JPH08249658A - Common inspecting apparatus for optical disk - Google Patents

Common inspecting apparatus for optical disk

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JPH08249658A
JPH08249658A JP8074095A JP8074095A JPH08249658A JP H08249658 A JPH08249658 A JP H08249658A JP 8074095 A JP8074095 A JP 8074095A JP 8074095 A JP8074095 A JP 8074095A JP H08249658 A JPH08249658 A JP H08249658A
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JP
Japan
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inspection
optical
optical head
disks
stamper
Prior art date
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Pending
Application number
JP8074095A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Tetsuo Tsuru
哲生 鶴
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Hitachi High Tech Corp
Original Assignee
Hitachi Electronics Engineering Co Ltd
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Publication date
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Publication of JPH08249658A publication Critical patent/JPH08249658A/en
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Abstract

PURPOSE: To inspect three kinds of disks, that is, a mother board, a stamper and an optical disk by one inspecting apparatus. CONSTITUTION: The apparatus is provided with a loading/rotating mechanism 4' which can load disks for every kind, an optical head 5' used in common, a servo control part 6' having two sets of amplifiers 61', 62' each consisting of three switchable amplifiers to which a focus control signal SFR and a tracking control signal STR outputted from the optical head 5' are inputted, a pre-format inspection part 7' having two sets of amplifiers 71', 72' each consisting of three amplifiers to which polarization signals SA, SB are inputted, a medium inspection part 8, a modulation degree inspection part 9 and a data-processing part 10. When a mother board 1 and a stamper 2 are to be inspected, a correction glass 56 for focusing a spot SP is inserted in the optical head 5'. Moreover, a current control circuit 5b is arranged in the optical head 5' to set the intensity of the spot SP properly for every kind of disks.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】この発明は、光ディスクと、光デ
ィスクを複製するマザー原盤およびスタンパの3種類の
ディスクを、1台の装置で検査できる光ディスク共通検
査装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an optical disc common inspection apparatus capable of inspecting an optical disc and three types of discs, a mother master and a stamper for duplicating the optical disc, by a single device.

【0002】[0002]

【従来の技術】光ディスクには各種の型式があるが、い
ずれも磁気ディスクに比較して膨大な記録密度を有し、
非接触でデータがアクセスできるので、データの保存性
が優れているなどの利点があり、書き換え可能な光ディ
スクは、コンピユータシステムなどの記憶装置として使
用されている。図3により、光ディスクの製作工程の概
要を説明する。(a) はマザー原盤1を示し、マザー原盤
1は適当な直径φ0 のガラスディスクGの表面にホトレ
ジストHR を塗布し、これに対するレーザカッティン
グ、現像、蒸着処理を行って、スパイラル状の案内トラ
ックTR が穿溝される。各案内トラックTR は円周方向
に複数n個のセクタS0 〜Sn に区分され、各セクタに
はID部を設けて同期符号や識別符号などのピットpT
が穿溝される。次に、マザー原盤1の表面に対してニッ
ケルNiの薄膜を蒸着すると、トラックTR と各ピット
T は反転してTR’,pT ’として転写され、この薄
膜を剥離して、(b) に示すスタンパ2が作成され、その
中心には中心孔2a が設けられる。ついで、スタンパ2
に対して、射出成形機により、例えばポリカーボネイト
PCのサブストレートを押圧して、TR ’とpT ’を再
度反転してTR ”とpT ”として転写し、その表面に記
録膜RとアルミニゥムAlの反射膜をコーティングし
て、(c) に示す光ディスク3が複製される。さらに、こ
れを両面使用とするため、(d) に示すように、2枚の光
ディスク3A,3Bを貼り合わせて光ディスク3’とす
る場合もある。これらの光ディスク3と光ディスク3’
は、図示しないカバーガラスをカバーして保護される。
2. Description of the Related Art There are various types of optical disks, all of which have a huge recording density as compared with magnetic disks.
Since data can be accessed in a non-contact manner, there are advantages such as excellent data storability, and rewritable optical disks are used as storage devices for computer systems and the like. The outline of the optical disk manufacturing process will be described with reference to FIG. (a) shows a mother master 1, the mother master 1 a photoresist H R is applied to the surface of suitable diameter phi 0 glass disk G of laser cutting to this, the development, by performing a vapor deposition process, a spiral guide The track T R is pierced. Each guide track T R is divided into a plurality of n sectors S 0 to S n in the circumferential direction, and an ID portion is provided in each sector to provide a pit p T for a synchronization code or an identification code.
Is pierced. Next, when depositing a thin film of nickel Ni to the surface of the mother stamper 1, the track T R and each pit p T transcribed as T R ', p T' inverted, and peeling the thin film, ( The stamper 2 shown in b) is created, and the center hole 2a is provided in the center thereof. Then, stamper 2
On the other hand, with an injection molding machine, for example, a substrate of polycarbonate PC is pressed, T R 'and p T ' are inverted again and transferred as T R "and p T ", and a recording film R is formed on the surface. An optical disk 3 shown in (c) is reproduced by coating a reflective film of aluminum. Further, since it is used on both sides, as shown in (d), the two optical disks 3A and 3B may be bonded together to form an optical disk 3 '. These optical disc 3 and optical disc 3 '
Is protected by covering a cover glass (not shown).

【0003】図4は、各トラックTR の1周を複数に区
分したセクタS0 〜Sn を示し、各セクタにはID部と
データ領域が設けられる。ID部を展開すると、セクタ
マークSMと、同期用のSYNC1、トラック番号とセ
クタ番号などの識別用のIDに対する各ピットpT があ
り、これらはマザー原盤1に予め穿溝されるので、プリ
フォーマットとよばれる。また各データ領域は、使用時
に同期用のSYNC3と、記録データの各ピットpD
が書込まれ、記録されたデータは、SYNC3に同期し
たクロックパルスにより再生される。書き換え可能型の
場合は、すでに記録されたデータピットpD をイレーズ
するか、またはオーバライトして、データが更新され
る。
FIG. 4 shows sectors S 0 to S n in which one track of each track T R is divided into a plurality of sectors, and each sector is provided with an ID section and a data area. Expanding the ID portion, the sector mark SM, SYNC1 for synchronization, there is the pit p T for ID for identification, such as a track number and sector number, since they are previously穿溝the mother master 1, preformat Is called. Further, in each data area, the SYNC3 for synchronization and each pit p D of the recording data are written at the time of use, and the recorded data is reproduced by the clock pulse synchronized with the SYNC3. In the case of the rewritable type, the data pit p D already recorded is erased or overwritten to update the data.

【0004】上記のトラックTR と各プリフォーマット
のピットpT およびデータ領域の媒体には、傷や付着異
物などの欠陥がないことが必要であるので、この発明の
発明者により、これらの欠陥に対する光ディスク検査装
置が先行技術として開発されている。ただしこの検査装
置は、マザー原盤1、スタンパ2、光ディスク3(また
は光ディスク3’)のそれぞれに対して、専用装置とし
て使用されている。
The track T R , the pits p T of each preformat, and the medium in the data area must be free from defects such as scratches and adhered foreign matters. Optical disc inspection apparatus has been developed as a prior art. However, this inspection device is used as a dedicated device for each of the mother master 1, the stamper 2, and the optical disc 3 (or the optical disc 3 ').

【0005】図5は、上記の先行技術にかかる各専用検
査装置の基本構成を示す。各専用検査装置は、装着回転
機構4、光学ヘッド5、サーボ制御部6、プリフォーマ
ット検査部7、媒体検査部8、変調度検査部9、および
データ処理部10とにより構成される。以下光ディスク
3を代表として説明する。光ディスク3は装着回転機構
4のチャックヘッド41にチャックされてモータ(M)42
により回転する。これに対して光学ヘッド5はキャリッ
ジ機構5a により、光ディスク3の半径Rの方向にシー
ク移動する。
FIG. 5 shows the basic structure of each dedicated inspection apparatus according to the above-mentioned prior art. Each dedicated inspection device includes a mounting rotation mechanism 4, an optical head 5, a servo control unit 6, a preformat inspection unit 7, a medium inspection unit 8, a modulation degree inspection unit 9, and a data processing unit 10. Hereinafter, the optical disc 3 will be described as a representative. The optical disk 3 is chucked by the chuck head 41 of the mounting rotation mechanism 4 and the motor (M) 42
To rotate. On the other hand, the optical head 5 seeks in the radius R direction of the optical disc 3 by the carriage mechanism 5a.

【0006】図6は、光学ヘッド5の概略構成(MOヘ
ッドの例)を示す。なおMOヘッド5は磁気光学式のも
ので、光ディスクのドライブ装置に使用される追記型に
比べて、欠陥検出により適するものとされる。MOヘッ
ドは公知であるが、一応その動作の概要を説明する。M
Oヘッドにおいては、レーザ光源51よりの直線偏光のレ
ーザビームが、コリメートレンズ(CL)によりコリメ
ートされて、偏光ビームスプリッタ(PBS1 )を透過
し、ミラー(MR)を経て対物レンズ52によりスポットS
P に集束されて光ディスク3に照射される。この場合、
スポットSP の偏光面はトラックTRの溝方向とされ
る。トラックTR の溝またはプリフォーマットの各ピッ
トPT によるスポットSP の反射光は、対物レンズ52に
より集光され、MR とPBS1 により反射されてビーム
スプリッタ(HM1 )により分割される。その一方はλ
/2板を経てPBS2 により偏光分割され、それぞれは
結像レンズ(KL)により、ピンホトダイオードの受光
器53,54 に結像され、これらより互いに直角方向に偏光
した偏光信号SA,SB が出力される。またHM1 により
分割された他方は、HM2 により再分割され、一方はシ
リンドリカルレンズ(SL)により楕円形に集束されて
4分割受光器53に入射し、これよりフォーカス制御信号
FRが出力される。また、再分割された他方はMR を経
て4分割受光器54に入射して、トラッキング制御信号S
TRが出力される。
FIG. 6 shows a schematic structure of the optical head 5 (an example of an MO head). The MO head 5 is of a magneto-optical type and is more suitable for defect detection than a write-once type used in a drive device for an optical disc. Although the MO head is known, the outline of its operation will be described. M
In the O head, the linearly polarized laser beam from the laser light source 51 is collimated by the collimating lens (CL), passes through the polarizing beam splitter (PBS 1 ), passes through the mirror (M R ) and is spotted by the objective lens 52. S
It is focused on P and irradiated onto the optical disc 3. in this case,
The plane of polarization of the spot S P is a groove direction of the track T R. The reflected light of the spot S P due to the groove of the track T R or each pit P T of the preformat is condensed by the objective lens 52, reflected by M R and PBS 1, and split by the beam splitter (HM 1 ). One of them is λ
The polarized light is split by the PBS 2 through the / 2 plate, and each is imaged by the imaging lens (KL) on the photodetectors 53 and 54 of the pin photodiode, and polarized signals S A and S B polarized in the directions perpendicular to each other are formed. Is output. The other divided by HM 1 is re-divided by HM 2 , and one is converged into an elliptical shape by a cylindrical lens (SL) and enters a four-divided photodetector 53, which outputs a focus control signal S FR. It In addition, the other sub-divided beam enters the four-divided photodetector 54 through M R , and the tracking control signal S
TR is output.

【0007】図7は、サーボ制御部6、プリフォーマッ
ト検査部7、媒体検査部8、および変調度検査部9の概
略構成を示し、以下これらの動作の概要を説明する。サ
ーボ制御部6においては、上記のフォーカス制御信号S
FRとトラッキング制御信号STRは、それぞれ固定ゲイン
のアンプ61,62 によりレベル調整され、ローパスフィル
タ(LF)により平滑とされて、それぞれドライブアン
プ(DRIV)より光学ヘッド5に与えられ、オートフ
ォーカスとトラッキング制御がなされる。プリフォーマ
ット検査部7においては、上記の偏光信号SA,SB は固
定ゲインのアンプ71,72 によりレベル調整されて加算器
81に入力し、これより出力される差信号SADはAGCア
ンプ74により一定レベルに自動調整され、データ再生回
路75によりプリフォーマットが再生され、再生データは
比較判定部76に入力して、書込みされたオリジナルデー
タに比較され、両者が相違するときは、プリフォーマッ
トに欠陥有りと判定される。媒体検査部8においても、
上記のアンプ71,72 の出力信号は加算器81に入力し、こ
れより出力される和信号SADがコンパレータ82,83 の+
端子と−端子に入力して、閾値発生回路84より与えられ
る閾値電圧L1,L2 にそれぞれ比較され、媒体の傷また
は付着異物などに起因した、信号波形の突出による明欠
陥、または消失による暗欠陥がそれぞれ検出される。変
調度検査部9においては、上記の和信号SADやサーボ系
の誤差信号等(アンプ61,62の出力)がマルチプレクサ7
3を介してこれにより選択され、A/D変換器91により
デジタル化され、波高値検出回路92によりその波高値等
が検出され、これら波高値により、各種変調度規格値と
比較計算され、良否判定される。これにより、トラック
R の溝またはプリフォーマットのピットpT の深さ、
幅または形状に異常がないかどうか検査される。上記の
プリフォーマット、媒体の各欠陥データと、変調度のデ
ータは、データ処理部10のマイクロプロセッサ(MP
U)101 に取り込まれ、適当に編集されてプリンタ(P
RNT)103 に出力される。なおメモリ(MEM)102
には、上記のプリフォーマットのオリジナルデータが格
納される。
FIG. 7 shows a schematic configuration of the servo control unit 6, the preformat inspection unit 7, the medium inspection unit 8 and the modulation degree inspection unit 9. The outline of these operations will be described below. In the servo control unit 6, the focus control signal S
The FR and the tracking control signal S TR are level-adjusted by the fixed gain amplifiers 61 and 62, smoothed by the low-pass filter (LF), and given to the optical head 5 by the drive amplifier (DRIV) for auto-focusing. Tracking control is performed. In the pre-format inspection unit 7, the polarization signals S A and S B are level-adjusted by the fixed gain amplifiers 71 and 72, and the adders are added.
The difference signal S AD input to 81 and output therefrom is automatically adjusted to a constant level by the AGC amplifier 74, the preformat is reproduced by the data reproduction circuit 75, and the reproduction data is input to the comparison / determination unit 76 and written. If the two are different from each other, the preformat is determined to be defective. Also in the medium inspection unit 8,
The output signals of the above-mentioned amplifiers 71 and 72 are input to the adder 81, and the sum signal S AD output from this is the + of the comparators 82 and 83.
It is input to the terminal and the-terminal and compared with the threshold voltages L 1 and L 2 provided from the threshold generation circuit 84, respectively. Each dark defect is detected. In the modulation degree inspection unit 9, the above-mentioned sum signal S AD , the error signal of the servo system, etc. (outputs of the amplifiers 61 and 62) are input to the multiplexer 7.
3 is selected by this, digitized by the A / D converter 91, the peak value and the like are detected by the peak value detection circuit 92, and these peak values are compared and calculated with various modulation degree standard values. To be judged. As a result, the depth of the groove of the track T R or the pit p T of the preformat,
Inspected for abnormal width or shape. The above-mentioned preformat, each defect data of the medium, and the data of the modulation degree are stored in the microprocessor (MP) of the data processing unit 10.
U) 101, and edit it appropriately to the printer (P
RNT) 103. The memory (MEM) 102
The above-mentioned preformatted original data is stored in.

【0008】図8は、上記の媒体欠陥を例示するもの
で、プリフォーマット領域の媒体の反射率が大きいとき
は、一般的に再生信号中に波高値と幅が大きいパルスが
存在し、反射率が小さいときは信号波形が消失するの
で、これらが閾値L1 とL2 に比較されて、明欠陥E、
暗欠陥Mとしてそれぞれ検出される。データ領域でも、
同様の理由による明欠陥Eと暗欠陥Mが、閾値L1 とL
2 によりそれぞれ検出される。以上により検出されたプ
リフォーマットとデータ領域の欠陥データは、データ処
理部9により処理されて、欠陥種別と、欠陥の存在する
トラック溝TR とセクタSの番号が付加されて、プリン
タ(PRNT)93によりプリントされる。
FIG. 8 exemplifies the above-mentioned medium defect. When the reflectance of the medium in the preformatted area is large, a pulse having a large peak value and a large width generally exists in the reproduced signal, and the reflectance is large. Since the signal waveform disappears when is small, these are compared with the thresholds L 1 and L 2 , and the bright defect E,
Each is detected as a dark defect M. In the data area,
For the same reason, the bright defect E and the dark defect M have the threshold values L 1 and L 2.
Detected by 2 respectively. The defect data preformat and data regions detected by the above, it is processed by the data processing unit 9, and the defect type, is added the number of the track groove T R and the sector S in the presence of a defect, the printer (PRNT) Printed by 93.

【0009】次にマザー原盤1とスタンパ2に対する専
用の検査装置について述べる。ここで、3種類の被検査
ディスクの媒体を比較すると、マザー原盤1はガラスG
とニッケル膜HR よりなり、スタンパ2はニッケルNi
そのものであり、光ディスク3は、記録膜Rにアルミニ
ゥムAlの反射膜がコーティングされているので、これ
らの反射率には大差があり、例えばHR 、Niは70〜
80%、Alは15〜35%であり、従って光ディスク
3に比べてマザー原盤1とスタンパ2の反射強度は非常
に大きい。このため、サーボ制御部6のアンプ61,62
と、プリフォーマット検査部7のアンプ71,72 とが飽和
して動作不良となる場合があって、アンプ61.62 が飽和
するとオートフォーカスとトラッキング制御が安定にな
されない。またアンプ71,72 が飽和すると加算器81とA
GCアンプ74が良好に動作せず、プリフォーマット、媒
体、および変調度の検査に支障する。以上に対して専用
の各検査装置においては、各ディスクの異なる反射率に
対して、レーザ光源51の供給電流の調整により、各ディ
スクに適切な強度のスポットSP を照射して反射光の強
度をなるべく一定とし、また各アンプ61,62 、71,72に
は、各ディスクに対して飽和せず適切な動作レンジを有
するものを使用して、各欠陥が安定に検出されている。
次に、上記以外の各専用検査装置の相違を述べると、前
記したように、スタンパ2と光ディスク3には中心孔2
a,3a があるが、マザー原盤1にはこれが無いので、各
専用検査装置の装着回転機構4は、中心孔の有無に対応
した構造のものが使用されている。また、光ディスク3
にはカバーガラスがあるが、マザー原盤1とスタンパ2
には、これが無い。このために光ディスク3に合焦した
スポットSP は、そのままではマザー原盤1とスタンパ
2に対して合焦しないので、マザー原盤1とスタンパ2
の専用検査装置では、光学ヘッド5の対物レンズ52とデ
ィスクの間に、カバーガラスに相当する補正ガラスを挿
入してスポットSP が合焦されている。
Next, a dedicated inspection device for the mother master 1 and the stamper 2 will be described. Here, comparing the media of the three types of disks to be inspected, the mother master 1 is glass G
And nickel film H R , and the stamper 2 is nickel Ni
And in itself, the optical disk 3, the reflection film of Aruminiumu Al on the recording film R is coated, these reflectance have much different, for example H R, Ni is 70
80% and Al is 15 to 35%, so that the reflection intensity of the mother master 1 and the stamper 2 is much higher than that of the optical disc 3. Therefore, the amplifiers 61, 62 of the servo control unit 6
Then, the amplifiers 71 and 72 of the pre-format inspection unit 7 may be saturated, resulting in malfunction. If the amplifier 61.62 is saturated, autofocus and tracking control are not stable. When the amplifiers 71 and 72 are saturated, the adder 81 and A
The GC amplifier 74 does not work well and interferes with preformat, medium and modulation test. Intensity of each inspection apparatus dedicated for different reflectivity of the disk, by adjusting the supply current of the laser light source 51, the reflected light by irradiating a spot S P output appropriate intensity for each disk with respect to more And each amplifier 61, 62, 71, 72 having a proper operating range without being saturated with respect to each disk is used to stably detect each defect.
Next, the difference between the dedicated inspection devices other than the above will be described. As described above, the stamper 2 and the optical disc 3 have the center hole 2
Although there are a and 3a, the mother master 1 does not have this, so that the mounting rotation mechanism 4 of each dedicated inspection device has a structure corresponding to the presence or absence of the central hole. Also, the optical disc 3
Although there is a cover glass, the mother master 1 and stamper 2
I don't have this. Spot S P focused to the optical disc 3 to this itself would not in focus with respect to the mother master 1 and the stamper 2, the mother master 1 and the stamper 2
In a dedicated inspection apparatus, between the objective lens 52 and the disk of the optical head 5, the spot S P is focused by inserting a correction glass corresponding to the cover glass.

【0010】[0010]

【発明が解決しようとする課題】さて、上記の3種類の
各ディスクに対する専用の検査装置には問題がある。ま
ず、光ディスク3,3’は多数あるが、これに比べてマ
ザー原盤1とスタンパ2ははなはだ少ないので、これら
に対する専用の検査装置は稼働率が低くて効率が悪い。
そこで1台の検査装置により3種類のディスクを共通に
検査すれば、稼働率の低い専用装置を廃止でき、これに
よりコストパホーマンスを向上することが望ましい。次
に、マザー原盤1とスタンパ2のプリフォーマットの再
生データの問題がある。光ディスク3,3’に対して
は、プリフォーマットのピットpT の再生データには、
品質規格が規定されている。一方、マザー原盤1とスタ
ンパ2トラック溝TR とピットpT の深さ(または高
さ)、幅、形状は、これから転写された光ディスク3の
それらと異なっており、従って、マザー原盤1とスタン
パ2の再生信号の波形は、光ディスク3のそれと当然相
違する。にもかかわらず、マザー原盤1とスタンパ2の
再生データ(または信号波形)に対しては、品質規格が
なんら規定されていないので、これらの再生データは、
その当否が分からないままオリジナルデータと照合され
ている。これらの再生データの当否を知るためには、同
一の光学ヘッド5により、3種類のディスクのプリフォ
ーマットを読出して再生し、3者の再生データを比較し
て、相互間の相関性を調べることが有効と考えられ、す
なわち1台の装置で3種類のディスクを検査することが
必要となる。この発明は上記に鑑みてなされたもので、
マザー原盤1とスタンパ2および光ディスク3,3’の
3種類のディスクの各欠陥を、1台の検査装置により検
査可能とする共通検査装置を提供することを目的とす
る。
The dedicated inspection device for each of the above three types of disks has a problem. First, although there are many optical disks 3 and 3 ', the number of mother masters 1 and stampers 2 is far less than that of the optical disks 3 and 3', so that a dedicated inspection apparatus for them has a low operating rate and is inefficient.
Therefore, by inspecting three kinds of disks in common by one inspection device, it is desirable to eliminate a dedicated device having a low operating rate, thereby improving cost performance. Next, there is a problem of preformatted reproduction data of the mother master 1 and the stamper 2. For the optical discs 3 and 3 ', the reproduction data of the pre-formatted pit p T is
Quality standards are specified. On the other hand, the mother master 1 and the stamper 2 track groove T depths of R and the pit p T (or height), width, shape is different from those of the optical disk 3, which is now transferred, therefore, the mother master 1 and the stamper The waveform of the reproduced signal 2 is naturally different from that of the optical disc 3. Nevertheless, since no quality standard is specified for the reproduction data (or signal waveform) of the mother master 1 and the stamper 2, these reproduction data are
It is collated with the original data without knowing whether it is right or wrong. In order to know whether these reproduced data are correct or not, the same optical head 5 reads out and reproduces the preformats of three types of discs, compares the reproduced data of the three parties, and examines the mutual correlation. Is considered effective, that is, it is necessary to inspect three types of disks with one device. The present invention has been made in view of the above,
It is an object of the present invention to provide a common inspection apparatus capable of inspecting each defect of three types of disks, that is, a mother master 1 and a stamper 2 and optical disks 3 and 3'by one inspection apparatus.

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】この発明は、光ディスク
の共通検査装置であって、前記の3種類のディスクを種
類別に装着して回転する装着回転機構と、各ディスクに
対してレーザスポットを照射して、データを読出しする
光学ヘッド、光学ヘッドのオートフォーカスとトラッキ
ング制御とを行うサーボ制御部、光学ヘッドにより読出
して再生された各プリフォーマットを、オリジナルデー
タに比較して、その欠陥を検査するプリフォーマット検
査部、プリフォーマットと記録データ領域の媒体の光学
的欠陥を検査する媒体検査部、および、トラック溝とプ
リフォーマットピットの信号変調度の良否を検査する変
調度検査部とを具備し、かつ、3種類のディスクに対し
て、補正ガラスの挿入または抜去によりレーザスポット
をそれぞれ合焦させる合焦手段、各ディスクの種類によ
る反射率の相違に対して、レーザスポットの強度を適切
値に切り換える切り換え手段、および、トラック溝とプ
リフォーマットピットの信号変調度の相違に対して、サ
ーボ制御部とプリフォーマット検査部および変調度検査
部のアンプのゲインを、それぞれ適切値に切り換える切
り換え手段とを設けて構成され、3種類のディスクに対
する上記の各検査を、同一装置により可能とするもので
ある。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention is a common optical disk inspection apparatus, which mounts and rotates each of the above-mentioned three kinds of disks by type, and irradiates each disk with a laser spot. Then, the optical head for reading the data, the servo control unit for performing the auto focus and tracking control of the optical head, the preformats read and reproduced by the optical head are compared with the original data, and the defect is inspected. A pre-format inspecting unit, a medium inspecting unit for inspecting optical defects of the medium in the pre-format and recording data area, and a modulation degree inspecting unit for inspecting the quality of the signal modulation degree of the track groove and pre-format pits are provided. Moreover, the laser spot is focused on each of the three types of discs by inserting or removing the correction glass. Focusing means, switching means for switching the intensity of the laser spot to an appropriate value for the difference in reflectance depending on the type of each disc, and servo control for the difference in signal modulation degree between the track groove and the preformatted pit. And a switching means for switching the gains of the amplifiers of the pre-format inspection section and the modulation degree inspection section to appropriate values, respectively, and enable each of the above-mentioned inspections of three types of disks by the same device. is there.

【0012】[0012]

【作用】上記の共通検査装置においては、3種類の各デ
ィスクは種類別の装着回転機構に装着されて回転し、光
学ヘッドは、各ディスクに対して共通使用され、レーザ
光源よりのレーザスポットが、切り換え手段より適切な
強度に設定されるとともに、合焦手段により各ディスク
に合焦して照射される。また、トラック溝とプリフォー
マットピットの信号変調度の相違に対して、サーボ制御
部とプリフォーマット検査部および変調度検査部のアン
プのゲインが、その切り換え手段によりそれぞれ適切値
とされ、これと上記の適切なスポット強度とにより、各
アンプは飽和することなく安定に動作して、サーボ制御
部では光学ヘッドに対するオートフォーカスとトラッキ
ング制御が良好になされ、また、プリフォーマット検査
部、媒体検査部および変調度検査部では、減算器と加算
器が安定に動作して正しい差信号と和信号がえられて、
プリフォーマット、媒体および変調度の欠陥または不良
が、専用検査装置と同様に検査される。
In the above-mentioned common inspection apparatus, each of the three types of discs is mounted and rotated by a mounting rotation mechanism for each type, the optical head is commonly used for each disc, and the laser spot from the laser light source is used. The appropriate intensity is set by the switching means, and each disc is focused and irradiated by the focusing means. Further, with respect to the difference in signal modulation degree between the track groove and the preformat pit, the gains of the amplifiers of the servo control section, the preformat inspection section and the modulation degree inspection section are set to appropriate values by the switching means. With the appropriate spot intensity of each amplifier, each amplifier operates stably without being saturated, and the servo control section performs good auto focus and tracking control for the optical head, and the pre-format inspection section, medium inspection section and modulation section. In the degree inspection section, the subtractor and the adder operate stably, and the correct difference signal and sum signal are obtained,
Defects or defects in pre-format, media and modulation depth are inspected as well as dedicated inspection equipment.

【0013】[0013]

【実施例】図1および図2は、この発明の共通検査装置
の一実施例を示し、図1は共通検査装置の装着回転機構
4’の構成図、図2は、共通検査装置の光学ヘッド
5’、サーボ制御部6’、プリフォーマット検査部7’
の部分図を示す。なおこの[’]は、図6と図7の各部
がこの発明において変更されたことを示し、これ以外の
構成要素は図6,図7と同一であり同一番号で示す。図
1において、(a) はマザー原盤1に対する装着回転機構
4’を示し、駆動モータM42の回転軸43に、アルミニゥ
ムなどのディスク44をねじ込みして固定し、その上面に
多孔質セラミックの吸着板45を貼り付け、これに載置さ
れたマザー原盤1をエア吸引機46により吸引して保持す
る。(b) はスタンパ2に対するもので、スタンパ2は、
中心孔2a を位置決めする必要があるので、吸着板45に
載置されたスタンパ2に対して、図示の形状の位置決め
具47をディスク44の中心にねじ込みして位置決めし、や
はりエア吸引機46により吸引して保持する。(c) は光デ
ィスク3,3’に対するもので、この場合は、エア吸着
方式をとらず、図5と同じチャックヘッド41を回転軸43
にねじ固定し、これにディスクをチャックする。
1 and 2 show an embodiment of a common inspection apparatus according to the present invention. FIG. 1 is a block diagram of a mounting / rotating mechanism 4'of the common inspection apparatus, and FIG. 2 is an optical head of the common inspection apparatus. 5 ', servo control unit 6', pre-format inspection unit 7 '
The partial view of is shown. Note that this ['] indicates that each part in FIGS. 6 and 7 has been changed in the present invention, and the other constituent elements are the same as those in FIGS. 6 and 7 and are denoted by the same reference numerals. In FIG. 1, (a) shows a mounting / rotating mechanism 4 ′ for the mother master 1. A disc 44 such as an aluminum is screwed and fixed to a rotary shaft 43 of a drive motor M42, and a porous ceramic suction plate is mounted on the upper surface thereof. 45 is attached, and the mother master 1 placed on this is sucked and held by the air suction device 46. (b) is for the stamper 2, which is
Since it is necessary to position the center hole 2a, a positioning tool 47 having the illustrated shape is screwed into the center of the disk 44 for positioning with respect to the stamper 2 placed on the suction plate 45, and the air suction device 46 also causes the positioning. Aspirate and hold. (c) is for the optical discs 3, 3 '. In this case, the same chuck head 41 as in FIG.
Screw to and chuck the disc to it.

【0014】図2(a) において、光学ヘッド5’は、図
6の光学ヘッド5に対して電流制御回路5b を付加し、
これをデータ処理部9のMPU101 に接続する。また、
マザー原盤1とスタンパ2の検査の場合は、対物レンズ
53とディスクの間に、光ディスク1のカバーガラスに相
当する補正ガラス57を挿入して、スポットSP を合焦さ
せる。なお、反射率が異なる3種類のディスクに対する
供給電流値と、補正ガラス57の厚さは、専用検査装置と
同一値とし、各供給電流値をMEM102 に格納してお
く。図2(b) において、サーボ制御部6’は、図7のサ
ーボ制御部6のアンプ61,62 の代わりに、2組のアンプ
群61’,62 ’を設ける。アンプ群61’は、3種類のディ
スクに対応したゲインと動作レンジを有する3個のアン
プ611,612,613 と、これを切り換えるスイッチ614,615
よりなり、アンプ群62’も同様である。また、プリフォ
ーマット検査部7’は、図7のプリフォーマット検査部
7のアンプ71,72 の代わりに、上記と同様な2組のアン
プ群71’,72 ’を設ける。なお、各組のアンプの切り換
えは、スイッチによらず基板の差し換え方式としてもよ
い。
In FIG. 2A, an optical head 5'adds a current control circuit 5b to the optical head 5 of FIG.
This is connected to the MPU 101 of the data processing unit 9. Also,
Objective lens for inspection of mother master 1 and stamper 2
Between 53 and the disk, insert the correction glass 57 corresponding to the cover glass of the optical disk 1, to focus the spot S P. It should be noted that the supply current values for the three types of disks having different reflectances and the thickness of the correction glass 57 are the same values as those of the dedicated inspection device, and each supply current value is stored in the MEM 102. In FIG. 2B, the servo control unit 6'provides two sets of amplifier groups 61 'and 62' instead of the amplifiers 61 and 62 of the servo control unit 6 of FIG. The amplifier group 61 'includes three amplifiers 611,612,613 having gains and operating ranges corresponding to three types of disks, and switches 614,615 for switching between them.
The same applies to the amplifier group 62 '. Further, the preformat inspection section 7'is provided with two sets of amplifier groups 71 'and 72' similar to the above, instead of the amplifiers 71 and 72 of the preformat inspection section 7 of FIG. It should be noted that the switching of the amplifiers of each set may be performed by a method of replacing the substrate without using switches.

【0015】以下図1と図2に図7を併用して、上記の
共通検査装置における3種類のディスクの検査方法を説
明する。検査においては、ディスクの種類に対応した装
着回転機構4’に交換し、これにディスクを装着して回
転する。光ディスク3,3’の場合は補正ガラス57を無
しとし、マザー原盤1とスタンパ2の場合は、光学ヘッ
ド5’に補正ガラス57を挿入した後、供給電流値をME
M102 より読出して電流制御回路5b に与え、各ディス
クに対してそれぞれ適切な強度のレーザスポットSP
照射する。また各アンプ群のアンプを、ディスクの種類
に対応するものに切り換える。光学ヘッド5’が出力す
るフォーカス制御信号SFRとトラッキング制御信号STR
は、サーボ制御部6’の各アンプにより飽和することな
く安定にレベル調整されて、光ディスク3が良好にオー
トフォーカスとトラッキング制御される。一方、偏光信
号SA,SB は、プリフォーマット検査部7’の各アンプ
により飽和することなく安定にレベル調整されて減算器
73と加算器81に入力し、それぞれより正しい差信号SSB
と和信号SADが出力され、プリフォーマットの欠陥と、
媒体の明暗欠陥、および変調度の不良が、各専用検査装
置と同様に検査され、欠陥または不良データはMPU10
2 に逐次に取り込まれて編集され、プリンタ103 に出力
される。
A method of inspecting three types of disks in the above-described common inspection apparatus will be described below with reference to FIGS. 1 and 2 in combination with FIG. In the inspection, the mounting / rotating mechanism 4'corresponding to the type of the disc is replaced, and the disc is mounted and rotated. In the case of the optical disks 3 and 3 ', the correction glass 57 is not used. In the case of the mother master 1 and the stamper 2, after inserting the correction glass 57 into the optical head 5', the supply current value is set to ME.
The data is read from M102 and given to the current control circuit 5b, and each disk is irradiated with a laser spot S P having an appropriate intensity. In addition, the amplifier of each amplifier group is switched to the one corresponding to the disc type. The focus control signal S FR and the tracking control signal S TR output by the optical head 5 ′
Is stably adjusted by each amplifier of the servo control unit 6 ′ without being saturated, so that the optical disc 3 is satisfactorily autofocused and tracking-controlled. On the other hand, the polarization signals S A and S B are adjusted in level stably without being saturated by each amplifier of the pre-format inspection unit 7 ′ and the subtractor
73 and the adder 81 to input more accurate difference signals S SB
And the sum signal S AD is output, and there is a defect in the preformat,
Bright and dark defects of the medium and defects of the modulation degree are inspected in the same manner as in each dedicated inspection device, and the defect or defective data is MPU10.
The data is sequentially captured by the printer 2, edited, and output to the printer 103.

【0016】[0016]

【発明の効果】以上の説明のとおり、この発明の共通検
査装置によれば、マザー原盤、スタンパ、光ディスクの
3種類のディスクは、1台の検査装置により検査される
ので、従来のマザー原盤とスタンパに対する稼働率の低
い専用検査装置がともに不要となって、その分経費が節
約され、また、3種類のディスクのプリフォーマットは
同一の光学ヘッドにより読出して再生され、3者の再生
データを互いに比較して相関性を調べることにより、従
来規格化されていない、マザー原盤とスタンパの再生デ
ータの当否の判定に利用できるもので、光ディスク検査
のコストパホーマンスと検査技術の向上に寄与する効果
には大きいものがある。
As described above, according to the common inspection apparatus of the present invention, three types of disks, that is, a mother master, a stamper, and an optical disk, are inspected by one inspection apparatus, so that the conventional mother master is used. Since no dedicated inspection device with low operating rate for the stamper is required, the cost is saved accordingly, and the preformats of the three types of discs are read and reproduced by the same optical head, and the reproduction data of the three types are mutually exchanged. By comparing and checking the correlation, it can be used to judge whether the reproduction data of the mother master and the stamper, which has not been standardized in the past, is correct, and the effect that contributes to the cost performance of optical disc inspection and the improvement of inspection technology. There is a big one.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】図1は、この発明の一実施例における装着回転
機構の構成図であって、(a)は、マザー原盤の回転装
着機構の説明図であり、(b)は、スタンパの回転装着
機構の説明図であり、(c)は、光ディスクの回転装着
機構の説明図である。
1A and 1B are configuration diagrams of a mounting / rotating mechanism according to an embodiment of the present invention, FIG. 1A is an explanatory diagram of a rotating mounting mechanism of a mother master, and FIG. 1B is a rotation of a stamper. It is an explanatory view of a mounting mechanism, and (c) is an explanatory view of a rotary mounting mechanism of an optical disc.

【図2】図2は、この発明の一実施例における共通検査
装置の部分図であって、(a)は、マザー原盤とスタン
パの検査の場合の光ビーム照射の説明図、(b)は、光
ヘッドからの信号を受けるザーボ制御系とプリフォーマ
ット検査部のブロック図である。
2A and 2B are partial views of a common inspection apparatus according to an embodiment of the present invention, FIG. 2A is an explanatory diagram of light beam irradiation in the case of inspection of a mother master and a stamper, and FIG. FIG. 4 is a block diagram of a servo control system and a preformat inspection unit that receive a signal from an optical head.

【図3】図3は、光ディスクの製作工程の説明図であっ
て、(a)は、マザー原盤の説明図、(b)は、スタン
パの説明図、(c)は、光ディスクの説明図である。
FIG. 3 is an explanatory diagram of an optical disc manufacturing process, (a) is an explanatory diagram of a mother master, (b) is an explanatory diagram of a stamper, and (c) is an explanatory diagram of an optical disc. is there.

【図4】図4は、各トラック を区分した複数のセクタ
の説明図である。
FIG. 4 is an explanatory diagram of a plurality of sectors into which each track is divided.

【図5】図5は、光ディスクに対する専用の検査装置の
基本構成図である。
FIG. 5 is a basic configuration diagram of a dedicated inspection device for an optical disc.

【図6】図6は、光学ヘッドの概略構成図である。FIG. 6 is a schematic configuration diagram of an optical head.

【図7】図7は、サーボ制御部、プリフォーマット検査
部、媒体検査部、および変調度検査部の概略構成図であ
る。
FIG. 7 is a schematic configuration diagram of a servo control unit, a preformat inspection unit, a medium inspection unit, and a modulation degree inspection unit.

【図8】図8は、プリフォーマットとデータ領域におけ
る、媒体の明欠陥と暗欠陥の例を示す波形図である。
FIG. 8 is a waveform diagram showing an example of a bright defect and a dark defect of a medium in a preformat and a data area.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…マザー原盤、2…スタンパ、3,3’…光ディス
ク、2a,3a …中心孔、4…従来の装着回転機構、41…
チャックヘッド、42…駆動モータ(M)、4’…この発
明の装着回転機構、43…回転軸、44…アルミニュームデ
ィスク、45…吸着板、46…エア吸引機、47…位置決め
具、5…従来の光学ヘッド、51…レーザ光源、 52…対
物レンズ、53,54,55,56 …受光器、5a …キャリッジ機
構 5’…この発明における光学ヘッド、57…補正ガラス、
5b …電流制御回路、6…従来のサーボ制御部、61,62
…アンプ、6’…この発明のサーボ信号作成部、61’,6
2 ’…アンプ群、7…従来のプリフォーマット検査部、
71,72 …アンプ、73…減算器、74…AGCアンプ、75…
データ再生回路、76…比較判定部、7’…この発明のプ
リフォーマット検査部、71’,72 ’…アンプ群、8…媒
体検査部、81…加算器、82,83 …コンパレータ、84…閾
値発生回路、9…変調度検査部、91…A/D変換器、92
…波高値検出回路、93…比較判定部 10…データ処理部、101 …マイクロプロセッサ(MP
U)、101 …メモリ(MEM)、103 …プリンタ(PR
NT)、TR …案内トラック、S0 〜Sn …セクタ、p
T,pD …ピット、SP …レーザスポット、PBS…偏光
ビームスプリッタ、HM…ハーフミラー MR …ミラー、CL…コリメートレンズ、KL…結像レ
ンズ、SL…シリンドリカルレンズ、LF…ローパスフ
ィルタ、DRIV…ドライブアンプ、SFR…フォーカス
制御信号、STR…トラッキング制御信号、SA,SB …偏
光信号、SSB…差信号、SAD…和信号、L1,L2 …閾
値、E…媒体の明欠陥、M…媒体の暗欠陥。
1 ... Mother master, 2 ... Stamper, 3, 3 '... Optical disk, 2a, 3a ... Center hole, 4 ... Conventional mounting rotation mechanism, 41 ...
Chuck head, 42 ... Drive motor (M), 4 '... Mounting rotation mechanism of the present invention, 43 ... Rotation shaft, 44 ... Aluminum disc, 45 ... Adsorption plate, 46 ... Air suction machine, 47 ... Positioning tool, 5 ... Conventional optical head, 51 ... Laser light source, 52 ... Objective lens, 53, 54, 55, 56 ... Light receiver, 5a ... Carriage mechanism 5 '... Optical head in this invention, 57 ... Correction glass,
5b ... Current control circuit, 6 ... Conventional servo control section, 61, 62
... Amplifier, 6 '... Servo signal creation unit of this invention, 61', 6
2 '... amplifier group, 7 ... conventional preformat inspection section,
71,72 ... Amplifier, 73 ... Subtractor, 74 ... AGC amplifier, 75 ...
Data reproduction circuit, 76 ... Comparison determination unit, 7 '... Preformat inspection unit of this invention, 71', 72 '... Amplifier group, 8 ... Medium inspection unit, 81 ... Adder, 82, 83 ... Comparator, 84 ... Threshold value Generation circuit, 9 ... Modulation degree inspection section, 91 ... A / D converter, 92
... Crest value detection circuit, 93 ... Comparison determination section 10 ... Data processing section, 101 ... Microprocessor (MP
U), 101 ... Memory (MEM), 103 ... Printer (PR)
NT), T R ... guide track, S 0 ~S n ... sector, p
T, p D ... Pit, S P ... laser spot, PBS ... polarized beam splitter, HM ... half mirror M R ... mirror, CL ... collimator lens, KL ... imaging lens, SL ... cylindrical lens, LF ... low pass filter, DRIV ... drive amplifier, S FR ... focus control signal, S TR ... tracking control signal, S A , S B ... polarization signal, S SB ... difference signal, S AD ... sum signal, L 1 , L 2 ... threshold value, E ... medium Bright defect of M, dark defect of medium.

─────────────────────────────────────────────────────
─────────────────────────────────────────────────── ───

【手続補正書】[Procedure amendment]

【提出日】平成7年6月30日[Submission date] June 30, 1995

【手続補正1】[Procedure Amendment 1]

【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement

【補正対象項目名】図面の簡単な説明[Name of item to be corrected] Brief description of the drawing

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction content]

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】図1は、この発明の一実施例における装着回転
機構の構成図であって、(a)は、マザー原盤の回転装
着機構の説明図であり、(b)は、スタンパの回転装着
機構の説明図であり、(c)は、光ディスクの回転装着
機構の説明図である。
1A and 1B are configuration diagrams of a mounting / rotating mechanism according to an embodiment of the present invention, FIG. 1A is an explanatory diagram of a rotating mounting mechanism of a mother master, and FIG. 1B is a rotation of a stamper. It is an explanatory view of a mounting mechanism, and (c) is an explanatory view of a rotary mounting mechanism of an optical disc.

【図2】図2は、この発明の一実施例における共通検査
装置の部分図であって、(a)は、マザー原盤とスタン
パの検査の場合の光ビーム照射の説明図、(b)は、光
ヘッドからの信号を受けるザーボ制御系とプリフォーマ
ット検査部のブロック図である。
2A and 2B are partial views of a common inspection apparatus according to an embodiment of the present invention, FIG. 2A is an explanatory diagram of light beam irradiation in the case of inspection of a mother master and a stamper, and FIG. FIG. 4 is a block diagram of a servo control system and a preformat inspection unit that receive a signal from an optical head.

【図3】図3は、光ディスクの製作工程の説明図であっ
て、(a)は、マザー原盤の説明図、(b)は、スタン
パの説明図、(c)は、光ディスクの説明図、(d)
は、2枚の光ディスクを貼り合せた場合の説明図であ
る。
FIG. 3 is an explanatory diagram of an optical disc manufacturing process, (a) is an explanatory diagram of a mother master, (b) is an explanatory diagram of a stamper, and (c) is an explanatory diagram of an optical disc. (D)
[FIG. 3] is an explanatory diagram of a case where two optical disks are bonded together.

【図4】図4は、各トラックを区分した複数のセクタの
説明図である。
FIG. 4 is an explanatory diagram of a plurality of sectors into which each track is divided.

【図5】図5は、光ディスクに対する専用の検査装置の
基本構成図である。
FIG. 5 is a basic configuration diagram of a dedicated inspection device for an optical disc.

【図6】図6は、光学ヘッドの概略構成図である。FIG. 6 is a schematic configuration diagram of an optical head.

【図7】図7は、サーボ制御部、プリフォーマット検査
部、媒体検査部、および変調度検査部の概略構成図であ
る。
FIG. 7 is a schematic configuration diagram of a servo control unit, a preformat inspection unit, a medium inspection unit, and a modulation degree inspection unit.

【図8】図8は、マザー原盤とスタンパについての検査
装置のブロック図である。
FIG. 8 is a block diagram of an inspection apparatus for a mother master and a stamper.

【図9】図9は、プリフォーマットとデータ領域におけ
る、媒体の明欠陥と暗欠陥の例を示す波形図である。
FIG. 9 is a waveform diagram showing an example of a bright defect and a dark defect of a medium in a preformat and a data area.

【符号の説明】 1…マザー原盤、2…スタンパ、3,3’…光ディス
ク、2a,3a…中心孔、4…従来の装着回転機構、4
1…チャックヘッド、42…駆動モータ(M)、4’…
この発明の装着回転機構、43…回転軸、44…アルミ
ニュームディスク、45…吸着板、46…エア吸引機、
47…位置決め具、5…従来の光学ヘッド、51…レー
ザ光源、 52…対物レンズ、53,54,55,56
…受光器、5a…キャリッジ機構 5’…この発明における光学ヘッド、57…補正ガラ
ス、5b…電流制御回路、6…従来のサーボ制御部、6
1,62…アンプ、6’…この発明のサーボ信号作成
部、61’,62’…アンプ群、7…従来のプリフォー
マット検査部、71,72…アンプ、73…減算器、7
4…AGCアンプ、75…データ再生回路、76…比較
判定部、7’…この発明のプリフォーマット検査部、7
1’,72’…アンプ群、8…媒体検査部、81…加算
器、82,83…コンパレータ、84…閾値発生回路、
9…変調度検査部、91…A/D変換器、92…波高値
検出回路、93…比較判定部10…データ処理部、10
1…マイクロプロセッサ(MPU)、101…メモリ
(MEM)、103…プリンタ(PRNT)、T…案
内トラック、S〜S…セクタ、p,p…ピッ
ト、S…レーザスポット、PBS…偏光ビームスプリ
ッタ、HM…ハーフミラー M…ミラー、CL…コリメートレンズ、KL…結像レ
ンズ、SL…シリンドリカルレンズ、LF…ローパスフ
ィルタ、DRIV…ドライブアンプ、SFR…フォーカ
ス制御信号、STR…トラッキング制御信号、S,S
…偏光信号、SSB…差信号、SAD…和信号、
,L…閾値、E…媒体の明欠陥、M…媒体の暗欠
陥。
[Explanation of Codes] 1 ... Mother master, 2 ... Stamper, 3, 3 '... Optical disc, 2a, 3a ... Center hole, 4 ... Conventional mounting rotation mechanism, 4
1 ... Chuck head, 42 ... Drive motor (M), 4 '...
The mounting rotating mechanism of the present invention, 43 ... Rotating shaft, 44 ... Aluminum disc, 45 ... Suction plate, 46 ... Air suction device,
47 ... Positioning tool, 5 ... Conventional optical head, 51 ... Laser light source, 52 ... Objective lens, 53, 54, 55, 56
... light receiver, 5a ... carriage mechanism 5 '... optical head in this invention, 57 ... correction glass, 5b ... current control circuit, 6 ... conventional servo control section, 6
1, 62 ... Amplifier, 6 '... Servo signal creating section of the present invention, 61', 62 '... Amplifier group, 7 ... Conventional preformat inspection section, 71, 72 ... Amplifier, 73 ... Subtractor, 7
4 ... AGC amplifier, 75 ... Data reproduction circuit, 76 ... Comparison determination section, 7 '... Preformat inspection section of this invention, 7
1 ', 72' ... Amplifier group, 8 ... Medium inspection unit, 81 ... Adder, 82, 83 ... Comparator, 84 ... Threshold generation circuit,
9 ... Modulation degree inspection unit, 91 ... A / D converter, 92 ... Crest value detection circuit, 93 ... Comparison determination unit 10 ... Data processing unit, 10
1 ... microprocessor (MPU), 101 ... memory (MEM), 103 ... printer (PRNT), T R ... guide track, S o to S n ... sector, p T, p D ... Pit, S P ... laser spot, PBS ... polarized beam splitter, HM ... half mirror M R ... mirror, CL ... collimator lens, KL ... imaging lens, SL ... cylindrical lens, LF ... low pass filter, DRIV ... drive amplifier, S FR ... focus control signal, S TR ... Tracking control signals, S A , S
B ... Polarization signal, SSB ... Difference signal, SAD ... Sum signal,
L 1 , L 2 ... Threshold value, E ... Medium bright defect, M ... Medium dark defect.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】スパイラル状のトラック溝と、該トラック
溝を円周方向に区分した複数の各セクタに、同期符号と
IDデータのピットよりなるプリフォーマット、および
記録データ領域とが設定された、マザー原盤とスタンパ
および光ディスクの3種類のディスクを検査対象とし、
該3種類のディスクを種類別に装着して回転する装着回
転機構と、該各ディスクに対してレーザスポットを照射
して、データを書込み/読出しする光学ヘッド、該光学
ヘッドのオートフォーカスとトラッキング制御とを行う
サーボ制御部、該光学ヘッドにより読出して再生された
各プリフォーマットを、書込みされたオリジナルデータ
に比較して、その欠陥を検査するプリフォーマット検査
部、前記プリフォーマットと記録データ領域の媒体の光
学的欠陥を検査する媒体検査部、および、前記トラック
溝とプリフォーマットピットの信号変調度の良否を検査
する変調度検査部とを具備し、かつ、前記3種類のディ
スクに対して、補正ガラスの挿入または抜去により前記
レーザスポットをそれぞれ合焦させる合焦手段、該各デ
ィスクの種類による反射率の相違に対して、前記レーザ
スポットの強度を適切値に切り換える切り換え手段、お
よび、前記トラック溝とプリフォーマットピットの信号
変調度の相違に対して、前記サーボ制御部とプリフォー
マット検査部および変調度検査部のアンプのゲインを、
それぞれ適切値に切り換える切り換え手段とを設けて構
成され、前記3種類のディスクに対する前記各検査を、
同一装置により可能とすることを特徴とする、光ディス
クの共通検査装置。
1. A spiral track groove, and a plurality of sectors dividing the track groove in a circumferential direction are provided with a preformat including a sync code and ID data pits, and a recording data area. Three types of discs, mother master, stamper and optical disc, are inspected.
A mounting / rotating mechanism that mounts and rotates the three types of discs by type, an optical head that irradiates a laser spot on each of the discs to write / read data, and an autofocus and tracking control of the optical head. A servo control section for performing a pre-format inspection section for inspecting defects by comparing each pre-format read and reproduced by the optical head with the written original data, and the pre-format and the recording data area of the medium. A medium inspection section for inspecting optical defects, and a modulation degree inspection section for inspecting the quality of the signal modulation degree of the track grooves and preformatted pits, and correction glass for the three types of disks. Focusing means for focusing the laser spots by inserting or removing the laser spots, depending on the type of each disc. Switching means for switching the intensity of the laser spot to an appropriate value with respect to the difference in reflectance, and the servo control section and the preformat inspection section with respect to the difference in signal modulation degree between the track groove and the preformat pit, The gain of the amplifier of the modulation degree inspection unit,
Switching means for switching to an appropriate value, respectively, and is configured to perform the inspections for the three types of disks,
A common inspection device for optical disks, which can be performed by the same device.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007317338A (en) * 2006-05-29 2007-12-06 Pulstec Industrial Co Ltd Optical pickup device

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