JPH08154051A - Phase locked loop circuit - Google Patents
Phase locked loop circuitInfo
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- JPH08154051A JPH08154051A JP29252894A JP29252894A JPH08154051A JP H08154051 A JPH08154051 A JP H08154051A JP 29252894 A JP29252894 A JP 29252894A JP 29252894 A JP29252894 A JP 29252894A JP H08154051 A JPH08154051 A JP H08154051A
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- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04L—TRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHIC COMMUNICATION
- H04L7/00—Arrangements for synchronising receiver with transmitter
- H04L7/02—Speed or phase control by the received code signals, the signals containing no special synchronisation information
- H04L7/033—Speed or phase control by the received code signals, the signals containing no special synchronisation information using the transitions of the received signal to control the phase of the synchronising-signal-generating means, e.g. using a phase-locked loop
- H04L7/0337—Selecting between two or more discretely delayed clocks or selecting between two or more discretely delayed received code signals
Landscapes
- Stabilization Of Oscillater, Synchronisation, Frequency Synthesizers (AREA)
- Synchronisation In Digital Transmission Systems (AREA)
Abstract
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は、外部から入力する信号
に同期したクロック信号を発生する位相同期回路に関す
る。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a phase locked loop circuit for generating a clock signal synchronized with a signal input from the outside.
【0002】[0002]
【従来の技術】一般に、外部から入力するクロック信号
に同期した内部クロック信号を発生させたり、シリアル
データ信号をサンプリングするデータに同期したサンプ
リングクロックを発生させる場合などには位相同期回路
が用いられる。2. Description of the Related Art Generally, a phase locked loop circuit is used to generate an internal clock signal synchronized with an externally input clock signal or a sampling clock synchronized with data for sampling a serial data signal.
【0003】図31は従来の位相同期回路としてアナロ
グPLL(Phase Locked Loop )回路を示している。電
圧制御発振器(VCO)11は入力直流電圧に応じたク
ロック信号を発生し、位相比較器12は外部から入力す
る信号の変化点であるデータエッジと、電圧制御発振器
11が発生するクロック信号のエッジの位相差に応じた
信号を出力する。この信号はローパスフィルタ13によ
り直流電圧に変換されて電圧制御発振器11に印加さ
れ、電圧制御発振器11は入力直流電圧が「0」になる
ような周波数のクロック信号を発生する。FIG. 31 shows an analog PLL (Phase Locked Loop) circuit as a conventional phase locked loop circuit. The voltage controlled oscillator (VCO) 11 generates a clock signal according to the input DC voltage, and the phase comparator 12 causes a data edge which is a change point of a signal input from the outside and an edge of the clock signal generated by the voltage controlled oscillator 11. The signal corresponding to the phase difference of is output. This signal is converted into a DC voltage by the low pass filter 13 and applied to the voltage controlled oscillator 11, and the voltage controlled oscillator 11 generates a clock signal having a frequency such that the input DC voltage becomes "0".
【0004】他の従来のディジタル方式の位相同期回路
としては例えば特公昭5−88577号公報に示すよう
に、内部クロックを多段に遅延する遅延回路とこの遅延
回路の複数の出力信号の1つを選択するセレクタを設け
ると共に、NRZテスト信号のマーク信号とスペース信
号を判定し、NRZテスト信号の判定結果に基づいてN
RZテスト信号以降ではセレクタが1つのクロック信号
を固定して選択する方法が提案されている。また、他の
ディジタル方式としては例えば特公昭5−88578号
公報に提案されている。As another conventional digital phase lock circuit, for example, as shown in Japanese Examined Patent Publication (Kokoku) No. 5-88577, a delay circuit for delaying an internal clock in multiple stages and one of a plurality of output signals of this delay circuit are provided. A selector for selecting is provided, the mark signal and the space signal of the NRZ test signal are determined, and N is determined based on the determination result of the NRZ test signal.
A method has been proposed in which after the RZ test signal, the selector fixes and selects one clock signal. Further, another digital system is proposed in, for example, Japanese Patent Publication No. 5-88578.
【0005】更に、他のディジタル方式としては例えば
特開平5−91096号公報に示すように、内部クロッ
クを多段に遅延する遅延回路とこの遅延回路の複数の出
力信号の1つを選択するセレクタを設けると共に、位相
差の進み信号と遅れ信号の平均化進み信号又は平均化遅
れ信号に基づいて位相差が最も少ないクロック信号を選
択する方法が提案されている。Further, as another digital system, for example, as shown in Japanese Patent Laid-Open No. 5-91096, a delay circuit for delaying an internal clock in multiple stages and a selector for selecting one of a plurality of output signals of this delay circuit are used. A method of providing a clock signal having the smallest phase difference based on the averaged advance signal or the averaged delayed signal of the phase difference advance signal and the delay signal has been proposed.
【0006】[0006]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、図31
に示すようなようなアナログPLLでは、電圧制御発振
器11の自走周波数が不安定であり、また、外部から入
力する信号がバースト信号のように断続していたり、ま
た、シリアルデータ信号において「信号無し」の場合や
同一データが連続して変化しない場合には同期外れが発
生するという問題点がある。However, as shown in FIG.
In an analog PLL such as that shown in Fig. 1, the free-running frequency of the voltage controlled oscillator 11 is unstable, and the signal input from the outside is intermittent like a burst signal, and the "signal There is a problem that out of synchronization occurs when "none" or when the same data does not change continuously.
【0007】また、特公昭5−88577号公報に示す
ような回路では、NRZテスト信号以降ではNRZテス
ト信号の判定結果に基づいてセレクタが1つのクロック
信号を固定して選択するので、その後の入力データと内
部クロックの位相ずれが発生した場合に同期外れが発生
するという問題点がある。更に、特開平5−91096
号公報に示す回路では、位相差の進み信号と遅れ信号の
平均化進み信号又は平均化遅れ信号を算出するので回路
構成が複雑になるという問題点がある。Further, in the circuit as shown in Japanese Patent Publication No. 5-88577, the selector fixedly selects one clock signal based on the determination result of the NRZ test signal after the NRZ test signal. There is a problem that out-of-synchronization occurs when there is a phase shift between the data and the internal clock. Furthermore, JP-A-5-91096
The circuit disclosed in the above publication has a problem that the circuit configuration becomes complicated because an averaged advance signal or an averaged delay signal of the phase difference advance signal and the delay signal is calculated.
【0008】本発明は上記従来の問題点に鑑み、入力デ
ータと内部クロックの位相ずれが発生した場合にも常に
位相を同期させることができる位相同期回路を提供する
ことを目的とする。本発明はまた、安価な構成で入力信
号の状態にかかわらず常に位相を同期させることができ
る位相同期回路を提供することを目的とする。In view of the above-mentioned conventional problems, it is an object of the present invention to provide a phase synchronizing circuit capable of always synchronizing the phases even when the phase shift between the input data and the internal clock occurs. It is another object of the present invention to provide a phase locked loop circuit which is inexpensive and can always synchronize the phase regardless of the state of the input signal.
【0009】[0009]
【課題を解決するための手段】請求項1記載の発明は上
記目的を達成するために、内部クロック信号を多段に遅
延して複数のクロック信号を出力する多段遅延素子と、
前記多段遅延素子により遅延された複数のクロック信号
の1つを選択信号に基づいて選択するセレクタと、前記
セレクタにより選択されたクロック信号に対する外部入
力信号の位相進み及び位相遅れを検出する位相検出手段
と、前記位相検出手段により検出された位相進み又は位
相遅れに基づいてアップカウント又はダウンカウント
し、前記セレクタが外部入力信号に最も近い位相のクロ
ック信号を選択するようにカウント値を選択信号として
前記セレクタに印加するアップダウンカウンタとを有す
ることを特徴とする。In order to achieve the above object, the invention according to claim 1 is a multistage delay element for delaying an internal clock signal in multiple stages and outputting a plurality of clock signals,
A selector for selecting one of a plurality of clock signals delayed by the multistage delay element based on a selection signal, and a phase detecting means for detecting a phase lead and a phase delay of an external input signal with respect to the clock signal selected by the selector. And counting up or down based on the phase lead or phase lag detected by the phase detector, and using the count value as the selection signal so that the selector selects the clock signal of the phase closest to the external input signal. And an up / down counter applied to the selector.
【0010】請求項2記載の発明は、内部クロック信号
を多段に遅延して複数のクロック信号を出力する多段遅
延素子と、前記多段遅延素子により遅延された複数のク
ロック信号の1つを選択信号に基づいて選択するセレク
タと、外部入力信号の立ち上がりと立ち下がりの両方を
検出する変化点検出手段と、前記変化点検出手段により
検出された外部入力信号の変化点において前記セレクタ
により選択されたクロック信号に対する外部入力信号の
位相進み及び位相遅れを検出する位相検出手段と、前記
位相検出手段により検出された位相進み又は位相遅れに
基づいてアップカウント又はダウンカウントし、前記セ
レクタが外部入力信号に最も近い位相のクロック信号を
選択するようにカウント値を選択信号として前記セレク
タに印加するアップダウンカウンタとを有することを特
徴とする。According to a second aspect of the present invention, a multistage delay element that delays an internal clock signal in multiple stages to output a plurality of clock signals, and one of the plurality of clock signals delayed by the multistage delay element is a selection signal. Selector based on the change point, change point detecting means for detecting both rising and falling of the external input signal, and a clock selected by the selector at the change point of the external input signal detected by the changing point detecting means. Phase detection means for detecting the phase lead and phase delay of the external input signal with respect to the signal, and up-counting or down-counting based on the phase lead or phase delay detected by the phase detecting means, and the selector is most effective for the external input signal. The count value is applied to the selector as a selection signal so that a clock signal of a close phase is selected. And having a down-counter.
【0011】請求項3記載の位相検出手段は、前記セレ
クタにより選択された第1のクロック信号を外部入力信
号の変化点でラッチする第1のフリップフロップと、前
記セレクタにより選択された第1のクロック信号を1段
分遅延する遅延素子と、前記遅延素子により遅延された
第2のクロック信号を外部入力信号の変化点でラッチす
る第2のフリップフロップと、外部入力信号の変化点が
第1及び第2のクロック信号の変化点の両方より進んで
いる場合に前記アップダウンカウンタをアップカウント
させ、外部入力信号の変化点が前記第1及び第2のクロ
ック信号の変化点の間に位置する場合に前記アップダウ
ンカウンタを動作停止させ、外部入力信号の変化点が前
記第1及び第2のクロック信号の変化点の両方より遅れ
ている場合に前記アップダウンカウンタをアップカウン
トさせる手段とを有することを特徴とする。According to another aspect of the phase detecting means, a first flip-flop for latching the first clock signal selected by the selector at a change point of the external input signal, and a first flip-flop selected by the selector. A delay element that delays the clock signal by one stage, a second flip-flop that latches the second clock signal delayed by the delay element at a change point of the external input signal, and a change point of the external input signal is the first And the change point of the second clock signal, the up / down counter is counted up, and the change point of the external input signal is located between the change points of the first and second clock signals. In this case, the operation of the up / down counter is stopped, and when the change point of the external input signal is delayed from both the change points of the first and second clock signals, And having a means for the-down counter is up-counted.
【0012】請求項4記載の位相検出手段は、前記セレ
クタにより選択された第1のクロック信号を外部入力信
号の変化点でラッチする第1のフリップフロップと、前
記多段遅延素子により遅延された複数のクロック信号か
ら、前記セレクタにより選択されたクロック信号より1
段分遅延した第2のクロック信号を選択する第2のセレ
クタと、前記第2のセレクタにより選択された第2のク
ロック信号を外部入力信号の変化点でラッチする第2の
フリップフロップと、外部入力信号の変化点が前記第1
及び第2のクロック信号の変化点の両方より進んでいる
場合に前記アップダウンカウンタをアップカウントさ
せ、外部入力信号の変化点が前記第1及び第2のクロッ
ク信号の変化点の間に位置する場合に前記アップダウン
カウンタを動作停止させ、外部入力信号の変化点が前記
第1及び第2のクロック信号の変化点の両方より遅れて
いる場合に前記アップダウンカウンタをアップカウント
させる手段とを有することを特徴とする。According to a fourth aspect of the present invention, there is provided a phase detecting means for latching a first clock signal selected by the selector at a change point of an external input signal, and a plurality of delay elements delayed by the multistage delay element. 1 from the clock signal selected by the selector from the clock signal
A second selector for selecting the second clock signal delayed by a stage; a second flip-flop for latching the second clock signal selected by the second selector at a change point of an external input signal; The change point of the input signal is the first
And the change point of the second clock signal, the up / down counter is counted up, and the change point of the external input signal is located between the change points of the first and second clock signals. In this case, the operation of the up / down counter is stopped, and the up / down counter is up-counted when the change point of the external input signal is behind both the change points of the first and second clock signals. It is characterized by
【0013】請求項5記載の位相検出手段は、内部クロ
ック信号の1周期毎に前記第1及び第2のフリップフロ
ップを初期化する回路を有することを特徴とする。According to a fifth aspect of the present invention, the phase detecting means has a circuit for initializing the first and second flip-flops for each cycle of the internal clock signal.
【0014】請求項6記載の変化点検出手段は、2つの
入力信号の一方のレベルによりセットされ、他方のレベ
ルによりリセットされるR−Sフリップフロップにより
外部入力信号のノイズを除去することを特徴とする。According to a sixth aspect of the present invention, the change point detecting means removes noise of an external input signal by an RS flip-flop which is set by one level of two input signals and reset by the other level. And
【0015】請求項7記載の発明は、前記外部入力信号
はNRZシリアルデータであって、更に、前記セレクタ
により選択されたクロック信号で前記NRZシリアルデ
ータを取込み、パラレルデータに変換するシフトレジス
タを有することを特徴とする。According to a seventh aspect of the present invention, the external input signal is NRZ serial data, and further has a shift register which takes in the NRZ serial data with a clock signal selected by the selector and converts it into parallel data. It is characterized by
【0016】請求項8記載の発明は、内部クロック信号
を多段に遅延して複数のクロック信号を出力する多段遅
延素子と、前記多段遅延素子により遅延された複数のク
ロック信号の1つを選択信号に基づいて選択するセレク
タと、前記多段遅延素子により遅延された複数のクロッ
ク信号をエンコードすることにより前記セレクタが各ク
ロック信号を選択するための複数の選択信号を生成する
エンコーダと、前記エンコーダにより生成された複数の
選択信号の1つを外部入力信号の変化点でラッチして前
記セレクタに印加するラッチ手段とを有することを特徴
とする。According to an eighth aspect of the present invention, a multistage delay element that delays an internal clock signal in multiple stages to output a plurality of clock signals, and one of the plurality of clock signals delayed by the multistage delay element is a selection signal. A selector that selects based on the above, an encoder that generates a plurality of selection signals for the selector to select each clock signal by encoding a plurality of clock signals delayed by the multistage delay element, and a encoder that generates the selection signal Latching means for latching one of the selected selection signals at a change point of the external input signal and applying the latched signal to the selector.
【0017】請求項9記載の発明は、前記エンコーダの
動作遅延時間より長い間、外部入力信号を遅延して前記
ラッチ手段に印加する遅延素子を更に備えたことを特徴
とする。The invention according to claim 9 is characterized by further comprising a delay element for delaying an external input signal and applying it to the latch means for a period longer than an operation delay time of the encoder.
【0018】請求項10記載の発明は、前記セレクタに
より選択されたクロック信号を外部入力信号の変化点に
近づくように遅延する遅延素子を更に備えたことを特徴
とする。According to a tenth aspect of the present invention, there is further provided a delay element for delaying the clock signal selected by the selector so as to approach the change point of the external input signal.
【0019】請求項11記載の発明は、外部入力信号よ
り高速の内部クロック信号を外部入力信号と同一周波数
に分周する分周カウンタと、外部入力信号の変化点の間
隔を検出する変化点間隔検出手段と、前記変化点間隔検
出手段により検出された変化点の間隔が所定の範囲の場
合に前記分周カウンタをクリアするクリア手段と、前記
変化点間隔検出手段により検出された変化点の間隔が所
定の範囲内か又は外かに基づいて同期引き込み状態か又
は同期外れ状態かを検出し、同期外れ状態の場合に前記
クリア手段のクリアを禁止する同期検出手段とを有する
ことを特徴とする。According to an eleventh aspect of the present invention, a frequency dividing counter for dividing an internal clock signal faster than the external input signal into the same frequency as the external input signal, and a change point interval for detecting an interval between change points of the external input signal. Detecting means, clearing means for clearing the frequency dividing counter when the interval between the changing points detected by the changing point interval detecting means is within a predetermined range, and the interval between the changing points detected by the changing point interval detecting means A sync pull-in state or an out-of-sync state on the basis of whether the value is within or outside a predetermined range, and in the case of the out-of-sync state, there is provided a sync detecting means for prohibiting clearing of the clearing means. .
【0020】請求項12記載の発明は、前記分周カウン
タにより分周された信号を内部クロック信号でシフトす
るシフトレジスタを更に備えたことを特徴とする。According to a twelfth aspect of the present invention, there is further provided a shift register for shifting the signal divided by the division counter with an internal clock signal.
【0021】請求項13記載の変化点間隔検出手段は、
外部入力信号の変化点の間隔を内部クロック信号でカウ
ントするカウンタであり、前記同期検出手段は前記カウ
ンタのカウント値に基づいて同期引き込み状態か又は同
期外れ状態かを検出することを特徴とする。The change point interval detecting means according to claim 13 is
It is a counter that counts the interval between the change points of the external input signal with an internal clock signal, and the synchronization detecting means detects whether the synchronization is pulled in or out of synchronization based on the count value of the counter.
【0022】[0022]
【作用】請求項1ないし4記載の発明では、クロック信
号に対する外部入力信号の位相進み及び位相遅れが検出
され、位相進み又は位相遅れに基づいてアップダウンカ
ウンタがアップカウント又はダウンカウントし、外部入
力信号に最も近い位相のクロック信号がセレクタにより
選択されるので、入力データと内部クロックの位相ずれ
が発生した場合にも常に位相を同期させることができ
る。According to the present invention, the phase lead and the phase lag of the external input signal with respect to the clock signal are detected, and the up-down counter counts up or down based on the phase lead or the phase lag, and the external input Since the clock signal having the phase closest to the signal is selected by the selector, the phase can always be synchronized even when the phase difference between the input data and the internal clock occurs.
【0023】請求項5記載の発明では、内部クロック信
号の1周期毎に第1及び第2のフリップフロップが初期
化されるので、外部入力信号が信号断となった場合にア
ップダウンカウンタがアップカウント又はダウンカウン
トの動作を繰り返すことを防止することができ、したが
って、入力データと内部クロックの位相ずれが発生した
場合にも常に位相を同期させることができると共に、安
価な構成で入力信号の状態にかかわらず常に位相を同期
させることができる。According to the fifth aspect of the present invention, the first and second flip-flops are initialized every cycle of the internal clock signal, so that the up / down counter is incremented when the external input signal is disconnected. It is possible to prevent the counting or down-counting operation from being repeated, so that the phase can always be synchronized even when a phase shift occurs between the input data and the internal clock, and the state of the input signal can be reduced with an inexpensive configuration. The phase can always be synchronized regardless of.
【0024】請求項6記載の発明では、外部入力信号の
ノイズが除去されて変化点が検出されるので、外部入力
信号としてNRZシリアルデータが入力する場合に、正
常にサンプリングすることができる。According to the sixth aspect of the present invention, the noise of the external input signal is removed and the change point is detected. Therefore, when the NRZ serial data is input as the external input signal, normal sampling can be performed.
【0025】請求項7記載の発明では、セレクタにより
選択されたクロック信号でシフトレジスタによりNRZ
シリアルデータを取込み、パラレルデータに変換するこ
とにより、NRZシリアルデータを正常にサンプリング
することができる。According to a seventh aspect of the invention, the shift register uses the clock signal selected by the selector to perform NRZ.
The NRZ serial data can be normally sampled by taking the serial data and converting it into parallel data.
【0026】請求項8ないし10記載の発明では、複数
のクロック信号がエンコードされてセレクタの複数の選
択信号を生成され、複数の選択信号が外部入力信号の変
化点でラッチされてセレクタに印加されるので、入力デ
ータと内部クロックの位相ずれが発生した場合にも常に
位相を同期させることができ、また、安価な構成で入力
信号の状態にかかわらず常に位相を同期させることがで
きる。更に、遅延素子によりエンコーダの動作遅延時間
を考慮しているので、同期外れを防止することができ
る。According to the present invention, a plurality of clock signals are encoded to generate a plurality of selection signals for the selector, and the plurality of selection signals are latched at the changing points of the external input signal and applied to the selector. Therefore, the phase can be always synchronized even when the phase shift between the input data and the internal clock occurs, and the phase can always be synchronized regardless of the state of the input signal with an inexpensive configuration. Further, since the delay element takes into consideration the operation delay time of the encoder, it is possible to prevent the loss of synchronization.
【0027】請求項11ないし13記載の発明では、外
部入力信号の変化点の間隔が検出され、変化点の間隔が
所定の範囲の場合に分周カウンタがクリアされると共
に、変化点の間隔が所定の範囲内か又は外かに基づいて
同期引き込み状態か又は同期外れ状態かを検出されて同
期外れ状態の場合にクリア手段のクリアが禁止されるの
で、入力データと内部クロックの位相ずれが発生した場
合にも常に位相を同期させることができる。また、外部
入力信号が信号断となった場合に分周カウンタがフリー
ランして信号断前の位相が維持されるので、安価な構成
で入力信号の状態にかかわらず常に位相を同期させるこ
とができる。According to the eleventh to thirteenth aspects of the present invention, the interval between the changing points of the external input signal is detected, the frequency dividing counter is cleared when the interval between the changing points is within a predetermined range, and the interval between the changing points is determined. If the sync pull-in state or the out-of-sync state is detected based on whether it is within or outside a predetermined range, and the clear means is prohibited from clearing in the out-of-sync state, a phase shift between the input data and the internal clock occurs. Even in the case of doing so, the phase can always be synchronized. Also, when the external input signal is disconnected, the frequency divider counters the free run and maintains the phase before the signal is disconnected, so it is possible to always synchronize the phase regardless of the state of the input signal with an inexpensive configuration. it can.
【0028】[0028]
【実施例】以下、図面を参照して本発明の実施例を説明
する。図1は本発明に係る位相同期回路の一実施例を示
すブロック図、図2は図1の位相同期回路の一例を詳細
に示すブロック図である。Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. 1 is a block diagram showing an embodiment of the phase locked loop circuit according to the present invention, and FIG. 2 is a block diagram showing in detail an example of the phase locked loop circuit of FIG.
【0029】図1において、内部クロック信号101は
例えば水晶発振器(XO)等の安定したクロック発生器
から出力され、多段遅延素子1により1周期Tが複数段
に遅延される。多段遅延素子1により各段に遅延された
複数のクロック信号の1つがアップダウン(UD)カウ
ンタ4のカウント値に基づいてセレクタ2により選択さ
れ、クロック信号として出力される。位相検出回路3は
この出力クロック信号と外部入力信号102の位相進み
及び位相遅れに基づいてUDカウンタ4をアップカウン
ト、ダウンカウント、動作停止させることによりセレク
タ2が外部入力信号102に最も近い位相のクロック信
号を選択するように制御する。In FIG. 1, the internal clock signal 101 is output from a stable clock generator such as a crystal oscillator (XO), and the multi-stage delay element 1 delays one cycle T into a plurality of stages. One of the plurality of clock signals delayed by each stage by the multi-stage delay element 1 is selected by the selector 2 based on the count value of the up / down (UD) counter 4 and output as a clock signal. The phase detection circuit 3 up-counts, down-counts, and stops the operation of the UD counter 4 based on the phase advance and the phase lag of the output clock signal and the external input signal 102 so that the selector 2 outputs the phase closest to the external input signal 102. Control to select the clock signal.
【0030】図2において、内部クロック信号(=T
0)101は多段遅延素子(DL)1により1周期が例
えば7段に遅延されて信号T1〜T7が出力され、8個
の信号T0〜T7がそれぞれセレクタ2の入力端子I0
〜I7に印加されている。なお、内部クロック信号10
1の周波数が12.5MHzの場合すなわち1周期が8
0nsecの場合には、信号T0〜T7の各遅延時間は
10nsecである。In FIG. 2, the internal clock signal (= T
0) 101 is delayed by one stage by the multistage delay element (DL) 1 to output signals T1 to T7, for example, 7 stages, and eight signals T0 to T7 are input terminals I0 of the selector 2, respectively.
~ I7 is applied. The internal clock signal 10
When the frequency of 1 is 12.5 MHz, that is, one cycle is 8
In the case of 0 nsec, each delay time of the signals T0 to T7 is 10 nsec.
【0031】セレクタ2はこの8個の信号T0〜T7の
1つをアップダウン(UD)カウンタ4の3ビットのカ
ウント値QA 、QB 、QC を選択信号として選択し、U
Dカウンタ4はこの例では8進であってバイナリ動作す
る。セレクタ2の出力信号103はクロックとして用い
られると共に、インバータ5を介してUDカウンタ4の
クロック入力端子に印加され、また、第1のフリップフ
ロップ(F/F)31のD端子と遅延素子33の一端に
印加されている。遅延素子33は信号103を10ns
ec遅延した信号104を第2のF/F32のD端子に
印加するように構成されている。The selector 2 selects one of the eight signals T0 to T7 as the selection signal of the 3-bit count values QA, QB and QC of the up / down (UD) counter 4, and U
The D counter 4 is octal in this example and operates in binary. The output signal 103 of the selector 2 is used as a clock and is applied to the clock input terminal of the UD counter 4 via the inverter 5, and the D terminal of the first flip-flop (F / F) 31 and the delay element 33 are connected. It is applied to one end. The delay element 33 outputs the signal 103 for 10 ns
The signal 104 delayed by ec is applied to the D terminal of the second F / F 32.
【0032】外部入力信号102は第1及び第2のF/
F31、32のクロック端子に印加され、また、第1の
F/F31のQ端子出力Q1と第2のF/F32の(/
Q)端子出力(以下「/」は反転信号に用いる。)はA
NDゲート34に印加され、ANDゲート34の出力信
号106がUDカウンタ4のイネーブル端子(/E)に
印加されている。また、第1のF/F31の(/Q)端
子出力105はUDカウンタ4のアップダウン端子U/
Dに印加されている。The external input signal 102 is the first and second F /
It is applied to the clock terminals of the F31 and 32, and the Q terminal output Q1 of the first F / F31 and the (/
Q) terminal output (hereinafter "/" is used for inverted signal) is A
The output signal 106 of the AND gate 34 is applied to the ND gate 34, and is applied to the enable terminal (/ E) of the UD counter 4. The (/ Q) terminal output 105 of the first F / F 31 is the up / down terminal U / of the UD counter 4.
Applied to D.
【0033】図3を参照して動作を説明する。先ず、U
Dカウンタ4の出力QA 、QB 、QC の初期値は「0、
0、0」であり、この場合にはセレクタ2は信号103
として信号T0を選択する。第1のF/F31はこの信
号T0を外部入力信号102の立ち上がりでラッチして
Q端子からQ1を出力し、また、第2のF/F32はこ
の信号T0が10nsec遅延された信号104を外部
入力信号102の立ち上がりでラッチして(/Q)端子
から出力する。The operation will be described with reference to FIG. First, U
The initial values of the outputs QA, QB, QC of the D counter 4 are "0,
0, 0 ”, and in this case, the selector 2 outputs the signal 103
The signal T0 is selected as. The first F / F 31 latches this signal T0 at the rising edge of the external input signal 102 and outputs Q1 from the Q terminal, and the second F / F 32 outputs the signal 104 obtained by delaying this signal T0 by 10 nsec to the outside. It is latched at the rising edge of the input signal 102 and output from the (/ Q) terminal.
【0034】ここで、外部入力信号102の立ち上がり
P1において信号103、104が共にハイレベルの場
合すなわち立ち上がりP1が信号103、104の両方
の立ち上がりより進んでいる場合には、第1のF/F3
1の(/Q)端子出力105が「0」であるのでUDカ
ウンタ4がアップモードに設定される。また、第1のF
/F31のQ端子出力Q1が「1」、第2のF/F32
の(/Q)端子出力が「0」であるのでUDカウンタ4
のイネーブル端子(/E)の入力信号が「0」となり、
信号103の立ち下がり点N1においてUDカウンタ4
に入力するクロックが立ち上がり、UDカウンタ4がア
ップカウントし、セレクタ2が次の出力信号103とし
て入力信号T1を選択する。Here, when the signals 103 and 104 are both at the high level at the rising edge P1 of the external input signal 102, that is, when the rising edge P1 is ahead of the rising edges of both the signals 103 and 104, the first F / F3.
Since the (/ Q) terminal output 105 of 1 is "0", the UD counter 4 is set to the up mode. Also, the first F
Q terminal output Q1 of / F31 is "1", second F / F32
(/ Q) terminal output is 0, so UD counter 4
The input signal of the enable terminal (/ E) of is "0",
The UD counter 4 at the falling point N1 of the signal 103
The clock input to the signal rises, the UD counter 4 counts up, and the selector 2 selects the input signal T1 as the next output signal 103.
【0035】したがって、出力信号103の位相は外部
入力信号102に近づき、また、これでもまだ外部入力
信号102の次の立ち上がりP2が信号103、104
の両方の立ち上がりより進んでいる場合にはUDカウン
タ4が更にアップカウントし、セレクタ2が次の出力信
号103として入力信号T2を選択する。Therefore, the phase of the output signal 103 approaches that of the external input signal 102, and even then, the next rising P2 of the external input signal 102 is still the signals 103 and 104.
If both of the rising edges of the UD counter 4 are ahead, the UD counter 4 further counts up, and the selector 2 selects the input signal T2 as the next output signal 103.
【0036】次に、外部入力信号102の次の立ち上が
りP3が信号103より進み、且つ信号104より遅れ
ている場合には、UDカウンタ4のイネーブル端子(/
E)の入力信号が「1」となり、UDカウンタ4が動作
せず、セレクタ2が次の出力信号103として入力信号
T2を選択する。Next, when the next rising edge P3 of the external input signal 102 is ahead of the signal 103 and behind the signal 104, the enable terminal (/
The input signal of E) becomes "1", the UD counter 4 does not operate, and the selector 2 selects the input signal T2 as the next output signal 103.
【0037】次に、外部入力信号102の次の立ち上が
りP5が信号103、104の両方より遅れた場合に
は、、第1のF/F31の(/Q)端子出力105が
「1」となるのでUDカウンタ4がダウンモードに設定
される。また、第1のF/F31のQ端子出力が
「0」、第2のF/F32の(/Q)端子出力が「1」
であるのでUDカウンタ4のイネーブル端子(/E)の
入力信号が「0」となり、UDカウンタ4がダウンカウ
ントし、セレクタ2が次の出力信号103として入力信
号T1を選択する。Next, when the next rising edge P5 of the external input signal 102 lags behind both the signals 103 and 104, the (/ Q) terminal output 105 of the first F / F 31 becomes "1". Therefore, the UD counter 4 is set to the down mode. Further, the Q terminal output of the first F / F 31 is “0”, and the (/ Q) terminal output of the second F / F 32 is “1”.
Therefore, the input signal of the enable terminal (/ E) of the UD counter 4 becomes "0", the UD counter 4 counts down, and the selector 2 selects the input signal T1 as the next output signal 103.
【0038】したがって、この実施例によれば、外部入
力信号102の位相の進み具合に応じてUDカウンタ4
がアップカウント又はダウンカウントして位相が近い方
の信号T0〜T7を選択するので、入力データと内部ク
ロックの位相ずれが発生した場合に信号T0〜T7の各
遅延時間の範囲内で常に位相を同期させることができ
る。Therefore, according to this embodiment, the UD counter 4 can be used according to the phase advance of the external input signal 102.
Selects the signal T0-T7 having the closer phase by up-counting or down-counting, so that when the phase shift between the input data and the internal clock occurs, the phase is always kept within the delay time range of the signals T0-T7. Can be synchronized.
【0039】図4は上記実施例の変形例を示している。
上記図2に示す実施例では位相検出回路3において遅延
素子33が信号103を10nsec遅延した信号10
4を生成しているが、この変形例では遅延素子33の代
わりにセレクタ2−2により生成している。遅延素子1
aは内部クロック信号(=T0)101を1周期を7段
に遅延した8個の信号T1〜T8(T8=T0)を出力
し、セレクタ2−1は図2に示すセレクタ2と同様に8
個の信号T0〜T7の1つを選択する。FIG. 4 shows a modification of the above embodiment.
In the embodiment shown in FIG. 2, the delay element 33 in the phase detection circuit 3 delays the signal 103 by 10 nsec and outputs the signal 10
4 is generated, but in this modification, the selector 2-2 is used instead of the delay element 33. Delay element 1
a outputs eight signals T1 to T8 (T8 = T0) obtained by delaying one cycle of the internal clock signal (= T0) 101 by 7 stages, and the selector 2-1 is 8 as in the selector 2 shown in FIG.
One of the signals T0 to T7 is selected.
【0040】セレクタ2−2はセレクタ2−1と同一の
選択信号によりセレクタ2−1の出力信号とは10ns
ec遅延した8個の信号T1〜T8の1つを選択するよ
うに構成されている。このような構成では、図2に示す
実施例と同一の動作であるが、セレクタ2−1、2−2
はディジタルICで構成することができるので、遅延素
子33を用いた場合よりはるかに安価に構成することが
できる。The selector 2-2 uses the same selection signal as the selector 2-1 and the output signal of the selector 2-1 is 10 ns.
It is configured to select one of the eight signals T1 to T8 delayed by ec. With such a configuration, the operation is the same as that of the embodiment shown in FIG. 2, but the selectors 2-1 and 2-2 are used.
Since it can be configured by a digital IC, it can be configured at a much lower cost than when the delay element 33 is used.
【0041】さて、上記2つの実施例では、また、外部
入力信号102がバースト信号のように断続していた
り、また、シリアルデータ信号において「信号無し」の
場合や同一データが連続して変化しない場合には、その
区間においてUDカウンタ4がアップカウント又はダウ
ンカウントを繰り返すことがある。In the above two embodiments, the external input signal 102 is intermittent like a burst signal, the serial data signal is "no signal", or the same data does not change continuously. In this case, the UD counter 4 may repeat up-counting or down-counting in that section.
【0042】図5、図6はそれぞれ、更に他の変形例の
位相検出部及びタイミングチャートを示している。第1
のF/F31、第2のF/F32としてはそれぞれセッ
ト端子S、リセット端子Rを有するものが用いられ、ま
た、立ち上がり点検出回路8が追加されている。立ち上
がり点検出回路8は遅延素子33の出力信号104を更
に10nsec遅延した信号を出力する遅延素子81
と、遅延素子81の出力信号と信号104の反転信号の
論理積信号108を出力するANDゲート82を有し、
第1のF/F31、第2のF/F32のセット端子S、
リセット端子Rに対して信号104の立ち下がり点で初
期化パルス108を出力する。なお、他の構成は図2、
図4に示す構成と同一である。FIG. 5 and FIG. 6 respectively show a phase detector and a timing chart of another modification. First
An F / F 31 and a second F / F 32 each having a set terminal S and a reset terminal R are used, and a rising point detection circuit 8 is added. The rising point detection circuit 8 outputs a signal obtained by delaying the output signal 104 of the delay element 33 by 10 nsec.
And an AND gate 82 that outputs a logical product signal 108 of the output signal of the delay element 81 and the inverted signal of the signal 104,
A set terminal S of the first F / F 31 and the second F / F 32,
The initialization pulse 108 is output to the reset terminal R at the falling point of the signal 104. Other configurations are shown in FIG.
The configuration is the same as that shown in FIG.
【0043】したがって、図6に示すように内部クロッ
ク101の各周期において信号104の立ち下がり点で
第1のF/F31、第2のF/F32がそれぞれセッ
ト、リセットされ、ANDゲート34の出力信号106
が「1」になるのでUDカウンタ4がディセーブル状態
になる。また、この出力信号106は外部入力信号10
2の立ち上がりから短時間の間ロウレベルになるだけで
あるのでUDカウンタ4は1回しかカウントせず、ま
た、外部入力信号102が断となったり、変化しない場
合にはUDカウンタ4が動作しないのでUDカウンタ4
がアップカウント又はダウンカウントを繰り返すことを
防止することができる。したがって、入力信号の状態に
かかわらず、位相をほぼ同期させることができる。Therefore, as shown in FIG. 6, in each cycle of the internal clock 101, the first F / F 31 and the second F / F 32 are set and reset at the falling point of the signal 104, and the output of the AND gate 34. Signal 106
Becomes "1", the UD counter 4 is disabled. The output signal 106 is the external input signal 10
Since the UD counter 4 only counts once for a short time from the rising edge of 2, the UD counter 4 does not operate when the external input signal 102 is cut off or does not change. UD counter 4
Can be prevented from repeating up-counting or down-counting. Therefore, the phases can be almost synchronized regardless of the state of the input signal.
【0044】なお、内部クロック信号101を発生する
クロック発生器はその周波数が外部入力信号102と略
同一のものが用いられ、また、水晶発振器(XO)のよ
うに誤差が少ないものが望ましい。また、内部クロック
信号101の遅延段は8段に限定されず、10段の場合
にはセレクタ2は8入力、UDカウンタ4として10進
BCDカウンタが用いられる。また、16段に遅延する
場合にはセレクタ2は16入力、UDカウンタ4として
バイナリ16進カウンタが用いられる。すなわち、内部
クロック信号101をN段に遅延する場合、セレクタ2
はN入力、UDカウンタ4はN進である。As the clock generator for generating the internal clock signal 101, one having a frequency substantially the same as that of the external input signal 102 is used, and a crystal oscillator (XO) having a small error is desirable. Further, the delay stage of the internal clock signal 101 is not limited to 8 stages, and in the case of 10 stages, the selector 2 has 8 inputs and a decimal BCD counter is used as the UD counter 4. When delaying to 16 stages, the selector 2 uses 16 inputs and the UD counter 4 uses a binary hexadecimal counter. That is, when the internal clock signal 101 is delayed to N stages, the selector 2
Is N input, and the UD counter 4 is N-ary.
【0045】ところでは、図2に示す遅延素子33はカ
ウンタ4が動作しない位相差の範囲すなわち引き込まれ
て同期したと判定する範囲を決めるものであり、実施例
では1段分を遅延するように構成されているが、遅延量
を大きくするとカウンタ4が動作しない位相差の範囲が
大きくなり、小さくするとカウンタ4が動作しない位相
差の範囲が小さくなる。By the way, the delay element 33 shown in FIG. 2 determines the range of the phase difference in which the counter 4 does not operate, that is, the range in which it is judged that the counter 4 is pulled in and synchronized, and in the embodiment, it is delayed by one stage. However, if the delay amount is increased, the range of the phase difference in which the counter 4 does not operate increases, and if the delay amount is decreased, the range of the phase difference in which the counter 4 does not operate decreases.
【0046】次に、図7〜図13を参照して第2の実施
例を説明する。図7は第2の実施例の概略を示すブロッ
ク図であり、多段遅延素子1及びセレクタ2は第1の実
施例と同一である。変化点検出回路6は外部入力信号と
して例えばNRZ信号102の変化点を検出し、位相検
出回路3はこの外部入力信号102の変化点におけるセ
レクタ2により選択されたクロック信号の位相進み及び
位相遅れに基づいてUDカウンタ4をアップカウント、
ダウンカウント、動作停止させることにより外部入力信
号102に最も近い位相のクロック信号を選択するよう
に制御する。また、シフトレジスタ7はNRZシリアル
データ102をセレクタ2により選択されたクロック信
号で取込み、パラレルデータに変換する。なお、位相検
出回路3とUDカウンタ4の動作は後述するようにやや
異なる。Next, a second embodiment will be described with reference to FIGS. FIG. 7 is a block diagram showing the outline of the second embodiment, and the multistage delay element 1 and the selector 2 are the same as those in the first embodiment. The change point detection circuit 6 detects, for example, a change point of the NRZ signal 102 as an external input signal, and the phase detection circuit 3 detects the phase advance or phase delay of the clock signal selected by the selector 2 at the change point of the external input signal 102. Based on the UD counter 4,
Control is performed so that the clock signal having the phase closest to the external input signal 102 is selected by counting down and stopping the operation. Further, the shift register 7 takes in the NRZ serial data 102 with the clock signal selected by the selector 2 and converts it into parallel data. The operations of the phase detection circuit 3 and the UD counter 4 are slightly different as will be described later.
【0047】図8は図7の回路の一例を詳細に示すブロ
ック図である。変化点検出回路6は例えばNRZデータ
のような外部入力信号102を遅延する遅延素子61
と、外部入力信号102と遅延素子61により遅延され
た信号の排他的論理和信号107aを出力するEX−O
Rゲート62により構成され、この信号107aは図9
に示すように外部入力信号102の立ち上がりK1、K
3及び立ち下がりK2、K4の両方で立ち上がるパルス
C1〜C4となる。そして、この信号107aはインバ
ータ8を介してUDカウンタ4のクロック入力端子に印
加されると共に、第1、第2のF/F31、32のクロ
ック入力端子に印加される。FIG. 8 is a block diagram showing an example of the circuit of FIG. 7 in detail. The change point detection circuit 6 delays an external input signal 102 such as NRZ data by a delay element 61.
And an EX-O which outputs an exclusive OR signal 107a of the external input signal 102 and the signal delayed by the delay element 61.
This signal 107a is formed by the R gate 62, and the signal 107a shown in FIG.
As shown in, the rising edges K1 and K of the external input signal 102
3 and the rising pulses C1 to C4 at both the falling edges K2 and K4. The signal 107a is applied to the clock input terminal of the UD counter 4 via the inverter 8 and to the clock input terminals of the first and second F / Fs 31 and 32.
【0048】ここで、第1の実施例と異なり、UDカウ
ンタ4のアップダウン端子U/Dには第1のF/F31
のQ端子出力Q1が印加され、また、イネーブル端子
(/E)には第1のF/F31の(/Q)端子出力と第
2のF/F31のQ端子出力Q2がANDゲート34を
介して印加される。また、シフトレジスタ7のデータ端
子Dには外部入力信号102が入力し、クロック端子C
Kには遅延素子33により遅延された信号104が入力
する。他の構成は図2に示す場合と同一である。Here, unlike the first embodiment, the first F / F 31 is connected to the up / down terminal U / D of the UD counter 4.
Is applied to the enable terminal (/ E), and the (/ Q) terminal output of the first F / F 31 and the Q terminal output Q2 of the second F / F 31 are applied via the AND gate 34. Applied. The external input signal 102 is input to the data terminal D of the shift register 7, and the clock terminal C
The signal 104 delayed by the delay element 33 is input to K. Other configurations are the same as those shown in FIG.
【0049】図9を参照してこの第2の実施例の動作を
説明する。例えば外部入力信号102の立ち上がりK1
(パルスC1の立ち上がり)において信号103、10
4が共にハイレベルの場合すなわち立ち上がりK1が信
号103、104の両方の立ち上がりより進んでいる場
合には、第1、第2のF/F31、32の各Q端子出力
Q1、Q2が「1、1」であるのでUDカウンタ4がイ
ネーブル状態に設定され、次いで、パルスC1の立ち下
がりにおいてUDカウンタ4がダウンカウントするの
で、セレクタ2が次の出力信号103として信号T7を
選択する。The operation of the second embodiment will be described with reference to FIG. For example, the rising edge K1 of the external input signal 102
At (rising edge of pulse C1), signals 103 and 10
When both 4 are high level, that is, when the rising edge K1 is ahead of the rising edges of both signals 103 and 104, the Q terminal outputs Q1 and Q2 of the first and second F / Fs 31 and 32 are "1, Since it is "1", the UD counter 4 is set to the enable state, and then the UD counter 4 counts down at the falling edge of the pulse C1, so that the selector 2 selects the signal T7 as the next output signal 103.
【0050】シフトレジスタ7は信号104の立ち上が
り(サンプル点S1〜S4)において動作し、外部入力
信号102を取込んでシフトしてパラレルデータに変換
し、この場合にUDカウンタ4は第1、第2のF/F3
1、32の各Q端子出力Q1、Q2が「1、1」の場合
にはダウンカウントし、「00」の場合にアップカウン
トし、「01」、「10」の場合には動作しないので、
図9に示すように外部入力信号102の立ち上がりK1
と立ち下がりK2の間のサンプル点S1は立ち下がりK
2にずれているが、サンプル点S4では立ち上がりK3
と立ち下がりK4の略中央位置になるように位相補正さ
れる。The shift register 7 operates at the rising edge of the signal 104 (sampling points S1 to S4), takes in the external input signal 102, shifts it, and converts it into parallel data. In this case, the UD counter 4 receives the first and second signals. 2 F / F 3
When the Q terminal outputs Q1 and Q2 of 1 and 32 are "1 and 1", down-counting is performed, when they are "00", up-counting is performed, and when they are "01" and "10", they do not operate.
As shown in FIG. 9, the rising edge K1 of the external input signal 102
And the falling point K2 is the sampling point S1
Although it deviates to 2, at the sampling point S4, it rises K3
Then, the phase is corrected so that the center of fall K4 is reached.
【0051】ここで、変化点検出回路6が外部入力信号
102の変化点を検出するので、図12に示すように外
部入力信号102にノイズやグリッチが乗っている場合
にはその出力信号107aは大きく乱れ、データを正し
くサンプリングすることができなくなる。図10、図1
1は変化点検出回路6の2つの変形例を示し、図12は
各変形例の主要信号を示している。Here, since the change point detection circuit 6 detects the change point of the external input signal 102, when the external input signal 102 has noise or glitch, the output signal 107a thereof is changed as shown in FIG. It will be so disturbed that the data cannot be sampled correctly. 10 and 1
1 shows two modifications of the change point detection circuit 6, and FIG. 12 shows the main signals of each modification.
【0052】図10に示す例では、外部入力信号102
は遅延素子63と、ANDゲート64の一方の入力端子
とANDゲート66の一方の反転入力端子に印加され、
遅延素子63により遅延された信号160はANDゲー
ト64の他方の入力端子とANDゲート66の他方の反
転入力端子に印加される。ANDゲート64の出力信号
161がR−Sフリップフロップ65のセット端子Sに
印加され、ANDゲート66の出力信号163がR−S
フリップフロップ65のリセット端子Rに印加される
と、図12に示すようにQ端子出力164はノイズのな
い信号となる。このQ端子出力164からは、図8に示
すような遅延素子67及びEX−ORゲート68により
変化点が検出される。In the example shown in FIG. 10, the external input signal 102
Is applied to the delay element 63, one input terminal of the AND gate 64 and one inverting input terminal of the AND gate 66,
The signal 160 delayed by the delay element 63 is applied to the other input terminal of the AND gate 64 and the other inverting input terminal of the AND gate 66. The output signal 161 of the AND gate 64 is applied to the set terminal S of the RS flip-flop 65, and the output signal 163 of the AND gate 66 is RS.
When applied to the reset terminal R of the flip-flop 65, the Q terminal output 164 becomes a noise-free signal as shown in FIG. From the Q terminal output 164, the change point is detected by the delay element 67 and the EX-OR gate 68 as shown in FIG.
【0053】図11に示す例では、外部入力信号102
は2段の遅延素子69と、ANDゲート64−1の一方
の入力端子とANDゲート66−1の一方の反転入力端
子に印加される。遅延素子69により2段分遅延された
信号161はANDゲート64−2の一方の入力端子と
ANDゲート66−2の一方の反転入力端子に印加さ
れ、遅延素子69により1段分遅延された信号160は
ANDゲート64−1、64−2の他方の各入力端子と
ANDゲート66−1、66−2の他方の各反転入力端
子に印加される。In the example shown in FIG. 11, the external input signal 102
Is applied to the two-stage delay element 69, one input terminal of the AND gate 64-1 and one inverting input terminal of the AND gate 66-1. The signal 161 delayed by two stages by the delay element 69 is applied to one input terminal of the AND gate 64-2 and one inverting input terminal of the AND gate 66-2, and the signal delayed by one stage by the delay element 69. 160 is applied to the other input terminals of the AND gates 64-1 and 64-2 and the other inverting input terminals of the AND gates 66-1 and 66-2.
【0054】また、ANDゲート64−2の出力信号1
72がR−Sフリップフロップ65−2のセット端子S
に印加され、ANDゲート66−2の出力信号173が
R−Sフリップフロップ65−2のリセット端子Rに印
加されると、図12に示すようにQ端子出力174は外
部入力信号102が2段分遅延されたノイズのない信号
となる。Also, the output signal 1 of the AND gate 64-2
72 is a set terminal S of the RS flip-flop 65-2
When the output signal 173 of the AND gate 66-2 is applied to the reset terminal R of the RS flip-flop 65-2, the Q terminal output 174 outputs two stages of the external input signal 102 as shown in FIG. The signal is noise-free delayed by a minute.
【0055】また、ANDゲート64−1の出力信号1
62がR−Sフリップフロップ65−1のセット端子S
に印加され、ANDゲート66−1の出力信号163が
R−Sフリップフロップ65−1のリセット端子Rに印
加されると、Q端子出力164は外部入力信号102が
1段分遅延されたノイズのない信号となる。そして、こ
の各Q端子出力174、164の排他的論理和により外
部入力信号102の変化点を検出することができる(図
12の107c)。The output signal 1 of the AND gate 64-1
62 is a set terminal S of the RS flip-flop 65-1
When the output signal 163 of the AND gate 66-1 is applied to the reset terminal R of the RS flip-flop 65-1, the Q terminal output 164 outputs noise of the external input signal 102 delayed by one stage. There will be no signal. The change point of the external input signal 102 can be detected by the exclusive OR of the Q terminal outputs 174 and 164 (107c in FIG. 12).
【0056】この第2の実施例においても同様に、内部
クロック信号101を発生するクロック発生器は水晶発
振器(XO)のように誤差が少ないものが望ましいこと
は勿論であるが、外部入力信号102であるNRZシリ
アルデータのデータスピードと同一のものが用いられ
る。なお、上記説明では、外部入力信号102としてN
RZシリアルデータをサンプリングする場合を例にした
が、図13に示すように外部入力信号102が内部クロ
ック101の1/2、1/4等の低い周波数の場合にも
内部クロック101を出力信号103として取り出すこ
ともできる。In the second embodiment as well, it is needless to say that the clock generator for generating the internal clock signal 101 preferably has a small error such as a crystal oscillator (XO), but the external input signal 102 is also preferable. The same data speed as the NRZ serial data is used. In the above description, N is used as the external input signal 102.
Although the case where RZ serial data is sampled is taken as an example, the internal clock 101 is output as the output signal 103 even when the external input signal 102 has a low frequency such as 1/2 or 1/4 of the internal clock 101 as shown in FIG. It can also be taken out as.
【0057】次に、図14〜図22を参照して第3の実
施例を説明する。図14は第2の実施例の概略を示すブ
ロック図であり、多段遅延素子1及びセレクタ2は第
1、第2の実施例と同一である。セレクト値設定部9は
多段遅延素子1により遅延された複数のクロック信号を
エンコードすることによりセレクタ2が各クロック信号
を選択するための複数の選択信号を生成し、この複数の
選択信号の1つを外部入力信号102の変化点でラッチ
してセレクタ2に印加する。Next, a third embodiment will be described with reference to FIGS. FIG. 14 is a block diagram showing the outline of the second embodiment, and the multistage delay element 1 and the selector 2 are the same as those in the first and second embodiments. The select value setting unit 9 encodes a plurality of clock signals delayed by the multi-stage delay element 1 to generate a plurality of selection signals for the selector 2 to select each clock signal, and one of the plurality of selection signals. Is latched at the change point of the external input signal 102 and applied to the selector 2.
【0058】図15は図14の回路の一例を詳細に示す
ブロック図であり、セレクト値設定部9はインバータ4
11、エンコーダ412、EX−ORゲート413−1
〜413−7、インバータ414−1、414−2及び
データラッチ415により構成されている。FIG. 15 is a block diagram showing an example of the circuit shown in FIG. 14 in detail, and the select value setting section 9 includes an inverter 4
11, encoder 412, EX-OR gate 413-1
˜413-7, inverters 414-1, 414-2 and data latch 415.
【0059】エンコーダ412としては例えば図18及
び図19に示すような論理IC「SN74148」が用
いられ、この論理ICとインバータ411、EX−OR
ゲート413−1〜413−7、インバータ414−
1、414−2の組み合わせにより図16に示すように
インバータ414−1、414−2の各出力A10、A
11及びインバータ411の出力A12から、内部クロ
ック101を8分割した区間P0〜P7において3ビッ
トの選択信号を得るように構成されている。As the encoder 412, for example, a logic IC “SN74148” as shown in FIGS. 18 and 19 is used, and this logic IC and the inverter 411, EX-OR.
Gates 413-1 to 413-7, inverter 414-
As shown in FIG. 16, the outputs A10 and A of the inverters 414-1 and 414-2 are combined depending on the combination of No. 1 and 414-2.
11 and the output A12 of the inverter 411 are configured to obtain a 3-bit selection signal in the sections P0 to P7 in which the internal clock 101 is divided into eight.
【0060】信号T0はインバータ411により反転さ
れてエンコーダ412の入力「0」に入力し、信号T1
とT2、信号T2とT3〜信号T6とT7のように当該
信号と次の段の信号がそれぞれEX−ORゲート413
−1〜413−7を介してエンコーダ412の各入力
「1」〜「7」に入力する。3ビットの選択信号A1
0、A11、A12はデータラッチ415により外部入
力信号102の立ち上がりでラッチされ、セレクタ2に
印加される。The signal T0 is inverted by the inverter 411 and input to the input "0" of the encoder 412, and the signal T1
And T2, signals T2 and T3 to signals T6 and T7, and the signals of the next stage and the EX-OR gate 413, respectively.
Input to each input "1" to "7" of the encoder 412 via -1 to 413-7. 3-bit selection signal A1
0, A11, and A12 are latched by the data latch 415 at the rising edge of the external input signal 102 and applied to the selector 2.
【0061】図16及び図17を参照してこの実施例の
動作を説明すると、先ず、信号T0が立ち上がった後1
0nsecの間の区間P0では選択信号A10、A1
1、A12は「0、0、0」であり、したがって、この
区間P0で外部入力信号102が立ち上がった場合にこ
の選択信号A10、A11、A12がデータラッチ41
5によりラッチされてセレクタ2に印加されるので信号
T0が選択される。同様に、信号T1〜T7がそれぞれ
立ち上がった後10nsecの間の区間P1〜P7で外
部入力信号102が立ち上がった場合に信号T1〜T7
が選択される。The operation of this embodiment will be described with reference to FIGS. 16 and 17. First, after the signal T0 rises, 1
In the section P0 for 0 nsec, the selection signals A10, A1
1 and A12 are "0, 0, 0", therefore, when the external input signal 102 rises in this section P0, the selection signals A10, A11, and A12 are transmitted to the data latch 41.
The signal T0 is selected because it is latched by 5 and applied to the selector 2. Similarly, when the external input signal 102 rises in the section P1 to P7 within 10 nsec after the rise of the signals T1 to T7, respectively, the signals T1 to T7.
Is selected.
【0062】ところで、上記動作はセレクト値設定部9
内の論理回路による遅延を無視して説明したが、内部ク
ロック101が低い周波数であればこの遅延を無視する
ことができる。しかしながら、内部クロック101の周
波数が12.5MHzのように高い場合すなわち上記各
区間P0〜P7が10nsecのように短い場合には、
論理IC「SN74148」の遅延が数十nsec程度
であり、また、代わりに高速の論理ICである「74F
148」を用いても数nsec程度の遅延があるのでこ
の遅延を無視することができない。By the way, the above operation is performed by the select value setting unit 9
Although the delay due to the internal logic circuit has been ignored, the delay can be ignored if the internal clock 101 has a low frequency. However, when the frequency of the internal clock 101 is as high as 12.5 MHz, that is, when the sections P0 to P7 are as short as 10 nsec,
The delay of the logic IC "SN74148" is about several tens of nanoseconds, and the high speed logic IC "74F" is used instead.
Even if “148” is used, there is a delay of several nanoseconds, and this delay cannot be ignored.
【0063】図20は内部クロック101が高速の場合
に対応した回路を示し、セレクト値設定部9はデータラ
ッチ421、422、遅延素子423及びエンコーダ4
30により構成され、遅延素子423は図22に示すよ
うに外部入力信号102の立ち上がりJ1をK1まで遅
延した信号452をデータラッチ422に印加する。ま
た、セレクタ2の出力信号457が遅延素子424によ
り遅延される。FIG. 20 shows a circuit corresponding to the case where the internal clock 101 is high speed. The select value setting unit 9 includes the data latches 421 and 422, the delay element 423 and the encoder 4.
22, the delay element 423 applies the signal 452 obtained by delaying the rising J1 of the external input signal 102 to K1 to the data latch 422 as shown in FIG. The output signal 457 of the selector 2 is delayed by the delay element 424.
【0064】図21に示すようにデータラッチ421は
信号T1〜T7を外部入力信号102の立ち上がりでラ
ッチして8通りの4ビットの信号U3〜U0を出力し、
エンコーダ430はこの4ビットの信号U3〜U0を3
ビットの選択信号X2〜X0に変換し、データラッチ4
22はこの選択信号X2〜X0を外部入力信号102が
遅延素子423により遅延された信号452でラッチし
てセレクタ2に印加する。ここで、エンコーダ430は
遅延素子423による遅延時間の間に動作すればよいの
で、遅延素子423はその遅延時間(図22に示す区間
J1−K1)がエンコーダ430の動作遅延時間より長
いものが選択される。As shown in FIG. 21, the data latch 421 latches the signals T1 to T7 at the rising edge of the external input signal 102 and outputs eight 4-bit signals U3 to U0.
The encoder 430 outputs the 4-bit signals U3 to U0 to 3
Converted to bit selection signals X2 to X0, and data latch 4
Reference numeral 22 latches the selection signals X2 to X0 with the signal 452 obtained by delaying the external input signal 102 by the delay element 423 and applies it to the selector 2. Here, since the encoder 430 may operate during the delay time of the delay element 423, the delay element 423 whose delay time (section J1-K1 shown in FIG. 22) is longer than the operation delay time of the encoder 430 is selected. To be done.
【0065】更に、セレクタ2の出力に接続されている
遅延素子424はその遅延時間が遅延素子1の1段当た
りの遅延時間(10nsec)の半分の5nsecのも
のが選択される。この目的は遅延素子424の出力信号
458の変化点を外部入力信号102の変化点に近づけ
るためであり、セレクタ2の出力信号457では外部入
力信号102に対して−10〜0nsecであるのに対
し、遅延素子424の出力信号458では−5〜5ns
ecとなって誤差が少なくなる。なお、この計算はセレ
クタ2とデータラッチ421の動作遅延やセットアップ
タイムを無視しているので、実際の動作遅延に応じて遅
延素子424の遅延時間が設定される。Further, the delay element 424 connected to the output of the selector 2 is selected to have a delay time of 5 nsec which is half the delay time (10 nsec) per stage of the delay element 1. The purpose is to bring the change point of the output signal 458 of the delay element 424 close to the change point of the external input signal 102, whereas the output signal 457 of the selector 2 is -10 to 0 nsec with respect to the external input signal 102. , The output signal 458 of the delay element 424 is -5 to 5 ns.
The error becomes small as ec. Since this calculation ignores the operation delay and setup time of the selector 2 and the data latch 421, the delay time of the delay element 424 is set according to the actual operation delay.
【0066】また、この第3の実施例においても同様
に、外部入力信号102が断となったり、変化しない場
合にはデータラッチ422により前回ラッチされた選択
信号に基づいて信号T1〜T7が選択されるので、外部
入力信号102の状態にかかわらず、位相をほぼ同期さ
せることができる。Also in the third embodiment, similarly, when the external input signal 102 is disconnected or does not change, the signals T1 to T7 are selected based on the selection signal previously latched by the data latch 422. Therefore, the phases can be almost synchronized regardless of the state of the external input signal 102.
【0067】また、上記第1、第2の実施例ではUDカ
ウンタ4は内部クロック101の1周期で1つアップカ
ウント又はダウンカウントするので、初期に外部入力信
号102の位相と大きくずれている場合に同期するまで
の時間が長くなるが、この第3の実施例では、外部入力
信号102により生成された信号T0〜T8をエンコー
ドして信号T0〜T8の1つを選択するので、同期する
までの時間を短縮することができる。Further, in the first and second embodiments, the UD counter 4 counts up or down by one in one cycle of the internal clock 101. Therefore, when the phase of the external input signal 102 is largely deviated in the initial stage. However, in the third embodiment, the signals T0 to T8 generated by the external input signal 102 are encoded and one of the signals T0 to T8 is selected. The time can be shortened.
【0068】次に、第4の実施例を図23〜図30を参
照して説明する。図23において内部クロック信号10
1の周波数は一例として外部入力信号102の8倍であ
り、分周カウンタ204により1/8に分周される。こ
の分周された信号511はシフトレジスタ206により
内部クロック信号101でシフトされ、外部入力信号1
02に同相した同一周波数のクロック信号512として
出力される。Next, a fourth embodiment will be described with reference to FIGS. In FIG. 23, the internal clock signal 10
The frequency of 1 is, for example, 8 times the frequency of the external input signal 102, and is divided into 1/8 by the frequency dividing counter 204. The frequency-divided signal 511 is shifted by the shift register 206 with the internal clock signal 101, and the external input signal 1
02 is output as a clock signal 512 having the same frequency as 02.
【0069】変化点検出回路201は外部入力信号10
2の変化点として立ち上がりを検出し、変化点検出パル
ス503を検出する。長さカウンタ202はこの変化点
検出パルス503の間隔を検出し、制御回路203はこ
の間隔が所定範囲の場合にクリアパルス508を発生す
ることにより分周カウンタ204を初期化する。また、
同期検出回路205は変化点検出パルス503の間隔が
所定範囲か否かに基づいて同期引込み状態か又は同期外
れ状態を示す信号506を制御回路203に出力し、同
期外れ状態の場合にはクリアパルス508を発生させな
い。The change point detection circuit 201 uses the external input signal 10
The rising edge is detected as the second change point, and the change point detection pulse 503 is detected. The length counter 202 detects the interval of the change point detection pulse 503, and the control circuit 203 initializes the frequency division counter 204 by generating a clear pulse 508 when this interval is within a predetermined range. Also,
The synchronization detection circuit 205 outputs to the control circuit 203 a signal 506 indicating a synchronization pull-in state or an out-of-synchronization state based on whether or not the interval between the change point detection pulses 503 is within a predetermined range, and a clear pulse in the out-of-synchronization state. Do not generate 508.
【0070】図24は図23に示す変化点検出回路20
1、長さカウンタ202及び制御回路203を詳細に示
し、図25は図23に示す位相同期検出回路205を詳
細に示している。図24において変化点検出回路201
は2段のフリップフロップ211、212とNANDゲ
ート213により構成され、外部入力信号102の立ち
上がりを検出して内部クロック信号101の1周期の
間、ロウレベルとなる変化点検出パルス503を出力す
る。FIG. 24 shows a change point detection circuit 20 shown in FIG.
1, the length counter 202 and the control circuit 203 are shown in detail, and FIG. 25 shows the phase synchronization detection circuit 205 shown in FIG. 23 in detail. In FIG. 24, a change point detection circuit 201
Is composed of two-stage flip-flops 211 and 212 and a NAND gate 213, detects a rising edge of the external input signal 102, and outputs a change point detection pulse 503 which is at a low level during one cycle of the internal clock signal 101.
【0071】長さカウンタ202は同期クリアタイプの
バイナリカウンタであって例えば「74HC163」が
用いられ、クロック端子CKに入力する内部クロック信
号101の立ち上がりでカウント動作を行って出力端子
QA、QB、QCから3ビットのカウント値を出力し、
また、クリア端子CLに入力する変化点検出パルス50
3がロウレベルの時にも内部クロック信号101の立ち
上がりで初期化動作を行う。なお、数値のロード機能は
用いられず、ロード端子LDは電源によりプルアップさ
れている。The length counter 202 is a synchronous clear type binary counter, for example, "74HC163" is used, and count operation is performed at the rising edge of the internal clock signal 101 input to the clock terminal CK to output terminals QA, QB, QC. Output a 3-bit count value from
In addition, the change point detection pulse 50 input to the clear terminal CL
Even when 3 is low level, the initialization operation is performed at the rising edge of the internal clock signal 101. Note that the numerical load function is not used, and the load terminal LD is pulled up by the power supply.
【0072】制御回路203においては、ゲート231
により長さカウンタ202のカウント値「0」を検出
し、ゲート232により長さカウンタ202のカウント
値「6」及び「7」を検出している。ORゲート234
はその合成を行い、したがって、その出力信号504は
長さカウンタ202のカウント値が「0」、「6」、
「7」の時にハイレベルとなり、他の値「1」〜「5」
の時にロウレベルとなる。In the control circuit 203, the gate 231
The count value “0” of the length counter 202 is detected by, and the count values “6” and “7” of the length counter 202 are detected by the gate 232. OR gate 234
Performs its synthesis, and therefore its output signal 504 has a count value of the length counter 202 of “0”, “6”,
When it is "7", it becomes high level, and other values "1" to "5"
At low level.
【0073】この信号504と、変化点検出パルス50
3がインバータ234により反転された信号がANDゲ
ート235に印加され、ANDゲート235の出力信号
がF/F236のデータ端子Dに印加される。F/F2
36は内部クロック信号101をインバータ237によ
り反転したクロック信号で動作してQ端子出力505を
同期検出回路205に出力する。また、この信号505
と同期検出回路205からの位相検出信号506をNA
NDゲート238を介してクリアパルス508として分
周カウンタ204に出力している。This signal 504 and the change point detection pulse 50
The signal obtained by inverting 3 by the inverter 234 is applied to the AND gate 235, and the output signal of the AND gate 235 is applied to the data terminal D of the F / F 236. F / F2
36 operates by the clock signal obtained by inverting the internal clock signal 101 by the inverter 237 and outputs the Q terminal output 505 to the synchronization detection circuit 205. Also, this signal 505
And the phase detection signal 506 from the synchronization detection circuit 205 is NA
The clear pulse 508 is output to the frequency dividing counter 204 via the ND gate 238.
【0074】図26を参照して動作を説明すると、長さ
カウンタ202のカウント値が「0」、「6」、「7」
の時には図26(a)に示すようにORゲート233の
出力信号504がハイレベルとなり、この間で変化点検
出パルス503がロウレベルになると内部クロック信号
101の次の立ち上がり点K1でF/F236が動作
し、D入力がハイレベルであるのでQ端子出力505が
ハイレベルになる。また、この場合に同期検出回路20
5からの検出信号506がハイレベルの時にはロウレベ
ルのクリアパルス508が出力される。The operation will be described with reference to FIG. 26. The count value of the length counter 202 is "0", "6", "7".
26A, the output signal 504 of the OR gate 233 becomes high level, and when the change point detection pulse 503 becomes low level during this period, the F / F 236 operates at the next rising point K1 of the internal clock signal 101. However, since the D input is high level, the Q terminal output 505 becomes high level. Further, in this case, the synchronization detection circuit 20
When the detection signal 506 from 5 is at a high level, a low level clear pulse 508 is output.
【0075】これに対し、長さカウンタ202のカウン
ト値が他の値「1」〜「5」の時、例えば図26(b)
に示すように「4」の時には変化点検出パルス503が
ロウレベルになるが、内部クロック信号101の次の立
ち上がり点K2においてはORゲート233の出力信号
504がロウレベルであるので、F/F236のQ端子
出力505がロウレベルのままであり、ロウレベルのク
リアパルス508は出力されない。On the other hand, when the count value of the length counter 202 is another value "1" to "5", for example, FIG.
As shown in (4), the change point detection pulse 503 is at a low level when it is "4", but at the next rising point K2 of the internal clock signal 101, the output signal 504 of the OR gate 233 is at a low level, so that the Q of the F / F 236 is The terminal output 505 remains low level, and the low-level clear pulse 508 is not output.
【0076】次に、図25を参照して同期検出回路20
5を詳細に説明すると、この回路205は3個のF/F
251〜253と4個のゲート254〜257により構
成されている。F/F251〜253は共にクロック端
子には変化点検出パルス503が印加され、変化点検出
パルス503の立ち上がりで動作する。また、制御回路
203からの信号505とF/F251のQ出力551
が共にハイレベルの時にANDゲート254の出力信号
553がハイレベルになる。更に、制御回路203から
の信号505と、F/F251のQ出力551とF/F
252のQ出力552が共にロウレベルの時にゲート2
57の出力信号555がロウレベルになる。Next, referring to FIG. 25, the synchronization detection circuit 20
5, the circuit 205 has three F / Fs.
251 to 253 and four gates 254 to 257. The change point detection pulse 503 is applied to the clock terminals of the F / Fs 251 to 253, and the F / Fs 251 to 253 operate at the rising edge of the change point detection pulse 503. Further, the signal 505 from the control circuit 203 and the Q output 551 of the F / F 251
Is high level, the output signal 553 of the AND gate 254 becomes high level. Further, the signal 505 from the control circuit 203, the Q output 551 of the F / F 251 and the F / F
Gate 2 when the Q outputs 552 of 252 are both low level
The output signal 555 of 57 goes low.
【0077】また、ANDゲート254の出力信号55
3がハイレベルの時とF/F253のQ出力(位相検出
信号)506がハイレベルの時にORゲート255の出
力信号がハイレベルになり、更に、ORゲート255の
出力信号とゲート257の出力信号555が共にハイレ
ベルの時にANDゲート256の出力信号556がハイ
レベルになる。F/F253は変化点検出パルス503
の立ち上がりでANDゲート256の出力信号556を
位相検出信号506として出力する。Further, the output signal 55 of the AND gate 254
3 is at a high level and the Q output (phase detection signal) 506 of the F / F 253 is at a high level, the output signal of the OR gate 255 becomes a high level, and further, the output signal of the OR gate 255 and the output signal of the gate 257. When both 555 are high level, the output signal 556 of the AND gate 256 becomes high level. F / F 253 is a change point detection pulse 503
The output signal 556 of the AND gate 256 is output as the phase detection signal 506 at the rising edge of.
【0078】図27を参照してこの同期検出回路205
の動作を説明する。外部入力信号102の立ち上がり点
間隔を検出する長さカウンタ202のカウント値が
「0」、「6」、「7」である場合には、制御回路20
5から入力する信号505はハイパルスとなり、このハ
イパルスが2回連続すると同期検出回路205の出力信
号506がハイレベルになり、また、このハイパルスが
ない状態が3回連続すると出力信号506がロウレベル
になる。出力信号506がロウレベルになると制御回路
203では信号508がロウレベルにならず、したがっ
て、同期検出回路205の出力信号506がハイレベル
の時には同期引き込み状態、ロウレベルの時には同期外
れ状態となる。Referring to FIG. 27, this synchronization detection circuit 205
Will be described. When the count value of the length counter 202 that detects the rising point interval of the external input signal 102 is “0”, “6”, or “7”, the control circuit 20
The signal 505 input from 5 becomes a high pulse, the output signal 506 of the synchronization detection circuit 205 becomes a high level when the high pulse continues twice, and the output signal 506 becomes a low level when the state without the high pulse continues three times. . When the output signal 506 becomes low level, the signal 508 in the control circuit 203 does not become low level. Therefore, when the output signal 506 of the synchronization detection circuit 205 is high level, the synchronization pull-in state is set, and when it is low level, the synchronization loss state is set.
【0079】図28はノイズによって長さカウンタ20
2のカウント数が設定範囲外となる状態が3回連続して
同期引き込み状態から同期外れ状態に移行する場合を示
している。ここで、シフトレジスタ206は3段で構成
され、内部クロック信号101の立ち上がりで動作する
ので、その出力512は分周カウンタ204の出力51
1より内部クロック信号101の2.5個分遅れ、この
構成によりシフトレジスタ206の出力512が外部入
力信号102の変化点に近づくようにしている。FIG. 28 shows the length counter 20 due to noise.
The figure shows a case where the count value of 2 goes out of the set range and the state shifts from the synchronization pull-in state to the synchronization loss state three times in a row. Here, since the shift register 206 is composed of three stages and operates at the rising edge of the internal clock signal 101, its output 512 is the output 51 of the frequency division counter 204.
The internal clock signal 101 is delayed by 2.5 from 1 so that the output 512 of the shift register 206 approaches the changing point of the external input signal 102 by this configuration.
【0080】図29は同期外れ状態から、長さカウンタ
202のカウント数が設定範囲内となる状態が2回連続
して同期引き込み状態に移行する場合を示している。こ
のように2回連続した時に同期引き込み状態に移行する
ので、同期外れ状態において外部入力信号102におい
て長さカウンタ202のカウント数が設定範囲内となる
ようなノイズが存在した場合には分周カウンタ204は
クリアされない。FIG. 29 shows a case in which the state where the count number of the length counter 202 is within the set range shifts from the out-of-sync state to the synchronous pull-in state twice in succession. Since the state shifts to the synchronous pull-in state after two consecutive times in this way, when there is noise such that the count number of the length counter 202 falls within the set range in the external input signal 102 in the non-synchronized state, the frequency division counter is present. 204 is not cleared.
【0081】図30は外部入力信号102がバースト信
号になった場合を示し、信号断の時にクリアパルス50
8が出力されないので、分周カウンタ204はフリーラ
ンし、信号断の前の位相が維持される。したがって、こ
の第4の実施例においても同様に、外部から入力する信
号がバースト信号のように断続していたり、また、シリ
アルデータ信号において「信号無し」の場合や同一デー
タが連続して変化しない場合にも常に位相を同期させる
ことができる。FIG. 30 shows a case where the external input signal 102 becomes a burst signal, and when the signal is disconnected, the clear pulse 50
Since 8 is not output, the frequency division counter 204 is free-running and the phase before the signal interruption is maintained. Therefore, also in the fourth embodiment, similarly, a signal input from the outside is intermittent like a burst signal, or when there is no signal in the serial data signal or the same data does not continuously change. Even in this case, the phases can always be synchronized.
【0082】なお、上記第4の実施例では、内部クロッ
ク信号101の周波数及び分周カウンタ204の分周比
は上記数値に限定されず、また、長さカウンタ202の
上記カウント値も「0」、「6」、「7」に限定されな
い。In the fourth embodiment, the frequency of the internal clock signal 101 and the frequency division ratio of the frequency division counter 204 are not limited to the above numerical values, and the count value of the length counter 202 is "0". , "6", "7".
【0083】ここで、外部入力信号102の周波数が内
部クロック信号101の1/16である場合、長さカウ
ンタ202のカウント値が1周空回りした後の「0」、
「6」、「7」の時に同期範囲と判定するので位相を同
期させることができる。すなわち、シフトレジスタ20
6の出力512の周波数をNとすると、その入力511
の周波数がN/2で同期する。同様に、N/3、N/4
〜でも同期可能である。Here, when the frequency of the external input signal 102 is 1/16 of the internal clock signal 101, the count value of the length counter 202 is "0" after it makes one round idle.
When it is "6" or "7", it is determined to be in the synchronization range, so that the phases can be synchronized. That is, the shift register 20
If the frequency of the output 512 of 6 is N, its input 511
The frequency is synchronized with N / 2. Similarly, N / 3, N / 4
Can be synchronized with.
【0084】[0084]
【発明の効果】以上説明したように請求項1ないし4記
載の発明では、クロック信号に対する外部入力信号の位
相進み及び位相遅れが検出され、位相進み又は位相遅れ
に基づいてアップダウンカウンタがアップカウント又は
ダウンカウントし、外部入力信号に最も近い位相のクロ
ック信号がセレクタにより選択されるので、入力データ
と内部クロックの位相ずれが発生した場合にも常に位相
を同期させることができる。As described above, according to the first to fourth aspects of the invention, the phase lead and the phase lag of the external input signal with respect to the clock signal are detected, and the up / down counter counts up based on the phase lead or the phase lag. Alternatively, the counter is down-counted and the clock signal having the phase closest to the external input signal is selected by the selector, so that the phase can be always synchronized even when the phase shift between the input data and the internal clock occurs.
【0085】請求項5記載の発明では、内部クロック信
号の1周期毎に第1及び第2のフリップフロップが初期
化されるので、外部入力信号が信号断となった場合にア
ップダウンカウンタがアップカウント又はダウンカウン
トの動作を繰り返すことを防止することができ、したが
って、入力データと内部クロックの位相ずれが発生した
場合にも常に位相を同期させることができると共に、安
価な構成で入力信号の状態にかかわらず常に位相を同期
させることができる。According to the fifth aspect of the invention, the first and second flip-flops are initialized every cycle of the internal clock signal, so that the up / down counter is incremented when the external input signal is disconnected. It is possible to prevent the counting or down-counting operation from being repeated, so that the phase can always be synchronized even when a phase shift occurs between the input data and the internal clock, and the state of the input signal can be reduced with an inexpensive configuration. The phase can always be synchronized regardless of.
【0086】請求項6記載の発明では、外部入力信号の
ノイズが除去されて変化点が検出されるので、外部入力
信号としてNRZシリアルデータが入力する場合に、正
常にサンプリングすることができる。According to the sixth aspect of the present invention, the noise of the external input signal is removed and the change point is detected. Therefore, when the NRZ serial data is input as the external input signal, normal sampling can be performed.
【0087】請求項7記載の発明では、セレクタにより
選択されたクロック信号でシフトレジスタによりNRZ
シリアルデータを取込み、パラレルデータに変換するこ
とにより、NRZシリアルデータを正常にサンプリング
することができる。According to the seventh aspect of the present invention, the clock signal selected by the selector is used for the NRZ by the shift register.
The NRZ serial data can be normally sampled by taking the serial data and converting it into parallel data.
【0088】請求項8ないし10記載の発明では、複数
のクロック信号がエンコードされてセレクタの複数の選
択信号を生成され、複数の選択信号の1つが外部入力信
号の変化点でラッチされてセレクタに印加されるので、
入力データと内部クロックの位相ずれが発生した場合に
も常に位相を同期させることができ、また、安価な構成
で入力信号の状態にかかわらず常に位相を同期させるこ
とができる。更に、遅延素子によりエンコーダの動作遅
延時間を考慮しているので、同期外れを防止することが
できる。According to the present invention, the plurality of clock signals are encoded to generate the plurality of selection signals of the selector, and one of the plurality of selection signals is latched at the change point of the external input signal to the selector. Is applied,
Even if a phase shift occurs between the input data and the internal clock, the phase can always be synchronized, and the phase can always be synchronized regardless of the state of the input signal with an inexpensive configuration. Further, since the delay element takes into consideration the operation delay time of the encoder, it is possible to prevent the loss of synchronization.
【0089】請求項11ないし13記載の発明では、外
部入力信号の変化点の間隔が検出され、変化点の間隔が
所定の範囲の場合に分周カウンタがクリアされると共
に、変化点の間隔が所定の範囲内か又は外かに基づいて
同期引き込み状態か又は同期外れ状態かを検出されて同
期外れ状態の場合にクリア手段のクリアが禁止されるの
で、入力データと内部クロックの位相ずれが発生した場
合にも常に位相を同期させることができる。また、外部
入力信号が信号断となった場合に分周カウンタがフリー
ランして信号断前の位相が維持されるので、安価な構成
で入力信号の状態にかかわらず常に位相を同期させるこ
とができる。According to the eleventh to thirteenth aspects of the present invention, the interval between the changing points of the external input signal is detected, the frequency dividing counter is cleared when the interval between the changing points is within a predetermined range, and the interval between the changing points is determined. If the sync pull-in state or the out-of-sync state is detected based on whether it is within or outside a predetermined range, and the clear means is prohibited from clearing in the out-of-sync state, a phase shift between the input data and the internal clock occurs. Even in the case of doing so, the phase can always be synchronized. Also, when the external input signal is disconnected, the frequency divider counters the free run and maintains the phase before the signal is disconnected, so it is possible to always synchronize the phase regardless of the state of the input signal with an inexpensive configuration. it can.
【図1】本発明に係る位相同期回路の一実施例を示すブ
ロック図である。FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of a phase locked loop circuit according to the present invention.
【図2】図1の位相同期回路の一例を詳細に示すブロッ
ク図である。FIG. 2 is a block diagram showing in detail an example of the phase locked loop circuit of FIG.
【図3】図2の位相同期回路の主要信号を示すタイミン
グチャートである。FIG. 3 is a timing chart showing main signals of the phase locked loop circuit of FIG.
【図4】図2の位相同期回路の変形例を示すブロック図
である。FIG. 4 is a block diagram showing a modification of the phase locked loop circuit of FIG.
【図5】図2の位相同期回路の他の変形例の要部を示す
ブロック図である。5 is a block diagram showing a main part of another modification of the phase locked loop circuit of FIG.
【図6】図5の位相同期回路の主要信号を示すタイミン
グチャートである。6 is a timing chart showing main signals of the phase locked loop circuit of FIG.
【図7】第2の実施例の位相同期回路を示すブロック図
である。FIG. 7 is a block diagram showing a phase locked loop circuit according to a second embodiment.
【図8】図7の位相同期回路の一例を詳細に示すブロッ
ク図である。FIG. 8 is a block diagram showing in detail an example of the phase locked loop circuit of FIG. 7.
【図9】図8の位相同期回路の主要信号を示すタイミン
グチャートである。9 is a timing chart showing main signals of the phase locked loop circuit of FIG.
【図10】図8の変化点検出回路の変形例を示すブロッ
ク図である。10 is a block diagram showing a modification of the change point detection circuit of FIG.
【図11】図8の変化点検出回路の他の変形例を示すブ
ロック図である。11 is a block diagram showing another modification of the change point detection circuit of FIG.
【図12】図10及び図11の回路の主要信号を示すタ
イミングチャートである。12 is a timing chart showing main signals of the circuits of FIGS. 10 and 11. FIG.
【図13】第2の実施例の変形例の主要信号を示すタイ
ミングチャートである。FIG. 13 is a timing chart showing main signals of a modification of the second embodiment.
【図14】第3の実施例の位相同期回路を示すブロック
図である。FIG. 14 is a block diagram showing a phase locked loop circuit according to a third embodiment.
【図15】図14の位相同期回路の一例を詳細に示すブ
ロック図である。15 is a block diagram showing an example of the phase locked loop circuit of FIG. 14 in detail.
【図16】図15のエンコーダの論理を示す説明図であ
る。16 is an explanatory diagram showing the logic of the encoder of FIG. 15. FIG.
【図17】図15の回路の主要信号を示すタイミングチ
ャートである。17 is a timing chart showing main signals of the circuit of FIG.
【図18】図15のエンコーダを示す説明図である。18 is an explanatory diagram showing the encoder of FIG. 15. FIG.
【図19】図18のエンコーダを示す論理回路図であ
る。19 is a logic circuit diagram showing the encoder of FIG. 18. FIG.
【図20】図14の位相同期回路の変形例を示すブロッ
ク図である。20 is a block diagram showing a modification of the phase locked loop circuit of FIG.
【図21】図21のエンコーダの論理を示す説明図であ
る。21 is an explanatory diagram showing the logic of the encoder of FIG. 21. FIG.
【図22】図21の回路の主要信号を示すタイミングチ
ャートである。22 is a timing chart showing main signals of the circuit of FIG. 21. FIG.
【図23】第4の実施例の位相同期回路を示すブロック
図である。FIG. 23 is a block diagram showing a phase locked loop circuit according to a fourth embodiment.
【図24】図23の変化点検出回路、長さカウンタ及び
制御回路を詳細に示すブロック図である。FIG. 24 is a block diagram showing in detail the change point detection circuit, length counter, and control circuit of FIG. 23.
【図25】図23の位相同期検出回路を詳細に示すブロ
ック図である。FIG. 25 is a block diagram showing in detail the phase synchronization detection circuit of FIG. 23.
【図26】図24の回路の主要信号を示すタイミングチ
ャートである。FIG. 26 is a timing chart showing main signals of the circuit of FIG. 24.
【図27】図25の回路の主要信号を示すタイミングチ
ャートである。FIG. 27 is a timing chart showing main signals of the circuit of FIG. 25.
【図28】第4の実施例において同期引き込み状態から
同期外れ状態に移行する場合の主要信号を示すタイミン
グチャートである。FIG. 28 is a timing chart showing main signals in the case of shifting from the sync pull-in state to the sync loss state in the fourth embodiment.
【図29】第4の実施例において同期外れ状態から同期
引き込み状態に移行する場合の主要信号を示すタイミン
グチャートである。FIG. 29 is a timing chart showing main signals in the case of shifting from the out-of-sync state to the synchronous pull-in state in the fourth example.
【図30】第4の実施例において外部入力信号が断にな
った場合の主要信号を示すタイミングチャートである。FIG. 30 is a timing chart showing main signals when the external input signal is disconnected in the fourth embodiment.
【図31】従来の位相同期回路を示すブロック図であ
る。FIG. 31 is a block diagram showing a conventional phase locked loop circuit.
1 多段遅延素子 2,2−1,2−2 セレクタ 3 位相検出回路 4 アップダウン(UD)カウンタ 6 変化点検出回路 7 シフトレジスタ 8 立ち上がり点検出回路 9 セレクト値設定部 31,32,65,65−1,65−2 フリップフロ
ップ(F/F) 32 ANDゲート 33,63,69,423 遅延素子(DL) 412,430 エンコーダ 415,421,444 データラッチ 201 変化点検出回路 202 長さカウンタ 203 制御回路 204 分周カウンタ 205 同期検出回路 206 シフトレジスタDESCRIPTION OF SYMBOLS 1 multi-stage delay element 2,2-1,2-2 selector 3 phase detection circuit 4 up-down (UD) counter 6 change point detection circuit 7 shift register 8 rising point detection circuit 9 select value setting unit 31, 32, 65, 65 -1,65-2 Flip-flop (F / F) 32 AND gate 33,63,69,423 Delay element (DL) 412,430 Encoder 415,421,444 Data latch 201 Change point detection circuit 202 Length counter 203 Control Circuit 204 Dividing counter 205 Synchronous detection circuit 206 Shift register
Claims (13)
のクロック信号を出力する多段遅延素子と、 前記多段遅延素子により遅延された複数のクロック信号
の1つを選択信号に基づいて選択するセレクタと、 前記セレクタにより選択されたクロック信号に対する外
部入力信号の位相進み及び位相遅れを検出する位相検出
手段と、 前記位相検出手段により検出された位相進み又は位相遅
れに基づいてアップカウント又はダウンカウントし、前
記セレクタが外部入力信号に最も近い位相のクロック信
号を選択するようにカウント値を選択信号として前記セ
レクタに印加するアップダウンカウンタとを有する位相
同期回路。1. A multi-stage delay element that delays an internal clock signal in multiple stages to output a plurality of clock signals, and a selector that selects one of the plurality of clock signals delayed by the multi-stage delay element based on a selection signal. A phase detecting means for detecting a phase lead or a phase lag of the external input signal with respect to the clock signal selected by the selector, and up-counting or down-counting based on the phase lead or the phase lag detected by the phase detecting means. A phase synchronization circuit having an up-down counter for applying a count value to the selector as a selection signal so that the selector selects a clock signal having a phase closest to an external input signal.
のクロック信号を出力する多段遅延素子と、 前記多段遅延素子により遅延された複数のクロック信号
の1つを選択信号に基づいて選択するセレクタと、 外部入力信号の立ち上がりと立ち下がりの両方を検出す
る変化点検出手段と、 前記変化点検出手段により検出された外部入力信号の変
化点において前記セレクタにより選択されたクロック信
号に対する外部入力信号の位相進み及び位相遅れを検出
する位相検出手段と、 前記位相検出手段により検出された位相進み又は位相遅
れに基づいてアップカウント又はダウンカウントし、前
記セレクタが外部入力信号に最も近い位相のクロック信
号を選択するようにカウント値を選択信号として前記セ
レクタに印加するアップダウンカウンタとを有する位相
同期回路。2. A multistage delay element for delaying an internal clock signal in multiple stages to output a plurality of clock signals, and a selector for selecting one of the plurality of clock signals delayed by the multistage delay element based on a selection signal. A change point detecting means for detecting both rising and falling edges of the external input signal, and an external input signal for the clock signal selected by the selector at the changing point of the external input signal detected by the changing point detecting means. Phase detection means for detecting phase advance and phase delay, and up-count or down-count based on the phase advance or phase delay detected by the phase detection means, the selector outputs a clock signal of the phase closest to the external input signal. An up-down counter for applying a count value as a selection signal to the selector so as to select Phase synchronization circuit having.
部入力信号の変化点でラッチする第1のフリップフロッ
プと、 前記セレクタにより選択された第1のクロック信号を1
段分遅延する遅延素子と、 前記遅延素子により遅延された第2のクロック信号を外
部入力信号の変化点でラッチする第2のフリップフロッ
プと、 外部入力信号の変化点が第1及び第2のクロック信号の
変化点の両方より進んでいる場合に前記アップダウンカ
ウンタをアップカウントさせ、外部入力信号の変化点が
前記第1及び第2のクロック信号の変化点の間に位置す
る場合に前記アップダウンカウンタを動作停止させ、外
部入力信号の変化点が前記第1及び第2のクロック信号
の変化点の両方より遅れている場合に前記アップダウン
カウンタをアップカウントさせる手段とを有することを
特徴とする請求項1記載の位相同期回路。3. The first phase detection means latches a first clock signal selected by the selector at a change point of an external input signal, and a first clock signal selected by the selector. 1
A delay element for delaying by a stage, a second flip-flop for latching the second clock signal delayed by the delay element at a change point of the external input signal, and a change point of the external input signal for the first and second The up-down counter is up-counted when it is ahead of both the change points of the clock signal, and the up-counter is up when the change point of the external input signal is located between the change points of the first and second clock signals. Means for stopping the operation of the down counter and up-counting the up-down counter when the change point of the external input signal is behind both the change points of the first and second clock signals. The phase-locked loop circuit according to claim 1.
部入力信号の変化点でラッチする第1のフリップフロッ
プと、 前記多段遅延素子により遅延された複数のクロック信号
から、前記セレクタにより選択されたクロック信号より
1段分遅延した第2のクロック信号を選択する第2のセ
レクタと、 前記第2のセレクタにより選択された第2のクロック信
号を外部入力信号の変化点でラッチする第2のフリップ
フロップと、 外部入力信号の変化点が前記第1及び第2のクロック信
号の変化点の両方より進んでいる場合に前記アップダウ
ンカウンタをアップカウントさせ、外部入力信号の変化
点が前記第1及び第2のクロック信号の変化点の間に位
置する場合に前記アップダウンカウンタを動作停止さ
せ、外部入力信号の変化点が前記第1及び第2のクロッ
ク信号の変化点の両方より遅れている場合に前記アップ
ダウンカウンタをアップカウントさせる手段とを有する
ことを特徴とする請求項1記載の位相同期回路。4. The phase detection means includes a first flip-flop that latches the first clock signal selected by the selector at a change point of an external input signal, and a plurality of clocks delayed by the multistage delay element. A second selector for selecting a second clock signal delayed from the signal by one stage from the clock signal selected by the selector; and a second clock signal selected by the second selector as an external input signal. A second flip-flop that latches at the change point and an up-down counter that counts up when the change point of the external input signal is ahead of both the change points of the first and second clock signals. Deactivating the up / down counter when a signal change point is located between the change points of the first and second clock signals, 3. The phase according to claim 1, further comprising: means for up-counting the up-down counter when the change point of the input signal of the second section is delayed from both the change points of the first and second clock signals. Synchronous circuit.
の1周期毎に前記第1及び第2のフリップフロップを初
期化する回路を有することを特徴とする請求項3又は4
記載の位相同期回路。5. The phase detecting means has a circuit for initializing the first and second flip-flops for each cycle of an internal clock signal.
The phase synchronization circuit described.
の一方のレベルによりセットされ、他方のレベルにより
リセットされるR−Sフリップフロップにより外部入力
信号のノイズを除去することを特徴とする請求項2乃至
5のいずれかに記載の位相同期回路。6. The change point detecting means removes noise of an external input signal by an RS flip-flop that is set by one level of two input signals and reset by the other level. The phase locked loop circuit according to any one of claims 2 to 5.
タであって、更に、前記セレクタにより選択されたクロ
ック信号で前記NRZシリアルデータを取込み、パラレ
ルデータに変換するシフトレジスタを有することを特徴
とする請求項2乃至6のいずれかに記載の位相同期回
路。7. The external input signal is NRZ serial data, and further comprises a shift register for taking in the NRZ serial data with a clock signal selected by the selector and converting it into parallel data. 7. The phase locked loop circuit according to any one of items 2 to 6.
のクロック信号を出力する多段遅延素子と、 前記多段遅延素子により遅延された複数のクロック信号
の1つを選択信号に基づいて選択するセレクタと、 前記多段遅延素子により遅延された複数のクロック信号
をエンコードすることにより前記セレクタが各クロック
信号を選択するための複数の選択信号を生成するエンコ
ーダと、 前記エンコーダにより生成された複数の選択信号の1つ
を外部入力信号の変化点でラッチして前記セレクタに印
加するラッチ手段とを有する位相同期回路。8. A multi-stage delay element that delays an internal clock signal in multiple stages to output a plurality of clock signals, and a selector that selects one of the plurality of clock signals delayed by the multi-stage delay element based on a selection signal. An encoder that generates a plurality of selection signals for the selector to select each clock signal by encoding a plurality of clock signals delayed by the multistage delay element; and a plurality of selection signals generated by the encoder. Latching means for latching one of the two at a change point of an external input signal and applying it to the selector.
間、外部入力信号を遅延して前記ラッチ手段に印加する
遅延素子を更に備えたことを特徴とする請求項8記載の
位相同期回路。9. The phase locked loop circuit according to claim 8, further comprising a delay element for delaying an external input signal and applying it to the latch means for a time longer than an operation delay time of the encoder.
ク信号を外部入力信号の変化点に近づくように遅延する
遅延素子を更に備えたことを特徴とする請求項8又は9
記載の位相同期回路。10. A delay element for delaying the clock signal selected by the selector so as to approach the change point of the external input signal.
The phase synchronization circuit described.
信号を外部入力信号と同一周波数に分周する分周カウン
タと、 外部入力信号の変化点の間隔を検出する変化点間隔検出
手段と、 前記変化点間隔検出手段により検出された変化点の間隔
が所定の範囲の場合に前記分周カウンタをクリアするク
リア手段と、 前記変化点間隔検出手段により検出された変化点の間隔
が所定の範囲内か又は外かに基づいて同期引き込み状態
か又は同期外れ状態かを検出し、同期外れ状態の場合に
前記クリア手段のクリアを禁止する同期検出手段とを有
する位相同期回路。11. A frequency dividing counter for dividing an internal clock signal, which is faster than an external input signal, into the same frequency as the external input signal, change point interval detecting means for detecting an interval between change points of the external input signal, and the change. Clearing means for clearing the frequency division counter when the interval between the changing points detected by the point interval detecting means is within a predetermined range, and whether the interval between the changing points detected by the changing point interval detecting means is within a predetermined range. Alternatively, a phase synchronization circuit having a synchronization detection means for detecting whether the synchronization pull-in state or the out-of-synchronization state is detected based on whether or not there is, and for inhibiting the clearing means from clearing in the case of the out-of-sync state.
号を内部クロック信号でシフトするシフトレジスタを更
に備えたことを特徴とする請求項11記載の位相同期回
路。12. The phase locked loop circuit according to claim 11, further comprising a shift register that shifts the signal divided by the divider counter with an internal clock signal.
信号の変化点の間隔を内部クロック信号でカウントする
カウンタであり、前記同期検出手段は前記カウンタのカ
ウント値に基づいて同期引き込み状態か又は同期外れ状
態かを検出することを特徴とする請求項11又は12記
載の位相同期回路。13. The change point interval detection means is a counter for counting the change point interval of an external input signal by an internal clock signal, and the synchronization detection means is in a synchronous pull-in state based on the count value of the counter, or 13. The phase locked loop circuit according to claim 11, wherein the phase locked loop circuit detects whether it is out of synchronization.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP29252894A JPH08154051A (en) | 1994-11-28 | 1994-11-28 | Phase locked loop circuit |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP29252894A JPH08154051A (en) | 1994-11-28 | 1994-11-28 | Phase locked loop circuit |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH08154051A true JPH08154051A (en) | 1996-06-11 |
Family
ID=17782976
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP29252894A Withdrawn JPH08154051A (en) | 1994-11-28 | 1994-11-28 | Phase locked loop circuit |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH08154051A (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7116746B2 (en) | 2002-04-03 | 2006-10-03 | Renesas Technology Corp. | Synchronous clock phase control circuit |
-
1994
- 1994-11-28 JP JP29252894A patent/JPH08154051A/en not_active Withdrawn
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7116746B2 (en) | 2002-04-03 | 2006-10-03 | Renesas Technology Corp. | Synchronous clock phase control circuit |
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A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
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