JPH08327551A - Atmosphere contamination evaluating device - Google Patents

Atmosphere contamination evaluating device

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Publication number
JPH08327551A
JPH08327551A JP13635295A JP13635295A JPH08327551A JP H08327551 A JPH08327551 A JP H08327551A JP 13635295 A JP13635295 A JP 13635295A JP 13635295 A JP13635295 A JP 13635295A JP H08327551 A JPH08327551 A JP H08327551A
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JP
Japan
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atmosphere
discharge tube
discharge
unit
analysis
Prior art date
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Pending
Application number
JP13635295A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Masaki Niuchi
正城 似内
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Hitachi Ltd
Renesas Semiconductor Package and Test Solutions Co Ltd
Original Assignee
Hitachi Hokkai Semiconductor Ltd
Hitachi Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Hokkai Semiconductor Ltd, Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Hokkai Semiconductor Ltd
Priority to JP13635295A priority Critical patent/JPH08327551A/en
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Abstract

PURPOSE: To enable the control of the contamination of an in-process atmosphere to be evaluated in-line and in real time. CONSTITUTION: This atmosphere contamination evaluating device consisting of a measuring part 2 and an analysis/output part 3 has the measuring part 2 consisting of a leak sample introducing part 9 into which an outside atmosphere is sampled, a discharge tube 7 inside which a vacuum discharge is caused by introducing the outside atmosphere from the leak sample introducing part 9 and applying voltage thereto, a spectrometer 4 which makes spectrometry by receiving light produced by the vacuum discharge, and a vacuum pump 6 for evacuating the leak sample introducing part 9 and the discharge tube 7. Therefore, the outside atmosphere can be directly introduced into the device and analysed in gas form, so the device can be fixed at a measuring site, on-site measurement and analysis can be performed, and control of the contamination of the in-process atmosphere can be evaluated in-line and in real time.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、製造中に雰囲気汚染管
理が必要な製品、例えば半導体集積回路、その他精密機
器等を製造する際に、雰囲気汚染の測定・評価に利用し
て有効なものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention is effective for measuring and evaluating atmospheric pollution when manufacturing products requiring atmospheric pollution control during manufacturing, such as semiconductor integrated circuits and other precision equipment. Is.

【0002】[0002]

【従来の技術】半導体集積回路(以下、LSIと称す
る)の生産を高信頼、高歩留まりを維持していくために
は、塵埃対策が重要であり、従来から積極的に取り組ま
れてきている。しかしながら、更なる高集積化に伴い、
塵埃だけではなく、分子状の汚染物質も除去対象に入れ
なければならなくなっている。
2. Description of the Related Art In order to maintain high reliability and high yield in the production of semiconductor integrated circuits (hereinafter referred to as "LSI"), dust countermeasures are important, and they have been actively tackled. However, with further high integration,
Not only dust but also molecular contaminants have to be targeted for removal.

【0003】LSIの製造プロセスにおける雰囲気汚染
評価技術については、例えば、「月間Semiconductor Wo
rld 1989.11」第198頁乃至第205頁に記載されて
おり、化学的評価法として、アルゴン高周波誘導結合プ
ラズマ発光分光分析法(以下、IPC法)、グラファイ
トファネス原子吸光分析法(以下、GFAAS法)、お
よびイオンクロマトグラフィ法(以下、ICG法)が主
に用いられている旨が記載されている。その中で、IC
P法は、マイクロコンピュータ化が進んだ自動微量評価
装置として多様されている。ICP法を用いて分子状の
汚染物質を評価する場合は、図6に示す石英製インピン
ジャとハンディ吸引ポンプサンプラを使用し、インピン
ジャ内の純水中に1l/min流量で雰囲気をバブリング
し、蒸気不純物を純水中に溶解したあと、ICP法によ
り評価する。プラズマ発光分析装置の概要図を図5に示
す。まずネブライザ35に蒸気不純物を純水中に溶解し
たサンプル27を投入し、アルゴンガス29を使用した
高周波誘導結合プラズマでプラズマ炎24を発生させ
る。そのプラズマ炎24の光を分光器23で分光し、そ
の結果をマイクロコンピュータ31で評価し、CRTデ
ィスプレイ32やプリンタ33で評価結果を出力してい
る。
Regarding the atmosphere pollution evaluation technique in the LSI manufacturing process, for example, "Monthly Semiconductor Wo
rld 1989.11 ”pp. 198 to 205, and as a chemical evaluation method, argon high frequency inductively coupled plasma optical emission spectrometry (hereinafter, IPC method), graphite fannes atomic absorption spectrometry (hereinafter, GFAAS method). ), And that the ion chromatography method (hereinafter, ICG method) is mainly used. Among them, IC
The P method is diversified as an automatic micro-evaluation apparatus that has been advanced to a microcomputer. When evaluating molecular contaminants using the ICP method, a quartz impinger and a handy suction pump sampler shown in Fig. 6 are used, and the atmosphere is bubbled in pure water in the impinger at a flow rate of 1 l / min to vaporize the vapor. The impurities are dissolved in pure water, and then evaluated by the ICP method. A schematic view of the plasma emission spectrometer is shown in FIG. First, the sample 27 in which vapor impurities are dissolved in pure water is put into the nebulizer 35, and the plasma flame 24 is generated by the high frequency inductively coupled plasma using the argon gas 29. The light of the plasma flame 24 is dispersed by the spectroscope 23, the result is evaluated by the microcomputer 31, and the evaluation result is output by the CRT display 32 and the printer 33.

【0004】その他、LSIの製造プロセスにおける雰
囲気汚染の評価技術については、例えば、「クリーンテ
クノロジー」1991年 8月号 第11頁乃至第12
頁に記載されている。
[0004] In addition, as for the evaluation technology of atmospheric pollution in the LSI manufacturing process, for example, "Clean Technology", August 1991, pp. 11-12.
Page.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】雰囲気・ガス中の不純
物評価においては、上記ICP法で述べたインピンジャ
法が有効であるが、この方法に関してはいくつかの問題
点がある。即ち、 (1)インラインで測定できないため、測定時に汚染が
発生する可能性が高い。
The impinger method described in the ICP method is effective for evaluating impurities in the atmosphere and gas, but there are some problems with this method. That is, (1) Since the measurement cannot be performed in-line, the contamination is likely to occur during the measurement.

【0006】(2)製造ラインにおいては、迅速な結果
の判明が必要とされるが、上記方法ではバッチサンプリ
ングとなるため、結果の判明に時間が必要であり、工程
内雰囲気汚染のリアルタイム管理が不可能である。
(2) In the production line, it is necessary to quickly find the result, but since the above method requires batch sampling, it takes time to find the result, and real-time control of atmospheric pollution in the process is required. It is impossible.

【0007】本発明者は、結果の判定に時間がかかる要
因として、 イ.採集したサンプルを、バブリングによって水溶液化
しなければならない、 ロ.プラズマ炎を発生させるために、アルゴンガスを供
給しなければならない、という点があげられる。
The present inventor has identified the following as factors that take time to determine the result. The collected sample must be bubbled into an aqueous solution, b. The point is that argon gas must be supplied to generate a plasma flame.

【0008】そこで本発明の目的は、工程内雰囲気の汚
染管理をインラインでかつリアルタイムで評価可能な評
価技術を提供することにある。
Therefore, an object of the present invention is to provide an evaluation technique capable of in-line and real-time evaluation of pollution control of an atmosphere in a process.

【0009】本発明の前記並びにその他の目的と新規な
特徴は、本明細書の記述及び添付図面から明らかになる
であろう。
The above and other objects and novel features of the present invention will be apparent from the description of this specification and the accompanying drawings.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】本願において開示される
発明のうち代表的なものの概要を簡単に説明すれば、次
のとおりである。すなわち、外部雰囲気を気体のまま放
電管内に導入し、真空放電させることにより発せられる
光を分光計測し、その計測データをコンピュータにて評
価するものである。
The outline of the representative one of the inventions disclosed in the present application will be briefly described as follows. That is, the external atmosphere is introduced into the discharge tube as it is, and the light emitted by vacuum discharge is spectroscopically measured, and the measured data is evaluated by a computer.

【0011】[0011]

【作用】装置内に導入した外部雰囲気を気体のまま分析
するので、装置を測定場所に固定し、その場で測定・分
析が可能となり、工程内雰囲気の汚染管理がインライン
でかつリアルタイムで評価可能となる。
[Function] Since the external atmosphere introduced into the equipment is analyzed as it is as a gas, the equipment can be fixed at the measurement location and measurement / analysis can be performed on the spot, and in-process contamination control can be evaluated in-line and in real time. Becomes

【0012】[0012]

【実施例】以下、本発明の一実施例を図面に従い説明す
る。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0013】図1は本発明の汚染評価装置の概略を示す
図、また、図2は計測部2の主要部を示す図である。汚
染評価装置1は、外部雰囲気を採集し、その場で分光分
析を行う計測部2と、その分析結果をコンピュータ10
を用いて解析・評価し、その評価結果をCRTディスプ
レイ11のような表示手段に表示またはプリンタ12に
出力する解析・出力部3から構成される。計測部2の中
心部には、放電用電極7aが内蔵され、電極方向に長い
ガラス製の放電管7が設けられている。この放電管7
は、内部に測定試料となる外部雰囲気を気体のまま導入
し、放電させることにより測定光を発生させるものであ
る。また、放電管7に隣接して、放電管7内の真空度を
計るための真空度計17が設けられている。放電管7の
下部には、放電管7内部及びリーク試料導入部9内部の
排気を行う真空ポンプ6を設けており、この真空ポンプ
6には、ロータリーポンプ、メカニカルブースターポン
プ、ターボ分子ポンプ等あるいはそれらが組合せて用い
られる。特に、逆流に伴うオイルミストが発生しないタ
ーボ分子ポンプとターボ分子ポンプの背圧を確保するた
めの補助ポンプ、例えばロータリーポンプとの組合せが
好ましい。放電管7と真空ポンプ6との間には、バルブ
8cとリーク弁を設けており、放電する際の放電管7内
部の真空度を保持できるようにしている。放電管7の放
電用電極7aへは、高圧電源装置5から電圧を印加す
る。尚、印加する電圧は、コンピュータ10から制御可
能としている。
FIG. 1 is a diagram showing the outline of the pollution evaluation device of the present invention, and FIG. 2 is a diagram showing the main part of the measuring unit 2. The contamination evaluation apparatus 1 collects an external atmosphere and performs a spectroscopic analysis on the spot, and a computer 10 for displaying the analysis result.
It is configured by an analysis / output unit 3 which analyzes and evaluates by using, and displays the evaluation result on a display means such as a CRT display 11 or outputs to a printer 12. A discharge electrode 7a is built in the center of the measuring unit 2 and a glass discharge tube 7 elongated in the electrode direction is provided. This discharge tube 7
Is to generate a measurement light by introducing an external atmosphere, which is a measurement sample, as it is into a gas, and discharging the gas. Further, a vacuum degree meter 17 for measuring the degree of vacuum inside the discharge tube 7 is provided adjacent to the discharge tube 7. A vacuum pump 6 for exhausting the inside of the discharge tube 7 and the inside of the leak sample introducing portion 9 is provided below the discharge tube 7, and the vacuum pump 6 includes a rotary pump, a mechanical booster pump, a turbo molecular pump, or the like. They are used in combination. In particular, a combination of a turbo molecular pump that does not generate oil mist due to backflow and an auxiliary pump for ensuring a back pressure of the turbo molecular pump, for example, a rotary pump is preferable. A valve 8c and a leak valve are provided between the discharge tube 7 and the vacuum pump 6 so that the degree of vacuum inside the discharge tube 7 during discharge can be maintained. A voltage is applied to the discharge electrode 7 a of the discharge tube 7 from the high voltage power supply device 5. The applied voltage can be controlled by the computer 10.

【0014】放電管7には、外部雰囲気を採集するリー
ク試料導入部9が連結されており、バルブ8a及び8b
を開くことにより外部雰囲気を放電管7内へ導入する。
リーク試料導入部9は、外部と内部との差圧により測定
すべき外部雰囲気18を取り入れる。尚、リーク試料導
入部9内の圧力は、真空ポンプ6及びバルブ8aで調整
する。
The discharge tube 7 is connected to a leak sample introducing section 9 for collecting an external atmosphere, and valves 8a and 8b are provided.
The external atmosphere is introduced into the discharge tube 7 by opening.
The leak sample introduction part 9 takes in the external atmosphere 18 to be measured by the pressure difference between the outside and the inside. The pressure inside the leak sample introducing section 9 is adjusted by the vacuum pump 6 and the valve 8a.

【0015】放電管7の周辺部には分光計測装置4を設
けており、測定試料となる雰囲気が導入された放電管7
の放電による光の波長、エネルギー、あるいは光量を測
定する。この方法では、放電管7内に導入された雰囲気
が放電される際に、雰囲気を構成する物質がそれぞれ個
々の波長、エネルギーを持った光を発することを利用す
る。光入射口が放電管7へ向けられた分光計測装置4
は、リーク試料導入部9から外部雰囲気を導入した放電
管7の放電光7を受光し、放電光7の波長のピーク、エ
ネルギーを測定する。
A spectroscopic measurement device 4 is provided around the discharge tube 7, and the discharge tube 7 is introduced with an atmosphere serving as a measurement sample.
Measure the wavelength, energy, or quantity of light from the discharge. In this method, when the atmosphere introduced into the discharge tube 7 is discharged, the substances constituting the atmosphere emit light having individual wavelengths and energy. Spectroscopic measurement device 4 whose light entrance is directed to the discharge tube 7
Receives the discharge light 7 of the discharge tube 7 introduced with the external atmosphere from the leak sample introduction part 9 and measures the wavelength peak and energy of the discharge light 7.

【0016】分光計測装置4はコンピュータ10に接続
されており、分光計測装置4で測定した放電光16の計
測データをコンピュータ10へ転送する。コンピュータ
10では、放電光16の測定データを解析し、測定した
雰囲気を構成する物質を分析・評価する。その評価結果
は、CRTディスプレイ11に表示され、あるいはプリ
ンタ12で出力される。
The spectroscopic measurement device 4 is connected to the computer 10 and transfers the measurement data of the discharge light 16 measured by the spectroscopic measurement device 4 to the computer 10. The computer 10 analyzes the measurement data of the discharge light 16 and analyzes / evaluates the substances constituting the measured atmosphere. The evaluation result is displayed on the CRT display 11 or output by the printer 12.

【0017】図3は、本発明の汚染評価装置1の設置例
を示す図である。本実施例では、コンピュータ10で分
光計測データを解析・出力、また計測部2の動作制御す
る解析・制御室20を一個所設定し、例えば不純物導入
工程21a、酸化・拡散工程21b、ドライエッチング
工程21c、CVD工程21d、アッシング工程21e
等、汚染管理の必要な複数の工程に、解析・制御室20
に設置された解析・出力部と接続された計測部2a乃至
2eをそれぞれ設置している。これにより、一個所で、
それぞれの工程における汚染評価をリアルタイムで行う
ことができる。
FIG. 3 is a diagram showing an installation example of the pollution evaluation device 1 of the present invention. In this embodiment, the computer 10 analyzes and outputs the spectroscopic measurement data, and sets one analysis / control chamber 20 for controlling the operation of the measurement unit 2. For example, an impurity introduction step 21a, an oxidation / diffusion step 21b, and a dry etching step. 21c, CVD process 21d, ashing process 21e
The analysis / control room 20 can be used for multiple processes that require pollution control.
Measurement units 2a to 2e connected to the analysis / output unit installed in the above are respectively installed. This gives you one place
The contamination evaluation in each step can be performed in real time.

【0018】次に、本発明の汚染評価方法を順を追って
説明する。
Next, the contamination evaluation method of the present invention will be described step by step.

【0019】(イ)雰囲気を測定する工程に設置された
計測部2の真空ポンプ6を駆動させ、放電管7の内部の
気体を排気し、放電管7の内部の圧力を0.2Torr〜0.
7Torr程度の真空度にする。尚、排気を行う前に、リー
ク試料導入部9内部及び放電管7内部をエアー洗浄して
もよい。
(A) The vacuum pump 6 of the measuring unit 2 installed in the process of measuring the atmosphere is driven to evacuate the gas inside the discharge tube 7, and the pressure inside the discharge tube 7 is adjusted to 0.2 Torr to 0. .
Set the vacuum to about 7 Torr. Before exhausting, the inside of the leak sample introducing portion 9 and the inside of the discharge tube 7 may be washed with air.

【0020】(ロ)リーク試料導入部9側のバルブ8
a、8bを開き、リーク試料導入部9から試料を放電管
7内に導入する。
(B) Valve 8 on the side of the leak sample introducing section 9
A and 8b are opened, and the sample is introduced into the discharge tube 7 from the leak sample introduction part 9.

【0021】(ハ)高圧電源装置5で放電管7に電圧を
印加し、放電管7内で真空放電させる。(ホ)真空ポン
プ3側のバルブ5cを操作し、放電管7内の真空度を安
定させる。(へ)分光計測装置4を作動させて、放電管
7内で発生している放電光の波長、 エネルギー、あ
るいは光量を測定し、解析・出力部3へ測定データを転
送す る。
(C) A voltage is applied to the discharge tube 7 by the high-voltage power supply device 5 to cause a vacuum discharge in the discharge tube 7. (E) Operate the valve 5c on the vacuum pump 3 side to stabilize the degree of vacuum in the discharge tube 7. (V) The spectroscopic measurement device 4 is operated to measure the wavelength, energy, or light amount of the discharge light generated in the discharge tube 7, and the measurement data is transferred to the analysis / output unit 3.

【0022】(ト)コンピュータ7により測定結果を演
算し、汚染度を求める。求めた結果は、 CRTディ
スプレイに表示、あるいはプリンタ12でプリントアウ
トされる。 以下、本発明の作用効果について説明す
る。
(G) The computer 7 calculates the measurement result to obtain the contamination degree. The obtained result is displayed on the CRT display or printed out by the printer 12. The effects of the present invention will be described below.

【0023】(1)雰囲気汚染評価装置の計測部を、外
部雰囲気を採集する試料導入部と、試料導入部から外部
雰囲気を導入し電圧を印加することにより内部を真空放
電させる放電管と、真空放電による光を受光し分光計測
を行う分光計測装置と、試料採集部及び放電管内を排気
する真空ポンプから構成することにより、装置内に外部
雰囲気を直接導入し、気体のまま分析可能となるので、
装置を測定場所に固定し、その場で測定・分析ができ、
工程内雰囲気の汚染管理をインラインでかつリアルタイ
ムで評価可能となる。
(1) The measuring unit of the atmosphere pollution evaluation apparatus includes a sample introducing unit for collecting an external atmosphere, a discharge tube for introducing an external atmosphere from the sample introducing unit and applying a voltage to discharge the inside in a vacuum, and a vacuum. By configuring a spectroscopic measurement device that receives the light from the discharge and performs spectroscopic measurement, and a vacuum pump that exhausts the sample collection unit and the discharge tube, it is possible to introduce the external atmosphere directly into the device and analyze it as a gas. ,
By fixing the device at the measurement location, you can measure and analyze on the spot.
It is possible to evaluate in-line and real-time control of pollution in the process atmosphere.

【0024】(2)真空ポンプにターボ分子ポンプを用
いることにより、試料採集部及び放電管内がポンプの逆
流に伴うオイルミスト等によって汚染されるのを防ぐこ
とができる。従って、雰囲気汚染評価を精密に行うこと
ができる。また、試料採集部及び放電管のメンテナンス
フリーを図ることができる。
(2) By using a turbo molecular pump as the vacuum pump, it is possible to prevent the sample collection part and the inside of the discharge tube from being contaminated by oil mist or the like caused by the reverse flow of the pump. Therefore, the atmosphere pollution can be evaluated accurately. In addition, maintenance of the sample collection unit and the discharge tube can be made free.

【0025】(3)計測対象となる複数個所に計測部を
それぞれ設け、解析・出力部に接続することにより、そ
れぞれの個所の雰囲気汚染を一個所で集中的に、かつリ
アルタイムで管理することができる。
(3) Atmosphere pollution at each location can be controlled centrally and in real time by providing measurement units at multiple locations to be measured and connecting to the analysis / output unit. it can.

【0026】以上、本発明者によって、なされた発明を
実施例に基づき具体的に説明したが、本発明は上記実施
例に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範
囲で種々変更可能であることは言うまでもない。例え
ば、上記実施例では、解析・出力部を一個所に設け、雰
囲気汚染対象となる複数の工程に計測部をそれぞれ設け
た例について説明したが、図4に示すように、計測部及
び解析・出力部からなる汚染評価装置をそれぞれの工程
に設けてもよい。
Although the present invention has been concretely described based on the embodiments by the present inventor, the present invention is not limited to the above embodiments, and various modifications can be made without departing from the scope of the invention. Needless to say. For example, in the above-described embodiment, an example has been described in which the analysis / output unit is provided in one place and the measurement units are respectively provided in a plurality of processes subject to atmospheric pollution, but as shown in FIG. You may provide the pollution evaluation apparatus which consists of an output part in each process.

【0027】[0027]

【発明の効果】本願において開示される発明のうち代表
的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば、下
記のとおりである。
The effects obtained by the typical ones of the inventions disclosed in the present application will be briefly described as follows.

【0028】すなわち、雰囲気汚染評価装置の計測部
を、外部雰囲気を採集する試料導入部と、試料導入部か
ら外部雰囲気を導入し電圧を印加することにより内部を
真空放電させる放電管と、真空放電による光を受光し分
光計測を行う分光計測装置と、試料採集部及び放電管内
を排気する真空ポンプから構成することにより、装置内
に外部雰囲気を直接導入し、気体のまま分析可能となる
ので、装置を測定場所に固定し、その場で測定・分析が
でき、工程内雰囲気の汚染管理をインラインでかつリア
ルタイムで評価可能となるものである。
That is, the measuring unit of the atmosphere pollution evaluation apparatus comprises a sample introducing unit for collecting the external atmosphere, a discharge tube for introducing the external atmosphere from the sample introducing unit and applying a voltage to discharge the inside, and a vacuum discharge. By configuring the spectroscopic measurement device that receives the light by and performs spectroscopic measurement and the vacuum pump that exhausts the sample collection unit and the discharge tube, it is possible to introduce the external atmosphere directly into the device and analyze the gas as it is. The equipment can be fixed at the measurement location and measurement / analysis can be performed on the spot, and contamination control of the atmosphere in the process can be evaluated in-line and in real time.

【0029】[0029]

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の雰囲気汚染評価装置の概略を示す図で
ある。
FIG. 1 is a diagram showing an outline of an atmosphere pollution evaluation device of the present invention.

【図2】本発明の雰囲気汚染評価装置の計測部の主要部
を示す図である。
FIG. 2 is a diagram showing a main part of a measuring unit of the atmosphere pollution evaluation device of the present invention.

【図3】本発明の雰囲気汚染評価装置の設置例の一例を
示す図である。
FIG. 3 is a diagram showing an example of installation of an atmosphere pollution evaluation device of the present invention.

【図4】本発明の雰囲気汚染評価装置の設置例の他の例
を示す図である。
FIG. 4 is a diagram showing another example of installation of the atmosphere pollution evaluation device of the present invention.

【図5】従来の雰囲気汚染評価に用いるプラズマ発光分
析装置の概要図である。
FIG. 5 is a schematic diagram of a conventional plasma emission analyzer used for evaluation of atmospheric pollution.

【図6】従来の雰囲気汚染評価の雰囲気サンプリングに
用いる石英製インピンジャを示す図である。
FIG. 6 is a view showing a quartz impinger used for atmosphere sampling in the conventional atmosphere pollution evaluation.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1……汚染評価装置,2、2a、2b、2c、2d、2
e……計測部,3……解析・出力部,4……分光計測装
置,5……高圧電源装置,6……真空ポンプ,7……放
電管,8a、8b、8c……真空バルブ,9……リーク
試料導入部,10……コンピュータ,11……CRTデ
ィスプレイ,12……プリンタ,13……計測データ信
号,14……電源制御信号,15……プリンタケーブ
ル,16……放電光,17……真空度計,18……外部
雰囲気,19……試料導入管,20……解析・制御室,
21……製造ライン,21a……不純物導入ライン,2
1b……酸化・拡散ライン,21c……エッチングライ
ン,21d……CVDライン,21e……アッシングラ
イン,22……プラズマ発光分析装置,23……分光
器,24……プラズマ光,25……トーチ,26……ネ
ブライザ,27……サンプル,28……高周波電源,2
9……アルゴンガス,30……光電子倍増管,31……
マイクロコンピュータ,32……CRTディスプレイ,
33……プリンタ,34……フロッピーディスク
1 ... Contamination evaluation device, 2, 2a, 2b, 2c, 2d, 2
e ... Measuring unit, 3 ... Analysis / output unit, 4 ... Spectroscopic measurement device, 5 ... High-voltage power supply device, 6 ... Vacuum pump, 7 ... Discharge tube, 8a, 8b, 8c ... Vacuum valve, 9 ... Leak sample introduction part, 10 ... Computer, 11 ... CRT display, 12 ... Printer, 13 ... Measurement data signal, 14 ... Power control signal, 15 ... Printer cable, 16 ... Discharge light, 17 ... Vacuum meter, 18 ... External atmosphere, 19 ... Sample introduction tube, 20 ... Analysis / control room,
21 ... Production line, 21a ... Impurity introduction line, 2
1b ... Oxidation / diffusion line, 21c ... Etching line, 21d ... CVD line, 21e ... Ashing line, 22 ... Plasma emission analyzer, 23 ... Spectrometer, 24 ... Plasma light, 25 ... Torch , 26 …… Nebulizer, 27 …… Sample, 28 …… High frequency power supply, 2
9 ... Argon gas, 30 ... Photomultiplier tube, 31 ...
Microcomputer, 32 ... CRT display,
33 ... Printer, 34 ... Floppy disk

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】気体を採集し光学的手段を用いて前記気体
の分析を行う計測部と、その分析結果を評価しその評価
結果を表示手段またはプリンタに出力可能な解析・出力
部からなる雰囲気汚染評価装置であって、前記計測部
は、外部雰囲気を採集する試料導入部と、該試料導入部
から前記外部雰囲気を導入し電圧を印加することにより
内部を真空放電させる放電管と、真空放電による光を受
光し分光計測を行う分光計測装置と、前記試料導入部及
び前記放電管を排気する真空ポンプから構成されること
を特徴とする雰囲気汚染評価装置。
1. An atmosphere comprising a measuring unit for collecting gas and analyzing the gas by using optical means, and an analysis / output unit capable of evaluating the analysis result and outputting the evaluation result to a display unit or a printer. A contamination evaluation apparatus, wherein the measurement unit includes a sample introduction unit that collects an external atmosphere, a discharge tube that introduces the external atmosphere from the sample introduction unit and applies a voltage to cause a vacuum discharge inside, and a vacuum discharge unit. An atmospheric pollution evaluation device comprising: a spectroscopic measurement device that receives light from the device and performs spectroscopic measurement; and a vacuum pump that exhausts the sample introduction unit and the discharge tube.
【請求項2】前記真空ポンプは、ターボ分子ポンプであ
ることを特徴とする請求項1記載の雰囲気汚染評価装
置。
2. The atmosphere pollution evaluation device according to claim 1, wherein the vacuum pump is a turbo molecular pump.
【請求項3】計測対象となる複数個所に前記計測部がそ
れぞれ設けられ、前記解析・出力部に接続されているこ
とを特徴とする請求項1または2記載の雰囲気汚染装
置。
3. The atmosphere pollution device according to claim 1, wherein the measurement units are provided at a plurality of places to be measured and are connected to the analysis / output unit.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011180045A (en) * 2010-03-02 2011-09-15 Japan Advanced Institute Of Science & Technology Hokuriku Plasma generation means, plasma generator, and element analysis method

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