JPH08149794A - Forced-air cooling semiconductor device - Google Patents

Forced-air cooling semiconductor device

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JPH08149794A
JPH08149794A JP28801894A JP28801894A JPH08149794A JP H08149794 A JPH08149794 A JP H08149794A JP 28801894 A JP28801894 A JP 28801894A JP 28801894 A JP28801894 A JP 28801894A JP H08149794 A JPH08149794 A JP H08149794A
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JP
Japan
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cooling
air
semiconductor device
snubber
forced
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Application number
JP28801894A
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Japanese (ja)
Inventor
Shigeyuki Nakabayashi
重幸 中林
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Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Publication date
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Abstract

PURPOSE: To obtain a forced-air cooling semiconductor device in which the air for cooling a snubber resistor is prevented from concentrating at a part and uniform cooling is realized with uniform air flow rate. CONSTITUTION: A cooling air regulator comprising a partition board 8, an air tunnel 9A, and a louver 9a is disposed additionally between a semiconductor stack 1 and a snubber unit having a snubber resistor 4. Consequently, the direction of the air for cooling the snubber resistor 4 can be regulated to prevent concentration of the cooling air thus cooling the snubber resistor 4 uniformly.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は半導体素子と冷却フィン
を組合せた半導体スタック及びスナバ抵抗を有するスナ
バユニットを具備した強制風冷式半導体装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a forced air cooling type semiconductor device having a semiconductor stack having a semiconductor element and cooling fins combined therein and a snubber unit having a snubber resistance.

【0002】[0002]

【従来の技術】この種従来の強制風冷式半導体装置の一
例として、図13および図14のように構成されたもの
がある。半導体ステージ10内部には、両側に冷却フィ
ン2を有する半導体素子3からなる半導体スタック1
と、スナバ抵抗4とコナバコンデンサ5からなるスナバ
ユニットと、アノードリアクトル6、開口部21を有す
る風導用のカバー7が収納固定されている。この場合、
開口部21から導入される冷却風は、半導体スタック1
内の冷却フィン2を通って後方のスナバ抵抗4に冷却風
が流れる構造となっている。
2. Description of the Related Art As an example of a conventional forced air cooling type semiconductor device of this type, there is one configured as shown in FIGS. Inside the semiconductor stage 10, a semiconductor stack 1 including a semiconductor element 3 having cooling fins 2 on both sides.
A snubber unit including a snubber resistor 4 and a converging capacitor 5, an anode reactor 6, and a wind guide cover 7 having an opening 21 are housed and fixed. in this case,
The cooling air introduced from the opening 21 is the semiconductor stack 1
The structure is such that cooling air flows through the inner cooling fins 2 to the snubber resistance 4 at the rear.

【0003】以上のような構成の半導体装置を強制風冷
式半導体電力変換器に使用する場合、該電力変換器盤内
のいづれかの場所に図示しない冷却ファンが設けられて
おり、この冷却ファンにより前記開口部21から導入さ
れる冷却風を作り出すことになる。冷却風は風導用カバ
ー7の開口部21から冷却フィン2を通り、スナバ抵抗
4を冷却する様に半導体ステージ10内部は構成されて
いる。
When the semiconductor device having the above structure is used in a forced air cooling type semiconductor power converter, a cooling fan (not shown) is provided at any place in the power converter board. The cooling air introduced from the opening 21 is produced. The inside of the semiconductor stage 10 is configured so that the cooling air passes through the cooling fin 2 from the opening 21 of the air guide cover 7 and cools the snubber resistor 4.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】以上説明した従来の強
制風冷式半導体装置では、スナバ抵抗4を冷却する強制
冷却風の流れが冷却フィン2から直線方向に一部分に集
中するため、冷却ムラが発生し、冷却能率が悪くなり、
必要な風量が得られないという問題があった。
In the conventional forced air cooling type semiconductor device described above, the flow of the forced cooling air for cooling the snubber resistor 4 concentrates in a part in the linear direction from the cooling fins 2, so that there is uneven cooling. Occurs, cooling efficiency deteriorates,
There was a problem that the required air volume could not be obtained.

【0005】また必要な風量が得られない場合スナバ抵
抗4が劣化し、断線、延焼等の致命的な影響を与える。
本発明はこの様な問題を解決するためになされたもの
で、スナバユニットのスナバ抵抗を冷却する冷却風の一
部分集中を防止し、冷却ムラのない均一な風量を得るこ
とのできる強制風冷式半導体装置を提供することを目的
とする。
Further, if the required air volume cannot be obtained, the snubber resistance 4 is deteriorated, which has a fatal effect such as disconnection or fire spread.
The present invention has been made to solve such a problem, and it is possible to prevent a partial concentration of the cooling air that cools the snubber resistance of the snubber unit and to obtain a uniform air volume without uneven cooling. An object is to provide a semiconductor device.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】請求項1記載の発明は、
半導体ステージに、少なくとも半導体素子と冷却フィン
を組合せた半導体スタック及び少なくともスナバ抵抗を
有するスナバユニットをそれぞれ載置し、前記半導体ス
テージに前記半導体スタックおよびスナバユニットを包
囲するように風導用カバーを設け、この風導用カバーお
よび前記半導体ステージにより形成された空間内部に、
外部から冷却風を導き前記半導体スタックと前記スナバ
ユニットを順次強制冷却するようにした風冷式半導体装
置において、前記スナバユニットに導かれる冷却風が均
一になるように調整する冷却風調整装置を設けた強制風
冷式半導体装置である。
According to the first aspect of the present invention,
A semiconductor stack in which at least a semiconductor element and a cooling fin are combined and a snubber unit having at least a snubber resistance are mounted on the semiconductor stage, and a wind guide cover is provided on the semiconductor stage so as to surround the semiconductor stack and the snubber unit. , Inside the space formed by this air guide cover and the semiconductor stage,
An air-cooled semiconductor device in which cooling air is guided from the outside to forcibly cool the semiconductor stack and the snubber unit sequentially is provided with a cooling air adjusting device that adjusts the cooling air guided to the snubber unit to be uniform. It is a forced air cooling type semiconductor device.

【0007】請求項2記載の発明は、請求項1記載の強
制風冷式半導体装置において、冷却風調整装置は、前記
半導体スタックと前記スナバユニット間に配設され、風
洞とこの内部に設けた風向調整用ルーバによって構成し
た強制風冷式半導体装置である。
According to a second aspect of the present invention, in the forced air cooling type semiconductor device according to the first aspect, the cooling air adjusting device is arranged between the semiconductor stack and the snubber unit, and is provided in the wind tunnel and inside thereof. It is a forced air cooling type semiconductor device configured by a louver for adjusting the wind direction.

【0008】請求項3記載の発明は、請求項1記載の強
制風冷式半導体装置において、冷却風調整装置は、前記
半導体スタックと前記スナバユニット間に配設され、風
洞とこの内部に設けた冷却風拡散用格子によって構成し
た強制風冷式半導体装置である。
According to a third aspect of the present invention, in the forced air cooling type semiconductor device according to the first aspect, the cooling air adjusting device is arranged between the semiconductor stack and the snubber unit, and is provided in the wind tunnel and inside thereof. It is a forced air cooling type semiconductor device configured by a cooling air diffusion grid.

【0009】請求項4記載の発明は、請求項1記載の強
制風冷式半導体装置において、冷却風調整装置は、風導
用カバーに前記半導体スタックの冷却フィンに対応する
位置に形成した冷却風を導く開口部とは、別に前記風導
用カバーに設け、かつ前記スナバユニットに前記冷却風
を直接取り込む開口部である強制風冷式半導体装置であ
る。
According to a fourth aspect of the present invention, in the forced air cooling type semiconductor device according to the first aspect, the cooling air adjusting device has a cooling wind formed in a position corresponding to the cooling fins of the semiconductor stack on the air guide cover. The opening portion for guiding the cooling air is a forced air cooling type semiconductor device which is an opening portion separately provided in the air guiding cover and which directly takes in the cooling air into the snubber unit.

【0010】請求項5記載の発明は、請求項1記載の強
制風冷式半導体装置において、冷却風調整装置は、前記
半導体スタックと前記スナバユニット間に配設され、前
記半導体スタックの冷却フィンの後段側から前記スナバ
ユニットに導かれる冷却風に拡がりを持たせるためのル
ーバである強制風冷式半導体装置である。
According to a fifth aspect of the present invention, in the forced air cooling type semiconductor device according to the first aspect, the cooling air adjusting device is disposed between the semiconductor stack and the snubber unit, and the cooling fin of the semiconductor stack is provided. The forced air cooling type semiconductor device is a louver for allowing the cooling air introduced from the rear stage side to the snubber unit to have a spread.

【0011】請求項6記載の発明は、請求項1記載の強
制風冷式半導体装置において、冷却風調整装置は、前記
半導体スタックと前記スナバユニット間に配設され、前
記半導体スタックの冷却フィンの後段側から前記スナバ
ユニットに導かれる冷却風を外部に漏らさないようにす
るためのダクトと、このダクト内部に冷却風に拡がりを
もたせるために設けた仕切板とで構成した強制風冷式半
導体装置である。
According to a sixth aspect of the present invention, in the forced air cooling type semiconductor device according to the first aspect, the cooling air adjusting device is disposed between the semiconductor stack and the snubber unit, and a cooling fin of the semiconductor stack is provided. Forced air cooling type semiconductor device composed of a duct for preventing the cooling air introduced from the rear side to the snubber unit from leaking to the outside, and a partition plate provided inside the duct to spread the cooling air. Is.

【0012】請求項7記載の発明は、請求項1記載の強
制風冷式半導体装置において、冷却風調整装置は、前記
スナバユニットの後段側に設けられ、冷却風に拡がりを
もたせるための冷却ファンであることを特徴とする強制
風冷式半導体装置である。
According to a seventh aspect of the present invention, in the forced air cooling type semiconductor device according to the first aspect, the cooling air adjusting device is provided on the rear stage side of the snubber unit and has a cooling fan for spreading the cooling air. Is a forced air cooling type semiconductor device.

【0013】[0013]

【作用】請求項1〜請求項7のいずれか一つに記載の発
明によれば、冷却風調整装置を備えているので、スナバ
ユニットのスナバ抵抗を冷却する冷却風向を調整でき、
冷却風の一部分集中を防止し、冷却ムラをなくし、均一
にスナバ抵抗を冷却できる。
According to the invention described in any one of claims 1 to 7, since the cooling air adjusting device is provided, the cooling air direction for cooling the snubber resistance of the snubber unit can be adjusted,
Partial concentration of cooling air can be prevented, uneven cooling can be eliminated, and snubber resistance can be cooled uniformly.

【0014】[0014]

【実施例】以下、本発明の半導体装置の実施例について
図面を参照して説明するが、図13および図14に示す
従来例と同一部分に同一符号を付しそれらの説明は省略
する。
Embodiments of the semiconductor device of the present invention will now be described with reference to the drawings. The same parts as those in the conventional example shown in FIGS. 13 and 14 are designated by the same reference numerals and their description will be omitted.

【0015】〈第1実施例〉図1(a)は第1実施例
(請求項2に対応する実施例)を説明するための平面図
であり、図2は図1の側面図を示している。両図から明
らかように、前述した従来例と異なる点は、仕切板8
と、風洞9Aと、ルーバ9aからなる冷却風調整装置を
半導体スタック1及びスナバ抵抗4を有するスナバユニ
ットの間に、新たに設けたものである。
<First Embodiment> FIG. 1A is a plan view for explaining a first embodiment (an embodiment corresponding to claim 2), and FIG. 2 shows a side view of FIG. There is. As is apparent from both figures, the difference from the above-mentioned conventional example is that the partition plate 8
A cooling air adjusting device including a wind tunnel 9A and a louver 9a is newly provided between the semiconductor stack 1 and the snubber unit having the snubber resistor 4.

【0016】仕切板8は例えば四方が囲まれた枠状であ
って、開口部21から流入する冷却風がスナバ抵抗4以
外の場所に漏れない様にするため設けたものである。風
洞9Aは図1(b)<図1(a)の風洞9Aを拡大した
斜視図>に示すように、矩形状枠となっており、この内
部に複数のルーバ9aがそれぞれ互いに間隔を存して配
置され、各々が回転可能に支持されている。具体的に
は、ルーバ9aの上下端部にノックピン11が固定さ
れ、ノックピン11は風洞9Aの上板と下板に形成され
た穴(図示せず)に挿入され、これによりルーバ9aが
回転可能に支持され、同様に他のルーバ9aも構成され
ている。
The partition plate 8 has, for example, a frame shape surrounded by four sides and is provided to prevent the cooling air flowing from the opening 21 from leaking to a place other than the snubber resistance 4. As shown in FIG. 1 (b) <enlarged perspective view of the wind tunnel 9A of FIG. 1 (a)>, the wind tunnel 9A has a rectangular frame, and a plurality of louvers 9a are arranged inside each other with a space therebetween. And are rotatably supported. Specifically, knock pins 11 are fixed to the upper and lower ends of the louver 9a, and the knock pins 11 are inserted into holes (not shown) formed in the upper and lower plates of the wind tunnel 9A, which allows the louver 9a to rotate. The other louver 9a is similarly configured.

【0017】従って、ルーバ9aの回転角を調整するこ
とにより、図示しない冷却ファンにより得られる冷却風
は開口部21から内部に送風され、この冷却風は冷却フ
ィン2の外周部を通って仕切板8を経た後、風洞9Aの
内部に設けてあるルーバ9a相互間、風洞9Aとルーバ
9aの間を通りスナバ抵抗4に導かれる。この場合の冷
却風の向きは、ルーバ9aの角度を手動で調整すること
により変更することができる。このため、ルーバ9aを
最適に調整することによりスナバ抵抗4の冷却風の一部
分集中を防止し、冷却ムラをなくし、均一にスナバ抵抗
を冷却することができる。
Therefore, by adjusting the rotation angle of the louver 9a, the cooling air obtained by the cooling fan (not shown) is blown into the inside from the opening 21, and the cooling air passes through the outer peripheral portion of the cooling fin 2 and the partition plate. After passing through 8, the louvers 9a provided inside the wind tunnel 9A are guided to the snubber resistance 4 through the louvers 9a and the louvers 9a. The direction of the cooling air in this case can be changed by manually adjusting the angle of the louver 9a. Therefore, by optimally adjusting the louver 9a, it is possible to prevent the cooling air from partially concentrating on the snubber resistor 4, eliminate uneven cooling, and uniformly cool the snubber resistor.

【0018】〈第2実施例〉図3(a)は第2実施例
(請求項3に対応する)を示す平面図であり、図4は図
3の側面図を示す。両図から明らかように、前述した従
来例と異なる点は、仕切板8、8aと、風洞9Bと、ル
ーバ9bからなる冷却風調整装置を半導体スタック1及
びスナバ抵抗4を有するスナバユニットの間に、新たに
設けたものである。
<Second Embodiment> FIG. 3A is a plan view showing a second embodiment (corresponding to claim 3), and FIG. 4 is a side view of FIG. As is clear from both figures, the difference from the above-mentioned conventional example is that the cooling air adjusting device including the partition plates 8 and 8a, the wind tunnel 9B, and the louver 9b is provided between the semiconductor stack 1 and the snubber unit having the snubber resistor 4. , Is newly provided.

【0019】仕切板8は例えば四方が囲まれた枠状であ
って、開口部21から流入する冷却風がスナバ抵抗4以
外の場所に漏れない様にするため設けたものである。仕
切板8aは冷却風の方向を調整するために仕切板8に設
けたものである。
The partition plate 8 has, for example, a frame shape surrounded by four sides, and is provided to prevent the cooling air flowing from the opening 21 from leaking to a place other than the snubber resistance 4. The partition plate 8a is provided on the partition plate 8 for adjusting the direction of the cooling air.

【0020】風洞9Bは図2(b)<図2(a)の風洞
9Bを拡大した斜視図>に示すように、矩形状枠となっ
ており、この内部に複数のルーバ9bが格子状に配置さ
れ、風洞9Bの中央部側がこれ以外の部分に比べて冷却
風の通過する通過路の断面積が小さくなっている。
As shown in FIG. 2 (b) <enlarged perspective view of the wind tunnel 9B of FIG. 2 (a)>, the wind tunnel 9B has a rectangular frame in which a plurality of louvers 9b are arranged in a lattice pattern. The cross-sectional area of the passage in which the cooling air passes is smaller on the central portion side of the wind tunnel 9B than on the other portion.

【0021】このように構成されているので、第1実施
例と同様に、スナバ抵抗4の冷却風の一部分集中を防止
し、冷却ムラをなくし、均一にスナバ抵抗を冷却するこ
とができる。具体的には、開口部21から導かれる冷却
風は、冷却フィン2の外周部を通って仕切板8、8aを
経た後、風洞9Bの内部に設けてある格子状のルーバ9
bを通るので、冷却風が拡散される。従って、風洞9B
によりスナバ抵抗4の冷却風の一部分集中を防止し、冷
却ムラをなくし、均一にスナバ抵抗4を冷却することが
できる。
With this configuration, as in the first embodiment, it is possible to prevent the cooling air from partially concentrating on the snubber resistor 4, eliminate uneven cooling, and cool the snubber resistor uniformly. Specifically, the cooling air guided from the opening 21 passes through the outer peripheral portions of the cooling fins 2 and the partition plates 8 and 8a, and then the lattice-shaped louver 9 provided inside the wind tunnel 9B.
Since it passes through b, the cooling air is diffused. Therefore, wind tunnel 9B
Thus, the cooling air of the snubber resistor 4 can be prevented from partially concentrating, uneven cooling can be eliminated, and the snubber resistor 4 can be cooled uniformly.

【0022】尚、格子状のルーバ9bの形状、幅等は図
に示す例に限るものではなく、スナバ抵抗4の数、半導
体ステージ10の形状及び大きさによって決定されるも
のである。
The shape, width, etc. of the lattice-shaped louver 9b are not limited to the example shown in the figure, but are determined by the number of snubber resistors 4, the shape and size of the semiconductor stage 10.

【0023】〈第3実施例〉図5は第3実施例(請求項
4に対応)を示す平面図であり、図6は図5の側面図を
示す。両図から明らかように、前述した従来例と異なる
点は、冷却風調整装置として以下のように構成したもの
である。すなわち、風導用カバー7Aに冷却フィン2の
周囲に冷却風を流すための開口部A21を設けることは
従来と同じであるが、この開口部21とは別に冷却フィ
ン2を介さずに直接スナバ抵抗4に冷却風を取り込む
様、開口部22を設けたものである。
<Third Embodiment> FIG. 5 is a plan view showing a third embodiment (corresponding to claim 4), and FIG. 6 is a side view of FIG. As is clear from both figures, the difference from the above-mentioned conventional example is that the cooling air adjusting device is configured as follows. That is, although the opening A21 for flowing the cooling air around the cooling fins 2 is provided in the air guiding cover 7A as in the conventional case, the snubber is directly provided without the cooling fins 2 separately from the opening 21. The opening 22 is provided so that the cooling air is taken into the resistor 4.

【0024】このように風導用カバー7Aに開口部22
を形成することによりスナバ抵抗4の冷却風の一部分集
中を防止し、均一にスナバ抵抗4を冷却することができ
る。尚、開口部B22の大きさ、形状等は図に示す限り
ではなく、スナバ抵抗4の数、半導体ステージ10の形
状及び大きさによって決定されるものである。
In this way, the opening 22 is formed in the air guide cover 7A.
By forming the above, it is possible to prevent a partial concentration of the cooling air of the snubber resistor 4 and to uniformly cool the snubber resistor 4. The size, shape, etc. of the opening B22 are not limited to those shown in the figure, but are determined by the number of snubber resistors 4, the shape and size of the semiconductor stage 10.

【0025】〈第4実施例〉図7は第4実施例(請求項
5に対応)を示す平面図であり、図8は図7の側面図を
示す。両図から明らかように、前述した従来例と異なる
点は、冷却風調整装置として以下のように構成したもの
である。半導体スタック1の冷却フィン2に、扇状に構
成されたルーバ8Cを直接取り付けたものである。
<Fourth Embodiment> FIG. 7 is a plan view showing a fourth embodiment (corresponding to claim 5), and FIG. 8 is a side view of FIG. As is clear from both figures, the difference from the above-mentioned conventional example is that the cooling air adjusting device is configured as follows. A fan-shaped louver 8C is directly attached to the cooling fins 2 of the semiconductor stack 1.

【0026】このように、冷却フィン2に扇状のルーバ
8Cを取り付けたので、スナバ抵抗4を冷却する冷却風
が拡散されるので、冷却風の一部分集中を防止し、冷却
ムラをなくし、均一にスナバ抵抗4を冷却できる。
Since the fan-shaped louvers 8C are attached to the cooling fins 2 as described above, the cooling air for cooling the snubber resistance 4 is diffused, so that a partial concentration of the cooling air is prevented and the cooling unevenness is eliminated and evenly distributed. The snubber resistor 4 can be cooled.

【0027】尚、ルーバ8Cの枚数、角度、大きさ等は
図に示す限りではなく、スナバ抵抗4の数、半導体ステ
ージ10の外形及び大きさによって決定されるものであ
る。 〈第5実施例〉図9は第5実施例(請求項6に対応)を
示す平面図であり、図10は図9の側面図を示す。両図
から明らかように、前述した従来例と異なる点は、半導
体スタック1とスナバ抵抗4の間に、仕切板8b、ダク
ト8Dからなる冷却風調整装置を設けたものである。ダ
クト8Dはスナバ抵抗4以外に冷却風が漏れない様にす
ると同時にダクト8D内の仕切板8bにより冷却風に乱
流を起こさせ、冷却風を拡散することができる。
The number, angle, size, etc. of the louvers 8C are not limited to those shown in the figure, but are determined by the number of snubber resistors 4, the outer shape and size of the semiconductor stage 10. <Fifth Embodiment> FIG. 9 is a plan view showing a fifth embodiment (corresponding to claim 6), and FIG. 10 is a side view of FIG. As is apparent from both figures, the difference from the above-mentioned conventional example is that a cooling air adjusting device including a partition plate 8b and a duct 8D is provided between the semiconductor stack 1 and the snubber resistor 4. In addition to the snubber resistance 4, the duct 8D prevents cooling air from leaking, and at the same time, a partition plate 8b in the duct 8D causes a turbulent flow in the cooling air to diffuse the cooling air.

【0028】このように構成することにより、ダクト8
Dによりスナバ抵抗4の冷却風の一部分集中を防止し、
冷却ムラをなくし、均一にスナバ抵抗4を冷却すること
ができる。
With this structure, the duct 8
D prevents snubber resistance 4 from partially concentrating in the cooling air,
It is possible to uniformly cool the snubber resistor 4 by eliminating uneven cooling.

【0029】尚、仕切板8bの枚数、角度、大きさは図
に示す限りではなく、スナバ抵抗4の数、半導体ステー
ジ10の形状及び大きさによって決定されるものであ
る。 〈第6実施例〉図11は第6実施例(請求項7に対応す
る)を示す平面図であり、図12は図11の側面図を示
す。両図から明らかように、前述した従来例と異なる点
は、冷却風調整装置として、スナバ抵抗4の後段側(冷
却風の下流側)に、冷却風に拡がりをもたせるための冷
却ファン8Eを設けたものである。この場合の冷却ファ
ン8Eは、通常半導体電力変換器盤内のいづれかの図示
しない場所に設置されているものをスナバ抵抗4の後段
側すなわち半導体ステージ10の後側に配置したもので
ある。
The number, the angle, and the size of the partition plate 8b are not limited to those shown in the figure, but are determined by the number of snubber resistors 4, the shape and size of the semiconductor stage 10. <Sixth Embodiment> FIG. 11 is a plan view showing a sixth embodiment (corresponding to claim 7), and FIG. 12 is a side view of FIG. As is apparent from both figures, the difference from the above-described conventional example is that a cooling fan 8E for spreading the cooling air is provided on the subsequent stage side (downstream side of the cooling air) of the snubber resistor 4 as a cooling air adjusting device. It is a thing. The cooling fan 8E in this case is normally installed at any of the locations (not shown) in the semiconductor power converter board and is arranged at the rear side of the snubber resistor 4, that is, at the rear side of the semiconductor stage 10.

【0030】このように、冷却ファン8Eを設けること
により、風導用カバー7の開口部から引き込まれた空気
を半導体ステージ10の外へ吐出させることができ、ス
ナバ抵抗4を流れる冷却風に拡がりをもたせることがで
きる。従って、スナバ抵抗4の冷却風の一部分集中を防
止し、冷却ムラをなくし、均一にスナバ抵抗を冷却する
ことができる。なお、本発明は前述した実施例に限定さ
れるものではなく、第1実施例から第6実施例の少なく
とも2つを組み合わせた冷却風調整装置としてもよい。
As described above, by providing the cooling fan 8E, the air drawn from the opening of the air guide cover 7 can be discharged to the outside of the semiconductor stage 10 and spread to the cooling air flowing through the snubber resistor 4. Can have Therefore, it is possible to prevent a partial concentration of the cooling air of the snubber resistor 4 to eliminate the uneven cooling and to uniformly cool the snubber resistor. The present invention is not limited to the above-mentioned embodiment, and may be a cooling air adjusting device in which at least two of the first to sixth embodiments are combined.

【0031】[0031]

【発明の効果】本発明によれば、少なくとも半導体素子
と冷却フィンを組合せた半導体スタック及び少なくとも
スナバ抵抗を有するスナバユニットで構成される半導体
装置のスナバ抵抗を冷却する冷却風の一部分集中を防止
し、冷却ムラのない、均一な風量を得ることのできる強
制風冷式半導体装置を提供することができる。
According to the present invention, it is possible to prevent a partial concentration of cooling air for cooling the snubber resistance of a semiconductor device including a semiconductor stack having at least semiconductor elements and cooling fins combined and a snubber unit having at least a snubber resistance. It is possible to provide a forced air cooling type semiconductor device capable of obtaining a uniform air flow without uneven cooling.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の第1実施例を説明するための図。FIG. 1 is a diagram for explaining a first embodiment of the present invention.

【図2】図1の側面図。FIG. 2 is a side view of FIG.

【図3】本発明の第2実施例を説明するための図。FIG. 3 is a diagram for explaining a second embodiment of the present invention.

【図4】図3の側面図。FIG. 4 is a side view of FIG.

【図5】本発明の第3実施例を示す平面図。FIG. 5 is a plan view showing a third embodiment of the present invention.

【図6】図5の側面図。6 is a side view of FIG.

【図7】本発明の第4実施例を示す平面図。FIG. 7 is a plan view showing a fourth embodiment of the present invention.

【図8】図7の側面図。FIG. 8 is a side view of FIG. 7;

【図9】本発明の第5実施例を示す平面図。FIG. 9 is a plan view showing a fifth embodiment of the present invention.

【図10】図9の側面図。FIG. 10 is a side view of FIG. 9;

【図11】本発明の第6実施例を示す平面図。FIG. 11 is a plan view showing a sixth embodiment of the present invention.

【図12】図11の側面図。FIG. 12 is a side view of FIG. 11.

【図13】従来の半導体装置の平面図。FIG. 13 is a plan view of a conventional semiconductor device.

【図14】図13の側面図。FIG. 14 is a side view of FIG. 13;

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…半導体スタック、2…冷却フィン、3…半導体素
子、4…スナバ抵抗、5…スナバコンデンサ、6…アノ
ードリアクトル、7…風導用のカバー、8…仕切板、、
8a…仕切板、8b…仕切板、8A…仕切板、8B…仕
切板、8C…ルーバ、8D…ダクト、8E…冷却ファ
ン、9A…風洞、9B…風洞、9a…ルーバ、9b…格
子、10…半導体ステージ、11…ノックピン、21…
開口部、22…開口部。
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Semiconductor stack, 2 ... Cooling fins, 3 ... Semiconductor element, 4 ... Snubber resistance, 5 ... Snubber capacitor, 6 ... Anode reactor, 7 ... Wind guide cover, 8 ... Partition plate,
8a ... partition plate, 8b ... partition plate, 8A ... partition plate, 8B ... partition plate, 8C ... louver, 8D ... duct, 8E ... cooling fan, 9A ... wind tunnel, 9B ... wind tunnel, 9a ... louver, 9b ... lattice, 10 … Semiconductor stage, 11… Knock pin, 21…
Opening, 22 ... Opening.

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 半導体ステージに、少なくとも半導体素
子と冷却フィンを組合せた半導体スタック及び少なくと
もスナバ抵抗を有するスナバユニットをそれぞれ載置
し、前記半導体ステージに前記半導体スタックおよびス
ナバユニットを包囲するように風導用カバーを設け、こ
の風導用カバーおよび前記半導体ステージにより形成さ
れた空間内部に、外部から冷却風を導き前記半導体スタ
ックと前記スナバユニットを順次強制冷却するようにし
た風冷式半導体装置において、 前記スナバユニットに導かれる冷却風が均一になるよう
に調整する冷却風調整装置を設けたことを特徴とする強
制風冷式半導体装置。
1. A semiconductor stack on which at least a semiconductor element and a cooling fin are combined and a snubber unit having at least a snubber resistance are mounted on a semiconductor stage, and the semiconductor stage and the snubber unit are surrounded by wind. In a wind-cooled semiconductor device in which a guiding cover is provided, cooling air is introduced from the outside into the space formed by the air guiding cover and the semiconductor stage to forcibly cool the semiconductor stack and the snubber unit sequentially. A forced air cooling type semiconductor device, comprising a cooling air adjusting device for adjusting the cooling air guided to the snubber unit to be uniform.
【請求項2】 請求項1記載の強制風冷式半導体装置に
おいて、冷却風調整装置は、前記半導体スタックと前記
スナバユニット間に配設され、風洞とこの内部に設けた
風向調整用ルーバによって構成したことを特徴とする強
制風冷式半導体装置。
2. The forced air cooling type semiconductor device according to claim 1, wherein the cooling air adjusting device is arranged between the semiconductor stack and the snubber unit, and comprises a wind tunnel and a wind direction adjusting louver provided inside the wind tunnel. A forced air cooling type semiconductor device characterized in that
【請求項3】 請求項1記載の強制風冷式半導体装置に
おいて、冷却風調整装置は、前記半導体スタックと前記
スナバユニット間に配設され、風洞とこの内部に設けた
冷却風拡散用格子によって構成したことを特徴とする強
制風冷式半導体装置。
3. The forced air cooling type semiconductor device according to claim 1, wherein the cooling air conditioning device is arranged between the semiconductor stack and the snubber unit, and comprises a wind tunnel and a cooling air diffusing grid provided therein. A forced-air-cooled semiconductor device characterized by being configured.
【請求項4】 請求項1記載の強制風冷式半導体装置に
おいて、冷却風調整装置は、風導用カバーに前記半導体
スタックの冷却フィンに対応する位置に形成した冷却風
を導く開口部とは、別に前記風導用カバーに設け、かつ
前記スナバユニットに前記冷却風を直接取り込む開口部
であることを特徴とする強制風冷式半導体装置。
4. The forced air cooling type semiconductor device according to claim 1, wherein the cooling air adjusting device has an opening formed in the air guiding cover at a position corresponding to the cooling fins of the semiconductor stack for guiding cooling air. A forced-air-cooling type semiconductor device, which is an opening provided separately on the air-guiding cover and which directly takes in the cooling air to the snubber unit.
【請求項5】 請求項1記載の強制風冷式半導体装置に
おいて、冷却風調整装置は、前記半導体スタックと前記
スナバユニット間に配設され、前記半導体スタックの冷
却フィンの後段側から前記スナバユニットに導かれる冷
却風に拡がりを持たせるためのルーバであることを特徴
とする強制風冷式半導体装置。
5. The forced air cooling type semiconductor device according to claim 1, wherein the cooling air adjusting device is disposed between the semiconductor stack and the snubber unit, and the snubber unit is arranged from a rear stage side of a cooling fin of the semiconductor stack. A forced-air-cooling type semiconductor device, which is a louver for expanding the cooling air guided to the air.
【請求項6】 請求項1記載の強制風冷式半導体装置に
おいて、冷却風調整装置は、前記半導体スタックと前記
スナバユニット間に配設され、前記半導体スタックの冷
却フィンの後段側から前記スナバユニットに導かれる冷
却風を外部に漏らさないようにするためのダクトと、こ
のダクト内部に冷却風に拡がりをもたせるために設けた
仕切板とで構成したことを特徴とする強制風冷式半導体
装置。
6. The forced air cooling type semiconductor device according to claim 1, wherein a cooling air adjusting device is disposed between the semiconductor stack and the snubber unit, and the snubber unit is provided from a rear stage side of a cooling fin of the semiconductor stack. A forced-air-cooling type semiconductor device comprising a duct for preventing the cooling air guided to the outside from leaking to the outside, and a partition plate provided inside the duct for spreading the cooling air.
【請求項7】 請求項1記載の強制風冷式半導体装置に
おいて、冷却風調整装置は、前記スナバユニットの後段
側に設けられ、冷却風に拡がりをもたせるための冷却フ
ァンであることを特徴とする強制風冷式半導体装置。
7. The forced air cooling type semiconductor device according to claim 1, wherein the cooling air adjusting device is a cooling fan that is provided at a rear stage side of the snubber unit and that causes the cooling air to spread. Forced air cooling type semiconductor device.
JP28801894A 1994-11-22 1994-11-22 Forced-air cooling semiconductor device Pending JPH08149794A (en)

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2020106548A (en) * 2018-03-13 2020-07-09 株式会社辰巳菱機 Load testing device

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JP2020106548A (en) * 2018-03-13 2020-07-09 株式会社辰巳菱機 Load testing device

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