測することができる。ス
テージ6にはまた顕微鏡4の結像位置に画像入力装置と
してのテレビカメラ5が取り付けられている。ステージ
6はモータ13により前記光軸42方向に駆動される。
A microscope 4 is arranged facing one of the magnetic heads of the drum 3 on the jig 12. The microscope 4 is attached to a precise stage 6 so that the optical axis 42 of the interference objective lens 41 is located substantially at the center of the magnetic head. The magnified sample viewed with the microscope 4 is the magnetic heads 1 and 2 and can be measured with an accuracy on the order of submicrons. A television camera 5 as an image input device is attached to the stage 6 at the image forming position of the microscope 4. The stage 6 is driven by the motor 13 in the optical axis 42 direction.

テレビカメラ5によって得られる磁気ヘッドの画像信
号は、モニタ8に入力されて磁気ヘッドの画像が映しだ
されると共に、オートフォーカス装置7に入力される。
オートフォーカス装置7は、テレビカメラ5からの画像
信号を効率よく、かつ、他からの干渉を受けることなく
画像処理装置9に送るためのバッファ77と、撮像画面中
の合焦させたい部分、即ち本実施例ではヘッド面のデー
タだけを取り出すために必要な部分を設定する検出域及
び走査線設定部73と、この検出及び走査線設定部73で設
定された範囲の画像信号のみを通すためのゲート72と、
このゲート72からの画像信号の中から高周波成分を取り
出すためのハイパスフィルター74と、このハイパスフィ
ルター74からの出力信号を図示しないA/D変換器によ
り、アナログ信号よりデジタル信号に変換させ、このデ
ジタル信号のデータを記憶させるメモリ75と、このメモ
リ75の記憶データから合焦点を求め、ステージ6を移動
させるための信号を出力させるオートフォーカス用制御
部76とを有してなる。オートフォーカス装置7による合
焦方式はコントラスト法である。
The image signal of the magnetic head obtained by the television camera 5 is input to the monitor 8 to display the image of the magnetic head, and is also input to the autofocus device 7.
The autofocus device 7 is a buffer 77 for sending an image signal from the television camera 5 to the image processing device 9 efficiently and without interference from other parts, and a portion to be focused on the imaging screen, that is, In this embodiment, a detection area and a scanning line setting unit 73 that sets a portion necessary for extracting only the data of the head surface, and an image signal for passing only the image signal in the range set by the detection and scanning line setting unit 73 Gate 72,
A high-pass filter 74 for extracting high-frequency components from the image signal from the gate 72, and an output signal from the high-pass filter 74 is converted from an analog signal to a digital signal by an A / D converter (not shown). It has a memory 75 for storing signal data and an autofocus control section 76 for obtaining a focus from the stored data of the memory 75 and outputting a signal for moving the stage 6. The focusing method by the autofocus device 7 is a contrast method.

前記オートフォーカス用制御部76は、ステージ6上の
顕微鏡4及びテレビカメラ5の移動と共に各カメラ位置
でのデータをメモリ75から取り込む。このデータは第3
図又は第4図に示すように変化するため、この出力電圧
特性から合焦点を検出し、この検出信号を用いて、モー
タ13を駆動してステージ6を対物レンズ41の光軸42方向
に移動させる。ステージ6には顕微鏡4とテレビカメラ
5が取り付けられているため、ステージ6の移動と共に
合焦位置が変わる。オートフォーカス用制御部76は顕微
鏡4が磁気ヘッドへの合焦点に達するまでモータ13を駆
動してスージ6を移動させることができる。
The autofocus control unit 76 fetches data at each camera position from the memory 75 as the microscope 4 and the television camera 5 move on the stage 6. This data is the third
Since it changes as shown in the figure or FIG. 4, the focus point is detected from this output voltage characteristic, and the motor 13 is driven by using this detection signal to move the stage 6 in the optical axis 42 direction of the objective lens 41. Let Since the microscope 4 and the television camera 5 are attached to the stage 6, the focus position changes as the stage 6 moves. The autofocus control unit 76 can drive the motor 13 to move the Suge 6 until the microscope 4 reaches the focal point of the magnetic head.

前記画像処理装置9は、第8図に示すような画像信号
から、フェライトコア22、ガラス24及びセンダスト23と
交差するヘッドギャップ25の一方の交点の位置を計測す
る。この計測は、例えば、画面枠20の左隅を原点Oとし
て横軸をX、縦軸をYとしたとき、このX−Y座標上で
上記ヘッドギャップの交点位置を計測することによって
行うことができる。また、画像処理装置9は、一方の磁
気ヘッド1のギャップ位置データをX1,Y1で、他方の磁
気ヘッド2のギャップ位置データをX2,Y2で表し、これ
を次に説明するシステム制御部10の中に設けられたメモ
リに記憶させる。
The image processing device 9 measures the position of one intersection of the head gap 25 intersecting the ferrite core 22, the glass 24 and the sendust 23 from the image signal as shown in FIG. This measurement can be performed, for example, by measuring the intersection position of the head gaps on the XY coordinates when the left corner of the screen frame 20 is the origin O, the horizontal axis is X, and the vertical axis is Y. . Further, the image processing apparatus 9 represents the gap position data of one magnetic head 1 by X 1 and Y 1 , and the gap position data of the other magnetic head 2 by X 2 and Y 2 , which will be described below. It is stored in the memory provided in the control unit 10.

システム制御部10は、治具12やオートフォーカス装置
7や画像処理装置9等を含む磁気ヘッド組み立て装置全
体の制御を行うもので、2個の磁気ヘッド1,2のギャッ
プ位置X1,Y1とX2,Y2、ドラム3からの突出量t1,t2
びドラム3に対する磁気ヘッド1,2の姿勢を計測し、こ
れらが許容範囲内にあるかどうかを判断する。具体的に
は、まず、ドラム3を少し回転させ、このドラム3の外
周面までの距離ZD1,ZD2(図示せず)を求め、次に、磁
気ヘッド1に合焦したときのステージ6の位置Z1と、磁
気ヘッド2に合焦したときのステージ6の位置Z2を求
め、磁気ヘッド1の突出量t1をt1=(ZD1−Z1)により
求める。同様にして、磁気ヘッド2の突出量t2をt2
(ZD2−Z2)により求める。または、磁気ヘッド1,2を取
り付けたドラム3に代えてマスターワークを取り付け、
マスターワークの磁気ヘッドに該当する部分に合焦した
ときのステージ6の位置Z,ZOから上記磁気ヘッドに該当
する部分の突出量t,tOを求めると共に、マスターワーク
の上記磁気ヘッドに該当する部分のヘッドギャップ位置
X,Y,XO,YOを求める。そして、ワークとしてのドラム3
上の磁気ヘッド1,2の上記各データと、マスターワーク
の各データとをそれぞれ比較し、それぞれの差、すなわ
ち、(t1−t),(t2−tO),(X1−X),(X2
XO),(Y1−Y),(Y2−YO)を求める。さらに、オー
トフォーカス装置7によって磁気ヘッド面と干渉縞発生
位置とに合焦したときの画像の磁気ヘッドのギャップ位
置と干渉縞の中心位置との位置ずれから磁気ヘッドのド
ラム3に対する姿勢を計測する。このようにして求めら
れた値が、予め設定された許容範囲内にあるときは、治
具12からドラム3を取外し、次の試料となるドラムを治
具12に取り付ける。もし、求められた値が上記の許容範
囲から外れているときは、ヘッド位置補正装置11に信号
を送る。システム制御10はまた、一つの磁気ヘッドの計
測が終了したとき、他方の磁気ヘッドの計測を行うため
に、モータ14を駆動して治具12を180度回転させる。
The system control unit 10 controls the entire magnetic head assembling apparatus including the jig 12, the autofocus device 7, the image processing device 9, and the like. The gap positions X 1 and Y 1 of the two magnetic heads 1 and 2 are controlled. And X 2 , Y 2 , the protrusion amounts t 1 , t 2 from the drum 3 and the attitudes of the magnetic heads 1, 2 with respect to the drum 3 are measured, and it is determined whether or not these are within the allowable range. Specifically, first, the drum 3 is slightly rotated to obtain the distances Z D1 and Z D2 (not shown) to the outer peripheral surface of the drum 3, and then the stage 6 when the magnetic head 1 is focused. Position Z 1 and the position Z 2 of the stage 6 when the magnetic head 2 is focused, and the protrusion amount t 1 of the magnetic head 1 is calculated by t 1 = (Z D1 −Z 1 ). Similarly, the protrusion amount t 2 of the magnetic head 2 is t 2 =
Calculated by (Z D2- Z 2 ). Or, instead of the drum 3 to which the magnetic heads 1 and 2 are attached, attach a master work,
The amount of protrusion t, t O of the portion corresponding to the magnetic head is obtained from the position Z, Z O of the stage 6 when the portion corresponding to the magnetic head of the master work is focused, Head gap position
Find X, Y, X O , and Y O. And the drum 3 as a work
The respective data of the above magnetic heads 1 and 2 are compared with the respective data of the master work, and the respective differences, that is, (t 1 −t), (t 2 −t O ), (X 1 −X ), (X 2
X O ), (Y 1 −Y), (Y 2 −Y O ). Further, the attitude of the magnetic head with respect to the drum 3 is measured from the positional deviation between the gap position of the magnetic head and the center position of the interference fringe of the image when the magnetic head surface and the interference fringe generation position are focused by the autofocus device 7. . When the value thus obtained is within the preset allowable range, the drum 3 is removed from the jig 12, and the drum to be the next sample is attached to the jig 12. If the obtained value is out of the above allowable range, a signal is sent to the head position correction device 11. When the measurement of one magnetic head is completed, the system control 10 also drives the motor 14 to rotate the jig 12 by 180 degrees in order to measure the other magnetic head.

ヘッド位置補正装置11は、システム制御部10から信号
を受けて磁気ヘッド1又は磁気ヘッド2の取付けねじを
弛めて調整の対象となる磁気ヘッドの位置を調整し、ま
た上記取り付けねじを締め付けてドラム3に上記磁気ヘ
ッドを再び取り付ける装置である。このヘッド位置補正
装置11は本考案には直接的な関係はないので詳細な説明
は省略する。
The head position correcting device 11 receives a signal from the system control unit 10 to loosen the mounting screw of the magnetic head 1 or the magnetic head 2 to adjust the position of the magnetic head to be adjusted, and tighten the mounting screw. This is a device for reattaching the magnetic head to the drum 3. The head position correcting device 11 is not directly related to the present invention, and thus its detailed description is omitted.

次に、上記自動組み立て装置の動作を第9図のフロー
チャートを参照しながら説明する。
Next, the operation of the automatic assembling apparatus will be described with reference to the flowchart of FIG.

まず、手作業又は図示されないドラム移動用アーム等
を用いて、マスターワークとしてのドラムを治具12上に
設置する。マスターワークの磁気ヘッド面は干渉対物レ
ンズ41の光軸42上に位置し、マスターワークの磁気ヘッ
ドの画像がモニタ8に映し出される。ただし、顕微鏡4
の焦点が磁気ヘッドに合っていない場合が普通であるか
ら、モニタ8に映し出される画像はぼけているのが普通
である。
First, a drum as a master work is installed on the jig 12 manually or by using a drum moving arm or the like not shown. The magnetic head surface of the master work is located on the optical axis 42 of the interference objective lens 41, and the image of the magnetic head of the master work is displayed on the monitor 8. However, the microscope 4
Since the focus is not usually on the magnetic head, the image displayed on the monitor 8 is usually blurred.

ここで、マスターワークの2個の磁気ヘッド及びドラ
ム3の2個の磁気ヘッドの一方をRチャンネルヘッド、
他方をLチャンネルヘッドとする。そこでまず、上記マ
スターワークのRチャンネルヘッドの面に合焦させる。
そのためにまずマスターワークとしてのドラムが設置さ
れたことを図示されないセンサにより感知し、この感知
信号に基づいてシステム制御部10からオートフォーカス
装置7に信号を送る。オートフォーカス装置7はモータ
13を駆動してステージ6をその移動ストロークの全範囲
にわたって移動させ、この移動に伴う上記磁気ヘッドの
画像のコントラストの変化のデータをメモリ75に記憶さ
せる。この記憶データは第3図、第4図に示すようなデ
ータである。オートフォーカス装置7はまた、メモリ75
に記憶されたデータからヘッド面への合焦位置及び干渉
縞発生位置を検出し、モータ13を駆動して、検出された
上記合焦位置と、干渉縞発生位置までステージ6及びこ
れと一体の顕微鏡4、テレビカメラ5を移動させる。
Here, one of the two magnetic heads of the master work and the two magnetic heads of the drum 3 is an R channel head,
The other is the L channel head. Therefore, first, the surface of the R channel head of the master work is focused.
Therefore, first, a sensor (not shown) detects that a drum as a masterwork is installed, and a signal is sent from the system control unit 10 to the autofocus device 7 based on the detection signal. Autofocus device 7 is a motor
13 is driven to move the stage 6 over the entire range of its moving stroke, and the memory 75 stores the data of the change in the contrast of the image of the magnetic head due to this movement. This stored data is data as shown in FIGS. 3 and 4. The autofocus device 7 also has a memory 75.
The focus position on the head surface and the interference fringe generation position are detected from the data stored in the stage 6, and the motor 13 is driven to move the detected focus position and the interference fringe generation position to the stage 6 and the integrated stage. The microscope 4 and the television camera 5 are moved.

上記オートフォーカス装置7の動作をより具体的に説
明すると、顕微鏡4で拡大されテレビカメラ5から出力
される試料としての磁気ヘッドの画像信号は、ゲート72
において、検出域及び走査線設定部73からの信号により
画像信号の中から特定の走査線部分を選び、ハイパスフ
ィルター74でその高周波成分を取り出し、図示しないA/
D変換器によりアナログ信号をデジタル信号に変換し、
このデジタル信号をメモリ75に記憶させる。この記憶デ
ータはオートフォーカス用制御部76に入力される。オー
トフォーカス用制御部76は、まずモータ13を駆動してス
テージ6及びこれに取り付けられた顕微鏡4とテレビカ
メラ5をその移動ストロークの全範囲にわたり移動さ
せ、このときのハイパスフィルター74からの出力信号で
あるオートフォーカス信号の変化をメモリ75に記憶させ
る。次に、オートフォーカス用制御部76は、上記メモリ
75の記憶データに基づいてモータ13を制御し、ステージ
6を移動させてテレビカメラ5の撮影面に磁気ヘッド面
が結像するように、また、干渉縞が発生するようにピン
ト合わせを行う。上記メモリ75に記憶されているデータ
は、第3図、第4図に示すような特性をもったグラフで
あり、この出力特性の中から第6図について説明したよ
うに、磁気ヘッド面への合焦点までステージ6が移動す
るようにモータ13を駆動する。合焦位置においてモニタ
8に映し出される磁気ヘッドの画像は第8図のような画
像となる。
The operation of the autofocus device 7 will be described more specifically. The image signal of the magnetic head as a sample magnified by the microscope 4 and output from the television camera 5 is the gate 72.
In, in the detection area and the signal from the scanning line setting unit 73, a specific scanning line portion is selected from the image signal, the high-pass filter 74 extracts the high-frequency component, and
Converts analog signals to digital signals with the D converter,
This digital signal is stored in the memory 75. This stored data is input to the autofocus control unit 76. The autofocus control unit 76 first drives the motor 13 to move the stage 6 and the microscope 4 and the TV camera 5 attached thereto over the entire range of the movement stroke thereof, and the output signal from the high-pass filter 74 at this time. The change in the autofocus signal, which is, is stored in the memory 75. Next, the autofocus control unit 76
The motor 13 is controlled on the basis of the stored data in 75, and the stage 6 is moved to focus so that the magnetic head surface is imaged on the photographing surface of the television camera 5 and interference fringes are generated. The data stored in the memory 75 is a graph having the characteristics shown in FIGS. 3 and 4, and among these output characteristics, as described in FIG. The motor 13 is driven so that the stage 6 moves to the focal point. The image of the magnetic head displayed on the monitor 8 at the focus position is as shown in FIG.

第9図に戻って、合焦動作が終了したら、この合焦し
たときの磁気ヘッド面からステージ6までの距離をステ
ージ6の位置Zとしてこれを計測する。マスターワーク
の磁気ヘッドの突出量tは予め一定の量、例えば20μm
に設定してあるので、これらの値を基準として、計測し
たデータをシステム制御部10の中のメモリに記憶させ
る。上記ステージ6の位置Zの計測は、例えばモータ13
をパルスモータとし、同モータの原点からの駆動パルス
数を計測し、既知の1パルス分のステージ6の移動距離
を上記駆動パルス数に掛けることにより求めることがで
きる。
Returning to FIG. 9, when the focusing operation is completed, the distance from the magnetic head surface at the time of focusing to the stage 6 is measured as the position Z of the stage 6. The protrusion amount t of the magnetic head of the master work is a fixed amount in advance, for example, 20 μm.
Since these values are set, the measured data is stored in the memory in the system control unit 10 with these values as a reference. The position Z of the stage 6 is measured by, for example, the motor 13
Is used as a pulse motor, the number of drive pulses from the origin of the motor is measured, and it can be obtained by multiplying the above-mentioned number of drive pulses by the known moving distance of the stage 6 for one pulse.

次に、第8図に示すような画像信号から、ヘッドギャ
ップ25の、フェライトコア22、ガラス24及びセンダスト
23との交点のうちの一方の位置を画像処理により計測
し、磁気ヘッドのギャップ位置を求める。これは、例え
ば第8図に示すような画像の左隅を原点O、横軸をX、
縦軸をYとし、磁気ヘッドのギャップ位置をX、Y座標
上で計測することによって求めることができる。求めら
れたギャップ位置データはシステム制御部10内のメモリ
に記憶される。
Next, from the image signal as shown in FIG. 8, the ferrite core 22, the glass 24 and the sendust of the head gap 25 are detected.
The position of one of the intersections with 23 is measured by image processing to find the gap position of the magnetic head. For example, the left corner of the image as shown in FIG. 8 is the origin O, the horizontal axis is X,
It can be obtained by measuring the gap position of the magnetic head on the X and Y coordinates with the vertical axis as Y. The obtained gap position data is stored in the memory in the system control unit 10.

さらに、前に詳細に説明した手順にわりヘッドの姿勢
を計測してメモリに記憶する。
Further, the posture of the head is measured and stored in the memory according to the procedure described in detail above.

次に、システム制御部10からの信号によりモニタ14の
駆動のもとに治具12を180度回転させる。これにより治
具12に取り付けられているマスターワークも一体回転
し、マスターワークに取り付けられているLチャンネル
の磁気ヘッドが顕微鏡4の光軸42上にもたらされる。こ
のマスターワークのLチャンネル磁気ヘッドについて
も、前述のRチャンネル磁気ヘッドの場合と同様にし
て、ヘッド面に合焦させたときのステージ6の位置ZO
計測する。Lチャンネル磁気ヘッドの突出量も基準値tO
として設定してあり、この基準値tOに対する上記ステー
ジ6の位置ZOを基準値としてメモリに記憶させておく。
さらに、画像処理によりLチャンネルの磁気ヘッドのギ
ャップ位置をX,Yの値で計測し、その計測データXO,YO
をメモリに記憶させておく。また、Lチャンネルヘッド
の姿勢も計測してメモリに記憶させる。
Next, the jig 12 is rotated 180 degrees under the drive of the monitor 14 by a signal from the system control unit 10. As a result, the master work attached to the jig 12 also rotates integrally, and the L-channel magnetic head attached to the master work is brought onto the optical axis 42 of the microscope 4. With respect to the L channel magnetic head of this masterwork, the position Z O of the stage 6 when the head surface is focused is measured in the same manner as in the case of the R channel magnetic head described above. The protrusion amount of the L channel magnetic head is also the reference value t O
The position Z O of the stage 6 with respect to this reference value t O is stored in the memory as a reference value.
Further, the gap position of the L-channel magnetic head is measured by image processing with X and Y values, and the measured data X O and Y O
Is stored in the memory. The attitude of the L channel head is also measured and stored in the memory.

次に、マスターワークを治具12から取り外し、代りに
試料のドラム3を治具12に取り付ける。そして、マスタ
ーワークについての計測と同様に、そのときのステージ
6の位置Z1を計測し、この計測値から試料のRチャンネ
ル磁気ヘッドの突出量t1を計算してメモリに記憶させ
る。また、前述のマスターワークの場合と同様に、試料
のRチャネル磁気ヘッドのギャップの位置をX,Y座標上
で求め、その計測値X1,Y1をメモリに記憶させる。さら
に、上記磁気ヘッドの姿勢を計測してメモリに記憶させ
る。
Next, the master work is removed from the jig 12, and the sample drum 3 is attached to the jig 12 instead. Then, similarly to the measurement for the master work, the position Z 1 of the stage 6 at that time is measured, and the projection amount t 1 of the R channel magnetic head of the sample is calculated from this measurement value and stored in the memory. Further, as in the case of the master work described above, the position of the gap of the R channel magnetic head of the sample is obtained on the X and Y coordinates, and the measured values X 1 and Y 1 are stored in the memory. Further, the attitude of the magnetic head is measured and stored in the memory.

次に、システム制御部10内にメモリされた基準値とし
ての突出量tと計測値である試料の突出量t1とを比較し
て両者の差をとる。また、ギャップの位置についても同
様にして基準値X,Yと計測値X1,Y1とを比較し、両者の
差をとる。さらに、磁気ヘッドの姿勢についても、マス
ターワークのRチャンネルの値との差をとる。これらの
差が許容範囲内であればLチャンネル磁気ヘッドの計測
ステップに進むが、許容範囲を越えているときは、シス
テム制御部10からヘッド位置補正装置11に指令信号が送
られ、Rチャンネル磁気ヘッドの位置調整が行われ、再
び計測が行われる。計測の結果、許容範囲内に入ってい
れば次のLチャンネル磁気ヘッドの計測に進む。
Next, the protrusion amount t as a reference value stored in the system control unit 10 and the protrusion amount t 1 of the sample, which is a measured value, are compared to obtain the difference between them. Similarly, for the position of the gap, the reference values X and Y are compared with the measured values X 1 and Y 1, and the difference between them is calculated. Further, the attitude of the magnetic head is also different from the value of the R channel of the master work. If the difference is within the permissible range, the process proceeds to the measurement step of the L channel magnetic head. If the difference exceeds the permissible range, a command signal is sent from the system control unit 10 to the head position correction device 11, and the R channel magnetic head is detected. The position of the head is adjusted and the measurement is performed again. If the result of measurement is within the allowable range, the process proceeds to measurement of the next L-channel magnetic head.

Lチャンネル磁気ヘッドの計測は、まず、治具12を18
0度回転させて顕微鏡4の光軸上に試料のLチャンネル
磁気ヘッドを位置させ、前述の場合と同様にヘッド面に
合焦させてそのときのステージ6の位置を計測し、その
計測結果から磁気ヘッドの突出量t2を計算する。また、
X,Y座標上でのギャップの位置X2,Y2を計測し、これら
の値をメモリする。磁気ヘッドの姿勢についても計測
し、その値をメモリする。そして、これらの計測値をマ
スターワークのLチャンネルヘッドの計測値である基準
値と比較して差を求め、この差が許容値内にあるかどう
すを判断し、許容値を越えているものについては前述の
ように位置調整を行う。許容値内にある場合は試料を治
具12から取り外し、次の試料について同様に計測する。
To measure the L channel magnetic head, first set the jig 12 to 18
Rotate it by 0 degree to position the L channel magnetic head of the sample on the optical axis of the microscope 4, focus on the head surface as in the case described above, measure the position of the stage 6 at that time, and from the measurement result, Calculate the protrusion amount t 2 of the magnetic head. Also,
The positions X 2 and Y 2 of the gap on the X and Y coordinates are measured and these values are stored in memory. The attitude of the magnetic head is also measured and the value is stored in memory. Then, these measured values are compared with a reference value which is a measured value of the L channel head of the master work to obtain a difference, and it is judged whether or not the difference is within an allowable value, and the value exceeds the allowable value. For, the position adjustment is performed as described above. If it is within the allowable value, the sample is removed from the jig 12 and the next sample is similarly measured.

以上述べた実施例によれば、画像入力装置の光軸方向
に複数のピント位置を有する試料の各ピント位置に対し
て合焦することができると共に、複数のピント位置の中
から所定のピント位置を検出してこれに合焦することが
できる。従って、図示の応用例のように、磁気ヘッド面
の画像と磁気ヘッドの最も突出した位置における干渉縞
発生位置とにそれぞれ合焦し、双方の画像のずれから磁
気ヘッドの姿勢を計測することができる。また、画像処
理装置が有しているオートフォーカス装置を利用してい
るため、装置の構成の複雑化を回避できるという効果も
ある。さらに、顕微鏡4を用いることにより、サブミク
ロンオーダーの精度で高精度の計測が可能であり、DAT
ヘッドのような極めて小さな対象物についても精度よく
計測することができる。
According to the above-described embodiment, it is possible to focus on each focus position of the sample having a plurality of focus positions in the optical axis direction of the image input device, and the predetermined focus position is selected from the plurality of focus positions. Can be detected and focused on. Therefore, as in the illustrated application example, it is possible to focus on the image on the magnetic head surface and the position where the interference fringes occur at the most projecting position of the magnetic head, and measure the attitude of the magnetic head from the displacement of both images. it can. Further, since the autofocus device included in the image processing device is used, there is an effect that it is possible to avoid complication of the configuration of the device. Furthermore, by using the microscope 4, it is possible to perform highly accurate measurement with submicron order accuracy.
It is possible to accurately measure even an extremely small object such as a head.

なお、本考案にかかる位置計測装置は、磁気ヘッドの
自動組み付け機のみでなく、これ以外の各種の機器に適
用可能である。
The position measuring device according to the present invention can be applied not only to an automatic magnetic head assembling machine but also to various other devices.

また、計測基準として必ずしもマスターワークを用い
る必要はなく、例えば、回転ドラムヘッドの場合は、ド
ラムの面にピントを合わせてこれを基準とし、次にヘッ
ド面にピントを合わせ、このときの移動量から突出し量
を計測するようにしてもよい。
Further, it is not always necessary to use the master work as a measurement reference.For example, in the case of a rotary drum head, the surface of the drum is focused and used as a reference, and then the head surface is focused. The amount of protrusion may be measured.

〔考案の効果〕[Effect of device]

本考案によれば、画像入力装置の光軸方向に複数のピ
ント位置を有する試料の各ピント位置に対して合焦する
ことができると共に、複数のピント位置の中から所定の
ピント位置を検出してこれに合焦することができる。
According to the present invention, it is possible to focus on each focus position of a sample having a plurality of focus positions in the optical axis direction of the image input device, and detect a predetermined focus position from the plurality of focus positions. You can focus on this.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図は本考案にかかるオートフォーカス装置を適用可
能な磁気ヘッドの姿勢計測の概略を示す説明図、第2図
は磁気ヘッドの異なる姿勢での上記姿勢計測の様子を示
す説明図、第3図は本考案にかかるオートフォーカス装
置の出力電圧特性の例を示す線図、第4図は同上出力特
性の異なる例を示す線図、第5図は同上出力特性の一部
のデータを0にすることを示す線図、第6図は本考案に
かかるオートフォーカス装置の動作例を示すフローチャ
ート、第7図は本考案の応用例である磁気ヘッド自動組
み立て装置の例を示すブロック図、第8図は画像入力装
置によって得られる画像の例を示す正面図、第9図は上
記磁気ヘッド自動組み立て装置の動作を示すフローチャ
ート、第10図はオートフォーカス装置によって得られる
信号の例を示す波形図、第11図は複数のピント位置を有
する試料に対するオートフォーカス装置の出力特性の例
を示す線図である。 1,2……試料としての磁気ヘッド、5……画像入力装置
としてのテレビカメラ、a,b……ピント位置、C……基
準点、Va,Vb……ピーク値。
FIG. 1 is an explanatory view showing an outline of posture measurement of a magnetic head to which the autofocus device according to the present invention can be applied, and FIG. 2 is an explanatory diagram showing a state of the posture measurement in different postures of the magnetic head. FIG. 4 is a diagram showing an example of output voltage characteristics of the autofocus device according to the present invention, FIG. 4 is a diagram showing different examples of the same output characteristics, and FIG. 5 is the same as above. FIG. 6 is a flow chart showing an operation example of the autofocus device according to the present invention, FIG. 7 is a block diagram showing an example of a magnetic head automatic assembly device which is an application example of the present invention, and FIG. FIG. 9 is a front view showing an example of an image obtained by the image input device, FIG. 9 is a flow chart showing the operation of the magnetic head automatic assembling device, and FIG. 10 is a wave showing an example of a signal obtained by the autofocus device. Figure, FIG. 11 is a diagram showing an example of the output characteristics of the auto-focus device for the sample having a plurality of focus positions. 1,2 ... magnetic head as sample, 5 ... TV camera as image input device, a, b ... focus position, C ... reference point, Va, Vb ... peak value.

フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 G03B 3/00 A Continuation of the front page (51) Int.Cl. 6 Identification number Office reference number FI technical display location G03B 3/00 A

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】[Scope of utility model registration request] 【請求項1】画像入力装置に用い、かつ、画像入力装置
の光軸方向に、試料に合焦したピント位置と干渉縞の発
生によるピント位置の複数のピント位置を有し、これら
ピント位置が一定の位置関係を有している試料に対する
オートフォーカス装置であって、 前記複数のピント位置にそれぞれ対応して表れる出力の
ピーク値及びそのときの位置を検出し、各ピーク値と基
準出力とを前記一定の位置関係に基づいて比較すること
により前記各ピーク値の、何れが試料に合焦したピント
位置に対応するピーク値であるかを識別し、所定のピン
ト位置に合焦することを特徴とするオートフォーカス装
置。
1. A plurality of focus positions used for an image input device and having a focus position focused on a sample and a focus position due to generation of interference fringes in the optical axis direction of the image input device. An autofocus device for a sample having a fixed positional relationship, detecting the peak value of the output that appears corresponding to each of the plurality of focus positions and the position at that time, and measuring each peak value and the reference output. By comparing on the basis of the fixed positional relationship, which of the peak values is the peak value corresponding to the focus position focused on the sample is identified, and the focus position is focused on a predetermined focus position. And auto focus device.
JP1989118843U 1988-10-14 1989-10-11 Auto focus device Expired - Lifetime JPH087382Y2 (en)

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JPS5662217A (en) * 1979-10-27 1981-05-28 Nippon Kogaku Kk <Nikon> Position detector
JPS59111611A (en) * 1982-12-17 1984-06-27 Matsushita Electric Ind Co Ltd Automatic focusing device

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