JPH08263655A - Pattern recognition method - Google Patents
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- JPH08263655A JPH08263655A JP8647195A JP8647195A JPH08263655A JP H08263655 A JPH08263655 A JP H08263655A JP 8647195 A JP8647195 A JP 8647195A JP 8647195 A JP8647195 A JP 8647195A JP H08263655 A JPH08263655 A JP H08263655A
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】この発明は、多値画像からのパタ
ーン認識方法に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a pattern recognition method from a multivalued image.
【0002】[0002]
【従来の技術】従来のパターン認識方法としては、例え
ば正規化相関法がある。これは、例えば図9の(a)、
(b)に示すような多値画像からなる認識対象パターン
Pと参照パターンSとを比較するに際して、各パターン
の画像における各ドットの輝度値データを式(1)に適
用して、認識対象パターンと参照パターン間の正規化相
関を求めて類似度を得るものである。2. Description of the Related Art A conventional pattern recognition method is, for example, a normalized correlation method. This is, for example, in FIG.
When comparing the recognition target pattern P composed of a multi-valued image as shown in (b) with the reference pattern S, the brightness value data of each dot in the image of each pattern is applied to the equation (1) to recognize the recognition target pattern. The similarity is obtained by obtaining the normalized correlation between the reference pattern and the reference pattern.
【数1】 ここで、 I(i,j):認識対象画像の点(i,j)の輝度値、 T(i,j):参照画像の点 (i,j)の輝度値、[Equation 1] Here, I (i, j): luminance value of point (i, j) of the recognition target image, T (i, j): luminance value of point (i, j) of the reference image,
【外1】 (m,n):参照画像、認識対象画像の大きさ である。なお、認識対象パターンを表わした画像を認識
対象画像、参照パターンを表わした画像を参照画像と呼
ぶこととする。[Outside 1] (M, n): sizes of the reference image and the recognition target image. An image representing the recognition target pattern will be referred to as a recognition target image, and an image representing the reference pattern will be referred to as a reference image.
【0003】上記の式(1)で求められる正規化相関の
値は、−1〜+1の値をとる。この値は類似度が高いほ
ど大きくなり、正規化後の各ドットの値が全て同じとき
に最大値1となる。つまり、画像を正規化するため画像
の全体的な明るさの変化の影響は受けずに認識すること
ができる。一般に、図9の(c)に示すように参照パタ
ーンと認識対象パターン上のパターンの重なる部分が大
きいと、類似度が高いと判断される。正規化相関法は、
このように参照パターンに似た形状のパターンを見つけ
るのに用いられる。The value of the normalized correlation obtained by the above equation (1) has a value of -1 to +1. This value becomes larger as the degree of similarity becomes higher, and becomes the maximum value 1 when all the normalized dot values are the same. That is, since the image is normalized, the image can be recognized without being affected by the change in the overall brightness of the image. Generally, as shown in (c) of FIG. 9, when the overlapping portion of the reference pattern and the pattern on the recognition target pattern is large, the similarity is determined to be high. The normalized correlation method is
In this way, it is used to find a pattern having a shape similar to the reference pattern.
【0004】[0004]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな従来のパターン認識方法にあっては、複数の参照パ
ターンの中から認識対象パターンと同じものを求める
際、対比する複数の参照パターン中に互いに類似した形
状のパターンが含まれていると、その類似した形状のパ
ターン間の識別判断が不確実であり、認識対象パターン
撮像時の照明の影響などにより誤った参照画像に対する
類似度の方が高くなることが多々発生するという問題が
ある。これは、形状の似たパターンの複数の参照画像と
の類似度は、いずれも非常に近い値になるためである。However, in such a conventional pattern recognition method, when the same pattern as the recognition target pattern is obtained from a plurality of reference patterns, the plurality of reference patterns to be compared are compared with each other. If patterns with similar shapes are included, the discrimination judgment between the patterns with similar shapes is uncertain, and the similarity to the wrong reference image is higher due to the influence of illumination when capturing the recognition target pattern. There is a problem that it often happens. This is because the degrees of similarity with a plurality of reference images having patterns with similar shapes are very close to each other.
【0005】したがって本照明は、このような従来の問
題点に鑑み、参照パターンとして複数の類似した形状の
パターンがある場合にも精度良く認識することができる
パターン認識方法を提供することを目的とする。Therefore, in view of the above conventional problems, the present illumination aims to provide a pattern recognition method capable of accurately recognizing a plurality of patterns having similar shapes as reference patterns. To do.
【0006】[0006]
【解題を解決するための手段】このように、全ての参照
パターンとの類似度を算出した結果、そのパターンとの
類似度と非常に近い類似度を示す他のパターンがあると
きは、そのような似た形状のパターンが他にもあるわけ
であるから、誤認識している可能性がある。そこで、そ
の類似したパターン間でそれぞれの特徴を顕著に表すデ
ータだけを用いて再認識すると認識が確実になる。[Means for Solving the Problem] As a result of calculating the degrees of similarity with all the reference patterns in this way, if there is another pattern having a degree of similarity very close to that pattern, it is Since there are other patterns with similar shapes, there is a possibility that they are erroneously recognized. Therefore, if the data is re-recognized using the data that remarkably expresses each feature between the similar patterns, the recognition is surely performed.
【0007】このため、請求項1に記載の本発明は、多
値画像の認識対象パターンを複数の参照パターンと比較
するパターン認識方法であって、認識対象画像と全ての
参照画像との類似度を求め、その中で最も類似度の高い
ものから順に第1候補および第2候補の参照画像を求
め、第1候補および第2候補の類似度の差が所定のしき
い値以上のとき、第1候補の参照画像のパターンを解と
する第1段階の認識処理と、上記類似度の差が前記所定
のしきい値未満のとき、第1候補および第2候補の参照
画像ならびに認識対象画像の新たな画像を用いて、第1
候補および第2候補の類似度を求め、その中で最も類似
度の高い参照画像のパターンを解とする第2段階の認識
処理とからなるものとした。Therefore, the present invention according to claim 1 is a pattern recognition method for comparing a recognition target pattern of a multi-valued image with a plurality of reference patterns, and the degree of similarity between the recognition target image and all the reference images. Of the first candidate and the second candidate in descending order of similarity, and when the difference in similarity between the first candidate and the second candidate is greater than or equal to a predetermined threshold value, When the difference between the similarities is less than the predetermined threshold value, the first-stage recognition processing in which the pattern of the reference image of one candidate is used as a solution, and the reference images of the first candidate and the second candidate and the recognition target image First, using a new image
The second step of recognition processing is performed by obtaining the similarity between the candidate and the second candidate and using the pattern of the reference image having the highest similarity among them as the solution.
【0008】上記の第2段階の認識処理は、第1候補お
よび第2候補の参照画像の各特徴軸毎のA=カテゴリー
間分散/全分散を求める第1のステップと、第1候補お
よび第2候補の参照画像と認識対象画像の上記Aの値が
大きい軸上のデータで構成される新たな画像を作成する
第2のステップと、当該新たに作成した参照画像と認識
対象画像との類似度を求める第3のステップとを含むも
のとするのが好ましい。The above-described second-stage recognition processing includes the first step of obtaining A = inter-category variance / total variance for each feature axis of the reference images of the first candidate and the second candidate, and the first candidate and the first candidate. 2 The second step of creating a new image composed of data on the axis having a large A value of the reference image of the candidate and the recognition target image, and the similarity between the newly created reference image and the recognition target image And a third step of determining the degree.
【0009】また、請求項3に記載の発明は、複数の参
照パターン内で間違えやすいパターンの集合を定める学
習過程と、認識対象画像と全ての参照画像との類似度を
求め、その中で最も類似度の高いものから順に第1候補
および第2候補の参照画像を求め、第1候補および第2
候補の類似度の差が所定のしきい値以上のとき、第1候
補の参照画像のパターンを解とする第1段階の認識処理
と、上記類似度の差が前記所定のしきい値未満のとき、
上記集合のうち第1候補のパターンと間違えやすいと定
義されたパターンの参照画像ならびに認識対象画像の新
たな画像を用いて、第1候補のパターンと間違えやすい
と定義されたパターンの参照画像の類似度を求め、その
中で最も類似度の高い参照画像のパターンを解とする第
2段階の認識処理とからなるパターン認識方法とした。Further, the invention described in claim 3 obtains the similarity between the recognition target image and all the reference images, and the learning process for defining a set of patterns that are likely to be mistaken in a plurality of reference patterns. The reference images of the first candidate and the second candidate are obtained in descending order of similarity, and the first candidate and the second candidate are obtained.
When the difference between the similarities of the candidates is equal to or larger than a predetermined threshold value, the recognition process of the first step in which the pattern of the reference image of the first candidate is used as a solution, and the difference between the similarity degrees are less than the predetermined threshold value When
Similarity of the reference image of the pattern defined to be easily mistaken for the first candidate pattern using the reference image of the pattern defined to be easily mistaken for the first candidate pattern and the new image of the recognition target image in the set The pattern recognition method comprises a second step of recognition processing in which the degree of similarity is determined and the pattern of the reference image having the highest degree of similarity is used as the solution.
【0010】上記の第2段階の認識処理は、第1候補の
パターンと間違えやすいと定義されたパターンの全ての
参照画像の各特徴軸毎のA=カテゴリー間分散/全分散
を求める第1のステップと、当該定義にかかるすべての
参照画像と認識対象画像の上記Aの値が大きい軸上のデ
ータで構成される新たな画像を作成する第2のステップ
と、当該新たに作成した参照画像と認識対象画像との類
似度を求める第3のステップとを含むものとするのが好
ましい。In the above-described second-stage recognition processing, A = inter-category variance / total variance for each feature axis of all reference images of a pattern defined to be easily mistaken for the first candidate pattern is calculated. A step, a second step of creating a new image composed of all the reference images according to the definition and data on the axis of the recognition target image having a large value of A, and the newly created reference image It is preferable to include a third step of obtaining the similarity with the recognition target image.
【0011】[0011]
【作用】請求項1のパターン認識方法では、第1段階の
認識処理において、認識対象画像と全ての参照画像との
間で求められた類似度の中で、最も類似度の高い第1候
補と次に高い第2候補の類似度の差を求め、その差がし
きい値以上のときには、認識の確実度が大きいものとし
て第1候補の参照画像のパターンを解とする。類似度の
差がしきい値未満のときには、第2段階の認識処理に移
って、各候補ならびに認識対象について新たな画像を作
成し、この新たな画像を用いて第1候補および第2候補
の類似度を求めて、最も類似度の高い参照画像のパター
ンを解とする。これにより、複数の類似した形状の参照
パターンがある場合にも精度良く認識できる。According to the pattern recognition method of claim 1, among the similarities obtained between the recognition target image and all the reference images in the first-stage recognition processing, the first candidate having the highest similarity is selected. The difference between the second highest similarities of the second candidates is obtained, and when the difference is equal to or larger than the threshold value, the pattern of the reference image of the first candidate is determined as a solution with high certainty of recognition. When the difference between the similarities is less than the threshold value, the second stage recognition process is performed, a new image is created for each candidate and the recognition target, and the new image is used to generate the first candidate and the second candidate. The similarity is calculated, and the pattern of the reference image having the highest similarity is set as the solution. As a result, even if there are a plurality of reference patterns having similar shapes, they can be recognized with high accuracy.
【0012】請求項3のパターン認識方法では、第1段
階の認識処理において、前処理として、複数の参照パタ
ーン内で間違えやすいパターンの集合を定めておく。次
いで、認識対象画像と全ての参照画像との間で求められ
た類似度の中で、最も類似度の高い第1候補と次に高い
第2候補の類似度の差を求め、その差がしきい値以上の
ときには、認識の確実度が大きいものとして第1候補の
参照画像のパターンを解とする。In the pattern recognition method according to a third aspect of the present invention, in the first-stage recognition processing, a set of patterns that are likely to be mistaken among a plurality of reference patterns is defined as preprocessing. Next, of the similarities obtained between the recognition target image and all the reference images, the difference between the first candidate having the highest similarity and the second candidate having the next highest similarity is calculated, and the difference is calculated. If it is equal to or higher than the threshold value, the pattern of the first candidate reference image is set as a solution because the certainty of recognition is high.
【0013】類似度の差がしきい値未満のときには、第
2段階の認識処理に移って、前処理で定めておいた集合
から第1候補のパターンと間違えやすいパターンの参照
画像を抽出し、これらの参照画像ならびに認識対象画像
について新たな画像を作成し、この新たな画像を用いて
第1候補のパターンと間違えやすい各パターンの参照画
像の類似度を求め、その中で最も類似度の高い参照画像
のパターンを解とする。 あらかじめ学習によって複数
の参照パターン内で間違えやすいパターンを集合として
定めているから、第2段階の認識処理においてその集合
の全ての参照パターンについて再認識することができ、
複数の類似した形状の参照パターンがある場合の認識の
確実性が高い。When the difference between the similarities is less than the threshold value, the second-stage recognition processing is performed, and the reference image of the pattern which is easily confused with the pattern of the first candidate is extracted from the set determined in the preprocessing, A new image is created for these reference image and recognition target image, the similarity of the reference image of each pattern that is easily mistaken for the pattern of the first candidate is calculated using this new image, and the highest similarity among them is obtained. Let the pattern of the reference image be the solution. Since the patterns that are likely to be mistaken in a plurality of reference patterns are set as a set by learning in advance, all the reference patterns of the set can be re-recognized in the second-stage recognition processing.
The certainty of recognition is high when there are a plurality of similar-shaped reference patterns.
【0014】上記それぞれの第2段階の認識処理におい
て、絞られた参照画像の各特徴軸毎のA=カテゴリー間
分散/全分散を求め、参照画像と認識対象画像の上記A
の値が大きい軸上のデータで上記新たな画像を構成する
ことにより、間違えやすいパターン間でも、各パターン
の異なる特徴部分が顕著に現われ、識別が容易となる。In each of the second-stage recognition processes described above, A = inter-category variance / total variance for each feature axis of the narrowed-down reference image is obtained, and the A of the reference image and the recognition target image is obtained.
By constructing the new image with the data on the axis having a large value of, the different characteristic portions of each pattern are conspicuously displayed even between patterns that are apt to be mistaken, and the identification is easy.
【0015】[0015]
【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明
する。 図1は、本発明の第1の実施例の概要を示す流
れ図である。この実施例では、まず前処理として、ステ
ップS21において、参照パターン内で間違えやすい形
状のパターンの集合を定義した表を作成する。以下、こ
の表を「類似パターン表」Zと呼ぶ。そしてこのあと、
ステップS22以降の認識過程に入る。 認識過程は、
第1段階の認識処理と第2段階の認識処理からなる。Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a flow chart showing the outline of the first embodiment of the present invention. In this embodiment, first, as preprocessing, in step S21, a table defining a set of patterns having shapes that are easily mistaken in the reference pattern is created. Hereinafter, this table is referred to as "similar pattern table" Z. And after this,
The recognition process starts from step S22. The recognition process is
It consists of a first stage recognition process and a second stage recognition process.
【0016】第1段階の処理は、第1候補のパターンを
求めるステップS22とS23からなる。ステップS2
2においては、認識対象画像と全ての参照画像との類似
度を正規化相関法を用いて演算してマッチングをおこな
い、その中で最も類似度の高いパターンと、その次に類
似度の高いパターンを求めて、それぞれ第1候補ならび
に第2候補とする。ステップS23で、第1候補との類
似度と第2候補との類似度の差を求め、その類似度の差
に基づいて、認識結果の確実性の判断を行なう。ここで
第1候補のパターンが正解である確実性が高いと判断し
たときには、その第1候補の参照パターンをその認識対
象画像の解とする。The process of the first stage comprises steps S22 and S23 for obtaining the first candidate pattern. Step S2
In No. 2, the similarity between the recognition target image and all the reference images is calculated using the normalized correlation method to perform matching. Among them, the pattern with the highest similarity and the pattern with the next highest similarity are calculated. Are determined as the first candidate and the second candidate, respectively. In step S23, the difference between the similarity with the first candidate and the similarity with the second candidate is obtained, and the certainty of the recognition result is determined based on the difference in the similarity. When it is determined that the certainty of the pattern of the first candidate is correct, the reference pattern of the first candidate is set as the solution of the recognition target image.
【0017】一方、第1候補のパターンが正解である確
実性が低い場合には、第2段階の認識処理としてステッ
プS24に進む。ステップS24では、先のステップS
21で作成した「類似パターン表」Zをもとに、第1候
補となったパターンと間違えやすい参照パターンとの間
だけで、それらの特徴を引き出して変換作成した新たな
参照画像および認識対象画像を用いて再認識を行う。そ
してこの認識処理の結果、最も類似度が高くなった参照
パターンをその認識対象画像の解とする。On the other hand, if the certainty that the first candidate pattern is the correct answer is low, the process proceeds to step S24 as the second stage recognition process. In step S24, the previous step S
Based on the "similar pattern table" Z created in step 21, a new reference image and recognition target image are created by converting and extracting the features of only the first candidate pattern and the reference pattern that is easily mistaken. Re-recognize using. Then, as a result of this recognition processing, the reference pattern having the highest similarity is set as the solution of the recognition target image.
【0018】以下に、上記の各処理の詳細について説明
する。図2は、上記のステップS21における「類似パ
ターン表」Zの作成要領を示す流れ図である。ここでは
まず、ステップS211において、M種類の参照パター
ンについて、各種類ごとにそのパターンを表わす既知の
学習用サンプル画像SG をそれぞれN枚ずつ用意するも
のとする。これら学習用のサンプル画像SG は、互いに
多少のノイズや影を含んでおり、各種類内においても互
いには完全に同一ではないものとする。The details of each of the above processes will be described below. FIG. 2 is a flow chart showing the procedure for creating the “similar pattern table” Z in step S21. Here, first, in step S211, for each of the M types of reference patterns, N known learning sample images SG each representing the pattern are prepared. It is assumed that these learning sample images SG include some noises and shadows and are not completely the same within each type.
【0019】つぎにこのサンプル画像SG を利用して学
習を行う。学習のために、「投票用の表」ZH を準備し
ておく。「投票用の表」ZH は、縦横それぞれ参照パタ
ーンの種類に対応させたM×Mの欄を備え、各欄の値v
alue(x,y)は初期化時にすべて0としておく。Next, learning is performed using this sample image SG. Prepare a "voting table" ZH for learning. The “voting table” ZH has M × M columns corresponding to the types of the reference pattern in each of the vertical and horizontal directions, and the value v of each column
all (x, y) is set to 0 at initialization.
【0020】ここでは、パターンBと間違えやすい参照
パターンを定義する場合を例にとる。まずステップS2
12で、パターンBを表すN枚の画像を認識対象とし
て、そのうちの1枚とM種の参照画像との類似度を求め
る。類似度の算出には、式(1)の正規化相関式を用い
る。そして、ステップS213で、この演算の結果が正
解であるかどうかをチェックする。Here, the case where a reference pattern which is easily mistaken for the pattern B is defined is taken as an example. First, step S2
At 12, the N images representing the pattern B are used as recognition targets, and the similarity between one of them and the M types of reference images is calculated. The normalized correlation equation of the equation (1) is used to calculate the similarity. Then, in step S213, it is checked whether or not the result of this calculation is the correct answer.
【0021】この演算の結果が正解であるとき、すなわ
ちM個の中で最も類似度が高いパターンが参照パターン
Bである場合は、ステップS214において、類似度が
参照パターンBとの類似度との間に所定のしきい値未満
の差をもつ他の参照パターンを探索する。If the result of this operation is a correct answer, that is, if the pattern with the highest degree of similarity among the M pieces is the reference pattern B, the degree of similarity with the degree of similarity with the reference pattern B is determined in step S214. Search for other reference patterns with a difference less than a predetermined threshold in between.
【0022】そしてその条件を満たす参照パターンXが
あれば、ステップS216で、「投票用の表」ZH 上の
縦がBで横が参照パターンXの位置に、あらかじめ定義
した適当な定数である点数Kを加算する。つまり、式
(2)を満たす参照パターンXが存在する場合、「投票
用の表」ZH に対して式(3)を施すという操作を行
う。 (正解の参照パターンBとの類似度) −(参照パターンXとの類似度)<しきい値 (2) value(B,X)=value(B,X)+K (3)If there is a reference pattern X satisfying the condition, in step S216, the point on the "voting table" ZH is at the position of B in the vertical direction and X in the horizontal direction is the reference pattern X, which is an appropriate constant defined in advance. Add K. That is, when the reference pattern X satisfying the expression (2) exists, the operation of applying the expression (3) to the “voting table” ZH is performed. (Similarity with correct reference pattern B)-(Similarity with reference pattern X) <Threshold value (2) value (B, X) = value (B, X) + K (3)
【0023】類似度の差がしきい値未満である参照パタ
ーンXが複数ある場合には、その参照パターンすべてに
おいて、同様に、「投票用の表」ZH 上のその参照パタ
ーンの位置の値に点数Kを加算する。例えば、しきい値
=0.2として、参照パターンBとの類似度が0.8、
参照パターンD、E、F、O、Rとの類似度がそれぞれ
0.4、0.7、0.5、0.2、0.65であったと
き、類似度の差が0.8−0.7=0.1<0.2であ
るEと、0.8−0.65=0.15<0.2であるR
を類似度が高いものとして、「投票用の表」ZH の縦が
Bで、横がXとしてのFとRの位置に点数を加算する。When there are a plurality of reference patterns X whose difference in similarity is less than the threshold value, the values of the positions of the reference patterns on the "voting table" ZH are similarly set in all the reference patterns. Add the score K. For example, when the threshold value is 0.2, the similarity with the reference pattern B is 0.8,
When the similarity with the reference patterns D, E, F, O, and R is 0.4, 0.7, 0.5, 0.2, and 0.65, respectively, the difference in similarity is 0.8-. E with 0.7 = 0.l <0.2 and R with 0.8-0.65 = 0.15 <0.2
Assuming that the degree of similarity is high, points are added to the positions of F and R where B is vertical and X is horizontal in the "voting table" ZH.
【0024】一方、ステップ213のチェック結果が正
解でないとき、すなわち最も類似度の高いパターンが参
照パターンBでなかった場合は、ステップS215にお
いて、最も類似度が高い参照パターンを抽出する。そし
て、ステップ216に進んで、「投票用の表」ZH 上の
縦がBで、横がその最も類似度が高かった参照パターン
の位置Yに点数を加算する。例えば、参照パターンBと
の類似度が0.6、参照パターンD、E、F、O、Rと
の類似度がそれぞれ0.4、0.7、0.5、0.2、
0.65であったときは、「投票用の表」ZH の縦がB
で、横が類似度の最も高いEの位置に点数を加算する。On the other hand, if the check result in step 213 is not correct, that is, if the pattern with the highest degree of similarity is not the reference pattern B, the reference pattern with the highest degree of similarity is extracted in step S215. Then, the process proceeds to step 216, and the point is added to the position Y of the reference pattern in which the vertical on the "voting table" ZH is B and the horizontal is the highest in similarity. For example, the similarity with the reference pattern B is 0.6, the similarity with the reference patterns D, E, F, O, and R is 0.4, 0.7, 0.5, 0.2, respectively.
When it was 0.65, the vertical direction of the "voting table" ZH was B.
Then, the score is added to the position of E having the highest degree of similarity in the horizontal direction.
【0025】N枚の画像について同じ処理を行い、終了
後の「投票用の表」ZH 上において、所定のしきい値以
上の点数がついている参照パターンを、「パターンBと
間違えやすいパターン」として定義する。上記の操作を
M種の参照パターンすべてにおいて繰り返し行ない、ス
テップS217で、「類似パターン表」Zが作成され
る。すなわち、上記のステップS216で定義された
「パターンBと間違えやすいパターン」が”「類似パタ
ーン表」ZのBの行を定義し、他のパターンについても
同様にして各行が定義される。The same processing is performed on N images, and a reference pattern having a score equal to or higher than a predetermined threshold value on the "voting table" ZH after the end is set as "a pattern which is easily mistaken for pattern B". Define. The above operation is repeated for all M types of reference patterns, and a "similar pattern table" Z is created in step S217. That is, the "pattern that is easily mistaken for the pattern B" defined in step S216 defines the row B of the "similar pattern table" Z, and each row is similarly defined for the other patterns.
【0026】次に、図3は第1段階の認識処理の詳細を
示す。まず、ステップS221において、認識対象パタ
ーンを示す認識対象画像と参照パターンを表わすM枚の
すべての参照画像との類似度を、前述の式(1)による
正規化相関法を用いて求める。そして、ステップS22
2で、その演算結果から、最も類似度の高いパターン
(第1候補)と、その次に類似度の高いパターン(第2
候補)を抽出する。Next, FIG. 3 shows details of the recognition process in the first stage. First, in step S221, the similarities between the recognition target image indicating the recognition target pattern and all the M reference images indicating the reference pattern are obtained using the normalized correlation method according to the above-described equation (1). Then, step S22
2, the pattern with the highest similarity (first candidate) and the pattern with the second highest similarity (second
Candidates).
【0027】ステップS223では、第1候補の類似度
と第2候補の類似度の差を求め、その差があらかじめ設
定された所定のしきい値未満であるかどうかをチェック
する。類似度の差がしきい値以上であるときは、認識結
果の確実性が高いものとして、第1候補のパターンをそ
のときの解とする。一方、類似度の差が上記しきい値未
満のときは、認識結果の確実性が低いものとして、再認
識するための第2段階の処理に移る。上記のステップS
221およびS222が図1におけるステップS22に
該当し、ステップS223がステップS23に該当して
いる。In step S223, the difference between the similarity of the first candidate and the similarity of the second candidate is obtained, and it is checked whether or not the difference is less than a predetermined threshold value set in advance. When the difference in similarity is equal to or more than the threshold value, the reliability of the recognition result is high, and the pattern of the first candidate is set as the solution at that time. On the other hand, when the difference between the similarities is less than the threshold value, the reliability of the recognition result is low, and the process proceeds to the second step for re-recognition. Step S above
221 and S222 correspond to step S22 in FIG. 1, and step S223 corresponds to step S23.
【0028】図4は、先のステップS24における第2
段階の処理の詳細を示す。まず、ステップS241にお
いて、学習過程で作成した「類似パターン表」Zから第
1候補のパターンと間違えやすいパターンを抽出する。
以下、このパターンの集合を「類似パターン集合」と呼
ぶ。例えば、第1候補パターンがBであるとき、同図に
示す「類似パターン表」Zに基づくと、「類似パターン
集合」は{B,E,R}と定義される。そして、ステッ
プS242で、サンプル画像SG から、上記B、E、R
の各カテゴリに属する各N枚の画像を選択する。FIG. 4 shows the second step in the previous step S24.
The details of the process of steps are shown. First, in step S241, a pattern that is likely to be mistaken for the first candidate pattern is extracted from the "similar pattern table" Z created in the learning process.
Hereinafter, this set of patterns is referred to as a “similar pattern set”. For example, when the first candidate pattern is B, the “similar pattern set” is defined as {B, E, R} based on the “similar pattern table” Z shown in FIG. Then, in step S242, from the sample image SG, the above B, E, R
Each of the N images belonging to each category is selected.
【0029】次に、ステップS243において、「類似
パターン集合」に属する上記選択したパターンとの類似
度を求める。ここでは、まず、上記「類似パターン集
合」内の参照パターンを表す参照画像間で、各特徴軸ご
とに下式で表わされる値Aを求める。 A=カテゴリー間分散/全分散 (4) ここで、 カテゴリー間分散=類似パターンを表すN枚の画像の平
均値から作成した類似パターンの個数分のパターンを表
わす画像の同じ位置のドットの輝度値の分散 全分散=「類似パターン集合」内の全パターン分のN枚
の画像の同じ位置のドットの輝度値の分散 である。図5は、類似パターン集合がB、E、Rである
場合における、上記の計算で使用するデータを図示した
ものである。式(5)は類似パターン集合がB、E、R
のときにおける、点(i,j)のAの求め方である。こ
の式を用いて、上記Aを参照画像上の全てのドットにつ
いて求める。Next, in step S243, the degree of similarity with the selected pattern belonging to the "similar pattern set" is obtained. Here, first, a value A represented by the following equation is obtained for each feature axis between the reference images representing the reference patterns in the “similar pattern set”. A = inter-category variance / total variance (4) where inter-category variance = luminance value of dots at the same position in an image representing the number of similar patterns created from the average value of N images representing similar patterns Variance is the variance of the brightness values of the dots at the same position in N images for all patterns in the “similar pattern set”. FIG. 5 illustrates data used in the above calculation when the similar pattern sets are B, E, and R. In equation (5), similar pattern sets are B, E, and R.
It is a method of obtaining A of the point (i, j) at the time. Using this equation, A is calculated for all dots on the reference image.
【数2】 [Equation 2]
【0030】図4に戻って、このあとステップS244
では、「A」の値が大きい特徴軸上のデータは、この集
合内のパターンの特徴を顕著に表しているデータである
ので、「A」の値が所定のしきい値より大きい特徴軸上
のデータだけで構成される新たな参照画像および認識対
象画像を作成する。Returning to FIG. 4, after this, step S244.
Then, since the data on the feature axis having a large value of “A” is the data that remarkably represents the features of the patterns in this set, the data on the feature axis having a value of “A” larger than the predetermined threshold value. A new reference image and a recognition target image composed only of the data of are created.
【0031】図6は、この新しい画像の作成方法を示し
た図である。ここでは、参照画像の大きさ(横×縦)を
4×3とし、6個のデータからなる新たな画像を作成す
るものとする。まず、前述の式(2)より、各ドットの
「A」を求め、その「A」の値が大きい上位6ヶ所の位
置を求める。図6では上位6ヶ所の位置が(0,0)、
(3,0)、(1,1)、(2,1)、(3,1)、
(3,2)で、これらの位置の輝度値データを用いて横
6の画像に変換されている。この変換処理を類似パター
ン内の全ての参照画像および認識対象画像に対して行
い、その6ヶ所の位置の輝度で構成される新たな画像を
作成する。FIG. 6 is a diagram showing a method of creating this new image. Here, it is assumed that the size (horizontal × vertical) of the reference image is 4 × 3 and a new image composed of six pieces of data is created. First, "A" of each dot is obtained from the above-mentioned equation (2), and the positions of the top six places where the value of "A" is large are obtained. In Figure 6, the top 6 positions are (0,0),
(3,0), (1,1), (2,1), (3,1),
In (3, 2), the luminance value data at these positions is used to convert the horizontal 6 image. This conversion process is performed on all the reference images and recognition target images in the similar pattern, and a new image composed of the brightness at the six positions is created.
【0032】図4に戻って、ステップ245で、この新
たに作成した画像を用いて、式(1)の正規化相関法に
より、認識対象パターンと参照パターンとの類似度を求
める。 そしてこの処理の結果、最も類似度が高くなっ
た参照パターンをその認識対象画像の解とする。Returning to FIG. 4, in step 245, the similarity between the recognition target pattern and the reference pattern is obtained by the normalized correlation method of the equation (1) using this newly created image. Then, as a result of this processing, the reference pattern having the highest similarity is set as the solution of the recognition target image.
【0033】つぎに、以上の認識方法における作用を説
明する。図7に示すようなそれぞれ大きさ(横×縦)3
×5のパターンB、C、D、E、Fの5つの参照パター
ンの中から、同図右下部の認識対象画像PNで表わされ
る認識対象パターンを探す認識処理を例として説明す
る。認識対象画像PNのパターンは、パターンE、Fと
は形状に大きく差があるため類似度も低くなるが、パタ
ーンB、C、Dは似た形状であるため、それらとの類似
度はいずれも高くなる。つまり、第1段階の認識処理で
5つ全てのパターンとの類似度を計算すると、第1候補
の類似度と第2候補の類似度との差が小さくなる。その
ため、第2段階の認識処理を行うことになる。Next, the operation of the above recognition method will be described. Each size (horizontal x vertical) 3 as shown in Figure 7
A recognition process for searching for a recognition target pattern represented by a recognition target image PN in the lower right part of the figure from five reference patterns of patterns B, C, D, E, and F of × 5 will be described as an example. The pattern of the recognition target image PN has a low degree of similarity to the patterns E and F because it has a large difference in shape, but the patterns B, C, and D have similar shapes, and therefore, the degree of similarity with them is all. Get higher That is, when the similarity with all five patterns is calculated in the recognition process of the first stage, the difference between the similarity of the first candidate and the similarity of the second candidate becomes small. Therefore, the recognition process of the second stage is performed.
【0034】第2段階の認識処理では、第1段階の処理
で類似度の高かったパターンB、C、Dの3つを参照画
像とする。この3つの画像の各ドット毎のカテゴリー間
分散を求めると、パターン毎に異なる値を示している点
(4,0)と点(2,1)の位置の値が大きくなる。し
たがって、「A」の値も大きいこれら2つの点のデータ
を用いて、パターンB、C、DはパターンB′、C′、
D′に変換される。パターンB′、C′、D′はパター
ンB、C、Dの間での互いに異なる特徴を顕著に表して
いる画素である。そのため、このパターンB′、C′、
D′と同じ位置のドットの値で作成した新たな認識対象
画像P’との類似度を求めると、パターンC’との間に
極めて高い類似度が得られ、確実性の高い認識結果が得
られる。In the second-stage recognition processing, three patterns B, C, and D having a high degree of similarity in the first-stage processing are used as reference images. When the inter-category variance of each dot of these three images is obtained, the values at the positions of points (4, 0) and points (2, 1) showing different values for each pattern become large. Therefore, by using the data of these two points where the value of “A” is large, the patterns B, C and D are the patterns B ′, C ′,
Converted to D '. Patterns B ', C', and D'are pixels that remarkably represent different features between patterns B, C, and D. Therefore, this pattern B ', C',
When the similarity with the new recognition target image P'created with the dot value at the same position as D'is obtained, an extremely high similarity is obtained with the pattern C ', and a highly reliable recognition result is obtained. To be
【0035】以上のように、本実施例では、複数の参照
パターンの中から認識対象パターンと類似したパターン
を求めるにあたって、まず、全参照画像との類似度から
候補を求めるとともに、そのマッチング結果が不確実の
場合、類似したパターンの参照画像について新たな画像
を作成し再認識するものとしたので、複数の類似した形
状の参照パターンがある場合にも精度良く認識すること
ができるという効果がある。As described above, in the present embodiment, when a pattern similar to the recognition target pattern is obtained from the plurality of reference patterns, first, candidates are obtained from the degree of similarity with all the reference images, and the matching result is obtained. In the case of uncertainty, a new image is created and re-recognized with respect to a reference image having a similar pattern, so that it is possible to accurately recognize even when there are a plurality of reference patterns having similar shapes. .
【0036】とくに、再認識のための新たな画像につい
ては、あらかじめ定義した類似パターンの集合を基に、
その集合に含まれる類似するパターンの参照画像だけを
用いて、各ドット毎のカテゴリー間分散/全分散を求
め、その値の大きい位置のドットだけで構成される画像
を作成するものとしたので、類似した形状のパターン間
の認識において、それらの間での異なる部分が顕著にな
った画像データを用いて認識を行うことができ、類似し
たパターン間での認識が確実に行えるという効果を有す
る。In particular, for a new image for re-recognition, based on a set of similar patterns defined in advance,
Since only the reference images of similar patterns included in the set are used to obtain the inter-category variance / total variance for each dot and to create an image composed of only the dots at positions with large values, When recognizing between patterns having similar shapes, it is possible to perform recognition using image data in which different portions between them are conspicuous, and it is possible to reliably perform recognition between similar patterns.
【0037】図8は、本発明の第2の実施例の構成を示
す流れ図である。認識過程は、前実施例と同様に第1段
階の処理と第2段階の処理からなる。第1段階の処理
は、第1候補のパターンを求めるステップS51とS5
2からなる。まず、ステップS51において、認識対象
画像と全ての参照画像との類似度を正規化相関法を用い
て演算し、その中で最も類似度の高いパターンと、その
次に類似度の高いパターンを求め、それぞれ第1候補な
らびに第2候補とする。FIG. 8 is a flow chart showing the configuration of the second embodiment of the present invention. The recognition process includes the first stage process and the second stage process as in the previous embodiment. The processing of the first stage is performed by steps S51 and S5 for obtaining the first candidate pattern.
It consists of two. First, in step S51, the similarity between the recognition target image and all the reference images is calculated using the normalized correlation method, and the pattern with the highest similarity among them and the pattern with the second highest similarity are obtained. , And the first and second candidates, respectively.
【0038】ステップS52で、第1候補との類似度と
第2候補との類似度の差を求める。そして、その類似度
の差があらかじめ設定された所定のしきい値以上であれ
ば、第1候補の参照パターンをその認識対象画像の解と
する。ステップS51およびS52は前実施例における
図1のステップS22、S23と同じである。In step S52, the difference between the similarity with the first candidate and the similarity with the second candidate is obtained. Then, if the difference between the similarities is equal to or larger than a predetermined threshold value set in advance, the reference pattern of the first candidate is set as the solution of the recognition target image. Steps S51 and S52 are the same as steps S22 and S23 of FIG. 1 in the previous embodiment.
【0039】一方、類似度の差が上記しきい値未満のと
きは、第2段階の認識処理としてステップS53に進
む。ステップS53では、上記第1候補および第2候補
となった2つの参照パターンに対して再認識を行う。つ
まり、前実施例で定義した「類似パターン集合」のかわ
りに第1候補および第2候補を用いる。再認識の処理は
前実施例と同じである、すなわち、ドット毎のカテゴリ
ー間分散を考慮して、第1候補および第2候補の新たな
参照画像および認識対象画像を作成し、この新たな画像
同志の類似度を求めて、類似度の大きい方を認識結果と
する。On the other hand, when the difference between the similarities is less than the above threshold value, the process proceeds to step S53 as the second stage recognition process. In step S53, the two reference patterns that are the first candidate and the second candidate are re-recognized. That is, the first candidate and the second candidate are used instead of the "similar pattern set" defined in the previous embodiment. The re-recognition process is the same as that of the previous embodiment, that is, considering the inter-category variance for each dot, new reference images and recognition target images of the first candidate and the second candidate are created, and this new image is generated. The similarity between the two is obtained, and the one with the higher similarity is used as the recognition result.
【0040】この実施例は以上のように構成されている
から、参照パターンの中に類似したパターンが含まれな
い場合あるいは類似パターンが3未満の場合で、「類似
パターン表」が作成されなかったり、作成できても簡単
に「類似パターン集合」内での特徴を引き出して新たな
参照画像を作成することができないときにも有功で、前
実施例と同様に、複数の類似した形状の参照パターンが
ある場合にも精度良く認識することができる。Since this embodiment is configured as described above, when the reference pattern does not include a similar pattern or when the number of similar patterns is less than 3, the "similar pattern table" may not be created. Even if it can be created, it is also effective when it is not possible to easily draw out the features in the “similar pattern set” to create a new reference image. As in the previous embodiment, a plurality of reference patterns having similar shapes can be obtained. Even if there is, it can be recognized accurately.
【0041】[0041]
【発明の効果】以上のとおり、本発明は、多値画像の認
識対象パターンを複数の参照パターンと比較するパター
ン認識方法において、認識対象画像と全ての参照画像と
の間で求められた類似度の中で、最も類似度の高い第1
候補と次に高い第2候補の類似度の差を求め、その差が
しきい値以上のときには、第1候補の参照画像のパター
ンを解とする第1段階の認識処理と、類似度の差がしき
い値未満のときには、各候補ならびに認識対象について
新たな画像を作成し、この新たな画像を用いて第1候補
および第2候補の類似度を求めて、最も類似度の高い参
照画像のパターンを解とする第2段階の認識処理からな
るものとしたので、複数の類似した形状の参照パターン
がある場合にも精度良く認識できるという効果を有す
る。As described above, according to the present invention, in a pattern recognition method for comparing a recognition target pattern of a multivalued image with a plurality of reference patterns, the degree of similarity obtained between the recognition target image and all the reference images. First among the most similar
If the difference between the second candidate and the second highest similarity is found, and the difference is equal to or more than a threshold value, the recognition process of the first stage using the pattern of the reference image of the first candidate as the solution and the difference in the similarity. When is less than the threshold value, a new image is created for each candidate and the recognition target, the similarity between the first candidate and the second candidate is calculated using this new image, and the reference image with the highest similarity is calculated. Since the second step of recognition processing using a pattern as a solution is adopted, it is possible to accurately recognize even when there are a plurality of reference patterns having similar shapes.
【0042】また、第1段階の認識処理のまえに、前処
理として、複数の参照パターン内で間違えやすいパター
ンの集合を定める学習過程をおくとともに、第2段階の
認識処理での新たな画像は、前処理で定めておいた集合
から抽出した第1候補のパターンと間違えやすいパター
ンの参照画像と認識対象画像について作成するものと
し、この新たな画像を用いて求めた類似度の中で最も類
似度の高い参照画像のパターンを解とするようにするこ
とにより、間違えやすいパターンの全てについて再認識
することができるから、複数の類似した形状の参照パタ
ーンがある場合の認識において、より高い確実性が得ら
れる。In addition, before the first-stage recognition processing, a learning process for determining a set of easily misleading patterns in a plurality of reference patterns is performed as a pre-processing, and a new image in the second-stage recognition processing is , The first candidate pattern extracted from the set defined in the pre-processing and the reference image and the recognition target image of a pattern that is easily confused with each other are created, and the similarity among the similarities obtained using this new image is the highest. By using the pattern of the reference image with a high degree as a solution, all the patterns that are likely to be mistaken can be re-recognized, so that there is higher certainty in recognition when there are multiple reference patterns with similar shapes. Is obtained.
【0043】さらに、第2段階の認識処理における新た
な画像を、上記第1候補および第2候補の、あるいは間
違えやすいパターンの参照画像の各特徴軸毎のA=カテ
ゴリー間分散/全分散を求め、参照画像と認識対象画像
の上記Aの値が大きい軸上のデータで構成することによ
り、各パターンの異なる特徴部分が顕著に現われ、識別
が容易となる。Furthermore, a new image in the second-stage recognition processing is obtained by A = inter-category variance / total variance for each feature axis of the reference images of the first candidate and the second candidate, or of the pattern that is easily mistaken. By configuring the reference image and the image to be recognized with the data on the axis where the value of A is large, different characteristic portions of each pattern are prominently displayed, and the identification is facilitated.
【図1】本発明の第1の実施例の概要を示す流れ図であ
る。FIG. 1 is a flowchart showing an outline of a first embodiment of the present invention.
【図2】「類似パターン表」の作成要領を示す流れ図で
ある。FIG. 2 is a flowchart showing how to create a “similar pattern table”.
【図3】第1段階の認識処理の詳細を示す図である。FIG. 3 is a diagram showing details of a first-stage recognition process.
【図4】第2段階の認識処理の詳細を示す図である。FIG. 4 is a diagram showing details of second-stage recognition processing.
【図5】参照画像のカテゴリー間分散を求める際のパタ
ーンカテゴリーを示す説明図である。FIG. 5 is an explanatory diagram showing pattern categories when obtaining the inter-category variance of reference images.
【図6】新たな画像の作成方法を示す図である。FIG. 6 is a diagram showing a method of creating a new image.
【図7】新たな画像による認識例を示す説明図である。FIG. 7 is an explanatory diagram showing an example of recognition by a new image.
【図8】第2の実施例の構成を示す流れ図である。FIG. 8 is a flowchart showing the configuration of the second exemplary embodiment.
【図9】認識対象パターンと参照パターンの画像例を示
す図である。FIG. 9 is a diagram showing an example of images of a recognition target pattern and a reference pattern.
P 認識対象パターン S 参照パターン SG サンプル画像 Z 「類似パターン表」 ZH 「投票用の表」 P recognition target pattern S reference pattern SG sample image Z "similar pattern table" ZH "voting table"
Claims (4)
照パターンと比較するパターン認識方法であって、認識
対象画像と全ての参照画像との類似度を求め、その中で
最も類似度の高いものから順に第1候補および第2候補
の参照画像を求め、第1候補および第2候補の類似度の
差が所定のしきい値以上のとき、第1候補の参照画像の
パターンを解とする第1段階の認識処理と、前記類似度
の差が前記所定のしきい値未満のとき、第1候補および
第2候補の参照画像ならびに認識対象画像の新たな画像
を用いて、第1候補および第2候補の類似度を求め、そ
の中で最も類似度の高い参照画像のパターンを解とする
第2段階の認識処理とからなることを特徴とするパター
ン認識方法。1. A pattern recognition method for comparing a recognition target pattern of a multi-valued image with a plurality of reference patterns, wherein the similarity between the recognition target image and all reference images is calculated, and the highest similarity among them is obtained. First, reference images of the first candidate and the second candidate are obtained in order, and when the difference between the similarities of the first candidate and the second candidate is equal to or more than a predetermined threshold value, the pattern of the reference image of the first candidate is set as a solution. When the difference between the similarities is less than the predetermined threshold value in the first-stage recognition process, the first candidate and the second candidate reference images and the new image of the recognition target image are used to detect the first candidate and the second candidate. A pattern recognition method, comprising: a second-stage recognition process in which a similarity of a second candidate is obtained, and a pattern of a reference image having the highest similarity among them is used as a solution.
補および第2候補の参照画像の各特徴軸毎のA=カテゴ
リー間分散/全分散を求める第1のステップと、前記第
1候補および第2候補の参照画像と認識対象画像の前記
Aの値が大きい軸上のデータで構成される新たな画像を
作成する第2のステップと、当該新たに作成した参照画
像と認識対象画像との類似度を求める第3のステップと
を含むものであることを特徴とするパターン認識方法。2. The recognition process in the second step comprises a first step of obtaining A = inter-category variance / total variance for each feature axis of the reference images of the first candidate and the second candidate, and the first step. Second step of creating a new image composed of the reference image of the candidate and the second candidate and the data on the axis of the recognition target image where the value of A is large, and the newly created reference image and recognition target image And a third step of obtaining the degree of similarity with the pattern recognition method.
照パターンと比較するパターン認識方法であって、前記
複数の参照パターン内で間違えやすいパターンの集合を
定める学習過程と、認識対象画像と全ての参照画像との
類似度を求め、その中で最も類似度の高いものから順に
第1候補および第2候補の参照画像を求め、第1候補お
よび第2候補の類似度の差が所定のしきい値以上のと
き、第1候補の参照画像のパターンを解とする第1段階
の認識処理と、前記類似度の差が前記所定のしきい値未
満のとき、前記集合のうち第1候補のパターンと間違え
やすいと定義されたパターンの参照画像ならびに認識対
象画像の新たな画像を用いて、前記第1候補のパターン
と間違えやすいと定義されたパターンの参照画像の類似
度を求め、その中で最も類似度の高い参照画像のパター
ンを解とする第2段階の認識処理とからなることを特徴
とするパターン認識方法。3. A pattern recognition method for comparing a recognition target pattern of a multi-valued image with a plurality of reference patterns, wherein a learning process for defining a set of easily erroneous patterns in the plurality of reference patterns and all the recognition target images Of the reference image of the first candidate and the second candidate in order from the highest similarity among them, and the difference in similarity between the first candidate and the second candidate is predetermined. When the threshold value is equal to or more than the threshold value, the first-stage recognition processing in which the pattern of the reference image of the first candidate is used as a solution, and when the difference between the similarities is less than the predetermined threshold value, the first candidate of the set is selected. Using the reference image of the pattern defined to be easily mistaken for the pattern and the new image of the recognition target image, the similarity of the reference image of the pattern defined to be easily mistaken for the pattern of the first candidate is obtained, and Most Also includes a second-stage recognition process in which a pattern of a reference image having a high degree of similarity is used as a solution.
補のパターンと間違えやすいと定義されたパターンの全
ての参照画像の各特徴軸毎のA=カテゴリー間分散/全
分散を求める第1のステップと、当該定義にかかるすべ
ての参照画像と認識対象画像の前記Aの値が大きい軸上
のデータで構成される新たな画像を作成する第2のステ
ップと、当該新たに作成した参照画像と認識対象画像と
の類似度を求める第3のステップとを含むものであるこ
とを特徴とするパターン認識方法。4. The second step of recognition processing is to obtain A = inter-category variance / total variance for each feature axis of all reference images of a pattern defined to be easily mistaken for the first candidate pattern. 1 step, the second step of creating a new image composed of all the reference images according to the definition and the data on the axis having the large value of A of the recognition target image, and the newly created reference A pattern recognition method comprising a third step of obtaining a similarity between an image and an image to be recognized.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8647195A JPH08263655A (en) | 1995-03-17 | 1995-03-17 | Pattern recognition method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8647195A JPH08263655A (en) | 1995-03-17 | 1995-03-17 | Pattern recognition method |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH08263655A true JPH08263655A (en) | 1996-10-11 |
Family
ID=13887885
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP8647195A Withdrawn JPH08263655A (en) | 1995-03-17 | 1995-03-17 | Pattern recognition method |
Country Status (1)
Country | Link |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20020604 |