JPH08241431A - Corresponding point searching device and method therefor - Google Patents
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- JPH08241431A JPH08241431A JP7047592A JP4759295A JPH08241431A JP H08241431 A JPH08241431 A JP H08241431A JP 7047592 A JP7047592 A JP 7047592A JP 4759295 A JP4759295 A JP 4759295A JP H08241431 A JPH08241431 A JP H08241431A
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Abstract
Description
【０００１】[0001]
【産業上の利用分野】この発明は、３次元画像入力装置
における、ステレオ画像入力時の対応点探索装置および
対応点探索方法に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a corresponding point searching device and a corresponding point searching method for inputting a stereo image in a three-dimensional image input device.
【０００２】[0002]
【従来の技術】従来のステレオ画像入力時に、左右の入
力画像のエピポーラライン上の各画素が、どの画素同士
が最も対応するかを調べ、対応する画素同士を対にして
いく対応点探索方法の一例が、文献：「情報処理学会研
究報告 ＣＶ ７０ー３ ｐｐ．１５−２２ １９９
１．１．２４」に開示されている。この文献に開示の技
術によれば、ローカルミニマムによる誤対応を低減する
ために、多重スケールの弛緩法（多重スケール法）を用
いて反復的に視差を推定して画像の対応点を探索する。
多重スケール法では、ピラミッド型データ構造を用い、
粗い解像度から細かい解像度へと処理を進める。この処
理を進めるために、反復演算を行う必要がある。2. Description of the Related Art When a conventional stereo image is input, each pixel on the epipolar lines of the left and right input images is checked to find out which pixel is most corresponding to each other, and a corresponding point searching method is used to pair corresponding pixels. One example is the literature: “IPSJ Research Report CV 70-3 pp.15-22 199.
1.1.24 ”. According to the technique disclosed in this document, in order to reduce erroneous correspondence due to a local minimum, a parallax is iteratively estimated using a multi-scale relaxation method (multi-scale method) to search for corresponding points in an image.
The multi-scale method uses a pyramidal data structure,
Processing proceeds from coarse resolution to fine resolution. In order to proceed with this process, it is necessary to perform an iterative operation.
【０００３】[0003]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た多重スケール法による対応点探索方法では、反復演算
を行うために、対応点の探索に多大な処理時間を要する
という問題点があった。例えば、多重スケール法では、
画素サイズが２n ×２n の場合には、（ｎ＋１）回の反
復処理を行うことが必要であった。However, the above-mentioned method of searching for corresponding points by the multi-scale method has a problem that it takes a lot of processing time to search for corresponding points because iterative calculation is performed. For example, in the multi-scale method,
When the pixel size is 2 n × 2 n , it is necessary to perform (n + 1) times of iterative processing.
【０００４】このため、誤対応を低減し、且つ処理時間
を短縮できる対応点探索方法および対応点探索装置の実
現が望まれていた。Therefore, it has been desired to realize a corresponding point searching method and a corresponding point searching apparatus capable of reducing erroneous correspondence and shortening the processing time.
【０００５】[0005]
＜第１の発明＞この出願に係る第１の発明の対応点探索
装置によれば、ステレオ画像として入力された左右画像
を所望の種類の特徴で以って階調化するための階調化手
段を具え、左右画像中の同一エピポーラライン上の、同
一階調が連続した領域を連続パターンとして抽出するた
めの抽出手段を具え、左右画像のそれぞれの各連続パタ
ーンの、最も画素ナンバーの小さな最小画素および最も
画素ナンバーの大きな最大画素のいずれか一方または双
方についての特徴値どうしを比較するための比較手段を
具え、当該特徴値の差が許容範囲以内の左右画像の連続
パターンの領域を、対応点として選択するための選択手
段を具えてなることを特徴とする。<First Invention> According to the corresponding point searching apparatus of the first invention of this application, the left and right images input as a stereo image are gradation-graded with a desired type of characteristics. Means for extracting a continuous pattern on the same epipolar line in the left and right images and having the same gradation as a continuous pattern, the minimum pixel number of each continuous pattern of the left and right images having the smallest pixel number. A comparison means is provided for comparing the feature values of one or both of the pixel and the maximum pixel having the largest pixel number, and the area of the continuous pattern of the left and right images within which the difference between the feature values is within the allowable range is handled. It is characterized by comprising selection means for selecting points.
【０００６】また、好ましくは、第１の発明の対応点探
索装置において、比較手段は、特徴値として、同一エピ
ポーラライン上の最大画素の画素ナンバーと最小画素の
画素ナンバーとの差である連続幅を比較する比較手段で
あると良い。Further, preferably, in the corresponding point searching device of the first invention, the comparing means has a continuous width which is a difference between the pixel number of the maximum pixel and the pixel number of the minimum pixel on the same epipolar line as the feature value. It is good to have a comparison means for comparing.
【０００７】また、好ましくは、第１の発明の対応点探
索装置において、許容範囲を、左右画像の最小画素どう
しおよび最大画素どうしの一方または双方の位相差の大
きさに対応して広くするための手段を具えてなると良
い。Preferably, in the corresponding point searching device of the first aspect of the invention, the allowable range is widened in accordance with the magnitude of the phase difference between the minimum pixels and the maximum pixels of the left and right images, or both. It is good to have the means of.
【０００８】また、好ましくは、第１の発明の対応点探
索装置において、位相差が所望値よりも小さな連続パタ
ーンについて、第１の許容範囲の下で遠方対応点を探索
し、この遠距離対応点を探索した後、位相差が所望値よ
りも大きな連続パターンについて、第１の許容範囲より
も広い第２の許容範囲の下で近距離対応点を探索するた
めの手段を具えてなると良い。Further, preferably, in the corresponding point searching device of the first invention, for a continuous pattern having a phase difference smaller than a desired value, a distant corresponding point is searched for under a first allowable range, and the long distance correspondence is obtained. After searching for the point, it is preferable to provide a means for searching the short distance corresponding point under the second allowable range wider than the first allowable range for the continuous pattern having the phase difference larger than the desired value.
【０００９】＜第２の発明＞また、この出願に係る第２
の発明の対応点探索方法によれば、ステレオ画像として
入力された左右画像を所望の種類の特徴で以って階調化
し、左右画像中の同一エピポーラライン上の、同一階調
が連続した領域を連続パターンとして抽出し、左右画像
のそれぞれの各連続パターンの、最も画素ナンバーの小
さな最小画素および最も画素ナンバーの大きな最大画素
のいずれか一方または双方についての特徴値どうしを比
較し、この特徴値の差が許容範囲以内の左右画像の連続
パターンの領域を、対応点とすることを特徴とする。<Second Invention> Further, the second invention according to the present application
According to the corresponding point searching method of the invention, the left and right images input as a stereo image are gradation-graded according to a desired type of characteristic, and the same gradation is continuous on the same epipolar line in the left and right images. Is extracted as a continuous pattern, and the feature values of one or both of the smallest pixel with the smallest pixel number and the largest pixel with the largest pixel number in each consecutive pattern of the left and right images are compared, and this characteristic value It is characterized in that the areas of the continuous patterns of the left and right images within which the difference between the two is within the allowable range are the corresponding points.
【００１０】また、好ましくは、第２の発明の対応点探
索方法において、特徴値として、同一エピポーラライン
上の最大画素の画素ナンバーと最小画素の画素ナンバー
との差である連続幅を用いると良い。Further, preferably, in the corresponding point searching method of the second invention, a continuous width which is a difference between the pixel number of the maximum pixel and the pixel number of the minimum pixel on the same epipolar line may be used as the feature value. .
【００１１】また、好ましくは、第２の発明の対応点探
索方法において、許容範囲を、左右画像の最小画素どう
しおよび最大画素どうしの一方または双方の位相差の大
きさに対応して広くすると良い。Further, in the corresponding point searching method of the second invention, it is preferable that the allowable range is widened in accordance with the magnitude of the phase difference between the minimum pixels and the maximum pixels of the left and right images, or both. .
【００１２】また、好ましくは、第２の発明の対応点探
索方法において、位相差が所望値よりも小さな連続パタ
ーンについて、第１の許容範囲の下で遠方対応点を探索
し、この遠距離対応点を探索した後、位相差が所望値よ
りも大きな連続パターンについて、第１の許容範囲より
も広い第２の許容範囲の下で近距離対応点を探索すると
良い。Further, preferably, in the corresponding point searching method of the second invention, for a continuous pattern having a phase difference smaller than a desired value, a distant corresponding point is searched under the first allowable range, and the long distance corresponding point is searched. After searching the points, it is advisable to search the short distance corresponding points under the second allowable range wider than the first allowable range for the continuous pattern having the phase difference larger than the desired value.
【００１３】また、好ましくは、第２の発明の対応点探
索方法において、最小画素どうしの第１位相差および最
大画素どうしの第２位相差を用いて、連続体パターンの
当該最小画素および当該最大画素の画像距離値を個別に
算出すると良い。Further, preferably, in the corresponding point search method of the second invention, the minimum pixel and the maximum pixel of the continuum pattern are used by using the first phase difference between the minimum pixels and the second phase difference between the maximum pixels. The image distance value of the pixel may be calculated individually.
【００１４】尚、ここでエピポーララインとは、左右カ
メラの水平方向の配置が同じラインのことである。The epipolar line means a line in which the left and right cameras are arranged in the horizontal direction.
【００１５】[0015]
【作用】この出願に係る第１の発明の対応点探索装置お
よび第２の発明の対応点探索方法によれば、先ず、ステ
レオ画像として入力された左右画像を所望の種類の特徴
で以って階調化する。これは、対応点は、同じ階層の中
にある確率が高いという経験に基づくものである。この
階調化に用いる特徴は、被写体の明るさ等の光刺激値を
利用する。According to the corresponding point searching apparatus of the first invention and the corresponding point searching method of the second invention of the present application, first, the left and right images input as the stereo images are characterized by desired characteristics. Make gradation. This is based on the experience that the corresponding points are likely to be in the same hierarchy. The characteristics used for this gradation use an optical stimulus value such as the brightness of the subject.
【００１６】次に、同一階調が連続した領域を連続パタ
ーンとして抽出し、各連続パターンの、最も画素ナンバ
ーの小さな最小画素および最も画素ナンバーの大きな最
大画素のいずれか一方または双方についての特徴値どう
しを左右画像で比較して、この特徴値の差が許容範囲以
内の連続パターンの領域を、左右画像の対応点とする。
その結果、連続体パターンのうち一部の画素についての
み比較を行うので、比較に要する処理時間の短縮を図る
ことができる。また、階層化の段階で非形状特徴を利用
し、連続パターンの比較の段階で形状特徴を利用するこ
とができる。このため、非形状特徴のみを利用した場合
よりも誤対応を低減することができる。Next, a region in which the same gradation is continuous is extracted as a continuous pattern, and the feature value of one or both of the minimum pixel having the smallest pixel number and the maximum pixel having the largest pixel number in each continuous pattern. The left and right images are compared with each other, and the area of the continuous pattern in which the difference in feature value is within the allowable range is set as the corresponding point of the left and right images.
As a result, only some of the pixels in the continuum pattern are compared, so that the processing time required for the comparison can be shortened. Further, the non-shape feature can be used at the stage of layering, and the shape feature can be used at the stage of comparing continuous patterns. Therefore, it is possible to reduce erroneous correspondence as compared with the case where only non-shape features are used.
【００１７】さらに、形状特徴として、最小画素と最大
画素との画素ナンバーの差を連続幅として利用し、左右
画像での当該画素の位相差が許容範囲内の画素で代表さ
れる連続パターンどうしで対応点を選択することができ
る。これは、同一階層の連続パターンの連続幅は、通
常、被写体の幅に対応しているためである。Further, as the shape feature, the difference between the pixel numbers of the minimum pixel and the maximum pixel is used as the continuous width, and the continuous patterns represented by the pixels in which the phase difference of the pixels in the left and right images are within the allowable range are used. Corresponding points can be selected. This is because the continuous width of continuous patterns in the same layer usually corresponds to the width of the subject.
【００１８】ところで、対応点であってもその位相差
は、被写体までの距離が近くなる程大きくなる。従っ
て、位相差の許容範囲は位相差の大きさに対応させて許
容範囲を広げることにより、より多くの対応点を探索す
ることが可能となる。By the way, the phase difference between corresponding points increases as the distance to the subject decreases. Therefore, it is possible to search for more corresponding points by expanding the allowable range of the phase difference corresponding to the magnitude of the phase difference.
【００１９】特に、狭い許容範囲の下で先に遠距離対応
点を探索した後に、広い許容範囲の下で近距離対応点を
探索すれば、遠距離対応点の探索に漏れた中からのみ近
距離対応点を探すことができるので、誤対応をより低減
することができる。In particular, if a long distance corresponding point is searched first under a narrow allowable range and then a short distance corresponding point is searched for under a wide allowable range, only a short distance corresponding point is missed. Since it is possible to search for the distance-corresponding point, it is possible to further reduce erroneous correspondence.
【００２０】また、連続パターン中の最小画素どうしの
位相差と最大画素どうしの位相差とを個別に求めれば、
連続パターンの部分毎に画像距離を求めることができ
る。その結果、カメラに対して斜めに配置された被写体
も表現することができる。さらに、個別に位相差を求め
た画素どうしの間の画素の距離画像を直線近似で求めれ
ば、斜めに配置された被写体をより滑らかに表現するこ
とができる。If the phase difference between the minimum pixels and the phase difference between the maximum pixels in the continuous pattern are individually calculated,
The image distance can be obtained for each part of the continuous pattern. As a result, it is possible to represent an object placed obliquely with respect to the camera. Further, if the distance image of the pixels between the pixels for which the phase differences are individually calculated is obtained by linear approximation, the obliquely arranged subject can be expressed more smoothly.
【００２１】[0021]
【実施例】以下、図面を参照して、この出願に係る第１
の発明の対応点探索装置および第２の発明の対応点探索
方法の実施例について併せて説明する。尚、参照する図
面は、これらの発明が理解できる程度に各構成成分の大
きさ、形状および配置関係を概略的に示してあるにすぎ
ない。従って、これらの発明は図示例にのみ限定される
ものでないことは明らかである。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The first embodiment of the present application with reference to the drawings
Embodiments of the corresponding point searching device of the invention and the corresponding point searching method of the second invention will be described together. It should be noted that the drawings to be referred to merely schematically show the sizes, shapes, and positional relationships of the respective constituent components to the extent that these inventions can be understood. Therefore, it is obvious that these inventions are not limited to the illustrated examples.
【００２２】＜第１実施例＞ ＜構成について＞先ず、図１を参照して、第１実施例の
対応点探索装置について説明する。図１は、第１実施例
の対応点探索装置の機能ブロック図である。<First Embodiment><Structure> First, a corresponding point searching apparatus of the first embodiment will be described with reference to FIG. FIG. 1 is a functional block diagram of the corresponding point searching device of the first embodiment.
【００２３】この実施例では、ステレオ画像の左右画像
を対応点探索装置１０に入力するために、左カメラ１２
および右カメラ１４を具えている。各カメラには、それ
ぞれ左画像記憶装置１６および右画像記憶装置１８が接
続されている。In this embodiment, in order to input the left and right images of the stereo image to the corresponding point searching device 10, the left camera 12
And a right camera 14. A left image storage device 16 and a right image storage device 18 are connected to each camera.
【００２４】そして、この実施例の対応点探索装置１０
では、各記憶装置１６および１８に接続された階調化部
２０を具えている。また、この階調化部２０には、連続
パターン抽出部２２が接続されている。また、連続体パ
ターン抽出部２２には、特徴値記憶部２４が接続されて
いる。また、この特徴値記憶部２４には、特徴値比較部
２６が接続されている。この実施例では、特徴値比較部
２６中に、連続幅比較部３２を設けてある。この特徴値
比較部２６には、優先距離範囲設定部２８を介して、対
応点抽出部３０が接続されている。また、対応点抽出部
には、許容範囲調節部３４が接続されている。また、対
応点抽出部には、前述した左右画像記憶装置１６および
１８が直接接続されている。そして、対応点抽出装置３
０は、距離画像記憶装置３６に接続されている。Then, the corresponding point searching apparatus 10 of this embodiment
Includes a gradation unit 20 connected to each of the storage devices 16 and 18. A continuous pattern extracting unit 22 is connected to the gradation converting unit 20. A feature value storage unit 24 is connected to the continuum pattern extraction unit 22. A characteristic value comparison unit 26 is connected to the characteristic value storage unit 24. In this embodiment, a continuous width comparing section 32 is provided in the feature value comparing section 26. A corresponding point extracting unit 30 is connected to the feature value comparing unit 26 via a priority distance range setting unit 28. Further, an allowable range adjusting unit 34 is connected to the corresponding point extracting unit. The left and right image storage devices 16 and 18 described above are directly connected to the corresponding point extraction unit. Then, the corresponding point extraction device 3
0 is connected to the distance image storage device 36.
【００２５】以下、対応点探索装置１０内の各部につい
て説明する。上述の階調化部２０は、ステレオ画像とし
て入力された左右画像を所望の種類の特徴で以って階調
化するための階調化手段である。また、上述の連続パタ
ーン抽出部２２は、左右画像中の同一エピポーラライン
上の、同一階調が連続した領域を連続パターンとして抽
出するための抽出手段である。また、上述の特徴値記憶
部２４は、連続パターンに関する特徴値を記憶する手段
である。The respective parts in the corresponding point searching device 10 will be described below. The above-described gradation unit 20 is a gradation unit that gradations the left and right images input as a stereo image with a desired type of feature. The continuous pattern extracting unit 22 is an extracting unit for extracting, as a continuous pattern, regions of the same epipolar line in the left and right images in which the same gradation is continuous. Further, the above-mentioned characteristic value storage unit 24 is a means for storing the characteristic value regarding the continuous pattern.
【００２６】また、上述の特徴値比較部２６は、左右画
像のそれぞれの各連続パターンの、最も画素ナンバーの
小さな最小画素および最も画素ナンバーの大きな最大画
素のいずれか一方または双方についての特徴値どうしを
比較するための比較手段である。この実施例では、特徴
値比較部２６中に、特徴値として、同一エピポーラライ
ン上の最大画素の画素ナンバーと最小画素の画素ナンバ
ーとの差である連続幅を比較する比較手段として設けて
いる。Further, the above-mentioned characteristic value comparison unit 26 compares the characteristic values of one or both of the smallest pixel with the smallest pixel number and the largest pixel with the largest pixel number in each continuous pattern of the left and right images. Is a comparison means for comparing. In this embodiment, the feature value comparison unit 26 is provided as a feature value as a comparison means for comparing a continuous width which is a difference between the pixel number of the maximum pixel and the pixel number of the minimum pixel on the same epipolar line.
【００２７】また、上述の優先距離範囲設定部２８は、
位相差が所望値よりも小さな連続パターンについて、第
１の許容範囲の下で遠方対応点を探索し、この遠距離対
応点を探索した後、位相差が所望値よりも大きな連続パ
ターンについて、第１の許容範囲よりも広い第２の許容
範囲の下で近距離対応点を探索するための手段である。Further, the priority distance range setting unit 28 described above is
For a continuous pattern having a phase difference smaller than a desired value, a distant corresponding point is searched under the first allowable range, and after searching this far distance corresponding point, a continuous pattern having a phase difference larger than the desired value is searched for. It is a means for searching a short distance corresponding point under a second allowable range wider than the allowable range of 1.
【００２８】また、上述の対応点抽出部３０は、特徴値
の差が許容範囲以内の左右画像の連続パターンの領域
を、対応点として抽出するための抽出手段である。ま
た、この対応点抽出部３０においては、左右画像記憶部
１６および１８から直接入力された、各画素の非形状特
徴の比較も行う。さらに、対応点抽出部３０において
は、抽出された対応点の位相差（左右画像での水平方向
の画素ナンバーの差）から距離画像を算出する。距離画
像は、下記の従来周知の式（１）を用いて算出する。こ
こで、Ｚは対象物までの距離、ｌは左右のカメラの間
隔、ｆはカメラレンズの焦点距離、ＸL およびＸR は、
左右画像での対応点の水平方向の画素ナンバーをそれぞ
れ表す。また、位相差は（ＸL −ＸR ）で表される。The corresponding point extracting section 30 is an extracting means for extracting, as corresponding points, regions of continuous patterns of left and right images in which the difference between the feature values is within the allowable range. The corresponding point extraction unit 30 also compares the non-shape features of each pixel directly input from the left and right image storage units 16 and 18. Further, the corresponding point extraction unit 30 calculates a distance image from the phase difference between the extracted corresponding points (difference between horizontal pixel numbers in the left and right images). The distance image is calculated using the following conventionally known formula (1). Where Z is the distance to the object, l is the distance between the left and right cameras, f is the focal length of the camera lens, and X L and X R are
The horizontal pixel numbers of the corresponding points in the left and right images are shown. The phase difference is represented by (X L -X R).
【００２９】 Ｚ＝ｆ・（ｌ／（ＸL −ＸR ））・・・（１） ＜動作について＞次に、第１実施例の対応点探索方法の
例について説明する。Z = f · (l / (X L −X R )) (1) <Operation> Next, an example of the corresponding point searching method of the first embodiment will be described.
【００３０】この実施例では、先ず、左右カメラ１２お
よび１４を用いてステレオ画像の左右画像（以下、元画
像とも称する）を入力する。この左右画像は、通常、光
刺激を電気量で表してある。次に、入力された左右画像
をそれぞれ左画像記憶装置１６および右画像記憶装置１
８に記憶する。In this embodiment, first, the left and right cameras 12 and 14 are used to input left and right images (hereinafter also referred to as original images) of stereo images. In the left and right images, the light stimulus is usually represented by an electric quantity. Next, the input left and right images are input into the left image storage device 16 and the right image storage device 1, respectively.
Store in 8.
【００３１】次に、階調化部２０において、ステレオ画
像として入力された左右画像を所望の種類の特徴で以っ
て階調化する。ここで、図２の（Ａ）〜（Ｃ）を参照し
て、階調化について説明する。Next, in the gradation unit 20, the left and right images input as a stereo image are gradation-graded with a desired type of feature. Here, the gradation process will be described with reference to FIGS.
【００３２】図２の（Ａ）は、元画像の一方（左または
右）の画像である。画像の中央付近に車型像Ｃが取り込
まれている。FIG. 2A shows one (left or right) image of the original image. A car image C is captured near the center of the image.
【００３３】図２の（Ｂ）は、図３中のＡ−Ｂに沿った
水平方向（エピポーララインに沿った方向）での切り口
における断面数値特徴を表すグラフである。グラフの横
軸は、切り口における水平方向の画素ナンバーを表す。
ここでは、元画像の左端を基準にして画素ナンバーを数
えている。また、グラフの縦軸は数値特徴を表す。ここ
で、数値特徴としては、例えば明るさ、濃淡、色といっ
た光刺激に依存した量を用いることができる。また、グ
ラフ中の曲線Ｉは、車型像Ｃの水平方向に沿った切り口
での数値特徴を表している。FIG. 2B is a graph showing the cross-sectional numerical characteristics at the cut in the horizontal direction (direction along the epipolar line) along AB in FIG. The horizontal axis of the graph represents the pixel number in the horizontal direction at the cut.
Here, the pixel number is counted based on the left end of the original image. In addition, the vertical axis of the graph represents numerical characteristics. Here, as the numerical characteristics, for example, an amount depending on a light stimulus such as brightness, shade, and color can be used. Further, a curve I in the graph represents a numerical characteristic of the car image C at a cut along the horizontal direction.
【００３４】図２の（Ｃ）は、図２の（Ｂ）のグラフを
階調化したグラフである。グラフの横軸は、図２の
（Ｂ）と同じく、水平方向の画素ナンバーを表す。ま
た、グラフの縦軸は階調を表している。グラフ中の折れ
線ＩＩは、曲線Ｉを階調化したものであり、段階的に数
値特徴が与えられている。階調化にあたっては、曲線Ｉ
を、数値特徴がある値の幅内の数値特徴の値を１つ値
（例えばＦ1 ）で表現すると折れ線ＩＩが得られる。そ
の結果、数値特徴が段階的に表される。FIG. 2C is a gradation graph of the graph of FIG. 2B. The horizontal axis of the graph represents the pixel number in the horizontal direction, as in (B) of FIG. The vertical axis of the graph represents the gradation. A polygonal line II in the graph is a gradation of the curve I, and numerical features are given in stages. For gradation, curve I
Is expressed by one value (for example, F 1 ) of the numerical feature within the range of the numerical feature, the polygonal line II is obtained. As a result, numerical characteristics are expressed step by step.
【００３５】尚、コンピュータで画像を扱う場合は、通
常入力画像は通常８ビットデータとして扱われる。この
実施例では、実際には、８ビットで入力された画像を１
６〜３２階調に階調化する。When a computer handles an image, a normal input image is usually treated as 8-bit data. In this embodiment, an image input with 8 bits is actually 1
Gradation to 6 to 32 gradations.
【００３６】次に、連続パターン抽出部２２において、
左右画像中の同一エピポーラライン上の、同一階調が連
続した領域をそれぞれ連続パターンとして抽出する。上
述した図２の（Ｃ）に示した階調化したグラフにおい
て、例えばＦ1 階調の連続パターンを抽出した場合は、
連続パターンの最も画素ナンバーの小さな最小画素およ
び最も画素ナンバーの大きな最大画素の少なくとも一方
の画素ナンバーで連続パターンの位置を表すことができ
る。また、連続パターンの連続幅Ｌは、最大画素と最初
が外の画素ナンバーの差で表すことができる。尚、図２
の（Ｃ）に示す連続パターンの場合は、左右画像でＦ1
階調の連続パターンは１つずつのみである。従って、Ｆ
1 階調の連続パターン領域どうしが通常対応点となる。Next, in the continuous pattern extracting section 22,
Regions on the same epipolar line in the left and right images where the same gradation is continuous are extracted as continuous patterns. In the gradation graph shown in FIG. 2C, for example, when a continuous pattern of F 1 gradation is extracted,
The position of the continuous pattern can be represented by at least one of the smallest pixel having the smallest pixel number and the largest pixel having the largest pixel number in the continuous pattern. Further, the continuous width L of the continuous pattern can be represented by the difference between the maximum pixel and the pixel number outside the first pixel. Incidentally, FIG.
The case of a continuous pattern shown in (C), F 1 at the left and right images
There is only one continuous gradation pattern. Therefore, F
The continuous pattern areas of one gradation are usually corresponding points.
【００３７】ところで、左右画像でそれぞれ複数の同一
階調の連続パターンが存在する場合は、一方の画像の１
つの連続パターンに対して、もう一方の画像の複数の連
続パターンが対応し得る。By the way, when there are a plurality of continuous patterns of the same gradation in the left and right images, 1 of one of the images is used.
For one continuous pattern, multiple continuous patterns of the other image may correspond.
【００３８】次に、図３を参照して、左右画像で、同一
階調の連続パターンがそれぞれ３箇所ずつ存在する場合
について説明する。図３は、左右画像の同一エピポーラ
ライン上の画素の対応関係の説明に供する特徴交点画像
である。図３の升目の縦軸は、左画像中の画素ナンバー
を上端を基準として表し、横軸は、右画像中の画素ナン
バーを左端を基準として表している。図３の升目の右側
部分に、左画像の階調化グラフの例を示す。ここでは、
Ｆ階調に注目している。升目中では、左画像中のＦ階調
の画素に対応する部分に左上りの斜線（ハッチング）を
付けて示してある。また、図３の升目の下側部分には、
右画像の階調化グラフの例を示す。ここでは、Ｆ階調に
注目している。升目中では、右画像中のＦ階調の画素に
対応する部分に右上りの斜線（ハッチング）を付けて示
してある。そして、図３の升目のうち、左上りおよび右
あがりの斜線が重なっている９つの領域が、左右画像で
同一階調の連続パターンとなっている領域である。従っ
て、この重なっている９つの領域の連続パターン領域の
うちのどれかが対応点となる可能性がある。しかし、対
応点は左右画像で１対１に対応するので、重なっている
９つの領域が全て対応点となることはない。Next, with reference to FIG. 3, a case where there are three consecutive patterns of the same gradation in the left and right images will be described. FIG. 3 is a characteristic intersection image for explaining the correspondence relationship between pixels on the same epipolar line of the left and right images. The vertical axis of the squares in FIG. 3 represents the pixel number in the left image with the upper end as the reference, and the horizontal axis represents the pixel number in the right image with the left end as the reference. An example of the gradation graph of the left image is shown on the right side of the square in FIG. here,
We pay attention to F gradation. In the squares, the portion corresponding to the pixel of F gradation in the left image is shown with a diagonal line (hatching) in the upper left corner. In addition, in the lower part of the grid of FIG.
The example of the gradation graph of the right image is shown. Here, attention is paid to the F gradation. In the squares, the portion corresponding to the pixel of F gradation in the right image is shown with a diagonal line (hatching) on the upper right side. Then, in the squares of FIG. 3, the nine areas in which the upper left and right rising diagonal lines overlap are the areas in which the left and right images are continuous patterns of the same gradation. Therefore, there is a possibility that any of the continuous pattern areas of the nine overlapping areas will be the corresponding point. However, since the corresponding points have a one-to-one correspondence in the left and right images, the nine overlapping areas are not all corresponding points.
【００３９】ここでは、重なっている９つの領域のうち
の１つに注目して説明する。注目する領域の４隅の画素
にそれぞれＰ1 、Ｐ2 、Ｐ3 およびＰ4 の符号を付す。
Ｐ1〜Ｐ4 の各座標は（ｘ1 、ｙ1 ）、（ｘ2 、ｙ
1 ）、（ｘ1 、ｙ2 ）および（ｘ2 、ｙ2 ）である。こ
こで、ｘ1 およびｘ2 は、左画像中の注目する連続パタ
ーンの領域中の最も画素ナンバーの小さな最小画素およ
び最も画素ナンバーの大きな最大画素の画素ナンバーを
それぞれ表す。また、ｙ1 およびｙ2 は、右画像中の注
目する連続パターンの領域中の最も画素ナンバーの小さ
な最小画素および最も画素ナンバーの大きな最大画素の
画素ナンバーをそれぞれ表す。Here, one of the nine overlapping areas will be focused and described. Pixels at the four corners of the region of interest are labeled P 1 , P 2 , P 3 and P 4 , respectively.
The coordinates of P 1 to P 4 are (x 1 , y 1 ), (x 2 , y
1 ), (x 1 , y 2 ) and (x 2 , y 2 ). Here, x 1 and x 2 represent the pixel numbers of the smallest pixel with the smallest pixel number and the largest pixel with the largest pixel number in the region of the continuous pattern of interest in the left image, respectively. Further, y 1 and y 2 respectively represent the pixel number of the smallest pixel with the smallest pixel number and the largest pixel with the largest pixel number in the region of the continuous pattern of interest in the right image.
【００４０】次に、特徴値比較部２６内の連続幅比較部
３２において、左右画像のそれぞれの各連続パターン
の、最も画素ナンバーの小さな最小画素および最も画素
ナンバーの大きな最大画素のいずれか一方または双方に
ついての特徴値どうしを比較する。ここでは、左右画像
の連続パターンの連続幅を比較する。左画像の連続パタ
ーンの連続幅は、ｘ2 −ｘ1 で表され、一方、右画像の
連続パターンの連続幅は、ｙ2 −ｙ1 で表される。従っ
て、連続パターン領域中の全画素の特徴を比較するので
なく、の特徴交点画像中のＰ1 およびＰ2 のみについて
の特徴値（連続幅）を比較するだけで良い。Next, in the continuous width comparing section 32 in the feature value comparing section 26, one of the smallest pixel having the smallest pixel number and the largest pixel having the largest pixel number in each consecutive pattern of the left and right images, or The feature values of both are compared. Here, the continuous widths of the continuous patterns of the left and right images are compared. Continuous width of the continuous pattern of the left image is represented by x 2 -x 1, whereas the continuous width of the continuous pattern of the right image is represented by y 2 -y 1. Therefore, instead of comparing the features of all pixels in the continuous pattern area, it is only necessary to compare the feature values (continuous width) of only P 1 and P 2 in the feature intersection image.
【００４１】次に、対応点抽出部３０において、特徴値
の差が許容範囲以内の左右画像の連続パターンの領域
を、対応点として抽出する。Next, the corresponding point extraction unit 30 extracts, as corresponding points, areas of the continuous pattern of the left and right images in which the difference between the feature values is within the allowable range.
【００４２】ところで、注目した左右画像の連続パター
ンの領域が互いに対応点であったとしても、連続パター
ンの連続幅は、被写体に対する左右カメラの視差によっ
て必ずしも同一とはならない。特に、左右カメラから被
写体までの距離が近い程、左右画像の連続幅の差は大き
くなる。従って、許容範囲は、距離に応じて設定するこ
とが望まれる。左右カメラから被写体までの距離ｚは、
上述した式（１）で、位相差の関数として表すことがで
きる。By the way, even if areas of continuous patterns of the left and right images of interest correspond to each other, the continuous widths of the continuous patterns are not always the same due to the parallax of the left and right cameras with respect to the subject. In particular, the closer the distance from the left and right cameras to the subject, the greater the difference between the continuous widths of the left and right images. Therefore, it is desirable to set the allowable range according to the distance. The distance z from the left and right cameras to the subject is
It can be expressed as a function of the phase difference by the above-mentioned formula (1).
【００４３】そこで、この実施例では、優先距離範囲設
定部２８において、許容範囲を、左右画像の最小画素ど
うしおよび最大画素どうしの一方または双方の位相差の
大きさに対応して広くする。左右画像中の最小画素どう
しの位相差（Ｐ1 の位相差）はｘ1 −ｙ1 （またはｙ1
−ｘ1 ）で表され、一方、左右画像の最大画素どうしの
位相差（Ｐ4 の位相差）はｘ2 −ｙ2 （またはｙ2 −ｘ
2 ）で表される。Therefore, in this embodiment, the priority distance range setting unit 28 widens the allowable range in accordance with the magnitude of the phase difference between the minimum pixels and the maximum pixels of the left and right images, or both. The phase difference between the smallest pixels in the left and right images (the phase difference of P 1 ) is x 1 −y 1 (or y 1
Represented by -x 1), whereas, the phase difference of the phase difference of the maximum pixel each other of the left and right images (P 4) is x 2 -y 2 (or y 2 -x
It is represented by 2 ).
【００４４】さらに、対応点の抽出にあたっては、先
ず、許容範囲を厳しくして、遠距離（位相差小）の被写
体について対応点の抽出を行い、次に、許容範囲を緩く
して、近距離（位相差大）の被写体について対応点の抽
出を行うことが望ましい。Further, in extracting the corresponding points, first, the allowable range is made strict, and the corresponding points are extracted for an object at a long distance (small phase difference), and then the allowable range is loosened to make a short distance. It is desirable to extract corresponding points for a subject with a large phase difference.
【００４５】そこで、この実施例では、許容範囲調整部
３４を設けて、位相差が所望値よりも小さな連続パター
ンについて、第１の許容範囲の下で遠方対応点を探索
し、この遠距離対応点を探索した後、位相差が所望値よ
りも大きな連続パターンについて、第１の許容範囲より
も広い第２の許容範囲の下で近距離対応点を探索する。Therefore, in this embodiment, the allowable range adjusting section 34 is provided to search the far distance corresponding point under the first allowable range for the continuous pattern having the phase difference smaller than the desired value, and to cope with the long distance correspondence. After searching for a point, a short distance corresponding point is searched for in a continuous pattern having a phase difference larger than a desired value under a second allowable range wider than the first allowable range.
【００４６】＜第２実施例＞次に、図４の（Ａ）および
（Ｂ）を参照して、この発明の第２実施例として、左右
カメラに対して、被写体が斜めに配置されている場合に
ついて説明する。<Second Embodiment> Next, referring to FIGS. 4A and 4B, as a second embodiment of the present invention, a subject is obliquely arranged with respect to the left and right cameras. The case will be described.
【００４７】図４の（Ａ）は、左右カメラ１２および１
４に対する被写体の配置関係を示す図である。この被写
体は、被写体に向って左端Ａが遠距離となり、右端Ｂが
近距離となっている。尚、ここでは、断面ではないが被
写体にハッチングを施して示す。 図４の（Ｂ）は、第
２実施例の被写体に対応する、特徴対応点画像のうち、
被写体に対応する連続パターン領域のみを示したもので
ある。FIG. 4A shows the left and right cameras 12 and 1.
4 is a diagram showing a layout relationship of subjects with respect to FIG. In this subject, the left end A is a long distance and the right end B is a short distance toward the subject. Here, the subject is shown by hatching although it is not a cross section. FIG. 4B shows a feature corresponding point image corresponding to the subject of the second embodiment.
Only the continuous pattern area corresponding to the subject is shown.
【００４８】図４の（Ｂ）に長方形で示された連続体パ
ターンの対応する領域の４隅の点（ｐ1 、ｐ2 、ｐ3 お
よびｐ4 ）のうち、最小画素どうしの対応点ｐ1 がＡに
対応し、最大画素どうしの対応点ｐ4 がＢに対応してい
る。Of the points (p 1 , p 2 , p 3 and p 4 ) at the four corners of the corresponding region of the continuum pattern shown by the rectangle in FIG. 4B, the corresponding point p between the smallest pixels is p. 1 corresponds to A, and the corresponding point p 4 between the maximum pixels corresponds to B.
【００４９】第２実施例においては、連続体パターンの
距離画像を、例えばｐ1 の位相差のみで代表させたので
は、被写体が斜めに配置されていることを表すことがで
きない。そこで、この実施例では、ｐ1 （位相差δ1 ）
およびｐ4 （位相差δ2 ）の位相差をそれぞれ個別に用
いて、被写体のＡおよびＢ点の距離画像を個別に算出す
る。In the second embodiment, if the distance image of the continuum pattern is represented by only the phase difference of p 1 , for example, it is not possible to represent that the subject is obliquely arranged. Therefore, in this embodiment, p 1 (phase difference δ 1 )
And the phase difference of p 4 (phase difference δ 2 ) are individually used, and the distance images of the points A and B of the subject are individually calculated.
【００５０】さらに、最小画素と最大画素との間の画素
の位相差を、直線近似することにより、斜めに配置され
た被写体の距離画像をより滑らかに表すことができる。Further, by linearly approximating the phase difference of the pixels between the minimum pixel and the maximum pixel, it is possible to more smoothly represent the distance image of the obliquely arranged subject.
【００５１】上述した実施例では、これらの発明を特定
の条件で構成した例についてのみ説明したが、これらの
発明は多くの変更および変形を行うことができる。例え
ば、上述した第１実施例では、許容範囲調整部および優
先距離範囲設定部を設けたが、この発明では、必ずしも
これらを設けなくとも良い。In the above-described embodiments, only examples in which these inventions are configured under specific conditions have been described, but many modifications and variations can be made in these inventions. For example, in the above-described first embodiment, the allowable range adjusting unit and the priority distance range setting unit are provided, but in the present invention, these may not necessarily be provided.
【００５２】また、上述した第１実施例では、遠近に分
けて対応点探索を行ったが、この発明では、距離はより
細かく分けても良い。例えば、遠距離、中距離および近
距離について、順次許容範囲を緩くして対応点探索を行
っても良い。Further, in the above-described first embodiment, the corresponding point search is performed by dividing the distance into perspective, but in the present invention, the distance may be divided into smaller pieces. For example, for long distances, medium distances, and short distances, the corresponding points may be searched by gradually narrowing the allowable range.
【００５３】[0053]
【発明の効果】この出願に係る第１の発明の対応点探索
装置および第２の発明の対応点探索方法によれば、先
ず、ステレオ画像として入力された左右画像を所望の種
類の特徴で以って階調化する。これは、対応点は、同じ
階層の中にある確率が高いという経験に基づくものであ
る。この階調化に用いる特徴は、被写体の明るさ等の光
刺激値を利用する。According to the corresponding point searching apparatus of the first invention and the corresponding point searching method of the second invention related to the present application, first, the left and right images input as the stereo images are displayed with desired characteristics. It makes gradation. This is based on the experience that the corresponding points are likely to be in the same hierarchy. The characteristics used for this gradation use an optical stimulus value such as the brightness of the subject.
【００５４】次に、同一階調が連続した領域を連続パタ
ーンとして抽出し、各連続パターンの、最も画素ナンバ
ーの小さな最小画素および最も画素ナンバーの大きな最
大画素のいずれか一方または双方についての特徴値どう
しを左右画像で比較して、この特徴値の差が許容範囲以
内の連続パターンの領域を、左右画像の対応点とする。
その結果、連続体パターンのうち一部の画素についての
み比較を行うので、比較に要する処理時間の短縮を図る
ことができる。また、階層化の段階で非形状特徴を利用
し、連続パターンの比較の段階で形状特徴を利用するこ
とができる。このため、非形状特徴のみを利用した場合
よりも誤対応を低減することができる。Next, a region in which the same gradation is continuous is extracted as a continuous pattern, and the characteristic value of one or both of the minimum pixel with the smallest pixel number and the maximum pixel with the largest pixel number in each continuous pattern. The left and right images are compared with each other, and the area of the continuous pattern in which the difference in feature value is within the allowable range is set as the corresponding point of the left and right images.
As a result, only some of the pixels in the continuum pattern are compared, so that the processing time required for the comparison can be shortened. Further, the non-shape feature can be used at the stage of layering, and the shape feature can be used at the stage of comparing continuous patterns. Therefore, it is possible to reduce erroneous correspondence as compared with the case where only non-shape features are used.
【００５５】さらに、形状特徴として、最小画素と最大
画素との画素ナンバーの差を連続幅として利用し、左右
画像での当該画素の位相差が許容範囲内の画素で代表さ
れる連続パターンどうしを対応点を選択することができ
る。これは、同一階層の連続パターンの連続幅は、通
常、被写体の幅に対応しているためである。Further, as a shape feature, the difference between the pixel numbers of the minimum pixel and the maximum pixel is used as the continuous width, and continuous patterns represented by pixels in which the phase difference of the pixels in the left and right images are within the allowable range are used. Corresponding points can be selected. This is because the continuous width of continuous patterns in the same layer usually corresponds to the width of the subject.
【００５６】ところで、対応点であってもその位相差
は、被写体までの距離が近くなる程大きくなる。従っ
て、位相差の許容範囲は位相差の大きさに対応させて許
容範囲を広げることにより、より多くの対応点を探索す
ることが可能となる。By the way, the phase difference between corresponding points increases as the distance to the subject decreases. Therefore, it is possible to search for more corresponding points by expanding the allowable range of the phase difference corresponding to the magnitude of the phase difference.
【００５７】特に、狭い許容範囲の下で先に遠距離対応
点を探索した後に、広い許容範囲の下で近距離対応点を
探索すれば、遠距離対応点の探索に漏れた中からのみ近
距離対応点を探すことができるので、誤対応をより低減
することができる。In particular, if a long distance corresponding point is searched first under a narrow allowable range and then a short distance corresponding point is searched for under a wide allowable range, the short distance corresponding point is missed only from among the missing points. Since it is possible to search for the distance-corresponding point, it is possible to further reduce erroneous correspondence.
【００５８】また、連続パターン中の最小画素どうしの
位相差と最大画素どうしの位相差とを個別に求めれば、
連続パターンの部分毎に画像距離を求めることができ
る。その結果、カメラに対して斜めに配置された被写体
も表現することができる。さらに、個別に位相差を求め
た画素どうしの間の画素の距離画像を直線近似で求めれ
ば、斜めに配置された被写体をより滑らかに表現するこ
とができる。If the phase difference between the minimum pixels and the phase difference between the maximum pixels in the continuous pattern are individually calculated,
The image distance can be obtained for each part of the continuous pattern. As a result, it is possible to represent an object placed obliquely with respect to the camera. Further, if the distance image of the pixels between the pixels for which the phase differences are individually calculated is obtained by linear approximation, the obliquely arranged subject can be expressed more smoothly.
【図１】第１実施例の対応点探索装置の説明に供する機
能ブロック図である。FIG. 1 is a functional block diagram for explaining a corresponding point searching device according to a first embodiment.
【図２】（Ａ）〜（Ｃ）は、第１実施例における階調化
の説明に供する図である。FIG. 2A to FIG. 2C are diagrams for explaining gradation in the first embodiment.
【図３】第１実施例の特徴交点画像である。FIG. 3 is a characteristic intersection image of the first embodiment.
【図４】（Ａ）は、第２実施例の説明に供する配置図で
あり、（Ｂ）は、第２実施例の特徴交点画像である。FIG. 4A is a layout diagram used for explaining a second embodiment, and FIG. 4B is a characteristic intersection image of the second embodiment.
１０：対応点探索装置 １２：左カメラ １４：右カメラ １６：左画像記憶装置 １８：右画像記憶装置 ２０：階調化部 ２２：連続パターン抽出部 ２４：特徴値記憶部 ２６：特徴値比較部 ２８：優先距離範囲設定部 ３０：対応点抽出部 ３２：連続幅比較部 ３４：許容範囲調整部 ３６：距離画像記憶装置 10: Corresponding point search device 12: Left camera 14: Right camera 16: Left image storage device 18: Right image storage device 20: Gradation unit 22: Continuous pattern extraction unit 24: Feature value storage unit 26: Feature value comparison unit 28: Priority distance range setting unit 30: Corresponding point extraction unit 32: Continuous width comparison unit 34: Allowable range adjustment unit 36: Distance image storage device
Claims (9)
を所望の種類の特徴で以って階調化するための階調化手
段を具え、 前記左右画像中の同一エピポーラライン上の、同一階調
が連続した領域を連続パターンとして抽出するための抽
出手段を具え、 左右画像のそれぞれの各連続パターンの、最も画素ナン
バーの小さな最小画素および最も画素ナンバーの大きな
最大画素のいずれか一方または双方についての特徴値ど
うしを比較するための比較手段を具え、 該特徴値の差が許容範囲以内の左右画像の連続パターン
の前記領域を、対応点として選択するための選択手段を
具えてなることを特徴とする対応点探索装置。1. A gradation unit for gradation the left and right images input as a stereo image according to a desired type of feature, and the same gradation on the same epipolar line in the left and right images. Is provided with an extracting means for extracting a continuous area as a continuous pattern, and for each of the continuous patterns of the left and right images, one or both of the smallest pixel with the smallest pixel number and the largest pixel with the largest pixel number Comprising a comparing means for comparing the characteristic values, comprising a selecting means for selecting, as corresponding points, the regions of the continuous pattern of the left and right images in which the difference between the characteristic values is within an allowable range. Corresponding point searching device.
おいて、 前記比較手段は、前記特徴値として、同一エピポーララ
イン上の前記最大画素の画素ナンバーと前記最小画素の
画素ナンバーとの差である連続幅を比較する比較手段で
あることを特徴とする対応点探索装置。2. The corresponding point searching device according to claim 1, wherein the comparison unit is the difference between the pixel number of the maximum pixel and the pixel number of the minimum pixel on the same epipolar line as the characteristic value. A corresponding point searching device, which is a comparing means for comparing a certain continuous width.
て、 前記許容範囲を、前記左右画像の前記最小画素どうしお
よび前記最大画素どうしの一方または双方の位相差の大
きさに対応して広くするための手段を具えてなることを
特徴とする対応点探索装置。3. The corresponding point searching device according to claim 2, wherein the allowable range is widened in accordance with a magnitude of a phase difference between one or both of the minimum pixels and the maximum pixels of the left and right images. A corresponding point searching device, characterized in that it comprises means for
て、 前記位相差が所望値よりも小さな連続パターンについ
て、第１の許容範囲の下で遠方対応点を探索し、 該遠距離対応点を探索した後、前記位相差が前記所望値
よりも大きな連続パターンについて、前記第１の許容範
囲よりも広い第２の許容範囲の下で近距離対応点を探索
するための手段を具えてなることを特徴とする対応点探
索装置。4. The corresponding point searching device according to claim 3, wherein for a continuous pattern in which the phase difference is smaller than a desired value, a distant corresponding point is searched under a first allowable range, and the far distance corresponding point is searched. And searching for short distance corresponding points under a second allowable range wider than the first allowable range for a continuous pattern in which the phase difference is larger than the desired value. A corresponding point searching device characterized by the above.
を所望の種類の特徴で以って階調化し、 前記左右画像中の同一エピポーラライン上の、同一階調
が連続した領域を連続パターンとして抽出し、 左右画像のそれぞれの各連続パターンの、最も画素ナン
バーの小さな最小画素および最も画素ナンバーの大きな
最大画素のいずれか一方または双方についての特徴値ど
うしを比較し、 該特徴値の差が許容範囲以内の左右画像の連続パターン
の前記領域を、対応点とすることを特徴とする対応点探
索方法。5. The left and right images input as a stereo image are gradation-graded according to a desired type of characteristic, and regions in which the same gradation is continuous on the same epipolar line in the left and right images are extracted as a continuous pattern. However, the feature values of one or both of the smallest pixel with the smallest pixel number and the largest pixel with the largest pixel number, or both, in each continuous pattern of the left and right images are compared, and the difference between the characteristic values is within the allowable range. A corresponding point searching method, characterized in that the areas of the continuous pattern of the left and right images within are the corresponding points.
て、 前記特徴値として、前記同一エピポーラライン上の前記
最大画素の画素ナンバーと前記最小画素の画素ナンバー
との差である連続幅を用いることを特徴とする対応点探
索方法。6. The corresponding point searching method according to claim 5, wherein a continuous width that is a difference between the pixel number of the maximum pixel and the pixel number of the minimum pixel on the same epipolar line is used as the feature value. A corresponding point search method characterized by the above.
て、 前記許容範囲を、前記左右画像の前記最小画素どうしお
よび前記最大画素どうしの一方または双方の位相差の大
きさに対応して広くすることを特徴とする対応点探索方
法。7. The corresponding point searching method according to claim 6, wherein the allowable range is widened in accordance with a magnitude of a phase difference between one or both of the minimum pixels and the maximum pixels of the left and right images. A corresponding point searching method characterized by:
て、 前記位相差が所望値よりも小さな連続パターンについ
て、第１の許容範囲の下で遠方対応点を探索し、 該遠距離対応点を探索した後、前記位相差が前記所望値
よりも大きな連続パターンについて、前記第１の許容範
囲よりも広い第２の許容範囲の下で近距離対応点を探索
することを特徴とする対応点探索方法。8. The corresponding point searching method according to claim 7, wherein for a continuous pattern in which the phase difference is smaller than a desired value, a distant corresponding point is searched under a first allowable range, and the long distance corresponding point is searched. And then searching for short distance corresponding points under a second permissible range wider than the first permissible range for a continuous pattern in which the phase difference is larger than the desired value. Search method.
て、 前記最小画素どうしの第１位相差および前記最大画素ど
うしの第２位相差を用いて、前記連続体パターンの当該
最小画素および当該最大画素の画像距離値を個別に算出
することを特徴とする対応点探索方法。9. The corresponding point searching method according to claim 5, wherein the first pixel difference between the minimum pixels and the second phase difference between the maximum pixels are used to determine the minimum pixel and the minimum pixel of the continuum pattern. A corresponding point searching method characterized by individually calculating the image distance value of the maximum pixel.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7047592A JPH08241431A (en) | 1995-03-07 | 1995-03-07 | Corresponding point searching device and method therefor |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7047592A JPH08241431A (en) | 1995-03-07 | 1995-03-07 | Corresponding point searching device and method therefor |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08241431A true JPH08241431A (en) | 1996-09-17 |
Family
ID=12779529
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7047592A Withdrawn JPH08241431A (en) | 1995-03-07 | 1995-03-07 | Corresponding point searching device and method therefor |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08241431A (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004354255A (en) * | 2003-05-29 | 2004-12-16 | Sogo Keibi Hosho Co Ltd | Distance measuring device and method, and program for making computer perform method |
-
1995
- 1995-03-07 JP JP7047592A patent/JPH08241431A/en not_active Withdrawn
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004354255A (en) * | 2003-05-29 | 2004-12-16 | Sogo Keibi Hosho Co Ltd | Distance measuring device and method, and program for making computer perform method |
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| A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20020507 |