JPH08314983A - 回路シミュレーション方法 - Google Patents

回路シミュレーション方法

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Publication number
JPH08314983A
JPH08314983A JP7114272A JP11427295A JPH08314983A JP H08314983 A JPH08314983 A JP H08314983A JP 7114272 A JP7114272 A JP 7114272A JP 11427295 A JP11427295 A JP 11427295A JP H08314983 A JPH08314983 A JP H08314983A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
time
capacity
circuit
last
iteration
Prior art date
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Pending
Application number
JP7114272A
Other languages
English (en)
Inventor
Tadashi Nakano
紀 中野
Rii Piitaa
ピーター・リー
Koichi Yokomizo
剛一 横溝
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP7114272A priority Critical patent/JPH08314983A/ja
Publication of JPH08314983A publication Critical patent/JPH08314983A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】 【構成】MOS容量モデルを用いる回路シミュレータ
で、イテレーション中の前回の容量と今回の容量の和の
半分、すなわち、平均値を今回の容量として設定する。 【効果】多くのMOSFETを持つ回路の容量のイテレーショ
ン中の振動を緩和して、回路シミュレーションの発散を
防止することが可能となる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は電子回路のシミュレーシ
ョン方法に係り、特に、電荷保存方法におけるMOS容
量モデルの処理方法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来から電子回路、とりわけLSIの設
計では、設計した回路の電気的特性を詳細に解析するた
め、SPICE2(Univ. of California, Berkeley, Memo N
o. ERL−M520, May 1975)に代表されるような回路シミ
ュレータが活用されている。回路シミュレータは、トラ
ンジスタ,ダイオード,抵抗,容量,インダクタ等の回
路素子を基本要素とする回路を対象として、キルヒホッ
フの法則とオームの法則から定式化されている回路解析
手法とニュートン法や数値積分法等の数値解析手法を用
いて、LSIの電圧電流レベルの電気的特性を電子計算
機上でシミュレートするためのソフトウェアプログラム
である。
【0003】従来のMEYERによるMOS容量モデル
は、容量を電圧の関数としたモデルであり、計算途中で
必要となる電荷を容量の積分より求める方法であった。
この方法は数値計算誤差により電荷保存則が成立しなく
なる恐れがあった。この問題点に対処するため、電荷を
電圧の関数としたモデルをUCBのB.Sheuが文献(B.J.
Sheu et.al. A Compact IGFET Charge Model. IEEE CA
S−31,745−748 1984.)で論じられているよ
うに回路シミュレータに組み込んだ。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】LSIの大規模化と高
速化により、回路シミュレータの取扱規模の拡大のみな
らず、各種の問題点が顕在化し対策を必要としている。
その一つとして、発散の問題がある。これは、トランジ
スタやダイオードなどの非線形素子を含む回路の非線形
方程式を解くためのニュートン法が収束しなくなる現象
で、経験的に大規模回路,非線形性の強い回路で発生し
やすいことが知られている。
【0005】回路解析の収束性を決定する要因は以下の
3項目があると考えられる。
【0006】(1)行列計算における丸め誤差(計算機
の数の表現が有限桁であるために生じる誤差)による発
散 (2)非線形特性を線形化(ニュートン法)したことによ
る発散 (3)微分方程式を離散化(数値積分化)したことによる
誤差による発散 本発明は上記の(2)を対象に多量のMOS容量を持つ
回路での発散現象を防止する回路シミュレーション方法
を得ることを目的としている。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、本発明は電圧依存性容量を持つ回路シミュレーショ
ンで、該電圧依存性容量の容量値として、同一時刻のイ
テレーション中の前回の容量値と今回の容量値の和の半
分すなわち平均値を今回の容量値として用いる。
【0008】
【作用】イテレーション中の前回の容量と今回の容量の
和の半分すなわち平均値を今回の容量として用いること
は、イテレーション中に容量が振動して発散するのを緩
和するようになり、収束しやすくなる。
【0009】
【実施例】図1は回路シミュレータの説明図である。回
路シミュレータ12は素子定数データと結線データから
なる回路データ11を入力し、電圧波形等の回路特性1
8を出力する。回路シミュレータ12はこれらデータの
入力部13,出力部17と回路行列構造作成部14と素
子特性計算部15及び回路行列計算部16からなってい
る。
【0010】図2に回路シミュレータのフローチャート
を示す。以下処理フローを列挙する。(1)回路データ
の入力処理を行う。(2)回路行列構造を作成する。
(3)解析時間t=0での直流解析をする。図3に示す
ニュートン法による非線形回路の解法を用いて解く。素
子特性を計算して、回路行列を計算する。ニュートン法
ループが収束するまで行う。(4)解析時間を進めなが
ら過渡解析をする。図4に示す数値積分法による微分を
含む回路の解法を用いて解く。数値積分ループが終了す
るまで行う。(5)電圧波形等の回路特性を出力する。
【0011】図5はMOSFETの簡単な回路図である。MOSF
ET(M1,M2)で発散する。入力ノードINが立ち上
がるとゲート容量を介してノードN6,N7が3.4V
になり、電源電圧VDDの2.9Vをこえて、基板バイ
アス電圧VBSが0.5Vの順バイアスになる。
【0012】図6は図5の回路の発散直前(469n
秒)の様子を示す。基板バイアス電圧VBSと接合電流
CBSが振動している。
【0013】図7は、本発明の回路シミュレーションの
処理フローの中の位置づけを示すものである。回路行列
構造作成(ステップ22)と直流解析(ステップ23)
は従来と同じ処理である。過渡解析の素子特性計算の中
に、容量値の平均化の処理を設けることを特徴とする。
【0014】図8は本発明で容量を平均する処理の一実
施例を説明するフローチャートである。以下に処理フロ
ーを説明する。
【0015】まず、イテレーションの今回の容量GGG
Sを求める(ステップ81)。
【0016】基板ソース電圧VBSが正のMOSFETのみを
対象にする。既に収束している全てのMOSFETも対象にす
ると収束を遅らせることになるので、基板ソース電圧が
順バイアスとなるMOSFETのみを対象にする(ステップ8
2)。
【0017】過渡解析の最初のタイムポイント、また
は、過渡解析のタイムポイントの最初のイテレーション
のとき、今回の容量を前回の容量にする(ステップ8
3)。
【0018】それ以外のとき、イテレーション中の前回
の容量をGGGS1に取り出す(ステップ84)。
【0019】今回の容量と前回の容量の和の半分すなわ
ち平均値を今回の容量として用いる(ステップ85)。
【0020】最後に、今回の容量を前回の容量にセット
する(ステップ86)。
【0021】容量を平均化すると図5の回路は収束する
ことが確認されている。
【0022】
【発明の効果】本発明の回路シミュレータのMOS容量
モデル処理を用いることにより、MOSFETを持つ回路のイ
テレーション中の容量の振動を緩和して、解析の発散を
防止することが可能となる。その結果、電気,電子回路
の設計時に多くのMOSFETの効果を定量的に予測できるよ
うになる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のシミュレーション方式における処理要
素の説明図。
【図2】図1中の回路シミュレータのフローチャート。
【図3】図2中の素子特性計算の説明図。
【図4】図2中の数値積分の説明図。
【図5】本発明の一実施例でシミュレーション対象に用
いた半導体装置の回路図。
【図6】図5の回路の発散直前の様子を示す測定図。
【図7】本発明の回路シミュレーションの処理フローの
中の位置づけを示すフローチャート。
【図8】本発明のイテレーション中の容量を平均化する
方法のフローチャート。
【符号の説明】
Y…アドミッタンス、V…電圧、I…電流、E…電源電
圧。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】電圧依存性容量を持つ回路シミュレーショ
    ン方法において、該電圧依存性容量の容量値として、同
    一時刻のイテレーション中の前回の容量値と今回の容量
    値の平均値を今回の容量値として用いることを特徴とす
    る回路シミュレーション方法。
JP7114272A 1995-05-12 1995-05-12 回路シミュレーション方法 Pending JPH08314983A (ja)

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JP7114272A JPH08314983A (ja) 1995-05-12 1995-05-12 回路シミュレーション方法

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JP7114272A JPH08314983A (ja) 1995-05-12 1995-05-12 回路シミュレーション方法

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012243288A (ja) * 2011-05-24 2012-12-10 Fujitsu Ltd シミュレーション方法、シミュレーション装置及びシミュレーションプログラム

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012243288A (ja) * 2011-05-24 2012-12-10 Fujitsu Ltd シミュレーション方法、シミュレーション装置及びシミュレーションプログラム

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