JPH08273219A - Apparatus for producing optical disk - Google Patents

Apparatus for producing optical disk

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JPH08273219A
JPH08273219A JP7370795A JP7370795A JPH08273219A JP H08273219 A JPH08273219 A JP H08273219A JP 7370795 A JP7370795 A JP 7370795A JP 7370795 A JP7370795 A JP 7370795A JP H08273219 A JPH08273219 A JP H08273219A
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JP
Japan
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glass
polishing
cleaning
plate
original plate
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Application number
JP7370795A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hiroshi Naito
弘 内藤
Yoshihiro Yamaguchi
喜弘 山口
Junzo Takano
純三 高野
Michio Mitsui
教夫 三津井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
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Publication date
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Publication of JPH08273219A publication Critical patent/JPH08273219A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PURPOSE: To produce a metallic master disk which is excellent in yield and reliability by realizing the reduction of a treatment cost and the improvement in installation environment, equipment area and cycle time in a process for producing the master disk. CONSTITUTION: A polishing and washing mechanism is composed by providing this mechanism with an original plate installing means 31 and disposing a polishing means 32 as well as first washing means 33 and second washing means 34 around (near) the original plate installing means 31. A polishing treatment and a washing treatment are executed in one process.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、光ディスクの製造装置
に関し、特にガラス原板を用いて光ディスクの金属原盤
を作製する原盤作製プロセスを実行する光ディスクの製
造装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an optical disk manufacturing apparatus, and more particularly to an optical disk manufacturing apparatus for executing a master disk manufacturing process for manufacturing a metal master disk of an optical disk using a glass master plate.

【0002】[0002]

【従来の技術】一般に、光ディスクを作製する場合、ガ
ラス原板を用いて光ディスクの金属原盤を作製する原盤
作製プロセスと、当該金属原盤を用いて所定の基板上に
複製を行うディスク化プロセスとを経ることにより、複
数の光ディスクが製造される。
2. Description of the Related Art Generally, when manufacturing an optical disk, a master manufacturing process for manufacturing a metal master of an optical disk using a glass master plate and a disk forming process for replicating on a predetermined substrate using the metal master are performed. As a result, a plurality of optical disks are manufactured.

【0003】具体的に、従来における光ディスクの製造
プロセスのうち、原盤作製プロセスについてそのフロー
を図26に示す。この場合、先ず、ガラス原板の加工工
程から開始される。このガラス原板の材料としては、高
精度に平坦な表面が比較的簡単に得られ、しかも安価で
入手が容易なものが望ましく、例えばソーダライムが考
えられる。
Specifically, FIG. 26 shows a flow chart of a master disk manufacturing process in the conventional optical disk manufacturing processes. In this case, first, the process of processing the original glass plate is started. As a material for the glass plate, it is desirable that a flat surface can be obtained relatively easily with high precision, and that it is inexpensive and easily available. For example, soda lime is considered.

【0004】ところで、上記ガラス原板は、原盤作製プ
ロセスが終了して金属原盤が作製された後に再び金属原
盤の作製に使用されるため、この原盤作製プロセスに先
立って、初めに金属原盤を作製した後にガラス原板の表
面に残存したニッケル及びレジストを洗浄し除去する
(再生処理工程)。
By the way, since the above glass master plate is used again for manufacturing the metal master plate after the master plate manufacturing process is completed and the metal master plate is manufactured, the metal master plate is first manufactured prior to this master plate manufacturing process. After that, the nickel and the resist remaining on the surface of the original glass plate are washed and removed (regeneration treatment step).

【0005】次いで、上記再生処理プロセスでは除去し
きれないガラス原板の表面の薬液層や酸化膜等の付着物
の除去、及びガラス原板の表面に形成された微細な凹凸
の平坦化のために、研磨材として粒径が0.5μm程度
の酸化セリウムのスラリーを用いて研磨を行う(ポリシ
ング工程)。
Next, in order to remove deposits such as a chemical liquid layer and an oxide film on the surface of the original glass plate which cannot be completely removed by the above-mentioned regeneration treatment process, and to flatten fine irregularities formed on the surface of the original glass plate, Polishing is performed using a slurry of cerium oxide having a particle size of about 0.5 μm as a polishing material (polishing step).

【0006】そして、上記ガラス原板の表面に残存する
研磨材をスクラバーを用いて洗浄し、さらに超音波洗浄
を行なって当該ガラス原板を乾燥させた(洗浄工程)後
に、所定のフォトレジスト、ここでは現像液中で露光部
が溶け出すポジ型のものをガラス原板の表面に塗布する
(レジスト塗布工程)。このとき、レジスト層のガラス
原板との密着性を強化するため、フォトレジストを塗布
する前に予めガラス原板の表面に密着補強剤(シランカ
ップリング剤等)を塗布し、振り切り乾燥を行った後に
フォトレジストを塗布する。
Then, the abrasive remaining on the surface of the glass original plate is washed with a scrubber, and further ultrasonic cleaning is performed to dry the glass original plate (washing step), and then a predetermined photoresist, here. A positive type in which the exposed portion melts in a developing solution is applied to the surface of the original glass plate (resist applying step). At this time, in order to strengthen the adhesion of the resist layer to the glass original plate, after applying the adhesion reinforcing agent (such as a silane coupling agent) to the surface of the glass original plate in advance before applying the photoresist, and after performing shake-off drying Apply photoresist.

【0007】次いで、上記ガラス原板に熱処理を施して
当該ガラス原板表面のレジスト層の安定化を図り(ベー
キング工程)、当該レジスト層に欠陥が存するか否かを
調べ、レジスト層の厚みを測定(欠陥検査・レジスト厚
測定工程)した後、当該レジスト層に対してレーザ記録
装置等を用いて所定の潜像を形成する(カッティング工
程)。
Next, the glass original plate is heat-treated to stabilize the resist layer on the surface of the glass original plate (baking step), and it is checked whether or not there is a defect in the resist layer, and the thickness of the resist layer is measured ( After the defect inspection / resist thickness measurement step), a predetermined latent image is formed on the resist layer using a laser recording device or the like (cutting step).

【0008】次に、潜像が形成された上記レジスト層に
現像を施すことにより当該レジスト層上に凹凸のレリー
フパターンを顕在化させる(現像工程)。一般に、レジ
ストの感度はその製造ロットや塗布・乾燥の条件、温湿
度、及び現像液等の多くの因子によって大幅に影響を受
け、これが光ディスクの再生信号に影響する。したがっ
て、潜像形成時の露光量の変動も含めて、現像の進行を
モニターすることによって現像の終端を制御し、上記の
変動因子を吸収することが望ましい。
Next, the resist layer on which the latent image is formed is developed to reveal the relief pattern of the unevenness on the resist layer (developing step). In general, the sensitivity of a resist is greatly affected by many factors such as its manufacturing lot, coating / drying conditions, temperature and humidity, and a developing solution, which affects the reproduction signal of an optical disk. Therefore, it is desirable to control the end of development by monitoring the progress of development, including fluctuations in the exposure amount during latent image formation, and absorb the above-mentioned fluctuation factors.

【0009】続いて、上記レリーフパターンを金属原盤
へ転写するための電鋳を行うにはレジスト層表面の導体
化が必要であるため、無電解メッキ法を用いて、ガラス
原板を無電解溶液に浸漬させて当該レジスト層表面にニ
ッケルメッキを施す(無電解メッキ工程)。このとき、
当該無電解メッキ工程に先立ってレジスト層の表面状態
の改善及びメッキ析出の促進を図る(無電解メッキ前処
理工程)必要がある。
Subsequently, in order to perform electroforming for transferring the relief pattern onto the metal master, it is necessary to make the surface of the resist layer a conductor. Therefore, an electroless plating method is used to transform the glass master into an electroless solution. The surface of the resist layer is dipped and nickel plated (electroless plating step). At this time,
Prior to the electroless plating step, it is necessary to improve the surface condition of the resist layer and promote plating deposition (electroless plating pretreatment step).

【0010】その後、導体化されたレジスト層の表面を
陰極としニッケルを陽極としてスルファミン酸ニッケル
浴中で通電させてガラス原板上に金属ニッケルを析出さ
せ(電鋳工程)、金属ニッケルが0.3mm程度の厚み
となるまで電鋳を継続した後、上記ガラス原板から当該
金属ニッケル膜を剥離することにより、ニッケルマスタ
ーを作製し、さらに転写することによりマザーを経て金
属原盤(スタンパ)が完成する(スタンパ剥離工程)。
その後、上記の如く、金属原盤の作製後に上記ガラス原
板は再度金属原盤の作製に供されることになる。
Then, the surface of the conductive resist layer is used as a cathode and nickel is used as an anode to apply current in a nickel sulfamate bath to deposit metallic nickel on an original glass plate (electroforming step). After electroforming is continued until the thickness reaches a certain level, a nickel master is produced by peeling off the metal nickel film from the glass original plate, and by further transferring, a metal master (stamper) is completed through mother (( Stamper peeling process).
After that, as described above, after the metal master is manufactured, the glass master plate is again used for manufacturing the metal master.

【0011】[0011]

【発明が解決しようとする課題】ところで、上記ポリシ
ング工程においては一の研磨手段、次工程である洗浄工
程においては一または二の洗浄手段(ガラス原板の表面
に残存する研磨材をスクラブローラを用いて洗浄除去す
る第1の洗浄手段、またガラス原板の表面を超音波によ
り洗浄する第2の洗浄手段)が必要である。そのため、
都合2〜3台の独立した処理装置を設置するスペースが
必須となり、全工程の処理時間(サイクルタイム)が非
常に長くなるという問題がある。
By the way, one polishing means is used in the above polishing step, and one or two cleaning means is used in the cleaning step which is the next step (abrasives remaining on the surface of the original glass plate are scrubbed with a scrub roller. A first cleaning means for cleaning and removing the surface of the glass original plate by ultrasonic waves and a second cleaning means for cleaning the surface of the original glass plate by ultrasonic waves are required. for that reason,
For convenience, a space for installing two to three independent processing devices is essential, and there is a problem that the processing time (cycle time) of all steps becomes very long.

【0012】さらに、上記原盤作製プロセスにおいて、
各工程にて何等かの作業不良が発生した場合、その不良
(図26中、NGと記す)が生じた工程で原盤作製プロ
セスを一旦中止し、再び最初の再生処理工程から実行し
直している。そのため、ある工程時にて作業不良が発生
すると、既に行った以前の全工程における処理が無効と
なり、時間的にも資源的にも無駄が生じることになる。
Further, in the above-mentioned master disc manufacturing process,
When some work defect occurs in each process, the master disc manufacturing process is temporarily stopped in the process in which the defect occurs (denoted as NG in FIG. 26), and the process is performed again from the first reprocessing step. . Therefore, if a work defect occurs at a certain process, the processes in all the previous processes that have already been performed become invalid, resulting in waste of time and resources.

【0013】この場合、不良が生じたガラス原板を処理
装置から取り出すことから、工程数が多いことに伴い必
然的に生じる当該処理手段内のクリーン度の低下につい
ての対策が必要となり、処理コストの増大や、作業環境
の悪化等の深刻な問題が生じている現状である。
In this case, since the defective glass original plate is taken out from the processing apparatus, it is necessary to take measures against the decrease in cleanliness in the processing means, which is inevitably caused by the large number of steps, and the processing cost is reduced. There are serious problems such as increase and deterioration of working environment.

【0014】そこで本発明は、かかる従来の実情に鑑み
て提案されたものであり、原盤作製プロセスにおいて、
処理時間の短縮及び作業環境の改善を実現させて、歩留
り及び信頼性に優れた金属原盤を製造することを可能と
する光ディスクの製造装置を提供することを目的とす
る。
Therefore, the present invention has been proposed in view of the above-mentioned conventional circumstances, and in the master disc manufacturing process,
It is an object of the present invention to provide an optical disk manufacturing apparatus capable of manufacturing a metal master disc having excellent yield and reliability by realizing reduction of processing time and improvement of working environment.

【0015】[0015]

【課題を解決するための手段】本発明は、原盤作製プロ
セスにおいて、ガラス原板を用いて光ディスクの金属原
盤を作製する光ディスクの製造装置を対象とするもので
ある。
The present invention is directed to an optical disk manufacturing apparatus for manufacturing a metal master disk of an optical disk by using a glass master plate in a master disk manufacturing process.

【0016】本発明に係る光ディスクの製造装置は、ガ
ラス原板が回転自在に設置固定される原板設置手段を備
え、当該ガラス原板の表面に研磨を施して平坦化する研
磨処理を施す研磨手段と、ガラス原板の表面に残存する
研磨材を洗浄除去する洗浄処理を施す洗浄手段とが、上
記原板設置手段の近傍にそれぞれ配されてなる研磨洗浄
機構が設けられていることを特徴とするものである。
The optical disk manufacturing apparatus according to the present invention comprises an original plate setting means for rotatably setting and fixing a glass original plate, and a polishing means for performing a polishing process for polishing and flattening the surface of the glass original plate. A cleaning means for performing a cleaning process for cleaning and removing the polishing material remaining on the surface of the original glass plate is characterized in that a polishing and cleaning mechanism is provided in the vicinity of the original plate setting means. .

【0017】この場合、上記洗浄手段を、ガラス原板の
表面に残存する研磨材をスクラブローラを用いて洗浄除
去する第1の洗浄手段と、ガラス原板の表面を超音波に
より洗浄する第2の洗浄手段とから構成することが望ま
しい。
In this case, the above-mentioned cleaning means is a first cleaning means for cleaning and removing the abrasive remaining on the surface of the original glass plate with a scrub roller, and a second cleaning for cleaning the surface of the original glass plate with ultrasonic waves. It is desirable to configure it with means.

【0018】このとき、当該研磨洗浄機構を、ガラス原
板に不良が発生すると不良ガラス原板を再度研磨処理及
び洗浄処理に供するようにすることが好ましい。
At this time, it is preferable that the polishing / cleaning mechanism re-uses the defective glass original plate again for polishing and cleaning when a defect occurs in the glass original plate.

【0019】具体的には、上記製造装置にガラス原板を
順次搬送することにより光ディスクの金属原盤を作製す
る各工程が実行されるクリーントンネルを設け、不良発
生時には当該不良ガラス原板に次工程を施すことなく当
該不良ガラス原板をクリーントンネル内を素通りさせて
初工程に回帰させることが考えられる。
Specifically, a clean tunnel is provided in which each step of producing a metal master of an optical disc is carried out by sequentially transporting the glass master to the above manufacturing apparatus, and when a defect occurs, the defective glass master is subjected to the next step. It is conceivable to pass the defective glass original plate through the inside of the clean tunnel without returning to the first process.

【0020】[0020]

【作用】本発明に係る光ディスクの製造方装置において
は、ガラス原板の表面に研磨を施して平坦化するための
研磨手段と、ガラス原板の表面に残存する研磨材を洗浄
除去する洗浄手段とが、上記ガラス原板が回転自在に設
置固定された原板設置手段の近傍にそれぞれ配されて研
磨洗浄機構が構成されているため、研磨手段及び洗浄手
段を用いた研磨(ポリシング)処理及び洗浄処理が移動
を伴わずに上記研磨洗浄機構にて実行されることにな
る。
In the optical disc manufacturing apparatus according to the present invention, the polishing means for polishing and flattening the surface of the glass original plate and the cleaning means for cleaning and removing the abrasive material remaining on the surface of the glass original plate are provided. Since the polishing cleaning mechanism is configured by arranging the glass original plates in the vicinity of the original plate setting means rotatably installed and fixed, the polishing (polishing) process and the cleaning process using the polishing means and the cleaning means move. The above is performed by the polishing and cleaning mechanism without the above.

【0021】そして、当該研磨洗浄機構においては、ガ
ラス原板に不良が発生した場合、不良ガラス原板を再度
上記各処理に供することにより、次工程に不良が生じた
ガラス原板が搬送されることが確実に抑止され、サイク
ルタイムが短縮されるとともにレジスト層の膜厚及び密
着性が向上することになる。
In the polishing and cleaning mechanism, when a defect occurs in the glass original plate, the defective glass original plate is again subjected to each of the above-mentioned processes, so that the defective glass original plate is surely conveyed. And the cycle time is shortened, and the film thickness and adhesiveness of the resist layer are improved.

【0022】また、上記製造装置は、原盤作製プロセス
の各工程をクリーントンネル内にて不良ガラス原板を順
次搬送することにより実行し、不良後処理工程の実行後
に次工程を実行することなく不良ガラス原板をクリーン
トンネル内を素通りさせて初工程に回帰させる。したが
って、不良ガラス原板を外部へ取り出してクリーントン
ネル内の状態を攪乱させることなく容易に不良ガラス原
板が初工程に搬送される。
In addition, the above-described manufacturing apparatus executes each step of the master plate manufacturing process by sequentially transporting the defective glass original plate in the clean tunnel, and after performing the defective post-treatment step, does not perform the next step. The original plate is passed through the clean tunnel and returned to the initial process. Therefore, the defective glass original plate is easily conveyed to the first step without taking out the defective glass original plate to the outside and disturbing the state inside the clean tunnel.

【0023】[0023]

【実施例】以下、本発明の光ディスクの製造装置を適用
した具体的な実施例について図面を参照しながら説明す
る。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Specific embodiments to which the optical disk manufacturing apparatus of the present invention is applied will be described below with reference to the drawings.

【0024】本実施例においては、ガラス原板を用いて
光ディスクの金属原盤を作製する原盤作製プロセスと、
当該金属原盤を用いて所定の基板上に複製を行うディス
ク化プロセスとを経ることにより光ディスクを製造する
に際して、原盤作製プロセスを実行する光ディスクの製
造装置をその対象とする。
In the present embodiment, a master manufacturing process for manufacturing a metal master of an optical disc using a glass master,
An optical disk manufacturing apparatus that executes a master disk manufacturing process when manufacturing an optical disk through a disk manufacturing process in which a copy is made on a predetermined substrate using the metal master disk is targeted.

【0025】具体的に、光ディスクの上記製造プロセス
のうち、原盤作製プロセスについてそのフローを図1に
示す。この場合、当該原盤作製プロセスは、ポリシング
及び洗浄工程、レジスト塗布工程、ベーキング工程、欠
陥検査・レジスト厚測定工程、カッティング工程、現像
工程、無電解メッキ前処理工程、無電解メッキ工程、電
鋳工程、スタンパ剥離工程からなるものである。ここ
で、現像工程、無電解メッキ前処理工程、及び無電解メ
ッキ工程の3工程をガラスマスタ工程と総称する。
Specifically, FIG. 1 shows the flow of the master disk manufacturing process of the above optical disk manufacturing processes. In this case, the master manufacturing process includes polishing and cleaning steps, resist coating steps, baking steps, defect inspection / resist thickness measurement steps, cutting steps, development steps, electroless plating pretreatment steps, electroless plating steps, electroforming steps. , A stamper peeling step. Here, the developing step, the electroless plating pretreatment step, and the electroless plating step are collectively referred to as a glass master step.

【0026】上記製造装置は、図2に示すように、再生
処理工程を除くポリシング工程からスタンパ剥離工程ま
での各工程が実行されるクリーントンネル1を有し、ク
リーントンネル1の入口に設けられた再生処理工程を行
うための再生処理手段11が設けられて構成されてい
る。このクリーントンネル1の内部には、7つの部屋1
2〜18が形成されており、さらにガラス原板を各工程
に順次搬送するための搬送手段19が設けられている。
上記各部屋の側部にはそれぞれシャッタ12a〜18a
及び12b,18bが配されており、搬送手段19によ
りある部屋から次の部屋へ内にガラス原板を搬送する際
の当該ガラス原板の出入口とされる。
As shown in FIG. 2, the above-mentioned manufacturing apparatus has a clean tunnel 1 in which each process from the polishing process to the stamper peeling process except the recycling process is executed, and is provided at the entrance of the clean tunnel 1. Regeneration processing means 11 for performing the regeneration processing step is provided and configured. Inside this clean tunnel 1, there are 7 rooms 1
2 to 18 are formed, and further, a conveying means 19 for sequentially conveying the original glass plate to each step is provided.
Shutters 12a to 18a are provided on the side portions of each room.
And 12b and 18b are arranged, and serve as an entrance and exit of the glass original plate when the glass original plate is transferred from one room to the next room by the transfer means 19.

【0027】当該クリーントンネル1の各部屋内はクリ
ーン度がクラス100程度に保たれており、再生処理手
段11内はクリーン度がクラス10万程度に保たれた環
境とされている。
The inside of each room of the clean tunnel 1 has a cleanness of about class 100, and the inside of the regeneration processing means 11 has an environment of a cleanness of about 100,000.

【0028】上記各部屋12〜18は、それぞれポリシ
ング及び洗浄工程、レジスト塗布工程、ベーキング工
程、欠陥検査・レジスト厚測定工程及びカッティング工
程、ガラスマスタ工程、電鋳工程、スタンパ剥離工程を
行う場所である。
Each of the chambers 12 to 18 is a place where a polishing and cleaning process, a resist coating process, a baking process, a defect inspection / resist thickness measuring process and a cutting process, a glass master process, an electroforming process, and a stamper peeling process are performed. is there.

【0029】また、上記搬送手段19は、再生処理手段
11から次工程であるポリシング及び洗浄工程が行われ
る部屋12にガラス原板を搬送するコンベア21と、各
部屋に沿って移動可能に設けられて各部屋内にガラス原
板を設置するトランスファーユニット22とから構成さ
れている。ここで、当該トランスファーユニット22
は、一端部22aが回動可能に固定され、先端部22b
が鈎状とされて当該先端部22bにてガラス原板を保持
するように構成されている。上記ガラス原板は、再生処
理手段11及び各部屋12〜18内にて以下に示す各工
程が実行され、一の工程が終了すると上記搬送手段11
に設けられたコンベア21やトランスファーユニット2
2により次工程に順次搬送されることになる。
The carrying means 19 is provided so as to be movable along the conveyors 21 for carrying the original glass plate from the recycling processing means 11 to the room 12 in which the next step of polishing and cleaning is performed. It is configured with a transfer unit 22 in which a glass original plate is installed in each room. Here, the transfer unit 22
Has one end 22a rotatably fixed and a tip 22b.
Has a hook shape and is configured to hold the original glass plate at the tip portion 22b. The above-mentioned glass plate is subjected to the following steps in the recycling processing means 11 and the respective chambers 12 to 18, and when one step is completed, the conveying means 11 is carried out.
21 and transfer unit 2 provided in the
According to 2, it is sequentially conveyed to the next process.

【0030】上記原盤作製プロセスは、先ず、ガラス原
板の加工工程から開始される。このガラス原板の材料と
しては、高精度に平坦な表面が比較的簡単に得られ、し
かも安価で入手が容易なものが望ましく、例えばソーダ
ライムが考えられる。
The above-described master plate manufacturing process starts with a glass master plate processing step. As a material for the glass plate, it is desirable that a flat surface can be obtained relatively easily with high precision, and that it is inexpensive and easily available. For example, soda lime is considered.

【0031】ところで、上記ガラス原板は、原盤作製プ
ロセスが終了して金属原盤が作製された後に再び金属原
盤の作製に使用される。すなわち、先ず最初に、再生処
理プロセスとして、再生処理手段11を用い、初めに金
属原盤を作製した後にガラス原板の表面に残存した表面
異物であるニッケル及びレジストを溶解、洗浄し除去す
る。
By the way, the above glass master plate is used again for manufacturing the metal master plate after the master plate manufacturing process is completed and the metal master plate is manufactured. That is, first, as a regeneration treatment process, the regeneration treatment means 11 is used to dissolve, wash and remove nickel and resist, which are surface foreign matters remaining on the surface of the glass original plate after the metal original disc is first produced.

【0032】次いで、上記再生処理プロセスでは除去し
きれないガラス原板の表面の薬液層や酸化膜等の付着物
の除去、及びガラス原板の表面に形成された微細な凹凸
の平坦化のために、研磨材として粒径が0.5μm程度
の酸化セリウムのスラリーを用いて研磨を行い、上記ガ
ラス原板の表面に残存する研磨材をスクラバーを用いて
洗浄し、さらに超音波洗浄を行なって当該ガラス原板を
乾燥させる(ポリシング及び洗浄工程)。
Next, in order to remove deposits such as a chemical liquid layer and an oxide film on the surface of the glass original plate that cannot be completely removed by the above-mentioned regeneration treatment process, and to flatten fine irregularities formed on the surface of the glass original plate, Polishing is performed by using a slurry of cerium oxide having a particle size of about 0.5 μm as an abrasive, the abrasive remaining on the surface of the glass original plate is cleaned by using a scrubber, and further ultrasonic cleaning is performed to perform the glass original plate. Is dried (polishing and washing steps).

【0033】このポリシング及び洗浄工程を実行するに
際しては、図3に示すような研磨洗浄機構(ポリシング
・洗浄ユニット)を用いる。この研磨洗浄機構は、原板
設置手段31を有し、当該原板設置手段31の周囲(近
傍)に研磨手段32と、第1の洗浄手段33及び第2の
洗浄手段34とが配されて構成されている。ここで、原
板設置手段31の周囲の汚損防止を考慮して、当該原板
設置手段31を取り囲む防御壁であるチャンバー35が
設置されている。
When performing the polishing and cleaning steps, a polishing and cleaning mechanism (polishing / cleaning unit) as shown in FIG. 3 is used. This polishing / cleaning mechanism has an original plate setting means 31, and a polishing means 32, a first cleaning means 33, and a second cleaning means 34 are arranged around (in the vicinity of) the original plate setting means 31. ing. Here, in consideration of prevention of contamination around the original plate setting means 31, a chamber 35 which is a defense wall surrounding the original plate setting means 31 is installed.

【0034】上記原板設置手段31は、図4に示すよう
に、ガラス原板2が載置固定されるターンテーブル41
が主軸42を介して基板43に回転可能に設置され、主
軸42と基板43の下部に設けられたカップリング44
とによりターンテーブル41が駆動モータ45に連結さ
れ、この駆動モータ45が当該駆動モータ45の速度を
制御する速度制御回路46を介して速度設定器47と接
続されて構成されている。なお、上記主軸42内には排
気管42aが貫通して設けられてターンテーブル41の
表面に開口部が形成されており、この排気管42aから
排気してターンテーブル41上にガラス原板2を真空吸
着させる。
As shown in FIG. 4, the original plate setting means 31 has a turntable 41 on which the glass original plate 2 is mounted and fixed.
Is rotatably installed on the substrate 43 via the main shaft 42, and the coupling 44 provided on the lower part of the main shaft 42 and the substrate 43.
The turntable 41 is connected to the drive motor 45 by means of, and the drive motor 45 is connected to the speed setter 47 via the speed control circuit 46 that controls the speed of the drive motor 45. An exhaust pipe 42a is provided in the main shaft 42 so as to penetrate therethrough, and an opening is formed in the surface of the turntable 41. The exhaust pipe 42a is used to exhaust the original glass plate 2 onto the turntable 41. Adsorb.

【0035】上記研磨手段32は、研磨部51と、薬液
供給部52、及びポリシングパッド清掃部53とから構
成されている。
The polishing means 32 comprises a polishing section 51, a chemical solution supply section 52, and a polishing pad cleaning section 53.

【0036】上記研磨部51は、上記基板43上に設置
されて一端部61aにて回動可能とされてなるポリシン
グアーム61を有し、当該ポリシングアーム61の他端
部61bにポリシングパッド62が設けられるととも
に、上記一端部61aが主軸63を介して基板43下に
設けられたポリシングアーム上下シリンダ64及びポリ
シングアーム旋回シリンダ65と連結されて構成されて
いる。
The polishing section 51 has a polishing arm 61 mounted on the substrate 43 and rotatable at one end 61a, and a polishing pad 62 is provided at the other end 61b of the polishing arm 61. In addition to being provided, the one end portion 61a is connected via a main shaft 63 to a polishing arm vertical cylinder 64 and a polishing arm turning cylinder 65 provided below the substrate 43.

【0037】ここで、上記ポリシングパット62は、研
磨用の特別の布製であり、駆動モータ45の回転駆動に
よりターンテーブル41上で回転するガラス原板2の表
面に押し当てることにより当該ガラス原板2の表面に研
磨を施すものである。ここで、ポリシングアーム上下シ
リンダ64は、ポリシングアーム61を上記基板43に
対して上下動させるものであり、ポリシングアーム旋回
シリンダ65は、研磨時にポリシングパッド62を揺動
させるものである。
Here, the polishing pad 62 is made of a special cloth for polishing, and is pressed against the surface of the glass original plate 2 which is rotated on the turntable 41 by the rotation of the drive motor 45, so that the glass original plate 2 is pressed. The surface is polished. Here, the polishing arm vertical cylinder 64 moves the polishing arm 61 up and down with respect to the substrate 43, and the polishing arm turning cylinder 65 swings the polishing pad 62 during polishing.

【0038】この研磨部51においては、起動時には上
記一端部61aを回転軸としてポリシングパット62が
ガラス原板2の表面を図3に示す如く回動する。
In the polishing section 51, at the time of starting, the polishing pad 62 rotates the surface of the original glass plate 2 around the one end 61a as a rotation axis as shown in FIG.

【0039】上記薬液供給部52は、ガラス原板2の表
面に研磨剤である酸化セリウムのスラリーを供給する研
磨剤供給ノズル66と、純水を供給する純水ノズル67
とから構成されている。
The chemical solution supply section 52 has a polishing agent supply nozzle 66 for supplying a slurry of cerium oxide as a polishing agent and a pure water nozzle 67 for supplying pure water to the surface of the glass original plate 2.
It consists of and.

【0040】上記ポリシングパッド清掃部53は、上記
基板43の一端に設けられており、当該基板43上に主
軸68を介して設置されたパッド用ブラシ69と、基板
43下に主軸68を介して設置された駆動モータ70と
から構成されており、前記駆動モータ70の回転駆動に
より回転するパッド用ブラシ69にポリシングパッド6
2を押し当てることによって当該ポリシングパッド62
の清掃を行うものである。
The polishing pad cleaning section 53 is provided at one end of the substrate 43, and has a pad brush 69 installed on the substrate 43 via a spindle 68, and below the substrate 43 via the spindle 68. The polishing pad 6 is composed of the installed drive motor 70, and the polishing pad 6 is attached to the pad brush 69 which is rotated by the rotation drive of the drive motor 70.
2 by pressing the polishing pad 62
Is to be cleaned.

【0041】上記第1の洗浄手段33は、図5に示すよ
うに、上記基板43上に設置されて一端部71aにて回
動可能とされてなるスクラブアーム71を有し、当該ス
クラブアーム71の他端部71bに駆動モータ72を介
してスクラブローラ73が設けられるとともに、上記一
端部71aが主軸63を介して基板43下に設けられた
スクラブアーム上下シリンダ74及びスクラブアーム旋
回シリンダ75と連結されて構成されている。また、ス
クラブアーム71の近傍にはガラス原板2の表面に純水
を供給するための純水ノズル76が、上記基板43の下
部にはガラス原板2の裏面に純水を供給するための純水
ノズル77がそれぞれ配されている。
As shown in FIG. 5, the first cleaning means 33 has a scrub arm 71 which is installed on the substrate 43 and is rotatable at one end 71a. A scrub roller 73 is provided on the other end portion 71b of the scrub arm 73 via a drive motor 72, and the one end portion 71a is connected to a scrub arm vertical cylinder 74 and a scrub arm swivel cylinder 75 provided under the substrate 43 via a main shaft 63. Is configured. A pure water nozzle 76 for supplying pure water to the surface of the original glass plate 2 is provided in the vicinity of the scrub arm 71, and pure water for supplying pure water to the rear surface of the original glass plate 2 is provided below the substrate 43. Nozzles 77 are arranged respectively.

【0042】ここで、上記スクラブローラ73は、駆動
モータ72の回転駆動により回転し純水ノズル76から
の純水の供給を受けて、その底面部によりガラス原板2
の表面を洗浄し、その側面部によりガラス原板2の端面
を洗浄するものである。また、上記スクラブアーム上下
シリンダ74は、スクラブローラ73をガラス原板に対
して上下動させるもの、上記スクラブアーム旋回シリン
ダ75は、スクラブ作業時にスクラブローラ73を揺動
させるものである。
Here, the scrub roller 73 is rotated by the rotation drive of the drive motor 72, receives the supply of pure water from the pure water nozzle 76, and the bottom surface portion of the original glass plate 2
The surface of the glass is washed, and the end face of the original glass plate 2 is washed by its side surface. The scrub arm up / down cylinder 74 moves the scrub roller 73 up and down with respect to the original glass plate, and the scrub arm swivel cylinder 75 swings the scrub roller 73 during scrubbing work.

【0043】この第1の洗浄手段33においては、起動
時には上記一端部71aを回転軸としてスクラブローラ
73がガラス原板2の表面を図3に示す如く回動する。
In the first cleaning means 33, at the time of start-up, the scrub roller 73 rotates the surface of the original glass plate 2 around the one end 71a as a rotation axis as shown in FIG.

【0044】上記第2の洗浄手段34は、超音波洗浄部
81及び純水供給部82から構成されている。
The second cleaning means 34 comprises an ultrasonic cleaning section 81 and a pure water supply section 82.

【0045】上記超音波洗浄部81は、上記基板43上
に設置されて一端部91aにて回動可能とされてなるウ
ルトラソニックアーム91を有し、当該ウルトラソニッ
クアーム91の他端部91bに洗浄ノズル92が設けら
れるとともに、上記一端部91aが主軸93を介して基
板43下に設けられたウルトラソニックアーム上下シリ
ンダ94及びウルトラソニックアーム旋回モータ95と
連結されて構成されている。ここで、ウルトラソニック
アーム上下シリンダ94は洗浄ノズル92を上下動させ
るもの、ウルトラソニックアーム旋回モータ95は洗浄
時に洗浄ノズル92を揺動させるものである。
The ultrasonic cleaning section 81 has an ultrasonic arm 91 which is installed on the substrate 43 and is rotatable at one end 91a, and the other end 91b of the ultrasonic arm 91 is provided at the other end 91b. A cleaning nozzle 92 is provided, and the one end portion 91a is connected via a main shaft 93 to an ultrasonic arm up-and-down cylinder 94 and an ultrasonic arm turning motor 95 provided under the substrate 43. Here, the ultrasonic arm vertical cylinder 94 moves the cleaning nozzle 92 up and down, and the ultrasonic arm swing motor 95 swings the cleaning nozzle 92 during cleaning.

【0046】この超音波洗浄部81においては、起動時
には上記一端部91aを回転軸として洗浄ノズル92が
ガラス原板2の表面を所定距離をもって図3に示す如く
回動する。
In the ultrasonic cleaning section 81, at the time of start-up, the cleaning nozzle 92 rotates on the surface of the original glass plate 2 with a predetermined distance with the one end 91a as a rotation axis, as shown in FIG.

【0047】上記純水供給部82は、純水を供給する純
水供給管96と、超音波振動をかけた純水を供給する超
音波純水供給管97とから構成されている。この純水供
給部82は、上記各供給管96,97の先端が洗浄ノズ
ル92と連結されており、当該各供給管96,97に純
水或は超音波振動をかけた純水を供給することにより洗
浄ノズル92からガラス原板2の表面に吐出されること
になる。
The pure water supply section 82 is composed of a pure water supply pipe 96 for supplying pure water and an ultrasonic pure water supply pipe 97 for supplying pure water with ultrasonic vibration. In the pure water supply unit 82, the tips of the supply pipes 96 and 97 are connected to the cleaning nozzle 92, and pure water or pure water subjected to ultrasonic vibration is supplied to the supply pipes 96 and 97. As a result, the cleaning nozzle 92 discharges the glass onto the surface of the original glass plate 2.

【0048】上記研磨洗浄機構の近傍には、当該研磨洗
浄機構の各手段を制御するための制御手段が設けられて
いる。この制御手段は、図6に示すように、制御を司る
CPU101と、制御プログラムが格納されているメモ
リ102、前記CPU101と後述の各制御回路との中
継機能をはたすI/Oインターフェース103、上記各
駆動モータの制御を行うモータ制御回路104、及び上
記各シリンダや各供給管(各ノズル)の制御を行うソレ
ノイド等駆動回路105とから構成されている。
A control means for controlling each means of the polishing and cleaning mechanism is provided near the polishing and cleaning mechanism. As shown in FIG. 6, the control means includes a CPU 101 for controlling, a memory 102 in which a control program is stored, an I / O interface 103 for providing a relay function between the CPU 101 and each control circuit to be described later, and each of the above. It is composed of a motor control circuit 104 for controlling the drive motor, and a solenoid drive circuit 105 for controlling the cylinders and supply pipes (nozzles).

【0049】ここで、I/Oインターフェース103に
は、モータ制御回路104及びソレノイド等駆動回路1
05への信号出力の他に、上記各上下シリンダの上下位
置や上記各アーム旋回時の中心位置及び外周位置を検出
する位置検出センサ類106、及び研磨洗浄機構の起動
・停止を行うための操作パネル107から信号入力がな
される。上記研磨洗浄機構の各手段の制御は、位置検出
センサ類106への入力信号により動作完了を確認しな
がら実行される。
Here, the I / O interface 103 includes a motor control circuit 104 and a drive circuit 1 such as a solenoid.
In addition to the signal output to 05, position detection sensors 106 for detecting the vertical position of each of the above and below cylinders, the center position and the outer peripheral position when the above arms are rotated, and an operation for starting and stopping the polishing and cleaning mechanism. Signals are input from the panel 107. The control of each means of the polishing and cleaning mechanism is executed while confirming the completion of the operation by the input signal to the position detection sensors 106.

【0050】上記の構成を有する研磨洗浄機構を用いて
ポリシング及び洗浄工程を実行するには、図7に示すよ
うに、先ず原板設置手段31のターンテーブル41上に
ガラス原板2を載置固定して当該ガラス原板2を回転さ
せ、第2の洗浄手段34を用い、ウルトラソニックアー
ム91をガラス原板2上に回動させて洗浄ノズル92か
ら超音波振動をかけた純水をガラス原板2の表面に供給
する(超音波洗浄過程T1)。このとき、研磨前のガラ
ス原板2の表面の濡れ性が向上するとともに上記表面上
の比較的大きな付着物が除去される。
In order to perform the polishing and cleaning steps using the polishing / cleaning mechanism having the above-described structure, first, as shown in FIG. 7, the glass original plate 2 is placed and fixed on the turntable 41 of the original plate setting means 31. The glass original plate 2 is rotated by using the second cleaning means 34, and the ultrasonic arm 91 is rotated on the glass original plate 2 to apply pure water ultrasonically vibrated from the cleaning nozzle 92 to the surface of the glass original plate 2. (Ultrasonic cleaning process T1). At this time, the wettability of the surface of the original glass plate 2 before polishing is improved, and relatively large deposits on the surface are removed.

【0051】次いで、ウルトラソニックアーム91を初
期位置に回帰させた後に、研磨手段32を用い、研磨部
51のポリシングアーム61をガラス原板2上に回動さ
せてポリシングパッド62をガラス原板2の表面に押し
当てることにより残存物を除去するとともに、上記表面
の微細な凹凸を平坦化する(研磨過程T2)。
Then, after returning the ultrasonic arm 91 to the initial position, the polishing means 32 is used to rotate the polishing arm 61 of the polishing section 51 onto the original glass plate 2 to move the polishing pad 62 to the surface of the original glass plate 2. The residual substance is removed by pressing against the surface and the fine irregularities on the surface are flattened (polishing step T2).

【0052】そして、ポリシングアーム61を初期位置
に回帰させた後に、第2の洗浄手段34を用いて再度超
音波振動をかけた純水をガラス原板2の表面に供給する
(超音波洗浄過程T3)。このとき、ガラス原板2の表
面に残存する研磨剤等が洗浄除去される。
Then, after returning the polishing arm 61 to the initial position, the second cleaning means 34 is used to supply the pure water that has been subjected to ultrasonic vibration again to the surface of the original glass plate 2 (ultrasonic cleaning step T3. ). At this time, the abrasive or the like remaining on the surface of the original glass plate 2 is washed and removed.

【0053】次いで、ウルトラソニックアーム91を初
期位置に回帰させた後に、第1の洗浄手段33を用い、
スクラブアーム71をガラス原板2上に回動させてスク
ラブローラ73をガラス原板2の表面及び端面に押し当
てることにより、若干の残存物を擦り落とす(スクラブ
洗浄過程T4)。
Next, after returning the ultrasonic arm 91 to the initial position, the first cleaning means 33 is used,
By rotating the scrub arm 71 on the glass original plate 2 and pressing the scrub roller 73 against the surface and the end surface of the glass original plate 2, some residual substances are scraped off (scrub cleaning step T4).

【0054】次に、スクラブアーム71を初期位置に回
帰させた後に、第2の洗浄手段34を用いて再度超音波
振動をかけた純水をガラス原板2の表面に供給する(超
音波洗浄過程T5)。このとき、ガラス原板2の表面の
残存物が完全に洗浄除去される。
Next, after returning the scrub arm 71 to the initial position, the second cleaning means 34 is used to supply the pure water that has been subjected to ultrasonic vibration again to the surface of the original glass plate 2 (ultrasonic cleaning process). T5). At this time, the residue on the surface of the original glass plate 2 is completely removed by washing.

【0055】ウルトラソニックアーム91を初期位置に
回帰させて、ガラス原板2の表面を乾燥させる。このと
き、上記表面を自然乾燥させると、ガラス原板2の表面
には乾燥シミが発生する。そのため、ターンテーブル4
1を回転速度1000rpm程度に高速回転させながら
ガラス原板2に付着した水分の振り切り乾燥を行う(乾
燥過程T6)。
The surface of the glass original plate 2 is dried by returning the ultrasonic arm 91 to the initial position. At this time, if the surface is naturally dried, dry stains are generated on the surface of the original glass plate 2. Therefore, turntable 4
While rotating 1 at a high rotation speed of about 1000 rpm, the water adhering to the original glass plate 2 is shaken off and dried (drying process T6).

【0056】ここで、上記過程T1〜T6について図8
乃至図13を用いて具体的且つ詳細に説明する。
Here, the above steps T1 to T6 are shown in FIG.
A specific and detailed description will be made with reference to FIGS.

【0057】先ず、図8に示すように、超音波洗浄過程
T1の実行に際して、研磨洗浄機構が収容された部屋1
2に入口側シャッタ12bが開き、再生処理手段11内
のガラス原板2がコンベア21により部屋12内に搬送
された後、シャッタ12bが閉じる。
First, as shown in FIG. 8, in performing the ultrasonic cleaning process T1, the room 1 in which the polishing and cleaning mechanism is housed is installed.
2, the entrance side shutter 12b is opened, and the original glass plate 2 in the reproduction processing means 11 is conveyed into the room 12 by the conveyor 21 and then the shutter 12b is closed.

【0058】次いで、研磨洗浄機構が収容された部屋1
2のシャッタ12aが開放され、搬送手段19のトラン
スファーユニット22がコンベア21に保持されたガラ
ス原板2を引き上げる。その後、当該トランスファーユ
ニット22が原板設置手段31のターンテーブル41上
にガラス原板2を搬送して載置し、排気管42aから排
気を行いターンテーブル41上にガラス原板2を真空吸
着させる。そして、トランスファーユニット22が上記
部屋12内から退避し、シャッタ12aが閉じる。
Next, the room 1 containing the polishing and cleaning mechanism.
The second shutter 12a is opened, and the transfer unit 22 of the transporting means 19 pulls up the original glass plate 2 held by the conveyor 21. After that, the transfer unit 22 conveys and mounts the glass original plate 2 on the turntable 41 of the original plate installation means 31, exhausts the gas from the exhaust pipe 42a, and vacuum-adsorbs the glass original plate 2 on the turntable 41. Then, the transfer unit 22 is retracted from the room 12 and the shutter 12a is closed.

【0059】次いで、ターンテーブル41が駆動モータ
45の回転駆動により回転を開始するとともに、純水ノ
ズル77からガラス原板2の裏面に純水が供給され、超
音波洗浄過程T1が実行される。先ず、図9に示すよう
に、ウルトラソニックアーム91がガラス原板2の外周
位置へ回動して移動する。それとともに、スクラブロー
ラ73のウェッティング処理及びポリシングパッド清掃
部53によるポリシングパッド62の清掃が実行され
る。
Next, the turntable 41 starts to rotate by the rotational drive of the drive motor 45, pure water is supplied from the pure water nozzle 77 to the back surface of the original glass plate 2, and the ultrasonic cleaning process T1 is executed. First, as shown in FIG. 9, the ultrasonic arm 91 rotates and moves to the outer peripheral position of the original glass plate 2. At the same time, the wetting process of the scrub roller 73 and the cleaning of the polishing pad 62 by the polishing pad cleaning unit 53 are executed.

【0060】そして、ウルトラソニックアーム旋回シリ
ンダ95により洗浄ノズル92を揺動させながら超音波
洗浄が開始され、規定回数の揺動が行われた後に洗浄ノ
ズル92からの純水の吐出が停止し、ウルトラソニック
アーム91が初期位置へ回動して移動する。このとき、
スクラブローラ73のウェッティング処理が終了する。
Then, the ultrasonic cleaning is started while the cleaning nozzle 92 is rocked by the ultrasonic arm swiveling cylinder 95, and the pure water is stopped from being discharged from the cleaning nozzle 92 after rocking a predetermined number of times. The ultrasonic arm 91 rotates and moves to the initial position. At this time,
The wetting process of the scrub roller 73 is completed.

【0061】次いで、研磨過程T2が実行される。先
ず、研磨部51のポリシングアーム61がガラス原板2
の中心位置へ回動して移動する。そして、ポリシングア
ーム上下シリンダ64によりポリシングアーム61が下
がってポリシングパッド62がガラス原板2の表面に押
し当てられる。この状態で、薬液供給部52の研磨剤供
給ノズル66からガラス原板2の表面に酸化セリウムの
スラリーを吐出しながらポリシングアーム旋回シリンダ
65によりポリシングパッド62の揺動を開始し、規定
回数の揺動が行われた後に酸化セリウムの供給を停止さ
せて研磨が終了する。
Then, the polishing process T2 is performed. First, the polishing arm 61 of the polishing section 51 is used as the original glass plate 2.
Move to rotate to the center position of. Then, the polishing arm upper and lower cylinders 64 lower the polishing arm 61 and press the polishing pad 62 against the surface of the original glass plate 2. In this state, the polishing arm swing cylinder 65 starts swinging the polishing pad 62 while discharging the slurry of cerium oxide from the polishing agent supply nozzle 66 of the chemical solution supply unit 52 onto the surface of the original glass plate 2, and swings a prescribed number of times. After that, the supply of cerium oxide is stopped and the polishing is completed.

【0062】その後、図10に示すように、純水ノズル
67から上記表面に純水を吐出させる水研磨を開始す
る。そして、ポリシングパッド62の規定回数の揺動が
終了すると、純水の供給が停止して水研磨が終了する。
そして、ポリシングアーム61が初期位置へ回動して移
動する。そして、ポリシングパッド62の清掃を行う。
Then, as shown in FIG. 10, water polishing for discharging pure water from the pure water nozzle 67 onto the surface is started. When the polishing pad 62 has been rocked a specified number of times, the supply of pure water is stopped and the water polishing is completed.
Then, the polishing arm 61 rotates and moves to the initial position. Then, the polishing pad 62 is cleaned.

【0063】次に、超音波洗浄過程T3を実行する。こ
の過程は超音波洗浄過程T1と同様である。
Next, the ultrasonic cleaning process T3 is performed. This process is similar to the ultrasonic cleaning process T1.

【0064】そして、スクラブ洗浄過程T4が実行され
る。先ず、ウルトラソニックアーム91が初期位置へ回
動して移動した後に、図11に示すように、スクラブア
ーム71がガラス原板2の中心位置へ回動して移動し、
スクラブローラ73がガラス原板2の表面に押し当てら
れる。その後、駆動モータ72の回転駆動によりスクラ
ブローラ73を回転させながらスクラブアーム旋回シリ
ンダ75によりスクラブアーム71の揺動を開始し、規
定回数の揺動が行われるとスクラブローラ73を回転及
びスクラブアーム71の揺動が停止する。
Then, the scrub cleaning process T4 is executed. First, after the ultrasonic arm 91 rotates and moves to the initial position, as shown in FIG. 11, the scrub arm 71 rotates and moves to the central position of the glass original plate 2,
The scrub roller 73 is pressed against the surface of the original glass plate 2. After that, while the scrub roller 73 is being rotated by the rotation drive of the drive motor 72, the scrub arm rotating cylinder 75 starts swinging the scrub arm 71, and when the swing is performed a predetermined number of times, the scrub roller 73 is rotated and the scrub arm 71 is rotated. Oscillating stops.

【0065】その後、スクラブアーム71の回動及びス
クラブアーム上下シリンダ74による当該スクラブアー
ム71の高さ位置の調整により、スクラブローラ73を
ガラス原板2の端面に押し当てて所定時間上記端面の洗
浄を行う。所定時間の経過後、スクラブローラ73の回
転及び純水ノズル76からの純水の供給が停止し、スク
ラブアーム71が初期位置へ回動するとともに、スクラ
ブローラ73の所定時間のウェッティング処理を開始す
る。
Thereafter, by rotating the scrub arm 71 and adjusting the height position of the scrub arm 71 by the scrub arm vertical cylinder 74, the scrub roller 73 is pressed against the end surface of the original glass plate 2 to clean the end surface for a predetermined time. To do. After the lapse of a predetermined time, the rotation of the scrub roller 73 and the supply of pure water from the pure water nozzle 76 are stopped, the scrub arm 71 is rotated to the initial position, and the wetting process of the scrub roller 73 for a predetermined time is started. To do.

【0066】次いで、超音波洗浄過程T5を実行する。
この過程においては、超音波洗浄過程T3とほぼ同様で
あるが、超音波洗浄の実行後に若干の相違がある。すな
わち、図12に示すように、洗浄ノズル92からの超音
波振動がかかった純水の供給が停止して超音波洗浄が終
了して純水ノズル77からガラス原板2の裏面への純水
の供給を停止した後に、純水供給部82の純水供給管9
6から純水を供給して洗浄ノズル92からガラス原板2
の表面に純水を吐出しながらウルトラソニックアーム9
1を揺動させて洗浄する。
Then, the ultrasonic cleaning process T5 is executed.
This process is almost the same as the ultrasonic cleaning process T3, but there are some differences after performing the ultrasonic cleaning. That is, as shown in FIG. 12, the supply of pure water from the cleaning nozzle 92 to which ultrasonic vibration is applied is stopped, the ultrasonic cleaning is completed, and the pure water from the pure water nozzle 77 to the back surface of the glass original plate 2 is removed. After stopping the supply, the pure water supply pipe 9 of the pure water supply unit 82
Pure water is supplied from 6 and the glass original plate 2 is supplied from the cleaning nozzle 92.
Ultrasonic arm 9 while discharging pure water on the surface of
Shake 1 to wash.

【0067】次に、次工程であるレジスト塗布工程を行
う部屋13にガラス原板2が存しないことを確認した後
に、純水の供給及びウルトラソニックアーム91の揺動
を停止させる。
Next, after confirming that the original glass plate 2 does not exist in the chamber 13 in which the resist coating process as the next process is performed, the supply of pure water and the swinging of the ultrasonic arm 91 are stopped.

【0068】次いで、ウルトラソニックアーム91を初
期位置に回帰させた後に、乾燥過程T6においてターン
テーブル41を所定時間高速回転させてガラス原板2に
振り切り乾燥を施す。所定時間の経過後に、ターンテー
ブル41が停止し、図13に示すように、上記部屋12
のシャッタ12aが開放する。この状態で、トランスフ
ァーユニット22が移動してターンテーブル41上のガ
ラス原板2を把持し、排気管42aの排気を停止させ
る。そして、トランスファーユニット22によりガラス
原板2が次工程であるレジスト塗布工程を行う部屋13
に搬送され、上記シャッタ12aが閉じる。
Next, after returning the ultrasonic arm 91 to the initial position, in the drying process T6, the turntable 41 is rotated at a high speed for a predetermined time, and the glass original plate 2 is shaken off and dried. After a lapse of a predetermined time, the turntable 41 stops, and as shown in FIG.
The shutter 12a of is opened. In this state, the transfer unit 22 moves to grip the original glass plate 2 on the turntable 41 and stop the exhaust of the exhaust pipe 42a. Then, the transfer unit 22 is used in the room 13 in which the original glass plate 2 is subjected to the next resist coating step.
And the shutter 12a is closed.

【0069】このように、上記ポリシング及び洗浄工程
が終了した後に、所定のフォトレジストを上記ガラス原
板の表面に塗布する(レジスト塗布工程)。このとき、
レジスト層のガラス原板との密着性を強化するため、フ
ォトレジストを塗布する前に予めガラス原板の表面に密
着補強剤(シランカップリング剤等)を塗布する。
After the polishing and cleaning steps are completed, a predetermined photoresist is applied to the surface of the original glass plate (resist applying step). At this time,
In order to enhance the adhesion of the resist layer to the glass original plate, an adhesion reinforcing agent (such as a silane coupling agent) is previously applied to the surface of the glass original plate before applying the photoresist.

【0070】上記ポジ型レジストの組成は、キノンジア
ジド系の光分解剤(ナフトキノンジアジド誘導体等)と
フェノールノボラック樹脂、溶剤等よりなる。ナフトキ
ノンジアジドは、紫外線の照射によって分解し、アルカ
リ可溶性のカルボン酸誘導体となり、無機・有機のアル
カリ水溶液に溶解する。この光反応現象を利用して、レ
ジスト層に微細なピットを形成することができる。
The composition of the positive resist is composed of a quinonediazide photodecomposing agent (naphthoquinonediazide derivative or the like), a phenol novolac resin, a solvent and the like. Naphthoquinonediazide is decomposed by irradiation of ultraviolet rays to become an alkali-soluble carboxylic acid derivative, which is dissolved in an inorganic / organic alkaline aqueous solution. By utilizing this photoreaction phenomenon, fine pits can be formed in the resist layer.

【0071】レジスト塗布工程を実行するに際しては、
図14に示すような塗布装置を用いる。この塗布装置
は、原板設置手段111と塗布手段112とから構成さ
れている。上記原板設置手段111は、ターンテーブル
121が主軸122を介して基板123に回転可能に設
置され、主軸122と基板123の下部に設けられたカ
ップリング124とによりターンテーブル121が駆動
モータ125に連結され、この駆動モータ125が当該
駆動モータ125の速度を制御する速度制御回路129
を介して速度設定器130と接続されて構成されてい
る。
When performing the resist coating step,
A coating device as shown in FIG. 14 is used. This coating apparatus is composed of a master plate setting means 111 and a coating means 112. In the original plate setting means 111, a turntable 121 is rotatably installed on a substrate 123 via a main shaft 122, and the turntable 121 is connected to a drive motor 125 by a main shaft 122 and a coupling 124 provided below the substrate 123. The drive motor 125 controls the speed of the drive motor 125.
It is configured to be connected to the speed setter 130 via.

【0072】また、上記レジスト塗布手段112は、原
板設置手段111の上部に設けられており、密着補強剤
及びフォトレジストを供給する密着補強剤ノズル126
及びレジストノズル127から構成されている。
Further, the resist coating means 112 is provided above the original plate setting means 111, and the adhesion reinforcing agent nozzle 126 for supplying the adhesion reinforcing agent and the photoresist.
And a resist nozzle 127.

【0073】上記塗布装置を用いてフォトレジストの塗
布を行うには、図15に示すように、先ず原板設置手段
111のターンテーブル121上にガラス原板2を載置
固定し、駆動モータ125の駆動によりガラス原板2を
所定の低速回転速度で回転させながら密着補強剤ノズル
126から密着補強剤を吐出してガラス原板2の表面に
密着補強剤を塗布する(密着補強剤塗布過程)。
In order to apply the photoresist using the above coating apparatus, as shown in FIG. 15, first, the glass original plate 2 is placed and fixed on the turntable 121 of the original plate setting means 111, and the drive motor 125 is driven. Thus, the adhesion reinforcing agent is discharged from the adhesion reinforcing agent nozzle 126 while rotating the glass original plate 2 at a predetermined low rotation speed to apply the adhesion reinforcing agent to the surface of the glass original plate 2 (adhesion reinforcing agent applying process).

【0074】次いで、密着補強剤をガラス原板2の表面
に均一に塗布するために、ターンテーブル121の回転
速度を増大させ、所定の中速回転速度でガラス原板2を
回転させながら密着補強剤の振り切りを行う(振り切り
過程)。その後、ガラス原板2の表面に塗布された密着
補強剤を乾燥させるために、ターンテーブル121の回
転速度を更に増大させ、所定の高速回転速度でガラス原
板2を回転させる(乾燥過程)。
Next, in order to uniformly apply the adhesion reinforcing agent to the surface of the glass original plate 2, the rotation speed of the turntable 121 is increased, and the adhesion reinforcing agent of the adhesion reinforcing agent is increased while rotating the glass original plate 2 at a predetermined medium speed. Shake off (shaking off process). Then, in order to dry the adhesion reinforcing agent applied to the surface of the glass original plate 2, the rotation speed of the turntable 121 is further increased and the glass original plate 2 is rotated at a predetermined high rotation speed (drying process).

【0075】そして、ターンテーブル121の回転速度
を低下させて所定の低速回転速度でガラス原板2を回転
させながら、レジストノズル127からフォトレジスト
を吐出してガラス原板2の表面にフォトレジストを塗布
する(レジスト塗布過程)。
Then, while lowering the rotation speed of the turntable 121 to rotate the glass base plate 2 at a predetermined low rotation speed, the photoresist is discharged from the resist nozzle 127 to apply the photoresist to the surface of the glass base plate 2. (Resist coating process).

【0076】その後、レジスト層の表面に所定のピット
を形成する際に必要な規定の寸法形状を得るために、タ
ーンテーブル121の回転速度を増大させ、所定の中速
回転速度でガラス原板2を回転させながらレジスト層の
膜厚を調整する(振り切り過程)。
Thereafter, in order to obtain the prescribed size and shape required for forming a predetermined pit on the surface of the resist layer, the rotation speed of the turntable 121 is increased, and the original glass plate 2 is moved at a predetermined medium rotation speed. The thickness of the resist layer is adjusted while rotating (shaking process).

【0077】そして、ガラス原板2の表面に塗布された
フォトレジストを乾燥させるために、ターンテーブル1
21の回転速度を更に増大させ、所定の高速回転速度で
ガラス原板2を回転させて所望のレジスト層を形成する
(乾燥過程)。
Then, in order to dry the photoresist applied on the surface of the original glass plate 2, the turntable 1
The rotation speed of 21 is further increased, and the original glass plate 2 is rotated at a predetermined high rotation speed to form a desired resist layer (drying process).

【0078】次いで、上記ガラス原板に熱処理を施して
当該ガラス原板表面のレジスト層の安定化を図り(ベー
キング工程)、当該レジスト層に欠陥が存するか否かを
調べ、レジスト層の厚みを測定(欠陥検査・レジスト厚
測定工程)した後、当該レジスト層に対してレーザ記録
装置等を用いて所定の潜像を形成する(カッティング工
程)。
Next, the glass base plate is heat-treated to stabilize the resist layer on the surface of the glass base plate (baking step), it is checked whether or not there is a defect in the resist layer, and the thickness of the resist layer is measured ( After the defect inspection / resist thickness measurement step), a predetermined latent image is formed on the resist layer using a laser recording device or the like (cutting step).

【0079】次に、上記ガラス原板にガラスマスタ工程
を施す。先ず、潜像が形成された上記レジスト層に現像
を施すことにより当該レジスト層上に凹凸のレリーフパ
ターンを顕在化させる(現像工程)。一般に、レジスト
の感度はその製造ロットや塗布・乾燥の条件、温湿度、
及び現像液等の多くの因子によって大幅に影響を受け、
これが光ディスクの再生信号に影響する。したがって、
潜像形成時の露光量の変動も含めて、現像の進行をモニ
ターすることによって現像の終端を制御し、上記の変動
因子を吸収することが望ましい。
Then, the glass master plate is subjected to a glass master process. First, the resist layer on which the latent image is formed is developed to reveal the relief pattern of unevenness on the resist layer (developing step). Generally, the sensitivity of a resist depends on its manufacturing lot, coating and drying conditions, temperature and humidity,
And greatly affected by many factors such as developer,
This affects the reproduction signal of the optical disc. Therefore,
It is desirable to control the end of development by monitoring the progress of development, including fluctuations in the amount of exposure during latent image formation, and to absorb the above-mentioned fluctuation factors.

【0080】この現像工程を実行するに際しては、図1
6に示すような現像処理装置を用いる。この現像処理装
置は、原板設置手段131と前処理手段132、及び光
検出手段133とから構成されている。
In carrying out this developing step, FIG.
A development processing apparatus as shown in 6 is used. This developing processing apparatus is composed of an original plate setting means 131, a preprocessing means 132, and a light detecting means 133.

【0081】上記原板設置手段131は、ターンテーブ
ル141が主軸142を介して基板143に回転可能に
設置され、主軸142と基板143の下部に設けられた
カップリング144とによりターンテーブル21が駆動
モータ145に連結され、この駆動モータ145が当該
駆動モータ145の速度を制御する速度制御回路146
を介して速度設定器147と接続されて構成されてい
る。
In the original plate setting means 131, the turntable 141 is rotatably installed on the substrate 143 via the main shaft 142, and the turntable 21 is driven by the main shaft 142 and the coupling 144 provided under the substrate 143. A speed control circuit 146 that is connected to the drive motor 145 and controls the speed of the drive motor 145.
It is configured to be connected to the speed setter 147 via.

【0082】上記前処理手段132は、原板設置手段1
31の上部に設けられており、純水を供給する純水ノズ
ル148と、現像液を供給する現像ノズル149がそれ
ぞれ設けられて構成されている。ここで、上記現像液と
しては、メタケイ酸ナトリウム等の無機アルカリ系のも
のが使用される。
The pretreatment means 132 is the original plate setting means 1
A pure water nozzle 148 for supplying pure water and a developing nozzle 149 for supplying a developing solution are provided on the upper part of the reference numeral 31, respectively. Here, as the developer, an inorganic alkali type such as sodium metasilicate is used.

【0083】また、上記光検出手段133は、半導体レ
ーザ光等のレーザ光をガラス原板32の表面に照射する
ためのレーザ照射部151と、ガラス原板2の表面に照
射されたレーザ光の0次及び1次の回折光をそれぞれ検
出するためのフォトディテクタ152,153とから構
成されている 上記現像処理装置を用いて現像工程を実行するには、図
17に示すように、先ず原板設置手段131のターンテ
ーブル141上にガラス原板2を載置固定し、駆動モー
タ145の駆動によりガラス原板2を所定の低速回転速
度で回転させながら純水ノズル148から純水を吐出し
てレジスト層の表面を洗浄する(水洗過程P1)。
Further, the light detecting means 133 has a laser irradiating section 151 for irradiating the surface of the glass original plate 32 with a laser beam such as a semiconductor laser beam, and a zero order of the laser beam irradiating the surface of the glass original plate 2. In order to execute the developing process using the above-mentioned developing processing apparatus, which is composed of photodetectors 152 and 153 for detecting the first-order diffracted light and the first-order diffracted light, respectively, as shown in FIG. The original glass plate 2 is placed and fixed on the turntable 141, and pure water is discharged from the pure water nozzle 148 while rotating the original glass plate 2 at a predetermined low rotation speed by driving the drive motor 145 to clean the surface of the resist layer. (Washing process P1).

【0084】次に、ターンテーブル141の回転速度を
増大させ、所定の中速回転速度でガラス原板2を回転さ
せながら、現像ノズル149から現像液を吐出してレジ
スト層表面に塗布する(現像過程P2)。このとき、レ
ーザ照射部151からレーザ光をガラス原板2の表面に
照射させ、この照射されたレーザ光の0次及び1次の回
折光をフォトディテクタ152,153によりそれぞれ
検出する。このフォトディテクタ153により検出され
た1次の回折光の光量を電圧値でモニターすることによ
り所要の現像時間を決定する。
Next, the rotation speed of the turntable 141 is increased, and while the glass base plate 2 is rotated at a predetermined medium speed, a developing solution is discharged from the developing nozzle 149 and applied on the surface of the resist layer (developing process). P2). At this time, the laser irradiation unit 151 irradiates the surface of the original glass plate 2 with laser light, and the photodetectors 152 and 153 detect the 0th-order and 1st-order diffracted light of the irradiated laser light, respectively. The required development time is determined by monitoring the light amount of the first-order diffracted light detected by the photodetector 153 with a voltage value.

【0085】次に、上記レジスト層表面に残存した現像
液及びレジスト溶解物を洗い落として現像の進行を停止
させるため、現像時間が決定されて現像液の吐出が停止
すると同時に、ターンテーブル141の回転速度を低速
に保ちながら純水ノズル148から純水を吐出してレジ
スト層の表面を洗浄する(水洗過程P3)。
Next, in order to wash off the developing solution and the resist dissolved material remaining on the surface of the resist layer to stop the progress of the developing, the developing time is determined and the discharging of the developing solution is stopped. At the same time, the turntable 141 is rotated. Pure water is discharged from the pure water nozzle 148 while maintaining the low speed to clean the surface of the resist layer (water washing process P3).

【0086】そして、ガラス原板2の信号形成面及び外
周コーナー部分に付着した純水を振り切るために、ター
ンテーブル141の回転速度を増大させて所定の高速回
転速度でガラス原板2を回転させて乾燥させる(振り切
り過程P4)。
Then, in order to shake off the pure water adhering to the signal forming surface and the outer peripheral corners of the original glass plate 2, the rotation speed of the turntable 141 is increased and the original glass plate 2 is rotated at a predetermined high rotational speed for drying. Allow (shake-off process P4).

【0087】続いて、上記レリーフパターンを金属原盤
へ転写するための電鋳を行うにはレジスト層表面の導体
化が必要であるため、無電解メッキ法の手法を用いて、
ニッケルのメッキを施す(メッキ工程)。
Subsequently, in order to perform electroforming for transferring the relief pattern to the metal master, it is necessary to make the surface of the resist layer a conductor. Therefore, the electroless plating method is used.
Apply nickel plating (plating process).

【0088】このメッキ工程においては、レジスト層表
面の導体化を行う無電解メッキ工程に先立って、上記レ
ジスト層の表面状態の改善及びメッキ析出の促進を図る
ために無電解メッキ前処理工程を行う。
In this plating step, an electroless plating pretreatment step is carried out prior to the electroless plating step for converting the resist layer surface into a conductor in order to improve the surface state of the resist layer and promote plating deposition. .

【0089】この無電解メッキ前処理工程を実行するに
際しては、図18に示すようなメッキ前処理装置を用い
る。このメッキ前処理装置は、原板設置手段161と前
処理手段162とから構成されている。
When carrying out this electroless plating pretreatment step, a plating pretreatment apparatus as shown in FIG. 18 is used. This plating pretreatment device is composed of an original plate setting means 161 and a pretreatment means 162.

【0090】上記原板設置手段161は、ターンテーブ
ル171が主軸172を介して基板173に回転可能に
設置され、主軸172と基板173の下部に設けられた
カップリング54とによりターンテーブル171が駆動
モータ175に連結され、この駆動モータ175が当該
駆動モータ175の速度を制御する速度制御回路56を
介して速度設定器177と接続されて構成されている。
In the original plate installation means 161, the turntable 171 is rotatably installed on the substrate 173 via the main shaft 172, and the main shaft 172 and the coupling 54 provided under the substrate 173 drive the turntable 171 to drive the motor. The drive motor 175 is connected to a speed setter 177 via a speed control circuit 56 for controlling the speed of the drive motor 175.

【0091】また、上記前処理手段162は、原板設置
手段161の上部に設けられており、純水を供給する純
水ノズル178と、サーフェクタント液を供給するサー
フェクタントノズル179と、キャタリスト液を供給す
るキャタリストノズル180と、アクセレータ液を供給
するアクセレータノズル181とがそれぞれ設けられて
構成されている。
The pretreatment means 162 is provided above the original plate setting means 161, and a pure water nozzle 178 for supplying pure water, a surfactant nozzle 179 for supplying a surfactant liquid, and a catalyst. A catalyst nozzle 180 for supplying the wrist liquid and an accelerator nozzle 181 for supplying the accelerator liquid are provided.

【0092】ここで、上記サーフェクタント液は、上記
レジスト層表面の濡れ性を向上させるための界面活性剤
であり、上記キャタリスト液は塩化第1パラジウムと塩
化第1スズがコロイド状とされた酸性溶液、上記アクセ
レータ液はパラジウムの吸着作用を促しニッケルメッキ
の析出を促進させるものであってブドウ糖等を主成分と
する溶液である。
Here, the surfactant liquid is a surfactant for improving the wettability of the resist layer surface, and the catalyst liquid is colloidal of stannous chloride and stannous chloride. The acidic solution, which is an accelerator solution, promotes the adsorption action of palladium and promotes the deposition of nickel plating, and is a solution containing glucose or the like as a main component.

【0093】上記メッキ前処理装置を用いて無電解メッ
キ前処理工程を実行するには、図19に示すように、先
ず原板設置手段161のターンテーブル171上にガラ
ス原板2を載置固定し、駆動モータ175の駆動により
ガラス原板2を所定の低速回転速度で回転させながら純
水ノズル178から純水を吐出してレジスト層の表面を
洗浄する(水洗過程Q1)。
In order to execute the electroless plating pretreatment process using the above-mentioned plating pretreatment apparatus, as shown in FIG. 19, first, the glass original plate 2 is placed and fixed on the turntable 171 of the original plate setting means 161. The surface of the resist layer is washed by discharging pure water from the pure water nozzle 178 while rotating the original glass plate 2 at a predetermined low rotation speed by driving the driving motor 175 (water washing process Q1).

【0094】次いで、ターンテーブル171の回転速度
を低速に保ちながらサーフェクタントノズル179から
サーフェクタント液を吐出してレジスト層表面に塗布
(サーフェクタント塗布過程Q2)した後、レジスト層
表面に残存した過剰なサーフェクタント液を除去するた
めに再度純水ノズル178から純水を吐出してレジスト
層の表面を洗浄する(水洗過程Q3)。
Next, while keeping the rotation speed of the turntable 171 low, the surfactant liquid is discharged from the surfactant nozzle 179 and applied on the resist layer surface (surfactant application process Q2), and then on the resist layer surface. In order to remove the remaining excess surfactant solution, pure water is again discharged from the pure water nozzle 178 to wash the surface of the resist layer (water washing process Q3).

【0095】次に、ターンテーブル171の回転速度を
低速に保ちながらキャタリストノズル180からキャタ
リスト液を吐出してレジスト層表面に塗布(キャタリス
ト塗布過程Q4)した後、レジスト層表面に残存した過
剰なキャタリスト液を除去するために再度純水ノズル1
78から純水を吐出してレジスト層の表面を洗浄する
(水洗過程Q5)。
Next, while the rotation speed of the turntable 171 was kept low, the catalyst liquid was discharged from the catalyst nozzle 180 and applied on the resist layer surface (catalyst applying process Q4), and then remained on the resist layer surface. Pure water nozzle 1 again to remove excess catalyst liquid
Pure water is discharged from 78 to wash the surface of the resist layer (water washing process Q5).

【0096】その後、同様にターンテーブル171の回
転速度を低速に保ちながらアクセレータノズル181か
らアクセレータ液を吐出してレジスト層表面に塗布(ア
クセレータ塗布過程Q6)した後、レジスト層表面に残
存した過剰なアクセレータ液を除去するために再度純水
ノズル178から純水を吐出してレジスト層の表面を洗
浄する(水洗過程Q7)。
Thereafter, similarly, while maintaining the rotation speed of the turntable 171 at a low speed, the accelerator liquid is discharged from the accelerator nozzle 181 to apply the accelerator liquid to the resist layer surface (accelerator applying step Q6), and then the excess residual liquid on the resist layer surface is left. In order to remove the accelerator liquid, pure water is again discharged from the pure water nozzle 178 to wash the surface of the resist layer (washing process Q7).

【0097】そして、次工程の無電解メッキ工程に用い
る後述のメッキ層に過剰な薬液が持ち込まれることを防
止してニッケル無電解溶液の寿命を保つために、ターン
テーブル171の回転速度を増大させ、所定の高速回転
速度でガラス原板178を回転させて上記薬液の振り切
りを行ってレジスト層表面を乾燥させる(振り切り過程
Q8)。
Then, the rotation speed of the turntable 171 is increased in order to prevent an excessive chemical solution from being brought into a plating layer to be described later used in the electroless plating step of the next step and to maintain the life of the nickel electroless solution. Then, the original glass plate 178 is rotated at a predetermined high rotation speed to shake off the chemical liquid to dry the resist layer surface (shaking process Q8).

【0098】次いで、上記の如く無電解メッキ前処理工
程が終了した後に、無電解メッキ工程を実行する。この
工程を行うに際しては、図20に示すようなメッキ処理
装置を用いる。このメッキ処理装置は、トランスファー
ユニット191、メッキ槽192、及びシャワー槽19
3から構成されている。
Then, the electroless plating step is performed after the electroless plating pretreatment step is completed as described above. When performing this step, a plating apparatus as shown in FIG. 20 is used. This plating apparatus includes a transfer unit 191, a plating tank 192, and a shower tank 19
It consists of three.

【0099】上記トランスファーユニット191は、そ
れぞれ直交するように設けられた一対の支軸201,2
02と、ガラス原板2が固定される原板支持部203と
から構成されている。
The transfer unit 191 has a pair of support shafts 201 and 2 provided so as to be orthogonal to each other.
02 and the original plate supporting portion 203 to which the glass original plate 2 is fixed.

【0100】ここで、上記原板支持部203は、その係
合部203aにて支軸202に図中矢印Zで示す上下方
向に移動自在に係合されており、他端の係合部203b
にガラス原板202が固定可能とされている。また、上
記支軸202は係合部201aにて支軸201に図中矢
印Xで示す左右方向に移動自在に係合されており、した
がって当該支軸202を介して原板支持部203もまた
左右方向に移動自在とされる。
Here, the original plate supporting portion 203 is engaged with the support shaft 202 by the engaging portion 203a thereof so as to be movable in the vertical direction indicated by the arrow Z in the drawing, and the engaging portion 203b at the other end.
The original glass plate 202 can be fixed to the. Further, the support shaft 202 is engaged with the support shaft 201 at the engaging portion 201a so as to be movable in the left-right direction indicated by the arrow X in the figure. Therefore, the original plate support portion 203 is also left-right via the support shaft 202. It is movable in any direction.

【0101】上記メッキ槽192は、上部が開口された
容器形状をなし、注ぎ込まれたニッケル無電解溶液(N
ED溶液)を加温するためのヒータ204が底部に設け
られ構成されている。ここで、上記ニッケル無電解溶液
は、金属塩である塩化ニッケル等を主成分とし、pH調
整剤、緩衝剤、錯化剤、促進剤、安定剤、及び改良剤と
を補助成分とした溶液である。この補助成分は、当該ニ
ッケル無電解溶液の寿命を長くしたり還元剤の効率を向
上させたりする働きをする。
The plating bath 192 has the shape of a container with an open top, and is filled with nickel electroless solution (N
A heater 204 for heating the ED solution) is provided and configured at the bottom. Here, the nickel electroless solution is a solution containing nickel chloride, which is a metal salt, as a main component, and a pH adjusting agent, a buffering agent, a complexing agent, an accelerator, a stabilizer, and an improving agent as auxiliary components. is there. This auxiliary component serves to prolong the life of the nickel electroless solution and improve the efficiency of the reducing agent.

【0102】上記シャワー槽193は、メッキ槽207
と並列して設けられており、その側部には純水供給手段
205が設けられ構成されている。この純水供給手段2
05は、複数のシャワーノズル206を有し、当該シャ
ワーノズル206がシャワー槽193の側部に係合して
いる。当該純水供給手段205により当該シャワー槽1
93内に純水がシャワー状に供給される。
The shower bath 193 is the plating bath 207.
And the deionized water supply means 205 is provided on the side thereof. This pure water supply means 2
05 has a plurality of shower nozzles 206, and the shower nozzles 206 are engaged with the side portions of the shower tub 193. With the pure water supply means 205, the shower tank 1
Pure water is supplied into 93 in the form of a shower.

【0103】上記メッキ処理装置を用いて無電解メッキ
工程を実行するには、図21に示すように、先ず原板支
持部203の係合部203bにガラス原板2を固定しト
ランスファーユニット191により当該ガラス原板2を
シャワー槽193内に搬送して、純水供給手段205に
より純水をこのガラス原板2の表面に噴出させて洗浄す
る(水洗過程R1)。
To carry out the electroless plating process using the above plating apparatus, as shown in FIG. 21, first, the glass original plate 2 is fixed to the engaging portion 203b of the original plate supporting portion 203 and the glass is transferred by the transfer unit 191. The original plate 2 is conveyed into the shower tank 193, and pure water is jetted by the pure water supply means 205 onto the surface of the glass original plate 2 for cleaning (water washing process R1).

【0104】次いで、トランスファーユニット71によ
りガラス原板2をpH及び温度の管理されたニッケル無
電解溶液(NED溶液)が注ぎ込まれたメッキ槽192
内に搬送して、当該ガラス原板2をニッケル無電解溶液
内に浸漬させてニッケルをレジスト層上に析出させてメ
ッキ膜を形成する(ニッケル無電解溶液浸漬(NED浸
漬)過程R2)。このとき、トランスファーユニット1
91によりガラス原板2をニッケル無電解溶液内で上下
に繰り返し揺動させ、化学反応により発生する気泡がレ
ジスト層表面に付着することを防止する。
Next, the plating tank 192 in which the glass original plate 2 was poured with a nickel electroless solution (NED solution) whose pH and temperature were controlled by the transfer unit 71.
The glass original plate 2 is transported to the inside and immersed in a nickel electroless solution to deposit nickel on the resist layer to form a plating film (nickel electroless solution immersion (NED immersion) step R2). At this time, the transfer unit 1
The original glass plate 2 is repeatedly swung up and down in the nickel electroless solution by 91 to prevent bubbles generated by a chemical reaction from adhering to the resist layer surface.

【0105】その後、上記と同様にトランスファーユニ
ット191により当該ガラス原板2をシャワー槽193
内に搬送して、純水供給手段205により純水をこのガ
ラス原板2の表面に噴出させて洗浄し(水洗過程R
3)、レジスト層表面に生じた乾燥シミや、ニッケル無
電解溶液の液面に浮遊してレジスト層表面に付着した異
物を除去する。
After that, the glass original plate 2 is showered by the transfer unit 191 as in the above.
Then, the pure water is supplied to the surface of the original glass plate 2 by the pure water supply means 205 to wash it (washing process R
3) The dry spots on the surface of the resist layer and foreign substances floating on the surface of the nickel electroless solution and adhering to the surface of the resist layer are removed.

【0106】そして、上記水洗過程後の乾燥により生じ
がちな乾燥シミの発生を防止するためにトランスファー
ユニット71によりガラス原板2を支持した状態にて静
止させて乾燥を行う(乾燥過程R4)。
Then, in order to prevent the occurrence of dry spots which are likely to occur due to the drying after the above washing process, the glass unit 2 is held still by the transfer unit 71 while being dried (drying process R4).

【0107】そして、上記のメッキ工程が終了した後
に、導体化されたレジスト層の表面を陰極としニッケル
を陽極としてスルファミン酸ニッケル浴中で通電させて
ガラス原板上に金属ニッケルを析出させる(電鋳工
程)。そして、金属ニッケル膜が0.3mm程度の厚み
となるまで電鋳を継続した後、上記ガラス原板から当該
金属ニッケル膜を剥離することにより、ニッケルマスタ
ーを作製し、さらに転写することによりマザーを経て金
属原盤(スタンパ)が完成する(スタンパ剥離工程)。
その後、上記の如く、金属原盤の作製後に上記ガラス原
板は再度金属原盤の作製に供されることになる。
After the above plating process is completed, the surface of the conductive resist layer is used as a cathode and nickel is used as an anode in a nickel sulfamate bath to conduct current to deposit metallic nickel on the glass original plate (electroforming). Process). Then, after electroforming is continued until the thickness of the metal nickel film is about 0.3 mm, the metal nickel film is peeled off from the glass original plate to prepare a nickel master, and further transferred to pass through the mother. A metal master (stamper) is completed (stamper peeling process).
After that, as described above, after the metal master is manufactured, the glass master plate is again used for manufacturing the metal master.

【0108】その後、上記原盤作製プロセスが終了して
金属原盤が作製された後、ディスク化プロセスにおいて
各光ディスクが製造される。
Then, after the above-described master disk manufacturing process is completed and a metal master disk is manufactured, each optical disk is manufactured in a disk forming process.

【0109】ここで、上記原盤作製プロセスにおいて、
各工程にて何等かの作業不良が発生した場合について説
明する。
Here, in the above-described master disc manufacturing process,
A case in which some work defect occurs in each process will be described.

【0110】先ず、ポリシング及び洗浄工程、レジスト
塗布工程、及びガラスマスタ工程を除いた、原盤作製プ
ロセスの前プロセスである再生処理プロセス、ベーキン
グ工程、欠陥検査・レジスト厚測定工程及びカッティン
グ工程、電鋳工程、及びスタンパ剥離工程の各工程につ
いては、各工程中或はその工程が終了した後に作業不良
が発生したと判定されると、この不良ガラス原板はクリ
ーントンネル内にて次工程を行う部屋へ搬送手段により
搬送されるが、その処理を受けることなく更に次工程へ
と順次搬送されて再び再生処理手段1へ送られ、再生処
理プロセスに再度供されることになる。
First, except for the polishing and cleaning steps, the resist coating step, and the glass master step, a reprocessing process which is a pre-process of the master disk manufacturing process, a baking process, a defect inspection / resist thickness measuring process and a cutting process, and an electroforming process. For each step of the process and the stamper peeling process, if it is determined that a work defect has occurred during each process or after the process ends, this defective glass original plate is sent to the room where the next process is performed in the clean tunnel. Although it is carried by the carrying means, it is carried to the next step without being subjected to the treatment, is sent again to the regeneration processing means 1, and is again provided for the regeneration processing process.

【0111】そして、ポリシング工程及び洗浄工程につ
いては、当該ポリシング工程の実行中に何等かの作業不
良が発生した場合、図22に示すように、割込みが開始
されて先ずガラス原板2の処理が中止される。このと
き、当該ガラス原板2が不良品であると判断され、処理
装置のトラブルリセットを行った後、当該処理装置を再
起動させて図8に示すHの作業から再び当該ポリシング
及び洗浄工程を実行する。
In the polishing step and the cleaning step, if any work failure occurs during the execution of the polishing step, as shown in FIG. 22, an interrupt is started and the processing of the glass original plate 2 is stopped first. To be done. At this time, it is determined that the original glass plate 2 is defective, the trouble of the processing apparatus is reset, the processing apparatus is restarted, and the polishing and cleaning steps are performed again from the work of H shown in FIG. To do.

【0112】なお、上記作業不良としては、例えば以下
に示すことが考えられる。
The following work defects may be considered as the following:

【0113】(1)処理中に、ユーザが処理装置の非常
停止スイッチを押して作業を中断させた。
(1) During processing, the user interrupts the work by pressing the emergency stop switch of the processing apparatus.

【0114】(2)処理中に、研磨材や純水の不足が生
じた。
(2) During the treatment, a shortage of abrasive and pure water occurred.

【0115】(3)処理中に、超音波発振やスクラブ作
業、及び純水の供給が停止した。
(3) During the processing, ultrasonic oscillation, scrubbing, and supply of pure water were stopped.

【0116】(4)処理装置のアクチュエータに不具合
が発生した。
(4) A defect has occurred in the actuator of the processing device.

【0117】(5)処理装置の戸が開放してしまいクリ
ーン度が低下した。
(5) The door of the processing device is opened, and the cleanliness is lowered.

【0118】一方、当該ポリシング及び洗浄工程におけ
る主要作業が終了した後、何等かの原因により研磨洗浄
機構の作動が停止して上記ガラス原板2がある一定時間
以上放置された場合においても、上記と同様に、当該ガ
ラス原板2が不良品であると判断され、研磨洗浄機構の
トラブルリセットを行った後、当該研磨洗浄機構を再起
動させて再びポリシング処理から実行する。
On the other hand, even when the operation of the polishing / cleaning mechanism is stopped for some reason after the main work in the polishing and cleaning steps is finished and the original glass plate 2 is left for a certain time or more, Similarly, after the glass original plate 2 is determined to be defective, the trouble of the polishing / cleaning mechanism is reset, the polishing / cleaning mechanism is restarted, and the polishing process is performed again.

【0119】すなわち、先ず超音波洗浄過程T5の実行
に際して、超音波洗浄の実行後、上記部屋13(レジス
ト塗布工程)にガラス原板2が存する場合、ウルトラソ
ニックアーム91の揺動と純水の吐出を続ける(この作
業をSと称する)一方、上記ガラス原板2がある一定時
間(x分と記す)以上放置されたか否かを判断する。x
分が経過したと判断されると、NGフラグを立て、乾燥
過程T6の終了後、図8に示すGの作業から再び当該ポ
リシング及び洗浄工程を実行する。経過時間がx分に満
たないものと判断されると、ウルトラソニックアーム9
1の揺動と純水の吐出は継続される。
That is, first, when the ultrasonic cleaning step T5 is performed, when the original glass plate 2 is present in the chamber 13 (resist coating step) after the ultrasonic cleaning is performed, the ultrasonic arm 91 is swung and pure water is discharged. On the other hand, while continuing the operation (this work is referred to as S), it is determined whether or not the glass original plate 2 has been left for a certain period of time (denoted as x minutes) or more. x
When it is determined that the minutes have passed, the NG flag is set, and after the drying process T6 is completed, the polishing and cleaning processes are performed again from the operation G shown in FIG. If it is judged that the elapsed time is less than x minutes, the Ultrasonic Arm 9
The oscillation of 1 and the discharge of pure water are continued.

【0120】の揺動から開始される。It starts from the rocking of.

【0121】また、乾燥過程T6が終了してターンテー
ブル41が停止した後に、Sにおいて研磨洗浄機構の作
動停止及び再起動の指令が出た場合、上記ガラス原板2
がある一定時間(y分と記す)以上放置されたか否かを
判断する。y分が経過したと判断されると、図8に示す
Gの作業から再び当該ポリシング及び洗浄工程を実行
し、経過時間がy分に満たないものと判断されると、そ
のまま上記部屋12のシャッタ12aが開き、ガラス原
板2は次工程であるレジスト塗布工程へ搬送される。
Further, after the drying process T6 is finished and the turntable 41 is stopped, when the operation stop and restart commands of the polishing and cleaning mechanism are issued in S, the glass base plate 2
It is determined whether or not it has been left for a certain period of time (denoted as y minutes) or more. When it is determined that y minutes have passed, the polishing and cleaning steps are performed again from the work of G shown in FIG. 8, and when it is determined that the elapsed time is less than y minutes, the shutter of the room 12 is left as it is. 12a is opened, and the original glass plate 2 is conveyed to the resist coating step which is the next step.

【0122】Sにおいて研磨洗浄機構の作動停止の指令
が出なかった場合、NGフラグが立っていればGの作業
から再び当該ポリシング及び洗浄工程を実行し、NGフ
ラグが立たないときはそのまま上記部屋12のシャッタ
12aが開き、ガラス原板2は次工程へ搬送される。
If the command to stop the operation of the polishing / cleaning mechanism is not issued in S, if the NG flag is set, the polishing and cleaning steps are executed again from the work of G, and if the NG flag is not set, the above room is left as it is. The shutter 12a of 12 opens, and the original glass plate 2 is conveyed to the next process.

【0123】ポリシング処理が終了した後に、所定の一
定時間以上ガラス原板2が放置されると、当該ガラス原
板表面の研磨材が固化してしまうために、洗浄処理にお
いて上記研磨材を除去することが不可能となる。さら
に、ガラス原板2にはポリシング処理の終了後の放置に
よりその表面に微妙な物理的或は化学的変化が生じがち
である。このような変化が生じると、ポリシング及び洗
浄工程の次工程であるレジスト塗布工程において、ガラ
ス原板2の表面に塗布形成されるレジスト層の膜厚及び
密着性が大幅に劣化することになる。
If the glass original plate 2 is left for a predetermined time or more after the polishing process is completed, the abrasive material on the surface of the glass original plate is solidified. Therefore, the abrasive material may be removed in the cleaning process. It will be impossible. Further, the glass original plate 2 tends to have a delicate physical or chemical change on its surface when left untreated after the polishing process. If such a change occurs, the film thickness and the adhesiveness of the resist layer applied and formed on the surface of the glass original plate 2 will be significantly deteriorated in the resist applying step, which is a step subsequent to the polishing and cleaning steps.

【0124】そこで、上記のように一定時間以上ガラス
原板2が放置されたときに、当該ガラス原板2に作業不
良が発生したものと判断することが極めて妥当であると
考えられ、その後、再びポリシング処理から実行するこ
とにより、上記ガラス原板2の表面状態が回復すること
になる。
Therefore, it is considered very appropriate to judge that a work defect has occurred in the glass original plate 2 when the glass original plate 2 is left for a certain period of time as described above, and then polishing is performed again. By executing from the processing, the surface state of the glass original plate 2 is recovered.

【0125】また、洗浄処理が終了した後に、所定の一
定時間以上ガラス原板2が放置されると、次工程におい
てレジストを塗布した際に形成されたレジスト層の密着
力の著しい低下が引き起こされる。さらに、上記ガラス
原板2は洗浄処理の終了後の放置によりその温度及びい
わゆる濡れ性が変化して、レジスト層の膜厚に変化が生
じる。
If the original glass plate 2 is left for a predetermined period of time after the cleaning process is completed, the adhesive force of the resist layer formed when the resist is applied in the next step is significantly reduced. Further, the temperature and so-called wettability of the original glass plate 2 are changed by leaving it after the cleaning process is finished, and the film thickness of the resist layer is changed.

【0126】そこで、上記のように一定時間以上ガラス
原板2が放置されたときに、当該ガラス原板2に作業不
良が発生したものと判断することが極めて妥当であると
考えられ、その後、再びポリシング処理から実行するこ
とにより、ガラス原板2の表面状態が回復することにな
る。
Therefore, it is considered very appropriate to judge that a work defect has occurred in the glass base plate 2 when the glass base plate 2 is left for a certain period of time as described above, and then polishing is performed again. By performing the processing from the processing, the surface state of the original glass plate 2 is recovered.

【0127】また、レジスト塗布工程については、図2
3に示すように、当該レジスト塗布工程の実行中に何等
かの作業不良が発生した場合、先ずガラス原板の処理が
中止される。なお、上記作業不良としては、例えば以下
に示すことが考えられる。
Regarding the resist coating process, FIG.
As shown in FIG. 3, when some work failure occurs during the execution of the resist coating process, first, the processing of the original glass plate is stopped. Note that, as the above-mentioned work failure, the following may be considered, for example.

【0128】(1)処理中に、ユーザが処理装置の非常
停止スイッチを押して作業を中断させた。
(1) During processing, the user interrupts the work by pressing the emergency stop switch of the processing apparatus.

【0129】(2)処理中に、フォトレジストや密着補
強剤の不足が生じた。
(2) During processing, a shortage of photoresist and adhesion enhancer occurred.

【0130】(3)クリーントンネル内の排気不良その
他のユーティリティの異常が発生した。
(3) Exhaust defects in the clean tunnel and other utility abnormalities occurred.

【0131】(4)処理装置のアクチュエータに不具合
が発生した。
(4) A defect has occurred in the actuator of the processing device.

【0132】(5)処理装置の戸が開放してしまいクリ
ーン度が低下した。
(5) The door of the processing device is opened, and the cleanliness is lowered.

【0133】そして、処理装置(クリーントンネル内の
部屋13に設置された上記塗布装置等)のトラブルリセ
ットを行った後、当該処理装置を再起動させて、不良後
処理工程を実行する。この不良後処理工程においては、
原板設置手段111のターンテーブル121上に載置固
定された不良ガラス原板を高速回転させることにより不
良ガラス原板に残存したフォトレジスト及び密着補強剤
を振り切り除去した後、当該不良ガラス原板を乾燥させ
る。
After performing a trouble reset on the processing apparatus (the above-mentioned coating apparatus installed in the room 13 in the clean tunnel), the processing apparatus is restarted and the defective post-processing step is executed. In this defective post-treatment process,
The defective glass original plate mounted and fixed on the turntable 121 of the original plate setting means 111 is rotated at a high speed to shake off the photoresist and the adhesion reinforcing agent remaining on the defective glass original plate, and then the defective glass original plate is dried.

【0134】このとき、当該ガラス原板が不良品である
と判断され、この不良ガラス原板はクリーントンネル内
にて次工程であるベーキング工程を施す部屋14へ搬送
手段により搬送されるが、ベーキング工程の処理を受け
ることなく更に次工程へと順次搬送されて再び再生処理
手段11へ送られ、再生処理プロセスに再度供されるこ
とになる。
At this time, it is determined that the glass original plate is defective, and the defective glass original plate is conveyed by the conveying means to the chamber 14 for carrying out the baking step which is the next step in the clean tunnel. Without being processed, it is further transported to the next step in sequence and sent again to the regeneration processing means 11 to be reused in the regeneration processing process.

【0135】このように、本実施例においては、原盤作
製プロセスのレジスト塗布工程の実行中に不良が発生し
たときに、不良ガラス原板に残存したフォトレジスト及
び密着補強剤を振り切り除去して当該不良ガラス原板を
乾燥させた後、不良ガラス原板を再度再生処理プロセス
に供する。したがって、不良ガラス原板にフォトレジス
ト及び密着補強剤が十分に除去された状態でフォトレジ
スト及び密着補強剤が周囲に付着することなく再生処理
手段11に不良ガラス原板が搬送されることになる。
As described above, in the present embodiment, when a defect occurs during the execution of the resist coating process in the master disk manufacturing process, the photoresist and the adhesion reinforcing agent remaining on the defective glass master plate are removed by shaking off the defect. After drying the glass original plate, the defective glass original plate is again subjected to the reprocessing process. Therefore, the defective glass original plate is conveyed to the regeneration processing means 11 without the photoresist and the adhesion reinforcing agent being adhered to the surroundings in a state where the photoresist and the adhesion reinforcing agent are sufficiently removed from the defective glass original plate.

【0136】また、上記ガラスマスタ工程においては、
図24及び図25に示すように、その各工程にて不良が
発生したときに、不良ガラス原板を洗浄し乾燥させた後
に再度原盤作製プロセスの初期工程である再生処理工程
に供する。
In the glass master process,
As shown in FIGS. 24 and 25, when a defect occurs in each step, the defective glass original plate is washed and dried, and then again subjected to the reprocessing step which is the initial step of the original plate manufacturing process.

【0137】すなわち、図24に示すように、先ず現像
工程の実行に際して、処理中に何等かの作業不良が発生
した場合には、処理の進行を停止させて処理装置の再起
動の指示が出た後に、当該ガラス原板2に水洗過程P3
及び振り切り過程P4を施す。そして、ガラス原板2が
不良ガラス原板であると判断されてポリシング工程及び
洗浄工程を除く他工程と同様にである原盤作製プロセス
の前プロセスである再生処理プロセスに戻って再度処理
される。
That is, as shown in FIG. 24, first, in the execution of the developing process, if any work defect occurs during the processing, the progress of the processing is stopped and an instruction to restart the processing apparatus is issued. After that, the glass master plate 2 is washed with water P3.
And the shake-off process P4 is performed. Then, the original glass plate 2 is judged to be a defective original glass plate, and is returned to the reprocessing process which is a pre-process of the original plate manufacturing process which is the same as the other processes except the polishing process and the cleaning process, and is processed again.

【0138】したがって、ガラス原板2は処理装置内を
薬液等により汚染することなく搬送され、初期と同様の
状態で再度再生処理プロセスに供されることになる。
Therefore, the original glass plate 2 is conveyed without being contaminated with the chemical solution or the like in the processing apparatus, and is again subjected to the recycling processing process in the same state as the initial state.

【0139】また、図24に示すように、現像工程が正
常に終了した後に、上記メッキ工程において、先ず無電
解メッキ前処理工程の実行に際し、処理中に何等かの作
業不良が発生した場合にも、現像工程の場合と同様の処
置が施される。すなわち、ガラス原板2に水洗過程Q7
及び振り切り過程Q8を施した後に、ポリシング及び洗
浄工程を除く他工程と同様に再生処理プロセスに戻って
再度処理される。
Further, as shown in FIG. 24, after the development process is normally completed, in the plating process, when the electroless plating pretreatment process is first performed, when some work defect occurs during the process, Also, the same treatment as in the developing step is performed. That is, the glass master plate 2 is washed with water Q7.
After performing the shake-off process Q8, the process is returned to the regeneration process and processed again in the same manner as the other processes except the polishing and cleaning processes.

【0140】したがって、ガラス原板2は処理装置内を
薬液等により汚染することなく搬送され、初期と同様の
状態で再度再生処理プロセスに供されることになる。
Therefore, the original glass plate 2 is transported without being contaminated in the processing apparatus by a chemical solution or the like, and is again subjected to the reprocessing process in the same state as in the initial state.

【0141】なお、上記作業不良としては、例えば以下
に示すことが考えられる。
Note that, as the above-mentioned work failure, the following may be considered, for example.

【0142】(1)処理中に、ユーザが処理装置の非常
停止スイッチを押して作業を中断させた。
(1) During the process, the user interrupts the work by pressing the emergency stop switch of the processor.

【0143】(2)処理中に、各種薬液の不足が生じ
た。
(2) A shortage of various chemicals occurred during the treatment.

【0144】(3)処理装置のアクチュエータに不具合
が発生した。
(3) A defect has occurred in the actuator of the processing device.

【0145】(4)処理装置の戸が開放してしまいクリ
ーン度が低下した。
(4) The door of the processing device was opened, and the cleanliness was lowered.

【0146】一方、無電解メッキ前処理工程が終了した
後に、所定の一定時間(図25中、α分と記す)以上上
記ガラス原板2が放置された場合には、そのときまでに
繰り返し実行された無電解メッキ前処理工程の延べ回数
に1を加えた回数を算出(図24中、N=N+1と記
す)し、当該ガラス原板2が不良ガラス原板であると判
定して、再度無電解メッキ前処理工程に供する。
On the other hand, after the pretreatment step of the electroless plating is completed, when the glass original plate 2 is left for a predetermined fixed time (denoted by α in FIG. 25) for a predetermined period of time, it is repeated until that time. The total number of times of the pretreatment process for electroless plating was calculated by adding 1 to the total number of pretreatment steps (denoted as N = N + 1 in FIG. 24), the glass base plate 2 was determined to be a defective glass base plate, and electroless plating was performed again Subject to the pretreatment process.

【0147】また、無電解メッキ前処理工程が終了した
後に、所定の一定時間以上上記ガラス原板2が放置され
なかった場合(すなわち、放置時間がα分より小である
場合)には、ガラス原板2に無電解メッキ前処理工程が
無事に施されたものとして(図24中、OKと記す)、
次工程である無電解メッキ工程へ進む。
Further, when the glass base plate 2 is not left for a predetermined period of time or more (that is, when the leaving time is less than α minutes) after the completion of the electroless plating pretreatment step, the glass base plate is Assuming that the pretreatment process for electroless plating was successfully performed on No. 2 (indicated as OK in FIG. 24),
Proceed to the next step, the electroless plating step.

【0148】このように、無電解メッキ前処理工程の終
了後、ガラス原板2が放置されると、当該ガラス原板2
の表面に乾燥ムラが発生し、次工程の無電解メッキ工程
においてニッケルメッキ膜の析出反応速度に局所的な変
化が生じて不均一にニッケルメッキ膜が形成される。し
たがって、本実施例においては、無電解メッキ前処理工
程の終了後にガラス原板2が一定時間(α分)放置され
たときに、当該ガラス原板2が不良ガラス原板であると
判定し、再度無電解メッキ前処理工程に供することによ
り、無電解メッキ工程におけるガラス原板2のニッケル
メッキ膜の形成ムラが抑止され、無電解メッキ工程にお
ける作業不良が低減する。そのため、再度初期工程に回
帰させる割合が大幅に減少することになる。
In this way, when the glass base plate 2 is left to stand after the completion of the electroless plating pretreatment step, the glass base plate 2 is left to stand.
Unevenness occurs on the surface of the nickel plating film, and the deposition reaction rate of the nickel plating film locally changes in the subsequent electroless plating process to form the nickel plating film unevenly. Therefore, in this example, when the glass original plate 2 was left for a certain period of time (α minutes) after the completion of the electroless plating pretreatment step, it was determined that the glass original plate 2 was a defective glass original plate, and electroless plating was performed again. By applying the plating pretreatment step, uneven formation of the nickel plating film on the glass original plate 2 in the electroless plating step is suppressed, and the work failure in the electroless plating step is reduced. Therefore, the rate of returning to the initial process again is significantly reduced.

【0149】そして、次工程である無電解メッキ工程に
おいては、図25に示すように、無電解メッキ前処理工
程の繰り返された回数(N回)に応じて処理が異なる。
先ず、N=0、すなわち無電解メッキ前処理工程の施さ
れた回数が1回のみである場合には、ニッケル無電解溶
液浸漬過程におけるメッキ槽192中でのガラス原板2
の揺動回数をX回に設定する。それに対して、N≠0で
ある場合には、当該無電解メッキ工程における上記揺動
回数をNの算出値に応じて減少させる。
Then, in the electroless plating step which is the next step, as shown in FIG. 25, the treatment differs depending on the number of times (N times) the electroless plating pretreatment step is repeated.
First, when N = 0, that is, when the electroless plating pretreatment process is performed only once, the glass base plate 2 in the plating bath 192 in the nickel electroless solution dipping process is processed.
Set the number of swings of to X times. On the other hand, when N ≠ 0, the number of times of rocking in the electroless plating step is reduced according to the calculated value of N.

【0150】すなわち、当該工程における上記揺動回数
Yは、kを係数として、以下の(1)式で示される。
That is, the number of swings Y in the process is expressed by the following equation (1) with k as a coefficient.

【0151】Y=X−kN ・・・(1) したがって、当該工程においては、無電解メッキ前処理
工程の繰り返された回数に応じてガラス原板2のニッケ
ル無電解溶液への浸漬時間を減少させることになる。
Y = X−kN (1) Therefore, in this step, the immersion time of the glass original plate 2 in the nickel electroless solution is reduced according to the number of times the pretreatment step of electroless plating is repeated. It will be.

【0152】このように、再度無電解メッキ前処理工程
を実行した際に、繰り返し実行された無電解メッキ前処
理工程の延べ回数Nを算出し、この算出値に応じて無電
解メッキ工程におけるガラス原板2のニッケル無電解溶
液への浸漬時間を減少させることにより、無電解メッキ
前処理工程を繰り返したことによる過多処理分が相殺さ
れ、ガラス原板2には常に一定のニッケルメッキ膜が形
成される。
As described above, when the electroless plating pretreatment process is performed again, the total number N of repeated electroless plating pretreatment processes is calculated, and the glass in the electroless plating process is calculated according to the calculated value. By reducing the immersion time of the original plate 2 in the nickel electroless solution, the excessive amount of treatment due to the repetition of the electroless plating pretreatment process is offset, and a constant nickel plating film is always formed on the glass original plate 2. .

【0153】そして、上記の如く設定された揺動回数Y
をもって無電解メッキ工程を実行している間に、何等か
の作業不良が発生した場合、現像工程の場合と同様の処
置がほどこされる。すなわち、ガラス原板2に水洗過程
R3及び乾燥過程R4を施した後に、当該ガラス原板3
2は不良ガラス原板であると判断して、再生処理プロセ
スに戻って再度処理される。
Then, the number of swings Y set as described above
If any work failure occurs during the electroless plating process, the same treatment as in the developing process is performed. That is, after subjecting the glass base plate 2 to the water washing process R3 and the drying process R4, the glass base plate 3
It is judged that No. 2 is a defective glass original plate, and the process is returned to the recycling process and processed again.

【0154】したがって、ガラス原板2は処理装置内を
薬液等により汚染することなく搬送され、初期と同様の
状態で再度再生処理プロセスに供されることになる。
Therefore, the original glass plate 2 is conveyed without being contaminated by the chemical solution or the like in the processing apparatus, and is again subjected to the recycling processing process in the same state as the initial state.

【0155】一方、無電解メッキ工程が終了した後に、
所定の一定時間(図25中、β時間と記す)以上上記ガ
ラス原板2が放置された場合、当該ガラス原板2は不良
となったものと判断して、再生処理プロセスに戻って再
度処理される。
On the other hand, after the electroless plating process is completed,
When the glass original plate 2 is left for a predetermined fixed time (indicated as β time in FIG. 25) or more, it is determined that the glass original plate 2 is defective, and the process returns to the recycling process to be processed again. .

【0156】また、無電解メッキ工程が終了した後に、
所定の一定時間以上上記ガラス原板2が放置されなかっ
た場合(すなわち、放置時間がβ時間より小である場
合)には、ガラス原板2に無電解メッキ工程が無事に施
されたものとして(図25中、OKと記す)、次工程で
ある電鋳工程へ進む。
Further, after the electroless plating process is completed,
If the glass original plate 2 has not been left for a predetermined period of time or longer (that is, the leaving time is less than β hours), it is assumed that the glass original plate 2 has been successfully subjected to the electroless plating process (Fig. 25, referred to as “OK”), and proceeds to the next step, an electroforming step.

【0157】上記のように、本実施例の光ディスクの製
造方法によれば、原盤作製プロセスにおいて、ポリシン
グ及び洗浄工程、レジスト塗布工程、及びガラスマスタ
工程を上記の如く実行することにより、作業環境の改善
を実現させて、歩留り及び信頼性に優れた金属原盤を製
造することができる。
As described above, according to the optical disk manufacturing method of the present embodiment, the polishing and cleaning steps, the resist coating step, and the glass master step are executed as described above in the master disk manufacturing process, so that the working environment is improved. It is possible to realize the improvement and manufacture a metal master having excellent yield and reliability.

【0158】以上、本発明を適用した実施例について説
明してきたが、本発明がこれら実施例に限定されるわけ
ではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲で例えば原盤
作製プロセスの構成等を変えてマスタリングを行うこと
が可能である。
Although the embodiments to which the present invention is applied have been described above, the present invention is not limited to these embodiments, and, for example, the configuration of the master making process is changed without departing from the gist of the present invention. Mastering can be performed.

【0159】[0159]

【発明の効果】本発明に係る光ディスクの製造装置によ
れば、原盤作製プロセスにおいて、処理時間の短縮及び
作業環境の改善を実現させて、歩留り及び信頼性に優れ
た金属原盤を製造することが可能となる。
According to the optical disk manufacturing apparatus of the present invention, it is possible to shorten the processing time and improve the working environment in the master disk manufacturing process to manufacture a metal master disk having excellent yield and reliability. It will be possible.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本実施例における原盤作製プロセスを示す流れ
図である。
FIG. 1 is a flow chart showing a master disc manufacturing process in the present embodiment.

【図2】本実施例における原盤作製プロセスの各工程を
実行するためのクリーントンネルを示す模式図である。
FIG. 2 is a schematic diagram showing a clean tunnel for executing each step of the master disk manufacturing process in the present embodiment.

【図3】本実施例の研磨洗浄機構を模式的に示す平面図
である。
FIG. 3 is a plan view schematically showing a polishing / cleaning mechanism of the present embodiment.

【図4】上記研磨洗浄機構の構成要素である原板設置手
段、研磨手段、及び第2の洗浄手段を模式的に示す正面
図である。
FIG. 4 is a front view schematically showing an original plate setting means, a polishing means, and a second cleaning means, which are components of the polishing and cleaning mechanism.

【図5】上記研磨洗浄機構の構成要素である原板設置手
段及び第1の洗浄手段を模式的に示す正面図である。
FIG. 5 is a front view schematically showing an original plate setting means and a first cleaning means which are components of the polishing and cleaning mechanism.

【図6】上記研磨洗浄機構の構成要素である制御手段を
模式的に示すブロック図である。
FIG. 6 is a block diagram schematically showing a control means that is a component of the polishing and cleaning mechanism.

【図7】原盤作製プロセスのうちのポリシング及び洗浄
工程を示す流れ図である。
FIG. 7 is a flowchart showing polishing and cleaning steps in the master disk manufacturing process.

【図8】ポリシング及び洗浄工程を作業不良が発生した
場合も含めて具体的に示す流れ図である。
FIG. 8 is a flowchart specifically showing a polishing and cleaning process including a case where a work defect occurs.

【図9】ポリシング及び洗浄工程を作業不良が発生した
場合も含めて具体的に示す流れ図である。
FIG. 9 is a flowchart specifically showing a polishing and cleaning process including a case where a work defect occurs.

【図10】ポリシング及び洗浄工程を作業不良が発生し
た場合も含めて具体的に示す流れ図である。
FIG. 10 is a flowchart specifically showing a polishing and cleaning process including a case where a work defect occurs.

【図11】ポリシング及び洗浄工程を作業不良が発生し
た場合も含めて具体的に示す流れ図である。
FIG. 11 is a flowchart specifically showing a polishing and cleaning process including a case where a work defect occurs.

【図12】ポリシング及び洗浄工程を作業不良が発生し
た場合も含めて具体的に示す流れ図である。
FIG. 12 is a flowchart specifically showing a polishing and cleaning process including a case where a work defect occurs.

【図13】ポリシング及び洗浄工程を作業不良が発生し
た場合も含めて具体的に示す流れ図である。
FIG. 13 is a flowchart specifically showing a polishing and cleaning process including a case where a work defect occurs.

【図14】レジスト塗布工程を実行するときに用いる塗
布装置を模式的に示す側面図である。
FIG. 14 is a side view schematically showing a coating apparatus used when performing a resist coating step.

【図15】原盤作製プロセスのうちのレジスト塗布工程
を示す流れ図である。
FIG. 15 is a flowchart showing a resist coating step in the master disk manufacturing process.

【図16】現像工程を実行するときに用いる塗布装置を
模式的に示す側面図である。
FIG. 16 is a side view schematically showing a coating device used when performing a developing process.

【図17】原盤作製プロセスのうちの現像工程を示す流
れ図である。
FIG. 17 is a flowchart showing a developing step in the master disk manufacturing process.

【図18】無電解メッキ前処理工程を実行するときに用
いる塗布装置を模式的に示す側面図である。
FIG. 18 is a side view schematically showing a coating apparatus used when performing a pretreatment step of electroless plating.

【図19】原盤作製プロセスのうちの無電解メッキ前処
理工程を示す流れ図である。
FIG. 19 is a flowchart showing a pretreatment step of electroless plating in the master disk manufacturing process.

【図20】無電解メッキ工程を実行するときに用いる塗
布装置を模式的に示す側面図である。
FIG. 20 is a side view schematically showing a coating apparatus used when performing an electroless plating process.

【図21】原盤作製プロセスのうちの無電解メッキ工程
を示す流れ図である。
FIG. 21 is a flowchart showing an electroless plating step in the master disk manufacturing process.

【図22】ポリシング工程及び洗浄工程において作業不
良が発生した場合の処理を示す流れ図である。
FIG. 22 is a flowchart showing a process when a work defect occurs in the polishing process and the cleaning process.

【図23】レジスト塗布工程において作業不良が発生し
た場合の処理を示す流れ図である。
FIG. 23 is a flowchart showing a process when a work defect occurs in the resist coating process.

【図24】現像工程及び無電解メッキ前処理工程におい
て作業不良が発生した場合の処理を示す流れ図である。
FIG. 24 is a flowchart showing a process when a work defect occurs in the developing process and the electroless plating pretreatment process.

【図25】無電解メッキ工程において作業不良が発生し
た場合の処理を示す流れ図である。
FIG. 25 is a flow chart showing a process when a work failure occurs in the electroless plating process.

【図26】従来における原盤作製プロセスを示す流れ図
である。
FIG. 26 is a flowchart showing a conventional master disk manufacturing process.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 クリーントンネル 2 ガラス原板 11 再生処理手段 12〜18 部屋 31 原板設置手段 32 研磨手段 33 第1の洗浄手段 34 第2の洗浄手段 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Clean tunnel 2 Glass original plate 11 Regeneration processing means 12-18 Room 31 Original plate setting means 32 Polishing means 33 First cleaning means 34 Second cleaning means

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 三津井 教夫 東京都品川区北品川6丁目7番35号 ソニ ー株式会社内 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (72) Inventor Norio Mitsui 6-735 Kita-Shinagawa, Shinagawa-ku, Tokyo Sony Corporation

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 ガラス原板を用いて光ディスクの金属原
盤を作製する光ディスクの製造装置において、 ガラス原板が回転自在に設置固定される原板設置手段を
備え、当該ガラス原板の表面に研磨を施して平坦化する
研磨処理を実行する研磨手段と、ガラス原板の表面に残
存する研磨材を洗浄除去する洗浄処理を実行する洗浄手
段とが、上記原板設置手段の近傍にそれぞれ配されてな
る研磨洗浄機構が設けられていることを特徴とする光デ
ィスクの製造装置。
1. An optical disk manufacturing apparatus for manufacturing a metal original disk of an optical disk using a glass original plate, comprising an original plate setting means for rotatably installing and fixing the glass original plate, and polishing the surface of the glass original plate to flatten it. And a cleaning means for performing a cleaning process for cleaning and removing the polishing material remaining on the surface of the original glass plate, and a polishing and cleaning mechanism provided in the vicinity of the original plate setting means. An optical disk manufacturing apparatus characterized by being provided.
【請求項2】 洗浄手段は、ガラス原板の表面に残存す
る研磨材をスクラブローラを用いて洗浄除去する第1の
洗浄手段と、ガラス原板の表面を超音波により洗浄する
第2の洗浄手段とからなることを特徴とする請求項1記
載の光ディスクの製造装置。
2. The cleaning means comprises a first cleaning means for cleaning and removing the abrasive remaining on the surface of the glass original plate using a scrub roller, and a second cleaning means for cleaning the surface of the glass original plate by ultrasonic waves. The optical disc manufacturing apparatus according to claim 1, wherein the optical disc manufacturing apparatus comprises:
【請求項3】 研磨洗浄機構は、ガラス原板に不良が発
生すると不良ガラス原板を再度研磨処理及び洗浄処理に
供することを特徴とする請求項1記載の光ディスクの製
造装置。
3. The optical disk manufacturing apparatus according to claim 1, wherein the polishing / cleaning mechanism returns the defective glass original plate to the polishing process and the cleaning process when a defect occurs in the original glass plate.
【請求項4】 ガラス原板を順次搬送することにより光
ディスクの金属原盤を作製する各工程が実行されるクリ
ーントンネルを有することを特徴とする請求項1記載の
光ディスクの製造装置。
4. The optical disk manufacturing apparatus according to claim 1, further comprising a clean tunnel in which each step of manufacturing a metal master of an optical disk is performed by sequentially transporting a glass master.
【請求項5】 不良ガラス原板に次工程を施すことなく
当該不良ガラス原板をクリーントンネル内を素通りさせ
て初工程に回帰させることを特徴とする請求項4記載の
光ディスクの製造装置。
5. The optical disk manufacturing apparatus according to claim 4, wherein the defective glass original plate is passed through the clean tunnel and returned to the initial process without performing the next step on the defective glass original plate.
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